JP2006222524A - Oscillation circuit - Google Patents
Oscillation circuit Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006222524A JP2006222524A JP2005031707A JP2005031707A JP2006222524A JP 2006222524 A JP2006222524 A JP 2006222524A JP 2005031707 A JP2005031707 A JP 2005031707A JP 2005031707 A JP2005031707 A JP 2005031707A JP 2006222524 A JP2006222524 A JP 2006222524A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- oscillation
- constant current
- voltage
- detection signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、抵抗とキャパシタを用いた発振回路に関し、特に半導体装置に作り込まれて、その半導体装置内の他回路へ発振信号を供給する内部発振回路に関する。 The present invention relates to an oscillation circuit using a resistor and a capacitor, and more particularly to an internal oscillation circuit that is built in a semiconductor device and supplies an oscillation signal to other circuits in the semiconductor device.
抵抗RとキャパシタCとを用いたCR発振回路は、構成が簡単であり、また、水晶振動子などの共振子を用いる必要がない。このため、CR発振回路は、半導体装置内の種々の回路要素(例、CPU)に、クロック信号を供給するための内部発振回路として、広く用いられている。 The CR oscillation circuit using the resistor R and the capacitor C has a simple configuration and does not require the use of a resonator such as a crystal resonator. For this reason, the CR oscillation circuit is widely used as an internal oscillation circuit for supplying a clock signal to various circuit elements (eg, CPU) in the semiconductor device.
例えば、特許文献1には、CR発振回路の抵抗器として、電圧により抵抗値が制御されるトランジスタを用いる。そして、そのトランジスタの抵抗値を、外付け抵抗器の実装状態に応じて制御する。これによって、CR発振回路の発振周波数を、外部から制御することを、開示している。
しかし、発振回路とともに、他回路が同じ半導体装置に作り込まれる場合には、電源電圧の変動がしばしば発生する。また、外部の電池から電源電圧を受ける場合には、充放電に伴って電圧が変動してしまう。特許文献1のCR発振回路では、発振周波数を外部から必要に応じて制御できるが、その電源電圧が変動する場合には、発振周波数も変動してしまうという問題がある。
However, when other circuits are built in the same semiconductor device together with the oscillation circuit, fluctuations in the power supply voltage often occur. Moreover, when receiving a power supply voltage from an external battery, a voltage will fluctuate with charging / discharging. In the CR oscillation circuit of
そこで、本発明は、電源電圧が変動した場合にも、発振周波数の変動を少なくすることができる、抵抗とキャパシタを用いた発振回路を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide an oscillation circuit using a resistor and a capacitor that can reduce fluctuations in oscillation frequency even when the power supply voltage fluctuates.
請求項1の発振回路は、第1定電流と、該第1定電流と比例する第2定電流とを発生するための定電流源回路と、
前記第1定電流が流され、第1基準電圧を発生する抵抗回路と、
前記第2定電流で充電され、充電電圧に応じた比較電圧を発生するキャパシタ回路と、
前記比較電圧を前記第1基準電圧と比較し、前記比較電圧が前記第1基準電圧を超えるときに第1検出信号を発生する電圧比較回路と、
前記第1検出信号に応じてオンし、前記キャパシタ回路の電荷を放電するためのスイッチ回路と、
前記第1検出信号の幅を拡げた伸張パルスを発生するパルス幅伸張回路と、
前記伸張パルスに基づいて発振パルスを生成する発振パルス生成回路と、を有することを特徴とする。
An oscillation circuit according to
A resistor circuit for generating a first reference voltage by passing the first constant current;
A capacitor circuit that is charged with the second constant current and generates a comparison voltage according to a charging voltage;
A voltage comparison circuit that compares the comparison voltage with the first reference voltage and generates a first detection signal when the comparison voltage exceeds the first reference voltage;
A switch circuit which is turned on in response to the first detection signal and discharges the electric charge of the capacitor circuit;
A pulse width expansion circuit for generating an expansion pulse with an expanded width of the first detection signal;
And an oscillation pulse generation circuit that generates an oscillation pulse based on the extension pulse.
請求項2の発振回路は、請求項1に記載の発振回路において、前記抵抗回路は、さらに、前記第1基準電圧よりも低い第2基準電圧を発生し、
前記電圧比較回路は、さらに、前記比較電圧を前記第2基準電圧と比較し、前記比較電圧が前記第2基準電圧を超えるときに第2検出信号を発生し、
前記発振パルス生成回路は、前記伸張パルスでセットされ、前記第2検出信号でリセットされるフリップフロップ回路を有することを特徴とする。
The oscillation circuit according to claim 2 is the oscillation circuit according to
The voltage comparison circuit further compares the comparison voltage with the second reference voltage and generates a second detection signal when the comparison voltage exceeds the second reference voltage;
The oscillation pulse generation circuit includes a flip-flop circuit that is set by the extension pulse and reset by the second detection signal.
請求項3の発振回路は、請求項2に記載の発振回路において、前記フリップフロップ回路は、リセット優先型であることを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, in the oscillation circuit according to the second aspect, the flip-flop circuit is a reset priority type.
請求項4の発振回路は、請求項1に記載の発振回路において、前記発振パルス生成回路は、前記伸張パルスを分周するフリップフロップ回路を有することを特徴とする。 An oscillation circuit according to a fourth aspect is the oscillation circuit according to the first aspect, wherein the oscillation pulse generation circuit includes a flip-flop circuit that divides the expansion pulse.
請求項5の発振回路は、請求項1乃至4のいずれかに記載の発振回路において、前記パルス幅伸張回路は、少なくとも1つのインバータと、該インバータの出力端と所定電位点との間に接続されたキャパシタを有することを特徴とする。
The oscillation circuit according to claim 5 is the oscillation circuit according to any one of
請求項6の発振回路は、請求項5に記載の発振回路において、前記インバータは、定電流で駆動されることを特徴とする。 An oscillation circuit according to a sixth aspect is the oscillation circuit according to the fifth aspect, wherein the inverter is driven with a constant current.
請求項7の発振回路は、請求項1乃至4のいずれかに記載の発振回路において、前記スイッチ回路は、前記第1検出信号が遅延回路を介して供給されることを特徴とする。 An oscillation circuit according to a seventh aspect is the oscillation circuit according to any one of the first to fourth aspects, wherein the switch circuit is supplied with the first detection signal via a delay circuit.
請求項8の発振回路は、請求項7に記載の発振回路において、前記遅延回路は、少なくとも1つのインバータを含むことを特徴とする。 An oscillation circuit according to an eighth aspect is the oscillation circuit according to the seventh aspect, wherein the delay circuit includes at least one inverter.
請求項9の発振回路は、請求項1乃至4のいずれかに記載の発振回路において、前記定電流源回路は、前記第1定電流を流す第1トランジスタと、該第1トランジスタとカレントミラー回路を構成し、前記第2定電流を流す第2トランジスタとを有することを特徴とする。
The oscillation circuit according to claim 9 is the oscillation circuit according to any one of
本発明によれば、第1定電流を流す抵抗回路で基準電圧を発生し、第2定電流で充電されるキャパシタ回路で比較電圧を発生する。これにより、電源電圧が変動したときでも、発振周波数の変動を少なくできる。 According to the present invention, the reference voltage is generated by the resistor circuit that flows the first constant current, and the comparison voltage is generated by the capacitor circuit that is charged by the second constant current. Thereby, even when the power supply voltage fluctuates, fluctuations in the oscillation frequency can be reduced.
また、電圧比較回路から出力される第1検出信号の幅を、パルス幅伸張回路で拡げる。このパルス幅伸張回路は、定電流で駆動されるインバータと、そのインバータの出力端に設けられたキャパシタとを含んで構成される。これにより、電源リップル、高周波ノイズ等によって第1検出信号がチャタリング(断続)しても、発振出力のパルス割れを防止できる。 In addition, the width of the first detection signal output from the voltage comparison circuit is expanded by the pulse width expansion circuit. This pulse width expansion circuit includes an inverter driven by a constant current and a capacitor provided at the output terminal of the inverter. Thereby, even if the first detection signal chatters (intermittently) due to power ripple, high frequency noise, etc., it is possible to prevent pulse breakage of the oscillation output.
また、発振パルス生成回路として、伸張パルスでセット(S)され、第2検出信号でリセット(R)される、リセット優先のR−S型フリップフロップ回路(FF回路)を用いる。これにより、電源電圧変動や高周波ノイズが大きい場合でも、発振出力をより安定して出力することができる。また、所望のデューティ比の発振出力を得ることができる。 Further, as the oscillation pulse generation circuit, a reset priority RS flip-flop circuit (FF circuit) that is set (S) by the expansion pulse and reset (R) by the second detection signal is used. Thereby, even when the power supply voltage fluctuation and the high frequency noise are large, the oscillation output can be output more stably. In addition, an oscillation output having a desired duty ratio can be obtained.
また、発振パルス生成回路として、伸張パルスを分周する分周回路を用いることにより、回路規模を小さくすることができる。 Further, the circuit scale can be reduced by using a frequency dividing circuit that divides the expanded pulse as the oscillation pulse generating circuit.
また、第1検出信号が、インバータを含む遅延回路を介してスイッチ回路に供給される。これにより、遅延回路の遅延時間だけ、第1検出信号の継続時間を長くできる。したがって、発振出力をより安定して得ることができる。 The first detection signal is supplied to the switch circuit via a delay circuit including an inverter. As a result, the duration of the first detection signal can be increased by the delay time of the delay circuit. Therefore, the oscillation output can be obtained more stably.
以下、本発明の発振回路の実施例について、図を参照して説明する。本発明の発振回路は、半導体装置に作り込まれる。そして、その半導体装置内の種々の回路要素(例、CPU)に、クロック信号を供給するための内部発振回路として、用いられる。 Hereinafter, embodiments of the oscillation circuit of the present invention will be described with reference to the drawings. The oscillation circuit of the present invention is built in a semiconductor device. And it is used as an internal oscillation circuit for supplying a clock signal to various circuit elements (for example, CPU) in the semiconductor device.
図1は、本発明の第1実施例に係る発振回路の構成を示す図である。図1において、定電流源回路10は、第1定電流I1と、この第1定電流と比例する第2定電流I2とを発生する。この定電流源回路10は、ゲートとドレインが接続されたP型MOSトランジスタである第1トランジスタ11と、ゲートが第1トランジスタ11のゲートに接続されたP型MOSトランジスタである第2トランジスタ21とを有している。この第1トランジスタ11と第2トランジスタ21は、カレントミラー構成とされているから、第2定電流I2は、第1定電流I1に比例する。即ち、I2=k×I1、但し、kはカレントミラー比であり、1でもよい。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an oscillation circuit according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, a constant
抵抗器12(抵抗値R1)と抵抗器13(抵抗値R2)の直列回路からなる抵抗回路に、第1定電流I1が流れる。これにより、抵抗器12と抵抗器13の直列回路には第1基準電圧Vt1(=I1×(R1+R2))が発生し、抵抗器13には第2基準電圧Vt2(=I1×R2)が発生する。
The first constant current I1 flows through a resistor circuit composed of a series circuit of the resistor 12 (resistance value R1) and the resistor 13 (resistance value R2). Thus, the first reference voltage Vt1 (= I1 × (R1 + R2)) is generated in the series circuit of the
キャパシタ回路22(キャパシタンスC1)には、スイッチ回路23がオフしているときに、第2定電流I2が流れて、電荷が蓄積される。キャパシタ回路22の電荷が零の状態から充電が開始されると、そのキャパシタ回路22の充電電圧Vcは第2定電流I2と時間Tとの積をキャパシタンスC1で除した電圧になる。即ち、Vc=I2×T/C1。また、スイッチ回路23がオンされると、キャパシタ回路22の電荷は速やかに放電され、充電電圧Vcは零になる。
When the
図2は、キャパシタ回路22の構成例を示す図である。図2において、複数のキャパシタ素子22−1〜22−4と、複数の可断素子(例、ヒューズ)22−6〜22−8から構成されている。図2のように、そのキャパシタ素子が並列に、また直列に接続されている。そして、その可断素子(例、ヒューズ)22−6〜22−8が、キャパシタ素子に並列に、または直列に接続されている。その可断素子のいずれかまたは複数を断状態にすることにより、キャパシタ回路22のキャパシタンスがトリミングされる。キャパシタ回路22のキャパシタンスがトリミングされることにより、充電電圧Vcの充電速度が変わる。即ち、発振周波数が変更される。
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration example of the
図1に戻って、電圧比較回路30は、第1比較器31において、充電電圧である比較電圧Vcを第1基準電圧Vt1と比較し、比較電圧Vcが第1基準電圧Vt1を超えるときに第1検出信号Sdet1を発生する。また、電圧比較回路30は、第1比較器31において、比較電圧Vcを第2基準電圧Vt2と比較し、比較電圧Vcが第2基準電圧Vt2を超えるときに第2検出信号Sdet2を発生する。これら第1、第2比較器31、32は、差動増幅器で構成されることがよい。
Returning to FIG. 1, in the
ここで、本発明の発振回路における発振周期について説明する。キャパシタ回路22の充電電圧Vc(=I2×T/C1)が第1基準電圧Vt1(=I1×(R1+R2))を超えた時点で、第1比較器31から第1検出信号Sdet1が発生する。この第1検出信号Sdet1に応じてスイッチ回路23がオンされ、充電電圧Vcが零電圧になる。即ち、充電時間Tが、発振周期となる。この発振周期Tは、次の式(1)で表される。
Here, the oscillation period in the oscillation circuit of the present invention will be described. The first detection signal Sdet1 is generated from the
I2×T/C1=I1×(R1+R2)
T=C1×(R1+R2)×I1/I2=C1×(R1+R2)×(1/k) (1)
但し、k=I2/I1
I2 × T / C1 = I1 × (R1 + R2)
T = C1 × (R1 + R2) × I1 / I2 = C1 × (R1 + R2) × (1 / k) (1)
However, k = I2 / I1
この式(1)に示されるように発振周期Tは、キャパシタ回路22のキャパシタンスC1、抵抗器12、13の抵抗値R1、R2、定電流源回路10のカレントミラー比kで決まり、電源電圧Vccには原理的に依存しない。したがって、電源電圧Vccが変動した場合でも、発振周期T(即ち、発振周波数)の変動は抑制される。
As shown in this equation (1), the oscillation period T is determined by the capacitance C1 of the
さて、第1検出信号Sdet1は、遅延回路40に供給され、所定の遅延時間だけ遅延されて、スイッチ回路23をオンする。この遅延回路40は、1つもしくは直列接続(従属接続)されたインバータ41、42を有している。この遅延回路40により、第1検出信号Sdet1の発生からスイッチ回路23のオンまでに時間遅れが発生する。これにより、キャパシタ回路22の電荷の放電が遅れるから、第1検出信号Sdet1はその遅延時間の分だけ発生されている時間が長くなる。遅延回路40の遅延時間は、第1検出信号Sdet1を発生させておく時間に応じて、設定されることがよい。
The first detection signal Sdet1 is supplied to the
また、遅延回路40にインバータを用いることにより、第1検出信号Sdet1の閾値検出機能を持つから、第1検出信号Sdet1のレベルを判別する閾値検出回路と言うことができる。
Further, since an inverter is used for the
なお、第1検出信号Sdet1を遅延させなくても、キャパシタ回路22の電荷を十分に放電できる場合には、遅延回路40を設ける必要はない。
Note that the
パルス幅伸張回路50は、第1検出信号Sdet1の幅が引き延ばされた(即ち、伸張された)伸張パルスを発生する。このパルス幅伸張回路50は、直列に接続された2つのインバータ51、52と、その前段のインバータ51の出力端とグランド間に接続されたキャパシタ53を有している。そして、その前段インバータ51は、定電流源回路54からの定電流I3で駆動される。したがって、キャパシタ53は、常時は所定電圧に充電されており、第1検出信号Sdet1が発生したときに速やかに放電するとともに、第1検出信号Sdet1がなくなったときには定電流I3によって時間をかけて所定電圧に充電される。
The pulse
このキャパシタの電荷の放電時と充電時の時間の差により、第1検出信号Sdet1のパルス幅が、伸張される。これにより、第1検出信号Sdet1の幅が例え短くても、後続の回路を確実に動作させることができる。 The pulse width of the first detection signal Sdet1 is expanded due to the difference between the time of discharging and charging the capacitor. Thereby, even if the width of the first detection signal Sdet1 is short, the subsequent circuit can be reliably operated.
また、他回路の動作状況(例、オン・オフ)等によって、電源電圧Vccに電源リップルが発生したり、高周波ノイズが発生した場合などには、第1検出信号Sdet1がチャタリング(断続)を起こす場合がある。しかし、本発明では、第1検出信号Sdet1の幅が伸張されるから、第1検出信号Sdet1がチャタリングしても、発振出力のパルス割れを防止できる。 In addition, the first detection signal Sdet1 causes chattering (intermittent) when a power supply ripple occurs in the power supply voltage Vcc or high-frequency noise occurs depending on the operation state (eg, on / off) of other circuits. There is a case. However, in the present invention, since the width of the first detection signal Sdet1 is expanded, even if the first detection signal Sdet1 chatters, the pulse breakage of the oscillation output can be prevented.
RS型FF回路61は、発振パルス生成回路である。RS型FF回路61は、パルス幅伸張回路50からの伸張パルスがセット信号SETとして入力され、第2検出信号Sdet2がリセット信号RESとして入力される。そして、RS型FF回路61の出力信号Qがバッファ回路71を介して発振出力OSCとして出力される。
The RS
このRS型FF回路61は、リセット優先タイプとすることが望ましい。これにより、電源電圧変動や高周波ノイズが大きい場合でも、発振出力をより安定して出力することができる。
The
また、リセット信号RESは、比較電圧Vcが第2基準電圧Vt2を超えた時点で発生する。したがって、第1基準電圧Vt1に対する第2基準電圧Vt2の比を調整することによって、所望のデューティ比の発振出力OSCを得ることができる。 The reset signal RES is generated when the comparison voltage Vc exceeds the second reference voltage Vt2. Therefore, by adjusting the ratio of the second reference voltage Vt2 to the first reference voltage Vt1, the oscillation output OSC having a desired duty ratio can be obtained.
さて、以上のように構成される本発明の第1実施例の動作を、図3のタイミングチャートをも参照して、説明する。 Now, the operation of the first embodiment of the present invention configured as described above will be described with reference to the timing chart of FIG.
まず、比較電圧Vcが第2基準電圧Vt2よりも低いときには、第2検出信号Sdet2、即ちリセット信号RESは発生されていない。このときには、発振出力OSCは高(H)レベルにある。 First, when the comparison voltage Vc is lower than the second reference voltage Vt2, the second detection signal Sdet2, that is, the reset signal RES is not generated. At this time, the oscillation output OSC is at a high (H) level.
時点t1で、比較電圧Vcが第2基準電圧Vt2を超えると、第2比較器32は第2検出信号Sdet2を発生する。そして、リセット信号RESによって、RS型FF回路61はリセットされ、発振出力OSCは低(L)レベルになる。時点t1の後も、比較電圧Vcは上昇を続ける。
When the comparison voltage Vc exceeds the second reference voltage Vt2 at time t1, the
時点t2で、比較電圧Vcが第1基準電圧Vt1を超えると、第1比較器31から第1検出信号Sdet1が発生し、スイッチ回路23がオンされる。スイッチ回路23のオンにより、キャパシタ回路22の電荷は放電されて、比較電圧Vcは急激に零電圧に向けて低下する。図1の例では、遅延回路40を設けて第1検出信号Sdet1を遅延させているから、キャパシタ回路22の電荷はその遅延時間だけ遅れて放電される。したがって、第1検出信号Sdet1は、やはり、遅延回路40の遅延時間に応じて継続して出力される。
When the comparison voltage Vc exceeds the first reference voltage Vt1 at time t2, the first detection signal Sdet1 is generated from the
時点t2で、第1検出信号Sdet1が発生されると、インバータ51の出力は高レベルから反転して、低レベルになる。これにより、キャパシタ53に充電されていた電荷は急速に放電されるから、キャパシタ53の電圧Vmは高電圧から零電圧に向けて短時間で低下する。キャパシタ53の電荷が放電されると、後段のインバータ52の出力は低レベルから反転して高レベルになる。これにより、セット信号SETが発生される。
When the first detection signal Sdet1 is generated at the time point t2, the output of the
そして、時点t2から短時間で第1検出信号Sdet1がなくなる(即ち、第1検出信号Sdet1の幅は、狭い)と、キャパシタ53は再び充電が開始される。キャパシタ53は、インバータ51を介して、定電流I3で充電される。したがって、このキャパシタ53が所定電圧まで充電されるには所定の時間を要する。電圧Vmが、インバータ52の閾値電圧を超えた時点t3で、インバータ52が反転する。この結果、時点t2から時点t3までセット信号SETが出力されるから、第1検出信号Sdet1がセット信号SETに伸張されたことになる。
Then, when the first detection signal Sdet1 disappears in a short time from the time point t2 (that is, the width of the first detection signal Sdet1 is narrow), the
さて、時点t2で、第1検出信号Sdet1に基づいて比較電圧Vcが低下するから、第2検出信号Sdet2(即ち、リセット信号RES)が発生されなくなる。そして、リセット信号RESが発生されていないことを条件として、RS型FF回路61がセット信号SETによりセットされる。これにより、発振出力OSCがHレベルになる。
Now, at time t2, the comparison voltage Vc decreases based on the first detection signal Sdet1, and therefore the second detection signal Sdet2 (ie, the reset signal RES) is not generated. Then, on the condition that the reset signal RES is not generated, the RS
次に、時点t4で、リセット信号RESが発生されて、発振出力OSCが再びLレベルになる。このようにして、周期T1の発振出力OSCが出力される。 Next, at time t4, the reset signal RES is generated, and the oscillation output OSC again becomes L level. In this way, the oscillation output OSC having the period T1 is output.
図4は、本発明の第2実施例に係る発振回路の構成を示す図である。図4の第2実施例では、発振パルス生成回路を、伸張パルスSspを分周する分周用FF回路62により構成している。
FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the oscillation circuit according to the second embodiment of the present invention. In the second embodiment of FIG. 4, the oscillation pulse generation circuit is constituted by a frequency
この図4では、分周用FF回路62として、D型FF回路を用い、そのクロック入力端Cに伸張パルスSspを入力するとともに、反転出力端子Q’(ここで、「’」は、アッパーラインを意味する)をデータ入力端子Dに接続する。これにより、伸張パルスSspが入力される度に、出力端子Qの状態が反転する。なお、分周用FF回路62として、分周動作をするFF回路であればよく、例えば、T型FF回路が用いられ得る。
In FIG. 4, a D-type FF circuit is used as the frequency dividing
図4では、図1での第2比較器32及び抵抗器13が不要であるから、図1に比して回路構成が簡単になる。ただ、この図4では、発振出力OSCの周波数が、伸張パルスSspの周波数の半分になる。したがって、必要とする周波数応じて、図4の回路が用いられる。なお、図4において、その他の構成は、図1と同様である。
In FIG. 4, since the
10 定電流源回路
11 第1トランジスタ
12、13 抵抗器
21 第2トランジスタ
22 キャパシタ回路
23 スイッチ回路
30 電圧比較回路
31 第1比較器
32 第2比較器
40 遅延回路
41、42 インバータ
50 パルス幅伸張回路
51、52 インバータ
53 キャパシタ
54 定電流源回路
61 RS型FF回路
62 分周用FF回路
71 バッファ回路
I1 第1定電流
I2 第2定電流
Vt1 第1基準電圧
Vt2 第2基準電圧
Vc 比較電圧(充電電圧)
Sdet1 第1検出信号
Sdet2 第2検出信号
Vm 電圧
SET セット信号
RES リセット信号
Ssp 伸張パルス
OSC 発振出力
10 constant
Sdet1 first detection signal Sdet2 second detection signal Vm voltage SET set signal RES reset signal Ssp expansion pulse OSC oscillation output
Claims (9)
前記第1定電流が流され、第1基準電圧を発生する抵抗回路と、
前記第2定電流で充電され、充電電圧に応じた比較電圧を発生するキャパシタ回路と、
前記比較電圧を前記第1基準電圧と比較し、前記比較電圧が前記第1基準電圧を超えるときに第1検出信号を発生する電圧比較回路と、
前記第1検出信号に応じてオンし、前記キャパシタ回路の電荷を放電するためのスイッチ回路と、
前記第1検出信号の幅を拡げた伸張パルスを発生するパルス幅伸張回路と、
前記伸張パルスに基づいて発振パルスを生成する発振パルス生成回路と、を有することを特徴とする、発振回路。 A constant current source circuit for generating a first constant current and a second constant current proportional to the first constant current;
A resistor circuit for generating a first reference voltage by passing the first constant current;
A capacitor circuit that is charged with the second constant current and generates a comparison voltage according to a charging voltage;
A voltage comparison circuit that compares the comparison voltage with the first reference voltage and generates a first detection signal when the comparison voltage exceeds the first reference voltage;
A switch circuit which is turned on in response to the first detection signal and discharges the electric charge of the capacitor circuit;
A pulse width expansion circuit for generating an expansion pulse with an expanded width of the first detection signal;
And an oscillation pulse generation circuit for generating an oscillation pulse based on the extension pulse.
前記電圧比較回路は、さらに、前記比較電圧を前記第2基準電圧と比較し、前記比較電圧が前記第2基準電圧を超えるときに第2検出信号を発生し、
前記発振パルス生成回路は、前記伸張パルスでセットされ、前記第2検出信号でリセットされるフリップフロップ回路を有することを特徴とする、請求項1に記載の発振回路。 The resistor circuit further generates a second reference voltage lower than the first reference voltage,
The voltage comparison circuit further compares the comparison voltage with the second reference voltage and generates a second detection signal when the comparison voltage exceeds the second reference voltage;
2. The oscillation circuit according to claim 1, wherein the oscillation pulse generation circuit includes a flip-flop circuit that is set by the extension pulse and reset by the second detection signal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005031707A JP2006222524A (en) | 2005-02-08 | 2005-02-08 | Oscillation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005031707A JP2006222524A (en) | 2005-02-08 | 2005-02-08 | Oscillation circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006222524A true JP2006222524A (en) | 2006-08-24 |
Family
ID=36984570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005031707A Pending JP2006222524A (en) | 2005-02-08 | 2005-02-08 | Oscillation circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006222524A (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007016639A1 (en) * | 2007-04-05 | 2008-10-09 | Austriamicrosystems Ag | Oscillator arrangement and method for providing a clock signal |
WO2008153777A2 (en) * | 2007-05-24 | 2008-12-18 | Atmel Corporation | Low cost and low variation oscillator |
CN101997521A (en) * | 2010-11-30 | 2011-03-30 | 四川和芯微电子股份有限公司 | Clock generating circuit |
KR101125713B1 (en) * | 2009-10-29 | 2012-03-27 | 크로바하이텍(주) | The Frequency-Osillator and The generation method of the signal having the constant frequency using the same |
CN101826840B (en) * | 2009-02-09 | 2013-03-13 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | Vdd-independent oscillator irrelevant to process variation |
JP2013165422A (en) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Seiko Epson Corp | Circuit device, integrated circuit, and detector |
CN102334292B (en) * | 2009-02-26 | 2014-05-14 | 欧姆龙健康医疗事业株式会社 | Voltage-frequency conversion circuit and blood pressure measurement apparatus provided with same |
CN110266270A (en) * | 2018-03-12 | 2019-09-20 | 艾普凌科有限公司 | Oscillating circuit |
-
2005
- 2005-02-08 JP JP2005031707A patent/JP2006222524A/en active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007016639A1 (en) * | 2007-04-05 | 2008-10-09 | Austriamicrosystems Ag | Oscillator arrangement and method for providing a clock signal |
DE102007016639B4 (en) * | 2007-04-05 | 2012-01-19 | Austriamicrosystems Ag | Oscillator arrangement and method for providing a clock signal |
WO2008153777A2 (en) * | 2007-05-24 | 2008-12-18 | Atmel Corporation | Low cost and low variation oscillator |
WO2008153777A3 (en) * | 2007-05-24 | 2009-06-11 | Atmel Corp | Low cost and low variation oscillator |
US7642872B2 (en) | 2007-05-24 | 2010-01-05 | Atmel Corporation | Low cost and low variation oscillator |
CN101826840B (en) * | 2009-02-09 | 2013-03-13 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | Vdd-independent oscillator irrelevant to process variation |
CN102334292B (en) * | 2009-02-26 | 2014-05-14 | 欧姆龙健康医疗事业株式会社 | Voltage-frequency conversion circuit and blood pressure measurement apparatus provided with same |
KR101125713B1 (en) * | 2009-10-29 | 2012-03-27 | 크로바하이텍(주) | The Frequency-Osillator and The generation method of the signal having the constant frequency using the same |
CN101997521A (en) * | 2010-11-30 | 2011-03-30 | 四川和芯微电子股份有限公司 | Clock generating circuit |
CN101997521B (en) * | 2010-11-30 | 2012-12-05 | 四川和芯微电子股份有限公司 | Clock generating circuit |
JP2013165422A (en) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Seiko Epson Corp | Circuit device, integrated circuit, and detector |
CN110266270A (en) * | 2018-03-12 | 2019-09-20 | 艾普凌科有限公司 | Oscillating circuit |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8098057B2 (en) | Constant voltage circuit including supply unit having plural current sources | |
JP4424546B2 (en) | Pulse width modulation circuit | |
US9083338B2 (en) | Digital noise protection circuit and method | |
JP2006222524A (en) | Oscillation circuit | |
WO2010016167A1 (en) | Reference frequency generating circuit, semiconductor integrated circuit, and electronic device | |
JP4938439B2 (en) | Switching control circuit | |
US20070182499A1 (en) | Oscillation circuit | |
JP4271505B2 (en) | Voltage conversion circuit, semiconductor integrated circuit device including the same, and portable terminal | |
JP2007006254A (en) | Delay circuit | |
JP2007151322A (en) | Power circuit and dc-dc converter | |
JP5889700B2 (en) | Power-on reset circuit and semiconductor device | |
JP5193167B2 (en) | Oscillator, oscillation device | |
JP2010093562A (en) | Power supply detection circuit | |
KR20160025520A (en) | Delay circuit, oscillation circuit, and semiconductor device | |
JP2007028726A (en) | Step-up power circuit and method of step-up voltage | |
JP2004056561A (en) | Oscillation frequency correction circuit of ring oscillator | |
KR100528545B1 (en) | Charge pump circuit | |
JP5760784B2 (en) | Voltage generation circuit, semiconductor device, and voltage generation circuit control method | |
JP2008066930A (en) | Oscillation circuit | |
JP6163319B2 (en) | Oscillation stop detection circuit and electronic device | |
JP2009094584A (en) | Triangular wave generation circuit | |
JP2010171790A (en) | Bias potential generation circuit | |
JP2013162152A (en) | Oscillator | |
JP6763661B2 (en) | Oscillator circuit | |
JP4353791B2 (en) | Pulse generator |