JP2006060054A - Method for forming metal plate pattern and circuit board - Google Patents

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JP2006060054A JP2004240950A JP2004240950A JP2006060054A JP 2006060054 A JP2006060054 A JP 2006060054A JP 2004240950 A JP2004240950 A JP 2004240950A JP 2004240950 A JP2004240950 A JP 2004240950A JP 2006060054 A JP2006060054 A JP 2006060054A
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Toyoaki Sakai
豊明 酒井
Katsuya Fukase
克哉 深瀬
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for forming a metal plate pattern which can form a metal pattern having a high aspect ratio by conducting the etching processes of multiple stages with the masking of metal. <P>SOLUTION: A silver plating layer (12) is formed to both surfaces or a single surface of a copper plate (10). A copper plating layer (14) is formed thereon thicker than the silver plating layer. The DFR is coated thereon and then it is patterned. The copper plating layer is etched using this resist pattern as a masking. A silver plating pattern (14a) is formed by etching the silver plating layer using the plating copper pattern (14a) as the masking. Moreover, after the half etching of the copper plate, coating of the positive resist, and exposure/development using this silver plating pattern (14a) as the masking; the half-etching is conducted again by protecting the positive resist under the silver plating pattern. Finally, a metal pattern (20) can be obtained by removing the resist and silver plating pattern used as the masking. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明はリードフレーム、メタルマスク等の金属板パターンや、或いはプリント回路基板上の配線パターンを形成する方法に関し、更に詳しくは、サブトラクティブ法によるパターン技術を利用して金属板からリードフレーム、メタルマスク等の金属板パターンを形成する方法、或いはプリント回路基板を製造するにあたり、絶縁基板上に微細な導体パターンを形成する方法に関する。   The present invention relates to a method of forming a metal plate pattern such as a lead frame or a metal mask, or a wiring pattern on a printed circuit board, and more particularly, from a metal plate to a lead frame or metal using a pattern technology based on a subtractive method. The present invention relates to a method of forming a metal plate pattern such as a mask, or a method of forming a fine conductor pattern on an insulating substrate in manufacturing a printed circuit board.

プリント回路基板を製造する場合において、サブトラクティブ法は安価で簡便な方法であり、従来から最も広く使用されている。その半面、近年における半導体装置や各種の電子機器の高密度化、微細化に伴って、回路基板におけるより微細な導体パターンを得るという点では、不利な面もある。   In the case of manufacturing a printed circuit board, the subtractive method is an inexpensive and simple method and has been most widely used conventionally. On the other hand, there is a disadvantage in that a finer conductor pattern on a circuit board can be obtained with the recent increase in density and miniaturization of semiconductor devices and various electronic devices.

高アスペクト比を得るための金属エッチング法としての従来技術には、
(1)マスキングとしてドライ・フィルム・レジスト(DFR)と遮光性のインク層とを用いる多段エッチング法がある。この方法は、DFRによりパターニングされた金属上に液状ポジ型レジストを塗布して現像液を用い現像するものである。この方法によると、パターニングされたDFRが溶出又は剥離してしまう可能性があるため、現像時間を短くするか、露光時間を長くして液状ポジ型レジストを溶解し易くしなければならない。
(2)また、金属をエッチングする別の方法として、めっきにより金属マスクを形成する方法がある。具体的な例としては、銀めっきによる「先銀めっき法」がある。この方法は、金属上に部分銀めっきを行い、この銀めっきにより被覆されていない部分の金属を、その金属を選択的に溶解させるエッチング液を用いてエッチングを行う方法である。しかし、金属がエッチングされる結果、マスキングとして働く銀めっきの下でいわゆるサイドエッチング層が形成され、サイドエッチング上の銀めっきが単独で浮いた状態になる。この状況では、エッチング液のスプレー圧力等により銀めっきに欠けや割れが生ずる可能性があった。
In the prior art as a metal etching method for obtaining a high aspect ratio,
(1) There is a multistage etching method using a dry film resist (DFR) and a light-shielding ink layer as masking. In this method, a liquid positive resist is applied on a metal patterned by DFR and developed using a developer. According to this method, there is a possibility that the patterned DFR is eluted or peeled off. Therefore, it is necessary to shorten the development time or lengthen the exposure time to facilitate the dissolution of the liquid positive resist.
(2) Another method for etching metal is to form a metal mask by plating. As a specific example, there is a “first silver plating method” by silver plating. In this method, partial silver plating is performed on a metal, and a portion of the metal not covered by the silver plating is etched using an etching solution that selectively dissolves the metal. However, as a result of the etching of the metal, a so-called side etching layer is formed under the silver plating functioning as masking, and the silver plating on the side etching is in a floating state alone. In this situation, the silver plating may be chipped or cracked due to the spray pressure of the etching solution.

特開昭62−115891号公報JP-A-62-115891

そこで、本発明では、前記従来技術の(1)の多段エッチング法におけるドライ・フィルム・レジスト(DFR)の剥離の問題を解消すると共に、上記(2)の方法において、マスキングとして用いる銀めっきマスクの強度を改善するために、金属マスクの補強を兼ねると共に、金属マスクの形成方法自体に工夫をこらすことで、多段エッチングによる高アスペクト比を持った、リードフレーム、メタルマスク等の金属板パターン及び回路基板上の導体パターンを形成する方法を提供することを課題とする。   Therefore, in the present invention, the problem of peeling of the dry film resist (DFR) in the multistage etching method (1) of the prior art is solved, and the silver plating mask used as a mask in the method (2) is used. Metal plate pattern and circuit such as lead frame, metal mask, etc. with high aspect ratio by multi-step etching by improving the strength of metal mask and improving the metal mask formation method itself to improve strength It is an object of the present invention to provide a method for forming a conductor pattern on a substrate.

上記の課題を達成するために、本発明によれば、金属板の両面又は片面に該金属板と異種の金属からなる第1金属層を形成する工程と、該第1金属層上に前記金属板と同種の金属からなる第2金属層を前記第1金属層より厚く形成する工程と、該第2金属層上にレジストを塗布し、該レジストをパターニングしてレジストパターンを形成する工程と、該レジストパターンをマスキングとして前記第2金属層をエッチングし、第2金属層パターンを形成する工程と、該第2金属層パターンをマスキングとして、前記第1金属層をエッチングし、第1金属層及び第2金属層のパターンを形成する工程と、該第1金属層及び第2金属層のパターンを第1マスキングとして、前記金属板にハーフエッチングを施す工程と、前記第1マスキング上からハーフエッチングを施した面にポジ型レジストを塗布し、前記第1マスキングの上部から露光し且つ現像して、該第1マスキング下部のポジ型レジストを保護する工程と、前記第1マスキング及び保護した前記ポジ型レジストよりなる第2マスキングを介して前記金属板に再度ハーフエッチングを施す工程と、前記第1マスキング及び第2マスキングを除去する工程と、からなることを特徴とする、金属板パターン形成方法が提供される。   To achieve the above object, according to the present invention, a step of forming a first metal layer made of a metal different from the metal plate on both sides or one side of the metal plate, and the metal on the first metal layer. Forming a second metal layer made of the same kind of metal as the plate thicker than the first metal layer; applying a resist on the second metal layer; and patterning the resist to form a resist pattern; Etching the second metal layer using the resist pattern as a mask to form a second metal layer pattern, etching the first metal layer using the second metal layer pattern as a mask, A step of forming a pattern of the second metal layer, a step of half-etching the metal plate using the pattern of the first metal layer and the second metal layer as a first masking, and a step from above the first masking. Applying a positive resist on the etched surface, exposing and developing from above the first masking to protect the positive resist under the first masking, and protecting the first masking and protecting Metal plate pattern formation, comprising: a step of half-etching the metal plate again through a second mask made of the positive resist; and a step of removing the first masking and the second masking. A method is provided.

また、本発明によると、絶縁基材の両面又は片面に形成した金属箔上に、該金属箔と異種の金属からなる第1金属層を形成する工程と、該第1金属層上に前記金属箔と同種の金属からなる第2金属層を前記第1金属層より厚く形成する工程と、該第2金属層上にレジストを塗布し、該レジストをパターニングしてレジストパターンを形成する工程と、該レジストパターンをマスキングとして前記第2金属層をエッチングし、第2金属層パターンを形成する工程と、該第2金属層パターンをマスキングとして、前記第1金属層をエッチングし、第1金属層及び第2金属層のパターンを形成する工程と、該第1金属層及び第2金属層のパターンを第1マスキングとして、前記金属板にハーフエッチングを施す工程と、前記第1マスキング上からハーフエッチングを施した面にポジ型レジストを塗布し、前記第1マスキングの上部から露光し且つ現像して、該第1マスキング下部のポジ型レジストを保護する工程と、前記第1マスキング及び保護した前記ポジ型レジストよりなる第2マスキングを介して前記金属板に再度ハーフエッチングを施す工程と、前記第1マスキング及び第2マスキングを除去する工程と、からなることを特徴とする、回路基板の形成方法が提供される。   According to the present invention, the step of forming a first metal layer made of a metal different from the metal foil on the metal foil formed on both surfaces or one surface of the insulating base material; and the metal on the first metal layer. Forming a second metal layer made of the same metal as the foil thicker than the first metal layer; applying a resist on the second metal layer; and patterning the resist to form a resist pattern; Etching the second metal layer using the resist pattern as a mask to form a second metal layer pattern, etching the first metal layer using the second metal layer pattern as a mask, A step of forming a pattern of the second metal layer, a step of half-etching the metal plate using the pattern of the first metal layer and the second metal layer as a first masking, and a step from above the first masking. Applying a positive resist on the etched surface, exposing and developing from above the first masking to protect the positive resist under the first masking, and protecting the first masking and protecting Forming a circuit board comprising: a step of half-etching the metal plate again through a second masking made of the positive resist; and a step of removing the first masking and the second masking. A method is provided.

なお、これらの場合において、遮光層としての第1金属層は、基材である金属板又は金属箔に対してハーフエッチングないし選択的なエッチングを施す際に、当該エッチング液に溶解しないような、金属とする必要がある。   In these cases, the first metal layer as the light-shielding layer does not dissolve in the etching solution when half-etching or selective etching is performed on the metal plate or metal foil as the base material. Must be metal.

前記ポジ型レジストの塗布、露光、現像し、該第1マスキング下部のポジ型レジストを保護する工程と、前記第2マスキングを介して前記金属板に再度ハーフエッチングを施す工程と、を繰り替えし行うことを特徴とする。   The step of coating, exposing and developing the positive resist to protect the positive resist under the first masking and the step of half-etching the metal plate again through the second masking are repeated. It is characterized by that.

金属板及び第1金属層は銅、鉄、又は鉄−ニッケル合金であり、第2金属層は銀又は金であることを特徴とする。   The metal plate and the first metal layer are copper, iron, or an iron-nickel alloy, and the second metal layer is silver or gold.

第2金属層上に塗布するレジストは、ドライ・フィルム・レジストであり、前記ポジ型レジストは、液状ポジ型レジスト又は電着ポジ型レジストであることを特徴とする。   The resist applied on the second metal layer is a dry film resist, and the positive resist is a liquid positive resist or an electrodeposited positive resist.

該第1金属層及び第2金属層のパターンを第1マスキングとして、前記金属板にハーフエッチングを施す工程において、前記第2金属層も同時にエッチングされるが、該第2金属層が完全には除去されない程度に、該第2金属層の厚さを規定し、且つ該ハーフエッチングの条件を規定することを特徴とする。   In the step of half-etching the metal plate using the pattern of the first metal layer and the second metal layer as the first masking, the second metal layer is also etched simultaneously, but the second metal layer is completely The thickness of the second metal layer is defined so as not to be removed, and the conditions for the half etching are defined.

以下、添付図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1及び図2はサブトラクティブ法を用いた本発明の第1実施形態に係る金属板パターン、例えばリードフレームを形成する方法を各工程毎に示すものである。   1 and 2 show a method of forming a metal plate pattern, for example, a lead frame, according to the first embodiment of the present invention using a subtractive method for each step.

先ず第1工程では、銅からなる金属板10の全表面に銀めっきを施すことにより、銀めっき層(第1金属めっき層)12を形成する。この第1金属めっき層12は後の工程で基材である銅板10に選択的なエッチングないしハーフエッチングを施す際に、当該エッチング液により溶解されない、銅板10とは異種の金属材であることが必要である。このような条件を満たすものであれば、銀めっきに限らず他の金属材、例えば金又はすずのめっきを第1金属めっき層として形成しても良い。   First, in a 1st process, the silver plating layer (1st metal plating layer) 12 is formed by giving silver plating to the whole surface of the metal plate 10 which consists of copper. The first metal plating layer 12 is a metal material different from the copper plate 10 that is not dissolved by the etching solution when the etching or half-etching is selectively performed on the copper plate 10 that is a base material in a later step. is necessary. As long as these conditions are satisfied, not only silver plating but also other metal materials such as gold or tin plating may be formed as the first metal plating layer.

次に、第2工程では、銀めっき層12上の全面に、金属板10と同種の金属材、即ち銅のめっきを施し、銅めっき層(第2金属めっき層)14を形成する。この銅めっき層14の厚さは、前記銀めっき層12の厚さよりも厚いものとする。   Next, in the second step, the same metal material as that of the metal plate 10, that is, copper plating is applied to the entire surface of the silver plating layer 12 to form a copper plating layer (second metal plating layer) 14. The copper plating layer 14 is thicker than the silver plating layer 12.

次に、第3工程では、銅めっき層(第2金属めっき層)14の全面に、ドライ・フィルム・レジスト(DFR)16を塗布し、所定のマスクパターンにて露光し且つ現像することによりレジストのパターニングを行う。   Next, in the third step, a dry film resist (DFR) 16 is applied to the entire surface of the copper plating layer (second metal plating layer) 14, exposed with a predetermined mask pattern, and developed to form a resist. Patterning is performed.

第4工程では、パターニングされたDFR16をマスキングとして、DFR16の開口部を通して、銅めっき層(第2金属めっき層)14のエッチングを施す。これにより、銅めっき層は銅めっきパターン層14aとなる。   In the fourth step, the copper plating layer (second metal plating layer) 14 is etched through the opening of the DFR 16 using the patterned DFR 16 as a mask. Thereby, a copper plating layer turns into the copper plating pattern layer 14a.

次に、第5工程では、周知の方法によりDFR16を剥離する。   Next, in the fifth step, the DFR 16 is peeled off by a known method.

第6工程では、エッチングによりパターニングされた銅めっきパターン層14aをマスキングとして銀めっき層12のエッチングを施す。これにより、銀めっき層12は銀めっきパターン層12aとなる。なお、銀めっき層12をエッチングするためのエッチング液の組成は、銅めっき層14をエッチングするのに使用したエッチング液とは異なるもの、即ち銀を溶解し銅を溶解しないエッチング液を使用する。   In the sixth step, the silver plating layer 12 is etched using the copper plating pattern layer 14a patterned by etching as a mask. Thereby, the silver plating layer 12 becomes the silver plating pattern layer 12a. Note that the composition of the etching solution for etching the silver plating layer 12 is different from the etching solution used for etching the copper plating layer 14, that is, an etching solution that dissolves silver but does not dissolve copper.

次に、第7工程では、銅めっきパターン層14a及び銀めっきパターン層12aの両者が重なって形成された第1マスキング15に向けてエッチング液を吹き付けることにより、ハーフエッチングないし選択的なエッチングを施すのであるが、このハーフエッチングでは、第1マスキング15のエッチング液通過部分の下側の銅板10の周辺領域が溶解させる。そして、銅板10の溶解領域は、銅板10の下面には達することなく、第1マスキング下部の側部もエッチングされ、いわゆるサイドエッチングが行われる。したがって、銅板10の溶解する領域が所定範囲内となるように、ハーフエッチングの条件(エッチング時間等)を調整する。   Next, in the seventh step, half etching or selective etching is performed by spraying an etching solution toward the first masking 15 formed by overlapping both the copper plating pattern layer 14a and the silver plating pattern layer 12a. However, in this half etching, the peripheral region of the copper plate 10 below the etching solution passage portion of the first masking 15 is dissolved. And the melt | dissolution area | region of the copper plate 10 does not reach the lower surface of the copper plate 10, but also the side part of the 1st masking lower part is etched, and what is called side etching is performed. Accordingly, the half-etching conditions (etching time, etc.) are adjusted so that the area where the copper plate 10 is dissolved is within a predetermined range.

これにより、図示のように、銅板10の第1マスキングパターン15に近接する上部においては、銅板10の溶解した部分が第1マスキングパターン15のエッチング液通過部分の幅(d)より銅板10の内側へ若干食い込んでいて、溶解された部分の幅(e)が第1マスキングパターン幅(d)より大きく、サイドエッチング部10bが形成される。半面、銅板10のエッチングにより溶解された溝の部分は断面形状が全体として丸みを帯びていて略U字形状の溝10aとなる。   As a result, as shown in the drawing, in the upper part of the copper plate 10 that is close to the first masking pattern 15, the dissolved portion of the copper plate 10 is inside the copper plate 10 from the width (d) of the etching solution passage portion of the first masking pattern 15. The width (e) of the melted portion is larger than the first masking pattern width (d), and the side etching portion 10b is formed. On the other hand, the portion of the groove melted by etching the copper plate 10 has a rounded cross section as a whole and becomes a substantially U-shaped groove 10a.

なお、このハーフエッチングの工程では、銅板10のエッチングを行うためのエッチング液により同時に銅めっきパターン層14aの上部が溶解されてしまうが、銅めっきパターン層14aの厚さの全部分が溶解されるのではなく、銅めっきパターン層14aの厚さの一部を残るように、銅めっき層14の厚さやエッチングの条件が予め設定されている。   In this half etching step, the upper part of the copper plating pattern layer 14a is simultaneously dissolved by the etching solution for etching the copper plate 10, but the entire thickness of the copper plating pattern layer 14a is dissolved. Instead, the thickness of the copper plating layer 14 and the etching conditions are set in advance so that a part of the thickness of the copper plating pattern layer 14a remains.

次に、第8工程では、前工程でハーフエッチングを施した部分の全面にポジ型液状レジスト18を塗布する。この場合に、ポジ型液状レジスト18は最上面の銅めっきパターン層14a上、銀めっきパターン層12aの側面上、エッチングにより溶解した銅板10の略U字形状の溝10aの底部及びサイドエッチング部10b上に渡って塗布される。   Next, in an eighth step, a positive liquid resist 18 is applied to the entire surface of the portion that has been half-etched in the previous step. In this case, the positive liquid resist 18 is formed on the uppermost copper plating pattern layer 14a, the side surface of the silver plating pattern layer 12a, the bottom of the substantially U-shaped groove 10a of the copper plate 10 dissolved by etching, and the side etching portion 10b. It is applied over the top.

次に、第9工程では、ポジ型液状レジスト18の上面から平行な紫外線19を照射して露光した後、現像する。   Next, in the ninth step, exposure is performed by irradiating parallel ultraviolet rays 19 from the upper surface of the positive liquid resist 18 and then developing.

ここで、露光に使用する紫外線19は、この銅板10上のマスキングの面に対して直交する方向に照射する平行光であることが望ましいが、ポジ型液状レジスト18内への光線の届く範囲が深い場合は、必ずしも平行光である必要はない。   Here, it is desirable that the ultraviolet rays 19 used for exposure be parallel light that irradiates in a direction orthogonal to the masking surface on the copper plate 10, but there is a range in which the light reaches the positive liquid resist 18. When it is deep, it does not necessarily have to be parallel light.

この露光工程により、ポジ型液状レジスト18の光に露光された部分、即ち、ポジ型液状レジスト18の銅めっきパターン層14a上、銀めっきパターン層12aの側面上、略U字形状の溝10aの底部上にある領域部分18aが露光される。換言すると、銀めっきパターン層12aの下側の領域であって、前工程であるハーフエッチングの際に、レジストパターンの幅(d)より銅箔2の内側へ若干食い込んで溶解されたサイドエッチング部10b上の領域18bは、露光されないまま残ることとなる。   By this exposure step, the portion of the positive liquid resist 18 exposed to light, that is, on the copper plating pattern layer 14a of the positive liquid resist 18, the side surface of the silver plating pattern layer 12a, and the substantially U-shaped groove 10a. The area portion 18a on the bottom is exposed. In other words, it is a region below the silver plating pattern layer 12a, and is a side etched portion that is slightly bite into the inner side of the copper foil 2 from the width (d) of the resist pattern and is dissolved during the half etching which is the previous step. The region 18b on 10b remains unexposed.

なお、レジスト18の形成方法としては、液状レジスト18を塗布することに代えて、金属の存在している部分のみにレジストを付着させるポジ型電着(Electro Deposition)によってもよい。   As a method for forming the resist 18, instead of applying the liquid resist 18, positive electrodeposition (Electro Deposition) in which the resist is attached only to the portion where the metal exists may be used.

次に、第10工程では、未硬化液状レジスト18aを除去し、硬化されたサイドエッチング部10b上のレジスト18bのみをそのまま残す。   Next, in the tenth step, the uncured liquid resist 18a is removed, and only the resist 18b on the cured side etching portion 10b is left as it is.

第11工程では、残存している銅めっきパターン層14a、銀めっきパターン層12a及び保護されているレジスト18bの部分よりなる第2マスキング17に向けてエッチング液を吹き付けることにより、第2次のハーフエッチングないし選択的なエッチングを施す。この第2次ハーフエッチングでは、残存している銅めっきパターン層14aも同時に溶解されて、殆ど無くなるか、又は極めて薄い層のみを残すこととなるが、第2マスキング17としては、このエッチング工程では溶解されない銀めっきパターン12a及び残存しているレジスト18bにより、導体パターン間の溝21が形成される。   In the eleventh step, an etching solution is sprayed toward the second masking 17 composed of the remaining copper plating pattern layer 14a, silver plating pattern layer 12a, and protected resist 18b, so that the second half Etching or selective etching is performed. In this second half etching, the remaining copper plating pattern layer 14a is also dissolved at the same time, so that it is almost eliminated or only a very thin layer is left. However, as the second masking 17, A groove 21 between the conductor patterns is formed by the undissolved silver plating pattern 12a and the remaining resist 18b.

次に、第12工程において、残存しているポジ型液状レジスト18bを剥離する。   Next, in the twelfth step, the remaining positive type liquid resist 18b is peeled off.

ここで必要に応じ、前述の第8工程から第12工程まで工程を所要回数繰り返す。   Here, if necessary, the steps are repeated a required number of times from the eighth step to the twelfth step.

最終的には、第13工程において、銅を溶解せずに銀を溶解するエッチング液を使用して、銀めっきパターン12aを除去する。これにより、最終的に、導体パターンであるリードフレームのリード20の断面形状において上面と下面との幅寸法の差が小さな、即ち高アスペクト比のリードないし金属パターン20を得ることができる。これにより、リードフレーレのリードの微細化を達成することができる。   Finally, in the thirteenth step, the silver plating pattern 12a is removed using an etching solution that dissolves silver without dissolving copper. As a result, a lead or metal pattern 20 having a small difference in the width dimension between the upper surface and the lower surface in the cross-sectional shape of the lead 20 of the lead frame which is a conductor pattern, that is, a high aspect ratio can be obtained. As a result, lead miniaturization of the lead flare can be achieved.

図3及び図4はサブトラクティブ法を用いた本発明の第2実施形態に係る回路基板の形成方法を各工程毎に示すものである。この回路基板の形成方法としては、絶縁樹脂基板30の上面に銅箔10が形成されている点を除き、基本的には、本発明の第1実施形態によるリードフレームの形成方法と同様の第1工程〜第13工程を適用して形成することができるので、詳細の説明は省略する。   3 and 4 show a method of forming a circuit board according to the second embodiment of the present invention using the subtractive method for each step. The circuit board formation method is basically the same as the lead frame formation method according to the first embodiment of the present invention, except that the copper foil 10 is formed on the upper surface of the insulating resin substrate 30. Since it can be formed by applying the first to thirteenth steps, detailed description is omitted.

もっとも、リードフレームを形成する場合、或いは、絶縁基板上に導体パターンを形成する場合の各々において、金属パターンの、材質、厚み、ピッチ、パターン間距離、その他種々の条件下におけるエッチング液の種類、エッチング時間等の各パラメーターを調整する必要があることはいうまでもない。   However, in the case of forming a lead frame or the case of forming a conductor pattern on an insulating substrate, the metal pattern material, thickness, pitch, distance between patterns, and other types of etching solutions under various conditions, Needless to say, it is necessary to adjust each parameter such as etching time.

なお、上記の第1実施形態においては、金属板10の片面から、エッチングを施してリードフレームを形成する場合について、また、第2実施形態において、片面に銅箔が貼り付けられている絶縁基板30の銅箔から導体パターンを形成する場合について示したが、第1及び第2実施形態の両者において、金属板10の両面から、或いは、両面銅貼絶縁基板30の両面からエッチングを施すことによって金属パターンや回路基板の導体パターンを形成するこのも可能である。   In addition, in said 1st Embodiment, about the case where a lead frame is formed by etching from the single side | surface of the metal plate 10, Moreover, in 2nd Embodiment, the insulated substrate by which the copper foil is affixed on the single side | surface In the case of forming a conductor pattern from 30 copper foils, in both the first and second embodiments, etching is performed from both sides of the metal plate 10 or from both sides of the double-sided copper-clad insulating substrate 30. This is also possible to form a metal pattern or a conductor pattern on a circuit board.

また、エッチングを施す基材として、銅を用いた場合について説明したが、基材として鉄、鉄−ニッケル合金等を適用することができる。   Moreover, although the case where copper was used as a base material which etches was demonstrated, iron, an iron-nickel alloy, etc. are applicable as a base material.

以上添付図面を参照して本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の精神ないし範囲内において種々の形態、変形、修正等が可能である。   Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various forms, modifications, corrections, and the like are possible within the spirit and scope of the present invention. It is.

以上説明したように、本発明によれば、回路基板において導体パターンのピッチを狭くすることができる。また、導体パターンの上部の幅を確保することができ、上部付近のパターン幅と下部付近のパターン幅との差を小さくすることができる。更にまた、厚い導体パターンの回路基板に対してサブトラクティブ法を適用することが可能となる。   As described above, according to the present invention, the pitch of the conductor pattern can be narrowed in the circuit board. Moreover, the width of the upper part of the conductor pattern can be ensured, and the difference between the pattern width near the upper part and the pattern width near the lower part can be reduced. Furthermore, the subtractive method can be applied to a circuit board having a thick conductor pattern.

ポジ型レジストの遮光層として金属マスクに使用しているため、遮光層の成分である溶剤に溶出することが無い。また、従来例においては、金属(銅)上にドライ・フィルム・レジスト(DFR)をパターニングさせていたために、ポジ型レジストの現像を行なう際に、現像液に浸かされて金属(銅)上のDFR自体も溶解又は剥離される問題が発生していたが、本発明では、DFRに代えて金属(銀)でマスキングパターンを形成することで、マスキングパターン自体が、極端に減少し或いは除去されてしまうことがなくなった。   Since it is used for the metal mask as the light shielding layer of the positive resist, it does not elute into the solvent that is a component of the light shielding layer. Further, in the conventional example, since the dry film resist (DFR) is patterned on the metal (copper), when developing the positive resist, it is immersed in a developing solution and is on the metal (copper). In the present invention, the masking pattern itself is extremely reduced or removed by forming a masking pattern with metal (silver) instead of DFR. No longer happen.

本発明の第1実施形態に係るリードフレームの形成方法の各工程を示す。1 shows each step of a lead frame forming method according to a first embodiment of the present invention. 図1に続くリードフレームの形成方法の各工程を示す。Each step of the lead frame forming method subsequent to FIG. 1 is shown. 本発明の第2実施形態に係る回路基板の導体パターンの形成方法の各工程を示す。Each process of the formation method of the conductor pattern of the circuit board which concerns on 2nd Embodiment of this invention is shown. 図3に続く回路基板の導体パターンの形成方法の各工程を示す。Each process of the formation method of the conductor pattern of the circuit board following FIG. 3 is shown.

符号の説明Explanation of symbols

10 金属(銅)板
12 銀めっき層(第1金属層)
14 銅めっき層(第2金属層)
15 第1マスキング
16 ドライ・フィルム・レジスト(DFR)
18 ポジ型液状レジスト
20 リードフレーム(金属パターン)
30 絶縁樹脂基板
10 Metal (copper) plate 12 Silver plating layer (first metal layer)
14 Copper plating layer (second metal layer)
15 First masking 16 Dry film resist (DFR)
18 Positive liquid resist 20 Lead frame (metal pattern)
30 Insulating resin substrate

Claims (10)

金属板の両面又は片面に該金属板と異種の金属からなる第1金属層を形成する工程と、
該第1金属層上に前記金属板と同種の金属からなる第2金属層を前記第1金属層より厚く形成する工程と、
該第2金属層上にレジストを塗布し、該レジストをパターニングしてレジストパターンを形成する工程と、
該レジストパターンをマスキングとして前記第2金属層をエッチングし、第2金属層パターンを形成する工程と、
該第2金属層パターンをマスキングとして、前記第1金属層をエッチングし、第1金属層及び第2金属層のパターンを形成する工程と、
該第1金属層及び第2金属層のパターンを第1マスキングとして、前記金属板にハーフエッチングを施す工程と、
前記第1マスキング上からハーフエッチングを施した面にポジ型レジストを塗布し、前記第1マスキングの上部から露光し且つ現像して、該第1マスキング下部のポジ型レジストを保護する工程と、
前記第1マスキング及び保護した前記ポジ型レジストよりなる第2マスキングを介して前記金属板に再度ハーフエッチングを施す工程と、
前記第1マスキング及び第2マスキングを除去する工程と、
からなることを特徴とする、金属板パターン形成方法。
Forming a first metal layer made of a metal different from the metal plate on both sides or one side of the metal plate;
Forming a second metal layer made of the same kind of metal as the metal plate on the first metal layer to be thicker than the first metal layer;
Applying a resist on the second metal layer and patterning the resist to form a resist pattern;
Etching the second metal layer using the resist pattern as a mask to form a second metal layer pattern;
Etching the first metal layer using the second metal layer pattern as a mask to form a pattern of the first metal layer and the second metal layer;
Using the pattern of the first metal layer and the second metal layer as a first mask, and half-etching the metal plate;
Applying a positive resist on the first masked half-etched surface, exposing and developing from above the first masking to protect the positive masking under the first masking;
Performing half etching again on the metal plate through the first masking and the second masking made of the protected positive resist;
Removing the first masking and the second masking;
A metal plate pattern forming method comprising:
前記ポジ型レジストの塗布、露光、現像し、該第1マスキング下部のポジ型レジストを保護する工程と、前記第2マスキングを介して前記金属板に再度ハーフエッチングを施す工程と、を繰り替えし行うことを特徴とする請求項1に記載の金属板パターン形成方法。   The step of coating, exposing and developing the positive resist to protect the positive resist under the first masking and the step of half-etching the metal plate again through the second masking are repeated. The metal plate pattern forming method according to claim 1. 金属板及び第1金属層は銅、鉄、又は鉄−ニッケル合金であり、第2金属層は銀めっき層、金めっき層、又はすずめっき層であることを特徴とする請求項1又は2に記載の金属板パターン形成方法。   3. The metal plate and the first metal layer are copper, iron, or an iron-nickel alloy, and the second metal layer is a silver plating layer, a gold plating layer, or a tin plating layer. The metal plate pattern formation method of description. 第2金属層上に塗布するレジストは、ドライ・フィルム・レジストであり、前記ポジ型レジストは、液状ポジ型レジスト又は電着ポジ型レジストであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の金属板パターン形成方法。   The resist applied on the second metal layer is a dry film resist, and the positive resist is a liquid positive resist or an electrodeposited positive resist. 2. The metal plate pattern forming method according to item 1. 該第1金属層及び第2金属層のパターンを第1マスキングとして前記金属板にハーフエッチングを施す工程において、前記第2金属層も同時にエッチングされるが該第2金属層が完全には除去されない程度に、該第2金属層の厚さ及び該ハーフエッチングの条件を規定することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の金属板パターン形成方法。   In the step of half-etching the metal plate using the pattern of the first metal layer and the second metal layer as a first mask, the second metal layer is also etched at the same time, but the second metal layer is not completely removed. The metal plate pattern forming method according to any one of claims 1 to 4, wherein the thickness of the second metal layer and the conditions of the half etching are defined to a certain extent. 絶縁基材の両面又は片面に形成した金属箔上に、該金属箔と異種の金属からなる第1金属層を形成する工程と、
該第1金属層上に前記金属箔と同種の金属からなる第2金属層を前記第1金属層より厚く形成する工程と、
該第2金属層上にレジストを塗布し、該レジストをパターニングしてレジストパターンを形成する工程と、
該レジストパターンをマスキングとして前記第2金属層をエッチングし、第2金属層パターンを形成する工程と、
該第2金属層パターンをマスキングとして、前記第1金属層をエッチングし、第1金属層及び第2金属層のパターンを形成する工程と、
該第1金属層及び第2金属層のパターンを第1マスキングとして、前記金属板にハーフエッチングを施す工程と、
前記第1マスキング上からハーフエッチングを施した面にポジ型レジストを塗布し、前記第1マスキングの上部から露光し且つ現像して、該第1マスキング下部のポジ型レジストを保護する工程と、
前記第1マスキング及び保護した前記ポジ型レジストよりなる第2マスキングを介して前記金属板に再度ハーフエッチングを施す工程と、
前記第1マスキング及び第2マスキングを除去する工程と、
からなることを特徴とする、回路基板の形成方法。
Forming a first metal layer made of a metal different from the metal foil on the metal foil formed on both sides or one side of the insulating base;
Forming a second metal layer made of the same metal as the metal foil on the first metal layer to be thicker than the first metal layer;
Applying a resist on the second metal layer and patterning the resist to form a resist pattern;
Etching the second metal layer using the resist pattern as a mask to form a second metal layer pattern;
Etching the first metal layer using the second metal layer pattern as a mask to form a pattern of the first metal layer and the second metal layer;
Using the pattern of the first metal layer and the second metal layer as a first mask, and half-etching the metal plate;
Applying a positive resist on the first masked half-etched surface, exposing and developing from above the first masking to protect the positive masking under the first masking;
Performing half etching again on the metal plate through the first masking and the second masking made of the protected positive resist;
Removing the first masking and the second masking;
A method for forming a circuit board, comprising:
前記ポジ型レジストの塗布、露光、現像し、該第1マスキング下部のポジ型レジストを保護する工程と、前記第2マスキングを介して前記金属板に再度ハーフエッチングを施す工程と、を繰り替えし行うことを特徴とする請求項6に記載の回路基板の形成方法。   The step of coating, exposing and developing the positive resist to protect the positive resist under the first masking and the step of half-etching the metal plate again through the second masking are repeated. The method for forming a circuit board according to claim 6. 金属板及び第1金属層は銅、鉄、又は鉄−ニッケル合金であり、第2金属層は銀、金、又はすすであることを特徴とする請求項6又は7に記載の回路基板の形成方法。   The circuit board according to claim 6 or 7, wherein the metal plate and the first metal layer are copper, iron, or an iron-nickel alloy, and the second metal layer is silver, gold, or soot. Method. 第2金属層上に塗布するレジストは、ドライ・フィルム・レジストであり、前記ポジ型レジストは、液状ポジ型レジスト又は電着ポジ型レジストであることを特徴とする請求項6〜8のいずれか1項に記載の回路基板の形成方法。   9. The resist applied on the second metal layer is a dry film resist, and the positive resist is a liquid positive resist or an electrodeposited positive resist. 2. A method for forming a circuit board according to item 1. 該第1金属層及び第2金属層のパターンを第1マスキングとして、前記金属板にハーフエッチングを施す工程において、前記第2金属層も同時にエッチングされるが、該第2金属層が完全には除去されない程度に、該第2金属層の厚さを規定し、且つ該ハーフエッチングの条件を規定することを特徴とする請求項6〜9のいずれか1項に記載の回路基板の形成方法。   In the step of half-etching the metal plate using the pattern of the first metal layer and the second metal layer as the first masking, the second metal layer is also etched simultaneously, but the second metal layer is completely The method for forming a circuit board according to any one of claims 6 to 9, wherein the thickness of the second metal layer is defined so as not to be removed, and the conditions for the half etching are defined.
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