JP2005321281A - Led lighting system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、カメラを用いた画像処理検査装置に使用される多数のLEDを光源として備える照明装置に関するものである。 The present invention relates to an illuminating device including a number of LEDs used as a light source for an image processing inspection apparatus using a camera.
製造ラインにおいて、加工中又は搬送中にキズが付いてしまったワークを次工程へ供給しない為の検査装置として、カメラによってワーク表面の撮影を行い、該撮影により得た画像データを画像解析ソフトによって解析を行い、キズの有無ならびに良品、不良品の判断を行う画像処理検査装置が知られている。
該画像処理検査装置は、撮影用のカメラ、撮影用の照明装置、表示用のモニタ、撮影した画像の解析を行う解析ソフトより構成されている。
上記の様に構成された画像処理検査装置において、高精度な検査を行う為には、鮮明な画像データが必要であり、鮮明な画像データを得る為の方法としては、高精度なカメラもちろんのこと、ワークの表面を照らす照明も非常に重要な要素となっている。
In the production line, as an inspection device to prevent the workpiece that has been damaged during processing or conveyance from being fed to the next process, the workpiece surface is photographed by a camera, and the image data obtained by the photographing is image analysis software. 2. Description of the Related Art Image processing inspection apparatuses that perform analysis and determine the presence or absence of scratches and the determination of non-defective and defective products are known.
The image processing inspection apparatus includes a photographing camera, a photographing illumination device, a display monitor, and analysis software for analyzing a photographed image.
In the image processing inspection apparatus configured as described above, in order to perform high-precision inspection, clear image data is necessary, and a method for obtaining clear image data is, of course, a high-precision camera. In addition, lighting that illuminates the surface of the workpiece is also a very important factor.
近年、画像処理検査装置の照明装置として消費電力が小さく、耐久性に優れたLEDが多く使用され、該LEDを使用した照明として同軸落射照明や反射照明等の方法がとられている。
同軸落射照明は、特開平05−231844号公報の図2に示されたように、
ハーフミラーを使って、ワークに照射する照明の光軸と、観測するカメラの光軸を一致させて、ワーク表面からの正反射光を観測する照明方式で、レンズを通して直進光を出すため、正反射光しか戻ってこず、平面ワークに最適な照明であるが、ワーク形状が円筒状をしたものに、上記の同軸落射照明を使用すると、ワークの照明装置に近い部分と遠い部分の明るさに差が生じ、安定した画像を得ることが難しい。
円筒状のワークの表面を効率よく安定した状態で照らす方法として、図6に示したように複数のLEDをリング状に配設し、リングの中心部に配置した円筒状ワークに、斜光照射を行い、表面からの反射光を観測する照明方式で、安定した画像を得ることが可能であるが、照明をワークの上下に配置する為、全長の短いワークであれば安定した画像を提供することが可能であるが、全長の長いワークの場合全体を安定して照らすことが困難となり安定した画像を提供することが出来ず問題となっていた。
As shown in FIG. 2 of Japanese Patent Laid-Open No. 05-231844, the coaxial epi-illumination is
This is an illumination method that uses a half mirror to align the optical axis of the illumination that irradiates the workpiece with the optical axis of the camera to be observed, and observes the specularly reflected light from the workpiece surface. Only reflected light is returned, and it is the optimal illumination for planar workpieces. However, if the above-mentioned coaxial incident illumination is used on a workpiece with a cylindrical shape, the brightness of the parts near and far from the illumination device of the workpiece will be improved. A difference occurs and it is difficult to obtain a stable image.
As a method of efficiently and stably illuminating the surface of the cylindrical workpiece, a plurality of LEDs are arranged in a ring shape as shown in FIG. 6, and oblique irradiation is applied to the cylindrical workpiece arranged at the center of the ring. It is possible to obtain a stable image with the illumination method that observes the reflected light from the surface, but because the illumination is arranged above and below the workpiece, a stable image should be provided for workpieces with a short overall length However, in the case of a work having a long total length, it is difficult to stably illuminate the entire work, and a stable image cannot be provided.
本発明は、画像処理検査装置において、カメラによる撮影を行う際の照明装置に、ワーク形状に影響されることなく均一に照らす事が可能な照明装置を提供することにより安定した画像撮影を可能とすることを目的とする。 The present invention enables stable image capturing by providing an illuminating device that can illuminate uniformly without being affected by the work shape as an illuminating device when performing image capturing with a camera in an image processing inspection apparatus. The purpose is to do.
本発明は、前記した課題を解決するための手段として、複数個のLEDをフレキシブル基板上に配設を行い、フレキシブル基板を湾曲状のガイド板上の複数箇所に配設したブロックにより湾曲状に保持し、湾曲状に構成したLED照明装置を、円筒状ワークの側面に配置し、LED照明が円筒状ワークの外周面を均一に照らす事を可能とし、LED照明装置と同様にワーク側面に配設したカメラによりワーク表面を撮影行うように構成する。 In the present invention, as means for solving the above-described problems, a plurality of LEDs are arranged on a flexible substrate, and the flexible substrate is curved by a block disposed at a plurality of locations on a curved guide plate. The LED lighting device that is held and configured in a curved shape is placed on the side surface of the cylindrical workpiece so that the LED lighting can uniformly illuminate the outer peripheral surface of the cylindrical workpiece. The work surface is configured to be photographed by the provided camera.
画像処理検査装置のLED照明装置を湾曲状に構成し、円筒状ワークの外周面を均一に照らす事を可能としたことにより、カメラによって撮影する画像の撮影範囲を広く設定する事が可能となり、検査に要する時間を短縮する事が可能となった。
また、ガイド板に取り付けるブロックと該ブロックに保持されるLEDが取り付けられたフレキシブル基板を容易に増減することが可能な装置構成とした事により、ライン上を流れるあらゆるワークに対応することが出来、LED照明によりワーク外周を均一に照らすことが可能となった。
更に、LED照明装置をリング状でなく湾曲形状とし、検査ポジションへワークを容易にローディングすることが可能となっている。
By configuring the LED illumination device of the image processing inspection device in a curved shape and enabling uniform illumination of the outer peripheral surface of the cylindrical workpiece, it is possible to set a wide shooting range of the image shot by the camera, The time required for the inspection can be shortened.
In addition, by adopting a device configuration that can easily increase or decrease the flexible substrate to which the block to be attached to the guide plate and the LED held by the block is attached, it can correspond to any work flowing on the line, It became possible to illuminate the outer periphery of the workpiece uniformly with LED illumination.
Further, the LED illumination device is curved rather than ring-shaped, so that the workpiece can be easily loaded into the inspection position.
画像処理検査装置の検査対象となるワーク外形を均一に照らすという目的を、LEDを取り付けたフレキシブル基板と容易に交換を可能としたガイド板によって実現した。 The purpose of uniformly illuminating the outer shape of the workpiece to be inspected by the image processing inspection apparatus is realized by a guide board that can be easily exchanged with a flexible substrate to which an LED is attached.
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1に示すように本実施例の照明装置は、ガイド板1とフレキシブル基板4と該フレキシブル基板4に取り付けられたLED3によって構成されるものである。
ガイド板1は、測定対象となるワーク外形に沿うように湾曲状に形成されており、該ガイド板1の複数箇所にコの字形状をしたブロック2が取り付けられている。
該コの字形状をしたブロック2の対向面には溝部が設けられ、該溝部にフレキシブル基板4が嵌め込まれることによりフレキシブル基板4がガイド板1に沿った形状となる。
ガイド板1に沿った状態に保持されたフレキシブル基板4には測定対象であるワーク外形を均一に照らすことができるようにLED3が列設されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
As shown in FIG. 1, the illumination device according to the present embodiment is configured by a
The
A groove portion is provided on the opposing surface of the U-shaped
次にLED照明装置とカメラの配置について述べる。
画像処理検査装置により検査を行う検査対象であるワーク5が円柱形状の物品である場合、ワーク5の外形に沿うようにガイド板1を湾曲状に形成し、該ガイド板1に固定されたブロック2によって、LED3が取り付けられたフレキシブル基板4を保持し、LED3が測定対象ワークから均等な距離にとなるようにLED照明装置を構成し、該LED装置とカメラ6を図4に示すような位置に配置を行う。
対象ワークの全長が長く、図4に示すようなLED照明で光量が不足し安定した画像が得られな場合、図5に示すようにガイド板1上にブロック2を複数列取り付け該ブロック2によりLED3が取り付けられたフレキシブル基板4を複数保持させることによって光量を増やし鮮明が画像を得ることを可能とする。
本実施例は、円柱形状のワークに対しLEDを均等な位置に配設する為にガイド板を湾曲状に形成したものについて記したが、本発明のLED照明装置は本実施例に限定されるものでなくガイド板の形状を変更することによって様々な形状ワークに対応することが可能である。
Next, the arrangement of the LED lighting device and the camera will be described.
When the
When the entire length of the target work is long and the LED illumination as shown in FIG. 4 is insufficient in light quantity and a stable image cannot be obtained, a plurality of
In this embodiment, the guide plate is formed in a curved shape in order to arrange the LEDs at a uniform position with respect to the cylindrical workpiece. However, the LED illumination device of the present invention is limited to this embodiment. It is possible to deal with various shaped workpieces by changing the shape of the guide plate instead of the object.
簡単な装置構成としたことによって、ワークに合わせた設計変更にも簡単に対応が可能な為に、様々なワークに対応することができる。 By adopting a simple device configuration, it is possible to easily cope with a design change according to the workpiece, so that it is possible to deal with various workpieces.
1 ガイド板
2 ブロック
3 LED
4 フレキシブル基板
5 ワーク
6 カメラ
7 リング形状照明
1
4
Claims (3)
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004138979A JP2005321281A (en) | 2004-05-07 | 2004-05-07 | Led lighting system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004138979A JP2005321281A (en) | 2004-05-07 | 2004-05-07 | Led lighting system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2005321281A true JP2005321281A (en) | 2005-11-17 |
Family
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JP2004138979A Pending JP2005321281A (en) | 2004-05-07 | 2004-05-07 | Led lighting system |
Country Status (1)
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008215955A (en) * | 2007-03-01 | 2008-09-18 | Asahi Breweries Ltd | Inverted can detector |
WO2009142449A3 (en) * | 2008-05-22 | 2010-02-25 | Park Ho Byung | Led lighting apparatus |
JP2011209032A (en) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | J Quality Kk | Illumination system |
CN103313854A (en) * | 2010-11-02 | 2013-09-18 | 卡巴-诺塔赛斯有限公司 | Device for irradiating substrate material in the form of a sheet or web and uses thereof |
WO2015136848A1 (en) * | 2014-03-12 | 2015-09-17 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Light source for testing and testing instrument provided with same |
-
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008215955A (en) * | 2007-03-01 | 2008-09-18 | Asahi Breweries Ltd | Inverted can detector |
WO2009142449A3 (en) * | 2008-05-22 | 2010-02-25 | Park Ho Byung | Led lighting apparatus |
US8287154B2 (en) | 2008-05-22 | 2012-10-16 | Ho Byung Park | LED lighting apparatus |
JP2011209032A (en) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | J Quality Kk | Illumination system |
CN103313854A (en) * | 2010-11-02 | 2013-09-18 | 卡巴-诺塔赛斯有限公司 | Device for irradiating substrate material in the form of a sheet or web and uses thereof |
WO2015136848A1 (en) * | 2014-03-12 | 2015-09-17 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Light source for testing and testing instrument provided with same |
JPWO2015136848A1 (en) * | 2014-03-12 | 2017-04-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Inspection light source and inspection instrument equipped with the same |
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