JP2006156122A - Plasma treatment apparatus - Google Patents

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JP2006156122A
JP2006156122A JP2004344777A JP2004344777A JP2006156122A JP 2006156122 A JP2006156122 A JP 2006156122A JP 2004344777 A JP2004344777 A JP 2004344777A JP 2004344777 A JP2004344777 A JP 2004344777A JP 2006156122 A JP2006156122 A JP 2006156122A
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opening width
discharge space
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JP2004344777A
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Mamoru Hino
守 日野
Harukazu Shimizu
治和 清水
Hidenori Takahashi
英則 高橋
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Sekisui Chemical Co Ltd
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Sekisui Chemical Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent treatment omission by securing a gas flow rate in a place where an electrode interval becomes narrow in a plasma treatment apparatus. <P>SOLUTION: An inlet formation part 22 having a process gas inlet 23 is provided in on an upstream side of a discharge space 30 between electrodes 31, 32. An open width variable member 40 is provided in a prescribed part of the inlet formation part 22 to be capable of advancing/retreating in a width direction of the inlet 23. An end face on an advance side of the open width variable member 40 faces the inlet 23 to be an inner surface of the inlet 22 of the prescribed part. Inclined stripes 41, 42 inclined to a prescribed position as going to the discharge space 30 are formed in the end face on the advance side of the open width variable member 40. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明は、プロセスガスを放電空間に通して基材に当て、基材のプラズマ表面処理を行なう装置に関する。   The present invention relates to an apparatus that applies a process gas to a substrate through a discharge space to perform plasma surface treatment of the substrate.

この種のプラズマ処理装置には、例えば平行平板型の一対の電極が備えられている。これら電極の間に電界を印加して放電空間を形成するとともに、そこにプロセスガスを導入してプラズマ化する。このプラズマ化したプロセスガスを基材に当て、洗浄、表面改質、成膜、エッチング等の表面処理を行なう。
特開平9−92493号公報 特開平11−251304号公報 特開2002−353000号公報 特開2004−111385号公報
This type of plasma processing apparatus is provided with a pair of parallel plate electrodes, for example. An electric field is applied between these electrodes to form a discharge space, and a process gas is introduced into the space to form plasma. The plasma-processed process gas is applied to the substrate, and surface treatments such as cleaning, surface modification, film formation, and etching are performed.
JP-A-9-92493 Japanese Patent Laid-Open No. 11-251304 JP 2002-353000 A JP 2004-111385 A

平行平板型の電極においては、クーロン力や、電極と固体誘電体との熱膨張率差や電極内部の温度差による熱応力によって、反りが発生しやすい。そうすると、電極間隔が部分的に狭まってその部分でプロセスガスが流れにくくなり、処理の均一性が損なわれてしまう。   In a parallel plate type electrode, warping is likely to occur due to Coulomb force, thermal expansion coefficient difference between the electrode and the solid dielectric, and thermal stress due to temperature difference inside the electrode. If it does so, an electrode space | interval will partially narrow, it will become difficult to flow process gas in the part, and the uniformity of a process will be impaired.

本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、
プロセスガスを放電空間に通して基材に当てるプラズマ処理装置において、
互いに並んで一方向に延び、間に前記放電空間を形成する一対の電極と、
前記放電空間の上流端に連なるプロセスガス導入口を有する導入口形成部と、を備え、
前記導入口形成部には、放電空間へのプロセスガスの流れを前記一方向(電極延び方向)の所定位置または該所定位置を含む所定部分に偏らせる偏流手段を設けたことを特徴とする。
これによって、所定部分における電極間隔が狭くなっても、ガス流量を確保して処理抜けを防止でき、処理の均一性を確保することができる。
ここで、前記所定部分は、電極間隔が狭くなる傾向が高い部分(例えば前記一方向の中央部分)であることが好ましく、前記所定位置は、前記所定部分の中でも電極間隔が最も狭くなる傾向が高い箇所、例えば前記一方向のちょうど中心位置であることが好ましい。
The present invention has been made to solve the above problems,
In a plasma processing apparatus that applies process gas to a substrate through a discharge space,
A pair of electrodes extending in one direction alongside each other and forming the discharge space therebetween;
An inlet forming part having a process gas inlet connected to the upstream end of the discharge space,
The introduction port forming part is provided with a drifting means for biasing the flow of the process gas to the discharge space toward a predetermined position in the one direction (electrode extending direction) or a predetermined portion including the predetermined position.
As a result, even when the electrode interval in the predetermined portion is narrowed, the gas flow rate can be secured to prevent the processing from being lost, and the uniformity of the processing can be secured.
Here, the predetermined portion is preferably a portion (for example, the central portion in one direction) where the electrode interval tends to be narrow, and the predetermined position tends to have the smallest electrode interval among the predetermined portions. It is preferable that it is a high place, for example, the exact center position in the one direction.

また、本発明は、
プロセスガスを放電空間に通して基材に当てるプラズマ処理装置において、
互いに並んで一方向に延び、間に前記放電空間を形成する一対の電極と、
前記放電空間の上流端に連なるプロセスガス導入口を有する導入口形成部と、を備え、
前記偏流手段として、前記導入口形成部の前記一方向の所定部分には、前記導入口の幅方向(前記電極の並び方向と同方向、前記一方向と直交する方向)に前進・後退可能な開口幅可変部材が設けられ、この開口幅可変部材の前進側の端面が、前記導入口に面して前記所定部分の導入口の内面を画成することを特徴とする。
これによって、所定部分における電極間隔が狭くなっても、開口幅可変部材の前進側の端面を、開口幅可変部材以外の部分の導入口の内面より引っ込ませることにより、導入口の所定部分における開口度を所定部分以外の部分より大きくでき、所定部分でのガス流量を確保して処理抜けを防止でき、処理の均一性を確保することができる。また、プロセスの投入電力量の違い等で電極間のクーロン力や電極の発熱量が変わり、電極の反り量が一定していない場合であっても、開口幅可変部材の引っ込み量を調節することにより、所定部分でのガス流量を確実に確保でき、処理の均一性を確実に確保することができる。
The present invention also provides:
In a plasma processing apparatus that applies process gas to a substrate through a discharge space,
A pair of electrodes extending in one direction alongside each other and forming the discharge space therebetween;
An inlet forming part having a process gas inlet connected to the upstream end of the discharge space,
As the drifting means, a predetermined portion in the one direction of the introduction port forming portion can be moved forward and backward in the width direction of the introduction port (the same direction as the arrangement direction of the electrodes and a direction perpendicular to the one direction). An opening width variable member is provided, and an end face on the advance side of the opening width variable member faces the introduction port and defines an inner surface of the introduction port of the predetermined portion.
Thereby, even if the electrode interval in the predetermined portion is narrowed, the opening at the predetermined portion of the introduction port is retracted from the inner surface of the introduction port of the portion other than the variable opening width member by retracting the forward end surface of the variable opening width member. The degree can be made larger than the portion other than the predetermined portion, the gas flow rate at the predetermined portion can be ensured to prevent the processing from being lost, and the processing uniformity can be ensured. Also, even if the coulomb force between the electrodes or the heat generation amount of the electrode changes due to the difference in the input power amount of the process, etc., the amount of retraction of the variable opening width member should be adjusted even when the amount of electrode warpage is not constant. As a result, the gas flow rate at the predetermined portion can be reliably ensured, and the uniformity of the processing can be reliably ensured.

前記開口幅可変部材または前記所定部分の前記一方向に沿う長さは、導入口の長さに比べ十分に小さいことが好ましい。前記開口幅可変部材は、前記導入口形成部の前記所定部分にだけ配置され、所定部分以外の部分に延び出ていないことが望ましい。
前記導入口形成部の前記所定部分には、前記開口幅可変部材を収容する凹部が形成されていることが望ましい。
前記導入口形成部の開口幅可変部材を挟んで導入口とは逆側(開口幅可変部材の背部すなわち後退側部)には、開口幅可変部材を前進方向へ押す押し部材と後退方向へ引く引き部材とが設けられていることが望ましい。
これによって、開口幅可変部材を確実に前進・後退させることができるとともに、適切な進退位置に位置決めした後は、押し部材の押し力と引き部材の引き力とによって開口幅可変部材を当該位置にしっかりと固定することができる。
The length along the one direction of the opening width variable member or the predetermined portion is preferably sufficiently smaller than the length of the introduction port. It is desirable that the opening width variable member is disposed only in the predetermined portion of the introduction port forming portion and does not extend to a portion other than the predetermined portion.
It is desirable that a concave portion for accommodating the opening width variable member is formed in the predetermined portion of the introduction port forming portion.
A push member that pushes the variable opening width member in the forward direction and a reverse direction is pulled on the opposite side of the introduction port forming portion from the variable opening width member (the back portion of the variable opening width member, that is, the backward side portion). It is desirable that a pulling member is provided.
As a result, the opening width variable member can be reliably moved forward and backward, and after being positioned at an appropriate forward and backward position, the opening width variable member is brought to the position by the pressing force of the pressing member and the pulling force of the pulling member. Can be fixed firmly.

前記開口幅可変部材に前記押し部材と引き部材が前記一方向に離間して配置されていることが望ましい。
これによって、開口幅可変部材全体を、前記一方向に対し傾けることも可能になる。
前記開口幅可変部材が、前記一方向に複数に分割されていてもよい。この場合、各開口幅可変部材が独立して前進・後退可能であることが好ましい。これによって、導入口の開口幅を各開口幅可変部材ごとに調節できる。
各開口幅可変部材に前記押し部材と引き部材が前記一方向に離間して配置されていてもよい。これによって、例えば、2つの開口幅可変部材どうしの境に向かって各開口幅可変部材が導入口から引っ込むように傾けることができる。
前記押し部材は、例えば雄ネジ部材にて構成され、開口幅可変部材の背部の導入口形成部に形成された雌ネジ孔にねじ込まれるとともに、開口幅可変部材の背面(後退側の端面)に突き当てられる。
前記引き部材は、例えば雄ネジ部材にて構成され、頭部が開口幅可変部材の背部の導入口形成部に引っ掛けられるとともに、脚部が、該導入口形成部に形成された貫通孔を貫通し、開口幅可変部材の背部(後退側の端部)に形成された雌ネジ孔にねじ込まれる。
It is desirable that the pressing member and the pulling member are disposed apart from each other in the one direction on the opening width variable member.
As a result, the entire variable opening width member can be tilted with respect to the one direction.
The opening width variable member may be divided into a plurality of parts in the one direction. In this case, it is preferable that each opening width variable member can be moved forward and backward independently. Thereby, the opening width of the inlet can be adjusted for each opening width variable member.
The pressing member and the pulling member may be arranged in each opening width variable member so as to be separated in the one direction. Accordingly, for example, each opening width variable member can be inclined so as to be retracted from the introduction port toward the boundary between the two opening width variable members.
The push member is formed of, for example, a male screw member, and is screwed into a female screw hole formed in the introduction port forming portion of the back portion of the opening width variable member, and on the back surface (reverse side end surface) of the opening width variable member. It is hit.
The pulling member is composed of, for example, a male screw member, and the head is hooked on the introduction port forming part of the back part of the variable opening width member, and the leg part penetrates the through hole formed in the introduction port forming part. Then, it is screwed into a female screw hole formed in the back portion (end portion on the receding side) of the opening width variable member.

前記開口幅可変部材の前進側の端面に、前記放電空間に向かうにしたがって所定位置へ傾く傾斜条が形成されていることが望ましい。
これによって、所定部分の中でも所定位置にプロセスガスがより多量に流れ込むようにすることができ、所定位置での処理抜けを確実に防止することができる。
傾斜条は、傾斜凸条(凸状の傾斜条)または傾斜溝(凹状の傾斜条)を含む。
少なくとも傾斜溝の溝底(内底面)が、開口幅可変部材以外の部分の導入口の内面より引っ込むように、開口幅可変部材の進退位置を調節することにより、導入口の幅を少なくとも傾斜溝のところで広くすることができ、プロセスガスを確実に流れ込みやすくすることができる。
It is desirable that an inclined strip which is inclined toward a predetermined position toward the discharge space is formed on the end surface on the forward side of the opening width variable member.
As a result, a larger amount of process gas can flow into a predetermined position in a predetermined portion, and processing omission at the predetermined position can be reliably prevented.
The inclined line includes an inclined protruding line (convex inclined line) or an inclined groove (concave inclined line).
By adjusting the advancing / retreating position of the opening width variable member so that at least the groove bottom (inner bottom surface) of the inclined groove is retracted from the inner surface of the introduction port other than the opening width variable member, the width of the introduction port is at least inclined groove. However, the process gas can be surely easily flowed.

また、本発明は、
プロセスガスを放電空間に通して基材に当てるプラズマ処理装置において、
互いに並んで一方向に延び、間に前記放電空間を形成する一対の電極と、
前記放電空間の上流端に連なるプロセスガス導入口を有する導入口形成部と、を備え、
前記偏流手段として、前記導入口の前記一方向の所定位置近くの内面には、前記放電空間に向かうにしたがって前記所定位置へ傾く傾斜条が形成されていることを特徴とする。
これによって、プロセスガスが所定位置により多量に流れ込むようにすることができ、所定位置での処理抜けを確実に防止することができる。
ここで、前記所定位置近くの部分とは、前記所定部分に略相当する。
The present invention also provides:
In a plasma processing apparatus that applies process gas to a substrate through a discharge space,
A pair of electrodes extending in one direction alongside each other and forming the discharge space therebetween;
An inlet forming part having a process gas inlet connected to the upstream end of the discharge space,
As the drifting means, on the inner surface near the predetermined position in the one direction of the introduction port, an inclined strip that is inclined toward the predetermined position toward the discharge space is formed.
As a result, a large amount of process gas can flow into the predetermined position, and the processing omission at the predetermined position can be reliably prevented.
Here, the portion near the predetermined position substantially corresponds to the predetermined portion.

前記傾斜条が、前記所定位置の近くの第1位置と、この第1位置より前記所定位置に近い第2位置とにそれぞれ設けられており、前記第2位置の傾斜条が、前記第1位置の傾斜条より大きく傾斜していることが望ましい。
これによって、所定位置から相対的に遠い第1位置では、プロセスガスの偏りを小さくでき、中心位置の周辺での処理抜けも確実に防止でき、全体的な処理の均一性を確実に確保できる。
The inclined strips are respectively provided at a first position near the predetermined position and a second position closer to the predetermined position than the first position, and the inclined strip at the second position is the first position. It is desirable that the slope is larger than the slope.
As a result, at the first position relatively far from the predetermined position, it is possible to reduce the process gas bias, reliably prevent the processing from being lost around the center position, and ensure the uniformity of the overall processing.

本発明のプラズマ処理は、好ましくは、大気圧近傍の圧力下(略常圧)で実行される。ここで、大気圧近傍とは、1.013×104〜50.663×104Paの範囲を言い、圧力調整の容易化や装置構成の簡便化を考慮すると、1.333×104〜10.664×104Paが好ましく、9.331×104〜10.397×104Paがより好ましい。 The plasma treatment of the present invention is preferably performed under a pressure close to atmospheric pressure (substantially normal pressure). Here, the near atmospheric pressure refers to the range of 1.013 × 10 4 ~50.663 × 10 4 Pa, considering the convenience of easier and device configuration of the pressure adjustment, 1.333 × 10 4 ~ 10.664 × 10 4 Pa is preferable, and 9.331 × 10 4 to 10.9797 × 10 4 Pa is more preferable.

本発明によれば、電極間隔が狭くなる箇所でのガス流量を確保して処理抜けを防止でき、処理の均一性を確保することができる。   According to the present invention, it is possible to secure a gas flow rate at a portion where the electrode interval is narrowed to prevent the processing from being lost, and to ensure the uniformity of the processing.

以下、本発明の一実施形態を図面にしたがって詳述する。
図1に示すように、常圧プラズマ処理装置は、処理ヘッド1を備えている。この処理ヘッド1の下方に、基材Wを配置し、洗浄、成膜、エッチング等のプラズマ表面処理を行なうようになっている。
処理ヘッド1は、ガス導入ユニット10と放電処理ユニット20を上下に積層することによって構成されている。図2及び図3に示すように、これら上下のユニット10,20ひいては処理ヘッド1は、左右に長く延びている。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
As shown in FIG. 1, the atmospheric pressure plasma processing apparatus includes a processing head 1. A substrate W is disposed below the processing head 1 to perform plasma surface treatment such as cleaning, film formation, and etching.
The processing head 1 is configured by stacking a gas introduction unit 10 and a discharge processing unit 20 vertically. As shown in FIGS. 2 and 3, these upper and lower units 10, 20, and thus the processing head 1, extend long from side to side.

図2に示すように、プロセスガス供給源2からのガス供給路2aが、二手に分岐してガス導入ユニット10の両端部に接続されている。
図1及び図2に示すように、ガス導入ユニット10の内部には、ユニット10の長手方向に延びる一対の通路12と、これら通路12,12の上下に配されたチャンバー13,14とが形成されている。1つの通路12の一端部が、1つのガス供給路2aに連なり、もう1つの通路12の他端部が、もう1つのガス供給路2aに連なっている。各通路12には上側チャンバー13に連なる小孔12aが長手方向に多数並んで配置されている。上下のチャンバー13,14は、通路12の両脇の連通スリット15を介して連なっている。ガス導入ユニット10の底板(下側チャンバー14の底面)には、長手方向に延びる導入溝16が形成されている。
As shown in FIG. 2, the gas supply path 2 a from the process gas supply source 2 is bifurcated and connected to both ends of the gas introduction unit 10.
As shown in FIGS. 1 and 2, a pair of passages 12 extending in the longitudinal direction of the unit 10 and chambers 13 and 14 disposed above and below the passages 12 and 12 are formed inside the gas introduction unit 10. Has been. One end of one passage 12 is connected to one gas supply passage 2a, and the other end of the other passage 12 is connected to another gas supply passage 2a. In each passage 12, a large number of small holes 12a connected to the upper chamber 13 are arranged in the longitudinal direction. The upper and lower chambers 13, 14 are connected via communication slits 15 on both sides of the passage 12. An introduction groove 16 extending in the longitudinal direction is formed on the bottom plate of the gas introduction unit 10 (the bottom surface of the lower chamber 14).

上記プロセスガス供給源2には、処理目的に応じたプロセスガスが貯えられており、このプロセスガスが、ガス供給管2aで二手に分岐され、一対の通路12,12内を互いに対向方向に流れながら小孔12a,12a…を介して順次上側チャンバー13へ漏れ、更にスリット15を介して下側チャンバー14へ流入する。プロセスガスは、このガス導入ユニット10内での流通過程で前後長手方向に均一化される。この均一化されたプロセスガスが、導入溝16から放電処理ユニット20へ導入されるようになっている。   The process gas supply source 2 stores a process gas corresponding to the processing purpose. The process gas is bifurcated by the gas supply pipe 2a and flows in the pair of passages 12 and 12 in opposite directions. However, it leaks sequentially into the upper chamber 13 through the small holes 12a, 12a, and further flows into the lower chamber 14 through the slit 15. The process gas is made uniform in the longitudinal direction in the flow process in the gas introduction unit 10. The homogenized process gas is introduced into the discharge processing unit 20 from the introduction groove 16.

図1に示すように、放電処理ユニット20は、金属製の筐体21と、この筐体21内に収容された一対の電極31,32を有している。電極31,32と筐体21は、絶縁樹脂製のホルダ24で絶縁されている。
図1及び図2に示すように、各電極31,32は、断面四角形状をなして左右に長く延びている。一対の電極31,32は、前後に対向配置されており、これら電極31,32どうしの間に隙間30が形成されている。一方の電極31は、電源(図示せず)に接続され、他方の電極32は、接地されている。これによって、電極31,32間の隙間30が常圧の放電空間となるようになっている。少なくとも一方の電極31,32の放電空間形成面には固体誘電体層(図示せず)が設けられている。
As shown in FIG. 1, the discharge processing unit 20 includes a metal casing 21 and a pair of electrodes 31 and 32 housed in the casing 21. The electrodes 31 and 32 and the casing 21 are insulated by a holder 24 made of an insulating resin.
As shown in FIGS. 1 and 2, the electrodes 31 and 32 have a rectangular cross section and extend long to the left and right. The pair of electrodes 31 and 32 are disposed opposite to each other in the front-rear direction, and a gap 30 is formed between the electrodes 31 and 32. One electrode 31 is connected to a power source (not shown), and the other electrode 32 is grounded. As a result, the gap 30 between the electrodes 31 and 32 becomes a normal pressure discharge space. A solid dielectric layer (not shown) is provided on the discharge space forming surface of at least one of the electrodes 31 and 32.

図1〜図3に示すように、筐体21の上板22は、左右に長く延びている。この上板22の幅方向(前後方向)の中央部にプロセスガス導入口23が形成されている。導入口23は、細幅(例えば1〜2mm)のスリット状をなして上板22の長手方向に延びている。この導入口23の上端開口が、ガス導入ユニット10の導入溝16に連なるとともに、下端開口が、絶縁ホルダ24に形成されたスリット状の導入口25を介して電極間空間30に連なっている。
導入口23,25を有する筐体上板22と絶縁ホルダ24とが、特許請求の範囲の「導入口形成部」を構成している。
As shown in FIGS. 1 to 3, the upper plate 22 of the housing 21 extends to the left and right. A process gas inlet 23 is formed at the center of the upper plate 22 in the width direction (front-rear direction). The introduction port 23 extends in the longitudinal direction of the upper plate 22 in a narrow slit shape (for example, 1 to 2 mm). The upper end opening of the introduction port 23 is continuous with the introduction groove 16 of the gas introduction unit 10, and the lower end opening is continued with the inter-electrode space 30 through a slit-like introduction port 25 formed in the insulating holder 24.
The housing upper plate 22 having the introduction ports 23 and 25 and the insulating holder 24 constitute the “introduction port forming portion” in the claims.

放電処理ユニット20の底部(電極31,32の下側)には、樹脂やセラミック等の絶縁部材26を介して金属板27が設けられており、この金属板27が電気的に接地されることにより、電極31,32と基材Wの間の電界遮蔽がなされている。絶縁部材26と金属板27には、電極間隙間すなわち放電空間30の下端部に連なる吹出し口28が形成されている。吹出し口28は、放電処理ユニット20の長手方向に延びるスリット状をなしている。
図示は省略するが、筐体21の側壁には、電極31,32を押し又は引くことにより直線度を維持し、ひいては放電空間30の厚さを一定に保つための押しボルトと引きボルトが設けられている。
A metal plate 27 is provided on the bottom of the discharge processing unit 20 (below the electrodes 31 and 32) via an insulating member 26 such as resin or ceramic, and the metal plate 27 is electrically grounded. Thus, electric field shielding between the electrodes 31 and 32 and the base material W is performed. The insulating member 26 and the metal plate 27 are formed with a blow-off port 28 connected to a gap between the electrodes, that is, a lower end portion of the discharge space 30. The outlet 28 has a slit shape extending in the longitudinal direction of the discharge processing unit 20.
Although illustration is omitted, a push bolt and a pull bolt are provided on the side wall of the casing 21 to maintain the linearity by pushing or pulling the electrodes 31 and 32 and to keep the thickness of the discharge space 30 constant. It has been.

本発明の主要構成について説明する。
図3及び図4に示すように、放電処理ユニット20の筐体上板22の長手方向の中央部分(所定部分)には、導入口23の幅方向両側の縁の内面に凹部22aがそれぞれ形成されている。各凹部22aに開口幅可変部材40が嵌め込まれている。各凹部22aには開口幅可変部材40が2つ(複数)並んで配置されている。すなわち、各凹部22aの開口幅可変部材40は、筐体上板22の長手方向のちょうど中心位置(所定位置)において、左右に2つ(複数)に分割されている。各開口幅可変部材40は、筐体上板22と同じ厚さの左右に細長い板状をなしている。これら開口幅可変部材40の内端面が、導入口23に面し、導入口23の中央部分の内面を画成している。
The main configuration of the present invention will be described.
As shown in FIGS. 3 and 4, in the central portion (predetermined portion) in the longitudinal direction of the casing upper plate 22 of the discharge processing unit 20, recesses 22 a are formed on the inner surfaces of both edges in the width direction of the inlet 23. Has been. An opening width variable member 40 is fitted in each recess 22a. Two (a plurality) opening width variable members 40 are arranged in each recess 22a. That is, the opening width variable member 40 of each recess 22a is divided into two (plural) on the left and right at the exact center position (predetermined position) in the longitudinal direction of the housing upper plate 22. Each variable opening width member 40 has a plate shape elongated to the left and right having the same thickness as the upper plate 22 of the housing. The inner end surfaces of these opening width variable members 40 face the introduction port 23 and define the inner surface of the central portion of the introduction port 23.

図5及び図6に示すように、各開口幅可変部材40の内端面には、複数の細い傾斜凸条41が左右に間隔を空けて形成され、隣り合う傾斜凸条41の間に傾斜凸条41より十分に幅広の浅い傾斜溝42が形成されている。例えば、傾斜凸条41の幅は、1mm程度であり、傾斜凸条41の突出量ないし傾斜溝42の深さは、2mm程度であり、傾斜溝42の幅は、狭いところで7〜9mm程度、広いところで10mm程度である。傾斜凸条41と傾斜溝42を総称して「傾斜条」と呼ぶ。   As shown in FIGS. 5 and 6, a plurality of thin inclined ridges 41 are formed on the inner end face of each opening width variable member 40 with a space left and right, and the inclined protrusions 41 are adjacent to each other. A shallow inclined groove 42 that is sufficiently wider than the strip 41 is formed. For example, the width of the inclined ridge 41 is about 1 mm, the protrusion amount of the inclined ridge 41 or the depth of the inclined groove 42 is about 2 mm, and the width of the inclined groove 42 is about 7 to 9 mm in a narrow area. It is about 10 mm in a wide area. The inclined ridges 41 and the inclined grooves 42 are collectively referred to as “inclined ridges”.

図6に示すように、各開口幅可変部材40の傾斜凸条41ひいては傾斜溝42は、下に向かうにしたがって中央側に傾いている。しかも、中央に近い傾斜凸条41のほうが、相対的に遠い傾斜凸条41よりも大きく傾斜されている。左右の開口幅可変部材40の傾斜条41,42からなる内端面形状は、対称をなしている。   As shown in FIG. 6, the inclined ridge 41 and thus the inclined groove 42 of each opening width varying member 40 are inclined toward the center as going downward. Moreover, the inclined ridge 41 closer to the center is inclined more than the inclined ridge 41 that is relatively far away. The inner end face shape composed of the inclined strips 41 and 42 of the left and right opening width variable members 40 is symmetric.

図4に示すように、開口幅可変部材40の背部(開口幅可変部材40を挟んで導入口23とは逆側)の筐体上板22には、雄ネジからなる押し部材51と引き部材52が設けられている。押し部材51は、上板22にねじ込まれるとともに開口幅可変部材40の背面の中央部に突き当てられている。この押し部材51によって開口幅可変部材40を押し、導入口23に向けて前進させることができる。   As shown in FIG. 4, the housing upper plate 22 on the back of the opening width variable member 40 (on the side opposite to the introduction port 23 across the opening width variable member 40) has a pushing member 51 and a pulling member made of male screws. 52 is provided. The pressing member 51 is screwed into the upper plate 22 and is abutted against the central portion of the back surface of the opening width variable member 40. The opening width variable member 40 can be pushed by the pushing member 51 and advanced toward the introduction port 23.

引き部材52は、各開口幅可変部材40に対し2つ設けられている。これら引き部材52は、押し部材51を挟んでその左右両側に少し離れて配置されている。各引き部材52は、上板22を貫いて開口幅可変部材40にねじ込まれている。この引き部材52によって開口幅可変部材40を引き、後退させることができる。   Two pulling members 52 are provided for each opening width variable member 40. These pulling members 52 are arranged slightly apart on the left and right sides of the pressing member 51. Each pulling member 52 passes through the upper plate 22 and is screwed into the opening width variable member 40. The opening width variable member 40 can be pulled and retracted by the pulling member 52.

これら押し引き部材51,52によって、開口幅可変部材40を前後方向(導入口23の幅方向)に位置調節できるようになっている。図7の実線に示すように、開口幅可変部材40を後退させると、開口幅可変部材40の内端面全体、すなわち傾斜溝42の溝底(内底面)は勿論、傾斜凸条41も筐体上板22の導入口23の内面より引っ込んだ位置に位置する。図7の仮想線に示すように、開口幅可変部材40を前進させると、傾斜凸条41が筐体上板22の導入口23の内面より突出する。   By these push-pull members 51 and 52, the position of the opening width variable member 40 can be adjusted in the front-rear direction (width direction of the introduction port 23). As shown by the solid line in FIG. 7, when the opening width variable member 40 is retracted, the entire inner end face of the opening width variable member 40, that is, the groove bottom (inner bottom surface) of the inclined groove 42 as well as the inclined ridge 41 is also a housing. It is located at a position retracted from the inner surface of the inlet 23 of the upper plate 22. As shown by the phantom line in FIG. 7, when the opening width variable member 40 is advanced, the inclined ridge 41 protrudes from the inner surface of the introduction port 23 of the housing upper plate 22.

上記構成の常圧プラズマ処理装置によって基材Wをプラズマ処理する方法を説明する。
処理ヘッド1の下方に基材Wを配置する。そして、プロセスガス源2からのプロセスガスを、ガス導入ユニット10にて左右長手方向に均一化し、導入口23,25を介して電極間空間30に導入する。また、電源3からホット電極31への電圧供給を行なう。これにより、電極間空間30に常圧グロー放電が形成され、プロセスガスがプラズマ化される。このプラズマ化されたプロセスガスが、吹出し口28から吹出されて基材Wに当たる。これにより、基材Wの洗浄等の表面処理を行なうことができる。
A method for plasma processing the substrate W by the atmospheric pressure plasma processing apparatus having the above configuration will be described.
A substrate W is disposed below the processing head 1. Then, the process gas from the process gas source 2 is made uniform in the left-right longitudinal direction by the gas introduction unit 10 and introduced into the inter-electrode space 30 through the introduction ports 23 and 25. Further, voltage supply from the power source 3 to the hot electrode 31 is performed. As a result, an atmospheric pressure glow discharge is formed in the interelectrode space 30, and the process gas is turned into plasma. The plasma-processed process gas is blown out from the blow-out port 28 and hits the substrate W. Thereby, surface treatments, such as washing | cleaning of the base material W, can be performed.

電極31,32は、クーロン力や熱応力によって例えば中央部が互いに接近するように歪む傾向がある。そうすると、電極31,32間の放電空間30が長手方向の中央部で狭くなる。この歪み量は、投入電力等のプロセス条件によって区々であり、一定していない。
そこで、この歪み量を見越して、開口幅可変部材40の前後方向の位置を調節しておく。すなわち、例えば、図4に示すように、傾斜凸条41の突出端面が、上板22の導入口23すなわち開口幅可変部材40以外の部分の導入口23の内面と面一になるように調節しておく。したがって、傾斜溝42のところでは、導入口23の開口幅が開口幅可変部材40以外の部分より広くなる。これによって、開口幅可変部材40が配置された中央部分のガス流通抵抗をそれ以外の部分より小さくでき、中央部分により多くのプロセスガスが流れ込むようにすることができる。これにより、電極31,32の歪みによって放電空間20の中央部分が狭くなっても、ガス流量が減少しないようにすることができる。この結果、中央部分での処理抜けを防止でき、処理の均一性を確保することができる。
The electrodes 31 and 32 tend to be distorted so that, for example, the central portions thereof are close to each other due to Coulomb force or thermal stress. If it does so, the discharge space 30 between the electrodes 31 and 32 will become narrow in the center part of a longitudinal direction. The amount of distortion varies depending on process conditions such as input power and is not constant.
Therefore, the position of the opening width variable member 40 in the front-rear direction is adjusted in anticipation of this distortion amount. That is, for example, as shown in FIG. 4, the projecting end surface of the inclined ridge 41 is adjusted to be flush with the inner surface of the inlet 23 of the upper plate 22, that is, the inlet 23 other than the opening width variable member 40. Keep it. Therefore, at the inclined groove 42, the opening width of the introduction port 23 is wider than the portion other than the opening width variable member 40. As a result, the gas flow resistance of the central portion where the opening width variable member 40 is arranged can be made smaller than the other portions, and more process gas can flow into the central portion. Thereby, even if the center part of the discharge space 20 becomes narrow due to distortion of the electrodes 31 and 32, the gas flow rate can be prevented from decreasing. As a result, it is possible to prevent the processing from being lost at the center portion and to ensure the uniformity of the processing.

更に、図7の実線に示すように、電極31,32がもっと大きく歪むと見込まれるときは、開口幅可変部材40を図4よりも後退させ、傾斜凸条41の突出端面が、開口幅可変部材40以外の部分の導入口23の内面より引っ込んだ位置になるように調節しておく。これによって、導入口23の中央部分を一層拡幅でき、中央部分でのプロセスガスの流通抵抗を一層小さくすることができる。これにより、電極31,32の歪み量が大きく、放電空間20の中央部分がより狭くなる場合でも、中央部分での処理抜けを確実に防止でき、処理の均一性を確実に確保することができる。   Further, as shown by the solid line in FIG. 7, when the electrodes 31 and 32 are expected to be further distorted, the opening width variable member 40 is retracted from FIG. 4, and the protruding end surface of the inclined ridge 41 has the variable opening width. Adjustment is made so that the position is retracted from the inner surface of the introduction port 23 at a portion other than the member 40. As a result, the central portion of the inlet 23 can be further widened, and the flow resistance of the process gas at the central portion can be further reduced. Thereby, even when the amount of distortion of the electrodes 31 and 32 is large and the central portion of the discharge space 20 becomes narrower, it is possible to reliably prevent the processing from being lost at the central portion, and to ensure the uniformity of the processing. .

一方、図7の仮想線に示すように、電極31,32の歪み量が小さいと見込まれるときは、開口幅可変部材40を図4より前進させ、傾斜凸条41が開口幅可変部材40以外の部分の導入口23の内面より突出するようにしておくことも可能である。
勿論、処理の途中で、電極31,32の実際の歪みに対応して、開口幅可変部材40の進退位置を調節するようにしてもよい。
On the other hand, as shown by the phantom line in FIG. 7, when the distortion amount of the electrodes 31 and 32 is expected to be small, the opening width variable member 40 is advanced from FIG. 4, and the inclined ridge 41 is other than the opening width variable member 40. It is also possible to protrude from the inner surface of the introduction port 23 of this part.
Of course, the advance / retreat position of the opening width variable member 40 may be adjusted in the middle of the processing in accordance with the actual distortion of the electrodes 31 and 32.

また、図6の矢印線に示すように、導入口23の中央部分におけるプロセスガスは、傾斜条41,42によって、中心位置に向かって集まるように偏流させられる。これによって、中心位置にプロセスガスがより多量に流れ込むようにすることができ、中心位置での処理抜けを確実に防止することができる。しかも、プロセスガスの中心位置に近いほど中心位置方向への傾きが大きく、中心位置から遠くなるにしたがって傾きが小さくなるので、中心位置の周辺での処理抜けも確実に防止でき、全体的な処理の均一性を確実に確保できる。   Further, as shown by the arrow line in FIG. 6, the process gas in the central portion of the introduction port 23 is drifted by the inclined strips 41 and 42 so as to gather toward the center position. As a result, a larger amount of process gas can flow into the central position, and processing omission at the central position can be reliably prevented. In addition, the closer to the center position of the process gas, the greater the inclination in the direction of the center position, and the smaller the distance from the center position, the more reliably the processing can be prevented from being lost around the center position. Can be ensured.

更に、図8に示すように、押し引き部材51,52のねじ込み量を相互に調節することにより、左右の開口幅可変部材40を、中心位置に向かうにしたがって後退するように微小角度だけ傾けることも可能である。これによって、中心位置でのプロセスガス流量をより一層増やすことができ、中心位置での処理抜けを一層確実に防止できる。
なお、図8では開口幅可変部材40の傾きを誇張して示してあり、実際は、筐体上板22の凹部22aと開口幅可変部材40等の間のクリアランスに応じた微小な傾きになる。
Further, as shown in FIG. 8, by adjusting the screwing amounts of the push-pull members 51 and 52, the left and right opening width variable members 40 are inclined by a minute angle so as to recede toward the center position. Is also possible. Thereby, the process gas flow rate at the central position can be further increased, and the processing omission at the central position can be more reliably prevented.
In FIG. 8, the inclination of the opening width variable member 40 is exaggerated, and actually, the inclination is minute according to the clearance between the recess 22 a of the housing upper plate 22 and the opening width variable member 40.

本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の改変をなすことができる。
例えば、開口幅可変部材40は、導入口23の幅方向両側の縁のうち何れか片側の縁にだけ設けることにしてもよい。
導入口23の各縁に開口幅可変部材40を1つだけ設けることにしてもよく、3つ以上に分割して設けることにしてもよい。
所定部分は、必ずしも導入口長手方向の中央部分に限られない。電極間の両端部分のほうが、中央部分より狭くなる傾向が高い場合には、中央部分ではなく両端部分を「所定部分」として、そこに開口幅可変部材40や傾斜条41,42を設ける。
偏流手段として、導入口23の幅方向両側の内面間に架け渡され、導入口23を仕切る整流板を、斜めに設けることにしてもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made.
For example, the opening width variable member 40 may be provided only on one of the edges on both sides in the width direction of the inlet 23.
Only one variable opening width member 40 may be provided at each edge of the introduction port 23, or may be divided into three or more.
The predetermined portion is not necessarily limited to the central portion in the introduction port longitudinal direction. When the end portions between the electrodes tend to be narrower than the center portion, both end portions are set as “predetermined portions” instead of the center portion, and the opening width variable member 40 and the inclined strips 41 and 42 are provided there.
As the drifting means, a current plate that spans between the inner surfaces of both sides in the width direction of the inlet port 23 and partitions the inlet port 23 may be provided obliquely.

この発明は、例えば半導体基材の製造における洗浄や成膜等の表面処理工程に用いる表面処理装置に適用可能である。   The present invention is applicable to, for example, a surface treatment apparatus used in a surface treatment process such as cleaning or film formation in manufacturing a semiconductor substrate.

本発明の一実施形態に係る常圧プラズマ処理装置の処理ヘッドを示し、図2のI−I線に沿う前記処理ヘッドの側面断面図である。It is a side sectional view of the above-mentioned processing head which shows the processing head of the atmospheric pressure plasma processing apparatus concerning one embodiment of the present invention, and follows the II line of Drawing 2. 上記処理ヘッドの正面断面図である。It is front sectional drawing of the said processing head. 上記処理ヘッドの筐体上板(導入口形成部)の平面図である。It is a top view of the housing | casing upper board (introduction port formation part) of the said processing head. 上記筐体上板の中央部分を拡大して示す平面図である。It is a top view which expands and shows the center part of the said housing | casing upper board. 上記筐体上板の中央部分に設けられた開口幅可変部材の斜視図である。It is a perspective view of the opening width variable member provided in the center part of the said housing | casing upper board. 上記筐体上板の導入口の幅方向の片側の内面に設けられた2つの開口幅可変部材の正面図であり、プロセスガスの流れ方向を矢印線にて示す。It is a front view of two opening width variable members provided in the inner surface of the one side of the width direction of the inlet of the said housing | casing upper plate, and the flow direction of a process gas is shown by the arrow line. 図4において、開口幅可変部材をより後退させた状態を実線にて示し、前進させた状態を仮想線にて示す平面図である。FIG. 5 is a plan view showing a state where the opening width variable member is further retracted by a solid line and a state where the opening width variable member is advanced by a virtual line. 開口幅可変部材を中心位置に向けて後退するように傾けた状態を、傾き角度を誇張して示す平面図である。It is a top view which shows the state which inclined the opening width variable member so that it might reverse | retreat toward a center position, exaggerating the inclination angle.

符号の説明Explanation of symbols

1 処理ヘッド
20 放電処理ユニット
22 筐体上板(導入口形成部)
23 導入口
30 放電空間
31,32 電極
40 開口幅可変部材(所定部分への偏流手段)
41 傾斜凸条(凸状の傾斜条、所定位置への偏流手段)
42 傾斜溝(凹状の傾斜条、所定位置への偏流手段)
51 押し部材
52 引き部材
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Processing head 20 Discharge processing unit 22 Case upper board (introduction port formation part)
23 Inlet 30 Discharge space 31, 32 Electrode 40 Opening width variable member (Diffusion means to predetermined part)
41 Inclined ridges (convex ridges, drifting means to a predetermined position)
42 Inclined groove (concave inclined strip, means for drifting to a predetermined position)
51 Pushing member 52 Pulling member

Claims (7)

プロセスガスを放電空間に通して基材に当てるプラズマ処理装置において、
互いに並んで一方向に延び、間に前記放電空間を形成する一対の電極と、
前記放電空間の上流端に連なるプロセスガス導入口を有する導入口形成部と、を備え、
前記導入口形成部には、放電空間へのプロセスガスの流れを前記一方向の所定位置または該所定位置を含む所定部分に偏らせる偏流手段を設けたことを特徴とするプラズマ処理装置。
In a plasma processing apparatus that applies process gas to a substrate through a discharge space,
A pair of electrodes extending in one direction alongside each other and forming the discharge space therebetween;
An inlet forming part having a process gas inlet connected to the upstream end of the discharge space,
The plasma processing apparatus, wherein the introduction port forming portion is provided with a drifting means for biasing a flow of the process gas to the discharge space to a predetermined position in the one direction or a predetermined portion including the predetermined position.
プロセスガスを放電空間に通して基材に当てるプラズマ処理装置において、
互いに並んで一方向に延び、間に前記放電空間を形成する一対の電極と、
前記放電空間の上流端に連なるプロセスガス導入口を有する導入口形成部と、を備え、
前記導入口形成部の前記一方向の所定部分には、前記導入口の幅方向に前進・後退可能な開口幅可変部材が設けられ、この開口幅可変部材の前進側の端面が、前記導入口に面して前記所定部分の導入口の内面を画成することを特徴とするプラズマ処理装置。
In a plasma processing apparatus that applies process gas to a substrate through a discharge space,
A pair of electrodes extending in one direction alongside each other and forming the discharge space therebetween;
An inlet forming part having a process gas inlet connected to the upstream end of the discharge space,
An opening width variable member that can be advanced and retracted in the width direction of the introduction port is provided at a predetermined portion in the one direction of the introduction port forming portion, and an end surface on the advance side of the opening width variable member is the introduction port. The plasma processing apparatus is characterized in that an inner surface of the introduction port of the predetermined portion is defined.
前記導入口形成部の開口幅可変部材を挟んで導入口とは逆側には、開口幅可変部材を前進方向へ押す押し部材と後退方向へ引く引き部材とが設けられていることを特徴とする請求項2に記載のプラズマ処理装置。   A pressing member that pushes the opening width variable member in the forward direction and a pulling member that pulls in the backward direction are provided on the side opposite to the introduction port across the opening width variable member of the introduction port forming portion. The plasma processing apparatus according to claim 2. 前記開口幅可変部材が、前記一方向に複数に分割され、各開口幅可変部材が独立して前進・後退可能であることを特徴とする請求項2又は3に記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 2, wherein the opening width variable member is divided into a plurality of parts in the one direction, and each opening width variable member can be moved forward and backward independently. 前記開口幅可変部材の前進側の端面に、前記放電空間に向かうにしたがって所定位置へ傾く傾斜条が形成されていることを特徴とする請求項2〜4の何れかに記載のプラズマ処理装置。   5. The plasma processing apparatus according to claim 2, wherein an inclined line that is inclined toward a predetermined position toward the discharge space is formed on an end surface on the forward side of the opening width variable member. プロセスガスを放電空間に通して基材に当てるプラズマ処理装置において、
互いに並んで一方向に延び、間に前記放電空間を形成する一対の電極と、
前記放電空間の上流端に連なるプロセスガス導入口を有する導入口形成部と、を備え、
前記導入口の前記一方向の所定位置近くの内面には、前記放電空間に向かうにしたがって前記所定位置へ傾く傾斜条が形成されていることを特徴とするプラズマ処理装置。
In a plasma processing apparatus that applies process gas to a substrate through a discharge space,
A pair of electrodes extending in one direction alongside each other and forming the discharge space therebetween;
An inlet forming part having a process gas inlet connected to the upstream end of the discharge space,
The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein an inclined line that is inclined toward the predetermined position toward the discharge space is formed on an inner surface of the introduction port near the predetermined position in the one direction.
前記傾斜条が、前記所定位置の近くの第1位置と、この第1位置より前記所定位置に近い第2位置とにそれぞれ設けられており、前記第2位置の傾斜条が、前記第1位置の傾斜条より大きく傾斜していることを特徴とする請求項5又は6に記載のプラズマ処理装置。   The inclined strips are respectively provided at a first position near the predetermined position and a second position closer to the predetermined position than the first position, and the inclined strip at the second position is the first position. The plasma processing apparatus according to claim 5, wherein the plasma processing apparatus is inclined more greatly than the inclined line.
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JP2013222875A (en) * 2012-04-18 2013-10-28 Tokyo Electron Ltd Deposit removing method and gas processor

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