KR100773566B1 - Damper of inkjet head and method of forming the same - Google Patents

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KR100773566B1
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cross
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이재창
정재우
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삼성전자주식회사
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Abstract

A damper of an ink-jet head and a method for forming the same are provided to simplify the process by forming a first damper, a manifold, and a restrictor by using one dry etching process. A damper of an ink-jet head connecting a plurality of pressure chambers and a plurality of nozzles includes a first damper(126a), a second damper(126b), and a third damper(126c). The upper end of the first damper is connected to the plurality of pressure chambers. The second damper is connected to the lower end of the first damper. The upper end of the third damper is connected to the second damper and the lower end thereof is connected to the plurality of nozzles. The cross-section of the second damper becomes wider as it goes from the lower end of the first damper toward the third damper. The cross-section of the third damper becomes narrower as it goes from the upper end thereof toward the lower end thereof.

Description

잉크젯 헤드의 댐퍼와 그 형성 방법{Damper of inkjet head and method of forming the same}Damper of inkjet head and method of forming the same

도 1은 종래의 압전 방식 잉크젯 헤드의 구체적인 일 예를 나타내 보인 분해 사시도이다.1 is an exploded perspective view showing a specific example of a conventional piezoelectric inkjet head.

도 2는 도 1에 도시된 댐퍼와 노즐의 연결 구조를 도시한 수직 단면도이다. FIG. 2 is a vertical cross-sectional view illustrating a connection structure between the damper and the nozzle illustrated in FIG. 1.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 댐퍼를 구비한 잉크젯 헤드를 부분 절단하여 도시한 분해 사시도이다.3 is an exploded perspective view showing a partially cut inkjet head with a damper according to a preferred embodiment of the present invention.

도 4는 도 3에 표시된 A-A'선을 따른 잉크젯 헤드의 조립 상태의 수직 단면도이다. 4 is a vertical cross-sectional view of the assembled state of the inkjet head along the line AA ′ shown in FIG. 3.

도 5는 본 발명에 따른 댐퍼를 통과하는 잉크의 속도 벡터를 시뮬레이션한 결과를 보여주는 도면이다. 5 is a view showing a result of simulating the velocity vector of the ink passing through the damper according to the present invention.

도 6a 내지 도 6e는 중간 기판에 제1 댐퍼와 제2 댐퍼를 형성하는 단계들을 도시한 도면들이다. 6A through 6E are diagrams illustrating steps of forming a first damper and a second damper on an intermediate substrate.

도 7a 내지 도 7e는 하부 기판에 제3 댐퍼와 노즐을 형성하는 단계들을 도시한 도면들이다. 7A to 7E are diagrams illustrating steps of forming a third damper and a nozzle on a lower substrate.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>

110...상부 기판 112...잉크 인렛110 ... Top substrate 112 ... Ink inlet

116...압력 챔버 120...중간 기판116 Pressure chamber 120 Intermediate substrate

122...매니폴드 124...리스트릭터122 ... Manifold 124 ... Lister

126...댐퍼 126a...제1 댐퍼126 ... damper 126a ... first damper

126b...제2 댐퍼 126c...제3 댐퍼126b ... second damper 126c ... third damper

130...하부 기판 138...노즐130 Bottom substrate 138 Nozzle

150...압전 액츄에이터 151...하부 전극150 Piezoelectric actuator 151 Bottom electrode

152...압전막 153...상부 전극152 Piezoelectric Film 153 Upper Electrode

본 발명은 잉크젯 헤드에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 잉크젯 헤드의 압력 챔버와 노즐을 연결하는 댐퍼와 그 형성 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an inkjet head, and more particularly, to a damper for connecting a nozzle and a pressure chamber of an inkjet head and a method of forming the same.

일반적으로 잉크젯 헤드는, 인쇄용 잉크의 미소한 액적(droplet)을 기록매체 상의 원하는 위치에 토출시켜서 소정 색상의 화상으로 인쇄하는 장치이다. 최근, 이러한 잉크젯 헤드는 액정디스플레이(LCD; Liquid Crystal Display), 유기발광다이오드(OLED; Organic Light Emitting Diode) 및 플라즈마 디스플레이 패널(PDP; Plasma Display Panel) 등의 평판 디스플레이 분야, 금속 배선과 저항 등을 포함하는 인쇄회로기판(PCB; Printed Circuit Board) 분야, 그리고 반도체 패키징 분야로 그 응용 범위를 넓혀가고 있다. In general, an inkjet head is an apparatus for ejecting a small droplet of printing ink to a desired position on a recording medium to print an image of a predetermined color. Recently, such inkjet heads are used in flat panel display fields such as liquid crystal displays (LCDs), organic light emitting diodes (OLEDs), and plasma display panels (PDPs), metal wiring and resistors, and the like. It is expanding its application scope to include printed circuit board (PCB) and semiconductor packaging fields.

상기한 잉크젯 헤드는 잉크 토출 방식에 따라 크게 두 가지로 나뉠 수 있다. 그 하나는 열원을 이용하여 잉크에 버블(bubble)을 발생시켜 그 버블의 팽창력에 의해 잉크를 토출시키는 열 구동 방식의 잉크젯 헤드이고, 다른 하나는 압전체를 사용하여 그 압전체의 변형으로 인해 잉크에 가해지는 압력에 의해 잉크를 토출시키는 압전 방식의 잉크젯 헤드이다. The inkjet head may be classified into two types according to the ink ejection method. One is a heat-driven inkjet head which generates bubbles in the ink by using a heat source and discharges the ink by the expansion force of the bubbles. The other is applied to the ink by deformation of the piezoelectric body using a piezoelectric body. It is a piezoelectric inkjet head which discharges ink by losing pressure.

도 1에는 종래의 잉크젯 헤드의 구체적인 일 예로서, 본 출원인의 한국 공개특허공보 제2003-0050477호(미국 공개특허공보 제2003-0112300호)에 개시된 압전 방식의 잉크젯 헤드가 도시되어 있다. 그리고, 도 2에는 도 1에 도시된 댐퍼와 노즐의 연결 구조가 도시되어 있다. 1 illustrates a piezoelectric inkjet head disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 2003-0050477 (US Patent Publication No. 2003-0112300). 2 illustrates a connection structure between the damper and the nozzle illustrated in FIG. 1.

도 1과 도 2를 함께 참조하면, 종래의 잉크젯 헤드는, 세 개의 실리콘 기판(30, 40, 50)이 적층되어 접합된 구조를 가진다. 세 개의 기판(30, 40, 50) 중 상부 기판(30)의 저면에는 소정 깊이를 가진 다수의 압력 챔버(32)가 형성되어 있다. 그리고, 상부 기판(30)에는 도시되지 않은 잉크 저장고와 연결된 잉크 인렛(31)이 관통 형성되어 있다. 상기 다수의 압력 챔버(32)는 중간 기판(40)에 형성된 매니폴드(41)의 양측에 2열로 배열되어 있다. 그리고, 상부 기판(30)의 상면에는 다수의 압력 챔버(32) 각각에 잉크의 토출을 위한 구동력을 제공하는 압전 액츄에이터(60)가 형성되어 있다. 상기 중간 기판(40)에는 잉크 인렛(31)과 연결되는 매니폴드(41)가 형성되어 있으며, 이 매니폴드(41)의 양측에 다수의 압력 챔버(32) 각각과 연결되는 리스트릭터(42)가 형성되어 있다. 또한, 중간 기판(40)에는 다수의 압력 챔버(32)에 대응하는 위치에 다수의 제1 댐퍼(43)가 수직으로 관통 형성되어 있다. 그리고, 하부 기판(50)의 상부쪽에는 상기 다수의 제1 댐퍼(43)와 연결되 는 다수의 제2 댐퍼(53)가 형성되어 있으며, 하부 기판(50)의 하부쪽에는 상기 다수의 제2 댐퍼(53)에 연결되는 다수의 노즐(51)이 형성되어 있다. 1 and 2 together, the conventional inkjet head has a structure in which three silicon substrates 30, 40, and 50 are stacked and bonded. A plurality of pressure chambers 32 having a predetermined depth are formed on the bottom surface of the upper substrate 30 among the three substrates 30, 40, and 50. An ink inlet 31 connected to an ink reservoir (not shown) is formed through the upper substrate 30. The plurality of pressure chambers 32 are arranged in two rows on both sides of the manifold 41 formed on the intermediate substrate 40. In addition, a piezoelectric actuator 60 is provided on the upper surface of the upper substrate 30 to provide a driving force for ejecting ink to each of the plurality of pressure chambers 32. The intermediate substrate 40 is provided with a manifold 41 connected to the ink inlet 31, and a restrictor 42 connected to each of the plurality of pressure chambers 32 on both sides of the manifold 41. Is formed. In addition, a plurality of first dampers 43 vertically penetrate the intermediate substrate 40 at positions corresponding to the plurality of pressure chambers 32. In addition, a plurality of second dampers 53 connected to the plurality of first dampers 43 are formed on an upper side of the lower substrate 50, and a plurality of second dampers 53 are formed on a lower side of the lower substrate 50. A plurality of nozzles 51 connected to the two dampers 53 are formed.

상기한 구성을 가진 종래의 잉크젯 헤드에 있어서, 상기 제1 댐퍼(43)는 중간 기판(40)을 수직으로 관통되도록 건식 에칭함으로써 원형의 단면을 가지도록 형성된다. 그리고, 상기 제2 댐퍼(53)는 하부 기판(50)의 상면을 소정 깊이로 습식 에칭함으로써 형성된다. 상기 제2 댐퍼(53)는 사각형의 단면 형상을 가지되, 그 측면들은 이방성 습식 에칭 특성에 의해 경사지게 형성된다. 상기한 에칭 방법에 따라, 상기 제1 댐퍼(43)는 건식 댐퍼(dry damper)로 지칭되며, 제2 댐퍼(53)는 습식 댐퍼(wet damper)로 지칭된다. In the conventional inkjet head having the above-described configuration, the first damper 43 is formed to have a circular cross section by dry etching so as to vertically penetrate the intermediate substrate 40. The second damper 53 is formed by wet etching the upper surface of the lower substrate 50 to a predetermined depth. The second damper 53 has a rectangular cross-sectional shape, the sides of which are inclined by anisotropic wet etching characteristics. According to the etching method described above, the first damper 43 is referred to as a dry damper, and the second damper 53 is referred to as a wet damper.

그런데, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 댐퍼(43)의 직경에 비해 제2 댐퍼(53)의 한 변의 길이가 작고, 이에 따라 제1 댐퍼(43)와 제2 댐퍼(53) 사이에는 단차부가 형성된다. 이러한 단차부에는 잉크 내에 함유되어 있던 버블(9)이 트랩될 수 있으며, 이와 같이 단차부에 트랩된 버블(9)은 노즐(51)을 통해 토출되는 잉크 액적의 체적에 편차를 발생시키거나, 노즐(51)을 막아 잉크 액적의 토출을 불가능하게 하는 문제점을 발생시킬 수 있다. However, as shown in FIG. 2, the length of one side of the second damper 53 is smaller than the diameter of the first damper 43, and thus, between the first damper 43 and the second damper 53. A stepped portion is formed. The bubble 9 contained in the ink may be trapped in the stepped portion, and the bubble 9 trapped in the stepped portion may cause variation in the volume of ink droplets discharged through the nozzle 51, The nozzle 51 may be blocked to cause a problem that makes it impossible to discharge the ink droplets.

그리고, 상기 제1 댐퍼(43)와 매니폴드(41)는 중간 기판(40)에 형성되는데, 그 깊이가 서로 달라서 한 번의 건식 에칭에 의해 함께 형성되지 못한다. 다시 설명하면, 1차 건식 에칭에 의해 제1 댐퍼(43)의 일부를 중간 기판(40)의 상면으로부터 소정 깊이로 형성한 다음, 2차 건식 에칭에 의해 제1 댐퍼(43)의 나머지 부분과 매니폴드(41)를 형성하게 된다. 이와 같이, 종래의 제1 댐퍼(43)와 매니폴드(41)를 형성하기 위해서는 두 번의 건식 에칭과 두 개의 마스크가 필요한 단점이 있을 뿐만 아니라, 두 번의 건식 에칭 공정에 의해 제1 댐퍼(43)와 매니폴드(41)가 오정렬되는 문제점도 있다. In addition, the first damper 43 and the manifold 41 are formed on the intermediate substrate 40, but the depths of the first dampers 43 and the manifold 41 are different from each other. In other words, a portion of the first damper 43 is formed to a predetermined depth from the upper surface of the intermediate substrate 40 by the primary dry etching, and then the remaining portion of the first damper 43 is formed by the secondary dry etching. The manifold 41 is formed. As described above, in order to form the conventional first damper 43 and the manifold 41, not only two dry etching and two masks are required, but also the first damper 43 is provided by two dry etching processes. There is also a problem in that the manifold 41 is misaligned.

또한, 제1 댐퍼(43)는 중간 기판(40)을 관통하도록 형성되는데, 이때 중간 기판(40)의 저면에 실리콘 산화막이 형성된 상태에서 건식 에칭이 수행된다. 따라서, 건식 에칭 시간을 정확히 제어하지 못하면 제1 댐퍼(43)의 하단부가 오버 에칭됨으로써 경사지게 되어 그 하단부가 넓어지는 문제점이 발생하게 된다. 이와 같이, 제1 댐퍼(43)의 하단부가 넓어지게 되면 상기한 단차부가 더욱 커지게 되어 버블 트랩의 가능성이 높아지게 된다. 따라서, 이러한 문제점을 방지하기 위해서는, 에칭과 검사를 2회 이상 반복해야 하는 불편한 점이 있다. In addition, the first damper 43 is formed to penetrate the intermediate substrate 40. At this time, dry etching is performed while a silicon oxide film is formed on the bottom surface of the intermediate substrate 40. Therefore, if the dry etching time is not accurately controlled, the lower end portion of the first damper 43 is overetched to be inclined, thereby causing a problem in that the lower end portion is widened. As such, when the lower end of the first damper 43 becomes wider, the stepped portion becomes larger and the likelihood of a bubble trap is increased. Therefore, in order to prevent such a problem, there is an inconvenience in that etching and inspection must be repeated two or more times.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로, 특히 버블 트랩을 방지할 수 있으며 그 형성 공정을 단순화할 수 있는 잉크젯 헤드의 댐퍼와 그 형성 방법을 제공하는데 그 목적이 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems of the prior art, and an object thereof is to provide a damper of an ink jet head and a method of forming the inkjet head, which can prevent bubble traps and simplify the forming process.

상기의 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 잉크젯 헤드의 댐퍼는, The damper of the ink jet head according to the present invention for achieving the above technical problem,

다수의 압력 챔버와 다수의 노즐을 각각 연결하는 잉크젯 헤드의 댐퍼에 있어서, In the damper of the inkjet head connecting the plurality of pressure chambers and the plurality of nozzles, respectively,

상단부가 상기 다수의 압력 챔버 각각과 연결되는 제1 댐퍼; 상기 제1 댐퍼의 하단부에 연결되는 제2 댐퍼; 상단부는 상기 제2 댐퍼와 연결되고 하단부는 상 기 다수의 노즐 각각과 연결되는 제3 댐퍼;를 구비하며, A first damper having an upper end connected to each of the plurality of pressure chambers; A second damper connected to a lower end of the first damper; An upper end portion connected to the second damper and a lower end portion connected to each of the plurality of nozzles; a third damper;

상기 제2 댐퍼는 상기 제1 댐퍼의 하단부로부터 상기 제3 댐퍼쪽으로 가면서 그 단면적이 점차 넓어지고, 상기 제3 댐퍼는 그 상단부로부터 하단부쪽으로 가면서 그 단면적이 점차 좁아지는 것을 특징으로 한다.The second damper is characterized in that the cross-sectional area is gradually widened from the lower end of the first damper toward the third damper, and the third damper is gradually narrowed while going from the upper end to the lower end.

본 발명에 있어서, 상기 제1 댐퍼는 일정한 직경의 원형 단면을 가지며, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼는 각각 사각형의 단면과 경사진 측면들을 가진 것이 바람직하다. In the present invention, it is preferable that the first damper has a circular cross section of a constant diameter, and the second damper and the third damper each have a rectangular cross section and sloped sides.

본 발명에 있어서, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼 각각의 사각형 단면의 한 변의 최대 길이는 상기 제1 댐퍼의 직경보다 큰 것이 바람직하다. 그리고, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼가 만나는 면에서 각각의 사각형 단면의 크기는 실질적으로 동일한 것이 바람직하다. In the present invention, the maximum length of one side of the rectangular cross section of each of the second damper and the third damper is preferably larger than the diameter of the first damper. In addition, it is preferable that the size of each rectangular cross section is substantially the same in the plane where the second damper and the third damper meet.

본 발명에 있어서, 상기 제1 댐퍼는 건식 에칭에 의해 형성되고, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼는 습식 에칭에 의해 형성될 수 있다. In the present invention, the first damper may be formed by dry etching, and the second damper and third damper may be formed by wet etching.

그리고, 상기의 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법은, In addition, the method for forming a damper of an ink jet head according to the present invention for achieving the above technical problem,

다수의 압력 챔버와 다수의 노즐을 각각 연결하는 것으로, 제1 댐퍼, 제2 댐퍼 및 제3 댐퍼를 포함하는 잉크젯 헤드의 댐퍼를 형성하는 방법에 있어서, In connecting a plurality of pressure chambers and a plurality of nozzles, respectively, in the method for forming a damper of the inkjet head comprising a first damper, a second damper and a third damper,

(가) 제1 기판과 제2 기판을 준비하는 단계; (나) 상기 제1 기판의 저면을 소정 깊이로 습식 에칭하여 상기 제2 댐퍼를 형성하는 단계; (다) 상기 제1 기판의 상면을 건식 에칭하여, 상단부는 상기 다수의 압력 챔버 각각과 연결되고 하단부는 상기 제2 댐퍼와 연결되는 상기 제1 댐퍼를 형성하는 단계; 및 (라) 상기 제2 기판의 상면을 소정 깊이로 습식 에칭하여, 상단부는 상기 제2 댐퍼와 연결되고 하단부는 상기 다수의 노즐 각각과 연결되는 상기 제3 댐퍼를 형성하는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 한다.(A) preparing a first substrate and a second substrate; (B) wet etching the bottom surface of the first substrate to a predetermined depth to form the second damper; (C) dry etching the upper surface of the first substrate to form the first damper having an upper end connected to each of the plurality of pressure chambers and a lower end connected to the second damper; And (d) wet etching the upper surface of the second substrate to a predetermined depth to form the third damper having an upper end connected to the second damper and a lower end connected to each of the plurality of nozzles. It features.

본 발명에 있어서, 상기 제2 댐퍼는 상기 제1 댐퍼의 하단부로부터 상기 제3 댐퍼쪽으로 가면서 그 단면적이 점차 넓어지도록 형성되고, 상기 제3 댐퍼는 그 상단부로부터 하단부쪽으로 가면서 그 단면적이 점차 좁아지도록 형성되는 것이 바람직하다. In the present invention, the second damper is formed such that its cross-sectional area gradually widens from the lower end of the first damper toward the third damper, and the third damper is formed such that its cross-sectional area is gradually narrowed from its upper end toward the lower end. It is preferable to be.

본 발명에 있어서, 상기 제1 댐퍼는 일정한 직경의 원형 단면을 가지도록 형성되며, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼는 각각 사각형의 단면과 경사진 측면들을 가지도록 형성될 수 있다. 그리고, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼 각각의 사각형 단면의 한 변의 최대 길이는 상기 제1 댐퍼의 직경보다 크도록 형성되는 것이 바람직하다. 또한, 상기 제1 기판의 저면과 상기 제2 기판의 상면에서 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼 각각의 사각형 단면의 크기는 실질적으로 동일하도록 형성되는 것이 바람직하다. In the present invention, the first damper is formed to have a circular cross section of a constant diameter, the second damper and the third damper may be formed to have a rectangular cross section and inclined sides, respectively. In addition, the maximum length of one side of the rectangular cross section of each of the second damper and the third damper is preferably formed to be larger than the diameter of the first damper. In addition, it is preferable that the rectangular cross sections of the second damper and the third damper are formed to have substantially the same size on the bottom surface of the first substrate and the top surface of the second substrate.

본 발명에 있어서, 상기 (다) 단계에서, 상기 제1 기판의 상면에는 한 번의 건식 에칭에 의해 상기 제1 댐퍼와 함께 매니폴드와 리스트릭터가 동시에 형성될 수 있다. In the present invention, in the step (c), the manifold and the restrictor may be simultaneously formed on the upper surface of the first substrate together with the first damper by one dry etching.

본 발명에 있어서, 상기 제1 기판과 제2 기판은 단결정 실리콘 웨이퍼인 것이 바람직하다. In the present invention, the first substrate and the second substrate are preferably single crystal silicon wafers.

본 발명에 있어서, 상기 습식 에칭은, 실리콘용 에칭액(etchant)으로서, 테 트라메틸 수산화 암모늄(TMAH: Tetramethyl Ammonium Hydroxide) 또는 수산화 칼륨(KOH)을 사용하여 수행될 수 있다. 그리고, 상기 건식 에칭은, 유도결합 플라즈마(ICP)를 이용한 반응성 이온 에칭(RIE)에 의해 수행될 수 있다. In the present invention, the wet etching may be performed using tetramethyl ammonium hydroxide (TMAH) or potassium hydroxide (KOH) as an etchant for silicon. The dry etching may be performed by reactive ion etching (RIE) using inductively coupled plasma (ICP).

이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 도면에서 동일한 참조부호는 동일한 구성요소를 지칭하며, 도면상에서 각 구성요소의 크기는 설명의 명료성과 편의상 과장되어 있을 수 있다. 또한, 한 층이 기판이나 다른 층의 위에 존재한다고 설명될 때, 그 층은 기판이나 다른 층에 직접 접하면서 그 위에 존재할 수도 있고, 그 사이에 제 3의 층이 존재할 수도 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, like reference numerals refer to like elements, and the size of each element may be exaggerated for clarity and convenience of description. In addition, when one layer is described as being on top of a substrate or another layer, the layer may be present over and in direct contact with the substrate or another layer, with a third layer in between.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 댐퍼를 구비한 잉크젯 헤드를 부분 절단하여 도시한 분해 사시도이고, 도 4는 도 3에 표시된 A-A'선을 따른 잉크젯 헤드의 조립 상태의 수직 단면도이다. 3 is an exploded perspective view showing a partially cut inkjet head with a damper according to a preferred embodiment of the present invention, Figure 4 is a vertical cross-sectional view of the assembled state of the inkjet head along the line AA 'shown in FIG. .

도 3과 도 4를 함께 참조하면, 잉크젯 헤드는, 잉크 유로가 형성된 유로 형성판(110, 120, 130)과, 상기 유로 형성판(110, 120, 130)에 마련되어 잉크의 토출을 위한 구동력을 제공하는 압전 액츄에이터(150)를 구비한다. 3 and 4 together, the inkjet head is provided on the flow path forming plates (110, 120, 130) and the flow path forming plates (110, 120, 130) on which the ink flow paths are formed to provide a driving force for ejecting ink. A piezoelectric actuator 150 is provided.

상기 유로 형성판(110, 120, 130)은 상부 기판(110), 중간 기판(120) 및 하부 기판(130)을 포함할 수 있으며, 상기 압전 액츄에이터(150)는 상부 기판(110)의 상면에 형성될 수 있다. 상기 상부 기판(110), 중간 기판(120) 및 하부 기판(130)으로는 반도체 집적 회로의 제조에 널리 사용되는 실리콘 기판이 사용될 수 있다. The flow path forming plates 110, 120, and 130 may include an upper substrate 110, an intermediate substrate 120, and a lower substrate 130, and the piezoelectric actuator 150 may be disposed on an upper surface of the upper substrate 110. Can be formed. As the upper substrate 110, the intermediate substrate 120, and the lower substrate 130, a silicon substrate widely used in the manufacture of a semiconductor integrated circuit may be used.

상기 유로 형성판(110, 120, 130)에 형성된 잉크 유로는, 도시되지 않은 잉크 저장고로부터 잉크가 유입되는 잉크 인렛(112)과, 상기 잉크 인렛(112)을 통해 유입된 잉크가 통과하는 통로인 매니폴드(122)와, 상기 매니폴드(122)로부터 공급된 잉크가 채워지는 다수의 압력 챔버(116)와, 상기 다수의 압력 챔버(116)로부터 잉크를 토출하기 위한 다수의 노즐(138)을 포함한다. 그리고, 상기 잉크 유로는, 본 발명의 특징부로서 다수의 챔버(116)와 다수의 노즐(133)을 각각 연결하는 댐퍼(126)를 더 포함한다. 또한, 상기 잉크 유로는 다수의 챔버(116) 각각을 상기 매니폴드(122)와 연결하는 다수의 리스트릭터(124)를 더 포함할 수 있다. The ink flow paths formed in the flow path forming plates 110, 120, and 130 are ink inlets 112 through which ink flows from an ink reservoir (not shown), and a passage through which ink flows through the ink inlets 112 passes. A manifold 122, a plurality of pressure chambers 116 filled with ink supplied from the manifold 122, and a plurality of nozzles 138 for ejecting ink from the plurality of pressure chambers 116. Include. The ink flow path further includes a damper 126 that connects the plurality of chambers 116 and the plurality of nozzles 133 as features of the present invention, respectively. In addition, the ink flow path may further include a plurality of restrictors 124 connecting each of the plurality of chambers 116 to the manifold 122.

이하에서는 상기한 잉크 유로의 구성에 대해서 구체적으로 설명하기로 한다. Hereinafter, the configuration of the ink flow path will be described in detail.

상기 잉크 인렛(112)은 도시되지 않은 잉크 저장고로부터 잉크가 유입되는 통로로서, 상부 기판(110)을 수직으로 관통하여 형성될 수 있다. 상기 잉크 인렛(112)은, 도 3에 도시된 바와 같이, 후술하는 매니폴드(122)의 일단부에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 한편, 상기 잉크 인렛(112)은 매니폴드(122)의 중간부에 대응하는 위치에 형성될 수도 있으며, 또한 매니폴드(122)의 길이 방향을 따라 길게 형성될 수도 있다. The ink inlet 112 is a passage through which ink enters from an ink reservoir (not shown) and may be formed to vertically penetrate the upper substrate 110. As shown in FIG. 3, the ink inlet 112 may be formed at a position corresponding to one end of the manifold 122 to be described later. On the other hand, the ink inlet 112 may be formed at a position corresponding to the middle portion of the manifold 122, it may also be formed long along the longitudinal direction of the manifold (122).

상기 매니폴드(122)는 중간 기판(120)의 상면에 소정 깊이로 형성될 수 있으며, 일방향으로 긴 형상을 가질 수 있다. The manifold 122 may be formed at a predetermined depth on the upper surface of the intermediate substrate 120, and may have a long shape in one direction.

상기 다수의 압력 챔버(116)는 상기 상부 기판(110)의 저면에 소정 깊이로 형성될 수 있다. 상기 상부 기판(110) 중 상기 다수의 압력 챔버(116) 각각의 상부벽을 이루는 부분은 액츄에이터(150)의 구동에 의해 진동하는 진동판(117)의 역할을 하게 된다. 상기 다수의 압력 챔버(116)는 상기 매니폴드(122)의 일측에 1열로 배열될 수 있으며, 그 각각은 잉크의 흐름 방향으로 보다 긴 직육면체의 형상을 가 질 수 있다. 한편, 상기 다수의 압력 챔버(116)는 상기 매니폴드(122)의 양측에 2열로 배열될 수도 있다. The plurality of pressure chambers 116 may be formed at a predetermined depth on the bottom surface of the upper substrate 110. A portion of the upper substrate 110 that forms the upper wall of each of the plurality of pressure chambers 116 serves as the diaphragm 117 vibrating by the driving of the actuator 150. The plurality of pressure chambers 116 may be arranged in one row on one side of the manifold 122, each of which may have a shape of a longer rectangular parallelepiped in the flow direction of the ink. Meanwhile, the plurality of pressure chambers 116 may be arranged in two rows on both sides of the manifold 122.

상기 압전 액츄에이터(150)는 상부 기판(110)의 상면에 형성될 수 있다. 그리고, 상부 기판(110)과 압전 액츄에이터(150) 사이에는 절연막(118)이 형성될 수 있다. 상부 기판(110)이 실리콘 기판인 경우에, 상기 절연막(118)으로서 실리콘 산화막이 사용될 수 있다. 상기 압전 액츄에이터(150)는 공통 전극의 역할을 하는 하부 전극(151)과, 전압의 인가에 따라 변형되는 압전막(152)과, 구동 전극의 역할을 하는 상부 전극(153)을 구비할 수 있다. 상기 하부 전극(151)은 상기 절연막(118)의 전 표면에 형성될 수 있으며, 도전성 금속 물질층으로 이루어질 수 있다. 상기 압전막(152)은 하부 전극(151) 위에 형성되며, 상기 다수의 챔버(116) 각각의 상부에 위치하도록 배치된다. 이러한 압전막(152)은 압전물질, 바람직하게는 PZT(Lead Zirconate Titanate) 세라믹 재료로 이루어질 수 있다. 상기 압전막(152)은 전압의 인가에 의해 변형되며, 그 변형에 의해 상기 압력 챔버(116)의 상부벽을 이루는 진동판(117)을 진동시키는 역할을 하게 된다. 상기 상부 전극(153)은 압전막(152) 위에 형성되며, 압전막(152)에 전압을 인가하는 구동 전극의 역할을 하게 된다.The piezoelectric actuator 150 may be formed on an upper surface of the upper substrate 110. In addition, an insulating film 118 may be formed between the upper substrate 110 and the piezoelectric actuator 150. When the upper substrate 110 is a silicon substrate, a silicon oxide film may be used as the insulating film 118. The piezoelectric actuator 150 may include a lower electrode 151 serving as a common electrode, a piezoelectric film 152 deformed by application of a voltage, and an upper electrode 153 serving as a driving electrode. . The lower electrode 151 may be formed on the entire surface of the insulating layer 118, and may be formed of a conductive metal material layer. The piezoelectric film 152 is formed on the lower electrode 151 and is disposed to be positioned above each of the plurality of chambers 116. The piezoelectric film 152 may be made of a piezoelectric material, preferably a lead zirconate titanate (PZT) ceramic material. The piezoelectric film 152 is deformed by the application of a voltage, thereby deforming the diaphragm 117 that forms the upper wall of the pressure chamber 116. The upper electrode 153 is formed on the piezoelectric film 152 and serves as a driving electrode for applying a voltage to the piezoelectric film 152.

그리고, 중간 기판(120)에는 다수의 압력 챔버(116) 각각을 매니폴드(122)와 연결하는 다수의 리스트릭터(124)가 형성될 수 있다. 상기 다수의 리스트릭터(124) 각각은 잉크의 역류를 억제할 수 있도록 상기 챔버(116)의 단면적보다 작은 단면적을 가지도록 형성된다. 상기 다수의 리스트릭터(124) 각각은 대략 "T"자 형상의 단면을 가질 수 있다. 한편, 상기 다수의 리스트릭터(124)는 도 3에 도시된 형상과는 다른 다양한 형상으로 형성될 수도 있다. In addition, a plurality of restrictors 124 may be formed in the intermediate substrate 120 to connect each of the plurality of pressure chambers 116 with the manifold 122. Each of the plurality of restrictors 124 is formed to have a cross-sectional area smaller than that of the chamber 116 so as to suppress backflow of ink. Each of the plurality of restrictors 124 may have a cross section having a substantially “T” shape. Meanwhile, the plurality of restrictors 124 may be formed in various shapes different from those shown in FIG. 3.

본 발명의 특징부인 상기 댐퍼(126)는 다수의 압력 챔버(116)와 다수의 노즐(138)을 각각 연결하는 통로로서, 중간 기판(120)의 상부쪽에 형성된 제1 댐퍼(126a)와, 상기 제1 댐퍼(126a)와 연결되도록 중간 기판(120)의 하부쪽에 형성된 제2 댐퍼(126b)와, 상기 제2 댐퍼(126b)와 연결되도록 하부 기판(130)의 상면쪽에 형성된 제3 댐퍼(126c)를 포함한다. The damper 126, which is a feature of the present invention, is a passage connecting the plurality of pressure chambers 116 and the plurality of nozzles 138, respectively, and includes a first damper 126a formed on an upper side of the intermediate substrate 120. A second damper 126b formed at a lower side of the intermediate substrate 120 to be connected to the first damper 126a, and a third damper 126c formed at an upper surface of the lower substrate 130 to be connected to the second damper 126b. ).

구체적으로 설명하면, 상기 제1 댐퍼(126a)는 그 상단부가 다수의 압력 챔버(116) 각각과 연결되도록 중간 기판(120)의 상면으로부터 소정 깊이로 형성된다. 상기 제1 댐퍼(126a)는 건식 에칭에 의해 일정한 직경의 원형 단면을 가지도록 형성된다. 예컨대, 상기 제1 댐퍼(126a)는 200㎛ ~ 300㎛의 직경을 가질 수 있으며, 바람직하게는 대략 250㎛ 정도의 직경을 가질 수 있다. 그리고, 중간 기판(120)의 두께가 대략 250㎛인 경우, 상기 제1 댐퍼(126a)는 대략 200㎛ 정도의 깊이를 가질 수 있다. In detail, the first damper 126a is formed to a predetermined depth from an upper surface of the intermediate substrate 120 such that an upper end thereof is connected to each of the plurality of pressure chambers 116. The first damper 126a is formed to have a circular cross section of a constant diameter by dry etching. For example, the first damper 126a may have a diameter of 200 μm to 300 μm, and preferably may have a diameter of about 250 μm. In addition, when the thickness of the intermediate substrate 120 is about 250 μm, the first damper 126a may have a depth of about 200 μm.

상기 제2 댐퍼(126b)는 중간 기판(120)의 저면으로부터 소정 깊이로 형성되어 상기 제1 댐퍼(126a)의 하단부와 연결된다. 상기 제2 댐퍼(126b)는 사각형의 단면 형상을 가지되, 그 측면들은 이방성 습식 에칭 특성에 의해 경사지게 형성된다. 상기 제2 댐퍼(126b)의 사각형 단면의 한 변의 최대 길이는 상기 제1 댐퍼(126a)의 직경보다 크게 형성된다. 예들 들어, 상기 제1 댐퍼(126a)의 직경이 대략 250㎛ 정도인 경우, 상기 제2 댐퍼(126b)는 한 변의 최대 길이가 대략 300㎛ 정도인 사각형 단면을 가진 것이 바람직하다. 즉, 상기 제2 댐퍼(126b)는 상기 제1 댐퍼(126a)의 하단부로부터 아래쪽으로 가면서 점차 그 단면적이 넓어지는 형상을 가지게 된다. 그리고, 중간 기판(120)의 두께가 대략 250㎛인 경우, 상기 제2 댐퍼(126b)는 대략 50㎛ 정도의 깊이를 가질 수 있다. The second damper 126b is formed to a predetermined depth from the bottom surface of the intermediate substrate 120 and is connected to the lower end of the first damper 126a. The second damper 126b has a rectangular cross-sectional shape, and side surfaces thereof are inclined by anisotropic wet etching characteristics. The maximum length of one side of the rectangular cross section of the second damper 126b is larger than the diameter of the first damper 126a. For example, when the diameter of the first damper 126a is about 250 μm, the second damper 126b preferably has a rectangular cross section having a maximum length of about 300 μm. That is, the second damper 126b has a shape in which its cross-sectional area gradually widens downward from the lower end of the first damper 126a. In addition, when the thickness of the intermediate substrate 120 is about 250 μm, the second damper 126b may have a depth of about 50 μm.

상기 제3 댐퍼(126c)의 상단부는 제2 댐퍼(126b)와 연결되고, 그 하단부는 다수의 노즐(138) 각각과 연결된다. 상기 제3 댐퍼(126c)는 상기 제2 댐퍼(126b)와 연결되는 위치의 하부 기판(130)의 상면으로부터 소정 깊이로 형성된다. 상기 제3 댐퍼(126c)도 사각형의 단면 형상을 가지며, 그 측면들은 이방성 습식 에칭 특성에 의해 경사지게 형성된다. 즉, 상기 제3 댐퍼(126c)는 하부 기판(130)의 상면으로부터 아래쪽으로 갈수록 점차 그 단면적이 좁아지는 형상을 가지게 된다. 상기 제3 댐퍼(126c)의 사각형 단면의 크기는 상기 제2 댐퍼(126b)의 사각형 단면의 크기와 실질적으로 동일하도록 형성된다. 따라서, 중간 기판(120)과 하부 기판(130)이 접합된 상태에서, 제3 댐퍼(126c)와 제2 댐퍼(126b)는 서로 일치된다. 그리고, 하부 기판(130)의 두께가 대략 150㎛인 경우, 상기 제3 댐퍼(126c)는 대략 100㎛ 정도의 깊이를 가질 수 있다. An upper end of the third damper 126c is connected to the second damper 126b, and a lower end thereof is connected to each of the plurality of nozzles 138. The third damper 126c is formed to a predetermined depth from an upper surface of the lower substrate 130 at a position connected to the second damper 126b. The third damper 126c also has a rectangular cross-sectional shape, and side surfaces thereof are inclined by anisotropic wet etching characteristics. That is, the third damper 126c has a shape in which its cross-sectional area gradually decreases from the upper surface of the lower substrate 130 to the lower side. The size of the rectangular cross section of the third damper 126c is formed to be substantially the same as the size of the rectangular cross section of the second damper 126b. Therefore, in the state where the intermediate substrate 120 and the lower substrate 130 are bonded to each other, the third damper 126c and the second damper 126b coincide with each other. In addition, when the thickness of the lower substrate 130 is about 150 μm, the third damper 126c may have a depth of about 100 μm.

상기 다수의 노즐(138) 각각은 상기 제3 댐퍼(126c)의 바닥면으로부터 하부 기판(130)을 수직으로 관통하도록 형성된다. 상기 다수의 노즐(138) 각각은 건식 에칭에 의해 일정한 직경, 예컨대 대략 28㎛ 정도의 직경을 가진 원형 홀의 형상을 가질 수 있다. 그리고, 하부 기판(130)의 두께가 대략 150㎛인 경우, 상기 노즐(138)은 대략 50㎛ 정도의 깊이를 가질 수 있다. Each of the plurality of nozzles 138 is formed to vertically penetrate the lower substrate 130 from the bottom surface of the third damper 126c. Each of the plurality of nozzles 138 may have a shape of a circular hole having a constant diameter, for example, a diameter of about 28 μm by dry etching. In addition, when the thickness of the lower substrate 130 is about 150 μm, the nozzle 138 may have a depth of about 50 μm.

상기한 바와 같이, 본 발명에 있어서, 다수의 압력 챔버(116)와 다수의 노 즐(138)을 각각 연결하는 댐퍼(126)는, 건식 에칭에 의해 형성되는 제1 댐퍼(126a)와, 습식 에칭에 의해 형성되는 제2 댐퍼(126b)와, 역시 습식 에칭에 의해 형성되는 제3 댐퍼(126c)로 구성된다. 그리고, 제2 댐퍼(126b)와 제3 댐퍼(126c)는 제1 댐퍼(126a)의 단면적보다 큰 단면적을 가지므로, 종래 기술과 달리 댐퍼(126) 내부에 잉크의 흐름을 방해하는 단차가 형성되지 않는다. 따라서, 댐퍼(126) 내부에 버블이 트랩되는 문제점이 발생하지 않으므로, 버블 트랩으로 인한 잉크 토출 특성의 저하를 방지할 수 있다. As described above, in the present invention, the dampers 126 connecting the plurality of pressure chambers 116 and the plurality of nozzles 138, respectively, include a first damper 126a formed by dry etching and a wet type. The second damper 126b is formed by etching, and the third damper 126c is also formed by wet etching. In addition, since the second damper 126b and the third damper 126c have a cross-sectional area larger than that of the first damper 126a, a step is formed in the damper 126 to prevent the flow of ink unlike the prior art. It doesn't work. Therefore, the problem that bubbles are trapped inside the damper 126 does not occur, and thus, deterioration of ink discharge characteristics due to bubble traps can be prevented.

도 5는 본 발명에 따른 댐퍼를 통과하는 잉크의 속도 벡터를 시뮬레이션한 결과를 보여주는 도면이다. 5 is a view showing a result of simulating the velocity vector of the ink passing through the damper according to the present invention.

도 5를 참조하면, 노즐을 통해 토출되는 잉크 액적의 속도는 대략 3.3m/s이고, 제2 댐퍼와 제3 댐퍼가 만나는 부분, 즉 점선으로 표시된 부분에서의 잉크의 속도는 대략 0.1m/s 이하이다. 이와 같이, 제2 댐퍼와 제3 댐퍼가 만나는 단면적이 넓혀진 부분에서의 잉크의 속도가 매우 낮아서, 댐퍼 내에서의 잉크의 전체 유동 속도에는 크게 영향을 미치지 않는다. Referring to FIG. 5, the speed of the ink droplets ejected through the nozzle is approximately 3.3 m / s, and the speed of the ink at the portion where the second damper and the third damper meet, that is, the portion indicated by the dotted line, is approximately 0.1 m / s. It is as follows. In this way, the speed of the ink in the portion where the cross-sectional area where the second damper and the third damper meet is widened is very low, and does not significantly affect the overall flow rate of the ink in the damper.

이하에서는, 상기한 구성을 가진 본 발명에 따른 잉크젯 헤드의 댐퍼를 형성하는 방법을 설명하기로 한다. Hereinafter, a method of forming a damper of an ink jet head according to the present invention having the above-described configuration will be described.

도 6a 내지 도 6e는 중간 기판에 제1 댐퍼와 제2 댐퍼를 형성하는 단계들을 도시한 도면들이다. 6A through 6E are diagrams illustrating steps of forming a first damper and a second damper on an intermediate substrate.

먼저, 도 6a를 참조하면, 잉크젯 헤드의 중간 기판(120)으로 사용될 제1 기판을 준비한다. 상기 제1 기판(120)은 단결정 실리콘 웨이퍼로 이루어질 수 있다. 이는, 반도체 소자의 제조에 널리 사용되는 실리콘 웨이퍼를 그대로 사용할 수 있어 대량생산에 효과적이기 때문이다. 준비된 제1 기판(120)을 건식 또는 습식 산화시켜, 제1 기판(120)의 상면과 저면에 실리콘 산화막(171a, 171b)을 형성한다. 이어서, 제1 기판(120)의 저면에 형성된 실리콘 산화막(171b)을 건식 또는 습식 에칭하여 제2 댐퍼(도 6b의 126b)를 형성하기 위한 제1 개구(181)를 형성한다. 이때, 제1 개구(181)는 직경이 대략 280㎛ 정도인 원형으로 형성될 수 있다. First, referring to FIG. 6A, a first substrate to be used as the intermediate substrate 120 of the inkjet head is prepared. The first substrate 120 may be made of a single crystal silicon wafer. This is because silicon wafers widely used in the manufacture of semiconductor devices can be used as they are and are effective for mass production. The prepared first substrate 120 is dry or wet oxidized to form silicon oxide films 171a and 171b on the top and bottom surfaces of the first substrate 120. Subsequently, the silicon oxide film 171b formed on the bottom surface of the first substrate 120 is dry or wet etched to form a first opening 181 for forming a second damper (126b of FIG. 6B). At this time, the first opening 181 may be formed in a circular shape having a diameter of about 280㎛.

다음으로, 도 6b에 도시된 바와 같이, 상기 제1 개구(181)를 통해 노출된 제1 기판(120)의 저면을 소정 깊이로 습식 에칭한다. 이때, 습식 에칭은 실리콘용 에칭액(etchant)으로서, 예컨대 테트라메틸 수산화 암모늄(TMAH: Tetramethyl Ammonium Hydroxide) 또는 수산화 칼륨(KOH)을 사용하여 수행될 수 있다. 그러면, 제1 기판(120)의 저면에는, 이방성 습식 에칭 특성에 의해 경사진 측면들을 가진 제2 댐퍼(126b)가 형성된다. 제2 댐퍼(126b)가 형성된 후, 제1 기판(120)의 표면에 잔존된 실리콘 산화막(171a, 171b)을 습식 에칭 등에 의해 제거한다. Next, as shown in FIG. 6B, the bottom surface of the first substrate 120 exposed through the first opening 181 is wet etched to a predetermined depth. In this case, the wet etching may be performed using, for example, tetramethyl ammonium hydroxide (TMAH) or potassium hydroxide (KOH) as an etchant for silicon. Then, a second damper 126b having side surfaces inclined by anisotropic wet etching characteristics is formed on the bottom surface of the first substrate 120. After the second damper 126b is formed, the silicon oxide films 171a and 171b remaining on the surface of the first substrate 120 are removed by wet etching or the like.

다음으로, 도 6c에 도시된 바와 같이, 상기 제1 기판(120)을 다시 건식 또는 습식 산화시켜, 제1 기판(120)의 상면과 저면에 실리콘 산화막(172a, 172b)을 형성한다. 이때, 제1 기판(120)의 저면에 형성된 제2 댐퍼(126b)의 측면들에도 실리콘 산화막(172a)이 형성된다. 이어서, 제1 기판(120)의 상면에 형성된 실리콘 산화막(172a)을 건식 또는 습식 에칭하여 제1 댐퍼(도 6d의 126a)를 형성하기 위한 제2 개구(182)를 형성한다. 이때, 제2 개구(182)는 대략 250 ~ 280㎛ 정도의 직경을 가진 원형으로 형성될 수 있다. 그리고, 상기 실리콘 산화막(172a)에는 매니폴드(도 6d의 122)와 리스트릭터(도 6d의 124)를 형성하기 위한 제3 개구(183)도 제2 개구(182)와 함께 형성된다. Next, as illustrated in FIG. 6C, the first substrate 120 is again dry or wet oxidized to form silicon oxide films 172a and 172b on the top and bottom surfaces of the first substrate 120. At this time, the silicon oxide film 172a is formed on side surfaces of the second damper 126b formed on the bottom surface of the first substrate 120. Subsequently, the silicon oxide film 172a formed on the upper surface of the first substrate 120 is dry or wet etched to form a second opening 182 for forming a first damper (126a in FIG. 6D). At this time, the second opening 182 may be formed in a circular shape having a diameter of about 250 ~ 280㎛. In addition, a third opening 183 for forming a manifold (122 in FIG. 6D) and a restrictor (124 in FIG. 6D) is also formed in the silicon oxide film 172a together with the second opening 182.

다음으로, 도 6d에 도시된 바와 같이, 상기 제2 개구(182)와 제3 개구(183)를 통해 노출된 제1 기판(120)의 상면을 소정 깊이로 에칭한다. 이때, 제1 기판(120)에 대한 에칭은 유도결합 플라즈마(ICP)를 이용한 반응성 이온 에칭(RIE)과 같은 건식 에칭 방법에 의해 수행된다. 그러면, 제1 기판(120)에는 일정한 직경의 원형 단면을 가진 제1 댐퍼(126a)가 형성되고, 제1 댐퍼(126a)의 하단부는 제2 댐퍼(126b)의 측면들에 형성된 실리콘 산화막(172b)에 의해 막혀 있다. 그리고, 상기한 제1 댐퍼(126a)와 함께 매니폴드(122)와 리스트릭터(124)가 제1 기판(120)의 상면으로부터 소정 깊이로 형성된다. 이때, 도 3에 도시된 바와 같이, 매니폴드(122)에 비해 리스트릭터(124)의 단면적이 좁으므로, 리스트릭터(124)는 매니폴드(122)에 비해 약간 얕은 깊이로 형성된다. Next, as shown in FIG. 6D, the upper surface of the first substrate 120 exposed through the second opening 182 and the third opening 183 is etched to a predetermined depth. In this case, etching of the first substrate 120 may be performed by a dry etching method such as reactive ion etching (RIE) using an inductively coupled plasma (ICP). Then, a first damper 126a having a circular cross section of a constant diameter is formed on the first substrate 120, and a lower end portion of the first damper 126a is formed on the side surfaces of the second damper 126b. Blocked by). The manifold 122 and the restrictor 124 are formed to a predetermined depth from the upper surface of the first substrate 120 together with the first damper 126a. In this case, as shown in FIG. 3, since the cross-sectional area of the restrictor 124 is narrower than that of the manifold 122, the restrictor 124 is formed to be slightly shallower than the manifold 122.

이어서, 제1 기판(120)의 표면에 잔존된 실리콘 산화막(172a, 172b)을 습식 에칭 등에 의해 제거하면, 도 6e에 도시된 바와 같이, 제1 댐퍼(126a)와 제2 댐퍼(126b)는 서로 연결된다. Subsequently, when the silicon oxide films 172a and 172b remaining on the surface of the first substrate 120 are removed by wet etching or the like, as illustrated in FIG. 6E, the first dampers 126a and the second dampers 126b may be removed. Are connected to each other.

상기한 바와 같이, 본 발명의 댐퍼 형성 방법에 의하면, 제1 댐퍼(126a)와 매니폴드(122)와 리스트릭터(124)가 한 번의 건식 에칭 공정에 의해 함께 형성될 수 있으므로, 공정이 단순화되는 장점이 있다. 그리고, 제1 댐퍼(126a)와 매니폴드(122)와 리스트릭터(124)를 형성하기 위해 하나의 마스크만 필요하므로, 이들 사이에 오정렬이 발생하지 않는 장점도 있다. 비록, 본 발명에 있어서는, 종래 기술 에 비해 제2 기판(120)의 저면에 제2 댐퍼(126b)를 형성하는 공정이 추가되지만, 제2 댐퍼(126b)를 형성하는 공정은 배치(batch) 방식이 가능한 습식 에칭 공정이므로, 개개의 웨이퍼에 대해 수행되는 건식 에칭 공정에 비해 공정 비용과 시간을 줄일 수 있다. As described above, according to the damper forming method of the present invention, since the first damper 126a, the manifold 122, and the restrictor 124 can be formed together by one dry etching process, the process is simplified. There is an advantage. In addition, since only one mask is required to form the first damper 126a, the manifold 122, and the restrictor 124, there is an advantage that misalignment does not occur between them. Although, in the present invention, the process of forming the second damper 126b on the bottom surface of the second substrate 120 is added as compared to the prior art, the process of forming the second damper 126b is a batch method. Because of this possible wet etching process, the process cost and time can be reduced compared to the dry etching process performed on the individual wafers.

또한, 제1 댐퍼(126a)와 매니폴드(122)가 거의 동일한 깊이로 형성되므로, 제1 댐퍼(126a)가 오버 에칭되는 문제점은 거의 발생하지 않는다. 만약, 제1 댐퍼(126a)가 오버 에칭되어 그 하단부가 경사지게 넓어진다 하더라도, 제1 댐퍼(126a)의 하단부는 제2 댐퍼(126b)의 경사진 측면들에 단차 없이 이어질 수 있다. 따라서, 1회의 에칭과 1회의 검사만으로 공정을 완료할 수 있다. In addition, since the first dampers 126a and the manifold 122 are formed to have substantially the same depth, there is almost no problem that the first dampers 126a are over-etched. If the first damper 126a is overetched so that its lower end is inclinedly widened, the lower end of the first damper 126a may continue to the inclined side surfaces of the second damper 126b without stepping. Therefore, the process can be completed by only one etching and one inspection.

도 7a 내지 도 7e는 하부 기판에 제3 댐퍼와 노즐을 형성하는 단계들을 도시한 도면들이다. 7A to 7E are diagrams illustrating steps of forming a third damper and a nozzle on a lower substrate.

먼저, 도 7a를 참조하면, 잉크젯 헤드의 하부 기판(130)을 사용될 제2 기판을 준비한다. 상기 제2 기판(130)도 단결정 실리콘 웨이퍼로 이루어질 수 있다. 준비된 제2 기판(130)을 건식 또는 습식 산화시켜, 제2 기판(130)의 상면과 저면에 실리콘 산화막(173a, 173b)을 형성한다. 이어서, 제2 기판(130)의 상면에 형성된 실리콘 산화막(173a)을 건식 또는 습식 에칭하여 제3 댐퍼(도 7b의 126c)를 형성하기 위한 제4 개구(184)를 형성한다. 이때, 제4 개구(184)는 상기한 제2 개구(182)와 동일하게 직경이 대략 280㎛ 정도인 원형으로 형성될 수 있다. 그리고, 상기 제2 댐퍼(126b)와 제3 댐퍼(126c)의 크기를 동일하게 하기 위해 제2 개구(182)와 제4 개구(184)의 크기를 동일하게 한다. First, referring to FIG. 7A, a second substrate to use the lower substrate 130 of the inkjet head is prepared. The second substrate 130 may also be made of a single crystal silicon wafer. The prepared second substrate 130 is dry or wet oxidized to form silicon oxide films 173a and 173b on the top and bottom surfaces of the second substrate 130. Subsequently, the silicon oxide film 173a formed on the upper surface of the second substrate 130 is dry or wet etched to form a fourth opening 184 for forming a third damper (126c in FIG. 7B). In this case, the fourth opening 184 may be formed in a circular shape having a diameter of about 280 μm similarly to the second opening 182 described above. In addition, in order to make the size of the second damper 126b and the third damper 126c the same, the size of the second opening 182 and the fourth opening 184 is the same.

다음으로, 도 7b에 도시된 바와 같이, 상기 제4 개구(184)를 통해 노출된 제2 기판(130)의 상면을 소정 깊이, 예컨대 대략 100㎛ 정도의 깊이로 습식 에칭한다. 이때, 습식 에칭은 실리콘용 에칭액(etchant)으로서, 예컨대 테트라메틸 수산화 암모늄(TMAH: Tetramethyl Ammonium Hydroxide) 또는 수산화 칼륨(KOH)을 사용하여 수행될 수 있다. 그러면, 제2 기판(130)의 상면에는, 이방성 습식 에칭 특성에 의해 경사진 측면들과 편평한 바닥면을 가진 제3 댐퍼(126c)가 형성된다. 제3 댐퍼(126c)가 형성된 후, 제2 기판(130)의 표면에 잔존된 실리콘 산화막(173a, 173b)을 습식 에칭 등에 의해 제거한다. Next, as shown in FIG. 7B, the upper surface of the second substrate 130 exposed through the fourth opening 184 is wet etched to a predetermined depth, for example, about 100 μm. In this case, the wet etching may be performed using, for example, tetramethyl ammonium hydroxide (TMAH) or potassium hydroxide (KOH) as an etchant for silicon. Then, a third damper 126c having inclined side surfaces and a flat bottom surface is formed on the upper surface of the second substrate 130 by anisotropic wet etching characteristics. After the third damper 126c is formed, the silicon oxide films 173a and 173b remaining on the surface of the second substrate 130 are removed by wet etching or the like.

다음으로, 도 7c에 도시된 바와 같이, 상기 제2 기판(130)을 다시 건식 또는 습식 산화시켜, 제2 기판(130)의 상면과 저면에 실리콘 산화막(174a, 174b)을 형성한다. 이때, 제2 기판(130)의 상면에 형성된 제3 댐퍼(126c)의 측면들과 바닥면에도 실리콘 산화막(174a)이 형성된다. 이어서, 제2 기판(130)의 저면에 형성된 실리콘 산화막(174b)을 건식 또는 습식 에칭하여 노즐(도 7d의 138)을 형성하기 위한 제5 개구(185)를 형성한다. 이때, 제5 개구(185)는 대략 28㎛ 정도의 직경을 가진 원형으로 형성될 수 있다. Next, as shown in FIG. 7C, the second substrate 130 is again dry or wet oxidized to form silicon oxide films 174a and 174b on the top and bottom surfaces of the second substrate 130. At this time, the silicon oxide film 174a is formed on the side surfaces and the bottom surface of the third damper 126c formed on the upper surface of the second substrate 130. Subsequently, the silicon oxide film 174b formed on the bottom surface of the second substrate 130 is dry or wet etched to form a fifth opening 185 for forming the nozzle 138 of FIG. 7D. In this case, the fifth opening 185 may be formed in a circular shape having a diameter of about 28 μm.

다음으로, 도 7d에 도시된 바와 같이, 상기 제5 개구(185)를 통해 노출된 제2 기판(130)의 저면을 소정 깊이로 에칭한다. 이때, 제2 기판(130)에 대한 에칭은 유도결합 플라즈마(ICP)를 이용한 반응성 이온 에칭(RIE)과 같은 건식 에칭 방법에 의해 수행된다. 그러면, 제2 기판(130)에는 일정한 직경의 원형 단면을 가진 노즐(138)이 형성된다. Next, as shown in FIG. 7D, the bottom surface of the second substrate 130 exposed through the fifth opening 185 is etched to a predetermined depth. In this case, etching of the second substrate 130 is performed by a dry etching method such as reactive ion etching (RIE) using an inductively coupled plasma (ICP). Then, a nozzle 138 having a circular cross section of a constant diameter is formed on the second substrate 130.

이어서, 제2 기판(130)의 표면에 잔존된 실리콘 산화막(174a, 174b)을 습식 에칭 등에 의해 제거하면, 도 7e에 도시된 바와 같이, 제3 댐퍼(126c)와 노즐(138)이 서로 연결된다. Subsequently, when the silicon oxide films 174a and 174b remaining on the surface of the second substrate 130 are removed by wet etching or the like, as illustrated in FIG. 7E, the third damper 126c and the nozzle 138 are connected to each other. do.

상기한 바와 같이, 제1 댐퍼(126a)와 제2 댐퍼(126b)가 형성된 제1 기판(120)과 제3 댐퍼(126c)와 노즐(138)이 형성된 제2 기판(130)을 실리콘 직접 접합 방법(SDB: Silicon Direct Bonding)에 의해 접합한다. 그러면, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 댐퍼(126a), 제2 댐퍼(126b) 및 제3 댐퍼(126c)가 차례로 연결되어 본 발명에 따른 댐퍼(126)를 형성하게 된다. As described above, the silicon substrate is directly bonded to the first substrate 120 on which the first damper 126a and the second damper 126b are formed, and the second substrate 130 on which the third damper 126c and the nozzle 138 are formed. Bonding is performed by the method (SDB: Silicon Direct Bonding). Then, as shown in FIG. 4, the first damper 126a, the second damper 126b, and the third damper 126c are sequentially connected to form the damper 126 according to the present invention.

이상 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명했지만, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.While the preferred embodiments of the present invention have been described in detail, these are merely exemplary, and those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the appended claims.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 댐퍼 내부에 버블이 트랩되는 문제점이 발생하지 않으므로, 버블 트랩으로 인한 잉크 토출 특성의 저하를 방지할 수 있는 장점이 있다. 그리고, 중간 기판에 형성되는 제1 댐퍼, 매니폴드 및 리스트릭터를 한 번의 건식 에칭 공정에 의해 함께 형성할 수 있으므로, 공정이 단순화되는 장점이 있다. 또한, 제1 댐퍼와 매니폴드와 리스트릭터를 형성하기 위해 하나의 마스크만 필요하므로, 이들 사이에 오정렬이 발생하지 않는 장점도 있다.As described above, according to the present invention, since the problem of trapping bubbles inside the damper does not occur, there is an advantage of preventing the deterioration of ink discharge characteristics due to the bubble trap. In addition, since the first damper, the manifold and the restrictor formed on the intermediate substrate can be formed together by one dry etching process, the process is simplified. In addition, since only one mask is required to form the first damper, the manifold, and the restrictor, there is an advantage that no misalignment occurs between them.

Claims (15)

다수의 압력 챔버와 다수의 노즐을 각각 연결하는 잉크젯 헤드의 댐퍼에 있어서, In the damper of the inkjet head connecting the plurality of pressure chambers and the plurality of nozzles, respectively, 상단부가 상기 다수의 압력 챔버 각각과 연결되는 제1 댐퍼;A first damper having an upper end connected to each of the plurality of pressure chambers; 상기 제1 댐퍼의 하단부에 연결되는 제2 댐퍼;A second damper connected to a lower end of the first damper; 상단부는 상기 제2 댐퍼와 연결되고 하단부는 상기 다수의 노즐 각각과 연결되는 제3 댐퍼;를 구비하며, An upper end portion connected to the second damper and a lower end portion connected to each of the plurality of nozzles; a third damper; 상기 제2 댐퍼는 상기 제1 댐퍼의 하단부로부터 상기 제3 댐퍼쪽으로 가면서 그 단면적이 점차 넓어지고, 상기 제3 댐퍼는 그 상단부로부터 하단부쪽으로 가면서 그 단면적이 점차 좁아지는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼.The second damper has a cross-sectional area that gradually increases from the lower end of the first damper toward the third damper, and the third damper gradually narrows its cross-sectional area from the upper end to the lower end thereof. . 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제1 댐퍼는 일정한 직경의 원형 단면을 가지며, The first damper has a circular cross section of a constant diameter, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼는 각각 사각형의 단면과 경사진 측면들을 가진 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼.And the second damper and the third damper each have a rectangular cross section and inclined side surfaces. 제 2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼 각각의 사각형 단면의 한 변의 최대 길이는 상기 제1 댐퍼의 직경보다 큰 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼. And a maximum length of one side of a rectangular cross section of each of the second damper and the third damper is larger than the diameter of the first damper. 제 2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼가 만나는 면에서 각각의 사각형 단면의 크기는 실질적으로 동일한 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼. The damper of the ink jet head, characterized in that the size of each rectangular cross-section in the plane where the second damper and the third damper meet. 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 4, 상기 제1 댐퍼는 건식 에칭에 의해 형성되고, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼는 습식 에칭에 의해 형성된 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼.And the first damper is formed by dry etching, and the second damper and third damper are formed by wet etching. 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 4, 상기 제1 댐퍼는 제1 기판의 상면으로부터 소정 깊이로 형성되며, 상기 제2 댐퍼는 상기 제1 기판의 저면으로부터 소정 깊이로 형성되어 상기 제1 댐퍼의 하단부와 연결되고, 상기 제3 댐퍼는 상기 제1 기판의 저면에 접합되는 제2 기판의 상면으로부터 소정 깊이로 형성된 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼.The first damper is formed to a predetermined depth from the upper surface of the first substrate, the second damper is formed to a predetermined depth from the bottom surface of the first substrate is connected to the lower end of the first damper, the third damper is the The damper of the inkjet head, characterized in that formed in a predetermined depth from the upper surface of the second substrate bonded to the bottom surface of the first substrate. 다수의 압력 챔버와 다수의 노즐을 각각 연결하는 것으로, 제1 댐퍼, 제2 댐퍼 및 제3 댐퍼를 포함하는 잉크젯 헤드의 댐퍼를 형성하는 방법에 있어서, In connecting a plurality of pressure chambers and a plurality of nozzles, respectively, in the method for forming a damper of the inkjet head comprising a first damper, a second damper and a third damper, (가) 제1 기판과 제2 기판을 준비하는 단계; (A) preparing a first substrate and a second substrate; (나) 상기 제1 기판의 저면을 소정 깊이로 습식 에칭하여 상기 제2 댐퍼를 형성하는 단계;(B) wet etching the bottom surface of the first substrate to a predetermined depth to form the second damper; (다) 상기 제1 기판의 상면을 건식 에칭하여, 상단부는 상기 다수의 압력 챔버 각각과 연결되고 하단부는 상기 제2 댐퍼와 연결되는 상기 제1 댐퍼를 형성하는 단계; 및(C) dry etching the upper surface of the first substrate to form the first damper having an upper end connected to each of the plurality of pressure chambers and a lower end connected to the second damper; And (라) 상기 제2 기판의 상면을 소정 깊이로 습식 에칭하여, 상단부는 상기 제2 댐퍼와 연결되고 하단부는 상기 다수의 노즐 각각과 연결되는 상기 제3 댐퍼를 형성하는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법. (D) wet etching the upper surface of the second substrate to a predetermined depth, forming a third damper having an upper end connected to the second damper and a lower end connected to each of the plurality of nozzles. The damper formation method of the inkjet head made into. 제 7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 제2 댐퍼는 상기 제1 댐퍼의 하단부로부터 상기 제3 댐퍼쪽으로 가면서 그 단면적이 점차 넓어지도록 형성되고, 상기 제3 댐퍼는 그 상단부로부터 하단부쪽으로 가면서 그 단면적이 점차 좁아지도록 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법.The second damper is formed so that the cross-sectional area gradually widens from the lower end of the first damper toward the third damper, and the third damper is formed so that its cross-sectional area is gradually narrowed from the upper end to the lower end. Method for forming dampers in inkjet heads. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 제1 댐퍼는 일정한 직경의 원형 단면을 가지도록 형성되며, The first damper is formed to have a circular cross section of a constant diameter, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼는 각각 사각형의 단면과 경사진 측면들을 가지도록 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법.And the second damper and the third damper are formed to have rectangular cross sections and inclined side surfaces, respectively. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼 각각의 사각형 단면의 한 변의 최대 길이는 상기 제1 댐퍼의 직경보다 크도록 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법. And a maximum length of one side of a rectangular cross section of each of the second damper and the third damper is larger than a diameter of the first damper. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 제1 기판의 저면과 상기 제2 기판의 상면에서 상기 제2 댐퍼와 제3 댐퍼 각각의 사각형 단면의 크기는 실질적으로 동일하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법. And a rectangular cross-section of each of the second damper and the third damper on the bottom surface of the first substrate and the top surface of the second substrate is substantially the same size. 제 7항 내지 제 11항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 7 to 11, 상기 (다) 단계에서, 상기 제1 기판의 상면에는 한 번의 건식 에칭에 의해 상기 제1 댐퍼와 함께 매니폴드와 리스트릭터가 동시에 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법. In the step (c), the manifold and the restrictor are simultaneously formed on the upper surface of the first substrate together with the first damper by one dry etching. 제 7항 내지 제 11항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 7 to 11, 상기 제1 기판과 제2 기판은 단결정 실리콘 웨이퍼인 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법. And the first substrate and the second substrate are single crystal silicon wafers. 제 7항 내지 제 11항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 7 to 11, 상기 습식 에칭은, 실리콘용 에칭액(etchant)으로서, 테트라메틸 수산화 암모늄(TMAH: Tetramethyl Ammonium Hydroxide) 또는 수산화 칼륨(KOH)을 사용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법. The wet etching is a method of forming a damper of an inkjet head, characterized in that it is carried out using tetramethyl ammonium hydroxide (TMAH) or potassium hydroxide (KOH) as an etchant for silicon. 제 7항 내지 제 11항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 7 to 11, 상기 건식 에칭은, 유도결합 플라즈마(ICP)를 이용한 반응성 이온 에칭(RIE)에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 댐퍼 형성 방법.And the dry etching is performed by reactive ion etching (RIE) using an inductively coupled plasma (ICP).
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