JP2006281479A - Method for manufacturing liquid jetting head - Google Patents

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Shinichi Tsubota
真一 坪田
Hiroyuki Ishikawa
博之 石川
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    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a liquid jetting head capable of substantially making delivering characteristics uniform. <P>SOLUTION: The method for manufacturing a liquid jetting head at least comprises an etching process for simultaneously forming feeding spouts corresponding to a plurality of respective flow path substrates on a silicon wafer by etching the silicon wafer integrally formed with a plurality of the flow path substrates for a definite time using a specified protective film as a mask, and a dividing process for dividing the silicon wafer on which the feeding spouts are formed into a plurality of the flow path substrates. In the etching process, the flow path resistances of respective feeding spouts formed on the silicon wafer are made uniform by substantially adjusting at least either one of the width or the length of a narrow channel constituting the divided flow path part of the feeding spouts in accordance with the position within the surface of the silicon wafer. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、ノズルからインク滴を吐出するインクジェット式記録ヘッド等の液体噴射ヘッドの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a liquid ejecting head such as an ink jet recording head that ejects ink droplets from nozzles.

一般的に、プリンタ、ファクシミリ、複写装置等に用いられるインクジェット式記録ヘッド等の液体噴射ヘッドでは、液滴を吐出させるためのメカニズムに応じて各種方式のものが知られている。例えば、発熱素子等によって液体を沸騰させ、そのときに生じる気泡圧で液滴を吐出させるものや、液滴が充填された圧力発生室の容積を、圧電素子の変位によって膨張又は収縮させることでノズルから液滴を吐出させるものがある。さらに、例えば、静電気力を利用して圧力発生室の容積を変化させることで、ノズルから液滴を吐出させるようにしたものもある。   In general, various types of liquid ejecting heads such as ink jet recording heads used in printers, facsimiles, copiers, and the like are known depending on the mechanism for ejecting droplets. For example, the liquid is boiled by a heating element, etc., and droplets are ejected by the bubble pressure generated at that time, or the volume of the pressure generation chamber filled with the droplets is expanded or contracted by the displacement of the piezoelectric element. Some eject liquid droplets from a nozzle. Furthermore, for example, there is a liquid ejection device that discharges liquid droplets from a nozzle by changing the volume of a pressure generation chamber using electrostatic force.

例えば、静電駆動方式のインクジェット式記録ヘッドとしては、シリコン単結晶基板からなり複数のノズルが形成されたノズルプレートと、シリコン単結晶基板からなりノズルに連通するインクキャビティ(圧力室)及びインクリザーバ(共通液室)が形成されたキャビティプレートと、個別電極が配設されるガラス基板とが貼り付けられて構成され、上記インクキャビティとインクリザーバとが、ノズルプレートに形成されたインク供給路を介して連通させるようにしたものがある(例えば、特許文献1参照)。   For example, an electrostatic drive type ink jet recording head includes a nozzle plate made of a silicon single crystal substrate and formed with a plurality of nozzles, an ink cavity (pressure chamber) made of a silicon single crystal substrate and communicating with the nozzles, and an ink reservoir. A cavity plate in which a (common liquid chamber) is formed and a glass substrate on which individual electrodes are disposed are attached, and the ink cavity and the ink reservoir are connected to an ink supply path formed in the nozzle plate. There is one that communicates with each other (see, for example, Patent Document 1).

ここで、例えば、ノズルプレートは、シリコンウェハに複数一体的に形成され、最終的にこのシリコンウェハを分割することによって形成されている。すなわち、各ノズルプレートに対応する複数のノズル及びインク供給路が、シリコンウェハにエッチングにより形成された後、シリコンウェハを複数のノズルプレートに分割している。   Here, for example, a plurality of nozzle plates are integrally formed on a silicon wafer, and finally formed by dividing the silicon wafer. That is, after a plurality of nozzles and ink supply paths corresponding to each nozzle plate are formed on the silicon wafer by etching, the silicon wafer is divided into a plurality of nozzle plates.

そして、このように複数のノズル及びインク供給路等をシリコンウェハにエッチングによって形成すると、シリコンウェハの面内で深さにばらつきが生じてしまい、上記のような構成のインクジェット式記録ヘッドとした際に、各ヘッドでインク吐出特性にばらつきが生じてしまうという問題がある。また、このような吐出特性のばらつきは比較的大きいため、歩留まりが低くなってしまうという問題もある。   When a plurality of nozzles, ink supply paths, and the like are formed on a silicon wafer by etching as described above, the depth varies within the surface of the silicon wafer, and the ink jet recording head having the above-described configuration is obtained. In addition, there is a problem that the ink discharge characteristics vary among the heads. Further, since the variation in the ejection characteristics is relatively large, there is a problem that the yield is lowered.

なお、このような問題は、勿論、インクジェット式記録ヘッドだけでなく、他の液体噴射ヘッドにおいても同様に存在する。   Such a problem naturally exists not only in the ink jet recording head but also in other liquid ejecting heads.

特開平11−198386号公報(特許請求の範囲、第1図等)Japanese Patent Laid-Open No. 11-198386 (Claims, FIG. 1 etc.)

本発明はこのような事情に鑑み、吐出特性を実質的に均一化することができる液体噴射ヘッドの製造方法を提供することを課題とする。   In view of such circumstances, it is an object of the present invention to provide a method of manufacturing a liquid jet head that can substantially uniform discharge characteristics.

上記課題を解決する本発明の第1の態様は、液滴が吐出されるノズルに連通する複数の圧力室と、複数の圧力室に共通する共通液室と、単一流路部と複数の細溝からなる分流路部とで構成され前記共通液室内の液体を前記圧力室に供給する供給口部とを具備すると共に、少なくとも前記供給口部がシリコン単結晶基板からなる流路基板に形成された液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記流路基板が複数一体的に形成されるシリコンウェハを、所定の保護膜をマスクとして一定時間エッチングすることで当該シリコンウェハに複数の各流路基板に対応する前記供給口部を同時に形成するエッチング工程と、前記供給口部が形成された前記シリコンウェハを分割して複数の前記流路基板とする分割工程とを少なくとも具備し、且つ前記エッチング工程では、前記シリコンウェハの面内位置に応じて前記供給口部の前記分流路部を構成する前記細溝の幅又は長さの少なくとも一方を実質的に調整することで、前記シリコンウェハに形成される各供給口部の流路抵抗を均一化したことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法にある。
かかる第1の態様では、シリコンウェハの面内位置に拘わらず、各供給口部の流路抵抗のばらつきが抑えられる。これにより、各ヘッドの吐出特性を均一化することができる。
A first aspect of the present invention that solves the above problem is that a plurality of pressure chambers that communicate with a nozzle from which droplets are discharged, a common liquid chamber that is common to the plurality of pressure chambers, a single flow path section, and a plurality of sub-channels are provided. And a supply port portion for supplying the liquid in the common liquid chamber to the pressure chamber, and at least the supply port portion is formed on a flow path substrate made of a silicon single crystal substrate. A method of manufacturing a liquid jet head, comprising: etching a silicon wafer on which a plurality of the flow path substrates are integrally formed for a predetermined time using a predetermined protective film as a mask; An etching step of simultaneously forming the supply port portion corresponding to the above, and a dividing step of dividing the silicon wafer on which the supply port portion is formed into a plurality of flow path substrates, and the etching In the step, the silicon wafer is substantially adjusted by adjusting at least one of a width and a length of the narrow groove constituting the branch channel portion of the supply port portion according to an in-plane position of the silicon wafer. The liquid jet head manufacturing method is characterized in that the flow path resistance of each supply port formed is made uniform.
In the first aspect, variation in flow path resistance of each supply port is suppressed regardless of the in-plane position of the silicon wafer. Thereby, the ejection characteristics of each head can be made uniform.

本発明の第2の態様は、第1の態様において、前記エッチング工程では、各細溝を画成する柱状突起に対応する領域の前記保護膜の幅又は長さの少なくとも何れか一方を調整することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法にある。
かかる第2の態様では、各供給口部の細溝の形状(幅又は長さ)を極めて容易且つ確実に調整することができる。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, in the etching step, at least one of a width and a length of the protective film in a region corresponding to the columnar protrusion defining each narrow groove is adjusted. The present invention is directed to a method for manufacturing a liquid jet head.
In the second aspect, the shape (width or length) of the narrow groove of each supply port can be adjusted very easily and reliably.

本発明の第3の態様は、第1又は2の態様において、前記エッチング工程では、誘導結合プラズマ(ICP)放電によって前記シリコンウェハを異方性ドライエッチングすることを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法にある。
かかる第3の態様では、IPC放電による異方性ドライエッチングを行う場合、流路抵抗のばらつきが特に生じやすいが、細溝の幅又は長さを調整することで、比較的容易且つ確実に流路抵抗のばらつきを抑えることができる。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect, the silicon wafer is anisotropically dry-etched by inductively coupled plasma (ICP) discharge in the etching step. Is in the way.
In the third aspect, when anisotropic dry etching by IPC discharge is performed, variation in flow resistance is particularly likely to occur. However, by adjusting the width or length of the narrow groove, the flow is relatively easy and reliable. Variation in road resistance can be suppressed.

本発明の第4の態様は、第1〜3の何れかの態様において、前記シリコンウェハの周縁部に形成する前記細溝の幅又は長さの少なくとも何れか一方を、当該シリコンウェハの中心部に形成する前記細溝のそれよりも実質的に短くなるようにしたことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法にある。
かかる第4の態様では、供給口部の流路抵抗のばらつきをより確実に抑えることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects, at least one of the width and the length of the narrow groove formed in the peripheral portion of the silicon wafer is changed to the central portion of the silicon wafer. According to another aspect of the invention, there is provided a method of manufacturing a liquid ejecting head, wherein the liquid ejecting head is substantially shorter than that of the narrow groove to be formed.
In the fourth aspect, it is possible to more reliably suppress variations in flow path resistance of the supply port portion.

本発明の第5の態様は、第1〜4の何れかの態様において、前記流路基板が、前記供給口部と共に前記ノズルを有するノズルプレートであることを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法にある。
かかる第5の態様では、比較的小型で且つインク吐出特性に優れた液体噴射ヘッドを製造することができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects, the flow path substrate is a nozzle plate having the nozzle together with the supply port portion. It is in.
In the fifth aspect, it is possible to manufacture a liquid jet head that is relatively small and has excellent ink ejection characteristics.

以下に本発明を実施形態に基づいて詳細に説明する。
図1は、液体噴射ヘッドの一例であるインクジェット式記録ヘッドの概略斜視図であり、図2は、その断面図であり、図3は、インク供給口部を示す概略図である。図示したインクジェット式記録ヘッドは、いわゆる静電駆動方式のヘッドであり、キャビティ基板10と、このキャビティ基板10の両面にそれぞれ接合されるノズルプレート20及び電極基板30とで構成されている。
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on embodiments.
FIG. 1 is a schematic perspective view of an ink jet recording head which is an example of a liquid ejecting head, FIG. 2 is a cross-sectional view thereof, and FIG. 3 is a schematic view showing an ink supply port portion. The illustrated ink jet recording head is a so-called electrostatic drive head, and includes a cavity substrate 10 and a nozzle plate 20 and an electrode substrate 30 that are respectively bonded to both surfaces of the cavity substrate 10.

キャビティ基板10は、例えば、面方位(100)又は(110)のシリコン単結晶基板からなり、その一方面側に開口する圧力室(キャビティ)11がその幅方向に複数並設されている。また、本実施形態では、図2に示すように、キャビティ基板10には、複数の圧力室11が並設された列が2列形成されている。さらに、キャビティ基板10には、各列の圧力室11に共通するインク室となる共通インク室12が形成されており、この共通インク室12は、後述するインク供給口部を介して各圧力室11に連通されている。また、共通インク室12の底壁には、共通インク室12にインクを供給するためのインク供給孔13が形成されている。また、キャビティ基板10には、共通インク室12の外側に、後述する個別電極に接続される個別端子部を露出させるための貫通孔14が形成されている。なお、この貫通孔14は、キャビティ基板10の共通インク室12とは反対側の端面まで連続的に形成されていてもよい。   The cavity substrate 10 is made of, for example, a silicon single crystal substrate having a plane orientation (100) or (110), and a plurality of pressure chambers (cavities) 11 opened on one surface side thereof are arranged in parallel in the width direction. In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the cavity substrate 10 is formed with two rows in which a plurality of pressure chambers 11 are arranged in parallel. Further, the cavity substrate 10 is formed with a common ink chamber 12 serving as an ink chamber common to the pressure chambers 11 of each row, and the common ink chamber 12 is connected to each pressure chamber via an ink supply port portion described later. 11 is communicated. An ink supply hole 13 for supplying ink to the common ink chamber 12 is formed in the bottom wall of the common ink chamber 12. The cavity substrate 10 is formed with a through hole 14 on the outside of the common ink chamber 12 for exposing an individual terminal portion connected to an individual electrode described later. The through hole 14 may be continuously formed up to the end surface of the cavity substrate 10 opposite to the common ink chamber 12.

なお、各圧力室11の底壁は、圧力室11内に圧力変化を生じさせるための振動板15として機能し、且つこの振動板15を変位させる静電気力を発生させるための共通電極としての役割を兼ねている。そして、キャビティ基板10の貫通孔14近傍には、ノズルプレート20の後述する露出孔内に露出されて図示しない駆動配線が接続される共通端子部16が形成されている。   Note that the bottom wall of each pressure chamber 11 functions as a diaphragm 15 for causing a pressure change in the pressure chamber 11 and serves as a common electrode for generating an electrostatic force that displaces the diaphragm 15. Doubles as In the vicinity of the through hole 14 of the cavity substrate 10, a common terminal portion 16 is formed which is exposed in an exposure hole (described later) of the nozzle plate 20 and connected to a drive wiring (not shown).

ノズルプレート20は、キャビティ基板10と同様に、面方位(100)又は(110)のシリコン単結晶基板からなり、各圧力室11に連通する複数のノズル21が形成されている。そして、このノズルプレート20は、キャビティ基板10の開口面側に接合され、圧力室11及び共通インク室12の一方の面を形成している。また、ノズルプレート20のキャビティ基板10とは反対側の面には、ノズル21に対応する領域に亘って厚さ方向の一部を除去したノズル段差部22が形成されている。   Similarly to the cavity substrate 10, the nozzle plate 20 is made of a silicon single crystal substrate having a plane orientation (100) or (110), and a plurality of nozzles 21 communicating with the pressure chambers 11 are formed. The nozzle plate 20 is bonded to the opening surface side of the cavity substrate 10 to form one surface of the pressure chamber 11 and the common ink chamber 12. A nozzle step portion 22 is formed on the surface of the nozzle plate 20 opposite to the cavity substrate 10 by removing a part in the thickness direction over a region corresponding to the nozzle 21.

ここで、各ノズル21は、インク滴が吐出される側に設けられてノズル段差部22内に開口する略円形の小径部21aと、小径部21aよりも大きい径を有し小径部21aと圧力室11とを連通する大径部21bとからなる。そして、全てのノズル21(小径部21a)は、このノズル段差部22内に開口しており、本実施形態では、このノズル段差部22内のノズルプレート20の表面がノズル面となる。   Here, each nozzle 21 is provided on the ink droplet ejection side and has a substantially circular small-diameter portion 21a that opens into the nozzle step portion 22, and has a diameter larger than that of the small-diameter portion 21a. The large-diameter portion 21 b communicates with the chamber 11. All the nozzles 21 (small-diameter portions 21a) are opened in the nozzle step portion 22, and in this embodiment, the surface of the nozzle plate 20 in the nozzle step portion 22 is a nozzle surface.

また、このノズルプレート20のキャビティ基板10との接合面には、圧力室11と共通インク室12との境界に対応する領域に、これら各圧力室11と共通インク室12とを連通するインク供給口部23が形成されている。このインク供給口部23の中央部、すなわち、圧力室11と共通インク室12と中間部には、図3に示すように複数の柱状突起24が並設され、この柱状突起24によって画成される複数の細溝25からなる分流路部26が形成されている。そして、本実施形態に係るインク供給口部23は、この分流路部26と、その両側の単一流路部27とで構成されている。   In addition, on the joint surface of the nozzle plate 20 with the cavity substrate 10, an ink supply that communicates each of the pressure chambers 11 and the common ink chamber 12 with a region corresponding to the boundary between the pressure chamber 11 and the common ink chamber 12. A mouth portion 23 is formed. As shown in FIG. 3, a plurality of columnar protrusions 24 are juxtaposed at the central portion of the ink supply port 23, that is, the pressure chamber 11, the common ink chamber 12, and the intermediate portion, and are defined by the columnar protrusions 24. A diversion channel portion 26 is formed that includes a plurality of narrow grooves 25. The ink supply port portion 23 according to the present embodiment is constituted by the branch channel portion 26 and the single channel portions 27 on both sides thereof.

また、ノズルプレート20には、共通インク室12の外側に対応する位置に、キャビティ基板10の貫通孔14に連通し、後述する個別端子部と共に共通端子部16を露出させる露出孔28が形成されている。なお、この露出孔28は、貫通孔14と同様に、共通インク室12とは反対側の端面まで連続的に形成されていてもよい。   The nozzle plate 20 has an exposure hole 28 that communicates with the through hole 14 of the cavity substrate 10 at a position corresponding to the outside of the common ink chamber 12 and exposes the common terminal portion 16 together with the individual terminal portion described later. ing. The exposure hole 28 may be continuously formed up to the end surface opposite to the common ink chamber 12, as in the case of the through hole 14.

さらに、このノズルプレート20の表面、本実施形態では、ノズル段差部22内には、例えば、フッ素含有シランカップリング化合物等からなる撥水撥油性材料からなる撥水撥油膜29が形成されている。これにより、ノズルプレート20の表面(ノズル面)へのインク滴の付着を抑えている。   Further, a water / oil repellent film 29 made of a water / oil repellent material made of, for example, a fluorine-containing silane coupling compound is formed on the surface of the nozzle plate 20, in the present embodiment, in the nozzle step portion 22. . Thereby, adhesion of ink droplets to the surface (nozzle surface) of the nozzle plate 20 is suppressed.

一方、電極基板30は、シリコン単結晶基板に近い熱膨張率を有する、例えば、ホウ珪酸ガラス等のガラス基板からなり、キャビティ基板10の振動板15側の面に接合されている。この電極基板30の振動板15に対向する領域には、各圧力室11に対応して凹部31が形成されている。また、電極基板30には、キャビティ基板10のインク供給孔13に対応する位置には、このインク供給孔13に連通するインク導入孔32が形成されている。そして、図示しないインクタンクからこのインク導入孔32及びインク供給孔13を介して共通インク室12にインクが充填されるようになっている。   On the other hand, the electrode substrate 30 is made of a glass substrate such as borosilicate glass having a thermal expansion coefficient close to that of a silicon single crystal substrate, and is bonded to the surface of the cavity substrate 10 on the vibration plate 15 side. In the region of the electrode substrate 30 facing the diaphragm 15, a recess 31 is formed corresponding to each pressure chamber 11. In addition, an ink introduction hole 32 communicating with the ink supply hole 13 is formed in the electrode substrate 30 at a position corresponding to the ink supply hole 13 of the cavity substrate 10. The common ink chamber 12 is filled with ink from an ink tank (not shown) through the ink introduction hole 32 and the ink supply hole 13.

また、各凹部31には、振動板15を変位させる静電気力を発生させるための個別電極33が、振動板15との間に所定の間隔を確保した状態でそれぞれ配置されている。また、凹部31内には、キャビティ基板10の貫通孔14に対向する領域に、図示しない駆動配線が接続される個別端子部34が形成されており、この個別端子部34と各個別電極33とはリード電極35によって接続されている。なお、図示しないが、これら各個別電極33及びリード電極35は絶縁膜によって封止され、また個別端子部34と共通端子部16との間には、接続配線を介して駆動電圧パルスを印加するための発振回路が接続されている。   In addition, individual electrodes 33 for generating an electrostatic force that displaces the diaphragm 15 are disposed in the respective recesses 31 in a state in which a predetermined interval is secured between the individual electrodes 33. In the recess 31, an individual terminal portion 34 to which a drive wiring (not shown) is connected is formed in a region facing the through hole 14 of the cavity substrate 10, and the individual terminal portion 34 and each individual electrode 33 are connected to each other. Are connected by a lead electrode 35. Although not shown, each individual electrode 33 and the lead electrode 35 are sealed with an insulating film, and a driving voltage pulse is applied between the individual terminal portion 34 and the common terminal portion 16 via a connection wiring. For this purpose, an oscillation circuit is connected.

そして、このようなインクジェット式記録ヘッドでは、発振回路によって個別電極33と振動板15(キャビティ基板10)との間に駆動電圧を印加すると、これら個別電極33と振動板15との隙間に発生する静電気力によって振動板15が個別電極33側に撓み変形して、圧力室11の容積が拡大し、駆動電圧の印加を解除すると、振動板15が元の状態に復帰し、圧力室11の容積が収縮する。そして、このとき発生する圧力室11内の圧力変化によって、圧力室11内のインクの一部が、ノズル21からインク滴として吐出される。   In such an ink jet recording head, when a driving voltage is applied between the individual electrode 33 and the diaphragm 15 (cavity substrate 10) by the oscillation circuit, the ink jet recording head is generated in a gap between the individual electrode 33 and the diaphragm 15. When the diaphragm 15 is bent and deformed by the electrostatic force toward the individual electrode 33 side, the volume of the pressure chamber 11 is expanded and the application of the drive voltage is released, the diaphragm 15 returns to the original state, and the volume of the pressure chamber 11 is increased. Contracts. Then, due to the pressure change in the pressure chamber 11 generated at this time, a part of the ink in the pressure chamber 11 is ejected as an ink droplet from the nozzle 21.

ここで、本実施形態に係る流路基板であるノズルプレートの製造方法について説明する。なお、ノズルプレート20は、図4に示すように、一枚のシリコンウェハであるノズルプレート用ウェハ200に複数一体的に形成され、最終的に各チップサイズに分割される。また、図5及び図6は、ノズルの列とは直交する方向の断面図であり、図7は、ノズルプレート用ウェハ200の中心部に形成されるノズルプレート20A、周縁部に形成されるノズルプレート20C及び中間部(中心部と周縁部との間の領域)に形成されるノズルプレート20B(図4参照)のそれぞれに対応するインク供給口部のマスク形状を示す図である。   Here, the manufacturing method of the nozzle plate which is a flow-path board | substrate which concerns on this embodiment is demonstrated. As shown in FIG. 4, a plurality of nozzle plates 20 are integrally formed on a nozzle plate wafer 200, which is a single silicon wafer, and finally divided into chip sizes. 5 and 6 are cross-sectional views in a direction orthogonal to the nozzle row, and FIG. 7 shows a nozzle plate 20A formed at the center of the nozzle plate wafer 200 and nozzles formed at the peripheral edge. It is a figure which shows the mask shape of the ink supply opening part corresponding to each of plate 20C and the nozzle plate 20B (refer FIG. 4) formed in an intermediate part (area | region between a center part and a peripheral part).

まず、図5(a)に示すように、例えば、厚さが180μmのシリコンウェハであるノズルプレート用ウェハ200を熱酸化することにより、その表面に二酸化シリコンからなる酸化膜からなる保護膜201を形成する。次いで、図5(b)に示すように、ノズルプレート用ウェハ200の一方面側の保護膜201を、例えば、フッ化アンモニウム等によってエッチングすることにより、ノズル21が形成される領域に、小径部21aと略同一径の開口部202を形成する。また、個別端子部を露出させるための露出孔28が形成される領域にも、所定形状の開口部203を形成する。なお、本実施形態では、開口部203は、露出孔28が形成される領域の周縁部のみに形成している。次いで、図5(c)に示すように、保護膜201をさらにハーフエッチングすることにより、ノズル21が形成される領域に、大径部21bと略同一径で所定深さの凹部204を形成する。また、インク供給口部23が形成される領域に、インク供給口部23と略同一開口形状を有する所定深さの凹部205を形成する。すなわち、インク供給口部23が形成される領域で、柱状突起24が形成される領域の保護膜201aを残して、所定深さの凹部205を形成する。   First, as shown in FIG. 5A, for example, a nozzle plate wafer 200 which is a silicon wafer having a thickness of 180 μm is thermally oxidized to form a protective film 201 made of an oxide film made of silicon dioxide on the surface. Form. Next, as shown in FIG. 5B, the protective film 201 on one side of the nozzle plate wafer 200 is etched with, for example, ammonium fluoride, so that the small diameter portion is formed in the region where the nozzle 21 is formed. An opening 202 having substantially the same diameter as 21a is formed. An opening 203 having a predetermined shape is also formed in a region where the exposure hole 28 for exposing the individual terminal portion is formed. In the present embodiment, the opening 203 is formed only at the periphery of the region where the exposure hole 28 is formed. Next, as shown in FIG. 5C, the protective film 201 is further half-etched to form a recess 204 having a diameter substantially the same as the large diameter portion 21b and a predetermined depth in the region where the nozzle 21 is formed. . In addition, a recess 205 having a predetermined depth and having substantially the same opening shape as the ink supply port portion 23 is formed in a region where the ink supply port portion 23 is formed. That is, the recess 205 having a predetermined depth is formed in the region where the ink supply port 23 is formed, leaving the protective film 201a in the region where the columnar protrusion 24 is formed.

ここで、本実施形態では、このような凹部205を形成する際に、ノズルプレート用ウェハ200の面内位置に応じて、凹部205の開口形状、すなわち、柱状突起24に対応する部分の保護膜201aの形状(大きさ)を調整するようにしている。例えば、本実施形態では、ノズルプレート用ウェハ200の周縁部側ほど保護膜201aの長さが長くなるように形成している。すなわち、図7に示すように、ノズルプレート用ウェハ200の中心部のノズルプレート20Aに対応するインク供給口部23Aと、中間部のノズルプレート20Bに対応するインク供給口部23Bと、周縁部のノズルプレート20Cに対応するノズル供給口部23Cとの三段階で、それぞれ異なる長さの保護膜201aを残すようにしている。   Here, in the present embodiment, when such a recess 205 is formed, the protective film of the portion corresponding to the opening shape of the recess 205, that is, the columnar protrusion 24, according to the in-plane position of the nozzle plate wafer 200. The shape (size) of 201a is adjusted. For example, in the present embodiment, the protective film 201a is formed to have a longer length toward the peripheral edge side of the nozzle plate wafer 200. That is, as shown in FIG. 7, an ink supply port 23A corresponding to the nozzle plate 20A at the center of the nozzle plate wafer 200, an ink supply port 23B corresponding to the intermediate nozzle plate 20B, and a peripheral portion In three stages with the nozzle supply port 23C corresponding to the nozzle plate 20C, the protective films 201a having different lengths are left.

次に、図5(d)に示すように、このような保護膜201をマスクとしてノズルプレート用ウェハ200をエッチングすることによって溝部206,207を形成する。例えば、本実施形態では、誘導結合プラズマ(ICP)放電によってノズルプレート用ウェハを異方性ドライエッチングすることで、溝部206,207をノズル21の小径部21aと略同一深さとなるように形成する。   Next, as shown in FIG. 5D, the groove portions 206 and 207 are formed by etching the nozzle plate wafer 200 using the protective film 201 as a mask. For example, in this embodiment, the groove portions 206 and 207 are formed to have substantially the same depth as the small diameter portion 21a of the nozzle 21 by anisotropic dry etching of the nozzle plate wafer by inductively coupled plasma (ICP) discharge. .

次に、図5(e)に示すように、ノズルプレート用ウェハ200の表面の保護膜201をフッ酸水溶液でエッチングし、その厚さ方向の一部を除去して、凹部204,205に対応する部分に開口部208,209を形成する。すなわち、凹部204,205内の保護膜201が完全に除去されるまで保護膜201全体を均一な厚さで除去する。   Next, as shown in FIG. 5E, the protective film 201 on the surface of the nozzle plate wafer 200 is etched with a hydrofluoric acid aqueous solution, and a part of the thickness direction is removed to correspond to the recesses 204 and 205. Openings 208 and 209 are formed in the portions to be formed. That is, the entire protective film 201 is removed with a uniform thickness until the protective film 201 in the recesses 204 and 205 is completely removed.

そして、図5(f)に示すように、この開口部203,208,209を介してノズルプレート用ウェハ200を、再び、誘導結合プラズマ(ICP)放電によって異方性エッチングする。このとき、ノズルプレート用ウェハ200は、表面形状が維持されたままエッチングされる。したがって、ノズルプレート用ウェハ200を大径部21bと同一の深さだけエッチングすることにより、開口部208に対応する部分に、小径部21a及び大径部21bからなるノズル21が形成される。また、開口部209に対応する領域に単一流路部27と、分流路部26とで構成されるインク供給口部23が形成される。また同時に、溝部207がさらに深く形成される。   Then, as shown in FIG. 5 (f), the nozzle plate wafer 200 is again anisotropically etched by inductively coupled plasma (ICP) discharge through the openings 203, 208, and 209. At this time, the nozzle plate wafer 200 is etched while the surface shape is maintained. Therefore, by etching the nozzle plate wafer 200 to the same depth as the large diameter portion 21b, the nozzle 21 composed of the small diameter portion 21a and the large diameter portion 21b is formed in a portion corresponding to the opening 208. Further, an ink supply port portion 23 including a single flow path portion 27 and a diversion flow path portion 26 is formed in a region corresponding to the opening 209. At the same time, the groove 207 is formed deeper.

ここで、ノズルプレート用ウェハ200であるシリコンウェハは、その面内位置によってエッチング速度が異なるため、例えば、インク供給口部23等の深さは、ノズルプレートの面内位置によって大きくばらついてしまう。具体的には、ノズルプレート用ウェハ200の周縁部側ほどエッチング速度が速いため、周縁部側ほどインク供給口部23が深く形成されてしまう。さらに、本実施形態のように、誘導結合プラズマ(IPC)放電による異方性エッチングによってインク供給口部23を形成する場合、このような深さのばらつきが特に顕著に現れる。そして、このようなインク供給口部23の深さの違いに起因して、各ヘッドでのインク吐出特性にばらつきが生じてしまう。   Here, since the etching rate of the silicon wafer that is the nozzle plate wafer 200 differs depending on the in-plane position, for example, the depth of the ink supply port 23 or the like varies greatly depending on the in-plane position of the nozzle plate. Specifically, since the etching rate is faster toward the peripheral edge side of the nozzle plate wafer 200, the ink supply port 23 is formed deeper toward the peripheral edge side. Further, when the ink supply port 23 is formed by anisotropic etching by inductively coupled plasma (IPC) discharge as in the present embodiment, such a variation in depth appears particularly remarkably. Then, due to the difference in the depth of the ink supply port portion 23, the ink discharge characteristics in each head vary.

しかしながら、本実施形態では、ノズルプレート用ウェハ200の面内位置に応じて、すなわち、形成されるインク供給口部23の深さに応じて、各柱状突起24に対応する部分の保護膜201aの長さを調整し、実質的に細溝25の長さを調整するようにした。したがって、ノズルプレート用ウェハ200の面内位置によって、各インク供給口部23の深さは異なるものの、各インク供給口部23の流路抵抗は均一化される。   However, in the present embodiment, the portion of the protective film 201a corresponding to each columnar protrusion 24 corresponds to the in-plane position of the nozzle plate wafer 200, that is, the depth of the ink supply port portion 23 to be formed. The length was adjusted to substantially adjust the length of the narrow groove 25. Therefore, although the depth of each ink supply port 23 varies depending on the in-plane position of the nozzle plate wafer 200, the flow path resistance of each ink supply port 23 is made uniform.

したがって、このように同一のノズルプレート用ウェハ200に形成された各ノズルプレート20を用いてインクジェット式記録ヘッドを形成すれば、少なくともインク供給口部23の流路抵抗に起因する吐出特性のばらつきは確実に抑えられ、各ヘッドでの吐出特性が均一化される。また、このように、吐出特性が均一化されることで、印刷品質のばらつきが低減し、歩留まりも向上する。   Therefore, if an ink jet recording head is formed using the nozzle plates 20 formed on the same nozzle plate wafer 200 in this way, there is at least a variation in ejection characteristics due to the flow path resistance of the ink supply port 23. It is reliably suppressed, and the ejection characteristics at each head are made uniform. In addition, since the discharge characteristics are made uniform in this way, the variation in print quality is reduced and the yield is improved.

なお、このように各インク供給口部23等を形成した後は、図6(a)に示すように、ノズルプレート用ウェハ200表面の保護膜201をフッ酸水溶液によって、一旦全て剥離させる。次いで図6(b)に示すように、ノズルプレート用ウェハ200を熱酸化し、ノズル21内等を含む全表面に、再び酸化膜からなる保護膜211を形成する。次に、図6(c)に示すように、ノズルプレート用ウェハ200のインク供給口部23とは反対側の面、すなわち、ノズル面側の保護膜211を、例えば、フッ化アンモニウム等によってエッチングすることにより、ノズル段差部22及び露出孔28が形成される領域に開口部212,213を形成する。そして、図6(d)に示すように、この保護膜211をマスクとしてノズルプレート用ウェハ200を、例えば、水酸化カリウム溶液(KOH)等によって異方性ウェットエッチングすることにより、ノズル段差部22を形成すると共に、露出孔28を実質的に貫通させる。   After forming the ink supply ports 23 and the like in this way, as shown in FIG. 6A, the protective film 201 on the surface of the nozzle plate wafer 200 is once peeled off with a hydrofluoric acid aqueous solution. Next, as shown in FIG. 6B, the nozzle plate wafer 200 is thermally oxidized, and a protective film 211 made of an oxide film is formed again on the entire surface including the inside of the nozzle 21 and the like. Next, as shown in FIG. 6C, the surface of the nozzle plate wafer 200 opposite to the ink supply port 23, that is, the protective film 211 on the nozzle surface side is etched with, for example, ammonium fluoride. As a result, openings 212 and 213 are formed in regions where the nozzle step portion 22 and the exposure hole 28 are formed. Then, as shown in FIG. 6D, the nozzle step portion 22 is formed by anisotropically etching the nozzle plate wafer 200 with, for example, a potassium hydroxide solution (KOH) using the protective film 211 as a mask. And the exposure hole 28 is substantially penetrated.

また、このようにノズル段差部22等を形成した後は、図6(e)に示すように、ノズルプレート用ウェハ200表面の保護膜211を、フッ酸水溶液等によって完全に剥離させる。これによって、ノズル21がノズル段差部22内に開口すると共に、露出孔28が完全に貫通される。なお、その後は、図示しないが、ノズルプレート用ウェハ200を、再び熱酸化してノズル21等の内面にインク保護膜となる酸化膜を形成して、ダイシング等により所定の大きさに切断することによってノズルプレート20が形成される。   Further, after the nozzle step portion 22 and the like are formed in this way, as shown in FIG. 6E, the protective film 211 on the surface of the nozzle plate wafer 200 is completely peeled off with a hydrofluoric acid aqueous solution or the like. As a result, the nozzle 21 opens into the nozzle step portion 22 and the exposure hole 28 is completely penetrated. Thereafter, although not shown, the nozzle plate wafer 200 is thermally oxidized again to form an oxide film serving as an ink protective film on the inner surface of the nozzle 21 and the like, and is cut into a predetermined size by dicing or the like. As a result, the nozzle plate 20 is formed.

以上本発明の一実施形態について説明したが、勿論、本発明はこのような実施形態に限定されるものではない。例えば、本実施形態では、柱状突起24(細溝25)の長さによってインク供給口部23の流路抵抗を調整するようにしたが、これに限定されず、柱状突起24(細溝25)の幅、あるいは柱状突起24(細溝25)の数等によってインク供給口部23の流路抵抗を調整するようにしてもよい。何れにしても、柱状突起24に対応する部分の保護膜201aの形状(大きさ)を調整するだけで、比較的容易に各インク供給口部23の流路抵抗を均一化することができる。また、本実施形態では、インク供給口部がノズルプレートに形成された構造を例示したが、本発明は、例えば、キャビティ基板にインク供給口部が形成された構成等のあらゆる構成のヘッドに適用することができる。   Although one embodiment of the present invention has been described above, of course, the present invention is not limited to such an embodiment. For example, in this embodiment, the flow path resistance of the ink supply port portion 23 is adjusted by the length of the columnar protrusion 24 (thin groove 25), but the present invention is not limited to this, and the columnar protrusion 24 (thin groove 25). The flow path resistance of the ink supply port 23 may be adjusted according to the width of the ink or the number of columnar protrusions 24 (thin grooves 25). In any case, the flow path resistance of each ink supply port portion 23 can be made relatively easy by simply adjusting the shape (size) of the protective film 201 a corresponding to the columnar protrusion 24. In the present embodiment, the structure in which the ink supply port is formed in the nozzle plate is exemplified. However, the present invention is applicable to a head having any configuration such as a configuration in which the ink supply port is formed in the cavity substrate. can do.

さらに、本実施形態では、静電駆動方式のインクジェット式記録ヘッドを一例として本発明を説明したが、本発明はこれに限定されず、例えば、圧電素子の変位によってインク滴を吐出させる方式、あるいは、発熱素子等によってインクを加熱することでインク滴を吐出させる方式等、あらゆる方式のインクジェット式記録ヘッドに採用することができる。また、勿論、本発明は、インク滴を吐出するインクジェット式記録ヘッドだけでなく、他のあらゆる液滴を吐出する液体噴射ヘッドにも採用することができる。他の液体噴射ヘッドとしては、例えば、液晶ディスプレー等のカラーフィルタの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレー、FED(面発光ディスプレー)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオチップ製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。   Furthermore, in the present embodiment, the present invention has been described by taking an electrostatic drive type ink jet recording head as an example, but the present invention is not limited to this, for example, a method of ejecting ink droplets by displacement of a piezoelectric element, or In addition, the ink jet recording head of any system can be employed, such as a system in which ink droplets are ejected by heating ink with a heating element or the like. Of course, the present invention can be applied not only to an ink jet recording head that ejects ink droplets but also to a liquid ejecting head that ejects all other droplets. Other liquid ejecting heads include, for example, color material ejecting heads used for manufacturing color filters such as liquid crystal displays, electrode material ejecting heads used for forming electrodes such as organic EL displays and FEDs (surface emitting displays), and biochips. Examples thereof include a bio-organic matter ejecting head used for manufacturing.

一実施形態に係る記録ヘッドの概略斜視図である。1 is a schematic perspective view of a recording head according to an embodiment. 一実施形態に係る記録ヘッドの断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a recording head according to an embodiment. 一実施形態に係る記録ヘッドのインク供給口部を示す概略図である。FIG. 3 is a schematic diagram illustrating an ink supply port portion of a recording head according to an embodiment. ノズルプレート用ウェハを説明する概略図である。It is the schematic explaining the wafer for nozzle plates. 一実施形態に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing process of the recording head which concerns on one Embodiment. 一実施形態に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing process of the recording head which concerns on one Embodiment. インク供給口部に対応する保護膜の形状を示す概略図である。It is the schematic which shows the shape of the protective film corresponding to an ink supply port part.

符号の説明Explanation of symbols

10 キャビティ基板、 11 圧力室、 12 共通インク室、 13 インク供給孔、 14 貫通孔、 15 振動板、 16 共通端子部、 20 ノズルプレート、 21 ノズル、 22 ノズル段差部、 23 インク供給口部、 24 柱状突起、 25 細溝、 26 分流路部、 27 単一流路部、28 露出孔、 29 撥水撥油膜、 30 電極基板、 31 凹部、 32 インク導入孔、 33 個別電極、 34 個別端子部、 35 リード電極、 200 ノズルプレート用ウェハ   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Cavity board | substrate, 11 Pressure chamber, 12 Common ink chamber, 13 Ink supply hole, 14 Through-hole, 15 Diaphragm, 16 Common terminal part, 20 Nozzle plate, 21 Nozzle, 22 Nozzle level | step difference part, 23 Ink supply port part, 24 Columnar protrusion, 25 narrow groove, 26 minute flow path part, 27 single flow path part, 28 exposed hole, 29 water / oil repellent film, 30 electrode substrate, 31 recess, 32 ink introduction hole, 33 individual electrode, 34 individual terminal part, 35 Lead electrode, 200 Nozzle plate wafer

Claims (5)

液滴が吐出されるノズルに連通する複数の圧力室と、複数の圧力室に共通する共通液室と、単一流路部と複数の細溝からなる分流路部とで構成され前記共通液室内の液体を前記圧力室に供給する供給口部とを具備すると共に、少なくとも前記供給口部がシリコン単結晶基板からなる流路基板に形成された液体噴射ヘッドの製造方法であって、
前記流路基板が複数一体的に形成されるシリコンウェハを、所定の保護膜をマスクとして一定時間エッチングすることで当該シリコンウェハに複数の各流路基板に対応する前記供給口部を同時に形成するエッチング工程と、前記供給口部が形成された前記シリコンウェハを分割して複数の前記流路基板とする分割工程とを少なくとも具備し、且つ前記エッチング工程では、前記シリコンウェハの面内位置に応じて前記供給口部の前記分流路部を構成する前記細溝の幅又は長さの少なくとも一方を実質的に調整することで、前記シリコンウェハに形成される各供給口部の流路抵抗を均一化したことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
The common liquid chamber is composed of a plurality of pressure chambers communicating with a nozzle from which liquid droplets are discharged, a common liquid chamber common to the plurality of pressure chambers, and a single channel portion and a branch channel portion including a plurality of narrow grooves. And a supply port for supplying the liquid to the pressure chamber, and at least the supply port is a method for manufacturing a liquid jet head formed on a flow path substrate made of a silicon single crystal substrate,
Etching a silicon wafer on which a plurality of flow path substrates are integrally formed for a predetermined time using a predetermined protective film as a mask, simultaneously forms the supply port portions corresponding to the plurality of flow path substrates on the silicon wafer. And at least a dividing step of dividing the silicon wafer on which the supply port portion is formed to form a plurality of flow path substrates, and the etching step depends on an in-plane position of the silicon wafer. By substantially adjusting at least one of the width and length of the narrow groove constituting the branch channel portion of the supply port portion, the flow channel resistance of each supply port portion formed in the silicon wafer is made uniform. A method of manufacturing a liquid ejecting head, characterized in that:
請求項1において、前記エッチング工程では、各細溝を画成する柱状突起に対応する領域の前記保護膜の幅又は長さの少なくとも何れか一方を調整することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。 2. The liquid jet head manufacturing method according to claim 1, wherein, in the etching step, at least one of a width and a length of the protective film in a region corresponding to the columnar protrusion defining each narrow groove is adjusted. Method. 請求項1又は2において、前記エッチング工程では、誘導結合プラズマ(ICP)放電によって前記シリコンウェハを異方性ドライエッチングすることを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。 3. The method of manufacturing a liquid jet head according to claim 1, wherein in the etching step, the silicon wafer is anisotropically dry etched by inductively coupled plasma (ICP) discharge. 請求項1〜3の何れかにおいて、前記シリコンウェハの周縁部に形成する前記細溝の幅又は長さの少なくとも何れか一方を、当該シリコンウェハの中心部に形成する前記細溝のそれよりも実質的に短くなるようにしたことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。 4. The method according to claim 1, wherein at least one of the width and the length of the narrow groove formed at the peripheral edge of the silicon wafer is set to be larger than that of the narrow groove formed at the center of the silicon wafer. A method of manufacturing a liquid jet head, characterized by being substantially shortened. 請求項1〜4の何れかにおいて、前記流路基板が、前記供給口部と共に前記ノズルを有するノズルプレートであることを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
5. The method of manufacturing a liquid jet head according to claim 1, wherein the flow path substrate is a nozzle plate having the nozzle together with the supply port portion.
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