JP2006243726A - Photosensitive resin composition - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive resin composition not only excellent in performances such as sensitivity, insulating property and chemical resistance but in particular, significantly improved in transmittance and storage stability, and suitable for forming an interlayer insulating film in the process of manufacturing a LCD. <P>SOLUTION: The photosensitive resin composition comprises, in particular: (a) an acrylic copolymer obtained by copolymerizing (i) an unsaturated carboxylic acid, an unsaturated carboxylic acid anhydride or a mixture of these, (ii) one or more kinds of epoxy group-containing unsaturated compounds selected from a group consisting of formula (1) to (8), and (iii) an olefin-based unsaturated compound, and then removing monomers not involved in the reaction; (b) a 1,2-quinonediazide compound; and (c) a solvent. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は感光性樹脂組成物に関する。   The present invention relates to a photosensitive resin composition.

TFT型液晶表示素子や集積回路素子には層間に配置される配線の間を絶縁するために層間絶縁膜を使用している。
このような層間絶縁膜を形成する場合には、必要とするパターン形状の層間絶縁膜を得るための工程数が少なく、透過度が優れた感光性材料が使用されている。
最近、液晶ディスプレイ(LCD)製造工程に適用される層間絶縁膜は、透過度を高めることによってバックライト効率を高めることができ、消費電力を低めることができるフォトレジストが要求されている。
In the TFT type liquid crystal display element and the integrated circuit element, an interlayer insulating film is used to insulate between wirings arranged between the layers.
When such an interlayer insulating film is formed, a photosensitive material having a low transmittance and an excellent transmittance is used to obtain an interlayer insulating film having a required pattern shape.
Recently, an interlayer insulating film applied to a liquid crystal display (LCD) manufacturing process is required to have a photoresist that can increase backlight efficiency by increasing transmittance and reduce power consumption.

従来の層間絶縁膜はPAC、バインダー、溶媒などの成分からなり、前記バインダーの硬化用モノマーとしてはエポキシ系アクリレートが主に使用されてきた。しかし、従来のエポキシ系アクリレートの場合、層間絶縁膜の透過率、貯蔵安定性などの問題があり、これによってLCD製造工程上で不良を招くという問題点があった。
したがって、LCD製造工程に適用される層間絶縁膜の透過率および貯蔵安定性を向上させるための研究がさらに必要であるのが実情である。
A conventional interlayer insulating film is composed of components such as PAC, a binder, and a solvent, and an epoxy acrylate has been mainly used as a curing monomer for the binder. However, the conventional epoxy acrylate has problems such as the transmittance of the interlayer insulating film and storage stability, which causes defects in the LCD manufacturing process.
Therefore, the actual situation is that further research is required to improve the transmittance and storage stability of the interlayer insulating film applied to the LCD manufacturing process.

このような従来の技術の問題点を解決するために、本発明は感度、絶縁性、耐化学性などの色々な性能に優れているだけでなく、特に透過度および貯蔵安定性を顕著に向上させてLCD製造工程の層間絶縁膜を形成するのに適し、膜の厚さが厚いLCD製造工程の層間絶縁膜に使用するのに適した感光性樹脂組成物、前記感光性樹脂の硬化体を含むLCD基板、および前記感光性樹脂組成物を利用したLCD基板のパターン形成方法を提供することを目的とする。
本発明の他の目的は、現像後優れた平坦性を有し、フォト工程後LCD製造工程に適用される層間絶縁膜にパターンの不良を招かない感光性樹脂組成物を提供することにある。
In order to solve such problems of the prior art, the present invention not only excels in various performances such as sensitivity, insulation and chemical resistance, but also significantly improves the permeability and storage stability. A photosensitive resin composition suitable for forming an interlayer insulating film in an LCD manufacturing process and suitable for use in an interlayer insulating film in an LCD manufacturing process having a thick film, and a cured body of the photosensitive resin. It is an object of the present invention to provide an LCD substrate including the same, and a method for forming a pattern of the LCD substrate using the photosensitive resin composition.
Another object of the present invention is to provide a photosensitive resin composition which has excellent flatness after development and does not cause a pattern defect in an interlayer insulating film applied to an LCD manufacturing process after a photo process.

前記目的を達成するために、本発明の感光性樹脂組成物は、
a)i)不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物、またはこれらの混合物、
ii)下記の化学式(1)〜(8)
In order to achieve the object, the photosensitive resin composition of the present invention comprises:
a) i) an unsaturated carboxylic acid, an unsaturated carboxylic acid anhydride, or a mixture thereof;
ii) The following chemical formulas (1) to (8)

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(式中、R1は水素原子またはメチル基であり、
2は結合手又は炭素数1〜10の炭化水素基、
3、R4、R5、R6およびR7は、それぞれ同一又は異なって、炭素数1〜10の炭化水素基を示す)
からなる群から選択される1種以上のエポキシ基含有不飽和化合物、および
iii)オレフィン系不飽和化合物
を共重合させた後、未反応単量体を除去して得られたアクリル系共重合体;
b)1,2−キノンジアジド化合物;および
c)溶媒
を含むことを特徴とする。
(Wherein R 1 is a hydrogen atom or a methyl group,
R 2 is a bond or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms,
R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 are the same or different and represent a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms)
An acrylic copolymer obtained by copolymerizing at least one epoxy group-containing unsaturated compound selected from the group consisting of: iii) an olefinically unsaturated compound and then removing unreacted monomers ;
b) 1,2-quinonediazide compound; and c) a solvent.

好ましくは、本発明は、
a)i)不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物、またはこれらの混合物5〜50重量%;
ii)前記化学式(1)〜(8)からなる群から選択される1種以上のエポキシ基含有不飽和化合物5〜70重量%;および
iii)オレフィン系不飽和化合物10〜70重量%
を共重合させた後、未反応単量体を除去して得られたアクリル系共重合体100重量部;
b)1,2−キノンジアジド化合物5〜50重量部;および
c)溶媒を感光性樹脂組成物内の固形分の含量が10〜50重量%になるように含む。
Preferably, the present invention provides
a) i) 5-50% by weight of an unsaturated carboxylic acid, an unsaturated carboxylic acid anhydride, or a mixture thereof;
ii) 5 to 70% by weight of one or more epoxy group-containing unsaturated compounds selected from the group consisting of the chemical formulas (1) to (8); and iii) 10 to 70% by weight of olefinic unsaturated compounds
And then 100 parts by weight of an acrylic copolymer obtained by removing unreacted monomers;
b) 5 to 50 parts by weight of a 1,2-quinonediazide compound; and c) a solvent so that the solid content in the photosensitive resin composition is 10 to 50% by weight.

また、本発明は前記感光性樹脂組成物の硬化体を含むLCDを提供する。
さらに、本発明は前記感光性樹脂組成物を利用したLCD基板のパターン形成方法を提供する。
The present invention also provides an LCD comprising a cured product of the photosensitive resin composition.
Furthermore, the present invention provides a method for forming a pattern on an LCD substrate using the photosensitive resin composition.

本発明による感光性樹脂組成物は、感度、絶縁性、耐化学性などの色々な性能が優れると共に、現像後の平坦性が優れており、特に透過度および貯蔵安定性を顕著に向上させてLCD製造工程の層間絶縁膜として使用することにおいて信頼度を得ることができる。
また、この感光性樹脂組成物を利用した本発明のLCD基板のパターン形成方法は、フォト工程後LCD製造工程に適用される層間絶縁膜の優れたパターンを形成することができる。
The photosensitive resin composition according to the present invention is excellent in various performances such as sensitivity, insulation, chemical resistance and the like, and is excellent in flatness after development, and particularly significantly improves the transmittance and storage stability. Reliability can be obtained by using as an interlayer insulating film in the LCD manufacturing process.
Moreover, the pattern formation method of the LCD substrate of this invention using this photosensitive resin composition can form the outstanding pattern of the interlayer insulation film applied to the LCD manufacturing process after a photo process.

以下、本発明を詳細に説明する。
本発明の感光性樹脂組成物は、a)i)不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物、またはこれらの混合物、ii)前記化学式(1)〜(8)からなる群から選択される1種以上のエポキシ基含有不飽和化合物、およびiii)オレフィン系不飽和化合物を共重合させた後、未反応単量体を除去して得られたアクリル系共重合体、b)1,2−キノンジアジド化合物、およびc)溶媒を含むことを特徴とする。
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
The photosensitive resin composition of the present invention is a) i) an unsaturated carboxylic acid, an unsaturated carboxylic acid anhydride, or a mixture thereof; ii) 1 selected from the group consisting of the chemical formulas (1) to (8) One or more epoxy group-containing unsaturated compounds, and iii) an acrylic copolymer obtained by copolymerizing an olefinically unsaturated compound and then removing unreacted monomers, b) 1,2-quinonediazide A compound, and c) a solvent.

本発明に使用される前記a)のアクリル系共重合体は、現像する時にスカムが発生しない所定のパターンを容易に形成することができるようにする作用を果たす。
前記a)のアクリル系共重合体は、i)不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物、またはこれらの混合物、ii)前記化学式(1)〜(8)からなる群から選択される1種以上のエポキシ基含有不飽和化合物、およびiii)オレフィン系不飽和化合物を単量体として、溶媒および重合開始剤の存在下でラジカル反応して合成した後、沈澱および濾過、真空乾燥工程によって未反応単量体を除去して得ることができる。
The acrylic copolymer of a) used in the present invention serves to easily form a predetermined pattern in which no scum is generated during development.
The acrylic copolymer of a) is i) an unsaturated carboxylic acid, an unsaturated carboxylic acid anhydride, or a mixture thereof; ii) one selected from the group consisting of the chemical formulas (1) to (8) The above epoxy group-containing unsaturated compound and iii) an olefinic unsaturated compound as a monomer, synthesized by radical reaction in the presence of a solvent and a polymerization initiator, and then unreacted by precipitation, filtration, and vacuum drying steps It can be obtained by removing the monomer.

本発明に使用される前記a)i)不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物またはこれらの混合物は、アクリル酸、メタクリル酸などの不飽和モノカルボン酸;マレイン酸、フマル酸、シトラコン酸、メタコン酸、イタコン酸などの不飽和ジカルボン酸;またはこれらの不飽和ジカルボン酸の無水物などを単独または2種以上混合して使用することができ、特にアクリル酸、メタクリル酸、または無水マレイン酸を使用するのが共重合反応性と現像液であるアルカリ水溶液に対する溶解性においてさらに好ましい。
前記不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物またはこれらの混合物は、アルカリ水溶液に対する溶解性を適当に調整することができるという観点から、全体総単量体に対して5〜50重量%で含まれるのが好ましく、さらに好ましくは10〜40重量%で含まれる。
The a) unsaturated carboxylic acid, unsaturated carboxylic acid anhydride or a mixture thereof used in the present invention is an unsaturated monocarboxylic acid such as acrylic acid or methacrylic acid; maleic acid, fumaric acid, citraconic acid, Unsaturated dicarboxylic acids such as metaconic acid and itaconic acid; or anhydrides of these unsaturated dicarboxylic acids can be used alone or in admixture of two or more. Particularly, acrylic acid, methacrylic acid, or maleic anhydride can be used. It is more preferable to use copolymerization reactivity and solubility in an alkaline aqueous solution as a developer.
The unsaturated carboxylic acid, unsaturated carboxylic acid anhydride, or a mixture thereof is contained in an amount of 5 to 50% by weight based on the total total monomers from the viewpoint that the solubility in an alkaline aqueous solution can be appropriately adjusted. Preferably, it is contained at 10 to 40% by weight.

本発明に使用される前記a)ii)の前記化学式(1)〜(8)からなる群から選択される1種以上のエポキシ基含有不飽和化合物は、パターンの耐熱性、後工程での信頼性、共重合体の保存安定性などを向上させる作用を果たす。
式(1)〜(8)における、炭化水素基としては、炭素数が1〜10が挙げられ、好ましくは1〜8、さらに1〜6、1〜4が好ましい。炭化水素基として、例えば、直鎖又は分岐の非環式炭化水素、単環式炭化水素、縮合多環式炭化水素、架橋環式炭化水素等が挙げられる。なかでも、直鎖又は分岐の非環式炭化水素、単環式炭化水素が好ましい。直鎖又は分岐の非環式炭化水素としては、アルキル、アルキレン等、つまり、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、n、sec、tert-ブチル、イソ、ネオ、tert-ペンチル、イソヘキシル等、ビニル、2−プロペニル、1−メチルルビニル、エチニル、2−プロピニル、2−ブテニル等が挙げられる。特に、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、n、sec、tert-ブチルが好ましい。単環式炭化水素及び縮合多環式炭化水素としては、シクロプロピル、シクロヘキシル、アリール、つまり、フェニル、トリル、キシル、ナフチル、ベンジル、トシル、インデニル等が挙げられる。架橋環式炭化水素としては、ビシクロブチル、ビシクロオクチル、ビシクロノニル等が挙げられる。
The one or more epoxy group-containing unsaturated compounds selected from the group consisting of the chemical formulas (1) to (8) of the a) ii) used in the present invention are the heat resistance of the pattern and the reliability in the subsequent process. And improves the storage stability of the copolymer.
As a hydrocarbon group in Formula (1)-(8), C1-C10 is mentioned, Preferably it is 1-8, Furthermore, 1-6, 1-4 are preferable. Examples of the hydrocarbon group include linear or branched acyclic hydrocarbons, monocyclic hydrocarbons, condensed polycyclic hydrocarbons, bridged cyclic hydrocarbons, and the like. Of these, linear or branched acyclic hydrocarbons and monocyclic hydrocarbons are preferred. Examples of linear or branched acyclic hydrocarbon include alkyl, alkylene and the like, that is, methyl, ethyl, propyl, isopropyl, n, sec, tert-butyl, iso, neo, tert-pentyl, isohexyl, vinyl, 2 -Propenyl, 1-methyllvinyl, ethynyl, 2-propynyl, 2-butenyl and the like. In particular, methyl, ethyl, propyl, isopropyl, n, sec, and tert-butyl are preferable. Monocyclic hydrocarbons and fused polycyclic hydrocarbons include cyclopropyl, cyclohexyl, aryl, ie, phenyl, tolyl, xyl, naphthyl, benzyl, tosyl, indenyl and the like. Examples of the bridged cyclic hydrocarbon include bicyclobutyl, bicyclooctyl, bicyclononyl and the like.

特に、R2における炭化水素基は、上述した炭化水素基の2価のものが挙げられ、なかでも、2価の直鎖又は分岐の非環式炭化水素が好ましく、具体的には、メチレン、エチレン、プロピレン等が好ましい。
化学式(1)〜(8)の化合物においては、特に、R2が結合手のものが好ましい。また、R3〜R7が、水素原子又は1〜4のアルキル基であることが好ましく、R2及びR3〜R7がこれらを組み合わせた化合物が好ましい。
In particular, the hydrocarbon group in R 2 includes the above-described divalent hydrocarbon groups, and among them, a divalent linear or branched acyclic hydrocarbon is preferable, specifically methylene, Ethylene, propylene and the like are preferable.
In the compounds of the chemical formulas (1) to (8), those in which R 2 is a bond are particularly preferable. Further, R 3 to R 7 is preferably a hydrogen atom or 1 to 4 of alkyl groups, compound R 2 and R 3 to R 7 is a combination of these are preferred.

前記化学式(1)〜(8)からなる群から選択される1種以上のエポキシ基含有不飽和化合物は単独または2種以上混合して使用することができる。その含量は、得られるパターンの耐熱性および後工程での信頼性を向上させ、共重合体の保存安定性を向上させるという観点から、全体総単量体に対して5〜70重量%で含まれるのが好ましく、さらに好ましくは10〜60重量%で含まれる。   One or more epoxy group-containing unsaturated compounds selected from the group consisting of the chemical formulas (1) to (8) can be used alone or in combination. The content is 5 to 70% by weight based on the total amount of total monomers from the viewpoint of improving the heat resistance of the resulting pattern and reliability in the subsequent process and improving the storage stability of the copolymer. Preferably, it is contained at 10 to 60% by weight.

本発明に使用される前記a)iii)のオレフィン系不飽和化合物は、メチルメタクリレート、エチルメタクリレート、n−ブチルメタクリレート、sec−ブチルメタクリレート、tert−ブチルメタクリレート、メチルアクリレート、イソプロピルアクリレート、シクロヘキシルメタクリレート、2−メチルシクロヘキシルメタクリレート、ジシクロペンテニルアクリレート、ジシクロペンタニルアクリレート、ジσシクロペンテニルメタクリレート、ジシクロペンタニルメタクリレート、1−アダマンチルアクリレート、1−アダマンチルメタクリレート、ジシクロペンタニルオキシエチルメタクリレート、イソボロニルメタクリレート、シクロヘキシルアクリレート、2−メチルシクロヘキシルアクリレート、ジシクロペンタニルオキシエチルアクリレート、イソボロニルアクリレート、フェニルメタクリレート、フェニルアクリレート、ベンジルアクリレート、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、スチレン、σ−メチルスチレン、m−メチルスチレン、p−メチルスチレン、ビニルトルエン、p−メトキシスチレン、1,3−ブタジエン、イソプレン、または2,3−ジメチル1,3−ブタジエンなどを使用することができ、前記化合物を単独または2種以上混合して使用することができる。   The a) iii) olefinically unsaturated compounds used in the present invention are methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-butyl methacrylate, sec-butyl methacrylate, tert-butyl methacrylate, methyl acrylate, isopropyl acrylate, cyclohexyl methacrylate, 2 -Methylcyclohexyl methacrylate, dicyclopentenyl acrylate, dicyclopentanyl acrylate, di-σ cyclopentenyl methacrylate, dicyclopentanyl methacrylate, 1-adamantyl acrylate, 1-adamantyl methacrylate, dicyclopentanyloxyethyl methacrylate, isobornyl methacrylate , Cyclohexyl acrylate, 2-methylcyclohexyl acrylate, dicyclopentanyl Xylethyl acrylate, isobornyl acrylate, phenyl methacrylate, phenyl acrylate, benzyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, styrene, σ-methyl styrene, m-methyl styrene, p-methyl styrene, vinyl toluene, p-methoxy styrene, 1 , 3-butadiene, isoprene, 2,3-dimethyl 1,3-butadiene, and the like, and the above compounds can be used alone or in admixture of two or more.

特に、前記オレフィン系不飽和化合物は、スチレン、メチルメタクリレート、またはp−メトキシスチレンを使用するのが共重合反応性および現像液であるアルカリ水溶液に対する溶解性の面でさらに好ましい。
前記オレフィン系不飽和化合物は、アクリル系共重合体の耐熱性を向上させ、アクリル系共重合体が現像液であるアルカリ水溶液に対する適当な溶解性を確保するという観点から、全体総単量体に対して10〜70重量%で含まれるのが好ましく、さらに好ましくは20〜50重量%で含まれる。このような単量体を溶液重合するために使用される溶媒は、メタノール、テトラヒドロキシフラン、トルエン、またはジオキサンなどを使用することができる。
In particular, the olefinically unsaturated compound is more preferably styrene, methyl methacrylate, or p-methoxystyrene in terms of copolymerization reactivity and solubility in an aqueous alkali solution that is a developer.
The olefinically unsaturated compound improves the heat resistance of the acrylic copolymer, and from the viewpoint of ensuring appropriate solubility in an alkaline aqueous solution that is the acrylic copolymer, The content is preferably 10 to 70% by weight, more preferably 20 to 50% by weight. As a solvent used for solution polymerization of such a monomer, methanol, tetrahydroxyfuran, toluene, dioxane or the like can be used.

このような単量体を溶液重合するために使用される重合開始剤は、ラジカル重合開始剤を使用することができる。具体的に、2,2−アゾビスイソブチロニトリル、2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)、2,2−アゾビス(4−メトキシ2,4−ジメチルバレロニトリル)、1,1−アゾビス(シクロヘキサン−1−カルボニトリル)、またはジメチル−2,2'−アゾビスイソブチレートなどが挙げられる。   As the polymerization initiator used for solution polymerization of such a monomer, a radical polymerization initiator can be used. Specifically, 2,2-azobisisobutyronitrile, 2,2-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile), 2,2-azobis (4-methoxy2,4-dimethylvaleronitrile), 1, Examples thereof include 1-azobis (cyclohexane-1-carbonitrile), dimethyl-2,2′-azobisisobutyrate, and the like.

このような単量体を溶媒と重合開始剤存在下でラジカル反応させ、沈澱および濾過、真空乾燥工程によって未反応単量体を除去して得られた前記a)のアクリル系共重合体は、ポリスチレン換算重量平均分子量(Mw)が、現像性、残膜率などを向上させ、パターン現像、耐熱性などを確保するとともに、感度を維持してパターン現像を向上させるという観点から、5,000〜30,000であるのが好ましく、さらに好ましくは5,000〜20,000である。   The acrylic copolymer of a) obtained by radically reacting such a monomer in the presence of a solvent and a polymerization initiator, and removing unreacted monomer by precipitation, filtration, and vacuum drying, From the viewpoint of improving the developability, residual film ratio, etc., ensuring pattern development, heat resistance, etc., while maintaining the sensitivity and improving the pattern development, the polystyrene-reduced weight average molecular weight (Mw) is 5,000- It is preferably 30,000, more preferably 5,000 to 20,000.

本発明に使用される前記b)の1,2−キノンジアジド化合物は感光性化合物として使用される。
前記1,2−キノンジアジド化合物は、1,2−キノンジアジド4−スルホン酸エステル、1,2−キノンジアジド5−スルホン酸エステル、または1,2−キノンジアジド6−スルホン酸エステルなどを使用することができる。
The 1,2-quinonediazide compound b) used in the present invention is used as a photosensitive compound.
As the 1,2-quinonediazide compound, 1,2-quinonediazide 4-sulfonic acid ester, 1,2-quinonediazide 5-sulfonic acid ester, 1,2-quinonediazide 6-sulfonic acid ester, or the like can be used.

このようなキノンジアジド化合物は、ナフトキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化合物とフェノール化合物を弱塩基下で反応させて製造することができる。
前記フェノール化合物としては、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,4,6−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,2'−テトラヒドロキシベンゾフェノン、4,4'−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,3'−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4'−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,2'−テトラヒドロキシ4'−メチルベンゾフェノン、2,3,4,4'−テトラヒドロキシ3'−メトキシベンゾフェノン、2,3,4,2'−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,6'−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,4,6、3'−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、2,4,6、4'−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、2,4,6、5'−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、3,4,5,3'−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、3,4,5,4'−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、3,4,5,5'−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、ビス(2,4−ジヒドロキシフェニル)メタン、ビス(p−ヒドロキシフェニル)メタン、トリ(p−ヒドロキシフェニル)メタン、1,1,1−トリ(p−ヒドロキシフェニル)エタン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)メタン、2,2−ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)プロパン、1,1,3−トリス(2,5−ジメチル4−ヒドロキシフェニル)−3−フェニルプロパン、4,4'−[1−[4−[1−[4−ヒドロキシフェニル]−1−メチルエチル]フェニル]エチリデン]ビスフェノール、またはビス(2,5−ジメチル4−ヒドロキシフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタンなどを使用することができ、前記化合物を単独または2種以上混合して使用することができる。
Such a quinonediazide compound can be produced by reacting a naphthoquinonediazidesulfonic acid halogen compound and a phenol compound under a weak base.
Examples of the phenol compound include 2,3,4-trihydroxybenzophenone, 2,4,6-trihydroxybenzophenone, 2,2′-tetrahydroxybenzophenone, 4,4′-tetrahydroxybenzophenone, 2,3,4, 3′-tetrahydroxybenzophenone, 2,3,4,4′-tetrahydroxybenzophenone, 2,3,4,2′-tetrahydroxy4′-methylbenzophenone, 2,3,4,4′-tetrahydroxy3 ′ -Methoxybenzophenone, 2,3,4,2'-pentahydroxybenzophenone, 2,3,4,6'-pentahydroxybenzophenone, 2,4,6,3'-hexahydroxybenzophenone, 2,4,6,4 '-Hexahydroxybenzophenone, 2,4,6,5'-Hexahydroxybenzophenone, 3,4,5 , 3′-hexahydroxybenzophenone, 3,4,5,4′-hexahydroxybenzophenone, 3,4,5,5′-hexahydroxybenzophenone, bis (2,4-dihydroxyphenyl) methane, bis (p-hydroxy) Phenyl) methane, tri (p-hydroxyphenyl) methane, 1,1,1-tri (p-hydroxyphenyl) ethane, bis (2,3,4-trihydroxyphenyl) methane, 2,2-bis (2, 3,4-trihydroxyphenyl) propane, 1,1,3-tris (2,5-dimethyl4-hydroxyphenyl) -3-phenylpropane, 4,4 ′-[1- [4- [1- [4 -Hydroxyphenyl] -1-methylethyl] phenyl] ethylidene] bisphenol, or bis (2,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) -2 -Hydroxyphenylmethane etc. can be used and the said compound can be used individually or in mixture of 2 or more types.

このようなフェノール化合物とナフトキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化合物でキノンジアジド化合物を合成する時、エステル化度は、残膜率を確保し、パターン上に発生するスカムを防止するという観点から、
50〜90%が好ましい。前記1,2−キノンジアジド化合物は、露光部と非露光部の溶解度差を確保してパターン形成を向上させるとともに、短時間の間に光を照射する時、未反応1,2−キノンジアジド化合物の残存を低下させ、現像液であるアルカリ水溶液に対する溶解度を適当に調整して現像を容易にするという観点から、a)のアクリル系共重合体100重量部に対して5〜50重量部で含まれるのが好ましく、さらに好ましくは10〜40重量部で含まれる。本発明に使用される前記c)の溶媒は、層間絶縁膜の平坦性とコーティング斑が発生しないようにして、均一なパターンプロファイルを形成するようにする。
When synthesizing a quinonediazide compound with such a phenolic compound and a naphthoquinonediazide sulfonic acid halogen compound, the degree of esterification ensures a residual film ratio and prevents scum generated on the pattern,
50 to 90% is preferable. The 1,2-quinonediazide compound improves the pattern formation by ensuring the solubility difference between the exposed part and the non-exposed part, and the remaining unreacted 1,2-quinonediazide compound when irradiated with light for a short time. From the viewpoint of facilitating development by appropriately adjusting the solubility in an alkaline aqueous solution that is a developer, 5 to 50 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the acrylic copolymer of a) And more preferably 10 to 40 parts by weight. The solvent of c) used in the present invention forms a uniform pattern profile by preventing the flatness of the interlayer insulating film and coating unevenness.

前記溶媒は、メタノール、エタノール、ベンジルアルコール、ヘキシルアルコールなどのアルコール類;エチレングリコールメチルエーテルアセテート、エチレングリコールエチルエーテルアセテートなどのエチレングリコールアルキルエーテルアセテート類;エチレングリコールメチルエーテルプロピオネート、エチレングリコールエチルエーテルプロピオネートなどのエチレングリコールアルキルエーテルプロピオネート類;エチレングリコールメチルエーテル、エチレングリコールエチルエーテルなどのエチレングリコールモノアルキルエーテル類;ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテルなどのジエチレングリコールアルキルエーテル類;プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールプロピルエーテルアセテートなどのプロピレングリコールアルキルエーテルアセテート類;プロピレングリコールメチルエーテルプロピオネート、プロピレングリコールエチルエーテルプロピオネート、プロピレングリコールプロピルエーテルプロピオネートなどのプロピレングリコールアルキルエーテルプロピオネート類;プロピレングリコールメチルエーテル、プロピレングリコールエチルエーテル、プロピレングリコールプロピルエーテル、プロピレングリコールブチルエーテルなどのプロピレングリコールモノアルキルエーテル類;ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールジエチルエーテルなどのジプロピレングリコールアルキルエーテル類;ブチレングリコールモノメチルエーテル、ブチレングリコールモノエチルエーテルなどのブチレングリコールモノメチルエーテル類;またはジブチレングリコールジメチルエーテル、ジブチレングリコールジエチルエーテルなどのジブチレングリコールアルキルエーテル類などを使用することができる。   Examples of the solvent include alcohols such as methanol, ethanol, benzyl alcohol and hexyl alcohol; ethylene glycol alkyl ether acetates such as ethylene glycol methyl ether acetate and ethylene glycol ethyl ether acetate; ethylene glycol methyl ether propionate and ethylene glycol ethyl ether. Ethylene glycol alkyl ether propionates such as propionate; ethylene glycol monoalkyl ethers such as ethylene glycol methyl ether and ethylene glycol ethyl ether; diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, etc. The Tylene glycol alkyl ethers; propylene glycol alkyl ether acetates such as propylene glycol methyl ether acetate, propylene glycol ethyl ether acetate, propylene glycol propyl ether acetate; propylene glycol methyl ether propionate, propylene glycol ethyl ether propionate, propylene glycol Propylene glycol alkyl ether propionates such as propyl ether propionate; propylene glycol monoalkyl ethers such as propylene glycol methyl ether, propylene glycol ethyl ether, propylene glycol propyl ether, propylene glycol butyl ether; dipropylene glycol dimethyl Dipropylene glycol alkyl ethers such as ether and dipropylene glycol diethyl ether; butylene glycol monomethyl ethers such as butylene glycol monomethyl ether and butylene glycol monoethyl ether; or dibutylene glycol such as dibutylene glycol dimethyl ether and dibutylene glycol diethyl ether Alkyl ethers and the like can be used.

前記溶媒は、コーティング厚さを適当な薄さにし、コーティング平坦性を確保するとともに、コーティング時にコーティング装備に無理を与えることを防止するという観点から、全体感光性樹脂組成物の固形分含量が10〜50重量%になるように含まれるのが好ましく、さらに好ましくは15〜40重量%になるように含ませる。   From the viewpoints of reducing the coating thickness to an appropriate thickness, ensuring the coating flatness, and preventing the coating equipment from being unduly applied during coating, the solvent has a solid content of 10%. It is preferably contained so as to be ˜50% by weight, and more preferably contained so as to be 15˜40% by weight.

このような成分からなる本発明の感光性樹脂組成物は、必要によって、d)エポキシ樹脂、e)接着剤、f)アクリル化合物、またはg)界面活性剤などをさらに含むことができる。   The photosensitive resin composition of the present invention comprising such components can further contain d) an epoxy resin, e) an adhesive, f) an acrylic compound, or g) a surfactant, if necessary.

前記d)のエポキシ樹脂は、感光性樹脂組成物から得られるパターンの耐熱性、感度などを向上させる作用を果たす。
前記エポキシ樹脂は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、環状脂肪族エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、またはa)のアクリル系共重合体とは異なるグリシジルメタクリレートを(共)重合した樹脂などを使用することができ、特にビスフェノールA型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、またはグリシジルエステル型エポキシ樹脂を使用するのが好ましい。
The epoxy resin d) functions to improve the heat resistance and sensitivity of the pattern obtained from the photosensitive resin composition.
The epoxy resin may be a bisphenol A type epoxy resin, a phenol novolak type epoxy resin, a cresol novolak type epoxy resin, a cyclic aliphatic epoxy resin, a glycidyl ester type epoxy resin, a glycidyl amine type epoxy resin, a heterocyclic epoxy resin, or a) A resin obtained by (co) polymerizing glycidyl methacrylate, which is different from the acrylic copolymer, can be used, and in particular, a bisphenol A type epoxy resin, a cresol novolac type epoxy resin, or a glycidyl ester type epoxy resin is used. preferable.

前記エポキシ樹脂は、アクリル系共重合体に対する相溶性を確保して十分な塗布性能を得るという観点から、前記a)のアクリル系共重合体100重量部に対して0.1〜30重量部で含まれるのが好ましい。
また、前記e)の接着剤は基板との接着性を向上させる作用を果たし、前記a)のアクリル系共重合体100重量部に対して0.1〜20重量部で含まれるのが好ましい。
The epoxy resin is used in an amount of 0.1 to 30 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the acrylic copolymer of a) from the viewpoint of ensuring compatibility with the acrylic copolymer and obtaining sufficient coating performance. Preferably included.
The adhesive e) functions to improve adhesion to the substrate, and is preferably contained in an amount of 0.1 to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the acrylic copolymer of a).

前記接着剤は、カルボキシル基、メタクリル基、イソシアネート基、またはエポキシ基などのような反応性置換基を有するシランカップリング剤などを使用することができる。具体的に、γ−メタアクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、γ−イソシアネートプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、またはβ−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシランなどを使用することができる。   As the adhesive, a silane coupling agent having a reactive substituent such as a carboxyl group, a methacryl group, an isocyanate group, or an epoxy group can be used. Specifically, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, vinyltrimethoxysilane, γ-isocyanatopropyltriethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, or β- (3,4- Epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane and the like can be used.

また、前記f)のアクリル化合物は、感光性樹脂組成物から得られるパターンの透過率、耐熱性、感度などを向上させる作用を果たす。
前記アクリル化合物は下記の化学式(9)で示される化合物であるのが好ましい。
In addition, the acrylic compound of f) functions to improve the transmittance, heat resistance, sensitivity, and the like of the pattern obtained from the photosensitive resin composition.
The acrylic compound is preferably a compound represented by the following chemical formula (9).

Figure 2006243726
Figure 2006243726

(式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、または炭素数1〜5のアルカノイル基であり、
1<a<6であり、a+b=6である。)
アルキル基としては、メチル、エチル、プロピル、n−ブチル、t−ブチル、ペンチル等が挙げられる。アルコキシ基としては、メトキシ、エトキシ、プロポキシ、n−ブトキシ、t−ブトキシ、ペントキシ等が挙げられる。アルカノイル基としては、ホルミル、アセチル、プロピオニル、ブチリル、イソブチリル、バレリル、イソバレリル、ピバロイル等が挙げられる。
(In the formula, R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, or an alkanoyl group having 1 to 5 carbon atoms,
1 <a <6 and a + b = 6. )
Examples of the alkyl group include methyl, ethyl, propyl, n-butyl, t-butyl, pentyl and the like. Examples of the alkoxy group include methoxy, ethoxy, propoxy, n-butoxy, t-butoxy, pentoxy and the like. Examples of the alkanoyl group include formyl, acetyl, propionyl, butyryl, isobutyryl, valeryl, isovaleryl, pivaloyl and the like.

前記アクリル化合物は、前記アクリル系共重合体100重量部に対して0.1〜30重量部で含まれるのが好ましく、さらに好ましくは0.1〜15重量部で含まれる。その含量が前記範囲内である場合にはパターンの透過率、耐熱性、感度などの向上においてさらに良い。
また、前記g)の界面活性剤は、感光性組成物の塗布性や現像性を向上させる作用を果たす。
The acrylic compound is preferably contained in an amount of 0.1 to 30 parts by weight, more preferably 0.1 to 15 parts by weight, with respect to 100 parts by weight of the acrylic copolymer. When the content is within the above range, the pattern transmittance, heat resistance, sensitivity and the like are further improved.
In addition, the surfactant of g) functions to improve the applicability and developability of the photosensitive composition.

前記界面活性剤は、ポリオキシエチレンオクチルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル、F171、F172、F173(商品名:大日本インキ化学工業株式会社)、FC430、FC431(商品名:住友スリーエム株式会社)、またはKP341(商品名:信越化学工業株式会社)などを使用することができる。   The surfactant is polyoxyethylene octyl phenyl ether, polyoxyethylene nonyl phenyl ether, F171, F172, F173 (trade name: Dainippon Ink & Chemicals, Inc.), FC430, FC431 (trade name: Sumitomo 3M Limited). Alternatively, KP341 (trade name: Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) or the like can be used.

前記界面活性剤は、前記a)のアクリル系重合体100重量部に対して0.0001〜2重量部で含まれるのが好ましく、その含量が前記範囲内である場合には感光性組成物の塗布性や現像性の向上においてさらに良い。   The surfactant is preferably contained in an amount of 0.0001 to 2 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the acrylic polymer of a), and when the content is within the above range, It is even better in improving coatability and developability.

このような成分からなる本発明の感光性樹脂組成物の固形分濃度は10〜50重量%であるのが好ましく、前記範囲の固形分を有する組成物は0.1〜0.2μmのミリポアフィルターなどで濾過した後に使用するのが良い。   The solid content concentration of the photosensitive resin composition of the present invention comprising such components is preferably 10 to 50% by weight, and the composition having a solid content in the above range is a 0.1 to 0.2 μm Millipore filter. It is good to use it after filtering with etc.

また、本発明は前記感光性樹脂組成物の硬化体を含むLCD基板および前記感光性樹脂組成物を利用したLCD基板のパターン形成方法を提供する。
本発明のLCD基板のパターン形成方法は、感光性樹脂組成物を有機絶縁膜で形成してLCD基板のパターンを形成する方法において、前記感光性樹脂組成物を使用することを特徴とする。
The present invention also provides an LCD substrate comprising a cured product of the photosensitive resin composition and a method for forming a pattern on the LCD substrate using the photosensitive resin composition.
The LCD substrate pattern forming method of the present invention is characterized in that the photosensitive resin composition is used in a method for forming a pattern of an LCD substrate by forming a photosensitive resin composition with an organic insulating film.

具体的な例として、前記感光性樹脂組成物を用いてLCD基板のパターンを形成する方法は次の通りである。
まず、本発明の感光性樹脂組成物をスプレー法、ロールコーター法、回転塗布法などで基板表面に塗布し、プリベークによって溶媒を除去して、塗布膜を形成する。この時、前記プリベークは70〜110℃の温度で1〜15分間実施するのが好ましい。
As a specific example, a method for forming an LCD substrate pattern using the photosensitive resin composition is as follows.
First, the photosensitive resin composition of the present invention is applied to the substrate surface by a spray method, a roll coater method, a spin coating method, or the like, and the solvent is removed by pre-baking to form a coating film. At this time, the pre-bake is preferably performed at a temperature of 70 to 110 ° C. for 1 to 15 minutes.

その後、予め準備されたパターンによって可視光線、紫外線、遠紫外線、電子線、X線などを前記形成された塗布膜に照射し、現像液で現像して不必要な部分を除去することによって所定のパターンを形成する。   Thereafter, the formed coating film is irradiated with visible light, ultraviolet rays, far ultraviolet rays, electron beams, X-rays, etc. according to a pattern prepared in advance, and developed with a developer to remove unnecessary portions. Form a pattern.

前記現像液はアルカリ水溶液を使用することが良く、具体的に、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウムなどの無機アルカリ類;エチルアミン、n−プロピルアミンなどの1級アミン類;ジエチルアミン、n−プロピルアミンなどの2級アミン類;トリメチルアミン、メチルジエチルアミン、ジメチルエチルアミン、トリエチルアミンなどの3級アミン類;ジメチルエタノールアミン、メチルジエタノールアミン、トリエタノールアミンなどのアルコールアミン類;またはテトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシドなどの4級アンモニウム塩の水溶液などを使用することができる。この時、前記現像液は、アルカリ性化合物を0.1〜10重量%の濃度で溶解して使用され、メタノール、エタノールなどのような水溶性有機溶媒および界面活性剤を適正量添加することもできる。   The developer is preferably an alkaline aqueous solution, specifically, inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide and sodium carbonate; primary amines such as ethylamine and n-propylamine; diethylamine, n- Secondary amines such as propylamine; tertiary amines such as trimethylamine, methyldiethylamine, dimethylethylamine, and triethylamine; alcohol amines such as dimethylethanolamine, methyldiethanolamine, and triethanolamine; or tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium An aqueous solution of a quaternary ammonium salt such as hydroxide can be used. At this time, the developer is used by dissolving an alkaline compound at a concentration of 0.1 to 10% by weight, and an appropriate amount of a water-soluble organic solvent such as methanol or ethanol and a surfactant can be added. .

また、このような現像液で現像した後、超純水で30〜90秒間洗浄して不必要な部分を除去し、乾燥して、パターンを形成し、前記形成されたパターンに紫外線などの光を照射した後、パターンをオーブンなどの加熱装置によって150〜250℃の温度で30〜90分間加熱処理して最終パターンを得ることができる。   In addition, after developing with such a developer, the substrate is washed with ultrapure water for 30 to 90 seconds to remove unnecessary portions, dried, and a pattern is formed. Then, the pattern can be heat-treated at a temperature of 150 to 250 ° C. for 30 to 90 minutes with a heating device such as an oven to obtain a final pattern.

本発明による感光性樹脂組成物は感度、絶縁性、耐化学性などのいろいろな性能が優れると共に、現像後平坦性が優れており、特に透過度及び貯蔵安定性を顕著に向上させてLCD製造工程の層間絶縁膜に使用することにおいて信頼度を得ることができるだけでなく、同時に、前記感光性樹脂組成物を利用した本発明のLCD基板のパターン形成方法はフォト工程後LCD製造工程に適用される層間絶縁膜の優れたパターンを形成することができるという長所がある。   The photosensitive resin composition according to the present invention has various performances such as sensitivity, insulation, and chemical resistance, and also has excellent post-development flatness, particularly LCD production with significantly improved transparency and storage stability. In addition to being able to obtain reliability in the use of an interlayer insulating film in the process, the pattern forming method of the LCD substrate of the present invention using the photosensitive resin composition is applied to the LCD manufacturing process after the photo process. There is an advantage that an excellent pattern of the interlayer insulating film can be formed.

以下、本発明の理解のために好ましい実施例を提示するが、下記の実施例は本発明を例示するものに過ぎず、本発明の範囲が下記の実施例に限定されるわけではない。   Hereinafter, preferred examples will be presented for the understanding of the present invention. However, the following examples are merely illustrative of the present invention, and the scope of the present invention is not limited to the following examples.

実施例1
(アクリル系共重合体製造)
冷却管と撹拌機を備えたフラスコに2,2'−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)10重量部、テトラヒドロキシフラン500重量部、メタクリル酸25重量部、下記の化学式(1a)
Example 1
(Acrylic copolymer production)
In a flask equipped with a condenser and a stirrer, 10 parts by weight of 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile), 500 parts by weight of tetrahydroxyfuran, 25 parts by weight of methacrylic acid, the following chemical formula (1a)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のメチルグリシジルメタクリレート25重量部、スチレン15重量部、ブチルメタクリレート15重量部、およびジシクロペンテニルメタクリレート20重量部を入れ、窒素置換した後、緩慢に攪拌した。前記反応溶液を62℃まで昇温させて、5時間の間にこの温度を維持しながら、アクリル系共重合体を含む重合体溶液を製造した。 25 parts by weight of methyl glycidyl methacrylate, 15 parts by weight of styrene, 15 parts by weight of butyl methacrylate, and 20 parts by weight of dicyclopentenyl methacrylate were substituted with nitrogen, and then gently stirred. The reaction solution was heated to 62 ° C., and a polymer solution containing an acrylic copolymer was produced while maintaining this temperature for 5 hours.

前記アクリル系共重合体を含む重合体溶液の未反応単量体を除去するために、エーテルを貧溶媒1,000重量部に前記重合体溶液100重量部を沈殿させた。その後、メッシュを利用したフィルタリング工程によって未反応物が溶解された貧溶媒を除去した。その後、30℃以下で真空乾燥して、フィルタリング工程後にも残っている未反応単量体が含まれている溶媒を完全に除去して、重量平均分子量が10,000であるアクリル系共重合体を製造した。この時、重量平均分子量はGPCを用いて測定したポリスチレン換算平均分子量である。   In order to remove the unreacted monomer in the polymer solution containing the acrylic copolymer, 100 parts by weight of the polymer solution was precipitated in 1,000 parts by weight of ether as a poor solvent. Then, the poor solvent in which the unreacted substance was dissolved was removed by a filtering process using a mesh. Thereafter, the acrylic copolymer having a weight average molecular weight of 10,000 is vacuum-dried at 30 ° C. or lower to completely remove the solvent containing unreacted monomers remaining after the filtering step. Manufactured. At this time, the weight average molecular weight is an average molecular weight in terms of polystyrene measured using GPC.

(1,2−キノンジアジド化合物製造)
4,4'−[1−[4−[1−[4−ヒドロキシフェニル]−1−メチルエチル]フェニル]エチリデン]ビスフェノール1モルと、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸[クロライド]2モルとを縮合反応させて、4,4'−[1−[4−[1−[4−ヒドロキシフェニル]−1−メチルエチル]フェニル]エチリデン]ビスフェノール1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エステルを製造した。
(Production of 1,2-quinonediazide compound)
1,4 ′-[1- [4- [1- [4-Hydroxyphenyl] -1-methylethyl] phenyl] ethylidene] bisphenol 1 mole and 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonic acid [chloride] 2 4,4 ′-[1- [4- [1- [4-hydroxyphenyl] -1-methylethyl] phenyl] ethylidene] bisphenol 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonic acid Esters were prepared.

(感光性樹脂組成物製造)
前記製造したアクリル系共重合体100重量部と前記製造した4,4'−[1−[4−[1−[4−ヒドロキシフェニル]−1−メチルエチル]フェニル]エチリデン]ビスフェノール1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エステル25重量部とを混合した。その後、前記混合物の固形分含量が20重量部になるようにジプロピレングリコールジメチルエーテルで溶解させた後、0.2μmのミリポアピルトで濾過して感光性樹脂組成物を製造した。
(Photosensitive resin composition production)
100 parts by weight of the prepared acrylic copolymer and the prepared 4,4 ′-[1- [4- [1- [4-hydroxyphenyl] -1-methylethyl] phenyl] ethylidene] bisphenol 1,2- 25 parts by weight of naphthoquinonediazide-5-sulfonic acid ester was mixed. Thereafter, the mixture was dissolved in dipropylene glycol dimethyl ether so that the solid content of the mixture was 20 parts by weight, and then filtered through a 0.2 μm Millipore pill to produce a photosensitive resin composition.

実施例2
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式1aのメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、下記の化学式(2a)
Example 2
In Example 1, instead of the methyl glycidyl methacrylate represented by the chemical formula 1a as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer, the following chemical formula (2a)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のエポキシ系メタクリレートを使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。 A photosensitive resin composition was produced in the same manner as in Example 1 except that the epoxy methacrylate was used.

実施例3
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式1aのメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、下記の化学式(3a)
Example 3
In Example 1, instead of the methyl glycidyl methacrylate represented by the chemical formula 1a as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer, the following chemical formula (3a)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のエポキシ系メタクリレートを使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。 A photosensitive resin composition was produced in the same manner as in Example 1 except that the epoxy methacrylate was used.

実施例4
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式1aのメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、下記の化学式(4a)
Example 4
In Example 1, instead of the methyl glycidyl methacrylate of Formula 1a as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer, the following Formula (4a)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のエポキシ系メタクリレートを使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。 A photosensitive resin composition was produced in the same manner as in Example 1 except that the epoxy methacrylate was used.

実施例5
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式1aのメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、下記の化学式(5a)
Example 5
In Example 1, instead of the methyl glycidyl methacrylate of Formula 1a as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer, the following Formula (5a)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のエポキシ系メタクリレートを使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。   A photosensitive resin composition was produced in the same manner as in Example 1 except that the epoxy methacrylate was used.

実施例6
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式1aのメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、下記の化学式(6a)
Example 6
In Example 1, instead of the methyl glycidyl methacrylate represented by the chemical formula 1a as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer, the following chemical formula (6a)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のエポキシ系メタクリレートを使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。 A photosensitive resin composition was produced in the same manner as in Example 1 except that the epoxy methacrylate was used.

実施例7
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式1aのメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、下記の化学式(7a)
Example 7
In Example 1, instead of the methyl glycidyl methacrylate represented by the chemical formula 1a as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer, the following chemical formula (7a)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のエポキシ系メタクリレートを使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。 A photosensitive resin composition was produced in the same manner as in Example 1 except that the epoxy methacrylate was used.

実施例8
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式1aのメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、下記の化学式(8a)
Example 8
In Example 1, instead of the methyl glycidyl methacrylate represented by the chemical formula 1a as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer, the following chemical formula (8a)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のエポキシ系ビニル化合物を使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。 A photosensitive resin composition was produced in the same manner as in Example 1 except that the epoxy vinyl compound was used.

比較例1
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式(1a)のメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、グリシジルメタクリレートを使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。
Comparative Example 1
In Example 1, the same method as in Example 1 was used except that glycidyl methacrylate was used instead of methyl glycidyl methacrylate of the chemical formula (1a) as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer. Thus, a photosensitive resin composition was produced.

比較例2
前記実施例1において、アクリル系共重合体重合時に単量体として前記化学式1aのメチルグリシジルメタクリレートの代わりに、下記の化学式(10)
Comparative Example 2
In Example 1, instead of the methyl glycidyl methacrylate represented by the chemical formula 1a as a monomer during the polymerization of the acrylic copolymer, the following chemical formula (10)

Figure 2006243726
Figure 2006243726

のエポキシ系ビニル化合物を使用したことを除いては前記実施例1と同様な方法で実施して感光性樹脂組成物を製造した。
前記実施例1〜8および比較例1〜2で製造された感光性樹脂組成物を利用して下記のような方法で物性を評価した後、その結果を下記表1に示す。
A photosensitive resin composition was produced in the same manner as in Example 1 except that the epoxy vinyl compound was used.
The physical properties were evaluated by the following methods using the photosensitive resin compositions produced in Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 and 2, and the results are shown in Table 1 below.

イ)現像後平坦度−ガラス(glass)基板上にスピンコーターを用いて前記実施例1〜8および比較例1〜2で製造した感光性樹脂組成物をそれぞれ塗布した後、90℃で2分間ホットプレート上でプリペークして、厚さが3.0μmである膜を形成した。その後、前記形成された膜の現像後の平坦度(uniformity)を測定するためにエリプソメータ(Elipsometer)を利用した。この時、全体基板基準に平坦度が95%を越える場合を○、90〜95%である場合を△、90%未満である場合を×で示した。   B) Flatness after development-After applying the photosensitive resin compositions prepared in Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 and 2 on a glass substrate using a spin coater, respectively, at 90 ° C. for 2 minutes. A film having a thickness of 3.0 μm was formed by pre-pacing on a hot plate. Thereafter, an ellipsometer was used to measure the uniformity of the formed film after development. At this time, the case where the flatness exceeds 95% with respect to the entire substrate is indicated by ◯, the case where it is 90 to 95% is indicated by Δ, and the case where it is less than 90% is indicated by ×.

ロ)感度−前記イ)で形成した膜に所定のパターンマスク(pattern mask)を用いて、435nmでの強度が20mW/cm2である紫外線を10μmラインアンドスペース(Line & Space)1:1CD基準ドース(Dose)量を照射した後、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド2.38重量%の水溶液で23℃で1分間現像した後、超純水で1分間洗浄した。その後、前記現像されたパターンに435nmでの強度が20mW/cm2である紫外線を500mJ/cm2で照射し、オーブンの中で230℃で60分間加熱して硬化してパターン膜を得た。 B) Sensitivity-Using a predetermined pattern mask on the film formed in the above a), ultraviolet light having an intensity at 435 nm of 20 mW / cm 2 is 10 μm line and space (Line & Space) 1: 1 CD standard. After irradiating a dose amount, it was developed with an aqueous solution of 2.38% by weight of tetramethylammonium hydroxide at 23 ° C. for 1 minute, and then washed with ultrapure water for 1 minute. Thereafter, the developed pattern was irradiated with 500 mJ / cm 2 of ultraviolet light having an intensity at 435 nm of 20 mW / cm 2 and heated in an oven at 230 ° C. for 60 minutes to obtain a pattern film.

ハ)解像度−前記ロ)の感度測定時に形成されたパターン膜の最小大きさで測定した。
ニ)耐熱性−前記ロ)の感度測定時に形成されたパターン膜の上、下および左、右の幅を測定した。この時、角の変化率がミッドベーク前基準、0〜20%である場合を○、20〜40%である場合を△、40%を越える場合を×で示した。
C) Resolution—Measured with the minimum size of the pattern film formed during the sensitivity measurement in b).
D) Heat resistance—The widths of the upper, lower, left and right sides of the pattern film formed during the sensitivity measurement in the above b) were measured. At this time, the case where the change rate of the angle is 0 to 20% based on the pre-bake basis is indicated by ○, the case where it is 20 to 40% is indicated by Δ, and the case where it exceeds 40% is indicated by ×.

ホ)透過度−分光光度計を用いて前記ロ)の感度測定時に形成されたパターン膜の400nmの透過率を測定した。
へ)常温貯蔵安定性−23℃の40%湿度を維持するクリーンルームに1日から2週まで1日単位で放置した後、感度(mJ/sqcm)変化をチェックした。この時、2週間の変化率が10%未満である場合を○、10〜20%である場合を△、20%を越える場合を×で示した。
E) Transmittance—The transmittance at 400 nm of the pattern film formed at the time of measuring the sensitivity in b) was measured using a spectrophotometer.
F) Storage stability at normal temperature After leaving in a clean room maintaining 40% humidity at 23 ° C. for 1 day to 2 weeks, the sensitivity (mJ / sqcm) change was checked. At this time, the case where the rate of change for two weeks was less than 10% was indicated by ◯, the case where it was 10-20% was indicated by Δ, and the case where it exceeded 20% was indicated by ×.

Figure 2006243726
Figure 2006243726

上記表1から、本発明によって実施例1〜8で製造した感光性樹脂組成物は現像後平坦度が優れており、特に感光性樹脂組成物を製造することにより透過度と貯蔵安定性が全て比較例1〜2と比較して非常に優れていて、LCD工程の層間絶縁膜に適用することにおいてより優れた信頼度を得ることができた。これに反し、比較例1〜2の場合には透過度が不良であり、貯蔵安定性が良くなくて層間絶縁膜に適用することに困難がある。

From Table 1 above, the photosensitive resin compositions produced in Examples 1 to 8 according to the present invention have excellent post-development flatness, and in particular, the transparency and storage stability are all achieved by producing the photosensitive resin composition. Compared with Comparative Examples 1 and 2, it was very excellent, and superior reliability could be obtained when applied to the interlayer insulating film in the LCD process. On the other hand, in the case of Comparative Examples 1 and 2, the transmittance is poor, the storage stability is not good, and it is difficult to apply to the interlayer insulating film.

Claims (10)

a)i)不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物、またはこれらの混合物、
ii)下記の化学式(1)〜(8)
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
(式中、R1は水素原子またはメチル基であり、
2は結合手又は2価の炭素数1〜10の炭化水素基、
3、R4、R5、R6およびR7は、それぞれ同一又は異なって、水素原子、炭素数1〜10の炭化水素基を示す)
からなる群から選択される少なくとも1種のエポキシ基含有不飽和化合物、および
iii)オレフィン系不飽和化合物
を共重合させた後、未反応単量体を除去して得られたアクリル系共重合体;
b)1,2−キノンジアジド化合物;および
c)溶媒
を含む感光性樹脂組成物。
a) i) an unsaturated carboxylic acid, an unsaturated carboxylic acid anhydride, or a mixture thereof;
ii) The following chemical formulas (1) to (8)
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
Figure 2006243726
(Wherein R 1 is a hydrogen atom or a methyl group,
R 2 is a bond or a divalent hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms,
R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 are the same or different and each represents a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms)
An acrylic copolymer obtained by copolymerizing at least one epoxy group-containing unsaturated compound selected from the group consisting of: iii) an olefinically unsaturated compound and then removing unreacted monomers ;
A photosensitive resin composition comprising b) a 1,2-quinonediazide compound; and c) a solvent.
a)i)不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物、またはこれらの混合物5〜50重量%;
ii)前記化学式(1)〜(8)の化合物から選択される少なくとも1種のエポキシ基含有不飽和化合物5〜70重量%;および
iii)オレフィン系不飽和化合物10〜70重量%
を共重合させた後、未反応単量体を除去して得られたアクリル系共重合体100重量部;
b)1,2−キノンジアジド化合物5〜50重量部;および
c)溶媒を感光性樹脂組成物内の固形分の含量が10〜50重量%になるように含むことを特徴とする請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
a) i) 5-50% by weight of an unsaturated carboxylic acid, an unsaturated carboxylic acid anhydride, or a mixture thereof;
ii) at least one epoxy group-containing unsaturated compound selected from the compounds represented by the chemical formulas (1) to (8), 5 to 70% by weight; and iii) 10 to 70% by weight of the olefinically unsaturated compound
And then 100 parts by weight of an acrylic copolymer obtained by removing unreacted monomers;
and b) a 1,2-quinonediazide compound in an amount of 5 to 50 parts by weight; and c) a solvent containing 10 to 50% by weight of a solid content in the photosensitive resin composition. The photosensitive resin composition as described.
前記a)i)不飽和カルボン酸、不飽和カルボン酸無水物またはこれらの混合物が、アクリル酸、メタクリル酸、マレイン酸、フマル酸、シトラコン酸、メタコン酸、イタコン酸、およびこれらの不飽和ジカルボン酸の無水物からなる群より選択される1種以上の化合物である請求項1又は2に記載の感光性樹脂組成物。   A) i) unsaturated carboxylic acid, unsaturated carboxylic acid anhydride or a mixture thereof is acrylic acid, methacrylic acid, maleic acid, fumaric acid, citraconic acid, methaconic acid, itaconic acid, and unsaturated dicarboxylic acids thereof. The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the photosensitive resin composition is one or more compounds selected from the group consisting of anhydrides. 前記a)iii)のオレフィン系不飽和化合物が、メチルメタクリレート、エチルメタクリレート、n−ブチルメタクリレート、sec−ブチルメタクリレート、tert−ブチルメタクリレート、メチルアクリレート、イソプロピルアクリレート、シクロヘキシルメタクリレート、2−メチルシクロヘキシルメタクリレート、ジシクロペンテニルアクリレート、ジシクロペンタニルアクリレート、ジシクロペンテニルメタクリレート、ジシクロペンタニルメタクリレート、1−アダマンチルアクリレート、1−アダマンチルメタクリレート、ジシクロペンタニルオキシエチルメタクリレート、イソボロニルメタクリレート、シクロヘキシルアクリレート、2−メチルシクロヘキシルアクリレート、ジシクロペンタニルオキシエチルアクリレート、イソボロニルアクリレート、フェニルメタクリレート、フェニルアクリレート、ベンジルアクリレート、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、スチレン、σ−メチルスチレン、m−メチルスチレン、p−メチルスチレン、ビニルトルエン、p−メトキシスチレン、1,3−ブタジエン、イソプレン、および2,3−ジメチル1,3−ブタジエンからなる群より選択される1種以上の化合物である請求項1〜3のいずれか1つに記載の感光性樹脂組成物。   The olefinic unsaturated compound of a) iii) is methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-butyl methacrylate, sec-butyl methacrylate, tert-butyl methacrylate, methyl acrylate, isopropyl acrylate, cyclohexyl methacrylate, 2-methylcyclohexyl methacrylate, di- Cyclopentenyl acrylate, dicyclopentanyl acrylate, dicyclopentenyl methacrylate, dicyclopentanyl methacrylate, 1-adamantyl acrylate, 1-adamantyl methacrylate, dicyclopentanyloxyethyl methacrylate, isobornyl methacrylate, cyclohexyl acrylate, 2-methyl Cyclohexyl acrylate, dicyclopentanyloxyethyl acrylate , Isobornyl acrylate, phenyl methacrylate, phenyl acrylate, benzyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, styrene, σ-methyl styrene, m-methyl styrene, p-methyl styrene, vinyl toluene, p-methoxy styrene, 1,3 The photosensitive resin composition according to claim 1, which is at least one compound selected from the group consisting of butadiene, isoprene, and 2,3-dimethyl 1,3-butadiene. 前記a)のアクリル系共重合体のポリスチレン換算重量平均分子量(Mw)が5,000〜30,000である請求項1〜4のいずれか1つに記載の感光性樹脂組成物。   The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the acrylic copolymer of a) has a polystyrene equivalent weight average molecular weight (Mw) of 5,000 to 30,000. 前記b)の1,2−キノンジアジド化合物が、1,2−キノンジアジド4−スルホン酸エステル、1,2−キノンジアジド5−スルホン酸エステル、および1,2−キノンジアジド6−スルホン酸エステルからなる群より選択される1種以上のかごウ物である請求項1〜5のいずれか1つに記載の感光性樹脂組成物。   The 1,2-quinonediazide compound of b) is selected from the group consisting of 1,2-quinonediazide-4-sulfonic acid ester, 1,2-quinonediazide-5-sulfonic acid ester, and 1,2-quinonediazide-6-sulfonic acid ester The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the photosensitive resin composition is one or more kinds of baskets. 前記c)の溶媒が、メタノール、エタノール、ベンジルアルコール、ヘキシルアルコールなどのアルコール類;エチレングリコールアルキルエーテルプロピオネート類;エチレングリコールモノアルキルエーテル類;ジエチレングリコールアルキルエーテル類;プロピレングリコールアルキルエーテルアセテート類;プロピレングリコールアルキルエーテルプロピオネート類;プロピレングリコールモノアルキルエーテル類;ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールアルキルエーテル類;ブチレングリコールモノメチルエーテル類;およびジブチレングリコールアルキルエーテル類からなる群より選択される1種以上の化合物である請求項1〜6のいずれか1つに記載の感光性樹脂組成物。   The solvent of c) is an alcohol such as methanol, ethanol, benzyl alcohol, hexyl alcohol; ethylene glycol alkyl ether propionates; ethylene glycol monoalkyl ethers; diethylene glycol alkyl ethers; propylene glycol alkyl ether acetates; One or more selected from the group consisting of glycol alkyl ether propionates; propylene glycol monoalkyl ethers; dipropylene glycol dimethyl ether, dipropylene glycol alkyl ethers; butylene glycol monomethyl ethers; and dibutylene glycol alkyl ethers The photosensitive resin composition as described in any one of Claims 1-6 which is a compound of these. 前記感光性樹脂組成物が、前記アクリル系共重合体100重量部に対してd)エポキシ樹脂0.1〜30重量部、e)接着剤0.1〜20重量部、f)アクリル化合物0.1〜30重量部、およびg)界面活性剤0.0001〜2重量部からなる群より選択される1種以上の添加剤をさらに含む請求項1〜7のいずれか1つに記載の感光性樹脂組成物。   The photosensitive resin composition comprises d) 0.1 to 30 parts by weight of an epoxy resin, e) 0.1 to 20 parts by weight of an adhesive, and f) an acrylic compound based on 100 parts by weight of the acrylic copolymer. The photosensitive property according to any one of claims 1 to 7, further comprising one or more additives selected from the group consisting of 1 to 30 parts by weight and g) a surfactant of 0.0001 to 2 parts by weight. Resin composition. 請求項1〜8のうちのいずれか1つに記載の感光性樹脂組成物の硬化体を含むLCD基板。   The LCD substrate containing the hardening body of the photosensitive resin composition as described in any one of Claims 1-8. 請求項1〜8のうちのいずれか1つに記載の感光性樹脂組成物を利用したLCD基板のパターン形成方法。

The pattern formation method of the LCD substrate using the photosensitive resin composition as described in any one of Claims 1-8.

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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008133373A (en) * 2006-11-28 2008-06-12 Daicel Chem Ind Ltd Copolymer containing structural unit having 3,4-epoxytricyclo[5.2.1.02,6]decane ring and method for producing the copolymer
JP2008280455A (en) * 2007-05-11 2008-11-20 Gun Ei Chem Ind Co Ltd Polymer composition resin and radiosensitive resin composition by using the same
JP2009036954A (en) * 2007-08-01 2009-02-19 Sumitomo Chemical Co Ltd Photosensitive resin composition
JP2009221275A (en) * 2008-03-14 2009-10-01 Daicel Chem Ind Ltd Photocurable and/or thermosetting copolymer, curable resin composition and cured product
JP2013249467A (en) * 2012-05-31 2013-12-12 Lg Chem Ltd New polymer and coloring composition including the same
JP2014167560A (en) * 2013-02-28 2014-09-11 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Photosensitive resin composition for interlayer insulating film
JP2017214562A (en) * 2016-05-27 2017-12-07 住友化学株式会社 Resin composition and cured film
CN110885401A (en) * 2018-09-10 2020-03-17 株式会社大赛璐 Copolymer, curable resin composition containing same, and cured product thereof
WO2021182232A1 (en) * 2020-03-09 2021-09-16 株式会社ダイセル Photosensitive resin composition, cured product, color filter, display device member and display device

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101373541B1 (en) * 2007-06-01 2014-03-12 주식회사 동진쎄미켐 Photosensitive resin composition
KR102025099B1 (en) * 2011-12-13 2019-09-25 주식회사 동진쎄미켐 Photoresist composition
KR102235159B1 (en) * 2014-04-15 2021-04-05 롬엔드하스전자재료코리아유한회사 Photosensitive resin composition, and insulating film and electric device using same

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05165214A (en) * 1991-12-11 1993-07-02 Japan Synthetic Rubber Co Ltd Radiation sensitive resin composition
JP2000250208A (en) * 1999-03-03 2000-09-14 Jsr Corp Radiation sensitive resin composition
JP2000327877A (en) * 1999-05-17 2000-11-28 Jsr Corp Radiation-sensitive resin composition, use thereof for interlayer insulation film and microlens, and interlayer insulation film and microlens
JP2000347397A (en) * 1999-06-04 2000-12-15 Jsr Corp Radiation sensitive resin composition and its use for interlayer dielectric
JP2003076012A (en) * 2001-09-07 2003-03-14 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Photosensitive resin composition and pattern forming method using the same
WO2003036388A1 (en) * 2001-10-24 2003-05-01 Dongjin Semichem Co., Ltd. Photosnesitive resin composition comprising quinonediazide sulfate ester compound
JP2005500573A (en) * 2001-08-20 2005-01-06 ドウジン セミケム カンパニー リミテッド Photosensitive resin composition for photoresist
JP2005049691A (en) * 2003-07-30 2005-02-24 Jsr Corp Radiation-sensitive resin composition, interlayer insulating film, microlens and their manufacturing method

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0388858B1 (en) * 1989-03-20 1993-06-16 Kansai Paint Co., Ltd. Heat-curable resinous coating composition
US5362597A (en) * 1991-05-30 1994-11-08 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Radiation-sensitive resin composition comprising an epoxy-containing alkali-soluble resin and a naphthoquinone diazide sulfonic acid ester
JP3055495B2 (en) * 1997-06-23 2000-06-26 日本電気株式会社 Photosensitive resin composition and pattern forming method using the same
AU2001286219A1 (en) * 2000-09-14 2002-03-26 Goo Chemical Co., Ltd. Ultraviolet-curing resin composition and photo solder resist ink containing the same
KR100538655B1 (en) * 2001-07-19 2005-12-23 주식회사 동진쎄미켐 Photosensitive resin composition
JP2004272182A (en) * 2002-04-24 2004-09-30 Mitsubishi Chemicals Corp Method for forming image

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05165214A (en) * 1991-12-11 1993-07-02 Japan Synthetic Rubber Co Ltd Radiation sensitive resin composition
JP2000250208A (en) * 1999-03-03 2000-09-14 Jsr Corp Radiation sensitive resin composition
JP2000327877A (en) * 1999-05-17 2000-11-28 Jsr Corp Radiation-sensitive resin composition, use thereof for interlayer insulation film and microlens, and interlayer insulation film and microlens
JP2000347397A (en) * 1999-06-04 2000-12-15 Jsr Corp Radiation sensitive resin composition and its use for interlayer dielectric
JP2005500573A (en) * 2001-08-20 2005-01-06 ドウジン セミケム カンパニー リミテッド Photosensitive resin composition for photoresist
JP2003076012A (en) * 2001-09-07 2003-03-14 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Photosensitive resin composition and pattern forming method using the same
WO2003036388A1 (en) * 2001-10-24 2003-05-01 Dongjin Semichem Co., Ltd. Photosnesitive resin composition comprising quinonediazide sulfate ester compound
JP2005049691A (en) * 2003-07-30 2005-02-24 Jsr Corp Radiation-sensitive resin composition, interlayer insulating film, microlens and their manufacturing method

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008133373A (en) * 2006-11-28 2008-06-12 Daicel Chem Ind Ltd Copolymer containing structural unit having 3,4-epoxytricyclo[5.2.1.02,6]decane ring and method for producing the copolymer
JP2008280455A (en) * 2007-05-11 2008-11-20 Gun Ei Chem Ind Co Ltd Polymer composition resin and radiosensitive resin composition by using the same
JP2009036954A (en) * 2007-08-01 2009-02-19 Sumitomo Chemical Co Ltd Photosensitive resin composition
JP2009221275A (en) * 2008-03-14 2009-10-01 Daicel Chem Ind Ltd Photocurable and/or thermosetting copolymer, curable resin composition and cured product
JP2013249467A (en) * 2012-05-31 2013-12-12 Lg Chem Ltd New polymer and coloring composition including the same
JP2014167560A (en) * 2013-02-28 2014-09-11 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Photosensitive resin composition for interlayer insulating film
JP2017214562A (en) * 2016-05-27 2017-12-07 住友化学株式会社 Resin composition and cured film
JP2021073366A (en) * 2016-05-27 2021-05-13 住友化学株式会社 Resin composition and cured film
CN110885401A (en) * 2018-09-10 2020-03-17 株式会社大赛璐 Copolymer, curable resin composition containing same, and cured product thereof
CN110885401B (en) * 2018-09-10 2023-06-13 株式会社大赛璐 Copolymer, curable resin composition containing same, and cured product thereof
WO2021182232A1 (en) * 2020-03-09 2021-09-16 株式会社ダイセル Photosensitive resin composition, cured product, color filter, display device member and display device

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