JP2006237639A - Jig for surface treatment - Google Patents

Jig for surface treatment Download PDF

Info

Publication number
JP2006237639A
JP2006237639A JP2006124478A JP2006124478A JP2006237639A JP 2006237639 A JP2006237639 A JP 2006237639A JP 2006124478 A JP2006124478 A JP 2006124478A JP 2006124478 A JP2006124478 A JP 2006124478A JP 2006237639 A JP2006237639 A JP 2006237639A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface treatment
substrate
treatment jig
jig
pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006124478A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4353201B2 (en
Inventor
Kazufumi Otani
和史 大谷
Katsuharu Arakawa
克治 荒川
Ryuichi Kurosawa
龍一 黒沢
富美男 ▲高▼城
Fumio Takagi
Shuji Koeda
周史 小枝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2006124478A priority Critical patent/JP4353201B2/en
Publication of JP2006237639A publication Critical patent/JP2006237639A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4353201B2 publication Critical patent/JP4353201B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Weting (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a jig for surface treatment capable of performing surface treatment on a substrate without uneveness. <P>SOLUTION: This surface treatment jig 4 absorbs and holds substrates to expose the rear surface (one side surface) of substrates 20, 30 and the whole part of 201 and 301 to the outside and to protect the front surface (the other side surface) 202 and 302 of the substrates 20, 30 from the outside. This surface treatment jig 4 is wholly composed of elastic material, and multiple through-holes 42, that pass through in the direction of thickness and multiple recesses 43 opened on an upper-side and lower-side abutment surfaces 41a, 41b, are formed. The through-hole 42 and recess 43 form a closed space on the front surface 202 of the substrate 20 and the rear surface 302 of the substrate 30. Then, after this closed space has been reduced, the surface treatment jig 4 is removed under atmospheric pressure. As a result, the surface treatment jig 4 sucks and holds the substrates 20, 30, due to the difference (pressure difference) between the pressure in the through-hole 42 and the recess 43 and the atmospheric pressure. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、表面処理用治具に関するものである。   The present invention relates to a surface treatment jig.

近年、フォトリソグラフィ技術等の加工により、半導体素子や水晶発振器等を作製する、いわゆるマイクロマシニング技術が盛んに行われている。
このマイクロマシニング技術においては、基板の一方の面に加工を行った後、加工を施した反対側の面にエッチング等を施すことにより、基板を薄くしたり、孔を空けるといった基板自体の加工が行われる。
In recent years, so-called micromachining technology for producing semiconductor elements, crystal oscillators, and the like by processing such as photolithography technology has been actively performed.
In this micromachining technology, after processing one side of the substrate, etching the other side of the substrate, etc., the substrate itself can be processed such as making the substrate thinner or making holes. Done.

ここで、このような基板の加工(エッチング)に際しては、加工を施した基板の一方の面(既加工面)をエッチング液から保護する必要がある。そこで、既加工面を保護しながら、反対側の面(エッチング面)にのみエッチングが行えるようにしたエッチング装置が開発されている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載のエッチング装置は、支持治具と、この支持治具に対して着脱自在に装着される押え治具とで構成されている。そして、このエッチング装置では、支持治具に基板を載置した状態で、支持治具に押え治具を装着すると、押え治具が基板の周囲を押さえ付けることにより、基板がエッチング装置に固定される。
Here, when processing (etching) such a substrate, it is necessary to protect one surface (an already processed surface) of the processed substrate from an etching solution. Therefore, an etching apparatus has been developed that can etch only the opposite surface (etching surface) while protecting the processed surface (see, for example, Patent Document 1).
The etching apparatus described in Patent Document 1 includes a support jig and a pressing jig that is detachably attached to the support jig. In this etching apparatus, when the holding jig is mounted on the supporting jig while the substrate is placed on the supporting jig, the pressing jig presses the periphery of the substrate, thereby fixing the substrate to the etching apparatus. The

また、所定の位置には、Oリングが配置されており、基板をエッチング装置に固定した状態では、Oリングがエッチング面に密着することにより、エッチング液の被加工面への回り込みが防止されている。
この状態で、基板をエッチング装置毎、エッチング液に浸漬することにより、エッチング面にのみエッチングを施すことができる。
In addition, an O-ring is disposed at a predetermined position, and in a state where the substrate is fixed to the etching apparatus, the O-ring is brought into close contact with the etching surface, so that the etching solution is prevented from entering the processing surface. Yes.
In this state, only the etching surface can be etched by immersing the substrate in an etching solution for each etching apparatus.

しかしながら、このようなエッチング装置では、押え治具により押し付けられているエッチング面の外周部が、エッチング液に曝されず、未処理状態となる。
このため、押え治具に当接する部分(未処理部分)と、当接しない部分(処理部分)との境界に段差が生じ、この段差により後工程で行う各種処理を、基板の各領域で均一に行うことが困難となるという問題がある。
However, in such an etching apparatus, the outer peripheral portion of the etching surface pressed by the pressing jig is not exposed to the etching solution and is in an unprocessed state.
For this reason, a step is formed at the boundary between the portion that contacts the holding jig (unprocessed portion) and the portion that does not contact (processed portion), and this step allows various processes performed in the subsequent process to be performed uniformly in each region of the substrate. There is a problem that it is difficult to perform.

特開平7−111257号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-111257

本発明の目的は、基板にムラ無く表面処理を施すことができる表面処理用治具を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a surface treatment jig capable of performing surface treatment on a substrate without unevenness.

このような目的は、下記の本発明により達成される。
本発明の表面処理用治具は、基板の一方の面に表面処理を施す際に、前記基板を吸着・保持する表面処理用治具であって、
前記基板の他方の面が当接する基板当接面と、前記基板当接面側に開放する凹部とを備え、弾性材料で構成された弾性板を有し、
前記基板を前記凹部を覆いかつ前記弾性板に接触させた状態で、減圧室内に搬入し、前記減圧室内を減圧することにより前記凹部内を減圧した後、前記減圧室内を大気圧に復帰させたとき、前記凹部内の圧力と大気圧との差により前記基板が前記基板当接面に向かって押圧され、この押圧力により前記基板と前記弾性板とが密着して前記凹部の気密性が保持され、これにより、前記基板を吸着・保持するよう構成されていることを特徴とする。
これにより、基板にムラ無く表面処理を施すことができる。
Such an object is achieved by the present invention described below.
The surface treatment jig of the present invention is a surface treatment jig for adsorbing and holding the substrate when performing surface treatment on one surface of the substrate,
A substrate abutting surface with which the other surface of the substrate abuts, and a concave portion opened to the substrate abutting surface side, and having an elastic plate made of an elastic material,
The substrate is carried into the decompression chamber while covering the recess and in contact with the elastic plate, and the decompression chamber is decompressed to decompress the interior of the decompression chamber, and then the decompression chamber is returned to atmospheric pressure. When the substrate is pressed toward the substrate contact surface due to the difference between the pressure in the recess and the atmospheric pressure, the substrate and the elastic plate are brought into close contact with each other by the pressing force, so that the airtightness of the recess is maintained. Thus, the substrate is configured to be sucked and held.
Thereby, the surface treatment can be performed on the substrate without unevenness.

本発明の表面処理用治具では、前記凹部を複数有することが好ましい。
これにより、基板を表面処理用治具に対して均一に吸着・保持することができる。
本発明の表面処理用治具では、前記弾性板は、その両側の面に、それぞれ、前記基板当接面を有し、前記弾性板の両側で、2つの前記基板を同時に吸着・保持するよう構成されていることが好ましい。
これにより、表面処理に要するコストの削減および時間の短縮を図ることができる。
In the surface treatment jig of the present invention, it is preferable to have a plurality of the concave portions.
Thereby, a board | substrate can be uniformly adsorbed and hold | maintained with respect to the jig for surface treatment.
In the surface treatment jig of the present invention, the elastic plate has the substrate contact surface on both sides thereof, and simultaneously adsorbs and holds the two substrates on both sides of the elastic plate. It is preferable to be configured.
As a result, the cost and time required for the surface treatment can be reduced.

本発明の表面処理用治具では、前記弾性板に前記基板を接触させた状態で、前記凹部と外部とを連通する流路を有さないことが好ましい。
これにより、表面処理として例えばウェットエッチングを行う際には、表面処理用治具を回転しつつ行うことが好ましいが、本発明によれば、凹部内を減圧するための吸引用チューブを表面処理用治具へ接続する必要がなく、表面処理用治具を回転させる際に、吸引用チューブが絡み合うことがなく、取り扱いが容易である。
In the surface treatment jig according to the present invention, it is preferable that the surface plate does not have a flow path that communicates the recess and the outside in a state where the substrate is in contact with the elastic plate.
Thus, for example, when performing wet etching as the surface treatment, it is preferable to rotate the surface treatment jig, but according to the present invention, the suction tube for decompressing the inside of the recess is used for the surface treatment. There is no need to connect to a jig, and when the surface treatment jig is rotated, the suction tube is not entangled and easy to handle.

本発明の表面処理用治具では、硬質材料で構成され、前記弾性板を支持する本体部を有し、前記弾性板の前記本体部と反対側の面で前記基板を吸着・保持することが好ましい。
硬質な本体部を有することにより、基板を表面処理用治具に吸着・保持する際に、表面処理用治具の変形を好適に防止することができる。
本発明の表面処理用治具では、前記本体部は、前記凹部同士を連通する流路を有することが好ましい。
これにより、基板を表面処理用治具により安定的に吸着・保持することができる。
In the jig for surface treatment of the present invention, it is constituted by a hard material, has a main body portion that supports the elastic plate, and adsorbs and holds the substrate on a surface opposite to the main body portion of the elastic plate. preferable.
By having the hard main body, it is possible to suitably prevent deformation of the surface treatment jig when the substrate is sucked and held on the surface treatment jig.
In the surface treatment jig according to the present invention, it is preferable that the main body has a flow path that connects the recesses.
As a result, the substrate can be stably adsorbed and held by the surface treatment jig.

本発明の表面処理用治具では、前記本体部は、前記弾性板に前記基板を接触させた状態で、前記凹部と外部とを連通する流路を有さないことが好ましい。
これにより、表面処理として例えばウェットエッチングを行う際には、表面処理用治具を回転しつつ行うことが好ましいが、本発明によれば、凹部内を減圧するための吸引用チューブを表面処理用治具へ接続する必要がなく、表面処理用治具を回転させる際に、吸引用チューブが絡み合うことがなく、取り扱いが容易である。
In the surface treatment jig according to the present invention, it is preferable that the main body does not have a flow path that communicates the recess and the outside in a state where the substrate is in contact with the elastic plate.
Thus, for example, when performing wet etching as the surface treatment, it is preferable to rotate the surface treatment jig, but according to the present invention, the suction tube for decompressing the inside of the recess is used for the surface treatment. There is no need to connect to a jig, and when the surface treatment jig is rotated, the suction tube is not entangled and easy to handle.

本発明の表面処理用治具では、前記本体部は、前記弾性板に前記基板を接触させた状態で、前記凹部と外部とを連通する流路と、前記基板を吸着・保持する際に、前記流路を気密的に封止する封止部材とを有することが好ましい。
かかる構成の表面処理用治具によれば、封止部材を本体部から取り外すことにより、前記表面処理治具の内圧と外圧とをほぼ一致させることができ、前記基板を表面処理用治具から容易に離脱させることができる。
In the surface treatment jig of the present invention, the main body portion is in a state in which the substrate is brought into contact with the elastic plate, and when the substrate is sucked and held, the flow path communicating the recess and the outside, It is preferable to have a sealing member that hermetically seals the flow path.
According to the surface treatment jig having such a configuration, the internal pressure and the external pressure of the surface treatment jig can be substantially matched by removing the sealing member from the main body, and the substrate is removed from the surface treatment jig. It can be easily detached.

本発明の表面処理用治具は、前記基板に対し、処理液を用いて表面処理を行う際に用いられるものであることが好ましい。
本発明は、各種の表面処理への適用が可能であるが、処理液を用いる表面処理への適用に適する。
本発明の表面処理用治具は、前記基板に対し、ウェットエッチングを行う際に用いられるものであることが好ましい。
本発明は、特に、ウェットエッチングへの適用に適する。
The surface treatment jig of the present invention is preferably used when surface treatment is performed on the substrate using a treatment liquid.
The present invention can be applied to various surface treatments, but is suitable for application to a surface treatment using a treatment liquid.
The surface treatment jig of the present invention is preferably used when wet etching is performed on the substrate.
The present invention is particularly suitable for application to wet etching.

本発明の表面処理用治具では、前記基板に表面処理を施した後、減圧室内に搬入し、該減圧室内の圧力を前記凹部内の圧力と等しいか、または、前記凹部内の圧力より低い圧力となるように減圧することにより前記押圧力が消失し、これにより、前記基板が離脱するよう構成されていることが好ましい。
これにより、基板を表面処理用治具から容易に取り外すことができる。
In the surface treatment jig of the present invention, after the substrate is subjected to surface treatment, the substrate is carried into a decompression chamber, and the pressure in the decompression chamber is equal to or lower than the pressure in the recess. It is preferable that the pressing force disappears when the pressure is reduced to a pressure, and the substrate is thereby detached.
Thereby, a board | substrate can be easily removed from the jig for surface treatment.

本発明の表面処理用治具では、前記減圧室内において、前記基板が前記弾性板から離間するのを補助する離間補助手段を有することが好ましい。
これにより、基板を表面処理用治具からより確実に取り外すことができる。
本発明の表面処理用治具では、前記離間補助手段は、前記基板が前記弾性板から離間する際に、一部が前記基板の他方の面に当接する当接部材と、該当接部材を前記弾性板から離間する方向に変位させる変位手段とを有することが好ましい。
かかる離間補助手段によれば、簡単な構成でありながら、基板を表面処理用治具から確実に取り外すことができる。
In the surface treatment jig according to the present invention, it is preferable that a separation assisting unit assisting the separation of the substrate from the elastic plate is provided in the decompression chamber.
Thereby, a board | substrate can be more reliably removed from the jig for surface treatment.
In the surface treatment jig of the present invention, the separation assisting means includes a contact member that partially contacts the other surface of the substrate and a corresponding contact member when the substrate is separated from the elastic plate. It is preferable to have displacement means for displacing in a direction away from the elastic plate.
According to the separation assisting means, the substrate can be reliably removed from the surface treatment jig with a simple configuration.

本発明の表面処理用治具では、前記当接部材は、円柱状または角柱状をなし、その前記基板の他方の面に当接する端部と反対の端部側を中心として回動可能となっていることが好ましい。
これにより、変位手段の構成の簡略化を図ることができる。
本発明の表面処理用治具では、前記変位手段は、バネ、中空部を有し、前記減圧室内を減圧することにより、前記中空部内の圧力と前記減圧室内の圧力との差により、外部形状が増大する弾性体、梃子と重りとの組み合わせや、モータで構成されていることが好ましい。
これらの変位手段は、極めて構成が簡単であるため、表面処理用治具の部品点数が増大することや、コストが高くなることを防止することができる。
In the surface treatment jig according to the present invention, the contact member has a columnar shape or a prism shape, and is rotatable about an end portion opposite to an end portion in contact with the other surface of the substrate. It is preferable.
Thereby, the structure of a displacement means can be simplified.
In the surface treatment jig according to the present invention, the displacement means includes a spring and a hollow portion, and by reducing the pressure in the decompression chamber, a difference between the pressure in the hollow portion and the pressure in the decompression chamber causes an external shape. It is preferable that it is comprised with the elastic body and the combination of a lever and a weight which increase, and a motor.
Since these displacement means are extremely simple in configuration, it is possible to prevent the number of parts of the surface treatment jig from increasing and the cost from increasing.

以下、本発明の表面処理用治具を添付図面に示す好適実施形態に基づいて詳細に説明する。
本発明において、表面処理が施される基板としては、個別基板とウエハの双方を含むものとする。
これらの基板には、表面処理を施す面(以下、「裏面」と言う。)とは反対側の面(以下、「表面」と言う。)には、半導体素子(能動素子)や透明導電膜等よりなる配線等が形成されていてもよい。
本発明の表面処理用治具は、このような加工が表面に形成された基板の、裏面に表面処理を施す場合に好適に使用される。
以下では、基板の裏面に対して、ウェットエッチングを行う場合を一例に説明する。
Hereinafter, the surface treatment jig of the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the accompanying drawings.
In the present invention, substrates subjected to surface treatment include both individual substrates and wafers.
These substrates have a semiconductor element (active element) or a transparent conductive film on a surface (hereinafter referred to as “front surface”) opposite to a surface to be surface-treated (hereinafter referred to as “back surface”). The wiring etc. which consist of etc. may be formed.
The jig for surface treatment of the present invention is suitably used when surface treatment is performed on the back surface of a substrate on which such processing is formed on the surface.
Hereinafter, a case where wet etching is performed on the back surface of the substrate will be described as an example.

<第1実施形態>
まず、本発明の表面処理用治具の第1実施形態について説明する。
図1は、本発明の表面処理用治具の第1実施形態を示す縦断面図、図2は、図1に示す表面処理用治具の平面図である。
なお、以下の説明では、図1中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
<First Embodiment>
First, a first embodiment of the surface treatment jig of the present invention will be described.
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a first embodiment of the surface treatment jig of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of the surface treatment jig shown in FIG.
In the following description, the upper side in FIG. 1 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.

第1実施形態の表面処理用治具4は、平板状の部材で構成され、その両面に接触部を有し、各面にそれぞれ基板を吸着・保持するものである。
すなわち、図1および図2に示す表面処理用治具4は、基板20、30の裏面(一方の面)201、301全体を外部に露出させ、基板20、30の表面(他方の面)202、302は外部から保護されるように、吸着・保持するものである。
この表面処理用治具4は、保持(固定)する基板20、30の寸法と、平面視でほぼ等しい寸法に設定された基板当接面41a、41bを有する円盤状体(平板状体)で構成されている。
The surface treatment jig 4 according to the first embodiment is composed of a flat plate-like member, has contact portions on both surfaces thereof, and sucks and holds the substrate on each surface.
That is, the surface treatment jig 4 shown in FIGS. 1 and 2 exposes the entire back surfaces (one surface) 201 and 301 of the substrates 20 and 30 to the outside, and the surface (the other surface) 202 of the substrates 20 and 30. , 302 are attracted and held so as to be protected from the outside.
This surface treatment jig 4 is a disk-like body (flat plate-like body) having substrate contact surfaces 41a and 41b set to have substantially the same dimensions as those of the substrates 20 and 30 to be held (fixed) in plan view. It is configured.

本実施形態では、表面処理用治具4のほぼ全体が、弾性材料を主材料として構成されている。すなわち、表面処理用治具4は、弾性板で構成されている。この弾性材料としては、例えば、天然ゴム、ブチルゴム、イソプレンゴム、ブタジエンゴム、スチレン−ブタジエンゴム、シリコーンゴムのような各種ゴム材料や、ポリウレタン系、ポリエステル系、ポリアミド系、オレフィン系、スチレン系等の各種熱可塑性エラストマー等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。
また、この表面処理用治具4には、厚さ方向に貫通する複数の貫通孔(上側の基板当接面41bに開口する凹部と、下側の基板当接面41aに開口する凹部とが連通した形態)42と、上側および下側の基板当接面41a、41bにそれぞれ開口する複数の凹部43が形成されている。
In the present embodiment, almost the entire surface treatment jig 4 is made of an elastic material as a main material. That is, the surface treatment jig 4 is formed of an elastic plate. Examples of the elastic material include various rubber materials such as natural rubber, butyl rubber, isoprene rubber, butadiene rubber, styrene-butadiene rubber, and silicone rubber, and polyurethane, polyester, polyamide, olefin, styrene, and the like. Various thermoplastic elastomers can be used, and one or more of these can be used in combination.
The surface treatment jig 4 has a plurality of through-holes penetrating in the thickness direction (a recess opening in the upper substrate contact surface 41b and a recess opening in the lower substrate contact surface 41a. (Communication form) 42 and a plurality of recesses 43 are formed in the upper and lower substrate contact surfaces 41a and 41b.

これらの貫通孔42および凹部43は、それぞれ、基板20の表面202および基板30の表面302とで、閉空間を画成(形成)する。そして、この閉空間を減圧した後、表面処理用治具4を大気圧下に搬出することにより、貫通孔42および凹部43内の圧力と大気圧との差(差圧)により、基板20、30が表面処理用治具1に吸着・保持される。
また、貫通孔42および凹部43の開口面積の合計は、基板20(または30)の平面視での面積に対して、1/20〜3/4程度であるのが好ましく、1/4〜1/2程度であるのがより好ましい。これにより、圧力差による基板20(または30)の表面処理用治具4への吸着・保持が、より確実になされるようになる。
The through hole 42 and the recess 43 define (form) a closed space with the surface 202 of the substrate 20 and the surface 302 of the substrate 30, respectively. Then, after reducing the closed space, the surface treatment jig 4 is carried out under atmospheric pressure, so that the difference between the pressure in the through hole 42 and the recess 43 and the atmospheric pressure (differential pressure) is caused. 30 is adsorbed and held by the surface treatment jig 1.
The total opening area of the through holes 42 and the recesses 43 is preferably about 1/20 to 3/4 with respect to the area of the substrate 20 (or 30) in plan view, and is preferably 1/4 to 1. More preferably, it is about / 2. Thereby, the adsorption | suction and holding | maintenance to the jig | tool 4 for surface treatment of the board | substrate 20 (or 30) by a pressure difference comes to be made more reliably.

ここで、減圧される閉空間の一部を凹部43で構成することにより、全てを貫通孔42で構成する場合に比べて、表面処理用治具4の機械的強度が低下するのを防止することができる。
このような構成により、表面処理用治具の部品点数の削減を図りつつ、表面処理する基板の処理枚数の増大を図ることができ、その結果、エッチング(表面処理)に要するコストの削減および時間の短縮を図ることができる。
Here, by forming a part of the closed space to be decompressed with the recesses 43, it is possible to prevent the mechanical strength of the surface treatment jig 4 from being lowered as compared with the case where all of the closed spaces are formed with the through holes 42. be able to.
With such a configuration, it is possible to increase the number of substrates to be surface-treated while reducing the number of parts of the surface treatment jig. As a result, the cost and time required for etching (surface treatment) can be reduced. Can be shortened.

このような表面処理用治具4は、貫通孔42および凹部43を基板20、30で塞いだ状態で減圧した後、大気圧下に搬出すると、これらの圧力差により基板20、30を基板当接面41a、41bに向かって押圧する力が生じ、基板20、30が基板当接面41a、41bに押し付けられる。これにより、表面処理用治具4に、基板20、30が吸着・保持される。   When such a surface treatment jig 4 is depressurized with the through holes 42 and the recesses 43 closed by the substrates 20 and 30 and then carried out under atmospheric pressure, the substrate 20 and 30 are brought into contact with the substrate by the pressure difference. A pressing force is generated toward the contact surfaces 41a and 41b, and the substrates 20 and 30 are pressed against the substrate contact surfaces 41a and 41b. As a result, the substrates 20 and 30 are attracted and held by the surface treatment jig 4.

このとき、表面処理用治具4が上下に圧縮され、上下方向の反発力が発生する。その結果、基板20、30と基板当接面41a、41bとの隙間が気密的に封止(閉塞)され、貫通孔42内および凹部43内の減圧状態が維持される。
なお、表面処理用治具4を構成する材料を選択することにより、貫通孔42内および凹部43内の減圧状態を確実に維持することができるが、この材料の選択にあたっては、後に参考例として説明する表面処理用治具1におけるOリング2の条件(特性)と同様にすればよい。
At this time, the surface treatment jig 4 is compressed up and down, and a repulsive force in the vertical direction is generated. As a result, the gaps between the substrates 20 and 30 and the substrate contact surfaces 41a and 41b are hermetically sealed (closed), and the reduced pressure state in the through hole 42 and the recess 43 is maintained.
It should be noted that by selecting the material constituting the surface treatment jig 4, the reduced pressure state in the through hole 42 and the recess 43 can be reliably maintained. What is necessary is just to make it the same as the conditions (characteristics) of the O-ring 2 in the surface treatment jig 1 to be described.

特に、複数の貫通孔42および凹部43を散在して設けることにより、基板20、30を表面処理用治具4に対して均一に固定することができる。
このように、表面処理用治具4には、貫通孔42および凹部43内を負圧(陰圧)として、基板20、30を固定するため、基板20、30を治具で挟持して固定する場合と異なり、基板20、30の裏面(表面処理を施す面)201、301の全面を外部に露出させることができる。
In particular, by providing the plurality of through holes 42 and the recesses 43 in a scattered manner, the substrates 20 and 30 can be fixed uniformly to the surface treatment jig 4.
Thus, in order to fix the substrates 20 and 30 to the surface treatment jig 4 with negative pressure (negative pressure) in the through holes 42 and the recesses 43, the substrates 20 and 30 are clamped and fixed by the jig. Unlike the case where it does, the back surface (surface which performs surface treatment) 201 and 301 of the board | substrates 20 and 30 can be exposed outside.

したがって、基板20の裏面201および基板30の裏面301の各領域にムラ無くウェットエッチングを行うことができる。また、基板20の表面202および基板30の表面302と表面処理用治具4との隙間が、気密的に封止されるので、基板20、30のウェットエッチングに際して、基板20の表面202および基板30の表面302を確実にエッチング液(処理液)から保護することができる。   Therefore, wet etching can be performed uniformly on each region of the back surface 201 of the substrate 20 and the back surface 301 of the substrate 30. Further, since the gap between the surface 202 of the substrate 20 and the surface 302 of the substrate 30 and the surface treatment jig 4 is hermetically sealed, the surface 202 of the substrate 20 and the substrate are subjected to wet etching of the substrates 20 and 30. The surface 302 of 30 can be reliably protected from the etching solution (processing solution).

また、図示の構成では、基板20、30には、それぞれ、表面202、302に開放する凹部203、303が形成され、表面処理用治具4は、基板20、30を表面処理用治具4に接触させた状態で、凹部203、303の開口を塞ぎ得るよう構成されている。これにより、表面処理用治具4は、貫通孔42内および凹部43内の減圧状態が確実に維持され、凹部203、303等が形成された複雑な表面形状の基板20、30でも安定に保持し得る。
このような凹部を有する基板としては、例えば、凹部としてスルーホールが形成された多層積層半導体基板、凹部としてインク室が形成されたインクジェットヘッド基板、凹部としてスルーホールが形成されたガラス基板等が挙げられる。
Further, in the illustrated configuration, the substrates 20 and 30 are respectively formed with recesses 203 and 303 that open to the surfaces 202 and 302, and the surface treatment jig 4 is formed by attaching the substrates 20 and 30 to the surface treatment jig 4. The openings of the recesses 203 and 303 can be closed while being in contact with each other. Thereby, the surface treatment jig 4 can reliably maintain the reduced pressure state in the through hole 42 and the recess 43, and can stably hold the substrates 20 and 30 having complicated surface shapes in which the recesses 203 and 303 are formed. Can do.
Examples of the substrate having such a recess include a multilayer laminated semiconductor substrate in which a through hole is formed as a recess, an inkjet head substrate in which an ink chamber is formed as a recess, and a glass substrate in which a through hole is formed as a recess. It is done.

次に、第1実施形態の表面処理用治具を用いて行う基板の表面処理方法(第1表面処理方法)について説明する。
[1A] 減圧工程(第1の工程)
まず、図1および図2に示す表面処理用治具4に、基板20、30を接触させる。
このとき、基板20の表面202が基板当接面41aに接触するように、かつ、これらが重なるようにする。また、基板30の表面302が基板当接面41bに接触するように、かつ、これらが重なるようにする。
Next, a substrate surface treatment method (first surface treatment method) performed using the surface treatment jig of the first embodiment will be described.
[1A] Depressurization step (first step)
First, the substrates 20 and 30 are brought into contact with the surface treatment jig 4 shown in FIGS.
At this time, the front surface 202 of the substrate 20 is brought into contact with the substrate contact surface 41a, and these are overlapped. In addition, the surface 302 of the substrate 30 is in contact with the substrate contact surface 41b and overlaps with each other.

また、このとき、凹部203、303の開口が塞がれるように、基板20、30と表面処理用治具4とを接触させる。
なお、本工程[1A]に先立って、凹部203、303を塞ぐように、基板20の表面202および基板30の表面302にシート材を貼着する(設ける)ようにしてもよい。これにより、基板20、30を表面処理用治具4から取り外した後に、エッチング液(処理液)を除去する目的等により、基板20、30に対して洗浄を施す際には、凹部203、303内に洗浄液が侵入するのを阻止することができる。
At this time, the substrates 20 and 30 and the surface treatment jig 4 are brought into contact so that the openings of the recesses 203 and 303 are closed.
Prior to this step [1A], a sheet material may be attached (provided) to the surface 202 of the substrate 20 and the surface 302 of the substrate 30 so as to close the recesses 203 and 303. Accordingly, when the substrates 20 and 30 are cleaned for the purpose of removing the etching solution (processing solution) after the substrates 20 and 30 are removed from the surface treatment jig 4, the recesses 203 and 303 are used. It is possible to prevent the cleaning liquid from entering the inside.

次に、この状態で、表面処理用治具4を、真空チャンバ(減圧室)内に搬入し、真空チャンバ内を減圧状態にする。これにより、貫通孔42内および凹部43内の空気が基板20、30と基板当接面41a、41bとの隙間から徐々に漏出し、貫通孔42および凹部43内の圧力が真空チャンバ内の圧力とほぼ等しくなる。
このときの真空チャンバ内の圧力は、30k〜10kPa程度であるのが好ましく、20k〜10kPa程度であるのがより好ましい。これにより、基板20、30の破損等をより確実に防止しつつ、次工程[2A]における基板20、30の吸着・保持を確実に行うことができる。
Next, in this state, the surface treatment jig 4 is carried into a vacuum chamber (decompression chamber) to bring the vacuum chamber into a depressurized state. Thereby, the air in the through hole 42 and the recess 43 gradually leaks from the gap between the substrates 20 and 30 and the substrate contact surfaces 41a and 41b, and the pressure in the through hole 42 and the recess 43 becomes the pressure in the vacuum chamber. Is almost equal to
The pressure in the vacuum chamber at this time is preferably about 30 k to 10 kPa, and more preferably about 20 k to 10 kPa. Accordingly, it is possible to reliably suck and hold the substrates 20 and 30 in the next step [2A] while more reliably preventing the substrates 20 and 30 from being damaged.

[2A] 吸着・保持工程(第2の工程)
次に、真空チャンバ内の減圧状態を解除して、真空チャンバ内の圧力を大気圧に復帰させる。これにより、貫通孔42および凹部43内の圧力と外部の圧力(大気圧)との間に圧力差が生じ、基板20に基板当接面41a側に向かう押圧力が、また基板30に基板当接面41b側に向かう押圧力がそれぞれ作用し、基板20が基板当接面41aに、また基板30が基板当接面41bにそれぞれ押し付けられ(すなわち、基板20、30が表面処理用治具4に吸着され)、表面処理用治具4に保持される。
このとき、表面処理用治具4が上下に圧縮され、上下方向の反発力が発生する。これにより、基板20、30と基板当接面41a、41bとの隙間が気密的に封止(閉塞)され、貫通孔42内および凹部43内の減圧状態が維持される。
[2A] Adsorption / holding step (second step)
Next, the decompressed state in the vacuum chamber is released, and the pressure in the vacuum chamber is returned to atmospheric pressure. As a result, a pressure difference is generated between the pressure in the through-hole 42 and the recess 43 and the external pressure (atmospheric pressure), and the pressing force toward the substrate contact surface 41 a side is applied to the substrate 20 and the substrate 30 is also applied to the substrate 30. A pressing force directed toward the contact surface 41b acts, and the substrate 20 is pressed against the substrate contact surface 41a and the substrate 30 is pressed against the substrate contact surface 41b (that is, the substrates 20 and 30 are pressed against the surface treatment jig 4). And is held by the surface treatment jig 4.
At this time, the surface treatment jig 4 is compressed up and down, and a repulsive force in the vertical direction is generated. Thereby, the clearance gap between the board | substrates 20 and 30 and the board | substrate contact surfaces 41a and 41b is airtightly sealed (blocked), and the pressure-reduced state in the through-hole 42 and the recessed part 43 is maintained.

[3A] エッチング工程(第3の工程)
次に、基板20、30を吸着・保持した状態の表面処理用治具4を、処理槽内に貯留された所望のエッチング液(処理液)に浸漬し、基板20の裏面201および基板30の裏面301の表面処理を行う。
用いるエッチング液としては、目的に応じて適宜選択され、特に限定されないが、例えば、フッ酸水溶液、過酸化水素水溶液、1水素2フッ化アンモニウム、水酸化カリウム水溶液、テトラメチルアンモニウム水溶液等のうちの1種または2種以上を組み合わせたものが挙げられる。
[3A] Etching step (third step)
Next, the surface treatment jig 4 holding and holding the substrates 20 and 30 is immersed in a desired etching solution (treatment solution) stored in the treatment tank, so that the back surface 201 of the substrate 20 and the substrate 30 Surface treatment of the back surface 301 is performed.
The etching solution to be used is appropriately selected depending on the purpose and is not particularly limited. For example, among the hydrofluoric acid aqueous solution, the hydrogen peroxide aqueous solution, the hydrogen bifluoride, the potassium hydroxide aqueous solution, the tetramethylammonium aqueous solution, etc. What combined 1 type (s) or 2 or more types is mentioned.

このウェットエッチングに際しては、表面処理用治具4を回転させつつ、基板20、30の表面処理を行うのが好ましい。これにより、裏面201、301の各領域に対して、均一に表面処理を行うことができる。
ここで、本実施形態の表面処理用治具4では、基板20、30を接触(密着)させた状態で、貫通孔42および凹部43とを外部とを連通する流路を有さない構成とされ、圧力差により基板20、30を表面処理用治具4に保持(固定)している。このため、貫通孔42および凹部43を減圧するための吸引用チューブの表面処理用治具4へ接続する必要がなく、表面処理用治具4を回転させる際に、吸引用チューブが絡み合うことがなく、取り扱いが容易である。
In this wet etching, it is preferable to perform the surface treatment of the substrates 20 and 30 while rotating the surface treatment jig 4. As a result, the surface treatment can be performed uniformly on the respective regions of the back surfaces 201 and 301.
Here, the surface treatment jig 4 of the present embodiment has a configuration in which the through holes 42 and the recesses 43 do not have a flow path communicating with the outside in a state in which the substrates 20 and 30 are in contact (contact). The substrates 20 and 30 are held (fixed) on the surface treatment jig 4 by the pressure difference. For this reason, it is not necessary to connect the surface treatment jig 4 of the suction tube for decompressing the through hole 42 and the recess 43, and the suction tube may be entangled when the surface treatment jig 4 is rotated. And easy to handle.

かかる観点からも、本発明の表面処理用治具は、基板に対してウェットエッチングを行う際への適用に適する。
なお、本実施形態では、エッチング液に表面処理用治具4を浸漬させた状態で、基板20、30に対して表面処理を施すため、表面処理を行う際の圧力は、水圧が加わり大気圧以上となる。
このように、本工程[3A]を行う際の圧力は、表面処理の種類にもよるが、好ましくは大気圧またはそれ以上とされる。これにより、本工程[3A]における圧力の厳密な設定が不要となるため、前記工程[1A]における真空チャンバ内の圧力の設定が容易となる。
Also from this viewpoint, the surface treatment jig of the present invention is suitable for application when wet etching is performed on a substrate.
In the present embodiment, the surface treatment is performed on the substrates 20 and 30 in a state where the surface treatment jig 4 is immersed in the etching solution. That's it.
Thus, although the pressure at the time of performing this process [3A] depends on the type of surface treatment, it is preferably set to atmospheric pressure or higher. This eliminates the need for strict setting of the pressure in the present step [3A], and facilitates setting of the pressure in the vacuum chamber in the step [1A].

[4A] 取り外し工程(第4の工程)
次に、表面処理用治具4を処理槽から取り出し、再度、真空チャンバ(減圧室)内に搬入する。そして、真空チャンバ内を、前記工程[1A]における真空チャンバ内の圧力とほぼ等しいか、または、工程[1A]における真空チャンバ内の圧力より低い圧力となるように減圧する。
[4A] Removal step (fourth step)
Next, the surface treatment jig 4 is taken out from the treatment tank and is carried into the vacuum chamber (decompression chamber) again. Then, the inside of the vacuum chamber is depressurized so as to be substantially equal to the pressure in the vacuum chamber in the step [1A] or lower than the pressure in the vacuum chamber in the step [1A].

これにより、貫通孔42および凹部43内の圧力が外圧(真空チャンバ内の圧力)とほぼ等しいか、または、外圧よりも高くなり、その結果、気圧の差による基板20に基板当接面41aから離間する方向(上方向)への押圧力が、また基板30に基板当接面41bから離間する方向(上方向)への押圧力がそれぞれ作用し、基板20が基板当接面41a、また基板30が基板当接面41bからそれぞれ脱離する。すなわち、基板20、30が表面処理用治具4から取り外される。   As a result, the pressure in the through hole 42 and the recess 43 is substantially equal to or higher than the external pressure (pressure in the vacuum chamber), and as a result, the substrate 20 is brought into contact with the substrate 20 by the difference in atmospheric pressure. The pressing force in the separating direction (upward direction) and the pressing force in the direction separating from the substrate contact surface 41b (upward direction) act on the substrate 30, respectively, so that the substrate 20 is in contact with the substrate contact surface 41a. 30 are detached from the substrate contact surface 41b. That is, the substrates 20 and 30 are removed from the surface treatment jig 4.

ここで、前記工程[1A]における真空チャンバ内の圧力をA[Pa]とし、本工程[4A]における真空チャンバ内の圧力をB[Pa]としたとき、B/Aが0.5以下なる関係を満足するのが好ましく、0.2以下なる関係を満足するのがより好ましい。かかる範囲より前記B/Aが高いと、基板20、30に作用する押圧力が小さくなり、基板20、30を表面処理用治具4から取り外すのが困難となるおそれがある。   Here, when the pressure in the vacuum chamber in the step [1A] is A [Pa] and the pressure in the vacuum chamber in the step [4A] is B [Pa], B / A is 0.5 or less. It is preferable to satisfy the relationship, and it is more preferable to satisfy the relationship of 0.2 or less. If the B / A is higher than this range, the pressing force acting on the substrates 20 and 30 is reduced, and it may be difficult to remove the substrates 20 and 30 from the surface treatment jig 4.

具体的には、真空チャンバ内の圧力Bは、20k〜5kPa程度であるのが好ましく、10k〜5kPa程度であるのがより好ましい。これにより、基板20、30の表面処理用治具4からの取り外しをより確実に行うことができる。
なお、本工程[4A]では、基板20、30に対して外力を付与して、基板20、30の表面処理用治具4からの離脱を補助するようにしてもよい。この外力を付与する方法としては、例えば、後述するピンを使用して基板10の外周部(縁部)を、基板10が基板当接面31から離間する方向(上方向)へ押圧する方法(図8〜図12参照)、表面処理用治具4に予め磁石を装着しておき、この磁石に対して斥力となるような磁場を供給する方法等が挙げられる。
以上のようにしてエッチング(表面処理)が施された基板20、30は、裏面201、301にムラなくエッチングが施されているので、この後の工程で、レジストの塗布やコンタクトアライナーによる露光等の操作を精密に行うことができる。
Specifically, the pressure B in the vacuum chamber is preferably about 20 k to 5 kPa, and more preferably about 10 k to 5 kPa. Thereby, the removal from the jig | tool 4 for surface treatment of the board | substrates 20 and 30 can be performed more reliably.
In this step [4A], an external force may be applied to the substrates 20 and 30 to assist the separation of the substrates 20 and 30 from the surface treatment jig 4. As a method of applying this external force, for example, a method of pressing the outer peripheral portion (edge) of the substrate 10 in a direction (upward) away from the substrate abutting surface 31 using a pin described later ( 8 to 12), a method in which a magnet is mounted on the surface treatment jig 4 in advance and a magnetic field that provides repulsive force to the magnet is supplied.
Since the substrates 20 and 30 subjected to etching (surface treatment) as described above are etched evenly on the back surfaces 201 and 301, resist coating, exposure by a contact aligner, etc. are performed in subsequent steps. Can be performed precisely.

<第2実施形態>
次に、本発明の表面処理用治具の第2実施形態について説明する。
図3は、本発明の表面処理用治具の第2実施形態を示す縦断面図、図4は、図3に示す表面処理用治具の平面図である。
なお、以下の説明では、図3中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
Second Embodiment
Next, a second embodiment of the surface treatment jig of the present invention will be described.
FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing a second embodiment of the surface treatment jig of the present invention, and FIG. 4 is a plan view of the surface treatment jig shown in FIG.
In the following description, the upper side in FIG. 3 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.

以下、第2実施形態の表面処理用治具について、前記第1実施形態の表面処理用治具との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図3および図4に示す第2実施形態の表面処理用治具5は、弾性板6(第1実施形態の表面処理用治具4に相当)が本体部7に積層された構成となっている。
弾性板6は、保持(固定)する基板10の寸法と、平面視でのほぼ等しい寸法に設定された基板当接面61を有している。
Hereinafter, the surface treatment jig of the second embodiment will be described with a focus on differences from the surface treatment jig of the first embodiment, and description of similar matters will be omitted.
The surface treatment jig 5 of the second embodiment shown in FIGS. 3 and 4 has a configuration in which an elastic plate 6 (corresponding to the surface treatment jig 4 of the first embodiment) is laminated on the main body portion 7. Yes.
The elastic plate 6 has a substrate contact surface 61 that is set to have substantially the same size as that of the substrate 10 to be held (fixed) in plan view.

この弾性板6は、前記第1実施形態で挙げた弾性材料と同様の弾性材料を主材料として構成することができる。
また、この弾性板6には、厚さ方向に貫通する複数の貫通孔(空間:凹部)62が形成されている。
この貫通孔62は、基板10の表面102とで、閉空間を画成(形成)する。そして、この閉空間を減圧した後、表面処理用治具5を大気圧下に搬出することにより、貫通孔62内の圧力と大気圧との差(差圧)により、基板10が表面処理用治具5に吸着・保持される。
The elastic plate 6 can be composed of an elastic material similar to the elastic material mentioned in the first embodiment as a main material.
The elastic plate 6 has a plurality of through holes (spaces: recesses) 62 penetrating in the thickness direction.
The through hole 62 defines (forms) a closed space with the surface 102 of the substrate 10. Then, after reducing the closed space, the surface treatment jig 5 is carried out under atmospheric pressure, whereby the substrate 10 is subjected to surface treatment due to the difference between the pressure in the through hole 62 and the atmospheric pressure (differential pressure). Adsorbed and held by the jig 5.

このような弾性板6は、本体部7に支持されている。本体部7には、貫通孔62同士を連通する流路72が図4に示すパターンで形成されている。
本体部7は、主として硬質材料で構成されている。後述するように、表面処理用治具5による基板10の吸着・保持は、貫通孔62内の圧力と大気圧との差(以下、単に「圧力差」と言う。)によりなされるが、本体部7が硬質なものであることにより、基板10を吸着・保持する際の表面処理用治具5の変形を好適に防止することができる。
Such an elastic plate 6 is supported by the main body 7. In the main body 7, a flow path 72 that connects the through holes 62 is formed in the pattern shown in FIG. 4.
The main body 7 is mainly composed of a hard material. As will be described later, the adsorption and holding of the substrate 10 by the surface treatment jig 5 is performed by the difference between the pressure in the through hole 62 and the atmospheric pressure (hereinafter simply referred to as “pressure difference”). Since the portion 7 is hard, deformation of the surface treatment jig 5 when adsorbing and holding the substrate 10 can be suitably prevented.

このような硬質材料としては、例えば、各種ガラス、アルミナ、シリカ、チタニア、ジルコニア、イットリア、リン酸カルシウム、窒化珪素、窒化アルミ、窒化チタン、窒化ボロン、グラファイト、タングステンカーバイトのような各種セラミックス材料、鉄、ニッケル、銅、アルミニウム、チタンまたはこれらを含む合金のような各種金属材料等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。   Examples of such hard materials include various types of glass, alumina, silica, titania, zirconia, yttria, calcium phosphate, silicon nitride, aluminum nitride, titanium nitride, boron nitride, graphite, various ceramic materials such as tungsten carbide, iron And various metal materials such as nickel, copper, aluminum, titanium, or alloys containing these, and one or more of them can be used in combination.

これらの中でも、本体部7の構成材料としては、各種セラミックス材料が好適である。各種セラミックス材料で本体部7を構成することにより、本体部7に、高い機械的強度とエッチング液(処理液)に対する高い耐性を付与することができる。
なお、エッチング液に対する耐性を高める観点からは、本体部7の表面を、例えばフッ素系樹脂のような耐薬品性の高い材料で被覆するようにしてもよい。
Among these, various ceramic materials are suitable as the constituent material of the main body portion 7. By configuring the main body portion 7 with various ceramic materials, it is possible to impart high mechanical strength and high resistance to the etching solution (processing solution) to the main body portion 7.
In addition, from the viewpoint of enhancing the resistance to the etching solution, the surface of the main body 7 may be covered with a material having high chemical resistance such as a fluorine resin.

このような表面処理用治具5は、貫通孔62を基板10で塞いだ状態で減圧した後、大気圧下に搬出すると、これらの圧力差により基板10を基板当接面61に向かって押圧する力が生じ、基板10が基板当接面61に押し付けられる。これにより、表面処理用治具5に、基板10が吸着・保持される。
このとき、特に、貫通孔62同士を連通する流路72が形成されていることにより、貫通孔62同士の間で空気が移動し得るので、その結果、各貫通孔62内の圧力がほぼ均一となる。これにより、基板10を表面処理用治具5により安定的に固定(保持)することができる。
Such a surface treatment jig 5 depressurizes the through hole 62 with the substrate 10 and then carries it out to atmospheric pressure. The substrate 10 is pressed against the substrate contact surface 61. As a result, the substrate 10 is sucked and held by the surface treatment jig 5.
At this time, in particular, since the flow path 72 that connects the through holes 62 is formed, air can move between the through holes 62, so that the pressure in each through hole 62 is substantially uniform. It becomes. As a result, the substrate 10 can be stably fixed (held) by the surface treatment jig 5.

また、このとき、弾性板6が上下に圧縮され、上下方向の反発力が発生する。その結果、基板10と基板当接面61との隙間が気密的に封止(閉塞)され、貫通孔62内の減圧状態が維持される。
このような第2実施形態の表面処理用治具5によっても、前記第1実施形態の表面処理用治具と同様の作用・効果が得られる。
At this time, the elastic plate 6 is compressed up and down and a repulsive force in the vertical direction is generated. As a result, the gap between the substrate 10 and the substrate contact surface 61 is hermetically sealed (closed), and the reduced pressure state in the through hole 62 is maintained.
The surface treatment jig 5 of the second embodiment can provide the same operations and effects as those of the surface treatment jig of the first embodiment.

次に、第2実施形態の表面処理用治具を用いて行う基板の表面処理方法(第2表面処理方法)について説明する。
なお、ここでは、前記第1表面処理方法との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
[1B] 減圧工程(第1の工程)
まず、図3および図4に示す表面処理用治具5に、基板10を接触させる。
Next, a substrate surface treatment method (second surface treatment method) performed using the surface treatment jig of the second embodiment will be described.
In addition, here, it demonstrates centering around difference with the said 1st surface treatment method, The description is abbreviate | omitted about the same matter.
[1B] Depressurization step (first step)
First, the substrate 10 is brought into contact with the surface treatment jig 5 shown in FIGS.

このとき、基板10の表面102が基板当接面61に接触するように、かつ、これらが重なるようにする。
次に、この状態で、表面処理用治具5を、真空チャンバ(減圧室)内に搬入し、真空チャンバ内を減圧状態にする。これにより、貫通孔62内および流路72内の空気が基板10と基板当接面61との隙間から徐々に漏出し、貫通孔62内の圧力が真空チャンバ内の圧力とほぼ等しくなる。
また、このとき、流路72を介して貫通孔62内の空気が均一に漏出し、貫通孔62内の圧力がほぼ均一になる。
なお、この真空チャンバ内の適正な圧力範囲は、前記第1表面処理方法の場合と同様である。
At this time, the front surface 102 of the substrate 10 is brought into contact with the substrate contact surface 61 and they are overlapped with each other.
Next, in this state, the surface treatment jig 5 is carried into a vacuum chamber (decompression chamber), and the vacuum chamber is brought into a depressurized state. Thereby, the air in the through hole 62 and the flow path 72 gradually leaks from the gap between the substrate 10 and the substrate contact surface 61, and the pressure in the through hole 62 becomes substantially equal to the pressure in the vacuum chamber.
At this time, the air in the through hole 62 leaks uniformly through the flow path 72, and the pressure in the through hole 62 becomes substantially uniform.
An appropriate pressure range in the vacuum chamber is the same as that in the first surface treatment method.

[2B] 吸着・保持工程(第2の工程)
次に、前記工程[2A]と同様の工程を行う。
[3B] エッチング工程(第3の工程)
次に、前記工程[3A]と同様の工程を行う。
[4B] 取り外し工程(第4の工程)
次に、前記工程[4A]と同様の工程を行う。
[2B] Adsorption / holding step (second step)
Next, the same process as the process [2A] is performed.
[3B] Etching step (third step)
Next, the same process as the process [3A] is performed.
[4B] Removal step (fourth step)
Next, the same process as the process [4A] is performed.

<第3実施形態>
次に、本発明の表面処理用治具の第3実施形態について説明する。
図5は、本発明の表面処理用治具の第3実施形態を示す縦断面図である。
なお、以下の説明では、図5中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
以下、第3実施形態の表面処理用治具について、前記第1および第2実施形態の表面処理用治具との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment of the surface treatment jig of the present invention will be described.
FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing a third embodiment of the surface treatment jig of the present invention.
In the following description, the upper side in FIG. 5 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.
Hereinafter, the surface treatment jig of the third embodiment will be described focusing on the differences from the surface treatment jigs of the first and second embodiments, and description of similar matters will be omitted.

第3実施形態の表面処理用治具は、接触部(弾性板)に基板を接触(密着)させた状態で、減圧状態とされる空間と外部とを連通する流路を有し、それ以外は、前記第2実施形態の表面処理用治具と同様である。
すなわち、図5に示す表面処理用治具5は、本体部7のほぼ中心部に、流路72に連通し、外部に開放する流路73が形成されている。この流路73を介して、基板10を基板当接面61(弾性板6)に接触させた状態で、各貫通孔62と表面処理用治具5の外部とが連通する。
The surface treatment jig of the third embodiment has a flow path that communicates the space that is in a reduced pressure state and the outside in a state in which the substrate is in contact with (contacted with) the contact portion (elastic plate). Is the same as the surface treatment jig of the second embodiment.
That is, the surface treatment jig 5 shown in FIG. 5 is formed with a flow path 73 that communicates with the flow path 72 and opens to the outside at a substantially central portion of the main body 7. The through holes 62 communicate with the outside of the surface treatment jig 5 through the flow path 73 in a state where the substrate 10 is in contact with the substrate contact surface 61 (elastic plate 6).

流路73の内周面には、ネジ溝が刻設されており、このネジ溝に螺合するネジ(封止部材)81が装着される。また、ネジ81を本体部7に装着した状態で、これらの間に位置するように弾性を有するOリング82が設けられている。これにより、流路73にネジ81を装着すると、流路73が気密的に封止される。
このような表面処理用治具5は、流路73にネジ81を装着し、貫通孔62を基板10で塞いだ状態で減圧した後、大気圧下に搬出すると、これらの圧力差により基板10を基板当接面61に向かって押圧する力が生じ、基板10が基板当接面61に押し付けられる。これにより、表面処理用治具5に、基板10が吸着・保持される。
A thread groove is formed on the inner peripheral surface of the flow path 73, and a screw (sealing member) 81 that is screwed into the thread groove is attached. Further, an elastic O-ring 82 is provided so as to be positioned between the screws 81 attached to the main body 7. Accordingly, when the screw 81 is attached to the flow path 73, the flow path 73 is hermetically sealed.
Such a surface treatment jig 5 is equipped with a screw 81 in the flow path 73, decompressed in a state where the through-hole 62 is closed with the substrate 10, and then carried out to atmospheric pressure. Is generated toward the substrate contact surface 61, and the substrate 10 is pressed against the substrate contact surface 61. As a result, the substrate 10 is sucked and held by the surface treatment jig 5.

また、流路73からネジ81から取り外すと、流路73を介して空気が流路72内および貫通孔62内に流入し、これらの内圧が表面処理用治具5の外圧とほぼ一致する。これにより、基板10に作用する押圧力が消失し、基板10が基板当接面61から脱離する。
このように、本実施形態の表面処理用治具5では、基板10にエッチングを施した後、ネジ81を流路73から取り外すことにより、基板10を表面処理用治具5から脱離(離脱)させることができ、この離脱操作を容易に行うことができる。
このような第3実施形態の表面処理用治具5によっても、前記第1および第2実施形態の表面処理用治具と同様の作用・効果が得られる。
Further, when the screw 81 is removed from the flow path 73, air flows into the flow path 72 and the through hole 62 through the flow path 73, and these internal pressures substantially coincide with the external pressure of the surface treatment jig 5. Thereby, the pressing force acting on the substrate 10 disappears, and the substrate 10 is detached from the substrate contact surface 61.
As described above, in the surface treatment jig 5 of this embodiment, the substrate 10 is detached from the surface treatment jig 5 by removing the screw 81 from the flow path 73 after etching the substrate 10. ), And this separation operation can be easily performed.
The surface treatment jig 5 of the third embodiment can provide the same operations and effects as the surface treatment jigs of the first and second embodiments.

次に、第3実施形態の表面処理用治具を用いて行う表面処理方法(第3表面処理方法)について説明する。
なお、ここでは、前記第2表面処理方法との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
[1C] 減圧工程(第1の工程)
まず、図5に示す表面処理用治具5の流路73にネジ81を装着し、流路73を気密的に封止する。
次に、前記工程[1B]と同様の工程を行う。
Next, a surface treatment method (third surface treatment method) performed using the surface treatment jig of the third embodiment will be described.
Here, the difference from the second surface treatment method will be mainly described, and the description of the same matters will be omitted.
[1C] Depressurization step (first step)
First, screws 81 are attached to the flow path 73 of the surface treatment jig 5 shown in FIG. 5 to hermetically seal the flow path 73.
Next, the same process as the process [1B] is performed.

[2C] 吸着・保持工程(第2の工程)
次に、前記工程[2B]と同様の工程を行う。
[3C] エッチング工程(第3の工程)
次に、前記工程[3B]と同様の工程を行う。
[4C] 取り外し工程(第4の工程)
次に、例えば、大気圧下において、ネジ81を流路73から取り外し、流路73を開放する。
[2C] Adsorption / holding step (second step)
Next, the same process as the process [2B] is performed.
[3C] Etching process (third process)
Next, the same process as the process [3B] is performed.
[4C] Removal step (fourth step)
Next, for example, the screw 81 is removed from the flow path 73 under atmospheric pressure, and the flow path 73 is opened.

これにより、流路73を介して空気が流路72内および貫通孔62内に流入し、貫通孔62内および流路72内の圧力が大気圧に復帰する(表面処理用治具5の外圧とほぼ一致する)。これにより、基板10に作用する押圧力(基板10にかかる荷重)が消失し、基板10が基板当接面61から脱離する。   As a result, air flows into the flow path 72 and the through hole 62 through the flow path 73, and the pressure in the through hole 62 and the flow path 72 returns to the atmospheric pressure (the external pressure of the surface treatment jig 5). Almost matches). Thereby, the pressing force acting on the substrate 10 (load applied to the substrate 10) disappears, and the substrate 10 is detached from the substrate contact surface 61.

<参考例>
次に、表面処理用治具の参考例について説明する。
図6は、表面処理用治具の参考例を示す縦断面図、図7は、図6に示す表面処理用治具の平面図である。
なお、以下の説明では、図6中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
<Reference example>
Next, a reference example of the surface treatment jig will be described.
6 is a longitudinal sectional view showing a reference example of the surface treatment jig, and FIG. 7 is a plan view of the surface treatment jig shown in FIG.
In the following description, the upper side in FIG. 6 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.

参考例の表面処理用治具1は、基板10の裏面(一方の面)101全体を外部に露出させ、基板10の表面102は外部から保護されるように、吸着・保持するものである。
図6および図7に示す表面処理用治具1は、基板10の表面(他方の面)102が接触するOリング(接触部)2と、Oリング2を支持する本体部3とで構成されている。
本体部3は、保持(固定)する基板10の寸法より、平面視で若干大きい寸法に設定された基板当接面31を有する円盤状体(平板状体)で構成されている。
The surface treatment jig 1 of the reference example is to adsorb and hold the entire back surface (one surface) 101 of the substrate 10 so that the entire surface 102 of the substrate 10 is exposed to the outside.
The surface treatment jig 1 shown in FIGS. 6 and 7 includes an O-ring (contact portion) 2 with which the surface (the other surface) 102 of the substrate 10 contacts, and a main body portion 3 that supports the O-ring 2. ing.
The main body 3 is formed of a disk-like body (a flat plate-like body) having a substrate abutting surface 31 set to a size slightly larger in plan view than the size of the substrate 10 to be held (fixed).

この本体部3には、周縁部311よりも内周側に、複数の凹部32が形成されている。これらの凹部32は、それぞれ、基板10の表面102とで、閉空間を画成(形成)する。そして、この閉空間を減圧した後、表面処理用治具1を大気圧下に搬出することにより、凹部32内の圧力と大気圧との差(差圧)により、基板10が表面処理用治具1に吸着・保持される。   A plurality of concave portions 32 are formed in the main body portion 3 on the inner peripheral side with respect to the peripheral edge portion 311. Each of these recesses 32 defines (forms) a closed space with the surface 102 of the substrate 10. Then, after reducing the closed space, the surface treatment jig 1 is carried out under atmospheric pressure, so that the substrate 10 is treated for surface treatment due to the difference between the pressure in the recess 32 and the atmospheric pressure (differential pressure). Adsorbed and held by the tool 1.

また、本体部3の周縁部311には、環状の溝33が形成されている。この溝33には、Oリング2が収納(装着)されている。
Oリング2は、表面処理用治具1に基板10が吸着された状態で、凹部(閉空間)32の気密性を保持する機能を有する部材である。本実施形態では、Oリング2に基板10の表面102が密着することにより凹部32が密閉される。
An annular groove 33 is formed in the peripheral edge 311 of the main body 3. The O-ring 2 is stored (mounted) in the groove 33.
The O-ring 2 is a member having a function of maintaining the airtightness of the recess (closed space) 32 in a state where the substrate 10 is adsorbed to the surface treatment jig 1. In the present embodiment, the concave portion 32 is sealed when the surface 102 of the substrate 10 is in close contact with the O-ring 2.

Oリング2は、主として弾性材料で構成されている。このような弾性材料としては、例えば、天然ゴム、ブチルゴム、イソプレンゴム、ブタジエンゴム、スチレン−ブタジエンゴム、シリコーンゴムのような各種ゴム材料や、ポリウレタン系、ポリエステル系、ポリアミド系、オレフィン系、スチレン系等の各種熱可塑性エラストマー等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。   The O-ring 2 is mainly composed of an elastic material. Examples of such elastic materials include various rubber materials such as natural rubber, butyl rubber, isoprene rubber, butadiene rubber, styrene-butadiene rubber, and silicone rubber, and polyurethane, polyester, polyamide, olefin, and styrene. These include various thermoplastic elastomers, etc., and one or more of these can be used in combination.

また、本体部3には、その縁部に沿って、基板当接面31より高さの高い段差部312が形成されている。この段差部312は、基板10を基板当接面31の所定位置に装着するに際して、位置合わせ用のガイドとして機能する。
本体部3は、主として硬質材料で構成されている。後述するように、表面処理用治具1による基板10の吸着・保持は、凹部32内の圧力と大気圧との差(以下、単に「圧力差」と言う。)によりなされるが、本体部3が硬質なものであることにより、基板10を吸着・保持する際の表面処理用治具1の変形を好適に防止することができる。
Further, a stepped portion 312 having a height higher than that of the substrate contact surface 31 is formed along the edge of the main body portion 3. The step portion 312 functions as an alignment guide when the substrate 10 is mounted at a predetermined position on the substrate contact surface 31.
The main body 3 is mainly made of a hard material. As will be described later, the adsorption and holding of the substrate 10 by the surface treatment jig 1 is performed by the difference between the pressure in the recess 32 and the atmospheric pressure (hereinafter simply referred to as “pressure difference”). When 3 is hard, deformation of the surface treatment jig 1 when adsorbing and holding the substrate 10 can be suitably prevented.

このような硬質材料としては、例えば、各種ガラス、アルミナ、シリカ、チタニア、ジルコニア、イットリア、リン酸カルシウム、窒化珪素、窒化アルミ、窒化チタン、窒化ボロン、グラファイト、タングステンカーバイトのような各種セラミックス材料、鉄、ニッケル、銅、アルミニウム、チタンまたはこれらを含む合金のような各種金属材料等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。   Examples of such hard materials include various types of glass, alumina, silica, titania, zirconia, yttria, calcium phosphate, silicon nitride, aluminum nitride, titanium nitride, boron nitride, graphite, various ceramic materials such as tungsten carbide, iron And various metal materials such as nickel, copper, aluminum, titanium, or alloys containing these, and one or more of them can be used in combination.

これらの中でも、本体部3の構成材料としては、各種セラミックス材料が好適である。各種セラミックス材料で本体部3を構成することにより、本体部3に、高い機械的強度とエッチング液(処理液)に対する高い耐性を付与することができる。
また、本体部3は、前記Oリング2の構成材料で説明したのと同様の弾性材料で構成されていてもよい。
Among these, various ceramic materials are suitable as the constituent material of the main body 3. By configuring the main body 3 with various ceramic materials, it is possible to give the main body 3 high mechanical strength and high resistance to an etching solution (processing solution).
The main body 3 may be made of the same elastic material as described for the constituent material of the O-ring 2.

なお、エッチング液に対する耐性を高める観点からは、本体部3の表面を、例えばフッ素系樹脂のような耐薬品性の高い材料で被覆するようにしてもよい。
また、凹部32の開口面積の合計は、基板10の平面視での面積に対して、1/20〜3/4程度であるのが好ましく、1/4〜1/2程度であるのがより好ましい。これにより、圧力差による基板10の表面処理用治具1への吸着・保持が、より確実になされるようになる。なお、凹部32の開口面積の合計が大き過ぎると、凹部32の深さや本体部3の構成材料等によっては、本体部3の機械的強度が極端に低下するおそれがある。
In addition, from the viewpoint of increasing resistance to the etching solution, the surface of the main body 3 may be covered with a material having high chemical resistance such as a fluorine-based resin.
Further, the total opening area of the recesses 32 is preferably about 1/20 to 3/4, more preferably about 1/4 to 1/2 of the area of the substrate 10 in plan view. preferable. Thereby, the adsorption | suction and holding | maintenance to the jig | tool 1 for surface treatment of the board | substrate 10 by a pressure difference comes to be made more reliably. If the total opening area of the concave portions 32 is too large, the mechanical strength of the main body portion 3 may be extremely reduced depending on the depth of the concave portion 32, the constituent material of the main body portion 3, and the like.

このような表面処理用治具1は、凹部32を基板10で塞いだ状態で減圧した後、大気圧下に搬出すると、これらの圧力差により基板10を基板当接面31に向かって押圧する力が生じ、基板10が基板当接面31に押し付けられる。これにより、表面処理用治具1に、基板10が吸着・保持される。
このとき、Oリング2が上下に変形して、上下方向の反発力が発生する。その結果、基板10とOリング2との隙間が気密的に封止(閉塞)され、凹部32内の減圧状態が維持される。
When such a surface treatment jig 1 is depressurized in a state where the concave portion 32 is closed with the substrate 10 and then carried out under atmospheric pressure, the substrate 10 is pressed toward the substrate contact surface 31 by the pressure difference. A force is generated, and the substrate 10 is pressed against the substrate contact surface 31. As a result, the substrate 10 is attracted and held on the surface treatment jig 1.
At this time, the O-ring 2 is deformed up and down to generate a vertical repulsive force. As a result, the gap between the substrate 10 and the O-ring 2 is hermetically sealed (closed), and the reduced pressure state in the recess 32 is maintained.

特に、複数の凹部32を散在して設けることにより、基板10を表面処理用治具1に対して均一に固定することができる。
このように、表面処理用治具1には、凹部32内を負圧(陰圧)として、基板10を固定するため、基板10を治具で挟持して固定する場合と異なり、基板10の裏面(表面処理を施す面)101の全面を外部に露出させることができる。
In particular, the substrate 10 can be uniformly fixed to the surface treatment jig 1 by providing the plurality of recesses 32 in a scattered manner.
Thus, in order to fix the substrate 10 to the surface treatment jig 1 with a negative pressure (negative pressure) in the recess 32, unlike the case where the substrate 10 is clamped by the jig and fixed, The entire back surface (surface to be surface-treated) 101 can be exposed to the outside.

したがって、基板10の裏面101の各領域にムラ無くウェットエッチングを行うことができる。また、Oリング2により基板10の表面102と本体部3との隙間が、気密的に封止されるので、基板10のウェットエッチングに際して、基板10の表面102を確実にエッチング液(処理液)から保護することができる。
ここで、上述のようにOリング2により、基板10の表面102と本体部3との隙間を気密的に封止するためには、Oリング2の線径Lおよびショアー硬度Hsは、それぞれ、次のように設定するのが好ましい。
Therefore, wet etching can be performed uniformly on each region of the back surface 101 of the substrate 10. Further, since the gap between the surface 102 of the substrate 10 and the main body 3 is hermetically sealed by the O-ring 2, the surface 102 of the substrate 10 is reliably etched into the etching solution (processing solution) during wet etching of the substrate 10. Can be protected from.
Here, in order to hermetically seal the gap between the surface 102 of the substrate 10 and the main body 3 by the O-ring 2 as described above, the wire diameter L and the Shore hardness Hs of the O-ring 2 are respectively It is preferable to set as follows.

すなわち、Oリング2の反発力Fは、次式(I)で求められる。
F/L=4.58×10−7ε1.8Hs4.0[kg/cm] ……(I)
F:反発力[kg]
L:線径(直径)[cm]
ε:つぶし率
Hs:ショアー硬度
ここで、つぶし率εとは、Oリング2を押し潰したときの、Oリング2の線径Lに対する、つぶし量の割合である。例えば、線径Lが1mmのOリング2を、0.2mm押し潰した場合には、つぶし率εは、0.2/1として表される。
That is, the repulsive force F of the O-ring 2 is obtained by the following formula (I).
F / L = 4.58 × 10 −7 ε 1.8 Hs 4.0 [kg / cm] (I)
F: Repulsive force [kg]
L: Wire diameter (diameter) [cm]
ε: Crushing rate Hs: Shore hardness Here, the crushing rate ε is the ratio of the crushing amount to the wire diameter L of the O-ring 2 when the O-ring 2 is crushed. For example, when the O-ring 2 having a wire diameter L of 1 mm is crushed by 0.2 mm, the crushing ratio ε is expressed as 0.2 / 1.

このため、Oリング2の線径Lとショアー硬度Hsとを、前記式(I)で求められる反発力Fが、圧力差により生じる基板10に対する押圧力より小さくなるように設定することにより、Oリング2と、基板10の表面102および本体部3との密着性をより高めることができ、その結果、基板10を表面処理用治具1により確実に吸着・保持することができる。   Therefore, by setting the wire diameter L and the Shore hardness Hs of the O-ring 2 so that the repulsive force F obtained by the above formula (I) is smaller than the pressing force against the substrate 10 caused by the pressure difference, The adhesion between the ring 2 and the surface 102 of the substrate 10 and the main body 3 can be further enhanced. As a result, the substrate 10 can be reliably adsorbed and held by the surface treatment jig 1.

また、Oリング2の反発力により生じる平均圧力Pは、次式(II)で求められる。
P=F/S[kg/cm] ……(II)
P:平均圧力[kg/cm
F:反発力[kg]
S:溝33の平面視での面積[cm
Further, the average pressure P generated by the repulsive force of the O-ring 2 is obtained by the following formula (II).
P = F / S [kg / cm 2 ] (II)
P: Average pressure [kg / cm 2 ]
F: Repulsive force [kg]
S: Area [cm 2 ] of the groove 33 in plan view

このため、Oリング2の線径Lとショアー硬度Hsとを、前記式(II)で求められる平均圧力Pが、ウェットエッチングで用いるエッチング液の水圧よりも高く(特に、1.5〜3.5倍程度高く)なるように設定することにより、Oリング2がエッチング液の水圧により変形するのをより確実に防止することができ、凹部32内へのエッチング液の侵入を阻止することができる。
なお、Oリング2の線径Lとショアー硬度Hsとを、前記式(I)および式(II)の双方を満足するよう設定するのがより好ましい。これにより、基板10の表面処理用治具1への吸着・保持、および、凹部32内へのエッチング液の侵入をより確実に阻止することができる。
For this reason, the average pressure P calculated | required by said Formula (II) about the wire diameter L and Shore hardness Hs of O-ring 2 is higher than the hydraulic pressure of the etching liquid used by wet etching (especially 1.5-3. By setting to be about 5 times higher, it is possible to more reliably prevent the O-ring 2 from being deformed by the water pressure of the etching solution, and to prevent the etching solution from entering the recess 32. .
In addition, it is more preferable that the wire diameter L and the Shore hardness Hs of the O-ring 2 are set so as to satisfy both the formula (I) and the formula (II). Thereby, adsorption | suction and holding | maintenance to the jig | tool 1 for surface treatment of the board | substrate 10, and penetration | invasion of the etching liquid into the recessed part 32 can be blocked | prevented more reliably.

次に、参考例の表面処理用治具1を用いて行う基板の表面処理方法(第4表面処理方法)について説明する。
[1D] 減圧工程(第1の工程)
まず、図6および図7に示す表面処理用治具1に、基板10を接触させる。
このとき、基板10の表面102がOリング2に接触するように、かつ、段差部312より内側に位置するようにする。
Next, a substrate surface treatment method (fourth surface treatment method) performed using the surface treatment jig 1 of the reference example will be described.
[1D] Depressurization step (first step)
First, the substrate 10 is brought into contact with the surface treatment jig 1 shown in FIGS.
At this time, the surface 102 of the substrate 10 is positioned so as to be in contact with the O-ring 2 and inside the stepped portion 312.

ここで、基板10の表面102に、配線や半導体素子(能動素子)等の加工が施されている場合には、本工程[1D]に先立って、基板10の表面102に保護層を形成するようにしてもよい。これにより、基板10の表面102に施された加工が、基板当接面31に当接(接触)することにより損傷するのが防止される。
この保護層は、レジストの塗布、高分子シートの貼着等により形成する(設ける)ことができる。保護層の平均厚さは、0.1〜5μm程度であるのが好ましく、0.1〜2μm程度がより好ましい。
Here, when the surface 102 of the substrate 10 is processed with wiring, semiconductor elements (active elements), etc., a protective layer is formed on the surface 102 of the substrate 10 prior to this step [1D]. You may do it. This prevents the processing applied to the surface 102 of the substrate 10 from being damaged due to contact (contact) with the substrate contact surface 31.
This protective layer can be formed (provided) by applying a resist, attaching a polymer sheet, or the like. The average thickness of the protective layer is preferably about 0.1 to 5 μm, and more preferably about 0.1 to 2 μm.

次に、この状態で、表面処理用治具1を、真空チャンバ(減圧室)内に搬入し、真空チャンバ内を減圧状態にする。これにより、凹部32内の空気が基板10とOリング2との隙間から徐々に漏出し、凹部32内の圧力が真空チャンバ内の圧力とほぼ等しくなる。
このときの真空チャンバ内の圧力は、30k〜10kPa程度であるのが好ましく、20k〜10kPa程度であるのがより好ましい。これにより、基板10の破損等をより確実に防止しつつ、次工程[2D]における基板10の吸着・保持を確実に行うことができる。
Next, in this state, the surface treatment jig 1 is carried into a vacuum chamber (decompression chamber) to bring the vacuum chamber into a depressurized state. As a result, the air in the recess 32 gradually leaks from the gap between the substrate 10 and the O-ring 2, and the pressure in the recess 32 becomes substantially equal to the pressure in the vacuum chamber.
The pressure in the vacuum chamber at this time is preferably about 30 k to 10 kPa, and more preferably about 20 k to 10 kPa. Accordingly, the substrate 10 can be reliably sucked and held in the next step [2D] while more reliably preventing the substrate 10 from being damaged.

[2D] 吸着・保持工程(第2の工程)
次に、真空チャンバ内の減圧状態を解除して、真空チャンバ内の圧力を大気圧に復帰させる。これにより、凹部32内の圧力と外部の圧力(大気圧)との間に圧力差が生じ、基板10に基板当接面31側に向かう押圧力が作用し、基板10が基板当接面31に押し付けられ(すなわち、基板10が表面処理用治具1に吸着され)、表面処理用治具1に保持される。
このとき、Oリング2が上下に押し潰され、上下方向に反発力が発生する。これにより、基板10とOリング2との隙間が気密的に封止され、凹部32内の減圧状態が確実に維持される。
[2D] Adsorption / holding step (second step)
Next, the decompressed state in the vacuum chamber is released, and the pressure in the vacuum chamber is returned to atmospheric pressure. As a result, a pressure difference is generated between the pressure in the recess 32 and the external pressure (atmospheric pressure), and a pressing force toward the substrate contact surface 31 acts on the substrate 10, so that the substrate 10 is moved to the substrate contact surface 31. (That is, the substrate 10 is attracted to the surface treatment jig 1) and held by the surface treatment jig 1.
At this time, the O-ring 2 is crushed up and down, and a repulsive force is generated in the up-down direction. Thereby, the clearance gap between the board | substrate 10 and O-ring 2 is sealed airtight, and the pressure reduction state in the recessed part 32 is maintained reliably.

[3D] エッチング工程(第3の工程)
次に、基板10を吸着・保持した状態の表面処理用治具1を、処理槽内に貯留された所望のエッチング液(処理液)に浸漬し、基板10の裏面101の表面処理を行う。
用いるエッチング液としては、目的に応じて適宜選択され、特に限定されないが、例えば、フッ酸水溶液、過酸化水素水溶液、1水素2フッ化アンモニウム、水酸化カリウム水溶液、テトラメチルアンモニウム水溶液等のうちの1種または2種以上を組み合わせたものが挙げられる。
[3D] Etching process (third process)
Next, the surface treatment jig 1 holding and holding the substrate 10 is immersed in a desired etching solution (treatment solution) stored in the treatment tank, and the surface treatment of the back surface 101 of the substrate 10 is performed.
The etching solution to be used is appropriately selected depending on the purpose and is not particularly limited. For example, among the hydrofluoric acid aqueous solution, the hydrogen peroxide aqueous solution, the hydrogen bifluoride, the potassium hydroxide aqueous solution, the tetramethylammonium aqueous solution, etc. What combined 1 type (s) or 2 or more types is mentioned.

このウェットエッチングに際しては、表面処理用治具1を回転させつつ、基板10の表面処理を行うのが好ましい。これにより、裏面101の各領域に対して、均一に表面処理を行うことができる。
ここで、参考例の表面処理用治具1では、Oリング2に基板10を接触(密着)させた状態で、凹部32とを外部とを連通する流路を有さない構成とされ、圧力差により基板10を表面処理用治具1に保持(固定)している。このため、凹部32を減圧するための吸引用チューブの表面処理用治具1へ接続する必要がなく、表面処理用治具1を回転させる際に、吸引用チューブが絡み合うことがなく、取り扱いが容易である。
In this wet etching, it is preferable to perform the surface treatment of the substrate 10 while rotating the surface treatment jig 1. Thereby, the surface treatment can be uniformly performed on each region of the back surface 101.
Here, in the surface treatment jig 1 of the reference example, the substrate 10 is in contact (adhered) with the O-ring 2 and does not have a flow path that communicates the recess 32 with the outside. The substrate 10 is held (fixed) on the surface treatment jig 1 by the difference. For this reason, it is not necessary to connect the suction tube for decompressing the concave portion 32 to the surface treatment jig 1, and when the surface treatment jig 1 is rotated, the suction tube is not entangled and handled. Easy.

かかる観点からも、参考例の表面処理用治具は、基板に対してウェットエッチングを行う際への適用に適する。
なお、参考例では、エッチング液に表面処理用治具1を浸漬させた状態で、基板10に対して表面処理を施すため、表面処理を行う際の圧力は、水圧が加わり大気圧以上となる。
このように、本工程[3D]を行う際の圧力は、表面処理の種類にもよるが、好ましくは大気圧またはそれ以上とされる。これにより、本工程[3D]における圧力の厳密な設定が不要となるため、前記工程[1D]における真空チャンバ内の圧力の設定が容易となる。
Also from this viewpoint, the surface treatment jig of the reference example is suitable for application when performing wet etching on the substrate.
In the reference example, the surface treatment is performed on the substrate 10 in a state where the surface treatment jig 1 is immersed in an etching solution. Therefore, the pressure at the time of the surface treatment is higher than atmospheric pressure due to the addition of water pressure. .
Thus, although the pressure at the time of performing this step [3D] depends on the type of surface treatment, it is preferably set to atmospheric pressure or higher. This eliminates the need for strict setting of the pressure in this step [3D], and facilitates setting of the pressure in the vacuum chamber in the step [1D].

[4D] 取り外し工程(第4の工程)
次に、表面処理用治具1を処理槽から取り出し、再度、真空チャンバ(減圧室)内に搬入する。そして、真空チャンバ内を、前記工程[1D]における真空チャンバ内の圧力とほぼ等しいか、または、工程[1D]における真空チャンバ内の圧力より低い圧力となるように減圧する。
[4D] Removal step (fourth step)
Next, the surface treatment jig 1 is taken out from the treatment tank and is carried into the vacuum chamber (decompression chamber) again. Then, the inside of the vacuum chamber is depressurized so as to be substantially equal to the pressure in the vacuum chamber in the step [1D] or lower than the pressure in the vacuum chamber in the step [1D].

これにより、凹部32内の圧力が外圧(真空チャンバ内の圧力)とほぼ等しいか、または、外圧よりも高くなり、その結果、気圧の差による基板10に基板当接面31から離間する方向(上方向)への押圧力が作用し、基板10が基板当接面31から脱離する。すなわち、基板10が表面処理用治具1から取り外される。
ここで、前記工程[1D]における真空チャンバ内の圧力をA[Pa]とし、本工程[4D]における真空チャンバ内の圧力をB[Pa]としたとき、B/Aが0.5以下なる関係を満足するのが好ましく、0.2以下なる関係を満足するのがより好ましい。かかる範囲より前記B/Aが高いと、基板10に作用する押圧力が小さくなり、基板10を表面処理用治具1から取り外すのが困難となるおそれがある。
As a result, the pressure in the recess 32 is substantially equal to or higher than the external pressure (pressure in the vacuum chamber), and as a result, the direction in which the substrate 10 is separated from the substrate contact surface 31 due to the difference in atmospheric pressure ( An upward pressing force acts, and the substrate 10 is detached from the substrate contact surface 31. That is, the substrate 10 is removed from the surface treatment jig 1.
Here, when the pressure in the vacuum chamber in the step [1D] is A [Pa] and the pressure in the vacuum chamber in the step [4D] is B [Pa], B / A is 0.5 or less. It is preferable to satisfy the relationship, and it is more preferable to satisfy the relationship of 0.2 or less. If the B / A is higher than this range, the pressing force acting on the substrate 10 becomes small, and it may be difficult to remove the substrate 10 from the surface treatment jig 1.

具体的には、真空チャンバ内の圧力Bは、20k〜5kPa程度であるのが好ましく、10k〜5kPa程度であるのがより好ましい。これにより、基板10の表面処理用治具1からの取り外しをより確実に行うことができる。
なお、本工程[4D]では、基板10に対して外力を付与して、基板10の表面処理用治具1からの離脱を補助するようにしてもよい。この外力を付与する方法としては、例えば、後述するピンを使用して基板10の外周部(縁部)を、基板10が基板当接面31から離間する方向(上方向)へ押圧する方法(図8〜図12参照)、本体部3に予め磁石を装着しておき、この磁石に対して斥力となるような磁場を供給する方法等が挙げられる。
Specifically, the pressure B in the vacuum chamber is preferably about 20 k to 5 kPa, and more preferably about 10 k to 5 kPa. As a result, the substrate 10 can be more reliably removed from the surface treatment jig 1.
In this step [4D], an external force may be applied to the substrate 10 to assist the separation of the substrate 10 from the surface treatment jig 1. As a method of applying this external force, for example, a method of pressing the outer peripheral portion (edge) of the substrate 10 in a direction (upward) away from the substrate abutting surface 31 using a pin described later ( 8 to FIG. 12), a method in which a magnet is mounted on the main body 3 in advance, and a magnetic field that is repulsive to the magnet is supplied.

以上のようにしてエッチング(表面処理)が施された基板10は、裏面101にムラなくエッチングが施されているので、この後の工程で、レジストの塗布やコンタクトアライナーによる露光等の操作を精密に行うことができる。
上述した第1〜第3実施形態の表面処理用治具、および参考例の表面処理用治具には、それぞれ、取り外し工程(第4の工程)において、基板が弾性板やOリング(接触部)から離間するのを補助する離間補助手段を付加することができる。なお、離間補助手段は表面処理用治具から分離することが可能で、取り外し工程(第4の工程)においてのみ使用するのが好ましい。
Since the substrate 10 subjected to the etching (surface treatment) as described above is etched uniformly on the back surface 101, operations such as resist coating and exposure using a contact aligner are precisely performed in subsequent steps. Can be done.
In the surface treatment jigs of the first to third embodiments described above and the surface treatment jigs of the reference examples, the substrate is made of an elastic plate or an O-ring (contact portion) in the removal step (fourth step). The separation assisting means for assisting the separation from the separation can be added. The separation assisting means can be separated from the surface treatment jig, and is preferably used only in the removing step (fourth step).

以下、この離間補助手段について説明する。
図8は、参考例の表面処理用治具に離間補助手段を付加した構成を示す部分縦断面図、図9は、図8に示す表面処理用治具の使用方法を説明するための図(部分縦断面図)である。
なお、以下の説明では、図8および図9中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
Hereinafter, the separation assisting means will be described.
FIG. 8 is a partial longitudinal sectional view showing a configuration in which a separation assisting unit is added to the surface treatment jig of the reference example, and FIG. 9 is a diagram for explaining how to use the surface treatment jig shown in FIG. FIG.
In the following description, the upper side in FIGS. 8 and 9 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.

以下、図8および図9に示す表面処理用治具について、図6および図7に示す表面処理用治具との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図8に示す表面処理用治具100は、本体部3を支持する基台110と、本体部3を基台110に対して固定する固定部120とを有している。
本体部3を基台110上に載置し、この状態で、固定部120を本体部3の縁部に接触するようにして基台110に固定する。これにより、本体部3を基台110に対して固定することができる。
Hereinafter, the surface treatment jig shown in FIGS. 8 and 9 will be described with a focus on the differences from the surface treatment jig shown in FIGS. 6 and 7, and description of similar matters will be omitted.
A surface treatment jig 100 shown in FIG. 8 includes a base 110 that supports the main body 3 and a fixing portion 120 that fixes the main body 3 to the base 110.
The main body part 3 is placed on the base 110, and in this state, the fixing part 120 is fixed to the base 110 so as to contact the edge of the main body part 3. Thereby, the main-body part 3 can be fixed with respect to the base 110. FIG.

なお、固定部120を複数設け、本体部3の外周の複数箇所を固定し得るように構成するのが好ましい。この場合、固定部120による本体部3の固定箇所は、例えば、図示の箇所と、後述するピン131が第1の位置に位置する際のピン131を介した両側の箇所の3箇所等とすることができる。
また、この表面処理用治具100は、図8(a)および図9(a)に示すように、基板10を吸着・保持した状態で、本体部3の周縁部311において基板10との間に間隙34が形成されるよう構成されている。この間隙34に、後述するピン131が挿入される。
In addition, it is preferable to provide a plurality of fixing portions 120 and to fix a plurality of locations on the outer periphery of the main body portion 3. In this case, the fixing part 120 is fixed to the main body part 3 by, for example, three parts, such as a part shown in the drawing, and a part on both sides via the pin 131 when the pin 131 described later is located at the first position. be able to.
Further, as shown in FIG. 8A and FIG. 9A, the surface treatment jig 100 is located between the substrate 10 and the peripheral portion 311 of the main body 3 in a state where the substrate 10 is sucked and held. A gap 34 is formed in the gap. A pin 131 described later is inserted into the gap 34.

基台110上の本体部3を載置する領域以外の領域に、離間補助手段130が設けられている。
離間補助手段130は、基板10と本体部3との間に形成される間隙34に挿入されるピン(円柱状または角柱状の当接部材)131と、このピン131を本体部3(Oリング2)から離間する方向に変位させるコイルバネ(変位手段)132とを有している。
Separation assisting means 130 is provided in a region other than the region where the main body 3 is placed on the base 110.
The separation assisting means 130 includes a pin (columnar or prismatic contact member) 131 inserted into a gap 34 formed between the substrate 10 and the main body 3, and the pin 131 as a main body 3 (O-ring). 2) and a coil spring (displacement means) 132 for displacing in a direction away from the center.

ピン131は、そのOリング2(本体部3)と反対側の端部(図8中、右側の端部)が支持部133の一端部に固定されている。この支持部133の他端部(図8中、右側の端部)には、回転中心軸134が設けられ、基台110上に設けられた軸受け135に回転(回動)可能に支持されている。
これにより、ピン131は、そのOリング2と反対の端部側を中心として、Oリング2側の端部が本体部3(基台110)に接近した第1の位置(図8(a)に示す位置)と、本体部3(基台110)から離間した第2の位置(図8(b)に示す位置)との間で回動可能(変位可能)となっている。
The pin 131 has an end opposite to the O-ring 2 (main body 3) (the right end in FIG. 8) fixed to one end of the support 133. A rotation center shaft 134 is provided at the other end portion (the right end portion in FIG. 8) of the support portion 133, and is supported by a bearing 135 provided on the base 110 so as to be rotatable (turnable). Yes.
As a result, the pin 131 has a first position where the end on the O-ring 2 side approaches the main body 3 (base 110) with the end opposite to the O-ring 2 as the center (FIG. 8A). ) And a second position (position shown in FIG. 8B) that is separated from the main body 3 (base 110).

コイルバネ132は、支持部133と基台110との間で、かつ、ピン131側に設けられている。そして、コイルバネ132は、その下端部が基台110に固定され、少なくともピン131が第1の位置にあるときには圧縮状態で、その上端部が支持部133に当接している。これにより、コイルバネ132は、第1の位置に位置するピン131を上方に向かって(第2の位置に向かって)付勢している。   The coil spring 132 is provided between the support portion 133 and the base 110 and on the pin 131 side. The lower end of the coil spring 132 is fixed to the base 110, and at least when the pin 131 is in the first position, the upper end of the coil spring 132 is in contact with the support portion 133. Thus, the coil spring 132 biases the pin 131 located at the first position upward (toward the second position).

このような離間補助手段130を設けることにより、例えばエッチング工程(第3の工程)において、Oリング2から可塑剤が溶出すること等が原因となり、基板10がOリング2に比較的強固に付着した場合等でも、取り外し工程(第4の工程)において、基板10を表面処理用治具100から確実に離脱させる(取り外す)ことができる。
なお、離間補助手段130は、ピン131全体を基台110に対して接近および離間可能(変位可能)に構成することもできるが、一端側を支点として回動する構成とすることにより、変位手段の構成の簡略化を図ることができる。
By providing such a separation assisting means 130, for example, in the etching process (third process), the plasticizer is eluted from the O-ring 2 and the substrate 10 adheres relatively firmly to the O-ring 2. Even in such a case, the substrate 10 can be reliably detached (removed) from the surface treatment jig 100 in the removal step (fourth step).
The separation assisting unit 130 can be configured so that the entire pin 131 can be moved toward and away from the base 110 (displaceable). However, the displacement assisting unit 130 is configured to rotate about one end side as a fulcrum. It is possible to simplify the configuration.

また、表面処理用治具100は、ピン131を前記第2の位置に固定(保持)するネジ(固定手段)136を有している。
支持部133には、その厚さ方向に貫通する貫通孔133aが形成され、基台110には、ネジ136の先端部が螺合する螺合部110aが形成されている。
ピン131をコイルバネ132の付勢力に抗して第1の位置とし、この状態で、ネジ136を支持部133の貫通孔133aに挿通する。そして、ネジ136の頭部が支持部133に当接する少し手前まで、ネジ136の先端部を螺合部110aに螺合により挿入する。これにより、ピン131を第2の位置に固定することができる。
Further, the surface treatment jig 100 has a screw (fixing means) 136 for fixing (holding) the pin 131 at the second position.
The support part 133 is formed with a through-hole 133a penetrating in the thickness direction, and the base 110 is formed with a screwing part 110a into which the tip of the screw 136 is screwed.
The pin 131 is set to the first position against the urging force of the coil spring 132, and in this state, the screw 136 is inserted into the through hole 133 a of the support portion 133. And the front-end | tip part of the screw | thread 136 is inserted in the screwing part 110a by screwing until the head of the screw | thread 136 contacts the support part 133 a little. Thereby, the pin 131 can be fixed to the second position.

なお、ネジ136の螺合部110aへの挿入量(挿入深さ)を設定することにより、前記第2の位置を任意に設定することができる。すなわち、ピン131の第1の位置と第2の位置との間における移動距離(回転角度)を任意に設定することができる。
このような表面処理用治具100によっても、前記の表面処理用治具と同様の作用・効果が得られる。特に、図示の例では、Oリング2および離間補助手段130の双方の作用により、表面処理用治具100から基板10をより確実に取り外す(離脱させる)ことができる。
なお、バネには、コイルバネ132に代えて、板バネを用いることもできる。
Note that the second position can be arbitrarily set by setting the insertion amount (insertion depth) of the screw 136 into the screwing portion 110a. That is, the movement distance (rotation angle) between the first position and the second position of the pin 131 can be arbitrarily set.
Such a surface treatment jig 100 can provide the same operations and effects as the surface treatment jig. In particular, in the illustrated example, the substrate 10 can be more reliably removed (detached) from the surface treatment jig 100 by the action of both the O-ring 2 and the separation assisting means 130.
In addition, it can replace with the coil spring 132 and a leaf | plate spring can also be used for a spring.

次に、図8および図9に示す表面処理用治具を用いて行う表面処理方法(第5表面処理方法)について説明する。
なお、ここでは、前記第1表面処理方法との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
[1E] 減圧工程(第1の工程)
まず、前述したように、本体部3を基台110から分離する。
この状態で、基板10の表面102をOリング2に接触させ、前記工程[1A]と同様の工程を行う。
Next, a surface treatment method (fifth surface treatment method) performed using the surface treatment jig shown in FIGS. 8 and 9 will be described.
In addition, here, it demonstrates centering around difference with the said 1st surface treatment method, The description is abbreviate | omitted about the same matter.
[1E] Depressurization step (first step)
First, as described above, the main body 3 is separated from the base 110.
In this state, the surface 102 of the substrate 10 is brought into contact with the O-ring 2 and the same process as the process [1A] is performed.

[2E] 吸着・保持工程(第2の工程)
次に、前記工程[2A]と同様の工程を行う。
これにより、基板10が表面処理用治具100に吸着・保持される。
[3E] エッチング工程(第3の工程)
次に、前記工程[3A]と同様の工程を行う。
[2E] Adsorption / holding step (second step)
Next, the same process as the process [2A] is performed.
As a result, the substrate 10 is attracted and held by the surface treatment jig 100.
[3E] Etching process (third process)
Next, the same process as the process [3A] is performed.

[4E] 取り外し工程(第4の工程)
まず、本体部3を処理槽から取り出し、基台110上に載置し、前述のように固定部120を本体部3の縁部に接触するようにして基台110に固定する。これにより、本体部3を基台110に固定する(図9(a)に示す状態)。
更に、ネジ136を回転させて(螺合により)、第2の位置に調整する。
なお、このとき、ピン131は、間隙34に挿入された状態にあり、コイルバネ132の作用(付勢力)により、第2の位置に向かって若干回動するが、その一端部が基板10の縁部の表面102に当接すると、この状態で(第1の位置に)保持される(図9(b)に示す状態)。
[4E] Removal step (fourth step)
First, the main body 3 is taken out of the processing tank and placed on the base 110, and the fixing portion 120 is fixed to the base 110 so as to contact the edge of the main body 3 as described above. Thereby, the main-body part 3 is fixed to the base 110 (state shown to Fig.9 (a)).
Further, the screw 136 is rotated (by screwing) to adjust to the second position.
At this time, the pin 131 is inserted in the gap 34 and is slightly rotated toward the second position by the action (biasing force) of the coil spring 132, but one end thereof is the edge of the substrate 10. When it comes into contact with the surface 102 of the part, it is held in this state (in the first position) (the state shown in FIG. 9B).

次に、再度、真空チャンバ(減圧室)内に搬入し、真空チャンバ内を減圧する。
これにより、凹部32内の圧力が外圧(真空チャンバ内の圧力)とほぼ等しいか、または、外圧よりも高くなり、その結果、気圧の差による基板10に基板当接面31から離間する方向(上方向)への押圧力が作用する。
また、前述したように、基板10の縁部の表面102には、ピン131の一端部が当接しており、これにより、基板10の縁部は、ピン131が第2の位置に向かう方向、すなわち上方向に押圧されている。
Next, it is carried into the vacuum chamber (decompression chamber) again, and the vacuum chamber is depressurized.
As a result, the pressure in the recess 32 is substantially equal to or higher than the external pressure (pressure in the vacuum chamber), and as a result, the direction in which the substrate 10 is separated from the substrate contact surface 31 due to the difference in atmospheric pressure ( The upward pressure is applied.
Further, as described above, one end portion of the pin 131 is in contact with the surface 102 of the edge portion of the substrate 10, whereby the edge portion of the substrate 10 is in the direction in which the pin 131 is directed to the second position, That is, it is pressed upward.

このように、図示の例によれば、気圧の差および離間補助手段130の双方の押圧力が作用することにより、基板10が表面処理用治具100から、より確実に取り外される(離脱する)(図9(c)に示す状態)。
なお、このとき、ピン131は第2の位置で停止するため、基板10が離間の勢いで飛ばされることはない。
また、第1の位置と第2の位置との距離、すなわち、ピン131のOリング2側(基板10に当接する側)の端が第1の位置と第2の位置との間で移動する距離は、限定されるものではないが、1〜5mm程度が好ましい。
Thus, according to the illustrated example, the substrate 10 is more reliably removed (detached) from the surface treatment jig 100 due to the pressure difference between the pressure difference and the separation assisting means 130 acting. (State shown in FIG. 9C).
At this time, since the pin 131 stops at the second position, the substrate 10 is not blown away at a distance.
Further, the distance between the first position and the second position, that is, the end of the pin 131 on the O-ring 2 side (the side in contact with the substrate 10) moves between the first position and the second position. The distance is not limited, but is preferably about 1 to 5 mm.

次に、他の構成例の変位手段を備える表面処理用治具について説明する。
図10は、他の構成例の変位手段を備える表面処理用治具を示す部分縦断面図である。
なお、以下の説明では、図10の上側を「上」、下側を「下」と言う。
以下、図10に示す表面処理用治具について、図6〜図9に示す表面処理用治具との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
Next, a surface treatment jig provided with a displacement means of another configuration example will be described.
FIG. 10 is a partial longitudinal sectional view showing a surface treatment jig provided with a displacement means of another configuration example.
In the following description, the upper side of FIG. 10 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.
Hereinafter, the surface treatment jig shown in FIG. 10 will be described with a focus on differences from the surface treatment jig shown in FIGS. 6 to 9, and description of similar matters will be omitted.

図10に示す表面処理用治具100は、変位手段が、減圧室内を減圧することにより、容積が増大する中空部137aを有する球状の弾性体137で構成されている。
この弾性体137は、大気圧付近(常圧)において、その外径が支持部133と基台110との離間距離とほぼ等しくなるように設定されている。そして、減圧室内を減圧状態とすると、弾性体137は、中空部137aの容積が増大することにより、その外径が増大する。これにより、支持部133を回転中心軸134を中心に回動させ、ピン131を第1の位置(図10(a)に示す位置)から、第2の位置(図10(b)に示す位置)に回動(変位)させる。
The surface treatment jig 100 shown in FIG. 10 includes a spherical elastic body 137 having a hollow portion 137a whose volume is increased when the displacement means depressurizes the decompression chamber.
The elastic body 137 is set so that the outer diameter thereof is approximately equal to the separation distance between the support portion 133 and the base 110 near atmospheric pressure (normal pressure). When the decompression chamber is in a decompressed state, the outer diameter of the elastic body 137 increases as the volume of the hollow portion 137a increases. Thereby, the support part 133 is rotated around the rotation center axis 134, and the pin 131 is moved from the first position (position shown in FIG. 10A) to the second position (position shown in FIG. 10B). ) To rotate (displace).

この弾性体137の構成材料としては、前述したOリング2で挙げた材料と同様のものを用いることができる。
このような表面処理用治具100によっても、前記の表面処理用治具と同様の作用・効果が得られる。
なお、弾性体137の外部形状(全体形状)は、球状に限定されず、例えば、立方体、直方体等、いかなる形状であってもよい。
As a constituent material of the elastic body 137, the same materials as those mentioned for the O-ring 2 can be used.
Such a surface treatment jig 100 can provide the same operations and effects as the surface treatment jig.
The external shape (overall shape) of the elastic body 137 is not limited to a spherical shape, and may be any shape such as a cube or a rectangular parallelepiped.

次に、図10に示す表面処理用治具を用いて行う表面処理方法(第6表面処理方法)について説明する。
なお、ここでは、前記第5表面処理方法との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
[1F] 減圧工程(第1の工程)
まず、前記工程[1E]と同様の工程を行う。
Next, a surface treatment method (sixth surface treatment method) performed using the surface treatment jig shown in FIG. 10 will be described.
Here, the difference from the fifth surface treatment method will be mainly described, and the description of the same matters will be omitted.
[1F] Depressurization step (first step)
First, the same process as the process [1E] is performed.

[2F] 吸着・保持工程(第2の工程)
次に、前記工程[2E]と同様の工程を行う。
[3F] エッチング工程(第3の工程)
次に、前記工程[3E]と同様の工程を行う。
[4F] 取り外し工程(第4の工程)
まず、本体部3を処理槽から取り出し、基台110上に載置し、前述のように固定部120を本体部3の縁部に接触するようにして基台110に固定する。これにより、本体部3を基台110に固定する。
更に、ネジ136を回転させて(螺合により)、第2の位置に調整する。
[2F] Adsorption / holding step (second step)
Next, the same process as the process [2E] is performed.
[3F] Etching process (third process)
Next, the same process as the process [3E] is performed.
[4F] Removal step (fourth step)
First, the main body 3 is taken out of the processing tank and placed on the base 110, and the fixing portion 120 is fixed to the base 110 so as to contact the edge of the main body 3 as described above. As a result, the main body 3 is fixed to the base 110.
Further, the screw 136 is rotated (by screwing) to adjust to the second position.

次に、再度、真空チャンバ(減圧室)内に搬入し、真空チャンバ内を減圧する。
これにより、凹部32内の圧力が外圧(真空チャンバ内の圧力)とほぼ等しいか、または、外圧よりも高くなり、その結果、気圧の差による基板10に基板当接面31から離間する方向(上方向)への押圧力が作用する。
また、このとき、真空チャンバ内を減圧するのに伴って、中空部137aの容積が増大することにより、弾性体137は、その外径が増大して支持部133を上方向に押圧する。これにより、ピン131は、第2の位置に向かって回動(変位)を開始し、その一端部が基板10の縁部の表面102に当接して、基板10の縁部を上方向に押圧する。
Next, it is carried into the vacuum chamber (decompression chamber) again, and the vacuum chamber is depressurized.
As a result, the pressure in the recess 32 is substantially equal to or higher than the external pressure (pressure in the vacuum chamber), and as a result, the direction in which the substrate 10 is separated from the substrate contact surface 31 due to the difference in atmospheric pressure ( The upward pressure is applied.
At this time, as the inside of the vacuum chamber is decompressed, the volume of the hollow portion 137a increases, whereby the elastic body 137 increases in outer diameter and presses the support portion 133 upward. As a result, the pin 131 starts to rotate (displace) toward the second position, and its one end abuts against the surface 102 of the edge of the substrate 10 to press the edge of the substrate 10 upward. To do.

このように、本実施形態によれば、気圧の差および離間補助手段130の双方の押圧力が作用することにより、基板10が表面処理用治具100から、より確実に取り外される(離脱する)。
図11は、他の構成例の変位手段を備える表面処理用治具を示す斜視図である。
なお、以下の説明では、図11の上側を「上」、下側を「下」と言う。
As described above, according to the present embodiment, the substrate 10 is more reliably removed (detached) from the surface treatment jig 100 by the pressure difference between the pressure difference and the separation assisting means 130 acting. .
FIG. 11 is a perspective view showing a surface treatment jig provided with displacement means of another configuration example.
In the following description, the upper side of FIG. 11 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.

以下、図11に示す表面処理用治具について、図6〜図9に示す表面処理用治具との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図11に示す表面処理用治具100は、変位手段が梃子138aと重り138bとで構成されている。
梃子138aは、その一端部が基台110と支持部133との間に挿入され、他端部に重り138bが固定されている。梃子138aは、他端部に重り138bが設けられていることから、一端部には上方に向かう力が作用する。これにより、支持部133を上方向に押圧して、ピン131を第2の位置に向かって回動(変位)させる。
Hereinafter, the surface treatment jig illustrated in FIG. 11 will be described with a focus on differences from the surface treatment jig illustrated in FIGS. 6 to 9, and description of similar matters will be omitted.
In the surface treatment jig 100 shown in FIG. 11, the displacing means is composed of a lever 138a and a weight 138b.
One end portion of the insulator 138a is inserted between the base 110 and the support portion 133, and a weight 138b is fixed to the other end portion. Since the lever 138a is provided with the weight 138b at the other end, an upward force acts on one end. Accordingly, the support portion 133 is pressed upward, and the pin 131 is rotated (displaced) toward the second position.

このような表面処理用治具100によっても、前記の表面処理用治具と同様の作用・効果が得られる。
なお、図示の例では、梃子138aと重り138bとが別部材で構成されている場合について説明したが、これらは一体的に形成されたものであってもよい。
または、ピン131自体を梃子として用いても良い。
Such a surface treatment jig 100 can provide the same operations and effects as the surface treatment jig.
In the illustrated example, the case where the lever 138a and the weight 138b are formed of different members has been described, but these may be formed integrally.
Alternatively, the pin 131 itself may be used as an insulator.

次に、図11に示す表面処理用治具を用いて行う表面処理方法(第7表面処理方法)について説明する。
なお、ここでは、前記第5表面処理方法との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
[1G] 減圧工程(第1の工程)
まず、前記工程[1E]と同様の工程を行う。
Next, a surface treatment method (seventh surface treatment method) performed using the surface treatment jig shown in FIG. 11 will be described.
Here, the difference from the fifth surface treatment method will be mainly described, and the description of the same matters will be omitted.
[1G] Depressurization step (first step)
First, the same process as the process [1E] is performed.

[2G] 吸着・保持工程(第2の工程)
次に、前記工程[2E]と同様の工程を行う。
[3G] エッチング工程(第3の工程)
次に、前記工程[3E]と同様の工程を行う。
[4G] 取り外し工程(第4の工程)
まず、本体部3を処理槽から取り出し、基台110上に載置し、前述のように固定部120を本体部3の縁部に接触するようにして基台110に固定する。これにより、本体部3を基台110に固定する。
[2G] Adsorption / holding step (second step)
Next, the same process as the process [2E] is performed.
[3G] Etching process (third process)
Next, the same process as the process [3E] is performed.
[4G] Removal step (fourth step)
First, the main body 3 is taken out of the processing tank and placed on the base 110, and the fixing portion 120 is fixed to the base 110 so as to contact the edge of the main body 3 as described above. As a result, the main body 3 is fixed to the base 110.

更に、ネジ136を回転させて(螺合により)、第2の位置に調整する。
なお、このとき、ピン131は、間隙34に挿入された状態にあり、梃子138aおよび重り138bで構成される変位手段の作用により、第2の位置に向かって若干回動するが、その一端部が基板10の縁部の表面102に当接すると、この状態で(第1の位置に)保持される。
Further, the screw 136 is rotated (by screwing) to adjust to the second position.
At this time, the pin 131 is inserted in the gap 34 and is slightly rotated toward the second position by the action of the displacement means constituted by the lever 138a and the weight 138b. Is brought into contact with the edge surface 102 of the substrate 10 in this state (in the first position).

次に、再度、真空チャンバ(減圧室)内に搬入し、真空チャンバ内を減圧する。
これにより、凹部32内の圧力が外圧(真空チャンバ内の圧力)とほぼ等しいか、または、外圧よりも高くなり、その結果、気圧の差による基板10に基板当接面31から離間する方向(上方向)への押圧力が作用する。
また、前述したように、基板10の縁部の表面102には、ピン131の一端部が当接しており、これにより、基板10の縁部は、ピン131が第2の位置に向かう方向、すなわち上方向に押圧されている。
このように、図示の例によれば、気圧の差および離間補助手段130の双方の押圧力が作用することにより、基板10が表面処理用治具100から、より確実に取り外される(離脱する)。
Next, it is carried into the vacuum chamber (decompression chamber) again, and the vacuum chamber is depressurized.
As a result, the pressure in the recess 32 is substantially equal to or higher than the external pressure (pressure in the vacuum chamber), and as a result, the direction in which the substrate 10 is separated from the substrate contact surface 31 due to the difference in atmospheric pressure ( The upward pressure is applied.
Further, as described above, one end portion of the pin 131 is in contact with the surface 102 of the edge portion of the substrate 10, whereby the edge portion of the substrate 10 is in the direction in which the pin 131 is directed to the second position, That is, it is pressed upward.
Thus, according to the illustrated example, the substrate 10 is more reliably removed (detached) from the surface treatment jig 100 due to the pressure difference between the pressure difference and the separation assisting means 130 acting. .

図12は、他の構成例の変位手段を備える表面処理用治具を示す斜視図である。
なお、以下の説明では、図12の上側を「上」、下側を「下」と言う。
以下、図12に示す表面処理用治具について、図6〜図9に示す表面処理用治具との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図12に示す表面処理用治具100は、変位手段がモータ139で構成されている。
FIG. 12 is a perspective view showing a surface treatment jig provided with displacement means of another configuration example.
In the following description, the upper side of FIG. 12 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.
Hereinafter, the surface treatment jig shown in FIG. 12 will be described with a focus on differences from the surface treatment jig shown in FIGS. 6 to 9, and description of similar matters will be omitted.
In the surface treatment jig 100 shown in FIG. 12, the displacement means includes a motor 139.

図示の例では、モータ139の回転軸139aが、支持部133の回転中心軸134を構成している。
または、ギヤ等を仲介して前記回転軸139aを前記回転中心軸134に連動させても良い。
また、モータ139は、その本体部139bが基台110に固定されている。
このような表面処理用治具100によっても、前記の表面処理用治具と同様の作用・効果が得られる。
In the illustrated example, the rotation shaft 139 a of the motor 139 constitutes the rotation center shaft 134 of the support portion 133.
Alternatively, the rotation shaft 139a may be linked to the rotation center shaft 134 through a gear or the like.
The motor 139 has a main body 139 b fixed to the base 110.
Such a surface treatment jig 100 can provide the same operations and effects as the surface treatment jig.

次に、図12に示す表面処理用治具を用いて行う表面処理方法(第8表面処理方法)について説明する。
なお、ここでは、前記第5表面処理方法との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
[1H] 減圧工程(第1の工程)
まず、前記工程[1E]と同様の工程を行う。
Next, a surface treatment method (eighth surface treatment method) performed using the surface treatment jig shown in FIG. 12 will be described.
Here, the difference from the fifth surface treatment method will be mainly described, and the description of the same matters will be omitted.
[1H] Depressurization step (first step)
First, the same process as the process [1E] is performed.

[2H] 吸着・保持工程(第2の工程)
次に、前記工程[2E]と同様の工程を行う。
[3H] エッチング工程(第3の工程)
次に、前記工程[3E]と同様の工程を行う。
[4H] 取り外し工程(第4の工程)
まず、本体部3を処理槽から取り出し、基台110上に載置し、前述のように固定部120を本体部3の縁部に接触するようにして基台110に固定する。これにより、本体部3を基台110に固定する。
[2H] Adsorption / holding step (second step)
Next, the same process as the process [2E] is performed.
[3H] Etching process (third process)
Next, the same process as the process [3E] is performed.
[4H] Removal step (fourth step)
First, the main body 3 is taken out of the processing tank and placed on the base 110, and the fixing portion 120 is fixed to the base 110 so as to contact the edge of the main body 3 as described above. As a result, the main body 3 is fixed to the base 110.

更に、ネジ136を回転させて(螺合により)、第2の位置に調整して、モータ139を駆動する。
なお、このとき、ピン131は、間隙34に挿入された状態にあり、モータ139の駆動力により、第2の位置に向かって若干回動するが、その一端部が基板10の縁部の表面102に当接すると、この状態で(第1の位置に)保持される。
Further, the screw 136 is rotated (by screwing), adjusted to the second position, and the motor 139 is driven.
At this time, the pin 131 is inserted in the gap 34 and is slightly rotated toward the second position by the driving force of the motor 139, but one end thereof is the surface of the edge of the substrate 10. When it comes into contact with 102, it is held in this state (in the first position).

次に、再度、真空チャンバ(減圧室)内に搬入し、真空チャンバ内を減圧する。
これにより、凹部32内の圧力が外圧(真空チャンバ内の圧力)とほぼ等しいか、または、外圧よりも高くなり、その結果、気圧の差による基板10に基板当接面31から離間する方向(上方向)への押圧力が作用する。
また、前述したように、基板10の縁部の表面102には、ピン131の一端部が当接しており、これにより、基板10の縁部は、ピン131が第2の位置に向かう方向、すなわち上方向に押圧されている。
Next, it is carried into the vacuum chamber (decompression chamber) again, and the vacuum chamber is depressurized.
As a result, the pressure in the recess 32 is substantially equal to or higher than the external pressure (pressure in the vacuum chamber), and as a result, the direction in which the substrate 10 is separated from the substrate contact surface 31 due to the difference in atmospheric pressure ( The upward pressure is applied.
Further, as described above, one end portion of the pin 131 is in contact with the surface 102 of the edge portion of the substrate 10, whereby the edge portion of the substrate 10 is in the direction in which the pin 131 is directed to the second position, That is, it is pressed upward.

このように、図示の例によれば、気圧の差および離間補助手段130の双方の押圧力が作用することにより、基板10が表面処理用治具100から、より確実に取り外される(離脱する)。
なお、以上説明したような当接部材(ピン131)と変位手段とを用いた離間補助手段130によれば、簡単な構成でありながら、基板10を表面処理用治具100から確実に取り外すことができる。
Thus, according to the illustrated example, the substrate 10 is more reliably removed (detached) from the surface treatment jig 100 due to the pressure difference between the pressure difference and the separation assisting means 130 acting. .
According to the separation assisting means 130 using the contact member (pin 131) and the displacement means as described above, the substrate 10 can be reliably removed from the surface treatment jig 100 with a simple configuration. Can do.

また、図8〜図12に図示して説明した変位手段は、極めて構成が簡単であるため、表面処理用治具100の部品点数が増大することや、コストが高くなることを防止することができる。
以上説明したように、本発明の表面処理用治具では、基板を気密的に固定(保持)し得、基板を固定した状態では、内部への各種液体の侵入が確実に阻止される。このため、本発明の表面処理用治具は、特に、処理液を用いて行う基板の表面処理への適用に適している。
Moreover, since the displacement means illustrated and described in FIGS. 8 to 12 has a very simple configuration, it is possible to prevent an increase in the number of parts of the surface treatment jig 100 and an increase in cost. it can.
As described above, in the surface treatment jig of the present invention, the substrate can be hermetically fixed (held), and in the state where the substrate is fixed, the penetration of various liquids into the interior is reliably prevented. For this reason, the jig for surface treatment of the present invention is particularly suitable for application to the surface treatment of a substrate performed using a treatment liquid.

かかる処理液を用いる表面処理としては、前述したウェットエッチングの他、例えば、メッキ等に適用することができる。
以上、本発明の表面処理用治具について、図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明は、これらに限定されるものではない。
例えば、本発明では、前記第1〜第3実施形態の構成のうちの任意の2以上を組み合わせることもできる。また、前記第1〜第3実施形態の構成に前記参考例の構成を組み合わせることもできる。
As the surface treatment using such a treatment liquid, for example, plating can be applied in addition to the above-described wet etching.
As mentioned above, although the jig for surface treatment of the present invention was explained based on the illustrated embodiment, the present invention is not limited to these.
For example, in the present invention, any two or more of the configurations of the first to third embodiments can be combined. Further, the configuration of the reference example may be combined with the configurations of the first to third embodiments.

また、本発明の表面処理用治具を構成する各部は、同様の機能を発揮し得る任意の構成のものと置換することができ、任意の構成を追加することもできる。
また、表面処理方法では、必要に応じて、任意の目的の工程を追加することもできる。
また、各前記実施形態では、閉空間を基板で塞いだ状態(表面処理用治具に基板を接触させた状態)で、減圧室内に搬入し、閉空間を減圧する場合について説明したが、以上のような表面処理方法では、閉空間を基板で塞ぐことなく、これらを減圧室内に搬入し、減圧室内を減圧した後、閉空間を基板で塞ぐようにしてもよい。
Moreover, each part which comprises the jig for surface treatment of this invention can be substituted by the thing of the arbitrary structures which can exhibit the same function, and arbitrary structures can also be added.
Further, in the surface treatment method, an arbitrary target process can be added as necessary.
In each of the above embodiments, the case where the closed space is closed with the substrate (the substrate is in contact with the surface treatment jig) and carried into the decompression chamber to decompress the closed space has been described. In such a surface treatment method, without closing the closed space with the substrate, these may be carried into the decompression chamber, and after the decompression chamber is decompressed, the closed space may be closed with the substrate.

本発明の表面処理用治具の第1実施形態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows 1st Embodiment of the jig for surface treatment of this invention. 図1に示す表面処理用治具の平面図である。It is a top view of the jig for surface treatment shown in FIG. 本発明の表面処理用治具の第2実施形態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows 2nd Embodiment of the jig for surface treatment of this invention. 図3に示す表面処理用治具の平面図である。It is a top view of the jig for surface treatment shown in FIG. 本発明の表面処理用治具の第3実施形態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows 3rd Embodiment of the jig for surface treatment of this invention. 表面処理用治具の参考例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the reference example of the jig for surface treatment. 図6に示す表面処理用治具の平面図である。It is a top view of the jig for surface treatment shown in FIG. 参考例の表面処理用治具に離間補助手段を付加した構成を示す部分縦断面図である。It is a fragmentary longitudinal cross-section which shows the structure which added the separation assistance means to the jig for surface treatment of a reference example. 図8に示す表面処理用治具の使用方法を説明するための図(部分縦断面図)である。It is a figure (partial longitudinal cross-sectional view) for demonstrating the usage method of the jig for surface treatment shown in FIG. 他の構成例の変位手段を備える表面処理用治具を示す部分縦断面図である。It is a fragmentary longitudinal cross-section which shows the jig for surface treatment provided with the displacement means of the other structural example. 他の構成例の変位手段を備える表面処理用治具を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the jig for surface treatment provided with the displacement means of the other structural example. 他の構成例の変位手段を備える表面処理用治具を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the jig for surface treatment provided with the displacement means of the other structural example.

符号の説明Explanation of symbols

1‥‥表面処理用治具 2‥‥Oリング 3‥‥本体部 31‥‥基板当接面 311‥‥周縁部 312‥‥段差部 32‥‥凹部 33‥‥溝 34‥‥間隙 4‥‥表面処理用治具 41a、41b‥‥基板当接面 42‥‥貫通孔 43‥‥凹部 5‥‥表面処理用治具 6‥‥弾性板 61‥‥基板当接面 62‥‥貫通孔 7‥‥本体部 72‥‥流路 73‥‥流路 81‥‥ネジ 82‥‥Oリング 10‥‥基板 101‥‥裏面 102‥‥表面 20‥‥基板 201‥‥裏面 202‥‥表面 203‥‥凹部 30‥‥基板 301‥‥裏面 302‥‥表面 303‥‥凹部 100‥‥表面処理用治具 110‥‥基台 110a‥‥螺合部 120‥‥固定部 130‥‥離間補助手段 131‥‥ピン 132‥‥コイルバネ 133‥‥支持部 133a‥‥貫通孔 134‥‥回転中心軸 135‥‥軸受け 136‥‥ネジ 137‥‥弾性体 137a‥‥中空部 138a‥‥梃子 138b‥‥重り 139‥‥モータ 139a‥‥回転軸 139b‥‥本体部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Surface treatment jig 2 ... O-ring 3 ... Main body 31 ... Substrate contact surface 311 ... Rim edge 312 ... Step part 32 ... Recess 33 ... Groove 34 ... Gap 4 ... Surface treatment jigs 41a, 41b ... Substrate contact surface 42 ... Through hole 43 ... Recessed part 5 ... Surface treatment jig 6 ... Elastic plate 61 ... Substrate contact surface 62 ... Through hole 7 ... ··· Body 72 ············································ 81 30 ... Substrate 301 ... Back 302 ... Surface 303 ... Recess 100 ... Surface treatment jig 110 ... Base 110a ... Screwing part 120 ... Fixing part 130 ... Separation assisting means 131 ... Pin 132... Coil spring 133... Support part 133 a. Hole 134 ‥‥ rotation center axis 135 ‥‥ bearing 136 ‥‥ screw 137 ‥‥ elastic body 137a ‥‥ hollow portion 138a ‥‥ lever 138b ‥‥ weight 139 ‥‥ motor 139a ‥‥ rotary shaft 139b ‥‥ body portion

Claims (18)

基板の一方の面に表面処理を施す際に、前記基板を吸着・保持する表面処理用治具であって、
前記基板の他方の面が当接する基板当接面と、前記基板当接面側に開放する凹部とを備え、弾性材料で構成された弾性板を有し、
前記基板を前記凹部を覆いかつ前記弾性板に接触させた状態で、減圧室内に搬入し、前記減圧室内を減圧することにより前記凹部内を減圧した後、前記減圧室内を大気圧に復帰させたとき、前記凹部内の圧力と大気圧との差により前記基板が前記基板当接面に向かって押圧され、この押圧力により前記基板と前記弾性板とが密着して前記凹部の気密性が保持され、これにより、前記基板を吸着・保持するよう構成されていることを特徴とする表面処理用治具。
A surface treatment jig for adsorbing and holding the substrate when performing surface treatment on one surface of the substrate,
A substrate abutting surface with which the other surface of the substrate abuts, and a concave portion opened to the substrate abutting surface side, and having an elastic plate made of an elastic material,
The substrate is carried into the decompression chamber while covering the recess and in contact with the elastic plate, and the decompression chamber is decompressed to decompress the interior of the decompression chamber, and then the decompression chamber is returned to atmospheric pressure. When the substrate is pressed toward the substrate contact surface due to the difference between the pressure in the recess and the atmospheric pressure, the substrate and the elastic plate are brought into close contact with each other by the pressing force, so that the airtightness of the recess is maintained. Thus, the surface treatment jig is configured to suck and hold the substrate.
前記凹部を複数有する請求項1に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 1, comprising a plurality of the recesses. 前記弾性板は、その両側の面に、それぞれ、前記基板当接面を有し、前記弾性板の両側で、2つの前記基板を同時に吸着・保持するよう構成されている請求項2に記載の表面処理用治具。   3. The elastic plate according to claim 2, wherein the elastic plate has the substrate contact surfaces on both sides thereof, and is configured to simultaneously adsorb and hold the two substrates on both sides of the elastic plate. Surface treatment jig. 前記弾性板に前記基板を接触させた状態で、前記凹部と外部とを連通する流路を有さない請求項3に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 3, wherein the surface treatment jig does not have a flow path that connects the concave portion and the outside in a state where the substrate is in contact with the elastic plate. 硬質材料で構成され、前記弾性板を支持する本体部を有し、前記弾性板の前記本体部と反対側の面で前記基板を吸着・保持する請求項2に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 2, comprising a main body portion made of a hard material and supporting the elastic plate, and adsorbing and holding the substrate on a surface opposite to the main body portion of the elastic plate. 前記本体部は、前記凹部同士を連通する流路を有する請求項5に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 5, wherein the main body has a flow path that connects the recesses. 前記本体部は、前記弾性板に前記基板を接触させた状態で、前記凹部と外部とを連通する流路を有さない請求項5または6に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 5, wherein the main body portion does not have a flow path that connects the concave portion and the outside in a state where the substrate is in contact with the elastic plate. 前記本体部は、前記弾性板に前記基板を接触させた状態で、前記凹部と外部とを連通する流路と、前記基板を吸着・保持する際に、前記流路を気密的に封止する封止部材とを有する請求項5または6に記載の表面処理用治具。   The main body hermetically seals the flow path when adsorbing and holding the substrate, and a flow path that communicates the recess and the outside with the substrate in contact with the elastic plate. The jig for surface treatment according to claim 5 or 6 which has a sealing member. 前記表面処理用治具は、前記基板に対し、処理液を用いて表面処理を行う際に用いられるものである請求項1ないし8のいずれかに記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to any one of claims 1 to 8, wherein the surface treatment jig is used when surface treatment is performed on the substrate using a treatment liquid. 前記表面処理用治具は、前記基板に対し、ウェットエッチングを行う際に用いられるものである請求項9に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 9, wherein the surface treatment jig is used when wet etching is performed on the substrate. 前記基板に表面処理を施した後、減圧室内に搬入し、該減圧室内の圧力を前記凹部内の圧力と等しいか、または、前記凹部内の圧力より低い圧力となるように減圧することにより前記押圧力が消失し、これにより、前記基板が離脱するよう構成されている請求項1ないし10のいずれかに記載の表面処理用治具。   After the surface treatment is performed on the substrate, the substrate is carried into a decompression chamber, and the pressure in the decompression chamber is reduced to be equal to or lower than the pressure in the recess. The surface treatment jig according to any one of claims 1 to 10, wherein the pressing force disappears, whereby the substrate is detached. 前記表面処理用治具は、前記減圧室内において、前記基板が前記弾性板から離間するのを補助する離間補助手段を有する請求項11に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 11, wherein the surface treatment jig includes separation assisting means for assisting the separation of the substrate from the elastic plate in the decompression chamber. 前記離間補助手段は、前記基板が前記弾性板から離間する際に、一部が前記基板の他方の面に当接する当接部材と、該当接部材を前記弾性板から離間する方向に変位させる変位手段とを有する請求項12に記載の表面処理用治具。   The separation assisting means includes a contact member that partially contacts the other surface of the substrate and a displacement that displaces the contact member in a direction separating the elastic plate when the substrate is separated from the elastic plate. The surface treatment jig according to claim 12, further comprising: means. 前記当接部材は、円柱状または角柱状をなし、その前記基板の他方の面に当接する端部と反対の端部側を中心として回動可能となっている請求項13に記載の表面処理用治具。   The surface treatment according to claim 13, wherein the contact member has a columnar shape or a prismatic shape, and is rotatable about an end portion opposite to an end portion that contacts the other surface of the substrate. Jig. 前記変位手段は、バネで構成されている請求項13または14に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 13 or 14, wherein the displacing means comprises a spring. 前記変位手段は、中空部を有し、前記減圧室内を減圧することにより、前記中空部内の圧力と前記減圧室内の圧力との差により、外部形状が増大する弾性体で構成され、該弾性体の外部形状の増大に伴って、前記当接部材を変位させるよう構成されている請求項13または14に記載の表面処理用治具。   The displacement means includes a hollow portion, and is configured by an elastic body whose external shape increases by reducing the pressure in the decompression chamber, due to a difference between the pressure in the hollow portion and the pressure in the decompression chamber. The jig for surface treatment according to claim 13 or 14 constituted so that said contact member may be displaced in connection with increase in the external shape of. 前記変位手段は、梃子と重りとで構成されている請求項13または14に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 13 or 14, wherein the displacement means includes an insulator and a weight. 前記変位手段は、モータで構成されている請求項13または14に記載の表面処理用治具。   The surface treatment jig according to claim 13 or 14, wherein the displacement means is constituted by a motor.
JP2006124478A 2003-09-30 2006-04-27 Surface treatment jig Expired - Fee Related JP4353201B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006124478A JP4353201B2 (en) 2003-09-30 2006-04-27 Surface treatment jig

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003339323 2003-09-30
JP2006124478A JP4353201B2 (en) 2003-09-30 2006-04-27 Surface treatment jig

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004171944A Division JP3817733B2 (en) 2003-09-30 2004-06-09 Surface treatment jig

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006237639A true JP2006237639A (en) 2006-09-07
JP4353201B2 JP4353201B2 (en) 2009-10-28

Family

ID=37044866

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006124478A Expired - Fee Related JP4353201B2 (en) 2003-09-30 2006-04-27 Surface treatment jig

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4353201B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009224472A (en) * 2008-03-14 2009-10-01 Denso Corp Etching device for semiconductor wafer

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101856489B1 (en) * 2018-02-06 2018-06-19 주식회사 탑텍 Shower Head Jig and Manufacturing Method for Semiconductor Manufacture

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009224472A (en) * 2008-03-14 2009-10-01 Denso Corp Etching device for semiconductor wafer

Also Published As

Publication number Publication date
JP4353201B2 (en) 2009-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3817733B2 (en) Surface treatment jig
US7629230B2 (en) Wafer processing method
JP5094863B2 (en) Substrate adsorption apparatus and manufacturing method thereof
TW398039B (en) Apparatus and method of separating sample and substrate fabrication method
JP4548239B2 (en) Substrate bonding method and substrate bonding apparatus
JP2012160628A (en) Substrate bonding method and substrate bonding device
JP2009010072A (en) Substrate-sticking device
JP4671841B2 (en) Degassing method and degassing apparatus between objects
JP4353201B2 (en) Surface treatment jig
JP4814284B2 (en) Tape applicator
US20100144147A1 (en) Sample holding tool, sample suction device using the same and sample processing method using the same
JP2007158190A (en) Suction device, polishing device, semiconductor device manufacturing method, and semiconductor device manufactured by the method
JP2008300426A (en) Vacuum chuck
JP2005126814A (en) Surface treatment method
JP5329916B2 (en) Semiconductor wafer support
JP3862065B2 (en) Wafer polishing head
JP2008111969A (en) Exposure apparatus
JP2004199036A (en) Bonding apparatus of substrate and liquid crystal display panel
JP2007258467A (en) Sucking apparatus, polishing apparatus, semiconductor-device manufacturing method, and semiconductor device manufactured by same method
JP2005123387A (en) Substrate holding jig and method for processing surface of substrate
JP2007142158A (en) Tape sticking machine
JP2006035369A (en) Surface polishing machine
JP2009295698A (en) Substrate etching method
JP4761169B2 (en) Magnetic transfer apparatus, magnetic transfer method, and method of manufacturing transfer medium for magnetic transfer
JP2005134687A (en) Substrate assembling method and its device

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080710

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080715

A521 Written amendment

Effective date: 20080911

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090428

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090617

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090707

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20090720

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120807

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130807

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees