JP2005352148A

JP2005352148A - Active drive type light emitting display device and electronic equipment carrying the device

Info

Publication number: JP2005352148A
Application number: JP2004172581A
Authority: JP
Inventors: Takayoshi Yoshida; 孝義吉田
Original assignee: Tohoku Pioneer Corp
Current assignee: Tohoku Pioneer Corp
Priority date: 2004-06-10
Filing date: 2004-06-10
Publication date: 2005-12-22
Anticipated expiration: 2024-06-10
Also published as: JP4539963B2

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently drive pixels for light emission display by rationally and precisely taking out forward voltages by a plurality of EL elements in a light emitting display device active-driven by TFTs. <P>SOLUTION: The multiplicity of pixels 10a for light emitting display are arrayed in a matrix in the light emitting display panel 10 and the pixels 10a for measurement are arrayed in one row along one data line. A constant current is supplied from a constant current source 11 to the pixels 10a for measurement and the forward voltages Vf of the EL elements in the pixels 10b for measurement are acquired by a voltage detecting terminal 12f. The driving voltage supplied to the pixels 10a for measurement is controlled based on the forward voltage Vf. As a result, the TFT (Tr 2) constituting the pixel 10a for measurement can drive the EL element E1 in the state of assuring a drop voltage (VD) enough to assure constant current characteristics. The electric power loss that occurs in the driving TFT can thus be effectively suppressed. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明は、発光表示用画素に加えて測定用画素を備えたアクティブ駆動型発光表示装置に関し、特に測定用画素によって発光素子の順方向電圧を取得することで、表示用画素を効率良く駆動することができるようにした発光表示装置および同表示装置を搭載した電子機器に関する。 The present invention relates to an active drive type light emitting display device including a measurement pixel in addition to a light emission display pixel, and in particular, obtains a forward voltage of a light emitting element by the measurement pixel, thereby efficiently driving the display pixel. The present invention relates to a light emitting display device and an electronic device equipped with the display device.

発光素子をマトリクス状に配列して構成される表示パネルを用いたディスプレイの開発が広く進められている。このような表示パネルに用いられる発光素子として、有機材料を発光層に用いた有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）素子が注目されている。これはＥＬ素子の発光層に、良好な発光特性を期待することができる有機化合物を使用することによって、実用に耐えうる高効率化および長寿命化が進んだことも背景にある。 The development of a display using a display panel configured by arranging light emitting elements in a matrix is being widely promoted. As a light-emitting element used for such a display panel, an organic EL (electroluminescence) element using an organic material for a light-emitting layer has attracted attention. This is also due to the fact that the use of an organic compound that can be expected to have good light-emitting characteristics for the light-emitting layer of the EL element has led to an increase in efficiency and longevity that can withstand practical use.

前記した有機ＥＬ素子は、電気的には図１のような等価回路で表すことができる。すなわち、有機ＥＬ素子は、寄生容量成分Ｃp と、この容量成分に並列に結合するダイオード成分Ｅとによる構成に置き換えることができ、有機ＥＬ素子は容量性の発光素子であると考えられている。この有機ＥＬ素子は、発光駆動電圧が印加されると、先ず、当該素子の電気容量に相当する電荷が電極に変位電流として流れ込み蓄積される。続いて当該素子固有の一定の電圧（発光閾値電圧＝Ｖth）を越えると、電極（ダイオード成分Ｅのアノード側）から発光層を構成する有機層に電流が流れ初め、この電流に比例した強度で発光すると考えることができる。 The organic EL element described above can be electrically represented by an equivalent circuit as shown in FIG. In other words, the organic EL element can be replaced with a configuration having a parasitic capacitance component Cp and a diode component E coupled in parallel to the capacitance component, and the organic EL element is considered to be a capacitive light emitting element. When a light emission driving voltage is applied to the organic EL element, first, a charge corresponding to the electric capacity of the element flows into the electrode as a displacement current and is accumulated. Subsequently, when a certain voltage specific to the element (light emission threshold voltage = Vth) is exceeded, current begins to flow from the electrode (the anode side of the diode component E) to the organic layer constituting the light emitting layer, and the intensity is proportional to this current. It can be considered to emit light.

図２は、このような有機ＥＬ素子の発光静特性を示したものである。これによれば、有機ＥＬ素子は図２（ａ）に示すように、駆動電流（Ｉ）にほぼ比例した輝度（Ｌ）で発光し、図２（ｂ）に実線で示すように駆動電圧（Ｖ）が発光閾値電圧（Ｖth）以上の場合において急激に電流（Ｉ）が流れて発光する。 FIG. 2 shows the static light emission characteristics of such an organic EL element. According to this, as shown in FIG. 2A, the organic EL element emits light with luminance (L) substantially proportional to the drive current (I), and as shown in FIG. 2B, the drive voltage ( When V) is equal to or higher than the light emission threshold voltage (Vth), current (I) suddenly flows to emit light.

換言すれば、駆動電圧が発光閾値電圧（Ｖth）以下の場合には、ＥＬ素子には電流は殆ど流れず発光しない。したがって、ＥＬ素子の輝度特性は図２（ｃ）に実線で示すように前記閾値電圧（Ｖth）より大なる発光可能領域においては、それに印加される電圧（Ｖ）の値が大きくなるほど、その発光輝度（Ｌ）が大きくなる特性を有している。 In other words, when the drive voltage is equal to or lower than the light emission threshold voltage (Vth), almost no current flows through the EL element and no light is emitted. Therefore, as shown by a solid line in FIG. 2 (c), the EL element has a luminance characteristic that is larger than the threshold voltage (Vth). The luminance (L) is increased.

一方、前記した有機ＥＬ素子は、長期の使用によって素子の物性が変化し、順方向電圧（Ｖf ）が大きくなることが知られている。このために、有機ＥＬ素子は図２（ｂ）に示したように実使用時間によって、Ｖ−Ｉ特性が矢印に示した方向（破線で示した特性）に変化し、したがって、輝度特性も低下することになる。また、前記した有機ＥＬ素子は、素子の成膜時における例えば蒸着のばらつきによっても初期輝度にばらつきが発生するという問題も抱えており、これにより、入力映像信号に忠実な輝度階調を表現することが困難になる。 On the other hand, it is known that the organic EL element described above changes the physical properties of the element due to long-term use and the forward voltage (Vf) increases. For this reason, as shown in FIG. 2B, the organic EL element changes in the VI characteristic in the direction indicated by the arrow (characteristic indicated by the broken line) according to the actual usage time, and thus the luminance characteristic also decreases. Will do. In addition, the above-described organic EL element also has a problem that the initial luminance varies due to, for example, variations in vapor deposition at the time of film formation of the element, thereby expressing luminance gradation faithful to the input video signal. It becomes difficult.

さらに、有機ＥＬ素子の輝度特性は、概ね温度によって図２（ｃ）に破線で示すように変化することも知られている。すなわちＥＬ素子は、前記した発光閾値電圧より大なる発光可能領域においては、それに印加される電圧（Ｖ）の値が大きくなるほどその発光輝度（Ｌ）が大きくなる特性を有するが、高温になるほど発光閾値電圧が小さくなる。したがってＥＬ素子は、高温になるほど小さい印加電圧で発光可能な状態となり、同じ発光可能な印加電圧を与えても、高温時は明るく低温時は暗いといった輝度の温度依存性を有している。 Furthermore, it is also known that the luminance characteristics of the organic EL element change as shown by a broken line in FIG. That is, the EL element has a characteristic that in a light emission possible region larger than the light emission threshold voltage, the light emission luminance (L) increases as the value of the voltage (V) applied thereto increases. The threshold voltage is reduced. Therefore, the EL element is in a state in which light can be emitted with a smaller applied voltage as the temperature becomes higher, and has a luminance temperature dependency such that it is brighter at high temperatures and darker at low temperatures even when the same applied voltage capable of emitting light is applied.

一方、前記した有機ＥＬ素子は、電流・輝度特性が温度変化に対して安定しているのに対して、電圧・輝度特性が温度変化に対して不安定であること、また過電流により素子を劣化させるのを防止することなどの理由により、一般的には定電流駆動がなされる。この場合、定電流回路に供給されるたとえばＤＣ−ＤＣコンバータ等からもたらされる駆動電圧（Ｖ0 ）としては、次のような各要素を考慮して設定せざるを得ない。 On the other hand, the above-mentioned organic EL element has a current / luminance characteristic that is stable with respect to a temperature change, whereas a voltage / luminance characteristic is unstable with respect to a temperature change. In general, constant current driving is performed for reasons such as preventing deterioration. In this case, the drive voltage (V0) supplied from the DC-DC converter or the like supplied to the constant current circuit must be set in consideration of the following factors.

すなわち、前記要素としては、ＥＬ素子の順方向電圧（Ｖf ）、ＥＬ素子の前記Ｖf のばらつき分（ＶB ）、前記Ｖf の経時変化分（ＶL ）、前記Ｖf の温度変化分（ＶT ）、定電流回路が定電流動作をするのに必要なドロップ電圧（ＶD ）等を挙げることができる。そして、これらの各要素が相乗的に作用した場合においても、前記定電流回路の定電流特性が十部に確保できるようにするために、駆動電圧（Ｖ0 ）としては、前記各要素として示した各電圧の最大値を加算した値に設定せざるを得ない。 That is, the elements include the forward voltage (Vf) of the EL element, the variation (VB) of the Vf of the EL element, the change over time (VL) of the Vf, the temperature change (VT) of the Vf, the constant. A drop voltage (VD) required for the current circuit to operate at a constant current can be cited. Even when these elements act synergistically, the driving voltage (V0) is shown as each element in order to ensure sufficient constant current characteristics of the constant current circuit. It must be set to a value obtained by adding the maximum values of each voltage.

しかしながら、定電流回路に供給される駆動電圧（Ｖ0 ）として、前記のように各電圧の最大値を加算した電圧値が必要となるケースは、滅多に生ずるものではなく、通常状態においては定電流回路における電圧降下分として大きな電力損失を招来させている。したがって、これが発熱の要因になり有機ＥＬ素子および周辺回路部品等に対してストレスを与える結果となっている。 However, the drive voltage (V0) supplied to the constant current circuit rarely occurs in the case where a voltage value obtained by adding the maximum values of the voltages as described above is required. A large power loss is caused as a voltage drop in the circuit. Therefore, this causes heat generation and results in stress on the organic EL element and peripheral circuit components.

そこで、ＥＬ素子の順方向電圧Ｖf を測定し、このＶf に基づいて定電流回路に与える駆動電圧（Ｖ0 ）の値を制御することで、前記したような問題点を解消しようとすることが、特許文献１に開示されている。
特開平７−３６４０９号公報 Therefore, by measuring the forward voltage Vf of the EL element and controlling the value of the drive voltage (V0) applied to the constant current circuit based on this Vf, an attempt to solve the above-mentioned problems is possible. It is disclosed in Patent Document 1.
JP-A-7-36409

ところで、前記した特許文献１に開示された構成は、各陽極線と各陰極線の交点位置にそれぞれＥＬ素子を配列したいわゆるパッシブマトリクス型表示装置について示されている。この様なパッシブマトリクス型表示装置によると、陽極ドライバーにおいて、それぞれの陽極線に対応して定電流回路が備えられているので、一つの陽極線における電圧値を検出することで、当該陽極線に接続された各ＥＬ素子における順方向電圧Ｖf の平均値を容易に取り出すことが可能である。 By the way, the configuration disclosed in Patent Document 1 described above is a so-called passive matrix display device in which EL elements are arranged at the intersections of the anode lines and the cathode lines. According to such a passive matrix type display device, the anode driver is provided with a constant current circuit corresponding to each anode line, and therefore, by detecting the voltage value in one anode line, It is possible to easily take out the average value of the forward voltage Vf in each connected EL element.

しかしながら、アクティブマトリクス型表示装置においては、マトリクス状に配列されたＥＬ素子の各々に、ＴＦＴ（Thin Film Transistor）からなる能動素子が加えられ、このＴＦＴによって各ＥＬ素子をそれぞれ定電流駆動するように作用するために、各ＥＬ素子の順方向電圧Ｖf を検出するためには、各ＥＬ素子のたとえばアノード端子からＶf 検出用の配線を引き出す必要が生ずる。 However, in an active matrix display device, an active element composed of a TFT (Thin Film Transistor) is added to each of the EL elements arranged in a matrix, and each EL element is driven at a constant current by the TFT. In order to operate, in order to detect the forward voltage Vf of each EL element, it is necessary to draw a wiring for detecting Vf from, for example, the anode terminal of each EL element.

この時、たとえば１つのＥＬ素子のみの順方向電圧Ｖf を利用して、各画素に与える駆動電圧を制御する構成とした場合、順方向電圧Ｖf を測定する当該ＥＬ素子に不具合が発生した場合には、表示パネルとモジュールを含む全体が実質的に使用することが不可能となり、不良として廃棄せざるを得ない。そこで、複数のＥＬ素子から前記したようなＶf 検出用の配線をそれぞれ引き出して各素子の順方向電圧Ｖf の平均値を測定するように構成することも考えられるが、これによると引出し配線数が増大するなどの物理的な問題点が発生して実現性が難しい。 At this time, for example, when the forward voltage Vf of only one EL element is used to control the drive voltage applied to each pixel, when a problem occurs in the EL element that measures the forward voltage Vf. However, the entire display panel and the module including the module cannot be used practically and must be discarded as defective. In view of this, it is conceivable that the above-described Vf detection wiring is drawn out from a plurality of EL elements and the average value of the forward voltage Vf of each element is measured. It is difficult to realize due to physical problems such as increase.

この発明は、前記したアクティブマトリクス型駆動回路における問題点に着目してなされたものであり、複数のＥＬ素子による順方向電圧を合理的に、かつ精度良く取り出すことを可能にし、この順方向電圧に基づいて発光表示用画素に供給する駆動電圧を制御することができるアクティブ駆動型発光表示装置を提供することを課題とするものである。 The present invention has been made paying attention to the problems in the active matrix drive circuit described above, and makes it possible to take out the forward voltage from a plurality of EL elements reasonably and accurately. It is an object of the present invention to provide an active drive light emitting display device capable of controlling a drive voltage supplied to a light emitting display pixel based on the above.

前記した課題を解決するためになされたこの発明にかかる発光表示装置の好ましい１つの形態は、請求項１に記載のとおり、発光素子と当該発光素子に駆動電流を与える駆動用ＴＦＴとを少なくとも備えた発光表示用画素を多数配列したアクティブ駆動型発光表示装置であって、前記発光表示装置には、さらに複数の測定用素子が直列接続され、直列接続された前記測定用素子に駆動電流を与える駆動用ＴＦＴを含む複数の測定用画素が配置され、前記駆動用ＴＦＴにより駆動電流を印加した状態における前記直列接続された測定用素子に生ずる順方向電圧を導出できるように構成した点に特徴を有する。 One preferable embodiment of the light emitting display device according to the present invention made to solve the above-described problem includes at least a light emitting element and a driving TFT for supplying a driving current to the light emitting element. An active drive type light emitting display device in which a large number of light emitting display pixels are arranged, wherein a plurality of measuring elements are further connected in series to the light emitting display device, and a driving current is applied to the measuring elements connected in series. A plurality of measurement pixels including a driving TFT are arranged, and a forward voltage generated in the measurement elements connected in series in a state where a driving current is applied by the driving TFT can be derived. Have.

また、前記した課題を解決するためになされたこの発明にかかる発光表示装置の好ましい他の１つの形態は、請求項２に記載のとおり、発光素子と当該発光素子に駆動電流を与える駆動用ＴＦＴとを少なくとも備えた発光表示用画素を多数配列したアクティブ駆動型発光表示装置であって、前記発光表示装置には、さらに少なくとも１つの測定用素子と当該素子に駆動電流を与える駆動用ＴＦＴを含む複数の測定用画素が配置され、前記測定用素子と前記発光素子のそれぞれアノード側またはカソード側の電位が異なる電位に設定され、前記駆動用ＴＦＴにより駆動電流を印加した状態における前記測定用素子に生ずる順方向電圧を導出できるように構成した点に特徴を有する。 Another preferred embodiment of the light emitting display device according to the present invention, which has been made to solve the above-described problems, is a light emitting element and a driving TFT for applying a driving current to the light emitting element as described in claim 2. An active drive type light emitting display device in which a large number of light emitting display pixels are arranged, and the light emitting display device further includes at least one measuring element and a driving TFT for supplying a driving current to the element. A plurality of measurement pixels are arranged, and the measurement element and the light emitting element are set to different potentials on the anode side or the cathode side, respectively, and the measurement element in a state where a drive current is applied by the drive TFT It is characterized in that the forward voltage generated can be derived.

以下、この発明にかかるアクティブ駆動型発光表示装置について、図に示す実施の形態に基づいて説明するが、その前に本件出願人が先に提案しているこの発明の基礎となる発光表示装置について図３に基づいて説明する。図３は発光表示パネルの一部の構成と、これを発光駆動する回路構成とを示したものであり、符号１０で示す発光表示パネルには、発光表示用画素１０ａをマトリクス状に配列した発光表示領域１０Ａと、測定用画素１０ｂを列方向に配列した測定用画素領域１０Ｂとが形成されている。 Hereinafter, an active drive type light emitting display device according to the present invention will be described based on the embodiments shown in the drawings. Prior to that, the light emitting display device as the basis of the present invention previously proposed by the present applicant will be described. This will be described with reference to FIG. FIG. 3 shows a partial configuration of the light-emitting display panel and a circuit configuration for driving the light-emitting display panel. The light-emitting display panel denoted by reference numeral 10 has a light-emitting display pixel 10a arranged in a matrix. A display area 10A and a measurement pixel area 10B in which measurement pixels 10b are arranged in the column direction are formed.

なお、図３においては紙面の都合により、マトリクス状に配列されている発光表示用画素１０ａは２つの画素の構成のみが示されており、また列方向に配列されている測定用画素１０ｂにおいても、同様に２つの画素の構成のみが示されている。 In FIG. 3, only the configuration of the two light emitting display pixels 10a arranged in a matrix is shown due to space limitations, and also in the measurement pixels 10b arranged in the column direction. Similarly, only the configuration of two pixels is shown.

前記発光表示パネル１０には、後で説明するデータドライバーからのデータ線ｍ1 ，ｍ2 ，……が縦方向（列方向）に配列され、また、同様に後で説明する走査ドライバーからの制御線ｎ1 ，ｎ2 ，……が横方向（行方向）に配列されている。さらに、表示パネル１０には、前記各データ線に対応して縦方向に電源供給線ｐ1 ，ｐ2 ，……が配列されている。 In the light emitting display panel 10, data lines m1, m2,... From a data driver described later are arranged in the vertical direction (column direction), and similarly, a control line n1 from a scanning driver described later. , N2,... Are arranged in the horizontal direction (row direction). Further, on the display panel 10, power supply lines p1, p2,... Are arranged in the vertical direction corresponding to the data lines.

前記発光表示領域１０Ａにおける発光表示用画素１０ａは、その一例としてコンダクタンスコントロール方式による画素構成が示されている。すなわち、発光表示領域１０Ａの左上の画素１０ａを構成する各素子に符号を付けたとおり、Ｎチャンネルで構成された制御用ＴＦＴ（Ｔr1）のゲートは、制御線ｎ1 に接続され、そのソースはデータ線ｍ2 に接続されている。また、制御用ＴＦＴ（Ｔr1）のドレインは、Ｐチャンネルで構成された駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）のゲートに接続されると共に、電荷保持用のコンデンサＣ1 の一方の端子に接続されている。 As an example of the light emitting display pixel 10a in the light emitting display region 10A, a pixel configuration by a conductance control system is shown. That is, as the elements constituting the pixel 10a in the upper left of the light emitting display area 10A are labeled, the gate of the control TFT (Tr1) constituted by the N channel is connected to the control line n1, and the source thereof is the data Connected to line m2. Further, the drain of the control TFT (Tr1) is connected to the gate of the drive TFT (Tr2) constituted by the P channel and to one terminal of the charge holding capacitor C1.

そして、駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）のソースは前記コンデンサＣ1 の他方の端子に接続されると共に、電源供給線ｐ2 に接続されている。また、駆動用ＴＦＴのドレインには、発光素子としての有機ＥＬ素子Ｅ1 のアノードが接続されると共に、当該ＥＬ素子Ｅ1 のカソードはカソード側電源ラインＶcaに接続されている。斯くして前記した構成の発光表示用画素１０ａは、前記したとおり発光表示領域１０Ａにおいて、縦横方向にマトリクス状に多数配列されている。 The source of the driving TFT (Tr2) is connected to the other terminal of the capacitor C1 and to the power supply line p2. Further, the anode of the organic EL element E1 as a light emitting element is connected to the drain of the driving TFT, and the cathode of the EL element E1 is connected to the cathode side power supply line Vca. Thus, as described above, a large number of the light emitting display pixels 10a configured as described above are arranged in a matrix in the vertical and horizontal directions in the light emitting display region 10A.

一方、測定用画素領域１０Ｂにおける各測定用画素１０ｂも、発光表示用画素と同様に構成されており、その最上の測定用画素における各素子には、前記した発光表示用画素１０ａを構成する各素子と同一の符号が付けられている。そして、この測定用画素１０ｂを構成する制御用ＴＦＴ（Ｔr1）のゲートは、制御線ｎ1 に接続され、そのソースはデータ線ｍ1 に接続されている。また、駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）のソースは、電源供給線ｐ1 に接続されている。さらに、前記した測定用画素１０ｂは、測定用画素領域１０Ｂにおいて、１つのデータ線ｍ1 および電源供給線ｐ1 に沿って一列に配列されている。 On the other hand, each measurement pixel 10b in the measurement pixel region 10B is configured in the same manner as the light emission display pixel, and each element in the uppermost measurement pixel has each of the light emission display pixels 10a. The same reference numerals as the elements are attached. The gate of the control TFT (Tr1) constituting the measurement pixel 10b is connected to the control line n1, and the source thereof is connected to the data line m1. The source of the driving TFT (Tr2) is connected to the power supply line p1. Further, the measurement pixels 10b described above are arranged in a line along one data line m1 and the power supply line p1 in the measurement pixel region 10B.

なお、前記した測定用画素１０ｂを構成する符号Ｅ1 で示す素子は、測定用素子と称呼することにする。そして、この図３に示す例においては、前記測定用素子として、発光表示用画素１０ａを構成する前記した有機ＥＬ素子Ｅ1 とは、互いに同一の電気的特性を有する素子が使用されている。すなわち、発光表示用ＥＬ素子と測定用ＥＬ素子とは、表示パネル１０上に同一の製造プロセスによって同時に成膜されて形成されている。したがって、測定用ＥＬ素子を駆動した場合には発光動作を伴うことになるので、必要に応じて測定用画素領域１０Ｂの表面に光を遮断させる遮蔽膜などを施すことが望ましい。 The element indicated by the symbol E1 constituting the above-described measurement pixel 10b is referred to as a measurement element. In the example shown in FIG. 3, an element having the same electrical characteristics as that of the organic EL element E1 constituting the light emitting display pixel 10a is used as the measuring element. That is, the light emitting display EL element and the measurement EL element are formed on the display panel 10 simultaneously by the same manufacturing process. Therefore, since the light emitting operation is accompanied when the measurement EL element is driven, it is desirable to provide a shielding film or the like on the surface of the measurement pixel region 10B as necessary.

なお、測定用素子としては前記したように必ずしも有機ＥＬ素子を用いる必要はなく、発光しない素子を測定用画素領域１０Ｂに作り込むなどの対応も考えられる。要するに前記した測定用素子としては、その経時変化特性、温度依存性などを含む電気的特性が有機ＥＬ素子の特性に近似している他の素子を使用することができる。 As described above, it is not always necessary to use an organic EL element as a measurement element, and it is possible to consider a method of forming an element that does not emit light in the measurement pixel region 10B. In short, as the above-described measuring element, other elements whose electrical characteristics including time-varying characteristics, temperature dependency, and the like approximate the characteristics of the organic EL element can be used.

以上のとおり図３に示す表示パネル１０の構成においては、発光表示用画素１０ａがデータ線と制御線との交点位置にマトリクス状にそれぞれ配列されると共に、測定用画素１０ｂは１つのデータ線ｍ1 に沿って一列に配列され、当該測定用画素１０ｂにおいて利用される各制御線が、前記した発光表示用画素１０ａにおいて利用される制御線ｎ1 ，ｎ2 ，……と共用されている。したがって、測定用画素１０ｂの制御用ＴＦＴのゲート電圧は、発光表示用画素１０ａの制御用ＴＦＴのゲート電圧と共通となり、結果として、測定用画素１０ｂの駆動用ＴＦＴのゲート電圧は、発光表示用画素１０ａの駆動用ＴＦＴのゲート電圧と共通となる。 As described above, in the configuration of the display panel 10 shown in FIG. 3, the light emitting display pixels 10a are arranged in a matrix at the intersections of the data lines and the control lines, and the measurement pixel 10b is one data line m1. The control lines used in the measurement pixel 10b are shared with the control lines n1, n2,... Used in the light emitting display pixel 10a. Therefore, the gate voltage of the control TFT of the measurement pixel 10b is common to the gate voltage of the control TFT of the light emitting display pixel 10a. As a result, the gate voltage of the drive TFT of the measurement pixel 10b is This is the same as the gate voltage of the driving TFT of the pixel 10a.

前記した測定用画素１０ｂにおける電源供給線ｐ1 には、定電流源１１を介して、定電流が供給されるように構成されている。そして、定電流源１１と各測定用画素１０ｂとの間における電源供給線ｐ1 において電圧検出端子１２が形成され、当該端子１２において測定用画素１０ｂにおける測定用素子の順方向電圧Ｖf が取得できるように構成されている。すなわち、測定用素子の順方向電圧Ｖf は、図３に示す例においては駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）を介して得るようになされている。 A constant current is supplied to the power supply line p1 in the measurement pixel 10b through the constant current source 11. A voltage detection terminal 12 is formed in the power supply line p1 between the constant current source 11 and each measurement pixel 10b so that the forward voltage Vf of the measurement element in the measurement pixel 10b can be obtained at the terminal 12. It is configured. That is, the forward voltage Vf of the measuring element is obtained via the driving TFT (Tr2) in the example shown in FIG.

一方、各発光表示画素１０ａには、電源供給線ｐ2 ，……をそれぞれ介して、定電圧源を構成する電源回路１７からの駆動電圧が供給され、この駆動電圧によって発光素子としての各ＥＬ素子Ｅ1 が、選択的に点灯駆動されるようになされる。また、縦方向に配列された各データ線ｍ1 ，ｍ2 ，……は、データドライバー１３から導出されており、また、横方向に配列された制御線ｎ1 ，ｎ2 ，……は、走査ドライバー１４から導出されている。 On the other hand, each light emitting display pixel 10a is supplied with a driving voltage from a power supply circuit 17 constituting a constant voltage source via a power supply line p2,..., And each EL element as a light emitting element is driven by this driving voltage. E1 is selectively driven to light. Each of the data lines m1, m2,... Arranged in the vertical direction is derived from the data driver 13, and the control lines n1, n2,. Has been derived.

前記データドライバー１３および走査ドライバー１４には、コントローラＩＣ１５よりコントロールバスが接続されており、コントローラＩＣに供給される画像信号に基づいて、データドライバー１３および走査ドライバー１４が制御され、次に説明するような作用により発光表示領域１０Ａにおける各発光表示用画素１０ａが選択的に点灯駆動され、結果として発光表示領域１０Ａにおいて画像が再生される。 A control bus is connected to the data driver 13 and the scan driver 14 from a controller IC 15, and the data driver 13 and the scan driver 14 are controlled based on an image signal supplied to the controller IC. As a result, each light emitting display pixel 10a in the light emitting display area 10A is selectively turned on, and as a result, an image is reproduced in the light emitting display area 10A.

すなわち、発光表示用画素１０ａにおける制御用ＴＦＴ（Ｔr1）のゲートに、たとえば制御線ｎ1 を介して走査ドライバー１４よりオン電圧が供給されると、制御用ＴＦＴ（Ｔr1）はソースに供給されるデータ線ｍ2 からのデータ電圧に対応した電流を、ソースからドレインに流す。したがって、制御用ＴＦＴ（Ｔr1）のゲートがオン電圧の期間に、前記コンデンサＣ1 が充電され、その電圧が駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）のゲートに供給される。それ故、駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）は、そのゲート電圧とソース電圧に基づいた電流をＥＬ素子Ｅ1 に流し、ＥＬ素子を発光駆動させる。すなわち、駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）はＥＬ素子Ｅ1 を定電流駆動することで、ＥＬ素子Ｅ1 を発光駆動させる。 That is, when an on-voltage is supplied to the gate of the control TFT (Tr1) in the light emitting display pixel 10a from the scan driver 14, for example, via the control line n1, the control TFT (Tr1) is supplied to the source. A current corresponding to the data voltage from the line m2 is passed from the source to the drain. Therefore, the capacitor C1 is charged while the gate of the control TFT (Tr1) is on-voltage, and the voltage is supplied to the gate of the drive TFT (Tr2). Therefore, the driving TFT (Tr2) passes a current based on the gate voltage and the source voltage to the EL element E1 to drive the EL element to emit light. That is, the driving TFT (Tr2) drives the EL element E1 to emit light by driving the EL element E1 with a constant current.

また、制御用ＴＦＴ（Ｔr1）のゲートがオフ電圧になると、制御用ＴＦＴ（Ｔr1）はいわゆるカットオフとなり、制御用ＴＦＴ（Ｔr1）のドレインは開放状態となるものの、駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）はコンデンサＣ1 に蓄積された電荷によりゲート電圧が保持され、次の走査まで駆動電流を維持し、ＥＬ素子Ｅ1 の発光も維持される。 When the gate of the control TFT (Tr1) is turned off, the control TFT (Tr1) becomes a so-called cut-off, and the drain of the control TFT (Tr1) is opened, but the drive TFT (Tr2) is The gate voltage is held by the electric charge accumulated in the capacitor C1, the driving current is maintained until the next scanning, and the light emission of the EL element E1 is also maintained.

前記した発光駆動動作に同期して各測定用画素１０ｂにおいても同様の走査を受け、この時の測定用ＥＬ素子Ｅ1 のアノードに発生する順方向電圧が、測定用画素を構成する駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）を介して前記電圧検出端子１２にもたらされる。この電圧検出端子１２におけるもたらされる測定用素子の順方向電圧Ｖf はサンプリング・ホールド回路１６に供給され、サンプリング・ホールド回路１６によるホールド出力は電源回路１７における電圧制御部１８に供給されるように構成されている。 In synchronization with the light emission driving operation described above, each measurement pixel 10b is also subjected to the same scanning, and the forward voltage generated at the anode of the measurement EL element E1 at this time is the driving TFT ( The voltage detection terminal 12 is provided via Tr2). The forward voltage Vf of the measuring element provided at the voltage detection terminal 12 is supplied to the sampling and holding circuit 16, and the hold output by the sampling and holding circuit 16 is supplied to the voltage control unit 18 in the power supply circuit 17. Has been.

ここで、前記電源回路１７における電圧制御部１８は、サンプリング・ホールド回路１６によるホールド電圧を受けて、電源供給線ｐ2 ，……に与える定電圧の値を制御する。すなわち、これは前記した電圧検出端子１２にもたらされる順方向電圧値Ｖf に対応して、各発光表示用画素１０ａに加える駆動電圧のレベルを制御するようになされる。 Here, the voltage controller 18 in the power supply circuit 17 receives the hold voltage from the sampling and hold circuit 16 and controls the value of the constant voltage applied to the power supply lines p2,. That is, this controls the level of the drive voltage applied to each light emitting display pixel 10a corresponding to the forward voltage value Vf provided to the voltage detection terminal 12.

この場合、端子１２にもたらされる順方向電圧値Ｖf が大きな場合においては、各発光表示用画素１０ａに加える駆動電圧のレベルを増大させるように制御し、逆に端子１２にもたらされる順方向電圧値Ｖf が小さな場合においては、各発光表示用画素１０ａに加える駆動電圧のレベルを低下させるように制御する。 In this case, when the forward voltage value Vf provided to the terminal 12 is large, control is performed so as to increase the level of the drive voltage applied to each light emitting display pixel 10a, and conversely, the forward voltage value provided to the terminal 12 is controlled. When Vf is small, control is performed so as to reduce the level of the drive voltage applied to each light emitting display pixel 10a.

これにより、発光表示用画素１０ａに印加される駆動電圧値が制御され、発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）は、定電流特性が維持できる程度のドロップ電圧（ＶD ）を確保した状態で、ＥＬ素子Ｅ1 を駆動することができる。この場合、前記したＥＬ素子の順方向電圧Ｖf の経時変化分（ＶL ）、Ｖf の温度変化分（ＶT ）等の変動要素も含めて発光表示用画素１０ａに印加される駆動電圧値が制御されるので、発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）において発生する電力損失を効果的に抑えることができる。 As a result, the driving voltage value applied to the light emitting display pixel 10a is controlled, and the driving TFT (Tr2) in the light emitting display pixel 10a has secured a drop voltage (VD) sufficient to maintain constant current characteristics. Thus, the EL element E1 can be driven. In this case, the drive voltage value applied to the light emitting display pixel 10a is controlled including the variation factors such as the time-dependent change (VL) and the temperature change (VT) of the forward voltage Vf of the EL element. Therefore, it is possible to effectively suppress the power loss generated in the driving TFT (Tr2) in the light emitting display pixel 10a.

なお、図３に示した構成における定電流源１１は、１つの測定用画素１０ｂを所定の輝度で発光させる程度の電流を出力するように構成されていることが望ましい。これにより、発光表示用画素１０ａを点灯駆動させる動作に同期して、各々の測定用画素１０ｂに対して順次定電流が印加される。すなわち、定電流源１１より複数の測定用画素１０ｂに対して同時に電流が供給されないように制御される。 Note that the constant current source 11 in the configuration shown in FIG. 3 is preferably configured to output a current that causes one measurement pixel 10b to emit light with a predetermined luminance. Thus, a constant current is sequentially applied to each measurement pixel 10b in synchronization with the operation of driving the light emitting display pixel 10a to light. That is, the constant current source 11 is controlled so that no current is supplied to the plurality of measurement pixels 10b at the same time.

そして、前記サンプリング・ホールド回路１６においては、測定用画素１０ｂに対して前記定電流が順次供給される周期よりも長い時定数を持たせることにより、アナログ的に平均化した各測定用画素１０ｂにおける順方向電圧Ｖf を電圧検出端子１２において得ることができる。これにより、発光表示用画素１０ａに印加される駆動電圧値の制御を、平均化した電圧Ｖf に基づいて実行することができ、前記Ｖf のばらつきによる影響を避けることができる。 In the sampling and holding circuit 16, the measurement pixel 10b has a time constant longer than the period in which the constant current is sequentially supplied, so that each measurement pixel 10b averaged in an analog manner is used. A forward voltage Vf can be obtained at the voltage detection terminal 12. Thereby, the control of the drive voltage value applied to the light emitting display pixel 10a can be executed based on the averaged voltage Vf, and the influence due to the variation in Vf can be avoided.

なお、図３に示す構成においては、前記したコントローラＩＣ１５に対して、輝度制御信号が供給されるように構成されており、この輝度制御信号を受けて各発光表示用画素１０ａの発光輝度が変更できるようにされている。すなわち、輝度制御信号がコントローラＩＣ１５に供給されることにより、コントローラＩＣ１５よりデータドライバー１３に制御信号が送出され、データドライバー１３は前記輝度制御信号に基づいて、各発光表示用画素１０ａを構成する制御用ＴＦＴ（Ｔr1）に加えるソース電圧を制御する。 In the configuration shown in FIG. 3, a luminance control signal is supplied to the controller IC 15 described above, and the light emission luminance of each light emitting display pixel 10a is changed by receiving this luminance control signal. It has been made possible. That is, when the luminance control signal is supplied to the controller IC 15, the control signal is sent from the controller IC 15 to the data driver 13, and the data driver 13 controls the light emitting display pixels 10a based on the luminance control signal. The source voltage applied to the TFT for use (Tr1) is controlled.

これにより、各発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）のゲート電圧が制御され、発光表示用画素１０ａにおけるＥＬ素子Ｅ1 に供給される電流値が可変される。したがって、結果として発光表示用画素１０ａにおけるＥＬ素子Ｅ1 の発光輝度が制御される。この場合、測定用画素１０ｂを構成する測定用素子に供給される駆動電流も、前記した輝度制御信号に基づいて、制御を受けることになる。 As a result, the gate voltage of the driving TFT (Tr2) in each light emitting display pixel 10a is controlled, and the current value supplied to the EL element E1 in the light emitting display pixel 10a is varied. Accordingly, as a result, the light emission luminance of the EL element E1 in the light emitting display pixel 10a is controlled. In this case, the drive current supplied to the measurement element constituting the measurement pixel 10b is also controlled based on the luminance control signal.

それ故、この図３に示す構成によると、前記した輝度制御信号により測定用画素１０ｂに電流を供給する定電流源１１の電流値も可変されることになる。このように発光素子（ＥＬ素子Ｅ1 ）の発光輝度（＝駆動電流）に応じて、測定用画素１０ｂの測定用素子に流れる電流も可変されるので、発光表示用画素１０ａにおけるＥＬ素子Ｅ1 および測定用画素１０ｂにおける測定用素子は、同一条件で駆動されることになる。 Therefore, according to the configuration shown in FIG. 3, the current value of the constant current source 11 that supplies current to the measurement pixel 10b is also varied by the luminance control signal. As described above, since the current flowing through the measurement element of the measurement pixel 10b is also varied in accordance with the light emission luminance (= drive current) of the light emission element (EL element E1), the EL element E1 and the measurement in the light emission display pixel 10a are changed. The measuring elements in the pixel 10b are driven under the same conditions.

したがって、発光表示用画素１０ａにおけるＥＬ素子Ｅ1 の順方向電圧Ｖf を、測定用画素１０ｂにおける測定用素子によって、より正確に把握することができる。それ故、発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）において発生する前記した電力損失の抑制作用を、より高い精度をもって実現させることが可能となる。 Therefore, the forward voltage Vf of the EL element E1 in the light emitting display pixel 10a can be grasped more accurately by the measurement element in the measurement pixel 10b. Therefore, it is possible to realize the above-described action of suppressing the power loss generated in the driving TFT (Tr2) in the light emitting display pixel 10a with higher accuracy.

ところで、図３に示す構成においては、前記発光表示用画素１０ａを構成する駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）は、所定のゲート電圧において飽和領域で動作させるようになされている。すなわち、発光表示用画素１０ａを構成する駆動用ＴＦＴは、ある程度のドレイン・ソース間電圧Ｖdsを保持し、これにより定電流駆動がなされる。一方、前記した測定用画素１０ｂにおける駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）は線形領域で、すなわちスイッチ素子として動作させることが必要である。これは、測定用画素１０ｂにおける駆動用ＴＦＴのオン抵抗が大きい場合には、このＴＦＴのソースとドレイン間において電圧降下が生じ、測定用素子における正確な順方向電圧Ｖf を電圧検出端子１２において得ることができなくなるためである。 Incidentally, in the configuration shown in FIG. 3, the driving TFT (Tr2) constituting the light emitting display pixel 10a is operated in a saturation region at a predetermined gate voltage. That is, the driving TFT constituting the light emitting display pixel 10a holds a certain drain-source voltage Vds, and is driven by constant current. On the other hand, the driving TFT (Tr2) in the measurement pixel 10b described above needs to be operated in a linear region, that is, as a switch element. This is because when the on-resistance of the driving TFT in the measurement pixel 10b is large, a voltage drop occurs between the source and drain of this TFT, and an accurate forward voltage Vf in the measurement element is obtained at the voltage detection terminal 12. It is because it becomes impossible.

このように発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴは飽和領域で動作させ、測定用画素１０ｂにおける駆動用ＴＦＴは線形領域で動作させることになると、発光表示用画素ならびに測定用画素における各部の電位設定に互いに制約が発生し、好ましい条件で両者が動作できる範囲が狭められるという問題が発生する。 As described above, when the driving TFT in the light emitting display pixel 10a is operated in the saturation region and the driving TFT in the measurement pixel 10b is operated in the linear region, the potential setting of each part in the light emitting display pixel and the measurement pixel is performed. In other words, there is a problem that the range in which both can operate under a preferable condition is narrowed.

図４は、図３に示した定電流源１１を含む測定用画素１０ｂにおける画素構成を示したものである。この図４に示す構成において測定用画素１０ｂにおける駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）が線形領域で、すなわちスイッチ素子として動作させるには、Ｐチャンネル型の駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）がオンする時のゲート電圧をＶlow とした時、次の式１に示す関係を満たす必要があり、さらに式２に示す条件を満たすことがより望ましい。
Ｖca＋Ｖf ≧Ｖlow ……（式１）
〔０≧Ｖgs＋Ｖlow −（Ｖca＋Ｖf ）〕 ……（式２） FIG. 4 shows a pixel configuration in the measurement pixel 10b including the constant current source 11 shown in FIG. In the configuration shown in FIG. 4, in order to operate the driving TFT (Tr2) in the measurement pixel 10b in a linear region, that is, as a switching element, the gate voltage when the P-channel driving TFT (Tr2) is turned on is set to When Vlow is set, it is necessary to satisfy the relationship shown in the following expression 1, and it is more desirable to satisfy the condition shown in expression 2.
Vca + Vf ≥ Vlow (Equation 1)
[0 ≧ Vgs + Vlow− (Vca + Vf)] (Formula 2)

図４に示す回路構成において例えば、Ｖgs＝１Ｖ，Ｖlow ＝０Ｖ，Ｖca＝−８Ｖ，Ｖf ＝５Ｖの各電位設定とした場合においては、測定用画素１０ｂにおける駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）のドレイン・ソース間電圧Ｖdsは、次の式３のように表すことができる。
Ｖds＝Ｖgs＋Ｖlow −（Ｖca＋Ｖf ）＝１＋０−（−８＋５）＝４ ……（式３） In the circuit configuration shown in FIG. 4, for example, when Vgs = 1V, Vlow = 0V, Vca = -8V, and Vf = 5V, the drain / source of the driving TFT (Tr2) in the measurement pixel 10b. The inter-voltage Vds can be expressed as the following Expression 3.
Vds = Vgs + Vlow− (Vca + Vf) = 1 + 0 − (− 8 + 5) = 4 (Equation 3)

前記した電位設定によると、式３に示すようにＶds＝４（Ｖ）となり、測定用素子のアノードに生ずる順方向電圧Ｖf を、駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）を介した電圧検出端子１２において正確に検出することは不可能となる。一方、前記した電位設定は、図３に示した発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴを飽和領域で動作させる場合において好ましい条件であるということができる。 According to the potential setting described above, Vds = 4 (V) as shown in Equation 3, and the forward voltage Vf generated at the anode of the measuring element is accurately detected at the voltage detection terminal 12 via the driving TFT (Tr2). It is impossible to detect. On the other hand, the potential setting described above is a preferable condition when the driving TFT in the light emitting display pixel 10a shown in FIG. 3 is operated in the saturation region.

そこで、発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴを飽和領域で動作させる前記した電位設定の条件下においても、前記式３において、Ｖds＝０、もしくはその値がマイナス（−）とすることができる回路構成、すなわち、測定用画素における駆動用ＴＦＴが確実に線形領域で動作することができるように構成することが望まれる。 Therefore, even in the above-described potential setting condition in which the driving TFT in the light emitting display pixel 10a is operated in the saturation region, a circuit in which Vds = 0 or its value can be negative (−) in the above equation 3. It is desired that the configuration, that is, the configuration in which the driving TFT in the measurement pixel can reliably operate in the linear region.

図５は、これを実現する１つの手段を示しており、これは請求項１に記載した発明に対応するものである。なお、この図５に示す構成においては、すでに説明した図３に示す各部と同一機能を有する部分を同一の符号で示しており、したがって、その詳細な説明は省略する。この図５において、すでに説明した図３に示す構成との相違点は、各測定用画素１０ｂにおける駆動用ＴＦＴ（Ｔr2）とカソード側電源ラインＶcaとの間に、複数の直列接続された測定用素子Ｅ1 が介在されている点である。 FIG. 5 shows one means for realizing this, which corresponds to the invention described in claim 1. In the configuration shown in FIG. 5, parts having the same functions as those shown in FIG. 3 already described are denoted by the same reference numerals, and therefore detailed description thereof is omitted. In FIG. 5, the difference from the configuration shown in FIG. 3 described above is that a plurality of series-connected measuring electrodes are connected between the driving TFT (Tr2) and the cathode side power supply line Vca in each measuring pixel 10b. The element E1 is interposed.

なお、前記各測定用素子Ｅ1 としては、好ましくは有機ＥＬ素子が用いられ、図５に示す実施の形態においては２つのＥＬ素子が直列接続された構成になされている。ここで、各測定用素子Ｅ1 を構成する有機ＥＬ素子と、各発光表示用ＥＬ素子とは、互いに同一の電気的特性を有する素子を使用することが望ましい。すなわち、発光表示用ＥＬ素子と測定用ＥＬ素子とは、表示パネル１０上に同一の製造プロセスによって同時に成膜されて形成されることで、前記したほぼ同一の電気的特性特性を得ることができる。 Each measuring element E1 is preferably an organic EL element, and in the embodiment shown in FIG. 5, two EL elements are connected in series. Here, it is desirable that the organic EL element constituting each measuring element E1 and each light emitting display EL element use elements having the same electrical characteristics. That is, the light emitting display EL element and the measurement EL element are formed and formed on the display panel 10 by the same manufacturing process at the same time, so that substantially the same electrical characteristic characteristics as described above can be obtained. .

図５に示した構成において、すでに例示した電位設定とした場合、前記した式３に示すＶdsの値を求めると、次のように示すことができる。
Ｖds＝Ｖgs＋Ｖlow −（Ｖca＋Ｖf ）＝１＋０−（−８＋５×２）＝−１ In the configuration shown in FIG. 5, when the potential setting already exemplified is obtained, the value of Vds shown in the above-described Expression 3 can be obtained as follows.
Vds = Vgs + Vlow− (Vca + Vf) = 1 + 0 − (− 8 + 5 × 2) = − 1

前記したＶdsの計算から明らかなように、図５に示す構成によると発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴを好適に飽和領域で動作させる電位設定の条件下においても、測定用画素における駆動用ＴＦＴを確実に線形領域で動作させることができる。したがって、図５に示す構成によると、電圧検出端子１２より、２つの測定用ＥＬ素子による順方向電圧を得ることができる。この端子１２より得られる２つの測定用ＥＬ素子による順方向電圧（２・Ｖf ）は、サンプリング・ホールド回路１６に供給され、サンプリング・ホールド回路１６によるホールド出力は電源回路１７における電圧制御部１８に供給される。 As apparent from the calculation of Vds described above, according to the configuration shown in FIG. 5, the driving TFT in the measurement pixel can be obtained even under a potential setting condition in which the driving TFT in the light emitting display pixel 10 a is preferably operated in the saturation region. Can be reliably operated in the linear region. Therefore, according to the configuration shown in FIG. The forward voltage (2 · Vf) obtained by the two measurement EL elements obtained from the terminal 12 is supplied to the sampling and holding circuit 16, and the hold output from the sampling and holding circuit 16 is supplied to the voltage control unit 18 in the power supply circuit 17. Supplied.

これにより電圧制御部１８は、各発光表示用画素１０ａに与える定電圧の値を制御することになるが、この時電圧制御部１８は前記順方向電圧（＝ホールド出力）を、直列接続された前記複数の測定用素子数（図５に示す実施の形態においては素子数＝２）で除算し、その除算した値に基づいて発光表示用画素に与える定電圧を制御することが望ましい。これにより、電圧制御部１８による出力電圧に、過剰な補正がなされるのを阻止することができる。なお前記除算する手段としては、きわめて典型的な例においては、抵抗による電圧分圧手段などを利用することができる。 As a result, the voltage control unit 18 controls the value of the constant voltage applied to each light emitting display pixel 10a. At this time, the voltage control unit 18 connects the forward voltage (= hold output) in series. It is desirable to divide by the plurality of measurement elements (number of elements = 2 in the embodiment shown in FIG. 5) and control the constant voltage applied to the light emitting display pixel based on the divided value. Thereby, it is possible to prevent the output voltage from the voltage control unit 18 from being excessively corrected. As the means for dividing, in a very typical example, a voltage dividing means using a resistor or the like can be used.

以上説明した図５に示す実施の形態によると、図３に示した構成における作用効果をそのまま享受することができる。さらに、発光表示用画素における駆動用ＴＦＴを飽和領域で動作させつつ、測定用画素における駆動用ＴＦＴを確実に線形領域で動作させることができるので、電圧検出端子１２において測定用素子によるより正確な順方向電圧を得ることができる。これにより、電圧制御部より出力される定電圧の補正の精度をより向上させることが可能となる。 According to the embodiment shown in FIG. 5 described above, the operational effects of the configuration shown in FIG. 3 can be enjoyed as they are. Furthermore, since the driving TFT in the measurement pixel can be operated in the linear region while the driving TFT in the light emitting display pixel is operated in the saturation region, the voltage detection terminal 12 can be operated more accurately by the measuring element. A forward voltage can be obtained. Thereby, it is possible to further improve the accuracy of correction of the constant voltage output from the voltage control unit.

なお、図５に示した実施の形態においては、測定用画素１０ｂにおいて、２つの測定用素子が直列に接続されているが、この測定用素子の数は必要に応じて３つ以上になされる場合もある。 In the embodiment shown in FIG. 5, in the measurement pixel 10b, two measurement elements are connected in series, but the number of measurement elements is three or more as required. In some cases.

図６は、発光表示用画素における駆動用ＴＦＴを飽和領域で動作させると共に、測定用画素における駆動用ＴＦＴを確実に線形領域で動作させることができる他の１つの手段を示しており、これは請求項２に記載した発明に対応するものである。なお、この図６においては、すでに説明した図３に示す各部と同一機能を有する部分を同一の符号で示しており、したがって、その詳細な説明は省略する。 FIG. 6 shows another means by which the driving TFT in the light emitting display pixel can be operated in the saturation region and the driving TFT in the measurement pixel can be reliably operated in the linear region. This corresponds to the invention described in claim 2. In FIG. 6, parts having the same functions as those shown in FIG. 3 already described are denoted by the same reference numerals, and therefore detailed description thereof is omitted.

この図６に示す構成において、すでに説明した図３に示す構成との相違点は、発光表示画素１０ａを構成する発光素子のカソード側の電位と、測定用画素を構成する測定用素子のカソード側の電位とが異なる電位に設定されている点である。 The configuration shown in FIG. 6 differs from the configuration shown in FIG. 3 described above in that the potential on the cathode side of the light emitting element constituting the light emitting display pixel 10a and the cathode side of the measuring element constituting the measurement pixel. This is that the potential is set to a different potential.

なお、この図６に示す構成においても測定用素子Ｅ1 としては、好ましくは有機ＥＬ素子が用いられる。そして、各測定用素子Ｅ1 を構成する有機ＥＬ素子と、各発光表示用ＥＬ素子とは、互いに同一の電気的特性を有する素子を使用することが望ましい。すなわち、発光表示用ＥＬ素子と測定用ＥＬ素子とは、表示パネル１０上に同一の製造プロセスによって同時に成膜されて形成されることで、前記したほぼ同一の電気的特性特性を得ることができる。 In the configuration shown in FIG. 6, an organic EL element is preferably used as the measuring element E1. The organic EL element constituting each measuring element E1 and each light emitting display EL element are desirably elements having the same electrical characteristics. That is, the light emitting display EL element and the measurement EL element are formed and formed on the display panel 10 by the same manufacturing process at the same time, so that substantially the same electrical characteristic characteristics as described above can be obtained. .

図６に示す構成において、発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴを飽和領域で動作させるすでに例示した電位設定とし、また、測定用素子Ｅ1 におけるカソード側の電位Ｖca1 を例えば−３Ｖに設定した場合において、前記した式３に示すＶdsの値を求めると、次のように示すことができる。
Ｖds＝Ｖgs＋Ｖlow −（Ｖca＋Ｖf ）＝１＋０−（−３＋５）＝−１ In the configuration shown in FIG. 6, in the case where the already set potential is set to operate the driving TFT in the light emitting display pixel 10a in the saturation region, and the cathode side potential Vca1 in the measuring element E1 is set to, for example, -3V. When the value of Vds shown in Equation 3 is obtained, it can be expressed as follows.
Vds = Vgs + Vlow- (Vca + Vf) = 1 + 0-(-3 + 5) =-1

前記したＶdsの計算から明らかなように、図６に示した構成においても発光表示用画素１０ａにおける駆動用ＴＦＴを好適に飽和領域で動作させる電位設定の条件下において、測定用画素における駆動用ＴＦＴを確実に線形領域で動作させることができる。そして、測定用ＥＬ素子による順方向電圧Ｖf はサンプリング・ホールド回路１６に供給され、サンプリング・ホールド回路１６によるホールド出力によって、電圧制御部１８は各発光表示用画素１０ａに与える定電圧の値を制御するように作用する。 As is apparent from the calculation of Vds described above, the driving TFT in the measurement pixel is also used in the configuration shown in FIG. 6 under the potential setting conditions in which the driving TFT in the light emitting display pixel 10a is preferably operated in the saturation region. Can be reliably operated in the linear region. The forward voltage Vf from the measurement EL element is supplied to the sampling and holding circuit 16, and the voltage controller 18 controls the value of the constant voltage applied to each light emitting display pixel 10a by the hold output from the sampling and holding circuit 16. Acts like

なお、図６に示した実施の形態においては測定用画素１０ｂにおいて、１つの測定用素子Ｅ1 を使用しているが、これは必要に応じて２つ以上の測定用素子を直列接続して使用することも有り得る。この場合においては、図５に示す構成に基づいてすでに説明したとおり、電圧検出端子１２より得られる順方向電圧を、使用した測定用素子数で除算し、その除算した値に基づいて発光表示用画素に与える定電圧を制御することが望ましい。 In the embodiment shown in FIG. 6, one measuring element E1 is used in the measuring pixel 10b, but this is used by connecting two or more measuring elements in series as required. It is possible to do. In this case, as already described based on the configuration shown in FIG. 5, the forward voltage obtained from the voltage detection terminal 12 is divided by the number of measurement elements used, and light emission display is performed based on the divided value. It is desirable to control the constant voltage applied to the pixel.

以上説明した図６に示す実施の形態においても、図３に示した構成における作用効果をそのまま享受することができる。さらに、発光表示用画素における駆動用ＴＦＴを飽和領域で動作させつつ、測定用画素における駆動用ＴＦＴを確実に線形領域で動作させることができるので、電圧検出端子１２において測定用素子によるより正確な順方向電圧を得ることができる。これにより、電圧制御部より出力される定電圧の補正の精度をより向上させることができる。 In the embodiment shown in FIG. 6 described above, the operational effects of the configuration shown in FIG. 3 can be enjoyed as they are. Furthermore, since the driving TFT in the measurement pixel can be operated in the linear region while the driving TFT in the light emitting display pixel is operated in the saturation region, the voltage detection terminal 12 can be operated more accurately by the measuring element. A forward voltage can be obtained. Thereby, the precision of correction of the constant voltage output from the voltage control unit can be further improved.

図７は、発光表示用画素における駆動用ＴＦＴを飽和領域で動作させると共に、測定用画素における駆動用ＴＦＴを確実に線形領域で動作させることができる他の１つの手段を示しており、これは請求項２に記載した発明に対応するものである。なお、この図７においては、すでに説明した図６に示す各部と同一機能を有する部分を同一の符号で示しており、したがって、その詳細な説明は省略する。 FIG. 7 shows another means by which the driving TFT in the light emitting display pixel can be operated in the saturation region and the driving TFT in the measurement pixel can be reliably operated in the linear region. This corresponds to the invention described in claim 2. In FIG. 7, parts having the same functions as those shown in FIG. 6 already described are denoted by the same reference numerals, and therefore detailed description thereof is omitted.

この図７に示す構成において、すでに説明した図６に示す構成との相違点は、定電流回路１１を測定用素子のカソード側に配置した点にある。そして、測定用素子の各カソードと前記定電流回路１１の接続点が電圧検出端子１２になされ、この端子電圧をサンプリング・ホールド回路１６によってサンプリングするようになされる。したがって、この図７に示す実施の形態においても、すでに説明した図６に示した実施の形態と同様の作用効果を得ることができる。 The configuration shown in FIG. 7 is different from the configuration shown in FIG. 6 described above in that the constant current circuit 11 is arranged on the cathode side of the measuring element. A connection point between each cathode of the measuring element and the constant current circuit 11 is made to the voltage detection terminal 12, and this terminal voltage is sampled by the sampling and holding circuit 16. Therefore, also in the embodiment shown in FIG. 7, the same operational effects as those of the embodiment shown in FIG. 6 already described can be obtained.

さらに図８も発光表示用画素における駆動用ＴＦＴを飽和領域で動作させると共に、測定用画素における駆動用ＴＦＴを確実に線形領域で動作させることができる他の１つの手段を示しており、これも請求項２に記載した発明に対応するものである。なお、この図８においては、すでに説明した図６に示す各部と同一機能を有する部分を同一の符号で示しており、したがって、その詳細な説明は省略する。 Further, FIG. 8 also shows another means that can operate the driving TFT in the light emitting display pixel in the saturation region and can reliably operate the driving TFT in the measurement pixel in the linear region. This corresponds to the invention described in claim 2. In FIG. 8, parts having the same functions as those shown in FIG. 6 already described are denoted by the same reference numerals, and therefore detailed description thereof is omitted.

この図８に示す構成において、すでに説明した図６に示す構成との相違点は、発光表示用画素および測定用画素における各駆動用ＴＦＴにＮチャンネルタイプが用いられている。したがって、発光素子および測定用素子を構成する各ＥＬ素子は、その極性が逆に接続され、定電流源１１は電流吸い込み回路として機能する。したがって、この図８に示す実施の形態においても、すでに説明した図６に示した実施の形態と同様の作用効果を得ることができる。 The configuration shown in FIG. 8 is different from the configuration shown in FIG. 6 described above in that an N-channel type is used for each driving TFT in the light emitting display pixel and the measurement pixel. Therefore, the EL elements constituting the light emitting element and the measuring element are connected in reverse polarities, and the constant current source 11 functions as a current sink circuit. Therefore, also in the embodiment shown in FIG. 8, the same effects as those of the embodiment shown in FIG. 6 already described can be obtained.

なお、以上説明した実施の形態においては、各測定用画素１０ｂによって得られる順方向電圧Ｖf をサンプリング・ホールドし、このホールド値に基づいて発光表示用画素１０ａに加える駆動用電圧をアナログ制御するようにしているが、たとえば、前記ホールド値をＡ／Ｄ変換してデジタルデータとし、これに基づいて発光表示用画素１０ａに加える駆動用電圧を制御することもできる。このような構成を採用した場合には、前記順方向電圧Ｖf の平均化処理を容易にすることができ、また、測定用画素１０ｂの一部が不良になった場合、不良になった画素からのＶf の取得を停止させるなどの処理も容易に行うことができる。 In the embodiment described above, the forward voltage Vf obtained by each measurement pixel 10b is sampled and held, and the drive voltage applied to the light emitting display pixel 10a is analog controlled based on this hold value. However, for example, the hold value can be A / D converted into digital data, and the driving voltage applied to the light emitting display pixel 10a can be controlled based on this. When such a configuration is adopted, the averaging process of the forward voltage Vf can be facilitated, and when a part of the measurement pixel 10b becomes defective, the pixel from the defective pixel is detected. Processing such as stopping the acquisition of Vf can be easily performed.

また、以上説明した実施の形態においては、発光表示用画素１０ａとしてコンダクタンスコントロール方式の構成を採用した場合に基づいて説明したが、この発明はこの様な特定な構成の発光表示装置に採用し得るだけでなく、例えば、電圧書き込み方式、電流書き込み方式、デジタル階調を実現させる３ＴＦＴ方式の駆動方式、すなわちＳＥＳ（Simultaneous-Erasing-Scan ＝同時消去方式）、さらにはスレッショルド電圧補正方式、カレントミラー方式などのアクティブ駆動型の画素構成を用いた発光表示装置にも同様に採用することができる。 In the embodiment described above, the description has been made based on the case where the conductance control system configuration is adopted as the light emitting display pixel 10a. However, the present invention can be applied to the light emitting display device having such a specific configuration. In addition, for example, a voltage writing method, a current writing method, a driving method of a 3 TFT method for realizing digital gradation, that is, SES (Simultaneous-Erasing-Scan = simultaneous erasing method), a threshold voltage correction method, a current mirror method The present invention can be similarly applied to a light emitting display device using an active drive pixel configuration such as the above.

さらに、以上説明した実施の形態においては、発光表示用画素１０ａと測定用画素１０ｂの電気的な接続構成が、互いに同一のものを使用しているが、両者の構成は互いに異なるものであってもよい。 Furthermore, in the embodiment described above, the same electrical connection configuration is used for the light emitting display pixel 10a and the measurement pixel 10b, but the configurations are different from each other. Also good.

そして、前記した発光表示装置は、この種の表示装置を必要とする種々の電子機器に採用することによっても、すでに説明した作用効果をそのまま享受することができる。 The above-described light-emitting display device can enjoy the functions and effects described above as they are by adopting it in various electronic devices that require this type of display device.

有機ＥＬ素子の等価回路を示す図である。It is a figure which shows the equivalent circuit of an organic EL element. 有機ＥＬ素子の諸特性を示す図である。It is a figure which shows the various characteristics of an organic EL element. この発明にかかる発光表示装置の基本構成を示した回路構成図である。It is the circuit block diagram which showed the basic composition of the light emission display device concerning this invention. 図３に示す構成における測定用画素部分を示した回路構成図である。FIG. 4 is a circuit configuration diagram illustrating a measurement pixel portion in the configuration illustrated in FIG. 3. この発明にかかる発光表示装置の第１の実施の形態を示した回路構成図である。1 is a circuit configuration diagram showing a first embodiment of a light emitting display device according to the present invention; 同じく第２の実施の形態を示した回路構成図である。It is the circuit block diagram which similarly showed 2nd Embodiment. 同じく第３の実施の形態を示した回路構成図である。It is the circuit block diagram which similarly showed 3rd Embodiment. 同じく第４の実施の形態を示した回路構成図である。It is the circuit block diagram which similarly showed 4th Embodiment.

Explanation of symbols

１０発光表示パネル（発光表示装置）
１０Ａ発光表示領域
１０ａ発光表示用画素
１０Ｂ測定用画素領域
１０ｂ測定用画素
１１定電流源
１２電圧検出端子
１３データドライバー
１４走査ドライバー
１５コントローラＩＣ
１６サンプリング・ホールド回路
１７電源回路
１８電圧制御部
Ｃ1 電荷保持用コンデンサ
Ｅ1 発光素子、測定用素子（有機ＥＬ素子）
Ｔr1 制御用ＴＦＴ
Ｔr2 駆動用ＴＦＴ
ｎ1 ，ｎ2 ，… 制御線
ｍ1 ，ｍ2 ，… データ線
ｐ1 ，ｐ2 ，… 電源供給線 10 Light-emitting display panel (light-emitting display device)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10A Light emission display area 10a Light emission display pixel 10B Measurement pixel area 10b Measurement pixel 11 Constant current source 12 Voltage detection terminal 13 Data driver 14 Scan driver 15 Controller IC
16 Sampling and holding circuit 17 Power supply circuit 18 Voltage controller C1 Charge holding capacitor E1 Light emitting element, measuring element (organic EL element)
Tr1 control TFT
Tr2 driving TFT
n1, n2, ... control lines m1, m2, ... data lines p1, p2, ... power supply lines

Claims

An active drive type light emitting display device in which a large number of light emitting display pixels having at least a light emitting element and a driving TFT for applying a driving current to the light emitting element are arranged,
The light emitting display device further includes a plurality of measurement elements including a plurality of measurement elements connected in series, and a plurality of measurement pixels including a driving TFT that applies a driving current to the measurement elements connected in series.
An active drive type light emitting display device configured to be able to derive a forward voltage generated in the measurement elements connected in series in a state where a drive current is applied by the drive TFT.

An active drive type light emitting display device in which a large number of light emitting display pixels having at least a light emitting element and a driving TFT for applying a driving current to the light emitting element are arranged,
The light-emitting display device further includes a plurality of measurement pixels including at least one measurement element and a driving TFT that applies a driving current to the element, and each of the measurement element and the light-emitting element has an anode side or a cathode. Side potential is set to a different potential,
An active drive type light emitting display device configured to be able to derive a forward voltage generated in the measurement element in a state where a drive current is applied by the drive TFT.

The active drive light emitting display device according to claim 1, wherein the measurement elements have the same electrical characteristics.

3. The active drive light emitting display device according to claim 1, wherein the measuring element has the same electrical characteristics as any of the light emitting elements constituting the light emitting display pixel.

The light emitting display pixels are arranged in a matrix at intersections of data lines and control lines, and the measurement pixels are arranged in a line along one data line, and are used in the measurement pixels. 5. The active drive light emitting display device according to claim 1, wherein a line is shared with a control line used in the light emitting display pixel.

6. The active drive type light emitting display device according to claim 1, wherein an operating power source of the measurement pixel is a constant current source.

The active drive type light emitting display device according to claim 6, wherein the current value of the constant current source is variable.

8. The active drive light emitting display device according to claim 6, wherein a forward voltage of the measuring element is obtained between the constant current source and the measuring pixel.

And a power supply circuit that controls a power supply voltage applied to the light emitting display pixel based on a value obtained by dividing the forward voltage obtained by the measurement pixel by the number of the plurality of measurement elements connected in series. The active drive type light emitting display device according to claim 1.

10. The active drive light emitting display device according to claim 1, wherein the driving TFT constituting the measurement pixel is operated in a linear region. 11.

11. The active drive light emitting display device according to claim 1, wherein the driving TFT constituting the light emitting display pixel is operated in a saturation region at a predetermined gate voltage. 11.

12. The light-emitting element in the light-emitting display pixel and the measurement element in the measurement pixel are configured by an organic EL element using an organic compound in a light-emitting layer. 2. An active drive type light emitting display device according to item 1.

13. An electronic device on which the active drive type light emitting display device according to claim 1 is mounted.