JP2006215479A - Cover glass, petri dish, optical disk, optical disk device, optical apparatus and optical system - Google Patents

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    • G02B1/007Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements made of materials engineered to provide properties not available in nature, e.g. metamaterials made of negative effective refractive index materials

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cover glass capable of imaging hardly affected by absorption, scattering or else of light caused by noise, dust or medium presenting a negative refractive index from the inside or the outside of an optical system by averagely enhancing the intensity of Evanescent wave. <P>SOLUTION: A transmission type microscope 315 comprises an objective lens 306 and a cover glass 452 which is arranged between the objective lens 306 and a sample 307 and is formed of a negative refractive index medium 301. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、負屈折を示す物質を応用した光学系、光学装置、あるいはそれらの中で、あるいはそれらとともに用いられる負屈折を示す物質を応用した光学素子に関する。   The present invention relates to an optical system, an optical apparatus, or an optical element using a substance exhibiting negative refraction used in or together with a substance exhibiting negative refraction.

従来、結像(対象物の像の形成)、あるいは光スポットの形成を行うための各種の光学系においては、使用される光あるいは電磁波の波動性に起因する回折のため、解像力に限界があった。そこで、このような回折限界を越える結像を実現する技術として以下の非特許文献2及び非特許文献5等では負屈折率媒質を用いることを開示している。   Conventionally, in various optical systems for forming an image (forming an image of an object) or forming a light spot, the resolution is limited due to diffraction caused by the wave nature of the light or electromagnetic wave used. It was. Therefore, the following Non-Patent Document 2 and Non-Patent Document 5 disclose the use of a negative refractive index medium as a technique for realizing such imaging that exceeds the diffraction limit.

図15はその説明図で、負屈折率媒質301で形成された平板380による結像のようすを示している。但し、
t0 …物点と380左側面の距離
t0′…像点と380右側面の距離
t…380の厚さ
i…入射角
r…屈折角
ns …301の真空に対する屈折率
とする。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing an image formed by the flat plate 380 formed of the negative refractive index medium 301. However,
t0 ... Distance between the object point and the left side surface of 380 t0 '... Distance between the image point and the right side surface of 380 t ... Thickness of 380 i ... Incident angle r ... Refraction angle ns ... Refractive index with respect to vacuum of 301.

平板380の周囲の屈折率はn0 であり真空の場合n0 =1である。図15はn0 =1,ns =−1の場合を示している。   The refractive index around the flat plate 380 is n0, and n0 = 1 in the case of a vacuum. FIG. 15 shows the case where n0 = 1 and ns = -1.

本願で“光”という言葉には電磁波も含むものとする。   In this application, the term “light” includes electromagnetic waves.

矢印は物体から出た光のうちの放射光成分を示している。非特許文献2によれば屈折の法則が成り立つから
n0 sin i=ns sin r …式(101)
であり、n0 =1,ns =−1とすれば
r=−i …式(102)
となる。従って、
t0 +t0′=t …式(103)
を満たす、t0′のところに放射光成分の光は像点として結像する。
The arrow indicates the emitted light component of the light emitted from the object. According to Non-Patent Document 2, the law of refraction holds. N0 sin i = ns sin r Equation (101)
If n0 = 1 and ns = -1, then r = -i Equation (102)
It becomes. Therefore,
t0 + t0 '= t (103)
The light of the radiated light component is imaged as an image point at t0 ′ that satisfies the above.

一方、物点から出たエバネッセント波も式(103)を満たすt0′のところで、物点と等強度になる。物体から出たすべての光が像点に集るので回折限界を越える結像が実現する。これを完全結像と呼ぶ。完全結像は負屈折率媒質301の周囲が真空でなくても、式(103)かつ
ns =−n0 …式(104)
を満たせば実現することが非特許文献2により知られている。
On the other hand, the evanescent wave emitted from the object point has the same intensity as the object point at t0 ′ satisfying the equation (103). Since all the light emitted from the object gathers at the image point, imaging that exceeds the diffraction limit is realized. This is called complete imaging. Even if the periphery of the negative refractive index medium 301 is not a vacuum, the complete image formation is performed using the equation (103) and ns = -n0 (equation 104).
It is known from Non-Patent Document 2 that it is realized if the above is satisfied.

非特許文献5ではt0 >t0′…式(201)の場合が示されている。この時エバネッセント波の強さは、図16に示すように物点からZ方向に進むにつれて指数関数で減衰していき、負屈折率媒質301の内部では指数関数で増幅され、負屈折率媒質301を出たあと指数関数で再び減衰していく。
光学系の仕組みと応用 73−77、166−170 オプトロニクス社2003年 J.B.Pendry Phys.Rev.Lett.,Vol85, 18(2000) 3966-3969 M.Notomi Phys.Rev.B.Vol 62(2000)10696 V.G.Veselago Sov.Phys.Usp.Vol.10,509-514(1968) L.Liu and S.He Optics Express Vol.12 No.20 4835-4840(2004) 佐藤・川上 オプトロニクス 2001年7月号 197ページ オプトロニクス社 刊 US 2003/0227415 A1 US 2002/0175693 A1
Non-Patent Document 5 shows the case of t0> t0 '(Equation 201). At this time, the intensity of the evanescent wave is attenuated by an exponential function as it proceeds from the object point in the Z direction as shown in FIG. 16, and is amplified by the exponential function inside the negative refractive index medium 301, and the negative refractive index medium 301. After exiting, it decays again with an exponential function.
Mechanism and application of optical system 73-77, 166-170 Optronics 2003 JBPendry Phys. Rev. Lett., Vol85, 18 (2000) 3966-3969 M.Notomi Phys.Rev.B.Vol 62 (2000) 10696 VGVeselago Sov.Phys.Usp.Vol.10,509-514 (1968) L.Liu and S.He Optics Express Vol.12 No.20 4835-4840 (2004) Sato / Kawakami Optronics July 2001 issue 197 pages Published by Optronics US 2003/0227415 A1 US 2002/0175693 A1

図16において、Z=t0 でのエバネッセント波の強度をG(t0 )とすればt0 が大きいほどG(t0 )の値は小さくなる。従って物点から像点までの光路上でエバネッセント波の強度は平均して弱く、外部からのノイズに弱いという課題があった。   In FIG. 16, if the intensity of the evanescent wave at Z = t0 is G (t0), the value of G (t0) decreases as t0 increases. Therefore, there is a problem that the intensity of the evanescent wave is weak on average on the optical path from the object point to the image point, and is weak against noise from the outside.

本発明は、このような課題に着目してなされたものであり、その目的とするところは、エバネッセント波の強度を平均して高め、光学系内部、外部からのノイズ、ほこり、負屈折率を示す媒質の持つ光の吸収、散乱等に影響されにくい結像を可能とすることにある。   The present invention has been made paying attention to such a problem, and the object of the present invention is to increase the intensity of evanescent waves on average, and to reduce noise, dust, and negative refractive index from the inside and outside of the optical system. An object of the present invention is to enable image formation that is less affected by light absorption and scattering of the medium shown.

上記の目的を達成するために、例えば、本発明の第1の態様は、カバーグラスであって、負屈折を示す媒質で形成されている。   In order to achieve the above object, for example, a first aspect of the present invention is a cover glass, which is formed of a medium exhibiting negative refraction.

また、本発明の第2の態様は、ペトリ皿であって、負屈折を示す媒質で形成されている。   Moreover, the 2nd aspect of this invention is a Petri dish, Comprising: It forms with the medium which shows negative refraction.

また、本発明の第3の態様は、光ディスクであって、負屈折を示す媒質で形成されている。   A third aspect of the present invention is an optical disc, which is formed of a medium exhibiting negative refraction.

また、本発明の第4の態様は、光ディスク装置であって、光源と、負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、光ディスクとを有し、前記光ディスクへ情報を書き込む時には前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子を前記光源側に移動させ、前記光ディスクから情報を読み込む時には前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子を前記光ディスク側に移動させる。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an optical disc apparatus comprising a light source, an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and an optical disc, wherein the negative refraction is applied when information is written to the optical disc. The optical element formed with the medium shown is moved to the light source side, and when reading information from the optical disk, the optical element formed with the medium showing negative refraction is moved to the optical disk side.

また、本発明の第5の態様は、光学装置であって、光源と、前記光源によって照明される物体と、結像光学系と、前記結像光学系に近接して置かれた負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有する。   According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an optical device comprising: a light source; an object illuminated by the light source; an imaging optical system; and negative refraction placed in proximity to the imaging optical system. And an optical element formed of the medium shown.

また、本発明の第6の態様は、光学装置であって、光源と、前記光源によって照明されている物体と、前記物体の近傍に配置された負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有し、前記物体の結像を行う。   According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an optical device, comprising: a light source; an object illuminated by the light source; and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction disposed in the vicinity of the object. And imaging the object.

また、本発明の第7の態様は、光あるいは電磁波を用いる光学系であって、光源により照明されている物体あるいは光を発する物体または像と、前記物体または像の後方に前記物体または像に近接して配置された負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有し、前記物体または像の像を結像する。   According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an optical system using light or electromagnetic waves, the object illuminated by a light source or the object or image emitting light, and the object or image behind the object or image. An optical element formed of a medium exhibiting negative refraction arranged in proximity is formed to form an image of the object or image.

本発明によれば、エバネッセント波の強度を平均して高め、光学系内部、外部からのノイズ、ほこり、負屈折率を示す媒質の持つ光の吸収、散乱等に影響されにくい結像が可能となる。   According to the present invention, the intensity of evanescent waves is increased on average, and imaging that is less affected by light absorption, scattering, etc., in the optical system inside and outside, noise, dust, and the medium having a negative refractive index is possible. Become.

以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。まず、本発明の概略を説明する。上記したように、Z=t0 でのエバネッセント波の強度をG(t0 )とすればt0 が大きいほどG(t0 )の値は小さくなる。従って物点から像点までの光路上でエバネッセント波の強度は平均して弱く、外部からのノイズに弱いという課題があった。そこで、本実施形態では、
t0 <t0′ …式(202)
とすることにより、エバネッセント波の強度を平均して高め、光学系内部、外部からのノイズ、ほこり、負屈折率を示す媒質の持つ光の吸収、散乱等に影響されにくい結像を可能とする。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. First, the outline of the present invention will be described. As described above, if the intensity of the evanescent wave at Z = t0 is G (t0), the value of G (t0) decreases as t0 increases. Therefore, there is a problem that the intensity of the evanescent wave is weak on average on the optical path from the object point to the image point, and is weak against noise from the outside. Therefore, in this embodiment,
t0 <t0 'Formula (202)
By increasing the intensity of the evanescent wave on the average, it is possible to form an image that is less susceptible to light absorption and scattering of the optical system internal and external noise, dust, and the negative refractive index medium. .

図1はその説明図であり、t0 <t0′としたことによりG(t0 )の値が図16の場合より大きくなり、それにつれてZ>t0 の領域でもエバネッセント波の強度が図16の場合よりも大きくなっているのが分る。そしてこの現象は光でも、電磁波でもどちらでも成り立つ。なお本願ではt0′をdと表記することがある。   FIG. 1 is an explanatory diagram, and by setting t0 <t0 ', the value of G (t0) becomes larger than that in FIG. 16, and accordingly, the intensity of the evanescent wave in the region of Z> t0 is higher than that in FIG. You can see that it is getting bigger. This phenomenon can be achieved with either light or electromagnetic waves. In the present application, t0 'may be expressed as d.

式(202)に代わって、次式(203)を満たすとさらにノイズ等の影響を受けにくくなるので良い。   If the following equation (203) is satisfied instead of the equation (202), it may be less susceptible to noise or the like.

2t0 <t0′ …式(203)とすればなお良い。     2t0 <t0 '... It is even better to use equation (203).

5t0 <t0′ …式(204)とすればさらに良い。     5t0 <t0 ′ (Equation (204) is better)

実用的には
t0 <3t0′ …式(205)
でも効果のある場合がある。
In practice, t0 <3t0 ′ (formula 205)
But it can be effective.

t0 <5t0′ …式(206)
としても用途によっては良い。
t0 <5t0 '(Formula 206)
But it is good depending on the application.

なお図15で像点の位置に撮像素子408を置けば等倍結像の撮像装置が得られる。   In FIG. 15, if the image sensor 408 is placed at the position of the image point, an image-capturing apparatus for equal magnification imaging can be obtained.

図2は、本発明の一実施形態であり、負屈折率媒質301を用いた透過型顕微鏡315の例であり、空気中に配置されている。光源303(例えばレーザ光源、キセノンランプ、水銀ランプ等)から出た光は照明レンズ304,307を通り、対物レンズ306に入射する。対物レンズ306のNAは例えば1を越えている。対物レンズ306には、正の屈折率を有する媒質で形成された光学素子、例えばガラスからなるレンズ306−1,306−2が含まれている。   FIG. 2 shows an embodiment of the present invention, which is an example of a transmission microscope 315 using a negative refractive index medium 301 and is disposed in the air. Light emitted from the light source 303 (for example, a laser light source, a xenon lamp, a mercury lamp, etc.) passes through the illumination lenses 304 and 307 and enters the objective lens 306. The NA of the objective lens 306 exceeds 1, for example. The objective lens 306 includes optical elements formed of a medium having a positive refractive index, for example, lenses 306-1 and 306-2 made of glass.

図3は、図2の対物レンズ306近傍の拡大図を示している。ここでは、対物レンズ306の最も物体側の面を311とする。対物レンズ306の中間結像点をFFで表した。面311と中間結像点FFの距離をgとする。   FIG. 3 shows an enlarged view of the vicinity of the objective lens 306 in FIG. Here, the most object side surface of the objective lens 306 is assumed to be 311. The intermediate image formation point of the objective lens 306 is represented by FF. Let g be the distance between the surface 311 and the intermediate image formation point FF.

図2、図3に示すように、中間結像点FFからdだけ離れた位置には例えば平行平板状の負屈折率媒質で形成されたカバーグラス452が配置されている。453はスライドグラスである。dは中間結像点FFと負屈折率媒質の上面310との距離を表す。dの値は例えば171μmである。t0 の値はこの例では1μmである。312は負屈折率媒質301の物体側の面である。   As shown in FIGS. 2 and 3, a cover glass 452 made of, for example, a parallel plate-like negative refractive index medium is disposed at a position d away from the intermediate imaging point FF. Reference numeral 453 denotes a slide glass. d represents the distance between the intermediate imaging point FF and the upper surface 310 of the negative refractive index medium. The value of d is 171 μm, for example. The value of t0 is 1 μm in this example. Reference numeral 312 denotes an object side surface of the negative refractive index medium 301.

物体としての標本307で散乱された光は、負屈折率媒質301、対物レンズ306、鏡454、接眼レンズ308を通り、眼309、あるいは撮像素子408を備えたTVカメラ、冷却CCDカメラ等で観察することができる。以下、この様子を詳述する。   The light scattered by the sample 307 as an object passes through the negative refractive index medium 301, the objective lens 306, the mirror 454, and the eyepiece lens 308, and is observed by a TV camera, a cooled CCD camera, or the like provided with the eye 309 or the image sensor 408. can do. Hereinafter, this situation will be described in detail.

ここで、負屈折率媒質301の屈折率を−1、厚さをt(例えば、170μm)とする。t0 は負屈折率媒質301と標本307あるいは後述する結像部材の距離である。t0 については後に詳述する。   Here, the refractive index of the negative refractive index medium 301 is −1, and the thickness is t (for example, 170 μm). t0 is the distance between the negative refractive index medium 301 and the sample 307 or an imaging member described later. t0 will be described in detail later.

負屈折率媒質301の屈折率が−1であるため、標本307で散乱された光線は図3の矢印で示すように通常と異なる屈折をする(非特許文献2参照)。   Since the refractive index of the negative refractive index medium 301 is −1, the light beam scattered by the sample 307 is refracted differently from normal as shown by the arrow in FIG. 3 (see Non-Patent Document 2).

屈折の法則より、入射角をi、出射角をrとすれば
r=−i …式(0−3)
である。負屈折率媒質301の周囲の媒質に対する比屈折率をnとすれば
sin r=(1/n)sin i …式(0−4)
である。
According to the law of refraction, if the incident angle is i and the exit angle is r, then r = −i Equation (0-3)
It is. If the relative refractive index of the negative refractive index medium 301 with respect to the surrounding medium is n, sin r = (1 / n) sin i Expression (0-4)
It is.

非特許文献2によれば
t=t0 +d …式(1)
のとき、負屈折率媒質301は、標本307を中間結像点FFに完全結象する。ここで言う完全結像とは、回折限界の影響を受けない、放射光も、エバネッセント波も含めた全ての電磁場としての光を結像することを指す。このためFFに物体があるのと等価となる。
According to Non-Patent Document 2, t = t0 + d (1)
In this case, the negative refractive index medium 301 completely symbolizes the sample 307 to the intermediate imaging point FF. The term “complete imaging” as used herein refers to imaging light as an electromagnetic field including radiated light and evanescent waves that are not affected by the diffraction limit. This is equivalent to the presence of an object in the FF.

gの値は、
0≦g≦λ …式(0)
であり、中間結像点FFは面311に非常に接近している。これはエバネッセント波を有効に利用するために望ましい条件である。実用的には
0≦g≦10λ …式(0−1)
でもよい場合がある。
The value of g is
0 ≦ g ≦ λ Formula (0)
The intermediate image formation point FF is very close to the surface 311. This is a desirable condition for effectively using the evanescent wave. Practically 0 ≦ g ≦ 10λ Formula (0-1)
But there is a case.

なお、λは用いる光の波長であり、可視光の場合λは0.35μm〜0.7μmである。   Note that λ is the wavelength of light used, and in the case of visible light, λ is 0.35 μm to 0.7 μm.

このようにして、NA>1.0の、エバネッセント波を含む結像が可能となるのである。そして、高解像度の顕微鏡が実現できる。   In this way, imaging including evanescent waves with NA> 1.0 is possible. A high-resolution microscope can be realized.

なお、用途によっては、
0≦g≦1000λ …式(0−1−0)
でもよい。図3の例ではg=0μmである。
Depending on the application,
0 ≦ g ≦ 1000λ Formula (0-1-0)
But you can. In the example of FIG. 3, g = 0 μm.

式(0)〜式(0−1−0)においてgの下限を(0.1λ)/Aすれば、レンズ表面311上のゴミ、キズ等がピンボケになり悪影響が減るのでなお良い。但しAは対物レンズ306の、FFにおける開口数(NA)である。   If the lower limit of g in the formulas (0) to (0-1-0) is (0.1λ) / A, dust, scratches, etc. on the lens surface 311 will be out of focus and adverse effects will be reduced. A is the numerical aperture (NA) of the objective lens 306 at the FF.

式(0)〜式(0−1−0)でgの下限を(0.6λ)/Aとすればゴミ、キズ等の影響がさらに低減されるので良い。式(0)〜式(0−1−0)でgの下限を(1.3λ)/Aとすればゴミ、キズ等の影響がさらに大幅に減るので良い。gが0〜数十nmであれば、結像性能は対物レンズ306を標本307に直接ほぼ密着させた固体浸レンズとほぼ同等である。   If the lower limit of g is set to (0.6λ) / A in Expressions (0) to (0-1-0), the influence of dust, scratches, etc. may be further reduced. If the lower limit of g is set to (1.3λ) / A in the equations (0) to (0-1-0), the influence of dust, scratches, etc. may be further greatly reduced. When g is from 0 to several tens of nm, the imaging performance is almost equivalent to that of a solid immersion lens in which the objective lens 306 is almost in direct contact with the sample 307.

本発明の一実施形態は、負屈折率媒質301で形成された光学素子(452等)と結像光学系(306等)とを組合せて配置したことがポイントである。この実施形態では負屈折率媒質301の像側に結像光学系を配置した構成となっている。   One point of the embodiment of the present invention is that an optical element (such as 452) formed of the negative refractive index medium 301 and an imaging optical system (such as 306) are arranged in combination. In this embodiment, an imaging optical system is arranged on the image side of the negative refractive index medium 301.

そして、負屈折率媒質301によって結像された物体像(中間結像)を対物レンズ306によって再結像していることが特徴である。中間結像は図3の例では実像であるが、光学系の用途によっては虚像でもよい。   An object image (intermediate image) formed by the negative refractive index medium 301 is re-imaged by the objective lens 306. The intermediate image is a real image in the example of FIG. 3, but may be a virtual image depending on the application of the optical system.

さらにカバーグラスを負屈折率媒質で形成し、かつ負屈折率媒質で形成されたカバーグラス452を標本307に接近させたので、エバネッセント波の減衰を最小限に止めることができ、光学系内、外からのノイズ、負屈折率媒質301の製造上の欠陥等があっても結像性能が低下しにくい光学系が得られる。   Further, since the cover glass is formed of a negative refractive index medium and the cover glass 452 formed of the negative refractive index medium is brought close to the sample 307, attenuation of the evanescent wave can be minimized, and in the optical system, An optical system in which the imaging performance is not easily deteriorated even if there is noise from the outside, a manufacturing defect of the negative refractive index medium 301, or the like can be obtained.

なおカバーグラスは光学素子の一つである。後述のペトリ皿も光学素子の一つである。   The cover glass is one of the optical elements. The later-described Petri dish is also one of the optical elements.

以上の説明では、g≧0の場合について述べたが、
g<0 …式(0−5)
でもよい。なぜなら、d+g>0 …式(0−6)
であれば、光学素子同士がぶつかることなく結像関係を維持できるからである。g<0というのはFFがレンズ(例えば306−1)の中に入ることを意味する。ただし、gが小さくなりすぎると、完全結像の条件がくずれてくるので、
−t<g<0 …式(0−7)
を満たすことが望ましい。用途によっては、
−3t<g<0 …式(0−8)
を満たせばよい。光学系によっては、
−10t<g<0 …式(0−9)
を満たせばよい場合もある。
In the above description, the case where g ≧ 0 has been described.
g <0 Formula (0-5)
But you can. Because d + g> 0 Formula (0-6)
This is because the imaging relationship can be maintained without the optical elements colliding with each other. g <0 means that the FF enters the lens (for example, 306-1). However, if g becomes too small, the conditions for complete imaging will be lost.
-T <g <0 Formula (0-7)
It is desirable to satisfy. Depending on the application,
−3t <g <0 Formula (0-8)
Should be satisfied. Depending on the optical system
−10t <g <0 Formula (0-9)
May be sufficient.

なおd+g=0でも良い。   D + g = 0 may also be used.

gの値を実長で示せば、−100mm<g<0 …式(0−10)
とするのが良い。gの値が式0−10の下限を下まわるとレンズの製作が困難になってくる。
If the value of g is shown in actual length, −100 mm <g <0 Formula (0-10)
It is good to do. If the value of g falls below the lower limit of Expression 0-10, it becomes difficult to manufacture the lens.

−10mm<g<0 …式(0−11)
とすればなお良い。
−10 mm <g <0 Formula (0-11)
And that's even better.

式(0−5)〜式(0−11)でgの上限を(−0.1λ)/Aとすれば、エバネッセント波を確実に利用でき、かつレンズ表面311上のゴミ、キズ等がピンボケになり悪影響が減るのでなお良い。   If the upper limit of g in Equations (0-5) to (0-11) is (−0.1λ) / A, the evanescent wave can be used reliably, and dust and scratches on the lens surface 311 are out of focus. It is still better because it will reduce adverse effects.

式(0−5)〜式(0−11)でgの上限を(−0.6λ)/Aとすればゴミ、キズ等の影響がさらに減るので良い。   If the upper limit of g is set to (−0.6λ) / A in the equations (0-5) to (0-11), the influence of dust, scratches, etc. may be further reduced.

式(0−5)〜式(0−11)でgの上限を(−1.3λ)/Aとすればゴミ、キズ等の影響がさらに大幅に減るので良い。   If the upper limit of g is set to (−1.3λ) / A in the equations (0-5) to (0-11), the influence of dust, scratches, etc. may be further greatly reduced.

式(1)は厳密に守られなくてもよい。負屈折率媒質301による像位置は負屈折率媒質301の屈折率の製造誤差、面精度の誤差等で式(1)からずれる場合もあるからである。   Equation (1) may not be strictly followed. This is because the image position by the negative refractive index medium 301 may deviate from the equation (1) due to a manufacturing error of the refractive index of the negative refractive index medium 301, an error in surface accuracy, and the like.

0.8(t0 +d)≦t≦1.2(t0 +d) …式(2)
であればよい。
0.8 (t 0 + d) ≦ t ≦ 1.2 (t 0 + d) (2)
If it is.

製品によっては
0.5(t0 +d)≦t≦1.5(t0 +d) …式(3)
で許容される場合もある。
Depending on the product
0.5 (t0 + d) ≤t≤1.5 (t0 + d) (3)
May be acceptable.

製品の利用条件によっては
0.15(t0 +d)≦t≦4.0(t0 +d) …式(4)
でもよいことがある。
Depending on the usage conditions of the product, 0.15 (t0 + d) ≤ t ≤ 4.0 (t0 + d) (4)
But there are things you can do.

あるいは
t≦0.9(t0 +d) …式(4−1)
を満たすようにすれば長めの作動距離を確保できるので良い。
Or t ≦ 0.9 (t 0 + d) (formula (4-1))
If it is satisfied, a longer working distance can be secured.

以上説明した考え方は本願の他の実施形態にも同様に適用される。他の実施形態でも負屈折率媒質301の屈折率は例えば−1である。   The concept described above is similarly applied to other embodiments of the present application. In other embodiments, the refractive index of the negative refractive index medium 301 is, for example, -1.

図4は、負屈折率媒質301で形成されたペトリ皿455を用いた倒立顕微鏡457の例である。空気中に配置されている接眼レンズ付近は省略し、対物レンズ付近を拡大図示してある。ペトリ皿455のうち光の通過する部分のみを負屈折率媒質301で形成してもよい。   FIG. 4 is an example of an inverted microscope 457 using a Petri dish 455 formed of the negative refractive index medium 301. The vicinity of the eyepiece disposed in the air is omitted, and the vicinity of the objective lens is enlarged. Only a portion through which light passes in the Petri dish 455 may be formed of the negative refractive index medium 301.

上方の光源303から出た光は照明レンズ304を通り、標本307を照らす。標本307で散乱された光はペトリ皿455を通りFFに完全結像される。FFに結像した中間像は対物レンズ360で再結像され308,408等で観察される。この例では
t0 =0.1μm
t=500μm
d=499.9μm
g=0
である。
The light emitted from the upper light source 303 passes through the illumination lens 304 and illuminates the sample 307. The light scattered by the sample 307 passes through the Petri dish 455 and is completely imaged on the FF. The intermediate image formed on the FF is re-imaged by the objective lens 360 and observed by 308, 408 and the like. In this example, t0 = 0.1 μm
t = 500 μm
d = 499.9 μm
g = 0
It is.

式(0)、(0−1)、(0−1−0)、(0−3)、…(0−11)、(1)、(2)、(3)、(4)、(4−1)はこの例でも同様にあてはまる。図2、図4の光学系は走査型の顕微鏡にも応用できる。   Formulas (0), (0-1), (0-1-0), (0-3),... (0-11), (1), (2), (3), (4), (4 The same applies to -1) in this example. 2 and 4 can also be applied to a scanning microscope.

図5は、負屈折率媒質301を用いた光ディスク458、並びに光ディスク光学系320の例であり、書き込み時には321から出た光は305、レンズ459、プローブ461を通って微小開口462に到達する。微小開口462の大きさは10〜30nm程度でそこから出た近接場光は光ディスク458の負屈折率媒質301で構成された層463で完全結像され記録層464上に到達する。   FIG. 5 shows an example of the optical disk 458 using the negative refractive index medium 301 and the optical disk optical system 320. At the time of writing, the light emitted from 321 passes through 305, the lens 459, and the probe 461 and reaches the minute aperture 462. The size of the minute aperture 462 is about 10 to 30 nm, and the near-field light emitted therefrom is completely imaged by the layer 463 formed of the negative refractive index medium 301 of the optical disk 458 and reaches the recording layer 464.

そして書き込みが行なわれる。あるいは光ディスク458は別の製法で作られたリードオンリータイプでもよい。この場合上記の書き込みのプロセスは不要である。   Writing is then performed. Alternatively, the optical disk 458 may be a read-only type manufactured by another manufacturing method. In this case, the above writing process is unnecessary.

読み出しの時には321,305,459,461,462,301と進んだ光は464で反射されて、301,462,461,459と進み、305で反射されて324に入る。そして情報の読み出しが行なわれる。この例では
g=10nm
d=10μm
t=10μm
t0 =0μm
である。
At the time of reading, the light that has advanced to 321, 305, 459, 461, 462, 301 is reflected by 464, travels to 301, 462, 461, 459, is reflected by 305, and enters 324. Information is then read out. In this example, g = 10 nm
d = 10 μm
t = 10 μm
t0 = 0 μm
It is.

このような構成にすることで光ディスクとの間に式(1)により
d=t …式(207)
の長い作動距離を取ることができ462の位置決めが容易になり、特に読み出し時にエバネッセント波の減衰が少ないのでほこり等の影響を受けにくいディスクを破損しにくい、高密度の光ディスク装置が得られるのである。
By adopting such a configuration, the following equation (1) is established between the optical disk and the optical disk: d = t Equation (207)
This makes it possible to obtain a high-density optical disk apparatus in which the positioning of the 462 is easy and the evanescent wave is less attenuated at the time of reading, so that it is difficult to damage the disk which is hardly affected by dust and the like. .

あるいは、光ディスク458は、別の製法で作られたリードオンリータイプでもよい。この場合、上記の書き込みのプロセスは不要である。   Alternatively, the optical disk 458 may be a read-only type made by another manufacturing method. In this case, the above writing process is unnecessary.

式(0)、(0−1)、(0−1−0)、(0−3)、…、(0−9)、(1)、(2)、(3)、(4)、(4−1)はこの例及び後述の図8の例でも同様にあてはまる。   Formulas (0), (0-1), (0-1-0), (0-3), ..., (0-9), (1), (2), (3), (4), ( 4-1) similarly applies to this example and the example of FIG. 8 described later.

図6は、光ディスク458を用いた光学系の別の実施形態に係る光ディスク光学系320−2である。光源321としての半導体レーザから出た光は半透鏡305、対物レンズ322を通って光ディスク458に結像し、書き込みが行なわれる。対物レンズ322のNAは1を越えており、対物レンズ322に非接触で微小スポット光によりエバネッセント光を含めてより高密度の書き込みができる。320−2は空気中に配置されている。   FIG. 6 shows an optical disc optical system 320-2 according to another embodiment of the optical system using the optical disc 458. Light emitted from the semiconductor laser as the light source 321 passes through the semi-transparent mirror 305 and the objective lens 322, and forms an image on the optical disk 458 for writing. The NA of the objective lens 322 exceeds 1, and writing can be performed at a higher density including evanescent light with a minute spot light without contact with the objective lens 322. 320-2 is arranged in the air.

負屈折率媒質301の結像関係は図5と同じである。光ディスク458からの信号の読み出しの場合には、光源321から出た光は464の表面で散乱、負屈折率媒質301、対物レンズ322、半透鏡305へと進み、フォトディテクタ324に入る。非接触で高NAでの読み出しが行なえる。   The imaging relationship of the negative refractive index medium 301 is the same as in FIG. In the case of reading a signal from the optical disk 458, the light emitted from the light source 321 is scattered on the surface of 464, proceeds to the negative refractive index medium 301, the objective lens 322, and the semi-transparent mirror 305 and enters the photodetector 324. Reading with high NA is possible without contact.

この例では
g=0
d=5μm
t=5μm
t0 =0
である。
In this example, g = 0
d = 5 μm
t = 5 μm
t0 = 0
It is.

そして特に読み出し時にエバネッセント波の強度の強い、ノイズ等の影響を受けにくい高密度の読み出しができるのが特徴である。なお光ディスク458は別の製法で作ったリードオンリータイプ(読み出し専用タイプ)のものでもよい。   In particular, it is characterized in that high-density reading can be performed with strong evanescent wave intensity during reading and hardly affected by noise. The optical disk 458 may be of a read only type (read only type) made by another manufacturing method.

光源からの光は458の下側から投射して透過光で情報を読み出してもよい。また図7に示すように301を323と322の間で光軸467に沿って移動できるようにしてもよい。323への情報書き込み時には301を322−1に近づけ、323からの情報読み出し時には301を323に近づければ、常に物体からのエバネッセント波の強い状態で光学系を機能させられるのでノイズ等に強い光ディスク光学系が得られる。書き込み時、dは301下面と323の距離、t0 はFFと301上面との距離、読み出し時、dは301上面とFFの距離、t0 は323と301下面との距離であり変るので注意のこと。   Light from the light source may be projected from the lower side of 458 and information may be read out with transmitted light. Further, as shown in FIG. 7, 301 may be moved along the optical axis 467 between 323 and 322. When information is written to H.323, the optical system can be operated in a state where the evanescent wave from the object is strong if 301 is brought closer to 322-1 and information is read from H.323 so that the optical system can function constantly. An optical system is obtained. Note that when writing, d is the distance between the lower surface of 301 and 323, t0 is the distance between FF and the upper surface of 301, d is the distance between the upper surface of 301 and FF, and t0 is the distance between 323 and the lower surface of 301. .

このように301が光軸に沿って移動する構成は図8のような光ディスク光学系468にも適用できる。   The configuration in which 301 moves along the optical axis in this way can also be applied to the optical disc optical system 468 as shown in FIG.

書き込み時301は469に近接しており、光は321→305→462→301→323と進む。   When writing 301 is close to 469, the light travels in the order of 321 → 305 → 462 → 301 → 323.

読み出し時には301は323に近接する位置に移動し、つまり、321→305→462→301→323と入射した光は323で反射され301→462→305→324と進んで電気信号に変換される。   At the time of reading, 301 moves to a position close to 323, that is, light incident as 321 → 305 → 462 → 301 → 323 is reflected by 323 and proceeds to 301 → 462 → 305 → 324 to be converted into an electrical signal.

このように301が光軸上を動くことで書き込み時にも読み出し時にも光線の進行方向に応じてエバネッセント波の強い状態で光を利用できるのでノイズ等に強い光ディスク光学系が得られる。   As described above, when the 301 moves on the optical axis, the light can be used in a strong state of the evanescent wave according to the traveling direction of the light beam at the time of writing and reading, so that an optical disc optical system which is resistant to noise and the like can be obtained.

なお、書き込み時462と301の距離はt0 、301と323の距離はdであり読み込み時462と301の距離はd、301と323の距離はt0 と変わるので注意のこと。また、301の光学面を曲面とすれば、301を移動することで変倍も可能となる。   Note that the distance between 462 and 301 at the time of writing is t0, the distance between 301 and 323 is d, the distance between 462 and 301 at reading is d, and the distance between 301 and 323 is different from t0. Further, if the optical surface 301 is a curved surface, zooming can be performed by moving 301.

なお301を動かさず、469と323の中間に固定しても光ディスク光学系として動作する。   Even if 301 is not moved, even if it is fixed between 469 and 323, it operates as an optical disk optical system.

なお、図6で書き込み時の構成で図9に示すように光源321と対物レンズ322の間にフォトマスク325を配置し、464をシリコンウエハー326で置き換え、フォトマスク325とシリコンウエハー326を光学的に共役にすればLSI製造用の投影露光装置(ステッパー等)349ができる。NAが1を越え、エバネッセント波を用いることができるので高解像度で、かつ非接触で露光ができ都合がよい。投影露光装置の光学系は真空中に置かれている。   6, the photomask 325 is arranged between the light source 321 and the objective lens 322 as shown in FIG. 9, and 464 is replaced with a silicon wafer 326, and the photomask 325 and the silicon wafer 326 are optically arranged. , A projection exposure apparatus (such as a stepper) 349 for manufacturing an LSI can be obtained. Since NA exceeds 1, and an evanescent wave can be used, it is convenient to perform exposure with high resolution and non-contact. The optical system of the projection exposure apparatus is placed in a vacuum.

図6、図7、図9の実施形態でも式(0)、(0−1)、(0−1−0)、(0−3)、…、(0−11)、(1)、(2)、(3)、(4)、(4−1)は成り立つ。305,324はステッパーでは利用しない。図9の例ではdの定義は301の像側の面と326との距離、t0 の定義は301の上側の面と中間結像点FFの距離とする。   6, 7, and 9, the equations (0), (0-1), (0-1-0), (0-3),..., (0-11), (1), ( 2), (3), (4), and (4-1) hold. 305 and 324 are not used in the stepper. In the example of FIG. 9, the definition of d is the distance between the image side surface 301 and 326, and the definition of t0 is the distance between the upper surface of 301 and the intermediate imaging point FF.

図2、図3、図4、図6、図7、図9の例では負屈折率媒質301と301に最も近いレンズとが間を隔てて配置されている。   In the examples of FIGS. 2, 3, 4, 6, 7, and 9, the negative refractive index medium 301 and the lens closest to 301 are disposed with a space therebetween.

このようにすれば、例えば、物体とぶつかって301が破損した場合でも、301だけを交換すれば機能を回復できるので良い。つまり修理がしやすいのである。   In this way, for example, even if 301 collides with an object and is damaged, the function can be recovered by replacing only 301. In other words, it is easy to repair.

図10は、従来提案されている密着型のリソグラフィーを示す図である。線幅20nm程度の透明なポリマーフォトマスク330に上方から照明光が当てられると、凸部331の下方にエバネッセント波が発生し、シリコンウエハー326上のフォトレジストを感光させる。そしてLSIの製造が行なわれる。ポリマーフォトマスク330は微細構造を有する部材である。しかし、ポリマーフォトマスク330とシリコンウエハー326は密着させねばならず、使用時にポリマーフォトマスク330の寿命が短かい、ポリマーフォトマスク330がこわれやすい等の問題があった。この問題はポリマーフォトマスクの代わりにクロムフォトマスクを用いても生じていた。フォトマスクは微細構造を有する部材である。   FIG. 10 is a diagram showing contact-type lithography conventionally proposed. When illumination light is applied from above to the transparent polymer photomask 330 having a line width of about 20 nm, an evanescent wave is generated below the convex portion 331, and the photoresist on the silicon wafer 326 is exposed. Then, LSI is manufactured. The polymer photomask 330 is a member having a fine structure. However, the polymer photomask 330 and the silicon wafer 326 must be brought into close contact with each other, and there are problems such that the life of the polymer photomask 330 is short during use and the polymer photomask 330 is easily broken. This problem has occurred even when a chrome photomask is used instead of the polymer photomask. A photomask is a member having a fine structure.

そこでこの点に鑑みるに本発明によれば負屈折率媒質301を用いることにより非接触で高解像度のリソグラフィーを実現できる。   In view of this point, according to the present invention, high-resolution lithography can be realized in a non-contact manner by using the negative refractive index medium 301.

図11は、その説明図であり、シリコンウエハー326とポリマーフォトマスク330の間に、326に接近させて負屈折率媒質301の平行平板を配置したものである。図11の光学系は真空中あるいは空気中に配置されている。   FIG. 11 is an explanatory diagram in which a parallel plate of the negative refractive index medium 301 is arranged between the silicon wafer 326 and the polymer photomask 330 so as to be close to 326. The optical system of FIG. 11 is disposed in a vacuum or in air.

このようにすればポリマーフォトマスク330の凸部331の下方に発生したエバネッセント波は負屈折率媒質301で完全結像され、シリコンウエハー326上に像を作る。結像倍率は1倍である。このようにしてWDの大きい、高解像度のリソグラフィーが実現できる。   In this way, the evanescent wave generated below the convex portion 331 of the polymer photomask 330 is completely imaged by the negative refractive index medium 301 and forms an image on the silicon wafer 326. The imaging magnification is 1. Thus, high resolution lithography with a large WD can be realized.

凸部331と負屈折率媒質301の距離をdとすれば式(1)〜(3)、(4)、(4−1)を満たす。   If the distance between the convex portion 331 and the negative refractive index medium 301 is d, the expressions (1) to (3), (4), and (4-1) are satisfied.

対物レンズ306、対物レンズ322についてであるが、これらの光学系の物体側又は光ディスク側のNAは1.0以上であることが望ましいが、1.0未満でも良い。例えば0.2以上、あるいはそれ以下でも良い。なぜなら負屈折率媒質301によってWDを伸す効果はあるからである。   Regarding the objective lens 306 and the objective lens 322, the NA on the object side or the optical disc side of these optical systems is preferably 1.0 or more, but may be less than 1.0. For example, it may be 0.2 or more or less. This is because the negative refractive index medium 301 has the effect of extending WD.

306,322等の上記NAは1.15以上とすると高解像が実現できるので良い。   If the NA of 306, 322, etc. is 1.15 or more, high resolution can be realized.

さらに上記NAを1.3以上とすれば水浸対物レンズ並あるいは水浸対物レンズでは実現できなかった高解像が実現できるのでなお良い。   Furthermore, if the NA is 1.3 or more, it is preferable that a high resolution that cannot be achieved with a water immersion objective lens or with a water immersion objective lens can be realized.

上記NAを1.5以上とすれば油浸対物レンズ並の高解像が実現できるのでさらに良い。   If the NA is 1.5 or more, the high resolution equivalent to that of an oil immersion objective lens can be realized.

なお、負屈折率媒質301の形状についてであるが、図2、図3、図4、図7、図9の実施形態において、負屈折率媒質301の形状は平行平板でなくても良い。   Note that, regarding the shape of the negative refractive index medium 301, the shape of the negative refractive index medium 301 may not be a parallel plate in the embodiments of FIGS. 2, 3, 4, 7, and 9. FIG.

以下、本発明に共通して言える内容を述べる。負屈折率媒質301の具体的な物質としてはフォトニック結晶が挙げられる。図12は、フォトニック結晶340の第1の具体例を示し、図13は、フォトニック結晶340の第2の具体例を示している。図12、図13に示すように、フォトニック結晶340はλ〜数分の1λ程度の周期的な構造を持つ物質で、リソグラフィー等によって作られる。材質はSiO2 、TiO2 、アクリル、ポリカーボネート等の合成樹脂などの誘電体、GaAs等である。ここでλは使用する光の波長である。図中のX,Y,Z方向の繰返しの周期Sx,Sy,Szの値がλ〜数分の1λ程度の値を持つ。フォトニック結晶のバンド端近傍で負屈折率を実現することができることが知られている(非特許文献3を参照のこと)。図のz方向を光学系の光軸とするのが良い。 The following is a description common to the present invention. A specific material of the negative refractive index medium 301 is a photonic crystal. FIG. 12 shows a first specific example of the photonic crystal 340, and FIG. 13 shows a second specific example of the photonic crystal 340. As shown in FIGS. 12 and 13, the photonic crystal 340 is a substance having a periodic structure of λ to a fraction of λ, and is formed by lithography or the like. The material is a dielectric such as a synthetic resin such as SiO 2 , TiO 2 , acrylic, polycarbonate, or GaAs. Here, λ is the wavelength of light used. The values of the repetitive cycles Sx, Sy, Sz in the X, Y, and Z directions in the figure have a value of λ to a fraction of 1λ. It is known that a negative refractive index can be realized in the vicinity of the band edge of a photonic crystal (see Non-Patent Document 3). The z direction in the figure is preferably the optical axis of the optical system.

Z軸はフォトニック結晶の回転対称性の最も良い軸の方向である。   The Z axis is the direction of the axis having the best rotational symmetry of the photonic crystal.

Sx,Sy,Szは次式のいずれかを満たすことが望ましい。   Sx, Sy, and Sz desirably satisfy any of the following formulas.

λ/10<Sx<λ …式(5−1)
λ/10<Sy<λ …式(5−2)
λ/10<Sz<λ …式(5−3)
Sx,Sy,Szの値が上限を越えても下限を下回ってもフォトニック結晶として機能しなくなる。
λ / 10 <Sx <λ Formula (5-1)
λ / 10 <Sy <λ Formula (5-2)
λ / 10 <Sz <λ Formula (5-3)
If the values of Sx, Sy, Sz exceed the upper limit or fall below the lower limit, they will not function as a photonic crystal.

用途によっては、
λ/30<Sx<4λ …式(5−4)
λ/30<Sy<4λ …式(5−5)
λ/30<Sz<4λ …式(5−6)
のいずれかを満たせばよい。
Depending on the application,
λ / 30 <Sx <4λ Formula (5-4)
λ / 30 <Sy <4λ Formula (5-5)
λ / 30 <Sz <4λ Formula (5-6)
Any one of the above may be satisfied.

負屈折率媒質についてであるが、媒質の比誘電率εが負で、かつ、媒質の比透磁率μが負のとき、媒質の屈折率が

Figure 2006215479
As for the negative refractive index medium, when the relative dielectric constant ε of the medium is negative and the relative permeability μ of the medium is negative, the refractive index of the medium is
Figure 2006215479

になることが知られている。
また、負屈折率媒質としては、負屈折を示す物質、近似的に負の屈折を示す物質、例えば銀、金、銅等の薄膜、特定の偏光方向について負屈折率を示す物質、誘電率εがほぼ−1の物質の薄膜等を用いてもよい。
It is known to become.
Further, the negative refractive index medium includes a material exhibiting negative refraction, a material exhibiting negative refraction approximately, such as a thin film of silver, gold, copper, etc., a material exhibiting a negative refractive index with respect to a specific polarization direction, and a dielectric constant ε May be a thin film or the like of a substance having an approximate -1.

また、負屈折率媒質のことを左手系材料(Left handed material)と呼ぶこともある。本願ではこれらの負屈折率媒質、左手系材料、近似的に負の屈折を示す物質、特定の偏光方向について負屈折率を示す物質、誘電率εがほぼ−1の物質の薄膜等をすべて含めて負屈折を示す媒質と呼ぶことにする。完全結像を示す物質も負屈折を示す媒質に含まれる。また、誘電率εがほぼ−1の物質の薄膜の場合、
−1.2<ε<−0.8 …式(5−7)
を満たすとよい。用途によっては、
−1.6<ε<−0.5 …式(5−8)
でもよい。
Further, the negative refractive index medium may be referred to as a left handed material. This application includes all of these negative refractive index media, left-handed materials, substances that exhibit negative refraction approximately, substances that exhibit a negative refractive index for a specific polarization direction, and thin films of substances having a dielectric constant ε of approximately −1. This is called a medium exhibiting negative refraction. Substances exhibiting complete imaging are also included in the medium exhibiting negative refraction. In the case of a thin film of a substance having a dielectric constant ε of approximately −1,
−1.2 <ε <−0.8 Formula (5-7)
It is good to satisfy. Depending on the application,
−1.6 <ε <−0.5 Formula (5-8)
But you can.

用いる光の波長としては実施形態で述べたものの他、これらに限らず連続スペクトルの光源、白色光源、複数の単色光の和、スーパールミネッセントダイオード等の低コヒーレンス光源等を用いてもかまわない。   The wavelength of light to be used is not limited to those described in the embodiment, and a continuous spectrum light source, a white light source, a sum of a plurality of monochromatic lights, a low coherence light source such as a super luminescent diode, or the like may be used. .

波長としては空気中でも伝送可能なこと、光源が入手しやすいことから等から、0.1μm〜3μmを用いるのがよい。可視波長ならばさらに利用しやすいので良い。   The wavelength is preferably 0.1 μm to 3 μm because it can be transmitted in the air and the light source is easily available. Visible wavelengths are easier to use.

波長を0.6μm以下にすれば解像が向上するのでなお良い。   It is even better if the wavelength is 0.6 μm or less because the resolution is improved.

以下にdについて詳述する。   Hereinafter, d will be described in detail.

dの値は
100nm≦d≦20mm …式(7)
とするのが良い。
The value of d is 100 nm ≦ d ≦ 20 mm (7)
It is good to do.

式(7)の下限を下回ると作動距離が小さくなりすぎ、扱いにくい。式(7)の上限を上回ると負屈折率媒質が大きくなりすぎ、コスト、加工上、不利である。また光学装置としての寸法が大きくなりすぎる点も問題となってくる。   If the lower limit of Expression (7) is not reached, the working distance becomes too small and is difficult to handle. If the upper limit of Expression (7) is exceeded, the negative refractive index medium becomes too large, which is disadvantageous in terms of cost and processing. Another problem is that the size of the optical device becomes too large.

製品によっては
0nm≦d≦200mm …式(8)
でも許容できる。
Depending on the product, 0 nm ≦ d ≦ 200 mm (8)
But it is acceptable.

1100nm≦d≦200mm …式(8−0−1)とすればさらに使いやすい光学装置が得られる。   1100 nm ≦ d ≦ 200 mm Formula (8-0-1) provides an optical device that is easier to use.

0.01mm≦d≦200mm …式(8−0−2)とすればなお使いやすく、光学装置のWDを決める機構が簡単になるので良い。   0.01 mm ≦ d ≦ 200 mm Formula (8-0-2) is easy to use, and the mechanism for determining the WD of the optical device may be simplified.

0.1mm≦d≦200mm …式(8−0−3)とすればさらに使いやすく、光学装置の機械的精度もさらに下げられるので良い。   0.1 mm ≦ d ≦ 200 mm Formula (8-0-3) makes it easier to use and further reduces the mechanical accuracy of the optical device.

t0 は小さいほど良いのであるが
t0 ≦10000λ …式(18−1)
あるいは、
t0 ≦1000λ …式(18−2)
でも製品によっては許容できる。
The smaller t0 is, the better, but t0 ≤10000λ (18-1)
Or
t0 ≦ 1000λ Formula (18-2)
But some products are acceptable.

t0 ≦100λ …式(18−3)
とすればエバネッセント波を有効に利用でき良い。
t0 ≦ 100λ (18-3)
If so, the evanescent wave can be used effectively.

t0 ≦5λ …式(18−4)
とすればさらに良い。
t0 ≤ 5λ (18-4)
Even better.

t0 の値を小さくすることで、452等の大きさを小さくすることもできるので良い。   By reducing the value of t0, the size such as 452 can be reduced.

また、dあるいはt0 の値は、光学装置の機械的構造を工夫すること等で、可変できるようにしておくことが望ましい。顕微鏡のステージ等はその一例である。   Further, it is desirable that the value of d or t0 can be varied by devising the mechanical structure of the optical device. One example is a microscope stage.

あるいは、負屈折率媒質301を透明な平板上に形成し、この透明な平板が結像に用いるレンズの一部をなすように配置してもよい。配置する場所としては、結像レンズ系(図2で言えば対物レンズ306)の最前部(図2で言えばレンズ306−1の物体側)又は最後部(図6で言えば322のディスク側)が良い。基板として用いるレンズ、あるいは平板は正の屈折率を有する材料で作れば低コストで製作できるので良い。以上のように、基板上に負屈折率媒質301を設ける場合でもt0 、dの値は負屈折率媒質301の表面から計るものとする。   Alternatively, the negative refractive index medium 301 may be formed on a transparent flat plate, and the transparent flat plate may be arranged to form a part of a lens used for image formation. As a place to be arranged, the foremost part (the object side of the lens 306-1 in FIG. 2) or the last part (the disk side of 322 in FIG. 6) of the imaging lens system (the objective lens 306 in FIG. 2). ) Is good. If the lens or flat plate used as the substrate is made of a material having a positive refractive index, it can be manufactured at low cost. As described above, even when the negative refractive index medium 301 is provided on the substrate, the values of t0 and d are measured from the surface of the negative refractive index medium 301.

ここで、光学面上のゴミ、キズ等の結像性能への影響についてまとめておく。すでにg,dの条件式で説明したように、FFから直前あるいは直後の光学面までの距離が大きいほどその光学面のゴミ、キズ等の影響は小さくなる。   Here, the influence on the imaging performance of dust, scratches and the like on the optical surface will be summarized. As already described in the conditional expressions g and d, the influence of dust, scratches, etc. on the optical surface becomes smaller as the distance from the FF to the immediately preceding or immediately following optical surface increases.

ここで言う距離は光学的な長さ(空気換算長)である。   The distance referred to here is an optical length (air equivalent length).

そして、その距離は少くとも(0.1λ)/A以上あることが望ましい。そして(0.6λ)/Aあるいは(1.3λ)/A以上あればなお良い。   The distance is preferably at least (0.1λ) / A or more. It is even better if it is (0.6λ) / A or (1.3λ) / A or more.

上記の光学面には負屈折率媒質の表面も含まれる。   The optical surface includes the surface of a negative refractive index medium.

図14に正の屈折率を有する材料でできた平板450の上に形成した平板形状の301を用いた315の例を示した。   FIG. 14 shows an example of 315 using a flat plate 301 formed on a flat plate 450 made of a material having a positive refractive index.

450,306−1,306−2合わせて306を形成している。301と450は接着しても、密着させてもよい。   450, 306-1 and 306-2 are combined to form 306. 301 and 450 may be adhered or adhered.

このような構成の光学系は図2、図3、図4、図5、図6等の例にも適用できる。   The optical system having such a configuration can be applied to the examples of FIGS. 2, 3, 4, 5, and 6.

また完全結像の条件、式(1)からのずれについてであるが、
t0 +d−t=Δ …式(8−3)
とした時、|Δ|の値が大きいほど結像状態は悪くなる。
Also, regarding the condition of complete imaging, the deviation from the equation (1),
t0 + dt = .DELTA. Expression (8-3)
In this case, the larger the value of | Δ |, the worse the image formation state.

|Δ|<λ …式(8−4)
であればある程度の結像状態の低下でおさえられる。
| Δ | <λ Formula (8-4)
If so, the image formation state can be reduced to some extent.

実用的には製品によっては
|Δ|<10λ …式(8−4−1)
まで許容できる。利用条件によっては|Δ|<100λ …式(8−5)まで許容できる。
Practically, depending on the product, | Δ | <10λ (8-4-1)
Up to acceptable. Depending on the use conditions, | Δ | <100λ (Equation (8-5)) is acceptable.

式(8−4−1)〜(8−5)の|Δ|の下限を(0.1λ)/AとすればWDが長めに確保できる等のメリットがあるので良い場合がある。   If the lower limit of | Δ | in the expressions (8-4-1) to (8-5) is (0.1λ) / A, there may be a merit that WD can be secured longer, and so on.

また、負屈折率媒質301の屈折率をnとすると、n<0である。これまで述べた実施形態ではn=−1であった。負屈折率媒質301が平行平板の場合、理想的にはn=−1である。しかし実際には負屈折率媒質301の製作誤差、使用波長のズレなどでn=−1にできないこともあり、この時次式を満すことが望ましい。   Further, when the refractive index of the negative refractive index medium 301 is n, n <0. In the embodiments described so far, n = -1. When the negative refractive index medium 301 is a parallel plate, ideally n = -1. However, in reality, there are cases where n = −1 cannot be achieved due to manufacturing errors of the negative refractive index medium 301, deviations in the wavelength used, and the like, and it is desirable to satisfy the following equation at this time.

−1.1<n<−0.9 …式(9)
nの値が上記をはずれると、完全結像が成り立たなくなり、解像度が低下する。製品によっては
−1.5<n<−0.5 …式(10)
であれば良い。
−1.1 <n <−0.9 Formula (9)
If the value of n deviates from the above, complete image formation is not realized and the resolution is lowered. Depending on the product: -1.5 <n <-0.5 Formula (10)
If it is good.

WDを大きく取るためだけなどの用途では
−3<n<−0.2 …式(11)
でも良い場合がある。
-3 <n <-0.2 (Equation (11))
But sometimes it ’s okay.

負屈折率媒質に最も近いレンズ又は光学素子(図2、図3、図4、図6で言えばそれぞれ306−1,322−1)の屈折率をNとすると、Nは大きいほど解像度が上がるので良い。   Assuming that the refractive index of the lens or optical element closest to the negative refractive index medium (306-1, 322-1 in FIGS. 2, 3, 4, and 6) is N, the larger the N, the higher the resolution. So good.

N≧1.3 …式(12)
とすれば、広い用途に利用できる。
N ≧ 1.3 Formula (12)
If so, it can be used for a wide range of purposes.

N≧1.7 …式(13)
とすればなお良い。
N ≧ 1.7 Formula (13)
And that's even better.

式(12)、(13)でNの上限値を1.82とすればガラスの吸収(着色)が少なくなるので良い。   If the upper limit value of N is set to 1.82 in the expressions (12) and (13), the glass absorption (coloring) may be reduced.

N≧1.86 …式(13−1)
とすれば着色はあるものの、高解像が実現できるので良い。
N ≧ 1.86 Formula (13-1)
If so, it is good because high resolution can be realized although there is coloring.

なお本願の実施例に共通して言えることであるが、負屈折率媒質301の周囲は空気又は真空等であると考えているが、水、油としてもよい。   In addition, although it can be said in common with the Example of this application, although the circumference | surroundings of the negative refractive index medium 301 are considered to be air or a vacuum, it is good also as water and oil.

そのため301の屈折率nは周囲が空気等の場合は周囲の媒質に対する比屈折率を表すものとし、周囲が真空の場合には真空に対する屈折率を表わすものとする。周囲を真空にすると短波長の真空紫外光を用いることができること、空気のゆらぎによる解像の低下がないこと等により良い結像性能が得られる。周囲を空気とすれば光学装置が作りやすく、取扱いも容易となるので良い。光学装置のうち、負屈折率媒質301の周辺の光路だけを真空とし、光学装置の残りの部分は空気中に置いてもよい。   Therefore, the refractive index n of 301 represents the relative refractive index with respect to the surrounding medium when the surrounding is air or the like, and represents the refractive index with respect to the vacuum when the surrounding is vacuum. When the surroundings are evacuated, good imaging performance can be obtained due to the fact that vacuum ultraviolet light having a short wavelength can be used and that there is no reduction in resolution due to air fluctuations. If the surroundings are air, an optical device can be easily manufactured and handled easily. Of the optical device, only the optical path around the negative refractive index medium 301 may be evacuated, and the rest of the optical device may be placed in the air.

取扱いが容易で結像性能の良い光学装置が得られる。   An optical device that is easy to handle and has good imaging performance can be obtained.

また図1、図2、図3、図5、図6、図7、図8、図9、図11、図15、図16の例でd、又はt0 の部分を水、油等の液体で満たしてもよい。このようにするとnV の値が−1でなくても良く、301の材料を選択しやすくなるメリットがある。但し、301の真空に対する屈折率をnVとする。   1, 2, 3, 5, 5, 6, 7, 8, 9, 11, 15 and 16, the part d or t0 is made of liquid such as water or oil. May be satisfied. In this way, the value of nV does not have to be -1, and there is an advantage that it is easy to select 301 materials. However, the refractive index of 301 for vacuum is nV.

この場合、水、油等の液体の屈折率をnL とすれば、完全結像を実現するための必要条件は
nV =−nL …式(15−3)
となる。
In this case, if the refractive index of a liquid such as water or oil is nL, the necessary condition for realizing complete imaging is nV = −nL (Equation (15-3))
It becomes.

液体に対する301の比屈折率をnとすれば式(9)、(10)、(11)は同様に適用できる。   If the relative refractive index of 301 with respect to the liquid is n, the equations (9), (10), and (11) can be similarly applied.

301の真空に対する屈折率をnV 、空気の真空に対する屈折率をnA とする。1気圧、波長500nmのときnA =1.0002818である。   The refractive index of 301 for vacuum is nV, and the refractive index of air for vacuum is nA. NA = 1.0002818 when the pressure is 1 atm and the wavelength is 500 nm.

光学装置の周囲が空気の場合の理想的な完全結像のための必要条件は
nV =−nA …式(15)
である。
The necessary condition for ideal complete imaging in the case where the periphery of the optical device is air is nV = −nA (15)
It is.

光学装置の周囲が真空の場合の理想的な完全結像のための必要条件は
nV =−1.0 …式(16)
である。
The necessary condition for ideal complete imaging when the periphery of the optical device is a vacuum is nV = −1.0 (16)
It is.

tの値について述べる。実用上光学装置の使い勝手を良くするために作動距離を大きく取る方がよい。式(1)から作動距離はtと同程度の値となる。従って
0.1mm≦t≦300mm …式(15−2)
とするのがよい。tの値が上限を越えると光学装置が大きくなり製造しにくくなる。
The value of t will be described. In practice, it is better to increase the working distance in order to improve the usability of the optical device. From the equation (1), the working distance becomes a value similar to t. Therefore, 0.1 mm <= t <= 300 mm ... Formula (15-2)
It is good to do. If the value of t exceeds the upper limit, the optical device becomes large and difficult to manufacture.

製品によっては
0.01mm≦t≦300mm …式(16−2)
でも許容される。
0.01mm ≦ t ≦ 300mm depending on the product (16-2)
But it is acceptable.

用途によっては
1100nm≦t≦200mm …式(17)
あるいは301に光の吸収がある場合などでは
30nm≦t≦50mm …式(18)
でも許容できる場合がある。
Depending on the application, 1100 nm ≦ t ≦ 200 mm (17)
Alternatively, in the case where light is absorbed in 301, 30 nm ≦ t ≦ 50 mm (18)
But sometimes it is acceptable.

また式15−2あるいは16−2を満せば、光学素子としての負屈折率媒質の機械的強度が増すので、光学装置組立時の取扱いが楽になるので良い。   Further, if the expression 15-2 or 16-2 is satisfied, the mechanical strength of the negative refractive index medium as an optical element increases, so that the handling at the time of assembling the optical device may be facilitated.

あるいは負屈折率媒質を支える基板が不要になる可能性もでてくるので良い。   Alternatively, there is a possibility that a substrate for supporting the negative refractive index medium may be unnecessary.

式(17)、(18)でtの上限値を0.01mmとすれば、負屈折率媒質を薄膜として蒸着あるいはスパッタリング等で製造する可能性も出てくるので良い。   If the upper limit of t is set to 0.01 mm in the equations (17) and (18), the negative refractive index medium may be manufactured as a thin film by vapor deposition or sputtering.

例えばフォトニック結晶を自己クローニング法で製作することが考えられる(非特許文献6参照)。   For example, it is conceivable to produce a photonic crystal by a self-cloning method (see Non-Patent Document 6).

なお、負屈折率媒質を含む光学系の光軸に沿って計った長さは20m以下とすれば、光学系及び光学装置が製作しやすいのでなお良い。   In addition, if the length measured along the optical axis of the optical system including the negative refractive index medium is 20 m or less, the optical system and the optical device can be easily manufactured.

また、本願の図2、図3、図4、図5、図6の実施例に示されているように、結像光学系(306,322等)に対する物点(FF,321,325等)あるいは像点(308の前の実像、FF,324上の像等)と、結像光学系までの距離はいずれも有限である特徴がある。本願で光という語を用いた場合、電磁波も含むものとする。   Further, as shown in the embodiments of FIGS. 2, 3, 4, 5, and 6 of the present application, object points (FF, 321, 325, etc.) with respect to the imaging optical system (306, 322, etc.) Alternatively, the distance between the image point (real image before 308, image on FF, 324, etc.) and the imaging optical system is finite. When the term light is used in the present application, it also includes electromagnetic waves.

また本願で完全結像という用語を用いたが、これは100%完全な結像が行なわれない場合(例えば50%解像が向上している)も含むものとする。つまり、例えば通常の回折限界よりはある程度解像力は向上している、というような場合も含めるものとする。   Further, the term “complete imaging” is used in the present application, but this also includes a case where 100% complete imaging is not performed (for example, 50% resolution is improved). In other words, for example, the case where the resolution is improved to some extent over the normal diffraction limit is also included.

式(202)〜(206)及び式(18−1)、(18−2)、(18−3)、(18−4)は本願のすべての実施例に適用できる。   Expressions (202) to (206) and Expressions (18-1), (18-2), (18-3), and (18-4) can be applied to all examples of the present application.

最後に、本実施形態で用いられた技術用語の定義を述べておく。   Finally, definitions of technical terms used in this embodiment will be described.

光学装置とは、光学系あるいは光学素子を含む装置のことである。光学装置単体で機能しなくてもよい。つまり、装置の一部でもよい。   An optical device is a device including an optical system or an optical element. The optical device alone may not function. That is, it may be a part of the apparatus.

光学装置には、撮像装置、観察装置、表示装置、照明装置、信号処理装置、光情報処理装置、投影装置、投影露光装置、等が含まれる。   The optical device includes an imaging device, an observation device, a display device, an illumination device, a signal processing device, an optical information processing device, a projection device, a projection exposure device, and the like.

撮像装置の例としては、フィルムカメラ、デジタルカメラ、PDA用デジタルカメラ、ロボットの眼、レンズ交換式デジタル一眼レフカメラ、テレビカメラ、動画記録装置、電子動画記録装置、カムコーダ、VTRカメラ、携帯電話のデジタルカメラ、携帯電話のテレビカメラ、電子内視鏡、カプセル内視鏡、車載カメラ、人工衛星のカメラ、惑星探査機のカメラ、宇宙探査機のカメラ、監視装置のカメラ、各種センサーの眼、録音装置のデジタルカメラ、人工視覚、レーザ走査型顕微鏡、投影露光装置、ステッパー、アライナー、
光プローブ型顕微鏡等がある。デジカメ、カード型デジカメ、テレビカメラ、VTRカメラ、動画記録カメラ、携帯電話のデジタルカメラ、携帯電話のテレビカメラ、車載カメラ、人工衛星のカメラ、惑星探査機のカメラ、宇宙探査機のカメラ、録音装置のデジタルカメラなどはいずれも電子撮像装置の一例である。
Examples of imaging devices include film cameras, digital cameras, PDA digital cameras, robot eyes, interchangeable lens digital single lens reflex cameras, television cameras, video recording devices, electronic video recording devices, camcorders, VTR cameras, and mobile phones. Digital camera, mobile phone TV camera, electronic endoscope, capsule endoscope, in-vehicle camera, satellite camera, planetary explorer camera, space probe camera, surveillance camera, various sensor eyes, recording Equipment digital camera, artificial vision, laser scanning microscope, projection exposure equipment, stepper, aligner,
There are optical probe microscopes and the like. Digital camera, card-type digital camera, TV camera, VTR camera, video recording camera, mobile phone digital camera, mobile phone TV camera, in-vehicle camera, satellite camera, planetary probe camera, space probe camera, recording device These digital cameras are examples of electronic imaging devices.

観察装置の例としては、顕微鏡、望遠鏡、眼鏡、双眼鏡、ルーペ、ファイバースコープ、ファインダー、ビューファインダー、コンタクトレンズ、眼内レンズ、人工視覚等がある。   Examples of the observation apparatus include a microscope, a telescope, glasses, binoculars, a loupe, a fiberscope, a viewfinder, a viewfinder, a contact lens, an intraocular lens, and artificial vision.

表示装置の例としては、液晶ディスプレイ、ビューファインダー、ゲームマシン(ソニー社製プレイステーション)、ビデオプロジェクター、液晶プロジェクター、頭部装着型画像表示装置(head mounted display:HMD)、PDA(携帯情報端末)、携帯電話、人工視覚等がある。   Examples of the display device include a liquid crystal display, a viewfinder, a game machine (Sony PlayStation), a video projector, a liquid crystal projector, a head mounted display (HMD), a PDA (personal digital assistant), Mobile phones, artificial vision, etc.

ビデオプロジェクター、液晶プロジェクター、等は投影装置でもある。   Video projectors, liquid crystal projectors, etc. are also projection devices.

照明装置の例としては、カメラのストロボ、自動車のヘッドライト、内視鏡光源、顕微鏡光源等がある。   Examples of the illumination device include a camera strobe, an automobile headlight, an endoscope light source, and a microscope light source.

信号処理装置の例としては、携帯電話、パソコン、ゲームマシン、光ディスクの読取・書込装置、光計算機の演算装置、光インターコネクション装置、光情報処理装置、光LSI、光コンピュータ、PDA等がある。   Examples of signal processing devices include mobile phones, personal computers, game machines, optical disk reading / writing devices, computing devices for optical computers, optical interconnection devices, optical information processing devices, optical LSIs, optical computers, PDAs, etc. .

情報発信装置とは、携帯電話、固定式の電話、ゲームマシン、テレビ、ラジカセ、ステレオ等のリモコンや、パソコン、パソコンのキーボード、マウス、タッチパネル等の何らかの情報を入力し、送信することができる装置を指す。   An information transmission device is a device that can input and transmit any information such as a remote control such as a mobile phone, a fixed phone, a game machine, a TV, a radio cassette, a stereo, a personal computer, a keyboard of a personal computer, a mouse, a touch panel, etc. Point to.

撮像装置のついたテレビモニター、パソコンのモニター、ディスプレイも含むものとする。   It shall also include a television monitor with an imaging device, a personal computer monitor, and a display.

情報発信装置は、信号処理装置の中に含まれる。   The information transmission device is included in the signal processing device.

撮像素子は、例えばCCD、撮像管、固体撮像素子、写真フィルム等を指す。また、平行平面板はプリズムの1つに含まれるものとする。観察者の変化には、視度の変化を含むものとする。被写体の変化には、被写体となる物体距離の変化、物体の移動、物体の動き、振動、物体のぶれ等を含むものとする。撮像素子、ウエハー、光ディスク、銀塩フィルム、等は結像部材の例である。   The imaging device refers to, for example, a CCD, an imaging tube, a solid-state imaging device, a photographic film, and the like. The plane parallel plate is included in one of the prisms. The change of the observer includes the change of the diopter. The change in the subject includes a change in the object distance as the subject, movement of the object, movement of the object, vibration, blurring of the object, and the like. Imaging elements, wafers, optical disks, silver salt films, etc. are examples of imaging members.

拡張曲面の定義は以下の通りである。   The definition of the extended surface is as follows.

球面、平面、回転対称非球面のほか、光軸に対して偏心した球面、平面、回転対称非球面、あるいは対称面を有する非球面、対称面を1つだけ有する非球面、対称面のない非球面、自由曲面、微分不可能な点、線を有する面等、いかなる形をしていても良い。反射面でも、屈折面でも、光になんらかの影響を与えうる面ならば良い。   In addition to spherical surfaces, flat surfaces, rotationally symmetric aspheric surfaces, spherical surfaces that are decentered with respect to the optical axis, flat surfaces, rotationally symmetric aspheric surfaces, aspherical surfaces having a symmetric surface, aspherical surfaces having only one symmetric surface, non-symmetrical surfaces Any shape such as a spherical surface, a free-form surface, a non-differentiable point, or a surface having a line may be used. It may be a reflective surface or a refractive surface as long as it can have some influence on light.

本発明では、これらを総称して拡張曲面と呼ぶことにする。   In the present invention, these are collectively referred to as an extended curved surface.

結像光学系とは、撮像光学系、観察光学系、投影光学系、投影露光光学系、表示光学系、信号処理用光学系等を指す。   The imaging optical system refers to an imaging optical system, an observation optical system, a projection optical system, a projection exposure optical system, a display optical system, a signal processing optical system, and the like.

撮像光学系の例としてはデジタルカメラの撮像用レンズがある。   An example of the imaging optical system is an imaging lens for a digital camera.

観察光学系の例としては顕微鏡光学系、望遠鏡光学系等がある。   Examples of the observation optical system include a microscope optical system and a telescope optical system.

投影光学系の例としてはビデオプロジェクターの光学系、リソグラフィー用の光学系、光ディスクの読み出し、書き込み光学系、光ピックアップの光学系等がある。   Examples of the projection optical system include a video projector optical system, a lithography optical system, an optical disk read / write optical system, and an optical pickup optical system.

投影露光光学系の例としてはリソグラフィー用の光学系がある。   As an example of the projection exposure optical system, there is an optical system for lithography.

表示光学系の例としてはビデオカメラのビューファインダーの光学系がある。   An example of the display optical system is a viewfinder optical system of a video camera.

信号処理光学系の例としては光ディスクの読み出し、書き込み光学系、光ピックアップの光学系がある。   Examples of the signal processing optical system include an optical disk read / write optical system and an optical pickup optical system.

光学素子とはレンズ、非球面レンズ、鏡、ミラー、プリズム、自由曲面プリズム、回折光学素子(DOE)、不均質レンズ等を指すものとする。平行平板も光学素子のひとつである。   An optical element refers to a lens, an aspheric lens, a mirror, a mirror, a prism, a free-form surface prism, a diffractive optical element (DOE), a heterogeneous lens, and the like. A parallel plate is also an optical element.

(付記)
1.負屈折を示す媒質で形成されたカバーグラス。
(Appendix)
1. A cover glass made of a medium exhibiting negative refraction.

1−2.負屈折を示す媒質で形成されたカバーグラスを光路中に含む顕微鏡。 1-2. A microscope including a cover glass formed of a medium exhibiting negative refraction in an optical path.

2.負屈折を示す媒質で形成されたペトリ皿。 2. A Petri dish made of a medium exhibiting negative refraction.

2−2.負屈折を示す媒質で形成されたペトリ皿を光路中に含む顕微鏡。 2-2. A microscope including a Petri dish formed of a medium exhibiting negative refraction in an optical path.

3.負屈折を示す媒質で形成された光ディスク。 3. An optical disc formed of a medium exhibiting negative refraction.

3−1.記録層とその上に形成された負屈折を示す媒質の層を有する3.に従属する光ディスク。 3-1. 2. having a recording layer and a layer of a medium exhibiting negative refraction formed thereon; An optical disc that is subordinate to.

3−2.記録層とその上に形成された負屈折を示す媒質の層を有する3.に従属する読み出し専用タイプの光ディスク。 3-2. 2. having a recording layer and a layer of a medium exhibiting negative refraction formed thereon; A read-only optical disc that depends on

3−3.前記負屈折を示す媒質で形成された3.乃至3−2.に従属する光ディスクを用いる光ディスク装置。 3-3. 2. formed of a medium exhibiting negative refraction. To 3-2. Optical disk apparatus using an optical disk subordinate to.

3−4.光源と微小開口と前記負屈折を示す媒質で形成された3.乃至3−3.に従属する光ディスクを有することを特徴とする光ディスク装置。 3-4. 2. formed of a light source, a small aperture, and a medium exhibiting negative refraction. To 3-3. An optical disk device comprising an optical disk subordinate to

3−4−2.前記負屈折を示す媒質で形成された3.乃至3−3.に従属する光ディスクと微小開口とを順に配置し、光源を有することを特徴とする光ディスク装置。 3-4-2. 2. formed of a medium exhibiting negative refraction. To 3-3. An optical disc apparatus comprising: an optical disc that is dependent on the optical disc;

3−5.光源と結像光学系と前記負屈折を示す媒質で形成された3.乃至3−3.に従属する光ディスクを有することを特徴とする光ディスク装置。 3-5. 2. formed of a light source, an imaging optical system, and a medium exhibiting negative refraction. To 3-3. An optical disk device comprising an optical disk subordinate to

3−5−2.前記負屈折を示す媒質で形成された3.乃至3−3.に従属する光ディスクと結像光学系とを順に配置し光源を有することを特徴とする光ディスク装置。 3-5-2. 2. formed of a medium exhibiting negative refraction. To 3-3. An optical disk apparatus comprising a light source in which an optical disk subordinate to the optical system and an imaging optical system are sequentially arranged.

4.光源と、負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、光ディスクとを有し、前記光ディスクへ情報を書き込む時には前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子を前記光源側に移動させ、前記光ディスクから情報を読み込む時には前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子を前記光ディスク側に移動させることを特徴とする光ディスク装置。 4). A light source, an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and an optical disc, and when writing information to the optical disc, the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction is moved to the light source side, An optical disc apparatus, wherein when reading information from an optical disc, an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction is moved to the optical disc side.

4−2.光源と、結像光学系と、負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、光ディスクとを有し、前記光ディスクへ情報を書き込む時には前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子を光源側に移動させ、前記光ディスクから情報を読み込む時には前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子を前記光ディスク側に移動させることを特徴とする光ディスク装置。 4-2. A light source, an imaging optical system, an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and an optical disc, and the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction when the information is written to the optical disc And an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction is moved toward the optical disk when reading information from the optical disk.

5.光源と、前記光源によって照明される物体と、結像光学系と、前記結像光学系に近接して置かれた負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有することを特徴とする光学装置。 5. An optical device comprising: a light source; an object illuminated by the light source; an imaging optical system; and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction placed in proximity to the imaging optical system. apparatus.

5−2.光源と、前記光源によって照明される微細構造を有する物体と、結像光学系と、前記結像光学系に近接して置かれた負屈折を示す媒質で形成された部材とを有する投影露光装置。 5-2. Projection exposure apparatus comprising: a light source; an object having a fine structure illuminated by the light source; an imaging optical system; and a member formed of a medium exhibiting negative refraction placed in proximity to the imaging optical system .

6.光源と、前記光源によって照明されている物体と、前記物体の近傍に配置された負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有し、前記物体の結像を行うことを特徴とする光学装置。 6). An optical system comprising: a light source; an object illuminated by the light source; and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction disposed in the vicinity of the object, and imaging the object. apparatus.

7.光源と、前記光源によって照明されている微細構造を有する物体と、前記物体近傍に配置された負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有し、前記微細構造を有する物体の結像をウエハー上に行うことを特徴とする投影露光装置。 7). An object having a fine structure illuminated by the light source and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction arranged in the vicinity of the object, and imaging the object having the fine structure A projection exposure apparatus which is performed on a wafer.

8.光源により照明されている物体あるいは光を発する物体または像と、前記物体または像の後方に前記物体または像に近接して配置された負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有し、前記物体または像の像を結像することを特徴とする光学系。 8). An optical element formed of an object illuminated by a light source or an object or image that emits light, and a negative refraction medium disposed in proximity to the object or image behind the object or image, An optical system for forming an image of an object or an image.

8−2.前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子が移動可能であることを特徴とする
8.に記載の光学系。
8-2. 7. The optical element formed of the medium exhibiting negative refraction is movable. The optical system described in 1.

8−3.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有し、前記光学素子が移動することを特徴とする光学系。 8-3. An optical system comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, wherein the optical element moves.

8−4.負屈折を示す物質で形成された光学素子を有し、前記光学素子が移動可能であり、さらに正の屈折率を有する媒質で形成された光学素子を有することを特徴とする光学系。 8-4. An optical system comprising an optical element formed of a substance exhibiting negative refraction, wherein the optical element is movable, and further includes an optical element formed of a medium having a positive refractive index.

9.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有し、式(206)を満たす位置に前記光学素子が配置されていることを特徴とする光あるいは電磁波を用いる光学系。 9. An optical system using light or electromagnetic waves, characterized in that it has an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and the optical element is arranged at a position satisfying formula (206).

9−2.さらに正の屈折率で形成された光学素子を有する8.に記載の光学系。 9-2. Further, it has an optical element formed with a positive refractive index. The optical system described in 1.

9−3.さらに正の屈折率で形成された光学素子複数個を有する8.に記載の光学系。 9-3. Furthermore, it has a plurality of optical elements formed with a positive refractive index. The optical system described in 1.

9−4.さらに前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の前方あるいは後方に結像光学系を有する8.に記載の光学系。 9-4. Furthermore, an imaging optical system is provided in front of or behind the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction. The optical system described in 1.

10.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有し、式(18−1)を満たす位置に前記光学素子が配置されていることを特徴とする光あるいは電磁波を用いる光学系。 10. An optical system using light or electromagnetic waves, comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, wherein the optical element is disposed at a position satisfying the formula (18-1).

10−2.さらに正の屈折率で形成された光学素子を有する10.に記載の光学系。 10-2. Furthermore, it has an optical element formed with a positive refractive index. The optical system described in 1.

10−3.さらに正の屈折率で形成された光学素子複数個を有する10.に記載の光学系。 10-3. Furthermore, it has a plurality of optical elements formed with a positive refractive index. The optical system described in 1.

10−4.さらに前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の前方あるいは後方に結像光学系を有する10.に記載の光学系。 10-4. Furthermore, an imaging optical system is provided in front of or behind the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction. The optical system described in 1.

11.前記光学系あるいは光学装置の光入射側あるいは出射側あるいは中間結像のNAが1以上であることを特徴とする1−2、2−2、3−3、3−5、3−5−2、4、4−2、5、5−2、のいずれか、あるいは8.ないし10−4に記載のもの。 11. 1-2, 2-2, 3-3, 3-5, 3-5-2, wherein the optical system or optical apparatus has a light incident side, an outgoing side, or an intermediate imaging NA of 1 or more. 4, 4-2, 5, 5-2, or 8. Or those described in 10-4.

12.前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の形状が平行平板であることを特徴とする1.乃至10.に記載のもの。 12 1. The optical element formed of the medium exhibiting negative refraction is a parallel plate. To 10. Those described in.

12−2.前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子が曲面形状の光学面を有することを特徴とする1.乃至10.に記載のもの。 12-2. 1. The optical element formed of a medium exhibiting negative refraction has a curved optical surface. To 10. Those described in.

13.撮像素子を有する1.ないし10−4.の光学系を有する光学装置。 13. 1. Having an image sensor To 10-4. An optical apparatus having the following optical system.

14.光、または電磁波を用いることを特徴とする1.乃至13.の光学素子、あるいは光学系あるいは光学装置。 14 1. Use of light or electromagnetic waves Thru 13. Optical elements, optical systems or optical devices.

15.前記負屈折を示す媒質が負屈折率媒質であることを特徴とする1.乃至14に記載のもの。 15. The medium exhibiting negative refraction is a negative refractive index medium. To 14.

16.前記負屈折を示す媒質がフォトニック結晶であることを特徴とする1.乃至15.に記載のもの。 16. 1. The medium exhibiting negative refraction is a photonic crystal. To 15. Those described in.

17.前記負屈折を示す媒質が完全結像の性質を示す媒質であることを特徴とする1.乃至16に記載のもの。 17. 1. The medium exhibiting negative refraction is a medium exhibiting complete imaging properties. To 16.

18.負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とするレンズ。 18. A lens formed of a medium exhibiting negative refraction.

18−1.負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とする片側が平面のレンズ。 18-1. A lens having a flat surface on one side, which is formed of a medium exhibiting negative refraction.

18−2.負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とする両凹、または両凸のレンズ。 18-2. A biconcave or biconvex lens formed of a medium exhibiting negative refraction.

18−3.負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とするメニスカスレンズ。 18-3. A meniscus lens formed of a medium exhibiting negative refraction.

18−4.負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とする非球面のレンズ。 18-4. An aspheric lens formed of a medium exhibiting negative refraction.

18−5.負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とする回転非対称面のレンズ。 18-5. A lens having a rotationally asymmetric surface, which is formed of a medium exhibiting negative refraction.

18−6.負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とする拡張曲面を有するレンズ。 18-6. A lens having an extended curved surface, which is formed of a medium exhibiting negative refraction.

18−7.屈折率が正の材料でできた光学素子を有し、前記光学素子を基板として前記光学素子上に形成された負屈折を示す媒質、を有するレンズ。 18-7. A lens having an optical element made of a material having a positive refractive index, and a medium exhibiting negative refraction formed on the optical element using the optical element as a substrate.

18−8.屈折率が正の材料でできた光学素子を有し、前記光学素子を基板として前記光学素子上に形成された負屈折を示す媒質、を有する光学素子。 18-8. An optical element having an optical element made of a material having a positive refractive index and having a negative refraction medium formed on the optical element with the optical element as a substrate.

18−9.透明な平板を有し、前記平板を基板として前記平板上に形成された負屈折を示す媒質、を有する光学素子。 18-9. An optical element having a transparent flat plate and having a medium exhibiting negative refraction formed on the flat plate using the flat plate as a substrate.

18−10.屈折率が正の材料でできた透明な平板を有し、前記平板を基板として前記平板上に形成された負屈折を示す媒質、を有する光学素子。 18-10. An optical element having a transparent flat plate made of a material having a positive refractive index, and a medium exhibiting negative refraction formed on the flat plate using the flat plate as a substrate.

19.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有することを特徴とする光学系。 19. An optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction.

20.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、それ以外の光学素子とを有することを特徴とする光学系。 20. An optical system comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and another optical element.

21−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、正の屈折率の媒質で形成された光学素子とを有することを特徴とする光学系。 21-1. An optical system comprising: an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction; and an optical element formed of a medium having a positive refractive index.

21−1−0.負屈折を示す媒質で形成された曲面を有する光学素子と、正の屈折率の媒質で形成された光学素子とを有することを特徴とする光学系。 21-1-0. An optical system comprising: an optical element having a curved surface formed of a medium exhibiting negative refraction; and an optical element formed of a medium having a positive refractive index.

21−1−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、正の屈折率の媒質で形成された光学素子とを有し、前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の最も近接した正の屈折率の媒質で形成された光学素子と、前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子との間に隙間があることを特徴とする光学系。 21-1-1. An optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an optical element formed of a medium having positive refractive index, and the closest positive refractive index of the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction An optical system characterized in that there is a gap between an optical element formed of the above medium and an optical element formed of the medium exhibiting negative refraction.

22.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、結像光学系とを組み合わせて配置したことを特徴とする光学系。 22. An optical system comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an imaging optical system.

22−0.負屈折を示す媒質で形成された光学素子による結像関係を有し、さらに前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子以外に光学素子を有する光学系。 22-0. An optical system having an imaging relationship with an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and further including an optical element other than the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction.

22−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子による結像関係と、結像光学系による結像関係との両方を含むことを特徴とする光学系。 22-1. An optical system comprising both an imaging relationship by an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an imaging relationship by an imaging optical system.

22−1−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子による結像関係と、結像光学系による結像関係との両方を含み、前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子による結像が虚像であることを特徴とする光学系。 22-1-1. An image formed by an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction includes both an image forming relationship formed by a medium exhibiting negative refraction and an image forming relationship formed by an image forming optical system. An optical system characterized by that.

22−2.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を含む光学系により物体の像を結像し、その像を結像光学系により再結像することを特徴とする光学系。 22-2. An optical system, wherein an image of an object is formed by an optical system including an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and the image is re-imaged by an imaging optical system.

22−3.結像光学系により物体の像を結像し、その像を負屈折を示す媒質で形成された光学素子を含む光学系により再結像することを特徴とする光学系。 22-3. An optical system, wherein an image of an object is formed by an imaging optical system, and the image is re-imaged by an optical system including an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction.

22−4.物体が2次元あるいは3次元の形状を有することを特徴とする19乃至22−3のいずれかに記載のもの。 22-4. The object according to any one of 19 to 22-3, wherein the object has a two-dimensional or three-dimensional shape.

22−5.前記負屈折を示す媒質を光が2回通過することを特徴とする19乃至22−4に記載のもの。 22-5. The material according to 19 to 22-4, wherein light passes through the medium exhibiting negative refraction twice.

22−10.前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子が平行平板であることを特徴とする19乃至22−5に記載のもの。 22-10. The optical element according to 19 to 22-5, wherein the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction is a parallel plate.

22−11.式(0−1−0)または式(0−5)を満たすことを特徴とする19乃至22−10のいずれかに記載のもの。 22-11. The thing in any one of 19 thru | or 22-10 characterized by satisfy | filling Formula (0-1-0) or Formula (0-5).

22−12.式(4)を満たすことを特徴とする19乃至22−11のいずれかに記載のもの。 22-12. Any of 19 thru | or 22-11 characterized by satisfy | filling Formula (4).

但し WDは、前記負屈折を示す媒質と物体または像面までの距離
dは、前記負屈折を示す媒質と光学系の中間結像点までの距離
tは、前記負屈折を示す媒質の厚さ
22−13.前記負屈折を示す媒質の屈折率がおよそ−1であることを特徴とする19乃至22−12のいずれかに記載のもの。
Where WD is the distance between the negative refraction medium and the object or image plane, d is the distance between the negative refraction medium and the intermediate imaging point of the optical system, t is the thickness of the medium exhibiting negative refraction. 22-13. The medium according to any one of 19 to 22-12, wherein a refractive index of the medium exhibiting negative refraction is about -1.

22−13−1.前記負屈折を示す媒質の屈折率が−1でなく、かつ式(11)を満たすことを特徴とする19乃至22−12のいずれかに記載のもの。 22-13-1. The medium according to any one of 19 to 22-12, wherein a refractive index of the medium exhibiting negative refraction is not -1, and the formula (11) is satisfied.

22−14.前記負屈折を示す媒質の屈折率が式(11)を満たすことを特徴とする19乃至22−12に記載のもの。 22-14. The thing of 19 thru | or 22-12 characterized by the refractive index of the medium which shows the said negative refraction satisfy | filling Formula (11).

22−15.前記光学系の物体側あるいは像側あるいは中間結像のNAが0.2を超える値であることを特徴とする19乃至22−14のいずれかに記載のもの。 22-15. 15. The optical system according to any one of 19 to 22-14, wherein the NA of the object side, the image side, or the intermediate image of the optical system is a value exceeding 0.2.

22−16.前記光学系の物体側あるいは像側あるいは中間結像のNAが1.0未満であることを特徴とする19乃至22−14のいずれかに記載のもの。 22-16. 15. The optical system according to any one of 19 to 22-14, wherein the NA of the optical system on the object side, the image side, or intermediate imaging is less than 1.0.

22−17.前記光学系の物体側あるいは像側あるいは中間結像のNAが1以上であることを特徴とする19乃至22−14のいずれかに記載のもの。 22-17. 15. The optical system according to any one of 19 to 22-14, wherein the NA of the object side or image side or intermediate image of the optical system is 1 or more.

22−17−1.前記光学系の物体側あるいは像側あるいは中間結像のNAが1.15を超える値であることを特徴とする19乃至22−14のいずれかに記載のもの。 22-17-1. 15. The object according to any one of 19 to 22-14, wherein NA of the object side, the image side, or the intermediate image of the optical system is a value exceeding 1.15.

22−17−2.前記光学系の物体側あるいは像側あるいは中間結像のNAが1.3を超える値であることを特徴とする19乃至22−14のいずれかに記載のもの。 22-17-2. 15. The optical system according to any one of 19 to 22-14, wherein NA of the optical system on the object side, the image side, or intermediate imaging is a value exceeding 1.3.

22−17−3.前記光学系の物体側あるいは像側あるいは中間結像のNAが1.5を超える値であることを特徴とする19乃至22−14のいずれかに記載のもの。 22-17-3. 15. The object according to any one of 19 to 22-14, wherein NA of the object side or image side of the optical system or intermediate image formation is a value exceeding 1.5.

22−18.前記負屈折を示す媒質と物体または像との距離が式(8)を満たすことを特徴とする19乃至22−17−3のいずれかに記載のもの。 22-18. The distance between the medium exhibiting negative refraction and an object or an image satisfies the formula (8), according to any one of 19 to 22-17-3.

22−19.式(8−2)を満たすことを特徴とする19乃至22−18のいずれかに記載のもの。 22-19. The thing in any one of 19 thru | or 22-18 characterized by satisfy | filling Formula (8-2).

22−20.式(8−5)を満たすことを特徴とする19乃至22−19のいずれかに記載のもの。 22-20. The thing in any one of 19 thru | or 22-19 characterized by satisfy | filling Formula (8-5).

22−21.負屈折を示す媒質で形成された光学素子の後方に結像光学系を配設したことを特徴とする19乃至22−20のいずれかに記載のもの。 22-21. 21. The apparatus according to any one of 19 to 22-20, wherein an imaging optical system is disposed behind an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction.

22−22.上記22−21の光学系を有することを特徴とする光学装置。 22-22. An optical apparatus comprising the optical system according to 22-21.

22−23.上記22−21の光学系を有することを特徴とする顕微鏡。 22-23. A microscope having the optical system according to 22-21.

22−24.上記22−21の光学系を有することを特徴とする落射型顕微鏡。 22-24. An episcopic microscope having the optical system according to 22-21.

22−25.上記22−21の光学系を有することを特徴とする透過型顕微鏡。 22-25. A transmission microscope having the optical system according to 22-21.

22−26.上記22−21の光学系を有することを特徴とする観察装置。 22-26. An observation apparatus comprising the optical system according to 22-21.

22−27.上記22−21の光学系を有することを特徴とする撮像装置。 22-27. An imaging apparatus comprising the optical system according to 22-21.

22−27−1.上記22−21の光学系を有することを特徴とする走査型顕微鏡。 22-27-1. A scanning microscope having the optical system according to 22-21.

22−28.負屈折を示す媒質で形成された光学素子の前方に結像光学系を配設したことを特徴とする19乃至22−20のいずれかに記載のもの。 22-28. 21. Any one of 19 to 22-20, wherein an imaging optical system is disposed in front of an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction.

22−29.上記22−28の光学系を有することを特徴とする光学装置。 22-29. An optical apparatus comprising the optical system according to 22-28.

22−30.上記22−28の光学系を有することを特徴とする光ディスク装置。 22-30. An optical disc apparatus comprising the optical system according to 22-28.

22−31.上記22−28の光学系を有することを特徴とする投影露光装置。 22-31. A projection exposure apparatus comprising the optical system according to 22-28.

22−32.上記22−28の光学系を有することを特徴とする投影装置。 22-32. A projection apparatus comprising the optical system according to 22-28.

22−33.上記22−28の光学系を有することを特徴とする信号処理装置。 22-33. A signal processing apparatus having the optical system according to 22-28.

22−34.上記22−28の光学系を有することを特徴とする撮像装置。 22-34. An image pickup apparatus having the optical system according to 22-28.

22−35.上記19乃至22−20の光学系を有することを特徴とする光学装置。 22-35. An optical apparatus comprising the optical system according to 19 to 22-20.

22−36.式(12)を満たすことを特徴とする19乃至22−35のいずれかに記載のもの。 22-36. The thing in any one of 19 thru | or 22-35 characterized by satisfy | filling Formula (12).

22−37.負の屈折を示す媒質で形成された光学素子は前記1.乃至1−10.のいずれかの構成を有する19乃至22−35のいずれかに記載のもの。 22-37. The optical element formed of a medium exhibiting negative refraction has the above 1. To 1-10. Any of 19 thru | or 22-35 which has the structure in any one of these.

22−38.18−7乃至18−10のレンズまたは光学素子を有し、前記基板が、前記結像光学系あるいは光学系の一部を構成することを特徴とする19乃至22−36に記載のもの。 The lens or optical element of 22-38.18-7 to 18-10 is provided, and the substrate forms part of the imaging optical system or the optical system. Things.

22−39.18−7乃至18−10のレンズまたは光学素子を有し、前記基板が、前記結像光学系あるいは光学系の一部を構成し、前記基板が負屈折を示す媒質に対して物体と反対側にあることを特徴とする19乃至22−36に記載のもの。 22-39.18-7 to 18-10, and the substrate constitutes a part of the imaging optical system or the optical system, and the substrate exhibits a negative refraction. The object according to 19 to 22-36, wherein the object is on the side opposite to the object.

22−39−1.18−7乃至18−10のレンズまたは光学素子を有し、前記基板が、前記結像光学系あるいは光学系の一部を構成し、かつ前記基板が前記結像光学系を構成する光学素子と接着されていることを特徴とする19乃至22−36に記載のもの。 22-39-1.18-7 to 18-10, the substrate constitutes the imaging optical system or a part of the optical system, and the substrate is the imaging optical system. A material according to 19 to 22-36, which is adhered to an optical element constituting the material.

22−39−2.前記負屈折を示す媒質と光学系を構成する光学素子とが接着あるいは1体化されていることを特徴とする20乃至22−36に記載のもの。 22-39-2. The apparatus according to 20 to 22-36, wherein the medium exhibiting negative refraction and the optical element constituting the optical system are bonded or integrated.

22−40.前記基板の屈折率が式(12)を満たす22−38に記載のもの。 22-40. The thing of 22-38 in which the refractive index of the said board | substrate satisfy | fills Formula (12).

22−41−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有する結像光学系。 22-41-1. An imaging optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction.

22−41−2.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、それ以外の光学素子とを有する結像光学系。 22-41-2. An imaging optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and another optical element.

22−41−3.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、正の屈折率の媒質で形成された光学素子とを有する結像光学系。 22-41-3. An imaging optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an optical element formed of a medium having a positive refractive index.

22−42−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有することを特徴とする撮像光学系。 22-42-1. An imaging optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction.

22−42−2.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、それ以外の光学素子とを有することを特徴とする撮像光学系。 22-42-2. An imaging optical system comprising: an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and another optical element.

22−42−2−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、それ以外の光学素子と撮像素子を有することを特徴とする撮像光学系。 22-42-2-1. An imaging optical system comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, an optical element other than that, and an imaging element.

22−42−3.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、正の屈折率の媒質で形成された光学素子とを有することを特徴とする撮像光学系。 22-42-3. An imaging optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an optical element formed of a medium having a positive refractive index.

22−42−3−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、正の屈折率の媒質で形成された光学素子と撮像素子とを有することを特徴とする撮像光学系。 22-42-3-1. An imaging optical system comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, an optical element formed of a medium having a positive refractive index, and an imaging element.

22−43−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有することを特徴とする観察光学系。 22-43-1. An observation optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction.

22−43−2.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、それ以外の光学素子とを有することを特徴とする観察光学系。 22-43-2. An observation optical system comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and another optical element.

22−43−3.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、正の屈折率の媒質で形成された光学素子とを有することを特徴とする観察光学系。 22-43-3. An observation optical system comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an optical element formed of a medium having a positive refractive index.

22−44−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有することを特徴とする信号処理光学系。 22-44-1. A signal processing optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction.

22−44−2.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、それ以外の光学素子とを有することを特徴とする信号処理光学系。 22-44-2. A signal processing optical system comprising: an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction; and another optical element.

22−44−3.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、正の屈折率の媒質で形成された光学素子とを有することを特徴とする信号処理光学系。 22-44-3. A signal processing optical system comprising: an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction; and an optical element formed of a medium having a positive refractive index.

23.光源と微細構造を有する部材と、負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有し、前記微細構造の結像を行うことを特徴とする光学装置。 23. An optical apparatus comprising: a light source; a member having a fine structure; and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and imaging the fine structure.

23−0−1.光源と微細構造を有する部材と、負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを順に配置し、前記微細構造の結像を行うことを特徴とする光学装置。 23-0-1. An optical device, wherein a light source, a member having a fine structure, and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction are arranged in order to form an image of the fine structure.

23−1.光源とフォトマスクと負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを順に配置し、ウエハーに露光を行うことを特徴とする露光装置。 23-1. An exposure apparatus, wherein a light source, a photomask, and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction are arranged in order, and exposure is performed on a wafer.

23−2.前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子が平行平板であることを特徴とする23乃至23−1のいずれかに記載のもの。 23-2. 24. The optical element according to any one of 23 to 23-1, wherein the optical element formed of a medium exhibiting negative refraction is a parallel plate.

23−3.式(4)を満たすことを特徴とする23−2に記載のもの。 23-3. The thing of 23-2 characterized by satisfy | filling Formula (4).

但し WDは、前記負屈折を示す媒質と像面またはウエハーまでの距離
dは、前記負屈折を示す媒質と微細構造を有する部材またはフォトマスクの距離
tは、前記負屈折を示す媒質の厚さ、である。
Where WD is the distance between the medium exhibiting negative refraction and the image plane or wafer, d is the distance between the medium exhibiting negative refraction and a member or photomask having a fine structure, t is the thickness of the medium exhibiting negative refraction. .

23−4.前記負屈折を示す媒質の屈折率がおよそ−1であることを特徴とする23乃至23−3のいずれかに記載のもの。 23-4. The medium according to any one of 23 to 23-3, wherein the medium exhibiting negative refraction has a refractive index of about -1.

23−4−1.前記負屈折を示す媒質の屈折率が−1でなく、かつ式(11)を満たすことを特徴とする23乃至5−3のいずれかに記載のもの。 23-4-1. The medium according to any one of 23 to 5-3, wherein the medium exhibiting negative refraction does not have a refractive index of -1, and satisfies Expression (11).

23−5.前記負屈折を示す媒質の屈折率が式(11)を満たすことを特徴とする23乃至23−3のいずれかに記載のもの。 23-5. The medium according to any one of 23 to 23-3, wherein a refractive index of the medium exhibiting negative refraction satisfies Expression (11).

23−6.前記負屈折を示す媒質と像面との距離が式(8)を満たすことを特徴とする23乃至23−5のいずれかに記載のもの。 23-6. 24. The apparatus according to any one of 23 to 23-5, wherein a distance between the medium exhibiting negative refraction and an image plane satisfies Expression (8).

23−7.式(8−2)を満たすことを特徴とする23乃至23−6のいずれかに記載のもの。 23-7. The thing in any one of 23 thru | or 23-6 characterized by satisfy | filling Formula (8-2).

23−8.式(8−5)を満たすことを特徴とする23乃至23−7のいずれかに記載のもの。 23-8. The thing in any one of 23 thru | or 23-7 characterized by satisfy | filling Formula (8-5).

23−8−1.負の屈折を示す媒質で形成された光学素子は前記1−8.乃至1−10.のいずれかの構成を有する23乃至23−7のいずれかに記載のもの。 23-8-1. The optical element formed of a medium exhibiting negative refraction is 1-8. To 1-10. The thing in any one of 23 thru | or 23-7 which has either structure.

23−9.負屈折を示す媒質としてフォトニック結晶を用いたことを特徴とする18乃至23−8−1のいずれかに記載のもの。 23-9. The material according to any one of 18 to 23-8-1, wherein a photonic crystal is used as a medium exhibiting negative refraction.

23−9−1.負屈折を示す媒質としてフォトニック結晶を用い、かつフォトニック結晶のZ軸が光学素子あるいは光学系の光軸方向を向いていることを特徴とする18乃至23−8のいずれかに記載のもの。 23-9-1. The photonic crystal is used as a medium exhibiting negative refraction, and the Z axis of the photonic crystal is directed to the optical axis direction of the optical element or the optical system. .

23−10.式(5−4)または式(5−5)または式(5−6)を満たすことを特徴とする23−9に記載のもの。 23-10. The thing of 23-9 characterized by satisfy | filling Formula (5-4) or Formula (5-5), or Formula (5-6).

23−11.使用する光が単色光であることを特徴とする18乃至23−10のいずれかに記載のもの。 23-11. The light according to any one of 18 to 23-10, wherein the light used is monochromatic light.

23−12.使用する光の波長が0.1μm以上3μm以下であることを特徴とする18乃至23−9のいずれかに記載のもの。 23-12. The light according to any one of 18 to 23-9, wherein the wavelength of light used is from 0.1 μm to 3 μm.

23−12−1.光源を有することを特徴とする19乃至23−12のいずれかに記載のもの。 23-12-1. The one according to any one of 19 to 23-12, further comprising a light source.

23−13.光源と前記光源の光によって物体あるいは結像部材が照明されることを特徴とする19乃至23−12のいずれかに記載のもの。 23-13. The object according to any one of 19 to 23-12, wherein an object or an imaging member is illuminated by a light source and light of the light source.

23−14.エバネッセント波を結像に用いることを特徴とする18乃至22−15あるいは22−17乃至23−13のいずれかに記載のもの。 23-14. The apparatus according to any one of 18 to 22-15 or 22-17 to 23-13, wherein an evanescent wave is used for imaging.

23−15.前記負屈折を示す媒質と、物体あるいは結像部材までの距離が可変できることを特徴とする19乃至23−14のいずれかに記載のもの。 23-15. The object according to any one of 19 to 23-14, wherein a distance between the negative refraction medium and an object or an imaging member can be varied.

24−10.前記負屈折を示す媒質の周囲は空気であることを特徴とする18乃至23−15のいずれかに記載のもの。 24-10. The medium according to any one of 18 to 23-15, wherein the periphery of the medium exhibiting negative refraction is air.

24−11.前記負屈折を示す媒質の周囲は真空であることを特徴とする18乃至23−15のいずれかに記載のもの。 24-11. The medium according to any one of 18 to 23-15, wherein the medium exhibiting negative refraction is vacuum.

24−11−2.前記負屈折を示す媒質の周囲あるいはその一部が液体であることを特徴とする18乃至23−15のいずれかに記載のもの。 24-11-2. The one according to any one of 18 to 23-15, wherein the periphery or part of the medium exhibiting negative refraction is a liquid.

24−12.前記負屈折を示す媒質あるいは前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子が平行平板であることを特徴とする18−8乃至18−10、または22−11乃至23−17に記載のもの(但し22−37、22−38、23−8−1は除く)。 24-12. 18-8 thru | or 18-10, or 22-11 thru | or 23-17 characterized by the said optical element formed with the medium which shows the said negative refraction, or the said medium which shows the negative refraction (18-11 thru | or 23-17) However, 22-37, 22-38, 23-8-1 are excluded).

24−13.前記負屈折を示す媒質あるいは前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の厚さが式(15)、(16)、(17)、(18)のいずれかを満たす18乃至24−12に記載のもの。 24-13. The thickness of the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction or the medium exhibiting negative refraction is 18 to 24-12 satisfying any one of formulas (15), (16), (17), and (18). Listed.

25−1.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と結像光学系を有し、前記結像光学系の中間結像点から前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の表面までの距離の絶対値が(0.1λ)/A以上であることを特徴とする光学系を備えた光学装置(但しAは前記結像光学系の中間結像点に於ける開口数である)。 25-1. An optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an imaging optical system, and the absolute distance from the intermediate image forming point of the imaging optical system to the surface of the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction An optical apparatus having an optical system characterized in that the value is (0.1λ) / A or more (where A is the numerical aperture at the intermediate image forming point of the image forming optical system).

25−2.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と結像光学系を有し、前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子にもっとも近い前記結像光学系の光学面から、前記結像光学系の中間結像点までの距離の絶対値が(0.1λ)/A以上であることを特徴とする光学系を備えた光学装置(但しAは前記結像光学系の中間結像点に於ける開口数である)。 25-2. The imaging optical system includes an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an imaging optical system, and the optical surface of the imaging optical system closest to the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction. An optical apparatus provided with an optical system, characterized in that the absolute value of the distance to the intermediate imaging point is (0.1λ) / A or more (where A is the intermediate imaging point of the imaging optical system) Numerical aperture).

25−3.光源と微細構造を有する部材と、負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有し、前記微細構造を有する部材と前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の表面との距離が0.1λ以上であることを特徴とする光学装置。 25-3. A light source, a member having a fine structure, and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and a distance between the member having the fine structure and the surface of the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction is An optical apparatus characterized by being 0.1λ or more.

25−4.負屈折を示す媒質で形成された光学素子と結像光学系を有し、前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の厚さが式(15)、(16)、(17)、(18)のいずれかを満たすことを特徴とする光学系を備えた光学装置。 25-4. An optical element formed of a medium exhibiting negative refraction and an imaging optical system, and the thickness of the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction is expressed by the equations (15), (16), (17), ( 18) An optical apparatus including an optical system that satisfies any one of the above.

25−5.光源と微細構造を有する部材と、負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有し、前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子の厚さが式(15)、(16)、(17)、(18)のいずれかを満たすことを特徴とする光学装置。 25-5. A light source, a member having a fine structure, and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and the thickness of the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction is represented by formulas (15), (16), (17) An optical device satisfying any one of (18).

25−6.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を備えた光学系を有し、前記負屈折を示す媒質としてフォトニック結晶を用い、かつフォトニック結晶の最も回転対称性の良い軸が前記光学系の光軸方向を向いていることを特徴とする光学系を備えた光学装置。 25-6. An optical system having an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, using a photonic crystal as the medium exhibiting negative refraction, and the axis having the best rotational symmetry of the photonic crystal being the optical system An optical apparatus provided with an optical system characterized by being directed in an optical axis direction.

25−7.負屈折を示す媒質で形成された光学素子を備えた光学系を有し、前記光学系の光軸に沿って計った光学系の長さが20m以下であることを特徴とする光学装置。 25-7. An optical apparatus comprising: an optical system including an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, wherein the length of the optical system measured along the optical axis of the optical system is 20 m or less.

26−1.前記負屈折を示す媒質は、負屈折率媒質であることを特徴とする18に記載のもの。 26-1. 19. The medium according to 18, wherein the medium exhibiting negative refraction is a negative refractive index medium.

26−2.前記負屈折を示す媒質は完全結像の性質を示す媒質であることを特徴とする18乃至26−1のいずれかに記載のもの。 26-2. 27. The medium according to any one of 18 to 26-1, wherein the medium exhibiting negative refraction is a medium exhibiting a complete imaging property.

本発明の概略を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the outline of this invention. 本発明の一実施形態として、負屈折率媒質301を用いた透過型顕微鏡315の例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a transmission microscope 315 using a negative refractive index medium 301 as an embodiment of the present invention. 図2の対物レンズ306近傍の拡大図を示す図である。It is a figure which shows the enlarged view of the objective lens 306 vicinity of FIG. 負屈折率媒質301で形成されたペトリ皿455を用いた倒立顕微鏡457の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the inverted microscope 457 using the Petri dish 455 formed with the negative refractive index medium 301. FIG. 負屈折率媒質301を用いた光ディスク458、並びに光ディスク光学系320の例を示す図である。4 is a diagram illustrating an example of an optical disc 458 using a negative refractive index medium 301 and an optical disc optical system 320. FIG. 光ディスク458を用いた光学系の別の実施形態を説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining another embodiment of an optical system using an optical disk 458. 光ディスク458を用いた光学系のさらに別の実施形態を説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining still another embodiment of an optical system using an optical disk 458. 光ディスク458を用いた光学系のさらに別の実施形態を説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining still another embodiment of an optical system using an optical disk 458. 本発明を投影露光装置(ステッパー等)349に適用したときの構成を示す図である。It is a figure which shows a structure when this invention is applied to projection exposure apparatus (stepper etc.) 349. FIG. 従来提案されている密着型のリソグラフィーを示す図である。It is a figure which shows the contact-type lithography proposed conventionally. 本発明をリソグラフィーに応用したときの構成を示す図である。It is a figure which shows a structure when this invention is applied to lithography. フォトニック結晶340の第1の具体例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a first specific example of a photonic crystal 340. フォトニック結晶340の第2の具体例を示している。A second example of the photonic crystal 340 is shown. 正の屈折率を有する材料でできた平板450の上に形成した平板形状の負屈折率媒質301を用いた透過型顕微鏡315の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the transmission microscope 315 using the flat negative refractive index medium 301 formed on the flat plate 450 made of the material which has a positive refractive index. 負屈折率媒質301を用いた具体的な構成を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the specific structure using the negative refractive index medium 301. FIG. エバネッセント波の強さが変化する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the intensity | strength of an evanescent wave changes.

符号の説明Explanation of symbols

301 負屈折率媒質
303 光源
304 照明レンズ
306 対物レンズ
307 標本
308 接眼レンズ
452 負屈折率媒質で形成されたカバーグラス
454 鏡
301 Negative refractive index medium 303 Light source 304 Illumination lens 306 Objective lens 307 Sample 308 Eyepiece 452 Cover glass 454 made of negative refractive index medium Mirror

Claims (8)

負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とするカバーグラス。 A cover glass formed of a medium exhibiting negative refraction. 負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とするペトリ皿。 A Petri dish formed of a medium exhibiting negative refraction. 負屈折を示す媒質で形成されたことを特徴とする光ディスク。 An optical disc formed of a medium exhibiting negative refraction. 光源と、負屈折を示す媒質で形成された光学素子と、光ディスクとを有し、前記光ディスクへ情報を書き込む時には前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子を前記光源側に移動させ、前記光ディスクから情報を読み込む時には前記負屈折を示す媒質で形成された光学素子を前記光ディスク側に移動させることを特徴とする光ディスク装置。 A light source, an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, and an optical disc, and when writing information to the optical disc, the optical element formed of the medium exhibiting negative refraction is moved to the light source side, An optical disc apparatus, wherein when reading information from an optical disc, an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction is moved to the optical disc side. 光源と、前記光源によって照明される物体と、結像光学系と、前記結像光学系に近接して置かれた負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有することを特徴とする光学装置。 An optical device comprising: a light source; an object illuminated by the light source; an imaging optical system; and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction placed in proximity to the imaging optical system. apparatus. 光源と、前記光源によって照明されている物体と、前記物体の近傍に配置された負屈折を示す媒質で形成された光学素子とを有し、前記物体の結像を行うことを特徴とする光学装置。 An optical system comprising: a light source; an object illuminated by the light source; and an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction disposed in the vicinity of the object, and imaging the object. apparatus. 光源により照明されている物体あるいは光を発する物体または像と、前記物体または像の後方に前記物体または像に近接して配置された負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有し、前記物体または像の像を結像することを特徴とする光学系。 An optical element formed of an object illuminated by a light source or an object or image that emits light, and a negative refraction medium disposed in proximity to the object or image behind the object or image, An optical system for forming an image of an object or an image. 負屈折を示す媒質で形成された光学素子を有し、前記光学素子が移動することを特徴とする光学系。 An optical system comprising an optical element formed of a medium exhibiting negative refraction, wherein the optical element moves.
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