JP2005326897A - 技術・知財評価装置及び技術・知財評価方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 技術文献を用い、当該文献に記載の技術が新たな分野の技術か、特異な技術、または極くありふれた技術か否か、等、その主分野からの外れの度合いを外れ値として演算したものを活用し、法人や企業、研究機関、大学等における知財活動、新技術の萌芽・兆候などを読み取ることが可能な技術評価装置、及びその方法を提供する。
【解決手段】 調査対象の技術文献中に含まれるキーワードを抽出取得し、対象母集団中の技術文献の総数との比率を演算し、個々のキーワード毎にその比率を演算して平均して技術文献の類似率を算出して、その類似率の分布の平均値から１標準偏差σの程度の範囲より大きく外へ外れた度合いの領域に分布する個々の技術文献を、その企業の典型的技術に該当する技術文献としたり、又は例外的な技術に該当する技術文献として、より実際に近い活動状況とその成果である、特許公報に記載された発明、技術を、知財を正確に評価する。
【選択図】図１３

Description

本発明は、技術の評価及び知的財産の評価に関するもので、更に詳細には、例えば調査対象の特定の技術文献（特許公報、特許技法、技術論文、学術論文、博士論文、学術専門書、技術専門書、製品技術仕様書、製品カタログ、インターネット上公開技術情報など）が、ある母集団の技術文献（特許公報、公開技法、技術論文、カタログ、審決公報、出願・審査・登録・審判等に関する各種経過情報や裁判速報その他も含む、学術専門書、技術専門書など）に対して、どの程度類似しているのかを定量的に評価出来るよう、統計的な演算手法にて統計的類似率を定義してこれを用いることを特徴とする、技術評価装置及び知財評価装置並びに技術評価方法及び知財評価方法に関するものである。

本件出願人の先の出願（特許文献１参照）に開示された技術では、以前は存在しなかった統計的な類似率を算出することにより、調査対象の技術文献が母集団の技術文献とどの程度類似しているかの判断を定量的統計的に行うことが可能となった。

しかし、この技術類似評価装置及び技術類似評価方法に於いて、用いられる統計的類似率の算出方法は、特定の調査対象技術文献とこれと比較すべき、他の特定の技術文献（全技術文献数、またはそれにより構成する母集団）との類似度を算定して評価（特許文献１参照）し、特に、それぞれの技術文献を、特定の「キーワード」（Ｋ１，Ｋ２，Ｋ３，・・・，Ｋｍ，・・・Ｋｎ）で切り分け、これら個々のキーワードが含まれる技術文献数と、全技術文献数との比率を演算するが、実際はこれの各キーワード全てにわたって演算した「比率」を平均して統計的な類似率とした。

上記説明によると、技術的に特徴のある、重要な意味を持つ「キーワード」及びこの「キーワード」に関連する重要な（特徴ある、或る特定の意味を持つ）技術文献が、他の普遍的に分布する、ごくありふれた「キーワード」群に埋もれてしまうなど、統計的な数値特有の性質のため、所望の調査対象の評価項目に直接関係する、際立った技術的特徴を有する技術文献を選択的に抽出することは、種々特有の工夫と、すこぶる面倒な数理処理を必要とするなどの問題点があった。
特願２００２−３８１７３３

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、従来と異なり、２つの技術文献文書情報空間の間の統計的な類似率の算出において、一文書をその中の「キーワード」を成分とする文書情報ベクトルとする。各「キーワード」は、単語、熟語、名詞、動詞、助動詞、形容詞、副詞、助詞などの他、特に技術文献が特許公報の場合には、書誌事項などに含まれる項目（ＩＰＣ、出願日、出願番号、出願人名、発明者、審査請求の有無、補正の有無、国内優先の有無、外国出願の有無、拒絶理由の有無、審判請求の有無、登録日、登録番号、等）も含んだもので、分かち書きし、１字、２字、３字など、各文字数毎に、機械的に切り出したもので構成される。

そして、特に従来と異なる特殊の、特定の、特徴的、典型的な技術の分野での動向などを、調査対象の法人・企業の技術動向に関して迅速にマクロ的且つミクロ的に計量評価出来る技術・知財評価装置及び技術・知財評価方法を提供することを目的とするものである。

上記課題を解決し、上記目的を達成するために、本発明の技術・知財評価装置に係る請求項１の発明は、調査対象技術文献中に含まれる所定のキーワードを取得するキーワード取得手段と；
該調査対象技術文献を記憶するデータベースの母集団の中から該所定のキーワードが含まれる関連技術文献の数量ｎを計数する計数手段と、該母集団中にある全ての技術文献の総数Ｎを取得する総数取得手段と、前記計数手段で計数した前記所定のキーワードを含む前記関連技術文献の数量ｎと、前記取得した前記母集団中にある前記全ての技術文献の総数Ｎとの比率を演算して第１類似率を算出するとともに、前記所定のキーワードを含む複数のキーワードに付き、その各キーワード毎に比率を演算し、該算出した複数のキーワード毎に比率の平均を演算して第２類似率を算出する類似率算出手段と、前記算出した第１類似率、第２類似率、第３類似率、第４類似率をそれぞれ表示手段、記録手段、又は送出手段のいずれか１以上に出力する出力手段と；
前記第２類似率、第３類似率、第４類似率の分布の平均値と標準偏差を演算する平均−標準偏差演算手段と、
前記平均−標準偏差演算手段▲７▼で演算した数値のうち平均値からの偏移が標準偏差程度の大きさの範囲を切出す切出し手段と；
該切出し手段により切出された範囲を外れ領域と判断する外れ領域判断手段と；
を有することを特徴とするもので、さらに該外れ領域判断手段が、前記調査対象技術文献中の技術の特殊性を前記外れ領域と特定する特定手段を含んでいることを特徴とする。

請求項２及び請求項５記載の発明は、その対象とする技術文献は、特許文献（特許公報、特許公開公報、登録実用新案公報、公開実用新案登録公報、公表公報、再公表公報、外国公報、公開技法等も含む文献）の他、非特許文献（著作権関連情報、ソフト工学技術文献、博士論文、学術論文誌、科学ジャーナル誌、科学技術専門書、新聞、内外の図書館や内外の大学及び研究機関の図書館にある公開された科学技術研究報告、インターネット上に開示された科学技術情報ソース等々を含む分権）のいずれか１以上であることを特徴とする。

請求項１乃至３項記載の発明は、複数の調査対象の特許文献中に含まれる所定のキーワードについて、その所定のキーワードを含む特許文献が特許文献の母集団中に存在する比率に基づいた類似率を出願時期毎に取得する類似率取得手段と；
前記複数の調査対象の特許文献について出願から設定登録までの年数をそれぞれ演算して登録所要年数を算出する算出手段と；
前記取得した類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に算出する標準偏差算出手段と；
前記類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に表示する表示手段と；を備えた構成をとることを特徴とする。

請求項４の技術・知財評価方法は
調査対象技術文献中に含まれる所定のキーワードを取得するキーワード取得工程と；
該調査対象技術文献を記憶するデータベースの母集団の中から該所定のキーワードが含まれる関連技術文献の数量ｎを計数する計数工程と；
該母集団中にある全ての技術文献の総数Ｎを取得する総数取得工程と；
前記計数工程で計数した前記所定のキーワードを含む前記関連技術文献の数量ｎと、前記取得した前記母集団中にある前記全ての技術文献の総数Ｎとの比率を演算して第１類似率を算出するとともに、前記所定のキーワードを含む複数のキーワードに付き、その各キーワード毎に比率を演算し、該算出した複数のキーワード毎に比率の平均を演算して第２類似率を算出する類似率算出工程と；
前記算出した第１類似率、第２類似率、第３類似率、第４類似率をそれぞれ表示手段、記録手段、又は送出手段のいずれか１以上に出力する出力工程と；
を備える技術・知財評価方法であって、
前記第２類似率、第３類似率、第４類似率の分布の平均値と標準偏差を算出する平均−標準偏差算出工程と；
前記平均−標準偏差算出工程で算出した数値のうち平均値からの偏移が標準偏差程度の大きさの領域を切出す偏移領域切出し工程と；
該偏移領域切出し工程により切出された領域を外れ領域と判断する外れ領域判断工程と；
を有し、該外れ領域判断工程は、前記調査対象技術文献中の技術の特殊性を前記外れ領域と特定する外れ領域特定工程を含むことを特徴とする。

請求項６の技術・知財評価方法は
複数の調査対象の特許文献中に含まれる所定のキーワードについて、その所定のキーワードを含む特許文献が特許文献の母集団中に存在する比率に基づいた類似率を出願時期毎に取得する類似率取得工程と；
前記複数の調査対象の特許文献について出願から設定登録までの年数をそれぞれ演算して登録所要年数を算出する登録所要年数算出工程と；
前記取得した類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に算出する標準偏差算出工程と；
前記類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に表示する表示工程と；
を備えたことを特徴とする。

以上、説明したように、本発明によれば、上記のように構成されているので、以下のような効果が得られる。

請求項１及び４記載の発明によれば、調査対象技術文献中に含まれる所定のキーワードを取得するキーワード取得手段と；
該調査対象技術文献を記憶するデータベースの母集団の中から該所定のキーワードが含まれる関連技術文献の数量ｎを計数する計数手段と、該母集団中にある全ての技術文献の総数Ｎを取得する総数取得手段と、前記計数手段▲２▼で計数した前記所定のキーワードを含む前記関連技術文献の数量ｎと、前記取得した前記母集団中にある前記全ての技術文献の総数Ｎとの比率を演算して第１類似率を算出するとともに、前記所定のキーワードを含む複数のキーワードに付き、その各キーワード毎に比率を演算し、該算出した複数のキーワード毎に比率の平均を演算して第２類似率を算出する類似率算出手段と、前記算出した第１類似率及び第２類似率をそれぞれ表示手段、記録手段、又は送出手段のいずれか１以上に出力する出力手段と、前記第２類似率の分布の平均値と標準偏差を演算する平均−標準偏差演算手段と、前記平均−標準偏差演算手段で演算した数値のうち平均値からの偏移が標準偏差程度の大きさの範囲を切出す切出し手段と、該切出し手段により切出された範囲を外れ領域と判断する外れ領域判断手段と、を有することを特徴とするもので、さらに該外れ領域判断手段が、前記調査対象技術文献中の技術の特殊性を前記外れ領域と特定する特定手段を含んでいることを特徴とする構成とこれらにそれぞれ対応する各工程から、前記類似率算出手段及び類似率算出工程において演算した比率に対して、キーワード固有の重み付け計数を乗算し、あるいは巾乗して類似率を算出したり、あるいは該複数のキーワード毎に比率の平均を演算して類似率を算出したりするようにしたので、出現頻度の高いありふれた用語のキーワードや、技術分野を特定する用語であって出現頻度の少ないキーワード等に対して合目的に加重あるいは平均化して適切な類似率を算出することが出来るとともに、調査対象の技術文献が新しい分野の技術文献であるか否かの判断を俯瞰しマクロ的の中にもミクロ的に、特に外れ値を計算し、新規な、典型的技術か、類似か否かを示す定量的に行うことができる。

また、調査対象の技術文献が新しい技術分野であるか否かの判断を定量的に行うことができるなどの効果を奏する。さらにまた、自社自身の特徴や、他社との対比、全事業分野との対比において、複数の類似率を活用できるので、より柔軟な実態に近い解析評価ができる、などの効果がある。

請求項２及び請求項５の技術・知財評価装置において、前記技術文献は、特許文献（特許公報、特許公開公報、登録実用新案公報、公開実用新案登録公報、公表公報、再公表公報、外国公報、公開技法等も含む文献）の他、非特許文献（著作権関連情報、ソフト工学技術文献、博士論文、学術論文誌、科学ジャーナル誌、科学技術専門書、新聞、内外の図書館や、内外の大学及び研究機関の図書館にある公開された科学技術研究報告、インターネット上に開示された科学技術情報ソース等々を含む分権）のいずれか１以上であることを特徴とする構成を有するので、企業・法人の無形財産の価値を定量的、定性的に取り込んで、その企業・法人の価値を内外にわたって的確に分析評価できる、などの効果を奏する。

請求項１乃至３及び／又は６記載の発明は、複数の調査対象の特許文献中に含まれる所定のキーワードについて、その所定のキーワードを含む特許文献が特許文献の母集団中に存在する比率に基づいた類似率を出願時期毎に取得する類似率取得手段と；
前記複数の調査対象の特許文献について出願から設定登録までの年数をそれぞれ演算して登録所要年数を算出する算出手段と；
前記取得した類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に算出する標準偏差算出手段と；
前記類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に表示する表示手段と；
を備えた構成と、それぞれの構成に対応する各工程から成り、利用者は多数の調査対象の特許情報について類似率と登録所要年数との分布の中での集中、あるいは分散の程度を知ることができる、などの効果を奏する。

以下に、本発明に係わる技術・知財評価装置及びその方法に関し、図面に基づいて詳細に説明する。

図１は、本発明に基本的に係わる企業評価システムの構成図である。

本発明が前提とする、企業評価システム１には、図１に示すように、企業の評価や財務に関する情報や特許に関する情報から経営や財務と特許との相関を分析して企業価値を評価するための参考指標などの判断情報を作成する評価手段３を備える。

データベース２には、企業の経営や財務に関する経営財務情報を記憶した経営財務情報データベース２１と、特許情報などの技術文献を記憶する特許情報データベース２２とを備える。

図２は、本発明に基本的に係わる評価手段３、知財評価報告書提供手段４の機能を含む評価装置３０の信号処理系ブロック図である。
同図に示すように評価装置３０の情報送受信部には、公衆回線又は通信ネットワーク等の通信網３６４を介して他の通信機器と情報の送受信を行うための送受信手段３６５（キーワード取得手段、類似率取得手段、登録件数取得手段、出力手段に機能を含む）が設けられている。

また図３に示すように、特許情報データベース２２に記憶される特許情報２２０には、特許情報等の技術文献が記録されている。このうち特許情報として得られる情報には、特許査定された特許公報情報（特許請求の範囲や発明の詳細な説明、要約書を含む明細書や図面又は書誌事項など）２２１と、特許として登録される前に発行された公開公報情報２２２などがあり、公開特許公報は公表されたものや補正されたものも含む概念である。

また図１に示すように評価手段３には、特許動向分析手段３１と、登録動向分析手段３２と、登録動向予測手段３３、特許経済指標算出手段３４と、特許資産価値分析手段３５と、特許経済予測手段３６と、株価妥当性分析手段３７とを備える。

また図４に示すように、特許（出願・登録）動向分析手段３１には、出願の増加や減少などの動向を分析する出願動向分析手段３１１、登録の増加や減少などの動向を分析する登録動向分析手段３１２を備える。

また図５に示すように、特許評価システム１１（企業評価システム１に含まれるものであってもよい）には、特許や実用新案などの出願された公報などから得られる特許情報２２０（技術文献であってもよい）を記憶する特許情報データベース２２と、特定の公報とそれ以外に抽出した任意の公報との比較から前記特定の公報の新規性を評価する特許評価手段５を備える。さらに、企業の基本情報２３０を記憶する基本情報データベース２３を備える。

特許評価手段５（情報処理手段３８０）には、企業別に特許情報を分け、その中で特定の出願を選択し、それ以外に抽出した任意の特許情報２２０から母集団（例えば、月単位、年単位など）を取り出して類似性などから特許価値を評価するための参考指標などを求める機能を備える。

以下に、この特許価値判定手法について説明する。特許出願や特許発明の価値は、その発明に新規性や進歩性がどれだけあるかが問われる。また、企業におけるその特許出願又は特許発明の位置づけは、従来の技術とどれだけ共通点があるか否か、違いがあるか否かによって判断される。そこで本発明では、特許出願の価値や位置づけを、調査対象の特許情報中に含まれる所定のキーワードについて注目し、その所定のキーワードを含む特許情報が特許情報の母集団中に存在する比率に基づいた類似率を算出して、従来の特許出願や特許発明との類似性や、従来の特許出願や特許発明との相対位置を表現しうる。

次に、図５、図６に示すように、類似性判定手段５１（情報処理手段３８０）では、調査対象の出願又は特許発明等に対して、母集団を企業別、業種別、分野別、時期別等で選択する。ここでは、所定のキーワードを用いて類似率を算出して、類似率を判断する場合について説明する。

技術文献の中から簡単に得られる数値としては、
１．調査対象の公報（技術文献））中に、所定のキーワードがそれぞれ何個存在するか。
２．調査対象の公報（技術文献））中に存在する所定のキーワードを含む特許公報（技術文献）が、母集団中に何件存在するか。
３．上記所定のキーワードを含む特許公報（技術文献）の件数と、母集団に含まれる全特許公報件数（技術文献）の割合に基づいて算出した類似率。
４．キーワードの重要性や出現頻度を考慮して、母集団中において所定のキーワードを含む特許公報（技術文献）の件数等に対して適当な重みを付けて類似率を算出したもの。
等が考えられる。また上述のように、異なる調査対象や異なる母集団との比較を行うためには、規格化因子Ｎ（調査対象となる公報に含まれるキーワードの種類の数）、Ｐａｌｌ（母集団中の特許公報の総件数）やＫａｌｌ（母集団中に含まれるキーワードの総数）等が必要となる。

ここで類似率とは、調査対象となる個々の特許公報及び／又は技術文献の母集団における類似関係を簡便に判定するために、新たに定義する指標である。具体的には、調査対象となる個々の特許公報及び／又は技術文献に含まれるキーワードが、母集団中の全特許公報及び／又は技術文献に含まれるか、という割合を、例えば百分率として算出したものである。

したがって、類似率が高いほど（類似率が大きな値を示すほど）調査対象の発明に類似または関連する発明の特許公報及び／又は技術文献が多数存在していることを意味するものとしている。
また、類似率が低いほど（類似率が小さな値を示すほど）調査対象の発明に類似または関連する発明の特許公報及び又は技術文献が少ないことを示している。

このため、類似率が低いほど、その母集団から見て概ね新規性や進歩性がある発明である可能性が高いと考えることができる。勿論、実際の評価に際しては定性的な分析が不可欠であるが、膨大な特許公報等の技術文献を一次スクリーニングする目的で使用するには大変有効な手段となる。本発明では、類似率を自動で算出することによって、統計対象の企業が出願した全ての特許公報等の技術文献や、関連する業界全体の企業が出願した全ての特許公報等の技術文献を母集団として、調査対象となる個々の特許公報の技術文献について類似率を算出することが可能となる。

規格化因子を考慮した類似率算出例として、以下の方法が考えられる。
図６には、特許公報の母集団１００（件数Ｐａｌｌ）と、調査対象となる特許公報１０１に含まれるキーワードＫ_１〜Ｋ_Ｎとの関係を示す図である。同図に示すように、母集団の特許公報の総件数（Ｐａｌｌ件数）の中にはキーワードＫ_１を含む特許公報（件数Ｐ（Ｋ_１））と、キーワードＫ_２を含む特許公報（件数Ｐ（Ｋ_２））、・・・、などが含まれているとする。

類似率は、調査対象の特許公報１０１と母集団１００中の各特許公報に含まれるキーワードの出現率を演算して求める。また類似性は、母集団の特許情報２２０中の特許情報に含まれる「要約」や「特許請求の範囲」、又は「発明の詳細な説明」等に記載されている文章中から所定のキーワードを検索して判断する。なお、上記の例では、特許公報における類似率について説明しているが、本発明は特許公報に限定されるものではなく、技術文献一般について類似率を算出するようにしても本発明の目的を達成することが可能である。

概念的に図示調査対象の特許公報１０１と母集団１００中の各特許公報に含まれるキーワードの出現率を演算して求める。また類似性は、母集団の特許情報２２０中の特許情報に含まれる「要約」や「特許請求の範囲」、又は「発明の詳細な説明」等に記載されている文章中から所定のキーワードを検索して判断する。なお、上記の例では、特許公報における類似率について説明しているが、本発明は特許公報に限定されるものではなく、技術文献一般について類似率を算出するようにしても本発明の目的を達成することが可能である。

上記類似率は、本発明の主旨でもある、類似率の外れ値該当（平均類似率の分布の標準偏差の範囲を超えた）特許文献及び／又は技術文献を特定し、その外れ値を計算表示する際に有用な情報を提供できる。その情報処理の基本的なシステム、構成を図１１、図１２に概念的に示す。

以下に、本発明の技術・知財評価装置及びその方法の実施例を、装置の説明を中心に、詳細に説明する。
図６に示すように、調査対象となる特許公報に含まれるｉ番目のキーワードをＫｉとする。調査対象となる特許公報１０１が、キーワードＫ１，Ｋ２，・・・，Ｋｉ・・・，ＫＮを含んでいるときに、キーワードＫｉについての類似率Ｓｉｍ（Ｋｉ）は、下記の式１で求めることが可能である。すなわち、

Ｋｉ ：調査対象に含まれるｉ番目のキーワード（１〜Ｎ）
Ｐ（Ｋｉ）：キーワードＫｉが含まれる母集団中の特許公報の数量
Ｐａｌｌ ：母集団中の特許公報の総件数
式１に示すように、類似率算出手段（情報処理手段３８０）は、複数のキーワード毎に比率を演算して算出し、該算出した複数のキーワード毎の比率の平均を演算し類似率Ｓ_０を算出することが可能となっている。

キーワード取得手段（通信手段３６５、入力インターフェース３７１、記録媒体インターフェース３７９、記録手段インターフェース３８５等）は、調査対象の技術文献中に含まれる所定のキーワードを取得することが可能となっている。
また、計数手段（情報処理手段３８０）は、技術文献を記憶するデータベースの母集団の中から前記所定のキーワードが含まれる技術文献の数量を計数することが可能となっている。

また、類似率算出手段（情報処理手段３８０）は、前記計数した所定のキーワードが含まれる技術文献の数量と、前記取得した母集団中の技術文献の総数との比率を算出して類似率を算出することが可能となっている。また、出力手段（送受信手段３６５、記録媒体インターフェース３７９、記録手段インターフェース３８５、表示インターフェース３７３、情報処理手段３８０等）は、前記算出した類似率を表示手段３７２、記録手段３８４、又は送信手段（送受信手段３６５）に出力することが可能となっている。

以下に、本発明の、他の実施例を詳細に説明する。
次の式に、キーワードＫｉについての類似率Ｓｉｍ（ｋｉ）の平均値を算出する式を以下に示す。

Ｎ ：調査対象の特許公報に含まれるキーワードの種類の数
ｋ_ｉ ：調査対象の公報にｉ番目のキーワード（ｉ＝１〜Ｎ）
Ｐ（ｋ_ｉ）：キーワードｋ_ｉが含まれる母集団の特許公報の数量
Ｐ_ａｌｌ ：母集団中の特許公報の総件数
で求めることが可能となっている。この式２に示すように、類似率算出手段（情報処理手段３８０）は、複数のキーワード毎に比率を演算し、該算出した複数のキーワード毎の比率の平均を演算して類似率ａｖｇＤＦ_１を算出することが可能となっている。

この類似率Ｓ１が大きな値である場合には、母集団中に存在する特許公報と、調査対象の特許公報とに共通のキーワードが多く存在する可能性が高いということであり、発明の属する技術分野が近似している可能性が高いことを示している。
また、類似率が大きいということは、対象の特許公報と近似する技術に関する特許出願が多く存在するということであり、また、既に製品化されて安定化した事業を継続している技術分野の発明に係わる特許公報である可能性が高いと判断することができる。

また、類似率が小さい値であるほど、母集団中に存在する特許公報と、調査対象の特許公報に共通のキーワードが少なく、発明の属する技術分野が異なる可能性が高いことを示している。また、別の視点で考えれば、類似率が小さいということは、対象の特許公報と近似する技術に関する特許出願が少ないということであり、従来には少ない新たな技術分野の発明に係わる特許公報である可能性が高いと判断することができる。

以下に、本発明の、他の実施例を詳細に説明する。以下に、類似率の他の算出例を示す。

Ｎ ：調査対象の特許公報に含まれるキーワードの種類の数
ｋ_ｉ ：調査対象の公報にｉ番目のキーワード（ｉ＝１〜Ｎ）
α（ｋｉ）：各キーワードに適当な重みが付けられた尾も見つけ計数（通常、α（ｋｉ）＝１）
Ｐ（ｋ_ｉ）：キーワードｋ_ｉが含まれる母集団の特許公報の数量
Ｐ_ａｌｌ ：母集団中の特許公報の総件数

上記の式３に示すように類似率算出手段（情報処理手段３８０）は、所定のキーワードについてその所定のキーワードを含む特許情報が特許情報の母集団中に存在する比率を算出し、この算出した比率に対してキーワード固有の重み付け計数を乗算して類似率を算出することが可能となっている。

上記の式３は、前述の式２に対して、特定のキーワードに対して所定の重み付け計数α（ｋｉ）を用いて類似率を算出するものである。この計数α（ｋｉ）は、通常「１」の値を入れるが、例えば設定したキーワードが「記録」のようにありふれたキーワードであるために、特許公報に記載された発明を特徴付ける意味合いが少ないキーワードであると思われる場合であって、利用者が類似率の小さい値について注目したい場合には、ありふれたキーワードの計数α（ｋｉ）として小さな値を設定するとよい。

上記の式３を用いることによって、キーワードＫｉの個々について独自の重み付けを付けることが可能となる。このキーワードと重み付け計数との関係は、予め特許公報に含まれるそのキーワードの数量や、技術文書一般に含まれるそのキーワードの数量、重要性、適切さ等を調査して、そのキーワードの出現頻度に基づいて、予めキーワードと関連付けて設定するものであってもよい。

このようにしてキーワードに重み付けを行うことによって、適切な技術用語が強調されて類似率に反映される。またキーワードに重み付けを行うことによって、ありふれた用語は、注目する類似率には影響されないこととなり、類似率の意味づけを適切に補正することが可能となる。技術の進歩によって特定のキーワードの使用頻度も変化する上に、キーワード自体の用語の意味が時代と共に変化することも多々あるので、そのキーワードによっては重み付け計数のメンテナンスを随時行う必要がある。

以下に、本発明の、他の実施例を詳細に説明する。以下に、類似率の他の算出例を示す。

Ｎ ：調査対象の特許公報に含まれるキーワードの種類の数
ｋ_ｉ ：調査対象の公報にｉ番目のキーワード（ｉ＝１〜Ｎ）
α ：各キーワードに適当な重みが付けられた重み付け係数（通常α＝１）
Ｐ（ｋ_ｉ）：キーワードｋ_ｉが含まれる母集団の特許公報の数量
Ｐ_ａｌｌ ：母集団中の特許公報の総件数

上記の式４に示すように類似率算出手段（情報処理手段３８０）は、所定のキーワードについてその所定のキーワードを含む特許情報が特許情報の母集団中に存在する比率を算出し、この算出した比率に対してキーワード固有の重み付け計数をαを用いて類似率を算出するものである。この式４では、類似率の計算を行う際に、多くの類似率が極端に１に近くなったり、又は０に近くなってしまい、類似率に差が出てこない場合に、適宜αを設定して類似率を算出する際に用いる数式である。特に母集団の特許情報の数量が数万件、あるいは数千万件もあるような場合において有効な手法である。

図７は、図６にて示した特許公報の母集団１００（件数Ｐａｌｌ）と、調査対象となる特許公報１０１に含まれるキーワードＫ１〜ＫＮとの関係に加えて、母集団中の特許公報の出願番号とその出願番号の各公報に含まれるキーワードの種類との関係を表した図である。
同図に示すように、母集団の特許公報の総件数（Ｐａｌｌ件）の中には、特許公報の出願番号毎にそれぞれのキーワードが含まれている。

図８は、図７にて示した調査対象となる特許公報１０１が、複数存在する場合を示す図である。調査対象の特許公報１０１は、母集団全体の特許公報としてもよいし、母集団の中の一部の特許公報であってもよい。また、母集団以外の特許公報であってもよい。

ここで、本発明の重要な特徴として、以下の事項を説明する。
上記の式２，３、４にて示される、Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３に対し、次式５、６を導入して、その外れ度合いδを演算算出して（図１４、１５参照）、対自社の外れ値の特徴、動向、位置（事業分野、技術分野全体での）を推定評価する（図１６、図１７参照）することが有功である。

数６

ε ＝ δ／σ ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 〔式６〕
σ ：標準偏差
ε ：標準類似率（又は規格化類似率）

図１５は、外れ度合いδ上を演算算出して（図１４、１５参照）、対自社の外れ値の特徴、動向、位置（事業分野、技術分野全体での）を推定評価する（図１６、図１７参照）することが有功である。

図１６は、自社出願のすべての特許公報に対する対自社の平均類似率の外れ度合いの大きさを、各年度毎に求めたもので、その外れ値の大小に並べ、その会社の典型的技術に関する特許文献数と、その会社の例外的技術に関する特許文献とを切り分けて、同様に年度毎にグラフ表示したものである。このグラフ図で分かるのは、典型的技術の特許文献数と、例外的技術の特許文献数の割合が１９９８年、１９９９年で大きく変化していることである。この変化の位相を的確に把握すれば、容易に自社の（又は他社の）、経営戦略、事業戦略、技術戦略、特許戦略等の変化を素早く的確に読み取ることが出来ることがわかる。

図１７は、全ての特許公報文献数に対する自社の特許文献数の平均類似率の外れ値の分布の解析結果を円グラフ表示したものである。このことから、この会社の全事業分野（他社との比較において）の中での技術分野の特徴が解析できることがわかる。

以上の実施例の説明から分かるように、調査対象の技術文献中に含まれるキーワードを抽出取得し、技術文献の母集団から前記所定のキーワードが含まれる技術文献の数量を計数し、当該計数した所定のキーワード及びその複数のキーワードが含まれる技術文献の数量と取得した母集団中の技術文献の総数との比率を演算しさらに個々のキーワード毎にその比率を演算して平均して技術文献の類似率を算出するとともに、その類似率の座標軸上に分布する技術文献件数の標準偏差をσとするとき、類似率の分布の平均値から１標準偏差程度の範囲、即ち、＋１σ、−１σの範囲（絶対値が１σの範囲；非常にデータ数が大きい場合には、２σ、３σの範囲まで考慮）より外へ外れた度合い（本発明では外れ値と呼称）の数値より大きい領域に分布する個々の技術文献を、その外れ値の絶対値の大きい順に並べて、その企業の典型的技術に該当する技術文献を、または例外的な技術に該当する技術文献を抽出して、企業のより実際に近い活動状況とその成果である、特許公報に記載された発明、技術を、知財を正確に評価することができる。

本発明に基本的に係る企業評価システムの構成図。 本発明に基本的に係る評価手段３及び知財評価報告書提供手段４の機能を含む評価装置３０の信号処理ブロック図。 特許情報の一例を表す図。 動向分析手段の構成図。 本発明の実施の形態に基本的に係わる、特許評価システム構成図。 類似性の判断方法を説明する図。 類似性の判断方法を説明する図。 類似性の判断方法を説明する図。 平均類似率（ａｖｇＤＦ）の外れ領域分布と外れ領域の関係を概念的に示す概念図。 平均類似率（ａｖｇＤＦ）の分布間相違点を考慮した、概念的なグラフ図。 本発明の算出する類似率を算出し利用するシステムの概念図。 本発明の算出する類似率を算出し利用するシステムの概念図。 本発明の評価装置・方法の、特に平均類似率と外れ領域切り出し、及びその該当する技術文献抽出、出力するためのデータ処理フロー構成図。 本発明の実施の形態に係る、平均類似率の外れ値のグループ分け表示フロー図。 外れ度合いδ演算算出グループ分け比率算出表示フロー図。 自社の対自社平均類似率の外れ値の成分比表示図。 全ての特許公報文献数に対する自社の特許文献数の平均類似率の外れ値の分布図。

符号の説明

１ 企業評価システム
２ データベース
３ 評価手段
４ 知財評価報告書提供手段
５ 特許評価手段
１１ 特許評価システム
１２ 企業評価システム
２１ 経営財務情報データベース
２２ 特許情報データベース
２３ 基本情報データベース
３０ 評価装置
３１ 特許動向分析手段
３２ 登録動向分析手段
３３ 登録動向予測手段
３４ 特許経済指標算出手段
３５ 特許資産価値分析手段
３６ 特許経済予測手段
３７ 株価妥当性分析手段
３８ 登録動向分析結果データベース
３９ 特許動向分析結果データベース
４０ 特許経済指標算出結果データベース
５１ 類似性判定手段
５２ 視覚的判定手段
２１０ 経済財務情報
２１１ 研究開発費
２１２ 株価
２１３ 総資産
２１４ 株主資本
２１５ 負債
２２０ 特許情報
２３０ 基本情報
２３１ 履歴管理データ
２３２ 識別番号
３１１ 出願動向分析手段
３１２ 登録（特許取得）動向分析手段
３５０ 特許資産価値
３５１ 特許評価入力
３６４ 通信網
３６５ 送受信手段
３７０ 入力手段
３７１ 入力インターフェース
３７２ 表示手段
３７３ 表示インターフェース
３７７ 記録媒体
３７８ 記録媒体装着部
３７９ 記録媒体インターフェース
３８０ 情報処理手段
３８１ メモリ
３８４ 記録手段
３８５ 記録手段インターフェース
３９０ カレンダ時計
３９９ バス

Claims (6)

1. 調査対象技術文献中に含まれる所定のキーワードを取得するキーワード取得手段と；
   該調査対象技術文献を記憶するデータベースの母集団の中から該所定のキーワードが含まれる関連技術文献の数量ｎを計数する計数手段と；
   該母集団中にある全ての技術文献の総数Ｎを取得する総数取得手段と；
   前記計数手段で計数した前記所定のキーワードを含む前記関連技術文献の数量ｎと、前記取得した前記母集団中にある前記全ての技術文献の総数Ｎとの比率を演算して第１類似率を算出するとともに、前記所定のキーワードを含む複数のキーワードに付き、その各キーワード毎に比率を演算し、該算出した複数のキーワード毎に比率の平均を演算して第２類似率を算出し、さらに前記演算した比率に対してキーワード固有の重み付け係数を乗算して第３類似率を算出し、さらに前記演算した比率に対してキーワード固有の重み付け係数を巾乗して第４類似率を算出する類似率算出手段と；
   前記算出した第１類似率、第２類似率、第３類似率、第４類似率をそれぞれ表示手段、記録手段、又は送出手段のいずれか１以上に出力する出力手段と；
   前記第２類似率、第３類似率、第４類似率の分布の平均値と標準偏差を演算する平均−標準偏差演算手段と；
   前記平均−標準偏差演算手段で演算した数値のうち平均値からの偏移が標準偏差程度の大きさの範囲を切出す切出し手段と；
   該切出し手段により切出された範囲を外れ領域と判断する外れ領域判断手段と；
   該外れ領域判断手段は、前記調査対象技術文献中の技術の特殊性を前記外れ領域と特定する特定手段と；
   を有することを特徴とする技術・知財評価装置。
2. 前記技術文献は、特許文献（特許公報、特許公開公報、登録実用新案公報、公開実用新案登録公報、公表公報、再公表公報、外国公報、公開技報等も含む文献）の他、非特許文献（著作権関連情報、ソフト工学技術文献、博士論文、学術論文誌、科学ジャーナル誌、科学技術専門書、新聞、内外の図書館や内外の大学及び研究機関の図書館にある公開された科学技術研究報告、インターネット上に開示された科学技術情報ソース等々を含む文献）のいずれか１以上であることを特徴とする請求項１記載の技術・知財評価装置。
3. 複数の調査対象の特許文献中に含まれる所定のキーワードについて、その所定のキーワードを含む特許文献が特許文献の母集団中に存在する比率に基づいた類似率を出願時期毎に取得する類似率取得手段と；
   前記複数の調査対象の特許文献について出願から設定登録までの年数をそれぞれ演算して登録所要年数を算出する算出手段と；
   前記取得した類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に算出する標準偏差算出手段と；
   前記類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に表示する表示手段と；
   を備えたことを特徴とする請求項１乃至２に記載の技術・知財評価装置。
4. 調査対象技術文献中に含まれる所定のキーワードを取得するキーワード取得工程と；
   該調査対象技術文献を記憶するデータベースの母集団の中から該所定のキーワードが含まれる関連技術文献の数量ｎを計数する計数工程と；
   該母集団中にある全ての技術文献の総数Ｎを取得する総数取得工程と；
   前記計数工程で計数した前記所定のキーワードを含む前記関連技術文献の数量ｎと、前記取得した前記母集団中にある前記全ての技術文献の総数Ｎとの比率を演算して第１類似率を算出するとともに、前記所定のキーワードを含む複数のキーワードに付き、その各キーワード毎に比率を演算し、該算出した複数のキーワード毎に比率の平均を演算して第２類似率を算出する類似率算出工程と；
   前記算出した第１類似率、第２類似率、第３類似率、第４類似率をそれぞれ表示手段、記録手段、又は送出手段のいずれか１以上に出力する出力工程と；
   前記第２類似率、第３類似率、第４類似率の分布の平均値と標準偏差を算出する平均−標準偏差算出工程と；
   前記平均−標準偏差算出工程で算出した数値のうち平均値からの偏移が標準偏差程度の大きさの領域を切出す偏移領域切出し工程と；
   該偏移領域切出し工程により切出された領域を外れ領域と判断する外れ領域判断工程と；
   を有し、該外れ領域判断工程は、前記調査対象技術文献中の技術の特殊性を前記外れ領域と特定する外れ領域特定工程を含むことを特徴とする技術・知財評価方法。
5. 前記技術文献は、特許文献（特許公報、特許公開公報、登録実用新案公報、公開実用新案登録公報、公表公報、再公表公報、外国公報、公開技法等も含む文献）の他、非特許文献（著作権関連情報、ソフト工学技術文献、博士論文、学術論文誌、科学ジャーナル誌、科学技術専門書、新聞、内外の図書館や、内外の大学及び研究機関の図書館にある公開された科学技術研究報告、インターネット上に開示された科学技術情報ソース等々を含む分権）のいずれか１以上であることを特徴とする請求項４に記載の技術・知財評価方法。
6. 複数の調査対象の特許文献中に含まれる所定のキーワードについて、その所定のキーワードを含む特許文献が特許文献の母集団中に存在する比率に基づいた類似率を出願時期毎に取得する類似率取得工程と；
   前記複数の調査対象の特許文献について出願から設定登録までの年数をそれぞれ演算して登録所要年数を算出する登録所要年数算出工程と；
   前記取得した類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に算出する標準偏差算出工程と；
   前記類似率の標準偏差、又は、前記登録所要年数の標準偏差あるいはその両方を出願時期毎に表示する表示工程と；
   を備えたことを特徴とする請求項４乃至５に記載の技術・知財評価方法。

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