JP2006030986A - Image drawing apparatus and image drawing method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To decrease uneven resolution and density caused by errors of an installation angle of a drawing head and by influences of pattern distortion in an image drawing apparatus and an image drawing method for multiple overlay drawing. <P>SOLUTION: A drawing head 30 having a pixel array having a large number of usable pixels two-dimensionally arranged is presented, wherein the direction of pixel columns of the usable pixels and the scanning direction of the drawing head 30 make a specified predetermined inclination angle. Active pixels to be used for N-overlay drawing in the great number of usable pixels are specified to operate by an active pixel specification means comprising an active pixel designating part 140, a setting changing means 150 and so on. Then the pixels designated to be used by the above setting are operated to draw an image on a drawing surface while relatively moving the exposure head 30 against a stage 14. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、描画装置および描画方法に関し、特に、画像データが表す2次元パターンを多重描画により描画面上に形成する描画装置および描画方法に関するものである。   The present invention relates to a drawing apparatus and a drawing method, and more particularly to a drawing apparatus and a drawing method for forming a two-dimensional pattern represented by image data on a drawing surface by multiple drawing.

従来、描画ヘッドを備え、その描画ヘッドにより、画像データが表す所望の2次元パターンを描画面上に形成する描画装置が種々知られている。その代表的な例としては、半導体基板や印刷版の作成のために、露光ヘッドにより、所望の2次元パターンを、感光材料等の露光面上に形成する露光装置が挙げられる。かかる露光装置の露光ヘッドは、一般的に、光源アレイや空間光変調素子といったような、多数の画素を有し所望の2次元パターンを構成する光点群を発生させる画素アレイを備えている。この露光ヘッドを、露光面に対して相対移動させながら動作させることにより、所望の2次元パターンを露光面上に形成することができる。   2. Description of the Related Art Conventionally, various drawing apparatuses that include a drawing head and that form a desired two-dimensional pattern represented by image data on a drawing surface by the drawing head are known. A typical example is an exposure apparatus that forms a desired two-dimensional pattern on an exposure surface of a photosensitive material or the like by an exposure head for producing a semiconductor substrate or a printing plate. In general, an exposure head of such an exposure apparatus includes a pixel array such as a light source array or a spatial light modulator that generates a light spot group having a large number of pixels and forming a desired two-dimensional pattern. By operating the exposure head while moving it relative to the exposure surface, a desired two-dimensional pattern can be formed on the exposure surface.

なかでも近年、解像性の向上等のため、画素が2次元状に配された画素アレイを備えた露光ヘッドを、各画素からの光線の走査線が別の画素からの光線の走査線と一致するようにして用い、露光面上の各点を実質的に複数回重ねて露光する形式の露光装置がいくつか提案され始めている。   In particular, in recent years, in order to improve resolution, an exposure head having a pixel array in which pixels are arranged two-dimensionally, a scanning line of light from each pixel is replaced with a scanning line of light from another pixel. Several exposure apparatuses of the type that are used so as to match and expose each point on the exposure surface by substantially overlapping a plurality of times have begun to be proposed.

たとえば、特許文献1には、露光面上に形成される2次元パターンの解像性を向上させ、滑らかな斜め線を含むパターンの表現を可能にするため、複数のマイクロミラーが2次元状に配された矩形のデジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)を、走査方向に対して傾斜させて用い、近接するマイクロミラーからの露光スポットが露光面上で一部重なり合うようになした露光装置が記載されている。   For example, in Patent Document 1, in order to improve the resolution of a two-dimensional pattern formed on an exposure surface and to express a pattern including a smooth diagonal line, a plurality of micromirrors are two-dimensionally formed. An exposure apparatus using a rectangular digital micromirror device (DMD) arranged in an inclined manner with respect to the scanning direction so that exposure spots from adjacent micromirrors partially overlap on the exposure surface is described. Has been.

また、特許文献2には、やはり矩形のDMDを走査方向に対して傾斜させて用いることによって、露光面上で露光スポットを重ね合わせて合計の照明色度を変化させることによるカラーイメージの表現や、DMDの各画素に対応して設けられたマイクロレンズの一部欠陥等の要因によるイメージングエラーの抑制を可能とした露光装置が記載されている。   Further, Patent Document 2 also uses a rectangular DMD that is inclined with respect to the scanning direction to express a color image by overlapping exposure spots on the exposure surface and changing the total illumination chromaticity. An exposure apparatus that can suppress an imaging error due to a factor such as a partial defect of a microlens provided corresponding to each pixel of the DMD is described.

さらに、特許文献3にも、やはり矩形のDMDを走査方向に対して傾斜させて用いることにより、各マイクロミラーからの光線の光量ばらつきの影響を均して、露光面上に形成される2次元パターンの濃度むらを軽減することを可能とした露光装置が記載されている。
米国特許第6493867号明細書 特表2001−500628号公報 特開2004−9595号公報
Further, Patent Document 3 also uses a rectangular DMD that is tilted with respect to the scanning direction, so that the influence of variations in the amount of light from each micromirror is leveled, and the two-dimensional formed on the exposure surface. An exposure apparatus that can reduce pattern density unevenness is described.
US Pat. No. 6,493,867 Special table 2001-500628 gazette Japanese Patent Laid-Open No. 2004-9595

しかしながら、画素が2次元状に配された画素アレイを、画素列を走査方向に対して傾斜させて用いて、多重露光を行う場合、画素アレイを含む露光ヘッドの取付角度の微調整は一般に難しく、画素列の走査方向に対する傾斜角度が理想の設定傾斜角度からわずかにずれることが多い。そのようなずれがあると、各画素列の端部付近のいくつかの画素からの光線により露光される露光面上の個所においては、露光スポットの密度や配列が、露光面上の他の部分とは異なったものとなり、形成される2次元パターンの解像性や濃度にむらが生じてしまう。   However, when multiple exposure is performed using a pixel array in which pixels are arranged two-dimensionally with the pixel column inclined with respect to the scanning direction, it is generally difficult to finely adjust the mounting angle of the exposure head including the pixel array. In many cases, the inclination angle of the pixel row with respect to the scanning direction slightly deviates from the ideal setting inclination angle. If there is such a deviation, the density and arrangement of the exposure spots in other parts of the exposure surface will be exposed at locations on the exposure surface exposed by light rays from some pixels near the edge of each pixel row. Therefore, the resolution and density of the formed two-dimensional pattern become uneven.

また、上記の取付角度のずれのみならず、画素アレイと露光面の間の光学系の各種収差や、画素アレイ自体の歪み等によって、露光面上において生じるパターン歪みも、形成される2次元パターンの解像性や濃度にむらを生じさせる原因となる。   In addition to the above-described displacement of the mounting angle, a two-dimensional pattern in which pattern distortion generated on the exposure surface due to various aberrations of the optical system between the pixel array and the exposure surface, distortion of the pixel array itself, and the like is also formed. Cause unevenness in resolution and density.

これらのむらを解消する1つの策としては、露光ヘッドの取付角度の調整精度、画素の配置精度、および光学系の調整精度等を向上させることが考えられるが、これらの精度の向上を追求すると製造コストが非常に高くなってしまう。   One way to eliminate these irregularities is to improve the adjustment accuracy of the mounting angle of the exposure head, the pixel placement accuracy, the optical system adjustment accuracy, and the like. The cost will be very high.

同様の問題は、露光装置のみならず、たとえばインク滴を描画面に向けて吐出して描画を行うインクジェット記録ヘッドを備えたインクジェットプリンタ等、他の種類の描画装置においても生じ得る。   The same problem may occur not only in the exposure apparatus but also in other types of drawing apparatuses such as an ink jet printer having an ink jet recording head that performs drawing by discharging ink droplets toward a drawing surface.

本発明は、上記事情に鑑み、描画ヘッドの取付角度誤差やパターン歪みの影響による解像性や濃度のむらを軽減した、多重描画形式の描画装置および描画方法を提供することを目的とするものである。   SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a drawing apparatus and a drawing method in a multiple drawing format in which unevenness in resolution and density due to the influence of a mounting head error and pattern distortion is reduced. is there.

すなわち、本発明に係る描画装置は、描画面をN重描画(Nは2以上の自然数)により描画し、画像データが表す2次元パターンをその描画面上に形成する描画装置であって、2次元状に配された多数の使用可能画素を有しその画像データに応じて上記の2次元パターンを構成する描画点群を発生させる画素アレイを備えた、1つまたは複数の描画ヘッドであって、上記の使用可能画素の画素列方向とその描画ヘッドの走査方向が所定の設定傾斜角度をなすように、上記の描画面に対して取り付けられた描画ヘッドと、その描画面に対して各々の描画ヘッドを上記の走査方向に相対移動させる移動手段と、各々の描画ヘッドについて、上記の多数の使用可能画素のうちのN重描画に使用する使用画素が実動するように設定する使用画素設定手段を備えていることを特徴とするものである。   That is, the drawing apparatus according to the present invention is a drawing apparatus that draws a drawing surface by N-fold drawing (N is a natural number of 2 or more) and forms a two-dimensional pattern represented by image data on the drawing surface. One or a plurality of drawing heads having a pixel array that has a number of usable pixels arranged in a dimension and generates a drawing point group constituting the two-dimensional pattern according to the image data. The drawing head attached to the drawing surface so that the pixel column direction of the usable pixels and the scanning direction of the drawing head form a predetermined inclination angle, Moving means for relatively moving the drawing head in the scanning direction, and use pixel setting for setting each of the drawing heads so that the use pixel used for N-fold drawing among the many usable pixels is actually operated. hand That it comprises a and is characterized in.

前記使用画素設定手段は、前記描画点群が示す描画面上における実際の画素列方向と前記走査方向とがなす実傾斜角度とに基づいて使用画素を設定するものとすることができる。また、前記使用画素設定手段は、使用画素を指定する使用画素指定手段と、使用画素のみが実動するように設定を変更する設定変更手段とを備えたものとすることもできる。   The used pixel setting unit may set the used pixel based on an actual inclination angle formed by an actual pixel column direction on the drawing surface indicated by the drawing point group and the scanning direction. The used pixel setting unit may include a used pixel specifying unit that specifies a used pixel and a setting changing unit that changes a setting so that only the used pixel actually operates.

ここで、本発明において「画素列」とは、画素アレイ上に2次元状に配された画素の2つの並び方向のうち、走査方向となす角度がより小さい方向の並びを指すものとし、「画素行」とは、走査方向となす角度がより大きい方向の並びを指すものとする。なお、画素アレイ上の画素の配置は、必ずしも矩形格子状でなくてもよく、たとえば平行四辺形状の配置等であってもよい。   Here, in the present invention, the “pixel column” refers to an arrangement in a direction in which the angle formed with the scanning direction is smaller among the two arrangement directions of the pixels arranged two-dimensionally on the pixel array. “Pixel row” refers to an array in a direction having a larger angle with the scanning direction. Note that the arrangement of the pixels on the pixel array is not necessarily a rectangular grid, and may be, for example, an arrangement of parallelograms.

また、本発明において「N重描画」とは、描画面上の描画エリアの略すべての領域において、走査方向に平行な直線が、描画面上に投影されたN本の使用画素の画素列と交わるような設定による描画処理を指す。ここで、描画エリアの「略すべての領域」と述べたのは、各画素アレイの両側縁部では、画素列を傾斜させたことにより、走査方向に平行な直線と交わる使用画素の画素列の数が減るため、かかる場合に複数の描画ヘッドをつなぎ合わせるように使用したとしても、描画ヘッド取付角度や配置等の誤差により、走査方向に平行な直線と交わる使用画素の画素列の数がわずかに増減することがあるため、また、各使用画素の画素列間のつなぎの、解像度分以下のごくわずかな部分では、取付角度や画素配置等の誤差により、走査方向と直交する方向に沿った画素ピッチが他の部分の画素ピッチと厳密に一致せず、走査方向に平行な直線と交わる使用画素の画素列の数が±1の範囲で増減することがあるためである。   Further, in the present invention, “N-fold drawing” means that in almost all the drawing area on the drawing surface, a straight line parallel to the scanning direction is a pixel row of N used pixels projected on the drawing surface. It refers to drawing processing with settings that intersect. Here, “substantially all areas” of the drawing area is described as the pixel columns of the used pixels intersecting with the straight line parallel to the scanning direction by tilting the pixel columns at both side edges of each pixel array. In this case, even if it is used to connect a plurality of drawing heads, the number of pixel columns of the used pixels that intersect with the straight line parallel to the scanning direction is small due to errors such as the drawing head mounting angle and arrangement. In addition, in a very small part below the resolution of the connection between the pixel columns of each used pixel, the direction along the direction orthogonal to the scanning direction is due to errors such as the mounting angle and pixel arrangement. This is because the pixel pitch does not exactly match the pixel pitch of other portions, and the number of pixel columns of used pixels that intersect with a straight line parallel to the scanning direction may increase or decrease within a range of ± 1.

一方、理想的なN重描画は、描画面上の描画エリアのすべての領域において、走査方向に平行な直線が、描画面上に投影されたN本の使用画素の画素列と過不足なく交わるような設定による描画処理を指す。   On the other hand, in ideal N-fold drawing, a straight line parallel to the scanning direction intersects with a pixel row of N used pixels projected on the drawing surface in all areas of the drawing area on the drawing surface. This refers to drawing processing with such settings.

なお、以下の説明では、Nが2以上の自然数であるN重描画を総称して「多重描画」という。さらに、以下の説明では、本発明の描画装置または描画方法を露光装置または露光方法として実施した形態について、「N重描画」および「多重描画」に対応する用語として、「N重露光」および「多重露光」という用語を用いるものとする。   In the following description, N-fold drawing in which N is a natural number of 2 or more is collectively referred to as “multiple drawing”. Further, in the following description, “N double exposure” and “multiple drawing” are used as terms corresponding to “N double drawing” and “multiple drawing” for an embodiment in which the drawing apparatus or drawing method of the present invention is implemented as an exposure apparatus or exposure method. The term “multiple exposure” shall be used.

さらに、本発明における「使用画素指定手段」は、手動による使用画素の指定を受け付けるものであってもよいし、後述する位置検出手段や選択手段等を含み、自動的に最適な使用画素を選択するものであってもよい。   Further, the “used pixel designation means” in the present invention may accept manual designation of used pixels, and includes a position detection means, selection means, etc., which will be described later, and automatically selects the optimum used pixels. You may do.

また、上記において「使用画素のみが実動するように設定を変更する」とは、たとえば使用可能画素のうち使用画素以外の画素をオフ設定とし動作しないようにする形態や、画像データのうち使用画素以外の画素に送られる部分を、オフ状態のデータ(すなわち描画しないことを示すデータ)とする形態であってもよいし、使用画素以外の使用可能画素も動作させるが、それらの画素からの光線やインクジェット等の描画媒体が描画面に到達しないように遮蔽等を行う形態であってもよい。   In addition, in the above description, “change the setting so that only the used pixels are actually operated” means, for example, a mode in which pixels other than the used pixels among the usable pixels are set to be off, or the image data is used. The portion sent to the pixels other than the pixels may be in the form of off-state data (that is, data indicating that drawing is not performed), and usable pixels other than the used pixels are also operated. It may be a form in which shielding or the like is performed so that a drawing medium such as a light beam or an ink jet does not reach the drawing surface.

さらに、上記の本発明に係る描画装置において、上記の設定傾斜角度θは、上記の使用可能画素の各画素列をなす画素の個数s、それら使用可能画素の画素列方向の画素ピッチp、および上記の走査方向と直交する方向に沿ったそれら使用可能画素の画素列ピッチδに対し、

Figure 2006030986
Further, in the above drawing apparatus according to the present invention, the set inclination angle θ includes the number s of pixels forming each pixel column of the usable pixels, the pixel pitch p in the pixel column direction of the usable pixels, and For the pixel column pitch δ of those usable pixels along the direction orthogonal to the scanning direction,
Figure 2006030986

の関係を満たす角度であることが好ましい。 It is preferable that the angle satisfies the above relationship.

また、上記の本発明に係る描画装置において、上記の使用画素指定手段は、使用画素を画素行単位で指定するものであってもよい。   In the drawing apparatus according to the present invention, the use pixel specifying unit may specify the use pixel in units of pixel rows.

さらに、上記の使用画素指定手段は、上記の描画点群が示す描画面上における実際の画素列方向と上記の走査方向とがなす実傾斜角度を特定し、その実傾斜角度と上記の設定傾斜角度との間の誤差を吸収するように、使用画素を画素行単位で指定するものであってもよい。その場合において、上記の使用画素指定手段は、使用可能画素の画素列のうちの複数に対応する描画面上の描画点の複数の列を代表描画点列とし、それら複数の代表描画点列の各々について、その代表描画点列の方向と上記の走査方向とがなす個別実傾斜角度を特定し、それら個別傾斜角度の代表値を、上記の実傾斜角度とするものであってもよい。ここで、上記の「個別傾斜角度の代表値」としては、たとえば特定したすべての個別傾斜角度の平均値、中央値、最大値および最小値のいずれかを用いることができる。   Further, the use pixel specifying unit specifies an actual inclination angle formed by the actual pixel row direction on the drawing surface indicated by the drawing point group and the scanning direction, and the actual inclination angle and the set inclination angle are set. The used pixels may be designated in units of pixel rows so as to absorb the error between them. In that case, the use pixel specifying means described above uses a plurality of columns of drawing points on the drawing surface corresponding to a plurality of pixel columns of usable pixels as a representative drawing point sequence, and the plurality of representative drawing point sequences. For each, an individual actual inclination angle formed by the direction of the representative drawing point sequence and the scanning direction may be specified, and a representative value of the individual inclination angles may be set as the actual inclination angle. Here, as the “representative value of the individual inclination angle”, for example, any one of an average value, a median value, a maximum value, and a minimum value of all the specified individual inclination angles can be used.

また、各々の前記描画ヘッドの前記画素アレイは、前記描画点群として光点群を発生させるもとしてもよい。   Further, the pixel array of each of the drawing heads may generate a light spot group as the drawing point group.

また、上記の本発明に係る描画装置においては、各々の描画ヘッドの画素アレイが、上記の描画点群として光点群を発生させるものであり、上記の使用画素指定手段が、各々の描画ヘッドについて、上記の光点群を構成する光点の描画面上における位置を検出する位置検出手段と、各々の描画ヘッドについて、その位置検出手段による検出結果に基づいて、描画面上の、上記の使用画素の画素列間のつなぎ部分による描画個所を少なくとも1つ含む代表領域において、理想的なN重描画に対して描画が冗長となる部分および理想的なN重描画に対して描画が不足となる部分の合計が最小となるように、上記の使用可能画素中の不使用画素を特定し、それらの不使用画素を除いた画素を上記の使用画素として選択する選択手段を備えているものであってもよい。   In the drawing apparatus according to the present invention, the pixel array of each drawing head generates a light point group as the drawing point group, and the use pixel designation unit includes each drawing head. The position detection means for detecting the position of the light spot constituting the light spot group on the drawing surface, and for each drawing head, on the drawing surface based on the detection result by the position detection means, In a representative region including at least one drawing portion by a connecting portion between pixel columns of used pixels, a portion where drawing is redundant with respect to ideal N-fold drawing and drawing is insufficient with respect to ideal N-fold drawing A selection means for identifying unused pixels in the usable pixels so that the total of the portions becomes the minimum, and selecting pixels excluding those unused pixels as the used pixels It may be.

あるいは、各々の描画ヘッドの画素アレイが、上記の描画点群として光点群を発生させるものであり、上記の使用画素指定手段が、各々の描画ヘッドについて、上記の光点群を構成する光点の描画面上における位置を検出する位置検出手段と、各々の描画ヘッドについて、その位置検出手段による検出結果に基づいて、描画面上の、上記の使用画素の画素列間のつなぎ部分による描画個所を少なくとも1つ含む代表領域において、理想的なN重描画に対して描画が冗長となる部分の描画点数と、理想的なN重描画に対して描画が不足となる部分の描画点数とが等しくなるように、上記の使用可能画素中の不使用画素を特定し、それらの不使用画素を除いた画素を上記の使用画素として選択する選択手段を備えているものであってもよい。   Alternatively, the pixel array of each drawing head generates a light point group as the drawing point group, and the use pixel designating unit includes the light constituting the light point group for each drawing head. Position detection means for detecting the position of the point on the drawing surface, and drawing for each drawing head based on the result of detection by the position detection means on the drawing surface by the connecting portion between the pixel columns of the used pixels. In the representative area including at least one location, the number of drawing points in a portion where drawing is redundant for ideal N-fold drawing and the number of drawing points in a portion where drawing is insufficient for ideal N-fold drawing are It may be provided with selection means for specifying unused pixels among the usable pixels so as to be equal, and selecting pixels excluding those unused pixels as the used pixels.

あるいは、各々の描画ヘッドの画素アレイが、上記の描画点群として光点群を発生させるものであり、上記の使用画素指定手段が、各々の描画ヘッドについて、上記の光点群を構成する光点の描画面上における位置を検出する位置検出手段と、各々の描画ヘッドについて、その位置検出手段による検出結果に基づいて、描画面上の、上記の使用画素の画素列間のつなぎ部分による描画個所を少なくとも1つ含む代表領域において、理想的なN重描画に対して描画が冗長となる部分が最小となり、かつ、理想的なN重描画に対して描画が不足となる部分が生じないように、上記の使用可能画素中の不使用画素を特定し、それらの不使用画素を除いた画素を上記の使用画素として選択する選択手段を備えているものであってもよい。   Alternatively, the pixel array of each drawing head generates a light point group as the drawing point group, and the use pixel designating unit includes the light constituting the light point group for each drawing head. Position detection means for detecting the position of the point on the drawing surface, and drawing for each drawing head based on the result of detection by the position detection means on the drawing surface by the connecting portion between the pixel columns of the used pixels. In the representative area including at least one location, the portion where the drawing is redundant with respect to the ideal N-fold drawing is minimized, and the portion where the drawing is insufficient with respect to the ideal N-fold drawing does not occur. In addition, it may be provided with a selection means for specifying unused pixels in the usable pixels and selecting pixels excluding those unused pixels as the used pixels.

あるいは、各々の描画ヘッドの画素アレイが、上記の描画点群として光点群を発生させるものであり、上記の使用画素指定手段が、各々の描画ヘッドについて、上記の光点群を構成する光点の描画面上における位置を検出する位置検出手段と、各々の描画ヘッドについて、上記の位置検出手段による検出結果に基づいて、描画面上の、上記の使用画素の画素列間のつなぎ部分による描画個所を少なくとも1つ含む代表領域において、理想的なN重描画に対して描画が不足となる部分が最小となり、かつ、理想的なN重描画に対して描画が冗長となる部分が生じないように、上記の使用可能画素中の不使用画素を特定し、それらの不使用画素を除いた画素を上記の使用画素として選択する選択手段を備えているものであってもよい。   Alternatively, the pixel array of each drawing head generates a light point group as the drawing point group, and the use pixel designating unit includes the light constituting the light point group for each drawing head. Position detection means for detecting the position of the point on the drawing surface, and for each drawing head, based on the detection result by the position detection means, the connection portion between the pixel columns of the used pixels on the drawing surface In the representative area including at least one drawing portion, the portion where drawing is insufficient for the ideal N-fold drawing is minimized, and the portion where drawing is redundant for the ideal N-fold drawing does not occur. As described above, it may be provided with selection means for specifying unused pixels in the usable pixels and selecting pixels excluding those unused pixels as the used pixels.

また、上記の本発明に係る描画装置は、上記の不使用画素を画素行単位で特定するものであってもよい。   Further, the drawing device according to the present invention may specify the unused pixels in units of pixel rows.

さらに、上記の本発明に係る描画装置において、上記の選択手段は、上記の位置検出手段による少なくとも2つの光点の位置の検出結果に基づいて、上記の光点群が示す描画面上に投影された実際の画素列方向と上記の走査方向とがなす実傾斜角度を特定し、その実傾斜角度に基づいて、上記の不使用画素を特定するものであってもよい。その場合において、上記の選択手段は、上記の使用可能画素の画素列のうちの1つに対応する描画面上の光点の1つの列を代表光点列とし、その代表光点列およびその近傍の光点列をなす光点のうち、少なくとも2つの光点の位置の上記の位置検出手段による検出結果に基づいて、上記の実傾斜角度を特定するものであってもよい。ここで、上記の1つの代表光点列としては、中心付近の光点列を選択することが好ましい。あるいは、上記の選択手段は、上記の使用可能画素の画素列のうちの複数に対応する描画面上の光点の複数の列を代表光点列とし、それら複数の代表光点列の各々について、その代表光点列およびその近傍の光点列をなす光点のうち、少なくとも2つの光点の位置の上記の位置検出手段による検出結果に基づいて、その代表光点列の方向と上記の走査方向とがなす個別実傾斜角度を特定し、それらの個別傾斜角度の代表値を、上記の実傾斜角度とするものであってもよい。ここでも、上記の「個別傾斜角度の代表値」としては、たとえば測定したすべての個別傾斜角度の平均値、中央値、最大値および最小値のいずれかを用いることができる。   Furthermore, in the above-described drawing apparatus according to the present invention, the selecting unit projects onto the drawing surface indicated by the light spot group based on the detection result of the position of at least two light spots by the position detecting unit. The actual inclination angle formed by the actual pixel row direction and the scanning direction described above may be specified, and the unused pixels may be specified based on the actual inclination angle. In that case, the selection means sets one column of light spots on the drawing surface corresponding to one of the pixel columns of the usable pixels as a representative light spot column, the representative light spot column and the The actual inclination angle may be specified based on the detection result by the position detection unit of the position of at least two light spots among the light spots forming the adjacent light spot array. Here, it is preferable to select a light spot row near the center as the one representative light spot row. Alternatively, the selection unit may use a plurality of columns of light spots on the drawing surface corresponding to a plurality of the pixel columns of the usable pixels as a representative light spot row, and each of the plurality of representative light spot rows. Based on the detection result of the position detecting means of the position of at least two light spots among the light spots forming the representative light spot train and the light spot train in the vicinity thereof, the direction of the representative light spot train and the above-mentioned The individual actual inclination angles formed by the scanning direction may be specified, and the representative values of the individual inclination angles may be set as the actual inclination angles. Here, as the “representative value of the individual inclination angle”, for example, any one of an average value, a median value, a maximum value, and a minimum value of all the measured individual inclination angles can be used.

また、上記の本発明に係る描画装置は、上記の使用画素指定手段において上記の使用画素を指定するため、各々の描画ヘッドについて、上記の多数の使用可能画素のうち、上記のNに対して(N−1)本おきの画素列を構成する画素のみを使用して、参照描画を行う参照描画手段をさらに備えているものであってもよい。   In the drawing apparatus according to the present invention, the use pixel designating unit designates the use pixel, and therefore, for each drawing head, among the many usable pixels, the N is used. (N-1) The apparatus may further include reference drawing means for performing reference drawing using only pixels constituting every other pixel row.

あるいは、上記の本発明に係る描画装置は、上記の使用画素指定手段において上記の使用画素を指定するため、各々の描画ヘッドについて、上記の多数の使用可能画素のうち、上記のNに対して、それら使用可能画素の全画素行数の1/N本に相当する互いに隣接する画素行の群を構成する画素のみを使用して、参照描画を行う参照描画手段をさらに備えているものであってもよい。ここで、使用可能画素の全画素行数がNで割り切れない本数である場合には、上記の「使用可能画素の全画素行数の1/N本に相当する互いに隣接する画素行の群」として、全画素行数の1/Nに最も近い本数、全画素行数の1/N以下の最大の本数または全画素行数の1/N以上の最小の本数の画素行から構成される群等を選択してもよい。   Alternatively, in the drawing apparatus according to the present invention, the use pixel designating unit designates the use pixel, and therefore, for each drawing head, among the many usable pixels, the N is used. And a reference drawing means for performing reference drawing using only pixels constituting a group of adjacent pixel rows corresponding to 1 / N of the total number of usable pixel rows. May be. Here, when the total number of usable pixel rows is not divisible by N, the above-mentioned “group of adjacent pixel rows corresponding to 1 / N of the total number of usable pixel rows” A group consisting of the number of pixels closest to 1 / N of the total number of pixel rows, the maximum number of 1 / N or less of the total number of pixel rows, or the minimum number of pixel rows of 1 / N or more of the total number of pixel rows Etc. may be selected.

また、上記の本発明に係る描画装置は、上記の画像データが表す2次元パターンの所定部分の寸法が、指定された使用画素により実現できる対応部分の寸法と一致するように、その画像データを変換するデータ変換手段をさらに備えているものであってもよい。   In addition, the drawing apparatus according to the present invention described above stores the image data so that the size of the predetermined portion of the two-dimensional pattern represented by the image data matches the size of the corresponding portion that can be realized by the designated use pixel. Data conversion means for converting may be further provided.

さらに、上記の本発明に係る描画装置において、上記の画素アレイは、光源からの光を上記の画像データに応じて画素ごとに変調する空間光変調素子であってもよい。ここで、上記の「光源」は、各描画ヘッド(露光ヘッド)の内部に組み込まれているものであってもよいし、各描画ヘッドの外部に設けられた、描画ヘッドごとのまたは複数の描画ヘッド間で共有される光源であってもよい。   Furthermore, in the drawing apparatus according to the present invention, the pixel array may be a spatial light modulation element that modulates light from a light source for each pixel according to the image data. Here, the above-mentioned “light source” may be incorporated in each drawing head (exposure head), or for each drawing head or a plurality of drawing provided outside each drawing head. It may be a light source shared between the heads.

また、上記の本発明に係る描画装置において、上記のN重露光の数Nは、3以上7以下の自然数であることが好ましい。   In the drawing apparatus according to the present invention, the number N of N multiple exposures is preferably a natural number of 3 or more and 7 or less.

本発明に係る描画方法は、2次元状に配された多数の使用可能画素を有し画像データに応じてその画像データが表す2次元パターンを構成する描画点群を発生させる画素アレイを備えた、1つまたは複数の描画ヘッドであって、上記の使用可能画素の画素列方向とその描画ヘッドの走査方向が所定の設定傾斜角度をなすように、描画面に対して取り付けられた描画ヘッドを用いた描画方法であって、各々の描画ヘッドについて、上記の多数の使用可能画素のうちのN重描画(Nは2以上の自然数)に使用する使用画素が実動するように設定を行なう工程と、描画面に対して各々の描画ヘッドを上記の走査方向に相対移動させながら、各描画ヘッドを動作させ、上記の2次元パターンを描画面上に形成する工程を含むことを特徴とするものである。   A drawing method according to the present invention includes a pixel array having a number of usable pixels arranged two-dimensionally and generating a drawing point group constituting a two-dimensional pattern represented by the image data according to the image data. One or a plurality of drawing heads, wherein the drawing heads attached to the drawing surface are arranged such that the pixel row direction of the usable pixels and the scanning direction of the drawing head form a predetermined inclination angle. In the drawing method used, for each drawing head, setting is performed such that a use pixel used for N-fold drawing (N is a natural number of 2 or more) among the many usable pixels is actually operated. And a step of operating each drawing head while moving each drawing head relative to the drawing surface in the scanning direction to form the two-dimensional pattern on the drawing surface. In .

前記使用画素の設定は、前記描画点群が示す描画面上における実際の画素列方向と前記走査方向とがなす実傾斜角度とに基づいて行なうようにすることができる。   The use pixel can be set based on an actual inclination angle formed by the actual pixel column direction on the drawing surface indicated by the drawing point group and the scanning direction.

前記使用画素が実働するように設定する工程は、使用画素を指定する工程と、前記使用画素のみが実動するように設定を変更する工程とを含むものとすることができる。   The step of setting so that the use pixel actually operates may include a step of designating the use pixel and a step of changing the setting so that only the use pixel is actually operated.

ここで、「描画面に対して各々の描画ヘッドを走査方向に相対移動させながら、描画ヘッドを動作させ」るとは、描画ヘッドを常に移動させながら連続的に描画を行う形態であってもよいし、描画ヘッドを段階的に移動させながら、各移動先の位置で描画ヘッドを静止させて描画動作を行う形態であってもよい。   Here, “operating the drawing head while moving each drawing head relative to the drawing surface in the scanning direction” is a form in which drawing is continuously performed while the drawing head is constantly moved. Alternatively, the drawing operation may be performed by moving the drawing head stepwise and stopping the drawing head at the position of each movement destination.

本発明の描画装置および描画方法によれば、描画ヘッドの取付角度誤差やパターン歪みの影響が最小限に抑えられる数の画素を使用画素として設定し、さらに残留する取付角度誤差やパターン歪みの影響を、多重描画による埋め合わせの効果で均すことができるので、描画が冗長となる部分や描画が不足となる部分を最小限に抑え、描画面上に形成される2次元パターンの解像性や濃度のむらを軽減することができる。   According to the drawing apparatus and the drawing method of the present invention, the number of pixels that can minimize the influence of the attachment angle error and pattern distortion of the drawing head is set as the use pixel, and further the influence of the remaining attachment angle error and pattern distortion. Can be smoothed by the effect of filling by multiple drawing, so that the portion where the drawing is redundant or the portion where the drawing is insufficient is minimized and the resolution of the two-dimensional pattern formed on the drawing surface is reduced. Unevenness in density can be reduced.

また、使用画素指定手段を、位置検出手段および選択手段を備えたものとした態様によれば、参照描画結果の目視による確認等により操作者が使用画素を手動で設定するといった熟練が要求される作業を必要とせず、自動的に、描画ヘッドの取付角度誤差やパターン歪みの影響が最小限に抑えられる数の使用画素を指定し、描画装置の設定を行うことができる。   Further, according to the aspect in which the use pixel specifying means includes the position detection means and the selection means, skill is required that the operator manually sets the use pixels by visually confirming the reference drawing result. It is possible to automatically set the drawing apparatus by designating the number of pixels used so that the influence of the drawing head mounting angle error and pattern distortion can be minimized without requiring any work.

さらに、上記の選択手段を、1つの代表光点列を特定して、代表光点列およびその近傍の光点列をなす光点のうち少なくとも2つの光点の位置の検出結果に基づいて、実傾斜角度を特定するものとした態様によれば、描画面上に投影された各画素列の方向が、残留するパターン歪みの影響により画素列ごとに異なる場合でも、適当な実傾斜角度を特定し、使用画素を選択することができる。とりわけ、中心付近の光点列を代表光点列として選択することとすれば、描画面上に形成される2次元パターンの、パターン歪みの影響による全体的な解像性や濃度のむらを軽減する効果がさらに高まる。   Further, the selection means is configured to identify one representative light spot sequence and based on the detection results of the positions of at least two light spots among the light spots forming the representative light spot train and the neighboring light spot trains. According to the aspect in which the actual inclination angle is specified, an appropriate actual inclination angle is specified even when the direction of each pixel column projected on the drawing surface is different for each pixel column due to the influence of residual pattern distortion. Then, the use pixel can be selected. In particular, if the light spot sequence near the center is selected as the representative light spot sequence, the overall resolution and density unevenness due to the effect of pattern distortion of the two-dimensional pattern formed on the drawing surface is reduced. The effect is further increased.

また、上記の選択手段を、複数の代表光点列を特定して、各代表光点列およびその近傍の光点列をなす光点のうち少なくとも2つの光点の位置の検出結果に基づいて、個別実傾斜角度を特定し、それらの代表値を実傾斜角度とする態様によっても、描画面上に投影された各画素列の方向が、残留するパターン歪みの影響により画素列ごとに異なる場合でも、適当な実傾斜角度を特定し、使用画素を選択することができ、かつ、描画面上に形成される2次元パターンの、パターン歪みの影響による全体的な解像性や濃度のむらを軽減する効果をさらに高めることができる。   Further, the selecting means may identify a plurality of representative light spot sequences and based on the detection results of the positions of at least two light spots among the light spots forming each representative light spot train and the neighboring light spot trains. Even if the individual actual tilt angles are specified and the representative values thereof are used as the actual tilt angles, the direction of each pixel column projected on the drawing surface is different for each pixel column due to the residual pattern distortion. However, it is possible to specify an appropriate actual inclination angle, select a pixel to be used, and reduce the overall resolution and density unevenness due to the effect of pattern distortion of the two-dimensional pattern formed on the drawing surface. The effect to do can be further enhanced.

さらに、(N−1)本おきの画素列を構成する画素、または使用可能画素の全画素行数の1/N本に相当する互いに隣接する画素行の群を構成する画素のみを使用して、参照描画を行うことを可能とした態様によれば、参照描画により、多重描画のパターンよりも単純な略1重描画のパターンを得ることができるので、操作者の目視確認等による使用画素の指定が容易となり、最適な使用画素をより指定しやすくなる。   Further, only (N-1) pixels constituting every second pixel column or pixels constituting a group of adjacent pixel rows corresponding to 1 / N of the total number of usable pixel rows are used. According to the aspect in which the reference drawing can be performed, it is possible to obtain a simple single drawing pattern that is simpler than the multiple drawing pattern by the reference drawing. It becomes easy to specify, and it becomes easier to specify the optimal use pixel.

また、所定部分の寸法が一致するように画像データを変換する態様によれば、指定された使用画素により実現可能な所定部分の寸法に、画像データが示す2次元パターンの寸法を一致させ、所望の2次元パターンどおりの高精細なパターンを描画面上に形成することができる。   Further, according to the aspect in which the image data is converted so that the dimensions of the predetermined portion coincide with each other, the dimension of the two-dimensional pattern indicated by the image data is made to coincide with the dimension of the predetermined portion that can be realized by the designated use pixel. A high-definition pattern as shown in the two-dimensional pattern can be formed on the drawing surface.

以下、図面により、本発明の描画装置の1つの実施形態である露光装置について、詳細に説明する。   Hereinafter, an exposure apparatus, which is one embodiment of a drawing apparatus of the present invention, will be described in detail with reference to the drawings.

本実施形態に係る露光装置10は、図1に示すように、シート状の感光材料12を表面に吸着して保持する平板状の移動ステージ14を備えている。4本の脚部16に支持された厚い板状の設置台18の上面には、ステージ移動方向に沿って延びた2本のガイド20が設置されている。ステージ14は、その長手方向がステージ移動方向を向くように配置されると共に、ガイド20によって往復移動可能に支持されている。なお、この露光装置10には、移動手段としてのステージ14をガイド20に沿って駆動するステージ駆動装置124が設けられている。   As shown in FIG. 1, the exposure apparatus 10 according to the present embodiment includes a flat plate-like moving stage 14 that holds a sheet-like photosensitive material 12 by adsorbing to the surface. Two guides 20 extending along the stage moving direction are installed on the upper surface of the thick plate-shaped installation table 18 supported by the four legs 16. The stage 14 is arranged so that the longitudinal direction thereof faces the stage moving direction, and is supported by the guide 20 so as to be reciprocally movable. The exposure apparatus 10 is provided with a stage driving device 124 that drives the stage 14 as a moving means along the guide 20.

設置台18の中央部には、ステージ14の移動経路を跨ぐようにコの字状のゲート22が設けられている。コの字状のゲート22の端部の各々は、設置台18の両側面に固定されている。このゲート22を挟んで一方の側にはスキャナ24が設けられ、他方の側には感光材料12の先端および後端を検知する複数(たとえば2個)のセンサ26が設けられている。スキャナ24およびセンサ26はゲート22に各々取り付けられて、ステージ14の移動経路の上方に固定配置されている。なお、なお、スキャナ24、センサ26、およびステージ駆動装置124等は、これら各部の動作やタイミングを制御するコントローラ160に接続されている。ここで、説明のため、ステージ14の表面と平行な平面内に、図1に示すように、互いに直交するX軸およびY軸を規定する。   A U-shaped gate 22 is provided at the center of the installation base 18 so as to straddle the movement path of the stage 14. Each end of the U-shaped gate 22 is fixed to both side surfaces of the installation base 18. A scanner 24 is provided on one side of the gate 22 and a plurality of (for example, two) sensors 26 for detecting the front and rear ends of the photosensitive material 12 are provided on the other side. The scanner 24 and the sensor 26 are respectively attached to the gate 22 and fixedly arranged above the moving path of the stage 14. Note that the scanner 24, the sensor 26, the stage driving device 124, and the like are connected to a controller 160 that controls the operation and timing of these units. Here, for explanation, an X axis and a Y axis that are orthogonal to each other are defined in a plane parallel to the surface of the stage 14 as shown in FIG.

ステージ14の走査方向に沿って上流側(以下、単に「上流側」ということがある。)の端縁部には、X軸の方向に向かって開く「く」の字型に形成されたスリット28が、等間隔で10本形成されている。各スリット28は、上流側に位置するスリット28aと下流側に位置するスリット28bとからなっている。スリット28aとスリット28bとは互いに直交するとともに、X軸に対してスリット28aは−45度、スリット28bは+45度の角度を有している。ステージ14内部の各スリット28の下方の位置には、それぞれ単一セル型の光検出器122が組み込まれている。各光検出器122は、後述する位置特定部126に接続されており、位置特定部126は使用画素選択処理を行う選択手段である演算装置130に接続されている。   A slit formed in a “<” shape that opens in the direction of the X-axis at the upstream edge (hereinafter sometimes simply referred to as “upstream”) along the scanning direction of the stage 14. 10 are formed at equal intervals. Each slit 28 includes a slit 28 a located on the upstream side and a slit 28 b located on the downstream side. The slit 28a and the slit 28b are orthogonal to each other, and the slit 28a has an angle of −45 degrees and the slit 28b has an angle of +45 degrees with respect to the X axis. Single cell type photodetectors 122 are incorporated at positions below the respective slits 28 in the stage 14. Each photodetector 122 is connected to a position specifying unit 126 described later, and the position specifying unit 126 is connected to an arithmetic device 130 that is a selection unit that performs use pixel selection processing.

なお、スリット28、光検出器122、および位置特定部126は位置検出手段である位置検出部120を構成するものである。そして、使用画素指定手段である使用画素指定部140が上記位置検出部120および演算装置130を備えている。   The slit 28, the photodetector 122, and the position specifying unit 126 constitute a position detecting unit 120 that is a position detecting unit. A use pixel designation unit 140 that is a use pixel designation unit includes the position detection unit 120 and the calculation device 130.

スキャナ24は、図2および図3(B)に示すように、2行5列の略マトリックス状に配列された10個の露光ヘッド30を備えている。なお、以下において、m行目のn列目に配列された個々の露光ヘッドを示す場合は、露光ヘッド30mnと表記する。 As shown in FIGS. 2 and 3B, the scanner 24 includes ten exposure heads 30 arranged in a matrix of 2 rows and 5 columns. In the following, when individual exposure heads arranged in the m-th row and the n-th column are shown, they are expressed as an exposure head 30 mn .

各露光ヘッド30は、後述する内部のデジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)36の画素列方向が走査方向と所定の設定傾斜角度θをなすように、スキャナ24に取り付けられている。したがって、各露光ヘッド30による露光エリア32は、走査方向に対して傾斜した矩形状のエリアとなる。ステージ14の移動に伴い、感光材料12には露光ヘッド30ごとに帯状の露光済み領域34が形成される。   Each exposure head 30 is attached to the scanner 24 so that the pixel column direction of an internal digital micromirror device (DMD) 36 to be described later forms a predetermined inclination angle θ with the scanning direction. Therefore, the exposure area 32 by each exposure head 30 is a rectangular area inclined with respect to the scanning direction. As the stage 14 moves, a strip-shaped exposed region 34 is formed in the photosensitive material 12 for each exposure head 30.

なお、以下において、m行目のn列目に配列された個々の露光ヘッドによる露光エリアを示す場合は、露光エリア32mnと表記する。 In the following, when an exposure area by individual exposure heads arranged in the m-th row and the n-th column is indicated, it is expressed as an exposure area 32 mn .

また、図3の(A)および(B)に示すように、帯状の露光済み領域34のそれぞれが、隣接する露光済み領域34と部分的に重なるように、ライン状に配列された各行の露光ヘッド30の各々は、その配列方向に所定間隔(露光エリアの長辺の自然数倍、本実施形態では2倍)ずらして配置されている。このため、1行目の露光エリア3211と露光エリア3212との間の露光できない部分は、2行目の露光エリア3221により露光することができる。 Further, as shown in FIGS. 3A and 3B, exposure of each row arranged in a line so that each of the strip-shaped exposed regions 34 partially overlaps the adjacent exposed region 34 is performed. Each of the heads 30 is arranged so as to be shifted in the arrangement direction by a predetermined interval (a natural number times the long side of the exposure area, twice in this embodiment). Therefore, can not be exposed portion between the exposure area 32 11 in the first row and the exposure area 32 12, it can be exposed by the second row of the exposure area 32 21.

なお、各露光ヘッド30の中心位置は、上記の10個のスリット28の位置と略一致させられている。また、各スリット28の大きさは、対応する露光ヘッド30による露光エリア32の幅を十分覆う大きさとされている。   The center position of each exposure head 30 is substantially matched with the positions of the ten slits 28 described above. Further, the size of each slit 28 is set to sufficiently cover the width of the exposure area 32 by the corresponding exposure head 30.

露光ヘッド30の各々は、図4および図5に示すように、入射された光を画像データに応じて各画素部ごとに変調する空間光変調素子として、米国テキサス・インスツルメンツ社製のDMD36を備えている。このDMD36は、データ処理部とミラー駆動制御部とを備えたコントローラ160に接続されている。このコントローラ160のデータ処理部では、入力された画像データに基づいて、各露光ヘッド30ごとに、DMD36上の使用領域内の各マイクロミラーを駆動制御する制御信号を生成する。また、ミラー駆動制御部では、画像データ処理部で生成した制御信号に基づいて、各露光ヘッド30ごとにDMD36の各マイクロミラーの反射面の角度を制御する。   As shown in FIGS. 4 and 5, each of the exposure heads 30 includes a DMD 36 manufactured by Texas Instruments, Inc. as a spatial light modulation element that modulates incident light for each pixel unit according to image data. ing. The DMD 36 is connected to a controller 160 that includes a data processing unit and a mirror drive control unit. The data processing unit of the controller 160 generates a control signal for driving and controlling each micromirror in the use area on the DMD 36 for each exposure head 30 based on the input image data. The mirror drive control unit controls the angle of the reflection surface of each micromirror of the DMD 36 for each exposure head 30 based on the control signal generated by the image data processing unit.

図4に示すように、DMD36の光入射側には、光ファイバの出射端部(発光点)が露光エリア32の長辺方向と一致する方向に沿って一列に配列されたレーザ出射部を備えたファイバアレイ光源38、ファイバアレイ光源38から出射されたレーザ光を補正してDMD上に集光させるレンズ系40、このレンズ系40を透過したレーザ光をDMD36に向けて反射するミラー42がこの順に配置されている。なお図4では、レンズ系40を概略的に示してある。   As shown in FIG. 4, on the light incident side of the DMD 36, there is provided a laser emission portion in which the emission end portion (light emission point) of the optical fiber is arranged in a line along the direction that coincides with the long side direction of the exposure area 32. The fiber array light source 38, the lens system 40 for correcting the laser light emitted from the fiber array light source 38 and condensing it on the DMD, and the mirror 42 for reflecting the laser light transmitted through the lens system 40 toward the DMD 36 Arranged in order. In FIG. 4, the lens system 40 is schematically shown.

上記レンズ系40は、図5に詳しく示すように、ファイバアレイ光源38から出射されたレーザ光を平行光化する1対の組合せレンズ44、平行光化されたレーザ光の光量分布が均一になるように補正する1対の組合せレンズ46、および光量分布が補正されたレーザ光をDMD36上に集光する集光レンズ48で構成されている。   As shown in detail in FIG. 5, the lens system 40 has a pair of combination lenses 44 that collimate the laser light emitted from the fiber array light source 38, and the light quantity distribution of the collimated laser light becomes uniform. In this way, a pair of combination lenses 46 for correction and a condensing lens 48 for condensing the laser light whose light quantity distribution is corrected on the DMD 36 are configured.

また、DMD36の光反射側には、DMD36で反射されたレーザ光を感光材料12の描画面である露光面12A上に結像させるレンズ系50が配置されている。レンズ系50は、DMD36と感光材料12の露光面12A(以後、符号12Aの表記は省略する)とが共役な関係となるように配置された、2枚のレンズ52および54からなる。   On the light reflection side of the DMD 36, a lens system 50 is disposed that forms an image of the laser light reflected by the DMD 36 on the exposure surface 12A that is the drawing surface of the photosensitive material 12. The lens system 50 includes two lenses 52 and 54 arranged so that the DMD 36 and the exposure surface 12A of the photosensitive material 12 (hereinafter, notation of reference numeral 12A) is in a conjugate relationship.

本実施形態では、ファイバアレイ光源38から出射されたレーザ光は、実質的に5倍に拡大された後、DMD36上の各マイクロミラーからの光線が上記のレンズ系50によって約5μmに絞られるように設定されている。   In the present embodiment, the laser light emitted from the fiber array light source 38 is substantially magnified five times, and then the light from each micromirror on the DMD 36 is reduced to about 5 μm by the lens system 50. Is set to

DMD36は図6に示すように、SRAMセル(メモリセル)56上に、各々画素(ピクセル)を構成する多数のマイクロミラー58が格子状に配列されてなるミラーデバイスである。本実施形態では、1024列×768行のマイクロミラー58が配されてなるDMD36を使用するが、このうちのDMD36に接続されたコントローラ160により駆動可能すなわち使用可能なマイクロミラー58は、多数の使用可能画素からなる画素アレイを構成する1024列×256行のみからなるものであるとする。DMD36のデータ処理速度には限界があり、使用するマイクロミラー数に比例して1ライン当りの変調速度が決定されるので、このように一部のマイクロミラーのみを使用することにより1ライン当りの変調速度が速くなる。各マイクロミラー58は支柱に支えられており、その表面にはアルミニウム等の反射率の高い材料が蒸着されている。なお、本実施形態では、各マイクロミラー58の反射率は90%以上であり、その配列ピッチは縦方向、横方向ともに13.7μmである。SRAMセル56は、ヒンジおよびヨークを含む支柱を介して通常の半導体メモリの製造ラインで製造されるシリコンゲートのCMOSのものであり、全体はモノリシック(一体型)に構成されている。   As shown in FIG. 6, the DMD 36 is a mirror device in which a large number of micromirrors 58 that constitute pixels (pixels) are arranged in a lattice pattern on an SRAM cell (memory cell) 56. In this embodiment, a DMD 36 in which 1024 columns × 768 rows of micromirrors 58 are arranged is used. Of these, the micromirrors 58 that can be driven by the controller 160 connected to the DMD 36, that is, usable, are used in many ways. It is assumed that the pixel array is composed of only 1024 columns × 256 rows constituting a pixel array composed of possible pixels. The data processing speed of the DMD 36 is limited, and the modulation speed per line is determined in proportion to the number of micromirrors to be used. Thus, by using only some of the micromirrors in this way, Modulation speed increases. Each micromirror 58 is supported by a support column, and a material having high reflectivity such as aluminum is deposited on the surface thereof. In the present embodiment, the reflectance of each micromirror 58 is 90% or more, and the arrangement pitch thereof is 13.7 μm in both the vertical direction and the horizontal direction. The SRAM cell 56 is a silicon gate CMOS manufactured on a normal semiconductor memory manufacturing line via a support including a hinge and a yoke, and is configured monolithically (integrated) as a whole.

DMD36のSRAMセル56に、所望の2次元パターンを構成する各点の濃度を2値で表した画像信号が書き込まれると、支柱に支えられた各マイクロミラー58が、対角線を中心としてDMD36が配置された基板側に対して±α度(たとえば±10度)のいずれかに傾く。図7(A)は、マイクロミラー58がオン状態である+α度に傾いた状態を示し、図7(B)は、マイクロミラー58がオフ状態である−α度に傾いた状態を示す。したがって、画像信号に応じて、DMD36の各ピクセルにおけるマイクロミラー58の傾きを、図6に示すように制御することによって、DMD36に入射したレーザ光Bはそれぞれのマイクロミラー58の傾き方向へ反射される。   When an image signal representing the density of each point constituting a desired two-dimensional pattern in binary is written in the SRAM cell 56 of the DMD 36, each micromirror 58 supported by the column is arranged with the DMD 36 centered on the diagonal line. It is inclined to any one of ± α degrees (for example, ± 10 degrees) with respect to the substrate side. FIG. 7A shows a state in which the micromirror 58 is tilted to + α degrees in the on state, and FIG. 7B shows a state in which the micromirror 58 is tilted to −α degrees in the off state. Therefore, by controlling the inclination of the micromirror 58 in each pixel of the DMD 36 as shown in FIG. 6 according to the image signal, the laser light B incident on the DMD 36 is reflected in the inclination direction of each micromirror 58. The

なお図6には、DMD36の一部を拡大し、各マイクロミラー58が+α度または−α度に制御されている状態の一例を示す。それぞれのマイクロミラー58のオンオフ制御は、DMD36に接続された上記コントローラ160によって行われる。また、オフ状態のマイクロミラー58で反射したレーザ光Bが進行する方向には、光吸収体(図示せず)が配置されている。   FIG. 6 shows an example in which a part of the DMD 36 is enlarged and each micromirror 58 is controlled to + α degrees or −α degrees. The on / off control of each micromirror 58 is performed by the controller 160 connected to the DMD 36. Further, a light absorber (not shown) is arranged in the direction in which the laser beam B reflected by the off-state micromirror 58 travels.

ファイバアレイ光源38は、図8に示すように、複数(たとえば14個)のレーザモジュール60を備えており、各レーザモジュール60には、マルチモード光ファイバ62の一端が結合されている。マルチモード光ファイバ62の他端には、マルチモード光ファイバ62より小さいクラッド径を有するマルチモード光ファイバ64が結合されている。図9に詳しく示すように、マルチモード光ファイバ64のマルチモード光ファイバ62と反対側の端部は走査方向と直交する方向に沿って7個並べられ、それが2列に配列されてレーザ出射部66が構成されている。   As shown in FIG. 8, the fiber array light source 38 includes a plurality of (for example, 14) laser modules 60, and one end of a multimode optical fiber 62 is coupled to each laser module 60. A multimode optical fiber 64 having a smaller cladding diameter than the multimode optical fiber 62 is coupled to the other end of the multimode optical fiber 62. As shown in detail in FIG. 9, seven ends of the multimode optical fiber 64 opposite to the multimode optical fiber 62 are arranged along the direction orthogonal to the scanning direction, and these are arranged in two rows to emit laser light. A portion 66 is configured.

マルチモード光ファイバ64の端部で構成されるレーザ出射部66は、図9に示すように、表面が平坦な2枚の支持板68に挟み込まれて固定されている。また、マルチモード光ファイバ64の光出射端面には、その保護のために、ガラス等の透明な保護板が配置されるのが望ましい。マルチモード光ファイバ64の光出射端面は、光密度が高いため集塵しやすく劣化しやすいが、上述のような保護板を配置することにより、端面への塵埃の付着を防止し、また劣化を遅らせることができる。   As shown in FIG. 9, the laser emitting portion 66 constituted by the end portion of the multimode optical fiber 64 is sandwiched and fixed between two support plates 68 having a flat surface. Further, a transparent protective plate such as glass is preferably disposed on the light emitting end face of the multimode optical fiber 64 for protection. The light exit end face of the multi-mode optical fiber 64 has high light density and is likely to collect dust and easily deteriorate. However, the protective plate as described above prevents the dust from adhering to the end face and deteriorates. Can be delayed.

本実施形態では、露光装置10により2重露光処理を行うこととし、各露光ヘッド30すなわち各DMD36の上記の設定傾斜角度θとしては、露光ヘッド30の取付角度誤差等がない設計通りの理想的な状態であれば、1024列×256行のマイクロミラー58を使用してちょうど2重露光となる角度θidealよりも若干大きい角度を採用するものとする。この角度θidealは、N重露光の数N、使用可能なマイクロミラー58の各画素列をなすマイクロミラー58の個数s、使用可能なマイクロミラー58の画素列方向の画素ピッチp、および走査方向と直交する方向に沿った使用可能なマイクロミラー58の画素列ピッチδに対し、

Figure 2006030986
In the present embodiment, double exposure processing is performed by the exposure apparatus 10, and the above-described set inclination angle θ of each exposure head 30, that is, each DMD 36, is ideal as designed without any mounting angle error of the exposure head 30. In such a state, an angle slightly larger than the angle θ ideal at which double exposure is performed using the micromirror 58 of 1024 columns × 256 rows is adopted. This angle θ ideal is the number N of N exposures, the number s of micromirrors 58 forming each pixel column of the usable micromirrors 58, the pixel pitch p in the pixel column direction of the usable micromirrors 58, and the scanning direction. For the pixel column pitch δ of the usable micromirror 58 along the direction orthogonal to
Figure 2006030986

により与えられる。本実施形態におけるDMD36は、上記のとおり、縦横の配置ピッチが等しい多数のマイクロミラー58が矩形格子状に配されたものであるので、

Figure 2006030986
Given by. As described above, the DMD 36 in the present embodiment includes a large number of micromirrors 58 having equal vertical and horizontal arrangement pitches arranged in a rectangular lattice shape.
Figure 2006030986

であり、上記の式(1)は、

Figure 2006030986
And the above equation (1) is
Figure 2006030986

となる。本実施形態では、上記のとおりs=256、N=2であるので、式(3)より、角度θidealは約0.45度である。したがって、設定傾斜角度θとしては、たとえば0.50度程度の角度を採用するとよい。露光装置10は、調整可能な範囲内で、各露光ヘッド30すなわち各DMD36の取付角度がこの設定傾斜角度θに近い角度となるように、初期調整されているものとする。 It becomes. In this embodiment, since s = 256 and N = 2 as described above, the angle θ ideal is about 0.45 degrees from the equation (3). Therefore, for example, an angle of about 0.50 degrees may be employed as the set inclination angle θ. It is assumed that the exposure apparatus 10 is initially adjusted so that the mounting angle of each exposure head 30, that is, each DMD 36 is close to the set inclination angle θ within an adjustable range.

図10は、上記のように初期調整された露光装置10において、1つの露光ヘッド30の取付角度誤差およびパターン歪みの影響により、露光面上のパターンに生じるむらの例を示した説明図である。以下の図面および説明においては、露光ヘッド30により描画面上に描画された画素描画点である露光面上に投影された光点で構成される、露光面上における第m番目の光点行をr(m)、露光面上における第n番目の光点列をc(n)、第m行第n列の光点をP(m,n)とそれぞれ表記するものとする。図10の上段部分は、ステージ14を静止させた状態で感光材料12の露光面上に投影される、使用可能なマイクロミラー58からの光点群のパターンを示し、下段部分は、上段に示したような光点群のパターンが現れている状態でステージ14を移動させて連続露光を行った際に、露光面上に形成される露光パターンの状態を示したものである。なお、図10では、説明の便宜のため、使用可能なマイクロミラー58の奇数列による露光パターンと偶数列による露光パターンを分けて示してあるが、実際の露光面上における露光パターンは、これら2つの露光パターンを重ね合わせたものである。   FIG. 10 is an explanatory view showing an example of unevenness in the pattern on the exposure surface due to the influence of the mounting angle error of one exposure head 30 and the pattern distortion in the exposure apparatus 10 initially adjusted as described above. . In the following drawings and description, the mth light spot row on the exposure surface, which is composed of light spots projected on the exposure surface, which is a pixel drawing point drawn on the drawing surface by the exposure head 30, is shown. It is assumed that r (m), the nth light spot column on the exposure surface is represented as c (n), and the light spot in the mth row and nth column is represented as P (m, n). The upper part of FIG. 10 shows the pattern of the light spot group from the usable micromirror 58 projected onto the exposure surface of the photosensitive material 12 with the stage 14 being stationary, and the lower part is shown in the upper part. This shows the state of the exposure pattern formed on the exposure surface when continuous exposure is performed by moving the stage 14 in a state in which a pattern of light spots appears. In FIG. 10, for convenience of explanation, the exposure pattern of the odd-numbered columns of the micromirrors 58 that can be used and the exposure pattern of the even-numbered columns are shown separately. However, the exposure patterns on the actual exposure surface are 2 Two exposure patterns are superimposed.

図10の例では、設定傾斜角度θを上記の角度θidealよりも若干大きくしたこと、および、露光ヘッド30の取付角度の微調整が困難であるために、実際の取付角度が上記の設定傾斜角度θからもわずかにずれてしまったことの結果として、露光面上のいずれの個所でも、奇数列による露光パターンと偶数列による露光パターンの双方で、各画素列の端部に対応する部分すなわち画素列間のつなぎの部分において、理想的な2重露光の状態よりも露光が冗長となり、すなわち2重露光の状態よりさらに重複して露光された状態となり濃度むらが生じてしまっている。 In the example of FIG. 10, since the set inclination angle θ is slightly larger than the angle θ ideal and fine adjustment of the attachment angle of the exposure head 30 is difficult, the actual attachment angle is the above set inclination. As a result of the slight deviation from the angle θ, the portion corresponding to the end of each pixel column, in both the exposure pattern by the odd column and the exposure pattern by the even column, at any point on the exposure surface, that is, In the connection portion between the pixel columns, the exposure is more redundant than the ideal double exposure state, that is, the exposure state is more overlapped than the double exposure state, resulting in density unevenness.

さらに、図10の例では、露光面上に現れるパターン歪みの一例である、露光面上に投影された各画素列の傾斜角度が均一でなくなる角度歪みが生じている。このような角度歪みが生じる原因としては、DMD36と露光面の間の光学系の各種収差やアラインメントずれ、および、DMD36自体の歪みやマイクロミラーの配置誤差等が挙げられる。図10の例に現れている角度歪みは、走査方向に対する傾斜角度が、図の左方の画素列ほど小さく、図の右方の画素列ほど大きくなっている形態の歪みである。この角度歪みの結果として、上記の露光が冗長となっている部分の幅は、露光面上の図の左方に示した部分ほど小さく、図の右方に示した部分ほど大きくなっている。   Furthermore, in the example of FIG. 10, angular distortion is generated, which is an example of pattern distortion appearing on the exposure surface, and the inclination angle of each pixel column projected on the exposure surface is not uniform. Causes of such angular distortion include various aberrations and alignment deviations of the optical system between the DMD 36 and the exposure surface, distortion of the DMD 36 itself, micromirror placement errors, and the like. The angular distortion appearing in the example of FIG. 10 is a distortion in which the tilt angle with respect to the scanning direction is smaller as the pixel column on the left side of the figure is larger and larger as the pixel line on the right side of the figure is larger. As a result of this angular distortion, the width of the portion where the above-described exposure is redundant is smaller as the portion shown on the left side of the drawing on the exposure surface and larger as the portion shown on the right side of the drawing.

上記のような露光面上に現れるむらを軽減するために、本実施形態では、位置検出部120を構成する上述のスリット28および光検出器122の組と位置特定部126を用いて、露光ヘッド30ごとに、露光面上に投影された光点すなわち描画面上に描画された画素描画点の位置を検出し、その後、位置特定部126に接続された演算装置130が、上記光点すなわち画素描画点からなる描画列の実傾斜角度θ’を特定するとともにその実傾斜角度θ’に基づいて実際に本露光処理に使用するマイクロミラーを選択する使用画素選択処理を行う。以下、図11および12を用いて、その実傾斜角度θ’の特定および使用画素選択処理について説明する。   In order to reduce the unevenness appearing on the exposure surface as described above, in the present embodiment, the exposure head is configured using the above-described combination of the slit 28 and the photodetector 122 that constitutes the position detection unit 120 and the position specifying unit 126. Every 30th, the position of the light spot projected on the exposure surface, that is, the position of the pixel drawing point drawn on the drawing surface is detected, and then the arithmetic unit 130 connected to the position specifying unit 126 detects the light spot, that is, the pixel. An actual inclination angle θ ′ of a drawing row composed of drawing points is specified, and a use pixel selection process for selecting a micromirror to be actually used for the main exposure process is performed based on the actual inclination angle θ ′. Hereinafter, the specification of the actual inclination angle θ ′ and the used pixel selection process will be described with reference to FIGS. 11 and 12.

図11は、1つのDMD36による露光エリア32と、対応するスリット28との位置関係を上方から見た様子を示す平面図である。すでに述べたように、スリット28の大きさは、露光エリア32の幅を十分覆う大きさとされている。   FIG. 11 is a plan view showing the positional relationship between the exposure area 32 by one DMD 36 and the corresponding slit 28 as viewed from above. As described above, the size of the slit 28 is set to sufficiently cover the width of the exposure area 32.

本実施形態では、露光エリア32の略中心に位置する512番目の光点列を代表光点列として、この代表光点列の方向と走査方向とがなす角度を、上記の実傾斜角度θ’として測定する。具体的には、DMD36上の512列目1行目と512列目256行目のマイクロミラー58をオン状態とし、上記位置検出部120が、それぞれに対応する露光面上の光点P(1,512)およびP(256,512)の位置を検出し、それらの光点を結ぶ直線の走査方向に対する傾斜角度を実傾斜角度θ’として特定する。   In the present embodiment, the 512th light spot row positioned substantially at the center of the exposure area 32 is used as a representative light spot train, and the angle formed by the direction of the representative light spot train and the scanning direction is the actual inclination angle θ ′. Measure as Specifically, the micromirrors 58 in the 512th column, the first row, and the 512th column, the 256th row on the DMD 36 are turned on, and the position detection unit 120 performs the light spot P (1 512) and P (256, 512) are detected, and the inclination angle of the straight line connecting these light spots with respect to the scanning direction is specified as the actual inclination angle θ ′.

図12は、光点P(256,512)の位置の検出手法を説明した平面図である。まず、P(256,512)を点灯させた状態で、ステージ駆動装置124の駆動によりステージ14をゆっくり移動させてスリット28をY軸方向に沿って相対移動させ、光点P(256,512)が上流側のスリット28aと下流側のスリット28bの間に来るような任意の位置に、スリット28を位置させる。このときのスリット28aとスリット28bとの交点の座標を(X0,Y0)とする。この座標(X0,Y0)の値は、ステージ14に与えられた駆動信号が示す上記の位置までのステージ14の移動距離、および、既知であるスリット28のX方向位置から決定され、記録される。   FIG. 12 is a plan view illustrating a method for detecting the position of the light spot P (256, 512). First, in a state in which P (256, 512) is lit, the stage 14 is slowly moved by driving the stage driving device 124, and the slit 28 is relatively moved along the Y-axis direction, so that the light spot P (256, 512). The slit 28 is positioned at an arbitrary position such that is located between the upstream slit 28a and the downstream slit 28b. At this time, the coordinates of the intersection of the slit 28a and the slit 28b are (X0, Y0). The value of the coordinates (X0, Y0) is determined and recorded from the moving distance of the stage 14 to the above position indicated by the drive signal given to the stage 14 and the known X-direction position of the slit 28. .

次に、ステージ14を移動させ、スリット28をY軸に沿って図12における右方に相対移動させる。そして、図12において二点鎖線で示すように、光点P(256,512)の光が左側のスリット28bを通過して光検出器で検出されたところでステージ14を停止させる。このときのスリット28aとスリット28bとの交点の座標を(X0,Y1)として記録する。   Next, the stage 14 is moved, and the slit 28 is relatively moved to the right in FIG. 12 along the Y axis. Then, as indicated by a two-dot chain line in FIG. 12, the stage 14 is stopped when the light at the light spot P (256, 512) passes through the left slit 28b and is detected by the photodetector. The coordinates of the intersection of the slit 28a and the slit 28b at this time are recorded as (X0, Y1).

今度はステージ14を反対方向に移動させ、スリット28をY軸に沿って図12における左方に相対移動させる。そして、図12において二点鎖線で示すように、光点P(256,512)の光が右側のスリット28aを通過して光検出器で検出されたところでステージ14を停止させる。このときのスリット28aとスリット28bとの交点の座標を(X0,Y2)として記録する。   This time, the stage 14 is moved in the opposite direction, and the slit 28 is moved relative to the left in FIG. 12 along the Y axis. Then, as indicated by a two-dot chain line in FIG. 12, the stage 14 is stopped when the light at the light spot P (256, 512) passes through the right slit 28a and is detected by the photodetector. The coordinates of the intersection of the slit 28a and the slit 28b at this time are recorded as (X0, Y2).

以上の測定結果から、光点P(256,512)の座標(X,Y)を、X=X0+(Y1−Y2)/2、Y=(Y1+Y2)/2の計算により決定する。同様の測定により、光点P(1,512)の座標も決定し、光点P(1,512)とP(256,512)を結ぶ直線の傾斜角度を導出して、実傾斜角度θ’として特定する。   From the above measurement results, the coordinates (X, Y) of the light spot P (256, 512) are determined by the calculation of X = X0 + (Y1-Y2) / 2, Y = (Y1 + Y2) / 2. By the same measurement, the coordinates of the light spot P (1,512) are also determined, the inclination angle of the straight line connecting the light spots P (1,512) and P (256,512) is derived, and the actual inclination angle θ ′. As specified.

なお、上記各光点の位置の検出は、光検出器122に接続された位置特定部126によって行なわれる。すなわち、位置特定部126が、光検出器122の上記各光点を検出したことを示す情報と、各光点を検出したときのステージ14の位置を示すコントローラ160から入力された情報とに基づいて上記のような手法により各光点の位置を求める。   The position of each light spot is detected by the position specifying unit 126 connected to the photodetector 122. That is, based on information indicating that the position specifying unit 126 has detected each light spot of the photodetector 122 and information input from the controller 160 indicating the position of the stage 14 when each light spot is detected. Thus, the position of each light spot is obtained by the above method.

その後、演算装置130が、上記各光点の位置を示す情報を入力し上記実傾斜角度θ’を特定する。そして、この演算装置130は、後述するように、さらに、上記特定された実傾斜角度θ’に基づいて実際に本露光処理に使用するマイクロミラーを選択する使用画素選択処理を行う。   Thereafter, the arithmetic device 130 inputs information indicating the position of each light spot and specifies the actual inclination angle θ ′. Then, as will be described later, the arithmetic device 130 further performs a use pixel selection process for selecting a micromirror that is actually used for the main exposure process based on the specified actual inclination angle θ ′.

なお、位置検出部120による位置検出では、コントローラ160の制御によるステージ駆動装置124の駆動によりステージ14をガイド20に沿って移動させるので、上記ステージ駆動装置124、ガイド20、ステージ14、およびコントローラ160等も、位置検出部120を構成する構成要素に含まれるものである。   In the position detection by the position detection unit 120, the stage 14 is moved along the guide 20 by driving the stage driving device 124 under the control of the controller 160. Therefore, the stage driving device 124, the guide 20, the stage 14, and the controller 160 are moved. Are also included in the components constituting the position detection unit 120.

上記演算装置130は、上記特定した実傾斜角度θ’を用い、

Figure 2006030986
The arithmetic unit 130 uses the specified actual inclination angle θ ′,
Figure 2006030986

の関係を満たす値tに最も近い自然数Tを導出し、DMD36上の1行目からT行目のマイクロミラーを、本露光時に実際に使用するマイクロミラーとして選択する処理を行う。これにより、第512列目の光点列付近の代表領域において、理想的な2重露光に対して露光が冗長となる部分および理想的な2重露光に対して露光が不足となる部分の合計が最小となるようなマイクロミラーを、実際に使用するマイクロミラーとして選択することができる。 The natural number T closest to the value t satisfying the above relationship is derived, and the first to T-th row micromirrors on the DMD 36 are selected as micromirrors that are actually used during the main exposure. As a result, in the representative region near the light spot row in the 512th row, the total of the portion where the exposure is redundant with respect to the ideal double exposure and the portion where the exposure is insufficient with respect to the ideal double exposure. A micromirror having a minimum value can be selected as a micromirror to be actually used.

ここで、上記の値tに最も近い自然数を導出することに代えて、値t以上の最小の自然数を導出することとしてもよい。その場合、第512列目の光点列付近の代表領域において、理想的な2重露光に対して露光が冗長となる部分が最小になり、かつ、理想的な2重露光に対して露光が不足となる部分が生じないようなマイクロミラーを、実際に使用するマイクロミラーとして選択することができる。あるいは、値t以下の最大の自然数を導出することとしてもよい。その場合、第512列目の光点列付近の代表領域において、理想的な2重露光に対して露光が不足となる部分が最小になり、かつ、理想的な2重露光に対して露光が冗長となる部分が生じないようなマイクロミラーを、実際に使用するマイクロミラーとして選択することができる。   Here, instead of deriving the natural number closest to the above value t, the minimum natural number greater than or equal to the value t may be derived. In that case, in the representative region near the light spot row in the 512th row, the portion where the exposure is redundant with respect to the ideal double exposure is minimized, and the exposure with respect to the ideal double exposure is performed. A micromirror that does not cause an insufficient portion can be selected as a micromirror to be actually used. Or it is good also as deriving the maximum natural number below value t. In that case, in the representative region near the light spot row in the 512th row, the portion where the exposure is insufficient for the ideal double exposure is minimized, and the exposure is performed for the ideal double exposure. A micromirror that does not produce a redundant portion can be selected as a micromirror that is actually used.

すなわち、演算装置130によって選択した実際に使用するマイクロミラーを示す情報(不使用画素を示す情報でもある)が、設定変更手段150に入力される。なお、使用可能な画素のうち、使用画素が実動するように設定する使用画素設定手段として、使用画素指定部140と設定変更手段150とを一体的に構成してもよい。   That is, information indicating the actually used micromirrors selected by the arithmetic device 130 (also information indicating unused pixels) is input to the setting changing unit 150. Note that, among the usable pixels, the used pixel specifying unit 140 and the setting changing unit 150 may be integrally configured as a used pixel setting unit that sets the used pixel to actually move.

図13は、上記設定変更手段150により、実際に使用するマイクロミラーとして選択されたマイクロミラーのみを実動させるようにコントローラ160の設定を変更した後、その設定の変更されたコントローラ160の制御により露光を行う本露光時において、図10に示した露光面上のむらがどのように改善されるかを示した説明図である。この例では、上記の自然数TとしてT=253が導出され、1行目から253行目のマイクロミラーが、本露光時に実動させられたものとする。選択されなかった254行目から256行目のマイクロミラーには、常時、そのマイクロミラーの角度をオフ状態の角度に設定する信号が送られ、それらのマイクロミラーは、実質的に本露光に使用されない。   In FIG. 13, after the setting of the controller 160 is changed by the setting changing unit 150 so that only the micromirror selected as the actually used micromirror is actually operated, the control of the controller 160 whose setting is changed is used. It is explanatory drawing which showed how the nonuniformity on the exposure surface shown in FIG. 10 is improved at the time of the main exposure which performs exposure. In this example, T = 253 is derived as the natural number T, and the micromirrors in the first to 253rd rows are actually moved during the main exposure. The micromirrors in the 254th to 256th lines that were not selected are always sent a signal to set the angle of the micromirror to the off state angle, and these micromirrors are substantially used for the main exposure. Not.

本実施形態では、上記のとおり、512番目の光点列を代表光点列として実傾斜角度θ’が測定され、その実傾斜角度θ’を用いて式(4)により使用するマイクロミラー58を選択したので、図13に示すとおり、512番目の光点列付近では、画素列間のつなぎの部分における露光の冗長および不足は、ほぼ完全に解消され、理想的な状態に極めて近い均一な2重露光が実現される。   In the present embodiment, as described above, the actual tilt angle θ ′ is measured using the 512th light spot sequence as the representative light spot sequence, and the micromirror 58 to be used is selected by the formula (4) using the actual tilt angle θ ′. Therefore, as shown in FIG. 13, in the vicinity of the 512th light spot row, the redundancy and deficiency of exposure at the connection portion between the pixel rows are almost completely eliminated, and a uniform double layer extremely close to the ideal state is obtained. Exposure is realized.

図13の左方の領域(図中のc(1)側)では、上記した角度歪みにより、露光面上における光点列の傾斜角度が中央付近の領域での傾斜角度よりも小さくなっている。したがって、中央付近の光点列c(512)を基準として測定された実傾斜角度θ’により選択されたマイクロミラーによる露光では、図に示すように、奇数列のマイクロミラーによる露光パターンと偶数列のマイクロミラーによる露光パターンとのそれぞれにおいては、画素列間のつなぎの部分に、露光が不足となる部分がわずかに生じてしまう。しかしながら、図示の奇数列による露光パターンと偶数列による露光パターンとを重ね合わせた、実際の露光パターンにおいては、上記の露光が不足となる部分は互いに補間され、角度歪みの影響を、2重露光による埋め合わせの効果で均すことができる。   In the left region of FIG. 13 (c (1) side in the figure), the inclination angle of the light spot sequence on the exposure surface is smaller than the inclination angle in the region near the center due to the above-described angular distortion. . Therefore, in the exposure by the micromirror selected by the actual inclination angle θ ′ measured with reference to the light spot row c (512) near the center, as shown in the figure, the exposure pattern by the odd-numbered micromirror and the even row In each of the exposure patterns by the micromirrors, a portion where the exposure is insufficient occurs slightly at the connection portion between the pixel columns. However, in the actual exposure pattern in which the exposure pattern of the odd-numbered columns and the exposure pattern of the even-numbered columns shown in the figure are overlapped, the portions where the above exposure is insufficient are interpolated with each other, and the influence of angular distortion is double-exposed. It can be leveled by the effect of make up.

また、図13の右方の領域(図中のc(1024)側)では、上記した角度歪みにより、露光面上における光点列の傾斜角度が中央付近の領域での傾斜角度よりも大きくなっている。したがって、中央付近の光点列c(512)を基準として測定された実傾斜角度θ’により選択されたマイクロミラーによる露光では、図に示すように、画素列間のつなぎの部分に、露光が冗長な部分がわずかに残留してしまう。しかしながら、図示の奇数列による露光パターンと偶数列による露光パターンとを重ね合わせた、実際の露光パターンにおいては、残留している露光が冗長な部分による濃度むらは、2重露光による埋め合わせの効果で互いに均されて目立たなくなる。   Further, in the region on the right side of FIG. 13 (c (1024) side in the drawing), the tilt angle of the light spot array on the exposure surface is larger than the tilt angle in the region near the center due to the angular distortion described above. ing. Therefore, in the exposure by the micromirror selected by the actual inclination angle θ ′ measured with reference to the light spot row c (512) near the center, as shown in the figure, the exposure is performed at the connection portion between the pixel rows. A little redundant part remains. However, in the actual exposure pattern in which the exposure pattern of the odd-numbered columns and the exposure pattern of the even-numbered columns shown in the figure are overlapped, the density unevenness due to the redundant portion of the remaining exposure is due to the effect of filling by double exposure. They are leveled together and become inconspicuous.

以上のようにして、本実施形態の露光装置10によれば、各露光ヘッド30の取付角度誤差やパターン歪みの影響による解像性や濃度のむらを、その露光ヘッド30の露光エリア32全体に亘って軽減することができる。   As described above, according to the exposure apparatus 10 of the present embodiment, the resolution and density unevenness due to the influence of the mounting angle error and pattern distortion of each exposure head 30 are spread over the entire exposure area 32 of the exposure head 30. Can be reduced.

なお、露光面上に生じ得るパターン歪みには、上記の例で説明した角度歪みの他にも、種々の形態が存在する。一例としては、図14の(A)に示すように、DMD36上の各マイクロミラー58からの光線が、異なる倍率で露光面上の露光エリア32に到達してしまう倍率歪みの形態がある。別の例として、図14の(B)に示すように、DMD36上の各マイクロミラー58からの光線が、異なるビーム径で露光面上の露光エリア32に到達してしまうビーム径歪みの形態もある。これらの倍率歪みおよびビーム径歪みは、主として、DMD36と露光面の間の光学系の各種収差やアラインメントずれに起因して生じる。さらに別の例として、DMD36上の各マイクロミラー58からの光線が、異なる光量で露光面上の露光エリア32に到達してしまう光量歪みの形態もある。この光量歪みは、各種収差やアラインメントずれのほか、DMD36と露光面の間の光学要素(たとえば1枚レンズである図5のレンズ52および54)の透過率の位置依存性や、DMD36自体による光量むらに起因して生じる。これらの形態のパターン歪みも、露光面上に形成されるパターンに解像性や濃度のむらを生じさせる。しかしながら、上記の実施形態に係る露光装置10によれば、本露光に実際に使用するマイクロミラーを選択した後の、これらの形態のパターン歪みの残留要素も、上記の角度歪みの残留要素と同様、2重露光による埋め合わせの効果で均すことができる。したがって、本実施形態の露光装置10によれば、角度歪み以外のパターン歪みの影響による解像性や濃度のむらも、各露光ヘッド30の露光エリア32全体に亘って軽減することができる。   In addition to the angular distortion described in the above example, there are various forms of pattern distortion that can occur on the exposure surface. As an example, as shown in FIG. 14A, there is a form of magnification distortion in which the light from each micromirror 58 on the DMD 36 reaches the exposure area 32 on the exposure surface at a different magnification. As another example, as shown in FIG. 14B, there is a form of beam diameter distortion in which the light from each micromirror 58 on the DMD 36 reaches the exposure area 32 on the exposure surface with a different beam diameter. is there. These magnification distortion and beam diameter distortion are mainly caused by various aberrations and alignment deviation of the optical system between the DMD 36 and the exposure surface. As another example, there is a form of light amount distortion in which light beams from the micromirrors 58 on the DMD 36 reach the exposure area 32 on the exposure surface with different light amounts. In addition to various aberrations and misalignment, this light amount distortion includes the positional dependency of the transmittance of the optical element between the DMD 36 and the exposure surface (for example, the lenses 52 and 54 in FIG. 5 which is a single lens) and the light amount due to the DMD 36 itself. Caused by unevenness. These forms of pattern distortion also cause unevenness in resolution and density in the pattern formed on the exposure surface. However, according to the exposure apparatus 10 according to the above-described embodiment, the pattern distortion residual elements in these forms after selecting the micromirrors actually used for the main exposure are the same as the angular distortion residual elements described above. It can be leveled by the effect of offset by double exposure. Therefore, according to the exposure apparatus 10 of the present embodiment, resolution and density unevenness due to the influence of pattern distortion other than angular distortion can be reduced over the entire exposure area 32 of each exposure head 30.

以上、本発明の描画装置の1つの実施形態である露光装置10について詳細に説明したが、上記は一例に過ぎず、本発明の範囲を逸脱することなく種々の変更が可能である。   The exposure apparatus 10 which is one embodiment of the drawing apparatus of the present invention has been described in detail above. However, the above is only an example, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

たとえば、上記の実施形態では、露光面上に投影された1つの光点列を代表光点列として選択して、その代表光点列の方向と走査方向がなす角度を実傾斜角度θ’として測定したが、これに代えて、露光面上に投影された使用可能なマイクロミラーからの光点列のうちの複数の光点列について、それらの光点列の方向と走査方向とがなす個別実傾斜角度を測定し、それらの個別傾斜角度の中央値、平均値、最大値または最小値等を実傾斜角度θ’とし、上記の式(4)等によって本露光に実際に使用するマイクロミラーを選択する形態としてもよい。ここで、個別傾斜角度の中央値または平均値を実傾斜角度θ’とすれば、露光が冗長となる部分と不足となる部分のバランスがよい本露光を実現することができ、たとえば、露光が冗長となる部分と不足となる部分の合計が最小に抑えられ、かつ、冗長となる部分と不足となる部分の光点数が等しくなるような本露光を実現することが可能である。一方、個別傾斜角度の最大値を実傾斜角度θ’とすれば、露光が冗長となる部分の排除をより重要視した本露光を実現することができ、たとえば、露光が不足となる部分を最小に抑え、かつ、描画が冗長となる部分が生じないような本露光を実現することが可能である。また、個別傾斜角度の最小値を実傾斜角度θ’とすれば、露光が不足となる部分の排除をより重要視した本露光を実現することができ、たとえば、露光が冗長となる部分を最小に抑え、かつ、描画が不足となる部分が生じないような本露光を実現することが可能である。   For example, in the above embodiment, one light spot sequence projected on the exposure surface is selected as the representative light spot train, and the angle formed by the direction of the representative light spot train and the scanning direction is set as the actual inclination angle θ ′. However, instead of this, for each of a plurality of light spot rows from the usable light spot mirrors projected on the exposure surface, the direction of the light spot row and the scanning direction are individually formed. The actual tilt angle is measured, and the median value, average value, maximum value, minimum value, etc. of these individual tilt angles are set as the actual tilt angle θ ′, and the micromirrors actually used for the main exposure by the above equation (4) or the like It is good also as a form which selects. Here, if the median value or the average value of the individual inclination angles is set to the actual inclination angle θ ′, it is possible to realize the main exposure with a good balance between the portions where the exposure is redundant and the portions where the exposure is insufficient. It is possible to realize the main exposure in which the total of the redundant part and the deficient part is minimized and the number of light points of the redundant part and the deficient part is equal. On the other hand, if the maximum value of the individual inclination angle is set to the actual inclination angle θ ′, it is possible to realize the main exposure that places more importance on the removal of the portion where the exposure is redundant, for example, the portion where the exposure is insufficient is minimized. It is possible to realize the main exposure that is suppressed to a low level and does not cause a redundant drawing. In addition, if the minimum value of the individual inclination angle is set to the actual inclination angle θ ′, it is possible to realize the main exposure that places more importance on the removal of the portion where the exposure is insufficient. For example, the portion where the exposure is redundant is minimized. It is possible to realize the main exposure that is suppressed to a low level and does not cause a portion where drawing is insufficient.

加えて、上記の実施形態では、代表光点列中の少なくとも2つの光点位置に基づいて、その代表光点列の方向と走査方向がなす角度を実傾斜角度θ’として特定することとしたが、この角度の特定は、必ずしも代表光点列中の光点の位置のみに基づいて行われるものに限られない。たとえば、代表光点列中の1つまたは複数の光点位置と、代表光点列近傍の光点列中の1つまたは複数の光点位置とから求めた角度を、実傾斜角度θ’として特定してもよい。具体的には、代表光点列中の1つの光点の位置と、その光点と走査方向に沿って直線状に並ぶ、近傍の光点列に含まれる1つまたは複数の光点の位置とを検出し、これらの位置情報から、実傾斜角度θ’を求めることができる。あるいは、代表光点列近傍の光点列中の少なくとも2つの光点(たとえば、代表光点列を跨ぐような2つの光点)の位置に基づいて求めた角度を、実傾斜角度θ’として特定してもよい。   In addition, in the above embodiment, based on at least two light spot positions in the representative light spot row, the angle formed by the direction of the representative light spot row and the scanning direction is specified as the actual inclination angle θ ′. However, the specification of this angle is not necessarily limited to that performed based only on the position of the light spot in the representative light spot sequence. For example, an angle obtained from one or a plurality of light spot positions in the representative light spot array and one or a plurality of light spot positions in the light spot array near the representative light spot array is set as an actual inclination angle θ ′. You may specify. Specifically, the position of one light spot in the representative light spot array, and the position of one or more light spots included in a nearby light spot array that is linearly aligned with the light spot in the scanning direction. And the actual inclination angle θ ′ can be obtained from the position information. Alternatively, an angle obtained based on the positions of at least two light spots (for example, two light spots straddling the representative light spot array) in the light spot array in the vicinity of the representative light spot array is set as an actual inclination angle θ ′. You may specify.

また、上記の実施形態では、露光面上の光点の位置を検出するための手段として、スリット28と単一セル型の光検出器の組を用いたが、これに限られずいかなる形態のものを用いてもよく、たとえば2次元検出器等を用いてもよい。   In the above embodiment, the set of the slit 28 and the single cell type photodetector is used as a means for detecting the position of the light spot on the exposure surface. For example, a two-dimensional detector or the like may be used.

さらに、上記の実施形態では、スリット28と光検出器122の組と位置特定部126による光点の位置検出結果を入力した演算装置130が実傾斜角度θ’を求め、さらに、この演算装置130がその実傾斜角度θ’に基づいて使用画素を選択するという、使用画素指定手段である使用画素指定部140の作用を示したが、上記使用画素指定手段は、実傾斜角度θ’の導出を介さずに使用可能なマイクロミラーのうちのN重描画に使用する使用画素を指定する形態としてもよい。さらには、たとえば使用可能なマイクロミラーを用いた後述する参照露光を行い、参照露光結果の目視による解像性や濃度のむらの確認等により、操作者が使用するマイクロミラーを手動で指定する使用画素指定手段の形態も、本発明の範囲に含まれるものである。   Further, in the above-described embodiment, the arithmetic device 130 that has received the position detection result of the light spot by the set of the slit 28 and the photodetector 122 and the position specifying unit 126 obtains the actual inclination angle θ ′, and further, the arithmetic device 130. The operation of the use pixel designating unit 140, which is the use pixel designating means, selects the use pixel based on the actual tilt angle θ ′. However, the use pixel designating unit performs the derivation of the actual tilt angle θ ′. It is good also as a form which designates the use pixel used for N double drawing among the micromirrors which can be used without it. Furthermore, for example, a reference pixel that will be described later using a usable micromirror is used, and a pixel to be manually used to specify the micromirror to be used by the operator by visually confirming the resolution of the reference exposure result or checking the density unevenness. The form of the designation means is also included in the scope of the present invention.

また、上記の実施形態の変更例として、使用可能なマイクロミラーのうち、(N−1)本おきの画素列を構成するマイクロミラー、または全画素行数の1/N本に相当する互いに隣接する画素行の群を構成するマイクロミラーのみを使用して、理想的な1重露光に近い状態を実現できるように露光する参照露光を行い、上記参照露光に使用したマイクロミラーのうちの本露光に使用しないマイクロミラーを特定することとしてもよい。すなわち、本露光に使用しないマイクロミラーを特定することにより、上記参照露光に使用された画素であるマイクロミラーのうちの本露光に使用するマイクロミラーを特定することができる。   Further, as a modification of the above-described embodiment, among the usable micromirrors, (N-1) micromirrors constituting every second pixel column, or adjacent to each other corresponding to 1 / N of the total number of pixel rows. Using only the micromirrors constituting the group of pixel rows to be performed, the reference exposure is performed so as to realize a state close to an ideal single exposure, and the main exposure of the micromirrors used for the reference exposure. It is good also as specifying the micromirror which is not used for. That is, by specifying a micromirror that is not used for the main exposure, it is possible to specify a micromirror that is used for the main exposure among the micromirrors that are pixels used for the reference exposure.

図15は、(N−1)本おきの画素列を構成するマイクロミラーのみを使用して参照露光を行う形態の一例を示した説明図である。この例では、本露光は2重露光とするものとし、したがってN=2である。まず、図15の(A)に実線で示した奇数列目の光点列に対応するマイクロミラーのみを使用して、参照露光を行い、参照露光結果をサンプル出力する。出力された参照露光結果に対し、操作者は、目視により解像性や濃度のむらを確認したり、実傾斜角度を推定したりすることで、解像性や濃度のむらを最小限に抑えた本露光が実現できるように、本露光において使用するマイクロミラーを指定することができる。たとえば、図15の(B)に斜線で覆って示す光点列に対応するもの以外のマイクロミラーが、奇数列目の画素列を構成するマイクロミラーのうち本露光において実際に使用されるものとして指定され得る。偶数列目の画素列については、別途同様に参照露光を行って、本露光に使用するマイクロミラーを指定してもよいし、奇数列目の画素列に対するパターンと同一のパターンを適用してもよい。このようにして本露光に使用するマイクロミラーを指定することにより、奇数列目および偶数列目の双方のマイクロミラー列を使用した本露光においては、理想的な2重露光に近い状態が実現できる。なお、参照露光結果の分析は、操作者の目視によるものに限らず、機械的な分析であってもよい。   FIG. 15 is an explanatory diagram showing an example of a form in which reference exposure is performed using only micromirrors that constitute every (N-1) pixel rows. In this example, the main exposure is assumed to be double exposure, and therefore N = 2. First, reference exposure is performed using only the micromirrors corresponding to the odd-numbered light spot rows indicated by solid lines in FIG. 15A, and the reference exposure results are output as samples. The operator can visually check the resolution and density unevenness of the output reference exposure result or estimate the actual tilt angle to minimize the resolution and density unevenness. The micromirror used in the main exposure can be designated so that the exposure can be realized. For example, it is assumed that micromirrors other than those corresponding to the light spot array shown by hatching in FIG. 15B are actually used in the main exposure among the micromirrors constituting the odd-numbered pixel arrays. Can be specified. For even-numbered pixel columns, reference exposure may be performed separately in the same manner, and the micromirror used for the main exposure may be designated, or the same pattern as the pattern for the odd-numbered pixel columns may be applied. Good. By specifying the micromirrors used for the main exposure in this way, in the main exposure using both the odd-numbered and even-numbered micromirror rows, a state close to ideal double exposure can be realized. . The analysis of the reference exposure result is not limited to visual observation by the operator, and may be a mechanical analysis.

図16は、全画素行数の1/N本に相当する互いに隣接する画素行の群を構成するマイクロミラーのみを使用して参照露光を行う形態の一例を示した説明図である。この例では、本露光は2重露光とするものとし、したがってN=2である。まず、図16の(A)に実線で示した1行目から128(=256/2)行目の光点に対応するマイクロミラーのみを使用して、参照露光を行い、参照露光結果をサンプル出力する。出力された参照露光結果に対し、操作者は、目視により解像性や濃度のむらを確認したり、実傾斜角度を推定したりすることで、解像性や濃度のむらを最小限に抑えた本露光が実現できるように、本露光において使用するマイクロミラーを指定することができる。たとえば、図16の(B)に斜線で覆って示す光点列に対応するもの以外のマイクロミラーが、1行目から128行目のマイクロミラーのうち本露光において実際に使用されるものとして指定され得る。129行目から256行目のマイクロミラーについては、別途同様に参照露光を行って、本露光に使用するマイクロミラーを指定してもよいし、1行目から128行目のマイクロミラーに対するパターンと同一のパターンを適用してもよい。このようにして本露光に使用するマイクロミラーを指定することにより、全体のマイクロミラーを使用した本露光においては、理想的な2重露光に近い状態が実現できる。なお、参照露光結果の分析は、操作者の目視によるものに限らず、機械的な分析であってもよい。   FIG. 16 is an explanatory diagram showing an example of a mode in which reference exposure is performed using only micromirrors that constitute groups of adjacent pixel rows corresponding to 1 / N of the total number of pixel rows. In this example, the main exposure is assumed to be double exposure, and therefore N = 2. First, reference exposure is performed using only micromirrors corresponding to the light spots in the first to 128 (= 256/2) rows indicated by the solid line in FIG. 16A, and the reference exposure results are sampled. Output. The operator can visually check the resolution and density unevenness of the output reference exposure result or estimate the actual tilt angle to minimize the resolution and density unevenness. The micromirror used in the main exposure can be designated so that the exposure can be realized. For example, micromirrors other than those corresponding to the light spot array shown by hatching in FIG. 16B are designated as actually used in the main exposure among the micromirrors in the first to 128th rows. Can be done. For the micromirrors in the 129th to 256th lines, reference exposure may be separately performed in the same manner, and the micromirror used for the main exposure may be designated. The same pattern may be applied. By designating the micromirrors used for the main exposure in this way, a state close to an ideal double exposure can be realized in the main exposure using the entire micromirrors. The analysis of the reference exposure result is not limited to visual observation by the operator, and may be a mechanical analysis.

以上の実施形態および変更例は、いずれも本露光を2重露光とする場合について説明したが、これに限られず、2重露光以上のいかなる多重露光としてもよい。特に3重露光から7重露光程度とすることにより、高解像性の確保と、解像性および濃度のむらの軽減の効果のバランスがよい露光とすることができる。   In the above embodiment and the modified examples, the case where the main exposure is the double exposure has been described. However, the present invention is not limited to this, and any multiple exposure of the double exposure or more may be used. In particular, by setting the exposure to a triple exposure to a triple exposure, it is possible to achieve an exposure with a good balance between ensuring high resolution and reducing resolution and density unevenness.

また、上記の実施形態および変更例に係る露光装置には、さらに、画像データが表す2次元パターンの所定部分の寸法が、選択された使用画素により実現できる対応部分の寸法と一致するように、画像データを変換する機構が設けられていることが好ましい。そのように画像データを変換することによって、所望の2次元パターンどおりの高精細なパターンを露光面上に形成することができる。   Further, in the exposure apparatus according to the embodiment and the modified example, the dimension of the predetermined part of the two-dimensional pattern represented by the image data is matched with the dimension of the corresponding part that can be realized by the selected use pixel. A mechanism for converting image data is preferably provided. By converting the image data in such a manner, a high-definition pattern according to a desired two-dimensional pattern can be formed on the exposure surface.

なお、上記実施の形態の説明においては、移動手段等、各部の駆動機構は省略しているが、これらの駆動機構としては従来より知られているものを用いることができ、例えば、スライド機構としてはレール上に移動台を移動させるボール・レールシステム、あるいはエアスライドシステム等を採用することができ、回転機構としてはボールベアリング、空気軸受等を採用することができ、駆動力伝達機構としては、カム機構、リンク機構、ラック・ピニオン機構、ボールネジ・ボールブッシュ機構、エアスライド機構、あるいはピストン・シリンダ機構等を採用することができる。また、駆動原としては、モータ、油圧アクチュエータ、空圧アクチュエータ等を採用することができる。   In the description of the above embodiment, the driving mechanism of each part such as moving means is omitted, but conventionally known driving mechanisms can be used, for example, as a sliding mechanism. Can adopt a ball / rail system that moves the moving base on the rail, an air slide system, etc., a ball bearing, an air bearing, etc. can be adopted as the rotation mechanism, and a driving force transmission mechanism, A cam mechanism, a link mechanism, a rack / pinion mechanism, a ball screw / ball bush mechanism, an air slide mechanism, or a piston / cylinder mechanism can be employed. Further, a motor, a hydraulic actuator, a pneumatic actuator, or the like can be employed as the driving source.

上記露光装置10は本発明の描画装置の1例であり、本発明の描画装置は、描画面をN重描画(Nは2以上の自然数)により描画し、画像データが表す2次元パターンを該描画面上に形成するものであって、2次元状に配された多数の使用可能画素を有し前記画像データに応じて前記2次元パターンを構成する描画点群を発生させる画素アレイ、すなわち上記描画面上に上記2次元パターンを表す画素描画点を描画するための画素アレイを備えた、描画ヘッドであって、前記使用可能画素の画素列方向と上記描画ヘッドの走査方向が所定の設定傾斜角度をなす描画ヘッドを有するものであり、上記描画装置は、さらに、前記描画ヘッドに対して前記描画面を前記走査方向に相対移動させる移動手段と、前記描画ヘッドが有する前記多数の使用可能画素のうち、前記N重描画に使用する使用画素を指定する使用画素指定手段と、前記描画ヘッドの有する前記使用可能画素のうちの前記指定した使用画素のみを実動させるように設定を変更する設定変更手段とを備えている。   The exposure apparatus 10 is an example of a drawing apparatus of the present invention. The drawing apparatus of the present invention draws a drawing surface by N-fold drawing (N is a natural number of 2 or more) and displays a two-dimensional pattern represented by image data. A pixel array that is formed on a drawing surface and has a number of usable pixels arranged two-dimensionally and generates a drawing point group constituting the two-dimensional pattern according to the image data, that is, the above-mentioned A drawing head having a pixel array for drawing a pixel drawing point representing the two-dimensional pattern on a drawing surface, wherein a pixel column direction of the usable pixels and a scanning direction of the drawing head are set with a predetermined inclination The drawing apparatus further includes a moving means for moving the drawing surface relative to the drawing head in the scanning direction, and the multiple use of the drawing head. Among the active pixels, the used pixel specifying means for specifying the used pixels to be used for the N-fold drawing and the setting are changed so that only the specified used pixels among the usable pixels of the drawing head are actually operated. And a setting change means for performing.

なお、描画点群を発生させる画素アレイは、DMD中に配列された多数のマイクロミラーとすることができ、上記配列された多数のマイクロミラーが、各マイクロミラーの露光・非露光状態に応じて、これらのマイクロミラーから描画点群である光束群を射出し露光面を露光する、すなわち描画面上に画素描画点を描画する。また、本実施の形態とは異なる画素アレイとしては、インクジェット方式用に配列された多数のノズルを挙げることができる、上記配列された多数のノズルが、各ノズルの描画・非描画状態に応じて、これらのノズルから描画点群であるインク粒子群を噴射し描画面を描画する、すなわち描画面上に画素描画点を描画する。   Note that the pixel array for generating the drawing point group can be a large number of micromirrors arranged in the DMD, and the large number of micromirrors arranged in accordance with the exposure / non-exposure state of each micromirror. A light beam group which is a drawing point group is emitted from these micromirrors to expose the exposure surface, that is, a pixel drawing point is drawn on the drawing surface. Further, as a pixel array different from the present embodiment, a large number of nozzles arranged for the ink jet method can be cited, and a large number of the arranged nozzles may correspond to the drawing / non-drawing state of each nozzle. The ink particle group which is the drawing point group is ejected from these nozzles to draw the drawing surface, that is, the pixel drawing point is drawn on the drawing surface.

なお、前記「使用可能画素の画素列方向と描画ヘッドの走査方向が所定の設定傾斜角度をなす」とは、「使用可能画素の画素列方向と描画ヘッドに対する描画面の相対的な走査方向とのなす角度が所定の設定傾斜角度をなすこと」を意味するものであり、上記所定の設定傾斜角度は、上記画素列を構成する各画素を介して描画面上に描画した各画素描画点からなる画素描画点列の延びる方向と上記描画ヘッドに対する上記描画面の走査方向との成す角度によって示すことができる。   Note that “the pixel column direction of the usable pixels and the scanning direction of the drawing head form a predetermined tilt angle” means “the pixel column direction of the usable pixels and the relative scanning direction of the drawing surface with respect to the drawing head”. Means that the predetermined angle of inclination forms a predetermined inclination angle, and the predetermined inclination angle is determined from each pixel drawing point drawn on the drawing surface via each pixel constituting the pixel row. This can be indicated by the angle formed by the direction in which the pixel drawing point sequence extends and the scanning direction of the drawing surface with respect to the drawing head.

また、描画ヘッドの画素アレイは、上記描画面上に2次元パターンを表す画素描画点を描画するための各光束を、上記画素アレイを構成する各画素に対応させて描画面に向けて射出させるためのものとすることができる。この場合、使用画素指定手段は、前記各光束の照射を受けて描画面上に形成された画素描画点の位置の検出に基づいて上記画素アレイ中の画素の位置を取得する。   Further, the pixel array of the drawing head emits each light beam for drawing a pixel drawing point representing a two-dimensional pattern on the drawing surface toward the drawing surface in correspondence with each pixel constituting the pixel array. Can be for. In this case, the use pixel designating unit obtains the position of the pixel in the pixel array based on the detection of the position of the pixel drawing point formed on the drawing surface upon receiving the irradiation of each light beam.

また、使用画素指定手段は、位置検出手段と選択手段とを備えたものとすることができる。そして、前記位置検出手段は、予め定められた設計上のN重描画を行なったときに、画素アレイを構成する各画素列間のつなぎ部分に対応する描画が冗長となった部分、あるいは上記各画素列間のつなぎ部分に対応する描画が不足となった部分を特定するものとすることができる。また、前記選択手段は、上記特定された描画冗長分および描画不足分に対応する画素を特定し、描画冗長分の画素を除去したり描画不足分の画素を補填したりして上記描画冗長分および描画不足分が無くなるように、画素アレイ中の本露光に使用する使用画素を使用可能画素の中から選択するものとすることができる。   In addition, the use pixel designation unit may include a position detection unit and a selection unit. Then, the position detecting means, when performing N-design drawing in a predetermined design, the portion corresponding to the connecting portion between the pixel columns constituting the pixel array becomes redundant, or each of the above It is possible to specify a portion where drawing corresponding to a connecting portion between pixel columns is insufficient. In addition, the selection unit specifies pixels corresponding to the specified drawing redundancy and drawing shortage, and removes the drawing redundancy pixels or compensates for the drawing shortage pixels, thereby performing the drawing redundancy portion. In addition, the used pixels used for the main exposure in the pixel array can be selected from the usable pixels so that the drawing deficiency is eliminated.

また、上記前記選択手段は、前記描画冗長分の画素描画点の数が最小となり、前記描画不足分の画素描画点が無くなるように、画素アレイ中の本露光に使用する画素である使用画素を選択するものとすることもできる。   In addition, the selection unit selects use pixels that are pixels used for the main exposure in the pixel array so that the number of pixel drawing points for the drawing redundancy is minimized and the pixel drawing points for the drawing shortage are eliminated. It can also be selected.

また、上記前記選択手段は、前記描画冗長分の画素描画点が無くなり、前記描画不足分の画素描画点の数が最小となるように、画素アレイ中の本露光に使用する画素である使用画素を選択するものとすることもできる。   In addition, the selection unit uses pixels that are pixels used for the main exposure in the pixel array such that the pixel drawing points for the drawing redundancy are eliminated and the number of the pixel drawing points for the drawing shortage is minimized. Can also be selected.

ここで、上述の実傾斜角度θ’の導出を介さずに使用可能なマイクロミラーのうちのN重描画に使用する使用画素を指定する使用画素指定手段の形態について説明する。   Here, the form of the use pixel designation means for designating the use pixel used for N-fold drawing among the micromirrors that can be used without deriving the actual inclination angle θ ′ will be described.

以下に説明する使用画素指定手段の形態は、使用可能なマイクロミラーのうち、(N−1)本おきの画素列を構成するマイクロミラー、または全画素行数の1/N本に相当する互いに隣接する画素行の群を構成するマイクロミラーのみを使用して、理想的な1重露光に近い状態を実現できるように露光する参照露光を行い、上記参照露光に使用したマイクロミラーのうちの本露光に使用しないマイクロミラーを指定する場合等に適用することができる。   The form of use pixel designating means described below is a micromirror that constitutes every (N-1) pixel columns among the available micromirrors, or one that corresponds to 1 / N of the total number of pixel rows. Using only the micromirrors constituting the group of adjacent pixel rows, the reference exposure is performed so that the state close to the ideal single exposure can be realized, and the book among the micromirrors used for the reference exposure. This can be applied when a micromirror not used for exposure is designated.

なお、以下の説明においては、露光面上に投影された光点であって、実際に描画が行われれば描画点となる点を画素描画点と表記して説明する。   In the following description, a point that is a light spot projected on the exposure surface and becomes a drawing point when drawing is actually performed will be described as a pixel drawing point.

図17はつなぎ部ずれ量を取得する際に露光面上へ描画した画素描画点によって形成したX方向に延びる直線を示す図であり、図17(a)は上記つなぎ部ずれ量が生じていない状態を示す図、図17(b)は上記つなぎ部ずれ量が生じ描画が冗長となった状態を示す図、図17(c)は上記つなぎ部ずれ量が生じ描画が不足している状態を示す図である。また、図18は画素アレイ中の互いに隣り合う画素列を構成するマイクロミラーのつなぎ部ずれ量を取得する際の画素列の状態と上記画素列によって描画された直線との対応を示す図、図19はつなぎ部ずれ量を取得する際に露光したX軸方向に延びる直線の一部を示図、図20はリファレンススケールを示す図である。なお、図18はつなぎ部ずれ量が生じていない状態を示す図である。   FIG. 17 is a view showing a straight line extending in the X direction formed by pixel drawing points drawn on the exposure surface when acquiring the connecting portion displacement amount, and FIG. 17A does not cause the joining portion displacement amount. FIG. 17B is a diagram showing a state in which the above-mentioned connecting portion shift amount is generated and rendering becomes redundant, and FIG. 17C is a state in which the above-mentioned connecting portion shift amount is generated and drawing is insufficient. FIG. FIG. 18 is a diagram showing the correspondence between the state of the pixel column and the straight line drawn by the pixel column when acquiring the shift amount of the connecting portion of the micromirrors constituting the adjacent pixel columns in the pixel array. 19 is a diagram showing a part of a straight line exposed in the X-axis direction that is exposed when the connecting portion shift amount is acquired, and FIG. 20 is a diagram showing a reference scale. FIG. 18 is a diagram showing a state in which there is no connecting portion shift amount.

上記実傾斜角度θ’の導出を介さずに使用するマイクロミラーを指定する方式は、N重露光に使用する設計通りの理想的に配列された画素で構成される画素アレイ中の互いに隣り合う画素列間のつなぎ部分を基準とした、実際の画素列間のつなぎ部分のずれ量であるつなぎ部ずれ量を得、このつなぎ部ずれ量に基づいて使用するマイクロミラー(すなわち使用画素)を指定するものである。上記つなぎ部ずれ量は、描画が冗長となる分の画素描画点の数、あるいは描画が不足となる分の画素描画点の数に応じて定めることができる。   The method of designating a micromirror to be used without derivation of the actual inclination angle θ ′ is a pixel adjacent to each other in a pixel array composed of ideally arranged pixels as designed for use in N double exposure. Based on the connecting portion between columns, a connecting portion shift amount that is a shift amount of the connecting portion between actual pixel columns is obtained, and a micromirror (that is, a pixel to be used) to be used is designated based on the connecting portion shift amount. Is. The connecting portion shift amount can be determined according to the number of pixel drawing points corresponding to redundant drawing or the number of pixel drawing points corresponding to insufficient drawing.

上記つなぎ部ずれ量を取得する際には、露光ヘッド中のN重露光に使用する設計上の画素のうちの、(N−1)本おきに画素列を構成するマイクロミラーのみを使用して、露光面上に露光される画素描画点が上記走査方向(Y軸方向)と直交するX軸方向に並ぶ直線を形成するように露光を行う。上記露光面上に露光するX軸方向に延びる直線は、画素描画点1つ分の太さであってもよいし。画素描画点2つ分以上の太さであってもよい。なお、上記N重露光において(N−1)本おきの画素列を構成するマイクロミラーのみを使用する露光方式を以下「間引き参照露光」という。以下、間引き参照露光を行うものとして説明する。   When acquiring the above-mentioned connecting portion shift amount, only (N-1) micro-mirrors constituting a pixel row are used out of the designed pixels used for N double exposure in the exposure head. The exposure is performed so that the pixel drawing points exposed on the exposure surface form a straight line aligned in the X-axis direction orthogonal to the scanning direction (Y-axis direction). The straight line extending in the X-axis direction exposed on the exposure surface may be as thick as one pixel drawing point. The thickness may be equal to or more than two pixel drawing points. Note that an exposure method that uses only micromirrors that constitute every (N-1) pixel rows in the N-fold exposure is hereinafter referred to as “thinning reference exposure”. In the following description, it is assumed that thinning reference exposure is performed.

また、露光ヘッドによる描画については、描画が冗長となる部分に対して想定される最大のつなぎ部ずれ量(以下「想定つなぎ部ずれ量」という)分の画素描画点の数を超える数のマイクロミラーを使用しないように、すなわち非露光状態にして露光を行う。上記想定つなぎ部ずれ量分のマイクロミラーの数とは、N重露光に使用する互いに隣接する画素列を構成する画素によって、露光面上の走査方向に重複描画されると想定される画素描画点の数に対応するものである。   Also, with respect to the drawing by the exposure head, the number of micrographs exceeds the number of pixel drawing points corresponding to the maximum amount of connecting portion deviation (hereinafter referred to as “the assumed amount of connecting portion deviation”) assumed for the portion where drawing becomes redundant. The exposure is performed so as not to use the mirror, that is, in a non-exposed state. The number of micromirrors corresponding to the assumed joint displacement amount is the pixel drawing point that is assumed to be overdrawn in the scanning direction on the exposure surface by the pixels constituting the adjacent pixel columns used for the N double exposure. It corresponds to the number of.

以下、上記互いに隣接する画素列によって描画された画素描画点に基づいて実際のつなぎ部ずれ量を取得する場合について、上記図17(a)、(b)、(c)、および、図18を参照して説明する。   Hereinafter, with respect to the case where the actual connecting portion shift amount is acquired based on the pixel drawing points drawn by the pixel rows adjacent to each other, FIG. 17 (a), (b), (c), and FIG. The description will be given with reference.

互いに異なる描画単位である画素列Sa、Sbのつなぎ部ずれ量を測定する場合には、描画単位である各画素列Sa、Sbそれぞれの縁Fa、Fbを間に挟んで互いに隣接するように描画されるべき各画素列Sa、Sb中のそれぞれの画素のうちの少なくともいずれか一方を含み上記画素列に沿って並ぶ予め定められた数の連続する画素からなる空白画素Sa(16,e)〜Sa(20,e)による5画素分描画を行うことなく、上記空白画素Sa(16,e)〜Sa(20,e)の両側に隣接する空白隣接画素Sa(15,e)およびSb(1,e+1)による描画を行なう。そして、露光面上に描画された各空白隣接画素にSa(15,e)およびSb(1,e+1)よって描画された画素描画点Qa(15,e)およびQb(1,e+1)間に挿入可能な画素描画点の数と前記空白画素Sa(16,e)〜Sa(20,e)の数とを比較して、画素列Saおよび画素列Sb間におけるつなぎ部ずれ量を得るものである。   When measuring the shift amount between the pixel rows Sa and Sb which are different drawing units, the drawing is performed so as to be adjacent to each other with the edges Fa and Fb of the pixel rows Sa and Sb being the drawing units in between. Blank pixels Sa (16, e) to which a predetermined number of continuous pixels are arranged including at least one of the respective pixels in each of the pixel columns Sa and Sb and arranged along the pixel column. Blank adjacent pixels Sa (15, e) and Sb (1) adjacent to both sides of the blank pixels Sa (16, e) to Sa (20, e) without drawing for five pixels by Sa (20, e). , E + 1). Then, each blank adjacent pixel drawn on the exposure surface is inserted between pixel drawing points Qa (15, e) and Qb (1, e + 1) drawn by Sa (15, e) and Sb (1, e + 1). The number of possible pixel drawing points and the number of the blank pixels Sa (16, e) to Sa (20, e) are compared to obtain the connecting portion shift amount between the pixel column Sa and the pixel column Sb. .

なお、図17(a)に示すつなぎ部の状態が図18に示すつなぎ部の状態に対応しており、両者共につなぎ部にずれが生じていない状態を示す図である。また、図17(b)は描画が冗長となる状態でつなぎ部にずれが生じた様子を示しており、図17(c)は描画が不足となる状態でつなぎ部にずれが生じた様子を示している。   Note that the state of the connecting portion shown in FIG. 17A corresponds to the state of the connecting portion shown in FIG. 18, and both show a state in which no shift occurs in the connecting portion. FIG. 17B shows a state in which the joining portion is displaced in a state where the drawing is redundant, and FIG. 17C shows a state in which the joining portion is displaced in a state where the drawing is insufficient. Show.

上記予め定められた数の画素からなる空白画素Sa(16,e)〜Sa(20,e)は、上記想定つなぎ部ずれ量を少し超える画素数によって構成されるものである。なお、図18の画素列Sa中の白丸の画素はその画素(マイクロミラー)により露光面上に露光が行われない状態であることを示しており、他の黒丸の画素はその画素(マイクロミラー)により露光面上に露光が行われる状態であることを示している。   The blank pixels Sa (16, e) to Sa (20, e) including the predetermined number of pixels are configured by the number of pixels slightly exceeding the assumed joint displacement amount. The white circle pixels in the pixel row Sa in FIG. 18 indicate that the exposure surface is not exposed by the pixel (micromirror), and the other black circle pixels are the pixel (micromirror). ) Indicates that the exposure surface is exposed.

上記空白画素描画点群は、画素描画点列Qa中にのみ配置されるようにしてもよいし、画素描画点列Qb中にのみ配置されるようにしてもよい。あるいは、画素描画点列Qaと画素描画点列Qbとに亘って配置されるようにしてもよい。   The blank pixel drawing point group may be arranged only in the pixel drawing point sequence Qa, or may be arranged only in the pixel drawing point sequence Qb. Or you may make it arrange | position over pixel drawing point sequence Qa and pixel drawing point sequence Qb.

図18の下部および図19に上記のようにして露光面上に描画したX軸方向に延びる直線を示す。直線部分Laが画素アレイ中の画素列Saにより露光された領域であり、直線部分Lbが画素アレイ中の画素列Sbにより露光された領域である。直線部分Leは想定つなぎ部ずれ量に対応した画素数のマイクロミラー、すなわち空白画素Sa(16,e)〜Sa(20,e)に対応するマイクロミラーによる非露光の直線部分を示している。すなわち、直線部分Leは図17に示す空白画素描画点群Jに対応するものである。   The lower part of FIG. 18 and FIG. 19 show straight lines extending in the X-axis direction drawn on the exposure surface as described above. The straight line portion La is a region exposed by the pixel column Sa in the pixel array, and the straight line portion Lb is a region exposed by the pixel column Sb in the pixel array. A straight line portion Le indicates a non-exposure straight line portion by a micromirror having the number of pixels corresponding to the assumed connecting portion shift amount, that is, a micromirror corresponding to the blank pixels Sa (16, e) to Sa (20, e). That is, the straight line portion Le corresponds to the blank pixel drawing point group J shown in FIG.

そして、上記のように想定つなぎ部ずれ量に対応したマイクロミラーを非露光状態にして露光面を露光するとともに、別途、露光ヘッドによって、図20に示すような、リファレンススケールLsを露光する。リファレンススケールLsは、画素アレイ中の1つの画素列を構成するマイクロミラーによって露光したX軸方向に延びる直線であって、n個、n+1個、n+2個、n+3個、n−1個、n−2個およびn−3個からなる画素(マイクロミラー)を非露光状態とし、上記非露光状態の画素(マイクロミラー)に隣接する画素(マイクロミラー)を露光状態にした描画により非露光の直線部分L(n)、L(n+1)、L(n+2)、L(n+3)、L(n−1)、L(n−2)およびL(n−3)を形成したものである。   Then, as described above, the exposure surface is exposed with the micromirror corresponding to the assumed joint displacement amount being unexposed, and a reference scale Ls as shown in FIG. 20 is separately exposed by the exposure head. The reference scale Ls is a straight line extending in the X-axis direction exposed by a micromirror that constitutes one pixel column in the pixel array, and is n, n + 1, n + 2, n + 3, n−1, n− Non-exposed linear portions by drawing with 2 and n-3 pixels (micromirrors) in an unexposed state and pixels (micromirrors) adjacent to the non-exposed pixels (micromirrors) in an exposed state L (n), L (n + 1), L (n + 2), L (n + 3), L (n-1), L (n-2) and L (n-3) are formed.

そして、リファレンススケールLsにおける各直線部分L(n)の画素描画点の数(n)は、想定つなぎ部ずれ量に対応したマイクロミラーの数(ここではn=5)と同じ数に設定されており、直線部分Leの長さとリファレンススケールLs中の各直線部分L(n−3)〜L(n+3)とを比較することにより上記つなぎ部ずれ量に対応するマイクロミラーの数を取得することができる。   Then, the number (n) of pixel drawing points of each straight line portion L (n) in the reference scale Ls is set to the same number as the number of micromirrors (here, n = 5) corresponding to the assumed joint displacement amount. In addition, the number of micromirrors corresponding to the amount of shift of the joint portion can be obtained by comparing the length of the straight portion Le with each of the straight portions L (n−3) to L (n + 3) in the reference scale Ls. it can.

例えば、直線部分Leの長さが直線部分L(n)と同じ長さであれば、上記つなぎ部ずれ量は0である。そして、直線部分Leの長さが直線部分L(n−3)と同じ長さであれば、上記つなぎ部ずれ量に対応するマイクロミラーの数は−3個である。すなわち、画素列Saと画素列Sbとがマイクロミラー3個分、すなわち3画素分重複していることになる。したがって、画素列Saおよび画素列Sbのうちのつなぎ部分における3個分のマイクロミラーを非露光状態とし使用しないように使用画素を指定して露光を行なうことにより、上記画素描画点列間のつなぎ部分のむらを抑制することができる。   For example, if the length of the straight line portion Le is the same as that of the straight line portion L (n), the amount of shift of the joint portion is zero. And if the length of the straight line part Le is the same length as the straight line part L (n-3), the number of the micro mirrors corresponding to the said connection part shift | offset | difference amount is -3. That is, the pixel column Sa and the pixel column Sb are overlapped by three micromirrors, that is, three pixels. Therefore, by performing exposure by designating pixels to be used so that the three micromirrors in the connecting portion of the pixel column Sa and the pixel column Sb are not used in an unexposed state, the connection between the pixel drawing point sequences is performed. Unevenness of the part can be suppressed.

また、例えば、直線部分Leの長さが直線部分L(n+2)と同じ長さであれば、上記つなぎ部ずれ量に対応するマイクロミラーの数は+2個であり、画素列Saと画素列Sbとがマイクロミラー2個分離れており、2画素分が不足していることになる。したがって、画素列Saおよび画素列Sbのうちのつなぎ部分に2画素分加えるように、2個分のマイクロミラーを新たに使用画素に指定して露光を行なうことにより、上記画素描画点列間のつなぎ部分のむらを抑制することができる。   Further, for example, if the length of the straight line portion Le is the same as the length of the straight line portion L (n + 2), the number of micromirrors corresponding to the above-described connecting portion shift amount is +2, and the pixel column Sa and the pixel column Two micromirrors are separated from Sb, and two pixels are insufficient. Therefore, by performing exposure by newly designating two micromirrors as used pixels so as to add two pixels to the connecting portion of the pixel column Sa and the pixel column Sb, the pixel drawing point sequence is Unevenness of the connecting portion can be suppressed.

上記のように、各画素列間のつなぎ部分に対応する描画が冗長となった部分あるいは上記予め定められた設計上のN重描画を行なったときに描画が不足となった部分を示す上記各直線部分La(Le)、Lb,L(n)の画像、および、リファレンススケールを構成する各直線部分L(n±1)・・・の画像を取得する。   As described above, each of the above-described portions indicating a portion in which drawing corresponding to a connecting portion between the pixel columns becomes redundant or a portion in which drawing is insufficient when N-fold drawing in the predetermined design is performed. An image of the straight line portions La (Le), Lb, L (n) and an image of each straight line portion L (n ± 1)... Constituting the reference scale are acquired.

そして、上記各直線部分の画像を示す情報に基づいて、描画が冗長となった部分あるいは描画が不足となった部分におけるつなぎ部ずれ量を取得し、上記描画冗長分および描画不足分が補償されるように、画素アレイ中の本露光に使用する画素である使用画素を使用可能画素の中から選択する。すなわち、つなぎ部分にムラが生じないように、使用可能画素中の不使用画素を特定し、上記特定された不使用画素を除いた画素を使用画素として選択する。   Then, based on the information indicating the image of each straight line part, the shift amount of the connecting part in the part where the drawing is redundant or the part where the drawing is insufficient is acquired, and the drawing redundant part and the drawing insufficient part are compensated. As described above, a use pixel which is a pixel used for the main exposure in the pixel array is selected from the usable pixels. That is, the unused pixels in the usable pixels are specified so that unevenness does not occur in the joint portion, and the pixels excluding the specified unused pixels are selected as the used pixels.

そして、使用可能画素のうちの上記選択した使用画素のみを実動させるように設定する。その後、上記設定により上記本露光を実行する。   Then, it is set so that only the selected used pixel among the usable pixels is actually moved. Thereafter, the main exposure is performed according to the setting.

なお、上記直線部分Leの長さと直線部分L(n)、L(n±1)・・・の長さの比較は目視で行うようにしてもよいし、あるいは、上記とは異なる形式の所定の装置により行なうようにしてもよい。   It should be noted that the comparison of the length of the straight line portion Le with the length of the straight line portions L (n), L (n ± 1)... You may make it carry out by the apparatus of.

上記の実施形態に係る露光装置では、光源からの光を画素ごとに変調するDMDを画素アレイとして用いたが、これに限られず、DMD以外の液晶アレイ等の光変調素子や、光源アレイ(たとえば、LDアレイ、有機ELアレイ等)を使用してもよい。   In the exposure apparatus according to the above-described embodiment, the DMD that modulates light from the light source for each pixel is used as the pixel array. However, the present invention is not limited to this, and a light modulation element such as a liquid crystal array other than the DMD or a light source array (for example, LD array, organic EL array, etc.) may be used.

また、上記の実施形態および変更例に係る露光装置の動作形態は、露光ヘッドを常に移動させながら連続的に露光を行う形態であってもよいし、露光ヘッドを段階的に移動させながら、各移動先の位置で露光ヘッドを静止させて露光動作を行う形態であってもよい。   Further, the operation mode of the exposure apparatus according to the above-described embodiment and the modified example may be a mode in which exposure is continuously performed while constantly moving the exposure head, or each step while moving the exposure head step by step. The exposure operation may be performed with the exposure head stationary at the position of the movement destination.

さらに、本発明は、露光装置および露光方法に限らず、露光面をN重描画(Nは2以上の自然数)により描画し、画像データが表す2次元パターンを露光面上に形成する描画装置および描画方法であれば、いかなる装置および方法にも適用可能である。一例としては、たとえばインクジェットプリンタやインクジェット方式のプリント方法が挙げられる。すなわち、一般にインクジェットプリンタのインクジェット記録ヘッドには、記録媒体(たとえば記録用紙やOHPシートなど)に対向するノズル面に、インク滴を吐出するノズルが形成されているが、インクジェットプリンタのなかには、このノズルを格子状に複数配置し、ヘッド自体を走査方向に対して傾斜させて、多重描画により画像を記録可能なものがある。このような2次元配列が採用されたインクジェットプリンタにおいて、ヘッド自体の実際の傾斜角度が理想の傾斜角度からずれていたり、ノズル自体の配置誤差等によってパターン歪みが存在しても、本発明を適用することにより、ヘッドの取付角度誤差やパターン歪みの影響が最小限に抑えられる数のノズルを実際に使用するノズルとして指定し、さらに残留する取付角度誤差やパターン歪みの影響を、多重描画による埋め合わせの効果で均すことができるので、記録画像に生じる解像性や濃度のむらを軽減することができる。   Furthermore, the present invention is not limited to an exposure apparatus and an exposure method, and a drawing apparatus that draws an exposure surface by N-fold drawing (N is a natural number of 2 or more) and forms a two-dimensional pattern represented by the image data on the exposure surface. Any drawing method can be applied to any apparatus and method. As an example, for example, an ink jet printer or an ink jet printing method may be used. That is, in general, an ink jet recording head of an ink jet printer is formed with a nozzle that ejects ink droplets on a nozzle surface facing a recording medium (for example, recording paper or an OHP sheet). There are some in which an image can be recorded by multiple drawing by arranging a plurality of dots in a lattice pattern and tilting the head itself with respect to the scanning direction. In the ink jet printer employing such a two-dimensional arrangement, the present invention is applied even if the actual tilt angle of the head itself is deviated from the ideal tilt angle, or pattern distortion exists due to an arrangement error of the nozzle itself. By specifying the number of nozzles that can be used to minimize the effects of head mounting angle errors and pattern distortion, the remaining mounting angle errors and pattern distortion effects can be compensated by multiple drawing. Therefore, it is possible to reduce the resolution and density unevenness generated in the recorded image.

以上、本発明の実施形態および変更例について詳細に述べたが、これらの実施形態および変更例は例示的なものに過ぎず、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲のみによって定められるべきものであることは言うまでもない。 As mentioned above, although embodiment and modification of this invention were described in detail, these embodiment and modification are only an illustration, and the technical scope of this invention should be defined only by a claim. It goes without saying that it is a thing.

本発明の描画装置の一実施形態である露光装置の外観を示す斜視図The perspective view which shows the external appearance of the exposure apparatus which is one Embodiment of the drawing apparatus of this invention 図1の露光装置のスキャナの構成を示す斜視図1 is a perspective view showing the configuration of a scanner of the exposure apparatus in FIG. (A)は感光材料の露光面上に形成される露光済み領域を示す平面図、(B)は各露光ヘッドによる露光エリアの配列を示す平面図(A) is a plan view showing an exposed area formed on the exposure surface of the photosensitive material, and (B) is a plan view showing an array of exposure areas by each exposure head. 図1の露光装置の露光ヘッドの概略構成を示す斜視図1 is a perspective view showing a schematic configuration of an exposure head of the exposure apparatus of FIG. 図1の露光装置の露光ヘッドの詳細な構成を示す平面図および側面図FIG. 1 is a plan view and a side view showing a detailed configuration of an exposure head of the exposure apparatus of FIG. 図1の露光装置のDMDの構成を示す部分拡大図1 is a partially enlarged view showing the configuration of the DMD of the exposure apparatus of FIG. DMDの動作を説明するための斜視図A perspective view for explaining the operation of the DMD ファイバアレイ光源の構成を示す斜視図The perspective view which shows the structure of a fiber array light source ファイバアレイ光源のレーザ出射部における発光点の配列を示す正面図Front view showing arrangement of light emitting points in laser emitting section of fiber array light source 露光ヘッドの取付角度誤差およびパターン歪みがある際に、露光面上のパターンに生じるむらの例を示した説明図Explanatory drawing showing an example of unevenness in the pattern on the exposure surface when there is an exposure head mounting angle error and pattern distortion 1つのDMDによる露光エリアと、対応するスリットとの位置関係を示した平面図The top view which showed the positional relationship of the exposure area by one DMD, and a corresponding slit. 露光面上の光点の位置を、スリットを用いて測定する手法を説明するための平面図Plan view for explaining the method of measuring the position of the light spot on the exposure surface using a slit 選択された使用画素のみが実動され、露光面上のパターンに生じるむらが改善された状態を示す説明図Explanatory drawing which shows the state where only the selected use pixel is actually moved and the unevenness generated in the pattern on the exposure surface is improved 種々のパターン歪みの例を示した説明図Explanatory drawing showing examples of various pattern distortions 参照露光の第1の例を示した説明図Explanatory drawing showing a first example of reference exposure 参照露光の第2の例を示した説明図Explanatory drawing showing a second example of reference exposure つなぎ部ずれ量を取得する際に露光面上へ描画された画素描画点によって形成された直線を示す図The figure which shows the straight line formed by the pixel drawing point drawn on the exposure surface when acquiring a connection part shift | offset | difference amount つなぎ部ずれ量を取得する際のマイクロミラーの状態と画素描画点で形成された直線部分との対応を示す図、The figure which shows the correspondence with the state of the micromirror at the time of acquiring a joint part shift amount, and the straight line part formed by the pixel drawing point, つなぎ部ずれ量を取得する際に露光したX軸方向に延びる直線部分を示す図The figure which shows the linear part extended in the X-axis direction exposed when acquiring a connection part shift | offset | difference amount リファレンススケールを示す図Diagram showing reference scale

符号の説明Explanation of symbols

10 露光装置
12 感光材料
14 移動ステージ
18 設置台
20 ガイド
22 ゲート
24 スキャナ
26 センサ
28 スリット
30 露光ヘッド
32 露光エリア
36 DMD
38 ファイバアレイ光源
140 使用画素指定手段
150 設定変更手段
160 コントローラ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Exposure apparatus 12 Photosensitive material 14 Moving stage 18 Installation stand 20 Guide 22 Gate 24 Scanner 26 Sensor 28 Slit 30 Exposure head 32 Exposure area 36 DMD
38 Fiber array light source 140 Use pixel designation means 150 Setting change means 160 Controller

Claims (26)

描画面をN重描画(Nは2以上の自然数)により描画し、画像データが表す2次元パターンを該描画面上に形成する描画装置であって、
2次元状に配された多数の使用可能画素を有し前記画像データに応じて前記2次元パターンを構成する描画点群を発生させる画素アレイを備えた、1つまたは複数の描画ヘッドであって、前記使用可能画素の画素列方向と該描画ヘッドの走査方向が所定の設定傾斜角度をなすように、前記描画面に対して取り付けられた描画ヘッドと、
前記描画面に対して各々の前記描画ヘッドを前記走査方向に相対移動させる移動手段と、
各々の前記描画ヘッドについて、前記多数の使用可能画素のうちの前記N重描画に使用する使用画素が実動するように設定する使用画素設定手段を備えていることを特徴とする描画装置。
A drawing apparatus that draws a drawing surface by N-fold drawing (N is a natural number of 2 or more) and forms a two-dimensional pattern represented by image data on the drawing surface.
One or a plurality of drawing heads having a pixel array having a number of usable pixels arranged two-dimensionally and generating a drawing point group constituting the two-dimensional pattern according to the image data A drawing head attached to the drawing surface such that a pixel column direction of the usable pixels and a scanning direction of the drawing head form a predetermined inclination angle;
Moving means for moving each drawing head relative to the drawing surface in the scanning direction;
A drawing apparatus comprising: for each of the drawing heads, use pixel setting means for setting a use pixel to be used for the N-fold drawing among the plurality of usable pixels.
前記使用画素設定手段が、前記描画点群が示す前記描画面上における実際の画素列方向と前記走査方向とがなす実傾斜角度とに基づいて前記使用画素を設定するものであることを特徴とする請求項1記載の描画装置。   The use pixel setting unit sets the use pixel based on an actual inclination angle formed by an actual pixel row direction and the scanning direction on the drawing surface indicated by the drawing point group. The drawing apparatus according to claim 1. 前記使用画素設定手段が、前記使用画素を指定する使用画素指定手段と、前記使用画素のみが実動するように設定を変更する設定変更手段とを備えていることを特徴とする請求項1記載の描画装置。   The said use pixel setting means is provided with the use pixel designation | designated means which designates the said use pixel, and the setting change means which changes a setting so that only the said use pixel operates. Drawing device. 前記設定傾斜角度θが、前記使用可能画素の各画素列をなす画素の個数s、前記使用可能画素の前記画素列方向の画素ピッチp、および前記走査方向と直交する方向に沿った前記使用可能画素の画素列ピッチδに対し、
Figure 2006030986
の関係を満たす角度であることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項記載の描画装置。
The set inclination angle θ is the number s of pixels forming each pixel row of the usable pixels, the pixel pitch p in the pixel row direction of the usable pixels, and the usable along the direction orthogonal to the scanning direction. For pixel column pitch δ of pixels,
Figure 2006030986
The drawing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the angle satisfies the following relationship.
前記使用画素指定手段が、前記使用画素を画素行単位で指定するものであることを特徴とする請求項3または4記載の描画装置。   5. The drawing apparatus according to claim 3, wherein the use pixel designating unit designates the use pixel in units of pixel rows. 前記使用画素指定手段が、前記描画点群が示す前記描画面上における実際の画素列方向と前記走査方向とがなす実傾斜角度を特定し、該実傾斜角度と前記設定傾斜角度との間の誤差を吸収するように、前記使用画素を画素行単位で指定するものであることを特徴とする請求項3から5のいずれか1項記載の描画装置。   The use pixel designating unit specifies an actual inclination angle formed by an actual pixel column direction on the drawing surface indicated by the drawing point group and the scanning direction, and between the actual inclination angle and the set inclination angle. 6. The drawing apparatus according to claim 3, wherein the use pixel is designated in units of pixel rows so as to absorb an error. 前記使用画素指定手段が、前記使用可能画素の画素列のうちの複数に対応する前記描画面上の描画点の複数の列を代表描画点列とし、複数の該代表描画点列の各々について、該代表描画点列の方向と前記走査方向とがなす個別実傾斜角度を特定し、該個別傾斜角度の代表値を、前記実傾斜角度とするものであることを特徴とする請求項6記載の描画装置。   The use pixel specifying means sets a plurality of columns of drawing points on the drawing surface corresponding to a plurality of pixel columns of the usable pixels as a representative drawing point sequence, and for each of the plurality of representative drawing point sequences, 7. The individual actual inclination angle formed by the direction of the representative drawing point sequence and the scanning direction is specified, and a representative value of the individual inclination angle is set as the actual inclination angle. Drawing device. 前記代表値が、前記個別傾斜角度の平均値、中央値、最大値および最小値のいずれかであることを特徴とする請求項7記載の描画装置。   The drawing apparatus according to claim 7, wherein the representative value is one of an average value, a median value, a maximum value, and a minimum value of the individual inclination angles. 各々の前記描画ヘッドの前記画素アレイが、前記描画点群として光点群を発生させるものであることを特徴とする請求項1から8のいずれか1項記載の描画装置。     9. The drawing apparatus according to claim 1, wherein the pixel array of each of the drawing heads generates a light point group as the drawing point group. 各々の前記描画ヘッドの前記画素アレイが、前記描画点群として光点群を発生させるものであり、
前記使用画素指定手段が、
各々の前記描画ヘッドについて、前記光点群を構成する光点の前記描画面上における位置を検出する位置検出手段と、
各々の前記描画ヘッドについて、前記位置検出手段による検出結果に基づいて、前記描画面上の、前記使用画素の画素列間のつなぎ部分による描画個所を少なくとも1つ含む代表領域において、理想的な前記N重描画に対して描画が冗長となる部分および理想的な前記N重描画に対して描画が不足となる部分の合計が最小となるように、前記使用可能画素中の不使用画素を特定し、該不使用画素を除いた画素を前記使用画素として選択する選択手段を備えていることを特徴とする請求項3または4記載の描画装置。
The pixel array of each of the drawing heads generates a light spot group as the drawing point group,
The use pixel designation means is
For each of the drawing heads, position detecting means for detecting a position on the drawing surface of a light spot constituting the light spot group;
For each of the drawing heads, based on the detection result of the position detection unit, in the representative region including at least one drawing portion by a connecting portion between pixel rows of the used pixels on the drawing surface, the ideal The unused pixels in the usable pixels are specified so that the sum of the portion where the drawing is redundant with respect to the N-fold drawing and the portion where the drawing is insufficient with respect to the ideal N-fold drawing is minimized. 5. The drawing apparatus according to claim 3, further comprising selection means for selecting a pixel excluding the unused pixel as the used pixel.
各々の前記描画ヘッドの前記画素アレイが、前記描画点群として光点群を発生させるものであり、
前記使用画素指定手段が、
各々の前記描画ヘッドについて、前記光点群を構成する光点の前記描画面上における位置を検出する位置検出手段と、
各々の前記描画ヘッドについて、前記位置検出手段による検出結果に基づいて、前記描画面上の、前記使用画素の画素列間のつなぎ部分による描画個所を少なくとも1つ含む代表領域において、理想的な前記N重描画に対して描画が冗長となる部分の描画点数と、理想的な前記N重描画に対して描画が不足となる部分の描画点数とが等しくなるように、前記使用可能画素中の不使用画素を特定し、該不使用画素を除いた画素を前記使用画素として選択する選択手段を備えていることを特徴とする請求項3または4記載の描画装置。
The pixel array of each of the drawing heads generates a light spot group as the drawing point group,
The use pixel designation means is
For each of the drawing heads, position detecting means for detecting a position on the drawing surface of a light spot constituting the light spot group;
For each of the drawing heads, based on the detection result of the position detection unit, in the representative region including at least one drawing portion by a connecting portion between pixel columns of the used pixels on the drawing surface, the ideal The number of drawing points in the usable pixel is equal to the number of drawing points in the portion where the drawing is redundant with respect to the N-fold drawing and the number of drawing points in the portion where the drawing is insufficient with respect to the ideal N-fold drawing. 5. The drawing apparatus according to claim 3, further comprising selection means for specifying a used pixel and selecting a pixel excluding the unused pixel as the used pixel.
各々の前記描画ヘッドの前記画素アレイが、前記描画点群として光点群を発生させるものであり、
前記使用画素指定手段が、
各々の前記描画ヘッドについて、前記光点群を構成する光点の前記描画面上における位置を検出する位置検出手段と、
各々の前記描画ヘッドについて、前記位置検出手段による検出結果に基づいて、前記描画面上の、前記使用画素の画素列間のつなぎ部分による描画個所を少なくとも1つ含む代表領域において、理想的な前記N重描画に対して描画が冗長となる部分が最小となり、かつ、理想的な前記N重描画に対して描画が不足となる部分が生じないように、前記使用可能画素中の不使用画素を特定し、該不使用画素を除いた画素を前記使用画素として選択する選択手段を備えていることを特徴とする請求項3または4記載の描画装置。
The pixel array of each of the drawing heads generates a light spot group as the drawing point group,
The use pixel designation means is
For each of the drawing heads, position detecting means for detecting a position on the drawing surface of a light spot constituting the light spot group;
For each of the drawing heads, based on the detection result of the position detection unit, in the representative region including at least one drawing portion by a connecting portion between pixel rows of the used pixels on the drawing surface, the ideal In order to minimize the portion where drawing becomes redundant with respect to N-fold drawing, and to prevent the occurrence of a portion where drawing is insufficient with respect to the ideal N-fold drawing, unused pixels in the usable pixels are set. 5. The drawing apparatus according to claim 3, further comprising selection means for specifying and selecting a pixel excluding the unused pixel as the used pixel.
各々の前記描画ヘッドの前記画素アレイが、前記描画点群として光点群を発生させるものであり、
前記使用画素指定手段が、
各々の前記描画ヘッドについて、前記光点群を構成する光点の前記描画面上における位置を検出する位置検出手段と、
各々の前記描画ヘッドについて、前記位置検出手段による検出結果に基づいて、前記描画面上の、前記使用画素の画素列間のつなぎ部分による描画個所を少なくとも1つ含む代表領域において、理想的な前記N重描画に対して描画が不足となる部分が最小となり、かつ、理想的な前記N重描画に対して描画が冗長となる部分が生じないように、前記使用可能画素中の不使用画素を特定し、該不使用画素を除いた画素を前記使用画素として選択する選択手段を備えていることを特徴とする請求項3または4記載の描画装置。
The pixel array of each of the drawing heads generates a light spot group as the drawing point group,
The use pixel designation means is
For each of the drawing heads, position detecting means for detecting a position on the drawing surface of a light spot constituting the light spot group;
For each of the drawing heads, based on the detection result of the position detection unit, in the representative region including at least one drawing portion by a connecting portion between pixel rows of the used pixels on the drawing surface, the ideal The unused pixels in the usable pixels are set so that the portion where the drawing is insufficient with respect to the N-fold drawing is minimized and the portion where the drawing is redundant with respect to the ideal N-fold drawing does not occur. 5. The drawing apparatus according to claim 3, further comprising selection means for specifying and selecting a pixel excluding the unused pixel as the used pixel.
前記不使用画素が画素行単位で特定されることを特徴とする請求項10から13のいずれか1項記載の描画装置。   The drawing device according to claim 10, wherein the unused pixels are specified in units of pixel rows. 前記選択手段が、前記位置検出手段による少なくとも2つの前記光点の位置の検出結果に基づいて、前記光点群が示す前記描画面上に投影された実際の画素列方向と前記走査方向とがなす実傾斜角度を特定し、該実傾斜角度に基づいて、前記不使用画素を特定するものであることを特徴とする請求項10から14のいずれか1項記載の描画装置。   Based on the detection result of the position of at least two light spots by the position detection means, the selection means determines the actual pixel column direction projected on the drawing surface indicated by the light spot group and the scanning direction. The drawing apparatus according to claim 10, wherein an actual inclination angle formed is specified, and the unused pixels are specified based on the actual inclination angle. 前記選択手段が、前記使用可能画素の画素列のうちの1つに対応する前記描画面上の前記光点の1つの列を代表光点列とし、該代表光点列およびその近傍の光点列をなす光点のうち、少なくとも2つの光点の位置の前記位置検出手段による検出結果に基づいて、前記実傾斜角度を特定するものであることを特徴とする請求項15記載の描画装置。   The selecting means sets one column of the light spots on the drawing surface corresponding to one of the pixel columns of the usable pixels as a representative light spot row, and the representative light spot row and its neighboring light spots. 16. The drawing apparatus according to claim 15, wherein the actual inclination angle is specified based on a detection result of the position detection unit by at least two light spots among light spots forming a row. 前記選択手段が、前記使用可能画素の画素列のうちの複数に対応する前記描画面上の前記光点の複数の列を代表光点列とし、複数の該代表光点列の各々について、該代表光点列およびその近傍の光点列をなす光点のうち、少なくとも2つの光点の位置の前記位置検出手段による検出結果に基づいて、該代表光点列の方向と前記走査方向とがなす個別実傾斜角度を特定し、該個別傾斜角度の代表値を、前記実傾斜角度とするものであることを特徴とする請求項15記載の描画装置。   The selecting means sets a plurality of columns of the light spots on the drawing surface corresponding to a plurality of pixel columns of the usable pixels as a representative light spot row, and for each of the plurality of representative light spot rows, Based on the detection results of the position detection means of the positions of at least two light spots among the light spots forming the representative light spot train and the light spot train in the vicinity thereof, the direction of the representative light spot train and the scanning direction are 16. The drawing apparatus according to claim 15, wherein an individual actual inclination angle to be formed is specified, and a representative value of the individual inclination angle is set as the actual inclination angle. 前記代表値が、前記個別傾斜角度の平均値、中央値、最大値および最小値のいずれかであることを特徴とする請求項17記載の描画装置。   The drawing apparatus according to claim 17, wherein the representative value is one of an average value, a median value, a maximum value, and a minimum value of the individual inclination angles. 前記使用画素指定手段において前記使用画素を指定するため、各々の前記描画ヘッドについて、前記多数の使用可能画素のうち、前記Nに対して(N−1)本おきの画素列を構成する画素のみを使用して、参照描画を行う参照描画手段をさらに備えていることを特徴とする請求項3または4記載の描画装置。   In order to designate the use pixel in the use pixel designation means, for each of the drawing heads, among the many usable pixels, only the pixels constituting every (N−1) pixel rows with respect to N The drawing apparatus according to claim 3, further comprising reference drawing means for performing reference drawing using the. 前記使用画素指定手段において前記使用画素を指定するため、各々の前記描画ヘッドについて、前記多数の使用可能画素のうち、前記Nに対して、該使用可能画素の全画素行数の1/N本に相当する互いに隣接する画素行の群を構成する画素のみを使用して、参照描画を行う参照描画手段をさらに備えていることを特徴とする請求項3または4記載の描画装置。   In order to designate the use pixel in the use pixel designating means, for each of the drawing heads, among the many usable pixels, for the N, 1 / N of the total number of pixel rows of the usable pixels 5. The drawing apparatus according to claim 3, further comprising reference drawing means for performing reference drawing using only pixels constituting a group of pixel rows adjacent to each other corresponding to. 前記画像データが表す前記2次元パターンの所定部分の寸法が、指定された前記使用画素により実現できる対応部分の寸法と一致するように、前記画像データを変換するデータ変換手段をさらに備えていることを特徴とする請求項1から20のいずれか1項記載の描画装置。   Data conversion means is further provided for converting the image data so that the size of the predetermined portion of the two-dimensional pattern represented by the image data matches the size of the corresponding portion that can be realized by the designated use pixel. The drawing apparatus according to any one of claims 1 to 20, wherein: 前記画素アレイが、光源からの光を前記画像データに応じて画素ごとに変調する空間光変調素子であることを特徴とする請求項1から21のいずれか1項記載の描画装置。   The drawing apparatus according to claim 1, wherein the pixel array is a spatial light modulator that modulates light from a light source for each pixel according to the image data. 前記Nが3以上7以下の自然数であることを特徴とする請求項1から22のいずれか1項記載の描画装置。   The drawing apparatus according to claim 1, wherein the N is a natural number of 3 or more and 7 or less. 2次元状に配された多数の使用可能画素を有し画像データに応じて該画像データが表す2次元パターンを構成する描画点群を発生させる画素アレイを備えた、1つまたは複数の描画ヘッドであって、前記使用可能画素の画素列方向と該描画ヘッドの走査方向が所定の設定傾斜角度をなすように、描画面に対して取り付けられた描画ヘッドを用いた描画方法であって、
各々の前記描画ヘッドについて、前記多数の使用可能画素のうちのN重描画(Nは2以上の自然数)に使用する使用画素が実動するように設定する工程と、
前記描画面に対して各々の前記描画ヘッドを前記走査方向に相対移動させながら、前記描画ヘッドを動作させ、前記2次元パターンを前記描画面上に形成する工程を含むことを特徴とする描画方法。
One or a plurality of drawing heads having a pixel array that has a number of usable pixels arranged two-dimensionally and generates a drawing point group constituting a two-dimensional pattern represented by the image data according to the image data A drawing method using a drawing head attached to a drawing surface so that a pixel column direction of the usable pixels and a scanning direction of the drawing head form a predetermined inclination angle,
For each of the drawing heads, a step of setting a use pixel to be used for N-fold drawing (N is a natural number of 2 or more) of the large number of usable pixels;
A drawing method comprising the step of forming the two-dimensional pattern on the drawing surface by operating the drawing head while moving each drawing head relative to the drawing surface in the scanning direction. .
前記使用画素の設定を、前記描画点群が示す前記描画面上における実際の画素列方向と前記走査方向とがなす実傾斜角度とに基づいて行なうようにしたことを特徴とする請求項24記載の描画方法。   25. The use pixel is set based on an actual inclination angle formed by an actual pixel row direction and the scanning direction on the drawing surface indicated by the drawing point group. Drawing method. 前記使用画素が実働するように設定する工程が、使用画素を指定する工程と、前記使用画素のみが実動するように設定を変更する工程とを含むことを特徴とする請求項24記載の描画方法。   25. The drawing according to claim 24, wherein the step of setting so that the use pixel actually operates includes the step of designating the use pixel and the step of changing the setting so that only the use pixel operates. Method.
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