JP2005316187A - Focusing apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、合焦時の二像のズレ量から上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置に関する。 The present invention relates to a focus adjusting apparatus that obtains a defocus amount of the photographing lens from a shift amount of two images at the time of focusing.
特許文献1に開示された焦点調節装置は、公知のTTL位相差検出方式、すなわち、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像間隔のズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を算出する方式を採用した焦点調節装置に関するものである。
The focus adjustment apparatus disclosed in
この焦点調節装置においては、TTL位相差検出用のAF(オートフォーカス)光学系の温度特性によるAF精度の低下を防止するために、以下のような手法を用いている。すなわち、AFセンサと同一ICチップ上に温度検出回路を形成し、この温度検出回路により温度を検出して環境温度として採用し、TTL位相差方式のAF光学系の温度特性を補正する。 In this focus adjustment apparatus, the following method is used to prevent a decrease in AF accuracy due to temperature characteristics of an AF (autofocus) optical system for detecting a TTL phase difference. That is, a temperature detection circuit is formed on the same IC chip as the AF sensor, the temperature is detected by this temperature detection circuit and adopted as the environmental temperature, and the temperature characteristic of the TTL phase difference type AF optical system is corrected.
また、特許文献2に開示された焦点調節装置は、特許文献1と同様にTTL位相差検出方式を採用した焦点調節装置であって、AFセンサとは別に温度検出素子を設け、この温度検出素子の検出温度に基づいてAF光学系の温度特性を補正するものである。
上記特許文献1の焦点調節装置においては、以下の問題点があった。すなわち、AFセンサを動作させるとAFセンサ内部で電力消費が発生するため、AFセンサICチップ温度自体が上昇してしまい、求める環境温度とはずれた温度検出結果となる。このため温度補正の精度が低下し、結局、AF精度が低下しピントがずれてしまうという問題があった。また、センサデータ読出し時の一連のアナログ出力と同じシリアル出力で温度検出データを読み出すため、温度検出結果に繰り返しばらつきが発生して温度補正の精度が低下し、AF精度が低下する可能性もあった。
The focus adjustment device of
上記特許文献2の焦点調節装置においては、環境温度を正確に測定することができるが、別に温度検出素子を設ける必要があって、コストアップとなるという問題があった。
The focus adjustment apparatus of
本発明は、上述の問題を解決するためになされたものであり、コストアップを招くことなく、正確な温度補正が可能であって、高精度の焦点調節を行うことができる焦点調節装置をを提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problem, and provides a focus adjustment device that can perform accurate temperature correction and perform high-precision focus adjustment without incurring a cost increase. The purpose is to provide.
本発明の請求項1記載の焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、前記焦点検出素子と同一ICチップ上に設けられた温度検出手段と、前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、前記焦点検出素子に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段とを具備しており、前記補正手段は、前記時間計測手段の出力が所定値より小さい時の前記温度検出手段の出力に基づいてデフォーカス量を補正する。
The focus adjusting apparatus according to
本発明の請求項2記載の焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、前記焦点検出素子と同一ICチップ上に設けられた温度検出手段と、前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、前記焦点検出素子に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、繰り返し温度検出を実行させる制御手段とを具備し、前記補正手段は、繰り返し検出した温度検出手段の出力を統計処理してから、補正を実行する。
The focus adjustment apparatus according to
本発明の請求項3記載の焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、前記焦点検出素子と同一ICチップ上に設けられた温度検出手段と、前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、前記焦点検出素子に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段と、前記焦点検出素子に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、繰り返し温度検出を実行させる制御手段とを具備し、前記補正手段は、前記時間計測手段の出力が所定値より小さい時の前記温度検出手段の出力について、繰り返し検出した温度検出手段の出力を統計処理した結果に基づいてデフォーカス量を補正する。 According to a third aspect of the present invention, the focus adjustment apparatus divides the subject image that has passed through the taking lens into two images, measures the interval between the two images, and obtains the amount of deviation from the interval between the two images at the time of focusing. In the focus adjustment device for obtaining the defocus amount of the photographing lens, a focus detection element having a plurality of photoelectric conversion elements for forming the two images, and a temperature detection provided on the same IC chip as the focus detection element A correction means for correcting a defocus amount detected in accordance with an output of the temperature detection means, a time measurement means for measuring the time since the focus detection element is powered on, and the focus detection element Control means for repeatedly performing the focus detection operation and repeatedly performing temperature detection, and the correction means outputs the temperature detection means when the output of the time measurement means is smaller than a predetermined value. For it, it corrects the defocus amount based on an output of the temperature detecting means repeatedly detects the statistical processing result.
本発明によれば、コストアップを招くことなく、正確な温度補正が可能であって、高精度の焦点調節を行うことができる焦点調節装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a focus adjustment device capable of performing accurate temperature correction and performing high-precision focus adjustment without causing an increase in cost.
本発明の実施形態に説明に先立って本発明の概念について説明する。
図1は、本発明の焦点調節装置の1つの概念を示すブロック構成図である。
本焦点調節装置7Aは、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置である。本装置7Aは、二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子1と、焦点検出素子1と同一ICチップ上に設けられ、温度に関連する出力を発生する温度検出手段2と、焦点検出手段5が検出したデフォーカス量を、温度検出手段2の出力に応じて補正する補正手段3と、焦点検出素子1に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段4と、焦点検出素子1の出力に基づいて焦点検出を行い、デフォーカス量を検出する焦点検出手段5とを有してなり、上記補正手段3によって時間計測手段4の出力が所定値より小さい時の温度検出手段2の出力に基づいてデフォーカス量が補正される。
Prior to the description of the embodiment of the present invention, the concept of the present invention will be described.
FIG. 1 is a block diagram showing one concept of the focus adjusting apparatus of the present invention.
The
図2は、本発明の焦点調節装置の他の1つの概念を示すブロック構成図である。
本焦点調節装置7Bも撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置である。本装置7Bは、二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子1と、焦点検出素子1と同一ICチップ上に設けられ、温度に関連する出力を発生する温度検出手段2と、焦点検出手段5が検出したデフォーカス量を温度検出手段2の出力に応じて補正する補正手段3と、焦点検出素子1の出力に基づいて焦点検出を行いデフォーカス量を検出する焦点検出手段5と、焦点検出素子1に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、温度検出手段2に繰り返し温度検出を実行させる制御手段6とを有してなり、上記補正手段3は、繰り返し検出した温度検出手段2の出力を統計処理してから補正を実行するように制御手段6により制御される。
FIG. 2 is a block diagram showing another concept of the focus adjustment apparatus of the present invention.
The focus adjusting
以下、本発明の各実施形態について図を用いて説明する。
図3は、本発明の第一の実施形態の焦点調節装置を搭載するレンズ交換式カメラの主要構成を示す断面図である。図4は、上記焦点調節装置における光電変換素子アレイに被写体光を導くための焦点検出光学系の詳細な構成とその光路を示す図である。図5は、上記カメラにおける撮影画面内の焦点検出領域(エリア)を示す図である。図6は、上記カメラのカメラボディ側電気制御回路のブロック構成図である。図7は、上記カメラの交換レンズ側電気制御回路のブロック構成図である。図8は、カメラボディ側電気制御回路内のAFセンサのブロック構成図である。図9は、上記AFセンサ内の温度検出部の回路図である。図10は、上記温度検出部における出力特性の一例を示す図である。
Hereinafter, each embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing the main configuration of the interchangeable lens camera equipped with the focus adjustment apparatus of the first embodiment of the present invention. FIG. 4 is a diagram showing a detailed configuration of a focus detection optical system for guiding subject light to the photoelectric conversion element array in the focus adjustment apparatus and its optical path. FIG. 5 is a diagram showing a focus detection area (area) in the shooting screen of the camera. FIG. 6 is a block diagram of the camera body side electric control circuit of the camera. FIG. 7 is a block diagram of the interchangeable lens side electric control circuit of the camera. FIG. 8 is a block diagram of an AF sensor in the camera body side electric control circuit. FIG. 9 is a circuit diagram of a temperature detection unit in the AF sensor. FIG. 10 is a diagram illustrating an example of output characteristics in the temperature detection unit.
本実施形態のカメラ100は、レンズ交換式カメラ(一眼レフカメラ)であって、図3に示すように交換レンズ11とカメラボディ10とで構成されている。
The
カメラボディ10は、主にサブミラー17を有するメインミラー14と、カメラボディ上部に配置され、ペンタプリズム15を有するファインダ16と、シャッタ28と、撮像素子29と、カメラボディ下部に配置される焦点検出装置12と、図6に示すカメラボディ側電気制御回路等を有してなる。
The
交換レンズ11は、カメラボディ10に対して着脱自在であり、フォーカスレンズ13A,ズーム系レンズ13Bからなる撮影レンズ13と、絞り18と、ズームリング26と、図7に示す交換レンズ側電気制御回路等を有してなる。
The
なお、本実施形態の焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める装置であって、AFセンサを有する上記焦点検出装置12とコントローラを内蔵する上記カメラボディ側電気制御回路および上記交換レンズ側電気制御回路等を有してなる。
Note that the focus adjustment apparatus of the present embodiment divides the subject image that has passed through the taking lens into two images, measures the interval between the two images, and obtains the deviation amount from the interval between the two images at the time of focusing. An apparatus for obtaining a defocus amount of a lens, which includes the
交換レンズ11が装着されたカメラボディ10において、ファインダ観察状態時には、撮影レンズ13を通過した被写体からの光束は、メインミラー14により一部が反射され、他の一部が透過される。メインミラー14で反射された光束は、ペンタプリズム15を介してファインダ16の接眼部に導かれる。一方、メインミラー14を透過した光束は、サブミラー17で反射され、焦点検出装置12に導かれる。撮影時には、図示しないレリーズスイッチの操作によってメインミラー14とサブミラー17は光軸O(撮影レンズ)の光路から退避して(図3の矢印方向)、シャッタ28が開口することにより、撮像素子29に撮影光束が導かれて露光が行われる。
In the
焦点検出装置12は、TTL位相差検出方式を採用する焦点検出手段であり、図3に示すように撮影レンズ13を通過した光束を絞り込む視野マスク19と、赤外光をカットする赤外カットフィルタ20と、光束を集めるためのコンデンサレンズ21と、光束を全反射する全反射ミラー22と、光束を制限するセパレータ絞り23、光束を再結像させるセパレータレンズ24と、後述する光電変換素子アレイおよびその処理回路から成るAFセンサ25等で構成されている。
The
焦点検出装置12における焦点検出光学系の詳細について、該光学系の構成を示す図4を用いて説明すると、該焦点検出光学系として被写体側(図4において左側)から撮影レンズ13、視野マスク19、コンデンサレンズ21、撮影レンズ13の光軸に対して略対称に配置された開口部23a、23bを有するセパレータ絞り23、このセパレータ絞り23の開口部23a、23bに対応してその後方に配置されたセパレータレンズ24a、24bが配置されている。なお、図4では上述した全反射ミラー22、赤外カットフィルタ20は、説明の簡単化のために省略している。
The details of the focus detection optical system in the
上記焦点検出光学系において、撮影レンズ13の領域13a、または、領域13bを介して入射された被写体からの光束は、視野マスク19、コンデンサレンズ21と、さらに、セパレータ絞り23の開口部23aおよびセパレータレンズ24a、または、セパレータ絞り23の開口部23bおよびセパレータレンズ24bを通って、AFセンサ25内の焦点検出素子である光電変換素子アレイ27上に配置されている第一、第二の光電変換素子アレイ27a、27bに再結像される。
なお、上記第一、第二の光電変換素子アレイ27a、27bは、セパレータレンズ24a、24bに対応して配置されている。
In the focus detection optical system, the light flux from the subject incident through the region 13a or the region 13b of the photographing
The first and second photoelectric
撮影レンズ13が合焦位置にあって、結像面G上に被写体像Iが形成される場合、その被写体像Iは、コンデンサレンズ21およびセパレータレンズ24a、24bによって、光軸Oに対して垂直な2次結像面の光電変換素子アレイ27上に再結像されて第一像I1 第二像I2 となる。
When the
撮影レンズ13が前ピン位置にあって、結像面Gの前方に被写体像Fが形成される場合、その被写体像Fは、お互いにより光軸Oに近付いた形で光軸Oに対して垂直に再結像されて、第一像F1 、第二像F2 となる。
When the
さらに、撮影レンズ13が後ピン位置にあって、結像面Gの後方に被写体像Rが形成される場合、その被写体像Rは、お互いにより光軸Oから離れた形で、光軸Oに対して垂直に再結像されて第一像R1 、第二像R2 となる。
Further, when the
上述した第一像と第二像の間隔を検出することにより、撮影レンズ13の合焦状態を前ピン、後ピンを含めて検出することができる。具体的には、第一像と第二像の光強度分布を光電変換素子アレイ27の出力信号により求めて両像の間隔を測定することによって合焦状態が検出される。
By detecting the interval between the first image and the second image described above, the in-focus state of the
なお、上記セパレータレンズ24a、24bはアクリルやポリカーボネイト等の光学プラスチック材料で一体化されて形成されており、環境温度によって収縮膨張が発生する。このため、合焦状態での第一像と第二像の間隔は温度により変化し、これはピント検出誤差となる。また、図5は、上述した焦点検出光学系における撮影画面内30の焦点検出領域31を示している。
The
ここで、上記カメラボディ10に内蔵されるカメラボディ側電気制御回路について、図6の電気制御回路のブロック構成図を用いて説明する。
上記カメラボディ側電気制御回路は、カメラの制御装置であるコントローラ(システムコントローラ)35を有しており、該コントローラ35は、例えば、内部にCPU(中央処理装置)36、ROM37、RAM38、EEPROM39およびA/Dコンバータ40を有して構成される。なお、コントローラ35には、上記カメラ制御のための各制御部の他にデフォーカス量を補正する補正手段や焦点検出部電源投入後の時間を計測する時間計測手段や繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに繰り返し温度検出を実行させる制御手段等が内蔵されている。
Here, the camera body side electric control circuit built in the
The camera body side electric control circuit includes a controller (system controller) 35 which is a camera control device. The controller 35 includes, for example, a CPU (central processing unit) 36, a ROM 37, a
コントローラ35内のCPU36は、ROM37に格納されたカメラのシーケンスプログラムに従ってカメラの一連の動作制御を行う。また、上記EEPROM39は、AF制御、測光等に関する補正データをカメラボディ10毎に記憶することができる。
The CPU 36 in the controller 35 performs a series of camera operation control in accordance with the camera sequence program stored in the ROM 37. Further, the
コントローラ35には、交換レンズ11のカメラボディ10への装着により交換レンズ側のレンズマウント接点部79(図7)と接続される複数のボディマウント接点部59と、AFセンサ25と、測光部53と、ストロボ部54と、ミラー駆動部55と、シャッタ駆動部56と、撮像素子駆動部57と、表示部58と、ファーストレリーズスイッチ(以下、1RSWと記載する)41、および、セカンドレリーズスイッチ(以下、2RSWと記載する)42が接続されている。
The controller 35 includes a plurality of body
上記コントローラ35は、マウント接点部59を介して、交換レンズ11内のレンズコントローラ61(図7)と通信を行い、カメラボディ10内および交換レンズ11内の各種調整、補正データの授受や、交換レンズ11内のフォーカス、絞り駆動の制御信号の授受を行い、各制御を行う。
The controller 35 communicates with the lens controller 61 (FIG. 7) in the
AFセンサ25は、光電変換素子アレイ(センサアレイ)27からなる光電変換部80と、処理回路81等で構成されている。上記コントローラ35からの制御信号により、上記光電変換部80のフォトダイオードアレイ91(図8)上に形成される被写体像に応じた画像信号が発生され、この発生された画像信号がコントローラ35に出力される。
The
測光部53は、被写体の輝度に応じた出力を発生するものである。コントローラ35は、その測光出力をA/Dコンバータ40によりA/D変換して、測光値としてRAM38に格納する。
The
ストロボ部54は、低輝度時の撮影に使用されるもので、コントローラ35によって、充電、発光タイミング、発光量の制御が行われる。このストロボ部54は、AF動作時の補助光としても使用され、AFセンサ25の蓄積タイミングに同期して所定の発光量で間欠発光される。
The
ミラー駆動部55、シャッタ駆動部56、撮像素子駆動部57は、コントローラ35により制御されるもので、それぞれ前述のシャッタ28の駆動、撮像素子29の駆動、メインミラー14、サブミラー17の駆動動作を行う。
The
さらに、表示部58は、LCD、LED等を内蔵して、カメラの撮影モード、シャッタ速度、絞り値等の表示を行うものである。
Further, the
1RSW41および2RSW42は、図示されないレリーズ釦操作に連動するスイッチであり、レリーズ釦の第一段階の押し下げによって1RSW41がオンし、引続いて第二段階の押し下げによって2RSW42がオンするようになっている。コントローラ35は、1RSW41のオンで測光、AFを行い、2RSW42のオンで露出動作と撮像素子29からの画像読出し動作を行う。
1RSW 41 and 2RSW 42 are switches that are linked to a release button operation (not shown). The 1RSW 41 is turned on when the release button is pushed down in the first stage, and the 2RSW 42 is turned on when the release button is pushed down. The controller 35 performs photometry and AF when the 1RSW 41 is turned on, and performs an exposure operation and an image reading operation from the
次に、上記交換レンズ11に内蔵される交換レンズ側電気制御回路について、図7の電気制御回路のブロック構成図を用いて説明する。
上記交換レンズ側電気制御回路は、交換レンズ11の制御装置であるレンズコントローラ61を有しており、該レンズコントローラ61は、例えば、内部にCPU(中央処理装置)62、ROM63、RAM64、EEPROM65およびA/Dコンバータ66を有して構成される。
Next, the interchangeable lens side electrical control circuit built in the
The interchangeable lens side electric control circuit has a lens controller 61 which is a control device for the
レンズコントローラ61内のCPU62は、ROM63に格納された交換レンズのシーケンスプログラムに従って交換レンズの一連の動作制御を行う。また、上記EEPROM65は、AF制御、測光等に関する補正データや調整データを交換レンズ毎に記憶することができる。
The
さらに、レンズコントローラ61には、交換レンズ11のカメラボディ10への装着によりカメラボディ10側のボディマウント接点部59と接続される複数のレンズマウント接点部79と、レンズ駆動部67と、フォーカスエンコーダ69と、ズームエンコーダ74と、絞り駆動部71とが接続されている。
Further, the lens controller 61 includes a plurality of lens mount contact portions 79 connected to the body
上記レンズコントローラ61は、レンズマウント接点部79を介して、カメラボディ10内のコントローラ35と通信を行い、カメラボディ10内および交換レンズ11内の各種調整、補正データの授受や、交換レンズ11内のフォーカス、絞り駆動の制御値の授受を行う。
The lens controller 61 communicates with the controller 35 in the
レンズ駆動部67は、レンズコントローラ61によって制御されるもので、レンズモータ(ML )68を駆動し、撮影レンズ13内のフォーカスレンズ13Aを進退駆動させる。また、フォーカスエンコーダ69は、フォーカスレンズ13Aの移動位置を検出して、その検出結果をレンズコントローラ61に出力する。レンズコントローラ61では、この移動位置情報に基いてフォーカスレンズ13Aの位置制御を行なう。
The lens driving unit 67 is controlled by the lens controller 61 and drives a lens motor (ML) 68 to drive the
交換レンズ11に設けられるズームリング26は、撮影者により操作される操作部材であり、その回転量に応じて撮影光学系内のズーム系レンズ13Bが所望の焦点距離fを与えるズーム位置に進退駆動される。ズームエンコーダ74は、ズーム系レンズ13Bの焦点距離fに応じた移動量信号を検出してレンズコントローラ61に出力する。
The
絞り駆動部71は、レンズコントローラ61によって制御されるもので、ステッピングモーターである絞りモータ(MA )72によって撮影レンズ内の絞り18を駆動させる。
The
次に、上記AFセンサ25の詳細について図6,図8を用いて説明する。
Next, details of the
カメラボディ側電気制御回路に内蔵されるAFセンサ25は、前述したように光電変換素子アレイ(センサアレイ)27からなる光電変換部80と処理回路81等で構成されており、該AFセンサ25は、1つの基板上に光電変換素子アレイ27や温度検出部85を含む各構成部分を設けた1チップICとして形成されている。
As described above, the
上記光電変換部80は、照射された光の量に応じて光電荷を発生するフォトダイオードアレイ91と、シフトゲート92と、電荷を転送するシフトレジスタ93と、シフトレジスタ93の出力用バッファ94、フォトダイオードアレイの近傍に配置されたモニター用フォトダイオード95等の各要素で構成されている。上記コントローラ35からの制御信号により、上記光電変換部80のフォトダイオードアレイ91上に形成される被写体像に応じた画像信号が発生し、この画像信号がコントローラ35に出力される。
The
上記処理回路81は、図8に示すようにフォトダイオードアレイ91側からシフトレジスタ93側への電荷転送、シフトレジスタ93での電荷転送の制御、および、後述のアナログ処理部の信号処理タイミングの制御などを行なうデータ出力制御部82と、光電変換部80の積分時間等を制御する積分制御部84と、光電変換部80からのアナログ信号を処理するアナログ信号処理部83と、温度変化に感応して温度情報をコントローラ35に供給するための温度検出手段である温度検出部85と、外部端子が接続されるI/Oコントロール部86等で構成されている。
As shown in FIG. 8, the
上記データ出力制御部82は、コントローラ35からI/Oコントロール部86を通して与えられる信号に基づいてシフトレジスタ93に対して駆動用の転送クロックを発生する。また、AFセンサ25から外部へ出力される信号の切換えを行うタイミング信号をアナログ信号処理部83に与える。
The data
上記積分制御部84は、光電変換部80に対して積分開始を実行させ、積分動作中にモニター用フォトダイオード(MPD)95の出力をモニターし、そのモニター結果により適正な積分量に達したことを検出して、シフトゲート92へのシフトゲートパルスを発生して積分動作の終了、積分時間の制御を行なう。そして、I/Oコントロール部86を介してコントローラ35との間で通信を行ない積分完了信号をコントローラ35に出力する。また、積分制御部84は、光電変換部80での積分量が所定時間内に、予め定めた所定量まで達しなかった場合に、コントローラ35からの強制積分終了信号T3 により強制的に積分を終了させる。
The
アナログ信号処理部83は、シフトレジスタ93から出力用バッファ94を介しての画素信号に対して暗時出力信号補償、自動利得制御など各種のアナログ処理や出力信号をコントローラ35のA/D変換部のダイナミックレンジに合致させるための基準電圧クランプ等の処理を行なった後、スイッチSW96のアナログ出力端子96aを介してコントローラ35のA/Dコンバータ40にアナログ出力信号T5 として画素信号(センサデータ)を出力する。
The analog
I/Oコントロール部86は、各ブロックとコントローラ35とのインターフェイスの機能を有している。I/Oコントロール部86の入出力であるAFセンサ25の外部端子86a〜86dは、以下の信号の入,出力端子である。すなわち、
外部端子86aは、積分開始信号T1 の入力端子である。
外部端子86bは、積分完了信号T2 の出力端子である。
外部端子86cは、強制的に積分を終了させるための積分強制終了信号T3 の入力端子である。
外部端子86dは、画素信号読出しの時のコントローラ35からの読出しクロック信号(A/D変換同期用クロック信号)T4 の入力端子である。
The I /
The external terminal 86a is an input terminal for the integration start signal T1.
The
The external terminal 86c is an input terminal for an integration forced end signal T3 for forcibly terminating the integration.
The external terminal 86d is an input terminal for a read clock signal (A / D conversion synchronization clock signal) T4 from the controller 35 at the time of reading a pixel signal.
温度検出部85は、前述した図4に示した焦点検出光学系に起因し、温度変化により発生する測距誤差を除去するために、温度補償を電気的に行なうための温度検出を行う検出部である。図9は、上記温度検出部85の回路を示しており、この回路では、所定の基準電圧とGND間に温度特性の異なる抵抗R1、R2を直列に接続し、その接続点の出力を温度検出信号VTEMPとする。例えば、抵抗R1を温度係数βRl=5000ppmのイオン注入型抵抗とし、抵抗R2を温度係数βR2=500ppmのポリシリコン抵抗とすれば、温度特性の差により温度に依存した電圧が抵抗R1の両端に発生する。この電圧が温度検出部85より出力される。図10に温度検出部85の出力(抵抗R1の両端電圧)の対温度特性の一例を示す。
The
アナログ信号処理部83から読出しクロック信号に応じて出力される画素出力信号のうち、先頭から所定番目の出力までは測距演算に不要なダミー画素(遮光画素等)の信号である。そのため所定番目までは不要な画素出力信号の代わりに、温度検出信号VTEMPを同一のアナログ信号出力端子96aを通してアナログ出力信号T5 としてコントローラ35へ出力する。
Of the pixel output signals output from the analog
アナログ信号処理部83と温度検出部85の接続部にスイッチSW96が設けられており、このスイッチSW96にデータ出力制御部82からスイッチ制御信号が供給されて、上記画素信号と上記温度検出信号の切換えが行われる。
A switch SW96 is provided at a connection portion between the analog
上述した構成を有する本実施形態のカメラ100における撮影シーケンス処理動作について、図11のメインルーチンのフローチャート,図12〜15のサブルーチンのフローチャート,図16のタイムチャ−ト等を参照して説明する。
The photographing sequence processing operation in the
上記撮影シーケンス処理のメインルーチン及びサブルーチンは、図6に示したコントローラ35の動作制御手順によるルーチンである。 The main routine and subroutine of the photographing sequence process are routines according to the operation control procedure of the controller 35 shown in FIG.
先ず、カメラの電源投入やスリープ状態からの復帰によりコントローラ35の動作が開始されると、図11のメインルーチンがコントローラ35の制御のもとで実行される。ステップS1にて、図12に示すサブルーチンの「初期化処理」が呼び出され、実行される。 First, when the operation of the controller 35 is started by turning on the power of the camera or returning from the sleep state, the main routine of FIG. 11 is executed under the control of the controller 35. In step S1, the "initialization process" of the subroutine shown in FIG. 12 is called and executed.
その初期化処理においては、ステップS20にてEEPROM39に予め記憶されているAF用、測光用等の各種補正データが読込まれてRAM38に展開され、交換レンズ内のレンズデータをボディ内のコントローラ35とレンズコントローラ61との通信により取得してRAM64およびRAM38に展開する等の各ブロックの初期化が実行される。
In the initialization process, various correction data for AF, photometry, etc. stored in advance in the
続いて、ステップS21においてAFセンサ25の電源がオンされる。ステップS22にてAFセンサ25の電源オンからの時間を計測するための時間計測タイマーの計時動作が開始され、本サブルーチンからメインルーチンに戻る。
Subsequently, in step S21, the
メインルーチンに戻り、ステップS2にて1RSW41がオンされているか否かが判断される。1RSW41がオンされていなければ、ステップS10に移行して図14に示すサブルーチン「常時測距」が実行される(後述)。また、1RSW41がオンであれば、ステップS3に進み、図13に示すサブルーチン「AF」が実行される。 Returning to the main routine, it is determined in step S2 whether or not the 1RSW 41 is turned on. If 1RSW 41 is not turned on, the process proceeds to step S10, and a subroutine "always ranging" shown in FIG. 14 is executed (described later). If 1RSW 41 is on, the process proceeds to step S3, and the subroutine “AF” shown in FIG. 13 is executed.
上記サブルーチン「AF」は、処理動作詳細は後で説明するが、このAF処理においては、被写体の焦点状態(被写体距離状態)が検出され、焦点検出結果を交換レンズ11内のレンズコントローラ61に送信される。レンズコントローラ61は、上記焦点検出結果に基いてフォーカスレンズ13Aを合焦位置へ駆動して、被写体にピントを合わせるAFが行われる。
The subroutine “AF” will be described in detail later, but in this AF process, the focus state (subject distance state) of the subject is detected, and the focus detection result is transmitted to the lens controller 61 in the
その後、メインルーチンに戻り、ステップS4において、上記AF動作の結果、合焦したか否かが判断される。ステップS4にて、合焦していなければ、後述するステップS9に移行する。一方、合焦している場合は、更にステップS5に移行する。 Thereafter, the process returns to the main routine, and in step S4, it is determined whether or not the result of the AF operation is in focus. If it is not focused in step S4, the process proceeds to step S9 described later. On the other hand, if it is in focus, the process further proceeds to step S5.
ステップS5では、露出量を決定するために測光部53を動作させて被写体輝度を測定する測光が行われる。
In step S5, photometry is performed in which the
続いて、ステップS6では、2RSW42がオンされているか否かが判断される。2RSW42がオンされていなければ、後述するステップS9に移行し、オンされていれば、ステップS7へ移行する。 Subsequently, in step S6, it is determined whether or not the 2RSW 42 is turned on. If the 2RSW 42 is not turned on, the process proceeds to step S9 described later, and if it is turned on, the process proceeds to step S7.
ステップS7では、露出が行われる。すなわち、上記ステップS5で求められた測光値などに基いて決定された絞り値をレンズコントローラ61に送信する。レンズコントローラ61は、絞り駆動部71を制御して撮影レンズの絞り18を所の絞り値に絞り込む。続いて、シャッタ駆動部56によりシャッタ28が制御されて、上記ステップS5で求められた測光値などに基いて決定された所定時間だけシャッタ28が開かれて露出動作が行われる。露出時には上記測光値に基いてストロボ発光が必要であるかが判断され、必要な場合は、シャッタ全開状態でストロボ部54に発光信号が出力されて発光が行われる。シャッタ動作が終了したら、ステップS8に移行して、絞り18が開放状態に戻された後、撮像素子駆動部57によって撮像素子29から画像データが読み出されて一連の撮影動作が終了する。
In step S7, exposure is performed. That is, the aperture value determined based on the photometric value obtained in step S5 is transmitted to the lens controller 61. The lens controller 61 controls the
続いて、ステップS9に移行して、所定のスリープ時間が経過したか否かをスリープ時間計測タイマーにて測定し、チェックされる。スリープ時間が経過したら、カメラの電源をオフするCPUスリープ状態(省電モード)に移行する。 Subsequently, the process proceeds to step S9, where whether or not a predetermined sleep time has elapsed is measured by a sleep time measurement timer and checked. When the sleep time elapses, the CPU shifts to a CPU sleep state (power saving mode) in which the camera is turned off.
上記メインルーチンのステップS10に移行してサブルーチン「常時測距」が呼び出された場合は、測距動作のみを行い、レンズ駆動を実行しない常時測距が実行される。その後、ステップS9に移行するが、カメラ動作としては、1RSW41の操作がなされるまで常時測距動作つまり測距動作のみを繰り返し実行する。この常時測距動作により常に最新の測距情報が更新される。1RSW41がオンされてAF動作を行う時、すなわち、メインルーチンのステップS2、S3にてこの最新の測距情報を採用することにより1回分の測距動作を省略することができ、AF動作におけるタイムラグを少なくすることができる。 If the subroutine “always-ranging” is called in step S10 of the main routine, only the ranging operation is performed, and the regular ranging without lens driving is performed. Thereafter, the process proceeds to step S9. As the camera operation, only the distance measurement operation, that is, the distance measurement operation is repeatedly executed until the operation of 1RSW 41 is performed. The latest distance measurement information is always updated by this constant distance measurement operation. When the 1RSW 41 is turned on and the AF operation is performed, that is, by adopting the latest distance measurement information in steps S2 and S3 of the main routine, the distance measurement operation for one time can be omitted, and the time lag in the AF operation Can be reduced.
上記サブルーチン「常時測距」処理の詳細について図14のフローチャートと、図16のAFセンサにおける積分、読出し動作のタイムチャートを参照して説明する。
本サブルーチンの処理もコントローラ35の制御のもとで実行される。図14に示すようにステップS200において、AFセンサ25に対して端子86aより積分開始信号T1 を出力し(L→Hへ立ち上がり)、蓄積動作を開始させる。なお、以下の説明で蓄積と積分とは、同一動作を示す。
Details of the subroutine “always ranging” process will be described with reference to a flowchart of FIG. 14 and a time chart of integration and reading operations in the AF sensor of FIG.
The processing of this subroutine is also executed under the control of the controller 35. As shown in FIG. 14, in step S200, the integration start signal T1 is output from the terminal 86a to the AF sensor 25 (rising from L → H), and the accumulation operation is started. In the following description, accumulation and integration indicate the same operation.
ステップS201にてコントローラ35内部のカウンタを参照して蓄積(積分)時間が所定のリミット時間に達したか否かが判別される。達していない場合は、ステップS202に移行する。到達した場合は、ステップS203に移行する。 In step S201, it is determined whether or not the accumulation (integration) time has reached a predetermined limit time with reference to a counter in the controller 35. If not, the process proceeds to step S202. If it has reached, the process proceeds to step S203.
ステップS202では、AFセンサ25の蓄積動作が終了したか否かをAFセンサ25の出力である積分終了信号T2 を端子86bより取り込んでチェックする。積分終了信号が出力された場合(L→Hに立ち上がり)、ステップS204に進む。
In step S202, whether or not the accumulation operation of the
一方、ステップS203に移行した場合、AFセンサ25に対して端子86cより強制積分終了信号T3 を与えて(L→Hに立ち上がり)、強制的に蓄積動作を終了させて、ステップS204に移行する。 On the other hand, when the process proceeds to step S203, a forced integration end signal T3 is given from the terminal 86c to the AF sensor 25 (rising from L → H), the accumulation operation is forcibly terminated, and the process proceeds to step S204.
ステップS204では、AFセンサ25に対して端子86dより読出しクロック信号T4 を与えて、出力端子96aよりアナログ出力信号T5 として出力される温度検出部の温度検出信号VTEMPを読み出す。この読出し期間は、アナログ信号処理部83からは測距演算に不要なダミー画素(遮光画素等)信号が出力される期間に相当する期間であって、この間、スイッチSW96の制御信号は、温度検出信号VTEMP側に設定される。
In step S204, a read clock signal T4 is supplied from the terminal 86d to the
引き続き、ステップS205にて読出しクロック信号T4 を与えるとともに、スイッチSW96の制御信号は、画素信号出力側に設定され、AFセンサ25において蓄積された画像信号が出力端子96aよりアナログ出力信号T5 としてセンサデータ(画素データ)が出力され、読出される。
Subsequently, in step S205, the read clock signal T4 is given, and the control signal of the switch SW96 is set on the pixel signal output side, and the image signal accumulated in the
上述のようにコントローラ35から読出しクロックがAFセンサ25に入力されると、それに同期して温度検出信号VTEMPおよびセンサデータが所定の順でAFセンサ25から出力される。コントローラ35は、このセンサデータをA/Dコンバータ40によって順次A/D変換してRAM38に格納する。所定画素数に対応する読出しクロック信号が出力されると、読出し動作を終了する。
As described above, when the read clock is input from the controller 35 to the
続いて、ステップS206にてRAM38に格納されたセンサデータに基いて、測距演算が行われ、後述するデフォーカス量DFが求められる。さらに、ステップS207にて図16に示すサブルーチン「温度補正I 」が呼び出され、上記測距演算の結果に対する温度検出信号VTEMPに基づいた温度補正が実行され、後述する補正後のデフォーカス量DF′が求められる。その後、メインルーチンに戻る。
Subsequently, distance calculation is performed based on the sensor data stored in the
上記サブルーチン「温度補正I 」処理について、図15のフローチャートを参照して説明する。本サブルーチンの処理もコントローラ35の制御のもとで実行される。まず、ステップS300にて常時測距動作中に取り込まれた温度検出部85の検出信号VTEMPデータの平均処理が行われる。図11のメインルーチンで説明したように、1RSW41がオンされていない状態では、繰り返し常時測距を行っている。この時に取得される温度検出信号VTEMPデータを統計的な処理として最新の所定回数分、例えば、20回分を記憶しておいて、それらを平均処理して繰り返し検出誤差を除去した温度データを生成する。
The subroutine “temperature correction I” processing will be described with reference to the flowchart of FIG. The processing of this subroutine is also executed under the control of the controller 35. First, in step S300, an average process is performed on the detection signal VTEMP data of the
なお、カメラの電源がオフされるか、CPUスリープ状態に移行した際には、記憶されている温度データはクリアされ、電源のオンやスリープ状態からの復帰により新たに最新温度データが繰り返し取り込まれる。また、例えば、20回よりも少ないデータ数しかまだ取得していない場合は、その少ないデータ数での平均処理が行われる。 When the camera power is turned off or when the CPU enters the sleep state, the stored temperature data is cleared, and the newest temperature data is repeatedly taken in by turning on the power or returning from the sleep state. . Further, for example, when only the number of data less than 20 has been acquired, the averaging process is performed with the smaller number of data.
続いて、ステップS301にて上記平均温度データに基づいて補正演算が行われる。この補正演算処理では、次式の温度補正式によって温度補正前のデフォーカス量DFに対する温度補正後のデフォーカス量DF′が求められる。すなわち、
DF′=DF+KT×(VTEMP−VTEMP0) …(1)
ここで、KTは、前記焦点検出光学系(図4)の温度特性やその他のカメラ内部の温度特性の全体を含む温度補正係数である。
VTEMPには、前述の温度検出部の検出信号VTEMPの出力値を平均して得られた値が採用される。
VTEMP0は、基準温度データ値であって、基準温度25℃のときの温度検出部出力VTEMPの出力値である。
Subsequently, in step S301, a correction calculation is performed based on the average temperature data. In this correction calculation process, the defocus amount DF ′ after temperature correction with respect to the defocus amount DF before temperature correction is obtained by the following temperature correction equation. That is,
DF ′ = DF + KT × (VTEMP−VTEMP0) (1)
Here, KT is a temperature correction coefficient including temperature characteristics of the focus detection optical system (FIG. 4) and other temperature characteristics inside the camera.
As VTEMP, a value obtained by averaging the output values of the detection signal VTEMP of the temperature detection unit described above is adopted.
VTEMP0 is a reference temperature data value, and is an output value of the temperature detection unit output VTEMP when the reference temperature is 25 ° C.
上述のようにサブルーチン「温度補正I 」の処理では、繰り返し取得した温度データの平均値を求め、それに基づき温度補正することによって、より高精度な測距情報を得ることができる。この補正測距情報によれば、ランダムに発生する繰り返しバラツキや外乱ノイズにより発生する検出誤差を軽減することができる。 As described above, in the processing of the subroutine “temperature correction I”, the average value of the repeatedly acquired temperature data is obtained, and the temperature correction is performed based on the average value, whereby more accurate distance measurement information can be obtained. According to this corrected distance measurement information, it is possible to reduce detection errors caused by repetitive variations and disturbance noise that occur randomly.
次に、上記図11のメインルーチンのステップS3で呼び出されるサブルーチン「AF」の処理について図13のフローチャートを参照して説明する。
このサブルーチン「AF」の処理もコントローラ35の制御のもとで実行される。まず、ステップS100にてAFセンサ25に対して積分開始信号T1 を出力して蓄積動作制御を開始させる。ステップS101にてコントローラ35内部のカウンタを参照して蓄積時間が所定のリミット時間に達したか否かが判別され、達していない場合は、ステップS102に移行する。上記リミット時間に達した場合は、ステップS103に移行する。
Next, the subroutine “AF” called in step S3 of the main routine of FIG. 11 will be described with reference to the flowchart of FIG.
The processing of this subroutine “AF” is also executed under the control of the controller 35. First, in step S100, the integration start signal T1 is output to the
ステップS102では、AFセンサ25の蓄積動作が終了したか否かをAFセンサ25の出力である積分終了信号T2 を参照してチェックする。積分終了を確認後、ステップS104に進む。
In step S102, it is checked whether or not the accumulation operation of the
一方、ステップS103に移行した場合、AFセンサ25に対して強制積分終了信号T3 を出力して強制的に蓄積動作を終了させ、ステップS104に進む。
On the other hand, when the process proceeds to step S103, the forced integration end signal T3 is output to the
ステップS104では、AFセンサ25に対して読出しクロック信号T4 を与えて、温度センサデータである温度検出信号VTEMPが読み出される。なお、このステップの処理は、前記サブルーチン「常時測距」のステップS204と同様の処理である。
In step S104, the read clock signal T4 is given to the
さらに、ステップS105にて引き続きAFセンサ25に対して読出しクロック信号T4 を与えてAFセンサ25において蓄積された画素信号がセンサデータとして読出される。なお、このステップの処理も前記サブルーチン「常時測距」のステップS205と同様の処理である。
Further, in step S105, the readout clock signal T4 is continuously supplied to the
上述のようにコントローラ35から読出しクロック信号T4 がAFセンサ25に入力され、それに同期して温度検出信号VTEMPおよびセンサデータ(画素データ)がAFセンサ25の出力端子96aより出力される。コントローラ35では、上記センサデータ(画素データ)をA/Dコンバータ40によって順次A/D変換してRAM38に格納する。
As described above, the read clock signal T4 is input from the controller 35 to the
その後、ステップS106にてRAM38に格納された上記センサデータ(画素データ)に基いて、測距演算を行い未だ温度補正がなされない状態のデフォーカス量DFが求められる。なお、このステップの処理も前記サブルーチン「常時測距」のステップS206と同様の処理である。
Thereafter, based on the sensor data (pixel data) stored in the
続いて、ステップS107に移行し、サブルーチン「温度補正I 」が呼び出され、実行される。この処理は、前述した図16のフローチャートと同様の処理であって、上記測距演算の結果のデフォーカス量DFに対して温度補正が実行され、補正デフォーカス量DF′が求められる。 Subsequently, the process proceeds to step S107, and the subroutine “temperature correction I” is called and executed. This process is the same as the flowchart of FIG. 16 described above, and a temperature correction is performed on the defocus amount DF as a result of the distance measurement calculation to obtain a corrected defocus amount DF ′.
ステップS108にて測距演算、温度補正後の補正デフォーカス量DF′が合焦範囲内か否かの判定が行われる。合焦であれば、本サブルーチンのAF動作を終了し、図11のメインルーチンに戻る。 In step S108, it is determined whether or not the corrected defocus amount DF ′ after the distance measurement calculation and temperature correction is within the in-focus range. If it is in focus, the AF operation of this subroutine ends, and the process returns to the main routine of FIG.
一方、非合焦の場合は、ステップS109へ移行してデフォーカス量に基づくレンズ駆動が実行される。すなわち、コントローラ35よりレンズ駆動コマンドをレンズコントローラ61に送信する。さらに、デフォーカス量をレンズコントローラ61に送信する。レンズコントローラ61は、上記デフォーカス量に基いてレンズ駆動量を演算し、フォーカスレンズ13Aの駆動制御が実行される。その後、ステップS100に戻り再度測距動作が行われ、合焦するまで測距動作およびレンズ駆動のループが繰返される。
On the other hand, in the case of out-of-focus, the process proceeds to step S109 and lens driving based on the defocus amount is executed. That is, the lens drive command is transmitted from the controller 35 to the lens controller 61. Further, the defocus amount is transmitted to the lens controller 61. The lens controller 61 calculates the lens drive amount based on the defocus amount, and the drive control of the
上記AF処理が実行され、上記メインルーチンに戻った後、カメラ100としては、表示部58に合焦状態をがされるファインダ内LEDが点灯したり、図示されないPCVが発音されて合焦となったことが報知される。
After the AF process is executed and the process returns to the main routine, the
上述した第一の実施形態の焦点調節装置によれば、AFセンサ25のICチップに設けられる温度検出部85より検出される所定の複数回の温度データの平均によってデフォーカス量の温度補正を行うことによって正確な温度補正を可能とし、高精度な焦点調節を行うことができる。
According to the focus adjustment apparatus of the first embodiment described above, the temperature correction of the defocus amount is performed by averaging a plurality of predetermined temperature data detected by the
次に本発明の第二の実施形態の焦点検出装置が搭載されたレンズ交換式カメラについて、図17,18を参照して説明する。
図17は、AFセンサの電源オン後の経過時間に対する温度データ(温度検出信号VTEMP)の変化を示す線図である。図18は、本実施形態のカメラの撮影シーケンスにおけるサブルーチン「常時測距」,「AF」で呼び出されるサブルーチン「温度補正II」のフローチャートである。
Next, an interchangeable lens camera on which the focus detection apparatus according to the second embodiment of the present invention is mounted will be described with reference to FIGS.
FIG. 17 is a diagram showing changes in temperature data (temperature detection signal VTEMP) with respect to an elapsed time after the power supply of the AF sensor is turned on. FIG. 18 is a flowchart of a subroutine “Temperature Correction II” called by the subroutines “always ranging” and “AF” in the shooting sequence of the camera of the present embodiment.
本実施形態のカメラでは、前記第一の実施形態のカメラ100の撮影シーケンスにおけるサブルーチン「温度補正I 」に替えて上記サブルーチン「温度補正II」が適用される。AFセンサ25は、電源オンにより動作を開始し、ICチップに消費電流が流れるのでICチップ自体の温度が上昇する。したがって、電源オン時は環境温度とほぼ等しい温度を示す温度データが出力されるが、時間の経過によってICチップの温度が上昇し、検出された温度データの値も変化し、正しい温度補正が行われない可能性がある。そこで、本実施形態におけるサブルーチン「温度補正II」では、上記ICチップ温度の上昇による検出誤差を軽減するために、AFセンサ25の電源をオンした直後における、より環境温度に近い温度データを採用するようにしている。具体的には、常時測距時において取得する温度データをAFセンサ25の電源オンから所定期間以内に取得された温度データを採用するように制限する。その他の処理ルーチン、および、カメラの構成は、第一の実施形態のものと同様とする。以下、異なる処理について説明する。
In the camera of the present embodiment, the subroutine “Temperature Correction II” is applied instead of the subroutine “Temperature Correction I” in the shooting sequence of the
本実施形態のカメラの撮影シーケンスにおけるサブルーチン「常時測距」,「AF」中に呼び出される温度補正処理は、図18に示すサブルーチン「温度補正II」であり、本サブルーチンにおいてもコントローラ35の制御のもとで処理される。すなわち、図18のフローチャートに示すようにステップS500にてAFセンサ25の電源をオンしてからの経過時間が所定の時間を経過したかどうかをチェックする。この電源をオンしてからの経過時間は、図12に示すサブルーチン「初期化処理」におけるステップS22でAFセンサ25の電源オンからカウントを開始しているコントローラ35内蔵のタイマーのカウント値(計測時間)が参照される。そして、上記計測時間を所定の判定時間より小さい場合はステップS501に移行する。一方、より大きい場合はここで検出される温度データを採用せずそのままステップS502に移行する。
The temperature correction process called during the subroutines “always ranging” and “AF” in the shooting sequence of the camera of the present embodiment is the subroutine “temperature correction II” shown in FIG. 18, and the control of the controller 35 is also performed in this subroutine. Processed originally. That is, as shown in the flowchart of FIG. 18, it is checked in step S500 whether or not a predetermined time has elapsed since the
ステップS501では、繰り返し測定された温度検出部85の温度データである温度検出信号VTEMPデータの最新の20回分を平均処理して、繰り返し検出誤差を除去した温度データが求められる。
In step S501, the latest 20 times of the temperature detection signal VTEMP data, which is the temperature data of the
ステップS502では、上記平均された温度データ、あるいは、以前の平均温度データに基づいて、前述サブルーチン「温度補正I 」におけるステップS301と同様に検出デフォーカス量DFに対する温度補正が行われる。 In step S502, based on the averaged temperature data or the previous average temperature data, temperature correction is performed on the detected defocus amount DF in the same manner as in step S301 in the subroutine “temperature correction I”.
上述のように本サブルーチンでは、ステップS500において判定時間を経過した場合は、新たに温度検出データを平均処理して更新する処理を行わず、上記判定時間内で最後に平均処理された温度データが記憶し、そのデータを採用して以降の温度補正が行われる。 As described above, in this subroutine, when the determination time has elapsed in step S500, the temperature data that has been averaged last within the determination time is not subjected to the process of newly averaging and updating the temperature detection data. The stored data is used and the subsequent temperature correction is performed.
本実施形態の焦点調節装置を適用したカメラによれば、ICチップの時間経過による温度上昇に伴う温度データの値の増加による検出誤差を軽減することができ、正確な温度補正が行え、より高精度な測距、AFが可能となる。 According to the camera to which the focus adjustment apparatus of the present embodiment is applied, it is possible to reduce a detection error due to an increase in the temperature data value accompanying the temperature rise with the lapse of time of the IC chip, perform accurate temperature correction, Accurate ranging and AF are possible.
本発明による焦点調節装置は、コストアップを招くことなく、正確な温度補正が可能であって、高精度の焦点調節を行うことができる焦点調節装置として利用できる。 The focus adjustment device according to the present invention can be used as a focus adjustment device capable of performing accurate temperature correction without causing an increase in cost and capable of performing high-precision focus adjustment.
1 …焦点検出素子
2 …温度検出手段
3 …補正手段
4 …時間検出手段
27 …光電変換素子アレイ(焦点検出素子)
35 …コントローラ(制御手段,補正手段,時間計測手段)
80 …光電変換部(焦点検出素子)
85 …温度検出部(温度検出手段)
サブルーチン「温度補正I」,「温度補正II」
…補正手段
ステップS22…時間計測手段
代理人 弁理士 伊 藤 進
DESCRIPTION OF
35 ... Controller (control means, correction means, time measurement means)
80 ... photoelectric conversion part (focus detection element)
85 ... Temperature detector (temperature detector)
Subroutine "Temperature compensation I", "Temperature compensation II"
... Correction means Step S22 ... Time measurement means
Agent Patent Attorney Susumu Ito
Claims (3)
前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、
前記焦点検出素子と同一ICチップ上に設けられた温度検出手段と、
前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、
前記焦点検出素子に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段と、
を具備しており、前記補正手段は、前記時間計測手段の出力が所定値より小さい時の前記温度検出手段の出力に基づいてデフォーカス量を補正することを特徴とする焦点調節装置。 In a focus adjustment device that divides a subject image that has passed through a photographic lens into two images, measures the interval between the two images, finds the amount of deviation from the interval between the two images at the time of focusing, and obtains the defocus amount of the photographic lens ,
A focus detection element having a plurality of photoelectric conversion elements for forming the two images;
Temperature detection means provided on the same IC chip as the focus detection element;
Correction means for correcting the defocus amount detected according to the output of the temperature detection means;
Time measuring means for measuring the time since the focus detection element is powered on;
And the correction means corrects the defocus amount based on the output of the temperature detection means when the output of the time measurement means is smaller than a predetermined value.
前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、
前記焦点検出素子と同一ICチップ上に設けられた温度検出手段と、
前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、
前記焦点検出素子に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、繰り返し温度検出を実行させる制御手段と、
を具備し、前記補正手段は、繰り返し検出した温度検出手段の出力を統計処理してから、補正を実行することを特徴とする焦点調節装置。 In a focus adjustment apparatus that divides a subject image that has passed through a photographing lens into two images, measures the distance between the two images, and obtains the amount of deviation from the distance between the two images at the time of focusing to obtain the defocus amount of the photographing lens. ,
A focus detection element having a plurality of photoelectric conversion elements for forming the two images;
Temperature detection means provided on the same IC chip as the focus detection element;
Correction means for correcting the defocus amount detected according to the output of the temperature detection means;
Control means for repeatedly performing a focus detection operation on the focus detection element and repeatedly performing temperature detection;
And the correction means performs a correction after statistically processing the output of the temperature detection means repeatedly detected.
前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、
前記焦点検出素子と同一ICチップ上に設けられた温度検出手段と、
前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、
前記焦点検出素子に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段と、
前記焦点検出素子に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、繰り返し温度検出を実行させる制御手段と、
を具備し、前記補正手段は、前記時間計測手段の出力が所定値より小さい時の前記温度検出手段の出力について、繰り返し検出した温度検出手段の出力を統計処理した結果に基づいてデフォーカス量を補正することを特徴とする焦点調節装置。 In a focus adjustment apparatus that divides a subject image that has passed through a photographing lens into two images, measures the distance between the two images, and obtains the amount of deviation from the distance between the two images at the time of focusing to obtain the defocus amount of the photographing lens. ,
A focus detection element having a plurality of photoelectric conversion elements for forming the two images;
Temperature detection means provided on the same IC chip as the focus detection element;
Correction means for correcting the defocus amount detected according to the output of the temperature detection means;
Time measuring means for measuring the time since the focus detection element is powered on;
Control means for repeatedly performing a focus detection operation on the focus detection element and repeatedly performing temperature detection;
And the correction means calculates a defocus amount based on a result of statistical processing of the output of the temperature detection means repeatedly detected for the output of the temperature detection means when the output of the time measurement means is smaller than a predetermined value. A focus adjusting device characterized by correcting.
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