JP2006196840A - Wiring board and manufacturing method thereof - Google Patents

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JP2006196840A JP2005009271A JP2005009271A JP2006196840A JP 2006196840 A JP2006196840 A JP 2006196840A JP 2005009271 A JP2005009271 A JP 2005009271A JP 2005009271 A JP2005009271 A JP 2005009271A JP 2006196840 A JP2006196840 A JP 2006196840A
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Kengo Oka
賢吾 岡
Yuji Otani
祐司 大谷
Takashi Nagasaka
長坂  崇
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To realize appropriate electric connection configuration of a resistor by providing the resistor in a through hole of a surface layer, with no increased processes, in a wiring board in which the through-hole provided to the surface layer among a plurality of stacked layers is packed with a resistor. <P>SOLUTION: A first electrode 51 is provided to the portion corresponding to a through-hole 20 in an inside layer 12 of a surface layer 11. The first electrode 51 consists of a first conductor layer 31 positioned on the side of inner layer 12, and a first metal layer 41 positioned on the side of a resistor 60. The opening edge of the through-hole 20 on the outer surface of the surface layer 11 is provided with a second electrode 52. The second electrode 52 has a second conductor layer 32 and a second metal layer 42 laminated from the surface layer 11 side, which comprises an opening 52a that opens in the through-hole 20. The resistor 60 is electrically connected to the first metal layer 41 and the second metal layer 42. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、複数の層を積層するとともに、積層された複数の層のうちの表層にスルーホールを設け、このスルーホール内に抵抗体を充填してなる配線基板およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a wiring board in which a plurality of layers are stacked, a through hole is provided in a surface layer of the plurality of stacked layers, and a resistor is filled in the through hole, and a manufacturing method thereof.

図16は、複数の層を積層してなる従来の一般的な配線基板としてのアルミナ積層基板の概略断面構成を示す図である。   FIG. 16 is a diagram showing a schematic cross-sectional configuration of an alumina laminated substrate as a conventional general wiring substrate formed by laminating a plurality of layers.

複数の層としての複数のアルミナシート11、12、13が積層されており、各アルミナシート11〜13にはスルーホール20が形成されている。   A plurality of alumina sheets 11, 12, and 13 as a plurality of layers are laminated, and through holes 20 are formed in the alumina sheets 11 to 13.

そして、スルーホール20および各シート11〜13の間および表層のアルミナシート11、13の外面には、タングステン(W)やモリブデン(Mo)からなる導体層30が形成されており、これらスルーホール20および導体層30により、アルミナ積層基板の配線部が形成されている。   A conductor layer 30 made of tungsten (W) or molybdenum (Mo) is formed between the through holes 20 and the sheets 11 to 13 and on the outer surfaces of the surface alumina sheets 11 and 13. The conductor layer 30 forms the wiring portion of the alumina laminated substrate.

また、表層のアルミナシート11、13の表面に位置する導体層30の表面には、銅メッキやニッケルメッキなどからなる金属層40が形成されている。表層のアルミナシート11、13の表面において、これら導体層30および金属層40により、アルミナ積層基板の電極部50が構成されている。   Further, a metal layer 40 made of copper plating, nickel plating, or the like is formed on the surface of the conductor layer 30 located on the surface of the surface alumina sheets 11 and 13. On the surface of the surface alumina sheets 11 and 13, the conductor layer 30 and the metal layer 40 constitute an electrode portion 50 of an alumina laminated substrate.

この電極部50には、図16に示されるように、LaB6系、SnO2系、RuO2系などの厚膜抵抗体からなる抵抗体60や、図示しない実装部品がはんだや導電性接着剤などを介して電気的に接続される。 As shown in FIG. 16, the electrode unit 50 includes a resistor 60 made of a thick film resistor such as LaB 6 , SnO 2 , or RuO 2 , or a mounting component (not shown) such as a solder or a conductive adhesive. It is electrically connected through such as.

ここで、WやMoなどからなる導体層30と上記抵抗体60および上記はんだや導電性接着剤とを直接に接続した場合、両者の接続部における電気的な抵抗値が大きくなり、不具合を生じる。   Here, when the conductor layer 30 made of W, Mo, or the like is directly connected to the resistor 60 and the solder or conductive adhesive, the electrical resistance value at the connection portion between the two becomes large, causing a problem. .

そのため、これら電極部50においては、導体層30の上に上記したメッキなどからなる金属層40を形成し、この金属層40を介して、上記抵抗体60および上記はんだや導電性接着剤との電気的な接続を行うことにより、電気的な抵抗値機能を確保するようにしている。   Therefore, in these electrode portions 50, the metal layer 40 made of the above-described plating or the like is formed on the conductor layer 30, and the resistor 60 and the solder or conductive adhesive are connected via the metal layer 40. By making an electrical connection, an electrical resistance value function is ensured.

このようなアルミナ積層基板は、複数のアルミナシート11〜13のそれぞれに対してパンチング加工などによりスルーホール20を形成し、スルーホール20の内部および各シート11〜13の表面に導体層30を形成した後、これらアルミナシート11〜13を積層し、1000℃よりも高温、たとえば約1600℃にて焼成を行う。   In such an alumina laminated substrate, through holes 20 are formed in each of a plurality of alumina sheets 11 to 13 by punching or the like, and conductor layers 30 are formed in the through holes 20 and on the surfaces of the sheets 11 to 13. After that, the alumina sheets 11 to 13 are laminated and fired at a temperature higher than 1000 ° C., for example, about 1600 ° C.

ここで、導体層30には、アルミナシート11〜13などの基材を焼成する温度以上の融点を有する材料が用いられる。そのため、約1000℃を超える焼成を行うアルミナ積層基板に使用できる導体層30の材料としては、上記したWやMoなどを主成分とする材料が用いられる。   Here, the conductor layer 30 is made of a material having a melting point equal to or higher than the temperature at which the base material such as the alumina sheets 11 to 13 is fired. For this reason, as the material of the conductor layer 30 that can be used for the alumina laminated substrate that is fired at a temperature exceeding about 1000 ° C., a material mainly composed of the above-described W or Mo is used.

その後、表層のアルミナシート11、13の表面に位置する導体層30の表面に、銅メッキやニッケルメッキなどからなる金属層40を形成する。こうして、表層のアルミナシート11、13において上記電極部50が形成される。   Thereafter, a metal layer 40 made of copper plating, nickel plating or the like is formed on the surface of the conductor layer 30 located on the surface of the surface alumina sheets 11 and 13. Thus, the electrode part 50 is formed on the surface alumina sheets 11 and 13.

さらに、表層のアルミナシート11、13の電極部50の一部に対して、厚膜抵抗体からなる抵抗体60を配置し、焼成することにより形成する。この厚膜抵抗体からなる抵抗体60は、LaB6系、SnO2系、RuO2系などからなるが、基板焼成温度よりも低い温度、たとえば1000℃以下の温度で焼成される。 Further, a resistor 60 made of a thick film resistor is disposed on a part of the electrode portion 50 of the surface alumina sheets 11 and 13 and fired. The thick film resistor 60 is made of LaB 6 , SnO 2 , RuO 2, etc., and is fired at a temperature lower than the substrate firing temperature, for example, 1000 ° C. or less.

このように、アルミナシート11〜13の積層、焼成、金属層の形成、抵抗体の形成といった各工程を順次行うことによって、図16に示されるようなアルミナ積層基板ができあがる。   In this way, by sequentially performing the steps of laminating the alumina sheets 11 to 13, firing, forming the metal layer, and forming the resistor, an alumina laminated substrate as shown in FIG. 16 is completed.

このようなアルミナ積層基板に代表される配線基板へのニーズは、部品の高密度実装化および基板の小型化であるが、機能の増加や使用環境の変化から、配線基板に形成が必要な抵抗体60の数も増加する傾向にある。   The need for a wiring board represented by such an alumina laminated board is high-density mounting of components and downsizing of the board, but resistance that must be formed on the wiring board due to increased functions and changes in usage environment The number of bodies 60 also tends to increase.

このような状況から、図17に示されるように、積層基板としての配線基板において、抵抗体60を、表層に設けたスルーホール20内に充填して形成するようにしたものが、従来より提案されている(たとえば、特許文献1、特許文献2、特許文献3、特許文献4、特許文献5、特許文献6、特許文献7、特許文献8参照)。   From such a situation, as shown in FIG. 17, in a wiring board as a laminated board, a resistor 60 is formed by filling a through hole 20 provided in a surface layer. (For example, see Patent Literature 1, Patent Literature 2, Patent Literature 3, Patent Literature 4, Patent Literature 5, Patent Literature 6, Patent Literature 7, and Patent Literature 8).

この図17に示される構成では、表層11の内側の層12におけるスルーホール20に対応する部位には、第1の電極部51が設けられており、表層11の外面におけるスルーホール20の開口部をふさぐように、第2の電極部52が設けられている。   In the configuration shown in FIG. 17, a first electrode portion 51 is provided at a portion corresponding to the through hole 20 in the inner layer 12 of the surface layer 11, and an opening portion of the through hole 20 on the outer surface of the surface layer 11. A second electrode portion 52 is provided so as to block the gap.

そして、これら第1の電極部51および第2の電極部52は、スルーホール20内に充填された抵抗体60と電気的に接続されている。
特開平11−68261号公報 特開平10−65342号公報 特開平1−298796号公報 特開平8−162761号公報 特開平4−139896号公報 特開平4−8895号公報S 特開昭60−167490号公報 特開昭58−21390号公報
The first electrode portion 51 and the second electrode portion 52 are electrically connected to the resistor 60 filled in the through hole 20.
JP-A-11-68261 Japanese Patent Laid-Open No. 10-65342 Japanese Patent Laid-Open No. 1-298796 JP-A-8-162761 JP-A-4-139896 Japanese Patent Laid-Open No. 4-8895 S JP 60-167490 A JP 58-21390 A

しかしながら、上記図17に示されるような、表層11に設けられたスルーホール20内に抵抗体60を充填してなる構成を製造するにあたっては、次に述べるような問題が生じる。   However, in manufacturing a structure in which the resistor 60 is filled in the through hole 20 provided in the surface layer 11 as shown in FIG.

上述したように、抵抗体60は、基板焼成温度よりも低い温度で焼成されるため、図17に示される構成を製造するためには、各層の積層、焼成を行うことで第1の電極部51を形成した後に、表層11のスルーホール20内に抵抗体60を形成し、その後、さらに、上側の第2の電極部52を形成することになる。   As described above, since the resistor 60 is fired at a temperature lower than the substrate firing temperature, in order to manufacture the configuration shown in FIG. 17, the first electrode portion is formed by laminating and firing each layer. After forming 51, the resistor 60 is formed in the through hole 20 of the surface layer 11, and then the upper second electrode portion 52 is further formed.

つまり、積層、焼成、金属層の形成、抵抗体の形成といった各工程を順次行うことによって形成される従来の一般的な配線基板に対して、図17に示される構成とした場合には、さらに、スルーホール20の上側に電極部52を形成するという後工程が加わることになる。   That is, when the conventional general wiring board formed by sequentially performing each process such as lamination, firing, metal layer formation, and resistor formation is configured as shown in FIG. Then, a post process of forming the electrode part 52 on the upper side of the through hole 20 is added.

また、上記図17において、第1および第2の電極部51、52は、上述したようにWやMoなどから形成されることになるため、そのままでは、厚膜抵抗体からなる抵抗体60と第1および第2の電極部51、52との電気的な抵抗値機能を十分に確保することができない。   In FIG. 17, since the first and second electrode portions 51 and 52 are made of W, Mo, or the like as described above, the resistor 60 made of a thick film resistor is used as it is. The electric resistance value function with the first and second electrode portions 51 and 52 cannot be sufficiently ensured.

そのため、図17に示されるスルーホール20内において、抵抗体60の上端部および下端部と、各電極部51、52との間に、接続性を確保するための上記金属層40を形成する必要がある。   Therefore, in the through hole 20 shown in FIG. 17, it is necessary to form the metal layer 40 for ensuring connectivity between the upper and lower ends of the resistor 60 and the electrode portions 51 and 52. There is.

しかし、図17において、抵抗体60の上端部には、メッキできないなどの理由から金属層を形成することができないため、抵抗体60と各電極部51、52との電気的な接続を十分に確保することが困難になるという問題も生じる。   However, in FIG. 17, a metal layer cannot be formed on the upper end portion of the resistor 60 because it cannot be plated, so that the electrical connection between the resistor 60 and each of the electrode portions 51 and 52 is sufficient. There is also a problem that it is difficult to ensure.

また、上記図17に示される構成においては、第1および第2の電極部51、52を銅や銀などの厚膜導体を用いて形成する方法もある。このような厚膜導体からなる各電極部51、52と上記厚膜抵抗体からなる抵抗体60との接続においては、電気的な抵抗値機能は十分に確保される。   In the configuration shown in FIG. 17, there is a method in which the first and second electrode portions 51 and 52 are formed using a thick film conductor such as copper or silver. In the connection between each of the electrode portions 51 and 52 made of a thick film conductor and the resistor 60 made of the thick film resistor, an electrical resistance value function is sufficiently secured.

しかし、この場合、積層、焼成の後、表層11においてスルーホール20を介した第1の電極部51の形成、抵抗体60の形成、第2の電極部52の形成を行うことになる。   However, in this case, after stacking and firing, the first electrode portion 51, the resistor 60, and the second electrode portion 52 are formed in the surface layer 11 through the through holes 20.

そのため、この場合においても、積層、焼成、金属層形成、抵抗体形成といった従来の一般的な製造方法において、スルーホール20の上側に電極部52を形成するという後工程が加わることになる。   Therefore, even in this case, a post-process for forming the electrode portion 52 on the upper side of the through hole 20 is added in a conventional general manufacturing method such as lamination, firing, metal layer formation, and resistor formation.

また、第1および第2の電極部51、52を銅や銀などの厚膜導体を用いて形成する場合、焼成後にスルーホール20を介して下側の第1の電極部51を形成するとき、たとえばφ0.1mm程度の微細なスルーホール20内に、厚膜導体を配置することは困難であるという問題がある。   When the first and second electrode portions 51 and 52 are formed using a thick film conductor such as copper or silver, when the lower first electrode portion 51 is formed through the through-hole 20 after firing. For example, there is a problem that it is difficult to dispose a thick film conductor in a minute through hole 20 having a diameter of about 0.1 mm.

本発明は、上記した問題に鑑みてなされたものであり、複数の層が積層されるとともに積層された複数の層のうちの表層にスルーホールを設け、このスルーホール内に抵抗体を充填してなる配線基板において、工程を増加させることなく、表層のスルーホール内に抵抗体を設け、適切な抵抗体の電気的接続構成を実現することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and a plurality of layers are laminated and a through hole is provided in a surface layer of the plurality of laminated layers, and a resistor is filled in the through hole. It is an object of the present invention to provide an appropriate electrical connection configuration of a resistor by providing a resistor in a through hole in a surface layer without increasing the number of steps.

上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、複数の層(11、12、13)が積層されており、積層された複数の層(11〜13)のうちの表層(11)にスルーホール(20)を設け、このスルーホール(20)内に抵抗体(60)を充填してなる配線基板において、次のような特徴点を有している。   In order to achieve the above object, in the invention described in claim 1, a plurality of layers (11, 12, 13) are laminated, and a surface layer (11) of the plurality of laminated layers (11-13). A wiring board formed by providing a through hole (20) and filling the through hole (20) with a resistor (60) has the following characteristics.

・表層(11)の内側の層(12)におけるスルーホール(20)に対応する部位には、第1の電極部(51)が設けられており、この第1の電極部(51)は、内側の層(12)側に位置する第1の導体層(31)と、抵抗体(60)側に位置する第1の金属層(41)とから構成されていること。   A portion corresponding to the through hole (20) in the inner layer (12) of the surface layer (11) is provided with a first electrode portion (51), and the first electrode portion (51) It is comprised from the 1st conductor layer (31) located in the inner layer (12) side, and the 1st metal layer (41) located in the resistor (60) side.

・表層(11)の外面におけるスルーホール(20)の開口縁部には、第2の電極部(52)が設けられており、第2の電極部(52)は、表層(11)側から第2の導体層(32)、第2の金属層(42)が積層されて構成されたものであって、且つ、スルーホール(20)に開口する開口部(52a)を有するものであること。   A second electrode portion (52) is provided at the opening edge of the through hole (20) on the outer surface of the surface layer (11), and the second electrode portion (52) is formed from the surface layer (11) side. The second conductor layer (32) and the second metal layer (42) are laminated and have an opening (52a) that opens to the through hole (20). .

・抵抗体(60)は、第1の金属層(41)と第2の金属層(42)とに電気的に接続されていること。本発明の配線基板はこれらの点を特徴としている。   The resistor (60) is electrically connected to the first metal layer (41) and the second metal layer (42). The wiring board of the present invention is characterized by these points.

それによれば、上記内側の層(12)に設けられる第1の電極部(51)の第1の導体層(31)、および、表層(11)の外面に設けられる第2の電極部(52)の第2の導体層(32)は、それぞれ、従来の配線基板と同様に、積層前の各層(11〜13)に対して形成することにより作ることができる。   According to this, the first conductor layer (31) of the first electrode portion (51) provided on the inner layer (12) and the second electrode portion (52 provided on the outer surface of the surface layer (11). The second conductive layer (32) can be formed by forming each of the layers (11 to 13) before lamination, like the conventional wiring board.

また、第2の導体層(32)は、表層(11)のスルーホール(20)を開口させる開口部(52a)を有するから、各層(11〜13)を積層・焼成した後であって各金属層(41、42)の形成前且つ抵抗体(60)の充填前の状態においては、この開口部(52a)およびスルーホール(20)を介して、第1の導体層(31)の表面が露出した形となる。   Further, since the second conductor layer (32) has an opening (52a) for opening the through hole (20) of the surface layer (11), each layer (11-13) is laminated and fired, In a state before the formation of the metal layers (41, 42) and before the filling of the resistor (60), the surface of the first conductor layer (31) is passed through the opening (52a) and the through hole (20). Becomes an exposed shape.

そのため、焼成後において、第1の金属層(41)および第2の金属層(42)は、同時にメッキなどを行うことで形成することができる。そして、この金属層形成工程の後に、上記開口部(52a)からスルーホール(20)内へ抵抗体(60)を充填すれば、本発明の配線基板を形成することができる。   Therefore, after firing, the first metal layer (41) and the second metal layer (42) can be formed by performing plating or the like at the same time. And after this metal layer formation process, if the resistor (60) is filled into the through hole (20) from the opening (52a), the wiring board of the present invention can be formed.

このように、本発明の配線基板は、従来の一般的な配線基板の製造方法と同様に、積層、焼成、金属層形成、抵抗体形成という工程を経て製造することができる。   As described above, the wiring board of the present invention can be manufactured through the steps of lamination, firing, metal layer formation, and resistor formation in the same manner as a conventional method for manufacturing a general wiring board.

そして、抵抗体(60)は、当該抵抗体(60)との電気的な接続性に優れた第1の金属層(41)および第2の金属層(42)を介して電気的に接続されるため、抵抗体(60)と各電極部(51、52)との電気的な抵抗値機能は十分に確保される。   The resistor (60) is electrically connected via the first metal layer (41) and the second metal layer (42) excellent in electrical connectivity with the resistor (60). Therefore, the electrical resistance value function between the resistor (60) and each electrode part (51, 52) is sufficiently ensured.

したがって、本発明によれば、複数の層(11〜13)が積層されるとともに積層された複数の層(11〜13)のうちの表層(11)にスルーホール(20)を設け、このスルーホール(20)内に抵抗体(60)を充填してなる配線基板において、工程を増加させることなく、表層(11)のスルーホール(20)内に抵抗体(60)を設け、適切な抵抗体(60)の電気的接続構成を実現することができる。   Therefore, according to the present invention, a plurality of layers (11-13) are laminated and a through hole (20) is provided in the surface layer (11) of the laminated layers (11-13). In the wiring board in which the resistor (60) is filled in the hole (20), the resistor (60) is provided in the through hole (20) of the surface layer (11) without increasing the number of steps, and an appropriate resistance is obtained. An electrical connection configuration of the body (60) can be realized.

ここで、請求項2に記載の発明のように、請求項1に記載の配線基板においては、第1の導体層(31)および第2の導体層(32)は、タングステン、モリブデン、タングステン合金およびモリブデン合金の中から選択されたものにできる。   Here, as in the invention according to claim 2, in the wiring board according to claim 1, the first conductor layer (31) and the second conductor layer (32) are tungsten, molybdenum, tungsten alloy. And can be selected from molybdenum alloys.

また、請求項3に記載の発明のように、請求項1または請求項2に記載の配線基板においては、第1の金属層(41)および第2の金属層(42)は、銅メッキまたはニッケルメッキからなるものにできる。   In the wiring board according to claim 1 or 2, as in the invention according to claim 3, the first metal layer (41) and the second metal layer (42) are copper plated or It can be made of nickel plating.

また、請求項4に記載の発明のように、請求項1〜請求項3に記載の配線基板においては、抵抗体(60)は、1000℃以下の温度で焼成されてなるものにできる。   Further, as in the invention according to claim 4, in the wiring board according to claims 1 to 3, the resistor (60) can be fired at a temperature of 1000 ° C. or lower.

また、請求項5に記載の発明のように、請求項1〜請求項4に記載の配線基板においては、複数の層(11〜13)を構成する材質は、1000℃よりも高温で焼成されるものにできる。   Further, as in the invention according to claim 5, in the wiring board according to claims 1 to 4, the material constituting the plurality of layers (11 to 13) is fired at a temperature higher than 1000 ° C. Can be.

請求項6に記載の発明では、複数の層(11、12、13)を積層し、積層された複数の層(11〜13)のうちの表層(11)にスルーホール(20)を設け、このスルーホール(20)内に抵抗体(60)を充填してなる配線基板の製造方法において、次のような特徴点を有している。   In the invention according to claim 6, a plurality of layers (11, 12, 13) are stacked, and a through hole (20) is provided in the surface layer (11) of the stacked layers (11 to 13), The wiring board manufacturing method in which the through hole (20) is filled with the resistor (60) has the following characteristic points.

・スルーホール(20)が設けられた表層(11)を含む複数の層(11〜13)に対して、導体層(30)を形成する工程では、表層(11)の内側となる層(12)におけるスルーホール(20)に対応する部位に、導体層(30)としての第1の導体層(31)を設けるとともに、表層(11)におけるスルーホール(20)の開口縁部に、導体層(30)としてスルーホール(20)に開口する開口部(52a)を有する第2の導体層(32)を設けるようにすること。   In the step of forming the conductor layer (30) with respect to the plurality of layers (11-13) including the surface layer (11) provided with the through hole (20), the layer (12) which is inside the surface layer (11) The first conductor layer (31) as the conductor layer (30) is provided in a portion corresponding to the through hole (20) in the outer layer), and the conductor layer is formed at the opening edge of the through hole (20) in the surface layer (11). As (30), a second conductor layer (32) having an opening (52a) opening in the through hole (20) is provided.

・続いて、導体層(30)が形成された複数の層(11〜13)を積層して焼成する工程を行うこと。   -Subsequently, the process of laminating | stacking and baking the several layer (11-13) in which the conductor layer (30) was formed is performed.

・その後、表層(11)の外面の導体層(30)の上に金属層(40)を形成する工程を行うにあたって、金属層(40)とともに、スルーホール(20)を介して第1の導体層(31)、第2の導体層(32)の上に、それぞれ第1の金属層(41)、第2の金属層(42)を同時に形成すること。   -Then, in performing the process of forming a metal layer (40) on the conductor layer (30) of the outer surface of a surface layer (11), a 1st conductor is passed through a through hole (20) with a metal layer (40). A first metal layer (41) and a second metal layer (42) are simultaneously formed on the layer (31) and the second conductor layer (32), respectively.

・続いて、スルーホール(20)内に抵抗体(60)を充填し、抵抗体(60)を、第1の金属層(41)と第2の金属層(42)とに電気的に接続すること。本発明の配線基板の製造方法は、これらの点を特徴としている。   Subsequently, the through hole (20) is filled with the resistor (60), and the resistor (60) is electrically connected to the first metal layer (41) and the second metal layer (42). To do. The method for manufacturing a wiring board according to the present invention is characterized by these points.

それによれば、第1の電極部(51)の第1の導体層(31)および第2の電極部(52)の第2の導体層(32)は、それぞれ、従来の配線基板と同様に、複数の層(11〜13)に対して、導体層(30)を形成する工程により作ることができる。   According to this, the first conductor layer (31) of the first electrode part (51) and the second conductor layer (32) of the second electrode part (52) are respectively similar to the conventional wiring board. It can be made by a step of forming a conductor layer (30) for a plurality of layers (11-13).

そして、複数の層(11〜13)を積層して焼成する工程を行い、この焼成工程の後に、従来と同様に、表層(11)の外面の導体層(30)の上に金属層(40)を形成する工程を行う。   And the process of laminating | stacking and baking a several layer (11-13) is performed, and after this baking process, a metal layer (40 on the outer conductor layer (30) of a surface layer (11) like the past. ) Is performed.

ここで、本発明においては、第2の導体層(32)の開口部(52a)およびスルーホール(20)を介して、第1の導体層(31)の表面が露出した形となっているため、この金属層形成工程において、第1の金属層(41)および第2の金属層(42)は、同時にメッキなどにより形成することができる。   Here, in the present invention, the surface of the first conductor layer (31) is exposed through the opening (52a) and the through hole (20) of the second conductor layer (32). Therefore, in this metal layer forming step, the first metal layer (41) and the second metal layer (42) can be formed simultaneously by plating or the like.

それによって、上記請求項1に記載の配線基板に示されるような第1の電極部(51)および第2の電極部(52)が形成される。   Thereby, the first electrode portion (51) and the second electrode portion (52) as shown in the wiring board according to the first aspect are formed.

そして、この金属層の形成工程の後に、上記第2の導体層(32)の開口部(52a)からスルーホール(20)内へ抵抗体(60)を充填すれば、上記請求項1に記載の配線基板を形成することができる。   Then, after the metal layer forming step, the resistor (60) is filled into the through hole (20) from the opening (52a) of the second conductor layer (32). The wiring board can be formed.

また、抵抗体(60)は、当該抵抗体(60)との電気的な接続性に優れた第1の金属層(41)および第2の金属層(42)を介して電気的に接続されるため、抵抗体(60)と各電極部(51、52)との電気的な抵抗値機能は十分に確保される。   Further, the resistor (60) is electrically connected via the first metal layer (41) and the second metal layer (42) excellent in electrical connectivity with the resistor (60). Therefore, the electrical resistance value function between the resistor (60) and each electrode part (51, 52) is sufficiently ensured.

このように、本発明は、請求項1に記載の配線基板を適切に製造することのできる配線基板の製造方法を提供するものである。そして、本製造方法は、従来の一般的な配線基板の製造方法と同様に、積層、焼成、金属層形成、抵抗体形成という工程を経て、配線基板を製造するものである。   Thus, the present invention provides a method for manufacturing a wiring board capable of appropriately manufacturing the wiring board according to claim 1. And this manufacturing method manufactures a wiring board through the process of lamination | stacking, baking, metal layer formation, and resistor formation similarly to the manufacturing method of the conventional general wiring board.

したがって、本発明によっても、複数の層(11〜13)が積層されるとともに積層された複数の層(11〜13)のうちの表層(11)にスルーホール(20)を設け、このスルーホール(20)内に抵抗体(60)を充填してなる配線基板において、工程を増加させることなく、表層(11)のスルーホール(20)内に抵抗体(60)を設け、適切な抵抗体(60)の電気的接続構成を実現することができる。   Therefore, according to the present invention, a plurality of layers (11-13) are laminated and a through hole (20) is provided in the surface layer (11) of the laminated layers (11-13). In the wiring board formed by filling the resistor (60) in (20), the resistor (60) is provided in the through hole (20) of the surface layer (11) without increasing the number of steps, and an appropriate resistor is obtained. The electrical connection configuration of (60) can be realized.

ここで、請求項7に記載の発明のように、請求項6に記載の配線基板の製造方法においては、第1の導体層(31)および第2の導体層(32)を、タングステン、モリブデン、タングステン合金およびモリブデン合金の中から選択されたものを用いて形成することができる。   Here, as in the invention according to claim 7, in the method for manufacturing a wiring board according to claim 6, the first conductor layer (31) and the second conductor layer (32) are made of tungsten, molybdenum. , A tungsten alloy and a molybdenum alloy can be used.

また、請求項8に記載の発明のように、請求項6または請求項7に記載の配線基板の製造方法においては、第1の金属層(41)および第2の金属層(42)を、銅メッキまたはニッケルメッキにより形成することができる。   In the method for manufacturing a wiring board according to claim 6 or 7, as in the invention according to claim 8, the first metal layer (41) and the second metal layer (42) are It can be formed by copper plating or nickel plating.

また、請求項9に記載の発明のように、請求項6〜請求項8に記載の配線基板の製造方法においては、抵抗体(60)を、1000℃以下の温度で焼成することにより形成することができる。   Moreover, in the manufacturing method of the wiring board according to claims 6 to 8, as in the invention according to claim 9, the resistor (60) is formed by firing at a temperature of 1000 ° C. or lower. be able to.

また、請求項10に記載の発明のように、請求項6〜請求項9に記載の配線基板の製造方法においては、積層された複数の層(11〜13)を、1000℃よりも高温で焼成することができる。   Moreover, in the manufacturing method of the wiring board according to claims 6 to 9, as in the invention according to claim 10, the plurality of stacked layers (11 to 13) are heated at a temperature higher than 1000 ° C. It can be fired.

なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。   In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each said means is an example which shows a corresponding relationship with the specific means as described in embodiment mentioned later.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各図相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following drawings, parts that are the same or equivalent to each other are given the same reference numerals in the drawings for the sake of simplicity.

図1(a)は、本発明の実施形態に係る配線基板100の要部の概略断面構成を示す図であって表層11のスルーホール20近傍部を示す図であり、図1(b)は図1(a)中のスルーホール20の上視平面図である。また、図2および図3は、本実施形態の配線基板100の製造方法を示す概略断面図である。   FIG. 1A is a diagram showing a schematic cross-sectional configuration of the main part of the wiring board 100 according to the embodiment of the present invention, and is a diagram showing the vicinity of the through hole 20 of the surface layer 11, and FIG. It is a top view top view of the through hole 20 in Fig.1 (a). 2 and 3 are schematic cross-sectional views showing a method for manufacturing the wiring board 100 of the present embodiment.

[構成等]
本実施形態の配線基板100は、全体としては、図2(e)に示されるように、複数の層11、12、13が積層されてなる積層基板である。
[Configuration]
As shown in FIG. 2E, the wiring board 100 of the present embodiment is a laminated board in which a plurality of layers 11, 12, and 13 are laminated.

具体的には、複数の層11〜13を構成する材質は、1000℃よりも高温で焼成されるものである。本例では、各層11〜13は、アルミナシートからなるものであり、本配線基板100はアルミナ積層基板として構成されている。   Specifically, the material constituting the plurality of layers 11 to 13 is fired at a temperature higher than 1000 ° C. In this example, each layer 11-13 consists of an alumina sheet, and this wiring board 100 is comprised as an alumina laminated substrate.

また、本例では、層11〜13は、3層であるが、もちろん2層でもよいし、4層以上であってもよい。ここで、層11〜13のうち最上層11と最下層13とが、積層された複数の層11〜13のうちの表層11、13である。   Moreover, in this example, although the layers 11-13 are three layers, of course, two layers may be sufficient and four layers or more may be sufficient. Here, the uppermost layer 11 and the lowermost layer 13 of the layers 11 to 13 are the surface layers 11 and 13 of the plurality of stacked layers 11 to 13.

そして、本実施形態では、図2(e)における上側の表層11に対して、図1に示される構成が採用されている。なお、図2(e)は製造途中の状態を示すものであり、その後の製造工程にて形成される図1の構成は、図2(e)には示されていない。   And in this embodiment, the structure shown by FIG. 1 is employ | adopted with respect to the upper surface layer 11 in FIG.2 (e). FIG. 2 (e) shows a state in the middle of manufacturing, and the configuration of FIG. 1 formed in the subsequent manufacturing process is not shown in FIG. 2 (e).

本実施形態の配線基板100の構成について、図1および図2(e)を参照して説明する。   The configuration of the wiring board 100 of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2 (e).

本配線基板100においては、アルミナシートからなる層11〜13のそれぞれには、層11〜13の厚さ方向に貫通するスルーホール20が形成されている。   In the present wiring board 100, through-holes 20 penetrating in the thickness direction of the layers 11 to 13 are formed in each of the layers 11 to 13 made of an alumina sheet.

そして、スルーホール20および各層11〜13の間および表層11の外面には、タングステン(W)やモリブデン(Mo)からなる導体層30が形成されており、これらスルーホール20および導体層30により、本配線基板100における配線部が形成されている。   A conductor layer 30 made of tungsten (W) or molybdenum (Mo) is formed between the through hole 20 and each of the layers 11 to 13 and on the outer surface of the surface layer 11. A wiring portion in the wiring substrate 100 is formed.

また、図1に示されるように、表層11の外面には、はんだや導電性接着剤などを介して実装部品が接続される電極部50が形成されている。この実装部品接続用の電極部50は、表層11の外面に位置する導体層30の表面に、無電解の銅メッキやニッケルメッキあるいはインクジェット法などからなる金属層40を形成してなる。   As shown in FIG. 1, an electrode portion 50 to which a mounting component is connected via solder or a conductive adhesive is formed on the outer surface of the surface layer 11. The electrode part 50 for connecting mounting parts is formed by forming a metal layer 40 made of electroless copper plating, nickel plating, an ink jet method or the like on the surface of the conductor layer 30 located on the outer surface of the surface layer 11.

また、図1に示されるように、表層11に設けられているスルーホール20内には抵抗体60が充填されている。   As shown in FIG. 1, a resistor 60 is filled in the through hole 20 provided in the surface layer 11.

そして、表層11の内側の層12におけるスルーホール20に対応する部位には、第1の電極部51が設けられている。ここで、この第1の電極部51は、内側の層12側に位置する第1の導体層31と、抵抗体60側に位置する第1の金属層41とから構成されている。   A first electrode portion 51 is provided at a portion corresponding to the through hole 20 in the inner layer 12 of the surface layer 11. Here, the first electrode portion 51 includes a first conductor layer 31 located on the inner layer 12 side and a first metal layer 41 located on the resistor 60 side.

さらに、図1に示されるように、表層11の外面におけるスルーホール20の開口縁部には、第2の電極部52が設けられている。   Further, as shown in FIG. 1, a second electrode portion 52 is provided at the opening edge of the through hole 20 on the outer surface of the surface layer 11.

この第2の電極部52は、表層11側から第2の導体層32、第2の金属層42が積層されて構成されたものである。さらに、第2の電極部52は、スルーホール20に開口し抵抗体60を露出させる開口部52aを有するものである。   The second electrode portion 52 is configured by laminating the second conductor layer 32 and the second metal layer 42 from the surface layer 11 side. Further, the second electrode portion 52 has an opening 52 a that opens to the through hole 20 and exposes the resistor 60.

そして、抵抗体60は、下側の第1の金属層41と上側の第2の金属層42とに電気的に接続されている。それにより、抵抗体60の電極部としての第1の電極部51および第2の電極部52は、抵抗体60に電気的に接続されている。   The resistor 60 is electrically connected to the lower first metal layer 41 and the upper second metal layer 42. Thereby, the first electrode portion 51 and the second electrode portion 52 as the electrode portions of the resistor 60 are electrically connected to the resistor 60.

ここで、抵抗体60の電極部としての第1の電極部51および第2の電極部52は、上記した実装部品接続用の電極部50とともに、スルーホール20や導体層30に対して電気的に接続されている。そして、これら電極部50、51、52はスルーホール20や導体層30とともに本配線基板100の配線部を構成している。   Here, the first electrode portion 51 and the second electrode portion 52 as the electrode portions of the resistor 60 are electrically connected to the through hole 20 and the conductor layer 30 together with the above-described electrode portion 50 for mounting component. It is connected to the. These electrode parts 50, 51, 52 constitute a wiring part of the wiring board 100 together with the through hole 20 and the conductor layer 30.

具体的には、第1の電極部51および第2の電極部52において、第1の導体層31および第2の導体層32は、上記導体層30と同様の材質、たとえば、W、Mo、W合金、およびMo合金などから選択されたものからなる。つまり、第1の導体層31および第2の導体層32は、上記導体層30の一部として構成されている。   Specifically, in the first electrode portion 51 and the second electrode portion 52, the first conductor layer 31 and the second conductor layer 32 are made of the same material as the conductor layer 30, for example, W, Mo, It consists of what was selected from W alloy, Mo alloy, etc. That is, the first conductor layer 31 and the second conductor layer 32 are configured as a part of the conductor layer 30.

また、第1の金属層41および第2の金属層42は、上記した実装部品接続用の電極部50における金属層40と同様の材質、たとえば、無電解の銅メッキやニッケルメッキなどからなるメッキ層や、インクジェット法により形成された銅やニッケルなどの金属膜からなる。   Further, the first metal layer 41 and the second metal layer 42 are made of the same material as that of the metal layer 40 in the mounting part connecting electrode part 50 described above, for example, electroless copper plating or nickel plating. It consists of a layer or a metal film such as copper or nickel formed by an ink jet method.

また、抵抗体60は、1000℃以下の温度で焼成されてなるものであり、具体的には、LaB6系、SnO2系、RuO2系などの厚膜抵抗体からなる。 Further, the resistor 60 is fired at a temperature of 1000 ° C. or less, and specifically, a thick film resistor such as LaB 6 , SnO 2 , or RuO 2 .

そして、このような厚膜抵抗体からなる抵抗体60は、抵抗体60との電気的な接続性に優れた第1の金属層41および第2の金属層42を介して電気的に接続されるため、抵抗体60と第1および第2の電極部51、52との電気的な抵抗値機能は十分確保されている。   And the resistor 60 which consists of such a thick film resistor is electrically connected through the 1st metal layer 41 and the 2nd metal layer 42 which were excellent in the electrical connection property with the resistor 60. Therefore, the electrical resistance value function between the resistor 60 and the first and second electrode portions 51 and 52 is sufficiently ensured.

[製造方法等]
次に、本実施形態の配線基板100の製造方法について、図1〜図3を参照して説明する。なお、図2は、配線基板100の焼成工程までを示す工程図であり、図3は、抵抗体用の電極部51、52の形成工程を示す工程図である。
[Manufacturing method]
Next, the manufacturing method of the wiring board 100 of this embodiment is demonstrated with reference to FIGS. FIG. 2 is a process diagram showing up to the firing process of the wiring substrate 100, and FIG.

まず、図2(a)に示されるように、複数のアルミナシートからなる層11〜13を用意する。このようなアルミナシートは、たとえばドクターブレード法などにより形成することができる。また、このアルミナシートの厚さは、たとえば0.1mm〜0.4mm程度にできる。   First, as shown in FIG. 2A, layers 11 to 13 made of a plurality of alumina sheets are prepared. Such an alumina sheet can be formed by, for example, a doctor blade method. Moreover, the thickness of this alumina sheet can be made into about 0.1 mm-0.4 mm, for example.

次に、図2(b)に示されるように、各層11〜13のそれぞれに対して金型を用いたパンチング加工やレーザ加工などによりスルーホール20を形成する。このスルーホール20の大きさは、たとえばφ0.2mm以上のものにできる。ここで、図2(b)中のスルーホール20aは、抵抗体60が充填されるスルーホールである。   Next, as shown in FIG. 2B, the through holes 20 are formed in each of the layers 11 to 13 by punching using a mold, laser processing, or the like. The size of the through hole 20 can be, for example, φ0.2 mm or more. Here, the through hole 20a in FIG. 2B is a through hole in which the resistor 60 is filled.

次に、図2(c)に示されるように、各層11〜13のそれぞれに対して、抵抗体60を充填するスルーホール20a以外のスルーホール20の内部に対して、導体層30を、印刷法やディスペンス法などにより充填する。   Next, as shown in FIG. 2C, the conductor layer 30 is printed on the inside of the through hole 20 other than the through hole 20 a filling the resistor 60 for each of the layers 11 to 13. Fill by the method or dispensing method.

そして、図2(d)に示されるように、各層11〜13のそれぞれに対して、層11〜13の表面に導体層30を、印刷法などによりパターニング形成する。   Then, as shown in FIG. 2D, a conductive layer 30 is patterned on the surfaces of the layers 11 to 13 by a printing method or the like for each of the layers 11 to 13.

このとき、表層11の内側となる層12におけるスルーホール20に対応する部位に、導体層30として第1の導体層31を設けるとともに、表層11におけるスルーホール20の開口縁部に、導体層30として、スルーホール20に開口する開口部52aを有する第2の導体層32を設ける。   At this time, the first conductor layer 31 is provided as the conductor layer 30 in a portion corresponding to the through hole 20 in the layer 12 inside the surface layer 11, and the conductor layer 30 is provided at the opening edge of the through hole 20 in the surface layer 11. The second conductor layer 32 having an opening 52a that opens to the through hole 20 is provided.

ここで、図4は、この第2の導体層32の具体的な形成方法の一例を示す図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)の概略断面図である。   4A and 4B are diagrams showing an example of a specific method for forming the second conductor layer 32, where FIG. 4A is a schematic plan view, and FIG. 4B is a schematic cross-sectional view of FIG.

図4に示される例では、スルーホール20に開口する開口部52aを有する第2の導体層32は、マスクK1を用いた印刷法により形成される。このマスクK1は、第2の導体層32の形成領域に対応した開口部K2を有しており、このマスクK1を抵抗体形成用のスルーホール20a上に配置して印刷を行う。   In the example shown in FIG. 4, the second conductor layer 32 having the opening 52a that opens to the through hole 20 is formed by a printing method using the mask K1. The mask K1 has an opening K2 corresponding to the formation region of the second conductor layer 32, and printing is performed by placing the mask K1 on the through hole 20a for forming the resistor.

それにより、スルーホール20(20a)に開口する開口部52aを有する第2の導体層32が、表層11のスルーホール20の開口縁部に形成される。なお、ここで、スルーホール20の端部とマスクK1の開口部K2との隙間K3(図4(b)参照)は、たとえば0.01mm〜0.02mm程度が好ましい。   As a result, a second conductor layer 32 having an opening 52 a that opens to the through hole 20 (20 a) is formed at the opening edge of the through hole 20 in the surface layer 11. Here, the gap K3 (see FIG. 4B) between the end of the through hole 20 and the opening K2 of the mask K1 is preferably about 0.01 mm to 0.02 mm, for example.

その後、図2(e)に示されるように、第1および第2の導体層31、32を含む導体層30が形成された各層11〜13を積層し、これを加圧しながら、1000℃よりも高温、たとえば約1600℃程度の温度にて焼成を行う。図3(a)には、この焼成後における表層11の抵抗体形成用のスルーホール20aの近傍部の概略断面構成が示されている。   Thereafter, as shown in FIG. 2 (e), each of the layers 11 to 13 on which the conductor layers 30 including the first and second conductor layers 31 and 32 are formed is laminated, and the pressure is increased from 1000 ° C. The baking is performed at a high temperature, for example, a temperature of about 1600 ° C. FIG. 3A shows a schematic cross-sectional configuration of the vicinity of the through hole 20a for forming the resistor of the surface layer 11 after the firing.

続いて、図3(b)に示されるように、焼成された積層体において表層11の外面の導体層30の上に金属層40を形成する工程を行う。これにより、上記図1に示される実装部品接続用の電極部50、抵抗体60の電極部51、52が形成される。   Subsequently, as shown in FIG. 3B, a step of forming a metal layer 40 on the conductor layer 30 on the outer surface of the surface layer 11 in the fired laminate is performed. Thereby, the electrode part 50 for connecting the mounting parts and the electrode parts 51 and 52 of the resistor 60 shown in FIG. 1 are formed.

ここで、この金属層40の形成工程を行うにあたっては、スルーホール20を介して、第1の導体層31、第2の導体層32の上に、それぞれ第1の金属層41、第2の金属層42を、実装部品接続用の電極部50における金属層40などとともに、同時に形成するようにする。   Here, in performing the formation process of the metal layer 40, the first metal layer 41 and the second metal layer 32 are respectively formed on the first conductor layer 31 and the second conductor layer 32 through the through holes 20. The metal layer 42 is formed simultaneously with the metal layer 40 and the like in the electrode part 50 for connecting mounted components.

この第1および第2の金属層41、42を含む金属層40の形成は、上述したように、無電解の銅メッキ、ニッケルメッキ、またはインクジェット法などによって行うことができる。   The formation of the metal layer 40 including the first and second metal layers 41 and 42 can be performed by electroless copper plating, nickel plating, an inkjet method, or the like as described above.

特に、第2の導体層32の開口部52aおよびスルーホール20を介して、第1の導体層31の表面が露出した形となっているため、金属層40の形成により、第1の金属層41も同時に形成することができる。この金属層41、42の形成された状態が、図3(b)に示される。   In particular, since the surface of the first conductor layer 31 is exposed through the opening 52a of the second conductor layer 32 and the through hole 20, the first metal layer is formed by forming the metal layer 40. 41 can also be formed simultaneously. The state in which the metal layers 41 and 42 are formed is shown in FIG.

続いて、表層11のスルーホール20内に抵抗体60を充填し、抵抗体60を、第1の金属層41と第2の金属層42とに電気的に接続する。具体的には、抵抗体60は、印刷法またはディスペンス法などによりスルーホール20に充填し、たとえば、約900℃の温度にて焼成を行うことにより、形成される。   Subsequently, the resistor 60 is filled in the through hole 20 of the surface layer 11, and the resistor 60 is electrically connected to the first metal layer 41 and the second metal layer 42. Specifically, the resistor 60 is formed by filling the through hole 20 by a printing method, a dispensing method, or the like, and performing firing at a temperature of about 900 ° C., for example.

こうして、抵抗体60の形成に伴い、上記図1に示される要部構成を有する本実施形態の電子装置100ができあがる。   Thus, with the formation of the resistor 60, the electronic device 100 of this embodiment having the main configuration shown in FIG. 1 is completed.

[効果等]
ところで、本実施形態によれば、複数の層11〜13が積層されており、積層された複数の層11〜13のうちの表層11にスルーホール20を設け、このスルーホール20内に抵抗体60を充填してなる配線基板100において、次のような特徴点を有する配線基板100が提供される。
[Effects]
By the way, according to this embodiment, the several layers 11-13 are laminated | stacked, the through hole 20 is provided in the surface layer 11 of the laminated | stacked several layers 11-13, and a resistor is provided in this through hole 20 In the wiring board 100 filled with 60, the wiring board 100 having the following characteristic points is provided.

・表層11の内側の層12におけるスルーホール20に対応する部位には、第1の電極部51が設けられており、この第1の電極部51は、内側の層12側に位置する第1の導体層31と、抵抗体60側に位置する第1の金属層41とから構成されていること。   A portion corresponding to the through hole 20 in the inner layer 12 of the surface layer 11 is provided with a first electrode portion 51, and the first electrode portion 51 is located on the inner layer 12 side. And the first metal layer 41 located on the resistor 60 side.

・表層11の外面におけるスルーホール20の開口縁部には、第2の電極部52が設けられており、第2の電極部52は、表層11側から第2の導体層32、第2の金属層42が積層されて構成されたものであって、且つ、スルーホール20に開口する開口部52aを有するものであること。   A second electrode portion 52 is provided at the opening edge portion of the through hole 20 on the outer surface of the surface layer 11, and the second electrode portion 52 includes the second conductor layer 32 and the second conductor layer 32 from the surface layer 11 side. The metal layer 42 is laminated and has an opening 52 a that opens to the through hole 20.

・抵抗体60は、第1の金属層41と第2の金属層42とに電気的に接続されていること。本実施形態の配線基板100はこれらの点を特徴としている。   The resistor 60 is electrically connected to the first metal layer 41 and the second metal layer 42. The wiring board 100 of this embodiment is characterized by these points.

それによれば、上記内側の層12に設けられる第1の電極部51の第1の導体層31、および、表層11の外面に設けられる第2の電極部52の第2の導体層32は、それぞれ、従来の配線基板と同様に、積層前の各層11〜13に対して形成することにより作ることができる。   According to this, the first conductor layer 31 of the first electrode part 51 provided on the inner layer 12 and the second conductor layer 32 of the second electrode part 52 provided on the outer surface of the surface layer 11 are: Each can be made by forming each of the layers 11 to 13 before being laminated, as in the case of a conventional wiring board.

また、第2の導体層32は、表層11のスルーホール20を開口させる開口部52aを有するから、各層11〜13を積層・焼成した後であって各金属層41、42の形成前且つ抵抗体60の充填前の状態においては(上記図3(a)参照)、この開口部52aおよびスルーホール20を介して、第1の導体層31の表面が露出した形となる。   In addition, since the second conductor layer 32 has an opening 52a for opening the through hole 20 of the surface layer 11, after the layers 11 to 13 are stacked and fired, before the formation of the metal layers 41 and 42, the resistance In a state before the body 60 is filled (see FIG. 3A), the surface of the first conductor layer 31 is exposed through the opening 52a and the through hole 20.

そのため、焼成後において、第1の金属層41および第2の金属層42は、同時にメッキなどを行うことで形成することができる。そして、この金属層形成工程の後に、上記開口部52aからスルーホール20内へ抵抗体60を充填すれば、本実施形態の配線基板100を形成することができる。   Therefore, after firing, the first metal layer 41 and the second metal layer 42 can be formed by performing plating or the like at the same time. If the resistor 60 is filled into the through hole 20 from the opening 52a after the metal layer forming step, the wiring board 100 of this embodiment can be formed.

このように、本実施形態の配線基板100は、従来の一般的な配線基板の製造方法と同じように、積層、焼成、金属層40の形成、抵抗体60の形成という工程を経て製造することができる。   As described above, the wiring substrate 100 of the present embodiment is manufactured through the steps of lamination, firing, formation of the metal layer 40, and formation of the resistor 60 in the same manner as a conventional method for manufacturing a general wiring substrate. Can do.

そして、抵抗体60は、当該抵抗体60との電気的な接続性に優れた第1の金属層41および第2の金属層42を介して電気的に接続されるため、抵抗体60と各電極部51、52との電気的な抵抗値機能は十分に確保される。   And since the resistor 60 is electrically connected via the 1st metal layer 41 and the 2nd metal layer 42 which were excellent in the electrical connection property with the said resistor 60, each resistor 60 and each The electrical resistance value function with the electrode parts 51 and 52 is sufficiently ensured.

したがって、本実施形態によれば、複数の層11〜13が積層されるとともに積層された複数の層11〜13のうちの表層11にスルーホール20を設け、このスルーホール20内に抵抗体60を充填してなる配線基板100において、工程を増加させることなく、表層11のスルーホール20内に抵抗体60を設け、適切な抵抗体60の電気的接続構成を実現することができる。   Therefore, according to the present embodiment, the plurality of layers 11 to 13 are stacked, and the through hole 20 is provided in the surface layer 11 of the stacked layers 11 to 13, and the resistor 60 is provided in the through hole 20. In the wiring board 100 filled with, the resistor 60 is provided in the through hole 20 of the surface layer 11 without increasing the number of steps, and an appropriate electrical connection configuration of the resistor 60 can be realized.

ここで、本実施形態の配線基板100においては、第1の導体層31および第2の導体層32を、タングステン、モリブデン、タングステン合金およびモリブデン合金の中から選択されたものにできることも特徴のひとつである。   Here, in the wiring substrate 100 of the present embodiment, the first conductor layer 31 and the second conductor layer 32 can be selected from tungsten, molybdenum, tungsten alloy, and molybdenum alloy. It is.

また、本実施形態の配線基板100においては、第1の金属層41および第2の金属層42を、銅メッキまたはニッケルメッキから構成されたものにできることも特徴のひとつである。   Moreover, in the wiring board 100 of this embodiment, it is one of the characteristics that the 1st metal layer 41 and the 2nd metal layer 42 can be comprised from copper plating or nickel plating.

また、本実施形態の配線基板100においては、抵抗体60を1000℃以下の温度で焼成されてなるものにできることも特徴のひとつである。   Moreover, in the wiring board 100 of this embodiment, it is one of the characteristics that the resistor 60 can be baked at a temperature of 1000 ° C. or less.

また、本実施形態の配線基板100においては、複数の層11〜13を構成する材質、すなわち基板100を構成する材質を、1000℃よりも高温で焼成されるものにできることも特徴のひとつである。   Moreover, in the wiring board 100 of this embodiment, it is also one of the characteristics that the material which comprises the several layers 11-13, ie, the material which comprises the board | substrate 100, can be baked at a temperature higher than 1000 degreeC. .

また、本実施形態によれば、複数の層11〜13を積層し、積層された複数の層11〜13のうちの表層11にスルーホール20を設け、このスルーホール20内に抵抗体60を充填してなる配線基板100の製造方法において、次のような特徴点を有する製造方法が提供される。   In addition, according to the present embodiment, the plurality of layers 11 to 13 are stacked, the through hole 20 is provided in the surface layer 11 of the plurality of stacked layers 11 to 13, and the resistor 60 is provided in the through hole 20. In the manufacturing method of the filled wiring board 100, a manufacturing method having the following features is provided.

・スルーホール20が設けられた表層11を含む複数の層11〜13に対して、導体層30を形成する工程では、表層11の内側となる層12におけるスルーホール20に対応する部位に、導体層30としての第1の導体層31を設けるとともに、表層11におけるスルーホール20の開口縁部に、導体層30としてスルーホール20に開口する開口部52aを有する第2の導体層32を設けるようにすること。   In the step of forming the conductor layer 30 for the plurality of layers 11 to 13 including the surface layer 11 provided with the through hole 20, a conductor is provided in a portion corresponding to the through hole 20 in the layer 12 that is inside the surface layer 11. The first conductor layer 31 as the layer 30 is provided, and the second conductor layer 32 having the opening 52 a that opens to the through hole 20 as the conductor layer 30 is provided at the opening edge of the through hole 20 in the surface layer 11. To do.

・続いて、導体層30が形成された複数の層11〜13を積層して焼成する工程を行うこと。   -Subsequently, the process of laminating | stacking and baking the several layers 11-13 in which the conductor layer 30 was formed is performed.

・その後、表層11の外面の導体層30の上に金属層40を形成する工程を行うにあたって、金属層40とともに、スルーホール20を介して第1の導体層31、第2の導体層32の上に、それぞれ第1の金属層41、第2の金属層42を同時に形成するようにしたこと。   Thereafter, in performing the step of forming the metal layer 40 on the conductor layer 30 on the outer surface of the surface layer 11, together with the metal layer 40, the first conductor layer 31 and the second conductor layer 32 are connected through the through hole 20. The first metal layer 41 and the second metal layer 42 are simultaneously formed on each of them.

・続いて、スルーホール20内に抵抗体60を充填し、抵抗体60を、第1の金属層41と第2の金属層42とに電気的に接続すること。本実施形態の配線基板100の製造方法は、これらの点を特徴としている。   Subsequently, the resistor 60 is filled in the through hole 20, and the resistor 60 is electrically connected to the first metal layer 41 and the second metal layer 42. The manufacturing method of the wiring board 100 of this embodiment is characterized by these points.

それによれば、第1の電極部51の第1の導体層31および第2の電極部52の第2の導体層32は、それぞれ、従来の配線基板と同様に、複数の層11〜13に対して、導体層30を形成する工程により作ることができる。   According to this, the first conductor layer 31 of the first electrode portion 51 and the second conductor layer 32 of the second electrode portion 52 are respectively formed on the plurality of layers 11 to 13 as in the conventional wiring board. On the other hand, the conductive layer 30 can be formed by a process.

そして、複数の層11〜13を積層して焼成する工程を行い、この焼成工程の後に、従来と同様に、表層11の外面の導体層30の上に金属層40を形成する工程を行うが、ここで、本実施形態においては、第2の導体層32の開口部52aおよびスルーホール20を介して、第1の導体層31の表面が露出した形となっている。   And the process of laminating | stacking the several layers 11-13 is performed, and the process of forming the metal layer 40 on the conductor layer 30 of the outer surface of the surface layer 11 is performed after this baking process like the past. Here, in the present embodiment, the surface of the first conductor layer 31 is exposed through the opening 52 a of the second conductor layer 32 and the through hole 20.

そのため、この金属層形成工程において、第1の金属層41および第2の金属層42は、同時にメッキなどにより形成することができる。それによって、第1の電極部51および第2の電極部52が形成される。   Therefore, in this metal layer forming step, the first metal layer 41 and the second metal layer 42 can be formed simultaneously by plating or the like. Thereby, the first electrode part 51 and the second electrode part 52 are formed.

そして、この金属層40の形成工程の後に、上記第2の導体層32の開口部52aからスルーホール20内へ抵抗体60を充填すれば、本実施形態の配線基板100を形成することができる。   Then, after the step of forming the metal layer 40, if the resistor 60 is filled into the through hole 20 from the opening 52a of the second conductor layer 32, the wiring substrate 100 of this embodiment can be formed. .

このように、本実施形態によれば、上記図1に示される配線基板100を適切に製造することのできる配線基板の製造方法を提供することができる。   Thus, according to the present embodiment, it is possible to provide a method of manufacturing a wiring board that can appropriately manufacture the wiring board 100 shown in FIG.

そして、本製造方法は、従来の一般的な配線基板の製造方法と同様に、積層、焼成、金属層40の形成、抵抗体60の形成という工程を経て、配線基板100を製造するものである。   And this manufacturing method manufactures the wiring board 100 through the process of lamination | stacking, baking, formation of the metal layer 40, and formation of the resistor 60 similarly to the manufacturing method of the conventional general wiring board. .

したがって、本実施形態の製造方法によっても、複数の層11〜13が積層されるとともに積層された複数の層11〜13のうちの表層11にスルーホール20を設け、このスルーホール20内に抵抗体60を充填してなる配線基板100において、工程を増加させることなく、表層11のスルーホール20内に抵抗体60を設け、適切な抵抗体60の電気的接続構成を実現することができる。   Therefore, also by the manufacturing method of the present embodiment, a plurality of layers 11 to 13 are stacked, and a through hole 20 is provided in the surface layer 11 of the stacked layers 11 to 13, and a resistance is provided in the through hole 20. In the wiring substrate 100 filled with the body 60, the resistor 60 is provided in the through hole 20 of the surface layer 11 without increasing the number of steps, and an appropriate electrical connection configuration of the resistor 60 can be realized.

ここで、本実施形態の配線基板100の製造方法においては、第1の導体層31および第2の導体層32を、タングステン、モリブデン、タングステン合金およびモリブデン合金の中から選択されたものを用いて形成できることも特徴のひとつである。   Here, in the method for manufacturing the wiring substrate 100 of the present embodiment, the first conductor layer 31 and the second conductor layer 32 are selected from tungsten, molybdenum, a tungsten alloy, and a molybdenum alloy. One of the features is that it can be formed.

また、本実施形態の配線基板100の製造方法においては、第1の金属層41および第2の金属層42を、銅メッキまたはニッケルメッキにより形成できることも特徴のひとつである。   In addition, in the method for manufacturing the wiring substrate 100 of the present embodiment, it is also one of the features that the first metal layer 41 and the second metal layer 42 can be formed by copper plating or nickel plating.

また、本実施形態の配線基板100の製造方法においては、抵抗体60を1000℃以下の温度で焼成することにより形成できることも特徴のひとつである。   Moreover, in the manufacturing method of the wiring board 100 of this embodiment, it is one of the characteristics that it can form by baking the resistor 60 at the temperature of 1000 degrees C or less.

また、本実施形態の配線基板100の製造方法においては、積層された複数の層11〜13を、1000℃よりも高温で焼成できることも特徴のひとつである。   Moreover, in the manufacturing method of the wiring board 100 of this embodiment, it is one of the characteristics that the laminated | stacked several layers 11-13 can be baked at higher than 1000 degreeC.

次に、本実施形態の配線基板100の種々の変形例について、以下の各図を参照して述べる。   Next, various modifications of the wiring board 100 of the present embodiment will be described with reference to the following drawings.

[第1の変形例]
図5は、本実施形態の配線基板100における第1の変形例を示す概略断面図であり、抵抗体形成用のスルーホール20(20a)を実装部品接続用の電極部50内に配置した例を示す。
[First Modification]
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a first modified example of the wiring board 100 of the present embodiment, in which the through hole 20 (20a) for forming a resistor is arranged in the electrode part 50 for connecting a mounted component. Indicates.

図5に示されるように、抵抗体60の第2電極部52が実装部品接続用の電極部50を兼用しており、この電極部52には、コンデンサなどの実装部品200がはんだや導電性接着剤などからなる接続部材210を介して接続されている。本例の場合、配線基板100において、抵抗体60の形成部の面積を無くすことができるため、基板の小型化を図ることができる。   As shown in FIG. 5, the second electrode portion 52 of the resistor 60 also serves as an electrode portion 50 for connecting a mounting component. The mounting component 200 such as a capacitor is connected to the electrode portion 52 by solder or conductive material. The connection is made via a connection member 210 made of an adhesive or the like. In the case of this example, in the wiring board 100, since the area of the formation part of the resistor 60 can be eliminated, the board can be reduced in size.

さらに、このような構造の場合、抵抗体60上に、はんだや導電性接着剤などの接続部材210が抵抗体60を覆うように形成されるために、湿気などの外気から抵抗体60を保護するために従来用いられている保護膜が不要となり、さらなるコストダウンを図ることができる。   Further, in the case of such a structure, since the connecting member 210 such as solder or conductive adhesive is formed on the resistor 60 so as to cover the resistor 60, the resistor 60 is protected from outside air such as moisture. Therefore, the conventionally used protective film becomes unnecessary, and the cost can be further reduced.

なお、表層11において、実装部品接続用の電極部50以外の部位に、抵抗体用のスルーホール20を配置する場合、必要な時には、この抵抗体60を覆うように保護膜を形成してもよい。   In the case where the through hole 20 for the resistor is disposed on the surface layer 11 other than the electrode part 50 for connecting the mounted component, a protective film may be formed so as to cover the resistor 60 when necessary. Good.

[第2の変形例]
図6、本実施形態の配線基板100における第2の変形例を示す概略断面図である。
[Second Modification]
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a second modification of the wiring board 100 of the present embodiment.

図6に示されるように、表層11のスルーホール20内には、段差21が設けられており、スルーホール20は、この段差を介して表層11の外面の開口部側が径の大きな段付き孔となっている。   As shown in FIG. 6, a step 21 is provided in the through hole 20 of the surface layer 11, and the through hole 20 has a stepped hole having a large diameter on the opening side of the outer surface of the surface layer 11 through the step. It has become.

このようにスルーホール20に段差21を設けることにより、抵抗体60の第2の電極部52におけるスルーホール20内の長さLを安定して確保することができ、より高精度な抵抗値を得ることができる。   By providing the step 21 in the through hole 20 in this way, the length L in the through hole 20 in the second electrode portion 52 of the resistor 60 can be stably secured, and a more accurate resistance value can be obtained. Obtainable.

この段差21は、たとえば、図6中の破線に示されるように、スルーホール20の径の大きさを変えた2枚以上のアルミナシートを重ねることで作ることができる。   For example, as shown by the broken line in FIG. 6, the step 21 can be formed by stacking two or more alumina sheets having different diameters of the through holes 20.

また、アルミナシートにスルーホール20を形成するための金型を工夫してもよい。たとえば、そのような金型としては、図7に示されるような段差21に対応した突起310を有する金型300を用いることができる。   Moreover, you may devise the metal mold | die for forming the through hole 20 in an alumina sheet. For example, as such a mold, a mold 300 having a protrusion 310 corresponding to the step 21 as shown in FIG. 7 can be used.

なお、スルーホール20内の段差21の形状や寸法については特に限定するものではないが、たとえば、段差21の幅Wは、10μm〜20μmであることが好ましく、段差21の深さDは、スルーホール20の深さに対して1/5〜1/2程度であることが好ましい。   The shape and dimensions of the step 21 in the through hole 20 are not particularly limited. For example, the width W of the step 21 is preferably 10 μm to 20 μm, and the depth D of the step 21 is the through The depth is preferably about 1/5 to 1/2 of the depth of the hole 20.

[第3の変形例]
図8は、本実施形態の配線基板100における第3の変形例を示す概略断面図である。
[Third Modification]
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a third modification of the wiring board 100 of the present embodiment.

図8に示されるように、本例では、抵抗体60の第2の電極部52を、表層11のスルーホール20の内部に形成せずに、表層11の外面のみに形成している。そして、抵抗体60をスルーホール20からあふれるように充填することにより、抵抗体60と第2の電極部52とを接続している。   As shown in FIG. 8, in this example, the second electrode portion 52 of the resistor 60 is formed only on the outer surface of the surface layer 11 without being formed inside the through hole 20 of the surface layer 11. Then, the resistor 60 and the second electrode portion 52 are connected by filling the resistor 60 so as to overflow from the through hole 20.

本例によれば、表層11の外面に位置する第2の電極部52の間隔(図8中の左側の第2の電極部52と右側の電極部52との間隔)を変えることにより、スルーホール20の径を変えることなく、抵抗値を変えることができるという利点がある。   According to this example, by changing the interval between the second electrode portions 52 located on the outer surface of the surface layer 11 (the interval between the second electrode portion 52 on the left side and the right electrode portion 52 in FIG. 8), There is an advantage that the resistance value can be changed without changing the diameter of the hole 20.

[第4の変形例]
図9は、本実施形態の配線基板100における第4の変形例を示す概略断面図である。図9に示されるように、本例は、抵抗体60にアルミナ粉末からなる配合部材61を配合したものである。
[Fourth Modification]
FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing a fourth modification of the wiring board 100 of the present embodiment. As shown in FIG. 9, in this example, a resistor 60 is blended with a blending member 61 made of alumina powder.

抵抗体60の種類によっては、その熱膨張係数(たとえば4ppm/℃)がアルミナシートからなる表層11(たとえば、熱膨張係数:7ppm/℃)と大きく異なると、抵抗体60の焼成時の熱収縮によって抵抗体60に割れが発生する。   Depending on the type of the resistor 60, if the thermal expansion coefficient (for example, 4 ppm / ° C.) is significantly different from the surface layer 11 (for example, the thermal expansion coefficient: 7 ppm / ° C.) made of an alumina sheet, the thermal contraction during firing of the resistor 60. As a result, the resistor 60 is cracked.

そのため、本例では、抵抗体60にアルミナ粉末からなる配合部材61を混合し、配合部材61が混合された抵抗体60全体の熱膨張を、基材である表層11に近づけることにより、上記した抵抗体60の割れを防止する。   Therefore, in this example, the compounding member 61 made of alumina powder is mixed with the resistor 60, and the thermal expansion of the entire resistor 60 in which the compounding member 61 is mixed is brought close to the surface layer 11 as the base material as described above. The crack of the resistor 60 is prevented.

ここで、たとえば、抵抗体60に配合される配合部材61としてのアルミナ粉末の粒径は、スルーホール20の径に対して1%〜5%程度の大きさであることが好ましく、その配合比は、LaB6などの抵抗体60の成分を、20±5vol%としたとき、アルミナ粉末が80±5vol%であることが好ましい。 Here, for example, the particle size of the alumina powder as the blending member 61 blended in the resistor 60 is preferably about 1% to 5% with respect to the diameter of the through hole 20, and the blending ratio thereof Is preferably 80 ± 5 vol% of alumina powder when the content of the resistor 60 such as LaB 6 is 20 ± 5 vol%.

なお、配合部材61としては、アルミナに限定するものではなく、熱膨張係数が基材である表層11に近くなるものであればよい。   The compounding member 61 is not limited to alumina, and may be any material that has a thermal expansion coefficient close to the surface layer 11 that is a base material.

[第5の変形例]
図10は、本実施形態の配線基板100における第5の変形例を示す概略断面図である。図10に示されるように、第1の電極部51において第1の導体層31上に形成される第1の金属層41は、第1の導体層31の一部に形成されていてもよい。
[Fifth Modification]
FIG. 10 is a schematic cross-sectional view showing a fifth modification of the wiring board 100 of the present embodiment. As shown in FIG. 10, the first metal layer 41 formed on the first conductor layer 31 in the first electrode portion 51 may be formed on a part of the first conductor layer 31. .

[第6の変形例]
図11は、本実施形態の配線基板100における第6の変形例を示す概略断面図である。抵抗体60が形成されるスルーホール20の開口部や側面などの形状は、上記した各図の形状に限定されるものではない。
[Sixth Modification]
FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing a sixth modification of the wiring board 100 of the present embodiment. The shape of the opening and the side surface of the through hole 20 in which the resistor 60 is formed is not limited to the shape shown in each figure described above.

たとえば、図11に示されるように、スルーホール20は、表層11の外面の開口部側に向かって径が大きくなるようなテーパ形状を有するものであってもよい。このように、抵抗体60が充填されるスルーホール20は、表層11の外面側の開口部が、他方の開口部よりも広い方が、抵抗体60の充填が容易になるため、好ましい。   For example, as shown in FIG. 11, the through-hole 20 may have a tapered shape whose diameter increases toward the opening on the outer surface of the surface layer 11. Thus, in the through hole 20 filled with the resistor 60, it is preferable that the opening on the outer surface side of the surface layer 11 is wider than the other opening because the filling of the resistor 60 is facilitated.

[第7の変形例]
図12は、本実施形態の配線基板100における第7の変形例を示す概略平面図である。本例は、抵抗値を調整するのに好適な例を示すものである。
[Seventh Modification]
FIG. 12 is a schematic plan view showing a seventh modification of the wiring board 100 of the present embodiment. This example shows an example suitable for adjusting the resistance value.

図12に示されるように、抵抗体60が充填されたスルーホール20の少なくとも2個以上を並列的に配置することができる。図12では、4個の抵抗体60が並列に配置されている。   As shown in FIG. 12, at least two of the through holes 20 filled with the resistor 60 can be arranged in parallel. In FIG. 12, four resistors 60 are arranged in parallel.

図示しないが、4個のスルーホール20の第1の電極部51は、一固体のパターンとなっており、また、図12に示されるように、各々の第2の電極部52が配線部53により電気的に接続されている。なお、この配線部53は、表層11の外面上に形成された導体層30と同様のものとして形成されたものである。   Although not shown, the first electrode portions 51 of the four through-holes 20 have a single solid pattern, and each second electrode portion 52 has a wiring portion 53 as shown in FIG. Are electrically connected. The wiring portion 53 is formed as the same as the conductor layer 30 formed on the outer surface of the surface layer 11.

それにより、本例では、4個の抵抗体60が並列に電気的に接続されている。そして、図12にて破線で示されるように、表層11の外面上に形成され各抵抗体60間を接続する配線部53を、レーザなどにより所望する箇所を切断すれば、任意の抵抗体60のみ、その他の抵抗体60と電気的に孤立させることができるため、抵抗値を調整することができる。   Thereby, in this example, the four resistors 60 are electrically connected in parallel. Then, as indicated by a broken line in FIG. 12, if the wiring portion 53 formed on the outer surface of the surface layer 11 and connecting the resistors 60 is cut by a laser or the like, an arbitrary resistor 60 is obtained. Only the resistor 60 can be electrically isolated from the other resistors 60, so that the resistance value can be adjusted.

なお、本例における抵抗体60が充填されたスルーホール20の配置方法に特に制限は無く、たとえば、図13に模式的に断面構成を示すように、少なくとも2個以上の抵抗体60を直列に電気的に接続する形態であってもよい。図13では、3個の抵抗体60が直列に配置されている。   In addition, there is no restriction | limiting in particular in the arrangement | positioning method of the through-hole 20 with which the resistor 60 in this example was filled, For example, as FIG. 13 shows a cross-sectional structure typically, at least 2 or more resistors 60 are connected in series. A form of electrical connection may be used. In FIG. 13, three resistors 60 are arranged in series.

この場合、たとえば、表層11の外面上に形成された配線部53における図中の符号αに指示される部位を、レーザなどにより切断すれば、上記同様に、抵抗値を調整することができる。   In this case, the resistance value can be adjusted in the same manner as described above, for example, by cutting the portion indicated by the symbol α in the drawing in the wiring portion 53 formed on the outer surface of the surface layer 11 with a laser or the like.

[第8の変形例]
図14は、本実施形態の配線基板100における第8の変形例を示す概略断面図である。本例も、抵抗値を調整するのに好適な例を示すものである。
[Eighth Modification]
FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing an eighth modification of the wiring board 100 of the present embodiment. This example also shows an example suitable for adjusting the resistance value.

図14に示されるように、本例の構成は、上記図8に示される構成と基本的に同様である。そして、この構成において、表層11の外面上に形成された抵抗体60における図14中の符号βに指示される部位を、レーザなどにより切断すれば、抵抗値を調整することができる。   As shown in FIG. 14, the configuration of this example is basically the same as the configuration shown in FIG. In this configuration, the resistance value can be adjusted by cutting the portion indicated by the symbol β in FIG. 14 in the resistor 60 formed on the outer surface of the surface layer 11 with a laser or the like.

[第9の変形例]
図15は、本実施形態の配線基板100における第9の変形例を示す概略断面図である。抵抗体60は最外層である表層11に形成されたスルーホール20にのみ形成されるものではなく、図15に示されるように、最外層の表層11aに形成されるスルーホール20につながる複数の層11b、11cに形成されたスルーホール20に形成されていてもよい。
[Ninth Modification]
FIG. 15 is a schematic cross-sectional view showing a ninth modification of the wiring board 100 of the present embodiment. The resistor 60 is not formed only in the through hole 20 formed in the outermost surface layer 11, but as shown in FIG. 15, a plurality of resistors 60 connected to the through hole 20 formed in the outermost surface layer 11 a It may be formed in the through hole 20 formed in the layers 11b and 11c.

(他の実施形態)
なお、上記実施形態では、上記変形例も含めて、スルーホール、抵抗体、および抵抗体に接続される第1の電極部、第2の電極部について種々の例を示したが、これらの構成については、上記例に限定されるものではない。
(Other embodiments)
In the above embodiment, various examples of the first electrode portion and the second electrode portion connected to the through hole, the resistor, and the resistor have been shown including the above-described modified examples. Is not limited to the above example.

また、表層における抵抗体の電極部以外の電極部に対しては、実装部品以外のものが、はんだや導電性接着剤などの接続部材により接続されてもよい。   Moreover, things other than mounting components may be connected to electrode parts other than the electrode part of the resistor in the surface layer by a connecting member such as solder or a conductive adhesive.

また、上記実施形態では、図2(e)中の配線基板100における上側の表層11において、スルーホール20に抵抗体60を設けた構成を示したが、配線基板100における他方の表層すなわち下側の表層13に対しても、図1に示されるものと同様の構成が採用されていてもよいことはもちろんである。   In the above embodiment, the structure in which the resistor 60 is provided in the through hole 20 in the upper surface layer 11 of the wiring substrate 100 in FIG. 2E is shown. Of course, the same structure as that shown in FIG.

また、上記実施形態では、配線基板としてはアルミナ積層基板からなる配線基板100を示したが、配線基板としては、アルミナ以外にも他のセラミック層からなる積層基板あるいは、セラミック以外の層からなる積層基板でもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the wiring board 100 which consists of an alumina laminated substrate was shown as a wiring board, as a wiring board, the laminated substrate which consists of other ceramic layers besides alumina, or the laminated layer which consists of layers other than a ceramic It may be a substrate.

つまり、本発明は、複数の層が積層されており、この積層された複数の層のうちの表層にスルーホールを設け、このスルーホール内に抵抗体を充填してなる配線基板であれば、適用可能なものである。   That is, the present invention is a wiring board in which a plurality of layers are laminated, a through hole is provided in a surface layer of the laminated plural layers, and a resistor is filled in the through hole. Applicable.

そして、本発明は、このような配線基板において、表層の内側の層におけるスルーホールに対応する部位に、上記第1の導体層および上記第1の金属層からなる第1の電極部を設け、表層の外面におけるスルーホールの開口縁部に、上記第2の導体層および上記第2の金属層からなる第2の電極部を設け、抵抗体を、第1の金属層と第2の金属層とに電気的に接続したことを特徴とするものであり、それ以外の部分については、適宜設計変更が可能である。   And in this wiring board, in the present invention, the first electrode portion comprising the first conductor layer and the first metal layer is provided in a portion corresponding to the through hole in the inner layer of the surface layer, A second electrode portion made of the second conductor layer and the second metal layer is provided at the opening edge of the through hole on the outer surface of the surface layer, and the resistor is formed by the first metal layer and the second metal layer. The other parts can be appropriately changed in design.

(a)は、本発明の実施形態に係る配線基板の要部の概略断面構成を示す図であり、(b)は(a)中のスルーホールの上視平面図である。(A) is a figure which shows schematic sectional structure of the principal part of the wiring board which concerns on embodiment of this invention, (b) is a top view top view of the through hole in (a). 上記実施形態の配線基板の製造方法における焼成工程までを示す工程図である。It is process drawing which shows to the baking process in the manufacturing method of the wiring board of the said embodiment. 上記実施形態の配線基板の製造方法における抵抗体用の電極部の形成工程を示す工程図である。It is process drawing which shows the formation process of the electrode part for resistors in the manufacturing method of the wiring board of the said embodiment. 第2の導体層の具体的な形成方法の一例を示す図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)の概略断面図である。It is a figure which shows an example of the concrete formation method of a 2nd conductor layer, (a) is a schematic plan view, (b) is a schematic sectional drawing of (a). 上記実施形態の配線基板における第1の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 1st modification in the wiring board of the said embodiment. 上記実施形態の配線基板における第2の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 2nd modification in the wiring board of the said embodiment. 上記第2の変形例におけるスルーホールの段差を形成するための金型の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the metal mold | die for forming the level | step difference of the through hole in the said 2nd modification. 上記実施形態の配線基板における第3の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 3rd modification in the wiring board of the said embodiment. 上記実施形態の配線基板における第4の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 4th modification in the wiring board of the said embodiment. 上記実施形態の配線基板における第5の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 5th modification in the wiring board of the said embodiment. 上記実施形態の配線基板における第6の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 6th modification in the wiring board of the said embodiment. 上記実施形態の配線基板における第7の変形例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the 7th modification in the wiring board of the said embodiment. 上記した第7の変形例におけるもうひとつの抵抗体の配置例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the example of arrangement | positioning of another resistor in the above-mentioned 7th modification. 上記実施形態の配線基板における第8の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 8th modification in the wiring board of the said embodiment. 上記実施形態の配線基板における第9の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 9th modification in the wiring board of the said embodiment. 従来の一般的な配線基板としてのアルミナ積層基板の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the alumina laminated substrate as a conventional common wiring board. 積層基板としての配線基板において、抵抗体を表層に設けたスルーホール内に充填して形成した構造を示す概略断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a structure in which a resistor is filled in a through hole provided in a surface layer in a wiring board as a laminated board.

符号の説明Explanation of symbols

11…表層、12…表層の内側の層、13…表層、
20…スルーホール、31…第1の導体層、32…第2の導体層、
41…第1の金属層、42…第2の金属層、
51…第1の電極部、52…第2の電極部、52a…第2の電極部の開口部、
60…抵抗体。
11 ... surface layer, 12 ... layer inside the surface layer, 13 ... surface layer,
20 ... through hole, 31 ... first conductor layer, 32 ... second conductor layer,
41 ... 1st metal layer, 42 ... 2nd metal layer,
51 ... 1st electrode part, 52 ... 2nd electrode part, 52a ... Opening part of 2nd electrode part,
60: Resistor.

Claims (10)

複数の層(11、12、13)が積層されており、前記積層された複数の層(11〜13)のうちの表層(11)にスルーホール(20)を設け、このスルーホール(20)内に抵抗体(60)を充填してなる配線基板において、
前記表層(11)の内側の層(12)における前記スルーホール(20)に対応する部位には、第1の電極部(51)が設けられており、
前記第1の電極部(51)は、前記内側の層(12)側に位置する第1の導体層(31)と、前記抵抗体(60)側に位置する第1の金属層(41)とから構成されており、
前記表層(11)の外面における前記スルーホール(20)の開口縁部には、第2の電極部(52)が設けられており、
前記第2の電極部(52)は、前記表層(11)側から第2の導体層(32)、第2の金属層(42)が積層されて構成されたものであって、且つ、前記スルーホール(20)に開口する開口部(52a)を有するものであり、
前記抵抗体(60)は、前記第1の金属層(41)と前記第2の金属層(42)とに電気的に接続されていることを特徴とする配線基板。
A plurality of layers (11, 12, 13) are laminated, and a through hole (20) is provided in a surface layer (11) of the plurality of laminated layers (11 to 13), and this through hole (20) In the wiring board formed by filling the resistor (60) inside,
A first electrode portion (51) is provided in a portion corresponding to the through hole (20) in the inner layer (12) of the surface layer (11),
The first electrode portion (51) includes a first conductor layer (31) positioned on the inner layer (12) side and a first metal layer (41) positioned on the resistor (60) side. And consists of
A second electrode portion (52) is provided at the opening edge of the through hole (20) on the outer surface of the surface layer (11),
The second electrode portion (52) is configured by laminating a second conductor layer (32) and a second metal layer (42) from the surface layer (11) side, and It has an opening (52a) that opens to the through hole (20),
The wiring board, wherein the resistor (60) is electrically connected to the first metal layer (41) and the second metal layer (42).
前記第1の導体層(31)および前記第2の導体層(32)は、タングステン、モリブデン、タングステン合金およびモリブデン合金の中から選択されたものからなることを特徴とする請求項1に記載の配線基板。 The said 1st conductor layer (31) and the said 2nd conductor layer (32) consist of what was chosen from tungsten, molybdenum, a tungsten alloy, and a molybdenum alloy. Wiring board. 前記第1の金属層(41)および前記第2の金属層(42)は、銅メッキまたはニッケルメッキからなるものであることを特徴とする請求項1または2に記載の配線基板。 The wiring board according to claim 1 or 2, wherein the first metal layer (41) and the second metal layer (42) are made of copper plating or nickel plating. 前記抵抗体(60)は、1000℃以下の温度で焼成されてなるものであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載の配線基板。 The wiring board according to claim 1, wherein the resistor (60) is fired at a temperature of 1000 ° C. or less. 前記複数の層(11〜13)を構成する材質は、1000℃よりも高温で焼成されるものであることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載の配線基板。 The wiring board according to any one of claims 1 to 4, wherein a material constituting the plurality of layers (11 to 13) is fired at a temperature higher than 1000 ° C. 複数の層(11、12、13)を積層し、前記積層された複数の層(11〜13)のうちの表層(11)にスルーホール(20)を設け、このスルーホール(20)内に抵抗体(60)を充填してなる配線基板の製造方法において、
前記スルーホール(20)が設けられた前記表層(11)を含む前記複数の層(11〜13)に対して、導体層(30)を形成する工程では、
前記表層(11)の内側となる層(12)における前記スルーホール(20)に対応する部位に、前記導体層(30)としての第1の導体層(31)を設けるとともに、
前記表層(11)における前記スルーホール(20)の開口縁部に、前記導体層(30)として前記スルーホール(20)に開口する開口部(52a)を有する第2の導体層(32)を設けるようにし、
続いて、前記導体層(30)が形成された前記複数の層(11〜13)を積層して焼成する工程を行い、
その後、前記表層(11)の外面の前記導体層(30)の上に金属層(40)を形成する工程を行うにあたって、前記金属層(40)とともに、前記スルーホール(20)を介して前記第1の導体層(31)、前記第2の導体層(32)の上に、それぞれ第1の金属層(41)、第2の金属層(42)を同時に形成するようにし、
続いて、前記スルーホール(20)内に前記抵抗体(60)を充填し、前記抵抗体(60)を、前記第1の金属層(41)と前記第2の金属層(42)とに電気的に接続することを特徴とする配線基板の製造方法。
A plurality of layers (11, 12, 13) are laminated, and a through hole (20) is provided in a surface layer (11) of the plurality of laminated layers (11 to 13), and the through hole (20) is provided in the through hole (20). In the manufacturing method of the wiring board formed by filling the resistor (60),
In the step of forming a conductor layer (30) for the plurality of layers (11-13) including the surface layer (11) provided with the through-hole (20),
While providing a first conductor layer (31) as the conductor layer (30) in a portion corresponding to the through hole (20) in the layer (12) that is inside the surface layer (11),
A second conductor layer (32) having an opening (52a) opening to the through hole (20) as the conductor layer (30) at the opening edge of the through hole (20) in the surface layer (11). To provide,
Subsequently, a step of laminating and firing the plurality of layers (11 to 13) on which the conductor layer (30) is formed,
Then, in performing the process of forming a metal layer (40) on the conductor layer (30) on the outer surface of the surface layer (11), the metal layer (40) and the through hole (20) are used to form the metal layer (40). A first metal layer (41) and a second metal layer (42) are simultaneously formed on the first conductor layer (31) and the second conductor layer (32), respectively.
Subsequently, the through hole (20) is filled with the resistor (60), and the resistor (60) is turned into the first metal layer (41) and the second metal layer (42). A method of manufacturing a wiring board, wherein the wiring board is electrically connected.
前記第1の導体層(31)および前記第2の導体層(32)を、タングステン、モリブデン、タングステン合金およびモリブデン合金の中から選択されたものを用いて形成することを特徴とする請求項6に記載の配線基板の製造方法。 The first conductor layer (31) and the second conductor layer (32) are formed using a material selected from tungsten, molybdenum, a tungsten alloy, and a molybdenum alloy. The manufacturing method of the wiring board as described in 2 .. 前記第1の金属層(41)および前記第2の金属層(42)を、銅メッキまたはニッケルメッキにより形成することを特徴とする請求項6または7に記載の配線基板の製造方法。 The method for manufacturing a wiring board according to claim 6 or 7, wherein the first metal layer (41) and the second metal layer (42) are formed by copper plating or nickel plating. 前記抵抗体(60)を、1000℃以下の温度で焼成することにより形成することを特徴とする請求項6ないし8のいずれか1つに記載の配線基板の製造方法。 The method of manufacturing a wiring board according to any one of claims 6 to 8, wherein the resistor (60) is formed by firing at a temperature of 1000 ° C or lower. 前記積層された複数の層(11〜13)を、1000℃よりも高温で焼成することを特徴とする請求項6ないし9のいずれか1つに記載の配線基板の製造方法。 The method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 6 to 9, wherein the plurality of stacked layers (11 to 13) are baked at a temperature higher than 1000 ° C.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014112108A1 (en) * 2013-01-18 2014-07-24 株式会社メイコー Component-embedded substrate and method for manufacturing same
CN117641718A (en) * 2024-01-26 2024-03-01 苏州敏芯微电子技术股份有限公司 Circuit board

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01108967U (en) * 1988-01-18 1989-07-24
JPH05267852A (en) * 1992-03-24 1993-10-15 Ngk Insulators Ltd Manufacture of ceramic circuit board
JP2000307219A (en) * 1999-04-23 2000-11-02 Denso Corp Wiring board and manufacture thereof

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01108967U (en) * 1988-01-18 1989-07-24
JPH05267852A (en) * 1992-03-24 1993-10-15 Ngk Insulators Ltd Manufacture of ceramic circuit board
JP2000307219A (en) * 1999-04-23 2000-11-02 Denso Corp Wiring board and manufacture thereof

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014112108A1 (en) * 2013-01-18 2014-07-24 株式会社メイコー Component-embedded substrate and method for manufacturing same
US9756732B2 (en) 2013-01-18 2017-09-05 Meiko Electronics Co., Ltd. Device embedded substrate and manufacturing method of device embedded substrate
CN117641718A (en) * 2024-01-26 2024-03-01 苏州敏芯微电子技术股份有限公司 Circuit board
CN117641718B (en) * 2024-01-26 2024-04-12 苏州敏芯微电子技术股份有限公司 Circuit board

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