JP2006066082A - Anisotropic conductive connector, adapter device, as well as electric inspection device of circuit device - Google Patents

Anisotropic conductive connector, adapter device, as well as electric inspection device of circuit device Download PDF

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Kiyoshi Kimura
潔 木村
Sugiro Shimoda
杉郎 下田
Fujio Hara
富士雄 原
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an anisotropic conductive connector and an adapter device capable of surely attaining electric connection to each of electrodes with necessary insulation secured between them, even for the electrodes with a small separation interval and fluctuation in height, as well as an electric inspection device of a circuit device equipped with the same. <P>SOLUTION: The anisotropic conductive connector is provided with a complex conductive sheet consisting of a resin insulating sheet having a plurality of openings; an insulating film arranged so as to block each opening of the insulating sheet, made of an elastic polymer substance supported by the insulating sheet; a complex conductive sheet composed of a plurality of rigid conductor extended in a thickness direction of the insulating film, fixed to and supported by the insulation film, arranged so as to be positioned inside each opening of the insulating sheet; and a first and a second anisotropic conductive elastomer sheets arranged on one and the other face of the complex conductive sheet. Each rigid conductor is made free to deform in a thickness direction of the insulating sheet by elasticity of the insulating film. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、例えばプリント回路基板などの回路装置の電気的検査に好適に用いることができる異方導電性コネクターおよびこれを具えたアダプター装置、並びにこのアダプター装置を具えた回路装置の電気的検査装置に関するものである。   The present invention relates to an anisotropic conductive connector that can be suitably used for electrical inspection of a circuit device such as a printed circuit board, an adapter device including the same, and an electrical inspection device for a circuit device including the adapter device. It is about.

一般に、BGAやCSP等のパッケージLSI、MCM、その他の集積回路装置などの電子部品を構成するための或いは搭載するための回路基板については、電子部品を組み立てる以前に或いは電子部品を搭載する以前に、当該回路基板の配線パターンが所期の性能を有することを確認するためにその電気的特性を検査することが必要である。
従来、回路基板の電気的検査を実行する方法としては、縦横に並ぶ格子点位置に従って複数の検査電極が配置されてなる検査電極装置と、この検査電極装置の検査電極に検査対象である回路基板の被検査電極を電気的に接続するアダプターとを組み合わせて用いる方法などが知られている。この方法において用いられるアダプターは、ピッチ変換ボードと称されるプリント配線板よりなるものである。
このアダプターとしては、一面に検査対象である回路基板の被検査電極に対応するパターンに従って配置された複数の接続用電極を有し、他面に検査電極装置の検査電極と同一のピッチの格子点位置に配置された複数の端子電極を有するもの、一面に検査対象である回路基板の被検査電極に対応するパターンに従って配置された、電流供給用接続用電極および電圧測定用接続用電極よりなる複数の接続用電極対を有し、他面に検査電極装置の検査電極と同一のピッチの格子点位置に配置された複数の端子電極を有するものなどが知られており、前者のアダプターは、例えば回路基板における各回路のオープン・ショート試験などに用いられ、後者のアダプターは、回路基板における各回路の電気抵抗測定試験に用いられている。
而して、回路基板の電気的検査においては、一般に、検査対象である回路基板とアダプターとの安定な電気的接続を達成するために、検査対象である回路基板とアダプターとの間に、コネクターとして異方導電性エラストマーシートを介在させることが行われている。
In general, for circuit boards for configuring or mounting electronic components such as package LSIs such as BGA and CSP, MCM, and other integrated circuit devices, before assembling the electronic components or before mounting the electronic components In order to confirm that the wiring pattern of the circuit board has the desired performance, it is necessary to inspect its electrical characteristics.
Conventionally, as a method of performing an electrical inspection of a circuit board, a test electrode device in which a plurality of test electrodes are arranged according to lattice point positions arranged vertically and horizontally, and a circuit board to be inspected on the test electrodes of this test electrode device A method of using a combination with an adapter for electrically connecting the electrodes to be inspected is known. The adapter used in this method is a printed wiring board called a pitch conversion board.
This adapter has a plurality of connection electrodes arranged in accordance with a pattern corresponding to the inspection target electrode of the circuit board to be inspected on one surface, and a lattice point having the same pitch as the inspection electrode of the inspection electrode device on the other surface. A plurality of terminals having a plurality of terminal electrodes arranged at positions, and comprising a current supply connection electrode and a voltage measurement connection electrode arranged in accordance with a pattern corresponding to an electrode to be inspected on a circuit board to be inspected on one side Are known, and the other adapter has, for example, a plurality of terminal electrodes arranged at lattice point positions at the same pitch as the inspection electrodes of the inspection electrode device on the other surface. It is used for an open / short test of each circuit on a circuit board, and the latter adapter is used for an electrical resistance measurement test for each circuit on the circuit board.
Therefore, in the electrical inspection of a circuit board, generally, in order to achieve a stable electrical connection between the circuit board to be inspected and the adapter, a connector is provided between the circuit board to be inspected and the adapter. As an example, an anisotropic conductive elastomer sheet is interposed.

この異方導電性エラストマーシートは、厚さ方向にのみ導電性を示すもの、あるいは加圧されたときに厚さ方向にのみ導電性を示す多数の加圧導電性導電部を有するものである。
このような異方導電性エラストマーシートとしては、従来、種々の構造のものが知られており、例えば特許文献1には、弾性高分子物質中に磁性を示す導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向して連鎖を形成した状態でかつ当該導電性粒子による連鎖が面方向に分散した状態で含有されてなる異方導電性エラストマーシート(以下、これを「分散型異方導電性シート」という。)が開示され、特許文献2には、弾性高分子物質中に磁性を示す導電性粒子を不均一に分散させることにより、厚み方向に伸びる多数の導電路形成部と、これらを相互に絶縁する絶縁部とが形成されてなる異方導電性エラストマーシート(以下、これを「偏在型異方導電性シート」という。)が開示され、特許文献3には、導電路形成部の表面と絶縁部との間に段差が形成された偏在型異方導電性シートが開示されている。
これらの異方導電性エラストマーシートは、例えば硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料中に磁性を示す導電性粒子が含有されてなる成形材料層に対して、その厚み方向に磁場を作用させながら或いは磁場を作用させた後に硬化処理を行うことにより得られるものである。この異方導電性エラストマーシートにおいては、弾性高分子物質よりなる基材中に導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向して連鎖が形成された状態で含有されており、厚み方向に加圧されることによって導電性粒子の連鎖による導電路が形成される。
This anisotropically conductive elastomer sheet has conductivity only in the thickness direction, or has a number of pressurized conductive portions that show conductivity only in the thickness direction when pressed.
As such an anisotropically conductive elastomer sheet, those having various structures are conventionally known. For example, in Patent Document 1, conductive particles exhibiting magnetism are arranged in the thickness direction in an elastic polymer substance. An anisotropic conductive elastomer sheet (hereinafter referred to as “dispersed anisotropic conductive sheet”) that is contained in a state in which a chain is formed by orientation and the chain of the conductive particles is dispersed in the plane direction. ) Is disclosed, and Patent Document 2 insulates a plurality of conductive path forming portions extending in the thickness direction from each other by dispersing non-uniformly conductive particles exhibiting magnetism in an elastic polymer material. An anisotropic conductive elastomer sheet formed with an insulating portion (hereinafter referred to as an “unevenly anisotropic conductive sheet”) is disclosed, and Patent Document 3 discloses the surface of the conductive path forming portion and the insulating portion. There is a step between Made the uneven distribution type anisotropically conductive sheet is disclosed.
These anisotropically conductive elastomer sheets are, for example, in the thickness direction with respect to a molding material layer in which conductive particles exhibiting magnetism are contained in a liquid polymer substance-forming material that is cured to become an elastic polymer substance. It is obtained by performing a curing treatment while applying a magnetic field to or after applying a magnetic field. In this anisotropic conductive elastomer sheet, the conductive particles are contained in a base material made of an elastic polymer substance in a state in which the conductive particles are aligned in a thickness direction to form a chain, and are pressed in the thickness direction. Thus, a conductive path is formed by a chain of conductive particles.

そして、分散型異方導電性シートおよび偏在型異方導電性シートを比較すると、分散型異方導電性シートは、特殊で高価な金型を用いずに小さいコストで製造することが可能なものである点、接続すべき電極のパターンに関わらず使用することができ、汎用性を有するものである点で、偏在型異方導電性シートに比較して有利である。
一方、偏在型異方導電性シートは、隣接する導電路形成部間にこれらを相互に絶縁する絶縁部が形成されているため、隣接する電極間の離間距離が小さい接続対象体についても、隣接する電極間に必要な絶縁性が確保された状態で当該電極の各々に対する電気的な接続を達成することができる性能、すなわち分解能が高いものである点で、分散型異方導電性シートに比較して有利である。
而して、分散型異方導電性シートにおいて、分解能を向上させるためには、当該分散型異方導電性シートの厚みを小さくすることが肝要である。
然るに、厚みの小さい異方導電性エラストマーシートにおいては、接続すべき電極の各々における高さレベルのバラツキを吸収して当該電極の各々に対する電気的な接続を達成することができる性能、すなわち凹凸吸収能が低い、という問題がある。具体的には、異方導電性エラストマーシートの凹凸吸収能は、当該異方導電性エラストマーシートの厚みの20%程度であり、例えば厚みが100μmの異方導電性エラストマーシートにおいては、電極の高さレベルのバラツキが20μm程度の接続対象体に対しても安定な電気的接続を達成することができるが、厚みが50μmの異方導電性エラストマーシートにおいては、電極の高さレベルのバラツキが10μmを超える接続対象体に対しては、安定な電気的接続を達成することが困難となる。
And comparing the dispersion-type anisotropic conductive sheet and the uneven distribution-type anisotropic conductive sheet, the dispersion-type anisotropic conductive sheet can be manufactured at a low cost without using a special and expensive mold. This is advantageous compared to the unevenly distributed anisotropic conductive sheet in that it can be used regardless of the pattern of electrodes to be connected and has versatility.
On the other hand, since the unevenly anisotropic anisotropic conductive sheet is formed with an insulating portion that insulates them from each other between adjacent conductive path forming portions, the connection object with a small separation distance between adjacent electrodes is also adjacent. Compared to the dispersive anisotropic conductive sheet in terms of performance that can achieve electrical connection to each of the electrodes in a state where necessary insulation is ensured between the electrodes to be performed, that is, high resolution. It is advantageous.
Thus, in order to improve the resolution of the dispersed anisotropic conductive sheet, it is important to reduce the thickness of the dispersed anisotropic conductive sheet.
However, the anisotropic conductive elastomer sheet having a small thickness absorbs unevenness in the height level of each electrode to be connected, and can achieve electrical connection to each of the electrodes, that is, absorbs unevenness. There is a problem that performance is low. Specifically, the unevenness-absorbing ability of the anisotropic conductive elastomer sheet is about 20% of the thickness of the anisotropic conductive elastomer sheet. For example, in the anisotropic conductive elastomer sheet having a thickness of 100 μm, the height of the electrode is high. A stable electrical connection can be achieved even for a connection object having a thickness variation of about 20 μm. However, in the anisotropic conductive elastomer sheet having a thickness of 50 μm, the variation in the height level of the electrode is 10 μm. It is difficult to achieve stable electrical connection for objects to be connected that exceed.

このような問題を解決するため、絶縁性シートに形成されたテーパ状の貫通孔内に、可動導体が絶縁性シートに対して厚み方向に移動可能に支持されてなる複合導電性シートと、この複合導電性シートの一面および他面の各々に配置された2つの異方導電性エラストマーシートとよりなる異方導電性コネクターが提案されている(例えば特許文献4等参照。)。
このような異方導電性コネクターによれば、複合導電性シートにおける可動電極が厚み方向に移動可能とされているため、厚み方向に加圧されたときには、複合導電性シートの一面および他面の各々に配置された2つの異方導電性エラストマーシートが互いに連動して圧縮変形するため、両者の有する凹凸吸収能の合計が異方導電性コネクターの凹凸吸収能として発現され、従って、高い凹凸吸収能を得ることができる。
また、所要の凹凸吸収能を得るために必要な厚みは、2つの異方導電性エラストマーシートの合計の厚みによって確保すればよく、個々の異方導電性エラストマーシートとしては、厚みが小さいものを用いることができるので、高い分解能を得ることができる。
In order to solve such a problem, a composite conductive sheet in which a movable conductor is supported so as to be movable in the thickness direction with respect to the insulating sheet in a tapered through hole formed in the insulating sheet, and this An anisotropic conductive connector composed of two anisotropic conductive elastomer sheets disposed on one side and the other side of a composite conductive sheet has been proposed (see, for example, Patent Document 4).
According to such an anisotropic conductive connector, since the movable electrode in the composite conductive sheet is movable in the thickness direction, when pressed in the thickness direction, the one side and the other side of the composite conductive sheet Since the two anisotropically conductive elastomer sheets arranged in each are compressed and deformed in conjunction with each other, the sum of the unevenness absorption capacity of both is expressed as the unevenness absorption capacity of the anisotropically conductive connector, and thus high unevenness absorption Performance.
In addition, the thickness necessary to obtain the required unevenness absorbing capacity may be ensured by the total thickness of the two anisotropic conductive elastomer sheets, and each anisotropic conductive elastomer sheet has a small thickness. Since it can be used, high resolution can be obtained.

しかしながら、上記の異方導電性コネクターにおいては、実用上、以下のような問題がある。
上記の異方導電性コネクターにおいて、複合導電性シートの可動導体は、絶縁性シートに形成されたテーパ状の貫通孔内にメッキ処理によって金属を堆積させて金属体を形成し、この金属体を押圧することにより、貫通孔の内面に接着していた金属体を分離させることによって得られる。然るに、多数の可動導体を有する異方導電性コネクターを製造する場合には、絶縁性シートに形成された全ての金属体を当該絶縁性シートの内面から確実に分離させることが困難であるため、一部の可動導体の機能に不具合が生じ、また、一旦は絶縁性シートの貫通孔内から分離されて可動導体とされても、当該異方導電性コネクターの使用中に、当該可動導体が絶縁性シートの貫通孔に嵌入する結果、可動導体としての機能が失われるため、所要の凹凸吸収能を維持することができない。
However, the anisotropic conductive connector described above has the following problems in practice.
In the anisotropic conductive connector described above, the movable conductor of the composite conductive sheet is formed by depositing metal in a tapered through hole formed in the insulating sheet by plating to form a metal body. By pressing, it is obtained by separating the metal body adhered to the inner surface of the through hole. However, when manufacturing an anisotropic conductive connector having a large number of movable conductors, it is difficult to reliably separate all the metal bodies formed on the insulating sheet from the inner surface of the insulating sheet. If some of the functions of the movable conductor fail, and once it is separated from the through hole of the insulating sheet and made into a movable conductor, the movable conductor is insulated during use of the anisotropic conductive connector. As a result, the function as a movable conductor is lost as a result of being fitted into the through hole of the conductive sheet, so that the required unevenness absorbing ability cannot be maintained.

特開昭51−93393号公報JP 51-93393 A 特開昭53−147772号公報Japanese Patent Laid-Open No. 53-147772 特開昭61−250906号公報JP-A-61-250906 特開2001−351702号公報JP 2001-351702 A

本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、その第1の目的は、隣接する電極間の離間距離が小さく、電極の高さレベルにバラツキがある接続対象体についても、隣接する電極間に必要な絶縁性が確保された状態で当該電極の各々に対する電気的な接続を確実に達成することができる異方導電性コネクターを提供することにある。
本発明の第2の目的は、検査対象である回路装置が、隣接する被検査電極の間の離間距離が小さく、被検査電極の高さレベルにバラツキがあるものであっても、隣接する被検査電極間に必要な絶縁性が確保された状態で当該被検査電極の各々に対する電気的な接続を確実に達成することができるアダプター装置を提供することにある。
本発明の第3の目的は、検査対象である回路装置が、隣接する被検査電極の間の離間距離が小さく、被検査電極の高さレベルにバラツキがあるものであっても、当該回路装置について所要の電気的検査を確実に実行することができる回路装置の電気的検査装置を提供することにある。
The present invention has been made based on the circumstances as described above, and a first object of the present invention is also for a connection object having a small separation distance between adjacent electrodes and variations in the height level of the electrodes. Another object of the present invention is to provide an anisotropic conductive connector that can reliably achieve electrical connection to each of the electrodes in a state where necessary insulation is ensured between adjacent electrodes.
The second object of the present invention is that even if the circuit device to be inspected has a small separation distance between the adjacent electrodes to be inspected and the height level of the electrodes to be inspected varies, An object of the present invention is to provide an adapter device that can reliably achieve electrical connection to each of the electrodes to be inspected in a state where necessary insulation is ensured between the inspection electrodes.
A third object of the present invention is to provide a circuit device that is an object to be inspected even if the distance between adjacent electrodes to be inspected is small and the height level of the electrodes to be inspected varies. It is an object of the present invention to provide an electrical inspection device for a circuit device that can reliably perform a required electrical inspection for the circuit device.

本発明の異方導電性コネクターは、複数の開口を有する樹脂よりなる絶縁性シート、この絶縁性シートの各開口を塞ぐよう配置され、当該絶縁性シートに支持された弾性高分子物質よりなる絶縁膜、および、この絶縁膜に固定支持され、前記絶縁性シートの開口内に位置するよう配置された、当該絶縁膜の厚み方向に伸びる複数の剛性導体により構成された複合導電性シートと、
この複合導電性シートの一面に配置された、第1の異方導電性エラストマーシートと、 前記複合導電性シートの他面に配置された、第2の異方導電性エラストマーシートと
を具えてなり、
前記複合導電性シートにおける剛性導体の各々は、前記絶縁膜の弾性によって、前記絶縁性シートに対してその厚み方向に変位可能とされていることを特徴とする。
An anisotropic conductive connector according to the present invention includes an insulating sheet made of a resin having a plurality of openings, an insulating sheet made of an elastic polymer material disposed so as to close each opening of the insulating sheet and supported by the insulating sheet. A composite conductive sheet composed of a plurality of rigid conductors extending in the thickness direction of the insulating film, and a film, and fixedly supported by the insulating film and disposed in the opening of the insulating sheet;
A first anisotropic conductive elastomer sheet disposed on one surface of the composite conductive sheet; and a second anisotropic conductive elastomer sheet disposed on the other surface of the composite conductive sheet. ,
Each of the rigid conductors in the composite conductive sheet can be displaced in the thickness direction with respect to the insulating sheet by the elasticity of the insulating film.

本発明の異方導電性コネクターにおいては、第1の異方導電性エラストマーシートおよび第2の異方導電性エラストマーシートの各々は、弾性高分子物質中に、磁性を示す導電性粒子が、厚み方向に並ぶよう配向して連鎖が形成された状態で、かつ、当該導電性粒子による連鎖が面方向に分散した状態で含有されてなることが好ましい。
このような異方導電性コネクターにおいては、第1の異方導電性エラストマーシートおよび第2の異方導電性エラストマーシートの各々の厚みが20〜100μmであることが好ましい。
また、導電性粒子の数平均粒子径が3〜20μmであることが好ましい。
In the anisotropic conductive connector of the present invention, each of the first anisotropic conductive elastomer sheet and the second anisotropic conductive elastomer sheet has a thickness of conductive particles exhibiting magnetism in the elastic polymer material. It is preferable that the conductive particles are contained in a state in which chains are formed by being aligned in the direction and dispersed in the plane direction.
In such an anisotropic conductive connector, it is preferable that the thickness of each of the first anisotropic conductive elastomer sheet and the second anisotropic conductive elastomer sheet is 20 to 100 μm.
Moreover, it is preferable that the number average particle diameter of electroconductive particle is 3-20 micrometers.

本発明のアダプター装置は、表面に検査すべき回路装置における被検査電極に対応するパターンに従って複数の接続用電極が形成された接続用電極領域を有するアダプター本体と、
このアダプター本体の接続用電極領域上に配置された、当該アダプター本体における接続用電極に対応するパターンに従って形成された複数の剛性導体を有する、上記の異方導電性コネクターと
を具えてなることを特徴とする。
The adapter device of the present invention has an adapter body having a connection electrode region in which a plurality of connection electrodes are formed in accordance with a pattern corresponding to an electrode to be inspected in a circuit device to be inspected on the surface;
The anisotropic conductive connector having a plurality of rigid conductors arranged in accordance with a pattern corresponding to the connection electrode in the adapter body, disposed on the connection electrode region of the adapter body. Features.

また、本発明のアダプター装置は、表面に検査すべき回路装置における被検査電極に対応するパターンに従ってそれぞれ電流供給用および電圧測定用の2つの接続用電極からなる複数の接続用電極対が形成された接続用電極領域を有するアダプター本体と、
このアダプター本体の接続用電極領域上に配置された、当該アダプター本体における接続用電極に対応するパターンに従って形成された複数の剛性導体を有する、上記の異方導電性コネクターと
を具えてなることを特徴とする。
The adapter device according to the present invention has a plurality of connection electrode pairs each formed of two connection electrodes for current supply and voltage measurement according to a pattern corresponding to an electrode to be inspected in a circuit device to be inspected on the surface. An adapter body having a connecting electrode region;
The anisotropic conductive connector having a plurality of rigid conductors arranged in accordance with a pattern corresponding to the connection electrode in the adapter body, disposed on the connection electrode region of the adapter body. Features.

本発明の回路装置の電気的検査装置は、上記のアダプター装置を具えてなることを特徴とする。   An electrical inspection device for a circuit device according to the present invention comprises the adapter device described above.

本発明の異方導電性コネクターによれば、複合導電性シートにおける剛性導体の各々は、絶縁膜の弾性によって、絶縁性シートに対してその厚み方向に変位可能とされているため、接続すべき電極によって厚み方向に加圧されたときには、複合導電性シートの一面に配置された第1の異方導電性エラストマーシートおよび当該複合導電性シートの他面に配置された第2の異方導電性エラストマーシートは、剛性導体が変位することによって互いに連動して圧縮変形するため、両者の有する凹凸吸収能の合計が異方導電性コネクターの凹凸吸収能として発現され、従って、高い凹凸吸収能を得ることができる。
また、所要の凹凸吸収能を得るために必要な厚みは、第1の異方導電性エラストマーシートおよび第2の異方導電性エラストマーシートの合計の厚みによって確保すればよく、個々の異方導電性エラストマーシートとしては、厚みが小さいものを用いることができるので、高い分解能を得ることができる。
また、剛性導体の各々は、絶縁膜に固定支持されているため、複合導電性シートの製造中或いは異方導電性コネクターの使用中に、剛性導体の変位機能に不具合が生じることがない。
従って、隣接する電極間の離間距離が小さく、電極の高さレベルにバラツキがある接続対象体についても、隣接する電極間に必要な絶縁性が確保された状態で当該電極の各々に対する電気的な接続を確実に達成することができる。
According to the anisotropic conductive connector of the present invention, each of the rigid conductors in the composite conductive sheet is displaceable in the thickness direction with respect to the insulating sheet by the elasticity of the insulating film. When pressed in the thickness direction by the electrode, the first anisotropic conductive elastomer sheet disposed on one side of the composite conductive sheet and the second anisotropic conductive disposed on the other side of the composite conductive sheet Since the elastomer sheet compresses and deforms in conjunction with each other when the rigid conductor is displaced, the sum of the irregularity absorbing ability of both is expressed as the irregularity absorbing capacity of the anisotropic conductive connector, and thus obtains a high irregularity absorbing capacity. be able to.
In addition, the thickness necessary for obtaining the required unevenness absorbing capability may be ensured by the total thickness of the first anisotropic conductive elastomer sheet and the second anisotropic conductive elastomer sheet. Since a thing with small thickness can be used as a property elastomer sheet, high resolution can be obtained.
Further, since each of the rigid conductors is fixedly supported by the insulating film, there is no problem in the displacement function of the rigid conductors during the production of the composite conductive sheet or the use of the anisotropic conductive connector.
Therefore, even for a connection object in which the separation distance between adjacent electrodes is small and the height level of the electrodes varies, electrical connection to each of the electrodes is performed in a state where necessary insulation is ensured between the adjacent electrodes. Connection can be reliably achieved.

本発明のアダフター装置によれば、上記の異方導電性コネクターを具えてなるため、検査対象である回路装置が、隣接する被検査電極の間の離間距離が小さく、被検査電極の高さレベルにバラツキがあるものであっても、隣接する被検査電極間に必要な絶縁性が確保された状態で当該被検査電極の各々に対する電気的な接続を確実に達成することができる。   According to the adapter device of the present invention, since the anisotropic conductive connector is provided, the circuit device to be inspected has a small separation distance between adjacent inspected electrodes, and the height level of the inspected electrodes Even if there is a variation, it is possible to reliably achieve electrical connection to each of the electrodes to be inspected in a state where necessary insulation is ensured between adjacent electrodes to be inspected.

本発明の回路装置の電気的検査装置によれば、上記のアダプター装置を具えてなるため、検査対象である回路装置が、隣接する被検査電極の間の離間距離が小さく、被検査電極の高さレベルにバラツキがあるものであっても、当該回路装置について所要の電気的検査を確実に実行することができる。   According to the electrical inspection device for a circuit device of the present invention, since the adapter device is provided, the circuit device to be inspected has a small separation distance between adjacent electrodes to be inspected, and the height of the electrodes to be inspected is high. Even if there are variations in level, the required electrical inspection can be reliably executed for the circuit device.

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
〈異方導電性コネクター〉
図1は、本発明の異方導電性コネクターの一例における構成を示す説明用断面図であり、図2は図1に示す異方導電性コネクターの要部を拡大して示す説明用断面図である。この異方導電性コネクター10は、複合導電性シート11と、この複合導電性シート11の一面(図1において上面)に配置された第1の異方導電性エラストマーシート16と、複合導電性シート11の他面に配置された第2の異方導電性エラストマーシート17とにより構成されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
<Anisotropic conductive connector>
FIG. 1 is an explanatory cross-sectional view showing a configuration of an example of the anisotropic conductive connector of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory cross-sectional view showing an enlarged main part of the anisotropic conductive connector shown in FIG. is there. The anisotropic conductive connector 10 includes a composite conductive sheet 11, a first anisotropic conductive elastomer sheet 16 disposed on one surface (upper surface in FIG. 1) of the composite conductive sheet 11, and a composite conductive sheet. 11 and the second anisotropic conductive elastomer sheet 17 disposed on the other surface.

複合導電性シート11は、複数の開口13が形成された樹脂よりなる絶縁性シート12を有し、この絶縁性シート12には、弾性高分子物質よりなる一体の絶縁膜14が、当該絶縁性シート12の全ての開口13を塞ぐよう配置され、当該絶縁性シート12に一体的に接着されることによって支持されている。この絶縁膜14には、絶縁性シート12の開口13内に位置する個所に、それぞれ絶縁膜14の厚み方向に伸びる複数の剛性導体15が特定のパターンに従って設けられている。図示の例では、剛性導体15における一端部15aおよび他端部15bの各々は、絶縁膜14の一面および他面から突出するよう形成され、当該一端部15aおよび他端部15bの各々の径が、絶縁膜14中に埋設された中央部15cの径より大きいものとされている。剛性導体15における特定のパターンは、接続すべき電極例えば検査対象である回路装置の被検査電極に対応するパターンである。そして、剛性導体15の各々は、絶縁膜14の弾性によって、絶縁性シート12に対してその厚み方向に変位可能とされている。   The composite conductive sheet 11 has an insulating sheet 12 made of a resin in which a plurality of openings 13 are formed. An integrated insulating film 14 made of an elastic polymer material is provided on the insulating sheet 12 with the insulating property. It arrange | positions so that all the openings 13 of the sheet | seat 12 may be block | closed, and is supported by adhere | attaching the said insulating sheet 12 integrally. In the insulating film 14, a plurality of rigid conductors 15 extending in the thickness direction of the insulating film 14 are provided according to a specific pattern at locations located in the opening 13 of the insulating sheet 12. In the illustrated example, each of the one end portion 15a and the other end portion 15b of the rigid conductor 15 is formed so as to protrude from one surface and the other surface of the insulating film 14, and each of the one end portion 15a and the other end portion 15b has a diameter. The diameter of the central portion 15c embedded in the insulating film 14 is larger. The specific pattern in the rigid conductor 15 is a pattern corresponding to an electrode to be connected, for example, an inspected electrode of a circuit device to be inspected. Each of the rigid conductors 15 can be displaced in the thickness direction with respect to the insulating sheet 12 by the elasticity of the insulating film 14.

絶縁性シート12を構成する材料としては、液晶ポリマー、ポリイミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアラミド樹脂、ポリアミド樹脂等の樹脂材料、ガラス繊維補強型エポキシ樹脂、ガラス繊維補強型ポリエステル樹脂、ガラス繊維補強型ポリイミド樹脂等の繊維補強型樹脂材料、エポキシ樹脂等にアルミナ、ポロンナイトライド等の無機材料をフィラーとして含有した複合樹脂材料などを用いることができる。
また、異方導電性コネクター10を高温環境下で使用する場合には、絶縁性シート12として、線熱膨張係数が3×10-5/K以下のものを用いることが好ましく、より好ましくは1×10-6〜2×10-5/K、特に好ましくは1×10-6〜6×10-6/Kである。このような絶縁性シート12を用いることにより、絶縁膜14の熱膨張による剛性導体15の位置ずれを抑制することができる。
また、絶縁性シート12の厚みは、10〜200μmであることが好ましく、より好ましくは15〜100μmである。
Examples of the material constituting the insulating sheet 12 include resin materials such as liquid crystal polymer, polyimide resin, polyester resin, polyaramid resin, and polyamide resin, glass fiber reinforced epoxy resin, glass fiber reinforced polyester resin, and glass fiber reinforced polyimide resin. For example, a fiber-reinforced resin material such as an epoxy resin or a composite resin material containing an inorganic material such as alumina or poron nitride as a filler can be used.
Further, when the anisotropic conductive connector 10 is used in a high temperature environment, it is preferable to use the insulating sheet 12 having a linear thermal expansion coefficient of 3 × 10 −5 / K or less, more preferably 1 × 10 −6 to 2 × 10 −5 / K, particularly preferably 1 × 10 −6 to 6 × 10 −6 / K. By using such an insulating sheet 12, the displacement of the rigid conductor 15 due to the thermal expansion of the insulating film 14 can be suppressed.
Moreover, it is preferable that the thickness of the insulating sheet 12 is 10-200 micrometers, More preferably, it is 15-100 micrometers.

絶縁膜14を構成する材料としては、架橋構造を有する高分子物質が好ましい。このような弾性高分子物質を得るために用いることのできる硬化性の高分子物質形成材料としては、種々のものを用いることができ、その具体例としては、ポリブタジエンゴム、天然ゴム、ポリイソプレンゴム、スチレン−ブタジエン共重合体ゴム、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体ゴムなどの共役ジエン系ゴムおよびこれらの水素添加物、スチレン−ブタジエン−ジエンブロック共重合体ゴム、スチレン−イソプレンブロック共重合体などのブロック共重合体ゴムおよびこれらの水素添加物、クロロプレン、ウレタンゴム、ポリエステル系ゴム、エピクロルヒドリンゴム、シリコーンゴム、エチレン−プロピレン共重合体ゴム、エチレン−プロピレン−ジエン共重合体ゴムなどが挙げられる。これらの中では、耐久性、成形加工性および電気特性の観点から、シリコーンゴムを用いることが好ましい。
シリコーンゴムとしては、液状シリコーンゴムを架橋または縮合したものが好ましい。液状シリコーンゴムは、その粘度が歪速度10-1secで105 ポアズ以下のものが好ましく、縮合型のもの、付加型のもの、ビニル基やヒドロキシル基を含有するものなどのいずれであってもよい。具体的には、ジメチルシリコーン生ゴム、メチルビニルシリコーン生ゴム、メチルフェニルビニルシリコーン生ゴムなどを挙げることができる。
また、シリコーンゴムは、その分子量Mw(標準ポリスチレン換算重量平均分子量をいう。以下同じ。)が10,000〜40,000のものであることが好ましい。また、得られる絶縁膜14に良好な耐熱性が得られることから、分子量分布指数(標準ポリスチレン換算重量平均分子量Mwと標準ポリスチレン換算数平均分子量Mnとの比Mw/Mnの値をいう。以下同じ。)が2以下のものが好ましい。
また、絶縁膜14の厚みは、15〜500μmであることが好ましく、より好ましくは20〜400μmである。
As a material constituting the insulating film 14, a polymer substance having a crosslinked structure is preferable. Various materials can be used as the curable polymer substance-forming material that can be used to obtain such an elastic polymer substance. Specific examples thereof include polybutadiene rubber, natural rubber, and polyisoprene rubber. , Conjugated diene rubbers such as styrene-butadiene copolymer rubber, acrylonitrile-butadiene copolymer rubber and hydrogenated products thereof, blocks such as styrene-butadiene-diene block copolymer rubber, styrene-isoprene block copolymer Examples include copolymer rubber and hydrogenated products thereof, chloroprene, urethane rubber, polyester rubber, epichlorohydrin rubber, silicone rubber, ethylene-propylene copolymer rubber, and ethylene-propylene-diene copolymer rubber. In these, it is preferable to use a silicone rubber from a viewpoint of durability, a moldability, and an electrical property.
As the silicone rubber, those obtained by crosslinking or condensing liquid silicone rubber are preferable. The liquid silicone rubber preferably has a viscosity of 10 5 poise or less at a strain rate of 10 −1 sec, and may be any of a condensation type, an addition type, a vinyl group or a hydroxyl group. Good. Specific examples include dimethyl silicone raw rubber, methyl vinyl silicone raw rubber, methyl phenyl vinyl silicone raw rubber, and the like.
The silicone rubber preferably has a molecular weight Mw (referred to as a standard polystyrene-converted weight average molecular weight; the same shall apply hereinafter) of 10,000 to 40,000. Moreover, since favorable heat resistance is obtained for the insulating film 14 obtained, the molecular weight distribution index (the value of the ratio Mw / Mn between the standard polystyrene equivalent weight average molecular weight Mw and the standard polystyrene equivalent number average molecular weight Mn. .) Is preferably 2 or less.
Moreover, it is preferable that the thickness of the insulating film 14 is 15-500 micrometers, More preferably, it is 20-400 micrometers.

剛性導体15を構成する材料としては、剛性を有する金属材料を好適に用いることができ、その具体例としては、ニッケル、コバルト、銅、金、アルミニウムなどの単体金属またはこれらの合金などを挙げることができる。
また、剛性導体15における一端部15aおよび他端部15bの各々の径は、接続すべき電極例えば被検査電極の径の70〜150%であることが好ましい。
また、剛性導体15における中央部15cの径は、一端部15aおよび他端部15bの各々の径より小さいものであればよいが、例えば20〜120μmであることが好ましい。
また、剛性導体15の一端部15aおよび他端部15bにおける絶縁膜14からの突出高さは、5〜100μmであることが好ましい。
As the material constituting the rigid conductor 15, a metal material having rigidity can be suitably used. Specific examples thereof include simple metals such as nickel, cobalt, copper, gold, and aluminum, or alloys thereof. Can do.
Moreover, it is preferable that each diameter of the one end part 15a and the other end part 15b in the rigid conductor 15 is 70 to 150% of the diameter of the electrode to be connected, for example, the electrode to be inspected.
Moreover, the diameter of the center part 15c in the rigid conductor 15 should just be smaller than each diameter of the one end part 15a and the other end part 15b, However For example, it is preferable that it is 20-120 micrometers.
Moreover, it is preferable that the protrusion height from the insulating film 14 in the one end part 15a and the other end part 15b of the rigid conductor 15 is 5-100 micrometers.

このような複合導電性シート11は、例えば以下のようにして製造することができる。 先ず、図3に示すように、適宜の支持板36を用意し、この支持板36上に、硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料を塗布して塗布膜14Bを形成する。その後、図4に示すように、塗布膜14Bの表面に、開口13が形成された絶縁性シート12を配置し、更に高分子物質形成材料を絶縁性シート12の開口13を塞ぐよう塗布することにより、図5に示すように、形成すべき絶縁膜14の形状に対応する形状の絶縁膜用材料層14Aが形成される。そして、絶縁膜用材料層14Aを硬化処理することにより、図6に示すように、絶縁性シート12にその開口13の各々を塞ぐよう配置された絶縁膜14が形成される。
以上において、高分子物質形成材料を塗布する方法としては、スクリーン印刷などの印刷法、ロール塗布法、ブレード塗布法などを利用することができる。
絶縁膜用材料層14Aの硬化処理は、通常、加熱処理によって行われる。具体的な加熱温度および加熱時間は、絶縁膜用材料層14Aを構成する高分子物質形成材料の種類などを考慮して適宜設定される。
Such a composite conductive sheet 11 can be manufactured as follows, for example. First, as shown in FIG. 3, an appropriate support plate 36 is prepared, and a coating material 14B is formed on the support plate 36 by applying a liquid polymer material forming material that is cured to become an elastic polymer material. To do. Thereafter, as shown in FIG. 4, an insulating sheet 12 having an opening 13 is disposed on the surface of the coating film 14 </ b> B, and a polymer substance forming material is further applied so as to close the opening 13 of the insulating sheet 12. Thereby, as shown in FIG. 5, the insulating film material layer 14A having a shape corresponding to the shape of the insulating film 14 to be formed is formed. Then, by curing the insulating film material layer 14A, the insulating film 14 is formed in the insulating sheet 12 so as to close each of the openings 13 as shown in FIG.
In the above, a printing method such as screen printing, a roll coating method, a blade coating method, or the like can be used as a method for applying the polymer substance forming material.
The curing process of the insulating film material layer 14A is usually performed by a heat treatment. The specific heating temperature and heating time are appropriately set in consideration of the type of polymer substance forming material constituting the insulating film material layer 14A.

次いで、絶縁性シート12に形成された絶縁膜14に、図7に示すように、形成すべき剛性導体15のパターンに対応するパターンに従って、当該絶縁膜14の厚み方向に貫通する複数の貫通孔15Hを形成する。その後、図8に示すように、絶縁膜14の一面および他面の全面並びに絶縁膜14の貫通孔15Hの各々の内壁面全面に金属薄層18を形成し、更に、図9に示すように、金属薄層18における絶縁膜14の一面に接する部分の表面に、それぞれ絶縁膜14の貫通孔15Hに連通する複数のパターン孔37Hを有するレジスト膜37を形成すると共に、金属薄層18における絶縁膜14の他面に接する部分の表面に、それぞれ絶縁膜14の貫通孔15Hに連通する複数のパターン孔38Hを有するレジスト膜38を形成する。そして、金属薄層18を共通電極として電解メッキ処理を施して当該金属薄層18における露出した部分に金属を堆積させ、絶縁膜14の貫通孔15H内およびレジスト膜37,38のパターン孔37H,38H内に金属を充填することにより、図10に示すように、絶縁膜14の厚み方向に伸びる剛性導体15が形成される。その後、レジスト膜37,38の各々を除去し、更に、エッチング処理を施して金属薄層18を除去することにより、図11に示すような複合導電性シート11が得られる。
以上において、絶縁膜14に貫通孔15Hを形成する方法としては、レーサー加工法を利用することができる。
また、絶縁膜14に金属薄層18を形成する方法としては、無電解メッキ法を利用することができる。
また、金属薄層18の厚みは0.2〜10μmであることが好ましい。
Next, in the insulating film 14 formed on the insulating sheet 12, as shown in FIG. 7, a plurality of through holes penetrating in the thickness direction of the insulating film 14 according to the pattern corresponding to the pattern of the rigid conductor 15 to be formed. 15H is formed. Thereafter, as shown in FIG. 8, a thin metal layer 18 is formed on the entire surface of one surface and the other surface of the insulating film 14 and the entire inner wall surface of each through hole 15H of the insulating film 14, and as shown in FIG. A resist film 37 having a plurality of pattern holes 37 </ b> H communicating with the through holes 15 </ b> H of the insulating film 14 is formed on the surface of a portion of the metal thin layer 18 that is in contact with one surface of the insulating film 14, and the metal thin layer 18 is insulated. A resist film 38 having a plurality of pattern holes 38H communicating with the through holes 15H of the insulating film 14 is formed on the surface of the portion in contact with the other surface of the film 14. Then, an electrolytic plating process is performed using the thin metal layer 18 as a common electrode to deposit metal on the exposed portion of the thin metal layer 18, and the pattern hole 37H, the resist film 37, 38 in the through hole 15H and the resist film 37, 38 are formed. By filling the metal in 38H, a rigid conductor 15 extending in the thickness direction of the insulating film 14 is formed as shown in FIG. Thereafter, each of the resist films 37 and 38 is removed, and further, an etching process is performed to remove the thin metal layer 18, whereby the composite conductive sheet 11 as shown in FIG. 11 is obtained.
In the above, as a method of forming the through hole 15H in the insulating film 14, a racer processing method can be used.
Further, as a method of forming the thin metal layer 18 on the insulating film 14, an electroless plating method can be used.
Moreover, it is preferable that the thickness of the metal thin layer 18 is 0.2-10 micrometers.

この例における第1の異方導電性エラストマーシート16および第2の異方導電性エラストマーシート17は、いずれも絶縁性の弾性高分子物質中に、磁性を示す導電性粒子Pが、厚み方向に並ぶよう配向して連鎖が形成された状態で、かつ、当該導電性粒子Pによる連鎖が面方向に分散した状態で含有されてなるものである。
第1の異方導電性エラストマーシート16および第2の異方導電性エラストマーシート17を形成する弾性高分子物質としては、前述の複合導電性シート11における絶縁膜14を構成する弾性高分子物質として例示したものを用いることができる。
In the first anisotropic conductive elastomer sheet 16 and the second anisotropic conductive elastomer sheet 17 in this example, the conductive particles P exhibiting magnetism are in the thickness direction in the insulating elastic polymer material. The chain is formed in such a state that a chain is formed by being oriented so that the chain is formed, and the chain of the conductive particles P is dispersed in the plane direction.
Examples of the elastic polymer material forming the first anisotropic conductive elastomer sheet 16 and the second anisotropic conductive elastomer sheet 17 include the elastic polymer material constituting the insulating film 14 in the composite conductive sheet 11 described above. What was illustrated can be used.

第1の異方導電性エラストマーシート16および第2の異方導電性エラストマーシート17に含有される導電性粒子Pとしては、後述する方法により当該粒子を容易に厚み方向に並ぶよう配向させることができることから、磁性を示す導電性粒子が用いられる。このような導電性粒子の具体例としては、鉄、コバルト、ニッケルなどの磁性を有する金属の粒子若しくはこれらの合金の粒子またはこれらの金属を含有する粒子、またはこれらの粒子を芯粒子とし、当該芯粒子の表面に金、銀、パラジウム、ロジウムなどの導電性の良好な金属のメッキを施したもの、あるいは非磁性金属粒子若しくはガラスビーズなどの無機物質粒子またはポリマー粒子を芯粒子とし、当該芯粒子の表面に、ニッケル、コバルトなどの導電性磁性金属のメッキを施したものなどが挙げられる。
これらの中では、ニッケル粒子を芯粒子とし、その表面に導電性の良好な金のメッキを施したものを用いることが好ましい。
芯粒子の表面に導電性金属を被覆する手段としては、特に限定されるものではないが、例えば化学メッキまたは電解メッキ法、スパッタリング法、蒸着法などが用いられている。
As the conductive particles P contained in the first anisotropic conductive elastomer sheet 16 and the second anisotropic conductive elastomer sheet 17, the particles can be easily aligned in the thickness direction by a method described later. For this reason, conductive particles exhibiting magnetism are used. Specific examples of such conductive particles include particles of metal having magnetism such as iron, cobalt, nickel, particles of these alloys, particles containing these metals, or these particles as core particles, The core particles are formed by plating the surface of the core particles with a metal having good conductivity such as gold, silver, palladium, rhodium, or non-magnetic metal particles or inorganic particles such as glass beads or polymer particles. The surface of the particles may be plated with a conductive magnetic metal such as nickel or cobalt.
Among these, it is preferable to use nickel particles as core particles and the surfaces thereof plated with gold having good conductivity.
The means for coating the surface of the core particles with the conductive metal is not particularly limited, and for example, chemical plating or electrolytic plating, sputtering, vapor deposition or the like is used.

導電性粒子Pとして、芯粒子の表面に導電性金属が被覆されてなるものを用いる場合には、良好な導電性が得られることから、粒子表面における導電性金属の被覆率(芯粒子の表面積に対する導電性金属の被覆面積の割合)が40%以上であることが好ましく、さらに好ましくは45%以上、特に好ましくは47〜95%である。
また、導電性金属の被覆量は、芯粒子の0.5〜50質量%であることが好ましく、より好ましくは2〜30質量%、さらに好ましくは3〜25質量%、特に好ましくは4〜20質量%である。被覆される導電性金属が金である場合には、その被覆量は、芯粒子の0.5〜30質量%であることが好ましく、より好ましくは2〜20質量%、さらに好ましくは3〜15質量%である。
When the conductive particles P used are those in which the surface of the core particles is coated with a conductive metal, good conductivity can be obtained. Therefore, the coverage of the conductive metal on the particle surface (the surface area of the core particles) The ratio of the covering area of the conductive metal with respect to is preferably 40% or more, more preferably 45% or more, and particularly preferably 47 to 95%.
Further, the coating amount of the conductive metal is preferably 0.5 to 50% by mass of the core particle, more preferably 2 to 30% by mass, further preferably 3 to 25% by mass, and particularly preferably 4 to 20%. % By mass. When the conductive metal to be coated is gold, the coating amount is preferably 0.5 to 30% by mass of the core particles, more preferably 2 to 20% by mass, and further preferably 3 to 15%. % By mass.

また、導電性粒子Pの数平均粒子径は、3〜20μmであることが好ましく、より好ましくは5〜15μmである。この数平均粒子径が過小である場合には、後述する製造方法において、導電性粒子Pを厚み方向に配向させることが困難となることがある。一方、この数平均粒子径が過大である場合には、分解能の高い異方導電性エラストマーシートを得ることが困難となることがある。
また、導電性粒子Pの粒子径分布(Dw/Dn)は、1〜10であることが好ましく、より好ましくは1.01〜7、さらに好ましくは1.05〜5、特に好ましくは1.1〜4である。
また、導電性粒子Pの形状は、特に限定されるものではないが、高分子物質形成材料中に容易に分散させることができる点で、球状のもの、星形状のものあるいはこれらが凝集した2次粒子であることが好ましい。
また、導電性粒子Pとして、その表面がシランカップリング剤などのカップリング剤や潤滑剤で処理されたものを適宜用いることができる。カップリング剤や潤滑剤で粒子表面を処理することにより、得られる異方導電性エラストマーシートの耐久性が向上する。
Moreover, it is preferable that the number average particle diameter of the electroconductive particle P is 3-20 micrometers, More preferably, it is 5-15 micrometers. When this number average particle diameter is too small, it may be difficult to orient the conductive particles P in the thickness direction in the production method described later. On the other hand, when the number average particle diameter is excessive, it may be difficult to obtain an anisotropic conductive elastomer sheet with high resolution.
The particle size distribution (Dw / Dn) of the conductive particles P is preferably 1 to 10, more preferably 1.01 to 7, still more preferably 1.05 to 5, particularly preferably 1.1. ~ 4.
Further, the shape of the conductive particles P is not particularly limited, but spherical particles, star-shaped particles, or agglomerated particles 2 can be easily dispersed in the polymer substance-forming material. Secondary particles are preferred.
Further, as the conductive particles P, those whose surfaces are treated with a coupling agent such as a silane coupling agent or a lubricant can be appropriately used. By treating the particle surface with a coupling agent or a lubricant, the durability of the resulting anisotropic conductive elastomer sheet is improved.

このような導電性粒子Pは、異方導電性エラストマーシート中に体積分率で10〜40%、特に15〜35%となる割合で含有されていることが好ましい。この割合が過小である場合には、厚み方向に十分に高い導電性を有する異方導電性エラストマーシートが得られないことがある。一方、この割合が過大である場合には、得られる異方導電性エラストーシートは脆弱なものとなりやすく、異方導電性エラストーシートとして必要な弾性が得られないことがある。   Such conductive particles P are preferably contained in the anisotropic conductive elastomer sheet at a volume fraction of 10 to 40%, particularly 15 to 35%. When this ratio is too small, an anisotropic conductive elastomer sheet having sufficiently high conductivity in the thickness direction may not be obtained. On the other hand, if this ratio is excessive, the resulting anisotropic conductive elastomer sheet tends to be fragile, and the elasticity necessary for the anisotropic conductive elastomer sheet may not be obtained.

また、第1の異方導電性エラストマーシート16および第2の異方導電性エラストマーシート17の各々の厚みは、20〜100μmであることが好ましく、より好ましくは25〜70μmである。この厚みが過小である場合には、十分な凹凸吸収能が得られないことがある。一方、この厚みが過大である場合には、高い分解能が得られないことがある。   Moreover, it is preferable that each thickness of the 1st anisotropically conductive elastomer sheet 16 and the 2nd anisotropically conductive elastomer sheet 17 is 20-100 micrometers, More preferably, it is 25-70 micrometers. When this thickness is too small, sufficient unevenness absorbing ability may not be obtained. On the other hand, if this thickness is excessive, high resolution may not be obtained.

第1の異方導電性エラストマーシート16は、以下のようにして製造することができる。
先ず、図12に示すように、それぞれシート状の一面側成形部材30および他面側成形部材31と、目的とする第1の異方導電性エラストマーシート16の平面形状に適合する形状の開口32Kを有すると共に当該第1の異方導電性エラストマーシート16の厚みに対応する厚みを有する枠状のスペーサー32とを用意すると共に、硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料中に導電性粒子が含有されてなる導電性エラストマー用材料を調製する。
そして、図13に示すように、他面側成形部材31の成形面(図13において上面)上にスペーサー32を配置し、他面側成形部材31の成形面上におけるスペーサー32の開口32K内に、調製した導電性エラストマー用材料16Bを塗布し、その後、この導電性エラストマー用材料16B上に一面側成形部材30をその成形面(図13において下面)が導電性エラストマー用材料16Bに接するよう配置する。
以上において、一面側成形部材30および他面側成形部材31としては、ポリイミド樹脂、ポリエステル樹脂、アクリル樹脂などよりなる樹脂シートを用いることができる。
また、一面側成形部材30および他面側成形部材31を構成する樹脂シートの厚みは、50〜500μmであることが好ましく、より好ましくは75〜300μmである。この厚みが50μm未満である場合には、成形部材として必要な強度が得られないことがある。一方、この厚みが500μmを超える場合には、後述する導電性エラストマー用材料層に所要の強度の磁場を作用させることが困難となることがある。
The first anisotropic conductive elastomer sheet 16 can be manufactured as follows.
First, as shown in FIG. 12, each of the sheet-like one side molding member 30 and the other side molding member 31, and an opening 32K having a shape that matches the planar shape of the target first anisotropic conductive elastomer sheet 16. And a frame-shaped spacer 32 having a thickness corresponding to the thickness of the first anisotropic conductive elastomer sheet 16, and a liquid polymer substance-forming material that is cured to become an elastic polymer substance A conductive elastomer material containing conductive particles is prepared.
Then, as shown in FIG. 13, the spacer 32 is disposed on the molding surface (the upper surface in FIG. 13) of the other surface side molding member 31, and the opening 32 </ b> K of the spacer 32 on the molding surface of the other surface side molding member 31. Then, the prepared conductive elastomer material 16B is applied, and then the one-surface side molded member 30 is arranged on the conductive elastomer material 16B so that the molding surface (the lower surface in FIG. 13) is in contact with the conductive elastomer material 16B. To do.
In the above, as the one side molding member 30 and the other side molding member 31, a resin sheet made of polyimide resin, polyester resin, acrylic resin, or the like can be used.
Moreover, it is preferable that the thickness of the resin sheet which comprises the one surface side molded member 30 and the other surface side molded member 31 is 50-500 micrometers, More preferably, it is 75-300 micrometers. If this thickness is less than 50 μm, the strength required for the molded member may not be obtained. On the other hand, when the thickness exceeds 500 μm, it may be difficult to apply a magnetic field having a required strength to the conductive elastomer material layer described later.

次いで、図14に示すように、加圧ロール33および支持ロール34よりなる加圧ロール装置35を用い、一面側成形部材30および他面側成形部材31によって導電性エラストマー用材料16Bを挟圧することにより、当該一面側成形部材30と当該他面側成形部材31との間に、所要の厚みの導電性エラストマー用材料層16Aを形成する。この導電性エラストマー用材料層16Aにおいては、図15に拡大して示すように、導電性粒子Pが均一に分散した状態で含有されている。
その後、一面側成形部材30の裏面および他面側成形部材31の裏面に、例えば一対の電磁石を配置し、当該電磁石を作動させることにより、導電性エラストマー用材料層16Aの厚み方向に平行磁場を作用させる。その結果、導電性エラストマー用材料層16Aにおいては、当該導電性エラストマー用材料層16A中に分散されている導電性粒子Pが、図16に示すように、面方向に分散された状態を維持しながら厚み方向に並ぶよう配向し、これにより、それぞれ厚み方向に伸びる複数の導電性粒子Pによる連鎖が、面方向に分散した状態で形成される。
そして、この状態において、導電性エラストマー用材料層16Aを硬化処理することにより、弾性高分子物質中に、導電性粒子Pが厚み方向に並ぶよう配向した状態で、かつ、当該導電性粒子Pによる連鎖が面方向に分散された状態で含有されてなる第1の異方導電性エラストマーシート16が製造される。
Next, as shown in FIG. 14, the conductive elastomer material 16 </ b> B is clamped by the one-surface-side molded member 30 and the other-surface-side molded member 31 using the pressure roll device 35 including the pressure roll 33 and the support roll 34. Thus, the conductive elastomer material layer 16 </ b> A having a required thickness is formed between the one side molding member 30 and the other side molding member 31. In the conductive elastomer material layer 16A, as shown in an enlarged view in FIG. 15, the conductive particles P are contained in a uniformly dispersed state.
Thereafter, for example, a pair of electromagnets are arranged on the back surface of the one-surface-side molded member 30 and the back surface of the other-surface-side molded member 31, and the electromagnets are operated to generate a parallel magnetic field in the thickness direction of the conductive elastomer material layer 16A. Make it work. As a result, in the conductive elastomer material layer 16A, the conductive particles P dispersed in the conductive elastomer material layer 16A maintain the state of being dispersed in the plane direction as shown in FIG. However, a plurality of conductive particles P, which are aligned in the thickness direction, are formed so as to be dispersed in the plane direction.
In this state, the conductive elastomer material layer 16A is cured, so that the conductive particles P are aligned in the thickness direction in the elastic polymer substance, and the conductive particles P are formed by the conductive particles P. A first anisotropic conductive elastomer sheet 16 is produced which contains chains in a state dispersed in the plane direction.

以上において、導電性エラストマー用材料層16Aの硬化処理は、平行磁場を作用させたままの状態で行うこともできるが、平行磁場の作用を停止させた後に行うこともできる。
導電性エラストマー用材料層16Aに作用される平行磁場の強度は、平均で0.02〜2.5テスラとなる大きさが好ましい。
導電性エラストマー用材料層16Aの硬化処理は、使用される材料によって適宜選定されるが、通常、加熱処理によって行われる。具体的な加熱温度および加熱時間は、導電性エラストマー用材料層16Aを構成する高分子物質用材料などの種類、導電性粒子Pの移動に要する時間などを考慮して適宜選定される。
In the above, the curing process of the conductive elastomer material layer 16A can be performed while the parallel magnetic field is applied, but can also be performed after the parallel magnetic field is stopped.
The intensity of the parallel magnetic field applied to the conductive elastomer material layer 16A is preferably 0.02 to 2.5 Tesla on average.
The curing treatment of the conductive elastomer material layer 16A is appropriately selected depending on the material to be used, but is usually performed by heat treatment. The specific heating temperature and heating time are appropriately selected in consideration of the type of the polymer material constituting the conductive elastomer material layer 16A, the time required to move the conductive particles P, and the like.

また、第2の異方導電性エラストマーシート17は、第1の異方導電性エラストマーシート16と同様の方法によって製造することができる。   Further, the second anisotropic conductive elastomer sheet 17 can be manufactured by the same method as the first anisotropic conductive elastomer sheet 16.

このような異方導電性コネクター10によれば、複合導電性シート11における剛性導体15の各々は、絶縁膜14の弾性によって、絶縁性シート12に対してその厚み方向に変位可能とされているため、接続すべき電極によって厚み方向に加圧されたときには、複合導電性シート12の一面に配置された第1の異方導電性エラストマーシート16および当該複合導電性シート12の他面に配置された第2の異方導電性エラストマーシート17は、剛性導体15が変位することによって互いに連動して圧縮変形するため、両者の有する凹凸吸収能の合計が異方導電性コネクター10の凹凸吸収能として発現され、従って、高い凹凸吸収能を得ることができる。
また、所要の凹凸吸収能を得るために必要な厚みは、第1の異方導電性エラストマーシート16および第2の異方導電性エラストマーシート17の合計の厚みによって確保すればよく、個々の異方導電性エラストマーシートとしては、厚みが小さいものを用いることができるので、高い分解能を得ることができる。
また、剛性導体15の各々は、絶縁膜14に固定支持されているため、複合導電性シート12の製造中或いは異方導電性コネクター10の使用中に、剛性導体15の変位機能に不具合が生じることがない。
従って、隣接する電極間の離間距離が小さく、電極の高さレベルにバラツキがある接続対象体についても、隣接する電極間に必要な絶縁性が確保された状態で当該電極の各々に対する電気的な接続を確実に達成することができる。
According to such an anisotropic conductive connector 10, each of the rigid conductors 15 in the composite conductive sheet 11 can be displaced in the thickness direction with respect to the insulating sheet 12 by the elasticity of the insulating film 14. Therefore, when pressurized in the thickness direction by the electrodes to be connected, the first anisotropic conductive elastomer sheet 16 disposed on one surface of the composite conductive sheet 12 and the other surface of the composite conductive sheet 12 are disposed. Since the second anisotropic conductive elastomer sheet 17 is compressed and deformed in conjunction with each other when the rigid conductor 15 is displaced, the sum of the uneven absorption capacity of both is the uneven absorption capacity of the anisotropic conductive connector 10. Therefore, high unevenness absorbing ability can be obtained.
In addition, the thickness necessary for obtaining the required unevenness absorbing capability may be ensured by the total thickness of the first anisotropic conductive elastomer sheet 16 and the second anisotropic conductive elastomer sheet 17. Since a thin conductive elastomer sheet can be used, high resolution can be obtained.
Further, since each of the rigid conductors 15 is fixedly supported by the insulating film 14, a problem occurs in the displacement function of the rigid conductor 15 during manufacture of the composite conductive sheet 12 or use of the anisotropic conductive connector 10. There is nothing.
Therefore, even for a connection object in which the separation distance between adjacent electrodes is small and the height level of the electrodes varies, electrical connection to each of the electrodes is performed in a state where necessary insulation is ensured between the adjacent electrodes. Connection can be reliably achieved.

〈アダプター装置〉
図17は、本発明に係るアダプター装置の第1の例における構成を示す説明用断面図であり、図18は、図17に示すアダプター装置におけるアダプター本体を示す説明用断面図である。このアダプター装置は、例えばプリント回路基板などの回路装置について、例えばオープン・ショート試験を行うために用いられる回路装置検査用のものであって、多層配線板よりなるアダプター本体20を有する。
アダプター本体20の表面(図17および図18において上面)には、検査対象である回路装置の被検査電極のパターンに対応する特定のパターンに従って複数の接続用電極21が配置された接続用電極領域25が形成されている。
アダプター本体20の裏面には、例えばピッチが0.8mm、0.75mm、1.5mm、1.8mm、2.54mmの格子点位置に従って複数の端子電極22が配置され、端子電極22の各々は、内部配線部23によって接続用電極21に電気的に接続されている。
このアダプター本体20の表面には、その接続用電極領域25上に、基本的に図1に示す構成の異方導電性コネクター10が、その第2の異方導電性エラストマーシート17がアダプター本体20に接するよう配置され、当該アダプター本体20に適宜の手段(図示省略)によって固定されている。
この異方導電性コネクター10において、複合導電性シート11には、アダプター本体20における接続用電極21に係る特定のパターンと同一のパターンに従って複数の剛性導体15が配置されており、当該異方導電性コネクター10は、複合導電性シート11における剛性導体15の各々がアダプター本体20の接続用電極21の直上位置に位置するよう配置されている。
<Adapter device>
FIG. 17 is an explanatory cross-sectional view showing a configuration of the adapter device according to the first example of the present invention, and FIG. 18 is an explanatory cross-sectional view showing an adapter main body in the adapter device shown in FIG. This adapter device is for inspecting a circuit device used for, for example, performing an open / short test on a circuit device such as a printed circuit board, and has an adapter body 20 made of a multilayer wiring board.
On the surface of the adapter body 20 (upper surface in FIGS. 17 and 18), a connection electrode region in which a plurality of connection electrodes 21 are arranged according to a specific pattern corresponding to the pattern of the electrode to be inspected of the circuit device to be inspected. 25 is formed.
A plurality of terminal electrodes 22 are arranged on the back surface of the adapter main body 20 according to lattice point positions having a pitch of 0.8 mm, 0.75 mm, 1.5 mm, 1.8 mm, 2.54 mm, for example. The internal wiring portion 23 is electrically connected to the connection electrode 21.
On the surface of the adapter main body 20, the anisotropic conductive connector 10 basically configured as shown in FIG. 1 and the second anisotropic conductive elastomer sheet 17 are basically provided on the connection electrode region 25. And is fixed to the adapter body 20 by appropriate means (not shown).
In the anisotropic conductive connector 10, a plurality of rigid conductors 15 are arranged on the composite conductive sheet 11 in accordance with the same pattern as the specific pattern related to the connection electrode 21 in the adapter body 20. The flexible connector 10 is disposed such that each of the rigid conductors 15 in the composite conductive sheet 11 is positioned immediately above the connection electrode 21 of the adapter body 20.

このようなアダプター装置によれば、図1に示す構成の異方導電性コネクター10を有するため、検査対象である回路装置が、隣接する被検査電極の間の離間距離が小さく、被検査電極の高さレベルにバラツキがあるものであっても、隣接する被検査電極間に必要な絶縁性が確保された状態で当該被検査電極の各々に対する電気的な接続を確実に達成することができる。   According to such an adapter device, since the anisotropic conductive connector 10 having the configuration shown in FIG. 1 is provided, the circuit device to be inspected has a small separation distance between adjacent electrodes to be inspected, and Even if the height level varies, it is possible to reliably achieve electrical connection to each of the electrodes to be inspected in a state where necessary insulation is ensured between adjacent electrodes to be inspected.

図19は、本発明に係るアダプター装置の第2の例における構成を示す説明用断面図であり、図20は、図19に示すアダプター装置におけるアダプター本体を示す説明用断面図である。このアダプター装置は、例えばプリント回路基板などの回路装置について、各配線パターンの電気抵抗測定試験を行うために用いられる回路装置検査用のものであって、多層配線板よりなるアダプター本体20を有する。
アダプター本体20の表面(図19および図20において上面)には、それぞれ同一の被検査電極に電気的に接続される互いに離間して配置された電流供給用の接続用電極(以下、「電流供給用電極」ともいう。)21bおよび電圧測定用の接続用電極(以下、「電圧測定用電極」ともいう。)21cよりなる複数の接続用電極対21aが配置された接続用電極領域25が形成されている。これらの接続用電極対21aは、検査対象である回路装置の被検査電極のパターンに対応するパターンに従って配置されている。
アダプター本体20の裏面には、例えばピッチが0.8mm、0.75mm、1.5mm、1.8mm、2.54mmの格子点位置に従って複数の端子電極22が配置されている。
そして、電流供給用電極21bおよび電圧測定用電極21cの各々は、内部配線部23によって端子電極22に電気的に接続されている。
このアダプター本体20の表面には、その接続用電極領域25上に、基本的に図1に示す構成の異方導電性コネクター10が、その第2の異方導電性エラストマーシート17がアダプター本体20に接するよう配置され、当該アダプター本体20に適宜の手段(図示省略)によって固定されている。
この異方導電性コネクター10において、複合導電性シート11には、アダプター本体20における接続用電極21b,21cに係る特定のパターンと同一のパターンに従って複数の剛性導体15が配置されており、当該異方導電性コネクター10は、複合導電性シート11における剛性導体15の各々がアダプター本体20の接続用電極21b,21cの直上位置に位置するよう配置されている。
FIG. 19 is an explanatory cross-sectional view showing a configuration of the adapter device according to the second example of the present invention, and FIG. 20 is an explanatory cross-sectional view showing an adapter main body in the adapter device shown in FIG. This adapter device is for testing a circuit device used for conducting an electrical resistance measurement test of each wiring pattern on a circuit device such as a printed circuit board, and has an adapter body 20 made of a multilayer wiring board.
On the surface of the adapter main body 20 (the upper surface in FIGS. 19 and 20), connection electrodes for current supply (hereinafter referred to as “current supply”) that are spaced apart from each other and are electrically connected to the same electrode to be inspected. A connection electrode region 25 in which a plurality of connection electrode pairs 21a each including a connection electrode 21b and a voltage measurement connection electrode (hereinafter also referred to as a "voltage measurement electrode") 21c are formed. Has been. These connection electrode pairs 21a are arranged according to a pattern corresponding to the pattern of the electrodes to be inspected of the circuit device to be inspected.
A plurality of terminal electrodes 22 are arranged on the back surface of the adapter main body 20 according to lattice point positions having a pitch of 0.8 mm, 0.75 mm, 1.5 mm, 1.8 mm, 2.54 mm, for example.
Each of the current supply electrode 21 b and the voltage measurement electrode 21 c is electrically connected to the terminal electrode 22 by the internal wiring portion 23.
On the surface of the adapter main body 20, the anisotropic conductive connector 10 basically configured as shown in FIG. 1 and the second anisotropic conductive elastomer sheet 17 are basically provided on the connection electrode region 25. And is fixed to the adapter body 20 by appropriate means (not shown).
In the anisotropic conductive connector 10, a plurality of rigid conductors 15 are arranged on the composite conductive sheet 11 according to the same pattern as the specific pattern related to the connection electrodes 21 b and 21 c in the adapter body 20. The two-way conductive connector 10 is arranged such that each of the rigid conductors 15 in the composite conductive sheet 11 is positioned immediately above the connection electrodes 21 b and 21 c of the adapter body 20.

上記のアダプター装置によれば、図1に示す構成の異方導電性コネクター10を有するため、検査対象である回路装置が、隣接する被検査電極の間の離間距離が小さく、被検査電極の高さレベルにバラツキがあるものであっても、隣接する被検査電極間に必要な絶縁性が確保された状態で当該被検査電極の各々に対する電気的な接続を確実に達成することができる。   According to the adapter device described above, since the anisotropic conductive connector 10 having the configuration shown in FIG. 1 is provided, the circuit device to be inspected has a small separation distance between adjacent inspected electrodes, and the height of the inspected electrodes is high. Even if there are variations in level, it is possible to reliably achieve electrical connection to each of the electrodes to be inspected in a state where necessary insulation is ensured between adjacent electrodes to be inspected.

〈回路装置の電気的検査装置〉
図21は、本発明に係る回路基板の電気的検査装置の第1の例における構成を示す説明図である。この電気的検査装置は、両面に被検査電極6,7が形成されたプリント回路基板などの回路装置5について、例えばオープン・ショート試験を行うものであって、回路装置5を検査実行領域Eに保持するためのホルダー2を有し、このホルダー2には、回路装置5を検査実行領域Eにおける適正な位置に配置するための位置決めピン3が設けられている。検査実行領域Eの上方には、図17に示すような構成の上部側アダプター装置1aおよび上部側検査ヘッド50aが下からこの順で配置され、更に、上部側検査ヘッド50aの上方には、上部側支持板56aが配置されており、上部側検査ヘッド50aは、支柱54aによって上部側支持板56aに固定されている。一方、検査実行領域Eの下方には、図17に示すような構成の下部側アダプター装置1bおよび下部側検査ヘッド50bが上からこの順で配置され、更に、下部側検査ヘッド50bの下方には、下部側支持板56bが配置されており、下部側検査ヘッド50bは、支柱54bによって下部側支持板56bに固定されている。
上部側検査ヘッド50aは、板状の検査電極装置51aと、この検査電極装置51aの下面に固定されて配置された弾性を有する異方導電性シート55aとにより構成されている。検査電極装置51aは、その下面に上部側アダプター装置1aの端子電極22と同一のピッチの格子点位置に配列された複数のピン状の検査電極52aを有し、これらの検査電極52aの各々は、電線53aによって、上部側支持板56aに設けられたコネクター57aに電気的に接続され、更に、このコネクター57aを介してテスターの検査回路(図示省略)に電気的に接続されている。
下部側検査ヘッド50bは、板状の検査電極装置51bと、この検査電極装置51bの上面に固定されて配置された弾性を有する異方導電性シート55bとにより構成されている。検査電極装置51bは、その上面に下部側アダプター装置1bの端子電極22と同一のピッチの格子点位置に配列された複数のピン状の検査電極52bを有し、これらの検査電極52bの各々は、電線53bによって、下部側支持板56bに設けられたコネクター57bに電気的に接続され、更に、このコネクター57bを介してテスターの検査回路(図示省略)に電気的に接続されている。
<Electrical inspection equipment for circuit devices>
FIG. 21 is an explanatory diagram showing the configuration of the first example of the circuit board electrical inspection apparatus according to the present invention. This electrical inspection device performs, for example, an open / short test on a circuit device 5 such as a printed circuit board having electrodes 6 and 7 to be inspected on both sides, and the circuit device 5 is placed in an inspection execution region E. The holder 2 for holding is provided with a positioning pin 3 for arranging the circuit device 5 at an appropriate position in the inspection execution region E. Above the inspection execution area E, an upper-side adapter device 1a and an upper-side inspection head 50a configured as shown in FIG. 17 are arranged in this order from the bottom, and further above the upper-side inspection head 50a, A side support plate 56a is disposed, and the upper side inspection head 50a is fixed to the upper side support plate 56a by a column 54a. On the other hand, below the inspection execution area E, a lower-side adapter device 1b and a lower-side inspection head 50b configured as shown in FIG. 17 are arranged in this order from the top, and further below the lower-side inspection head 50b. The lower side support plate 56b is disposed, and the lower side inspection head 50b is fixed to the lower side support plate 56b by a support 54b.
The upper side inspection head 50a includes a plate-like inspection electrode device 51a and an anisotropic conductive sheet 55a having elasticity that is fixed and arranged on the lower surface of the inspection electrode device 51a. The inspection electrode device 51a has a plurality of pin-shaped inspection electrodes 52a arranged on the lower surface thereof at lattice point positions having the same pitch as the terminal electrodes 22 of the upper-side adapter device 1a. The electric wire 53a is electrically connected to a connector 57a provided on the upper support plate 56a, and is further electrically connected to a tester inspection circuit (not shown) via the connector 57a.
The lower inspection head 50b is composed of a plate-shaped inspection electrode device 51b and an anisotropic conductive sheet 55b having elasticity and fixed to the upper surface of the inspection electrode device 51b. The inspection electrode device 51b has a plurality of pin-shaped inspection electrodes 52b arranged on the upper surface thereof at lattice point positions having the same pitch as the terminal electrodes 22 of the lower adapter device 1b. Each of these inspection electrodes 52b The electric wire 53b is electrically connected to a connector 57b provided on the lower support plate 56b, and is further electrically connected to an inspection circuit (not shown) of the tester via the connector 57b.

上部側検査ヘッド50aおよび下部側検査ヘッド50bにおける異方導電性シート55a,55bは、いずれもその厚み方向にのみ導電路を形成する導電路形成部が形成されてなるものである。このような異方導電性シート55a,55bとしては、各導電路形成部が少なくとも一面において厚み方向に突出するよう形成されているものが、高い電気的な接触安定性を発揮する点で好ましい。   The anisotropic conductive sheets 55a and 55b in the upper side inspection head 50a and the lower side inspection head 50b are each formed with a conductive path forming portion that forms a conductive path only in the thickness direction. As such anisotropically conductive sheets 55a and 55b, those in which the respective conductive path forming portions are formed so as to protrude in the thickness direction on at least one surface are preferable in terms of exhibiting high electrical contact stability.

このような回路基板の電気的検査装置においては、検査対象である回路装置5がホルダー2によって検査実行領域Eに保持され、この状態で、上部側支持板56aおよび下部側支持板56bの各々が回路装置5に接近する方向に移動することにより、当該回路装置5が上部側アダプター装置1aおよび下部側アダプター装置1bによって挟圧される。
この状態においては、回路装置5の上面における被検査電極6は、上部側アダプター装置1aにおける接続用電極21に、当該異方導電性コネクター10を介して電気的に接続され、この上部側アダプター装置1aの端子電極22は、異方導電性シート55aを介して検査電極装置51aの検査電極52aに電気的に接続されている。一方、回路装置5の下面における被検査電極7は、下部側アダプター装置1bにおける接続用電極21に、当該異方導電性コネクター10を介して電気的に接続され、この下部側アダプター装置1bの端子電極22は、異方導電性シート55bを介して検査電極装置51bの検査電極52bに電気的に接続されている。
In such an electrical inspection device for circuit boards, the circuit device 5 to be inspected is held in the inspection execution region E by the holder 2, and in this state, each of the upper support plate 56a and the lower support plate 56b is By moving in the direction approaching the circuit device 5, the circuit device 5 is pinched by the upper adapter device 1a and the lower adapter device 1b.
In this state, the electrode 6 to be inspected on the upper surface of the circuit device 5 is electrically connected to the connection electrode 21 in the upper adapter device 1a via the anisotropic conductive connector 10, and this upper adapter device. The terminal electrode 22 of 1a is electrically connected to the inspection electrode 52a of the inspection electrode device 51a through the anisotropic conductive sheet 55a. On the other hand, the electrode 7 to be inspected on the lower surface of the circuit device 5 is electrically connected to the connection electrode 21 in the lower adapter device 1b via the anisotropic conductive connector 10, and the terminal of the lower adapter device 1b. The electrode 22 is electrically connected to the inspection electrode 52b of the inspection electrode device 51b via the anisotropic conductive sheet 55b.

このようにして、回路装置5の上面および下面の両方の被検査電極6,7の各々が、上部側検査ヘッド50aにおける検査電極装置51aの検査電極52aおよび下部側検査ヘッド50bにおける検査電極装置51bの検査電極52bの各々に電気的に接続されることにより、テスターの検査回路に電気的に接続された状態が達成され、この状態で所要の電気的検査が行われる。   In this way, the test electrodes 6 and 7 on both the upper and lower surfaces of the circuit device 5 are respectively connected to the test electrode 52a of the test electrode device 51a in the upper test head 50a and the test electrode device 51b in the lower test head 50b. By being electrically connected to each of the test electrodes 52b, a state of being electrically connected to the test circuit of the tester is achieved, and a required electrical test is performed in this state.

上記の回路基板の電気的検査装置によれば、図17に示すような構成の上部側アダプター装置1aおよび下部側アダプター装置1bを有するため、検査対象である回路装置5が、隣接する被検査電極6,7の間の離間距離が小さく、被検査電極6,7の高さレベルにバラツキがあるものであっても、当該回路装置5について所要の電気的検査を確実に実行することができる。   According to the electrical inspection apparatus for a circuit board described above, since the upper adapter device 1a and the lower adapter device 1b are configured as shown in FIG. Even if the distance between the electrodes 6 and 7 is small and the height levels of the electrodes 6 and 7 to be inspected vary, a required electrical inspection can be reliably performed on the circuit device 5.

図22は、本発明に係る回路基板の電気的検査装置の第2の例における構成を示す説明図である。この電気的検査装置は、両面に被検査電極6,7が形成されたプリント回路基板などの回路装置5について、各配線パターンの電気抵抗測定試験を行うためのものであって、回路装置5を検査実行領域Eに保持するためのホルダー2を有し、このホルダー2には、回路装置5を検査実行領域Eにおける適正な位置に配置するための位置決めピン3が設けられている。
検査実行領域Eの上方には、図19に示すような構成の上部側アダプター装置1aおよび上部側検査ヘッド50aが下からこの順で配置され、更に、上部側検査ヘッド50aの上方には、上部側支持板56aが配置されており、上部側検査ヘッド50aは、支柱54aによって上部側支持板56aに固定されている。一方、検査実行領域Eの下方には、図19に示すような構成の下部側アダプター装置1bおよび下部側検査ヘッド50bが上からこの順で配置され、更に、下部側検査ヘッド50bの下方には、下部側支持板56bが配置されており、下部側検査ヘッド50bは、支柱54bによって下部側支持板56bに固定されている。
上部側検査ヘッド50aは、板状の検査電極装置51aと、この検査電極装置51aの下面に固定されて配置された弾性を有する異方導電性シート55aとにより構成されている。検査電極装置51aは、その下面に上部側アダプター装置1aの端子電極22と同一のピッチの格子点位置に配列された複数のピン状の検査電極52aを有し、これらの検査電極52aの各々は、電線53aによって、上部側支持板56aに設けられたコネクター57aに電気的に接続され、更に、このコネクター57aを介してテスターの検査回路(図示省略)に電気的に接続されている。
下部側検査ヘッド50bは、板状の検査電極装置51bと、この検査電極装置51bの上面に固定されて配置された弾性を有する異方導電性シート55bとにより構成されている。検査電極装置51bは、その上面に下部側アダプター装置1bの端子電極22と同一のピッチの格子点位置に配列された複数のピン状の検査電極52bを有し、これらの検査電極52bの各々は、電線53bによって、下部側支持板56bに設けられたコネクター57bに電気的に接続され、更に、このコネクター57bを介してテスターの検査回路(図示省略)に電気的に接続されている。
上部側検査ヘッド50aおよび下部側検査ヘッド50bにおける異方導電性シート55a,55bは、第1の例の電気的検査装置と基本的に同様の構成である。
FIG. 22 is an explanatory diagram showing the configuration of the second example of the circuit board electrical inspection apparatus according to the present invention. This electrical inspection device is for performing an electrical resistance measurement test of each wiring pattern on a circuit device 5 such as a printed circuit board on which both electrodes 6 and 7 to be inspected are formed. The holder 2 for holding in the inspection execution area E is provided, and the holder 2 is provided with positioning pins 3 for arranging the circuit device 5 at an appropriate position in the inspection execution area E.
Above the inspection execution area E, an upper-side adapter device 1a and an upper-side inspection head 50a configured as shown in FIG. 19 are arranged in this order from the bottom, and further above the upper-side inspection head 50a, A side support plate 56a is disposed, and the upper side inspection head 50a is fixed to the upper side support plate 56a by a column 54a. On the other hand, below the inspection execution area E, a lower-side adapter device 1b and a lower-side inspection head 50b configured as shown in FIG. 19 are arranged in this order from the top, and further below the lower-side inspection head 50b. The lower side support plate 56b is disposed, and the lower side inspection head 50b is fixed to the lower side support plate 56b by a support 54b.
The upper side inspection head 50a includes a plate-like inspection electrode device 51a and an anisotropic conductive sheet 55a having elasticity that is fixed and arranged on the lower surface of the inspection electrode device 51a. The inspection electrode device 51a has a plurality of pin-shaped inspection electrodes 52a arranged on the lower surface thereof at lattice point positions having the same pitch as the terminal electrodes 22 of the upper-side adapter device 1a. The electric wire 53a is electrically connected to a connector 57a provided on the upper support plate 56a, and is further electrically connected to a tester inspection circuit (not shown) via the connector 57a.
The lower inspection head 50b is composed of a plate-shaped inspection electrode device 51b and an anisotropic conductive sheet 55b having elasticity and fixed to the upper surface of the inspection electrode device 51b. The inspection electrode device 51b has a plurality of pin-shaped inspection electrodes 52b arranged on the upper surface thereof at lattice point positions having the same pitch as the terminal electrodes 22 of the lower adapter device 1b. Each of these inspection electrodes 52b The electric wire 53b is electrically connected to a connector 57b provided on the lower support plate 56b, and is further electrically connected to an inspection circuit (not shown) of the tester via the connector 57b.
The anisotropic conductive sheets 55a and 55b in the upper side inspection head 50a and the lower side inspection head 50b have basically the same configuration as that of the electrical inspection apparatus of the first example.

このような回路基板の電気的検査装置においては、検査対象である回路装置5がホルダー2によって検査実行領域Eに保持され、この状態で、上部側支持板56aおよび下部側支持板56bの各々が回路装置5に接近する方向に移動することにより、当該回路装置5が上部側アダプター装置1aおよび下部側アダプター装置1bによって挟圧される。
この状態においては、回路装置5の上面における被検査電極6は、上部側アダプター装置1aの接続用電極対21aにおける電流供給用電極21bおよび電圧測定用電極21cの両方に、異方導電性コネクター10を介して電気的に接続され、この上部側アダプター装置1aの端子電極22は、異方導電性シート55aを介して検査電極装置51aの検査電極52aに電気的に接続されている。一方、回路装置5の下面における被検査電極7は、下部側アダプター装置1bの接続用電極対21aにおける電流供給用電極21bおよび電圧測定用電極21cの両方に、異方導電性コネクター10を介して電気的に接続され、この下部側アダプター装置1bの端子電極22は、異方導電性シート55bを介して検査電極装置51bの検査電極52bに電気的に接続されている。
In such an electrical inspection device for circuit boards, the circuit device 5 to be inspected is held in the inspection execution region E by the holder 2, and in this state, each of the upper support plate 56a and the lower support plate 56b is By moving in the direction approaching the circuit device 5, the circuit device 5 is pinched by the upper adapter device 1a and the lower adapter device 1b.
In this state, the electrode 6 to be inspected on the upper surface of the circuit device 5 is connected to both the current supply electrode 21b and the voltage measurement electrode 21c in the connection electrode pair 21a of the upper-side adapter device 1a. The terminal electrode 22 of the upper adapter device 1a is electrically connected to the inspection electrode 52a of the inspection electrode device 51a via the anisotropic conductive sheet 55a. On the other hand, the electrode 7 to be inspected on the lower surface of the circuit device 5 is connected to both the current supply electrode 21b and the voltage measurement electrode 21c in the connection electrode pair 21a of the lower adapter device 1b via the anisotropic conductive connector 10. The terminal electrode 22 of the lower adapter device 1b is electrically connected to the inspection electrode 52b of the inspection electrode device 51b via the anisotropic conductive sheet 55b.

このようにして、回路装置5の上面および下面の両方の被検査電極6,7の各々が、上部側検査ヘッド50aにおける検査電極装置51aの検査電極52aおよび下部側検査ヘッド50bにおける検査電極装置51bの検査電極52bの各々に電気的に接続されることにより、テスターの検査回路に電気的に接続された状態が達成され、この状態で所要の電気的検査が行われる。具体的には、上部側アダプター装置1aにおける電流供給用電極21bと下部側アダプター装置1bにおける電流供給用電極21bとの間に一定の値の電流が供給されると共に、上部側のアダプター装置1aにおける複数の電圧測定用電極21cの中から1つを指定し、当該指定された1つの電圧測定用電極21cと、当該電圧測定用電極21cに電気的に接続された上面側の被検査電極5に対応する下面側の被検査電極6に電気的に接続された、下部側アダプター装置1bにおける電圧測定用電極21cとの間の電圧が測定され、得られた電圧値に基づいて、当該指定された1つの電圧測定用電極21cに電気的に接続された上面側の被検査電極5とこれに対応する他面側の被検査電極6との間に形成された配線パターンの電気抵抗値が取得される。そして、指定する電圧測定用電極21cを順次変更することにより、全ての配線パターンの電気抵抗の測定が行われる。   In this way, the test electrodes 6 and 7 on both the upper and lower surfaces of the circuit device 5 are respectively connected to the test electrode 52a of the test electrode device 51a in the upper test head 50a and the test electrode device 51b in the lower test head 50b. By being electrically connected to each of the test electrodes 52b, a state of being electrically connected to the test circuit of the tester is achieved, and a required electrical test is performed in this state. Specifically, a constant current is supplied between the current supply electrode 21b in the upper-side adapter device 1a and the current-supply electrode 21b in the lower-side adapter device 1b, and in the upper-side adapter device 1a. One of the plurality of voltage measuring electrodes 21c is designated, and the designated one voltage measuring electrode 21c is connected to the inspected electrode 5 on the upper surface side electrically connected to the voltage measuring electrode 21c. A voltage is measured between the voltage measuring electrode 21c in the lower adapter device 1b and electrically connected to the corresponding electrode 6 to be inspected on the lower surface side. Based on the obtained voltage value, the designated voltage is measured. The electrical resistance value of the wiring pattern formed between the upper electrode under test 5 electrically connected to one voltage measuring electrode 21c and the corresponding other electrode 6 under test is taken. It is. And the electrical resistance of all the wiring patterns is measured by sequentially changing the designated voltage measuring electrode 21c.

上記の回路基板の電気的検査装置によれば、図19に示すような構成の上部側アダプター装置1aおよび下部側アダプター装置1bを有するため、検査対象である回路装置5が、隣接する被検査電極6,7の間の離間距離が小さく、被検査電極6,7の高さレベルにバラツキがあるものであっても、当該回路装置5について所要の電気的検査を確実に実行することができる。   According to the electrical inspection apparatus for a circuit board described above, since the upper side adapter device 1a and the lower side adapter device 1b are configured as shown in FIG. 19, the circuit device 5 to be inspected is adjacent to the electrode to be inspected. Even if the distance between the electrodes 6 and 7 is small and the height levels of the electrodes 6 and 7 to be inspected vary, a required electrical inspection can be reliably performed on the circuit device 5.

本発明においては、上記の実施の形態に限定されず、以下のような種々の変更を加えることが可能である。
異方導電性コネクター10において、複合導電性シート11の剛性導体15を構成する材料としては、剛性を有する導体であれば金属材料に限定されるものではなく、例えば、剛性樹脂中に金属などの導電性粉末が含有されてなるものなどを用いることができる。
また、複合導電性シート11は、図23に示すように、単一の開口13が形成された絶縁性シート12と、当該絶縁性シート12の開口12を塞ぐよう配置された一体の絶縁膜14とを有する構成のものであってもよい。
また、複合導電性シート11は、図24に示すように、複数の開口13が形成された絶縁性シート12と、それぞれ絶縁性シート12の一の開口13を塞ぐよう配置された複数の絶縁膜14とを有する構成のものであってもよい。
また、複合導電性シート11は、複数の開口が形成された絶縁性シートと、当該絶縁性シートの一の開口を塞ぐよう配置された1または2以上の絶縁膜と、絶縁性シートの複数の開口を塞ぐよう配置された1つまたは2以上の絶縁膜とを有する構成のものであってもよい。
また、電気的検査装置において、検査対象である回路装置は、プリント回路基板に限定されず、パッケージIC、MCMなどの半導体集積回路装置であってもよい。
In the present invention, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications as described below can be added.
In the anisotropic conductive connector 10, the material constituting the rigid conductor 15 of the composite conductive sheet 11 is not limited to a metal material as long as it is a rigid conductor. What contains electroconductive powder etc. can be used.
Further, as shown in FIG. 23, the composite conductive sheet 11 includes an insulating sheet 12 in which a single opening 13 is formed, and an integral insulating film 14 disposed so as to close the opening 12 of the insulating sheet 12. The thing of the structure which has these may be sufficient.
In addition, as shown in FIG. 24, the composite conductive sheet 11 includes an insulating sheet 12 in which a plurality of openings 13 are formed, and a plurality of insulating films that are arranged so as to block one opening 13 of the insulating sheet 12, respectively. 14 may be used.
The composite conductive sheet 11 includes an insulating sheet in which a plurality of openings are formed, one or more insulating films disposed so as to close one opening of the insulating sheet, and a plurality of insulating sheets. It may be configured to have one or more insulating films arranged so as to close the opening.
In the electrical inspection apparatus, the circuit device to be inspected is not limited to the printed circuit board, but may be a semiconductor integrated circuit device such as a package IC or MCM.

以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。   Hereinafter, specific examples of the present invention will be described, but the present invention is not limited to the following examples.

〈評価用回路装置の作製〉
下記の仕様の評価用回路装置を作製した。
すなわち、この評価用回路装置は、寸法が200mm(縦)×140mm(横)×0.8mm(厚み)で、上面側被検査電極および下面側被検査電極はそれぞれ半田バンプにより構成されている。上面側被検査電極は、その総数が2400個で、各々の直径が約200μm、突出高さが約50μm、最小ピッチが400μmである。下面側被検査電極は、その総数が2400個で、上面側被検査電極と同一のパターンで形成されており、各々の直径が約150μm、突出高さが約50μm、最小ピッチは400μmである。また、上面側被検査電極と下面側被検査電極とは、内部配線によって互いに1対1の関係で電気的に接続されている。
<Production of evaluation circuit device>
An evaluation circuit device having the following specifications was produced.
That is, this evaluation circuit device has a size of 200 mm (vertical) × 140 mm (horizontal) × 0.8 mm (thickness), and the upper surface side inspected electrode and the lower surface side inspected electrode are each composed of solder bumps. The total number of the upper surface side electrodes to be inspected is 2400, each having a diameter of about 200 μm, a protruding height of about 50 μm, and a minimum pitch of 400 μm. The total number of lower surface side electrodes to be inspected is 2400, and is formed in the same pattern as the upper surface side electrode to be inspected, each having a diameter of about 150 μm, a protruding height of about 50 μm, and a minimum pitch of 400 μm. Further, the upper surface side inspection electrode and the lower surface side inspection electrode are electrically connected to each other in a one-to-one relationship by internal wiring.

〈実施例1〉
以下のようにして、上記の評価用回路装置の電気的検査を行うための上部側アダプター装置および下部側アダプター装置を製造し、図22に示す回路装置の検査装置を構成した。
<Example 1>
In the following manner, an upper-side adapter device and a lower-side adapter device for electrical inspection of the evaluation circuit device were manufactured, and the circuit device inspection device shown in FIG. 22 was configured.

〔上部側アダプター装置〕
(1)複合導電性シートの製造:
厚みが50μmの液晶ポリマーよりなる樹脂シートの両面に銅箔が積層されてなる積層シート(新日鐵化学製の「エスパネックス LB18−50−18NEP」)を用意し、この積層シートの一面の銅箔上にドライフィルムレジストをラミネートすることによりレジスト膜を形成した。次いで、形成されたレジスト膜に対して露光処理および現像処理を施すことにより、当該レジスト膜に上記の評価用回路装置における上面側被検査電極に対応するパターンに従って直径が350μmの円形のパターン孔を形成し、更に、エッチング処理を行うことにより、銅箔にレジスト膜のパターン孔と同一のパターンの開口を形成し、その後、レジスト膜を除去した。
そして、積層シートにおける樹脂シートに対して、銅箔に形成された開口を介してレーザー加工を施して開口を形成し、その後、積層シートにおける両面の銅箔を、エッチング処理によって除去することにより、上記の評価用回路装置における上面側被検査電極に対応するパターンに従って開口が形成された絶縁性シートを作製した。
この絶縁性シートは、材質が液晶ポリマーで、寸法が190mm×130mm×50μmであり、開口の各々は、直径が400μmの円形であり、開口の総数は2400である。
[Upper adapter device]
(1) Production of composite conductive sheet:
Prepare a laminated sheet (“Espanex LB18-50-18NEP” manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) in which copper foil is laminated on both sides of a resin sheet made of a liquid crystal polymer having a thickness of 50 μm. A resist film was formed by laminating a dry film resist on the foil. Next, by performing exposure processing and development processing on the formed resist film, a circular pattern hole having a diameter of 350 μm is formed in the resist film in accordance with a pattern corresponding to the upper surface side inspected electrode in the circuit device for evaluation. Then, an etching process was performed to form an opening having the same pattern as the pattern hole of the resist film in the copper foil, and then the resist film was removed.
And, for the resin sheet in the laminated sheet, laser processing is performed through the opening formed in the copper foil to form an opening, and then the copper foil on both sides in the laminated sheet is removed by etching treatment, An insulating sheet having an opening formed in accordance with a pattern corresponding to the upper surface side inspected electrode in the circuit device for evaluation was produced.
This insulating sheet is made of a liquid crystal polymer and has dimensions of 190 mm × 130 mm × 50 μm. Each of the openings is a circle having a diameter of 400 μm and the total number of openings is 2400.

次いで、支持板の表面に、付加型液状シリコーンゴムを塗布することにより、厚みが10μmの塗布膜を形成し、この塗布膜上に、作製した絶縁性シートを配置し、更に、付加型液状シリコーンゴムを塗布することにより、絶縁性シートの各開口を塞ぐよう配置された、全体の厚みが70μmの一体の絶縁膜用材料層を形成し、この絶縁膜用材料層に対して、120℃、1時間の条件で硬化処理を行うことにより、当該絶縁性シートに厚みが70μmの絶縁膜を形成した。
得られた絶縁膜に対して、レーザー加工を施すことにより、当該絶縁膜にその厚み方向に伸びる直径50μmの貫通孔を、絶縁性シートの各開口内に位置する部分に2個ずつ、合計で4800個形成した。その後、絶縁膜の一面および他面の全面並びに絶縁膜の貫通孔の各々の内壁面全面に無電解メッキを施して銅よりなる金属薄層を形成し、更に、金属薄層における絶縁膜の一面に接する部分の表面に、それぞれ絶縁膜の貫通孔に連通する直径が60μmの4800個のパターン孔を有するレジスト膜を形成すると共に、金属薄層における絶縁膜の他面に接する部分の表面に、それぞれ絶縁膜の貫通孔に連通する直径が60μmの4800個のレジスト膜を形成した。そして、金属薄層を共通電極として電解メッキ処理を施して、絶縁膜の貫通孔内およびレジストのパターン内に金属を充填することにより、絶縁膜の厚み方向に伸びる銅よりなる剛性導体を形成した。この剛性導体の各々の寸法は、一端部および他端部の径がそれぞれ60μmで中央部の径が50μmである。その後、レジストの各々を除去し、更に、エッチング処理を施して金属薄層を除去することにより、複合導電性シートを製造した。得られた複合導電性シートの一面および他面における隣接する剛性導体の最小中心間距離は120μmで、最小離間距離は60μmである。
Next, an addition-type liquid silicone rubber is applied to the surface of the support plate to form a coating film having a thickness of 10 μm. The produced insulating sheet is disposed on the coating film, and the addition-type liquid silicone is further disposed. By applying rubber, an integral insulating film material layer having a total thickness of 70 μm, which is arranged so as to close each opening of the insulating sheet, is formed, and 120 ° C. with respect to this insulating film material layer, By performing the curing process under conditions of 1 hour, an insulating film having a thickness of 70 μm was formed on the insulating sheet.
By subjecting the obtained insulating film to laser processing, two through-holes with a diameter of 50 μm extending in the thickness direction of the insulating film are provided in a portion located in each opening of the insulating sheet, in total. 4800 pieces were formed. Thereafter, the entire surface of one surface and the other surface of the insulating film and the entire inner wall surface of each of the through holes of the insulating film are subjected to electroless plating to form a thin metal layer made of copper, and one surface of the insulating film in the thin metal layer A resist film having 4800 pattern holes each having a diameter of 60 μm communicating with the through hole of the insulating film is formed on the surface of the portion in contact with the insulating film, and on the surface of the portion in contact with the other surface of the insulating film in the metal thin layer, 4800 resist films each having a diameter of 60 μm and communicating with the through hole of the insulating film were formed. Then, an electroplating process was performed using the thin metal layer as a common electrode, and the metal was filled into the through hole of the insulating film and the resist pattern, thereby forming a rigid conductor made of copper extending in the thickness direction of the insulating film. . Each of the rigid conductors has a diameter at one end and the other end of 60 μm and a diameter at the center of 50 μm. Thereafter, each of the resists was removed, and further, an etching process was performed to remove the metal thin layer, thereby producing a composite conductive sheet. The minimum distance between the centers of adjacent rigid conductors on one side and the other side of the obtained composite conductive sheet is 120 μm, and the minimum separation distance is 60 μm.

(2)異方導電性エラストマーシートの製造:
付加型液状シリコーンゴム100重量部に数平均粒子径が12μmの導電性粒子400重量部を添加して混合した後、減圧による脱泡処理を行うことにより、導電性エラストマー用材料を調製した。
以上において、導電性粒子としては、ニッケル粒子を芯粒子とし、この芯粒子に無電解金メッキが施されてなるもの(平均被覆量:芯粒子の重量の2重量%となる量)を用いた。
(2) Production of anisotropically conductive elastomer sheet:
A conductive elastomer material was prepared by adding 400 parts by weight of conductive particles having a number average particle size of 12 μm to 100 parts by weight of addition-type liquid silicone rubber and mixing them, followed by defoaming treatment under reduced pressure.
In the above, as the conductive particles, nickel particles are used as core particles, and the core particles are subjected to electroless gold plating (average coating amount: an amount that is 2% by weight of the weight of the core particles).

他面側成形部材の成形面上に、120mm×120mmの矩形の開口を有する、厚みが50μmの枠状のスペーサーを配置した後、スペーサーの開口内に、調製した導電性エラストマー用材料を塗布し、この導電性エラストマー用材料上に一面側成形部材をその成形面が導電性エラストマー用材料に接するよう配置した。
以上において、一面側成形部材および他面側成形部材としては、厚みが0.1mmのポリエステル樹脂シートを用いた。
その後、加圧ロールおよび支持ロールよりなる加圧ロール装置を用い、一面側成形部材および他面側成形部材によって導電性エラストマー用材料を挟圧することにより、当該一面側成形部材と当該他面側成形部材との間に厚みが50μmの導電性エラストマー用材料層を形成した。
そして、一面側成形部材および他面側成形部材の各々の裏面に電磁石を配置し、導電性エラストマー用材料層に対してその厚み方向に0.3Tの平行磁場を作用させながら、120℃、0.5時間の条件で導電性エラストマー用材料層の硬化処理を行うことにより、厚みが50μmの矩形の異方導電性エラストマーシートを製造した。
以上のようにして、分散型異方導電性シートを2枚製造し、その一方を第1の異方導電性エラストマーシートとして複合導電性シートの一面に配置し、他方を第2の異方導電性エラストマーシートとして複合導電性シートの他面に配置することにより、上部側アダプター装置用の異方導電性コネクターを製造した。
After arranging a frame-shaped spacer having a rectangular opening of 120 mm × 120 mm and a thickness of 50 μm on the molding surface of the other side molding member, the prepared material for conductive elastomer is applied in the opening of the spacer. The one-surface side molded member was placed on the conductive elastomer material so that the molding surface was in contact with the conductive elastomer material.
In the above, a polyester resin sheet having a thickness of 0.1 mm was used as the one-surface-side molded member and the other-surface-side molded member.
Then, using the pressure roll apparatus which consists of a pressure roll and a support roll, the one surface side molded member and the other surface side molding are performed by sandwiching the conductive elastomer material with the one surface side molded member and the other surface side molded member. A conductive elastomer material layer having a thickness of 50 μm was formed between the members.
Then, an electromagnet is disposed on the back surface of each of the one side molding member and the other side molding member, and a parallel magnetic field of 0.3 T is applied to the conductive elastomer material layer in the thickness direction at 120 ° C., 0 A rectangular anisotropic conductive elastomer sheet having a thickness of 50 μm was produced by curing the material layer for the conductive elastomer under the condition of .5 hours.
As described above, two dispersive anisotropic conductive sheets are manufactured, one of which is disposed as one first anisotropic conductive elastomer sheet on one surface of the composite conductive sheet, and the other is the second anisotropic conductive sheet. An anisotropic conductive connector for an upper-side adapter device was manufactured by disposing the conductive elastomer sheet on the other surface of the composite conductive sheet.

(3)アダプター本体の製造:
図19に示す構成に従い、下記の仕様のアダプター本体を製造した。
すなわち、このアダプター本体は、縦横の寸法が200mm×140mmで、基板材質がガラス繊維補強型エポキシ樹脂であり、当該アダプター本体の表面における接続用電極領域には、それぞれ寸法が120μm×60μmの矩形の電流供給用電極および電圧測定用電極が60μmの離間距離(中心間距離が120μm)で配置されてなる2400対の接続用電極対が上記の評価用回路装置の上面側被検査電極のパターンに対応するパターンに従って配置されている。また、アダプター本体の裏面には、それぞれ直径が400μmの円形の4800個の端子電極が、750μmのピッチの格子点位置に従って配置されており、電流供給用電極および電圧測定用電極の各々と端子電極の各々とは、内部配線によって互いに1対1の関係で電気的に接続されている。
そして、このアダプター本体の表面における接続用電極領域上に、上記の異方導電性コネクターを位置合わせして配置して固定することにより、上部側アダプター装置を製造した。
(3) Manufacture of adapter body:
According to the configuration shown in FIG. 19, an adapter body having the following specifications was manufactured.
That is, this adapter body has a vertical and horizontal dimension of 200 mm × 140 mm, a substrate material is a glass fiber reinforced epoxy resin, and each of the electrode regions for connection on the surface of the adapter body has a rectangular shape of 120 μm × 60 μm. 2400 connecting electrode pairs in which the current supply electrode and the voltage measurement electrode are arranged with a separation distance of 60 μm (the distance between the centers is 120 μm) correspond to the pattern of the upper surface side inspected electrode of the circuit device for evaluation described above. Are arranged according to the pattern to be. In addition, on the back surface of the adapter body, 4800 terminal electrodes having a diameter of 400 μm are arranged in accordance with the grid point positions with a pitch of 750 μm, and each of the current supply electrode and the voltage measurement electrode is connected to the terminal electrode. Are electrically connected to each other in a one-to-one relationship by internal wiring.
And the upper side adapter apparatus was manufactured by aligning and arrange | positioning and fixing said anisotropically conductive connector on the electrode area | region for a connection in the surface of this adapter main body.

〔下部側アダプター装置〕
上記の上部側アダプター装置と同様にして下部側アダプター装置を製造した。
[Lower adapter device]
A lower adapter device was manufactured in the same manner as the upper adapter device described above.

〔検査装置の作製〕
上記の上部側アダプター装置および下部側アダプター装置を用い、図22に示す構成に従って、レール搬送型回路基板自動検査機(日本電産リード社製,品名:STARREC V5)の検査部に適合する検査装置を作製した。
この検査装置の上部側検査ヘッドおよび下部側検査ヘッドにおいて、それぞれの検査電極板装置には4800本のピン状の検査電極が750μmのピッチの格子点位置に従って配列されている。
また、上部側検査ヘッドおよび下部側検査ヘッドにおける異方導電性シートの各々は、それぞれ厚み方向に伸びる4800個の導電路形成部が絶縁部によって相互に絶縁されてなる偏在型異方導電性シートである。具体的に説明すると、導電路形成部の各々は、シリコーンゴム中に、金メッキ処理を施したニッケル粒子(平均粒子径が35μm)が体積分率で25%となる割合で含有されてなり、0.75mmのピッチの格子点位置に従って配置されている。また、導電路形成部の各々は、絶縁部の両面の各々から突出するよう形成されており、その直径が0.4mm、厚みが0.6mmであり、絶縁部の両面からの突出高さはそれぞれ0.05mmである。一方、絶縁部は、シリコーンゴムにより形成されており、その厚みは0.5mmである。
[Production of inspection equipment]
Using the above-mentioned upper adapter device and lower adapter device, an inspection device suitable for the inspection section of a rail-carrying circuit board automatic inspection machine (product name: STARREC V5) according to the configuration shown in FIG. Was made.
In the upper inspection head and the lower inspection head of the inspection apparatus, 4800 pin-shaped inspection electrodes are arranged in each inspection electrode plate apparatus in accordance with lattice point positions with a pitch of 750 μm.
Further, each of the anisotropic conductive sheets in the upper side inspection head and the lower side inspection head has an unevenly distributed anisotropic conductive sheet in which 4800 conductive path forming portions extending in the thickness direction are insulated from each other by an insulating portion. It is. More specifically, each of the conductive path forming portions contains nickel particles (average particle diameter of 35 μm) subjected to gold plating in a silicone rubber at a rate of 25% in volume fraction. They are arranged according to the grid point positions with a pitch of .75 mm. Further, each of the conductive path forming portions is formed so as to protrude from both surfaces of the insulating portion, and the diameter is 0.4 mm and the thickness is 0.6 mm, and the protruding height from both surfaces of the insulating portion is Each is 0.05 mm. On the other hand, the insulating part is made of silicone rubber, and its thickness is 0.5 mm.

〔評価〕
(1)接続安定性試験:
上記の検査装置をレール搬送型回路基板自動検査機「STARREC V5」の検査部に装着し、当該検査装置の検査領域に評価用回路装置を位置合わせして配置した。次いで、所定のプレス荷重で、評価用回路装置に対して加圧操作を行い、この状態で、当該評価用回路装置について、上部側アダプター装置における電流供給用電極と下部側アダプター装置における電流供給用電極との間において1mAの電流を印加しながら、上部側アダプター装置における電圧測定用電極と下部側アダプター装置における電圧測定用電極との間の電圧を測定して電気抵抗値を測定した。そして、測定された電気抵抗値が10Ω以上となった検査点(以下、「NG検査点」という。)の数を測定した。このNG検査点数を測定する操作を合計で10回行った後、延べ検査点数(2400×10=24000)におけるNG検査点の割合(以下、「NG検査点割合」という。)を算出した。そして、このようなNG検査点割合を求める工程を、プレス荷重を100〜210kgfの範囲で段階的に変更して行うことにより、NG検査点が0.01%以下となる最小のプレス荷重(以下、「接続可能荷重」という。)を求めた。実際の回路基板の検査においては、NG検査点割合が0.01%以下であることが必要とされており、NG検査点割合が0.01%を超える場合には、良品の被検査回路基板を不良品と判定するおそれがあるため、回路基板について信頼性の高い電気的検査を行うことが困難である。
上記のNG検査点割合を求める工程においては、NG検査点数を測定する操作が1回終了する毎に、評価用回路装置に対する加圧を解除して無加圧状態とし、その後、次のNG検査点数を測定する操作を行った。その結果を下記表1に示す。
以上において、接続可能荷重が小さい値であることは、異方導電性コネクターにおける凹凸吸収能が高いことを意味する。そして、凹凸吸収能の高い異方導電性コネクターを用いることにより、回路装置に対する安定な電気的接続が小さい荷重で達成されるので、当該異方導電性コネクターおよびその他の検査装置における構成部材並びに被検査回路基板の各々に、加圧による劣化が生じることが抑制される。その結果、検査装置における各構成部材の使用寿命が長くなり、また、検査装置の構成部材として、比較的に耐久性の低いものを使用することが可能となることから、検査装置全体の製造コストの低減化を図ることができるので、好ましい。
[Evaluation]
(1) Connection stability test:
The above-described inspection apparatus was mounted on the inspection section of the rail conveyance type automatic circuit board inspection machine “STARREC V5”, and the evaluation circuit apparatus was aligned and arranged in the inspection area of the inspection apparatus. Next, a pressing operation is performed on the evaluation circuit device with a predetermined press load. In this state, the current supply electrode in the upper adapter device and the current supply in the lower adapter device are used for the evaluation circuit device. While applying a current of 1 mA between the electrodes, the voltage between the voltage measuring electrode in the upper adapter device and the voltage measuring electrode in the lower adapter device was measured to measure the electrical resistance value. Then, the number of inspection points (hereinafter referred to as “NG inspection points”) at which the measured electric resistance value was 10Ω or more was measured. After performing the operation of measuring the number of NG inspection points 10 times in total, the ratio of NG inspection points in the total number of inspection points (2400 × 10 = 24000) (hereinafter referred to as “NG inspection point ratio”) was calculated. And the process of calculating | requiring such a NG test | inspection ratio is performed by changing a press load in steps in the range of 100-210 kgf, and the minimum press load (below NG test | inspection point becomes 0.01% or less) , And referred to as “connectable load”). In the actual circuit board inspection, the NG inspection point ratio is required to be 0.01% or less. When the NG inspection point ratio exceeds 0.01%, a non-defective circuit board to be inspected is required. Therefore, it is difficult to perform highly reliable electrical inspection on the circuit board.
In the above-described step of obtaining the NG inspection point ratio, every time the operation for measuring the number of NG inspection points is completed once, the pressure applied to the evaluation circuit device is released to make the state non-pressurized, and then the next NG inspection is performed. An operation for measuring the score was performed. The results are shown in Table 1 below.
In the above, that the load which can be connected is a small value means that the uneven | corrugated absorbability in an anisotropically conductive connector is high. Further, by using an anisotropic conductive connector having a high unevenness absorbing ability, a stable electrical connection to the circuit device can be achieved with a small load. Deterioration due to pressurization is suppressed in each of the inspection circuit boards. As a result, the service life of each component in the inspection device is extended, and it is possible to use a relatively low durability component as the component of the inspection device. Can be reduced, which is preferable.

(2)耐久性試験:
上記の検査装置をレール搬送型回路基板自動検査機「STARREC V5」の検査部に装着し、当該検査装置の検査領域に評価用回路装置を位置合わせして配置した。次いで、130kgfおよび150kgfのプレス荷重で、評価用回路装置に対して加圧操作を行い、この状態で、当該評価用回路装置について、上部側アダプター装置における電流供給用電極と下部側アダプター装置における電流供給用電極との間において1mAの電流を印加しながら、上部側アダプター装置における電圧測定用電極と下部側アダプター装置における電圧測定用電極との間の電圧を測定して電気抵抗値を測定することにより、NG検査点の数を測定し、NG検査点割合を算出した。そして、このNG検査点割合を求める工程を1サイクルとして、合計で30000サイクル行った。この試験においては、NG検査点割合を求める工程が1回終了する毎に、評価用回路装置に対する加圧を解除して無加圧状態とし、その後、NG検査点割合を求める工程を行った。結果を下記表2に示す。
(2) Durability test:
The above-described inspection apparatus was mounted on the inspection section of the rail conveyance type automatic circuit board inspection machine “STARREC V5”, and the evaluation circuit apparatus was aligned and arranged in the inspection area of the inspection apparatus. Next, a pressing operation is performed on the evaluation circuit device with a press load of 130 kgf and 150 kgf, and in this state, the current supply electrode in the upper adapter device and the current in the lower adapter device are used for the evaluation circuit device. Measure the electrical resistance by measuring the voltage between the voltage measuring electrode in the upper adapter device and the voltage measuring electrode in the lower adapter device while applying a current of 1 mA to the supply electrode. Thus, the number of NG inspection points was measured, and the NG inspection point ratio was calculated. And the process which calculates | requires this NG test | inspection point ratio was made into 1 cycle, and 30000 cycles were performed in total. In this test, every time the step for obtaining the NG inspection point ratio was completed once, the pressure applied to the circuit device for evaluation was released to make it an unpressurized state, and then the step for obtaining the NG inspection point proportion was performed. The results are shown in Table 2 below.

〔絶縁性試験〕
上記の検査装置をレール搬送型回路基板自動検査機「STARREC V5」の検査部に装着し、当該検査装置の検査領域に、縦横の寸法がそれぞれ100mmで厚みが0.8mmの表面に絶縁性コーティング処理を施したガラス繊維補強型エポキシ樹脂よりなる基板を配置した。次いで、所定のプレス荷重で基板に対して加圧操作を行い、上部側アダプター装置の接続用電極対の各々における電流供給用電極と電圧測定用電極との間の電気抵抗値を測定した。そして、測定された電気抵抗値が10kΩ以上となった接続用電極対(以下、「絶縁良好電極対」という。)の数を測定した。この絶縁良好電極対の数を測定する操作を合計で10回行った後、延べ電極対数(2400×10=24000)における絶縁良好電極対の割合(以下、「絶縁良好電極対割合」という。)を算出した。実際の回路基板の検査においては、絶縁良好電極対割合が99%以上であることが必要とされており、絶縁良好電極対割合が99%未満である場合には、電流供給用電極に供給される電流が電圧測定用電極にリークして不良品の被検査回路基板を良品と判定するおそれがあるため、回路基板について信頼性の高い電気的検査を行うことが困難である。そして、このような絶縁良好電極対割合を求める工程を、プレス荷重を100〜210kgfの範囲で段階的に変更して行った。結果を表3に示す。
[Insulation test]
The above inspection device is installed in the inspection section of the rail transport type automatic circuit board inspection machine “STARCREC V5”, and the surface of the inspection device is 100 mm in length and width and 0.8 mm in thickness on the surface. A substrate made of a treated glass fiber reinforced epoxy resin was placed. Next, a pressing operation was performed on the substrate with a predetermined press load, and the electrical resistance value between the current supply electrode and the voltage measurement electrode in each of the connection electrode pairs of the upper adapter device was measured. Then, the number of connection electrode pairs (hereinafter referred to as “insulation good electrode pairs”) having a measured electric resistance value of 10 kΩ or more was measured. After performing the operation of measuring the number of electrode pairs with good insulation 10 times in total, the ratio of electrode pairs with good insulation in the total number of electrode pairs (2400 × 10 = 24000) (hereinafter referred to as “proportion of electrode pairs with good insulation”). Was calculated. In actual circuit board inspection, it is necessary that the ratio of electrode pairs with good insulation is 99% or more. When the ratio of electrode pairs with good insulation is less than 99%, the ratio is supplied to the current supply electrode. Current leaks to the voltage measurement electrode, and a defective circuit board to be inspected may be determined as a non-defective product, so that it is difficult to perform a highly reliable electrical inspection on the circuit board. And the process of calculating | requiring such an insulation good electrode pair ratio was performed changing the press load in the range of 100-210 kgf in steps. The results are shown in Table 3.

〈比較例1〉
付加型液状シリコーンゴム100重量部に数平均粒子径が12μmの導電性粒子400重量部を添加して混合した後、減圧による脱泡処理を行うことにより、導電性エラストマー用材料を調製した。
以上において、導電性粒子としては、ニッケル粒子を芯粒子とし、この芯粒子に無電解金メッキが施されてなるもの(平均被覆量:芯粒子の重量の2重量%となる量)を用いた。
次いで、他面側成形部材の成形面上に、120mm×120mmの矩形の開口を有する、厚みが100μmの枠状のスペーサーを配置した後、スペーサーの開口内に、調製した導電性エラストマー用材料を塗布し、この導電性エラストマー用材料上に一面側成形部材をその成形面が導電性エラストマー用材料に接するよう配置した。
以上において、一面側成形部材および他面側成形部材としては、厚みが0.1mmのポリエステル樹脂シートを用いた。
その後、加圧ロールおよび支持ロールよりなる加圧ロール装置を用い、一面側成形部材および他面側成形部材によって導電性エラストマー用材料を挟圧することにより、当該一面側成形部材と当該他面側成形部材との間に厚みが100μmの導電性エラストマー用材料層を形成した。
次いで、一面側成形部材および他面側成形部材の各々の裏面に電磁石を配置し、導電性エラストマー用材料層に対してその厚み方向に0.3Tの平行磁場を作用させながら、120℃、0.5時間の条件で導電性エラストマー用材料層の硬化処理を行うことにより、厚みが100μmの矩形の異方導電性エラストマーシートを製造した。
そして、異方導電性コネクターの代わりに上記の異方導電性エラストマーシートを用いたこと以外は、実施例1と同様にして上部側アダプター装置および下部側アダプター装置を製造して検査装置を作製し、この検査装置について、接続安定性試験、耐久性試験および絶縁性試験を行った。結果を表1〜表3に示す。
<Comparative example 1>
A conductive elastomer material was prepared by adding 400 parts by weight of conductive particles having a number average particle size of 12 μm to 100 parts by weight of addition-type liquid silicone rubber and mixing them, followed by defoaming treatment under reduced pressure.
In the above, as the conductive particles, nickel particles are used as core particles, and the core particles are subjected to electroless gold plating (average coating amount: an amount that is 2% by weight of the weight of the core particles).
Next, after arranging a frame-shaped spacer having a rectangular opening of 120 mm × 120 mm and having a thickness of 100 μm on the molding surface of the other side molding member, the prepared conductive elastomer material is placed in the opening of the spacer. The one side molding member was applied on the conductive elastomer material so that the molding surface was in contact with the conductive elastomer material.
In the above, a polyester resin sheet having a thickness of 0.1 mm was used as the one-surface-side molded member and the other-surface-side molded member.
Then, using the pressure roll apparatus which consists of a pressure roll and a support roll, the one surface side molded member and the other surface side molding are performed by sandwiching the conductive elastomer material with the one surface side molded member and the other surface side molded member. A conductive elastomer material layer having a thickness of 100 μm was formed between the members.
Next, an electromagnet is disposed on the back surface of each of the one-side molding member and the other-side molding member, and a parallel magnetic field of 0.3 T is applied to the conductive elastomer material layer in the thickness direction at 120 ° C., 0 A rectangular anisotropic conductive elastomer sheet having a thickness of 100 μm was produced by curing the material layer for the conductive elastomer under the condition of 5 hours.
Then, an upper side adapter device and a lower side adapter device are manufactured in the same manner as in Example 1 except that the above anisotropic conductive elastomer sheet is used instead of the anisotropic conductive connector, and an inspection device is manufactured. The inspection device was subjected to a connection stability test, a durability test, and an insulation test. The results are shown in Tables 1 to 3.

〈比較例2〉
付加型液状シリコーンゴム100重量部に数平均粒子径が12μmの導電性粒子400重量部を添加して混合した後、減圧による脱泡処理を行うことにより、導電性エラストマー用材料を調製した。
以上において、導電性粒子としては、ニッケル粒子を芯粒子とし、この芯粒子に無電解金メッキが施されてなるもの(平均被覆量:芯粒子の重量の2重量%となる量)を用いた。
他面側成形部材の成形面上に、120mm×120mmの矩形の開口を有する、厚みが50μmの枠状のスペーサーを配置した後、スペーサーの開口内に、調製した導電性エラストマー用材料を塗布し、この導電性エラストマー用材料上に一面側成形部材をその成形面が導電性エラストマー用材料に接するよう配置した。
以上において、一面側成形部材および他面側成形部材としては、厚みが0.1mmのポリエステル樹脂シートを用いた。
その後、加圧ロールおよび支持ロールよりなる加圧ロール装置を用い、一面側成形部材および他面側成形部材によって導電性エラストマー用材料を挟圧することにより、当該一面側成形部材と当該他面側成形部材との間に厚みが50μmの導電性エラストマー用材料層を形成した。
そして、一面側成形部材および他面側成形部材の各々の裏面に電磁石を配置し、導電性エラストマー用材料層に対してその厚み方向に0.3Tの平行磁場を作用させながら、120℃、0.5時間の条件で導電性エラストマー用材料層の硬化処理を行うことにより、厚みが50μmの矩形の異方導電性エラストマーシートを製造した。
そして、異方導電性コネクターの代わりに上記の異方導電性エラストマーシートを用いたこと以外は、実施例1と同様にして上部側アダプター装置および下部側アダプター装置を製造して検査装置を作製し、この検査装置について、接続安定性試験、耐久性試験および絶縁性試験を行った。但し、耐久性試験については、150kgfおよび180kgfのプレス荷重で行った。結果を表1〜表3に示す。
<Comparative example 2>
A conductive elastomer material was prepared by adding 400 parts by weight of conductive particles having a number average particle size of 12 μm to 100 parts by weight of addition-type liquid silicone rubber and mixing them, followed by defoaming treatment under reduced pressure.
In the above, as the conductive particles, nickel particles are used as core particles, and the core particles are subjected to electroless gold plating (average coating amount: an amount that is 2% by weight of the weight of the core particles).
After arranging a frame-shaped spacer having a rectangular opening of 120 mm × 120 mm and a thickness of 50 μm on the molding surface of the other side molding member, the prepared material for conductive elastomer is applied in the opening of the spacer. The one-surface side molded member was placed on the conductive elastomer material so that the molding surface was in contact with the conductive elastomer material.
In the above, a polyester resin sheet having a thickness of 0.1 mm was used as the one-surface-side molded member and the other-surface-side molded member.
Then, using the pressure roll apparatus which consists of a pressure roll and a support roll, the one surface side molded member and the other surface side molding are performed by sandwiching the conductive elastomer material with the one surface side molded member and the other surface side molded member. A conductive elastomer material layer having a thickness of 50 μm was formed between the members.
Then, an electromagnet is disposed on the back surface of each of the one side molding member and the other side molding member, and a parallel magnetic field of 0.3 T is applied to the conductive elastomer material layer in the thickness direction at 120 ° C., 0 A rectangular anisotropic conductive elastomer sheet having a thickness of 50 μm was produced by curing the material layer for the conductive elastomer under the condition of .5 hours.
Then, an upper side adapter device and a lower side adapter device are manufactured in the same manner as in Example 1 except that the above anisotropic conductive elastomer sheet is used instead of the anisotropic conductive connector, and an inspection device is manufactured. The inspection device was subjected to a connection stability test, a durability test, and an insulation test. However, the durability test was performed with 150 kgf and 180 kgf press loads. The results are shown in Tables 1 to 3.

Figure 2006066082
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Figure 2006066082
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Figure 2006066082
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表1〜表3の結果から明らかなように、実施例1に係る異方導電性コネクターによれば、厚みが100μmの異方導電性エラストマーシート(比較例1)と同等の高い凹凸吸収能が得られると共に、厚みが50μmの異方導電性エラストマーシート(比較例2)と同等の高い分解能が得られ、更に、小さい荷重で安定な電気的接続が得られることから、検査装置に使用したときに、長い使用寿命が得られることが確認された。   As is apparent from the results of Tables 1 to 3, according to the anisotropic conductive connector according to Example 1, the high uneven absorption capacity equivalent to the anisotropic conductive elastomer sheet (Comparative Example 1) having a thickness of 100 μm. When it is used in an inspection device, it has a high resolution equivalent to that of an anisotropic conductive elastomer sheet (Comparative Example 2) having a thickness of 50 μm and a stable electrical connection with a small load. In addition, it was confirmed that a long service life can be obtained.

本発明の異方導電性コネクターの一例における構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure in an example of the anisotropically conductive connector of this invention. 図1に示す異方導電性コネクターの要部を拡大して示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which expands and shows the principal part of the anisotropically conductive connector shown in FIG. 支持体上に高分子物質形成材料の塗布膜が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the coating film of the polymeric substance forming material was formed on the support body. 高分子物質形成材料の塗布膜上に絶縁性シートが配置された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the insulating sheet was arrange | positioned on the coating film of polymeric substance formation material. 支持体上に絶縁膜用材料層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the insulating film material layer was formed on the support body. 絶縁性シートに絶縁膜が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the insulating film was formed in the insulating sheet. 絶縁膜に貫通孔が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the through-hole was formed in the insulating film. 絶縁膜の両面および貫通孔の内面に金属薄層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the metal thin layer was formed in the both surfaces of an insulating film, and the inner surface of a through-hole. 金属薄層の表面にパターン孔を有するレジスト膜が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the resist film which has a pattern hole was formed in the surface of a metal thin layer. 絶縁膜の貫通孔およびレジスト膜のパターン孔に剛性導体が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the rigid conductor was formed in the through-hole of an insulating film, and the pattern hole of a resist film. 複合導電性シートの要部を拡大して示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which expands and shows the principal part of a composite conductive sheet. 第1の異方導電性エラストマーシートを製造するための一面側成形部材、他面側成形部材およびスペーサーを示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the 1st surface side molded member, the other surface side molded member, and spacer for manufacturing a 1st anisotropically conductive elastomer sheet. 他面側成形部材の表面に導電性エラストマー用材料が塗布された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the material for conductive elastomer was apply | coated to the surface of the other surface side molded member. 一面側成形部材と他面側成形部材との間に導電性エラストマー用材料層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the conductive elastomer material layer was formed between the one surface side molded member and the other surface side molded member. 図14に示す導電性エラストマー用材料層を拡大して示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which expands and shows the material layer for electroconductive elastomers shown in FIG. 図14に示す導電性エラストマー用材料層に対して厚み方向に磁場を作用させた状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state which acted the magnetic field on the thickness direction with respect to the material layer for conductive elastomers shown in FIG. 本発明に係るアダプター装置の第1の例における構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure in the 1st example of the adapter apparatus which concerns on this invention. 図17に示すアダプター装置におけるアダプター本体の構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure of the adapter main body in the adapter apparatus shown in FIG. 本発明に係るアダプター装置の第2の例における構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure in the 2nd example of the adapter apparatus which concerns on this invention. 図19に示すアダプター装置におけるアダプター本体の構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure of the adapter main body in the adapter apparatus shown in FIG. 本発明に係る回路装置の電気的検査装置の第1の例における構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the structure in the 1st example of the electrical inspection apparatus of the circuit apparatus which concerns on this invention. 本発明に係る回路装置の電気的検査装置の第2の例における構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the structure in the 2nd example of the electrical inspection apparatus of the circuit apparatus which concerns on this invention. 本発明に係る異方導電性コネクターにおける複合導電性シートの他の例を示す平面図である。It is a top view which shows the other example of the composite conductive sheet in the anisotropically conductive connector which concerns on this invention. 本発明に係る異方導電性コネクターにおける複合導電性シートの更に他の例を示す平面図である。It is a top view which shows the further another example of the composite electroconductive sheet in the anisotropically conductive connector which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1a 上部側アダプター装置
1b 下部側アダプター装置
2 ホルダー
3 位置決めピン
5 回路装置
6,7 被検査電極
10 異方導電性コネクター
11 複合導電性シート
12 絶縁性シート
13 開口
14 絶縁膜
14A 絶縁膜用材料層
14B 塗布膜
15 剛性導体
15a 一端部
15b 他端部
15c 中央部
15H 貫通孔
16 第1の異方導電性エラストマーシート
16A 導電性エラストマー用材料層
16B 導電性エラストマー用材料
17 第2の異方導電性エラストマーシート
18 金属薄層
20 アダプター本体
21,21b,21c 接続用電極
21a 接続用電極対
22 端子電極
23 内部配線部
25 接続用電極領域
30 一面側成形部材
31 他面側成形部材
32 スペーサー
32K 開口
33 加圧ロール
34 支持ロール
35 加圧ロール装置
36 支持板
37,38 レジスト膜
37H,38H パターン孔
50a 上部側検査ヘッド
50b 下部側検査ヘッド
51a,51b 検査電極装置
52a,52b 検査電極
53a,53b 電線
54a,54b 支柱
55a,55b 異方導電性シート
56a 上部側支持板
56b 下部側支持板
57a,57b コネクター
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1a Upper side adapter apparatus 1b Lower side adapter apparatus 2 Holder 3 Positioning pin 5 Circuit apparatus 6,7 Tested electrode 10 Anisotropic conductive connector 11 Composite conductive sheet 12 Insulating sheet 13 Opening 14 Insulating film 14A Insulating film material layer 14B Coating film 15 Rigid conductor 15a One end portion 15b Other end portion 15c Center portion 15H Through hole 16 First anisotropic conductive elastomer sheet 16A Conductive elastomer material layer 16B Conductive elastomer material 17 Second anisotropic conductivity Elastomer sheet 18 Metal thin layer 20 Adapter body 21, 21 b, 21 c Connecting electrode 21 a Connecting electrode pair 22 Terminal electrode 23 Internal wiring portion 25 Connecting electrode region 30 One side molding member 31 Other side molding member 32 Spacer 32K Opening 33 Pressure roll 34 Support roll 35 Pressure roll device 36 Holding plate 37, 38 Resist film 37H, 38H Pattern hole 50a Upper side inspection head 50b Lower side inspection head 51a, 51b Inspection electrode device 52a, 52b Inspection electrode 53a, 53b Electric wire 54a, 54b Strut 55a, 55b Anisotropic conductive sheet 56a Upper side support plate 56b Lower side support plate 57a, 57b Connector

Claims (7)

複数の開口を有する樹脂よりなる絶縁性シート、この絶縁性シートの各開口を塞ぐよう配置され、当該絶縁性シートに支持された弾性高分子物質よりなる絶縁膜、および、この絶縁膜に固定支持され、前記絶縁性シートの開口内に位置するよう配置された、当該絶縁膜の厚み方向に伸びる複数の剛性導体により構成された複合導電性シートと、
この複合導電性シートの一面に配置された、第1の異方導電性エラストマーシートと、 前記複合導電性シートの他面に配置された、第2の異方導電性エラストマーシートと
を具えてなり、
前記複合導電性シートにおける剛性導体の各々は、前記絶縁膜の弾性によって、前記絶縁性シートに対してその厚み方向に変位可能とされていることを特徴とする異方導電性コネクター。
Insulating sheet made of resin having a plurality of openings, an insulating film made of an elastic polymer material supported so as to close each opening of the insulating sheet, and fixedly supported on the insulating film And a composite conductive sheet composed of a plurality of rigid conductors arranged in the opening of the insulating sheet and extending in the thickness direction of the insulating film;
A first anisotropic conductive elastomer sheet disposed on one surface of the composite conductive sheet; and a second anisotropic conductive elastomer sheet disposed on the other surface of the composite conductive sheet. ,
Each of the rigid conductors in the composite conductive sheet is displaceable in the thickness direction with respect to the insulating sheet by the elasticity of the insulating film.
第1の異方導電性エラストマーシートおよび第2の異方導電性エラストマーシートの各々は、弾性高分子物質中に、磁性を示す導電性粒子が、厚み方向に並ぶよう配向して連鎖が形成された状態で、かつ、当該導電性粒子による連鎖が面方向に分散した状態で含有されてなることを特徴とする請求項1に記載の異方導電性コネクター。   Each of the first anisotropic conductive elastomer sheet and the second anisotropic conductive elastomer sheet has a chain formed by orienting conductive particles exhibiting magnetism in the elastic polymer substance so as to be aligned in the thickness direction. 2. The anisotropic conductive connector according to claim 1, wherein the anisotropic conductive connector is contained in a state in which the chain of the conductive particles is dispersed in a plane direction. 第1の異方導電性エラストマーシートおよび第2の異方導電性エラストマーシートの各々の厚みが20〜100μmであることを特徴とする請求項2に記載の異方導電性コネクター。   The anisotropic conductive connector according to claim 2, wherein each of the first anisotropic conductive elastomer sheet and the second anisotropic conductive elastomer sheet has a thickness of 20 to 100 µm. 導電性粒子の数平均粒子径が3〜20μmであることを特徴とする請求項2または請求項3に記載の異方導電性コネクター。   The anisotropic conductive connector according to claim 2 or 3, wherein the number average particle diameter of the conductive particles is 3 to 20 µm. 表面に検査すべき回路装置における被検査電極に対応するパターンに従って複数の接続用電極が形成された接続用電極領域を有するアダプター本体と、
このアダプター本体の接続用電極領域上に配置された、当該アダプター本体における接続用電極に対応するパターンに従って配置された複数の剛性導体を有する、請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の異方導電性コネクターと
を具えてなることを特徴とするアダプター装置。
An adapter body having a connection electrode region in which a plurality of connection electrodes are formed according to a pattern corresponding to an electrode to be inspected in a circuit device to be inspected on the surface;
5. The difference according to claim 1, further comprising a plurality of rigid conductors arranged on the connection electrode region of the adapter main body and arranged according to a pattern corresponding to the connection electrode in the adapter main body. An adapter device comprising a conductive connector.
表面に検査すべき回路装置における被検査電極に対応するパターンに従ってそれぞれ電流供給用および電圧測定用の2つの接続用電極からなる複数の接続用電極対が形成された接続用電極領域を有するアダプター本体と、
このアダプター本体の接続用電極領域上に配置された、当該アダプター本体における接続用電極に対応するパターンに従って配置された複数の剛性導体を有する、請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の異方導電性コネクターと
を具えてなることを特徴とするアダプター装置。
Adapter main body having a connection electrode region in which a plurality of connection electrode pairs each formed of two connection electrodes for current supply and voltage measurement are formed according to a pattern corresponding to an electrode to be inspected in a circuit device to be inspected on the surface When,
5. The difference according to claim 1, further comprising a plurality of rigid conductors arranged on the connection electrode region of the adapter main body and arranged according to a pattern corresponding to the connection electrode in the adapter main body. An adapter device comprising a conductive connector.
請求項5または請求項6に記載のアダプター装置を具えてなることを特徴とする回路装置の電気的検査装置。   An electrical inspection device for a circuit device, comprising the adapter device according to claim 5.
JP2004243800A 2004-08-24 2004-08-24 Anisotropic conductive connector, adapter device, as well as electric inspection device of circuit device Withdrawn JP2006066082A (en)

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