JP2006105983A - 物体の形状測定方法および装置 - Google Patents
物体の形状測定方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006105983A JP2006105983A JP2005283189A JP2005283189A JP2006105983A JP 2006105983 A JP2006105983 A JP 2006105983A JP 2005283189 A JP2005283189 A JP 2005283189A JP 2005283189 A JP2005283189 A JP 2005283189A JP 2006105983 A JP2006105983 A JP 2006105983A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- fringe pattern
- reference mark
- operable
- phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
- G01B11/2527—Projection by scanning of the object with phase change by in-plane movement of the patern
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/521—Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明の一態様による、物体(12)の形状を測定するシステム(10)が提供される。このシステムは、基準マークを有する干渉縞パターン(18)を物体(12)上に投影するように動作可能な投影システム(14)を備える。このシステムはさらに、物体(12)によって変調された干渉縞パターンの画像(20)を取得するように動作可能な画像処理システム(26)を備える。画像処理システム(26)はさらに、干渉縞パターンの画像内の基準マークを同定するように動作可能であり、この基準マークに基づき物体(12)の形状を構築する。
【選択図】図1
Description
12 3次元物体
14 投影システム
16 画像化装置
18 干渉縞パターン
20 画像
22 制御システム
24 画像インターフェース
26 画像処理システム
28 ワークステーション
30 表示モジュール
32 プリンタモジュール
34 PACS
38 外部ワークステーション
40 内部データベース
42 外部データベース
44 干渉計
74 回析格子
Claims (10)
- 基準マークを有する干渉縞パターン(18)を3次元物体(12)上に投影するように動作可能な投影システム(14)と、
前記3次元物体(12)によって変調された前記干渉縞パターン(18)の画像(20)を取得するように動作可能な画像処理システム(26)とを備え、前記画像処理システム(26)は、前記3次元物体(12)によって変調された前記干渉縞パターンの前記画像中の前記基準マークを同定し、前記3次元物体(12)の前記形状を再構築するために、前記基準マークを基準点として使用して座標システムを定めるように動作可能である、3次元形状測定システム(10)。 - 前記投影システム(14)が、複数の位相移動を伴う複数の干渉縞パターン(18)を投影するように動作可能である、請求項1記載のシステム。
- 前記画像処理システム(26)が、前記3次元物体(12)によって変調された、前記基準マークを有する前記干渉縞パターンの画像(20)を取得するように動作可能であり、前記画像処理システム(26)が、前記3次元物体(12)によって変調された、前記基準マークを有する前記干渉縞パターンの画像および前記3次元物体(12)によって変調された、前記基準マークを有する前記干渉縞パターンを使用して、前記3次元物体(12)の位相ラップされた画像を発生させるように動作可能である、請求項1記載のシステム。
- 前記画像処理システム(26)が、前記位相ラップされた画像の基準マークを同定し、前記基準マークを前記座標システムのための基準点として使用するように動作可能である、請求項3記載のシステム。
- 前記画像処理システム(26)が、前記基準マークに基づいた前記座標システムを使用して、前記位相ラップされた画像をアンラップするように動作可能である、請求項4記載のシステム。
- 前記投影システム(14)が干渉計を備える、請求項1記載のシステム。
- 前記投影システム(14)が回析格子を備える、請求項1記載のシステム。
- 前記投影システム(14)がデジタル干渉縞投影システムを備える、請求項1記載のシステム。
- 前記3次元物体(12)上に複数の位相移動を伴う、前記基準マークを有する複数の干渉縞パターンを投影するために、前記投影システム(14)の動作を制御するように構成された制御システム(22)をさらに備える、請求項1記載のシステム。
- 基準マークを有する符号化された干渉縞パターン(18)を物体(12)上に投影する段階と、
前記物体(12)によって変調された、前記基準マークを伴う前記符号化された干渉縞パターンの画像(20)を取得する段階と、
前記物体によって変調された、前記基準マークを伴う前記符号化された干渉縞パターンの画像を使用して、前記物体(12)の位相ラップされた画像を発生させる段階と、
前記物体(12)の位相ラップされた画像中で前記基準マークを同定する段階と、
アンラップされた画像を形成するために、前記基準マークを基準点として使用して、前記物体(12)によって変調された符号化された干渉縞パターンの位相ラップされた画像をアンラップする段階とを含む、3次元形状を測定する方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/955,637 US20060072122A1 (en) | 2004-09-30 | 2004-09-30 | Method and apparatus for measuring shape of an object |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006105983A true JP2006105983A (ja) | 2006-04-20 |
Family
ID=35336634
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005283189A Pending JP2006105983A (ja) | 2004-09-30 | 2005-09-29 | 物体の形状測定方法および装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060072122A1 (ja) |
EP (1) | EP1643210B1 (ja) |
JP (1) | JP2006105983A (ja) |
CN (1) | CN100520287C (ja) |
DE (1) | DE602005007823D1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009069146A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-04-02 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | 対象物を3次元デジタル化する方法及び装置 |
KR20160014717A (ko) * | 2013-05-31 | 2016-02-11 | 마이크로소프트 테크놀로지 라이센싱, 엘엘씨 | 2차 패턴이 삽입된 프린지에 의한 절대 위상 측정 기법 |
KR20210112298A (ko) * | 2018-10-12 | 2021-09-14 | 일렉트릭 파워 리서치 인스티튜트, 인크. | 광학적으로 왜곡하는 매체들에서의 표면 특성들을 측정하기 위한 방법 |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7184149B2 (en) * | 2003-06-18 | 2007-02-27 | Dimensional Photonics International, Inc. | Methods and apparatus for reducing error in interferometric imaging measurements |
JP2009511163A (ja) * | 2005-10-14 | 2009-03-19 | アプライド リサーチ アソシエイツ エヌゼット リミテッド | 表面特徴を観察する方法とその装置 |
EP2031348B1 (de) * | 2007-07-09 | 2014-09-10 | VDEh-Betriebsforschungsinstitut GmbH | Oberflächeninspektionsverfahren zum Detektieren von Oberflächendefekten und/oder Vermessen der Oberflächentopographie |
US7969583B2 (en) * | 2008-03-05 | 2011-06-28 | General Electric Company | System and method to determine an object distance from a reference point to a point on the object surface |
US8422030B2 (en) * | 2008-03-05 | 2013-04-16 | General Electric Company | Fringe projection system with intensity modulating by columns of a plurality of grating elements |
US7508960B1 (en) * | 2008-05-06 | 2009-03-24 | International Business Machines Corporation | Projection of light patterns for liveness verification of biometrics |
CN101566465B (zh) * | 2009-05-18 | 2011-04-06 | 西安交通大学 | 一种物体变形的实时测量方法 |
US9179844B2 (en) | 2011-11-28 | 2015-11-10 | Aranz Healthcare Limited | Handheld skin measuring or monitoring device |
WO2014016001A1 (de) * | 2012-07-25 | 2014-01-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Farbkodierung für 3d-messung insbesondere bei transparenten streuenden oberflächen |
CN102829736B (zh) * | 2012-09-12 | 2015-05-06 | 河北工业大学 | 一种三维指纹传感系统 |
US9756313B2 (en) * | 2013-06-09 | 2017-09-05 | Camtek Ltd. | High throughput and low cost height triangulation system and method |
US9459094B2 (en) * | 2013-09-12 | 2016-10-04 | Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited | Color-encoded fringe pattern for three-dimensional shape measurement |
US9799117B2 (en) | 2013-09-30 | 2017-10-24 | Lenovo (Beijing) Co., Ltd. | Method for processing data and apparatus thereof |
CN104751436B (zh) * | 2013-12-27 | 2017-12-26 | 联想(北京)有限公司 | 一种信息处理的方法及一种电子设备 |
DE102014207022A1 (de) * | 2014-04-11 | 2015-10-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Tiefenbestimmung einer Oberfläche eines Prüfobjektes |
WO2016057043A1 (en) * | 2014-10-10 | 2016-04-14 | Georgia Tech Research Corporation | Dynamic digital fringe projection techniques for measuring warpage |
US10602118B2 (en) * | 2015-12-02 | 2020-03-24 | Purdue Research Foundation | Method and system for multi-wavelength depth encoding for three dimensional range geometry compression |
US10136120B2 (en) * | 2016-04-15 | 2018-11-20 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Depth sensing using structured illumination |
US10013527B2 (en) | 2016-05-02 | 2018-07-03 | Aranz Healthcare Limited | Automatically assessing an anatomical surface feature and securely managing information related to the same |
CN106179984B (zh) * | 2016-08-29 | 2019-01-08 | 上海邮政科学研究院 | 一种交叉带分拣机供件台邮件在主环方向投影尺寸的计算方法 |
US11116407B2 (en) | 2016-11-17 | 2021-09-14 | Aranz Healthcare Limited | Anatomical surface assessment methods, devices and systems |
CN106500629B (zh) * | 2016-11-29 | 2022-09-27 | 深圳大学 | 一种显微三维测量装置及系统 |
EP3606410B1 (en) | 2017-04-04 | 2022-11-02 | Aranz Healthcare Limited | Anatomical surface assessment methods, devices and systems |
CN109900223B (zh) * | 2019-04-18 | 2021-10-08 | 盎锐(上海)信息科技有限公司 | 用于投影光栅建模的成像方法及装置 |
US11450083B2 (en) * | 2019-09-27 | 2022-09-20 | Honeywell International Inc. | Dual-pattern optical 3D dimensioning |
CN110749290B (zh) * | 2019-10-30 | 2021-06-01 | 易思维(杭州)科技有限公司 | 基于三维投影的特征信息快速定位方法 |
CN112285724B (zh) * | 2020-10-21 | 2023-10-17 | 电子科技大学 | 一种全固态激光雷达及其设计方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01221612A (ja) * | 1988-03-01 | 1989-09-05 | A T R Tsushin Syst Kenkyusho:Kk | 立体形状再生装置 |
JP2000283739A (ja) * | 1999-03-29 | 2000-10-13 | Minolta Co Ltd | 3次元情報入力カメラ |
JP2000292135A (ja) * | 1999-04-07 | 2000-10-20 | Minolta Co Ltd | 3次元情報入力カメラ |
JP2002286433A (ja) * | 2001-03-27 | 2002-10-03 | Wakayama Univ | 連続移動物体のリアルタイム形状計測方法及びシステム |
JP2003004425A (ja) * | 2001-03-21 | 2003-01-08 | Ricoh Co Ltd | 光学的形状測定装置 |
JP2003504634A (ja) * | 1999-07-14 | 2003-02-04 | ソルビジョン インコーポレイティド | 物体の凹凸を測定する方法とシステム |
JP2003254732A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Wakayama Univ | 周波数変調格子による格子投影形状計測方法及び装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5636025A (en) * | 1992-04-23 | 1997-06-03 | Medar, Inc. | System for optically measuring the surface contour of a part using more fringe techniques |
ZA948134B (en) * | 1993-10-28 | 1995-06-13 | Quaqlcomm Inc | Method and apparatus for performing handoff between sectors of a common base station |
US5649292A (en) * | 1994-10-31 | 1997-07-15 | Airnet Communications Corporation | Obtaining improved frequency reuse in wireless communication systems |
US6031612A (en) * | 1996-02-12 | 2000-02-29 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for contour measurement using movable sources |
EP0888522B1 (en) * | 1996-03-22 | 2001-05-30 | Loughborough University Innovations Limited | Method and apparatus for measuring shape of objects |
US6438272B1 (en) * | 1997-12-31 | 2002-08-20 | The Research Foundation Of State University Of Ny | Method and apparatus for three dimensional surface contouring using a digital video projection system |
JP2000046534A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-18 | Fuji Photo Optical Co Ltd | モアレ装置 |
JP3417377B2 (ja) * | 1999-04-30 | 2003-06-16 | 日本電気株式会社 | 三次元形状計測方法及び装置並びに記録媒体 |
JP3426552B2 (ja) * | 2000-02-18 | 2003-07-14 | 株式会社ミツトヨ | 形状計測装置 |
JP3494964B2 (ja) * | 2000-07-28 | 2004-02-09 | 株式会社山武 | 表面形状測定装置 |
KR100389017B1 (ko) * | 2000-11-22 | 2003-06-25 | (주) 인텍플러스 | 모아레무늬 발생기를 적용한 위상천이 영사식 모아레방법및 장치 |
US6714307B2 (en) * | 2001-10-16 | 2004-03-30 | Zygo Corporation | Measurement of complex surface shapes using a spherical wavefront |
US9125061B2 (en) * | 2002-06-07 | 2015-09-01 | Apple Inc. | Systems and methods for channel allocation for forward-link multi-user systems |
-
2004
- 2004-09-30 US US10/955,637 patent/US20060072122A1/en not_active Abandoned
-
2005
- 2005-08-05 EP EP05254894A patent/EP1643210B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-08-05 DE DE602005007823T patent/DE602005007823D1/de active Active
- 2005-09-29 JP JP2005283189A patent/JP2006105983A/ja active Pending
- 2005-09-30 CN CNB2005101087554A patent/CN100520287C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01221612A (ja) * | 1988-03-01 | 1989-09-05 | A T R Tsushin Syst Kenkyusho:Kk | 立体形状再生装置 |
JP2000283739A (ja) * | 1999-03-29 | 2000-10-13 | Minolta Co Ltd | 3次元情報入力カメラ |
JP2000292135A (ja) * | 1999-04-07 | 2000-10-20 | Minolta Co Ltd | 3次元情報入力カメラ |
JP2003504634A (ja) * | 1999-07-14 | 2003-02-04 | ソルビジョン インコーポレイティド | 物体の凹凸を測定する方法とシステム |
JP2003004425A (ja) * | 2001-03-21 | 2003-01-08 | Ricoh Co Ltd | 光学的形状測定装置 |
JP2002286433A (ja) * | 2001-03-27 | 2002-10-03 | Wakayama Univ | 連続移動物体のリアルタイム形状計測方法及びシステム |
JP2003254732A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Wakayama Univ | 周波数変調格子による格子投影形状計測方法及び装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009069146A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-04-02 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | 対象物を3次元デジタル化する方法及び装置 |
KR20160014717A (ko) * | 2013-05-31 | 2016-02-11 | 마이크로소프트 테크놀로지 라이센싱, 엘엘씨 | 2차 패턴이 삽입된 프린지에 의한 절대 위상 측정 기법 |
KR102246920B1 (ko) | 2013-05-31 | 2021-04-29 | 마이크로소프트 테크놀로지 라이센싱, 엘엘씨 | 2차 패턴이 삽입된 프린지에 의한 절대 위상 측정 기법 |
KR20210112298A (ko) * | 2018-10-12 | 2021-09-14 | 일렉트릭 파워 리서치 인스티튜트, 인크. | 광학적으로 왜곡하는 매체들에서의 표면 특성들을 측정하기 위한 방법 |
JP2022509732A (ja) * | 2018-10-12 | 2022-01-24 | エレクトリック パワー リサーチ インスチテュート インコーポレイテッド | 光学歪曲媒体内の表面特性を測定する方法 |
JP7242846B2 (ja) | 2018-10-12 | 2023-03-20 | エレクトリック パワー リサーチ インスチテュート インコーポレイテッド | 光学歪曲媒体内の表面特性を測定する方法 |
KR102635628B1 (ko) * | 2018-10-12 | 2024-02-08 | 일렉트릭 파워 리서치 인스티튜트, 인크. | 광학적으로 왜곡하는 매체들에서의 표면 특성들을 측정하기 위한 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN100520287C (zh) | 2009-07-29 |
EP1643210A1 (en) | 2006-04-05 |
DE602005007823D1 (de) | 2008-08-14 |
CN1766522A (zh) | 2006-05-03 |
EP1643210B1 (en) | 2008-07-02 |
US20060072122A1 (en) | 2006-04-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2006105983A (ja) | 物体の形状測定方法および装置 | |
Zhang | Absolute phase retrieval methods for digital fringe projection profilometry: A review | |
Xu et al. | Status, challenges, and future perspectives of fringe projection profilometry | |
Stavroulakis et al. | Invited review article: review of post-process optical form metrology for industrial-grade metal additive manufactured parts | |
Su et al. | Dynamic 3-D shape measurement method based on FTP | |
US8923603B2 (en) | Non-contact measurement apparatus and method | |
CN104903680B (zh) | 控制三维物体的线性尺寸的方法 | |
Feng et al. | Graphics processing unit–assisted real-time three-dimensional measurement using speckle-embedded fringe | |
JP2004191092A (ja) | 3次元情報取得システム | |
Jiang et al. | Absolute phase unwrapping for dual-camera system without embedding statistical features | |
JP2007240465A (ja) | 3次元変位ひずみ計測方法及び装置 | |
JP4069204B2 (ja) | デジタルホログラフィを利用した変位分布計測方法 | |
Marrugo et al. | Fourier transform profilometry in LabVIEW | |
Sciammarella et al. | High precision contouring with moiré and related methods: a review | |
Lim et al. | A novel one-body dual laser profile based vibration compensation in 3D scanning | |
Nguyen et al. | Accuracy comparison of fringe projection technique and 3D digital image correlation technique | |
JP2006308452A (ja) | 3次元形状計測方法および装置 | |
JP2019046268A (ja) | 画像処理装置、及びプログラム | |
JP4023666B2 (ja) | 動的形状測定方法及び装置 | |
JP4038576B2 (ja) | デジタルホログラフィを利用した変位分布計測方法及び物体像再生方法 | |
Xu et al. | Profile measurement adopting binocular active vision with normalization object of vector orthogonality | |
Li | Superfast 3D shape measurement with application to flapping wing mechanics analysis | |
JPH07190737A (ja) | シアリング干渉計測方法及びシアリング干渉計 | |
Ahmad et al. | Stereo-DIC Challenge 1.0–Rigid Body Motion of a Complex Shape | |
TWI588508B (zh) | 立體深度量測裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080925 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20101214 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20101214 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110215 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110512 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110517 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110615 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110620 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110920 |