JP2006166194A5 - - Google Patents

Claims (6)

1. 撮像素子により入力される画像信号の１水平画像信号ライン上の検出対象画素信号とその左右に存在する複数の画素信号のレベルを比較し、その比較結果により前記検出対象画素信号に対応する画素を欠陥候補画素であるとするかどうかを検出する第１の欠陥検出手段と、
   前記検出された欠陥候補画素信号とその周辺画素信号の相関を取り、その相関値により前記欠陥候補画素を疑似欠陥画素であるとするかどうかを検出する第２の欠陥検出手段と、
   前記検出された同一の欠陥候補画素についての前記疑似欠陥画素検出を所定数のフレームの画像信号に亙って行い、それによる疑似欠陥画素検出の検出回数が前記所定数であった場合に前記疑似欠陥画素を真の欠陥画素とする検出を行う第３の欠陥検出手段と、
   を具備することを特徴とする画素欠陥検出回路。
2. 前記第３の欠陥検出手段により真の欠陥画素が検出された場合、この真の欠陥画素に対応する画素信号を正常レベルの画素信号に置き換えて出力する補間手段を具備することを特徴とする請求項１記載の画素欠陥検出回路。
3. 前記第１の欠陥検出手段による欠陥候補画素検出は１フレームの画像信号について行うことを特徴とする請求項１記載の画素欠陥検出回路。
4. 撮像素子により入力される画像信号の１水平画像信号ライン上の検出対象画素信号とその左右に存在する複数の画素信号のレベルを比較する第１のステップと、
   前記比較結果により前記検出対象画素信号に対応する画素を欠陥候補画素であるとするかどうかを検出する第２のステップと、
   前記検出された欠陥候補画素信号とその周辺画素信号の相関を取る第３のステップと、
   前記相関値により前記欠陥候補画素を疑似欠陥画素であるとするかどうかを検出する第４のステップと、
   前記検出された同一の欠陥候補画素についての前記疑似欠陥画素検出を複数フレームの画像信号に亙って行う第５のステップと、
   前記疑似欠陥画素検出が全フレームで検出された場合に前記疑似欠陥画素を真の欠陥画素とする第６のステップと、
   を具備することを特徴とする画素欠陥検出方法。
5. 前記１、第２のステップによる画素信号のレベルの比較処理と欠陥候補画素検出処理は１フレームの画像信号について行われることを特徴とする請求項４記載の画素欠陥検出方法。
6. 前記第６のステップにより真の欠陥画素が検出された場合、この真の欠陥画素に対応する画素信号を正常レベルの画素信号に置き換えて出力する第７のステップを具備することを特徴とする請求項４記載の画素欠陥検出方法。