JP2005337939A - 表面プラズモン共鳴装置 - Google Patents
表面プラズモン共鳴装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005337939A JP2005337939A JP2004158581A JP2004158581A JP2005337939A JP 2005337939 A JP2005337939 A JP 2005337939A JP 2004158581 A JP2004158581 A JP 2004158581A JP 2004158581 A JP2004158581 A JP 2004158581A JP 2005337939 A JP2005337939 A JP 2005337939A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- thin film
- reflected
- metal thin
- surface plasmon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【課題】 小型化が可能で感度の良い表面プラズモン共鳴装置を提供すること。
【解決手段】 金属薄膜4に対して光源からの光Pを所定の角度で照射し、その金属薄膜4で全反射した反射光を光検出器6によって受光させ、情報処理手段がその光検出器6からの測定信号を受けて測定試料の状態を反射光強度の変化に基づいて解析するものであって、平行光にして照射された光源からの入射光Pを一部透過させるハーフミラー1と、そのハーフミラー1を透過した入射光を金属薄膜4に収束させる集光レンズ2と、金属薄膜4が一平面に形成された透過材料体3と、その透過材料体3との界面にて金属薄膜4を反射した反射光Pが同じ光路を通って金属薄膜4に再度反射して戻るようにする反射ミラー5とを有し、光検出器6は、金属薄膜4を2度反射して戻った反射光Pがハーフミラー1で反射する位置に配置された表面プラズモン共鳴装置10。
【選択図】 図1
【解決手段】 金属薄膜4に対して光源からの光Pを所定の角度で照射し、その金属薄膜4で全反射した反射光を光検出器6によって受光させ、情報処理手段がその光検出器6からの測定信号を受けて測定試料の状態を反射光強度の変化に基づいて解析するものであって、平行光にして照射された光源からの入射光Pを一部透過させるハーフミラー1と、そのハーフミラー1を透過した入射光を金属薄膜4に収束させる集光レンズ2と、金属薄膜4が一平面に形成された透過材料体3と、その透過材料体3との界面にて金属薄膜4を反射した反射光Pが同じ光路を通って金属薄膜4に再度反射して戻るようにする反射ミラー5とを有し、光検出器6は、金属薄膜4を2度反射して戻った反射光Pがハーフミラー1で反射する位置に配置された表面プラズモン共鳴装置10。
【選択図】 図1
Description
本発明は、検知対象物質であるターゲットの定性及び定量測定を行うものであって、特に感度の良い表面プラズモン共鳴装置に関する。
生体分子間の相互作用を標識なしでリアルタイムにモニターすることができる装置として、従来から表面プラズモン共鳴(SPR)を測定原理とする表面プラズモン共鳴装置(以下、「SPR装置」とする)がある。
SPR装置では、生体分子の相互作用を分子レベルで測定するため、相互作用を起こす生体分子の一方がセンサーチップ面に固定され、例えばこれに作用する分子を含んだサンプル液がマイクロ流路等を介してセンサーチップ表面に流される。そして、2分子間の結合・解離に伴うセンサーチップ面近傍での微量な屈折率変化がSPRシグナルとして検出され、このシグナルの経時変化がグラフとして表示される。センサーチップ表面での分子の相互作用をモニターすることにより、このセンサーチップに対して特異的に認識するターゲット(微量物質)を検出することが可能である。
SPR装置では、生体分子の相互作用を分子レベルで測定するため、相互作用を起こす生体分子の一方がセンサーチップ面に固定され、例えばこれに作用する分子を含んだサンプル液がマイクロ流路等を介してセンサーチップ表面に流される。そして、2分子間の結合・解離に伴うセンサーチップ面近傍での微量な屈折率変化がSPRシグナルとして検出され、このシグナルの経時変化がグラフとして表示される。センサーチップ表面での分子の相互作用をモニターすることにより、このセンサーチップに対して特異的に認識するターゲット(微量物質)を検出することが可能である。
こうしたSPR装置を用いた表面プラズモン共鳴測定には、光学系の配置の違いなどからいくつかの方式があり、「生体物質相互作用のリアルタイム解析実験方法(永田和宏、半田宏、編集シュプリンガーフェアラーク東京(株)発行)」に記載されている。表面プラズモン共鳴測定には、例えば角度検出法、波長検出法そして強度検出法などを採用した各種測定方法がある。そうした中で角度検出法を採用したSPR装置としては、例えば特開平9−292333号公報に記載されている。ここで図3は、同公報に記載されたSPR装置の側面形状を示した図である。
このSPR装置200では、レーザ光照射手段220から発振されたレーザ光240が、入射側シリンドリカルレンズ221によって平行光になり、入射側シリンドリカルレンズ222を介し、更に入射側シリンドリカルレンズ223によって収束させてプリズム230と金属薄膜210との界面に照射される。一方、金属薄膜210とプリズム230との界面231で全反射したレーザ光240は、平行光とする出射側シリンドリカルレンズ224と更に出射側シリンドリカルレンズ225を介して光検出手段250に受光される。
そして、光検出手段250の各受光素子列毎に出力される光検出信号は、全反射したレーザ光240の強度Iを入射角θ毎に示すものとなる(図2参照)。また、特定の入射角θで入射した光は、金属薄膜210とサンプル液260との界面に表面プラズモンを励起させるので、この光については反射光強度Iが鋭く低下する。そのため光検出手段250の各受光素子毎に出力される光検出信号Sを用いれば上記入射角θが分かり、この入射角θの時間的変化からサンプル液260中の特定物質の定量性や親和性を分析することができる。
特開平9−292333号公報(第2−3頁、第1図)
しかしながら、こうした従来のSPR装置200は、感知部を挟んで発光部と受光部とが左右対称に配置されており、レーザ光照射手段220から光検出手段250の距離が遠いものであったために大型化してしまう問題があった。すなわち、図3に示すように従来のSPR装置200は、金属薄膜210とプリズム230の左側にはレーザ光照射装置220、入射側シリンドリカルレンズ221、入射側シリンドリカルレンズ222及び入射側シリンドリカルレンズ223が、そして右側には出射側シリンドリカルレンズ224、出射側シリンドリカルレンズ225及び光検出手段250が横並びに配置され、レーザ光照射装置220から光検出手段250までの距離が長くなってしまっていた。
更に、こうした従来のSPR装置200は、光検出手段250の感度が十分でない場合があり、測定精度が落ちることがあった。これは、CCDカメラなどによる光検出手段250の各受光素子間で検出された光量の差が十分でないことが原因として生じ得る。
更に、こうした従来のSPR装置200は、光検出手段250の感度が十分でない場合があり、測定精度が落ちることがあった。これは、CCDカメラなどによる光検出手段250の各受光素子間で検出された光量の差が十分でないことが原因として生じ得る。
よって、本発明は、かかる課題を解決すべく、小型化が可能で感度の良い表面プラズモン共鳴装置を提供することを目的とする。
本発明の表面プラズモン共鳴装置は、測定試料を保持する金属薄膜に対して光源からの光を照射し、その金属薄膜で全反射した反射光を光検出器によって受光させ、情報処理手段がその光検出器からの測定信号を受けて測定試料の状態を前記反射光の強度に基づいて解析するものであって、平行光にして照射された前記光源からの入射光を一部透過させるハーフミラーと、そのハーフミラーを透過した入射光を前記金属薄膜に収束させる集光レンズと、前記金属薄膜が一平面に形成された透過材料体と、その透過材料体との界面にて前記金属薄膜を反射した光が同じ光路を通って前記金属薄膜に再度反射して戻るようにする反射ミラーとを有し、前記光検出器は、前記金属薄膜を2度反射して戻った反射光が前記ハーフミラーで反射する位置に配置されたものであることを特徴とする。
また、本発明の表面プラズモン共鳴装置は、前記透過材料体が集光レンズによって収束される光が直交する曲率の球面で形成され、前記反射ミラーは、同じ曲率の湾曲面で形成され当該透過材料体表面に取り付けられたものであることを特徴とする。
また、本発明の表面プラズモン共鳴装置は、前記光源から透過材料体までの光路上に、光の偏光状態をP偏光のみに規制するための偏光部材が設置されたものであることを特徴とする。
また、本発明の表面プラズモン共鳴装置は、前記光源から透過材料体までの光路上に、光の偏光状態をP偏光のみに規制するための偏光部材が設置されたものであることを特徴とする。
本発明の表面プラズモン共鳴装置では、光源から出力された光がレンズを介して平行光となってハーフミラーへと照射される。ハーフミラーでは、光の一部が透過し、その透過した光は集光レンズによって収束され透過材料体に形成された金属薄膜に対して所定の角度範囲で照射される。金属薄膜では照射された光は表面プラズモン共鳴現象を起こす。その反射光が更に反射ミラーで反射して同じ入射角で逆向きに金属薄膜に照射され、再び共鳴現象を起こす。そして、金属薄膜を2度反射した光が集光レンズを通ってハーフミラーで反射し、光検出器に照射され受光される。
よって、本発明の表面プラズモン共鳴装置では、反射ミラーを使用して金属薄膜を反射した光を光源側に戻すようにしたので、光源と光検出器とを近づけることで装置全体をコンパクトにすることができる。
また、本発明の表面プラズモン共鳴装置では、反射ミラーによって光を往復させて金属薄膜を2度反射させるようにしたので、表面プラズモン共鳴現象を発生させる角度で照射された光と、そうでない角度で照射された光の光量差を大きくして感度を上げることができる。
また、本発明の表面プラズモン共鳴装置では、反射ミラーによって光を往復させて金属薄膜を2度反射させるようにしたので、表面プラズモン共鳴現象を発生させる角度で照射された光と、そうでない角度で照射された光の光量差を大きくして感度を上げることができる。
次に、本発明に係る表面プラズモン共鳴装置の一実施形態について図面を参照しながら以下に説明する。図1は、一実施形態の表面プラズモン共鳴装置を示した図である。本実施形態の表面プラズモン共鳴装置(以下、「SPR装置」とする)10は、不図示の光照射装置から発振された光Pがコリメーションレンズによって平行光になり、その先に図示するハーフミラー1が傾けて配置されている。ハーフミラー1は、光Pの50パーセントが反射し、残る50パーセントが透過するものである。なお、矢印F方向に反射する光は省略している。ハーフミラー1を透過した光Pの照射先には集光レンズ2が配置されている。この集光レンズ2によって、光Pが図示するように感知部に収束されるようになっている。
感知部には、光Pが透過する半球形状のプリズム3が配置され、その平面部の中心位置周辺に金属薄膜4が45nm程度の厚さで成膜されている。表面プラズモン共鳴させるには、金や銀などのある種の金属が必要で、一般的には化学的不活性や表面プラズモン共鳴シグナルの発生効率の良さなどの理由から金が用いられている。ここでも金属薄膜4には金が使用されている。なお、金属薄膜4上には、特定の検出種と相互作用して特異的に結合する結合物質(リガンド、分子認識素子)が形成される。
ところで、この金属薄膜4に照射される光Pは、所定の角度範囲で入射するように設定されている。ここで所定の角度範囲とは、表面プラズモン共鳴角が検出できる角度範囲であるが、共鳴角が測定するターゲットによって異なるため、適した角度で光Pが金属薄膜4に照射されるように設計する必要がある。特に本実施形態では、図2で示す表面プラズモン共鳴曲線(以下「SPR曲線」とする)において、2つの極小角θA,θBを含む角度で照射するように金属薄膜4に光Pを収束させる。
次に、本実施形態ではプリズム3の球面に反射ミラー5が貼り付けられている。この反射ミラー5は、照射された光Pが同じ光路をたどって往復し、金属薄膜4の反射を2度行うようにしたものである。従って、本実施形態では光の干渉が起きないように、光照射装置には干渉性のない光を発する発光ダイオードが使用される。
プリズム3の球面は集光レンズ2によって収束される光Pが直交する曲率で形成されており、同じ曲率の反射ミラー5にも直交方向に照射される。こうした反射ミラー5で反射した光Pは再び同じ光路を逆向きにたどり、金属薄膜4で反射してハーフミラー1に到達するようになっている。そして、ハーフミラー1によって光Pが反射する位置にCCDカメラなどの光検出アレイ6が配置され、その光検出アレイ6にはインターフェースを介して情報処理手段が接続されている。
プリズム3の球面は集光レンズ2によって収束される光Pが直交する曲率で形成されており、同じ曲率の反射ミラー5にも直交方向に照射される。こうした反射ミラー5で反射した光Pは再び同じ光路を逆向きにたどり、金属薄膜4で反射してハーフミラー1に到達するようになっている。そして、ハーフミラー1によって光Pが反射する位置にCCDカメラなどの光検出アレイ6が配置され、その光検出アレイ6にはインターフェースを介して情報処理手段が接続されている。
続いて、以上のような構成からなるSPR装置10の作用について以下に説明する。
先ず、不図示の光照射装置から発振された光Pは、不図示のコリメーションレンズなどを通り平行光となってハーフミラー1へと照射される。ハーフミラー1では、光Pの50パーセントが矢印Fで示す方向に反射し、残る50パーセントが透過する。ハーフミラー1を透過した光Pは、集光レンズ2によって収束されプリズム3へ入射する。そして、その平面部に設けられた金属薄膜4に対して所定の角度範囲で照射される。なお、図示していないが、平行光の光Pがハーフミラー1へ照射される前に偏光フィルタを配置してP偏光のみを通過させるようにするのが好ましい。
先ず、不図示の光照射装置から発振された光Pは、不図示のコリメーションレンズなどを通り平行光となってハーフミラー1へと照射される。ハーフミラー1では、光Pの50パーセントが矢印Fで示す方向に反射し、残る50パーセントが透過する。ハーフミラー1を透過した光Pは、集光レンズ2によって収束されプリズム3へ入射する。そして、その平面部に設けられた金属薄膜4に対して所定の角度範囲で照射される。なお、図示していないが、平行光の光Pがハーフミラー1へ照射される前に偏光フィルタを配置してP偏光のみを通過させるようにするのが好ましい。
金属薄膜4は、サンプル液に浸けられるなどしている。そして、プリズム3に入射した光Pは金属薄膜4のプラズモン共鳴検知面を所定の角度範囲で反射し、その反射した光Pがプリズム3から出ることなく、その球面に沿って貼り付けられた反射ミラー5で反射する。光Pは、反射ミラー5に対して直交方向に進んで照射されるので、180゜方向を反転させて同じ光路を戻ることになる。そのため、光Pは再び同じ角度で金属薄膜4に照射される。そして、再度金属薄膜4のプラズモン共鳴検知面を反射した光Pは、プリズム3から集光レンズ2へと進む。
集光レンズ2を通った光Pは平行光になって再びハーフミラー1へと照射され、その50パーセントが反射して光検出アレイ6へと照射される。本実施形態では、こうしてプリズム3内を往復して金属薄膜4を2度反射した光Pが光検出アレイ6へと受光される。光検出アレイ6では光Pの強度に比例した出力電圧が生ずる。そして、光検出アレイ6から出力された測定信号は、図示していないインターフェースを介して処理装置へと送信され、この測定信号に基づいてターゲットに関する定性及び定量情報が反射光強度、具体的には、反射光強度からわかる共鳴角度の変化Δθ(図2)に基づいて解析される。
ところで、所定の角度で照射された光Pは、プリズム3と金属薄膜4との界面で全反射するためエバネッセント波が励起される。その入射角においてエバネッセント波の振動周期と金属薄膜4表面に発生する表面プラズモン波の周期が等しくなり、共鳴現象により表面プラズモンが励起される。その結果、入射光のエネルギが表面プラズモン共鳴に使われるため、金属薄膜4を反射した反射光の強度が低下する。本実施形態では、更に反射ミラー5を反射して同じ入射角で金属薄膜4に光Pが照射され、同じ光が2度にわたって金属薄膜4を全反射する。これにより2度にわたり共鳴現象が起こる結果、入射光のエネルギがより多く表面プラズモン共鳴に使われるため反射光強度の低下が顕著になる。
ここで図2は、表面プラズモン共鳴センサによって検出される反射光強度の入射角度依存性を示した表面プラズモン共鳴曲線であるが、図示するように反射光強度の入射角度依存性を測定すると、ある特定の角度において反射光の強度が減衰した「光の谷」が認められる。この光学現象が表面プラズモン共鳴である。表面プラズモン共鳴は入射光の波長及び角度に依存しており、励起されると特定の入射角又は特定の波長を有する光成分の光エネルギーが表面プラズモン波へ移行し、対応する入射角又は波長を有する反射光が減少する。
また、表面プラズモン共鳴は金属層の表面におけるサンプル液の屈折率にも依存しており、サンプル液の屈折率が変化すれば波長一定の場合には共鳴角が変化し、入射角度一定の場合には共鳴波長が変化する。従って、反射光の強度に基づき共鳴角或いは共鳴波長を調べることにより、金属層の表面におけるサンプル液の屈折率を分析することができる。金属薄膜4表面近傍の屈折率が変化し、図2に示すようにθAからθBのように共鳴角がシフトした場合、このシフト量の時間的変化を検出すれば、サンプル液などについてその定性情報及び定量情報を得ることができる。
よって、本実施形態のSPR装置10によれば、反射ミラー5を使用したことにより金属薄膜4を反射した光Pを戻し、不図示の光照射装置と光検出アレイ6とを近づけることができた。そのため、図3に示す従来装置では、レーザ光照射装置220と光検出アレイ250とが金属薄膜210などの感知部を挟んで左右に配置されていたが、本実施形態のSPR装置10では、前述したように感知部に対して一方に配置させているので、装置全体をコンパクトにすることができる。
また、本実施形態のSPR装置10では、反射ミラー5によって金属薄膜4を2度反射した光Pが光検出アレイ6へと受光させているので、SPR現象を発生させる角度で照射された光と、そうでない角度で照射された光の光量差が非常に大きくなって感度を上げることができた。そのため、サンプル液中のターゲットの定性及び定量をより正確に測定することができる。
また、本実施形態のSPR装置10では、反射ミラー5によって金属薄膜4を2度反射した光Pが光検出アレイ6へと受光させているので、SPR現象を発生させる角度で照射された光と、そうでない角度で照射された光の光量差が非常に大きくなって感度を上げることができた。そのため、サンプル液中のターゲットの定性及び定量をより正確に測定することができる。
以上、本発明の表面プラズモン共鳴装置の一実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。
前記実施形態では、半球形状に形したプリズム3に反射ミラー5を貼設したが、プリズム3は半球形状に限られず、また反射ミラー5は必ずしもプリズムに貼設しなければならないものではない。
前記実施形態では、半球形状に形したプリズム3に反射ミラー5を貼設したが、プリズム3は半球形状に限られず、また反射ミラー5は必ずしもプリズムに貼設しなければならないものではない。
1 ハーフミラー
2 集光レンズ
3 プリズム
4 金属薄膜
5 反射ミラー
6 光検出アレイ
10 表面プラズモン共鳴装置
P 光
2 集光レンズ
3 プリズム
4 金属薄膜
5 反射ミラー
6 光検出アレイ
10 表面プラズモン共鳴装置
P 光
Claims (3)
- 測定試料を保持する金属薄膜に対して光源からの光を照射し、その金属薄膜で全反射した反射光を光検出器によって受光させ、情報処理手段がその光検出器からの測定信号を受けて測定試料の状態を前記反射光の強度に基づいて解析する表面プラズモン共鳴測定装置において、
平行光にして照射された前記光源からの入射光を一部透過させるハーフミラーと、
そのハーフミラーを透過した入射光を前記金属薄膜に収束させる集光レンズと、
前記金属薄膜が一平面に形成された透過材料体と、
その透過材料体との界面にて前記金属薄膜を反射した反射光が同じ光路を通って前記金属薄膜に再度反射して戻るようにする反射ミラーとを有し、
前記光検出器は、前記金属薄膜を2度反射して戻った反射光が前記ハーフミラーで反射する位置に配置されたものであることを特徴とする表面プラズモン共鳴装置。 - 請求項1に記載する表面プラズモン共鳴装置において、
前記透過材料体は、集光レンズによって収束される光が直交する曲率の球面で形成され、前記反射ミラーは、同じ曲率の湾曲面で形成され当該透過材料体表面に取り付けられたものであることを特徴とする表面プラズモン共鳴装置。 - 請求項1又は請求項2に記載する表面プラズモン共鳴装置において、
前記光源から透過材料体までの光路上に、光の偏光状態をP偏光のみに規制するための偏光部材が設置されたものであることを特徴とする表面プラズモン共鳴装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004158581A JP2005337939A (ja) | 2004-05-28 | 2004-05-28 | 表面プラズモン共鳴装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004158581A JP2005337939A (ja) | 2004-05-28 | 2004-05-28 | 表面プラズモン共鳴装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005337939A true JP2005337939A (ja) | 2005-12-08 |
Family
ID=35491677
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004158581A Withdrawn JP2005337939A (ja) | 2004-05-28 | 2004-05-28 | 表面プラズモン共鳴装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005337939A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008082846A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Fujifilm Corp | 測定装置及び測定方法 |
CN100451622C (zh) * | 2006-12-01 | 2009-01-14 | 清华大学 | 表面等离子体共振生化多通道外差相位检测方法及系统 |
KR101245544B1 (ko) | 2010-11-29 | 2013-03-21 | 한국전기연구원 | 표면 플라즈몬 현상에 의한 광간섭 변화 특성을 이용한 바이오 센싱 장치 |
-
2004
- 2004-05-28 JP JP2004158581A patent/JP2005337939A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008082846A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Fujifilm Corp | 測定装置及び測定方法 |
CN100451622C (zh) * | 2006-12-01 | 2009-01-14 | 清华大学 | 表面等离子体共振生化多通道外差相位检测方法及系统 |
KR101245544B1 (ko) | 2010-11-29 | 2013-03-21 | 한국전기연구원 | 표면 플라즈몬 현상에 의한 광간섭 변화 특성을 이용한 바이오 센싱 장치 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101802592B (zh) | 使用旋转镜的表面等离子共振传感器 | |
JP2005156415A (ja) | 表面プラズモン共鳴センサ | |
JP6991972B2 (ja) | 検出チップ、検出システムおよび検出方法 | |
US20090218496A1 (en) | Sensing apparatus and a method of detecting substances | |
JP3562912B2 (ja) | 表面プラズモンセンサー | |
CN108709874A (zh) | 基于自混合干涉的表面等离子体共振传感装置及方法 | |
JP3343086B2 (ja) | 表面プラズモンセンサー | |
JP2009204483A (ja) | センシング装置 | |
JP2004361256A (ja) | 表面プラズモン共鳴センサー及び表面プラズモン共鳴測定装置 | |
JP2004219401A (ja) | 表面プラズモンセンサー及び、表面プラズモン共鳴測定装置、検知チップ | |
JP2005337939A (ja) | 表面プラズモン共鳴装置 | |
US6788415B2 (en) | Turntable measuring apparatus utilizing attenuated total reflection | |
JP2013137272A (ja) | 表面プラズモン励起蛍光計測装置、およびその計測条件の設定方法 | |
JP2005337940A (ja) | 表面プラズモン共鳴装置 | |
JP5300249B2 (ja) | 液体分析装置 | |
JP6414205B2 (ja) | 表面プラズモン増強蛍光測定装置および表面プラズモン増強蛍光測定方法 | |
JP4299798B2 (ja) | 光熱変換測定装置,試料セル | |
WO2021009995A1 (ja) | 検出装置および検出方法 | |
JP2005156414A (ja) | 表面プラズモン共鳴測定装置 | |
JP2005147891A (ja) | 表面プラズモン共鳴センサ | |
JP2005221274A (ja) | 測定方法および測定装置 | |
WO2021192735A1 (ja) | 検出装置 | |
JP2002195942A (ja) | 全反射減衰を利用したセンサー | |
FI84940B (fi) | Sensor som aer baserad pao ytplasmonresonansfenomenet. | |
JP4170350B2 (ja) | 全反射減衰を利用したセンサー |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20070419 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Effective date: 20080328 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 |