JP2006120973A - Circuit board and manufacturing method thereof - Google Patents

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JP2006120973A
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Hirobumi Terasono
博文 寺園
Shinya Terao
慎也 寺尾
Yasuhiko Yoshihara
安彦 吉原
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the manufacturing method of a circuit board which hardly generates defects and a circuit board using it which is excellent in heat dissipation property, and has high junction strength and is excellent in junction reliability. <P>SOLUTION: An adhesive 3 which comprises metallic fine particle having an average particle diameter of 1 to 100 nm and at least one kind of active metal selected from Ti, Zr, Hf and Nb is interposed between an insulating substrate 1 and a metallic plate 5. The method has a junction process for joining the insulating substrate 1 and the metallic plate 5 by heating a lamination body to a junction temperature less than a melting point of the metallic fine particle. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体装置等に使用される金属板と絶縁基板とを備えた回路基板の製造方法に係り、特に、金属ナノ粒子を用いて金属板と絶縁基板とを接合した機械的強度に優れ、耐冷熱サイクル特性等の信頼性が高く、低コストで、量産性に優れた回路基板とその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a method of manufacturing a circuit board including a metal plate and an insulating substrate used in a semiconductor device or the like, and in particular, excellent mechanical strength obtained by joining the metal plate and the insulating substrate using metal nanoparticles. The present invention relates to a circuit board having high reliability such as cold-heat cycle characteristics, low cost, and excellent mass productivity, and a manufacturing method thereof.

従来から半導体装置を構成する絶縁基板として、アルミナ(Al)、窒化アルミ(AlN)等に代表されるセラミックス焼結体基板表面に配線層として銅(Cu)回路板等を一体に接合した回路基板が広く使用されている。 Conventionally, as an insulating substrate constituting a semiconductor device, a copper (Cu) circuit board or the like is integrally bonded as a wiring layer to the surface of a ceramic sintered body typified by alumina (Al 2 O 3 ), aluminum nitride (AlN) or the like. Such circuit boards are widely used.

これらの回路基板は、熱伝導性および電気伝導性に優れた銅(Cu)等の金属により回路板を形成しているため、半導体装置から発生する熱を速やかに装置外に放出することが可能であり、該半導体装置の回路動作の遅延や誤動作をなくすことができるという利点を有している。   These circuit boards are made of metal such as copper (Cu), which has excellent thermal and electrical conductivity, so that the heat generated from the semiconductor device can be quickly released outside the device. Therefore, there is an advantage that the delay and malfunction of the circuit operation of the semiconductor device can be eliminated.

このような回路基板の電気回路の形成方法としては、セラミックスからなる絶縁基板と金属からなる回路板を接合することにより行われている。この接合方法としては、従来から、MoやW等の高融点金属を用いる方法や、4A族元素や5A族元素のような活性金属を用いる方法等が知られており、中でも、高強度、高封着性、高信頼性等が得られることから、活性金属法が多用されている。   As a method for forming an electric circuit of such a circuit board, an insulating substrate made of ceramics and a circuit board made of metal are joined. As this joining method, conventionally, a method using a refractory metal such as Mo or W, a method using an active metal such as a group 4A element or a group 5A element, and the like are known. The active metal method is frequently used because sealing properties, high reliability, and the like are obtained.

上記活性金属法は、Ti、Zr、Hf、Nb等の金属元素がセラミックス材料に対して濡れやすく、反応しやすいことを利用した接合法であり、具体的には活性金属を添加したろう材を用いたろう付け法や、絶縁基板と金属部材との間に活性金属の箔や粉体を介在させ、加熱接合する方法(固相拡散接合)等として利用されている。   The active metal method is a joining method that utilizes the fact that metal elements such as Ti, Zr, Hf, and Nb are easily wetted and react with ceramic materials. Specifically, a brazing material to which an active metal is added is used. It is used as a brazing method used, a method (solid phase diffusion bonding) or the like in which an active metal foil or powder is interposed between an insulating substrate and a metal member.

例えば、CuとAgとの共晶ろう材(Ag:72質量%)にTi等の活性金属を添加し、これを絶縁基板と金属部材との間に介在させ、適当な温度で熱処理して接合する方法が提案されている。(特許文献1参照)。
特開平5−201777号公報
For example, an active metal such as Ti is added to a eutectic brazing material (Ag: 72% by mass) of Cu and Ag, this is interposed between an insulating substrate and a metal member, and heat-treated at an appropriate temperature for bonding. A method has been proposed. (See Patent Document 1).
Japanese Patent Laid-Open No. 5-201777

しかしながら、この絶縁基板と金属部材との接合部品には、高接合強度が求められるにもかかわらず、セラミックス材料の熱膨張率は金属材料のそれに比べて小さいため、この熱膨張差に起因してクラックや剥離などの欠陥が発生するという問題があった。   However, despite the high bonding strength required for the joined part between the insulating substrate and the metal member, the thermal expansion coefficient of the ceramic material is smaller than that of the metal material. There was a problem that defects such as cracks and peeling occurred.

これは、熱膨張率が大きく異なるセラミックス材料と金属材料とを接合すると、接合後の冷却過程で熱膨張差に起因する残留応力が生じ、外部応力との相乗によって接合強度が大幅に低下したり、また接合後の冷却過程や冷熱サイクルの付加によって応力の最大点からクラックが発生したりすることにより発生する問題であり、ついにはセラミックス材料の破壊を招く結果となっていた。   This is because, when a ceramic material and a metal material with significantly different coefficients of thermal expansion are joined, residual stress is caused by the difference in thermal expansion during the cooling process after joining, and the joint strength is greatly reduced due to synergy with external stress. Also, it is a problem that occurs when cracks are generated from the maximum point of stress due to the cooling process after joining or the addition of a thermal cycle, which eventually leads to the destruction of the ceramic material.

すなわち、放熱性に優れ、接合強度や信頼性に優れた回路基板は未だ提供されていないのである。   That is, a circuit board excellent in heat dissipation and excellent in bonding strength and reliability has not been provided yet.

従って本発明は、欠陥の発生の少ない回路基板の製造方法およびそれを用いた放熱性に優れ、接合強度が高く、接合信頼性に優れた回路基板を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a circuit board with few occurrences of defects and a circuit board having excellent heat dissipation, high bonding strength, and excellent bonding reliability.

本発明の回路基板の製造方法は、絶縁基板と、金属板とを、平均粒径が1〜100nmである金属微粒子と、Ti、Zr、Hf、Nbから選ばれた少なくとも1種の活性金属とを含有する接合剤を介在させて、積層した積層体を前記金属微粒子の融点未満の接合温度に加熱して、前記絶縁基板と、前記金属板とを接合する接合工程を具備することを特徴とする。   The method for manufacturing a circuit board according to the present invention includes an insulating substrate, a metal plate, metal fine particles having an average particle diameter of 1 to 100 nm, and at least one active metal selected from Ti, Zr, Hf, and Nb. And a bonding step of bonding the insulating substrate and the metal plate by heating the laminated body to a bonding temperature lower than the melting point of the metal fine particles with a bonding agent containing To do.

また、本発明の回路基板の製造方法は前記活性金属が、前記結合剤に含まれる金属成分の2〜7質量%であることが望ましい。   Moreover, as for the manufacturing method of the circuit board of this invention, it is desirable that the said active metal is 2-7 mass% of the metal component contained in the said binder.

また、本発明の回路基板の製造方法は、前記金属微粒子が、鉄、銀、銅、ニッケル、インジウムの群から選ばれる1種以上の元素を含有することが望ましい。   In the method for producing a circuit board according to the present invention, the metal fine particles preferably contain one or more elements selected from the group consisting of iron, silver, copper, nickel, and indium.

また、本発明の回路基板の製造方法は、前記金属微粒子が、金属核粒子の周囲を有機物で被覆してなるものであることが望ましい。   In the method for manufacturing a circuit board according to the present invention, the metal fine particles are preferably formed by coating the periphery of the metal core particles with an organic substance.

また、本発明の回路基板の製造方法は、前記絶縁基板が、窒化アルミニウム、窒化珪素、酸化アルミニウムから選ばれる少なくとも1種のセラミックスであることが望ましい。   In the circuit board manufacturing method of the present invention, it is desirable that the insulating substrate is at least one ceramic selected from aluminum nitride, silicon nitride, and aluminum oxide.

また、本発明の回路基板の製造方法は、前記金属板が、銅、アルミニウム、タングステン、モリブテンおよびそれらの合金の少なくとも1種の金属からなることが望ましい。   In the method for manufacturing a circuit board according to the present invention, it is preferable that the metal plate is made of at least one metal selected from copper, aluminum, tungsten, molybdenum and alloys thereof.

また、本発明の回路基板の製造方法は、前記積層体を、積層方向に加圧しながら加熱して、接合することが望ましい。   In the method for manufacturing a circuit board according to the present invention, it is desirable to heat and bond the laminates while pressing them in the lamination direction.

また、本発明の回路基板の製造方法は、前記積層体を、接合部の面積に対し10〜100g/cmの圧力で加圧することが望ましい。 In the method for manufacturing a circuit board according to the present invention, it is desirable to pressurize the laminate with a pressure of 10 to 100 g / cm 2 with respect to the area of the joint.

また、本発明の回路基板の製造方法は、前記接合を、500℃以下で行うことが望ましい。   In the method for manufacturing a circuit board according to the present invention, it is preferable that the bonding is performed at 500 ° C. or less.

また、本発明の回路基板の製造方法は、前記接合工程を、不活性ガス雰囲気中あるいは真空中で行うことが望ましい。   In the method for manufacturing a circuit board according to the present invention, it is preferable that the bonding step is performed in an inert gas atmosphere or in a vacuum.

本発明の回路基板は、以上説明した回路基板の製造方法によって作製されたことを特徴とする。   The circuit board of the present invention is manufactured by the circuit board manufacturing method described above.

本発明の回路基板の製造方法によれば、接続剤を形成する金属として、表面積が大きく、表面エネルギーの総和が大きい平均粒径が1〜100nmの金属微粒子を用いることで、金属微粒子同士の焼結が起こりやすくなり、平均粒径が100nmを越える通常の金属粉末を用いた場合よりもはるかに低い温度で、絶縁基板と金属板とを接合することができ、両者の間に発生する両者の熱膨張差に起因する応力を格段に低減することができる。   According to the method for producing a circuit board of the present invention, as the metal forming the connecting agent, metal fine particles having a large surface area and a large sum of surface energies and having an average particle diameter of 1 to 100 nm are used. Bonding is likely to occur, and the insulating substrate and the metal plate can be bonded at a much lower temperature than when using a normal metal powder having an average particle size exceeding 100 nm. The stress resulting from the thermal expansion difference can be significantly reduced.

さらに、接合剤にTi、Zr、Hf、Nbの群から選ばれた少なくとも1種の元素を含有させることにより、接合剤を形成する金属成分が絶縁基板に対して濡れやすくなり、さらに、接合温度を低減することができるとともに、絶縁基板と接合剤とが反応しやすくなることにより、絶縁基板と金属板との接合強度を格段に向上させることができる。   Furthermore, by adding at least one element selected from the group of Ti, Zr, Hf, and Nb to the bonding agent, the metal component forming the bonding agent is easily wetted with respect to the insulating substrate. In addition, the bonding strength between the insulating substrate and the metal plate can be remarkably improved because the insulating substrate and the bonding agent easily react with each other.

そして、応力低減の効果と、接合強度向上の効果とが相まって、格段に、絶縁基板と金属板と接続信頼性に優れた回路基板を容易に製造することができる。   The effect of reducing the stress and the effect of improving the bonding strength can be combined, and the circuit board excellent in connection reliability with the insulating substrate and the metal plate can be easily manufactured.

また、本発明の回路基板の製造方法によれば、活性金属の割合を2質量%以上とすることで接合温度を十分に低下させることができる。また、活性金属の割合を7質量%以下とすることで接合層の柔軟性を十分に維持することができる。   Moreover, according to the method for manufacturing a circuit board of the present invention, the bonding temperature can be sufficiently lowered by setting the active metal ratio to 2% by mass or more. Moreover, the softness | flexibility of a joining layer can fully be maintained because the ratio of an active metal shall be 7 mass% or less.

また、本発明の回路基板の製造方法によれば、金属微粒子として、鉄、銀、銅、ニッケル、インジウムの群から選ばれる1種以上の元素を含有する金属を用いることが望ましい。   According to the method for manufacturing a circuit board of the present invention, it is desirable to use a metal containing one or more elements selected from the group of iron, silver, copper, nickel, and indium as the metal fine particles.

例えば、鉄(Fe)を用いた場合、粒子径を50nmまで小さくすると、焼結開始温度は300〜400℃、銀(Ag)なら20nmのとき、60〜80℃、銅(Cu)なら50μmのとき、200℃程度、ニッケル(Ni)なら20nmのとき、200℃以下の温度で焼結することが可能となる(一之瀬昇、他「超微粒子技術入門」(1988.7オーム社)P.26〜29参照)。   For example, when iron (Fe) is used, if the particle size is reduced to 50 nm, the sintering start temperature is 300 to 400 ° C., 20 nm for silver (Ag), 60 to 80 ° C., 50 μm for copper (Cu). When it is about 200 ° C. and nickel (Ni) is 20 nm, it becomes possible to sinter at a temperature of 200 ° C. or less (Noboru Ichinose, et al. “Introduction to Ultrafine Particle Technology” (1988.7 Ohm) P.26. ~ 29).

また、金属核粒子の周囲を有機物で被覆して金属微粒子を形成することにより、金属微粒子を、有機溶媒中に安定して均一に分散させることができ、しかも金属微粒子に高い性状安定性を付与することが可能となる。   In addition, by coating the periphery of the metal core particles with an organic material to form metal fine particles, the metal fine particles can be stably and uniformly dispersed in an organic solvent, and high property stability is imparted to the metal fine particles. It becomes possible to do.

また、絶縁基板として、窒化アルミニウム、窒化珪素、酸化アルミニウムより選ばれる材料からなるセラミックを用いることで、絶縁基板の熱伝導率を高くすることが可能となり、放熱性の高い優れた回路基板を得ることができるとともに、絶縁基板の強度を高くすることが可能となり、絶縁基板の熱応力による破壊を防止することができる。   In addition, by using a ceramic made of a material selected from aluminum nitride, silicon nitride, and aluminum oxide as the insulating substrate, it is possible to increase the thermal conductivity of the insulating substrate and obtain an excellent circuit substrate with high heat dissipation. In addition, it is possible to increase the strength of the insulating substrate and prevent the insulating substrate from being damaged by thermal stress.

また、金属板を、銅、アルミニウム、タングステン、モリブテンおよびそれらの合金の少なくとも1種からなる金属により形成することで、電気抵抗を低くすることが可能となり、金属回路の発熱を抑制できるとともに、熱伝導率を高くすることが可能であるため、高い熱放散性を実現することができる。   Further, by forming the metal plate with a metal made of at least one of copper, aluminum, tungsten, molybdenum and alloys thereof, it becomes possible to reduce the electrical resistance, suppress the heat generation of the metal circuit, Since the conductivity can be increased, high heat dissipation can be realized.

また、接合工程において、接合剤を介して積層された絶縁基板と金属板との積層体を、所定の圧力をかけながら加熱することで、金属板と絶縁基板を強固に接合することが可能となる。   In addition, in the bonding process, it is possible to firmly bond the metal plate and the insulating substrate by heating the laminated body of the insulating substrate and the metal plate laminated via the bonding agent while applying a predetermined pressure. Become.

この加圧圧力を、接合部の面積に対し、10〜100g/cmの範囲にすることにより、金属板が絶縁基板の微細な凹凸に追従し、接合欠陥を防止しつつ、接合厚みを最適に保つことが可能となる。 By making this pressurizing pressure within a range of 10 to 100 g / cm 2 with respect to the area of the joint, the metal plate follows the fine irregularities of the insulating substrate and prevents the joint defect and optimizes the joint thickness. It becomes possible to keep it.

また、前記接合温度を、500℃以下に低温化することにより、絶縁基板と金属板との熱膨張率の差に起因する熱応力の低減や、セラミックスに発生するクラックを防止することができ、機械的強度に優れ信頼性の高い回路基板を得ることができる。   Moreover, by reducing the bonding temperature to 500 ° C. or less, it is possible to reduce thermal stress due to the difference in thermal expansion coefficient between the insulating substrate and the metal plate, and to prevent cracks occurring in the ceramics, A highly reliable circuit board having excellent mechanical strength can be obtained.

また、接合工程を、不活性ガス雰囲気中あるいは真空中で行うことで、金属板および接合剤の酸化を防止することができ、良好な接合を行うことができる。   Further, by performing the bonding step in an inert gas atmosphere or in a vacuum, oxidation of the metal plate and the bonding agent can be prevented, and good bonding can be performed.

以上説明した本発明における回路基板の製造方法によれば、セラミックスからなる絶縁基板と金属からなる金属板を接合する際、両者をより強固に接合することができるとともに、接合温度を格段に低温化することが可能となり、絶縁基板と金属板との熱膨張率の差に起因する熱応力の低減や、絶縁基板に発生するクラックを防止することができ、機械的強度に優れ信頼性の高い回路基板を得ることができる。   According to the circuit board manufacturing method of the present invention described above, when an insulating substrate made of ceramics and a metal plate made of metal can be joined, both can be joined more firmly and the joint temperature can be significantly reduced. It is possible to reduce the thermal stress caused by the difference in thermal expansion coefficient between the insulating substrate and the metal plate, and to prevent cracks occurring in the insulating substrate, and it has excellent mechanical strength and high reliability. A substrate can be obtained.

すなわち、本発明における回路基板の製造方法によれば、安価で、放熱性に優れ、且つ機械的強度や信頼性に優れる回路基板を得ることができる。   That is, according to the circuit board manufacturing method of the present invention, it is possible to obtain a circuit board that is inexpensive, excellent in heat dissipation, and excellent in mechanical strength and reliability.

本発明の回路基板の製造方法は、図1(a)に示すようなセラミックからなる絶縁基板1の表面に、図1(b)に示すように接合剤3を形成し、図1(c)に示すように、接合剤3の上に金属板5を配設して、積層体7を作製し、所定の温度で積層体7を処理することで図1(d)に示すような接合剤3によって、絶縁基板1と金属板5とが強固に接合された回路基板9を製造する方法に関するものである。   In the method of manufacturing a circuit board according to the present invention, a bonding agent 3 is formed on the surface of an insulating substrate 1 made of ceramic as shown in FIG. 1A as shown in FIG. As shown in FIG. 1, the metal plate 5 is disposed on the bonding agent 3 to produce a laminated body 7, and the laminated body 7 is processed at a predetermined temperature, whereby the bonding agent as shown in FIG. 3, the method of manufacturing the circuit board 9 in which the insulating substrate 1 and the metal plate 5 are firmly bonded to each other.

以下に、本発明の回路基板の製造方法について、詳細に説明する。   Below, the manufacturing method of the circuit board of this invention is demonstrated in detail.

本発明の回路基板9の製造方法によれば、絶縁基板1と金属板5とを接合する接合剤3における金属成分として、平均粒径が1〜100nmである金属微粒子と、Ti、Zr、Hf、Nbから選ばれた少なくとも1種の活性金属を含有することが重要である。   According to the manufacturing method of the circuit board 9 of the present invention, as the metal component in the bonding agent 3 for bonding the insulating substrate 1 and the metal plate 5, fine metal particles having an average particle diameter of 1 to 100 nm, Ti, Zr, Hf It is important to contain at least one active metal selected from Nb.

すなわち、金属微粒子を用いることにより、絶縁基板1と金属板5との接合温度を下げることができるのに加えて、さらに、Ti、Zr、Hf、Nbから選ばれた少なくとも1種の活性金属を加えることで、接合剤3と絶縁基板1との濡れ性、反応性が改善されるため、さらに、接合温度を下げることができ、絶縁基板1と金属板5との熱膨張係数差に基づく応力を格段に低減することができるとともに、絶縁基板1と金属板5との接合強度も向上させることができるため、これらの効果が相まって、格段に、絶縁基板1と金属板5との接続信頼性に優れた回路基板9を容易に作製することができるのである。   That is, by using metal fine particles, the bonding temperature between the insulating substrate 1 and the metal plate 5 can be lowered, and at least one active metal selected from Ti, Zr, Hf, and Nb is further added. By adding, the wettability and reactivity between the bonding agent 3 and the insulating substrate 1 are improved, so that the bonding temperature can be further lowered, and the stress based on the difference in thermal expansion coefficient between the insulating substrate 1 and the metal plate 5 Can be significantly reduced, and the bonding strength between the insulating substrate 1 and the metal plate 5 can be improved. Therefore, the combined reliability of the insulating substrate 1 and the metal plate 5 is combined. Therefore, it is possible to easily produce the circuit board 9 excellent in the above.

金属微粒子の平均粒径は、前述のとおり、1〜100nmとすることが必要であるが、さらに、10nm以上、70nm以下、特に、20nm以上、50nm以下とすることが望ましい。   As described above, the average particle diameter of the metal fine particles needs to be 1 to 100 nm, but is more preferably 10 nm or more and 70 nm or less, and particularly preferably 20 nm or more and 50 nm or less.

活性金属の添加量は、接合温度の低下と十分な接合強度を得るために、2質量%以上とすることが好ましく、さらに4質量%以上とすることが望ましい。   The addition amount of the active metal is preferably 2% by mass or more, and more preferably 4% by mass or more in order to obtain a reduction in bonding temperature and sufficient bonding strength.

一方、活性金属を7質量%を越えて添加した場合には、添加接合強度は増大するものの、接合層が固くなり、冷熱サイクルが付加された際にクラックの発生原因となる恐れがあるため、活性金属の添加量は7質量%以下とすることが望ましい。さらに、5質量%以下とすることが望ましい。   On the other hand, when the active metal is added in excess of 7% by mass, the added bonding strength is increased, but the bonding layer becomes hard and may cause cracks when a thermal cycle is added. The addition amount of the active metal is desirably 7% by mass or less. Furthermore, it is desirable to set it as 5 mass% or less.

そして、以上説明した金属微粒子は、取り扱い性を向上させるという観点から、金属核微粒子の表面に有機物を被覆させて形成することが望ましい。これにより、凝集しやすい金属微粒子を接合剤3中に容易に分散させることができる。また、接合剤3に溶剤やバインダーを添加する場合でもその量を少なくすることができ、接合工程よりも前の工程で、溶剤やバインダーを容易に除去することができる。   The metal fine particles described above are preferably formed by coating the surface of the metal core fine particles with an organic substance from the viewpoint of improving the handleability. Thereby, the metal fine particles which are easily aggregated can be easily dispersed in the bonding agent 3. Further, even when a solvent or a binder is added to the bonding agent 3, the amount can be reduced, and the solvent or the binder can be easily removed in a step prior to the bonding step.

以下に、本発明の回路基板9の製造方法で用いる接合剤3の構成材料について、さらに詳細に説明する。   Below, the constituent material of the bonding agent 3 used in the method for manufacturing the circuit board 9 of the present invention will be described in more detail.

なお、以下に説明する形態では、より具体的に説明するために、金属微粒子として、銀からなる金属微粒子と、銅からなる金属微粒子を混合して使用した例を示しているが、例えば、金、パラジウム等の他の金属からなる金属微粒子を単体あるいは複合して使用しても良いことはいうまでもない。   In the form described below, in order to explain more specifically, an example in which metal fine particles made of silver and metal fine particles made of copper are mixed and used as the metal fine particles is shown. Needless to say, metal fine particles made of other metals such as palladium may be used alone or in combination.

本発明に使用される接合剤3に用いられる金属微粒子であるAg金属微粒子およびCu金属微粒子は、例えば約5nm程度の極小クラスタ状の銀単体および銅単体からなる金属核(銀および銅粒子)の周囲を、例えばアルキル鎖殻からなる有機化合物で結合・被覆した構造を持つ。   Ag metal fine particles and Cu metal fine particles, which are metal fine particles used in the bonding agent 3 used in the present invention, are composed of, for example, a metal nucleus (silver and copper particles) composed of simple silver and copper simple particles of about 5 nm. It has a structure in which the periphery is bound and covered with an organic compound made of, for example, an alkyl chain shell.

このような、周囲をアルキル鎖殻(有機化合物)で結合・被覆した銀およびCu金属微粒子を、例えばミリスチン酸、ステアリン酸またはオレイン酸を水酸化ナトリウムによって鹸化し、しかる後、硝酸銀と反応させることによって作製した直鎖型脂肪酸銀塩(例えば、アルキル鎖の炭素数=14又は18)を、250℃程度の窒素雰囲気で4時間加熱し、精製することによって安価に製造することができる。   Such silver and Cu fine metal particles bound and covered with alkyl chain shells (organic compounds) are saponified with, for example, myristic acid, stearic acid or oleic acid with sodium hydroxide, and then reacted with silver nitrate. Can be produced at low cost by heating and purifying the linear fatty acid silver salt (for example, the carbon number of the alkyl chain = 14 or 18) in a nitrogen atmosphere at about 250 ° C. for 4 hours.

また、他の製造方法の1つとして、例えばナフテン系高沸点溶媒(非水系溶媒)中で且つオレイン酸(イオン性有機化合物)の存在下で硝酸銀(金属塩)をその分解還元温度以下で且つイオン性有機化合物の分解温度以下の240℃程度で3時間加熱することによって、イオン性有機化合物で周囲を被覆したAg金属微粒子を製造するようにしても良い。   In addition, as another production method, for example, silver nitrate (metal salt) is reduced below its decomposition reduction temperature in a naphthenic high boiling point solvent (non-aqueous solvent) and in the presence of oleic acid (ionic organic compound). You may make it manufacture Ag metal microparticles | fine-particles which coat | covered the circumference | surroundings with an ionic organic compound by heating at about 240 degreeC below the decomposition temperature of an ionic organic compound for 3 hours.

このようにして製造したAg金属微粒子およびCu金属微粒子は、その周囲をアルキル鎖殻またはイオン性有機化合物で被覆しているため、例えばシクロヘキサン等の有機溶媒に溶解させると、互いに凝集することなく、安定した状態で溶媒中に均一に混ざり合い、透明な状態、即ち可溶化状態となる。   Since the Ag metal fine particles and Cu metal fine particles produced in this way are covered with an alkyl chain shell or an ionic organic compound, when they are dissolved in an organic solvent such as cyclohexane, they do not aggregate with each other. In a stable state, it is uniformly mixed in the solvent and becomes transparent, that is, a solubilized state.

このようにして作製したAg金属微粒子およびCu金属微粒子を、CuとAgとの共晶組成(Ag:72質量%、Cu:28質量%)で混合して、複合金属微粒子を作製するとさらに低温で接合することが可能となる。混合比率はこれに限定されるものでなく、AgとCuの共晶組成、もしくはその近傍の組成を主としたものが望ましい。   When the Ag metal fine particles and Cu metal fine particles thus prepared are mixed with a eutectic composition of Cu and Ag (Ag: 72% by mass, Cu: 28% by mass) to produce composite metal fine particles at a lower temperature. It becomes possible to join. The mixing ratio is not limited to this, and it is desirable that the mixing ratio is mainly an eutectic composition of Ag and Cu or a composition in the vicinity thereof.

さらに、この複合金属微粒子にTi、Zr、Hf、Nbから選ばれた少なくとも1種の活性金属を適量配合する。上記活性金属は、熱処理温度(接合温度)で活性化し、絶縁基板と反応して窒化物となり、接合強度の向上に寄与すると共に、接合層内に均一に分布するものである。   Further, an appropriate amount of at least one active metal selected from Ti, Zr, Hf, and Nb is blended with the composite metal fine particles. The active metal is activated at a heat treatment temperature (bonding temperature), reacts with the insulating substrate to become a nitride, contributes to improving the bonding strength, and is uniformly distributed in the bonding layer.

この活性金属は、例えば、金属粉末の形態で接合剤に添加することができる。この活性金属粉末の平均粒径は、金属微粒子ほど、微粒である必要はなく、1〜10μm程度の粉末、特に、1〜3μmの粉末が好適に用いられる。また、接合温度をさらに低下させる目的のため、1〜100nmの微粒子を用いることが望ましい。   This active metal can be added to the bonding agent, for example, in the form of a metal powder. The average particle size of the active metal powder does not need to be as fine as the metal fine particles, and a powder of about 1 to 10 μm, particularly a powder of 1 to 3 μm is preferably used. For the purpose of further reducing the bonding temperature, it is desirable to use fine particles of 1 to 100 nm.

このようにして作製した金属微粒子と活性金属とを、有機溶剤、液状高分子材料、水、又はアルコール等のうちの1つ又は複数の液体からなる溶媒に混入・分散し、液状又はペースト状の接合剤を作製する。ここで、金属微粒子は、その金属核の寸法が約5nm程度と極小クラスタ状をなしており、互いに分散性良く媒体に均一に混じりあった状態を保つことができる。   The metal fine particles and the active metal thus produced are mixed and dispersed in a solvent composed of one or a plurality of liquids such as an organic solvent, a liquid polymer material, water, alcohol, etc. A bonding agent is prepared. Here, the metal fine particle has a metal cluster size of about 5 nm and is in a very small cluster shape, and can maintain a state of being uniformly mixed in the medium with good dispersibility.

ここで、金属微粒子を、金属部分(金属核と骨材の両者を含む、以下同じ)の全液体に対する重量比率が好ましくは1%以上、85%以下となるように溶媒に分散させ、これに分散剤やゲル化剤を適宜添加して液状化することで、低温で焼結結合可能な金属微粒子を均一に分散させた所望の流動性を有する液状の接合剤を得ることができる。   Here, the metal fine particles are dispersed in a solvent so that the weight ratio of the metal portion (including both the metal core and aggregate, the same shall apply hereinafter) to the total liquid is preferably 1% or more and 85% or less, and By appropriately adding a dispersant or a gelling agent and liquefying, a liquid bonding agent having desired fluidity in which metal fine particles that can be sintered and bonded at a low temperature are uniformly dispersed can be obtained.

この際、金属微粒子を接合素材とする接合剤中の金属部分の全体に対する重量比率が85%を超えると、液状の接合剤としての流動性が著しく低下するので、微細な隙間を液状の接合剤で充填するに際し、充填の不完全な部分を生じやすくなる。   At this time, if the weight ratio with respect to the whole metal portion in the bonding agent using the metal fine particles as the bonding material exceeds 85%, the fluidity as the liquid bonding agent is remarkably lowered. When filling with, incomplete filling portion is likely to occur.

さらに、接合剤中の金属部分の全体に対する重量比率が1%以下では、接合剤に含まれる有機成分が多過ぎる結果、焼成時の脱ガスが不十分となって、接合部に欠陥を生じやすいので本比率を上記範囲に限定している。   Furthermore, when the weight ratio with respect to the whole metal part in the bonding agent is 1% or less, as a result of excessive organic components contained in the bonding agent, degassing at the time of firing becomes insufficient, and defects are likely to occur in the bonding portion. Therefore, this ratio is limited to the above range.

このようにして得られる接合剤3である金属微粒子と活性金属を含有するペーストを、図1(b)に示すようにスクリーン印刷法などにより絶縁基板1の表面に形成した後、接合工程により、図1(d)のような本発明の回路基板9を作製することができる。   The paste containing the metal fine particles and the active metal, which is the bonding agent 3 obtained in this way, is formed on the surface of the insulating substrate 1 by a screen printing method or the like as shown in FIG. The circuit board 9 of the present invention as shown in FIG.

この回路基板9に用いる絶縁基板1は、窒化アルミニウム、窒化珪素、酸化アルミニウムより選ばれる材料からなるセラミックであることが好ましい。   The insulating substrate 1 used for the circuit board 9 is preferably a ceramic made of a material selected from aluminum nitride, silicon nitride, and aluminum oxide.

このように、絶縁基板1を窒化アルミニウム、窒化珪素、酸化アルミニウムより選ばれる材料からなるセラミックとすることで、絶縁基板1の熱伝導率を高くすることが可能となり、放熱性の高い優れた回路基板9を得ることができるとともに、絶縁基板1の強度を高くすることが可能となり、絶縁基板1の熱応力による破壊を防止することができる。   Thus, by making the insulating substrate 1 a ceramic made of a material selected from aluminum nitride, silicon nitride, and aluminum oxide, it is possible to increase the thermal conductivity of the insulating substrate 1, and an excellent circuit with high heat dissipation. The substrate 9 can be obtained, the strength of the insulating substrate 1 can be increased, and the insulating substrate 1 can be prevented from being damaged by thermal stress.

この際、このような絶縁基板1の材質としては、例えば、高熱伝導性で冷却効率を高くできる点で窒化アルミニウムを用いるのが好ましく、高強度である点で、窒化珪素を用いるのが好ましく、高強度で安価である点で、酸化アルミニウムを用いるのが好ましい。   At this time, as the material of the insulating substrate 1, for example, it is preferable to use aluminum nitride in terms of high thermal conductivity and high cooling efficiency, and in terms of high strength, it is preferable to use silicon nitride. Aluminum oxide is preferably used in terms of high strength and low cost.

特に、酸化アルミニウムを用いる場合には、窒化アルミニウム、窒化珪素よりも熱伝導率が低くなる傾向にあるが、焼結助剤の量を10質量%以下、特に7.5質量%以下とすることで熱伝導率を向上させることができる。また、酸化アルミニウムでは、熱伝導率を低下させる非晶質相の含有率が低いのが好ましく、7質量%以下、さらに5質量%以下とするのが好ましい。   In particular, when aluminum oxide is used, the thermal conductivity tends to be lower than that of aluminum nitride or silicon nitride, but the amount of sintering aid should be 10% by mass or less, particularly 7.5% by mass or less. The thermal conductivity can be improved. Moreover, in aluminum oxide, it is preferable that the content rate of the amorphous phase which reduces heat conductivity is low, and it is preferable to set it as 7 mass% or less, and also 5 mass% or less.

この際、回路基板9の放熱性を高めるため、絶縁基板1は熱伝導率が10W/(m・k)以上、より好ましくは20W/(m・k)以上であるのがよい。   At this time, in order to improve the heat dissipation of the circuit board 9, the insulating substrate 1 should have a thermal conductivity of 10 W / (m · k) or more, more preferably 20 W / (m · k) or more.

また、金属板5を構成する金属は、銅、アルミニウム、タングステン、モリブテンおよびそれらの合金の少なくとも1種からなることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the metal which comprises the metal plate 5 consists of at least 1 sort (s) of copper, aluminum, tungsten, molybdenum, and those alloys.

特に、熱伝導性、原料コストおよび導電性の点から、銅を主成分とするのがより好ましい。また、銅と他の金属や金属酸化物との合金又は混合体を用いてもよいが、熱伝導率の点から銅の量は90モル%以上であるのがよい。   In particular, it is more preferable that copper is a main component from the viewpoint of thermal conductivity, raw material cost, and conductivity. Moreover, although an alloy or a mixture of copper and other metals or metal oxides may be used, the amount of copper is preferably 90 mol% or more from the viewpoint of thermal conductivity.

また、銅と、タングステンあるいはモリブテンからなる合金とすることで、20〜300℃における熱膨張係数を6.5〜13.0×10−6/℃とすることができるが、タングステンあるいはモリブテンの添加量を50%以上にすると、熱伝導率が200W/(m・k)以下に小さくなることより、添加量は50%以下、好ましくは30%以下であるのが良い。 Further, by using an alloy made of copper and tungsten or molybdenum, the thermal expansion coefficient at 20 to 300 ° C. can be made 6.5 to 13.0 × 10 −6 / ° C., but the addition of tungsten or molybdenum When the amount is 50% or more, the thermal conductivity is reduced to 200 W / (m · k) or less, so the addition amount is 50% or less, preferably 30% or less.

これらの、接合剤3を印刷法により形成した絶縁基板1と、金属板5とを接合する際は、金属板5を所定の位置に保持した状態で所定の加圧下で加熱・焼成することによって、接合することで両者をより強固に接合することが可能となる。   When the insulating substrate 1 formed by printing the bonding agent 3 and the metal plate 5 are bonded, the metal plate 5 is heated and baked under a predetermined pressure while the metal plate 5 is held at a predetermined position. It becomes possible to join both more firmly by joining.

この際、加圧圧力は、接合部の面積に対し10〜100g/cmの範囲であることが望ましい。より好ましくは、30〜70g/cmの範囲であるのが好ましい。 At this time, the pressurizing pressure is preferably in the range of 10 to 100 g / cm 2 with respect to the area of the joint. More preferably, it is in the range of 30 to 70 g / cm 2 .

これは、加圧圧力が小さい場合、両者の密着性が低下し、両者の間に微細な凹凸による空隙が存在することによる欠陥を生じる。また、加圧圧力があまり大きい場合、接合材が溶融した際、両者の隙間の外部に排出されてしまうことにより、接合層が極端に薄くなってしまう。これより、接合時の加圧圧力は、10〜100g/cmの範囲であることが望ましい。 This is because when the pressurizing pressure is low, the adhesiveness between the two decreases, and a defect due to the presence of fine voids between the two is generated. Moreover, when the pressurizing pressure is too large, when the bonding material is melted, the bonding layer is extremely thin by being discharged outside the gap between the two. From this, it is desirable that the pressure applied at the time of bonding is in the range of 10 to 100 g / cm 2 .

また、接合温度が、500℃以下とすることが望ましく、特に、400℃以下、さらに300℃以下とすることが好ましい。   The bonding temperature is preferably 500 ° C. or lower, particularly 400 ° C. or lower, and more preferably 300 ° C. or lower.

このように、接合温度を低温化することにより、絶縁基板1と金属板5との熱膨張率の差に起因する熱応力の低減や、セラミックスに発生するクラックを防止することができ、機械的強度に優れ信頼性の高い回路基板9を得ることができる。   Thus, by lowering the bonding temperature, it is possible to reduce thermal stress due to the difference in thermal expansion coefficient between the insulating substrate 1 and the metal plate 5, and to prevent cracks generated in the ceramic. The circuit board 9 having excellent strength and high reliability can be obtained.

また、接合時の接合雰囲気は、窒素、アルゴンなどを含む不活性ガス雰囲気中、あるいは10−5torr以下の真空中であることが望ましい。 Further, it is desirable that the bonding atmosphere at the time of bonding is in an inert gas atmosphere containing nitrogen, argon or the like, or in a vacuum of 10 −5 torr or less.

これにより、接合雰囲気中の酸素を低減することができ、金属板5や接合剤3の酸化を防止することができ、良好な接合状態を保つことが可能となる。   As a result, oxygen in the bonding atmosphere can be reduced, oxidation of the metal plate 5 and the bonding agent 3 can be prevented, and a good bonding state can be maintained.

なお、以上説明した例では、絶縁基板1の一方の主面にのみ金属板5を接合する例について記載したが、絶縁基板1の両主面に金属板5を形成してもよいことはいうまでもない。   In the example described above, the example in which the metal plate 5 is bonded only to one main surface of the insulating substrate 1 has been described. However, the metal plate 5 may be formed on both main surfaces of the insulating substrate 1. Not too long.

また、絶縁基板1の内部に配線層を形成してもよい。   A wiring layer may be formed inside the insulating substrate 1.

また、金属板5には、配線回路としての機能を付与できることは勿論であり、放熱板としての機能を有することはいうまでもない。   Needless to say, the metal plate 5 can have a function as a wiring circuit and a function as a heat sink.

まず、表1に示す平均粒径のAg金属微粒子とCu金属微粒子とを、Ag:72質量%、Cu28質量%の割合で配合し、さらに、平均粒径1.8μmの表1に示す活性金属粉末を表1に示す量、内部添加した金属成分100質量%に対して、アクリル系のバインダーを23質量%、溶剤としてテルピネオールを74質量%添加して、接合剤となる接合ペーストを作製した。   First, Ag metal fine particles and Cu metal fine particles having an average particle size shown in Table 1 are blended in a ratio of Ag: 72% by mass and Cu 28% by mass, and the active metal shown in Table 1 having an average particle size of 1.8 μm. An amount of the powder shown in Table 1 and 100% by mass of the internally added metal component was added with 23% by mass of an acrylic binder and 74% by mass of terpineol as a solvent to prepare a bonding paste as a bonding agent.

次に、外形寸法40mm角、厚み0.3mmの窒化アルミニウム基板の両面に、接合ペーストをスクリーン印刷法により30μm厚みになるように塗布した後、この窒化アルミニウム基板の両面に銅からなる長さ40mm、幅10mm、厚み0.5mmの金属板を当接させ、銅板の上から表1に示す荷重を印加し、この積層体を真空中で接合した。   Next, a bonding paste was applied to both sides of an aluminum nitride substrate having an outer dimension of 40 mm square and a thickness of 0.3 mm so as to have a thickness of 30 μm by screen printing, and then a length of 40 mm made of copper on both sides of the aluminum nitride substrate. Then, a metal plate having a width of 10 mm and a thickness of 0.5 mm was brought into contact, a load shown in Table 1 was applied from above the copper plate, and the laminate was bonded in a vacuum.

次に、得られた積層体の銅板の端面を基板に対して垂直上方に引張り、銅板が剥離した時の荷重を測定し、剥離強度とした。   Next, the end surface of the copper plate of the obtained laminate was pulled vertically upward with respect to the substrate, and the load when the copper plate peeled was measured to obtain the peel strength.

また、得られた積層体を、気相中−40〜125℃の温度サイクル試験に投入し、界面の剥離状況を目視確認し、クラックが発生するまでのサイクル数を測定した。   Moreover, the obtained laminated body was thrown into the temperature cycle test of -40-125 degreeC in the gaseous phase, the peeling condition of the interface was confirmed visually, and the cycle number until a crack generate | occur | produced was measured.

以上の金属微粒子の粒径、積層荷重条件、接合温度条件、測定結果を、表1に示す。

Figure 2006120973
Table 1 shows the particle size, stacking load condition, bonding temperature condition, and measurement result of the above metal fine particles.
Figure 2006120973

表1から、本発明の範囲外である金属粒子の平均粒径が100nmを超える試料No.1では、400℃の接合温度では、十分な接合力が得られなかった。また、本発明の範囲外である活性金属を用いていない試料No.2では、平均粒径が50nmの金属微粒子を用いているが、試料No.1と同様に400℃の接合温度では、十分な接合力が得られなかった。また、本発明の範囲外である活性金属を用いてはいるものの、金属粒子の平均粒径が100nmを超える試料No.3でも試料No.1、2と同様に400℃の接合温度では、十分な接合力が得られなかった。   From Table 1, the sample Nos. With the average particle size of the metal particles exceeding the range of the present invention exceeding 100 nm are shown. In No. 1, sufficient bonding force could not be obtained at a bonding temperature of 400 ° C. Sample No. which does not use an active metal that is outside the scope of the present invention. 2 uses metal fine particles having an average particle diameter of 50 nm. As in the case of 1, a sufficient bonding force could not be obtained at a bonding temperature of 400 ° C. Moreover, although the active metal which is outside the scope of the present invention is used, Sample No. 3 also sample No. Similar to 1 and 2, a sufficient bonding force could not be obtained at a bonding temperature of 400 ° C.

一方、本発明の金属微粒子と活性金属とを用いた試料No.4〜17では、格段に高い接合力が得られ、信頼性に優れた回路基板が得られた。   On the other hand, sample No. using the metal fine particles and the active metal of the present invention. In 4-17, the remarkably high joining force was obtained and the circuit board excellent in reliability was obtained.

本発明の回路基板の製造方法を示す工程図である。It is process drawing which shows the manufacturing method of the circuit board of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・絶縁基板
3・・・接合剤
5・・・金属板
7・・・積層体
9・・・回路基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Insulating substrate 3 ... Bonding agent 5 ... Metal plate 7 ... Laminated body 9 ... Circuit board

Claims (11)

絶縁基板と、金属板とを、平均粒径が1〜100nmである金属微粒子と、Ti、Zr、Hf、Nbから選ばれた少なくとも1種の活性金属とを含有する接合剤を介在させて、積層した積層体を前記金属微粒子の融点未満の接合温度に加熱して、前記絶縁基板と、前記金属板とを接合する接合工程を具備することを特徴とする回路基板の製造方法。 An insulating substrate and a metal plate are interposed with a bonding agent containing metal fine particles having an average particle diameter of 1 to 100 nm and at least one active metal selected from Ti, Zr, Hf, and Nb, A method for producing a circuit board, comprising: a step of joining the insulating substrate and the metal plate by heating the laminated body to a joining temperature lower than the melting point of the metal fine particles. 前記活性金属が、前記結合剤に含まれる金属成分の2〜7質量%であることを特徴とする請求項1に記載の回路基板の製造方法。 The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the active metal is 2 to 7 mass% of a metal component contained in the binder. 前記金属微粒子が、鉄、銀、銅、ニッケル、インジウムの群から選ばれる1種以上の元素を含有することを特徴とする請求項1又は2に記載の回路基板の製造方法。 The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the metal fine particles contain one or more elements selected from the group consisting of iron, silver, copper, nickel, and indium. 前記金属微粒子が、金属核粒子の周囲を有機物で被覆してなるものであることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれかに記載の回路基板の製造方法。 4. The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the metal fine particles are formed by coating the periphery of the metal core particles with an organic substance. 前記絶縁基板が、窒化アルミニウム、窒化珪素、酸化アルミニウムから選ばれる少なくとも1種のセラミックスであることを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれかに記載の回路基板の製造方法。 5. The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the insulating substrate is at least one ceramic selected from aluminum nitride, silicon nitride, and aluminum oxide. 前記金属板が、銅、アルミニウム、タングステン、モリブテンおよびそれらの合金の少なくとも1種の金属からなることを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれかに記載の回路基板の製造方法。 6. The method of manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the metal plate is made of at least one metal selected from copper, aluminum, tungsten, molybdenum, and alloys thereof. 前記積層体を、積層方向に加圧しながら加熱して、接合することを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれかに記載の回路基板の製造方法。 The method of manufacturing a circuit board according to any one of claims 1 to 6, wherein the laminate is heated while being pressed in a laminating direction to be joined. 前記積層体を、接合部の面積に対し10〜100g/cmの圧力で加圧することを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれかに記載の回路基板の製造方法。 The method of manufacturing a circuit board according to any one of claims 1 to 7, wherein the laminated body is pressurized at a pressure of 10 to 100 g / cm 2 with respect to an area of the joint portion. 前記接合を、500℃以下で行うことを特徴とする請求項1乃至8のうちいずれかに記載の回路基板の製造方法。 The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the bonding is performed at 500 ° C. or lower. 前記接合工程を、不活性ガス雰囲気中あるいは真空中で行うことを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれかに記載の回路基板の製造方法。 The circuit board manufacturing method according to claim 1, wherein the bonding step is performed in an inert gas atmosphere or in a vacuum. 請求項1乃至10のうちいずれかに記載の回路基板の製造方法によって作製されたことを特徴とする回路基板。

A circuit board manufactured by the method for manufacturing a circuit board according to claim 1.

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