JP2006214763A - 材料定数測定用治具 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 誘電体材料で形成された板状の試料が挿入される伝送線路部は、中心導体を構成する信号パターン部14aを絶縁基板の両面に形成してなるプリント配線板12と、プリント配線板12の両面に、信号パターン部14aを横切るように試料を配置可能な間隙を確保するためのスペーサ20を介して積層されることにより、外部導体を構成する平板状の2つの導体板16a,16bとからなり、特性インピーダンスを50Ωとするストリップライン構造が形成されているので、プリント配線板12と導体板16a,16bとの間の間隙に板状の試料を挿入することで、従来のように試料を複雑な形状に加工することなく、従来と同じ測定原理で材料定数を測定できる。
【選択図】 図3
Description
しかしながら、高周波帯域において試料の材料定数を測定する場合には、同軸管の径を小さくしなければならず、試料の位置合わせ作業が困難であり、さらに、微少な位置ずれが測定精度を低下させてしまうという問題があった。
このようにすると、このスペーサをプリント配線板と導体板との間に挿入することで間隙を常時一定に確保できるため、導体板と、配線パターンがショートすることを防ぐことができる。また、このスペーサをこの治具の校正時に使用し、試料が挿入されていない状態でもプリント配線板と導体板の間の空隙を確保することができる。
次に、請求項1〜請求項3の何れかに記載の材料定数測定用治具は、請求項4に記載のように、プリント配線板の両面に形成された配線パターンの端部同士は、プリント配線板の端面に施された導電めっきにより接続されるようにしてもよい。
次に、材料定数測定用治具10の内部構成について図6を用いて説明する。尚、図6は材料定数測定用治具10を図2に示すA−A線に沿って切断したときの状態を表す断面図である。
まず、材料定数測定用治具10をSパラメータを計測するための測定器(本実施形態ではネットワークアナライザ40)に接続するために、図7に示すように、本治具を構成する一対のSMAコネクタ18にネットワークアナライザ40の2本の同軸ケーブル42を結合する。尚、本実施形態で使用したネットワークアナライザ40は、本治具を介して試料2に測定用の信号を入力し、試料を透過する透過波及び試料から反射される反射波の減衰量と位相とに基づき、Sパラメータ(反射特性S11、透過特性S21)を計測するものであり、材料定数(誘電率ε、透磁率μ)は計測されたSパラメータより計算にて求めている。
本実施形態では、導体板16に合成樹脂からなる絶縁基板の表裏面に導電層を形成したものを使用したが、基板ではなく、金属板を使用してもよい。
Claims (5)
- 誘電体材料で形成された板状の試料が挿入される伝送線路部と、該伝送線路部を測定装置に接続するための一対の接続部と、を備え、該測定装置を用いて前記試料の材料定数を測定するのに利用される材料定数測定用治具であって、
前記伝送線路部は、
該伝送線路部の中心導体を構成する配線パターンを誘電体基板の両面に形成してなるプリント配線板と、
該プリント配線板の両面に、前記配線パターンを横切るように前記試料を配置可能な間隙を介して積層されることにより、外部導体を構成する平板状の2つの導体板と、
から構成されることを特徴とする材料定数測定用治具。 - 前記試料の板厚と略等しい厚さのスペーサを備えることを特徴とする請求項1に記載の材料定数測定用治具。
- 前記各接続部は同軸コネクタからなり、該同軸コネクタの中心導体は前記配線パターンに接続され、前記同軸コネクタの外部導体は前記導体板に接続されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の材料定数測定用治具。
- 前記プリント配線板の両面に形成された配線パターンの端部同士は、前記プリント配線板の端面に施された導電めっきにより接続されていることを特徴とする請求項1〜請求項3の何れかに記載の材料定数測定用治具。
- 前記プリント配線板の両面に形成された配線パターン同士は、前記プリント配線板に設けられたバイアホールにより接続されていることを特徴とする請求項1〜請求項4の何れかに記載の材料定数測定用治具。
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