JP2006031832A - Focus control method for optical disk recording/ reproducing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光学式ピックアップに組み込まれているレーザーダイオードから照射されるレーザー光にて光ディスクに記録されている信号の読み出し動作又は該光ディスクへのデータ信号の記録動作を行う光ディスク記録再生装置のフォーカス制御方法に関する。 The present invention provides a focus of an optical disc recording / reproducing apparatus that performs a read operation of a signal recorded on an optical disc with a laser beam irradiated from a laser diode incorporated in an optical pickup or a recording operation of a data signal onto the optical disc. It relates to a control method.
レーザーダイオードから照射されるレーザー光によって光ディスクに記録されている信号の読み出し動作や該光ディスクへの信号の記録動作を行う光ディスク記録再生装置が普及している。光ディスク記録再生装置としては、CDと呼ばれる光ディスクを使用するものとDVDと呼ばれる光ディスクを使用するものが一般的である。 2. Description of the Related Art Optical disc recording / reproducing apparatuses that perform a read operation of a signal recorded on an optical disc by a laser beam emitted from a laser diode and a recording operation of a signal on the optical disc are widely used. As an optical disk recording / reproducing apparatus, an apparatus using an optical disk called CD and an apparatus using an optical disk called DVD are generally used.
光ディスクに多くの信号を記録する要望が高いため、CDからDVDへの移行が行われているが、このDVDディスクの中には、1つの記録層だけではなく2つの記録層が設けられている2層ディスクと呼ばれる光ディスクが開発されている。 Since there is a high demand for recording many signals on an optical disc, a transition from CD to DVD has been carried out. In this DVD disc, not only one recording layer but also two recording layers are provided. An optical disc called a two-layer disc has been developed.
斯かる2層ディスクを使用する光ディスク記録再生装置において、光学式ピックアップから照射させるレーザー光を各信号層に合焦させる技術が開発されている(例えば、特許文献1参照。)。
特許文献1に記載されている技術は、光学式ピックアップから照射されるレーザー光を2つの信号層に合焦させるためのフォーカス制御動作を光ディスクの記録層の配置が正確である、即ち光ディスクの物理特性が規格通りであることを前提として行うようにされている。 In the technique described in Patent Document 1, the focus control operation for focusing the laser light emitted from the optical pickup on the two signal layers is accurate in the arrangement of the recording layer of the optical disk, that is, the physical property of the optical disk. This is done on the assumption that the characteristics are in accordance with the standard.
ところが、DVD方式の光ディスクは、所定の厚さ(0.6mm)の2枚のディスクを張り合わせて作成されるようにされている。その結果、光ディスクの表面から第1記録層との間に設けられているカバー層の厚さは略一定にすることは出来るが、2枚のディスクの接着部であるスペーサー部、即ち第1記録層と第2記録層との間に設けられるスペーサー部の厚みは一定ではなくディスク毎に相違することになる。その結果、第1記録層及び第2記録層に対して設定されているデフォーカス量では、正確なフォーカスサーボ動作を行うことは出来ないという問題がある。 However, a DVD-type optical disc is produced by bonding two discs having a predetermined thickness (0.6 mm). As a result, the thickness of the cover layer provided between the surface of the optical disc and the first recording layer can be made substantially constant, but the spacer portion that is the bonding portion of the two discs, that is, the first recording layer. The thickness of the spacer portion provided between the recording layer and the second recording layer is not constant and differs from disk to disk. As a result, there is a problem that an accurate focus servo operation cannot be performed with the defocus amounts set for the first recording layer and the second recording layer.
本発明は、斯かる問題を解決することが出来るフォーカス制御方法を提供しようとするものである。 The present invention intends to provide a focus control method capable of solving such a problem.
本発明は、第1記録層と第2記録層との間にあるスペーサー部の厚さを測定し、測定されたスペーサー厚に基づいて第2記録層に対するデフォーカス量を設定し、光学式ピックアップから照射されるレーザー光を第2記録層に合焦させるフォーカスサーボ動作を行うように構成されている。 The present invention measures the thickness of a spacer portion between a first recording layer and a second recording layer, sets a defocus amount for the second recording layer based on the measured spacer thickness, and an optical pickup. Is configured to perform a focus servo operation for focusing the laser light emitted from the second recording layer on the second recording layer.
また、本発明は、スペーサー厚に対応して設定されたデフォーカス量が記憶されたメモリー回路を設け、測定されたスペーサー厚に対応したデフォーカス量を前記メモリー回路
から読み出すことによってデフォーカス量を設定するように構成されている。
The present invention also provides a memory circuit in which a defocus amount set corresponding to the spacer thickness is stored, and reads the defocus amount corresponding to the measured spacer thickness from the memory circuit. Configured to set.
そして、本発明は、対物レンズを光ディスクの面に対して垂直方向へ移動させることによって光検出器から生成されるフォーカスエラー信号を所定の閾値で2値化して得られるパルス信号の間隔を計測することによりスペーサー厚を測定するように構成されている。 The present invention measures the interval of pulse signals obtained by binarizing the focus error signal generated from the photodetector with a predetermined threshold by moving the objective lens in the direction perpendicular to the surface of the optical disc. Thus, the spacer thickness is measured.
また、本発明は、最初のパルス信号が得られたときクロック信号のカウント動作を開始するカウンター回路を設け、次のパルス信号が得られるまでにカウントされたクロック信号の数に基いてスペーサー厚を測定するように構成されている。 In addition, the present invention provides a counter circuit that starts the count operation of the clock signal when the first pulse signal is obtained, and sets the spacer thickness based on the number of clock signals counted until the next pulse signal is obtained. It is configured to measure.
更に、本発明は、対物レンズを光ディスクから離れた位置より光ディスクの面方向へ移動させることによってスペーサー厚を測定するためのフォーカスエラー信号を生成させるように構成されている。 Furthermore, the present invention is configured to generate a focus error signal for measuring the spacer thickness by moving the objective lens in the surface direction of the optical disk from a position away from the optical disk.
また、本発明は、対物レンズが光ディスク面から離間する位置を規制する最大離間位置規制部材を設け、該最大離間位置規制部材にて規制される最大離間位置より光ディスクの面方向へ対物レンズを移動させるように構成されている。 The present invention also provides a maximum separation position restricting member that restricts the position at which the objective lens is separated from the optical disc surface, and moves the objective lens in the surface direction of the optical disc from the maximum separation position regulated by the maximum separation position restricting member. It is configured to let you.
そして、本発明は、対物レンズが光ディスク面から離間する位置を規制する最大離間位置規制部材を設け、該最大離間位置規制部材にて規制される最大離間位置より光ディスクの面方向へ対物レンズを移動させ、最大離間位置から対物レンズの移動が開始されたときクロック信号のカウント動作を開始するカウンター回路を設け、最初のパルス信号が得られるまでにカウントされたクロック信号の数と次のパルス信号が得られるまでにカウントされたクロック信号の数の差に基いてスペーサー厚を測定するように構成されている。 In the present invention, a maximum separation position regulating member that regulates the position where the objective lens is separated from the optical disk surface is provided, and the objective lens is moved in the surface direction of the optical disk from the maximum separation position regulated by the maximum separation position regulating member. A counter circuit that starts the counting operation of the clock signal when the movement of the objective lens is started from the maximum separation position, and the number of clock signals counted until the first pulse signal is obtained and the next pulse signal are The spacer thickness is measured based on the difference in the number of clock signals counted until it is obtained.
また、本発明は、対物レンズを光ディスクに接近させた位置から光ディスク面より離間する方向へ移動させることによってスペーサー厚を測定するためのフォーカスエラー信号を生成させるように構成されている。 Further, the present invention is configured to generate a focus error signal for measuring the spacer thickness by moving the objective lens from a position close to the optical disk in a direction away from the optical disk surface.
更に、本発明は、対物レンズが光ディスク面に接近する位置を規制する最接近位置規制部材を設け、該最接近位置規制部材にて規制される最接近位置から光ディスク面より離間する方向へ対物レンズを移動させるように構成されている。 Furthermore, the present invention provides a closest approach position restricting member for restricting a position where the objective lens approaches the optical disk surface, and the objective lens is moved away from the optical disk surface from the closest position restricted by the closest approach position restricting member. Is configured to move.
そして、本発明は、対物レンズが光ディスク面に接近する位置を規制する最接近位置規制部材を設け、該最接近位置規制部材にて規制される最接近位置より光ディスク面から離間する方向へ対物レンズを移動させ、最接近位置から対物レンズの移動が開始されたときクロック信号のカウント動作を開始するカウンター回路を設け、最初のパルス信号が得られるまでにカウントされたクロック信号の数と次のパルス信号が得られるまでにカウントされたクロック信号の数の差に基いてスペーサー厚を測定するように構成されている。 In the present invention, a closest approach position restricting member for restricting a position where the objective lens approaches the optical disk surface is provided, and the objective lens is moved away from the optical disk surface from the closest approach position restricted by the closest approach position restricting member. The counter circuit that starts counting the clock signal when the objective lens starts moving from the closest position is provided, and the number of clock signals counted until the first pulse signal is obtained and the next pulse The spacer thickness is measured based on the difference in the number of clock signals counted until a signal is obtained.
本発明は、第1記録層と第2記録層との間にあるスペーサー部の厚さを測定し、測定されたスペーサー厚に基づいて第2記録層に対するデフォーカス量を設定し、光学式ピックアップから照射されるレーザー光を第2記録層に合焦させるフォーカスサーボ動作を行うようにしたので、正確なフォーカス制御動作を行うことが出来る。 The present invention measures the thickness of a spacer portion between a first recording layer and a second recording layer, sets a defocus amount for the second recording layer based on the measured spacer thickness, and an optical pickup. Since the focus servo operation for focusing the laser beam emitted from the second recording layer on the second recording layer is performed, an accurate focus control operation can be performed.
また、本発明は、対物レンズを光ディスクの面に対して垂直方向へ移動させることによって光検出器から生成されるフォーカスエラー信号を所定の閾値で2値化して得られるパルス信号の間隔を計測することによってスペーサー厚を測定するようにしたので、スペーサー部の厚さを容易に測定することが出来る。 Further, the present invention measures the interval of pulse signals obtained by binarizing the focus error signal generated from the photodetector with a predetermined threshold by moving the objective lens in the direction perpendicular to the surface of the optical disc. Therefore, the thickness of the spacer portion can be easily measured.
本発明は、第1記録層と第2記録層との間にあるスペーサー部の厚みを測定することによりフォーカスサーボ動作を行うデフォーカス量を設定するようにしたものである。 In the present invention, the defocus amount for performing the focus servo operation is set by measuring the thickness of the spacer portion between the first recording layer and the second recording layer.
図1は本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック回路図、図2は本発明に係る光ディスクとレーザー光との関係を示す説明図、図3は本発明の動作を説明するための信号波形図、図4は本発明の動作を説明するための信号波形図である。 FIG. 1 is a block circuit diagram showing an embodiment of an optical disc recording / reproducing apparatus according to the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing the relationship between the optical disc according to the present invention and laser light, and FIG. 3 explains the operation of the present invention. FIG. 4 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the present invention.
図1において、1はスピンドルモーター(図示せず)によって回転駆動される光ディスクであり、例えば線速度一定になるように回転制御されるように構成されているとともに図2に示すように第1記録層L1及び第2記録層L2が設けられている。2はレーザー光を照射するレーザーダイオード(図示せず)が組み込まれている光学式ピックアップであり、レーザーダイオードから照射されるレーザー光を光ディスク1の記録層に合焦させる対物レンズ3、光ディスク1から反射されるレーザー光を受光し電気信号に変換するとともに4分割センサー等にて構成される光検出器4、対物レンズ3を光ディスク1の径方向に変位させるトラッキングコイル5、対物レンズ3を光ディスク1の信号面に対して垂直方向に変位させるフォーカシングコイル6が組み込まれている。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an optical disk that is rotationally driven by a spindle motor (not shown). For example, the optical disk 1 is configured to be rotationally controlled so as to have a constant linear velocity, and as shown in FIG. A layer L1 and a second recording layer L2 are provided.
7は対物レンズ3がフォーカシングコイル6への駆動信号の供給動作によって光ディスク1の面から最も離間したとき対物レンズ3を支持するレンズホルダー(図示せず)と当接する最大離間位置規制部材であり、該対物レンズ3の光ディスク1からの最大離間位置を規制するように設けられている。8は対物レンズ3がフォーカシングコイル6への駆動信号の供給動作によって光ディスク1の面に最も接近したとき対物レンズ3を支持するレンズホルダーと当接する最接近位置規制部材であり、該対物レンズ3の光ディスク1に対する最接近位置を規制するように設けられている。
Reference numeral 7 denotes a maximum separation position regulating member that comes into contact with a lens holder (not shown) that supports the
9は前記光検出器4から得られる電気信号が光信号として入力される光出力信号処理回路であり、レーザー光の信号トラックに対するズレを示すトラッキングエラー信号、レーザー光の記録層に対するフォーカスズレを示すフォーカスエラー信号及び光ディスク1に記録されている信号の読み出し信号である再生信号を生成するように構成されている。斯かる光出力信号処理回路9による各種の信号生成動作は周知の回路にて行われるので、その説明は省略する。
10は前記光出力信号処理回路9によって生成されて出力されるトラッキングエラー信号が入力されるトラッキングサーボ回路であり、入力されるトラッキングエラー信号に基くトラッキングコイル駆動信号を前記トラッキングコイル5に供給することによってトラッキング制御動作を行うように構成されている。11は前記光出力信号処理回路9によって生成されて出力されるフォーカスエラー信号が入力されるフォーカスサーボ回路であり、入力されるフォーカスエラー信号に基くフォーカスコイル駆動信号を前記フォーカシングコイル6に供給することによってフォーカス制御動作を行うように構成されている。
12は前記光出力信号処理回路9内に設けられている2値化回路によって2値化された再生信号が入力されるとともにデジタル信号処理を行うデジタル信号処理回路であり、各種の信号を復調するように構成されている。13は光ディスク記録再生装置の各動作を制御する制御回路であり、前記デジタル信号処理回路12より生成される同期信号を利用してスピンドルモーターによる光ディスク1の回転制御動作や再生信号及び記録信号の処理動作、そして外部に設けられているパーソナルコンピューター等のホスト機器との信号の送受信動作を制御するように構成されている。斯かる制御回路13は、マイクロコンピュ
ーターにて構成されており、内部に設けられているROM等に記憶されているプログラムソフトに基いて各種の制御動作を行うように構成されている。
14は前記光出力信号処理回路9から出力されるフォーカスエラー信号が入力されるコンパレータ回路であり、該フォーカスエラー信号のレベルが閾値VRを越える期間H(高い)レベルの信号を前記制御回路13に対して出力するように構成されている。図3(A)は、対物レンズ3を光ディスク1に設けられている記録層から離れた位置から接近させた場合に得られるフォーカスエラー信号と前記閾値VRとの関係を示すものであり、フォーカスエラー信号は、周知のようにS字状に変化することになる。斯かるS字状の変化は光ディスク1が2層の場合にはS字状の変化が2つ現れることになる。図3の(B)は、コンパレータ回路14から出力されるパルス信号を示すものであり、閾値VRを越えた期間Hレベルの信号が出力されることになる。
15は前記制御回路13によって動作が制御されるカウンター回路であり、前記コンパレータ回路14からパルス信号が出力されるとカウント動作を開始するとともに次にパルス信号が出力されたとき最初のパルス信号と次のパルス信号との間の間隔を測定するように構成されている。斯かる測定動作は、例えば所定の周波数のクロック信号を生成するクロック信号生成回路を設け、パルス信号とパルス信号との間でカウントされるクロック信号の数で間隔を測定することが出来る。
16は前記カウンター回路15にてカウントされたクロック信号の数に基いて第1記録層L1と第2記録層L2との間に設けられているスペーサー部Sの厚さを求めるスペーサー厚測定回路であり、前もって設定されているクロック信号の数と厚さの関係から求めることが出来るので、求められた厚さに基くデータを制御回路13に対して出力するように構成されている。
17は前記制御回路13によって制御されるメモリー回路であり、スペーサー部Sの厚さに対するデフォーカス量を示すデータがテーブルデータとして記憶されている。ここで、光学式ピックアップ2から光ディスク1に対して照射されるレーザー光のフォーカス制御動作について説明する。フォーカシングコイル6にフォーカスサーボ回路11からフォーカスコイル駆動信号が供給されて対物レンズ3が光ディスク2の面に対して垂直方向に変位すると、光出力信号処理回路9から図3の(A)に示すようなS字状のフォーカスエラー信号が生成されて出力される。S字状のフォーカスエラー信号のゼロクロス点Fが光検出器4上に照射されるレーザー光の照射スポットから合焦したと判定される点であるが、光ディスク2の記録層に対しては最適な合焦点であるとは断定出来ない。
A
即ち、ターンテーブル(図示せず)上に載置されている光ディスク1と光学式ピックアップ2との位置関係のズレや光学式ピックアップ2内における各光学部品及び光検出器4の取り付け位置の誤差等によってS字状のフォーカスエラー信号のゼロクロス点Fが光ディスク2の記録層に対しては最適な合焦点にならないからである。斯かる点を改良するためにフォーカスサーボ回路11によるフォーカスサーボ動作を行う合焦点を最良点にずらす設定動作、即ちデフォーカス量の設定動作が行われる。斯かるデフォーカス量の設定動作は、制御回路13によるフォーカスサーボ回路11に対する制御動作によって行われる。
That is, the positional relationship between the optical disk 1 and the
図2の(A)は、第1記録層L1に対するフォーカス制御動作が行われた状態であり、対物レンズ3により絞られたレーザー光は、カバー層Cを通して第1記録層L1に合焦されることになる。図2の(B)は、第2記録層L2に対するフォーカス制御動作が行われた状態であり、対物レンズ3により絞られたレーザー光は、カバー層C、第1記録層L1及びスペーサー部Sを通して第2記録層L2に合焦されることになる。
2A shows a state in which a focus control operation is performed on the first recording layer L1, and the laser light focused by the
斯かる構成において、第1記録層L1に対するデフォーカス量の設定動作は、カバー層Cの厚さは略規定の厚さであり、光ディスク記録再生装置の製造時にテストディスクを使用して設定される。斯かるデフォーカス量の設定動作は、光検出器4より得られる再生信号のレベルが最大になる状態になるようにフォーカシングコイル6に供給する駆動信号のレベルを調整することによって検出設定することが出来る。また、光ディスクから再生される信号に含まれるジッタ値が最小になるようにフォーカシングコイル6に供給する駆動信号のレベルを調整することによって検出設定することが出来る。
In such a configuration, the defocus amount setting operation for the first recording layer L1 is performed by using the test disc when the optical disc recording / reproducing apparatus is manufactured, because the thickness of the cover layer C is a substantially prescribed thickness. . Such an operation of setting the defocus amount can be detected and set by adjusting the level of the drive signal supplied to the focusing
更に、前述した方法によるデフォーカス量の設定の他に記録動作に対するフォーカス特性を重視する場合には、記録層に対してテスト信号を記録し、その記録信号を再生したRF信号から得られるβ値の値が最も高くなるように設定することによって最適なデフォーカス量を設定することが出来る。このβ値は、RF信号のプラス側ピークレベルをA1、マイナス側ピークレベルをA2とすると、β=(A1+A2)/(A1−A2)として算出されるものである。 Further, in the case where the focus characteristic for the recording operation is emphasized in addition to the setting of the defocus amount by the above-described method, the β value obtained from the RF signal obtained by recording the test signal on the recording layer and reproducing the recorded signal The optimum defocus amount can be set by setting so that the value of becomes the highest. This β value is calculated as β = (A1 + A2) / (A1−A2) where A1 is the positive peak level of the RF signal and A2 is the negative peak level.
そして、第2記録層L2に対するデフォーカス量の設定動作は、第1記録層L1と同様に設定されるが、第1記録層L1と第2記録層L2との間にあるスペーサー部Sの厚さとデフォーカス量との関係を検出し、その厚さに対する補正量を示すデータとをメモリー回路17に記憶させる動作を光ディスク記録再生装置の製造時に行う。
The defocus amount setting operation for the second recording layer L2 is set similarly to the first recording layer L1, but the thickness of the spacer portion S between the first recording layer L1 and the second recording layer L2 is set. The operation of detecting the relationship between the value and the defocus amount and storing the data indicating the correction amount for the thickness in the
以上に説明したようにデフォーカス量の設定動作は行われるが、次にスペーサー部Sの厚さを測定する動作について説明する。フォーカスサーボ回路11からフォーカシングコイル6に対してフォーカス駆動信号が供給されるが、斯かる駆動信号は、対物レンズ3を光ディスク1の表面から離間する方向へ一旦移動させる信号を供給した後に光ディスク1の表面方向へ移動させるように行われる。
Although the defocus amount setting operation is performed as described above, the operation for measuring the thickness of the spacer portion S will be described next. A focus drive signal is supplied from the
斯かる動作が行われるとレーザーダイオードから生成されるレーザー光を照射させた状態で対物レンズ3が光ディスク1の表面から離間した位置から接近する方向へ移動されることになる。斯かる動作が行われると、レーザー光の合焦点が第1記録層L1及び第2記録層L2を通過する毎に図3の(A)に示すフォーカスエラー信号が光出力信号処理回路9から出力されるとともに図3の(B)に示すパルス信号がコンパレータ回路14から出力されることになる。
When such an operation is performed, the
図4はスペーサー部Sの厚さを測定するために対物レンズ3を光ディスク1より離間した位置から接近させた位置まで変位させたときにコンパレータ回路14から出力されるパルス信号の関係を示すものであり、パルス信号P1が第1記録層L1に対応し、パルス信号P2が第2記録層L2に対応するものである。
FIG. 4 shows the relationship of pulse signals output from the
パルス信号P1がコンパレータ回路14から出力されると、制御回路13によるカウンター回路15に対する制御動作が行われる結果、該カウンター回路15がクロック信号生成回路より出力されるクロック信号の数をカウントする動作を開始する。斯かるカウント動作が行われているとき、次のパルス信号P2がコンパレータ回路14から出力されると、制御回路13によるカウンター回路15に対する制御動作が行われる。斯かる制御動作は、前記カウンター回路15によるクロック信号のカウント動作を停止させるとともにパルス信号P1がコンパレータ回路14から出力されてからパルス信号P2が出力されるまでにカウントされたクロック信号の数をスペーサー厚測定回路16に対して出力する。
When the pulse signal P1 is output from the
前述した動作によってカウントされたクロック信号の数は、図4のTで示す期間に得られたクロック数であり、その数はスペーサー部Sの厚みに比例することになる。従って、前もってクロック数に対応してスペーサー部Sの厚みを設定しておくことにより該スペー
サー部Sの厚みをデータとして認識することが出来る。斯かるスペーサー部Sの厚みを示すデータがスペーサー厚測定回路16から制御回路13に対して出力されると、そのデータに対応してメモリー回路17に記憶されているデフォーカス量を読み出し、そのデフォーカス量に基くフォーカスサーボ動作を行うべくフォーカスサーボ回路11に対する設定動作を行う。
The number of clock signals counted by the above-described operation is the number of clocks obtained in the period indicated by T in FIG. 4, and the number is proportional to the thickness of the spacer portion S. Therefore, by setting the thickness of the spacer portion S in advance corresponding to the number of clocks, the thickness of the spacer portion S can be recognized as data. When data indicating the thickness of the spacer portion S is output from the spacer
斯かるフォーカスサーボ回路11に対するデフォーカス量の設定動作を行う結果、第2記録層L2に対するフォーカス制御動作を正確に行うことが出来る。その結果、第2記録層L2に記録されている信号の再生動作及び該第2記録層L2への信号の記録動作を最適な状態にて行うことが出来る。
As a result of performing the defocus amount setting operation for the
前述したスペーサー部Sの厚さ測定動作は、対物レンズ3を光ディスク1の面から離間させた位置から接近させる方向へ変位させることによって行うようにしたが、反対に対物レンズ3を光ディスク1の面に接近させた位置から離間させる方向へ変位させることによって測定することも出来る。この場合には、第2記録層L2に対応するパルス信号P2が最初にコンパレータ回路14から出力された後に第1記録層L1に対応するパルス信号P1が出力されることになる。
The above-described thickness measurement operation of the spacer portion S is performed by displacing the
また、スペーサー部Sの厚さを測定するために対物レンズ3を光ディスク1の面から離間させた位置から接近させる方向へ変位させる場合、対物レンズ3をレンズホルダーが最大離間位置規制部材7に当接する位置まで変位させるようにすると測定開始のための対物レンズ3変位開始位置を規定することが出来る。また、反対にスペーサー部Sの厚さを測定するために対物レンズ3を光ディスク1の面に接近させた位置から離間させる方向へ変位させる場合、対物レンズ3をレンズホルダーが最接近位置規制部材8に当接する位置まで変位させるようにすると、スペーサー厚を測定するために行う対物レンズ3の変位開始位置を規定することが出来る。
Further, in order to measure the thickness of the spacer portion S, when the
以上に説明したようにカウンター回路15によるスペーサー部Sの厚さを測定するために行うパルス信号P1とパルス信号P2との間の測定動作は行われるが、次に異なる測定方法について説明する。
As described above, the measurement operation between the pulse signal P1 and the pulse signal P2 performed for measuring the thickness of the spacer portion S by the
前述したようにスペーサー部Sの厚さを測定するために対物レンズ3を最大離間位置規制部材7にて規制される位置から光ディスク1の面方向へ移動させると、前述した動作と同様にコンパレーター回路14からパルス信号P1及びパルス信号P2が出力される。
As described above, when the
斯かる対物レンズ3が最大離間位置から移動動作を開始するとき、カウンター回路15によるクロック信号のカウント動作を開始させ、パルス信号P1が出力されるまでにカウントされるクロック信号の数とパルス信号P2が出力されるまでにカウントされるクロック信号の数をカウントする動作を行う。
When the
斯かるクロック信号のカウント動作が行われると、対物レンズ3が最大離間位置から第1記録層L1の位置に移動するまでの期間T1にカウントされたクロック数C1及び第2記録層L2の位置に移動するまでの期間T2にカウントされたクロック数C2を測定することが出来る。従って、C2−C1から第1パルス信号P1と第2パルス信号P2との間の期間Tにカウントされるクロック数を求めることが出来る。
When such a clock signal counting operation is performed, the number of clocks C1 and the position of the second recording layer L2 counted during the period T1 until the
このようにして求められたクロック数はスペーサー部Sの厚みに比例することになる。従って、前もってクロック数に対応してスペーサー部Sの厚みを設定しておくことにより該スペーサー部Sの厚みをデータとして認識することが出来る。斯かるスペーサー部Sの厚みを示すデータがスペーサー厚測定回路16から制御回路13に対して出力されると、
そのデータに対応してメモリー回路17に記憶されているデフォーカス量を読み出し、そのデフォーカス量に基くフォーカスサーボ動作を行うべくフォーカスサーボ回路11に対する設定動作を行うことが出来る。
The number of clocks obtained in this way is proportional to the thickness of the spacer portion S. Therefore, by setting the thickness of the spacer portion S in advance corresponding to the number of clocks, the thickness of the spacer portion S can be recognized as data. When data indicating the thickness of the spacer portion S is output from the spacer
A defocus amount stored in the
前述したように対物レンズ3を最大離間位置規制部材7にて規制される位置から光ディスク1の面方向へ移動させることによってスペーサー部Sの厚みを計測することが出来るが、反対に対物レンズ3を最接近位置規制部材8にて規制される位置から光ディスク1の面から離間する方向へ移動させることによってスペーサー部Sの厚みを計測することが出来る。
As described above, the thickness of the spacer portion S can be measured by moving the
尚、本実施例では、2層の記録層を有する光ディスクについて説明したが、3層以上の記録層を有する光ディスクを使用する光ディスク記録再生装置に実施することも出来る。 In this embodiment, the optical disk having two recording layers has been described. However, the present invention can be applied to an optical disk recording / reproducing apparatus using an optical disk having three or more recording layers.
1 光ディスク
2 光学式ピックアップ
3 対物レンズ
4 光検出器
6 フォーカシングコイル
7 最大離間位置規制部材
8 最接近位置規制部材
9 光出力信号処理回路
11 フォーカスサーボ回路
13 制御回路
14 コンパレータ回路
15 カウンター回路
16 スペーサー厚測定回路
17 メモリー回路
1 Optical disc
2 Optical pickup
3 Objective lens
4 photodetectors
6 Focusing coil
7 Maximum separation position restricting member
8 Closest position restriction member
9 Optical output
Claims (10)
Priority Applications (3)
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