JP2006284973A - Method of determining temperature irregularity compensation amount, display device, temperature irregularity amount compensation determining system, temperature irregularity compensating system, and program - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem wherein there is no method for properly temperature irregularity due to convection of air, when the inclination angle of emission face with respect to vertical direction can be modified. <P>SOLUTION: A system for determining a compensating amount for compensating temperature irregularities in the emission face, arranged by a self-luminous element in a matrix form is constituted of (1) a storage region for storing a reference compensation amount set for compensating the temperature irregularities of the lower part of the emission face generated, when the emission face is installed in parallel with respect to vertical direction; (2) an inclination angle detection part for detecting the inclination angle of the emission face with respect to the vertical direction; (3) a regulation coefficient determination part for determining a regulation coefficient with respect to the reference compensation amount, in response to the size of the inclination angle; and (4) a compensation amount regulation for regulating the reference compensation amount by the determined regulation coefficient. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

発明の一つの形態は、自発光素子がマトリクス状に配置された発光面内の温度ムラを補正する補正量の決定方法に関する。また、発明の一つの形態は、温度ムラ補正量決定装置及びこれを搭載した表示装置に関する。また、発明の一つの形態は、温度ムラ補正量決定装置を搭載した温度ムラ補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、コンピュータに温度ムラの補正に使用する補正量の決定機能を実行させるプログラムに関する。   One aspect of the present invention relates to a correction amount determination method for correcting temperature unevenness in a light emitting surface in which self-emitting elements are arranged in a matrix. One embodiment of the present invention relates to a temperature unevenness correction amount determination device and a display device equipped with the same. One embodiment of the present invention relates to a temperature unevenness correction apparatus equipped with a temperature unevenness correction amount determination apparatus. One embodiment of the present invention relates to a program for causing a computer to execute a function for determining a correction amount used for correcting temperature unevenness.

フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主に液晶ディスプレイパネルが多く採用されている。しかし、依然として、液晶ディスプレイパネルの視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ELディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
Flat panel displays are widely used in products such as computer displays, portable terminals, and televisions. Currently, many liquid crystal display panels are mainly used. However, the narrow viewing angle and slow response speed of the liquid crystal display panel continue to be pointed out.
On the other hand, an organic EL display formed of a self-luminous element can overcome the above-mentioned problems of viewing angle and responsiveness, and can achieve a thin form, high brightness, and high contrast that do not require a backlight. Therefore, it is expected as a next-generation display device that replaces the liquid crystal display.

ところで、有機EL素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に応じて劣化する特性があることが知られている。また同時に、これらの素子の劣化速度は、素子自体の温度によって変わることが知られている。
自発光素子は、自発光型であるため動作時に発熱する。そして、より高輝度を実現するほど多くの電流量が必要となり、より高温で発熱する。結果的に、高温になるほど劣化を加速させる。従って、フラットパネルディスプレイの長寿命化を実現する上では、適切な温度制御が求められている。
By the way, it is known that organic EL elements and other self-light-emitting elements have characteristics that deteriorate in accordance with the light emission amount and the light emission time. At the same time, it is known that the degradation rate of these elements varies depending on the temperature of the elements themselves.
Since the self-luminous element is a self-luminous type, it generates heat during operation. And, as the higher luminance is realized, a larger amount of current is required, and heat is generated at a higher temperature. As a result, the higher the temperature, the faster the deterioration. Therefore, in order to realize a long life of the flat panel display, appropriate temperature control is required.

現在、提案されている温度制御手法の一例を以下に示す。
特開2003−263131号公報 この文献には、表示データの輝度情報を蓄積し、蓄積された輝度情報から推定される劣化の推定値が平均化されるように表示データを補正する技術が開示されている。
An example of the temperature control method currently proposed is shown below.
Japanese Patent Laid-Open No. 2003-263131 discloses a technique for accumulating luminance information of display data and correcting the display data so that an estimated value of deterioration estimated from the accumulated luminance information is averaged. ing.

確かに、特許文献1に係る技術は、画像パターンの偏りを原因とする温度分布の偏在解消に効果を発揮する。
しかし、発光面の温度分布の偏在は、表示される画像パターン以外の要因によっても発生する。例えば、発光面の近傍を対流する空気の影響である。これは、発光面積が大きいほど、発光面が鉛直方向と平行になるように設置されるためでもある。
この設置態様の場合、発光面の下端付近で対流する空気の温度はほぼ環境温度と同じであるのに対し、その上方を対流する空気の温度は発光面で温められた環境温度よりも高くなる。
Certainly, the technique according to Patent Document 1 is effective in eliminating the uneven distribution of the temperature distribution caused by the unevenness of the image pattern.
However, the uneven distribution of the temperature distribution on the light emitting surface is also caused by factors other than the displayed image pattern. For example, the influence of air convection in the vicinity of the light emitting surface. This is also because the larger the light emitting area, the light emitting surface is installed in parallel with the vertical direction.
In the case of this installation mode, the temperature of the convection air near the lower end of the light emitting surface is almost the same as the environmental temperature, whereas the temperature of the convection air above it is higher than the environmental temperature heated on the light emitting surface. .

このため、下端付近では対流する空気によって発光面の温度が下げられる一方で、中央付近より上方では発光面の温度が対流する空気によって下がらなくなる現象が認められる。この結果、発光面内に温度ムラが発生する。
図1に、発光面内に発生する温度ムラのイメージを示す。図中、発光面1の中央部付近から上方領域の温度はほぼ一定である。一方、網掛け表示で示す発光面1の下部領域3の温度は下端ほど低くなる。
図では、情報領域の温度に対して温度の低下量が大きい領域ほど、濃い網掛けを付して示している。
For this reason, while the temperature of the light emitting surface is lowered by the convective air near the lower end, a phenomenon is observed in which the temperature of the light emitting surface is not lowered by the convective air above the center. As a result, temperature unevenness occurs in the light emitting surface.
FIG. 1 shows an image of temperature unevenness occurring in the light emitting surface. In the figure, the temperature from the vicinity of the center of the light emitting surface 1 to the upper region is substantially constant. On the other hand, the temperature of the lower region 3 of the light emitting surface 1 shown by the shaded display becomes lower toward the lower end.
In the figure, the region where the amount of temperature decrease is larger than the temperature of the information region is shown with darker shading.

図2にこの温度変化を示す。図2は、発光面の全面を同じ入力値で発光させた場合の表面温度の変化を表している。図中、横軸は発光部中央からの距離であり、縦軸は温度である。図2に示すように、下端から200ミリの範囲で温度ムラの影響が大きいことが分かる。
なお、この温度ムラの発生範囲は、発光面の鉛直方向に対する傾斜角によっても異なる。
FIG. 2 shows this temperature change. FIG. 2 shows a change in surface temperature when the entire light emitting surface emits light with the same input value. In the figure, the horizontal axis is the distance from the center of the light emitting unit, and the vertical axis is the temperature. As shown in FIG. 2, it can be seen that the influence of temperature unevenness is large within a range of 200 mm from the lower end.
In addition, the generation range of this temperature nonuniformity also changes with inclination angles with respect to the vertical direction of the light emitting surface.

発明者らは以上の課題に着目し、発光面の下部領域にその傾斜角に応じて発生する温度ムラを補正するのに適した補正量の決定方法を提案する。
すなわち、以下の処理機能を有する方法を提案する。
(1)発光面が鉛直方向と平行に設置された場合に発生する発光面下部の温度ムラの補正用に設定した基準補正量を読み出す処理
(2)鉛直方向に対する発光面の傾斜角を検出する処理
(3)傾斜角の大きさに応じ、前記基準補正量に対する調整係数を決定する処理
(4)決定された調整係数で前記基準補正量を調整する処理
なお、この技術は、ハードウェアとして実現できる他、ソフトウェアとしても実現できる。勿論、処理の実行は、一部処理をハードウェアとして実行し、残る処理をソフトウェアとして実行することもできる。
The inventors pay attention to the above problems and propose a correction amount determination method suitable for correcting temperature unevenness generated in the lower region of the light emitting surface according to the inclination angle.
That is, a method having the following processing functions is proposed.
(1) Processing for reading a reference correction amount set for correcting temperature unevenness under the light emitting surface that occurs when the light emitting surface is installed parallel to the vertical direction. (2) Detecting the inclination angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction. Process (3) Process for determining an adjustment coefficient for the reference correction amount according to the inclination angle (4) Process for adjusting the reference correction amount with the determined adjustment coefficient Note that this technique is realized as hardware. It can also be realized as software. Of course, part of the processing can be executed as hardware, and the remaining processing can be executed as software.

この発明を用いれば、鉛直方向に対する発光面の傾斜角に応じた補正量を決定することができる。その結果、表示装置の使用態様によらず、発光面の全体温度を均一にできる。すなわち、画面全体の劣化速度を均一にでき、表示装置の長寿命化を実現できる。   If this invention is used, the correction amount according to the inclination angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction can be determined. As a result, the entire temperature of the light emitting surface can be made uniform regardless of the usage mode of the display device. That is, the deterioration rate of the entire screen can be made uniform, and the life of the display device can be extended.

以下、発明に係る技術手法を採用する温度ムラ補正技術の実施形態例を説明する。ここでは、有機ELパネルの温度ムラを解消する場合について説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
Embodiments of temperature unevenness correction technology that employs the technical technique according to the invention will be described below. Here, a case where temperature unevenness of the organic EL panel is eliminated will be described.
In addition, the well-known or well-known technique of the said technical field is applied to the part which is not illustrated or described in particular in this specification.
The embodiment described below is one embodiment of the present invention and is not limited thereto.

(A)温度ムラ補正装置
(A−1)形態例1
(a)装置構成
図3に、温度ムラ補正装置の構成例を示す。温度ムラ補正装置11は、温度ムラ補正量決定部13と温度ムラ補正実行部15を主要な構成要素とする。このうち、温度ムラ補正実行部15は、具体的な補正方法に応じた補正動作を実行する処理デバイスである。補正方法には、例えば発生する温度ムラに応じて表示信号を補正する方法、ダミー画素の発熱量を補正する方法、画素位置に応じて発光時間を可変する方法その他がある。各補正方法に応じた、温度ムラ補正実行部15の構成は後述する。
(A) Temperature unevenness correction device (A-1) Embodiment 1
(A) Device Configuration FIG. 3 shows a configuration example of a temperature unevenness correction device. The temperature unevenness correction device 11 includes a temperature unevenness correction amount determination unit 13 and a temperature unevenness correction execution unit 15 as main components. Among these, the temperature unevenness correction execution unit 15 is a processing device that executes a correction operation according to a specific correction method. The correction method includes, for example, a method of correcting the display signal according to the generated temperature unevenness, a method of correcting the heat generation amount of the dummy pixel, a method of changing the light emission time according to the pixel position, and the like. The configuration of the temperature unevenness correction execution unit 15 corresponding to each correction method will be described later.

温度ムラ補正量決定部13は、温度ムラに応じた補正量を決定する処理デバイスであり、使用傾き検出部13A、調整係数決定部13B、補正量調整部13C、基準補正量記憶部13Dで構成される。
使用傾き検出部13Aは、使用態様に応じた発光面の傾きを検出する処理デバイスである。すなわち、使用傾き検出部13Aは、鉛直方向に対する発光面の傾斜角(水平方向に対する傾き具合)を検出する。
The temperature unevenness correction amount determination unit 13 is a processing device that determines a correction amount according to temperature unevenness, and includes a use inclination detection unit 13A, an adjustment coefficient determination unit 13B, a correction amount adjustment unit 13C, and a reference correction amount storage unit 13D. Is done.
The use inclination detector 13A is a processing device that detects the inclination of the light emitting surface according to the use mode. That is, the use inclination detector 13A detects the inclination angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction (the degree of inclination with respect to the horizontal direction).

図4に、使用態様の一例を示す。
図4(A)は、表示装置21の背面にスタンド機構23が取り付けられている場合の使用例である。このスタンド機構23の場合、スタンドの開きが大きいほど、発光面25の傾斜角は大きくなり、スタンドの開きが小さいほど、発光面25の傾斜角も小さくなる。スタンドとは、表示装置21を設置面に対して特定の又は任意の傾きで支えることができる機構をいう。
この種の開閉機構を使用する場合、使用傾き検出部13Aは、スタンドの開き具合を結合部材の変位量として電気的に又は光学的に検出する。なお、検出結果は、アナログ信号又はディジタル信号として出力される。
FIG. 4 shows an example of usage.
FIG. 4A shows an example of use when the stand mechanism 23 is attached to the back surface of the display device 21. In the case of this stand mechanism 23, the inclination angle of the light emitting surface 25 increases as the stand opening increases, and the inclination angle of the light emitting surface 25 decreases as the stand opening decreases. The stand refers to a mechanism that can support the display device 21 with a specific or arbitrary inclination with respect to the installation surface.
When this type of opening / closing mechanism is used, the use inclination detector 13A electrically or optically detects the degree of opening of the stand as the amount of displacement of the coupling member. The detection result is output as an analog signal or a digital signal.

これに対し、発光面25の傾斜角が限定される場合もある。一例を、図4(B)及び(C)に示す。このうち、図4(B)は、表示装置21をクレードル27に取り付ける場合の使用例である。また、図4(C)は、表示装置21を壁掛け具29に取り付ける場合の使用例である。
この種の取付機構を使用する場合、使用傾き検出部3Aは、対象物への装着や取付の有無を電気的又は光学的に検出する。
また、使用傾き検出部13Aには、他の検出手法も適用できる。例えば、円(球)状の空洞内に入れた重心物と内壁との接点位置を電気的に検出する機構を適用することもできる。
On the other hand, the inclination angle of the light emitting surface 25 may be limited. An example is shown in FIGS. 4B and 4C. Among these, FIG. 4B shows an example of use when the display device 21 is attached to the cradle 27. FIG. 4C shows a usage example when the display device 21 is attached to the wall hanging tool 29.
When this type of attachment mechanism is used, the use inclination detector 3A electrically or optically detects the presence or absence of attachment or attachment to the object.
Also, other detection methods can be applied to the use inclination detection unit 13A. For example, it is possible to apply a mechanism for electrically detecting the contact position between the center of gravity placed in a circular (spherical) cavity and the inner wall.

調整係数決定部13Bは、傾斜角の大きさに応じ、基準補正量に対する調整係数を決定する処理デバイスである。調整係数を使用する理由は、使用形態(発光面の傾き)に応じて、発光面の温度分布が変化するためである。
この形態例では、鉛直方向に対する発光面の傾斜角が0°(ゼロ)の場合に使用する補正量を「基準補正量」という。基準補正量を与えるデータは、基準補正量記憶部13Dに格納されている。
The adjustment coefficient determination unit 13B is a processing device that determines an adjustment coefficient for the reference correction amount according to the magnitude of the tilt angle. The reason for using the adjustment coefficient is that the temperature distribution on the light emitting surface changes according to the usage pattern (tilt of the light emitting surface).
In this embodiment, the correction amount used when the inclination angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction is 0 ° (zero) is referred to as “reference correction amount”. Data giving the reference correction amount is stored in the reference correction amount storage unit 13D.

図5に、基準補正量と画面位置との関係を示す。横軸は距離であり、縦軸は補正量である。基本補正量は、図2に示す温度分布と重ね合わせた場合に、特性曲線が一定値を維持するように設定される。
基準補正量による温度補正が主に実行される領域(主補正量域)は、発光部最下端から上方200mmの範囲である。この領域は、なんらの手当もしない場合に温度低下が認められる領域である。
ここで、調整係数決定部13Bは、傾斜角と調整係数との対応関係をテーブルメモリに保持する。なお、傾斜角に対応する調整係数は演算により求めることもできる。例えば、負の傾きを有する一次関数で与える。
FIG. 5 shows the relationship between the reference correction amount and the screen position. The horizontal axis is distance, and the vertical axis is correction amount. The basic correction amount is set so that the characteristic curve maintains a constant value when superimposed on the temperature distribution shown in FIG.
The region where the temperature correction based on the reference correction amount is mainly executed (main correction amount region) is a range of 200 mm upward from the lowermost end of the light emitting unit. This region is a region where a decrease in temperature is observed without any allowance.
Here, the adjustment coefficient determination unit 13B holds the correspondence relationship between the tilt angle and the adjustment coefficient in the table memory. The adjustment coefficient corresponding to the tilt angle can also be obtained by calculation. For example, a linear function having a negative slope is given.

図6に、傾斜角の大きさに応じた調整係数の決定例を示す。この形態例の場合、調整係数は0以上1以下の値を使用する。
図6(A)は、発光面25の傾斜角が0°(ゼロ)の場合を示す。この使用態様を垂直使用態様という。この場合、調整係数は“1”である。
図6(B)は、発光面25の傾斜角が90°(ゼロ)の場合を示す。すなわち、発光面15が水平方向と平行になるまで傾いた使用態様を示す。この使用態様を水平使用態様という。この場合、調整係数は“0”である。
なお、傾斜角が0°〜90°の範囲では、傾斜角が小さいほど調整係数は“1”に近くなり、傾斜角が大きいほど調整係数は“0”に近くなる(図7)。
FIG. 6 shows an example of determining the adjustment coefficient in accordance with the inclination angle. In the case of this embodiment, the adjustment coefficient uses a value between 0 and 1.
FIG. 6A shows a case where the inclination angle of the light emitting surface 25 is 0 ° (zero). This usage mode is referred to as a vertical usage mode. In this case, the adjustment coefficient is “1”.
FIG. 6B shows a case where the inclination angle of the light emitting surface 25 is 90 ° (zero). That is, the usage mode is shown in which the light emitting surface 15 is tilted until it becomes parallel to the horizontal direction. This usage mode is referred to as a horizontal usage mode. In this case, the adjustment coefficient is “0”.
Note that, in the range of the tilt angle from 0 ° to 90 °, the smaller the tilt angle, the closer the adjustment coefficient is to “1”, and the larger the tilt angle, the closer the adjustment coefficient is to “0” (FIG. 7).

補正量調整部13Cは、決定された調整係数で基準補正量を調整する処理デバイスである。この形態例の場合、補正量調整部13Cは、調整係数を基本補正量に乗算し、補正量の大きさを調整する。
図8に、補正量調整部13Cから出力される補正量と画面位置との関係を示す。横軸は距離であり、縦軸は補正量である。
例えば、水平使用態様の場合、補正量は、画面位置によらず同じ値となる。これは、温度ムラ補正が不要なことを意味する。
また例えば、垂直使用態様の場合、補正量は、主補正量域について発光端部ほど大きな補正量が与えられる。
なお、傾斜角がこれらの中間位置の場合、補正量は、2つの曲線で挟まれた範囲内を変化する。図8では、2つの傾斜角について、補正量と画面位置との関係を細線と破線で示す。
The correction amount adjustment unit 13C is a processing device that adjusts the reference correction amount with the determined adjustment coefficient. In the case of this embodiment, the correction amount adjustment unit 13C multiplies the basic correction amount by the adjustment coefficient to adjust the magnitude of the correction amount.
FIG. 8 shows the relationship between the correction amount output from the correction amount adjustment unit 13C and the screen position. The horizontal axis is distance, and the vertical axis is correction amount.
For example, in the case of horizontal usage, the correction amount is the same value regardless of the screen position. This means that temperature unevenness correction is unnecessary.
Further, for example, in the case of the vertical usage mode, the correction amount is given a larger correction amount toward the light emitting end in the main correction amount region.
When the inclination angle is at these intermediate positions, the correction amount changes within the range between the two curves. In FIG. 8, the relationship between the correction amount and the screen position is indicated by a thin line and a broken line for two inclination angles.

(b)補正動作
図9に、温度ムラ補正装置1で実行される一連の処理手順を示す。
図9では、補正量調整部13Cが基準補正量記憶部13Dより基準補正量を最初に読み出す(P1)。もっとも、基準補正量の読み出しは、処理P2及びP3と並列に実行しても良いし、処理P3の後に実行しても良い。
次に、使用傾き検出部13Aが現在の傾斜角を検出する(P2)。この後、調整係数決定部13Bが傾斜角に応じた調整係数を決定し、これを補正量調整部13Cに与える(P3)。
補正量調整部13Cは、調整係数を基本補正量に乗算して、現在の使用態様に応じた補正量を調整する(P4)。調整済み補正量は、温度ムラ補正実行部15に与えられる。
温度ムラ補正実行部15は、調整済み補正量を用いて補正パターンを生成し、補正パターンを補正対象とする信号に適用する(P5)。これにより、発光面の温度分布は、どのような使用態様の場合にも均一化される。
(B) Correction Operation FIG. 9 shows a series of processing procedures executed by the temperature unevenness correction apparatus 1.
In FIG. 9, the correction amount adjustment unit 13C first reads the reference correction amount from the reference correction amount storage unit 13D (P1). However, the reading of the reference correction amount may be performed in parallel with the processes P2 and P3, or may be performed after the process P3.
Next, the use inclination detector 13A detects the current inclination angle (P2). Thereafter, the adjustment coefficient determination unit 13B determines an adjustment coefficient corresponding to the inclination angle, and gives this to the correction amount adjustment unit 13C (P3).
The correction amount adjustment unit 13C multiplies the basic correction amount by the adjustment coefficient to adjust the correction amount according to the current usage mode (P4). The adjusted correction amount is given to the temperature unevenness correction execution unit 15.
The temperature unevenness correction execution unit 15 generates a correction pattern using the adjusted correction amount, and applies the correction pattern to a signal to be corrected (P5). Thereby, the temperature distribution on the light emitting surface is made uniform in any use mode.

(c)形態例の効果
この温度ムラ補正装置11を用いれば、発光面が垂直使用態様以外で使用される場合にも、発光面の傾斜角に適した温度ムラ補正パターンを生成することができる。
よって、どのような使用態様(傾斜角)の場合にも、発光面の温度分布を発光面の全体にわたって均一に保つことができる。特に、発光面積が小型又は中型の場合には、垂直使用態様以外の傾斜角での使用が多いため、これらの装置への搭載が好ましい。
この結果、発光素子の劣化速度の違いを抑制でき、画素劣化による固定的な輝度ムラが発生するのを防止できる。これは、ディスプレイパネルの長寿命化を図るのに有効である。
(C) Effects of Embodiments Using this temperature unevenness correction device 11 can generate a temperature unevenness correction pattern suitable for the inclination angle of the light emitting surface even when the light emitting surface is used in a mode other than the vertical usage mode. .
Therefore, in any use mode (tilt angle), the temperature distribution on the light emitting surface can be kept uniform over the entire light emitting surface. In particular, when the light emitting area is small or medium, it is often used at an inclination angle other than the vertical usage mode, so that mounting on these devices is preferable.
As a result, a difference in deterioration rate of the light emitting elements can be suppressed, and fixed luminance unevenness due to pixel deterioration can be prevented. This is effective for extending the life of the display panel.

(A−2)形態例2
この形態例では、温度ムラ補正パターンを表示信号に合成して温度ムラを補正する方式の温度ムラ補正装置について説明する。
図10に、温度ムラ補正装置の構成例を示す。温度ムラ補正装置31は、温度ムラ補正量決定部13と温度ムラ補正実行部33を主要な構成要素とする。
このうち、温度ムラ補正量決定部13の構成は、形態例1(図3)と同じである。
温度ムラ補正実行部33は、補正パターン生成部33Aと表示データ変換部33Bで構成する。補正パターン生成部33Aは、温度ムラ補正量決定部13で決定された補正量を実際の画素位置に対応付けて補正パターンを生成する処理を実行する。
(A-2) Embodiment 2
In this embodiment, a temperature unevenness correction apparatus that corrects temperature unevenness by combining a temperature unevenness correction pattern with a display signal will be described.
FIG. 10 shows a configuration example of the temperature unevenness correction apparatus. The temperature unevenness correction device 31 includes a temperature unevenness correction amount determination unit 13 and a temperature unevenness correction execution unit 33 as main components.
Among these, the configuration of the temperature unevenness correction amount determination unit 13 is the same as that of the first embodiment (FIG. 3).
The temperature unevenness correction execution unit 33 includes a correction pattern generation unit 33A and a display data conversion unit 33B. The correction pattern generation unit 33A executes a process of generating a correction pattern by associating the correction amount determined by the temperature unevenness correction amount determination unit 13 with the actual pixel position.

表示データ変換部33Bは、生成された補正パターンを入力表示信号に合成し、出力表示信号に変換する処理を実行する。
具体的には、主補正領域である発光部最下端から200mmの範囲の画素に対応する入力表示信号の階調値は、入力時よりも高い階調(高輝度)に変換される。結果的に、主補正領域の温度は、発光部の上方部分よりも高温に制御される。
勿論、補正量は、使用態様(傾斜角)に応じて調整されている。従って、発光面の全面について温度が均一化される。
The display data conversion unit 33B performs a process of combining the generated correction pattern with the input display signal and converting it into an output display signal.
Specifically, the gradation value of the input display signal corresponding to the pixel in the range of 200 mm from the lowermost end of the light emitting portion, which is the main correction area, is converted to a gradation (high luminance) higher than that at the time of input. As a result, the temperature of the main correction region is controlled to be higher than the upper part of the light emitting unit.
Of course, the correction amount is adjusted according to the use mode (inclination angle). Therefore, the temperature is made uniform over the entire light emitting surface.

(A−3)形態例3
この形態例では、温度ムラ補正パターンでダミー画素の発熱量を調整し、温度ムラを補正する方式の温度ムラ補正装置について説明する。
図11に、ダミー画素領域を有するディスプレイパネル41の構成例を示す。このディスプレイパネル41は、有効表示領域43に隣接する外周領域にダミー画素領域45を配置する。
なお、ダミー画素領域45の表面は遮光されており、ダミー画素の光が外部に漏れ出ないように形成されている。すなわち、ダミー画素領域45は、専ら発熱のためだけに使用される。
(A-3) Embodiment 3
In this embodiment, a temperature unevenness correction apparatus that corrects temperature unevenness by adjusting the amount of heat generated by a dummy pixel using a temperature unevenness correction pattern will be described.
FIG. 11 shows a configuration example of the display panel 41 having a dummy pixel region. In the display panel 41, a dummy pixel area 45 is arranged in an outer peripheral area adjacent to the effective display area 43.
The surface of the dummy pixel region 45 is shielded from light so that the light of the dummy pixel does not leak outside. That is, the dummy pixel area 45 is used only for heat generation.

図12に、温度ムラ補正装置の構成例を示す。温度ムラ補正装置51は、温度ムラ補正量決定部13と温度ムラ補正実行部53を主要な構成要素とする。
このうち、温度ムラ補正量決定部13の構成は、形態例1(図3)と同じである。
温度ムラ補正実行部53は、表示データ情報検出部53Aと、ダミー画素データ生成部53Bと、ダミー画素データ追加部53Cとで構成する。
表示データ情報検出部53Aは、有効表示領域43内に位置する各画素の階調値の平均値をフレーム単位で検出する。この検出結果は、ダミー画素データ生成部53Bに与えられる。
FIG. 12 shows a configuration example of the temperature unevenness correction apparatus. The temperature unevenness correction device 51 includes the temperature unevenness correction amount determination unit 13 and the temperature unevenness correction execution unit 53 as main components.
Among these, the configuration of the temperature unevenness correction amount determination unit 13 is the same as that of the first embodiment (FIG. 3).
The temperature unevenness correction execution unit 53 includes a display data information detection unit 53A, a dummy pixel data generation unit 53B, and a dummy pixel data addition unit 53C.
The display data information detection unit 53A detects the average value of the gradation values of each pixel located in the effective display area 43 in units of frames. This detection result is given to the dummy pixel data generation unit 53B.

ダミー画素データ生成部53Bは、与えられた平均階調値を基準として、ダミー画素の階調値を決定する。なお、ダミー画素には、有効表示領域43の上方に位置するダミー画素(上方ダミー画素)と、有効表示領域43の下方に位置するダミー画素(下方ダミー画素)と、有効表示領域43の左側及び右側に位置するダミー画素(側方ダミー画素)とがある。
ダミー画素データ生成部53Bは、これらダミー画素の位置に応じて最適なダミー画素データを生成する。
ダミー画素データ生成部53Bは、2つの観点でダミー画素データを生成する。
The dummy pixel data generation unit 53B determines the gradation value of the dummy pixel with reference to the given average gradation value. The dummy pixels include a dummy pixel located above the effective display area 43 (upper dummy pixel), a dummy pixel located below the effective display area 43 (lower dummy pixel), a left side of the effective display area 43, and There are dummy pixels (side dummy pixels) located on the right side.
The dummy pixel data generation unit 53B generates optimal dummy pixel data according to the positions of these dummy pixels.
The dummy pixel data generation unit 53B generates dummy pixel data from two viewpoints.

1つは、有効表示領域の外縁に沿って位置する画素の温度低下を補正する観点である。これは、外縁部の画素で発生した熱が熱伝導によって有効表示領域の外方に拡散することによる温度低下の補正を主眼とする。
この温度補正には、上方、下方及び側方の全ダミー画素が用いられる。この温度ムラの補正に使用するダミー画素データは、有効表示領域内の平均階調値に応じて算出される。一般に、ダミー画素データの階調値は、有効表示領域内の平均階調値よりも高い値に設定される。
もう1つは、使用態様に応じた発光面の傾斜角を考慮した温度ムラを補正する観点である。これは、空気の対流による温度低下の補正を主眼とする。この温度補正には、上方ダミー画素と下方ダミー画素が用いられる。
One is to correct the temperature decrease of the pixels located along the outer edge of the effective display area. The main purpose of this is correction of a temperature drop caused by heat generated in the pixels at the outer edge portion being diffused outside the effective display area by heat conduction.
For this temperature correction, all the upper, lower and side dummy pixels are used. The dummy pixel data used for correcting the temperature unevenness is calculated according to the average gradation value in the effective display area. Generally, the gradation value of the dummy pixel data is set to a value higher than the average gradation value in the effective display area.
The other is a viewpoint of correcting the temperature unevenness in consideration of the inclination angle of the light emitting surface according to the usage mode. This mainly focuses on correction of temperature drop due to air convection. For this temperature correction, an upper dummy pixel and a lower dummy pixel are used.

ダミー画素データ生成部53Bは、温度ムラ補正量決定部13から発光面の傾斜角に応じた補正量だけ上方ダミー画素と下方ダミー画素の階調値を算出する。
前述の通り、傾斜角が0°(ゼロ)又は小さいとき、温度ムラ補正量決定部13から与えられる補正量は大きく、傾斜角が90°(水平)又は水平に近いとき、温度ムラ補正量決定部13から与えられる補正量は小さくなる。
従って、発光面がほぼ垂直使用態様のとき、ダミー画素データ生成部53Bは、下方ダミー画素に対する階調値を上方ダミー画素に対する階調値よりも大幅に大きくする。なお、発光面の使用態様が水平使用態様に近づくほど、下方ダミー画素の階調値と上方ダミー画素の階調値との差は小さくなる。因みに、水平使用態様での下方ダミー画素の階調値と上方ダミー画素の階調値は、側方ダミー画素の階調値と同じ値になる。
The dummy pixel data generation unit 53B calculates the gradation values of the upper dummy pixel and the lower dummy pixel from the temperature unevenness correction amount determination unit 13 by a correction amount corresponding to the inclination angle of the light emitting surface.
As described above, when the tilt angle is 0 ° (zero) or small, the correction amount given from the temperature unevenness correction amount determination unit 13 is large, and when the tilt angle is 90 ° (horizontal) or close to horizontal, the temperature unevenness correction amount determination is determined. The correction amount given from the unit 13 becomes small.
Therefore, when the light emitting surface is in a substantially vertical usage mode, the dummy pixel data generation unit 53B greatly increases the gradation value for the lower dummy pixel than the gradation value for the upper dummy pixel. In addition, the difference between the gradation value of the lower dummy pixel and the gradation value of the upper dummy pixel becomes smaller as the usage pattern of the light emitting surface approaches the horizontal usage pattern. Incidentally, the gradation value of the lower dummy pixel and the gradation value of the upper dummy pixel in the horizontal usage mode are the same as the gradation value of the side dummy pixel.

ダミー画素データ生成部53Bは、熱伝導による温度低下の補正用に算出した階調値に、空気の対流による温度低下の補正用に算出した階調値(補正量)を加算することにより、各ダミー画素に与える階調値(ダミー画素データ)を生成する。
ダミー画素データ追加部53Cは、このようにして生成されたダミー画素データを、入力表示信号に付加する処理を実行する。すなわち、有効表示領域43の各画素の階調値を与える入力表示信号に、ダミー画素データを付加する機能を実現する。
勿論、追加されたダミー画素データは、それぞれ対応する位置のダミー画素の点灯駆動に用いられる。
この形態例に係る温度ムラ補正装置の場合、温度ムラ補正のために、有効表示領域に表示される画像の階調情報に変更を加えない。従って、表示される画面の階調が損なわれずに済む。
The dummy pixel data generation unit 53B adds each gradation value (correction amount) calculated for correcting the temperature decrease due to air convection to the gradation value calculated for correcting the temperature decrease due to heat conduction. A gradation value (dummy pixel data) to be given to the dummy pixel is generated.
The dummy pixel data adding unit 53C executes a process of adding the dummy pixel data generated in this way to the input display signal. That is, a function of adding dummy pixel data to an input display signal that gives a gradation value of each pixel in the effective display area 43 is realized.
Of course, the added dummy pixel data is used for lighting driving of the dummy pixels at the corresponding positions.
In the case of the temperature unevenness correction apparatus according to this embodiment, the gradation information of the image displayed in the effective display area is not changed for temperature unevenness correction. Therefore, the gradation of the displayed screen is not impaired.

(A−4)形態例4
この形態例では、温度ムラ補正パターンで各画素の発光時間(デューティ比)を調整し、温度ムラを補正する方式の温度ムラ補正装置について説明する。なお、この形態例は、発光部を構成する画素回路とその駆動回路がデューティ比の制御に対応している必要がある。
図13に、温度ムラ補正装置の構成例を示す。温度ムラ補正装置61は、温度ムラ補正量決定部13と、温度ムラ補正実行部63と、データドライバ65と、デューティ変調機能付きゲートドライバ67と、ディスプレイパネル69とを主要な構成要素とする。
(A-4) Embodiment 4
In this embodiment, a temperature unevenness correction apparatus that corrects temperature unevenness by adjusting the light emission time (duty ratio) of each pixel with a temperature unevenness correction pattern will be described. In this embodiment, it is necessary that the pixel circuit constituting the light emitting unit and its drive circuit correspond to the duty ratio control.
FIG. 13 shows a configuration example of the temperature unevenness correction apparatus. The temperature unevenness correction device 61 includes a temperature unevenness correction amount determination unit 13, a temperature unevenness correction execution unit 63, a data driver 65, a gate driver 67 with a duty modulation function, and a display panel 69 as main components.

このうち、温度ムラ補正量決定部13の構成は、形態例1(図3)と同じである。
温度ムラ補正実行部63は、表示データ情報検出部63Aと、タイミングジェネレータ63Bと、デューティ比調整部63Cとで構成する。
表示データ情報検出部63Aは、発光面を構成する画素の階調値の平均値をフレーム単位で検出する。この検出結果は、デューティ比調整部63Cに与えられる。
タイミングジェネレータ63Bは、入力表示信号を入力し、各ドライバを駆動するのに必要なタイミングパルスを生成する。例えば、データドライバ用のスキャンパルス、ゲートドライバ用のスキャンパルス及びデューティパルスを生成する。
Among these, the configuration of the temperature unevenness correction amount determination unit 13 is the same as that of the first embodiment (FIG. 3).
The temperature unevenness correction execution unit 63 includes a display data information detection unit 63A, a timing generator 63B, and a duty ratio adjustment unit 63C.
The display data information detection unit 63A detects an average value of gradation values of pixels constituting the light emitting surface in units of frames. The detection result is given to the duty ratio adjustment unit 63C.
The timing generator 63B receives an input display signal and generates a timing pulse necessary for driving each driver. For example, a scan pulse for a data driver, a scan pulse for a gate driver, and a duty pulse are generated.

デューティ比調整部63Cは、デューティパルスのオン期間の長さを温度ムラ補正量に応じて調整する処理デバイスである。
図14に、垂直使用態様で使用するデューティパルスの例を示す。図14(A)は、1フレーム期間を与えるフレームパルスである。図14(B)は、発光部の最上端側に位置する先頭ラインに印加されるデューティパルスである。図14(C)は、発光部の最上端と最下端の中央付近に位置するラインに印加されるデューティパルスである。図14(D)は、発光部の最下端側に位置する終端ラインに印加されるデューティパルスである。
図14に示すように補正量が大きい最下端側ほどデューティパルスのオン時間(点灯時間)が長く調整される。オン時間が長いということは、自発光素子の発熱時間が長くなることを意味する。このため、空気の対流による温度低下を補うことが可能となる。
The duty ratio adjustment unit 63C is a processing device that adjusts the length of the ON period of the duty pulse in accordance with the temperature unevenness correction amount.
FIG. 14 shows an example of the duty pulse used in the vertical usage mode. FIG. 14A shows a frame pulse that gives one frame period. FIG. 14B shows a duty pulse applied to the leading line located on the uppermost end side of the light emitting unit. FIG. 14C shows duty pulses applied to a line located near the center of the uppermost end and the lowermost end of the light emitting unit. FIG. 14D shows the duty pulse applied to the termination line located on the lowermost side of the light emitting unit.
As shown in FIG. 14, the duty pulse on-time (lighting time) is adjusted to be longer as the lowermost correction amount increases. A long on-time means that the heat generation time of the self-luminous element becomes long. For this reason, it becomes possible to compensate for the temperature drop due to air convection.

なお、図15に、水平使用態様で使用するデューティパルスの例を示す。図15(A)〜(D)は、図14(A)〜(D)に対応する。水平使用態様では、空気の対流を原因とした温度ムラは発生しないため、ライン位置の違いによらず同じデューティパルスが使用される。
実際、温度ムラ補正量決定部13からデューティ比調整部63Cに与えられる補正量は0(ゼロ)である。
図16に、データドライバ65、デューティ変調機能付きゲートドライバ67、ディスプレイパネル69で構成されるパネルモジュールの構造例を示す。
FIG. 15 shows an example of duty pulses used in the horizontal usage mode. FIGS. 15A to 15D correspond to FIGS. 14A to 14D. In the horizontal usage mode, temperature unevenness due to air convection does not occur, so the same duty pulse is used regardless of the difference in line position.
Actually, the correction amount given from the temperature unevenness correction amount determination unit 13 to the duty ratio adjustment unit 63C is 0 (zero).
FIG. 16 shows a structural example of a panel module including a data driver 65, a gate driver 67 with a duty modulation function, and a display panel 69.

ディスプレイパネル69は、発光領域69A(有機EL素子69Bがマトリクス状に配列された領域)で構成される。
画素駆動回路は、データドライバ65と、デューティ変調機能付きゲートドライバ67とで構成される。ここで、画像駆動回路は、発光領域の周辺部に形成される。
デューティ変調機能付きゲートドライバ67は、走査用ゲートドライバ67Aと点灯時間制御用ゲートドライバ67Bとで構成される。
The display panel 69 includes a light emitting area 69A (an area where the organic EL elements 69B are arranged in a matrix).
The pixel drive circuit includes a data driver 65 and a gate driver 67 with a duty modulation function. Here, the image driving circuit is formed in the periphery of the light emitting region.
The gate driver 67 with a duty modulation function includes a scanning gate driver 67A and a lighting time control gate driver 67B.

各画素に対応する有機EL素子69Bとその駆動回路(画素駆動回路)69Cは、データ線69Dと走査線69Eの交点位置に配置されている。画素駆動回路69Cは、データスイッチ素子T1、キャパシタC1、電流駆動素子T2、点灯スイッチ素子T3で構成される。
このうち、データスイッチ素子T1は、データ線69Dを通じて与えられる電圧値の取り込みタイミングを制御するのに用いられる。取り込みタイミングは、走査線69Eを通じて線順次で与えられる。
キャパシタC1は、取り込んだ電圧値を1フレームの間保持するのに用いられる。キャパシタC1を用いることで、面順次駆動が実現される。
The organic EL element 69B corresponding to each pixel and its driving circuit (pixel driving circuit) 69C are arranged at the intersection of the data line 69D and the scanning line 69E. The pixel drive circuit 69C includes a data switch element T1, a capacitor C1, a current drive element T2, and a lighting switch element T3.
Among these, the data switch element T1 is used to control the timing of taking in the voltage value applied through the data line 69D. The capture timing is given line-sequentially through the scanning line 69E.
The capacitor C1 is used to hold the acquired voltage value for one frame. By using the capacitor C1, frame sequential driving is realized.

電流駆動素子T2は、キャパシタC1の電圧値に応じた電流を有機EL素子69Bに供給するのに用いられる。駆動電流は、電流供給線69Fから供給される。
点灯スイッチ素子T3は、有機EL素子69Bに対する駆動電流の供給を制御するのに用いられる。点灯スイッチ素子T3は、駆動電流の供給経路に対して直列に配置される。点灯スイッチ素子T3が閉じている間、有機EL素子69Bが点灯する。一方、点灯スイッチ素子T3が開いている間、有機EL素子69Bが消灯する。
この点灯スイッチ素子T3の開閉動作を制御するデューティパルス(図14、図15)を供給するのが点灯制御線69Gである。
The current driving element T2 is used to supply a current corresponding to the voltage value of the capacitor C1 to the organic EL element 69B. The drive current is supplied from a current supply line 69F.
The lighting switch element T3 is used to control the supply of drive current to the organic EL element 69B. The lighting switch element T3 is arranged in series with respect to the drive current supply path. While the lighting switch element T3 is closed, the organic EL element 69B is lit. On the other hand, the organic EL element 69B is turned off while the lighting switch element T3 is open.
The lighting control line 69G supplies a duty pulse (FIGS. 14 and 15) for controlling the opening / closing operation of the lighting switch element T3.

点灯制御線69Gに対する制御電圧は、点灯時間制御用ゲートドライバ67Bから与えられる。
なお、点灯時間の制御に用いる制御電圧は、デューティ比調整部63Cから点灯時間制御用ゲートドライバ67Bに与えられるデューティパルスに基づいて生成される。
この形態例に係る温度ムラ補正装置の場合、温度ムラ補正のために、有効表示領域に表示される画像の階調情報に変更を加えない。従って、表示される画面の階調が損なわれずに済む。
The control voltage for the lighting control line 69G is supplied from the lighting time control gate driver 67B.
The control voltage used for controlling the lighting time is generated based on the duty pulse supplied from the duty ratio adjustment unit 63C to the lighting time control gate driver 67B.
In the case of the temperature unevenness correction apparatus according to this embodiment, the gradation information of the image displayed in the effective display area is not changed for temperature unevenness correction. Therefore, the gradation of the displayed screen is not impaired.

(B)他の形態例
(a)前述の形態例では、自発光素子が有機EL素子の場合について説明した。しかし、各画素の発熱量が、各画素に流れる電流量に比例する自発光素子であれば、有機EL素子以外で構成される表示パネルにも広く適用できる。
(b)前述の形態例では、垂直使用態様での調整係数を“1”に設定し、水平使用態様での調整係数を“0”に設定する場合について説明した。
しかし、調整係数は0より大きく1より小さい範囲の値であれば、その最大値は“1”でなくても良く、最小値は“0”でなくても良い。この場合、垂直使用態様での調整係数にはこの条件を満たす最大値に設定し、水平使用態様での調整係数にはこの条件を満たす最小値に設定すれば良い。
(B) Other Embodiments (a) In the above-described embodiments, the case where the self-luminous element is an organic EL element has been described. However, as long as the amount of heat generated by each pixel is a self-luminous element that is proportional to the amount of current flowing through each pixel, the present invention can be widely applied to display panels composed of other than organic EL elements.
(B) In the above-described embodiment, the case where the adjustment coefficient in the vertical usage mode is set to “1” and the adjustment coefficient in the horizontal usage mode is set to “0” has been described.
However, if the adjustment coefficient is a value in the range greater than 0 and less than 1, the maximum value may not be “1”, and the minimum value may not be “0”. In this case, the adjustment coefficient in the vertical usage mode may be set to the maximum value that satisfies this condition, and the adjustment coefficient in the horizontal usage mode may be set to the minimum value that satisfies this condition.

(c)前述の形態例では、基準補正量を最初に読み出した後、発光面の傾斜角を検出するものとして説明した。
しかし、基準補正量の読み出しは、傾斜角に応じて決定された調整係数による基準補正量の調整までに実行されていれば良い。
(d)前述の形態例では、温度ムラ補正装置を内蔵した表示装置について説明した。この表示装置は、単独の商品形態でも良いし、他の画像処理装置の一部として搭載されても良い。
例えば、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置(カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。)、情報処理端末(携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等)、ゲーム機の表示デバイスとしも実現できる。
(e)前述の形態例では、温度ムラ補正装置を表示装置に内蔵する場合について説明した。しかし、温度分布検出装置は、表示装置に対して入力表示信号を供給する画像処理装置側に搭載しても良い。この場合、表示装置の使用態様に応じた傾斜角の情報が画像処理装置に与えられる方式を採用する。
(C) In the above-described embodiment, it has been described that the inclination angle of the light emitting surface is detected after the reference correction amount is first read out.
However, the reading of the reference correction amount only needs to be executed before the adjustment of the reference correction amount using the adjustment coefficient determined according to the tilt angle.
(D) In the above-described embodiment, the display device incorporating the temperature unevenness correction device has been described. This display device may be in the form of a single product or may be mounted as part of another image processing device.
For example, video cameras, digital cameras and other imaging devices (including not only camera units but also those integrated with a recording device), information processing terminals (portable computers, mobile phones, portable game machines) , Electronic notebook, etc.) and display devices for game machines.
(E) In the embodiment described above, the case where the temperature unevenness correction device is built in the display device has been described. However, the temperature distribution detection device may be mounted on the image processing device that supplies an input display signal to the display device. In this case, a method is adopted in which information on the tilt angle according to the usage mode of the display device is given to the image processing device.

(f)前述の形態例では、演算器をハードウェアとして搭載する場合について説明した。
しかし、この演算器の機能は、ソフトウェア処理で実現しても良い。
(g)前述の形態例では、温度ムラ補正装置の機能構成を説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとして実現することも、ソフトウェアとして実現することも可能である。
また、温度ムラ補正装置を構成する全ての機能をハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
(h)前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
(F) In the above-described embodiment, the case where the arithmetic unit is mounted as hardware has been described.
However, the function of this arithmetic unit may be realized by software processing.
(G) Although the functional configuration of the temperature unevenness correction apparatus has been described in the above-described embodiment, it is needless to say that an equivalent function can be realized as hardware or software.
Moreover, not only all the functions constituting the temperature unevenness correction apparatus are realized by hardware or software, but some of them may be realized by using hardware or software. That is, a combination of hardware and software may be used.
(H) Various modifications can be considered for the above-described embodiments within the scope of the gist of the invention. Various modifications and application examples created based on the description of the present specification are also conceivable.

空気の対流によって発生する温度ムラを示す図である。It is a figure which shows the temperature nonuniformity which generate | occur | produces by the convection of air. 発光部中央からの距離と表面温度との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the distance from the light emission center, and surface temperature. 温度ムラ補正装置の形態例を示す図である。It is a figure which shows the example of a form of a temperature nonuniformity correction apparatus. 使用態様例を示す図である。It is a figure which shows the usage example. 画面位置と基準補正量との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between a screen position and a reference | standard correction amount. 使用態様と調整係数との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between a usage condition and an adjustment coefficient. 発光面の傾きと調整係数との関係を示す図表である。It is a graph which shows the relationship between the inclination of a light emission surface, and an adjustment coefficient. 画面位置と調整後の補正量との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between a screen position and the corrected amount after adjustment. 温度ムラの補正手順を示す図である。It is a figure which shows the correction procedure of a temperature nonuniformity. 温度ムラ補正装置の他の形態例を示す図である。It is a figure which shows the other form example of a temperature nonuniformity correction apparatus. 有効表示領域とダミー画素領域との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between an effective display area and a dummy pixel area. 温度ムラ補正装置の他の形態例を示す図である。It is a figure which shows the other form example of a temperature nonuniformity correction apparatus. 温度ムラ補正装置の他の形態例を示す図である。It is a figure which shows the other form example of a temperature nonuniformity correction apparatus. 垂直使用態様でのデューティパルス例を示す図である。It is a figure which shows the example of a duty pulse in a vertical use aspect. 水平使用態様でのデューティパルス例を示す図である。It is a figure which shows the example of a duty pulse in a horizontal use aspect. 発光時間の可変が可能な画素回路の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the pixel circuit which can vary light emission time.

符号の説明Explanation of symbols

11、31、51、61 温度ムラ補正装置
13 温度ムラ補正量決定部
13A 使用傾き検出部
13B 調整係数決定部
13C 補正量調整部
13D 基準補正量記憶部
15、33、53、63 温度ムラ補正実行部
33A 補正パターン生成部
33B 表示データ変換部
53A、63A 表示データ情報検出部
53B ダミー画素データ生成部
53C ダミー画素データ追加部
63B タイミングジェネレータ
63C デューティ比調整部
11, 31, 51, 61 Temperature unevenness correction device 13 Temperature unevenness correction amount determination unit 13A Use inclination detection unit 13B Adjustment coefficient determination unit 13C Correction amount adjustment unit 13D Reference correction amount storage unit 15, 33, 53, 63 Temperature unevenness correction execution Unit 33A correction pattern generation unit 33B display data conversion unit 53A, 63A display data information detection unit 53B dummy pixel data generation unit 53C dummy pixel data addition unit 63B timing generator 63C duty ratio adjustment unit

Claims (7)

自発光素子がマトリクス状に配置された発光面内の温度ムラを補正する補正量の決定方法であって、
発光面が鉛直方向と平行に設置された場合に発生する発光面下部の温度ムラの補正用に設定した基準補正量を読み出す処理と、
鉛直方向に対する発光面の傾斜角を検出する処理と、
傾斜角の大きさに応じ、前記基準補正量に対する調整係数を決定する処理と、
決定された調整係数で前記基準補正量を調整する処理と
を有することを特徴とする温度ムラ補正量決定方法。
A method for determining a correction amount for correcting temperature unevenness in a light emitting surface in which self-emitting elements are arranged in a matrix,
A process of reading a reference correction amount set for correcting temperature unevenness at the lower part of the light emitting surface that occurs when the light emitting surface is installed in parallel with the vertical direction;
Processing to detect the tilt angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction;
A process of determining an adjustment coefficient for the reference correction amount according to the magnitude of the inclination angle;
And a process for adjusting the reference correction amount with the determined adjustment coefficient.
請求項1に記載の温度ムラ補正量決定方法であって、
前記調整係数は、0以上1以下の範囲で与えられる
ことを特徴とする温度ムラ補正量決定方法。
The temperature unevenness correction amount determination method according to claim 1,
The temperature unevenness correction amount determination method, wherein the adjustment coefficient is given in a range of 0 to 1.
請求項2に記載の温度ムラ補正量決定方法であって、
前記調整係数は、発光面が鉛直方向と平行に設置されたとき1又は最大値に設定され、発光面が鉛直方向から水平方向に傾斜するのに従って値が小さくなり、発光面が水平方向まで傾斜したとき0又は最小値に設定される
ことを特徴とする温度ムラ補正量決定方法。
The temperature unevenness correction amount determination method according to claim 2,
The adjustment coefficient is set to 1 or the maximum value when the light emitting surface is installed in parallel with the vertical direction, the value decreases as the light emitting surface is inclined in the horizontal direction from the vertical direction, and the light emitting surface is inclined in the horizontal direction. A temperature unevenness correction amount determination method, characterized in that the temperature unevenness correction amount is set to 0 or a minimum value.
自発光素子がマトリクス状に配置された発光面と、
発光面が鉛直方向と平行に設置された場合に発生する発光面下部の温度ムラの補正用に設定した基準補正量を記憶する記憶領域と、
鉛直方向に対する発光面の傾斜角を検出する傾斜角検出部と、
傾斜角の大きさに応じ、前記基準補正量に対する調整係数を決定する調整係数決定部と、
決定された調整係数で前記基準補正量を調整する補正量調整部と
を有することを特徴とする表示装置。
A light emitting surface in which self-emitting elements are arranged in a matrix;
A storage area for storing a reference correction amount set for correcting temperature unevenness at the lower part of the light emitting surface that occurs when the light emitting surface is installed parallel to the vertical direction;
An inclination angle detector for detecting an inclination angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction;
An adjustment coefficient determining unit for determining an adjustment coefficient for the reference correction amount according to the magnitude of the inclination angle;
And a correction amount adjusting unit that adjusts the reference correction amount with the determined adjustment coefficient.
自発光素子がマトリクス状に配置された発光面内の温度ムラを補正する補正量を決定する装置であって、
発光面が鉛直方向と平行に設置された場合に発生する発光面下部の温度ムラの補正用に設定した基準補正量を記憶する記憶領域と、
鉛直方向に対する発光面の傾斜角を検出する傾斜角検出部と、
傾斜角の大きさに応じ、前記基準補正量に対する調整係数を決定する調整係数決定部と、
決定された調整係数で前記基準補正量を調整する補正量調整部と
を有することを特徴とする温度ムラ補正量決定装置。
A device for determining a correction amount for correcting temperature unevenness in a light emitting surface in which self-emitting elements are arranged in a matrix,
A storage area for storing a reference correction amount set for correcting temperature unevenness at the lower part of the light emitting surface that occurs when the light emitting surface is installed parallel to the vertical direction;
An inclination angle detector for detecting an inclination angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction;
An adjustment coefficient determining unit for determining an adjustment coefficient for the reference correction amount according to the magnitude of the inclination angle;
A temperature unevenness correction amount determination device comprising: a correction amount adjustment unit that adjusts the reference correction amount with the determined adjustment coefficient.
自発光素子がマトリクス状に配置された発光面内の温度ムラを補正する装置であって、
発光面が鉛直方向と平行に設置された場合に発生する発光面下部の温度ムラの補正用に設定した基準補正量を記憶する記憶領域と、
鉛直方向に対する発光面の傾斜角を検出する傾斜角検出部と、
傾斜角の大きさに応じ、前記基準補正量に対する調整係数を決定する調整係数決定部と、
決定された調整係数で前記基準補正量を調整する補正量調整部と、
決定された補正量により発光面下部の温度ムラを補正する補正実行部と
を有することを特徴とする温度ムラ補正装置。
An apparatus for correcting temperature unevenness in a light emitting surface in which self-emitting elements are arranged in a matrix,
A storage area for storing a reference correction amount set for correcting temperature unevenness at the lower part of the light emitting surface that occurs when the light emitting surface is installed parallel to the vertical direction;
An inclination angle detector for detecting an inclination angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction;
An adjustment coefficient determining unit for determining an adjustment coefficient for the reference correction amount according to the magnitude of the inclination angle;
A correction amount adjustment unit that adjusts the reference correction amount with the determined adjustment coefficient;
A temperature unevenness correction apparatus comprising: a correction execution unit that corrects temperature unevenness under the light emitting surface with the determined correction amount.
発光面が鉛直方向と平行に設置された場合に発生する発光面下部の温度ムラの補正用に設定した基準補正量を読み出す処理と、
鉛直方向に対する発光面の傾斜角を検出する処理と、
傾斜角の大きさに応じ、前記基準補正量に対する調整係数を決定する処理と、
決定された調整係数で前記基準補正量を調整する処理と
をコンピュータに実行させ、自発光素子がマトリクス状に配置された発光面内の温度ムラを補正する補正量を決定することを特徴とするプログラム。
A process of reading a reference correction amount set for correcting temperature unevenness at the lower part of the light emitting surface that occurs when the light emitting surface is installed in parallel with the vertical direction;
Processing to detect the tilt angle of the light emitting surface with respect to the vertical direction;
A process of determining an adjustment coefficient for the reference correction amount according to the magnitude of the inclination angle;
And a process of adjusting the reference correction amount with the determined adjustment coefficient, and determining a correction amount for correcting temperature unevenness in a light emitting surface in which self-emitting elements are arranged in a matrix. program.
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