JP2006148230A - 欠陥検出補正装置、撮像装置および欠陥検出補正方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 差分比較回路423は、注目画素とその同色周辺画素とのすべての信号レベル差がしきい値を超えた場合に、差分検出変数DEFDETを「3」に設定する。また、隣接異色画素とその同色周辺画素との信号レベル差を算出し、信号レベル差がしきい値を超えた隣接異色画素の数が多いほど、緩和変数OCCNTを高く設定する。欠陥状態判定回路424は、差分検出変数DEFDETから緩和変数OCCNTを減じた値を欠陥状態変数DETとする。補正回路143は、欠陥状態変数DETの値が高いほど、同色周辺画素に対する注目画素の出力信号の合成比が小さくなるように、補正フィルタ431a〜431dのいずれかを選択して注目画素の出力信号を補正する。
【選択図】 図3
Description
図13では、例として撮像素子上における5×5画素分の画素配列を示している。ここでは、ベイヤ配列のRGBカラーフィルタアレイを備えた撮像素子を例示する。図13(A)の例では、画素R22,Gr23,Gb32,B33の4画素(2×2画素)に対して同色の光が入射したものとする。また、図13(B)の例では、画素B11,Gb12,B13,Gr21,R22,Gr23,B31,Gb32,B33の9画素(3×3画素)に対して同色の光が入射したものとする。
さらに、本発明の他の目的は、回路規模を小型化しながらも、固体撮像素子による撮像画像を高画質化することが可能な欠陥検出補正方法を提供することである。
図1は、第1の実施の形態に係る撮像装置の構成を示す図である。
図1に示す撮像装置は、光学ブロック11、CCD(Charge Coupled Device)12、TG(Timing Generator)12a、前処理回路13、欠陥検出補正回路14、カメラ処理回路15、エンコーダ/デコーダ16、制御部17、入力部18、グラフィックI/F(インタフェース)19、ディスプレイ19a、および記録媒体20を具備する。これらのうち、光学ブロック11、TG12a、前処理回路13、欠陥検出補正回路14、カメラ処理回路15、エンコーダ/デコーダ16、入力部18、グラフィックI/F19、および記録媒体20は、制御部17に接続されている。
グラフィックI/F19は、制御部17から供給された画像信号から、ディスプレイ19aに表示させるための画像信号を生成して、この信号をディスプレイ19aに供給して画像を表示させる。ディスプレイ19aは、例えばLCD(Liquid Crystal Display)などからなり、撮像中のカメラスルー画像や記録媒体20に記録されたデータを再生した画像などを表示する。
静止画像の撮像前には、CCD12によって受光されて光電変換された信号が、順次前処理回路13に供給される。前処理回路13では、入力信号に対してCDS処理、AGC処理が施され、さらにデジタル信号に変換される。欠陥検出補正回路14は、前処理回路13からのデジタル画像データから欠陥画素を検出し、そのデータを補正する。
図2は、欠陥検出補正回路14の内部構成を示す図である。
検出回路142は、しきい値算出回路421、色情報判定回路422、差分比較回路423、および欠陥状態判定回路424を具備する。また、補正回路143は、補正フィルタ431a〜431d、およびセレクタ432を具備する。
図4は、欠陥検出補正回路14における1画素分の欠陥検出・補正処理の流れを示すフローチャートである。また、図5は、欠陥検出に用いる5×5画素の配列の一例を示す図である。以下、図5の画素配列例を用いた場合を想定して、欠陥検出補正回路14の処理例を図4のステップ番号に沿って具体的に説明する。
・白欠陥の場合
r22−MAX(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)>TH_DTLV ……(1)
・黒欠陥の場合
MIN(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)−r22>TH_DTLV ……(2)
〔ステップS105〕上記判定により、注目画素が欠陥であると判定した場合にはステップS106に進み、欠陥でないと判定した場合にはステップS116に進む。
〔ステップS107〕差分比較回路423は、注目画素に隣接する異色画素と、その同色周辺画素との差分を演算する。図5のように、注目画素が画素R22の場合、隣接異色画素として例えば画素Gb12,Gr21,Gr23,Gb32を選択する。そして、各画素とその同色周辺画素との差分値(gb12−gb10,gb12−gb14,gr21−gr01,gr21−gr41,gr23−gr03,gr23−gr43,gb32−gb30,gb32−gb34)を演算する。
gb12−MAX(gb10,gb14)>TH_DTLV ……(3)
gr21−MAX(gr01,gr41)>TH_DTLV ……(4)
gr23−MAX(gr03,gr43)>TH_DTLV ……(5)
gb32−MAX(gb30,gb34)>TH_DTLV ……(6)
・黒欠陥の場合
MIN(gb10,gb14)−gb12>TH_DTLV ……(7)
MIN(gr01,gr41)−gr21>TH_DTLV ……(8)
MIN(gr03,gr43)−gr23>TH_DTLV ……(9)
MIN(gb30,gb34)−gb32>TH_DTLV ……(10)
〔ステップS109〕欠陥状態判定回路424は、差分検出変数DEFDETおよび緩和変数OCCNTに基づいて、欠陥状態変数DETを計算し、補正回路143に出力する。具体的には、差分検出変数DEFDETが「3」の場合に、この値から緩和変数OCCNTを減算する。隣接異色画素の信号レベルが注目画素と同じように周辺画素より突出している場合には、注目画素が欠陥である可能性が低いと考えられるので、緩和変数OCCNTの値が大きいと欠陥状態変数DETの値が小さくなり、注目画素が欠陥である可能性が低いと判定されることになる。
〔ステップS111〕補正回路143のセレクタ432は、(1,0,1)/2で重み付けされた補正フィルタ431dを選択する。
〔ステップS113〕セレクタ432は、(3,2,3)/8で重み付けされた補正フィルタ431cを選択する。
〔ステップS115〕セレクタ432は、(1,2,1)/4で重み付けされた補正フィルタ431bを選択する。
ここでは、ステップS105で欠陥と判定された場合に、補正フィルタ431aを選択して、注目画素である画素R22の画像データを補正せずにそのまま出力する。これに加えて、同色画素の信号レベルからは注目画素が十分突出していると判定されたものの、ステップS108において、隣接異色画素と同色周辺画素との差分値の組が3つ以上しきい値を超えた場合にも、注目画素が欠陥でない可能性が極めて高いと考えられるので、同様に補正フィルタ431aにより注目画素の画像データをそのまま出力するようにする。
図6(A)に示すように、B画素を注目画素とした場合には、上述したR画素の場合と同じ位置の画素を用いて欠陥検出を行う。すなわち、注目画素を画素B22とした場合、図4のステップS103では、b22−b00,b22−b02,b22−b04,b22−b20,b22−b24,b22−b40,b22−b42,b22−b44の各差分値を演算する。また、ステップS108では、(gr12−gr10,gr12−gr14)(gb21−gb01,gb21−gb41)(gb23−gb03,gb23−gb43)(gr32−gr30,gr32−gr34)の差分値の組を算出する。
図7は、差分比較回路423の第1の回路構成例を示す図である。
ところで、上記第1の実施の形態では、注目画素の同色画素による欠陥検出では2段階のみの欠陥状態を判定していたが、比較対象のしきい値を複数用いることで、3段階以上の欠陥状態を判定できるようにしてもよい。これにより、周辺画素との差分値がしきい値付近で変動するノイズが注目画素に発生した場合、この画素が点滅する減少を防止することが可能となる。
この図11では、注目画素とその同色周辺画素との信号レベルの差分値のフレームごとの変化について示している。この図11のように、注目画素に信号レベルが変化するノイズが発生した場合には、例えば比較対象のしきい値を1つ(例えば図中しきい値TH_DTLV2)としたときには、差分値がしきい値を超えたときは注目画素が周辺画素により補間され、しきい値以下のときは補間されずに元の色が残るため、注目画素が点滅することになる。
・白欠陥の場合
〈条件1−1〉
r22−MAX(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)≦TH_DTLV1 →DEFDETを「0」とする。
〈条件1−2〉
TH_DTLV1<r22−MAX(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)≦TH_DTLV2 →DEFDETを「1」とする。
〈条件1−3〉
TH_DTLV2<r22−MAX(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)≦TH_DTLV3 →DEFDETを「2」とする。
〈条件1−4〉
r22−MAX(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)>TH_DTLV3 →DEFDETを「3」とする。
〈条件2−1〉
MIN(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)−r22≦TH_DTLV1 →DEFDETを「0」とする。
〈条件2−2〉
TH_DTLV1<MIN(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)−r22≦TH_DTLV2 →DEFDETを「1」とする。
〈条件2−3〉
TH_DTLV2<MIN(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)−r22≦TH_DTLV3 →DEFDETを「2」とする。
〈条件2−4〉
MIN(r00,r02,r04,r20,r24,r40,r42,r44)−r22>TH_DTLV3 →DEFDETを「3」とする。
gb12−MAX(gb10,gb14),gr21−MAX(gr01,gr41),gr23−MAX(gr03,gr43),gb32−MAX(gb30,gb34)の差分値の組のそれぞれについて、
〈条件3−1〉
双方の差分値がTH_DTLV1より大きく、TH_DTLV2以下→OCCNTを「1」インクリメントする。
〈条件3−2〉
双方の差分値がTH_DTLV2より大きく、TH_DTLV3以下→OCCNTを「2」インクリメントする。
〈条件3−3〉
双方の差分値がTH_DTLV3より大きい→OCCNTを「4」インクリメントする。
MIN(gb10,gb14)−gb12,MIN(gr01,gr41)−gr21,MIN(gr03,gr43)−gr23,MIN(gb30,gb34)−gb32の差分値の組のそれぞれにおいて、双方の差分値について上記の条件3−1〜3−3を適用する。
〔ステップS209〕欠陥状態判定回路424は、欠陥状態変数DETに差分検出変数DEFDETの値をそのまま設定して、セレクタ432に出力する。
〔ステップS211〕欠陥状態判定回路424は、差分検出変数DEFDETから「1」を減じた値を欠陥状態変数DETに設定し、セレクタ432に出力する。
Claims (11)
- 固体撮像素子における欠陥画素を検出して、その出力信号を補正する欠陥検出補正装置において、
前記固体撮像素子上の注目画素と、前記注目画素の周辺に存在して前記注目画素と同色の色フィルタに対応する複数の同色周辺画素との出力信号の差分値を、所定のしきい値と比較する第1の比較手段と、
前記第1の比較手段による比較結果を基に前記注目画素が欠陥であるか否かを仮判定する第1の欠陥判定手段と、
前記注目画素に隣接して前記注目画素と異なる色の色フィルタに対応する隣接異色画素と、前記隣接異色画素の周辺に存在して前記隣接異色画素と同色の色フィルタに対応する同色周辺画素との出力信号の差分値を、所定のしきい値と比較する第2の比較手段と、
前記第1の欠陥判定手段により前記注目画素が欠陥であると仮判定された場合に、前記第2の比較手段の比較により差分値がしきい値を超えた前記隣接異色画素の数が多いほど、前記注目画素が欠陥である可能性を複数段階で示す欠陥状態変数を低く設定して出力する第2の欠陥判定手段と、
前記第2の欠陥判定手段により設定された前記欠陥状態変数が低いほど、同色周辺画素に対する前記注目画素の出力信号の合成比を大きくして前記注目画素の出力信号を補正する補正手段と、
を有することを特徴とする欠陥検出補正装置。 - 前記第2の欠陥判定手段は、前記隣接異色画素のそれぞれについて、前記隣接異色画素とこれに対するあらかじめ決められた複数の同色周辺画素との出力信号の差分値のすべてがしきい値を超えた場合に、前記欠陥状態変数を一定値だけ低下させることを特徴とする請求項1記載の欠陥検出補正装置。
- 前記注目画素または前記隣接異色画素と、これらに対して水平方向に先行する同色周辺画素との出力信号の差分値を、前記第1または第2の比較手段によりしきい値と比較した比較結果を、後続の同色周辺画素の出力信号を用いた比較処理タイミングに一致するように遅延させて前記第1または第2の欠陥判定手段に入力させる遅延手段をさらに有することを特徴とする請求項1記載の欠陥検出補正装置。
- 前記固体撮像素子において水平方向の同列上に配置された異なる色の色フィルタに対応する画素の出力信号については、前記第1および第2の比較手段の少なくとも一方の内部回路として共通の比較回路を用いてしきい値との比較を行い、前記共通の比較回路の後段に接続する遅延回路の段数に応じて色フィルタの種類ごとに比較結果を振り分け、前記第1または第2の欠陥判定手段に供給することを特徴とする請求項1記載の欠陥検出補正装置。
- 前記第1の比較手段は、複数のしきい値を用いて比較を行い、
前記第1の欠陥判定手段は、前記第1の比較手段において比較対象とされたすべての差分値が、複数のうちのより高いしきい値を超えているほど、前記欠陥状態変数を高く設定することを特徴とする請求項1記載の欠陥検出補正装置。 - 前記第2の比較手段は、複数のしきい値を用いて比較を行い、
前記第2の欠陥判定手段は、前記隣接異色画素のそれぞれについて、前記隣接異色画素とこれに対するあらかじめ決められた複数の同色周辺画素との出力信号の差分値のすべてが、複数のうちのより高いしきい値を超えているほど、前記欠陥状態変数をより大きく低下させることを特徴とする請求項5記載の欠陥検出補正装置。 - 固体撮像素子を用いて画像を撮像する撮像装置において、
前記固体撮像素子上の注目画素と、前記注目画素の周辺に存在して前記注目画素と同色の色フィルタに対応する複数の同色周辺画素との出力信号の差分値を、所定のしきい値と比較する第1の比較手段と、
前記第1の比較手段による比較結果を基に前記注目画素が欠陥であるか否かを仮判定する第1の欠陥判定手段と、
前記注目画素に隣接して前記注目画素と異なる色の色フィルタに対応する隣接異色画素と、前記隣接異色画素の周辺に存在して前記隣接異色画素と同色の色フィルタに対応する同色周辺画素との出力信号の差分値を、所定のしきい値と比較する第2の比較手段と、
前記第1の欠陥判定手段により前記注目画素が欠陥であると仮判定された場合に、前記第2の比較手段の比較により差分値がしきい値を超えた前記隣接異色画素の数が多いほど、前記注目画素が欠陥である可能性を複数段階で示す欠陥状態変数を低く設定して出力する第2の欠陥判定手段と、
前記第2の欠陥判定手段により設定された前記欠陥状態変数が低いほど、同色周辺画素に対する前記注目画素の出力信号の合成比を大きくして前記注目画素の出力信号を補正する補正手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 固体撮像素子における欠陥画素を検出して、その出力信号を補正する欠陥検出補正方法において、
第1の比較手段が、前記固体撮像素子上の注目画素と、前記注目画素の周辺に存在して前記注目画素と同色の色フィルタに対応する複数の同色周辺画素との出力信号の差分値を、所定のしきい値と比較する第1の比較ステップと、
第1の欠陥判定手段が、前記第1の比較ステップによる比較結果を基に前記注目画素が欠陥であるか否かを仮判定する第1の欠陥判定ステップと、
第2の比較手段が、前記注目画素に隣接して前記注目画素と異なる色の色フィルタに対応する隣接異色画素と、前記隣接異色画素の周辺に存在して前記隣接異色画素と同色の色フィルタに対応する同色周辺画素との出力信号の差分値を、所定のしきい値と比較する第2の比較ステップと、
前記第1の欠陥判定ステップにより前記注目画素が欠陥であると仮判定された場合に、第2の欠陥判定手段が、前記第2の比較ステップの比較により差分値がしきい値を超えた前記隣接異色画素の数が多いほど、前記注目画素が欠陥である可能性を複数段階で示す欠陥状態変数を低く設定して出力する第2の欠陥判定ステップと、
補正手段が、前記第2の欠陥判定ステップにより設定された前記欠陥状態変数が低いほど、同色周辺画素に対する前記注目画素の出力信号の合成比を大きくして前記注目画素の出力信号を補正する補正ステップと、
を含むことを特徴とする欠陥検出補正方法。 - 前記第2の欠陥判定ステップでは、前記隣接異色画素のそれぞれについて、前記隣接異色画素とこれに対するあらかじめ決められた複数の同色周辺画素との出力信号の差分値のすべてがしきい値を超えた場合に、前記欠陥状態変数を一定値だけ低下させることを特徴とする請求項8記載の欠陥検出補正方法。
- 前記第1の比較ステップでは、複数のしきい値を用いて比較を行い、
前記第1の欠陥判定ステップでは、前記第1の比較ステップにおいて比較対象とされたすべての差分値が、複数のうちのより高いしきい値を超えているほど、前記欠陥状態変数を高く設定することを特徴とする請求項8記載の欠陥検出補正方法。 - 固体撮像素子における欠陥画素を検出して、その出力信号を補正する処理をコンピュータに実行させる欠陥検出補正プログラムにおいて、
前記固体撮像素子上の注目画素と、前記注目画素の周辺に存在して前記注目画素と同色の色フィルタに対応する複数の同色周辺画素との出力信号の差分値を、所定のしきい値と比較する第1の比較手段、
前記第1の比較手段による比較結果を基に前記注目画素が欠陥であるか否かを仮判定する第1の欠陥判定手段、
前記注目画素に隣接して前記注目画素と異なる色の色フィルタに対応する隣接異色画素と、前記隣接異色画素の周辺に存在して前記隣接異色画素と同色の色フィルタに対応する同色周辺画素との出力信号の差分値を、所定のしきい値と比較する第2の比較手段、
前記第1の欠陥判定手段により前記注目画素が欠陥であると仮判定された場合に、前記第2の比較手段の比較により差分値がしきい値を超えた前記隣接異色画素の数が多いほど、前記注目画素が欠陥である可能性を複数段階で示す欠陥状態変数を低く設定して出力する第2の欠陥判定手段、
前記第2の欠陥判定手段により設定された前記欠陥状態変数が低いほど、同色周辺画素に対する前記注目画素の出力信号の合成比を大きくして前記注目画素の出力信号を補正する補正手段、
として前記コンピュータを機能させることを特徴とする欠陥検出補正プログラム。
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