JP2006285807A - 記憶装置の試験方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 論理ドライブを複数のセグメントに分割し、各セグメント内でライトした最大アドレスと最小アドレスの履歴を定期的に監視し、最大アドレスと最小アドレス間のみリード試験、整合性確認を行う。また、アクセス頻度の低いセグメントから優先的に試験行う。
【選択図】 図2
Description
2 ホストコンピュータ
3 ディスクアレイコントローラ
4 ディスクアレイ
31 制御部
32 ディスク領域分割管理部
33、51 アドレス監視部
34、52 不揮発性メモリ
35、53 ディスク試験部
54 セグメント選択部
Claims (11)
- 記憶装置または記憶装置に接続された他の装置が当該記憶装置の記憶領域を試験する方法において、
記憶装置の記憶領域を複数の領域、即ち複数のセグメントに分割する段階と、
書き込みされた記憶領域を示すアドレスのうち最小のアドレスと最大のアドレスとを前記セグメント毎に機械読取可能な記録媒体に記録する段階と、
前記最小のアドレスと前記最大のアドレスとの間の領域を対象として試験を行う段階と
を含むことを特徴とする記憶装置の試験方法。 - 請求項1に記載の記憶装置の試験方法において、更に、
前記セグメント毎にアクセス頻度を計測する段階と、
前記計測の結果に応じて、前記複数のセグメントの中から試験対象とするセグメントを選択する段階と
を含むことを特徴とする記憶装置の試験方法。 - 請求項1に記載の記憶装置の試験方法において、前記記憶装置は複数のディスク装置からなるディスクアレイシステムであることを特徴とする記憶装置の試験方法。
- 請求項3に記載の記憶装置の試験方法において、前記ディスクアレイシステムはデータを冗長化して格納し、前記試験は冗長化したデータ間の整合性を確認する試験であることを特徴とする記憶装置の試験方法。
- 記憶装置または記憶装置に接続された他の装置が当該記憶装置の記憶領域を試験する方法において、
記憶装置の記憶領域を複数の領域、即ちセグメントに分割する段階と、
前記複数のセグメントのそれぞれについてアクセス頻度を計測する段階と、
前記計測の結果に応じて、前記複数のセグメントの中から試験対象とするセグメントを選択する段階と
を含むことを特徴とする記憶装置の試験方法。 - 記憶装置において、
記憶領域を複数の領域、即ち複数のセグメントに分割して管理する手段と、
書き込みされた記憶領域のアドレスのうち、最小のアドレスと最大のアドレスとを、前記セグメント毎に記録する記憶装置と、
前記最小のアドレスと前記最大のアドレスとの間の領域を対象として試験を行う手段と
を備えることを特徴とする記憶装置。 - 請求項6に記載の記憶装置において、更に、
前記セグメント毎にアクセス頻度を計測する手段と、
前記計測の結果に応じて、前記複数のセグメントの中から試験対象とするセグメントを選択する手段と
を備えることを特徴とする記憶装置。 - 記憶装置において、
記憶装置の記憶領域を複数の領域、即ちセグメントに分割する手段と、
前記複数のセグメントのそれぞれについてアクセス頻度を計測する手段と、
前記計測の結果に応じて、前記複数のセグメントの中から試験対象とするセグメントを選択する手段と
を備えることを特徴とする記憶装置。 - 複数のディスク装置からなるディスクアレイシステムにおいて、
記憶領域を複数の領域、即ち複数のセグメントに分割して管理する手段と、
書き込みされた記憶領域のアドレスのうち、最小のアドレスと最大のアドレスとを、前記セグメント毎に記録する記憶装置と、
前記最小のアドレスと前記最大のアドレスとの間の領域を対象として試験を行う手段と
を備えることを特徴とするディスクアレイシステム。 - 請求項9に記載のディスクアレイシステムにおいて、更に、
前記セグメント毎にアクセス頻度を計測する手段と、
前記計測の結果に応じて、前記複数のセグメントの中から試験対象とするセグメントを選択する手段と
を備えることを特徴とするディスクアレイシステム。 - 請求項9に記載のディスクアレイシステムにおいて、データを冗長化して格納するディスクアレイシステムであって、前記試験は冗長化したデータ間の整合性を確認する試験であることを特徴とするディスクアレイシステム。
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US8433949B2 (en) | 2009-07-24 | 2013-04-30 | Nec Corporation | Disk array apparatus and physical disk restoration method |
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