JP2006245066A - Light emitting diode and method of manufacturing light emitting diode - Google Patents

Light emitting diode and method of manufacturing light emitting diode Download PDF

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Hideki Morita
英樹 森田
Masahito Mushigami
雅人 虫上
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting diode which can improve emission efficiency (the extraction efficiency of light), and to provide a method of manufacturing the light emitting diode. <P>SOLUTION: In the light emitting diode 1, each layer functioning as a light emission unit is laminated on a sapphire substrate 10. The end 10a of the reverse side (rear side) of a surface on which the emission unit of each side of the sapphire substrate 10 is formed is formed into an unevenly coarse surface. Therefore, light guided by the end 10a of the emitting light from the light emission unit is scattered at this end 10a, and emitted out on the sapphire substrate 10. The light emitting diode 1, for example, manufactured after a plurality of the light emission units are first formed, the sapphire substrate is divided (diced) into individual light emission units. In this case, first, the substrate is cut by a diamond scribing method, a laser scribing method, etc. , and grooves are formed, and then a polishing particle is injected to the substrate, the front surface is cut, and the coarse surface is formed on the front surface. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、発光ダイオード及び発光ダイオードの製造方法に関し、より具体的には、発光効率が優れた発光ダイオード及び発光ダイオードの製造方法に関する。   The present invention relates to a light emitting diode and a method for manufacturing the light emitting diode, and more specifically to a light emitting diode having excellent luminous efficiency and a method for manufacturing the light emitting diode.

発光ダイオードは、小型、薄型、低消費電力及び長寿命などの特徴を持つために様々な用途に用いられている。発光ダイオードは、半導体の一種であり、各種半導体プロセスと同様に、サファイア基板のような透明板上に、それ自体公知の技術を利用して複数の層を積層した構成をしている(例えば、特許文献1参照。)。   Light emitting diodes are used in various applications because they have features such as small size, thinness, low power consumption, and long life. A light-emitting diode is a kind of semiconductor, and has a structure in which a plurality of layers are stacked on a transparent plate such as a sapphire substrate using a technique known per se, as in various semiconductor processes (for example, (See Patent Document 1).

図6は従来の発光ダイオードの一例を示す構造断面図である。
従来の発光ダイオード100は、透明基板(ここでは、サファイア基板)110上に、AlNバッファ層111(厚み:略200Å)、SiドープGaN層112(厚み:略1.2μm)、N型GaNとN型InGaNとの積層構造である多重量子井戸(MQW)からなる活性層113(厚み:略400Å)、AlN及びP型GaNの超格子からなるキャップ層114(厚み:略200Å)、MgドープGaN層115(厚み:略0.2μm)、Zn膜116(厚み:数十Å)、ITO膜117(厚み:略0.5μm)が積層された構成をしている。また、ITO膜117の上面の一部には、P型電極118が形成されるとともに、ITO膜117の一部がエッチングされてSiドープGaN層112の一部が露出されており、その露出部にN型電極119が形成されている。そして、P型電極118,N型電極119間に電圧を印加することによって発光現象が起こる。
FIG. 6 is a structural sectional view showing an example of a conventional light emitting diode.
A conventional light emitting diode 100 includes an AlN buffer layer 111 (thickness: about 200 mm), a Si-doped GaN layer 112 (thickness: about 1.2 μm), N-type GaN, and N on a transparent substrate (here, a sapphire substrate) 110. Active layer 113 (thickness: about 400 mm) made of multiple quantum wells (MQW) having a laminated structure with type InGaN, cap layer 114 (thickness: about 200 mm) made of a superlattice of AlN and P-type GaN, Mg-doped GaN layer 115 (thickness: about 0.2 μm), a Zn film 116 (thickness: several tens of millimeters), and an ITO film 117 (thickness: about 0.5 μm) are laminated. A P-type electrode 118 is formed on a part of the upper surface of the ITO film 117, and a part of the ITO film 117 is etched to expose a part of the Si-doped GaN layer 112. An N-type electrode 119 is formed on the substrate. A light emission phenomenon occurs when a voltage is applied between the P-type electrode 118 and the N-type electrode 119.

ところで、従来の発光ダイオード100は、大面積のサファイア基板110に複数の発光部を形成した後に、サファイア基板110を分割(ダイシング)して個々の発光部に個片化することにより製造される。ダイシング方法としては、従来、ダイヤモンドスクライブ法と呼ばれる手法が用いられてきた。しかしながら、ダイシングソーにダイヤモンド(工業用ダイヤモンド)を利用することから、製造コストが高くつくことが問題となっていた。   Meanwhile, the conventional light emitting diode 100 is manufactured by forming a plurality of light emitting portions on a large-area sapphire substrate 110 and then dividing (dicing) the sapphire substrate 110 into individual light emitting portions. As a dicing method, a method called a diamond scribe method has been conventionally used. However, since diamond (industrial diamond) is used for the dicing saw, it has been a problem that the manufacturing cost is high.

そこで、近年、レーザスクライブ法と呼ばれる手法が実用化されている。レーザスクライブ法は、基板にレーザ光を照射し、その熱によって基板を切断する方法であり、従来のダイヤモンドスクライブ法と比較すると、はるかに低コストで発光ダイオードを製造することができる。
特許第3394488号公報
Therefore, in recent years, a technique called a laser scribing method has been put into practical use. The laser scribing method is a method of irradiating a substrate with laser light and cutting the substrate with the heat thereof. Compared with the conventional diamond scribing method, a light emitting diode can be manufactured at a much lower cost.
Japanese Patent No. 3394488

しかしながら、レーザスクライブ法を用いてサファイア基板110をダイシングする場合、レーザ照射された箇所のサファイア基板110が変質してしまうため、図7(a)に示すように、切断部近傍の残渣110aで光吸収が生じ、光の取出効率が低下するという問題があった。   However, when the sapphire substrate 110 is diced using the laser scribing method, the sapphire substrate 110 at the portion irradiated with the laser is altered, so that the light is emitted from the residue 110a near the cut portion as shown in FIG. There is a problem that absorption occurs and the light extraction efficiency decreases.

また、従来のダイヤモンドスクライブ法を用いて個片化を行った場合であっても、その切断面が極めてシャープであることから、図7(b)に示すように、発光の一部がサファイア基板110の側面及び底面で全反射し、その反射光がチップ表面に設けた電極(ここでは、N型電極119)などに吸収され、光の取出効率が低下するという問題があった。   Further, even when the conventional diamond scribe method is used for singulation, since the cut surface is extremely sharp, as shown in FIG. There is a problem that total reflection is performed on the side surface and the bottom surface of 110, and the reflected light is absorbed by an electrode (here, N-type electrode 119) provided on the chip surface, thereby reducing the light extraction efficiency.

本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、透明板上の一面に発光部が形成されている場合に、透明板の他面の端部、すなわち発光部が形成された面の反対面の端部が粗面化された構造とすることにより、発光部から出射された光のうちの透明板に入射した光を端部で拡散し、透明板の外側に取り出すことで、発光効率(光の取出効率)を向上することができる発光ダイオード及び発光ダイオードの製造方法の提供を目的とする。   This invention is made | formed in view of such a situation, and when the light emission part is formed in one surface on a transparent plate, the edge part of the other surface of a transparent plate, ie, the surface opposite to the surface in which the light emission part was formed. By adopting a structure in which the edge of the surface is roughened, the light incident on the transparent plate out of the light emitted from the light emitting portion is diffused at the edge and taken out to the outside of the transparent plate. It is an object of the present invention to provide a light emitting diode capable of improving (light extraction efficiency) and a method for manufacturing the light emitting diode.

また本発明は、透明板上の一面に発光部が形成されている場合に、透明板の他面、すなわち発光部が形成された面の反対面及び/又は透明板の側面が粗面化された構造とすることにより、発光部から出射された光を透明板の界面(透明板の他面及び/又は側面)で拡散し、透明板の外側に取り出すことで、光の取出効率を向上することができる発光ダイオード及び発光ダイオードの製造方法の提供を目的とする。   Further, according to the present invention, when the light emitting portion is formed on one surface of the transparent plate, the other surface of the transparent plate, that is, the surface opposite to the surface on which the light emitting portion is formed and / or the side surface of the transparent plate is roughened. By adopting such a structure, the light emitted from the light emitting part is diffused at the interface of the transparent plate (the other surface and / or side surface of the transparent plate) and taken out to the outside of the transparent plate, thereby improving the light extraction efficiency. An object of the present invention is to provide a light emitting diode and a method for manufacturing the light emitting diode.

第1発明に係る発光ダイオードは、透明板の一面に発光部が形成された発光ダイオードにおいて、前記透明板の他面の端部が粗面化されていることを特徴とする。   The light emitting diode according to the first aspect of the present invention is a light emitting diode in which a light emitting portion is formed on one surface of a transparent plate, wherein an end of the other surface of the transparent plate is roughened.

第1発明にあっては、透明板の各面のうち、発光部が形成された面の反対面の端部が粗面化されているので、透明板上に形成された発光部から出射された光のうちの透明板に入射した光が、端部で散乱されて透明板の外側に出射される。このように、端部を粗面化することで、光の取出効率を向上することができる。
特に、レーザスクライブ法を用いて透明基板であるサファイア基板をダイシングする場合、レーザ照射によってサファイア基板が変質してしまうため、切断部近傍、すなわち粗面化を行おうとする端部で光吸収が生じ、光の取出効率が低下するという問題があったが、粗面化することによって、変質した箇所が除去され、この箇所での光吸収を抑制することができる。
In the first invention, among the surfaces of the transparent plate, since the end of the surface opposite to the surface where the light emitting portion is formed is roughened, the light is emitted from the light emitting portion formed on the transparent plate. Of the received light, the light incident on the transparent plate is scattered at the end and emitted to the outside of the transparent plate. Thus, the light extraction efficiency can be improved by roughening the end.
In particular, when a sapphire substrate, which is a transparent substrate, is diced using a laser scribing method, the sapphire substrate is altered by laser irradiation, so that light absorption occurs in the vicinity of the cut portion, that is, the end portion to be roughened. However, there is a problem that the light extraction efficiency is lowered. However, when the surface is roughened, the altered portion is removed, and light absorption at this portion can be suppressed.

第2発明に係る発光ダイオードは、透明板の一面に発光部が形成された発光ダイオードにおいて、前記透明板の他面及び/又は前記透明板の側面が粗面化されていることを特徴とする。   A light emitting diode according to a second aspect of the present invention is a light emitting diode in which a light emitting part is formed on one surface of a transparent plate, wherein the other surface of the transparent plate and / or the side surface of the transparent plate is roughened. .

第2発明にあっては、透明板の各面のうち、発光部が形成された面の反対面(裏面という)及び/又は側面が粗面化されているので、透明板上に形成された発光部から出射された光のうちの透明板に入射した光が、裏面及び/又は側面で散乱されて透明板の外側に出射される。このように、裏面及び/又は側面を粗面化することで、さらに光の取出効率を向上することができる。   In the second invention, among the respective surfaces of the transparent plate, the opposite surface (referred to as the back surface) and / or the side surface of the surface on which the light emitting part is formed are roughened, so that the transparent plate is formed on the transparent plate. Of the light emitted from the light emitting unit, the light incident on the transparent plate is scattered on the back surface and / or the side surface and emitted to the outside of the transparent plate. Thus, the light extraction efficiency can be further improved by roughening the back surface and / or the side surface.

第3発明に係る発光ダイオードの製造方法は、複数の発光部が形成された透明板から個々の発光部に分割することで個々の発光ダイオードを製造する発光ダイオードの製造方法において、前記透明板の分割すべき箇所に溝を形成する溝形成工程と、該溝形成工程にて形成された溝の表面を粗面化する粗面化工程とを含むことを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a light emitting diode manufacturing method for manufacturing individual light emitting diodes by dividing the transparent plate formed with a plurality of light emitting portions into individual light emitting portions. It includes a groove forming step for forming grooves at locations to be divided, and a roughening step for roughening the surface of the grooves formed in the groove forming step.

第3発明にあっては、複数の発光部が形成された透明板から個々の発光部に分割して発光ダイオードとする場合、まず、透明板の分割すべき箇所に溝を形成した後、形成された溝の表面を粗面化する。   In the third invention, when a light emitting diode is formed by dividing a transparent plate on which a plurality of light emitting portions are formed into individual light emitting portions, first, after forming a groove at a portion to be divided on the transparent plate, The surface of the groove formed is roughened.

第4発明に係る発光ダイオードの製造方法は、複数の発光部が形成された透明板から個々の発光部に分割することで個々の発光ダイオードを製造する発光ダイオードの製造方法において、前記透明板の分割すべき箇所に溝を形成する溝形成工程と、該溝形成工程にて形成された溝を含む前記透明板の表面を粗面化する粗面化工程とを含むことを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a light emitting diode manufacturing method for manufacturing individual light emitting diodes by dividing the transparent plate formed with a plurality of light emitting portions into individual light emitting portions. It includes a groove forming step for forming a groove at a portion to be divided, and a roughening step for roughening the surface of the transparent plate including the groove formed in the groove forming step.

第4発明にあっては、複数の発光部が形成された透明板から個々の発光部に分割して発光ダイオードとする場合、まず、透明板の分割すべき箇所に溝を形成した後、形成された溝を含む透明板の表面を粗面化する。ここで、形成された溝を含む透明板の表面とは、透明板の各面のうち、発光部の形成面(表面)、該形成面の反対面(裏面)、及び/又は側面のことであり、用途に合わせて粗面化したい表面を適宜選択することが好ましい。   In the fourth invention, when a light emitting diode is formed by dividing a transparent plate on which a plurality of light emitting portions are formed into individual light emitting portions, first, a groove is formed in a portion to be divided of the transparent plate, and then formed. The surface of the transparent plate including the groove is roughened. Here, the surface of the transparent plate including the formed groove is the surface (front surface) of the light emitting portion, the surface opposite to the surface (back surface), and / or the side surface of each surface of the transparent plate. Yes, it is preferable to appropriately select the surface to be roughened according to the application.

第5発明に係る発光ダイオードの製造方法は、第3発明又は第4発明において、前記溝形成工程は、ダイヤモンドスクライブ法又はレーザスクライブ法を用いることを特徴とする。   According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the method for producing a light emitting diode according to the third or fourth aspect, wherein the groove forming step uses a diamond scribe method or a laser scribe method.

第5発明にあっては、ダイヤモンドスクライブ法又はレーザスクライブ法で、透明板の分割すべき箇所に溝を形成する。ダイヤモンドスクライブ法又はレーザスクライブ法は、それ自体公知の方法であり、安定して透明板に溝を形成することができる。   In the fifth invention, the groove is formed at a position to be divided of the transparent plate by the diamond scribe method or the laser scribe method. The diamond scribe method or the laser scribe method is a method known per se and can stably form grooves in the transparent plate.

第6発明に係る発光ダイオードの製造方法は、第3発明乃至第5発明のいずれかにおいて、前記粗面化工程は、前記透明板に研磨粒子を噴射することにより前記表面を切削して粗面化することを特徴とする。   According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the method for manufacturing a light-emitting diode according to any one of the third to fifth aspects, wherein the roughening step includes cutting the surface by injecting abrasive particles onto the transparent plate. It is characterized by becoming.

第6発明にあっては、透明板に研磨粒子を噴射することで透明板の表面を切削して粗面化する。透明板表面の所定の箇所のみを切削する場合には、その箇所に対応した開口パターンが形成されたマスクを介して研磨粒子を噴射するようにする。開口パターンに対応する透明板の表面を選択的に切削することができるので、用途に応じて粗面化を行う箇所を適宜選択できる。また、一般に研磨粒子の噴射による切削には時間がかかることから、表面を切削して粗面化する場合には、その切削量を溝形成工程による切削量より少なくして、製造タクトを向上させることが好ましい。   In the sixth invention, the surface of the transparent plate is cut and roughened by spraying abrasive particles onto the transparent plate. When cutting only a predetermined part on the surface of the transparent plate, the abrasive particles are jetted through a mask in which an opening pattern corresponding to the part is formed. Since the surface of the transparent plate corresponding to the opening pattern can be selectively cut, a portion to be roughened can be appropriately selected depending on the application. Also, since cutting by abrasive particle injection generally takes time, when the surface is roughened by cutting the surface, the amount of cutting is less than the amount of cutting by the groove forming step to improve manufacturing tact. It is preferable.

本発明によれば、透明板上の一面に発光部が形成されている場合に、透明板の他面の端部、すなわち発光部が形成された面の反対面の端部が粗面化された構造としたので、発光部から出射された光のうちの透明板に入射した光を端部で拡散し、透明板の外側に取り出すことで、光の取出効率を向上することができる。   According to the present invention, when the light emitting portion is formed on one surface of the transparent plate, the end of the other surface of the transparent plate, that is, the end of the surface opposite to the surface on which the light emitting portion is formed is roughened. Therefore, the light extraction efficiency can be improved by diffusing the light incident on the transparent plate out of the light emitted from the light emitting portion at the end and taking it out of the transparent plate.

本発明によれば、透明板上の一面に発光部が形成されている場合に、透明板の側面及び/又は透明板の他面、すなわち発光部が形成された面の反対面が粗面化された構造としたので、発光部から出射された光を透明板の界面で拡散し、透明板の外側に取り出すことで、光の取出効率を向上することができる等、優れた効果を奏する。   According to the present invention, when the light emitting portion is formed on one surface of the transparent plate, the side surface of the transparent plate and / or the other surface of the transparent plate, that is, the surface opposite to the surface on which the light emitting portion is formed is roughened. Because of the above structure, the light emitted from the light emitting part is diffused at the interface of the transparent plate, and taken out to the outside of the transparent plate, so that the light extraction efficiency can be improved.

以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings illustrating embodiments thereof.

(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1に係る発光ダイオードの一例を示す構造断面図である。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a structural sectional view showing an example of a light emitting diode according to Embodiment 1 of the present invention.

本発明の実施の形態1に係る発光ダイオード1は、可視光領域における透過率が優れた透明基板(ここでは、サファイア基板)10上に、厚みが略200ÅのAlNバッファ層11が形成されている。AlNバッファ層11は、例えば、サファイア基板10の温度を510℃とし、キャリアガスに窒素及び水素を用い、アンモニア及びトリメチルアルミニウムを供給することにより形成される。なお、サファイア基板10は、予めサーマルクリーニング(1050℃)が施されているものとする。   In the light-emitting diode 1 according to Embodiment 1 of the present invention, an AlN buffer layer 11 having a thickness of approximately 200 mm is formed on a transparent substrate (here, a sapphire substrate) 10 having excellent transmittance in the visible light region. . The AlN buffer layer 11 is formed, for example, by setting the temperature of the sapphire substrate 10 to 510 ° C., using nitrogen and hydrogen as a carrier gas, and supplying ammonia and trimethylaluminum. It is assumed that the sapphire substrate 10 has been subjected to thermal cleaning (1050 ° C.) in advance.

AlNバッファ層11の上面には、N型GaNであるSiドープGaN層12が略1.2μmの厚みで形成されている。SiドープGaN層12は、サファイア基板100の温度を1000℃に上昇させて、上述と同様のキャリアガスを用い、アンモニア、トリメチルガリウムを供給し、N型不純物として機能するシリコンを用いることで形成される。   On the upper surface of the AlN buffer layer 11, a Si-doped GaN layer 12, which is N-type GaN, is formed with a thickness of approximately 1.2 μm. The Si-doped GaN layer 12 is formed by raising the temperature of the sapphire substrate 100 to 1000 ° C., using the same carrier gas as described above, supplying ammonia and trimethylgallium, and using silicon that functions as an N-type impurity. The

SiドープGaN層12の上面には、N型GaNとN型InGaNとの積層構造である多重量子井戸(MQW)からなる活性層13が略400Åの厚みで形成されている。活性層13は、トリメチルインジウムを断続的に供給することで、多重量子井戸構造とすることができる。   On the upper surface of the Si-doped GaN layer 12, an active layer 13 made of multiple quantum wells (MQW), which is a stacked structure of N-type GaN and N-type InGaN, is formed with a thickness of about 400 mm. The active layer 13 can have a multiple quantum well structure by intermittently supplying trimethylindium.

活性層13の上面には、AlN及びP型GaNの超格子からなるキャップ層14が略200Åの厚さで形成されている。キャップ層14は、サファイア基板10の温度を950℃として、適宜、材料を供給することにより形成される。例えば、AlNを形成する場合には、アンモニア及びトリメチルアルミニウムを供給し、P型GaNを形成する場合には、アンモニア、トリメチルガリウムを供給するとともにP型不純物を用いることで形成される。   On the upper surface of the active layer 13, a cap layer 14 made of a superlattice of AlN and P-type GaN is formed with a thickness of about 200 mm. The cap layer 14 is formed by appropriately supplying a material with the temperature of the sapphire substrate 10 being 950 ° C. For example, when forming AlN, ammonia and trimethylaluminum are supplied. When forming P-type GaN, ammonia and trimethylgallium are supplied and a P-type impurity is used.

キャップ層14の上面には、厚みが略0.2μmのMgドープGaN層15が形成されている。MgドープGaN層15は、キャリアガスにマグネシウムを不純物として添加することで形成される。   An Mg-doped GaN layer 15 having a thickness of approximately 0.2 μm is formed on the upper surface of the cap layer 14. The Mg-doped GaN layer 15 is formed by adding magnesium as an impurity to a carrier gas.

MgドープGaN層15の上面には、膜厚が数十ÅのZn膜16が形成されている。Zn膜16は、MgドープGaN層15を形成した後、サファイア基板10の温度を800℃にし、減圧MOCVD装置内の圧力を6650Pa(50torr)とし、アンモニアのような水素原子を含む混合ガスの雰囲気から、速やかに減圧MOCVD装置内の雰囲気を不活性ガスである窒素ガスに切り替え、キャリアガスとして窒素ガスを用い、トリメチルジンクを供給することで形成される。   On the top surface of the Mg-doped GaN layer 15, a Zn film 16 having a thickness of several tens of millimeters is formed. After forming the Mg-doped GaN layer 15, the Zn film 16 has a temperature of the sapphire substrate 10 of 800 ° C., a pressure in the reduced pressure MOCVD apparatus of 6650 Pa (50 torr), and an atmosphere of a mixed gas containing hydrogen atoms such as ammonia. Then, the atmosphere in the reduced pressure MOCVD apparatus is quickly switched to nitrogen gas which is an inert gas, and nitrogen gas is used as a carrier gas and trimethyl zinc is supplied.

Zn膜16の上面には、厚みが略0.5μmのITO膜17が形成されている。ITO膜17は、真空蒸着装置内で、サファイア基板10の温度は200℃とし、SnO2 が10%含有されるITOを電子銃で加熱、蒸発させることによって形成される。 An ITO film 17 having a thickness of about 0.5 μm is formed on the upper surface of the Zn film 16. The ITO film 17 is formed by heating and evaporating ITO containing 10% SnO 2 with an electron gun in a vacuum deposition apparatus at a temperature of 200 ° C. of the sapphire substrate 10.

ITO膜17の上面の一部には、P型電極18が形成されているとともに、ITO膜17の一部がエッチングされてSiドープGaN層12の一部が露出されており、その露出部にN型電極19が形成されている。そして、P型電極18,N型電極19間に電圧を印加することによって発光現象が起こる。   A P-type electrode 18 is formed on a part of the upper surface of the ITO film 17, and a part of the ITO film 17 is etched to expose a part of the Si-doped GaN layer 12. An N-type electrode 19 is formed. A light emission phenomenon occurs when a voltage is applied between the P-type electrode 18 and the N-type electrode 19.

本実施の形態では、発光部が形成された面の反対面(裏面)の端部10aが、図2の端部拡大図に示すように、凹凸状に粗面化されている(なお、図においては本発明の特徴である凹凸形状を誇張してある)。したがって、発光部からの出射光のうちの端部10aに導光された光は、この端部10aにて散乱させられ、サファイア基板10の外側へ出射されることから、光の取出効率が向上する。   In the present embodiment, the end 10a on the opposite surface (back surface) to the surface on which the light emitting portion is formed is roughened in an uneven shape as shown in the enlarged end view of FIG. In Fig. 3, the uneven shape which is a feature of the present invention is exaggerated). Therefore, the light guided to the end portion 10a out of the light emitted from the light emitting portion is scattered at the end portion 10a and emitted to the outside of the sapphire substrate 10, thereby improving the light extraction efficiency. To do.

次に、上述した発光ダイオード1の製造方法について説明する。発光ダイオード1は、複数の発光部を基板上に形成した後、個々の発光部に個片化することで製造することができる。
図3は本発明の実施の形態1に係る発光ダイオードの製造方法を説明するための説明図である。なお、基板上に各種積層物を積層することで複数の発光部を形成する方法は、従来と同様であるため、その説明を省略する。
Next, a method for manufacturing the above-described light emitting diode 1 will be described. The light emitting diode 1 can be manufactured by forming a plurality of light emitting portions on a substrate and then separating them into individual light emitting portions.
FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining the method for manufacturing the light emitting diode according to the first embodiment of the present invention. In addition, since the method of forming a several light emission part by laminating | stacking various laminates on a board | substrate is the same as the past, the description is abbreviate | omitted.

サファイア基板50には、それ自体公知のフォトリソグラフィ技術を用い、上述した各層が積層されることによって形成された複数の発光部60,60,…が形成されている(図3(a))。同図破線がチップ分割線(もちろん、仮想的なものである)であり、各分割線で囲まれる領域が個々の発光ダイオードを示し、以下に説明する工程にて個片化される。   The sapphire substrate 50 is formed with a plurality of light emitting portions 60, 60,... Formed by laminating the above-described layers using a photolithography technique known per se (FIG. 3A). A broken line in the figure is a chip dividing line (which is of course a virtual one), and a region surrounded by each dividing line indicates an individual light emitting diode, and is divided into individual pieces in the process described below.

まず、発光部60が形成された面の反対面(裏面)に、有機膜を塗布してマスク70とする(図3(b))。マスク70は、サファイア基板50の裏面全面を被覆するように塗布される。   First, an organic film is applied to the opposite surface (back surface) of the surface on which the light emitting unit 60 is formed to form a mask 70 (FIG. 3B). The mask 70 is applied so as to cover the entire back surface of the sapphire substrate 50.

そして、レーザ照射装置をチップ分割線に沿って可動させながら、サファイア基板50の裏面からレーザ光を照射する。これにより、まずマスク70がレーザ光に反応して溝が形成され、さらに、サファイア基板50がレーザ光と反応して、照射された箇所の材質が変化するとともに、反応箇所が破断して溝50aが形成される(図3(c))。この溝50aの表面は、光を透過させるという性質のものではなく、逆に光を吸収する性質のもの(以下、残渣という)に変質する。形成する溝50aの深さについては限定されるものではないが、例えば、サファイア基板50の厚みの略2/3程度とする。   Then, the laser beam is irradiated from the back surface of the sapphire substrate 50 while moving the laser irradiation device along the chip dividing line. Thereby, first, the mask 70 reacts with the laser beam to form a groove, and further, the sapphire substrate 50 reacts with the laser beam to change the material of the irradiated portion, and the reaction portion breaks to form the groove 50a. Is formed (FIG. 3C). The surface of the groove 50a does not have a property of transmitting light, but conversely changes to a property of absorbing light (hereinafter referred to as a residue). Although the depth of the groove 50a to be formed is not limited, for example, it is about 2/3 of the thickness of the sapphire substrate 50.

ところで、発光部60からの出射光は残渣に吸収されることになるので、発光ダイオードとしての光の取出効率が低下する。そこで、サファイア基板50に形成された溝50aの表面を粗面化する。具体的には、サンドブラスト法により、アルミナ、SiCのような研磨粒子を溝50aの表面に噴射して、生じた残渣を除去するとともに、溝50aの表面を粗面化する(図3(d))。溝50aの表面に生じる凹凸の形状は、研磨粒子の種類、並びに研磨粒子の噴射圧及び噴射量などによって調整することができ、所望の形状となるように適宜設定する。   By the way, since the emitted light from the light emitting unit 60 is absorbed by the residue, the light extraction efficiency as the light emitting diode is lowered. Therefore, the surface of the groove 50a formed in the sapphire substrate 50 is roughened. Specifically, abrasive particles such as alumina and SiC are sprayed onto the surface of the groove 50a by a sandblasting method to remove the generated residue, and the surface of the groove 50a is roughened (FIG. 3D). ). The shape of the unevenness generated on the surface of the groove 50a can be adjusted by the type of abrasive particles, the injection pressure and the injection amount of the abrasive particles, and is appropriately set so as to have a desired shape.

サンドブラスト法を用いる場合、上述した有機膜がマスク70として機能し、溝以外の箇所が切削されることを防止できる。このように、所定の箇所のみを切削する場合には、その箇所に対応した開口パターンが形成されたマスクを介して研磨粒子を噴射するようにする。また、一般に研磨粒子の噴射による切削には時間がかかることから、溝形成工程で必要量の切削を行い、粗面化工程での切削は残渣を除去する程度にして、製造(切削)に要する時間を短縮して製造タクトを向上させることが好ましい。   When the sand blast method is used, the organic film described above functions as the mask 70, and it is possible to prevent the portions other than the grooves from being cut. As described above, when only a predetermined portion is cut, the abrasive particles are ejected through a mask in which an opening pattern corresponding to the portion is formed. Also, since cutting by injection of abrasive particles generally takes time, the necessary amount of cutting is performed in the groove forming process, and the cutting in the roughening process is performed to the extent that the residue is removed, which is necessary for manufacturing (cutting). It is preferable to shorten the time and improve the manufacturing tact.

なお、マスク70は、サンドブラスト耐性を有していれば、その材料に限定されるものではなく、例えば、サファイア基板に、サンドブラスト耐性を有するドライフィルムレジストなどの感光性樹脂フィルムを貼付し、貼付した感光性樹脂フィルムを、フォトリソグラフィ法で所望のマスクパターンに形成した後に、レーザ照射による溝形成工程とサンドブラストによる粗面化工程とを行うようにしてもよい。   The mask 70 is not limited to the material as long as it has sandblast resistance. For example, a photosensitive resin film such as a dry film resist having sandblast resistance is pasted on a sapphire substrate and pasted. After forming the photosensitive resin film into a desired mask pattern by photolithography, a groove forming step by laser irradiation and a roughening step by sandblasting may be performed.

そして、溝50aを介して隣り合う発光部60,60が形成されたサファイア基板50に応力を加えて、サファイア基板50を分割する(図3(e))。このようにして、サファイア基板50の各面のうち、発光部60が形成された面の反対面の端部を粗面化することができる。そして、個々の発光ダイオードに分割された後、マスク70を適宜除去することで、発光ダイオード1が製造される。   Then, the sapphire substrate 50 is divided by applying stress to the sapphire substrate 50 on which the light emitting portions 60 and 60 adjacent to each other are formed via the groove 50a (FIG. 3E). In this way, among the surfaces of the sapphire substrate 50, the end of the surface opposite to the surface on which the light emitting unit 60 is formed can be roughened. And after dividing | segmenting into each light emitting diode, the light emitting diode 1 is manufactured by removing the mask 70 suitably.

次に、本実施の形態に係る発光ダイオード1の光出力を評価した。
まず、本実施の形態に係る発光ダイオード1と、レーザスクライブ法のみでチップに分割した従来の発光ダイオード、つまり、図3(d)の粗面化工程を省略した発光ダイオード(ref1とする)との光出力の比較を行った。ref1の光出力を1とした場合、発光ダイオード1の光出力が1.10〜1.15倍に向上していることを確認した。これは、レーザ照射によって生じた残渣を、粗面化工程で除去することによって、残渣にて吸収されていた光を取り出すことができたものと推定される。また、光吸収が抑制されることから、発光ダイオード自体の温度上昇が抑制され、耐久性が向上する。
Next, the light output of the light emitting diode 1 according to the present embodiment was evaluated.
First, the light-emitting diode 1 according to the present embodiment and a conventional light-emitting diode divided into chips only by a laser scribing method, that is, a light-emitting diode (referred to as ref1) in which the roughening step in FIG. Comparison of light output was performed. When the light output of ref1 was 1, it was confirmed that the light output of the light-emitting diode 1 was improved by 1.10 to 1.15 times. This is presumed that the light absorbed by the residue could be extracted by removing the residue generated by the laser irradiation in the roughening step. Moreover, since light absorption is suppressed, the temperature rise of light emitting diode itself is suppressed, and durability improves.

また、本実施の形態に係る発光ダイオード1と、ダイヤモンドスクライブ法のみでチップに分割した従来の発光ダイオード(ref2とする)との光出力の比較を行った。ref2の光出力を1とした場合、発光ダイオード1の光出力が略1.02倍に向上していることを確認した。これは、サファイア基板の各面のうち、発光部が形成された面の反対面の端部を粗面化することによって、その端部で光拡散を生じせしめ、サファイア基板の外側に取り出すことができたものと推定される。   Further, the light output of the light-emitting diode 1 according to the present embodiment and the conventional light-emitting diode (ref2) divided into chips only by the diamond scribe method was compared. When the light output of ref2 was set to 1, it was confirmed that the light output of the light-emitting diode 1 was improved by approximately 1.02. This is because, by roughening the end of each surface of the sapphire substrate opposite to the surface on which the light emitting portion is formed, light diffusion is caused at the end, and it can be taken out of the sapphire substrate. It is estimated that it was made.

上述した評価結果から、レーザスクライブ法を溝形成工程として用いた場合は、レーザ照射によって生じた残渣を除去することが、光の取出効率を向上に極めて有効であることがわかる。また、上述したレーザスクライブ法の替わりに、残渣が生じることのないダイヤモンドスクライブ法を溝形成工程として用いてもよく、ダイヤモンドスクライブ法を用いた場合であっても、サファイア基板の各面のうち、発光部が形成された面の反対面の端部を粗面化することによって、光の取出効率を向上させることができる。   From the above-described evaluation results, it can be seen that when the laser scribing method is used as the groove forming step, it is extremely effective to improve the light extraction efficiency to remove the residue generated by the laser irradiation. Further, instead of the laser scribing method described above, a diamond scribing method that does not generate a residue may be used as the groove forming step, and even when the diamond scribing method is used, of each surface of the sapphire substrate, By roughening the end of the surface opposite to the surface on which the light emitting portion is formed, the light extraction efficiency can be improved.

(実施の形態2)
実施の形態1では、サファイア基板の各面のうち、発光部が形成された面の反対面の端部が粗面化されている構造について説明したが、発光部が形成された面の反対面及び/又はサファイア基板の側面が粗面化されている構造であってもよく、このようにしたものが実施の形態2である。
(Embodiment 2)
In the first embodiment, among the surfaces of the sapphire substrate, the structure in which the end of the surface opposite to the surface on which the light emitting portion is formed is roughened, but the surface opposite to the surface on which the light emitting portion is formed. In addition, a structure in which the side surface of the sapphire substrate is roughened may be used, and this is the second embodiment.

図4は本発明の実施の形態2に係る発光ダイオードの一例を示す構造断面図である。
本発明の実施の形態2に係る発光ダイオード2は、サファイア基板20に、実施の形態1と同様の構造物が積層された構成をしている。サファイア基板20は、発光部が形成された面の反対面(裏面20c)及び側面20bが凹凸状に粗面化されている(なお、図においては本発明の特徴である凹凸形状を誇張してある)。その他の構成は実施の形態1(図1)と同様であるので、対応する部分には同一の符号を付してその詳細な説明を省略する。
FIG. 4 is a structural sectional view showing an example of a light emitting diode according to Embodiment 2 of the present invention.
The light emitting diode 2 according to the second embodiment of the present invention has a configuration in which the same structure as that of the first embodiment is stacked on the sapphire substrate 20. In the sapphire substrate 20, the opposite surface (back surface 20 c) and side surface 20 b of the surface on which the light emitting portion is formed are roughened in an uneven shape (in the figure, the uneven shape that is a feature of the present invention is exaggerated). is there). Since other configurations are the same as those of the first embodiment (FIG. 1), the corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

また、発光ダイオード2は、実施の形態1と同様にレーザスクライブ法又はダイヤモンドスクライブ法とサンドブラスト法とを組み合わせて製造することができる。図5は本発明の実施の形態2に係る発光ダイオードの製造方法を説明するための説明図である。   Further, the light emitting diode 2 can be manufactured by combining a laser scribe method or a diamond scribe method and a sand blast method as in the first embodiment. FIG. 5 is an explanatory diagram for explaining a method of manufacturing a light emitting diode according to Embodiment 2 of the present invention.

サファイア基板50には、それ自体公知のフォトリソグラフィ技術を用い、上述した各層が積層されることによって形成された複数の発光部60,60,…が形成されている(図5(a))。同図破線がチップ分割線(もちろん、仮想的なものである)である。   The sapphire substrate 50 is formed with a plurality of light emitting portions 60, 60,... Formed by laminating the above-described layers using a photolithography technique known per se (FIG. 5A). A broken line in the figure is a chip dividing line (of course, a virtual one).

まず、レーザ照射装置をチップ分割線に沿って可動させながら、サファイア基板50の裏面からレーザ光を照射する。これにより、サファイア基板50は、レーザ光と反応して、照射された箇所の材質が変化するとともに、反応箇所が破断して溝50aが形成される(図5(b))。   First, laser light is irradiated from the back surface of the sapphire substrate 50 while moving the laser irradiation device along the chip dividing line. As a result, the sapphire substrate 50 reacts with the laser beam to change the material of the irradiated portion, and the reaction portion is broken to form the groove 50a (FIG. 5B).

次に、サファイア基板50の裏面側から、アルミナ、Sicなどの研磨粒子をサンドブラスト法により噴射して、溝50aの表面、すなわちサファイア基板50の側面とサファイア基板50の裏面とを粗面化する(図5(c))。サファイア基板50の側面及び裏面に生じる凹凸の形状は、研磨粒子の種類、並びに研磨粒子の噴射圧及び噴射量などによって調整することができ、所望の形状となるように適宜設定する。   Next, abrasive particles such as alumina and Sic are sprayed from the back surface side of the sapphire substrate 50 by sandblasting to roughen the surface of the groove 50a, that is, the side surface of the sapphire substrate 50 and the back surface of the sapphire substrate 50 ( FIG. 5 (c)). The shape of the irregularities generated on the side surface and the back surface of the sapphire substrate 50 can be adjusted according to the type of abrasive particles, the injection pressure and the injection amount of the abrasive particles, and is appropriately set so as to have a desired shape.

そして、溝50aを介して隣り合う発光部60,60が形成されたサファイア基板50に応力を加えて、サファイア基板50を分割する(図5(d))。このようにして、サファイア基板50の各面のうち、発光部60が形成された面の反対面及び側面を粗面化することができる。   Then, the sapphire substrate 50 is divided by applying stress to the sapphire substrate 50 on which the light emitting units 60 and 60 adjacent to each other are formed via the groove 50a (FIG. 5D). In this way, among the surfaces of the sapphire substrate 50, the opposite surface and the side surface of the surface on which the light emitting unit 60 is formed can be roughened.

本実施の形態に係る発光ダイオード2は、実施の形態1と同様、溝形成工程としてレーザスクライブ法を用いた場合は、レーザ照射によって生じた残渣を除去することができるので、光の取出効率を向上することができる。また、残渣が生じることのないダイヤモンドスクライブ法を溝形成工程として用いた場合であっても、サファイア基板の各面のうち、発光部が形成された面の反対面(裏面)と側面とを粗面化することによって、裏面及び側面に導光した光を拡散することができ、光の取出効率を向上させることができる。   As in the first embodiment, the light emitting diode 2 according to the present embodiment can remove the residue generated by the laser irradiation when the laser scribing method is used as the groove forming step. Can be improved. Moreover, even when the diamond scribe method that does not generate a residue is used as the groove forming step, the surface opposite to the surface on which the light emitting portion is formed (back surface) and the side surface are roughened on each surface of the sapphire substrate. By making the surface, the light guided to the back surface and the side surface can be diffused, and the light extraction efficiency can be improved.

なお、各実施の形態では、サファイア基板に応力を加えてサファイア基板を分割するようにしたが、溝形成工程又は粗面化工程での切削量を大きくして、溝形成工程又は粗面化工程にてサファイア基板を分割するようにしてもよい。   In each embodiment, the sapphire substrate is divided by applying stress to the sapphire substrate. However, the cutting amount in the groove forming step or the roughening step is increased, and the groove forming step or the roughening step is performed. The sapphire substrate may be divided by.

また、サファイア基板の裏面側からダイシングして、裏面を粗面化するような場合について説明したが、サファイア基板の表面側、つまり発光部の形成面側からダイシングして、表面を粗面化するような場合にも適用できる。その場合は、発光部に対応したマスクを用意し、そのマスクを介してサファイア基板の表面に研磨粒子を噴射することが好ましい。   Moreover, although the case where dicing was performed from the back surface side of the sapphire substrate and the back surface was roughened was explained, the surface was roughened by dicing from the front surface side of the sapphire substrate, that is, the light emitting portion formation surface side. It can be applied to such cases. In that case, it is preferable to prepare a mask corresponding to the light emitting portion and to inject abrasive particles onto the surface of the sapphire substrate through the mask.

さらに、透明基板としてサファイア基板を用いた場合について説明したが、可視光領域における透過率が優れた透明基板であれば、例えば、石英基板、窒化ガリウム基板などであってもよく、本発明の作用・効果である光取出効率を向上することができる。また、透明基板上に形成されるデバイス構造についても、限定されるものではない。   Furthermore, although the case where a sapphire substrate is used as a transparent substrate has been described, a transparent substrate having excellent transmittance in the visible light region may be, for example, a quartz substrate, a gallium nitride substrate, etc. -The light extraction efficiency which is an effect can be improved. Further, the device structure formed on the transparent substrate is not limited.

本発明の実施の形態1に係る発光ダイオードの一例を示す構造断面図である。It is a structure sectional view showing an example of a light emitting diode concerning Embodiment 1 of the present invention. 発光ダイオードの端部を拡大した端部拡大図である。It is the edge part enlarged view to which the edge part of the light emitting diode was expanded. 本発明の実施の形態1に係る発光ダイオードの製造方法を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the manufacturing method of the light emitting diode which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態2に係る発光ダイオードの一例を示す構造断面図である。It is structural sectional drawing which shows an example of the light emitting diode which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態2に係る発光ダイオードの製造方法を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the manufacturing method of the light emitting diode which concerns on Embodiment 2 of this invention. 従来の発光ダイオードの一例を示す構造断面図である。It is structural sectional drawing which shows an example of the conventional light emitting diode. 従来の発光ダイオードの出射光の経路を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the path | route of the emitted light of the conventional light emitting diode.

符号の説明Explanation of symbols

1,2 発光ダイオード
10,20,50 サファイア基板
11 AlNバッファ層
12 SiドープGaN層
13 活性層
14 キャップ層
15 MgドープGaN層
16 Zn膜
17 ITO膜
18 P型電極
19 N型電極
60 発光部
70 マスク
50a 溝
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 2 Light emitting diode 10, 20, 50 Sapphire substrate 11 AlN buffer layer 12 Si doped GaN layer 13 Active layer 14 Cap layer 15 Mg doped GaN layer 16 Zn film 17 ITO film 18 P-type electrode 19 N-type electrode 60 Light emitting part 70 Mask 50a Groove

Claims (6)

透明板の一面に発光部が形成された発光ダイオードにおいて、
前記透明板の他面の端部が粗面化されていること
を特徴とする発光ダイオード。
In the light emitting diode in which the light emitting part is formed on one surface of the transparent plate,
An end of the other surface of the transparent plate is roughened.
透明板の一面に発光部が形成された発光ダイオードにおいて、
前記透明板の他面及び/又は前記透明板の側面が粗面化されていること
を特徴とする発光ダイオード。
In the light emitting diode in which the light emitting part is formed on one surface of the transparent plate,
The other surface of the said transparent plate and / or the side surface of the said transparent plate are roughened, The light emitting diode characterized by the above-mentioned.
複数の発光部が形成された透明板から個々の発光部に分割することで個々の発光ダイオードを製造する発光ダイオードの製造方法において、
前記透明板の分割すべき箇所に溝を形成する溝形成工程と、
該溝形成工程にて形成された溝の表面を粗面化する粗面化工程と
を含むことを特徴とする発光ダイオードの製造方法。
In the method for manufacturing a light emitting diode, in which each light emitting diode is manufactured by dividing the light emitting portion from a transparent plate on which a plurality of light emitting portions are formed,
A groove forming step of forming a groove in a portion to be divided of the transparent plate;
And a roughening step of roughening the surface of the groove formed in the groove forming step.
複数の発光部が形成された透明板から個々の発光部に分割することで個々の発光ダイオードを製造する発光ダイオードの製造方法において、
前記透明板の分割すべき箇所に溝を形成する溝形成工程と、
該溝形成工程にて形成された溝を含む前記透明板の表面を粗面化する粗面化工程と
を含むことを特徴とする発光ダイオードの製造方法。
In the method for manufacturing a light emitting diode, in which each light emitting diode is manufactured by dividing the light emitting portion from a transparent plate on which a plurality of light emitting portions are formed,
A groove forming step of forming a groove in a portion to be divided of the transparent plate;
And a roughening step of roughening the surface of the transparent plate including the grooves formed in the groove forming step.
前記溝形成工程は、
ダイヤモンドスクライブ法又はレーザスクライブ法を用いること
を特徴とする請求項3又は請求項4に記載の発光ダイオードの製造方法。
The groove forming step includes
The method for producing a light-emitting diode according to claim 3 or 4, wherein a diamond scribe method or a laser scribe method is used.
前記粗面化工程は、
前記透明板に研磨粒子を噴射することにより前記表面を切削して粗面化すること
を特徴とする請求項3乃至請求項5のいずれかに記載の発光ダイオードの製造方法。
The roughening step includes
The method for manufacturing a light-emitting diode according to any one of claims 3 to 5, wherein the surface is cut and roughened by spraying abrasive particles onto the transparent plate.
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