JP2006058299A - 偏波依存特性の決定 - Google Patents
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Abstract
【課題】光学試験対象デバイスの偏光の挙動の改善された決定法を提供する。
【解決手段】本発明は、光学試験対象デバイス(2)の偏波依存特性(JDUT)を決定することに関する。応答信号(R)は、基準偏光状態(EREF)を有する光刺激信号(S)に応答して前記試験対象デバイス(2)から受信され、前記応答信号(R)の出力偏光状態(EOUT)が決定され、前記基準偏光状態(EREF)についての基準情報(REF)が受信され、前記基準偏光状態(EREF)は、前記基準情報(REF)と、前記基準偏光状態(EREF)に対する基準情報(REF)の依存性を表す所定の関数とに基づいて決定され、前記偏波依存特性(JDUT)は、前記基準偏光状態(EREF)と、前記出力偏光状態(EOUT)とに基づいて決定される。
【選択図】図2
【解決手段】本発明は、光学試験対象デバイス(2)の偏波依存特性(JDUT)を決定することに関する。応答信号(R)は、基準偏光状態(EREF)を有する光刺激信号(S)に応答して前記試験対象デバイス(2)から受信され、前記応答信号(R)の出力偏光状態(EOUT)が決定され、前記基準偏光状態(EREF)についての基準情報(REF)が受信され、前記基準偏光状態(EREF)は、前記基準情報(REF)と、前記基準偏光状態(EREF)に対する基準情報(REF)の依存性を表す所定の関数とに基づいて決定され、前記偏波依存特性(JDUT)は、前記基準偏光状態(EREF)と、前記出力偏光状態(EOUT)とに基づいて決定される。
【選択図】図2
Description
本発明は、光学の試験対象デバイス(又は被測定物:device under test)−DUTの偏波依存特性の決定に関する。
群遅延差DGDと偏波モード分散PMDとの両方をカバーする偏波依存損失(PDL)及び偏波依存群遅延PDGDのような偏波依存パラメータを決定することは、先進の光通信システムにとって非常に重要である。
例えば偏波依存損失パラメータなどの、試験対象デバイスの偏光(又は偏波)の挙動(振舞い)を決定するための今日の解決策は、偏光状態のランダムな変動を適用し、その信号応答(信号レスポンス)から決定された最大損失と最小損失とを比較するスクランブル法と、いわゆるミューラー(Mueller)法のような分析方法とを含む。ミューラー法において、例えば伝送ファイバなどの試験対象デバイスは、4つの画定された偏光状態によって刺激(stimulate)される。DUTに印加される対応する入力信号の光電力と、DUTから受信される対応する出力信号の光電力とが、共に測定されて分析される。この方法は、非特許文献1に更に詳細に記載されている。
特許文献1は、波長に依存してDUTの偏波依存パラメータを測定する方法を開示する。ここで、偏光変換器が、波長可変光源とDUTとの間に接続される。光源の波長を掃引する時には、偏光変換器がDUTに対して、偏光が波長によって周期的に変化する信号を供給する。各波長範囲において、複数の異なる偏光状態が、DUTに対して供給されて、従って、DUTから戻ってくる対応する電力値を検出することによって、偏波依存パラメータを決定することができる。
米国特許第6,671,038号明細書
Dennis Derickson著、「Fiber Optic Test and Measurement」、ISBN0-13-534330-5、1998年、354〜358頁
本発明の目的は、光学試験対象デバイスの偏光の挙動(振舞い)の改善された決定法(又は測定法)を提供することである。該目的は、特許請求の範囲における独立請求項によって解決される。好適実施形態が、その従属請求項によって示される。
DUTの高精度な偏光挙動を得るために、DUTに対して提供される刺激信号(stimulus signal)の偏光状態を知ることが重要である。従って、本発明の一実施形態によれば、決定された入力(基準)偏光状態を有する光刺激信号に応答して、試験対象デバイスから応答信号が受信される。応答信号(R)の対応する出力偏光状態が測定されて、該入力偏光状態についての基準情報が分析される。DUTの偏波依存特性を決定するために、入力偏光状態と出力偏光状態とが組み合わされる。
これにより、入力測定と出力測定とを同期させることができる。従って、結果として刺激信号の偏光を変動させる例えば温度変化か又は経年変化に起因する、送信器の複屈折の変動か又はDUTに対する光学的な接続の変動を、容易に検出することができ、且つ、考慮に入れることができる。
更なる一実施形態において、光刺激信号のうちの少なくとも一部分を受信する偏波依存損失デバイスが提供される。通過信号部分の光電力、従って、入射光電力の反射信号部分は、入力偏光状態によって変化させられる。通過信号部分か又は反射信号部分のいずれかを受信する検出器は、検出された光電力に対応する基準情報を生成する。
更なる一実施形態において、光刺激信号の入力偏光状態が、前記基準情報と、既知の関数とに基づいて決定される。該既知の関数は、光刺激信号の基準偏光状態に対する、偏波依存損失デバイスの光電力損失の依存性を表す。
更なる一実施形態において、光刺激信号は、試験対象デバイス含む第1の経路と、光検出器を含む第2の経路とに分岐される。偏波依存損失デバイスは、第1の経路か又は第2の経路のいずれかに提供される。偏波依存損失デバイスの光電力損失は、光刺激信号の偏光の既知の関数である。遠隔の受信器が、光刺激信号に応答して試験対象デバイスによって提供される応答信号と、光検出器によって検出された偏波依存損失デバイスの電力損失についての情報を有する基準信号とを受信する。受信器は、刺激信号の偏光状態と、偏波依存特性の偏光状態とを決定する。
異なる基準偏光状態において、複数の測定を実施することができる。従って、試験対象デバイスの偏波依存特性が、前記複数の測定に基づいて決定される。
一実施形態において、偏波依存特性は、2×2ジョーンズ行列の要素としての4つのパラメータを含む。(各々が2次元のベクトルの)基準偏光状態と出力偏光状態との、2つの異なる対を得るために、2つの測定が実施される。従って、基準偏光状態と出力偏光状態との前記対から、前記4つのパラメータを有する4つの独立式が導き出される。
刺激信号を生成するために、偏光変換器内へと狭帯域の入射光が放射される。波長がその放射の時間にわたって掃引される。偏光変換器は、入射光の波長に依存して、該入射光の偏光状態を、基準偏光状態に変換する。偏光変換器は、偏波保持ファイバ、複屈折板、及び異なる入力偏光状態ごとに異なる経路長を有する任意の他の素子とすることができる。
レーザ光が直線偏光させられて、偏光主軸に対して45度未満の角度で偏光変換器内へと放射させられる場合には、基準偏光状態は、波長を変化させた時には両極を通るポアンカレ球の大円に基本的には従う(又は、ポアンカレ球の大円に基本的には沿って状態が変化する)。
更なる一実施形態において、偏波依存特性は、刺激信号の波長に依存して決定される。従って、次に続く波長範囲の各々について、偏波依存パラメータにおける異なる測定が実施される。偏光変換器の特性は、好適には、1つの波長範囲内において、試験対象デバイスの偏波依存特性が、ほぼ一定となるように選択される。
更なる一実施形態において、刺激信号の波長が追加的に測定されて、対応する情報が受信器に送られる。
更なる一実施形態において、刺激信号の光電力が追加的に測定されて、対応する情報が受信器に送られる。
試験対象デバイスの偏波依存特性は、偏波依存損失か、偏波依存群遅延か、群遅延差か、又は偏波モード分散とすることができる。
本発明を、1つか又は複数の適合可能なソフトウェアプログラムによって、部分的か又は全体的に具現化するか又はサポートすることができる、該ソフトウェアプログラムを、任意の種類のデータキャリア上に格納することができるか又は別様では任意の種類のデータキャリアによって提供することができる。該ソフトウェアプログラムを、任意の適切なデータ処理装置内において実行することができるか又は任意の適切なデータ処理装置によって実行することができる。例えば、受信器に対して送られることになる基準情報を生成するために、及び/又は、受信器内において、入力偏光状態の値と出力偏光状態の値とを決定して、これらの値に基づいて偏波依存挙動を計算するために、ソフトウェアプログラムか又はルーチンを、送信器内において実行することができる。
光学試験対象デバイスの偏光の挙動(振舞い)の改善された決定法を提供することができる。
本発明の実施形態の他の目的と多くの付随する利点とが、添付図面に関連して好適実施形態の以下のより詳細な説明を参照することによって、容易に明らかにされ、より良く理解されることになるであろう。実質的に又は機能的に等しいか又は類似する特徴は、同じ参照記号によって参照される。
図1は、送信器1、試験対象デバイス(DUT)2、及び受信器3を含む、例示的な偏波モード分散(PMD)試験構成を示す。送信器1は、光ファイバ接続を介してDUT2内へと光刺激信号Sを放射する。DUT2は、更なる光ファイバ接続を介して受信器3内へと応答信号Rを送信する。更に、送信器1は、基準信号REFを受信器3に送信する。
刺激信号Sは、狭帯域の光信号である。DUT2の偏波依存挙動を決定するために、以下において測定ポイント(各測定ポイントは、刺激信号Sの波長と偏光状態とによって画定される)とも呼ばれる、刺激信号Sにおける複数の異なる入力偏光状態について、DUT2からの応答が分析される。
DUT2の偏波依存挙動の精密な測定は、送信器1によって放射されて内部結合された偏光波の詳細な知識を必要とする。例えば、温度が変動する場合には、送信器1の任意の複屈折か、又はDUT2への光接続が、変動する可能性があり、従って、刺激信号Sの回転が変化する。従って、刺激信号Sの偏光状態は、送信器側において決定され、対応する基準情報REFの情報が、受信器3に送信される。
基準情報REFを、別個の線(例えば電線か又はRFワイヤレス接続)を介して受信器3へと送信することができるか、又は刺激信号Sと応答信号Rとのためのファイバ接続を使用してDUT2上の光信号として、受信器3に送信することができる。
受信器3は、応答信号Rの偏光状態を測定して、対応する基準情報を受信して、測定された情報を基準情報に関連付けることによって、DUT2の偏波依存挙動を決定する。応答信号Rの偏光状態を測定するために、受信器3は、偏光計とも呼ばれる偏光アナライザを備えて、応答信号Rの偏光状態を決定する。
偏光計は、当該技術分野において周知である。可能性のある実現において、偏光計は、分析されることになる4つの光分岐へと入射光を分光する光スプリッタを備える。ここで、第1の分岐は、第1の方向を有する偏光子を備え、第2の分岐は、第1の方向に垂直な第2の方向を有する偏光子を備え、第3の分岐は、複屈折波長板(λ/4波長板)と偏光子とを備え、第4の分岐は、入射光に対して実質的に透過である。各分岐の端部において、光電力を決定して、対応する電気信号を生成するための検出器が含まれる。該電気信号は、デジタル値へと変換されて、制御装置に提供される。該制御装置は、偏光状態を決定するためのアルゴリズムを実行する。
本発明の好適な一実施形態において、少なくとも2つの測定ポイントにおけるDUT応答が、DUT2の偏光特性を決定するために、共に分析される。DUT2の該偏光特性は、更に後述される4つのパラメータからなる。その偏光状態は、好適には、いちじるしく異なったものとなるように選択される。測定の結果として、4つのパラメータを決定するための、4つの独立式の1セットが得られる。
ここまで、偏光の特徴は、刺激信号Sの1つの固定された波長について決定されることが想定された。しかしながら、刺激信号Sの波長の広い範囲にわたるDUT2の偏光挙動を得ることには、多くの場合、重要性がある。従って、複数の連続した波長範囲を画定することが可能であり、且つ、異なる偏光状態を設定することによって各波長範囲について上述の測定を実施することが可能である。下記において、波長と偏光状態とをユニークに変更させる代替の方法が、説明されることになる。従って、送信器1のより詳細なブロック図が、図2において示される。
送信器1は、波長可変レーザ源10、偏光変換器11、光カプラ14、送信器1をDUT2に結合するための出力コネクタ19、偏波依存損失(PDL)デバイス17、及び検出器18を備える。
波長可変レーザ(源)10は、狭帯域の直線偏光された光か、又は所定の角度未満の入射光Lを、偏光変換器11内へと放射する。偏光変換器11は、約200mの長さの偏波保持ファイバ(PMF)の例示を目的としている。偏光変換器11に印加された光信号の偏光状態は、光信号の波長λに依存した偏光状態へと変換されることとなる。好適な一実施形態において、刺激信号Sの偏光状態が、両極を通るポアンカレ球上の大円上に実施的には置かれるように、入射光Lが、45°未満の角度で偏光変換器11内へと送信させられる。しかしながら、ポアンカレ球上における任意の画定された軌道(又は軌線)でも同様に機能する。
PMFは光カプラ14(例えば1アームに終端された2×2カプラ)に接続されるか又は接合される。該光カプラ14は更に、光ファイバ15と16とを介して、出力コネクタ19とPDLデバイス17とにそれぞれ接続される。従って、刺激信号S1の大部分は、出力コネクタ19に導かれる。ここで、刺激信号S1のわずかな部分(好適には1〜5%)が、PDLデバイス17に導かれる。PDLデバイス17が、光カプラ14と検出器18との間に接続され、それによって、刺激信号Sの偏光状態に依存して、検出器18に転送された光信号に電力損失が生じる。従って、波長に依存して受信された信号の変調が行われる。
波長可変レーザ10は、好適には、最小波長から最大波長まで、周期的に波長を掃引する。例として、ある掃引速度は、約2秒とすることができ、その波長範囲は、1520ナノメートル(nm)と1620nmとの間の約100nmをカバーすることができる。波長可変レーザ10を掃引する時には、偏光変換器11が、波長に依存して刺激信号Sの偏光を変化させる。その結果、掃引周期に対応して周期を伴って、異なる偏光状態が、DUT2に対して提供される。例として、ポアンカレ球は、約3000回ほど周囲を取り巻かれる(又は偏光状態を示す点が球上の周りを約3000ほど周回させられる)。そのような各周において、例えば約3pmから5pmの距離において、測定ポイントの複数対がとられる。
偏光変換器11は、複屈折による伝搬モード間の波長に依存して、位相差を生成する。これをいくつかの方法で実行することができる。偏波保持ファイバ(PMF)の代わりに、異なるSOP(偏光状態:state of polarization)ごとに異なる光路長を有する(純粋に線形な複屈折を示す)波長板か又は任意の他のデバイスを、偏光変換器11として使用することができる。偏光変換器の更なる例を、特許文献1の図3と図4とから導き出すことができる。
PDLデバイス17は、入射ビームの偏光に依存して、光ビームを放射するので、偏波依存損失を有する。下記において、送信器1のPDLデバイスの異なる実施形態が示される。
図3.1は、傾斜角度α未満に傾斜させられた端部17aを有する導波管によって形成されたPDLデバイス17の第1の例示的な一実施形態を示す。第1の部分(描かれた矢印)が、検出器18に放射させられて、第2の部分(点線の矢印)が、端部の表面に対して垂直に反射して戻される。その反射された部分の光電力は、従って、送信された部分の光電力は、傾斜角度αと実際の偏光状態とに依存している。
図3.2は、PDLデバイス17の第2の等価な一実施形態を示す。ここで、導波管の端部(又はファイバ端)は、伝播軸に対して垂直であり、代わりに、検出器18が、傾斜面17bを示す。
図3.3は、PDLデバイス17の第3の等価な一実施形態を示す。ここで、導波管端部(又はファイバ端)と検出器表面とは、伝播軸に対して垂直である。光ブロック17c(例えばガラス板)が、PDLデバイス17と検出器18との間の光路内において、傾斜角度α未満で配置される。
図3.4は、PDLデバイス17の第4の一実施形態を示す。ここで、導波管は、傾斜させられた裂け目(クリーブ:cleave)17dを有する。
代替的には、光カプラ14と光検出器18との間にPDLデバイス17を提供するために、PDLデバイス17を偏光変換器11と光カプラ14との間に配置することもできる。
図4は、空気−ガラス遷移についての、平行に偏光された光(p)と垂直に偏光された光(s)とについての反射率と、傾斜角度αからのそれらの依存性とを示す。傾斜角度αが小さい(ここでは約5度よりも小さい)場合には、平行に偏光された光の反射率(Rp)と垂直に偏光された光の反射率(Rs)とは、ほぼ等しく、非常に低い(0.04)。垂直な光の反射率は、傾斜角度αを増加させることによって連続的に増加する。ここで、平行に偏光された光の反射率は、傾斜角度αを54度にまで増加させて、更に、90度にまで著しく増加させることによって、まず最初に減少させられる。平行に偏光された光と垂直に偏光された光との差が、大ざっぱに45度と85度との間の角度αに関して高い値を示す。
図5.1〜図5.10は、本発明による方法を数学的に説明するための式のセットか又は図を示す。
図5.1において、入射光Lの電磁場強度(又は光の場の強度:field intensity)ELSは、入射光電磁場(又は入射光場:input light field)ELSとも呼ばれ、例示を目的として、1つの主軸(x軸)において直線偏光される。図5.2は、パラメータδ(レーザ光Eの波長λに依存する位相差)とθ(偏光変換器11の偏光主軸に対する入射角)とに依存する例示的な一般的なジョーンズ行列JPD(δ、θ)を示す。図5.3のジョーンズ行列JPD(δ)は、θ=45度(ラジアンでは45*2π/360)の特殊な場合である。図5.4は、刺激信号Sの電磁場強度EREFを示し、これは、基準信号電磁場(又は基準信号場)か又は基準偏光状態EREFとも呼ばれ、ジョーンズ行列JPD(δ)を入射光電磁場ELSで乗算することによって得られる位相差δに依存する。図5.5は、2つの特徴付けているパラメータqとrとを有するPDL損失デバイス17の一般的なジョーンズ行列JPL(q、r)を示す。該パラメータqとrとは、周知であるとみなされている。図5.6は、光検出器18において入射する光信号の電磁場強度を示す。図5.7は、光検出器18によって検出された光電力Pを表す。
図5.8は、q=1及びr=0.5の例示的な値に関して検出された電力Pをグラフに表したものである。位相差δに依存して、電力は、1と約0.3との間で周期的に変化させられる。その振幅は、例えば、PDLデバイス17の材料の選択と、図3.1〜図3.4内及び図4内において記載された傾斜角度αとに依存する。検出された光電力から、位相差δと、それと共に基準光電磁場EREFとを決定することができる。図5.9は、パラメータex1(x方向における直線偏光)、ey1(y方向における直線偏光)、及びψ(ex1とey1との間の位相差を示す)を有する出力偏光状態EOUTの一般的な公式を示す。該パラメータは、上述のような偏光アナライザによって測定される。図5.10は、基準光電磁場EREF、出力光電磁場EOUT、及び4つのパラメータ(J11、J12、J21、J22)を有するジョーンズ行列とを互いにリンクさせて、DUTジョーンズ行列JDUTとも呼ばれる、DUT2の偏波依存損失を説明している(行列形式において示された)等式体系を示す。1つの等式体系は、2つの式を表す。明確にDUTジョーンズ行列を決定するために、異なる入射光電磁場による2つの測定が、実施されなければならない。波長可変レーザ源が入射光Lの波長を変化させると、その測定は、偏光状態が著しく異なるように、所定の時間間隔において実施されるが、その波長の違いは非常に小さいので、DUT挙動を、一定と見なすことができる。
受信器側において群遅延差DGDを決定するために、入射光の波長を、波長可変レーザ10の背後の波長測定デバイスによって、直接決定することができる。更に、測定された波長を受信器3への基準情報内において追加的に送信することができる。
更に、波長可変レーザ10の出力において入射光Lの光電力を測定することが可能であり、且つ、DUTの損失特性を正確に決定するためにこの情報を追加的に受信器3に送信することが可能である。
1 光送信器
2 光学試験対象デバイス、試験対象デバイス
3 受信器、光受信器
11 偏光変換器
15 第1の経路
16 第2の経路
17 偏波依存損失デバイス
18 検出器
2 光学試験対象デバイス、試験対象デバイス
3 受信器、光受信器
11 偏光変換器
15 第1の経路
16 第2の経路
17 偏波依存損失デバイス
18 検出器
Claims (19)
- 光学試験対象デバイス(2)の偏波依存特性(JDUT)を決定する方法であって、
基準偏光状態(EREF)を有する光刺激信号(S)に応答して、前記光学試験対象デバイス(2)から応答信号(R)を受信するステップと、
前記応答信号(R)の出力偏光状態(EOUT)を決定するステップと、
前記基準偏光状態(EREF)についての基準情報(REF)を受信するステップと、
受信した前記基準情報(REF)を、前記基準偏光状態(EREF)に対する基準情報(REF)の依存性を表す所定の関数に関連付けることによって、前記基準偏光状態(EREF)を決定するステップと、
前記基準偏光状態(EREF)と前記出力偏光状態(EOUT)とに基づいて、前記偏波依存特性(JDUT)を決定するステップ
とを含む、方法。 - 偏波依存損失デバイス(17)は、前記光刺激信号(S)のうちの少なくとも一部分を受信して、前記基準偏光状態(EREF)に依存して光電力損失を伴う光信号を生成し、
前記基準情報は、前記光電力損失についての情報を含むことからなる、請求項1に記載の方法。 - 前記所定の関数は、前記光刺激信号(S)の前記基準偏光状態(EREF)に対する、前記偏波依存損失デバイス(17)の前記光電力損失の依存性を表していることからなる、請求項2に記載の方法。
- 前記光刺激信号(S)は、
前記試験対象デバイス(2)を含む第1の経路(15)と、
前記偏波依存損失デバイス(17)と検出器(18)とを含む第2の経路(16)
とに分岐されることからなる、請求項1乃至3のいずれかに記載の方法。 - 前記光刺激信号(S)は、
前記試験対象デバイス(2)と前記偏波依存損失デバイス(17)とを含む第1の経路(15)と、
検出器(18)を含む第2の経路(16)
とに分岐されることからなる、請求項2又は3に記載の方法。 - 複数の測定は、異なる基準偏光状態(EREF)において実施され、
前記試験対象デバイス(2)の前記偏波依存特性は、前記複数の測定に基づいて決定されることからなる、請求項1乃至5のいずれかに記載の方法。 - 前記偏波依存特性は、4つのパラメータ(J11、J12、J21、J22)を含み、
基準偏光状態と出力偏光状態との2つの異なる対を得るために2つの測定が実施され、
前記4つのパラメータを有する4つの独立式は、基準偏光状態と出力偏光状態との前記対から導出されることからなる、請求項6に記載の方法。 - 前記刺激信号(S)を生成するために、狭帯域な入射光(L)が、偏光変換器(11)内へと放射され、
前記入射光(L)の波長は、時間と共に変化させられ、
前記偏光変換器(11)は、前記入射光(L)の前記波長に依存して、前記入射光(L)の偏光状態(ELS)を基準偏光状態(EREF)に変換する、請求項6又は7に記載の方法。 - 前記レーザ光(L)は、直線偏光させられて、偏光主軸に対して45度未満の角度で偏光変換器(11)内へと放射されて、その結果、前記基準偏光状態が、波長が変化させられる時には、両極を通るポアンカレ球の大円に、基本的には従うことからなる、請求項8に記載の方法。
- 前記偏光変換器(11)は、偏波保持ファイバと、複屈折板と、異なる入力偏光状態ごとに異なる経路長を有する任意の他の素子とのうちの1つであることからなる、請求項8又は9に記載の方法。
- 前記偏波依存特性は、前記刺激信号(S)の波長に依存して決定され、
前記偏波依存パラメータの異なる測定は、次に続く波長範囲の各々について実施されることからなる、請求項1乃至10のいずれかに記載の方法。 - 前記偏光変換器の特性は、1つの波長範囲内において前記試験対象デバイス(2)の前記偏波依存特性が、ほぼ一定となるように選択されることからなる、請求項11に記載の方法。
- 前記刺激信号(S)の波長が測定され、
前記基準情報(REF)は、対応する波長情報を更に含むことからなる、請求項1乃至12のいずれかに記載の方法。 - 前記刺激信号(S)の電力が測定され、
前記基準情報(REF)は、対応する電力情報を更に含むことからなる、請求項1乃至13のいずれかに記載の方法。 - 前記偏波依存特性は、偏波依存損失か、偏波依存群遅延か、群遅延差か、又は偏波モード分散、のうちの1つであることからなる、請求項1乃至14のいずれかに記載の方法。
- 前記受信器(3)のデータ処理システム上において実行される時には、請求項1乃至15のいずれかの方法を実施するために、好適にはデータキャリア上に格納される、ソフトウェアプログラムか又は製品。
- 光刺激信号(S)が提供される光学試験対象デバイス(2)の偏波依存特性(JDUT)を決定するための光受信器(3)であって、
基準偏光状態(EREF)を有する光刺激信号(S)に応答して、前記試験対象デバイス(2)から応答信号(R)を受信するために構成された第1の受信器と、
前記応答信号(R)の出力偏光状態(EOUT)を決定するために構成された偏光評価装置と、
前記基準偏光状態(EREF)についての基準情報(REF)を受信するために構成された第2の受信器と、
前記基準情報(REF)と、前記基準偏光状態(EREF)に対する基準情報(REF)の依存性を表す所定の関数と、前記出力偏光状態(EOUT)とに基づいて、前記偏波依存特性(JDUT)を決定するために構成された光学特性評価装置
とを備える、光受信器。 - 光学試験対象デバイス(2)の偏波依存特性(JDUT)を決定するために、試験対象デバイスに光刺激信号(S)を提供するための光送信器(1)であって、
基準偏光状態(EREF)を有する光刺激信号(S)を生成するために構成された光源と、
前記基準偏光状態(EREF)に対する基準情報(REF)の依存性を表している所定の関数に従って、前記基準偏光状態(EREF)についての情報を含む基準情報(REF)を生成するために構成された信号生成器
とを備える、光送信器。 - 光学試験対象デバイス(2)の偏波依存特性(JDUT)を決定するためのシステムであって、
請求項17の光送信器(1)と、
請求項18の光受信器(3)
とを備える、システム。
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