JP2005530174A - マルチ光学チャンネル - Google Patents

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Abstract

本発明は、測量、例えば装置から対象物までの距離測定のための、電子距離測定装置に関する。その装置は、a)光軸(OA)を定義する対物レンズ(101)と、b)前記対象物からの反射において前記対物レンズ(101)によって受光される異なる波長の光線(λ1、λ2)を前記対象物の方へ伝送するための、構造光の少なくとも2つの光源(111、112)と、c)前記対物レンズ(101)で定義される光路(109)の外側に配置され、且つ構造光の前記受光された光線(λ1、λ2)を受光するよう適合された、少なくとも2つの受光器(141、142)と、を有する。さらに光学手段が、前記光軸(OA)に関する傾斜角(α1、α2)でそれぞれ配置された少なくとも2つのダイクロイック面(121a、122a)を有し、且つ前記光軸(OA)は前記面を突き通し、プレート(121、122)に前記ダイクロイック面の少なくとも1つが配置され、さらに前記の少なくとも2つのダイクロイック面(121a、122a)は、前記受光器(141、142)の方へ、前記受光された構造光(λ1、λ2)の少なくとも1つを反射するようにそれぞれ適合される。

Description

本発明は、一般的に、対象物の方へ光線を伝送させるための構造光の光源と、その対象物で反射された場合その反射された構造光線を受光するように適合された受光器と、その受光される光線は伝送光と同軸であり、対物レンズ及びその間に配置される光学手段を有するレチクルとを有し、対物レンズとレチクルとが光軸を定義する、自動測量器に関する。より詳しくは、本発明は受光器に反射光の方向を変えるための配置に関する。
現存するタイプの自動測量器は、距離測定、追尾(tracking)及び観察、若しくは手動照準のために、受光された光を分離したチャンネルに分割可能な望遠鏡系を有する。距離測定及び追尾機能のために伝送光線は、受光光学機器に対して同軸であることが好ましい。
ターゲットの対象物で反射され、且つその測量器で受光された光線は、その目的によって、追尾用、距離測定用の光及び観察用の可視光線といった異なる波長成分に分割される。このように分割された追尾光、距離測定光を用いることにより、距離測定及び自動追尾を実行してもよい。
先行技術によると、1より多数のチャンネルを用いるそのような装置は、異なるチャンネルに光線を分割又は分離するために、ダイクロイックコートが施されたプリズム若しくはそのようなコートを有さないプリズムの異なるタイプのものを受光器で使用する。
この文脈においてダイクロイックという単語は、その振動面にかかわらず、波長の関数として選択的な光の反射及び透過を示す、ダイクロイックミラー、ダイクロイックプリズム、若しくはダイクロイックコートを表す。そのためダイクロイックミラーは、その波長によって選択的に光を反射し、他の波長を有する光を透過する。プリズム、即ち直角プリズムの使用は、本来長い組み立て距離(building lengths)を要し、プリズム内に必要とされるフィルタを備える点、及びプリズムの製造コストが高いという点で本質的に高コストである点においてに問題を有する。
例えば、EP−1081459号及びEP−0987517号は関連技術に所属するものである。これらにおいて、プリズム使用に関する問題の議論を見つけることができる。EP−0987517号では、例えば、その配置には幾つかのプリズムを含み、そのうちの2個のダイクロイックプリズムを用いて異なる波長を有する2本の光線を分離する。EP−1081459号では、プリズムが開示されるだけでなく、一つのダイクロイックプレートが異なる波長を持つ光線を分離するために用いられる。しかし、そのダイクロイックプレートは装置の光軸に対して垂直に配置され、そのため同軸方向に光を反射し、一方他の波長にそのプレートを透過させる。
しかし、プリズムの使用はある問題を持ち込む。欠点は、ガラスが光路を伸長し、よって組み立て距離が増大し、プリズムのサイズが大きくなり、プリズムが重くなるという事実である。プリズム面間の平行性における要求は非常に厳しく、且つガラス内にダイクロイックフィルタを作ることは空気とガラス間の表面上に作るよりも困難である。この全てが、プリズムが大きく、高価になり、望遠鏡がより大きく、より重くなることを意味する。より高度なプリズム構成は組み立て距離を減ずることが可能であるものの、そのプリズムを提供するためにさらにコストが増大し、そこから複雑な構造がもたらされる。加えて、そのプリズムは、装置をより大きく、より重くさせ、対象物を自動的に追尾する時のように、増大するパワー消費といった他の問題を引き起こす。
可視光において使用される波長の例は、コリメート目的において400nmから650nmの範囲である。距離測定のために、660nmの可視光又は850nmの赤外光を用いることができ、追尾のために785nmの赤外光を用いることができる。これらの波長域は、一般的に、視覚チャンネル、追尾チャンネル等といった個別のタイプのチャンネルと呼ばれる。
本発明は、簡単かつ安価な解により、上述の問題を克服することを意図する。
この目的は最初に定義された種類の自動測量装置によって達成され、ここで傾けたダイクロイックプレートが対物レンズ及びこの装置のレチクルで定義される光軸上に主として配置され、本発明によると、好ましくは観察チャンネル、即ち装置を通してターゲットを観察する際に用いられる可視光に対する光路もまた一致する。第2のミラーは装置内で光路を折り曲げるために用いてもよい。これらの第2のミラーは、ダイクロイックタイプであってもよい。
異なるチャンネルを分離するためのプリズムをプレートで置換することは、より簡単な部品、より簡単なコーティング、及び一般的により短い望遠鏡長をもたらす。プリズムの使用について上記で言及したように、チャンネルは、第1面を通して空気中からプリズムへ入射し、空気中へプリズムを出射する、プリズムを通じた経路によって分離され、または反射され、若しくは分離かつ反射される。そのプロセス中、光(赤外光または可視光)は、プリズムの第2面で反射された後、プリズムの第3面を通じてプリズムを出射するか、またはその第2面を通じて透過することが許される。プリズム内で結果的に決まる光路は、用いられるプリズム材質のタイプに依存するか、またはこの場合ではダイクロイックコーティングを有するプリズムの第2面に依存する。短い望遠鏡長が望まれるということによって、これはプリズムの複雑さを増大させるであろう。
本発明によれば、プリズムは傾けたダイクロイックプレート及びミラー、若しくはその一方で置き換えられる。しかし、一つのプリズムを光路の一つに使用してもよい。これは、以下に示されるように、より簡単な部品、より簡単なコーティング、より安価なコスト、及びより短い望遠鏡長をもたらす。
傾けたダイクロイックプレートを用いることによって、反射光線が装置の主たる光軸と非同軸となる方向に異なるチャンネルを反射することが可能であり、そのため開口及びフォーカスレンズで定義されるようなボリュームに近接して置かれた、受光器又はセンサを設定することが可能となる。しかしながら、そのプレートは安定するために必然的に一定の厚みを持たなければならないため、そのプレートは、プレートを透過する光線に光学収差、例えばコマ収差や非点収差を生じさせるであろう。
これらの影響は、以下の異なる実施態様に示される幾つかの方法で補償され得る。
−わずかにくさび状としたプレートの作成は、傾いたプレートから収差を補正する。くさび角は、その傾き角及びプレート厚に応じて選択されなければならない。当業者は、光学設計プログラムを用いて、くさび角を最適化できる。
−第2の方法は、第1のプレートの傾き軸に直交する軸を中心として第3の平行平面補償プレート(plane-parallel compensating plate)を加えることである。
−互いに直交する軸を中心として2つの平行平面板を傾けることは、その傾きによって生じた収差を低減させる第3の手法である。
図において、同様の細部は対応する参照番号を用いて示される。
図1に、対物レンズ101a及び101bが光軸OAを定義する、本発明による装置の第1の好ましい実施態様を示す。この光軸上に、フォーカスレンズ104及びレチクル105が見られる。フォーカスレンズ104は、当業者にとって公知であるように、レチクル上に入射光をフォーカスするために移動可能となっている。像はアイピース106を通して観察可能となっている。対物レンズに近接して、また好ましくはレンズ101bの内側に取り付けられて、反射面103を備えるプリズム102が光軸OA上に配置される。プリズム102の反射面103には、ダイクロイックコート103を施してもよい。このプリズムの目的は、レーザや発光ダイオード(LED)のような構造光の光源といった形式の2つのトランスミッタ111及び112からの構造光λ1及びλ2を反射することであり、対物レンズ101を通してターゲットの方へその構造光が反射される、プリズム102を通じた伝送光路を形成する。その図示されたプリズムは、”直角プリズム”として用いられる45°−90°−45°といった形式であり、即ちそのプリズムは、光線を90°曲げて方向を変える。これは、光線λ1及びλ2が、光軸に対して直角に、光軸へ達することを要求する。このセットアップは、配列を簡単にする。しかしながら、この直交性は必ずしも本発明の本質的な要素ではない。
図に示されるように、光線λ1及びλ2の両方とも同軸的に対物レンズ101を出射する。これを実現するために、直接的に、若しくは導波路を通して、ミラー113及び114へ入射する反射光が、プリズム102にぶつかる同軸光を形成するように、即ち、トランスミッタ111から伝送された光線λ1がミラー113で反射され、そしてミラー114を透過し、一方トランスミッタ112から伝送された光線λ2はミラー114で反射され共通の光路を形成するように、トランスミッタは光線λ1及びλ2がそれぞれ個々のダイクロイックミラー113及び114で反射されるように配置されている。
ターゲットで反射された光は、伝送波長で組み合わされた光線といった形式で対物レンズに到達し、通常、対物レンズの全域を覆うように広がる。プリズム102は対物レンズの領域に対して小さく、そのためターゲットで反射された、組み合わされた光線λ1、λ2の相対的に小さな部分を遮断するにすぎないということを理解されたい。
二つのダイクロイックプレート121及び122は、プリズム102とレチクル105との間に、光軸OA上で反射光に対して傾けて配置される。この文脈において”傾ける”とは、プレートが光軸OAに対して垂直でないように配置されるという意味である。波長λ1である光線の一部は、第1の傾けられたプレート121でミラー131の方へ反射され、そしてミラー131はその光線を検出器141の方へ反射する。同様に波長λ2である光線の一部は、傾けられたプレート122上へ第1のプレート121を透過し、第2のミラー132の方へ反射され、ミラー132はその光線を検出器142の方へ反射する。それらプレートは傾けられており、光線に対しても垂直ではない。図に示されるように、ミラーもまた光線に対して垂直であることを要求されない。無論、ミラーは受光器の方へ光線を偏向させるように配置されなければならない。
二つの受光器141及び142は、対物レンズ101で決められる光路109の外側に配置される。
この実施態様では、さらに波長λ3の光を放射可能なエミッタ115が光軸に対して垂直に配置されることが示される。これは例えばターゲットを指し示すことを助けるための可視光線のような、いくつかの第3の理由のために使用してもよい。
図1aの詳細を示す図1bにおいて、傾き角αが示される。その傾き角は、プレートに対する法線N1、N2と、光軸OAとがなす角として定義される。プレートが傾けられる中心としての軸、例えば150として示される軸は、以下で関心の対象となる傾き方向を定義する。
図2aでは、本発明による第2の実施態様が示され、対応する細部を示すために類似の番号が用いられる。レンズ系201、プリズム202、フォーカスレンズ204、レチクル205、アイピース206、及び光軸OAは互いに同様であり、本質的に同じ用途を担う。
この第2の実施態様において、波長λ1の光を伝送するトランスミッタ211は第1の実施態様のように配置される。波長λ2の光を伝送する第2のトランスミッタ212は第1の実施態様におけるトランスミッタ115と同様の手法で配置され、1つのダイクロイックミラーを不要とする。
ターゲットで反射された光におけるλ1についての光路は、ダイクロイックミラー221とミラー231を経て受光器241の方へ向かい、第1の実施態様と本質的に同様である。さらに、波長λ2である、1回反射された光が受光器242の方へ向けられるように、ダイクロイックプレート221及び222の傾き角が変えられている。これは、プレート221との距離を変化させること、又はプレート222で反射されたλ2の光線がプレート221と本質的に近接して通過しつつ、即ちプレート221はプレート222で反射された光線には届かずに、受光器へ到達させるように、プレートの傾き角を変えること、若しくはその両方によって達成される。この図はまた第2の反射ミラーなしに検出器へ光線を向ける能力を示している。
ダイクロイックプレートは、観察チャンネルにおいて光学収差を補正するためにくさび形状としてもよい。これは、2枚のプレート221及び222が示され、光軸OAが表示された図2bに図示される。プレートのくさび形状は0−30秒の角度を規定し、光学収差を補正する。このタイプの補正は、図1に記述した実施態様において使用してもよいことを理解されたい。さらに他の実施態様において、くさび形状を単独で、若しくはプレートによって引き起こされる光学収差に対する他のいくつかの補正と組み合わせて、使用してもよい。
図3では、本発明による第3の実施態様が示され、対応する細部を示すために類似の番号が用いられる。この実施態様では、収差補正は、補償プレート307によって達成される。レンズ系301、プリズム302、フォーカスレンズ304、レチクル305、アイピース306、及び光軸OAは互いに同様であり、同じ用途を担う。
この3番目の実施態様において、波長λ1の光を伝送するトランスミッタ311及び波長λ2の光を伝送する第2のトランスミッタ312は、プリズム302の方へ光を折り曲げるためのダイクロイックミラー313及び314を用いて、実施態様1と同様な手法で配置される。
ターゲットで反射された光におけるλ1についての光路は、ダイクロイックミラー321及び331を経て受光器341の方へ向かい、第1の実施例と本質的に同一である。光線λ2は、本質的に図1のようにミラー322及び332で受光器342へ反射される光路を有する。
この実施態様では、他のプレートの傾斜軸に関して90°方向を向く傾斜軸を有する補償プレート307が、プレート321及び322を透過しなければならない可視光によって観察チャンネルに生じた光学収差を補正するために挿入される。
図4aでは、本発明による第4の実施態様が示され、対応する細部を示すために類似の番号が用いられる。レンズ系401、プリズム402、フォーカスレンズ404、レチクル405、アイピース406、及び光軸OAは互いに同様であり、同じ用途を担う。
この第4の実施態様では、波長λ1の光を伝送する第1のトランスミッタ411は光軸OAに垂直に配置され、また波長λ2の光を伝送する第2のトランスミッタ412は、光軸OAと同軸に配置され、プリズム402の方へ光を折り曲げるためにダイクロイックミラー414を用いる。
波長λ2の光路は、検出器442の方向へダイクロイックミラー422によって反射され、この場合プレート422の傾斜軸はプレート421の傾斜軸に対して垂直に向いている。これは、光学収差を補正する第3の方法を表す。
ターゲットで反射された光におけるλ1についての光路は、ダイクロイックミラー421及び431を経て受光器441の方へ向かい、第1の実施例と本質的に同一である。光線の一部である、波長λ1の光は、検出器441の方へ光線を反射する、さらなるダイクロイックプレート431の方へ第1の傾いたプレート421で反射される。この実施態様では、第2のプレート422の傾斜軸は、第1のプレート421の傾斜軸に対して本質的に垂直に配置され、そのため第1のプレートからの観察チャンネルにおける光学収差について補正する役目を果たす。
図4bに上面図(図4aの詳細)を示す。軸451及び450がプレートを中心として傾いていることが示されている。
図5では、本発明による第5の実施態様が示され、対応する細部を示すために類似の番号が用いられる。レンズ系501、プリズム502、フォーカスレンズ504、レチクル505、アイピース506、及び光軸OAは互いに同様であり、同じ用途を担う。
さらに、図5ではダイクロイックプレート521及びダイクロイックプリズム522の組み合わせが示される。波長λ1を有する光線及び波長λ2を有する光線は、それぞれ、送信器511及び512から伝送される。ターゲットで反射された光におけるλ1についての光路は、ダイクロイックミラー521及び531を経て受光器541の方へ向かい、第1の実施例と本質的に同一である。この場合、必要であれば、プレートをわずかにくさび形状に作ることで、光学収差を補正することができる。
述べてきた実施態様は、本発明による実施態様のほんの一例にすぎないことを理解されたい。ダイクロイックプレートは複雑なプリズム系と比較して相対的に安価なため、また相対的なコンパクトさを本発明によって達成可能であるため、追尾及び距離測定装置における、全体としてコンパクトかつ軽量な装置設計に寄与する。
本発明による第1の実施態様の側面図を概略的に示した図である。 図1aの詳細図である。 本発明による第2の実施態様の側面図を概略的に示した図である。 くさび角の定義の図2aの詳細を概略的に示した図である。 本発明による第3の実施態様の側面図を概略的に示した図である。 本発明による第4の実施態様の側面図を概略的に示した図である。 上面図において図4aの詳細を概略的に示した図である。 本発明による第5の実施態様の側面図を概略的に示した図である。

Claims (10)

  1. 測量、例えば装置から対象物までの距離測定のための、電子距離測定装置であって、
    a)光軸(OA)を定義する対物レンズ(101)と、
    b)前記対象物からの反射において前記対物レンズ(101)によって受光される異なる波長の光線(λ1、λ2)を前記対象物の方へ伝送するための、構造光の少なくとも2つの光源(111、112)と、
    c)前記対物レンズ(101)で定義される光路(109)の外側に配置され、且つ構造光の前記受光された光線(λ1、λ2)を受光するよう適合された、少なくとも2つの受光器(141、142)と、を有し、
    光学手段が前記光軸(OA)に関する傾斜角(α1、α2)でそれぞれ配置された少なくとも2つのダイクロイック面(121a、122a)を有し、且つ前記光軸(OA)は前記面を突き通し、プレート(121、122)に前記ダイクロイック面の少なくとも1つが配置され、さらに前記の少なくとも2つのダイクロイック面(121a、122a)は、前記受光器(141、142)の方へ、前記受光された構造光(λ1、λ2)の少なくとも1つを反射するようにそれぞれ適合されることを特徴とする装置。
  2. 前記ダイクロイック面(121a、122a)は、それぞれ分離プレート(121、122)に配置される、請求項1に記載の電子距離測定装置。
  3. 前記ダイクロイック面の1つは、プレート(621)に配置され、且つ他の前記ダイクロイック面はプリズム(625)に配置される、請求項1に記載の電子距離測定装置。
  4. 前記光線(λ1、λ2)を伝送するための構造光の前記の少なくとも2つの光源(111、112)は、前記対物レンズ(101)に近接して配置された光方向変更部材(102)の方へ前記光線を伝送するように適合される、請求項1に記載の電子距離測定装置。
  5. 前記光方向変更部材は、方向変更プリズム(102)である、請求項4に記載の電子距離測定装置。
  6. 前記方向変更プリズム(102)は、前記対物レンズ(101b)に取り付けられる、請求項5に記載の電子距離測定装置。
  7. 前記ダイクロイック面(121a、122a)で反射された、前記受光された構造光線(λ1、λ2)の少なくとも1つについて向きを変更するために、少なくとも1つのミラー(131、132)が前記光軸(OA)に近接して配置される、
    請求項2又は請求項3に記載の電子距離測定装置。
  8. 前記ダイクロイックプレート(221、222)は、収差誤差に対する補正を提供するために、くさび形状である、請求項2に記載の電子距離測定装置。
  9. 補償プレート(307)が、フォーカスレンズ(304)と近接したダイクロイックプレート(322)との間に挿入され、前記プレートの傾斜方向をプレートが前記光軸に関して回転される中心となる前記プレートの面における軸で定義し、二つのプレートの傾斜方向が互いに略90°の角をなす配置となるように、前記補償プレート(307)及び前記ダイクロイックプレート(322)の傾斜方向が選ばれる、請求項2に記載の電子距離測定装置。
  10. プレートの傾斜方向をプレートが前記光軸に関して回転される中心となる前記プレートの面における軸で定義し、2つのプレートの傾斜方向が互いに略90°の角をなす配置となるように、2つのダイクロイックプレート(521、522)の前記傾斜方向を選んで2つのダイクロイックプレート(521、522)を配置する、請求項2に記載の電子距離測定装置。
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WO (1) WO2004001333A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012093245A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Topcon Corp レーザ測量機
JP2017110964A (ja) * 2015-12-15 2017-06-22 株式会社トプコン 光波距離測定装置
JP2019023650A (ja) * 2018-09-21 2019-02-14 株式会社トプコン 光波距離測定装置

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1662278A1 (de) * 2004-11-27 2006-05-31 Leica Geosystems AG Plankonvex- oder Plankonkavlinse mit damit verbundenem Umlenkmittel
US7292179B2 (en) 2005-04-11 2007-11-06 Lockheed Martin Corporation Instantaneous passive range finding
DE602006014263D1 (de) 2006-07-03 2010-06-24 Trimble Ab Vermessungsinstrument und Verfahren zur Steuerung eines Vermessungsinstruments
US8978440B2 (en) 2008-02-29 2015-03-17 Trimble Ab Automated calibration of a surveying instrument
DE102009028861B4 (de) * 2009-08-25 2015-03-05 Trimble Jena Gmbh Messvorrichtung mit verringertem Anteil an Störlicht und Herstellungsverfahren für diese
WO2014067579A1 (en) 2012-11-01 2014-05-08 Trimble Ab Tracker unit and method in a tracker unit
CN106062511B (zh) 2013-12-05 2018-12-04 特林布尔有限公司 大地测量仪器和操作大地测量仪器的方法
EP3640590B1 (en) * 2018-10-17 2021-12-01 Trimble Jena GmbH Surveying apparatus for surveying an object
EP3640677B1 (en) 2018-10-17 2023-08-02 Trimble Jena GmbH Tracker of a surveying apparatus for tracking a target
EP3696498A1 (en) 2019-02-15 2020-08-19 Trimble Jena GmbH Surveying instrument and method of calibrating a survey instrument
EP3885789A1 (en) 2020-03-26 2021-09-29 Leica Geosystems AG Distance measuring device
RU2756383C1 (ru) * 2021-04-02 2021-09-29 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха" Приемный канал лазерного дальномера

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61243385A (ja) * 1985-04-22 1986-10-29 Toshiba Corp 光波測距装置
JPH07280513A (ja) * 1994-04-14 1995-10-27 Omron Corp 光学装置
JPH109827A (ja) * 1996-06-24 1998-01-16 Omron Corp 高さ判別装置および方法
JPH10170239A (ja) * 1996-10-08 1998-06-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 3次元形状計測装置
WO2000016122A1 (en) * 1998-09-17 2000-03-23 Spectra Precision Ab Electronic distance measuring device
JP2001117019A (ja) * 1999-08-31 2001-04-27 Leica Geosystems Ag タキメータ望遠鏡
JP2001318308A (ja) * 2000-05-09 2001-11-16 Asahi Optical Co Ltd 光波測距儀及びaf機能を有する光波測距儀

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5600487A (en) * 1994-04-14 1997-02-04 Omron Corporation Dichroic mirror for separating/synthesizing light with a plurality of wavelengths and optical apparatus and detecting method using the same
US5936736A (en) 1996-09-30 1999-08-10 Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha Focusing method and apparatus for a surveying instrument having an AF function, and arrangement of an AF beam splitting optical system therein
JP3154047B2 (ja) * 1996-10-25 2001-04-09 旭精密株式会社 Af機能を有する測量機
US5914817A (en) * 1998-05-15 1999-06-22 Optical Coating Laboratory, Inc. Thin film dichroic color separation filters for color splitters in liquid crystal display systems
JP4023572B2 (ja) 1998-09-18 2007-12-19 株式会社トプコン 自動測量機
JP2000329517A (ja) 1999-05-21 2000-11-30 Topcon Corp 距離測定装置
US6844963B2 (en) * 2000-03-23 2005-01-18 Olympus Optical Co., Ltd. Double-resonance-absorption microscope
US6586748B1 (en) * 2000-06-06 2003-07-01 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Non-invasive water current measurement system and method

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61243385A (ja) * 1985-04-22 1986-10-29 Toshiba Corp 光波測距装置
JPH07280513A (ja) * 1994-04-14 1995-10-27 Omron Corp 光学装置
JPH109827A (ja) * 1996-06-24 1998-01-16 Omron Corp 高さ判別装置および方法
JPH10170239A (ja) * 1996-10-08 1998-06-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 3次元形状計測装置
WO2000016122A1 (en) * 1998-09-17 2000-03-23 Spectra Precision Ab Electronic distance measuring device
JP2001117019A (ja) * 1999-08-31 2001-04-27 Leica Geosystems Ag タキメータ望遠鏡
JP2001318308A (ja) * 2000-05-09 2001-11-16 Asahi Optical Co Ltd 光波測距儀及びaf機能を有する光波測距儀

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012093245A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Topcon Corp レーザ測量機
JP2017110964A (ja) * 2015-12-15 2017-06-22 株式会社トプコン 光波距離測定装置
US10634767B2 (en) 2015-12-15 2020-04-28 Topcon Corporation Electronic distance measuring instrument
JP2019023650A (ja) * 2018-09-21 2019-02-14 株式会社トプコン 光波距離測定装置

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