JP2006044156A - Mold, micromold, mold manufacturing method and micromold manufacturing method - Google Patents

Mold, micromold, mold manufacturing method and micromold manufacturing method Download PDF

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Kazuo Nakamae
一男 仲前
Toshiyuki Numazawa
稔之 沼澤
Kazunori Okada
一範 岡田
Hirokazu Tanaka
博和 田中
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mold which can prevent an adhesive from being melted into a molded object, a micromold, a mold manufacturing method and a micromold manufacturing method. <P>SOLUTION: The mold has a base material 11 and a micromold 1 with a micropattern 1a arranged on the base material 11 and a fixture 12 which presses the micromold 1 to the base material 11 covering the peripheral edge of the micromold 1. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、金型、微細金型、金型の製造方法および微細金型の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a mold, a fine mold, a mold manufacturing method, and a fine mold manufacturing method.

微細構造体の成形を行なうための金型は、たとえば特開2004−25647号公報に開示されている。図11および図12は、特開2004−25647号公報に開示された金型と、その金型に用いる入れ子との構成を示す概略断面図である。   A mold for forming a microstructure is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-25647. 11 and 12 are schematic cross-sectional views showing the configuration of a mold disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-25647 and a nesting used for the mold.

図11を参照して、金型120は、着脱可能な入れ子110を含んで構成されている。図12を参照して、入れ子110は、表面に微細な凹凸パターン101aを有する薄板101と、この薄板101の裏面に接着剤115で固定された台材111とを有している。   Referring to FIG. 11, the mold 120 is configured to include a detachable insert 110. Referring to FIG. 12, the insert 110 includes a thin plate 101 having a fine uneven pattern 101 a on the surface, and a base 111 fixed to the back surface of the thin plate 101 with an adhesive 115.

図11を参照して、この金型120のキャビティ120a内に溶融樹脂などを充填し、加圧、冷却、固化を行なうことにより、金型120によって全体形状が形成され、入れ子110の微細パターン101aによって微細パターンが一部に形成された成形品が得られる。
特開2004−25647号公報
Referring to FIG. 11, molten resin or the like is filled in cavity 120 a of mold 120, and pressurization, cooling, and solidification are performed, whereby the entire shape is formed by mold 120, and fine pattern 101 a of insert 110 is formed. Thus, a molded product in which a fine pattern is partially formed is obtained.
JP 2004-25647 A

しかしながら、上記の公報に開示された金型を用いて溶融樹脂などを成形した場合、接着剤115が溶融樹脂に溶け出すという問題があった。このように接着剤115が溶融樹脂に溶け出すと、たとえば溶融樹脂などにより複合圧電材料を製作する際に、その複合圧電材料の比誘電率を低下できないという問題が生じる。   However, when a molten resin or the like is molded using the mold disclosed in the above publication, there is a problem that the adhesive 115 dissolves into the molten resin. When the adhesive 115 melts into the molten resin in this way, there arises a problem that the relative dielectric constant of the composite piezoelectric material cannot be lowered when the composite piezoelectric material is manufactured using, for example, the molten resin.

それゆえ本発明の目的は、接着剤が被成形物に溶け出すことを防止できる金型、微細金型、金型の製造方法および微細金型の製造方法を提供することである。   Therefore, an object of the present invention is to provide a mold, a fine mold, a method for producing a mold, and a method for producing a fine mold, which can prevent the adhesive from melting into the molding.

本発明の金型は、台材と、台材上に配置され、かつ微細パターンを有する微細金型と、微細金型の周縁を覆いながら微細金型を台材に押さえつける治具とを備えている。   The mold of the present invention includes a base material, a fine mold disposed on the base material and having a fine pattern, and a jig for pressing the fine mold against the base material while covering the periphery of the fine mold. Yes.

本発明の金型によれば、治具が微細金型を台材に押さえつけているため、接着剤を用いなくとも微細金型を台材に固定することができる。よって、接着剤が被成形物に溶け出すことはない。   According to the mold of the present invention, since the jig presses the fine mold against the base material, the fine mold can be fixed to the base material without using an adhesive. Therefore, the adhesive does not melt into the molding.

上記の金型において好ましくは、台材と微細金型とは接着剤により固定されている。   In the above mold, the base material and the fine mold are preferably fixed with an adhesive.

接着剤を用いることにより、大きな面積を有する微細金型を台材にしっかりと固定することができる。また接着剤によって台材と微細金型とが固定されても、治具が微細金型の周縁を覆っているため、接着剤が治具と微細金型との間から漏れ出すことを防止できる。よって、接着剤が被成形物に溶け出すことを防止できる。   By using an adhesive, a fine mold having a large area can be firmly fixed to the base material. Even if the base material and the fine mold are fixed by the adhesive, since the jig covers the periphery of the fine mold, the adhesive can be prevented from leaking between the jig and the fine mold. . Therefore, it is possible to prevent the adhesive from melting into the molding.

上記の金型において好ましくは、接着剤は、エポキシ樹脂系接着剤、セラミックス接着剤、無機耐熱接着剤および嫌気性含浸用接着剤よりなる群から選ばれた1種以上を含む。   Preferably, in the above mold, the adhesive includes one or more selected from the group consisting of an epoxy resin adhesive, a ceramic adhesive, an inorganic heat resistant adhesive, and an anaerobic impregnation adhesive.

上記の接着剤は耐熱性を有しているため、熱硬化モールドを行なうことにより微細金型に熱が与えられても接着剤の接着力は低下しない。   Since the above adhesive has heat resistance, even if heat is applied to the fine mold by performing thermosetting mold, the adhesive strength of the adhesive does not decrease.

上記の金型において好ましくは、微細金型の微細パターンは50μm以下の微細構造を有する。   In the above mold, the fine pattern of the fine mold preferably has a fine structure of 50 μm or less.

これにより、微細な加工を成形体に施すことが可能になる。   Thereby, it becomes possible to give a fine process to a molded object.

上記の金型において好ましくは、微細金型は、表面に微細パターンを有し、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか一方を有する第1の導電膜と、第1の導電膜の裏面に形成され、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか他方を有する第2の導電膜とを備える。   Preferably, in the above mold, the fine mold has a first conductive film having a fine pattern on the surface and one of tensile stress and compressive stress inside, and a back surface of the first conductive film. And a second conductive film having one of tensile stress and compressive stress formed therein.

これにより、後述のように第1の導電膜の反りを軽減することができる。   Thereby, the warp of the first conductive film can be reduced as will be described later.

本発明の微細金型は、表面に微細パターンを有し、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか一方を有する第1の導電膜と、その第1の導電膜の裏面に形成され、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか他方を有する第2の導電膜とを備えている。   The fine mold of the present invention is formed on the back surface of the first conductive film having a fine pattern on the surface and having either one of tensile stress and compressive stress inside, and And a second conductive film having either one of tensile stress and compressive stress therein.

第1の導電膜が内部に引張応力および圧縮応力のいずれか一方を有する場合には、この第1の導電膜に反りが生じるおそれがある。本発明の微細金型によれば、この第1の導電膜と逆の応力を有する第2の導電膜が第1の導電膜の裏面に形成されているため、第1の導電膜の反りの発生を防止でき、また反りが生じた場合でもその反りを軽減することができる。   When the first conductive film has any one of tensile stress and compressive stress therein, the first conductive film may be warped. According to the fine mold of the present invention, the second conductive film having a stress opposite to that of the first conductive film is formed on the back surface of the first conductive film. Occurrence can be prevented, and even when warping occurs, the warping can be reduced.

上記の微細金型において好ましくは、微細金型の材質は、無光沢ニッケル(Ni)、ニッケル(Ni)−マンガン(Mn)合金および光沢ニッケル(Ni)よりなる群から選ばれる1種以上を含む。   In the above fine mold, preferably, the material of the fine mold includes at least one selected from the group consisting of matte nickel (Ni), nickel (Ni) -manganese (Mn) alloy, and bright nickel (Ni). .

無光沢ニッケルは引張応力を示し、ニッケル−マンガン合金および光沢ニッケルは圧縮応力を示すため、これらの組合せにより上述の第1の導電膜の反りを軽減することができる。   Matte nickel exhibits tensile stress, and nickel-manganese alloy and bright nickel exhibit compressive stress. Therefore, the combination of these can reduce the warp of the first conductive film.

上記の微細金型において好ましくは、第2の導電膜は、複数の層が積層されて構成されている。   In the fine mold described above, the second conductive film is preferably configured by laminating a plurality of layers.

第1の導電膜の内部の応力が大きい場合には、この第1の導電膜の反りを抑制するためには第2の導電膜の内部応力(第1の導電膜とは逆の応力)も大きくする必要がある。しかし、この場合、第1の導電膜と第2の導電膜との界面に応力集中が起こり第1の導電膜と第2の導電膜とが剥離する可能性がある。そこで、本願発明では、複数の層を積層して第2の導電膜を構成し、それらの複数の層内の各内部応力を段階的に変化させるようにすることで、当該界面での応力集中を低減し、剥離を防止することができる。   When the internal stress of the first conductive film is large, the internal stress of the second conductive film (stress opposite to that of the first conductive film) is also used in order to suppress the warpage of the first conductive film. It needs to be bigger. However, in this case, stress concentration may occur at the interface between the first conductive film and the second conductive film, and the first conductive film and the second conductive film may be separated. Therefore, in the present invention, a plurality of layers are stacked to form the second conductive film, and each internal stress in the plurality of layers is changed stepwise to concentrate stress at the interface. Can be reduced and peeling can be prevented.

本発明の金型の製造方法は、微細パターンを有する微細金型を形成する工程と、微細金型を台材上に配置する工程と、微細金型の周縁を覆うように治具を配置して、その治具により微細金型を台材に押さえつけて固定する工程とを備えている。   The mold manufacturing method of the present invention includes a step of forming a fine mold having a fine pattern, a step of placing the fine mold on a base material, and a jig so as to cover the periphery of the fine mold. And a step of pressing and fixing the fine mold against the base material with the jig.

本発明の金型の製造方法によれば、治具が微細金型を台材に押さえつけているため、接着剤を用いなくとも微細金型を台材に固定することができる。よって、接着剤が被成形物に溶け出すことを防止できる。   According to the mold manufacturing method of the present invention, since the jig presses the fine mold against the base material, the fine mold can be fixed to the base material without using an adhesive. Therefore, it is possible to prevent the adhesive from melting into the molding.

上記の金型の製造方法において好ましくは、微細金型の微細パターンはリソグラフィーによって作られたものである。   In the above mold manufacturing method, preferably, the fine pattern of the fine mold is formed by lithography.

このようにリソグラフィーにより微細パターンを形成することにより、微細パターンを50μm以下の微細構造とすることができる。   Thus, by forming a fine pattern by lithography, the fine pattern can be made into a fine structure of 50 μm or less.

本発明の微細金型の製造方法は、表面に微細パターンを有し、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか一方を有する第1の導電膜をめっきにより形成する工程と、内部に引張応力および圧縮応力のいずれか他方を有する第2の導電膜を第1の導電膜の裏面にめっきにより形成する工程とを備えている。   The method for producing a fine mold of the present invention comprises a step of forming a first conductive film having a fine pattern on the surface and having either a tensile stress or a compressive stress inside by plating, and a tensile stress inside. And a step of forming a second conductive film having one of compression stress and the other on the back surface of the first conductive film by plating.

本発明の微細金型の製造方法によれば、この第1の導電膜と逆の応力を有する第2の導電膜が第1の導電膜の裏面に形成されているため、第1の導電膜の反りの発生を防止でき、また反りが生じた場合でもその反りを軽減することができる。   According to the method for manufacturing a fine mold of the present invention, the second conductive film having a stress opposite to that of the first conductive film is formed on the back surface of the first conductive film. The occurrence of warping can be prevented, and even when warping occurs, the warping can be reduced.

上記の微細金型の製造方法において好ましくは、第1の導電膜の反りを制御するために、めっきにより第2の導電膜を形成する際の電流密度を変化させる。   In the above-described fine mold manufacturing method, preferably, the current density when the second conductive film is formed by plating is changed in order to control the warp of the first conductive film.

めっきの電流密度を変化させることでめっき膜の内部応力を変化させることができるため、第1の導電膜の内部応力次第で、第2の導電膜のめっき時における電流密度を変化させることで、第2の導電膜の内部応力を制御でき、効果的に第1の導電膜の反りを軽減させることができる。   Since the internal stress of the plating film can be changed by changing the current density of plating, depending on the internal stress of the first conductive film, by changing the current density during plating of the second conductive film, The internal stress of the second conductive film can be controlled, and the warp of the first conductive film can be effectively reduced.

以上説明したように、本発明によれば、接着剤が被成形物に溶け出すことを防止できる金型、微細金型、金型の製造方法および微細金型の製造方法を得ることができる。   As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a mold, a fine mold, a method for producing a mold, and a method for producing a fine mold, which can prevent the adhesive from being dissolved into the molding object.

以下、本発明の実施の形態について図に基づいて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1における金型の構成を概略的に示す断面図である。図1を参照して、本実施の形態における金型は、微細金型10と、台材11と、治具12と、ネジ13とを有している。微細金型10はたとえばニッケルよりなる薄板1よりなり、その薄板1の表面に形成された微細パターン1aを有している。また微細金型10における微細パターン1aの形成領域の外方は淵部分1bを構成している。この微細金型10が台材11の表面に直接接するように配置されている。この状態で、治具12が、微細金型10の周縁を覆いながら微細金型10の淵部分1bを台材11に押さえつけている。この治具12は、たとえばネジ13により、台材11に締め付けられている。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a configuration of a mold according to Embodiment 1 of the present invention. Referring to FIG. 1, the mold in the present embodiment includes a fine mold 10, a base material 11, a jig 12, and a screw 13. The fine mold 10 is made of, for example, a thin plate 1 made of nickel, and has a fine pattern 1 a formed on the surface of the thin plate 1. Further, the outer side of the formation area of the fine pattern 1a in the fine mold 10 constitutes a flange portion 1b. The fine mold 10 is arranged so as to be in direct contact with the surface of the base material 11. In this state, the jig 12 presses the flange portion 1 b of the fine mold 10 against the base material 11 while covering the periphery of the fine mold 10. The jig 12 is fastened to the base material 11 by, for example, screws 13.

微細パターン1aは、後述するようにリソグラフィー技術により形成されるものであり、50μm以下の微細なパターン構造を有している。   The fine pattern 1a is formed by lithography as described later, and has a fine pattern structure of 50 μm or less.

次に、本実施の形態の製造方法について説明する。   Next, the manufacturing method of this embodiment will be described.

図2〜図5は、本発明の実施の形態1における金型の製造方法を工程順に示す概略断面図である。図2を参照して、ガラス原盤21の少なくとも一方面(パターン形成面)が研磨された後に洗浄される。そのガラス原盤21の一方面上に、たとえばスパッタリング法、蒸着法、無電解めっき法などにより、たとえばニッケル(Ni)、銀(Ag)などの導電膜(図示せず)が形成される。この導電膜上にフォトレジスト22が塗布され、フォトマスク30を透過した露光光により露光される。このフォトマスク30は、透明基板31と、パターニングされた遮光膜32とを有しており、遮光膜の形成されていない領域を透過した露光光によりフォトレジスト22が露光される。なお、フォトマスクを用いずに、レーザ光を断続的に照射することによりフォトレジスト22が露光されてもよい。   2-5 is schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the metal mold | die in Embodiment 1 of this invention in order of a process. Referring to FIG. 2, at least one surface (pattern forming surface) of glass master 21 is cleaned after being polished. On one surface of the glass master 21, a conductive film (not shown) such as nickel (Ni) or silver (Ag) is formed by sputtering, vapor deposition, electroless plating, or the like. Photoresist 22 is applied on the conductive film and exposed by exposure light transmitted through photomask 30. The photomask 30 includes a transparent substrate 31 and a patterned light shielding film 32, and the photoresist 22 is exposed by exposure light transmitted through a region where the light shielding film is not formed. Note that the photoresist 22 may be exposed by intermittently irradiating laser light without using a photomask.

図3を参照して、この露光の後にフォトレジスト22を現像することにより、フォトレジスト22がポジ型の場合には、フォトレジスト22の露光により感光した部分が現像により除去される。これにより、レジストパターン22が形成され、レジストパターン22とガラス原盤21とからなる微細レジスト構造体が形成される。   Referring to FIG. 3, by developing photoresist 22 after this exposure, when photoresist 22 is a positive type, a portion exposed by exposure of photoresist 22 is removed by development. Thereby, a resist pattern 22 is formed, and a fine resist structure including the resist pattern 22 and the glass master 21 is formed.

図4を参照して、ガラス原盤21上に形成された導電膜を一方の電極として用いて、微細レジスト構造体にめっき溶液を用いた電気鋳造を行なうことにより、たとえばニッケルよりなるめっき導電膜1がレジストパターン22上に形成される。この導電膜1はレジストパターン22の空洞中を埋め込むように形成されるため、導電膜1にはレジストパターン22の微細パターンに整合した50μm以下の微細パターンが形成される。   Referring to FIG. 4, by using a conductive film formed on glass master 21 as one electrode and performing electroforming using a plating solution on a fine resist structure, a plated conductive film 1 made of, for example, nickel. Is formed on the resist pattern 22. Since the conductive film 1 is formed so as to be embedded in the cavity of the resist pattern 22, a fine pattern of 50 μm or less that matches the fine pattern of the resist pattern 22 is formed on the conductive film 1.

図5を参照して、導電膜1の形成後、導電膜1からガラス原盤21が剥離され、レジストパターン22がアッシングなどにより除去される。これにより、表面に50μm以下の微細パターンを有する導電膜1よりなる微細金型10が形成される。   Referring to FIG. 5, after forming conductive film 1, glass master disc 21 is peeled from conductive film 1, and resist pattern 22 is removed by ashing or the like. Thereby, the fine metal mold | die 10 which consists of the electrically conductive film 1 which has a fine pattern of 50 micrometers or less on the surface is formed.

図1を参照して、微細金型10の周縁部を淵部分1bが残るように切断加工した後、微細金型10はたとえば5mmの厚みのニッケル板よりなる台材11上に配置される。この微細金型10の淵部分1bを台材11側へ押さえるように治具12がネジ13により台材11に固定される。この際、治具12が微細金型10の周縁部全周を覆うようにすることが好ましい。これにより、本実施の形態の金型が製造される。   Referring to FIG. 1, after cutting the peripheral portion of fine mold 10 so that ridge portion 1 b remains, fine mold 10 is placed on a base 11 made of a nickel plate having a thickness of 5 mm, for example. A jig 12 is fixed to the base material 11 with screws 13 so as to press the flange portion 1b of the fine mold 10 toward the base material 11 side. At this time, it is preferable that the jig 12 covers the entire peripheral edge of the fine mold 10. Thereby, the metal mold | die of this Embodiment is manufactured.

複合圧電材料をLIGA(Lithographie Galvanoformung Abformung)で製作する場合、金型をシンクロトロン放射(SR)光で製作し、その金型にモールドすることにより樹脂型を製作し、その樹脂型にPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)を注入し、アッシングで樹脂型を除去した後に、PZTを焼成し、複合化することにより複合圧電材料が形成される。このとき、アッシングのプラズマをPZTに照射することでPZT表面を改質し複合圧電材料の比誘電率を低下させることができる。そこで本願発明者が、特開2004−25647号公報のような接着剤を用いた金型を用いてモールドした樹脂型を用いてPZTを注入し、アッシングで樹脂型を除去した後に、PZTにアッシングのプラズマを照射(250、300W)して比誘電率の低下を試みたが、その比誘電率は低下しなかった。この原因は、金型の接着剤成分が樹脂中に染み出してその成分がPZTにも入ったことによりPZT特性に悪影響を与えたものと考えられる。   When a composite piezoelectric material is manufactured by LIGA (Lithographie Galvanoformung Abformung), a mold is manufactured by synchrotron radiation (SR) light, a resin mold is manufactured by molding the mold, and PZT (titanium) is formed on the resin mold. After the resin mold is removed by ashing, PZT is baked and combined to form a composite piezoelectric material. At this time, by irradiating the PZT with ashing plasma, the PZT surface can be modified and the relative dielectric constant of the composite piezoelectric material can be lowered. Therefore, the inventor of the present application injects PZT using a resin mold molded using a mold using an adhesive as disclosed in JP-A-2004-25647, removes the resin mold by ashing, and then ashes the PZT. The relative dielectric constant was attempted to be reduced by irradiating the plasma (250, 300 W), but the relative dielectric constant did not decrease. This is considered to be because the adhesive component of the mold oozes out into the resin and the component also enters PZT, which adversely affects the PZT characteristics.

本実施の形態によれば、治具12が微細金型10を台材11に押さえつけているため、接着剤を用いなくとも微細金型10を台材11に固定することができる。よって、接着剤が被成形物に溶け出すことはなく、上記のような被成形体の特性の劣化が生じることもない。   According to the present embodiment, since the jig 12 presses the fine mold 10 against the base material 11, the fine mold 10 can be fixed to the base material 11 without using an adhesive. Therefore, the adhesive does not melt into the molded object, and the above-described deterioration of the characteristics of the molded object does not occur.

なお上記においては微細金型10と台材11との間に接着剤を用いない場合について説明したが、本実施の形態においては図6に示すように微細金型10と台材11とが接着剤15により固定されていてもよい。   In the above description, the case where no adhesive is used between the fine mold 10 and the base material 11 has been described. However, in the present embodiment, the fine mold 10 and the base material 11 are bonded as shown in FIG. It may be fixed by the agent 15.

本実施の形態によれば、治具12が微細金型10の周縁全周を覆っているため、接着剤15が治具12と微細金型10との間から漏れ出すことを防止できる。よって、接着剤15が被成形物に溶け出すことを防止できる。また接着剤15を用いることにより、大きな面積を有する微細金型10を台材11にしっかりと固定することが可能となる。   According to the present embodiment, since the jig 12 covers the entire periphery of the fine mold 10, the adhesive 15 can be prevented from leaking from between the jig 12 and the fine mold 10. Therefore, it can prevent that the adhesive agent 15 melts into the molding object. Further, by using the adhesive 15, the fine mold 10 having a large area can be firmly fixed to the base material 11.

この接着剤15は、エポキシ樹脂系接着剤、セラミックス接着剤、無機耐熱接着剤および嫌気性含浸用接着剤のそれぞれの単体もしくは任意の組合せよりなっていることが好ましい。接着剤15の材質として上記の材質を選択することにより、熱硬化モールドを行なうことにより微細金型10に熱が与えられても接着剤15の接着力の低下を抑制することができる。   The adhesive 15 is preferably made of a single substance or an arbitrary combination of an epoxy resin adhesive, a ceramic adhesive, an inorganic heat resistant adhesive, and an anaerobic impregnation adhesive. By selecting the above material as the material of the adhesive 15, it is possible to suppress a decrease in the adhesive force of the adhesive 15 even if heat is applied to the fine mold 10 by performing thermosetting molding.

(実施の形態2)
微細金型10をめっき法により形成した場合、微細金型10内にめっきによる内部応力が生じて微細金型10に反りが生じることも考えられる。たとえば微細金型10を無光沢ニッケルのめっきにより形成した場合には、微細金型10内に引張応力が生じて反りが生じる可能性がある。そこで本実施の形態では、このような反りの発生を抑制することを目的とする。
(Embodiment 2)
When the fine mold 10 is formed by a plating method, it is conceivable that internal stress due to plating is generated in the fine mold 10 and warping occurs in the fine mold 10. For example, when the fine mold 10 is formed by matte nickel plating, there is a possibility that a tensile stress is generated in the fine mold 10 and warpage occurs. Thus, the present embodiment aims to suppress the occurrence of such warpage.

図7は、本発明の実施の形態2における微細金型の構成を概略的に示す断面図である。図7を参照して、微細金型10は、たとえば無光沢ニッケルのめっきにより形成された導電膜1と、ニッケル−マンガン合金および光沢ニッケルの少なくともいずれかのめっきにより形成された導電膜2とを有している。導電膜1の表面には微細パターン1aが形成されており、微細パターン1aの外方には淵部分1bが形成されている。この導電膜1は、無光沢ニッケルのめっきにより形成されることにより内部に引張応力を有している。導電膜2は導電膜1の裏面に形成されており、かつニッケル−マンガン合金および光沢ニッケルの少なくともいずれかのめっきにより形成されることにより内部に圧縮応力を有している。つまり、導電膜2は導電膜1の内部応力とは逆の応力を有している。   FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the fine mold in the second embodiment of the present invention. Referring to FIG. 7, fine mold 10 includes conductive film 1 formed by, for example, matte nickel plating, and conductive film 2 formed by plating of at least one of nickel-manganese alloy and bright nickel. Have. A fine pattern 1a is formed on the surface of the conductive film 1, and a flange portion 1b is formed outside the fine pattern 1a. The conductive film 1 has a tensile stress inside by being formed by matte nickel plating. The conductive film 2 is formed on the back surface of the conductive film 1 and has a compressive stress inside by being formed by plating of at least one of a nickel-manganese alloy and bright nickel. That is, the conductive film 2 has a stress opposite to the internal stress of the conductive film 1.

微細パターン1aは、実施の形態1と同様、リソグラフィー技術により形成されるものであり、50μm以下の微細なパターン構造を有している。また微細金型10における微細パターン1aの形成領域の外方は淵部分1bを構成している。   Similar to the first embodiment, the fine pattern 1a is formed by lithography, and has a fine pattern structure of 50 μm or less. Further, the outer side of the formation area of the fine pattern 1a in the fine mold 10 constitutes a flange portion 1b.

なお無光沢ニッケルとは、スルファミン酸ニッケル液を用いてめっきされたニッケルのことを意味し、光沢ニッケルとはスルファミン酸ニッケル液に光沢剤としてブチンジオールとサッカリンとを加えた液を用いてめっきされたニッケルのことを意味する。またニッケル−マンガン合金は、スルファミン酸ニッケル液にブチンジオールとサッカリンとマンガンとを加えた液を用いてめっきすることにより形成される。   Matte nickel means nickel plated with a nickel sulfamate solution, and bright nickel is plated with a solution of butynediol and saccharin as a brightener to a nickel sulfamate solution. Means nickel. The nickel-manganese alloy is formed by plating using a solution obtained by adding butynediol, saccharin, and manganese to a nickel sulfamate solution.

この微細金型10は、実施の形態1と同様、図8に示すように台材11の表面に直接接するように配置されている。この状態で、治具12が、微細金型10の周縁を覆いながら微細金型10の淵部分1bを台材11に押さえつけている。この治具12は、たとえばネジ13により、台材11に締め付けられている。   As in the first embodiment, the fine mold 10 is disposed so as to be in direct contact with the surface of the base 11 as shown in FIG. In this state, the jig 12 presses the flange portion 1 b of the fine mold 10 against the base material 11 while covering the periphery of the fine mold 10. The jig 12 is fastened to the base material 11 by, for example, screws 13.

次に、本実施の形態の製造方法について説明する。   Next, the manufacturing method of this embodiment will be described.

本実施の形態の製造方法は、まず図2〜図5に示す実施の形態1と同様の工程を経る。この際、図4に示す導電膜1は、たとえばスルファミン酸ニッケル液を用いて無光沢ニッケルをめっきすることにより形成される。このため、導電膜1の内部には、たとえば引張応力が生じる。導電膜1の形成後には、導電膜のめっき面を平らにするために研磨が施される。この研磨の後に、ガラス原盤21が剥離され、レジスタパターン22がアッシングなどにより除去される。   The manufacturing method of the present embodiment first undergoes the same steps as those of the first embodiment shown in FIGS. At this time, the conductive film 1 shown in FIG. 4 is formed by plating matte nickel using, for example, a nickel sulfamate solution. For this reason, for example, tensile stress is generated in the conductive film 1. After the conductive film 1 is formed, polishing is performed to flatten the plated surface of the conductive film. After this polishing, the glass master 21 is peeled off, and the register pattern 22 is removed by ashing or the like.

図7を参照して、導電膜1の形成後、研磨面のニッケル酸化膜層を取り除くために硫酸系めっき前処理を施した後、導電膜1の裏面に、導電膜2がめっきにより形成される。この導電膜2は、たとえばスルファミン酸ニッケル液に光沢剤としてブチンジオールとサッカリンとを加えた液を用いて光沢ニッケルをめっきすることにより形成されてもよく、またスルファミン酸ニッケル液にブチンジオールとサッカリンとマンガンとを加えた液を用いてニッケル−マンガン合金をめっきすることにより形成されてもよい。これにより導電膜2の内部には、導電膜1とは逆の応力、つまり圧縮応力が生じる。   Referring to FIG. 7, after forming conductive film 1, a pretreatment for sulfuric acid plating is performed to remove the nickel oxide film layer on the polished surface, and then conductive film 2 is formed on the back surface of conductive film 1 by plating. The The conductive film 2 may be formed, for example, by plating bright nickel using a solution obtained by adding butynediol and saccharin as a brightener to a nickel sulfamate solution. It may be formed by plating a nickel-manganese alloy using a solution obtained by adding nickel and manganese. As a result, a stress opposite to that of the conductive film 1, that is, a compressive stress is generated inside the conductive film 2.

また導電膜2のめっきの際には、電流密度を変化させることで、導電膜2の内部応力を制御することができる。これにより導電膜1の内部応力に応じて導電膜2の内部応力を制御することができる。   Further, when the conductive film 2 is plated, the internal stress of the conductive film 2 can be controlled by changing the current density. Thereby, the internal stress of the conductive film 2 can be controlled in accordance with the internal stress of the conductive film 1.

このめっきの後、導電膜2の裏面が研磨により平坦にされる。   After this plating, the back surface of the conductive film 2 is flattened by polishing.

以上により導電膜1と導電膜2とからなる微細金型10が形成される。   Thus, the fine mold 10 composed of the conductive film 1 and the conductive film 2 is formed.

図8を参照して、微細金型10の形成後、この微細金型10の周縁部を淵部分1bが残るように切断加工した後、微細金型10はたとえば5mmの厚みのニッケル板よりなる台材11上に配置される。この微細金型10の淵部分1bを台材11側へ押さえるように治具12がネジ13により台材11に固定される。この際、治具12が微細金型10の周縁部全周を覆うようにすることが好ましい。これにより、本実施の形態の金型が製造される。   Referring to FIG. 8, after the fine mold 10 is formed, the fine mold 10 is made of a nickel plate having a thickness of 5 mm, for example, after cutting the peripheral portion of the fine mold 10 so that the flange portion 1b remains. It is arranged on the base material 11. A jig 12 is fixed to the base material 11 with screws 13 so as to press the flange portion 1b of the fine mold 10 toward the base material 11 side. At this time, it is preferable that the jig 12 covers the entire peripheral edge of the fine mold 10. Thereby, the metal mold | die of this Embodiment is manufactured.

本実施の形態によれば、微細金型10は、導電膜1の内部応力とは逆の内部応力を有する導電膜2が導電膜1の裏面に形成されているため、導電膜1の反りを導電膜2により抑制することが可能となる。   According to the present embodiment, since the fine mold 10 has the conductive film 2 having the internal stress opposite to the internal stress of the conductive film 1 formed on the back surface of the conductive film 1, It can be suppressed by the conductive film 2.

また治具12が微細金型10を台材11に押さえつけているため、接着剤を用いなくとも微細金型10を台材11に固定することができる。よって、接着剤が被成形物に溶け出すことはなく、上記のような被成形体の特性の劣化が生じることもない。   Since the jig 12 presses the fine mold 10 against the base material 11, the fine mold 10 can be fixed to the base material 11 without using an adhesive. Therefore, the adhesive does not melt into the molded object, and the above-described deterioration of the characteristics of the molded object does not occur.

なお上記においては導電膜1が引張応力を有し、導電膜2が圧縮応力を有する場合について説明したが、導電膜1が圧縮応力を有し、導電膜2が引張応力を有していてもよい。   In the above description, the conductive film 1 has a tensile stress and the conductive film 2 has a compressive stress. However, the conductive film 1 has a compressive stress, and the conductive film 2 has a tensile stress. Good.

また上記においては微細金型10と台材11との間に接着剤を用いない場合について説明したが、本実施の形態においては図9に示すように微細金型10と台材11とが接着剤15により固定されていてもよい。   In the above description, the case where no adhesive is used between the fine mold 10 and the base material 11 has been described. However, in the present embodiment, the fine mold 10 and the base material 11 are bonded as shown in FIG. It may be fixed by the agent 15.

本実施の形態によれば、治具12が微細金型10の周縁全周を覆っているため、接着剤15が治具12と微細金型10との間から漏れ出すことを防止できる。よって、接着剤15が被成形物に溶け出すことを防止できる。また接着剤15を用いることにより、大きな面積を有する微細金型10を台材11にしっかりと固定することが可能となる。   According to the present embodiment, since the jig 12 covers the entire periphery of the fine mold 10, the adhesive 15 can be prevented from leaking from between the jig 12 and the fine mold 10. Therefore, it can prevent that the adhesive agent 15 melts into the molding object. Further, by using the adhesive 15, the fine mold 10 having a large area can be firmly fixed to the base material 11.

この接着剤15は、エポキシ樹脂系接着剤、セラミックス接着剤、無機耐熱接着剤および嫌気性含浸用接着剤のそれぞれの単体もしくは任意の組合せよりなっていることが好ましい。接着剤15の材質として上記の材質を選択することにより、熱硬化モールドを行なうことにより微細金型10に熱が与えられても接着剤15の接着力の低下を抑制することができる。   The adhesive 15 is preferably made of a single substance or an arbitrary combination of an epoxy resin adhesive, a ceramic adhesive, an inorganic heat resistant adhesive, and an anaerobic impregnation adhesive. By selecting the above material as the material of the adhesive 15, it is possible to suppress a decrease in the adhesive force of the adhesive 15 even if heat is applied to the fine mold 10 by performing thermosetting molding.

また導電膜1の内部応力が大きい場合には、導電膜1の反りを抑制するためには導電膜2の内部応力(導電膜1とは逆の応力)も大きくする必要がある。しかし、この場合、導電膜1と導電膜2との界面に応力集中が起こり導電膜1と導電膜2とが剥離する可能性がある。   When the internal stress of the conductive film 1 is large, it is necessary to increase the internal stress of the conductive film 2 (stress opposite to that of the conductive film 1) in order to suppress warping of the conductive film 1. However, in this case, stress concentration may occur at the interface between the conductive film 1 and the conductive film 2, and the conductive film 1 and the conductive film 2 may be separated.

そこで、図10に示すように、複数の層(たとえば2層2a、2b)を積層して導電膜2を構成し、それらの複数の層(たとえば2層2a、2b)内の各内部応力を段階的に変化させる(つまり層2aの内部応力を比較的小さくし、層2bの内部応力を比較的大きくする)ようにすることで、当該界面での応力集中を低減し、剥離を防止することができる。なお複数の層として2層2a、2bの場合について図示したが、これに限定されず、導電膜2は3層以上であってもよい。   Therefore, as shown in FIG. 10, a plurality of layers (for example, two layers 2a and 2b) are stacked to form a conductive film 2, and each internal stress in the plurality of layers (for example, two layers 2a and 2b) is measured. By changing in a stepwise manner (that is, making the internal stress of the layer 2a relatively small and making the internal stress of the layer 2b relatively large), stress concentration at the interface is reduced and peeling is prevented. Can do. In addition, although illustrated about the case of 2 layers 2a and 2b as a some layer, it is not limited to this, The electrically conductive film 2 may be 3 or more layers.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

本発明は、50μm以下の微細パターンを有する金型、微細金型、金型の製造方法および微細金型の製造方法に特に有利に適用され得る。   The present invention can be particularly advantageously applied to a mold having a fine pattern of 50 μm or less, a fine mold, a method for producing a mold, and a method for producing a fine mold.

本発明の実施の形態1における金型の構成を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the structure of the metal mold | die in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1における金型の製造方法の第1工程を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 1st process of the manufacturing method of the metal mold | die in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1における金型の製造方法の第2工程を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 2nd process of the manufacturing method of the metal mold | die in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1における金型の製造方法の第3工程を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 3rd process of the manufacturing method of the metal mold | die in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1における金型の製造方法の第4工程を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the 4th process of the manufacturing method of the metal mold | die in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1において微細金型と台材とが接着剤により固定された様子を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows a mode that the fine metal mold | die and the base material were fixed with the adhesive agent in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態2における微細金型の構成を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the structure of the fine metal mold | die in Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態2における金型の構成を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the structure of the metal mold | die in Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態2において微細金型と台材とが接着剤により固定された様子を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows a mode that the fine metal mold | die and the base material were fixed with the adhesive agent in Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態2において導電膜2が複数層の積層により形成された様子を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows a mode that the electrically conductive film 2 was formed by lamination | stacking of multiple layers in Embodiment 2 of this invention. 特開2004−25647号公報に開示された金型の構成を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the structure of the metal mold | die disclosed by Unexamined-Japanese-Patent No. 2004-25647. 特開2004−25647号公報に開示された金型に用いる入れ子の構成を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the structure of the nest used for the metal mold | die disclosed by Unexamined-Japanese-Patent No. 2004-25647.

符号の説明Explanation of symbols

1 導電膜(薄板)、1a 微細パターン、1b 淵部分、2 導電膜、2a,2b 層、10 微細金型、11 台材、12 治具、13 ネジ、15 接着剤、21 ガラス原盤、22 フォトレジスト(レジストパターン)、30 フォトマスク、31 透明基板、32 遮光膜。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conductive film (thin plate), 1a fine pattern, 1b ridge part, 2 conductive film, 2a, 2b layer, 10 fine mold, 11 base material, 12 jig, 13 screw, 15 adhesive, 21 glass master disk, 22 photo Resist (resist pattern), 30 photomask, 31 transparent substrate, 32 light shielding film.

Claims (12)

台材と、
前記台材上に配置され、かつ微細パターンを有する微細金型と、
前記微細金型の周縁を覆いながら前記微細金型を前記台材に押さえつける治具とを備えた、金型。
Base material,
A fine mold disposed on the base material and having a fine pattern;
A mold comprising: a jig for pressing the fine mold against the base material while covering a peripheral edge of the fine mold.
前記台材と前記微細金型とは接着剤により固定されていることを特徴とする、請求項1に記載の金型。   The mold according to claim 1, wherein the base material and the fine mold are fixed by an adhesive. 前記接着剤は、エポキシ樹脂系接着剤、セラミックス接着剤、無機耐熱接着剤および嫌気性含浸用接着剤よりなる群から選ばれた1種以上を含むことを特徴とする、請求項2に記載の金型。   3. The adhesive according to claim 2, wherein the adhesive includes one or more selected from the group consisting of an epoxy resin adhesive, a ceramic adhesive, an inorganic heat resistant adhesive, and an anaerobic impregnation adhesive. Mold. 前記微細金型の前記微細パターンは50μm以下の微細構造を有することを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の金型。   The mold according to claim 1, wherein the fine pattern of the fine mold has a fine structure of 50 μm or less. 前記微細金型は、
表面に前記微細パターンを有し、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか一方を有する第1の導電膜と、
前記第1の導電膜の裏面に形成され、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか他方を有する第2の導電膜とを備えることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の金型。
The fine mold is
A first conductive film having the fine pattern on the surface and having either one of tensile stress and compressive stress inside;
5. A second conductive film formed on the back surface of the first conductive film and having either one of a tensile stress and a compressive stress therein. 5. Mold.
表面に微細パターンを有し、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか一方を有する第1の導電膜と、
前記第1の導電膜の裏面に形成され、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか他方を有する第2の導電膜とを備えた、微細金型。
A first conductive film having a fine pattern on the surface and having either one of tensile stress and compressive stress inside;
A fine mold comprising: a second conductive film formed on a back surface of the first conductive film and having either one of a tensile stress and a compressive stress therein.
前記微細金型の材質は、無光沢ニッケル、ニッケル−マンガン合金および光沢ニッケルよりなる群から選ばれる1種以上を含むことを特徴とする、請求項6に記載の微細金型。   The fine mold according to claim 6, wherein the material of the fine mold includes at least one selected from the group consisting of matte nickel, nickel-manganese alloy, and bright nickel. 前記第2の導電膜は、複数の層が積層されて構成されていることを特徴とする、請求項6または7に記載の微細金型。   The fine mold according to claim 6 or 7, wherein the second conductive film is formed by laminating a plurality of layers. 微細パターンを有する微細金型を形成する工程と、
前記微細金型を台材上に配置する工程と、
前記微細金型の周縁を覆うように治具を配置して、前記治具により前記微細金型を前記台材に押さえつけて固定する工程とを備えた、金型の製造方法。
Forming a fine mold having a fine pattern;
Placing the fine mold on a base material;
A method of manufacturing a mold, comprising: arranging a jig so as to cover a peripheral edge of the fine mold, and pressing and fixing the fine mold against the base material with the jig.
前記微細金型の前記微細パターンはリソグラフィーによって作られたものであることを特徴とする、請求項9に記載の金型の製造方法。   The method of manufacturing a mold according to claim 9, wherein the fine pattern of the fine mold is formed by lithography. 表面に微細パターンを有し、かつ内部に引張応力および圧縮応力のいずれか一方を有する第1の導電膜をめっきにより形成する工程と、
内部に引張応力および圧縮応力のいずれか他方を有する第2の導電膜を前記第1の導電膜の裏面にめっきにより形成する工程とを備えた、微細金型の製造方法。
Forming a first conductive film having a fine pattern on the surface and having either one of tensile stress and compressive stress inside by plating; and
And a step of forming a second conductive film having either one of tensile stress and compressive stress inside by plating on the back surface of the first conductive film.
前記第1の導電膜の反りを制御するために、めっきにより前記第2の導電膜を形成する際の電流密度を変化させることを特徴とする、請求項11に記載の微細金型の製造方法。   12. The method for manufacturing a fine mold according to claim 11, wherein the current density at the time of forming the second conductive film is changed by plating in order to control the warp of the first conductive film. .
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