JP2006125882A - 有機ｅｌパネル検査用スパイク低減回路、及び有機ｅｌパネル検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 有機ＥＬパネルのピクセルに流れる電流の測定において、測定対象である信号成分に影響を与えることなく、スパイク成分を抑制すること。
【解決手段】 有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路は、検査用駆動パターンによって駆動される有機ＥＬパネルの各ピクセルからの信号を入力し、当該信号の上限値及び／又は下限値を制限して信号に含まれるスパイク分を低減し、信号成分はそのまま出力することで、測定対象である信号成分に影響を与えることなくスパイク成分のみを抑制する。有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路の一態様は、非反転増幅器を構成するオペレーションアンプと、オペレーションアンプの一方の入力端と出力端とを接続する帰還抵抗に対して並列接続する１つのダイオード又は順方向を一致させて直列接続した複数のダイオードとを備えた構成とする。
【選択図】図４

Description

本発明は、有機ＥＬディスプレイなどに用いられる有機ＥＬパネルにおいて、有機ＥＬパネルを検査する際の測定信号の処理回路、及び有機ＥＬパネル検査装置に関する。

有機ＥＬパネルは、複数本の走査線と信号線をマトリックス状に配列し、各線の交差部にピクセルを配置している。各ピクセルは、走査線及び信号線によりスイッチ動作するスイッチ回路と、電源ラインから一定の所定電圧の印加を受けて定電流を供給する定電流回路と、定電流回路に接続される有機ＥＬ画素とを備え、スイッチ回路で選択されたピクセルの有機ＥＬ画素は定電流回路からの電流供給によって発光する。

このような有機ＥＬディスプレイを評価するために、検査信号で有機ＥＬパネルを駆動して、パネルの点灯状態を目視、あるいはＣＣＤカメラ等の撮像装置によって観察する方法が知られているが、評価者の個人差や同一人であっても評価基準が変動するなどにより評価結果にばらつきが生じるという問題が指摘されている。

このような課題に対して、有機ディスプレイの画素に流れる電流を測定することで有機ＥＬディスプレイの評価を行う評価装置が提案されている（例えば、特許文献１〜３）。
特開２００２−４００７４号公報 特開平１０−３２１３６７号公報 特開２００３−１７２６０号公報

上記の有機ディスプレイの評価装置では、目視やＣＣＤカメラによる点灯検査の課題であった、ピクセル毎の明るさの定量化や微小な明るさの差異の検出の困難性や、ＣＣＤカメラにおける光量から電気量への信号変化時のロス等を解決することができる。

しかしながら、本出願の発明者は、評価装置によって各ピクセルに流れる電流を測定する際、ピクセルの持つ容量によって測定信号にスパイク電圧が発生する場合がある。

測定装置側では、このスパイク電圧のピーク値に合わせるためには大きなダイナミックレンジが必要となるが、スパイク電圧のピーク値自体は有機ＥＬパネルの検査にとって必ずしも必要ではなく、スパイク電圧のピーク値に合わせたダイナミックレンジを用意することは測定機器のコスト上昇につながるという問題がある。

また、測定装置が備えるダイナミックレンジに収まるように信号レベルを圧縮すると、有機ＥＬパネルの検査に本来必要な信号レベルが小さくなり、実質的なダイナミックレンジが狭められるという問題が生じることになる。

また、通常、測定装置や測定装置への信号取り込みを行うＡ／Ｄ変換回路等が搭載された回路には、許される許容電圧が設定されている。スパイク電圧は波高値が高いため、回路が想定している許容電圧を越える可能性が高い。このようなスパイク電圧が入力された場合には上記回路に損傷が発生し、測定が不能となるという問題がある。

そこで、本発明は上記課題を解決し、有機ＥＬパネルのピクセルに流れる電流の測定において、測定対象である信号成分に影響を与えることなく、スパイク成分を抑制することを目的とする。

上記目的を解決するために、本発明の有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路は、検査用駆動パターンによって駆動される有機ＥＬパネルの各ピクセルからの信号を入力し、当該信号の上限値及び／又は下限値を制限して信号に含まれるスパイク分を低減し、信号成分はそのまま出力することで、測定対象である信号成分に影響を与えることなくスパイク成分のみを抑制する。

有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路の一態様は、非反転増幅器を構成するオペレーションアンプと、オペレーションアンプの一方の入力端と出力端とを接続する帰還抵抗に対して並列接続する１つのダイオード又は順方向を一致させて直列接続した複数のダイオードとを備えた構成とする。

この有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路は、オペレーションアンプの他方の入力端に信号を入力し、ダイオードの順方向電圧により信号の上限値及び／又は下限値を制限する。

信号の上限値及び／又は下限値はダイオードの順方向電圧で定まり、この順方向電圧以内の信号成分については抑制されることなく出力され、順方向電圧を越えるスパイク成分については抑制して、出力信号から除くことができる。

したがって、本発明の有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路では、信号成分とスパイク成分との峻別はダイオードの順方向電圧により行われ、ダイナミックレンジを狭く設定する場合には、オペレーションアンプの帰還抵抗に並列接続するダイオードを一つあるいは、直列接続するダイオードの個数を少なく設定し、ダイナミックレンジを広く設定する場合には、オペレーションアンプの帰還抵抗に並列接続するダイオードの直列接続の個数を多く設定する。

本発明の有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路は、直列接続するダイオードの個数を変えることによってダイナミックレンジを切り替えることができる。このダイナミックレンジを切り替える第１の態様は、直列接続するダイオードの個数を異にするオペレーションアンプを複数備え、第１の切り替え手段によってこれらのオペレーションアンプを切り替える構成とすることができ、また、第２の態様は、オペレーションアンプの帰還抵抗に対して、ダイオードの直列接続の個数を異にするダイオード列を複数用意し、第２の切り替え手段によってこれらのダイオードの直列接続を切り替え可能に並列接続する構成ことができる。

また、有機ＥＬパネル検査装置の形態では、有機ＥＬパネルに検査用駆動パターンを出力する検査用駆動パターン出力部と、有機ＥＬパネルの各ピクセルに流れる電流を測定する電流測定部と、電流測定部で測定した電流値をデータ処理するデータ処理部とを備えた有機ＥＬパネル検査装置において、本発明の有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路を電流測定部の前段に設け、有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路の出力を電流測定部に入力して測定を行う。

本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路によれば、有機ＥＬパネルのピクセルに流れる電流の測定において、信号成分に影響を与えることなくスパイク成分のみを除くことができる。

また、ダイオードの直列接続する個数によってダイナミックレンジを変えることができ、所望のダイナミックレンジを設定することができる。

また、切り替え手段によりダイナミックレンジを切り替える構成とすることもできる。測定電流を測定装置の測定レンジ内に設定することによって、有機ＥＬパネルのピクセルに流れる電流を精度良く測定することができる。

本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路及び有機ＥＬパネル検査装置によれば、有機ＥＬパネルのピクセルに流れる電流の測定において、測定対象である信号成分に影響を与えることなく、スパイク成分を抑制することができる。

以下、本発明の実施の形態について図を参照しながら詳細に説明する。

はじめに、本発明のパネル検査装置の概略構成について図１を用いて説明する。

図１において、パネル検査装置１は、有機ＥＬパネル２のピクセルの欠陥検査を行う。なお、ピクセルの欠陥としては、各ピクセルを駆動するＴＦＴアレイの欠陥や各ピクセルが備える有機ＥＬ素子の欠陥が含まれ、本発明のパネル検査装置はこれらの欠陥により各ピクセルに流れる電流変化に基づいて欠陥判定を行う。

パネル検査装置１は、有機ＥＬディスプレイ２に検査用の駆動パターンを与える検査用駆動パターン出力部（図示していない）を備える駆動回路３と、各ピクセルに流れる電流を測定する測定部６と、測定部６で測定した電流をデータ処理して欠陥判定を行うデータ処理部５を備える。

駆動回路は、この有機ＥＬ回路のための電源（有機ＥＬ回路電源）の他に、有機ＥＬパネルを駆動する駆動信号（駆動電流）あるいは検査信号を生成するための電源を含む。

有機ＥＬパネル２は、例えば、データライン（信号線）及びスキャン信号ライン（走査線）の制御・信号ラインを横方向及び縦方向に格子状に配列し、ラインが交差する位置に有機ＥＬ用電極に接続された有機ＥＬ素子を配置して構成し、当該有機ＥＬ用電極にはスイッチ回路を介して電圧供給線と接続して有機ＥＬ素子に駆動電流や検査信号を供給することで発光動作を行う。このスイッチ回路、及び前記データラインやスキャン信号ラインに接続される駆動回路（水平駆動回路、垂直駆動回路）は有機ＥＬ回路を構成している。この有機ＥＬ回路は有機ＥＬパネル２中に組み込むことができる。

有機ＥＬディスプレイは、有機ＥＬパネル２に垂直駆動回路４及び水平駆動回路５を組み込んで構成される。垂直駆動回路４には有機ＥＬパネル２のスキャン信号ライン２２が接続され、水平駆動回路５には有機ＥＬパネル２のデータライン２１が接続され、データ信号とスキャン信号との組み合わせによって有機ＥＬパネル２のピクセルを選択する。通常、垂直駆動回路４及び水平駆動回路５は、駆動回路３からの駆動信号に基づいて駆動し、水平駆動回路５はシフトレジスタ５ａにより各ピクセルにデータ信号を送る。

有機ＥＬパネル２の各ピクセルには、有機ＥＬ素子２ａ及び有機ＥＬ用電極２ｂが配置される。有機ＥＬ素子２ａのアノードはＴＦＴ２ｄ及び有機ＥＬ用電極２ｂを介してデータライン２１に接続され、有機ＥＬ素子２ａのアノードは有機ＥＬ素子カソードライン２４に接続される。データライン２１には水平駆動回路５からシフトレジスタ５ａを介して一定の高電位が印加され、有機ＥＬ素子カソードライン２４には駆動回路３から一定の低電位（０電位あるいは低電圧）が接続される。

ＴＦＴ２ｄのゲート電極にはＴＦＴ２ｃが接続され、検査信号ライン２３（２３Ｒ，２３Ｇ，２３Ｂ）の表示信号の信号強度で制御されたＴＦＴ２ｃによって駆動され、有機ＥＬ素子２ａに表示信号に応じた駆動電流を流し、有機ＥＬ素子２ａを発光させる。

パネル検査装置１は、駆動回路３から検査用駆動パターン出力部（図示していない）で生成した検査用の駆動パターンを検査信号ライン２３に送り、データライン２１とスキャン信号ライン２２の組み合わせで選択された有機ＥＬパネル２の各ピクセルに順に検査信号を送る。測定部６は、各ピクセルに流れる電流を測定し、得られた測定電流値をデータ処理部１０に送る。データ処理部１０は、測定電流値をデータ処理して欠陥判定等を行う。

なお、検査用駆動パターン出力部（図示していない）は、駆動回路３内において生成する駆動信号を加工して駆動パターンを生成する他、検査用駆動パターン出力部を駆動回路から独立して設けて検査用駆動パターン信号を生成し、有機ＥＬパネル２に供給してもよい。

測定部６は、有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路７、測定レンジ設定部８、及び電流測定部９を備える。

有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路７は、有機ＥＬパネル２からの測定信号を入力し、測定信号からスパイク成分を低減して信号成分を取り出す。

スパイク成分を除去した測定信号は、電流測定部９に送られて電流測定が行われ、さらにデータ処理部１０においてデータ処理を行ってピクセルの欠陥検査等処理を行う。

測定レンジ設定部８は、スパイク成分を除去する際のレンジ幅を調整して、有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路７における測定信号のレンジ範囲が電流測定部９の測定レンジ内となるよう設定を行う。なお、この測定レンジ設定部８は、有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路７と組み合わせて構成しても、あるいは独立に構成してもよい。

また、図１では、各ピクセル流れる電流値を測定部６で測定し、得られた測定電流値をデータ処理部１０に送る構成としているが、データ処理部１０は、電流測定部９あるいは測定部６と共通の回路で構成してもよい。

有機ＥＬパネル２の各ピクセルにおいて何れのピクセルが駆動されるかは、水平駆動回路５からの検査信号ラインや垂直駆動回路４からのスキャン信号ラインの信号によって定まる。一方、電流測定部９は、前記各信号で定められて駆動されたピクセルから流れる電流を測定する。

これらの信号の同期は、図示しない制御部によって制御することができ、有機ＥＬパネル２の各ピクセルを駆動する駆動回路（垂直駆動回路４や水平駆動回路５）の動作と、有機ＥＬパネル２の各ピクセルの電流を測定する電流測定部９やデータ処理部１０の動作との同期をとることによって、得られた測定電流値やデータ処理された判定結果とピクセルとの対応付けを行い、有機ＥＬパネルにおける不良箇所の特定を容易とすることができる。

以下、本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７による信号の処理状態について図２を用いて説明する。

図２（ａ）はピクセルから得られる測定信号を模式的に示している。図２（ａ）において、Ｂは信号成分Ｂを示しＡはスパイク成分Ａを示している。スパイク成分Ａは、有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７の後段に接続される電流測定部９のダイナミックレンジ（Ｒａ１（図（ａ）中の一点鎖線）あるいはダイナミックレンジＲａ２（図（ａ）中の破線）を越え、電流測定部９に損傷を与える可能性がある。

本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７は、信号成分Ｂに影響を与えることなくダイナミックレンジに合わせてスパイク成分のみを低減する。図２（ｂ）はダイナミックレンジがＲａ１の場合であり、信号成分Ｂの波高値をそのままとし、スパイク成分のピークＣのみをダイナミックレンジの上限あるいは下限であるＲａ１に抑制する。また、図２（ｃ）はダイナミックレンジがＲａ２の場合であり、信号成分Ｂの波高値をそのままとし、スパイク成分のピークＤのみをダイナミックレンジの上限あるいは下限であるＲａ２に抑制する。

本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７は、ダイオードの順方向特性を利用してスパイク成分の抑制を行うものであり、ダイオードの順方向特性を利用して０電圧から順方向電圧までの間の電圧幅のみの信号を通し、順方向電圧を越えた電圧分については信号を通さない構成とすることによって、スパイク成分のみを除いて信号成分のみを取り出す。

図３はダイオードの順方向特性によるダイナミックレンジを説明するための図であり、図３（ａ）は２つのダイオードを正方向と逆方向で並列接続した状態における電圧−電流特性を示している。ここでは、信号の正方向と負方向の両方向についてスパイク成分を除くために、２つのダイオードを正方向と逆方向で並列接続している。

ダイオードは順方向特性を備え、所定電圧が印加されるまでは電流は流れず、所定電圧を越えたはじめて電流が流れる。ここで順方向電圧Ｖf1とすると、２つのダイオードを正方向と逆方向で並列接続することによって、レンジ幅Ｒａ１は０Ｖを挟んで順方向電圧Ｖf1の２倍の特性を得ることができる。

このとき、本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７は、このレンジ幅Ｒａ１を越えるスパイク成分を除去して得られる信号成分について、レンジ幅Ｒａ１をダイナミックレンジとして後段の電流測定部９に信号を送る。

また、図３（ｂ）は一方向に直列接続した複数のダイオードを正方向と逆方向で並列接続した状態の電圧−電流特性を示している。直列接続した複数のダイオードの順方向電圧は、各ダイオードの順方向電圧を加えた値となり、各ダイオードの順方向電圧Ｖf1とすると、ｎ個（図３（ｂ）では４個）の直列接続ダイオードを正方向と逆方向で並列接続することによって、レンジ幅Ｒａ２は０Ｖを挟んで順方向電圧Ｖf1のｎ倍（図では４倍）の特性を得ることができる。

このとき、本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７は、このレンジ幅Ｒａ２を越えるスパイク成分を除去して得られる信号成分について、レンジ幅Ｒａ２をダイナミックレンジとして後段の電流測定部９に信号を送る。

図４は、有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７の一構成例を説明するための図である。図４（ａ）において、有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７は、オペレーションアンプＡ１の一方の入力端（負入力端）と出力端との間に帰還抵抗Ｒ１を接続して非反転増幅器を構成し、この帰還抵抗Ｒ１に対してダイオードＤ１とダイオードＤ５とを互いに逆方向で並列接続し、オペレーションアンプＡ１の他方の信号入力端（正入力端）に信号を入力する。帰還抵抗Ｒ１が接続される入力端と接地端との間にはバイアス抵抗Ｒ２を接続する。なお、オペレーションアンプＡ１の信号入力端には、信号増幅用のアンプＡ０を接続することができる。

以下、図５（ａ）を用いて上記図４（ａ）に示す構成の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７の動作例について説明する。

入力信号中に正のスパイク成分が含まれている場合は、正のスパイク成分の上限はダイオードＤ１の順方向電圧Ｖf1に抑えられ、ダイオードＤ１の順方向電圧Ｖf1を越えた分はオペレーションアンプＡ１の出力端子からはＶf1として出力される。また、入力信号中に負のスパイク成分が含まれている場合は、負のスパイク成分の下限はダイオードＤ５の順方向電圧Ｖf5により（−Ｖf5）に抑えられ、ダイオードＤ５の順方向電圧Ｖf5を越えた分はオペレーションアンプＡ１の出力端子からは（−Ｖf5）として出力される。

一方、入力信号がＶf1と−Ｖf5との間の信号レベルである場合には、オペレーションアンプＡ１の出力端末からは、抵抗Ｒ１とＲ２で定める増幅率で増幅された信号が出力される。ここで、Ｖf1と−Ｖf5の信号幅はダイナミックレンジに相当することになる。

なお、ダイオードＤ１とダイオードＤ５の順方向電圧が同じである場合には、上記電圧Ｖf5は電圧Ｖf1とすることができる。

図４（ｂ）はオペレーションアンプに並列接続するダイオードの個数を複数個とする構成例である。オペレーションアンプに並列接続するダイオードの個数によりダイオードを設定することができる。

図４（ｂ）において、有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７は、オペレーションアンプＡ１の一方の入力端（負入力端）と出力端との間に帰還抵抗Ｒ１を接続して非反転増幅器を構成し、この帰還抵抗Ｒ１に対してダイオードＤ１〜ダイオードＤ４を直列接続したダイオード列１１と、ダイオードＤ５〜ダイオードＤ８を直列接続したダイオード列１２とを互いに逆方向で並列接続し、オペレーションアンプＡ１の他方の信号入力端（正入力端）に信号を入力する。帰還抵抗Ｒ１が接続される入力端と接地端との間にはバイアス抵抗Ｒ２を接続する。なお、オペレーションアンプＡ１の信号入力端には、信号増幅用のアンプＡ０を接続することができる。

以下、図５（ｂ）を用いて上記図４（ｂ）に示す構成の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７の動作例について説明する。

入力信号中に正のスパイク成分が含まれている場合は、正のスパイク成分の上限はダイオードＤ１〜ダイオードＤ４の順方向電圧Ｖf1〜Ｖf4を加算した電圧に抑えられる。ここでは、ダイオードＤ１〜ダイオードＤ４の順方向電圧は全てＶf1とすると、ダイオードＤ１〜ダイオードＤ４を直列接続したダイオード列１１により得られる加算電圧は（４×Ｖf1）となる。正のスパイク成分の内で、この加算電圧（４×Ｖf1）を越えた分はオペレーションアンプＡ１の出力端子からは（４×Ｖf1）として出力される。

また、入力信号中に負のスパイク成分が含まれている場合は、負のスパイク成分の下限はダイオードＤ５〜ダイオードＤ８の順方向電圧Ｖf5〜Ｖf8を加算した電圧に抑えられる。ここでは、ダイオードＤ５〜ダイオードＤ８の順方向電圧は全てＶf5とすると、ダイオードＤ５〜ダイオードＤ８を直列接続したダイオード列１２により得られる加算電圧は（４×Ｖf5）となる。負のスパイク成分の内で、この加算電圧（−４×Ｖf5）を越えた分はオペレーションアンプＡ１の出力端子からは（−４×Ｖf5）として出力される。

一方、入力信号が（４×Ｖf1）と−（４×Ｖf5）との間の信号レベルである場合には、オペレーションアンプＡ１の出力端末からは、抵抗Ｒ１とＲ２で定める増幅率で増幅された信号が出力される。ここで、（４×Ｖf1）と−（４×Ｖf5）の信号幅はダイナミックレンジに相当することになる。

なお、ダイオードＤ１〜ダイオードＤ４とダイオードＤ５〜ダイオードＤ８の順方向電圧が同じである場合には、上記電圧Ｖf5は電圧Ｖf1とすることができる。

なお、図４（ｂ）の構成において、直列接続するダイオードの個数は上記例の４個に限らず任意とすることができ、直列接続するダイオードの個数を増やすことで、ダイオードのレンジ幅を拡げることができる。

本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路７は、ダイナミックレンジの幅を切り替える構成とすることができる。

ダイナミックレンジを切り替える一態様は、図４に示したようなダイナミックレンジが異なる複数の回路構成を用意し、これらを切り替え回路で切り替える構成とすることができる。

図６はこの切り替えの態様を説明するための図である。図６（ａ）に示す例は、ダイナミックレンジが異なるスパイク低減回路７ａ〜７ｃに対して、入力信号を切替回路３０で切り替える構成であり、切替回路３０の切り替えは測定レンジ設定手段８で選択し設定することができる。

また、図６（ｂ）に示す例は、ダイナミックレンジが異なるスパイク低減回路７ａ〜７ｃに対して入力して得られる出力を切替回路３１で切り替える構成であり、切替回路３１の切り替えは測定レンジ設定手段８で選択し設定することができる。

図７は、前記図６（ａ）の構成例を説明するための図である。図７において、オペレーションアンプＡ２の帰還抵抗Ｒ１には、それぞれ４個のダイオードを直列接続してなるダイオード列１３，１４を逆方向に並列接続し、オペレーションアンプＡ３の帰還抵抗Ｒ１には、それぞれ２個のダイオードを直列接続してなるダイオード列１５，１６を逆方向に並列接続することで、それぞれダイナミックレンジを異にするスパイク低減回路７ａ，７ｂが構成される。

このスパイク低減回路７ａ，７ｂに対して、切替回路３２を介してオペレーションアンプＡ０で信号増幅した入力信号を切り替えて入力する。切替回路３２によりスパイク低減回路７ａに切り替えた場合には、出力ＯＵＴ１から大きなダイナミックレンジの出力が得られ、スパイク低減回路７ｂに切り替えた場合には、出力ＯＵＴ２から小さなダイナミックレンジの出力が得られる。

また、上記態様の他に、オペレーションアンプの帰還抵抗と並列接続するダイオード列を複数用意して切替回路で切り替え自在とする構成とすることもできる。

図８は切り替えの他の態様を説明するための図である。図８では、２つのダイオード列１７，１８を用意し、切替回路３３，３４で切り替える構成としている。なお、図８において、ダイオード列１７はそれぞれ２つのダイオードの直列接続し、ダイオード列１８はそれぞれ４つのダイオードの直列接続する例を示している。なお、切替回路３３，３４は測定レンジ設定部８によって切り替えることができる。

本発明のパネル検査装置の概略構成を説明するための図である。 本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路による信号の処理状態を説明するための図である。 ダイオードの順方向特性によるダイナミックレンジを説明するための図である。 本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路の一構成例を説明するための図である。 本発明の有機ＥＬパネル用スパイク低減回路の動作例を説明するための図である。 本発明の切り替えの態様を説明するための図である。 本発明の切り替えの構成例を説明するための図である。 本発明の切り替えの他の態様を説明するための図である。

符号の説明

１…有機ＥＬパネル検査装置、２…有機ＥＬパネル、２ａ…有機ＥＬ素子、２ｂ…有機ＥＬ電極、２ｃ，２ｄ…ＴＦＴ、３…駆動回路、４…垂直駆動回路、５…水平駆動回路、５ａ…シフトレジスタ、６…測定部、７…有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路、７ａ〜７ｃ…スパイク低減回路、８…測定レンジ設定部、９…電流測定部、１０…データ処理部、１１〜１８…ダイオード列、２１…データライン、２２…スキャン信号ライン、２３…検査信号ライン、２４…有機ＥＬ素子カソード・電圧ライン、３０〜３４…切替回路、Ａ０，Ａ１，Ａ２，Ａ３…オペレーションアンプ、Ｄ１〜Ｄ８…ダイオード、Ｒ１…帰還抵抗、Ｒ２…抵抗。

Claims (6)

1. 検査用駆動パターンによって駆動される有機ＥＬパネルの各ピクセルからの信号を入力し、当該信号の上限値及び／又は下限値を制限し、前記信号に含まれるスパイク分を低減することを特徴とする、有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路。
2. 非反転増幅器を構成するオペレーションアンプと、
   前記オペレーションアンプの一方の入力端と出力端とを接続する帰還抵抗に対して並列接続する１つのダイオード又は順方向を一致させて直列接続した複数のダイオードとを備え、
   前記オペレーションアンプの他方の入力端に前記信号を入力し、
   前記ダイオードの順方向電圧により前記信号の上限値及び／又は下限値を制限することを特徴とする、請求項１に記載の有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路。
3. 前記直列接続する各ダイオードの接続個数により前記信号の上限値及び／又は下限値を設定することを特徴とする請求項２に記載の有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路。
4. 前記直列接続するダイオードの個数を異にするオペレーションアンプを複数備え、当該オペレーションアンプを切り替える第１の切り替え手段を備えることを特徴とする、請求項２又は３に記載の有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路。
5. 前記直列接続するダイオードの個数を異にする複数のダイオード列を前記帰還抵抗に切り替え可能に並列接続する第２の切り替え手段を備えることを特徴とする、請求項２又は３に記載の有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路。
6. 有機ＥＬパネルに検査用駆動パターンを出力する検査用駆動パターン出力部と、
   前記有機ＥＬパネルの各ピクセルに流れる電流を測定する電流測定部と、
   前記電流測定部で測定した電流値をデータ処理するデータ処理部とを備え、
   前記電流測定部は、前記請求項１乃至５の何れか一つの有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路の出力信号を入力電流として測定を行うことを特徴とする、有機ＥＬパネル検査装置。

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