JP2006278024A - Ms/ms型質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 第1イオンレンズ12、第2イオンレンズ13、第1段四重極14、第2段四重極18及び第3段四重極20にそれぞれ直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加する電圧源30、33、36、39、42を独立に設け、制御部46より位相設定部32、35、8、41、44を介して相対的な位相をリアルタイムで高速に設定できるようにする。予備測定により質量数に応じた最適な位相値が求められ、これがテーブル47として制御部46に保持される。分析実行時には制御部46は、目的イオンの質量数に応じてテーブル46から対応する位相値を読み出して各電圧源30、33、36、39、42を制御し、任意の質量数のイオンに対する通過効率を改善する。
【選択図】 図1
Description
a)前記第1段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第1電圧印加手段と、
b)前記第2段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第2電圧印加手段と、
c)前記第3段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第3電圧印加手段と、
d)前記第1乃至第3電圧印加手段により第1段乃至第3段多重極に印加される電圧のうち高周波電圧についてその位相を、通過させるイオンの質量数に応じてそれぞれ独立に設定する位相設定手段と、
を備えることを特徴としている。
11…サンプリングコーン
12…第1イオンレンズ
13…第2イオンレンズ
14…第1段四重極
15…第1プリロッド四重極
16…第1メイン四重極
17…衝突室
18…第2段四重極
19…ガス供給管
20…第3段四重極
21…第3プリロッド四重極
22…第3メイン四重極
23…検出器
30、33、36、39、42…電圧源
31、34、37、40、43…位相モニタ部
32、35、38、41、44…位相設定部
45…直流電圧源
46…制御部
47…位相値テーブル
Claims (3)
- イオン源から送られてくる各種のイオンから特定質量数の目的イオンを選択して通過させる第1段多重極と、選択された前記目的イオンを開裂させる第2段多重極と、その開裂により生じた生成イオンの中の特定質量数の目的生成イオンを選択して通過させる第3段多重極と、選択された前記目的生成イオンを検出する検出器と、を具備するMS/MS型質量分析装置において、
a)前記第1段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第1電圧印加手段と、
b)前記第2段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第2電圧印加手段と、
c)前記第3段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第3電圧印加手段と、
d)前記第1乃至第3電圧印加手段により第1段乃至第3段多重極に印加される電圧のうち高周波電圧についてその位相を、通過させるイオンの質量数に応じてそれぞれ独立に設定するための位相設定手段と、
を備えることを特徴とするMS/MS型質量分析装置。 - 前記位相設定手段は、イオンの質量数とそのイオンが通過する際の各多重極の好適な位相との関係を表す情報を保持させた記憶部を備え、分析実行時に、前記記憶部に保持された情報に基づいて各多重極の位相を調整することを特徴とする請求項1に記載のMS/MS型質量分析装置。
- 前記第1乃至第3電圧印加手段により第1段乃至第3段多重極に印加される電圧のうち高周波電圧の位相をそれぞれモニタする位相監視手段をさらに備え、前記位相設定手段は、前記位相監視手段によりモニタされる各高周波電圧の位相が或る基準に対しそれぞれ所定の関係を維持するように、又は各高周波電圧の位相の相対的な関係が所定の関係を維持するように、各高周波電圧の位相を調整することを特徴とする請求項1に記載のMS/MS型質量分析装置。
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