JP2006267589A - 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】焼き付き現象の補正時に、色バランスが変更されて画質が低下する可能性がある。
【解決手段】複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、（１）ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する処理と、（２）ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する処理と、（３）表示上の１画素単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ単色画素の数と劣化の遅れた単色画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する処理と、（４）符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、表示上の１画素を構成する各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する処理とを有するものを提案する。
【選択図】図１２

Description

発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置及びこれを搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、コンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。

フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主に液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。

ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に応じて劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。

現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
特開２００３−２２８３２９号公報 この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。

特開２００３−２９５８２７号公報 この文献には、静止画の表示時にのみ表示データと表示時間を記憶し、その表示データと最大輝度との差ΔＹと、静止画が表示された時間Ｔとの積算量ΔＹ・Ｔを補正データに設定する方法が開示されている。また、この文献には、蓋が閉じられた状態や非使用状態の場合にのみ補正用の表示を実行することで、焼き付き現象を補正する方法が開示されている。 特開２０００−１３２１３９号公報 この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正値に変換する方法が開示されている。また、求められた補正値により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。

特開２００１−１７５２２１号公報 この文献には、画素の中で一番輝度が劣化した画素にあわせて、その他の画素の輝度データを下げるように補正値を決定する方法が開示されている。また、得られた補正値で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。

しかし、既存の補正方法は、焼き付き現象の補正を実現するにあたり、画像を大きく変化させる必要があった。すなわち、結果的に著しく画質を低下させる可能性があった。特に、既存の補正方法では、補正動作中に色バランスが変更される可能性がある。

発明者らは、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に生じた焼き付き現象の補正方法として、以下の技術手法を提案する。すなわち、入力画像信号の色バランスを単色別の最終補正量に反映させる方法を提案する。

（Ａ）解決手法１
解決手法１として、最終補正量の符号をブロックエリア単位で決定する方法を提案する。この解決手法１は、
（１）ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する処理と、
（２）ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する処理と、
（３）ブロックエリア単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ画素の数と劣化の遅れた画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する処理と、
（４）符号の決定した基本補正量を最終補正量として、ブロックエリア内の各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する処理と
を有することを特徴とする。

（Ｂ）解決手段２
解決手法２として、最終補正量の符号をブロックエリア内の表示上の１画素単位で決定する方法を提案する。この解決手法２は、
（１）ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する処理と、
（２）ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する処理と、
（３）表示上の１画素単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ単色画素の数と劣化の遅れた単色画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する処理と、
（４）符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、表示上の１画素を構成する各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する処理と
を有することを特徴とする。

なお、これら技術手法は、自発光装置そのものに適用できるだけでなく、出力装置に出力する画像信号を処理する各種の電子機器に対しても適用できる。また、これらの技術手法は、ハードウェアとして実現できる他、ソフトウェアとしても実現できる。勿論、処理の実行は、一部処理をハードウェアとして実行し、残る処理をソフトウェアとして実行することもできる。
因みに、自発光装置（自発光表示パネル）は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。

この発明を用いれば、入力画像信号の色バランスを単色別の最終補正量に反映できる。これにより、焼き付き補正後も、入力画像信号の色バランスを維持することができる。すなわち、色バランスを維持したまま、焼き付き補正処理を実行できる。

以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。

（Ａ）用語
この明細書において、自発光表示パネルとは、フルカラー表示パネルをいう。なお、フルカラー化の方式は問わない。例えば、多色発光方式、カラーフィルタ方式、色変換方式等を使用する。
また、表示上の１画素は、複数の単色画素より構成されるものとする。従って、表示上の１画素の色は、複数の単色光の混色として与えられる。
各単色画素は、表示パネル上に交互に配置する。画素配列は問わない。例えば、デルタ配列、ストライプ配列その他を使用する。
カラー画像の再現には、光の三原色であるＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）を使用し、必要に応じて補色も使用する。
図１に、以下の形態例で使用する表示上の１画素の構成例を示す。図１は、表示上の１画素を、Ｒ、Ｇ、Ｂの３色をストライプ配列で構成する場合を表している。

（Ｂ）焼き付き現象補正装置の形態例
（Ｂ−１）形態例１
（ａ）装置構成
図２に、焼き付き現象補正装置の一つの形態例を示す。以下、焼き付き現象補正装置を「補正装置」という。
この補正装置１は、表示データ領域化部３、単色別平均輝度計算部５、単色別基本補正量決定部７、単色別劣化量差算出部９、単色別累積劣化量差蓄積部１１、単色別最終補正量決定部１３、単色別輝度劣化補正部１５を主要な構成要素とする。

表示データ領域化部３は、入力表示信号を予め定めたブロックエリア単位に振り分ける処理デバイスである。ブロックエリアは、表示上の１画素を単位として設定される。この形態例では、１つのブロックエリアを３×３画素で形成する。
図３に、３×３画素で構成するブロックエリア例を示す。図３の太線で囲んだ領域が、１つのブロックエリアに対応する。従って、図３には、４つのブロックエリアが配置されている。
図４は、色別のブロックエリアを示す。すなわち、Ｒ（赤）色、Ｇ（緑）色、Ｂ（青）色の３色に対応するブロックエリアを示す。図４でも、三原色別のブロックエリアを太線で囲んで示している。ブロックエリア内の９個の正方領域が個々の画素に対応する。なお、各画素に付した数値は、入力表示信号として与えられた階調値を示している。

単色別平均輝度計算部５は、ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する処理デバイスである。この処理デバイスは、ブロックエリア内の三原色バランスを検出するために用いられる。
図５に、ブロックエリア単位で算出された三原色別の平均輝度値例を示す。なお、図５は、図４に示す階調値の平均輝度値を四捨五入した値を表している。この輝度値の比は、ブロックエリア内の表示色に対応する。従って、この比が維持されるように補正すれば、補正による階調（輝度）の変化によらず、視認される表示色を入力時と同じ色に保つことができる

単色別基本補正量決定部７は、ブロックエリア単位で、三原色間の平均輝度比を算出し、その比が維持されるように単色別の基本補正量を決定する処理デバイスである。
単色別基本補正量決定部７では、幾つかの処理が実行される。
まず、平均輝度値の最大値を与える色に、画質を考慮して定めた補正量の最大値を対応付ける処理が実行される。補正量の最大値は、単一色を一面に表示した場合に、その輝度変化が視認され難い範囲に定める。
なお、補正量は、劣化を進める方向（正値）と劣化を遅らせる方向（負値）がある。従って、補正量の最大値は、隣接する画素で逆方向の補正動作が実行された場合にも、輝度変化がほとんど視認されない範囲に設定することが望まれる。この形態例では、補正量の最大値を“１０”階調分とする。

図６に、基本補正量の割当例を示す。例えば、左上隅のブロックエリアの場合、Ｒ（赤）色に対する基本補正量が“１０”に決定されている。これは、図５に示すように、同ブロックエリアを構成する三原色のうち平均輝度値の最大値がＲ（赤）色であるためである。なお、Ｒ（赤）色の平均輝度値は“７０”である。
一方、平均輝度値の最大値を与える色以外に対しては、平均輝度比を満たすように補正量を決定する処理が実行される。

例えば、図５に示す左上隅のブロックエリアの場合、Ｒ（赤）色に対するＧ（緑）色の平均輝度比は、“７０：３１”で与えられる。従って、図６に示すように、左上隅のブロックエリアでは、Ｇ（緑）色に対する基本補正量が“４”に決定されている。
同様に、Ｒ（赤）色に対するＢ（青）色の平均輝度比は、“７０：９”で与えられる。従って、図６に示す左上隅のブロックエリアでは、Ｂ（青）色に対する基本補正量が“１”に決定されている。
なお、三原色の平均輝度値が全て同じ場合には、各色に対する基本補正量は“１０”に決定される。

単色別劣化量差算出部９は、補正処理後の表示信号に基づいて、色別に設定された比較対象画素に対する各画素の劣化量差を算出する処理デバイスである。
補正処理後の表示信号（すなわち、実際の表示画像を形成する表示信号）を使用できるため、劣化量差の実値を正確に算出できる。
劣化量差の算出方法には、既知の方法を含む任意の手法を適用できる。
例えば、表示信号を階調値とする場合には、以下の算出手法を適用できる。
（１）各画素の階調値と比較対象画素の階調値との差分を算出する手法
（２）階調値と劣化の進行度合いとの間に比例関係が成立しない場合、実測結果を反映した換算係数を用いて劣化量差を算出する手法
発明者らは、（２）に示す算出手法で使用する換算係数を、「劣化率」という概念で規定する。

発明者らは、「劣化率」を、ある階調値で自発光素子を継続的に発光させた場合における発光輝度の低下率として規定する。
図７に、階調値と劣化率との対応関係を示す変換テーブルの一例を示す。この場合、劣化量差は、各画素の劣化率と比較対象画素の劣化率との差として算出する手法もある。また、劣化量差は、劣化率Ｒに発光期間Ｔを乗算した値の差として算出することもできる。
ところで、劣化量差の算出に使用する比較対象画素の選択にも幾つかの方法が考えられる。通常、補正方法に応じて最適な画素を指定する。
例えば、最も輝度劣化の進んだ画素、最も輝度劣化の遅れた画素、画面中央の画素、固定表示に対応する画素その他を指定する。これらは、実在する画素である。
また例えば、平均輝度値を与える画素その他を指定する。これらは、仮想的に定める画素である。

単色別累積劣化量差蓄積部１１は、単色別劣化量差算出部９から与えられる劣化量差を単色画素毎に継続的に積算し、積算結果を保存するメモリである。ここで、比較対象画素に対して劣化が進んでいる画素の累積劣化量差は正値で表される。また、比較対象画素に対して劣化が遅れている画素の累積劣化量差は負値で表される。
単色別最終補正量決定部１３は、表示上の１画素単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ単色画素の数と劣化の遅れた単色画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する処理デバイスである。

図８に、単色別最終補正量決定部１３の内部構成例を示す。
正値カウンタ１３Ａは、表示上の１画素を構成するＲ画素、Ｇ画素、Ｂ画素のうち、累積劣化量差が正値の画素数のカウント用である。従って、カウント値の最小値は“０（ゼロ）”、最大値は“３”となる。
負値カウンタ１３Ｂは、表示上の１画素を構成するＲ画素、Ｇ画素、Ｂ画素のうちある時点の累積劣化量差が負値の画素数のカウント用である。やはり、カウント値の最小値は“０（ゼロ）”、最大値は“３”となる。
補正方向判定部１３Ｃは、正のカウント値と負のカウント値を比較し、その大小関係に基づいて補正方向を判定する処理デバイスである。

例えば、図９（Ａ）に示すように、正のカウント値が“２”で、負のカウント値が“１”の場合、補正方向判定部１３Ｃは、比較対象画素に対して劣化の進んだ画素が多いと判定する。この場合、補正方向判定部１３Ｃは、最終補正量の符号を負に設定する。例えば、符号ビットを“１”とする。
一方、図９（Ｂ）に示すように、正のカウント値が“１”で、負のカウント値が“２”の場合、補正方向判定部１３Ｃは、比較対象画素に対して劣化の遅れた画素が多いと判定する。この場合、補正方向判定部１３Ｃは、最終補正量の符号を正に設定する。例えば、符号ビットを“０”とする。

符号付加部１３Ｄは、ブロックエリア単位で与えられている基本補正量に、表示上の１画素毎に確定した符号を付加し、最終補正量を出力する処理デバイスである。図１０及び図１１に処理イメージを示す。
図１０（Ａ）は、ブロックエリア単位で決定された色別の基本補正量の例である。すなわち、Ｒ画素に対応する基本補正量が“１０”、Ｇ画素に対応する基本補正量が“４”、Ｂ画素に対応する基本補正量が“１”の場合である。
図１０（Ｂ）は、ブロックエリア内の９個の画素（表示上の１画素）についてそれぞれ決定された符号の例である。正値が６個、負値が３個であることが分かる。

図１１は、この場合の最終補正量の出力イメージである。ブロックエリア内の各画素（表示上の１画素）に対応する最終補正量は、いずれも絶対値が同じで符号のみが図１０（Ｂ）に対応して切り替わっている様子が分かる。
単色別輝度劣化補正部１５は、各単色画素について決定された最終補正量に基づいて、表示上の１画素を構成する各単色画素に対応する入力表示信号を補正する処理デバイスである。
なお、補正後の表示信号は、補正後表示信号として不図示の自発光表示パネルに出力される。

（ｂ）補正処理動作
図１２に、以上説明した補正装置で実行される一連の補正動作を示す。
補正装置では、色別の基本補正量を決定する処理（Ｐ１〜Ｐ３）と、表示上の１画素について最終補正量の符号を決定する処理（Ｐ４〜Ｐ６）が並行して実行される。
このうち、色別の基本補正量を決定する処理では、まず最初に、入力表示信号をブロックエリア別に分類する処理が実行される（Ｐ１）。そして、各ブロックエリアについて、単色別の平均輝度値が算出される（Ｐ２）。次に、単色別の平均輝度値の比を維持するように、単色別の基本補正量が決定される（Ｐ３）。

一方、表示上の１画素について最終補正量の符号を決定する処理では、まず最初に、単色別の劣化量差が画素毎に算出される（Ｐ４）。比較対象画素は、単色別に設定されている。そして、各画素について算出された劣化量差の累積により、その累積劣化量差が算出される（Ｐ５）。次に、表示上の１画素単位で、累積劣化量差が正値の画素数と負値の画素数を計数する（Ｐ６）。
この後、劣化が進んだ画素については、最終補正量の符号が負に設定され、劣化が遅れた画素については、最終補正量の符号が正に設定される（Ｐ７）。この際、表示上の１画素単位で、Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素の最終補正量には全て同じ符号が付される。
補正装置１は、このように決定された最終補正量を用い、表示画面を構成する全画素について補正を実行する（Ｐ８）。

（ｃ）形態例の効果
この補正装置を用いれば、補正の前後で表示画像の色バランスを維持することができる。すなわち、既存の技術に比して焼き付き補正後の画質を改善することができる。
また、この補正方法は、１回（１フレーム）当たりの補正量が少ないが、画像を表示させた状態で焼き付き補正を継続できる。
このため、大きな輝度変化を伴う補正が必要な画素数を潜在的に低減できる。また同時に、大きな輝度変化を伴う補正動作の回数も潜在的に低減できる。このことは、画質を改善する上で非常に効果的である。

（Ｂ−２）形態例２
図１３に、補正装置の他の形態例を示す。なお、図１３には、図２との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置２１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
違いは、この補正装置２１の場合、基本補正量の算出に使用する補正前表示信号１と、補正対象とする補正前表示信号２とが異なる点である。
入力表示信号の色バランスを維持した基本補正量と、補正方向を示す符号とを算出することができれば、その算出に使用する信号の種類は問わないためである。
従って、補正装置２１を用いる場合にも、形態例１と同様の効果を実現できる。
なお、補正前表示信号１を階調値、補正前表示信号２を自発光素子に印加される駆動電流とすることができる。また、補正前表示信号２を自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値としても良い。

（Ｂ−３）形態例３
（ａ）装置構成
前述の形態例では、単色別最終補正量決定部１３が、表示上の１画素単位で最終補正量の符号を決定する場合について説明した。
しかし、最終補正量は、ブロックエリア単位で最終補正量の符号を決定する手法を適用することもできる。
図１４に、この手法を実現するのに用いる単色別最終補正量決定部１３’の内部構成例を示す。

この形態例の場合、ブロック内正値カウンタ１３Ａ’、ブロック内負値カウンタ１３Ｂ’、補正方向判定部１３Ｃ’、符号付加部１３Ｄ’を使用する。
ブロック内正値カウンタ１３Ａ’は、ブロック内の全単色画素のうち、累積劣化量差が正値の画素数のカウント用である。従って、カウント値の最小値は“０（ゼロ）”、最大値は“２７”となる。
一方、ブロック内負値カウンタ１３Ｂ’は、ブロック内の全単色画素のうち、累積劣化量差が負値の画素数のカウント用である。従って、カウント値の最小値は“０（ゼロ）”、最大値は“２７”となる。

補正方向判定部１３Ｃ’は、正のカウント値と負のカウント値を比較し、その大小関係に基づいて補正方向を判定する処理デバイスである。
補正方向判定部１３Ｃ’は、比較対象画素に対して劣化の進んだ画素が多いと判定した場合、最終補正量の符号を負に設定する。例えば、符号ビットを“１”とする。
一方、補正方向判定部１３Ｃ’は、比較対象画素に対して劣化の遅れた画素が多いと判定した場合、最終補正量の符号を正に設定する。例えば、符号ビットを“０”とする。

符号付加部１３Ｄ’は、ブロックエリア単位で与えられている基本補正量に、同じくブロックエリア単位で確定した符号を付加し、最終補正量を出力する処理デバイスである。図１５に処理イメージを示す。
図１５（Ａ）は、ブロックエリア単位で決定された色別の基本補正量の例である。図１５（Ｂ）は、ブロックエリア単位で決定された符号の例である。
図１５（Ｃ）は、この場合の最終補正量の出力イメージである。ブロックエリア単位で１種類の最終補正量が確定されている様子が分かる。

（ｂ）補正処理動作
図１６に、以上説明した補正装置で実行される一連の補正動作を示す。
この補正装置でも、色別の基本補正量を決定する処理（Ｐ１１〜Ｐ１３）と、ブロックエリア単位で最終補正量の符号を決定する処理（Ｐ１４〜Ｐ１６）が並行して実行される。
このうち、色別の基本補正量を決定する処理では、まず最初に、入力表示信号をブロックエリア別に分類する処理が実行される（Ｐ１１）。そして、各ブロックエリアについて、単色別の平均輝度値が算出される（Ｐ１２）。次に、単色別の平均輝度値の比を維持するように、単色別の基本補正量が決定される（Ｐ１３）。

一方、ブロックエリア単位で最終補正量の符号を決定する処理では、まず最初に、単色別の劣化量差が画素毎に算出される（Ｐ１４）。比較対象画素は、単色別に設定されている。そして、各画素について算出された劣化量差の累積により、その累積劣化量差が算出される（Ｐ１５）。次に、ブロックエリア単位で、累積劣化量差が正値の画素数と負値の画素数を計数する（Ｐ１６）。
この後、劣化が進んだ画素が多いブロックエリアについては、最終補正量の符号が負に設定され、劣化が遅れた画素が多いブロックエリアについては、最終補正量の符号が正に設定される（Ｐ１７）。この際、ブロックエリア内の全画素について、同じ符号の最終補正量が決定される。
補正装置は、このように決定された最終補正量を用い、表示画面を構成する全画素について補正を実行する（Ｐ１８）。

（ｃ）形態例の効果
この補正装置を用いる場合にも、補正の前後で表示画像の色バランスを維持することができる。すなわち、既存の技術に比して焼き付き補正後の画質を改善できる。
また、この補正方法は、１回の補正量は少ないが、表示状態のまま継続的に適用できるため、大きな輝度変化を伴う補正動作が必要になる画素数を潜在的に低減できる。また同時に、大きな輝度変化を伴う補正動作の回数自体も潜在的に低減できる。
また、ブロックエリア毎に１種類の最終補正量が決定するため、信号処理負担が少なくなる効果が期待できる。

（Ｃ）自発光装置への搭載例
図１７に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置３１は、筐体３３に焼き付き現象補正装置３５と表示デバイス３７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置３５は、前述した形態例のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置３５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。

また、表示デバイス３７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１７の場合、自発光装置３１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置３５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。

（Ｃ）画像処理装置への搭載例
図１８に、焼き付き補正装置４１を搭載する画像処理装置４３のシステム例を示す。画像処理装置４３は、自発光型の表示装置４５と有線路又は無線路を経由して接続されている。
このシステム例の場合、画像処理装置４３の筐体内で焼き付き補正処理が実行される。すなわち、表示装置４５に出力される画像信号は、出力インターフェースとの間に配置された焼き付き補正回路４１に入力され、前述した焼き付き補正処理が実行される。
この種の画像処理装置４３には、例えば、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、コンピュータ（サーバーを含む。）、各種の情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、各種画像の再生装置（ホームサーバーを含む。）、画像編集装置、ゲーム機の適用が可能である。

（Ｆ）他の形態例
（ａ）前述の形態例においては、補正処理後の入力表示信号から各単色画素に対応する劣化量差を算出する場合について説明した。
しかし、補正処理前の入力表示信号から各単色画素に対応する劣化量差を算出しても良い。なお、その際、補正処理で加えられる補正量の情報を反映させる仕組みを採用すれば、劣化量差の予測精度を高めることができる。
（ｂ）前述の形態例においては、補正対象とする表示信号に補正量を加減算する場合について説明した。しかし、表示信号は、他の手法を用いて補正しても良い。例えば、表示信号に補正量を乗算して表示信号の絶対値を増減する手法を採用しても良い。

（ｃ）前述の形態例においては、全表示領域を複数のブロックエリアに分割し、各ブロックエリアについて前述した補正動作を独立に適用する場合について説明した。
しかし、ブロックエリアは全表示領域に対して１つだけでも良い。すなわち、全表示領域をブロックエリアとしても良い。
（ｄ）前述の形態例においては、ブロックエリアが３×３画素の正方形状である場合について説明した。しかし、ブロックエリアを構成する表示上の画素数は、これに限らない。例えば、１×１画素でも良い。また、５×５画素でも良い。一般に、ｎ×ｎ画素の場合に適用できる（ｎは自然数）。
この他、ブロックエリアは、長方形形状の領域でも良い。一般に、ｎ×ｍ画素の場合に適用できる（ｎ、ｍは自然数）。

（ｅ）前述の形態例では、焼き付き現象補正装置の機能構成を説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとして実現することも、ソフトウェアとして実現することも可能である。
また、焼き付き現象補正装置を構成する各機能の全部をハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部の機能はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現することもできる。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｆ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。

表示上の１画素の構成例を示す図である。 焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。 ブロックエリア例を示す図である。 色別のブロックエリア例を示す図である。 ブロックエリア単位で算出された単色別の平均輝度値例を示す図である。 色別に決定された基本補正量の例を示す図である。 階調値と劣化率との対応関係を保持する変換テーブル例を示す図である。 単色別最終補正量決定部の構成例を示す図である。 表示上の１画素単位による符号の決定例を示す図である。 基本補正量と補正方向を示す符号との対応関係を示す図である。 最終補正量の出力イメージを示す図である。 表示上の１画素単位で最終補正量を決定する方式の補正手順例を示す図である。 焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である 単色別最終補正量決定部の他の構成例を示す図である。 ブロックエリア単位での補正動作例を示す図である。 ブロックエリア単位で最終補正量を決定する方式の補正手順例を示す図である。 焼き付き現象補正装置を自発光装置に搭載したシステム例を示す図である。 焼き付き現象補正装置を画像処理装置に搭載したシステム例を示す図である

符号の説明

１、２１、３５、４１ 焼き付き現象補正装置
３ 表示データ領域化部
５ 単色別平均輝度計算部
７ 単色別基本補正量決定部
９ 単色別劣化量差算出部
１１ 単色別累積劣化量差蓄積部
１３ 単色別最終補正量決定部
１３Ａ 正値カウンタ
１３Ａ’ ブロック内正値カウンタ
１３Ｂ 負値カウンタ
１３Ｂ’ ブロック内負値カウンタ
１３Ｃ、１３Ｃ’ 補正方向判定部
１３Ｄ、１３Ｄ’ 符号付加部
１５ 単色別輝度劣化補正部

Claims (13)

1. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
   ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する処理と、
   ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する処理と、
   ブロックエリア単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ画素の数と劣化の遅れた画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する処理と、
   符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、ブロックエリア内の各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する処理と
   を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
2. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
   ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する処理と、
   ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する処理と、
   表示上の１画素単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ単色画素の数と劣化の遅れた単色画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する処理と、
   符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、表示上の１画素を構成する各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する処理と
   を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
3. 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法であって、
   前記ブロックエリアは、表示上の１画素単位で設定される
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
4. 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法であって、
   前記ブロックエリアは、表示上の１画素を複数個で設定される
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
5. 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法であって、
   単色別の平均輝度値を算出するのに使用する入力表示信号と、補正対象とする入力表示信号とは同じ信号である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
6. 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法であって、
   単色別の平均輝度値を算出するのに使用する入力表示信号と、補正対象とする入力表示信号とは異なる信号である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
7. 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法は、
   前記単色別の基本補正量として使用可能な最大値は、画質を損なわない範囲に定められる
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
8. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
   ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する色別平均輝度値算出部と、
   ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する色別基本補正量決定部と、
   ブロックエリア単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ画素の数と劣化の遅れた画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する色別最終補正量決定部と、
   符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、ブロックエリア内の各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する色別劣化補正部と
   を有することを特徴とする自発光装置。
9. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
   ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する色別平均輝度値算出部と、
   ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する色別基本補正量決定部と、
   表示上の１画素単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ単色画素の数と劣化の遅れた単色画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する色別最終補正量決定部と、
   符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、表示上の１画素を構成する各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する色別劣化補正部と
   を有することを特徴とする自発光装置。
10. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置であって、
    ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する色別平均輝度値算出部と、
    ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する色別基本補正量決定部と、
    ブロックエリア単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ画素の数と劣化の遅れた画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する色別最終補正量決定部と、
    符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、ブロックエリア内の各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する色別劣化補正部と
    を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
11. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置であって、
    ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する色別平均輝度値算出部と、
    ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する色別基本補正量決定部と、
    表示上の１画素単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ単色画素の数と劣化の遅れた単色画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する色別最終補正量決定部と、
    符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、表示上の１画素を構成する各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する色別劣化補正部と
    を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
12. ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する処理と、
    ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する処理と、
    ブロックエリア単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ画素の数と劣化の遅れた画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する処理と、
    符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、ブロックエリア内の各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する処理と
    をコンピュータに実行させることにより、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。
13. ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値を算出する処理と、
    ブロックエリア単位で、単色別の平均輝度値の比を求め、当該比が維持されるように、同ブロックエリアに対応する単色別の基本補正量を決定する処理と、
    表示上の１画素単位で、比較対象画素に対して劣化の進んだ単色画素の数と劣化の遅れた単色画素の数を求め、その大小関係に応じて前記基本補正量の符号を決定する処理と、
    符号の決定した前記基本補正量を最終補正量として、表示上の１画素を構成する各単色画素に適用し、対応する入力表示信号を補正する処理と
    をコンピュータに実行させることにより、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。
    

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