JP2006071657A

JP2006071657A - 測距装置

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Publication number: JP2006071657A
Application number: JP2004251173A
Authority: JP
Inventors: Hidenori Taniguchi; 英則谷口
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2004-08-31
Filing date: 2004-08-31
Publication date: 2006-03-16

Abstract

【課題】パッシブＡＦの補正データをシュリンクして、メモリ容量を削減してシステムのローコスト化を図る測距装置の提供。
【解決手段】撮影レンズの焦点距離、ＦＮｏにより、選択的に測距点を使用し、かつ、それぞれの測距点に応じて、ダーク補正分解能を変える。シェーディング補正は、所定画素の出力を使って、近似式を作成する。所定画素以外の補正データは、補間演算により、補正する。
【選択図】図１

Description

本発明は、測距装置に関するものである。

従来、コンパクトカメラに用いられる測距装置として、投光素子による投射光を投光レンズにより集光して、被写体に向けて投光し、その投射光の被写体からの反射光を集光レンズにより集光して受光素子上に結像して受光し、その受光素子上の受光した結象位置から被写体までの距離を測距する、いわゆるアクティブ方式の測距装置と、直線状に配置された複数の画素を有する受光手段と、前記受光手段と所定間隔へだてて配置された一対の受光手段を有し、被写体からの反射光を一対の結像手段により、前記一対の受光手段上に、結像して受光し、その像出力をもちいて、被写体までの距離を演算する、いわゆるパッシブ方式の２つがおもに使われてきた。

但し、近年、コンパクトカメラにおいては、撮影レンズのズームレンズ化が一般的であり、またズーム比の高倍率化により、アクティブ方式では、測距光学系が大きくなってしまうため、測距装置としては、遠距離までの測距が、比較的小さな大きさで実現可能な、パッシブ方式がおおく用いられる傾向にある。

パッシブ方式で充分な測距精度を得る為には、アクティブ方式に比べて、受光手段の各画素出力に対して、種々の補正を加える必要がある。代表的なものとして、各画素間の固定パターンノイズ、および、各画素の暗電流のバラツキによる画素出力のむらを補正するダーク補正、また、各画素間の光電変換特性、および測距光学系の収差や周辺光量おちに起因する、画素出力のバラツキを補正する光出力補正がある。図７は、従来のダーク補正の概念を示した図である。図８は、Ｘ軸がＡＦリニアセンサーのフォトダイオードの蓄積時間を示しており、Ｙ軸は、画素の光が入射しないダーク時の像信号出力を示している。図７において、Ａの部分の画素出力は、フォトダイオードで発生するリセットノイズと、センサアンプ、ゲインバラツキやオフセットなどにより発生するＦＰＮであり、蓄積時間や温度に依存しない。図７において、Ｂで示される部分は、フォトダイオードの暗電流によるものであり、蓄積時間に応じて、リニアに増加していく。また、温度により、その増加率は異なり、温度が高いほど、暗電流は、おおきい。Ｂは、最大蓄積時間での暗電流の出力が、通常は、補正データとして、用いられる。図７は、ＡＦリニアセンサーの１画素のダーク特性を示したものであり、図中のＡの絶対値、及びＢの暗電流の大きさが、画素ごとにバラツクため、１画素ごとに補正値Ａ、Ｂをもつ必要がある。また、蓄積時間、温度におうじて、暗電流の補正値Ｂは、更に補正されてｂという値に演算され、実際の測距時の像データから、Ａおよびｂを引いて、像出力が補正される。

図８は、従来の光出力補正の概念図を示した図であり、均一な拡散光が入射した時のＡＦリニアセンサーの各画素の像信号を示している。図８において、Ｘ軸は、画素と測距光学系の位置関係を、Ｙ軸は画素出力を示している。原点は、理想的には、中央の受光エリアの中央位置の画素である。αの部分は、測距光学系の光軸に位置するセンサーの画素出力を示している。βの部分は、測距光学系の光軸からｘだけ離れたところに位置するセンサーの画素出力を示している。図８より、明らかなように、測距光学系の光軸から、ずれて位置する画素の出力ほど、レンズの周辺光量おちにより、出力が低下する。図８では、測距光学系の周辺光量落ちにより、光軸中心の画素から、周辺に行くにしたがって、滑らかに、像信号出力が低下していくように見えるが、詳細にみれば、画素の感度バラツキがあるため、一様に低下していくわけではない。光出力補正は、測距時の像信号出力に対して、α／βの係数を乗算することによって、像信号を補正する。この補正は、通常、ダーク補正が、行われた像信号に対して、行われる。

通常、前記の補正データは、充分な測距精度をもたせるためには、受光手段の各画素に対して、それぞれの補正に対して、８ｂｉｔ程度の分解能が必要である。また、暗電流に関しては、温度によって著しく変化する為に、温度によっても補正量を変化させなければならないため、補正のためのデータは、かなり大きなものである。

また、近年は、撮影領域の複数被写体の距離を測距する、いわゆる多点測距が広く採用されている。また、コンパクトカメラに用いられる多点測距においては、撮影レンズ光学系と測距光学系が、独立した光学系であるため、撮影レンズのズームレンズの焦点距離が変化したとき、撮影画角に対して、測距光学系の焦点距離は、変倍しないため、多点測距の領域が変化してしまう。このようなカメラにおいては、図９に示すように、撮影撮影レンズのズーム倍率に応じて、選択される受光手段の測距領域の範囲をかえることで、撮影光学系が変倍しても、測距領域が撮影画面に対して、概略一定の範囲を測距するようにした測距装置も製品化されている。図９において、９０１は、撮影可能範囲であり、９０２は、被写体面上に投影されるセンサーの大きさを示している。ＡＦセンサーは、一対の受光センサーが７つの受光領域（１Ａ〜７Ａ、１Ｂ〜７Ｂ）に分割されており、１Ａと１Ｂ（または２Ａと２Ｂ〜７Ａと７Ｂ）の対により位相差検出による測距を行う、いわゆる公知のパッシブ多点測距である。

一例として、撮影レンズの焦点距離を、１４０ｍｍ／７０ｍｍ／３５ｍｍとし作図してある。また、わかりやすいように、被写体の大きさを一定にしてある。図９からあきらかな用に、１４０ｍｍでは、撮影範囲に対して、ＡＦセンサーの受光範囲がひろ過ぎて、障害物をひろったりして、誤測距したり、３５ｍｍでは、逆に測距範囲が狭すぎて、いわゆる中抜けが起こりやすくなってしまう。このような場合、１４０ｍｍでは、測距領域のうち中側の３つの領域が、７０ｍｍでは、両端を除いた、５つの領域、３５ｍｍでは、すべての領域を使うように構成される。

パッシブ方式の測距装置において、前記のような多点測距、および、ズームレンズの焦点距離に応じた測距領域の切り替えなどを実現しようとすると、通常、１つの領域あたり３０から４０画素程度の受光領域のペアが必要な為、受光手段の画素数が、大きく増えることになる。７つの受光領域を持つようなものでは、２１０から２８０画素がペアになる。したがって、前述の受光手段の各画素に対しての種々の補正量が増えることになる。通常、各画素に加えられる補正の補正値は、ソフト的な処理が容易なため、要求されるもっとも厳しい条件で十分な効果が得られるように補正される。すなわち、測距能力がもっとも要求される撮影レンズのテレ側で十分な補正効果が得られるように補正値の分解能、補正可能範囲が決定される。

したがって、ダーク補正、光出力補正をおのおの各画素に、Ａ、Ｂ、α／βがそれぞれ８ｂｉｔの分解能で最大２５６まで補正するとすると、２８０画素では、８４０バイトのデータ量が必要になる。また、補正値は、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリに記憶されるため、アクティブ方式に比べて、前記不揮発性メモリの容量は、非常に大きくなる。また、補正演算の量もアクティブ方式に比べて、比較にならないほど大きく、カメラの制御に用いられるマイクロコンピュータも演算速度がはやい、メモリ容量（プログラムの規模も大きく、また、演算のためのデータを展開する領域も必要なため、ＲＯＭ、ＲＡＭともにアクティブよりも大きい）の大きなものが要求される。

したがって、通常、パッシブ方式を用いたカメラは、システム全体として、測距装置のコスト差だけではなく、高速、比較的大きなメモリのマイクロコンピュータ、大きな容量の不揮発性メモリなどが必要であり、アクティブ方式を用いたものよりも、装置自体は小型ではあるが、トータルなコストとしては、高くなってしまう。

また、プログラムの量もアクティブ方式に較べて数倍大きいため、ソフト開発の負荷も大きいので、プログラムの作成、デバッグに時間がかかる。また、測定を必要とするデータ量も多いため、検討時間もかかる。
特開平１０−１５５１００号公報

本発明は、パッシブ方式の補正にかんして、とくに補正データに注目して、従来、画素ごとにもっていた補正データをシュリンクして、補正データを記憶するための不揮発性メモリの容量、およびマイクロコンピュータの演算のデータを展開するＲＡＭを削減して、カメラのコストダウンを図るものである。

上記目的を達成する為に本発明の第一の手段は、直線状に配置された複数の画素を備えた受光手段と、前記受光手段と所定間隔隔てて配置された一対の受光手段と、前記受光手段を複数の領域に分割して、対応する領域ごとに受光した被写体の反射光を出力する像信号出力手段と、前記一対の受光手段に被写体像を結像させる結像手段と、撮影レンズの画角に応じて、前記測距領域を選択する選択手段と、あらかじめ記憶された受光手段の固定パターンノイズ、および、暗電流により、前記像出力を補正する補正手段と、補正された像出力を使って、選択手段により選択された測距領域の被写体までの距離を演算する演算手段を有する測距装置において、撮影レンズの焦点距離、ＦＮｏ、および、測距装置の敏感度に応じて、補正手段の補正量、および、補正の分解能を複数に分割された領域に応じて、可変する、あるいは、補正手段による補正を所定の領域に限定することを特徴とする。

上記目的を達成する為に本発明の第二の手段は、直線状に配置された複数の画素を備えた受光手段と、前記受光手段と所定間隔隔てて配置された一対の受光手段と、前記受光手段を複数の領域に分割して、対応する領域ごとに受光した被写体の反射光を出力する像信号出力手段と、前記一対の受光手段に被写体像を結像させる結像手段と、結像手段の周辺光量に応じた像信号出力を記憶する記憶手段と、前記記憶手段の記憶データと像信号を使って像信号を補正する補正手段と、前記補正された像信号をもちいて、被写体までの距離を演算する演算手段とを有する測距装置において、前記記憶手段に記憶される補正データ−は、受光手段の像信号を用いて、近似式により近似されることを特徴とする。また、請求項２に記載される、近似式は、受光手段の複数の画素のうち所定の画素を用いて近似され、所定画素以外の画素の補正データは、前記近似式により補間演算手段により、補間されることを特徴とする。

撮影レンズの焦点距離に応じて、選択される受光手段の受光領域ごとに補正の分解能を変えることによって、必要充分な測距精度をみたし、かつ、補正のためのデータをシュリンクして、データ量を削減することができる。

また、測距光学系の周辺光量おちによる、受光領域周辺の受光量の補正を、所定の画素出力をつかって、近似式を作成して、所定画素以外の画素出力の補正データを補間演算によって算出することにより、従来よりもデータ量を大幅に削減可能になる。

以上、説明したように、必要な補正精度を確保しながら、不揮発性メモリの容量を削減することにより、コストの削減が可能になる。

以下本発明を実施するための最良の形態を、実施例により詳しく説明する。

図１は、本発明の特徴をもっともよくあらわす図面であり、同図において、１００は、撮影レンズの焦点距離を検出するズーム位置検出、１０１は、フィルムの位置を検出する給送位置検出、１０２は、カメラのシーケンスを制御するＣＰＵであり、図示しないＲＯＭ、ＲＡＭ、タイマー、Ａ／Ｄ変換器、および不揮発性メモリを内蔵している、また、本図は、不揮発性メモリをＣＰＵ本体に内蔵しているが、外部に専用の不揮発性メモリを持ってもよい。１０３は、図示しない給装用モーターを駆動して、フィルムの給送を行う給送回路、１０４は、図示しないズーム用モーターを駆動して、撮影レンズの変倍光学系を駆動するためのズーム回路、１０５は、撮影レンズの焦点位置調節用のレンズを図示しないモーターにより駆動して、被写体に焦点を合わせるためのフォーカス回路、１０６は、焦点調節用のレンズの位置を検出するフォーカス位置検出、１０７は、不図示のカメラのレリーズスイッチを第一のストロークまで押し込んだときにオンするスイッチＳＷ１、１０８は、不図示のカメラのレリーズスイッチを第二のストロークまで押し込んだときにオンするスイッチＳＷ２、１０９は、シャッターを駆動してフィルムに露光させるためのＳＨ回路、１１０は、被写体からの反射光を測光して、適切な露光時間を決定するためのＡＥ回路、１１１は、被写体までの距離を測距するためのＡＦ回路である。

図２は、本発明に用いられる、ＡＦリニアセンサーであり、２００、２０１は一対のＡＦリニアセンサーをあらわしており、所定の面積を有するフォトダイオードによって構成されている。２００、２０１は、図示しない一対の受光レンズによって、被写体からの光を受光して、被写体からの反射光に応じた像信号を出力する。

また、２００、２０１のＡＦリニアセンサーは、１Ａ〜７Ａ、１Ｂ〜７Ｂの各領域に分割され、各領域は、通常３０から４０程度のフォトダイオードにより構成されている。また、本ＡＦ用のリニアセンサーは、各領域１Ａと１Ｂ（または２Ａと２Ｂ〜７Ａと７Ｂ）の対により位相差検出による測距を行う、いわゆるパッシブＡＦであり、撮影範囲の７つのポイントの距離を測距可能なように構成されている。

図３から図５に示したＣＭＯＳリニア型ＡＦセンサーは、特開２０００−１８０７０６号公報で提案された公知の回路であるので、詳細な説明は、省いて、簡略に説明する。

図３にＡＦリニアセンサーの全体ブロック図を示す。図３において、３０１は、ＡＦリニア回路ブロックであり、フォトダイオードアレイと信号処理回路により構成される、図中の１Ａ〜７Ａ、１Ｂ〜７Ｂは、図２の各測距領域に対応している。３０２は、アナログ回路ブロックであり、前記の３０１からの像信号を使って、フォトダイオードの蓄積時間、および後述の増幅回路の増幅率を制御するＡＧＣ（オートゲインコントロール）回路、およびＡＧＣ回路によって決定された増幅率により、３０１の像信号を増幅して、外部に出力する信号増幅回路、ＡＦリニアセンサーの信号処理回路などのバイアス電圧や各種のクランプ電圧をあたえるための、基準電圧発生回路、中間電圧発生回路などが含まれる。３０３は、デジタル回路ブロックであり、ＡＦリニアセンサーを制御するマイクロコンピュータ接続するためのＩ／Ｏ、ＡＦリニア回路の駆動タイミングを発生するＴＧ（タイミングジェネレータ）回路、およびＡＦリニアセンサー内の各種のアナログ信号を切り替えて、前記マイクロコンピュータのＡ／Ｄ変換器に出力させるためのＭＰＸ（マルチプレクス）回路などが含まれる。

図４は、図３、３０１のＡＦリニアセンサー回路ブロックの各領域１Ａ〜７Ａ、１Ｂ〜７Ｂの詳細ブロック図であり、同図のＡ像が、１Ａから７Ａ、Ｂ像が、１Ｂから７Ｂにそれぞれ対応している。したがって、図３の回路ブロックが、本実施例では、７つの領域分存在している。ＡＦリニアセンサー回路ブロックは、フォトダイオードアレイ、フォトダイオードの蓄積電荷をうけるセンサアンプアレイ、センサアンプのノイズ成分を除去して信号成分を最大値検出回路に伝達するノイズ除去回路アレイ、ノイズ除去回路アレイの出力をうけて各領域の像信号の最大値を検出する最大値検出回路アレイ、センサアンプのノイズ成分を除去して信号成分を信号出力回路に伝達するノイズ除去回路アレイ、ノイズ除去回路アレイの信号をうけて、像信号を信号増幅回路に出力する信号出力回路アレイ、および信号出力回路アレイの出力を順次、信号増幅回路に出力するためのシフトレジスタによって構成されている。

図５にＡＦリニアセンサー回路ブロックの具体的な回路図を示す。図３と図４に示したＣＭＯＳリニア型ＡＦセンサーは、特開２０００−１８０７０６号公報で提案された回路である。本実施例においては、ＡＦセンサー１Ａと１Ｂ（または２Ａと２Ｂ〜７Ａと７Ｂ）の対により位相差検出による測距を行う。図５において、１は光電変換を行うｐｎ接合フォトダイオード、２はフォトダイオードの電位をＶＲＥＳにリセットするリセット用ＭＯＳトランジスタ、３は差動増幅器であり、１〜３によって１つの光電変換画素２１を構成する。４はクランプ容量、５はクランプ電位を入力するためのＭＯＳスイッチであり、４と５でクランプ回路を構成している。６〜９はスイッチ用ＭＯＳトランジスタ、１０は最大値検出用差動増幅器、１１は最小値検出用差動増幅器であり、それぞれの差動増幅器は電圧フォロワ回路を構成している。１２は最大値出力用ＭＯＳスイッチ、１３は最小値出力用ＭＯＳスイッチ、１４はＯＲ回路、１５は走査回路、１６、１７は定電流用ＭＯＳトランジスタである。最大値検出回路用には最終段がｎＭＯＳのソースフォロワ回路、最小値検出回路用には最終段がｐＭＯＳのソースフォロワ回路となっている。２０は画素からの信号が出力される共通出力線である。本回路構成において、最大値検出回路と最小値検出回路の前段にフィードバック型のノイズクランプ回路を設けることにより、フォトダイオードで発生するリセットノイズと、センサアンプ、最大値検出回路、最小値検出回路で発生するＦＰＮの除去が可能となっている。また、最終出力段がソースフォロワ形式である電圧フォロワ回路を画素毎に構成し、最小値出力時には各電圧フォロワの出力段の定電流源をオフにして、定電流源に接続された出力線に共通接続することにより、映像信号の最小値を得ることができる。また、像信号出力時には、各電圧フォロワの出力段の定電流源をオンにして、各電圧フォロワ回路を順次、出力線に接続させることにより、シリアルな映像信号を得ることができる。この動作により、最小値検出回路と信号出力回路が兼用となるため、チップの小型化が可能となる。

図９に示されるようなズームレンズに適応される外測の測距装置の測距能力は、撮影レンズの焦点距離ｆ、および撮影レンズのＦＮｏにより決定される。通常、コンパクトカメラなどに用いられる外測の測距装置の必要な測距能力は、撮影レンズの焦点距離ｆの２乗に比例し、撮影レンズのＦＮｏに反比例する。したがって、ズームレンズのＴＥＬＥでは、ＦＮｏは、暗くなるが、焦点距離が長くなり、測距能力は、焦点距離の２乗に比例するため、ＷＩＤＥに比べて、非常に高い精度が要求される。逆にいうと、撮影レンズの焦点距離に応じて、使用するＡＦリニアセンサーの受光領域範囲を選択的に切り替えて、使うような測距システムにおいては、焦点距離の短いＷＩＤＥ側で使用される受光領域の補正と焦点距離のながいＴＥＬＥ側まで使用される受光領域の補正は、同一の分解能で行う必要がないといえる。

したがって、ＴＥＬＥの焦点距離をｆｔ、明るさをＦｔとしたとき、撮影時の焦点距離をｆ、明るさをＦとすると、補正分解能Ｘｆは、ＴＥＬＥの分解能をＸとすると、
Ｘｆ／Ｘ＝（ｆ／ｆｔ）^２×（Ｆｔ／Ｆ）
に分解能を落とすことが、可能である。

例えば、ｆｔ＝１４０ｍｍ、Ｆｔ＝１０、ｆ＝３５ｍｍ、Ｆ＝４．５とすると、
Ｘｆ／Ｘ＝０．１３８
となり、ＴＥＬＥの補正分解能をＸｔ＝８ｂｉｔ＝２５６とすると、３５ｍｍでは、Ｘ＝３５でよいことになる。これは、概略５ｂｉｔ＝３２で補正可能である。１画素あたり、ダーク補正のＡ、Ｂで各３ｂｉｔ、合計６ｂｉｔのメモリが節約できることになる。１受光領域を４０画素×２とすると、ＷＩＤＥで使用される、中央を除く２つの領域で、１２０バイトの不揮発性メモリの節約ができることになる。各受光領域で、補正分解能を最適化することで、さらにメモリ容量の削減が可能である。

図６は、本発明に用いられるＡＦリニアセンサーの補正の概念図を示した図であり、図６において、ａで示される直線は、光出力補正した、補正像信号出力であり、ｂで示される実線は、ＡＦリニアセンサーから出力される像信号出力であり、ｃで示される破線は、ｂの像信号出力を、関数により近似した、近似像信号出力である。補正対象は、各画素間の光電変換特性、および測距光学系の収差や周辺光量おちに起因する、画素出力のバラツキを補正する光出力補正である。通常、この光出力補正には、２種類の補正対象がある。１つは、画素の感度ばらつきであり、均一な光が入射した時の各画素の出力が、すべて同じになるように補正される。もう１つは、測距光学系の周辺光量おちにより発生する、画素出力の不均一性を補正するものであり、画素出力は、測距光学系の光軸から離れるにしたがって、レンズの周辺光量落ちにより、入射光量が落ちていく為に出力が低下する。この２種類の補正対象のうち、レンズの周辺光量のおちに関しては、レンズの光軸からの距離におうじて滑らかに変化していく性質のものであるため、関数によって近似することが可能な性質のものである。したがって、図６のｂの像信号出力を、調整工程において、取得して、図中のα、β、γの３点の情報から、例えば二次関数により、ｃの近似像信号出力を計算により得ることが可能である。この場合、メモリに記憶するデータは、二次関数の係数のみでよいため、３バイト程度ですんでしまう。また、二次の係数を浮動小数点で記憶したとしても、プラス１バイト程度の容量である。また、二次関数は、α位置の像信号出力により、規格化されていることがのぞましい。αの位置は、得られた像信号出力の、ピーク出力の画素出力である。実際の補正は、αの位置の画素出力をＳ（α）、二次関数により近似計算される像出力をＳ０（ｘ）とすると、位置（ｘ）の画素出力Ｓ（ｘ）は、
Ｓ’（ｘ）＝Ｓ（ｘ）×Ｓ（α）／Ｓ０（ｘ）
のように補正される。Ｓ’（ｘ）は、近似式により補正されたあとの位置（ｘ）の補正像信号を示している。また、位置（ｘ）は、α位置の画素から補正したい画素までの画素数を示している。

以上、説明したように、近似式を用いて、像信号出力を補正することにより、大幅なメモリ容量の削減が可能である。また、近似式は、二次式に限らず、もっと高次の次数を使って近似してもよい。また、三角関数など異なる関数を用いて、近似してもよい。

本発明の第１実施例のカメラのブロック図本発明の第１実施例のＡＦリニアセンサー本発明の第１実施例におけるＡＦリニアセンサーの全体回路ブロック図本発明の第１実施例におけるＡＦリニアセンサー詳細ブロック図本発明の第１実施例におけるＡＦリニアセンサー回路図本発明の第２実施例における光出力補正概念図従来のカメラのダーク補正の概念図従来のカメラの光出力補正の概念図本発明のカメラの撮影可能範囲と測距センサーの関係をあらわす図

符号の説明

１００撮影レンズのズーム位置検出
１０１カメラのフィルム給送位置検出
１０２カメラの制御用ＣＰＵ
１０３カメラのフィルム給送回路
１０４カメラの撮影レンズのズーム駆動回路
１０５カメラの撮影レンズのフォーカス駆動回路
１０６カメラの撮影レンズのフォーカス位置検出
１０７カメラのレリーズスイッチ第一ストローク検出スイッチ
１０８カメラのレリーズスイッチ第二ストローク検出スイッチ
１０９カメラのシャッター駆動回路
１１０カメラの測光用ＡＥ回路
１１１カメラの測距用ＡＦ回路
２００、２０１ＡＦリニアセンサーのセンサーアレイ
３０１ＡＦリニア回路ブロック
３０２ＡＦアナログ回路ブロック
３０３ＡＦデジタル回路ブロック
１フォトダイオード
２リセット用ＭＯＳトランジスタ
３差動増幅器
４クランプ容量
５ＭＯＳスイッチ
６〜９スイッチ用ＭＯＳトランジスタ
１０最大値検出用差動増幅器
１１最小値検出用差動増幅器
１２最大値検出用ＭＯＳスイッチ
１３最小値検出用ＭＯＳスイッチ
１４ＯＲ回路
１５走査回路
１６、１７定電流用ＭＯＳトランジスタ
２０出力線
９０１撮影可能範囲
９０２被写体面上のＡＦリニアセンサーの大きさ

Claims

直線状に配置された複数の画素を備えた受光手段と、前記受光手段と所定間隔隔てて配置された一対の受光手段と、前記受光手段を複数の領域に分割して、対応する領域ごとに受光した被写体の反射光を出力する像信号出力手段と、撮影レンズの焦点距離に対応して、前記複数の領域のなかから所定の領域の像信号を選択する選択手段と、前記一対の受光手段に被写体像を結像させる結像手段と、撮影レンズの画角に応じて、前記測距領域を選択する選択手段と、あらかじめ記憶された受光手段の固定パターンノイズ、および、暗電流により、前記像出力を補正する補正手段と、補正された像出力を使って、選択手段により選択された一対になった各領域ごとに、被写体までの距離を演算して複数の距離情報を得る演算手段とを有する測距装置において、撮影レンズの焦点距離、ＦＮｏ、および、測距装置の敏感度に応じて、補正手段の補正量、および、補正の分解能を複数に分割された領域に応じて、可変する、あるいは、補正手段による補正を所定の領域に限定することを特徴とする測距装置。
直線状に配置された複数の画素を備えた受光手段と、前記受光手段と所定間隔隔てて配置された一対の受光手段と、前記受光手段を複数の領域に分割して、対応する領域ごとに受光した被写体の反射光を出力する像信号出力手段と、前記一対の受光手段に被写体像を結像させる結像手段と、結像手段の周辺光量に応じた像信号出力を記憶する記憶手段と、前記記憶手段の記憶データと像信号を使って像信号を補正する補正手段と、前記補正された像信号をもちいて、被写体までの距離を演算する演算手段とを有する測距装置において、前記記憶手段に記憶される補正データ−は、受光手段の像信号を用いて、近似式により近似されることを特徴とする測距装置。
請求項２に記載される、近似式は、受光手段の複数の画素のうち所定の画素を用いて近似され、所定画素以外の画素の補正データは、前記近似式により補間演算手段により、補間されることを特徴とする測距装置。