JP2005302579A - Manufacturing method of image display device - Google Patents

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Akiyoshi Yamada
晃義 山田
Hirotaka Unno
洋敬 海野
Tsukasa Oshima
司 大嶋
Takashi Enomoto
貴志 榎本
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an image display device, capable of speedily and stably carrying out sealing work. <P>SOLUTION: In this manufacturing method to realize sealing treatment by ohmic-heating a single-sided substrate, for instance, a sealing material 21a provided on a back substrate 12 is performed for ohmic-heating, a front substrate 11 is brought close to the back substrate with the sealing material 21a fused by this ohmic-heating, and the substrates are superimposed each other by matching their sealing faces. Thereby, a sealing material 21b provided on the front substrate 11 is fused by receiving the fusion heat of the sealing material 21a, and the sealing material 21a and the sealing material 21b are mutually fused to form an integrated sealing layer 21. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明は、対向配置されているとともに周縁部同士が封着された一対の基板を備えた平面型の画像表示装置を製造する製造方法に関する。   The present invention relates to a manufacturing method for manufacturing a flat-type image display device including a pair of substrates that are arranged to face each other and whose peripheral portions are sealed to each other.

近年、陰極線管(以下CRTと称す)に代わる次世代の軽量、薄型の表示装置として様々な画像表示装置が開発されている。このような画像表示装置には、液晶の配向を利用して光の強弱を制御する液晶ディスプレイ(以下LCDと称す)、プラズマ放電の紫外線により蛍光体を発光させるプラズマディスプレイパネル(以下PDPと称す)、電界放出型電子放出素子の電子ビームにより蛍光体を発光させるフィールドエミッションディスプレイ(以下FEDと称す)、表面伝導型電子放出素子の電子ビームにより蛍光体を発光させる表面伝導電子放出ディスプレイ(以下SEDと称す)などがある。   2. Description of the Related Art In recent years, various image display devices have been developed as next-generation lightweight and thin display devices that replace cathode ray tubes (hereinafter referred to as CRTs). Such image display devices include a liquid crystal display (hereinafter referred to as LCD) that controls the intensity of light using the orientation of liquid crystal, and a plasma display panel (hereinafter referred to as PDP) that emits phosphors by ultraviolet rays of plasma discharge. A field emission display (hereinafter referred to as FED) that emits a phosphor by an electron beam of a field emission electron emission device; a surface conduction electron emission display (hereinafter referred to as SED) that emits a phosphor by an electron beam of a surface conduction electron emission device; Etc.).

これら各種表示装置のうち、例えばFEDやSEDでは、一般に、所定の隙間を置いて対向配置された前面基板および背面基板を有し、これらの基板は、矩形枠状の側壁を介して周辺部同士を互いに接合することにより真空の外囲器を構成している。前面基板の内面には蛍光体スクリーンが形成され、背面基板の内面には蛍光体を励起して発光させる電子放出源として多数の電子放出素子が設けられている。   Among these various display devices, for example, FEDs and SEDs generally have a front substrate and a rear substrate arranged to face each other with a predetermined gap, and these substrates are connected to each other through a rectangular frame-shaped side wall. Are joined together to form a vacuum envelope. A phosphor screen is formed on the inner surface of the front substrate, and a number of electron-emitting devices are provided on the inner surface of the rear substrate as electron emission sources that excite the phosphor to emit light.

また、背面基板および前面基板に加わる大気圧荷重を支えるために、これら基板の間には複数の支持部材が配設されている。背面基板側の電位はほぼアース電位であり、蛍光面にはアノード電圧が印加される。そして、蛍光体スクリーンを構成する赤、緑、青の蛍光体に電子放出素子から放出された電子ビームを照射し、蛍光体を発光させることによって画像を表示する。   Further, in order to support an atmospheric pressure load applied to the back substrate and the front substrate, a plurality of support members are disposed between these substrates. The potential on the back substrate side is almost the ground potential, and an anode voltage is applied to the phosphor screen. The red, green, and blue phosphors that make up the phosphor screen are irradiated with the electron beams emitted from the electron-emitting devices, and the phosphors emit light to display an image.

このようなFEDやSEDでは、表示装置の厚さを数mm程度にまで薄くすることができ、現在のテレビやコンピュータのディスプレイとして使用されているCRTと比較して、軽量化、薄型化を達成することができる。   With such FEDs and SEDs, the thickness of the display device can be reduced to a few millimeters, and it is lighter and thinner than CRTs currently used as television and computer displays. can do.

例えば、上記のようなFEDにおいて、外囲器を構成する前面基板および背面基板を接合するために様々な製造方法が検討されている。一般的には、2枚の基板と側壁との間にフリットガラスなどの焼結材料を充填し、炉中で加熱、焼結させ、基板と側壁とを結合させて外囲器を形成する。基本的な手順の一例としては、予め背面基板に側壁を溶着したものを準備し、更にこれと前面基板を溶着する。   For example, in the FED as described above, various manufacturing methods have been studied in order to join the front substrate and the rear substrate constituting the envelope. In general, a sintered material such as frit glass is filled between two substrates and side walls, heated and sintered in a furnace, and the substrate and side walls are bonded to form an envelope. As an example of a basic procedure, a material in which a side wall is welded to a rear substrate is prepared in advance, and this and the front substrate are further welded.

しかしながら、フリットガラスを焼結する場合には不要なガスが発生する。そして、このガスは、溶着後、密閉された外囲器の内部に残留し、後に外囲器内部を高真空に排気する際の障害となる。そこで、前面基板と側壁との間に比較的低温で溶融するインジウム等の低融点金属封着材料を充填し、導電性封着材料に通電しそのジュール熱により導電性封着材料自身を発熱、溶解させ、基板を結合する方法(以下通電加熱と称す)が検討されている。
特開2002−319346号公報
However, unnecessary gas is generated when the frit glass is sintered. This gas remains inside the sealed envelope after welding and becomes an obstacle when the inside of the envelope is exhausted to a high vacuum later. Therefore, a low melting point metal sealing material such as indium that melts at a relatively low temperature is filled between the front substrate and the side wall, and the conductive sealing material itself is heated by the Joule heat when the conductive sealing material is energized. A method of dissolving and bonding substrates (hereinafter referred to as energization heating) has been studied.
JP 2002-319346 A

上述の通電加熱では、基板相互を加圧した状態で基板各々に設けた封着材をそれぞれ同時に加熱溶融する加圧−加熱モードと、基板各々に設けた封着材をそれぞれ加熱溶融した状態で基板相互を加圧する加熱−加圧モードとが考えられる。   In the energization heating described above, in the pressure-heating mode in which the sealing materials provided on the respective substrates are heated and melted at the same time in a state where the substrates are pressurized with each other, A heating-pressurizing mode in which the substrates are pressurized can be considered.

しかしながら従来技術に於いては、加圧−加熱モードの場合、通電前に各基板に設けたインジウム等の封着材を加圧しているため、封着材の溶融直後に於いて基板の辺上から加熱溶融された封着材がはみ出し、安定した封着が期待できないという問題があった。また加熱−加圧モードの場合、予め基板双方の封着材をそれぞれ加熱溶融状態にしておくことから、加熱処理および封着後の冷却処理に多くの時間を必要とし作業性が悪いという問題があった。更に、この際、通電加熱の際の電流値を上げることで封着材の溶解にかかる時間短縮を図ることが可能であるが、この際は大きな通電電流が必要になるとともに、各基板への熱歪応力が増大して基板の変形さらには破損を招く等の問題があった。   However, in the conventional technique, in the pressurization-heating mode, the sealing material such as indium provided on each substrate is pressurized before energization. There is a problem that the sealing material heated and melted from the outside protrudes and stable sealing cannot be expected. In the case of the heating-pressing mode, the sealing materials on both the substrates are in a heated and melted state in advance, so that the heat treatment and the cooling treatment after the sealing require a lot of time and the workability is poor. there were. Furthermore, at this time, it is possible to shorten the time required for melting the sealing material by increasing the current value at the time of energization heating. In this case, a large energization current is required, and There is a problem that the thermal strain stress increases to cause deformation or breakage of the substrate.

この発明は、以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、導電性金属材料を用いた封着材による封着作業を基板全体を低温に維持しながら効率よく迅速かつ安定して行うことができ歩留まりを向上できる画像表示装置の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to efficiently and quickly and stably perform sealing work with a sealing material using a conductive metal material while maintaining the entire substrate at a low temperature. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing an image display device that can improve the yield.

上記目的を達成するため、本発明は、対向配置された一対の基板の対向する面に設けられた封着部を封着して外囲器を構成する画像表示装置の製造方法において、前記各基板のうち、一方の基板に設けられた封着部を加熱し、当該封着部を他方の基板に設けられた封着部と重ね合わせて前記各基板の封着部を封着することを特徴とする。これにより、封着作業を基板全体を低温に維持しながら短時間で効率よく安定して行うことができる。   In order to achieve the above object, the present invention provides a method for manufacturing an image display device in which an envelope is formed by sealing sealing portions provided on opposing surfaces of a pair of substrates arranged opposite to each other. Among the substrates, heating a sealing portion provided on one substrate, and overlapping the sealing portion provided on the other substrate to seal the sealing portion of each substrate. Features. As a result, the sealing operation can be performed efficiently and stably in a short time while maintaining the entire substrate at a low temperature.

上記目的を達成するため、本発明は、対向配置された一対の基板の対向する面に設けられた封着部を封着して外囲器を構成する画像表示装置の製造方法において、前記各基板のうち、一方の基板に設けられた封着部を通電加熱し、当該通電加熱された封着部を他方の基板に設けられた封着部と重ね合わせて前記各基板の封着部を封着することを特徴とする。これにより、封着作業を基板全体を低温に維持しながら短時間で効率よく安定して行うことができる。   In order to achieve the above object, the present invention provides a method for manufacturing an image display device in which an envelope is formed by sealing sealing portions provided on opposing surfaces of a pair of substrates arranged opposite to each other. Among the substrates, the sealing portion provided on one of the substrates is energized and heated, and the energized and heated sealing portion is overlapped with the sealing portion provided on the other substrate to form the sealing portion of each substrate. It is characterized by sealing. As a result, the sealing operation can be performed efficiently and stably in a short time while maintaining the entire substrate at a low temperature.

本発明によれば、片側基板の加熱による封着処理により、封着作業を基板全体を低温に維持しながら短時間で効率よく安定して行うことができ、これにより信頼性が高く表示品位の高い画像表示装置が製造可能な画像表示装置の製造方法を提供することができる。   According to the present invention, the sealing process by heating the one-side substrate enables the sealing operation to be performed efficiently and stably in a short time while maintaining the entire substrate at a low temperature, thereby providing high reliability and display quality. It is possible to provide a method for manufacturing an image display device capable of manufacturing a high image display device.

以下図面を参照しながら、この発明に係る画像表示装置の製造方法をFEDの製造に適用した実施の形態について詳細に説明する。ここでは片側基板の通電加熱による封着処理を例に採って実施形態を説明する。   Embodiments in which the method for manufacturing an image display device according to the present invention is applied to the manufacture of an FED will be described in detail below with reference to the drawings. Here, the embodiment will be described by taking a sealing process by energization heating of one side substrate as an example.

図1ないし図4に示すように、FEDは、それぞれ矩形状のガラス板からなる前面基板11、および背面基板12を備え、これらの基板は1〜2mmの隙間を置いて対向配置されている。背面基板12は前面基板11よりも大きな寸法に形成されている。そして、前面基板11および背面基板12は、矩形枠状の側壁18を介して周縁部同士が接合され、内部が真空状態に維持された扁平な矩形状の真空外囲器10を構成している。   As shown in FIGS. 1 to 4, the FED includes a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of a rectangular glass plate, and these substrates are arranged to face each other with a gap of 1 to 2 mm. The back substrate 12 is formed to have a size larger than that of the front substrate 11. The front substrate 11 and the back substrate 12 constitute a flat rectangular vacuum envelope 10 whose peripheral portions are joined to each other via a rectangular frame-shaped side wall 18 and the inside is maintained in a vacuum state. .

真空外囲器10の内部には、前面基板11および背面基板12に加わる大気圧荷重を支えるため、複数の板状の支持部材14が設けられている。これらの支持部材14は、真空外囲器10の一辺と平行な方向にそれぞれ延在しているとともに、上記一辺と直交する方向に沿って所定の間隔を置いて配置されている。なお、支持部材14は板状に限らず、柱状のものを用いてもよい。   A plurality of plate-like support members 14 are provided inside the vacuum envelope 10 in order to support an atmospheric pressure load applied to the front substrate 11 and the rear substrate 12. These support members 14 extend in a direction parallel to one side of the vacuum envelope 10 and are arranged at a predetermined interval along a direction orthogonal to the one side. The support member 14 is not limited to a plate shape, and a columnar member may be used.

前面基板11の内面には、画像表示面として機能する蛍光体スクリーン16が形成されている。この蛍光体スクリーン16は、赤、緑、青の蛍光体層R、G、B、およびこれらの蛍光体層間に位置した黒色光吸収層20を並べて構成されている。蛍光体層R、G、Bは、真空外囲器10の上記一辺と平行な方向に延在しているとともに、この一辺と直交する方向に沿って所定の間隔を置いて配置されている。なお、蛍光体スクリーン16上には、たとえばアルミニウムからなるメタルバック17およびバリウムからなるゲッター膜27が順に重ねて形成されている。   A phosphor screen 16 that functions as an image display surface is formed on the inner surface of the front substrate 11. The phosphor screen 16 is configured by arranging red, green, and blue phosphor layers R, G, and B, and a black light absorbing layer 20 positioned between these phosphor layers. The phosphor layers R, G, and B extend in a direction parallel to the one side of the vacuum envelope 10 and are arranged at a predetermined interval along a direction orthogonal to the one side. On the phosphor screen 16, for example, a metal back 17 made of aluminum and a getter film 27 made of barium are sequentially stacked.

背面基板12の内面上には、図3に示すように、蛍光体スクリーン16の蛍光体層を励起する電子放出源として、それぞれ電子ビームを放出する多数の電子放出素子22が設けられている。これらの電子放出素子22は、画素毎に対応して複数列および複数行に配列されている。詳細に述べると、背面基板12の内面上には、導電性カソード層24が形成され、この導電性カソード層上には多数のキャビティ25を有した二酸化シリコン膜26が形成されている。二酸化シリコン膜26上には、モリブデンやニオブ等からなるゲート電極28が形成されている。そして、背面基板12の内面上において各キャビティ25内にはモリブデンなどからなるコーン状の電子放出素子22が設けられている。また、背面基板12の内面には、電子放出素子22に電位を供給する多数本の配線23がマトリックス状に設けられ、その端部は真空外囲器10の周縁部に引出されている。   On the inner surface of the back substrate 12, as shown in FIG. 3, a large number of electron-emitting devices 22 that emit electron beams are provided as electron-emitting sources that excite the phosphor layer of the phosphor screen 16. These electron-emitting devices 22 are arranged in a plurality of columns and a plurality of rows corresponding to each pixel. More specifically, a conductive cathode layer 24 is formed on the inner surface of the back substrate 12, and a silicon dioxide film 26 having a large number of cavities 25 is formed on the conductive cathode layer. On the silicon dioxide film 26, a gate electrode 28 made of molybdenum, niobium or the like is formed. A cone-shaped electron-emitting device 22 made of molybdenum or the like is provided in each cavity 25 on the inner surface of the back substrate 12. Further, on the inner surface of the back substrate 12, a large number of wirings 23 for supplying a potential to the electron-emitting devices 22 are provided in a matrix shape, and the end portions are drawn out to the peripheral edge portion of the vacuum envelope 10.

上記のように構成されたFEDにおいて、映像信号は、単純マトリックス方式に形成された電子放出素子22とゲート電極28に入力される。電子放出素子22を基準とした場合、最も輝度の高い状態の時、+100Vのゲート電圧が印加される。また、蛍光体スクリーン16には+10kVが印加される。これにより、電子放出素子22から電子ビームが放出される。そして、電子放出素子22から放出される電子ビームの大きさは、ゲート電極28の電圧によって変調され、この電子ビームが蛍光体スクリーン16の蛍光体層を励起して発光させることにより画像を表示する。   In the FED configured as described above, a video signal is input to the electron-emitting device 22 and the gate electrode 28 formed in a simple matrix system. When the electron-emitting device 22 is used as a reference, a gate voltage of +100 V is applied when the luminance is highest. Further, +10 kV is applied to the phosphor screen 16. Thereby, an electron beam is emitted from the electron emitter 22. The magnitude of the electron beam emitted from the electron-emitting device 22 is modulated by the voltage of the gate electrode 28, and this electron beam excites the phosphor layer of the phosphor screen 16 to emit light, thereby displaying an image. .

このように蛍光体スクリーン16には高電圧が印加されるため、前面基板11、背面基板12、側壁18、および支持部材14用の板ガラスには、高歪点ガラスが使用されている。後述するように、背面基板12と側壁18との間は、フリットガラス等の低融点ガラス19によって封着されている。また、前面基板11と背面基板12の側壁18との間は、導電性を有する低融点封着材としてインジウム(In)を含んだ封着層21によって封着されている。この封着層21による本発明の実施形態に於ける封着処理(片側基板の通電加熱による封着処理)については後述する。   Thus, since a high voltage is applied to the phosphor screen 16, a high strain point glass is used as the plate glass for the front substrate 11, the back substrate 12, the side wall 18, and the support member 14. As will be described later, the back substrate 12 and the side wall 18 are sealed with a low melting point glass 19 such as frit glass. Further, the front substrate 11 and the side wall 18 of the rear substrate 12 are sealed with a sealing layer 21 containing indium (In) as a conductive low melting point sealing material. The sealing process (sealing process by energization heating of the one-side substrate) in the embodiment of the present invention using the sealing layer 21 will be described later.

次に、上記構成を有するFEDの製造方法について詳細に説明する。
まず、前面基板11となる板ガラスに蛍光体スクリーン16を形成する。これは、前面基板11と同じ大きさの板ガラスを準備し、この板ガラスにプロッターマシンで蛍光体ストライプパターンを形成する。この蛍光体ストライプパターンを形成した板ガラスと前面基板用の板ガラスとを位置決め治具に載せて露光台にセットする。この状態で、露光、現像することにより、前面基板11となるガラス板上に蛍光体スクリーンを形成する。その後、蛍光体スクリーン16に重ねてメタルバック17を形成する。
Next, the manufacturing method of FED which has the said structure is demonstrated in detail.
First, the phosphor screen 16 is formed on the plate glass to be the front substrate 11. In this method, a plate glass having the same size as the front substrate 11 is prepared, and a phosphor stripe pattern is formed on the plate glass by a plotter machine. The plate glass on which the phosphor stripe pattern is formed and the plate glass for the front substrate are placed on a positioning jig and set on an exposure table. In this state, the phosphor screen is formed on the glass plate which becomes the front substrate 11 by exposing and developing. Thereafter, a metal back 17 is formed on the phosphor screen 16.

続いて、背面基板12用の板ガラスに電子放出素子22を形成する。これは、マトリックス状の導電性カソード層24を板ガラス上に形成し、このカソード層上に例えば熱酸化法やCVD法あるいはスパッタリング法により2酸化シリコン膜の絶縁膜を形成する。この後、この絶縁膜上に、例えばスパッタリング法や電子ビーム蒸着法によりモリブデンやニオブなどのゲート電極形成用の金属膜を形成する。次に、この金属膜上に、形成すべきゲート電極に対応した形状のレジストパターンをリソグラフィーにより形成する。このレジストパターンをマスクとして金属膜をウェットエッチング法またはドライエッチング法によりエッチングし、ゲート電極28を形成する。   Subsequently, the electron-emitting device 22 is formed on the plate glass for the back substrate 12. In this method, a matrix-like conductive cathode layer 24 is formed on a plate glass, and an insulating film of a silicon dioxide film is formed on the cathode layer by, for example, a thermal oxidation method, a CVD method or a sputtering method. Thereafter, a metal film for forming a gate electrode such as molybdenum or niobium is formed on the insulating film by, for example, sputtering or electron beam evaporation. Next, a resist pattern having a shape corresponding to the gate electrode to be formed is formed on the metal film by lithography. Using this resist pattern as a mask, the metal film is etched by wet etching or dry etching to form the gate electrode 28.

その後、レジストパターン及びゲート電極28をマスクとして絶縁膜をウェットエッチングまたはドライエッチング法によりエッチングして、キャビティ25を形成する。そして、レジストパターンを除去した後、背面基板12表面に対して所定角度傾斜した方向から電子ビーム蒸着を行うことにより、ゲート電極28上に例えばアルミニウムやニッケルからなる剥離層を形成する。更に、背面基板12表面に対して垂直な方向からカソード形成用の材料として例えばモリブデンを電子ビーム蒸着法により蒸着する。これによって、キャビティ25の内部に電子放出素子22が形成される。次に、剥離層をその上に形成された金属膜とともにリフトオフ法により除去する。   Thereafter, the insulating film is etched by wet etching or dry etching using the resist pattern and the gate electrode 28 as a mask to form the cavity 25. Then, after removing the resist pattern, a peeling layer made of, for example, aluminum or nickel is formed on the gate electrode 28 by performing electron beam evaporation from a direction inclined by a predetermined angle with respect to the surface of the back substrate 12. Further, for example, molybdenum is deposited by electron beam evaporation as a material for forming the cathode from a direction perpendicular to the surface of the back substrate 12. As a result, the electron-emitting device 22 is formed inside the cavity 25. Next, the release layer is removed together with the metal film formed thereon by a lift-off method.

続いて、大気中で低融点ガラス19により側壁18および支持部材14を背面基板12の内面上に封着する。その後、側壁18の全周にわたって下地層30aを形成し、この下地層の上に後述する封着方法により必要に応じて封着材として例えばインジウムを所定の幅および厚さに充填し封着層21を形成する。同様に、前面基板11の上記側壁と対向する封着面に下地層30bを形成し、この下地層の上に後述する封着方法により必要に応じて封着材として例えばインジウムを所定の幅および厚さに充填し封着層21を形成する。   Subsequently, the side wall 18 and the support member 14 are sealed on the inner surface of the back substrate 12 by the low melting point glass 19 in the atmosphere. Thereafter, a base layer 30a is formed over the entire periphery of the sidewall 18, and indium, for example, is filled as a sealing material to a predetermined width and thickness as required by a sealing method described later on the base layer. 21 is formed. Similarly, a base layer 30b is formed on the sealing surface facing the side wall of the front substrate 11, and, for example, indium is used as a sealing material on the base layer by a sealing method to be described later, with a predetermined width and The sealing layer 21 is formed by filling the thickness.

なお、金属封着材料としては、融点が約350℃以下で密着性、接合性に優れた低融点金属材料を使用することが望ましい。本実施形態で用いるインジウム(In)は、融点156.7℃と低いだけでなく、蒸気圧が低い、低温でも脆くならないなどの優れた特徴がある。また、下地層31a、31bは、金属封着材料に対して濡れ性および気密性の良い材料、つまり、金属封着材料に対して親和性の高い材料を用いる。   As the metal sealing material, it is desirable to use a low melting point metal material having a melting point of about 350 ° C. or less and excellent adhesion and bondability. Indium (In) used in the present embodiment has not only a low melting point of 156.7 ° C., but also has excellent characteristics such as low vapor pressure and no brittleness even at low temperatures. Further, the base layers 31a and 31b are made of a material having good wettability and airtightness with respect to the metal sealing material, that is, a material having high affinity with the metal sealing material.

次いで、側壁18が封着された背面基板12および前面基板11を所定間隔離して対向配置し、この状態で、真空処理装置内に投入する。ここでは、例えば図5に示すような真空処理装置100を用いる。   Next, the back substrate 12 and the front substrate 11 to which the side walls 18 are sealed are arranged to face each other with a predetermined distance therebetween, and in this state, the substrate is put into a vacuum processing apparatus. Here, for example, a vacuum processing apparatus 100 as shown in FIG. 5 is used.

真空処理装置100は、並んで配設されたロード室101、ベーキング、電子線洗浄室102、冷却室103、ゲッター膜の蒸着室104、組立室105、冷却室106、およびアンロード室107を備えている。組立室105には、封着層を形成する封着材(インジウム)21a、21bを加熱溶融するための直流電源を出力する電源装置120が設けられている。また、真空処理装置100の各室は、真空処理が可能な処理室として構成され、FEDの製造時には全室が真空排気されている。これら各処理室間は図示しないゲートバルブ等により接続されている。   The vacuum processing apparatus 100 includes a load chamber 101, baking, an electron beam cleaning chamber 102, a cooling chamber 103, a getter film deposition chamber 104, an assembly chamber 105, a cooling chamber 106, and an unload chamber 107 arranged side by side. ing. The assembly chamber 105 is provided with a power supply device 120 that outputs a DC power source for heating and melting the sealing materials (indium) 21a and 21b forming the sealing layer. Each chamber of the vacuum processing apparatus 100 is configured as a processing chamber capable of vacuum processing, and all the chambers are evacuated when the FED is manufactured. These processing chambers are connected by a gate valve or the like (not shown).

所定間隔離間して対向配置された前面基板11および背面基板12は、まず、ロード室101に投入される。そして、ロード室101内の雰囲気を真空雰囲気とした後、ベーキング、電子線洗浄室102へ送られる。   First, the front substrate 11 and the rear substrate 12 that are opposed to each other with a predetermined distance are put into the load chamber 101. Then, after the atmosphere in the load chamber 101 is changed to a vacuum atmosphere, it is sent to the baking and electron beam cleaning chamber 102.

ベーキング、電子線洗浄室102では、各種部材を350〜400℃の温度に加熱し、各基板の表面吸着ガスを放出させる。同時にベーキング、電子線洗浄室102に取り付けられた図示しない電子線発生装置から電子線を、前面基板11の蛍光体スクリーン面、および背面基板12の電子放出素子面に照射する。その際、電子線発生装置外部に装着された偏向装置によって電子線を偏向走査することにより、蛍光体スクリーン面および電子放出素子面の全面をそれぞれ電子線洗浄する。   In the baking and electron beam cleaning chamber 102, various members are heated to a temperature of 350 to 400 ° C. to release the surface adsorption gas of each substrate. At the same time, an electron beam is irradiated onto the phosphor screen surface of the front substrate 11 and the electron-emitting device surface of the rear substrate 12 from an electron beam generator (not shown) attached to the baking and electron beam cleaning chamber 102. At that time, the electron beam is deflected and scanned by a deflection device mounted outside the electron beam generator, whereby the entire surfaces of the phosphor screen surface and the electron-emitting device surface are respectively cleaned with the electron beam.

ベーキングおよび電子線洗浄された前面基板11および背面基板12は冷却室103に送られ、約120℃の温度まで冷却された後、ゲッター膜の蒸着室104へと送られる。この蒸着室104では、メタルバック17の外側にゲッター膜27としてバリウム膜が蒸着形成される。バリウム膜は表面が酸素や炭素などで汚染されることを防止することができ、活性状態を維持することができる。   The front substrate 11 and the rear substrate 12 that have been subjected to baking and electron beam cleaning are sent to a cooling chamber 103, cooled to a temperature of about 120 ° C., and then sent to a getter film deposition chamber 104. In the vapor deposition chamber 104, a barium film is deposited on the outside of the metal back 17 as the getter film 27. The barium film can prevent the surface from being contaminated with oxygen, carbon, or the like, and can maintain an active state.

続いて、前面基板11および背面基板12は組立室105に送られる。この組立室105において、前面基板11および背面基板12は、対向配置された状態で組立室内の一対のホットプレート(図示せず)にそれぞれ保持される。前面基板11は落下しないように、固定治具(図示せず)により上側のホットプレートに固定する。   Subsequently, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sent to the assembly chamber 105. In the assembly chamber 105, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are respectively held by a pair of hot plates (not shown) in the assembly chamber in a state of being opposed to each other. The front substrate 11 is fixed to the upper hot plate by a fixing jig (not shown) so as not to fall.

その後、前面基板11および背面基板12を約120℃に維持したまま、互いに接近する方向へ移動させ電源装置120の直流電源供給による通電加熱で封着層21のインジウムを溶融させ、前面基板11および背面基板12の周縁部を封着する。この際の本発明の実施形態に係る製造方法について図6乃至図10を参照して説明する。   Thereafter, while maintaining the front substrate 11 and the rear substrate 12 at approximately 120 ° C., the indium of the sealing layer 21 is melted by energization heating by supplying DC power from the power supply device 120 while being moved toward each other. The peripheral edge of the back substrate 12 is sealed. A manufacturing method according to an embodiment of the present invention at this time will be described with reference to FIGS.

まず図6乃至図8を参照して本発明の第1実施形態に於ける製造方法を説明する。この第1実施形態に於ける製造方法は、前面基板11と背面基板12のそれぞれに下地層および封着層を形成し、そのいずれか一方の基板に設けた封着層を通電加熱により溶融させて、上記基板を重ね合わせ、一方の基板に設けた封着材の溶融熱で他方の基板に設けた封着材を熔解させることにより前面基板11と背面基板12の封着面を封着している。   First, the manufacturing method according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the manufacturing method according to the first embodiment, a base layer and a sealing layer are formed on each of the front substrate 11 and the rear substrate 12, and the sealing layer provided on one of the substrates is melted by energization heating. The sealing surfaces of the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sealed by superimposing the substrates and melting the sealing material provided on the other substrate with the heat of fusion of the sealing material provided on the one substrate. ing.

この第1実施形態に於いては、上記真空処理装置内に投入する以前の工程に於いて、図6(a),(b)に示すように、背面基板12の側壁18の封着面の全周にわたって下地層30aの上に封着層21を形成する封着材(インジウム)21aを所定の幅および厚さに塗布し、さらに上記背面基板12の側壁18の封着面に対向する前面基板11の封着面の全周にわたって下地層30bの上に上記同様の封着材21bを所定の幅および厚さに塗布する。この前面基板11および背面基板12は対向配置された状態で組立室105に送られ、ここで片側基板の通電加熱による封着処理が行われる。   In the first embodiment, the sealing surface of the side wall 18 of the back substrate 12 is shown in FIGS. 6 (a) and 6 (b) in the step before being put into the vacuum processing apparatus. A sealing material (indium) 21a for forming the sealing layer 21 is applied to the base layer 30a over the entire circumference in a predetermined width and thickness, and further, the front surface facing the sealing surface of the side wall 18 of the back substrate 12 A sealing material 21b similar to the above is applied to the base layer 30b over the entire circumference of the sealing surface of the substrate 11 to a predetermined width and thickness. The front substrate 11 and the rear substrate 12 are sent to the assembly chamber 105 in a state of being opposed to each other, and here, a sealing process is performed by energizing and heating the one side substrate.

この片側基板の通電加熱による封着処理を実現する第1実施形態に於いては、図6(b)および図7(a)に示すように、いずれか一方の基板、例えば背面基板12に設けられた封着材21aに電源装置120から直流電源を供給し、封着材21aを通電加熱する。尚、この際、封着材21aに対して通電電流が二分されるよう電流経路を考慮する必要があるがここではその説明を省略する。また図7に於いては支持部材14、側壁18等の部材を含まない簡素化したモデルを例に示している。   In the first embodiment for realizing the sealing process by energization heating of this one side substrate, as shown in FIG. 6B and FIG. 7A, it is provided on one of the substrates, for example, the rear substrate 12. A direct current power is supplied from the power supply device 120 to the sealing material 21a, and the sealing material 21a is energized and heated. At this time, it is necessary to consider the current path so that the energization current is divided into two with respect to the sealing material 21a. FIG. 7 shows an example of a simplified model that does not include members such as the support member 14 and the side wall 18.

上記通電加熱により封着材21aを溶融した状態で、前面基板11と背面基板12とを互いに接近させ、基板同士を封着面を一致させて重ね合わせる。   In a state where the sealing material 21a is melted by the energization heating, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are brought close to each other, and the substrates are overlapped with the sealing surfaces being matched.

この重ね合わせにより、背面基板12に設けられた溶融状態にある封着材21aが前面基板11に設けられた封着材21bに接触し、前面基板11に設けられた封着材21bが背面基板12に設けられた封着材21aの溶融熱を受けて溶解され、封着材21a、21bが互い溶融して一体化した封着層21を形成する。この封着状態を図7(b)に示している。また上記封着処理に於ける背面基板12および前面基板11の封着部分近傍の温度変化の状態を図8に示している。   By this superposition, the sealing material 21a in the molten state provided on the back substrate 12 contacts the sealing material 21b provided on the front substrate 11, and the sealing material 21b provided on the front substrate 11 becomes the back substrate. 12 is melted by receiving the heat of fusion of the sealing material 21 a provided on the sealing material 21, and the sealing materials 21 a and 21 b are melted together to form an integrated sealing layer 21. This sealing state is shown in FIG. Further, FIG. 8 shows a temperature change state in the vicinity of the sealing portions of the rear substrate 12 and the front substrate 11 in the sealing process.

図8(a)は通電加熱時に於ける温度変化の状態遷移の一例を示し、図8(b)は基板同士を重ね合わせた以降の基板冷却時に於ける温度変化の状態遷移の一例を示している。ここでは通電加熱による封着材の溶融を短時間に行わず、図8(a)に示すように60秒程度の長い時間をかけて緩やかな温度上昇で片側基板(背面基板12)のみの封着材21aに対して加熱処理をしている。   FIG. 8A shows an example of state transition of temperature change during energization heating, and FIG. 8B shows an example of state transition of temperature change during substrate cooling after overlapping the substrates. Yes. Here, the sealing material is not melted by energization heating in a short time, but only one side substrate (back substrate 12) is sealed over a long period of about 60 seconds as shown in FIG. The dressing 21a is heat-treated.

一方、重ね合わせ後は封着材21aの溶融熱が封着材21bに奪われることから、図8(b)に示すように、重ね合わせ直後から背面基板12の温度が急激に下降し、略90秒程度で封着層21が固化状態(例えば140℃以下)となり3分程度で冷却処理を終えることができる。従ってこの図8の例では加熱に1分、冷却に2乃至3分の計3〜4分程度で封着処理が完了する。   On the other hand, since the heat of fusion of the sealing material 21a is taken away by the sealing material 21b after superposition, as shown in FIG. The sealing layer 21 becomes solidified (for example, 140 ° C. or lower) in about 90 seconds, and the cooling process can be completed in about 3 minutes. Therefore, in the example of FIG. 8, the sealing process is completed in about 3 to 4 minutes in total, 1 minute for heating and 2 to 3 minutes for cooling.

尚、上記図8に示す例は、背面基板12に設けた封着材21aと前面基板11に設けた封着材21bとを等量にした場合の例であり、基板の熱放散特性、金属封着材の熱特性等、種々の条件を考慮して背面基板12に設けた封着材21aの量と前面基板11に設けた封着材21bの量とを適宜調整して配分することにより、片側基板の通電加熱による封着処理によって、より効率のよい安定した封着が可能となる。例えば封着処理に於いて通電加熱される側の基板(この例では背面基板12)から加熱されない側の基板(この例では前面基板11)に伝達される熱量を必要最小限にとどめることを条件とした場合、背面基板12に設けた封着材21aの量を前面基板11に設けた封着材21bの量より少なくすることが考えられる。また、基板の接合強度、封着材料、融着時間等を条件とした場合、通電加熱する側の基板の封着材を多く配分することが考えられる。   Note that the example shown in FIG. 8 is an example in which the sealing material 21a provided on the back substrate 12 and the sealing material 21b provided on the front substrate 11 are made equal, and the heat dissipation characteristics of the substrate, metal By appropriately adjusting and distributing the amount of the sealing material 21a provided on the back substrate 12 and the amount of the sealing material 21b provided on the front substrate 11 in consideration of various conditions such as the thermal characteristics of the sealing material. A more efficient and stable sealing is possible by the sealing process by energization heating of the one-side substrate. For example, in the sealing process, the amount of heat transferred from the substrate that is energized and heated (in this example, the back substrate 12) to the substrate that is not heated (in this example, the front substrate 11) is limited to a necessary minimum. In this case, it is conceivable that the amount of the sealing material 21 a provided on the back substrate 12 is made smaller than the amount of the sealing material 21 b provided on the front substrate 11. In addition, when the bonding strength of the substrate, the sealing material, the fusion time, and the like are used as conditions, it is conceivable to allocate a large amount of the sealing material on the side to be electrically heated.

次に図9を参照して片側基板の通電加熱による封着処理を実現する第2実施形態を説明する。この第2実施形態に於ける製造方法は、一方の基板に下地層および封着層を形成し、他方の基板に下地層のみを形成して、一方の基板に設けた封着層を通電加熱により溶融させ、その溶融した封着材を他方の基板に設けた下地層に融着させることにより基板相互の封着面を封着している。図9(a)に示す例では、背面基板12に封着層を形成する封着材21a、および下地層30aを設け、前面基板11に下地層30bのみを設けている。   Next, a second embodiment for realizing a sealing process by energization heating of one side substrate will be described with reference to FIG. In the manufacturing method according to the second embodiment, the base layer and the sealing layer are formed on one substrate, only the base layer is formed on the other substrate, and the sealing layer provided on the one substrate is heated by energization. The sealing surfaces of the substrates are sealed by fusing them and fusing the melted sealing material to the base layer provided on the other substrate. In the example shown in FIG. 9A, a sealing material 21 a for forming a sealing layer and a base layer 30 a are provided on the back substrate 12, and only the base layer 30 b is provided on the front substrate 11.

この第2実施形態に於いては、図9(a)に示すように、例えば背面基板12に設けられた封着材21aに電源装置120から直流電源を供給し、封着材21aを通電加熱する。   In the second embodiment, as shown in FIG. 9A, for example, DC power is supplied from the power supply device 120 to the sealing material 21a provided on the back substrate 12, and the sealing material 21a is heated by energization. To do.

この通電加熱により封着材21aを溶融した状態で、前面基板11と背面基板12とを互いに接近させ基板同士を封着面を一致させて重ね合わせる。   In a state where the sealing material 21a is melted by this energization heating, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are brought close to each other and the substrates are overlapped with the sealing surfaces being matched.

この重ね合わせにより、図9(b)に示すように、背面基板12に設けられた溶融状態にある封着材21aが前面基板11に設けられた下地層30bに接触し、封着材21aが下地層30bに融着することによって封着層21が形成される。   By this superposition, as shown in FIG. 9B, the sealing material 21a in the molten state provided on the back substrate 12 comes into contact with the base layer 30b provided on the front substrate 11, and the sealing material 21a is The sealing layer 21 is formed by fusing to the base layer 30b.

この第2実施形態による片側基板の通電加熱による封着処理は、前面基板11に封着材を設ける工程を省くことができるとともに、封着材同士の溶融に要する時間を皆無にできることから製造工程の簡素化並びに時間短縮を図ることができる。   The sealing process by energization heating of the one-sided substrate according to the second embodiment can omit the step of providing a sealing material on the front substrate 11 and can eliminate the time required for melting the sealing materials from each other. Can be simplified and the time can be shortened.

次に図10を参照して片側基板の通電加熱による封着処理を実現する第3実施形態を説明する。この第3実施形態に於ける製造方法は、一方の基板に下地層および封着層を形成し、他方の基板に下地層のみを形成して、一方の基板に設けた封着層を下地層の通電加熱により溶融させ、その溶融した封着材を他方の基板に設けた下地層に融着させることにより基板相互の封着面を封着している。図10(a)に示す例では、背面基板12に封着層を形成する封着材21a、および下地層30aを設け、前面基板11に下地層30bのみを設けている。   Next, a third embodiment that realizes a sealing process by energization heating of the one-side substrate will be described with reference to FIG. In the manufacturing method according to the third embodiment, the base layer and the sealing layer are formed on one substrate, only the base layer is formed on the other substrate, and the sealing layer provided on the one substrate is used as the base layer. The sealing surfaces of the substrates are sealed together by melting by energization heating and fusing the melted sealing material to the base layer provided on the other substrate. In the example shown in FIG. 10A, a sealing material 21 a for forming a sealing layer and a base layer 30 a are provided on the back substrate 12, and only the base layer 30 b is provided on the front substrate 11.

この第2実施形態に於いては、封着材21aに直接、電流を流して通電加熱するのではなく、封着材21aをその下地層30aを介し間接的に通電加熱して溶融している。即ち図10(a)に示すように、例えば背面基板12に設けられた下地層30aに電源装置120から直流電源を供給して下地層30aを通電加熱し、その下地層30aに発生した熱で下地層30aのうえに設けられた封着材21aを溶融する。   In the second embodiment, the sealing material 21a is melted by indirectly heating and energizing the sealing material 21a through the base layer 30a, instead of directly supplying current to the sealing material 21a and heating it. . That is, as shown in FIG. 10A, for example, the base layer 30a provided on the back substrate 12 is supplied with DC power from the power supply device 120 to energize and heat the base layer 30a, and the heat generated in the base layer 30a. The sealing material 21a provided on the foundation layer 30a is melted.

この通電加熱により封着材21aを溶融した状態で、前面基板11と背面基板12とを互いに接近させ基板同士を封着面を一致させて重ね合わせる。   In a state where the sealing material 21a is melted by this energization heating, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are brought close to each other and the substrates are overlapped with the sealing surfaces being matched.

この重ね合わせにより、図10(b)に示すように、背面基板12に設けられた溶融状態にある封着材21aが前面基板11に設けられた下地層30bに接触し、封着材21aが下地層30bに融着することによって封着層21が形成される。   By this superposition, as shown in FIG. 10B, the molten sealing material 21a provided on the back substrate 12 comes into contact with the base layer 30b provided on the front substrate 11, and the sealing material 21a is The sealing layer 21 is formed by fusing to the base layer 30b.

この第3実施形態に於いても上記した第2実施形態と同様に前面基板11に封着材を設ける工程を省くことができるとともに、封着材同士の溶融に要する時間を皆無にできることから製造工程の簡素化並びに時間短縮を図ることができる。   In the third embodiment, as in the second embodiment described above, the process of providing the sealing material on the front substrate 11 can be omitted, and the time required for melting the sealing materials can be eliminated. The process can be simplified and the time can be shortened.

また、片側基板の通電加熱による封着処理を実現する他の実施形態として、例えば上記図10(a)に於いて、背面基板12に下地層30aのみを形成し、前面基板11の下地層30bに予め封着層を形成しておいて、背面基板12に設けられた下地層30aに電源装置120から直流電源を供給して下地層30aを通電加熱し、基板相互を重ね合わせた際に、背面基板12に設けた下地層30aの熱で前面基板11の下地層30bに形成された封着層を溶解し、背面基板12に設けた下地層30aに前面基板11に設けた封着層を融着させて封着層21を形成することも可能である。また上記各実施形態に於いて通電加熱しない側の基板に設けた下地層を通電加熱することで封着材の融着を促進させることも可能である。   Further, as another embodiment for realizing the sealing process by energization heating of the one side substrate, for example, in FIG. 10A, only the base layer 30a is formed on the back substrate 12, and the base layer 30b of the front substrate 11 is formed. When the sealing layer is formed in advance, the base layer 30a provided on the back substrate 12 is supplied with DC power from the power supply device 120 to energize and heat the base layer 30a, and the substrates are overlapped with each other. The sealing layer formed on the base layer 30 b of the front substrate 11 is dissolved by the heat of the base layer 30 a provided on the back substrate 12, and the sealing layer provided on the front substrate 11 is dissolved in the base layer 30 a provided on the back substrate 12. It is also possible to form the sealing layer 21 by fusing. Further, in each of the above embodiments, it is possible to promote the fusion of the sealing material by energizing and heating the base layer provided on the substrate that is not energized and heated.

上述したように、組立室105に於いては、片側基板の通電加熱による封着処理により基板相互の封着面が封着される。
上記工程により封着された前面基板11および背面基板12は、冷却室106で常温まで冷却され、アンロード室107から取り出される。これにより、FEDの真空外囲器10が完成する。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、実施段階では本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、上記実施形態では、インジウム等の金属性封着材を用いた片側基板の通電加熱による封着処理を例に採ったが、通電加熱以外のランプヒーター等の外部熱源を用いた封着材の溶融手段、通電加熱と外部熱源の組合せによる封着材の溶融手段等も適用可能である。また封着材もインジウムに限るものではなく、例えば通電加熱による封着処理の場合は導電性を有した他の封着材料であってもよい。具体例としては、封着材として、少なくともIn、Sn、Pb、Ga、Biのいずれかを含む金属を用いることができる。また、外囲器の側壁は予め背面基板あるいは前面基板と共に一体的に成形された構成であってもよく、さらに真空外囲器の外形状や支持部材の構成並びに配置、下地層の有無、電子放出素子の種類等も上記実施の形態に限られるものでなく、種々の構成に本発明の方法を適用することができる。また上記した実施の形態では、真空雰囲気中で基板を接合する工程について述べたが、その他の雰囲気環境において本発明の方法を適用することも可能である。またこの発明は、FEDの製造に限定されることなく、SEDやPDP等の他の画像表示装置、あるいは、外囲器内部が高真空とならない画像表示装置の製造にも適用可能である。
As described above, in the assembly chamber 105, the sealing surfaces of the substrates are sealed by the sealing process by energization heating of the one-side substrate.
The front substrate 11 and the rear substrate 12 sealed by the above process are cooled to room temperature in the cooling chamber 106 and taken out from the unload chamber 107. Thereby, the vacuum envelope 10 of the FED is completed.
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, In an implementation stage, a component can be deform | transformed and embodied in the range which does not deviate from the summary of this invention. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, in the above embodiment, the sealing process by energization heating of the one-side substrate using a metallic sealing material such as indium is taken as an example, but the sealing material using an external heat source such as a lamp heater other than the energization heating is used. It is also possible to apply a melting means for sealing materials, a melting means for sealing materials by a combination of electric heating and an external heat source, and the like. Further, the sealing material is not limited to indium. For example, in the case of a sealing process by energization heating, another sealing material having conductivity may be used. As a specific example, a metal containing at least one of In, Sn, Pb, Ga, and Bi can be used as the sealing material. In addition, the side wall of the envelope may be formed integrally with the rear substrate or the front substrate in advance, and further, the outer shape of the vacuum envelope, the configuration and arrangement of the support member, the presence or absence of the underlayer, the electronic The type of the emission element is not limited to the above embodiment, and the method of the present invention can be applied to various configurations. In the above-described embodiment, the step of bonding the substrates in a vacuum atmosphere has been described. However, the method of the present invention can be applied in other atmospheric environments. Further, the present invention is not limited to the manufacture of the FED, but can also be applied to the manufacture of other image display devices such as SED and PDP, or the image display device in which the inside of the envelope does not become a high vacuum.

この発明の実施の形態に係るFED全体を示す斜視図。The perspective view which shows the whole FED which concerns on embodiment of this invention. 上記FEDの内部構成を示す斜視図。The perspective view which shows the internal structure of the said FED. 図1の線A−Aに沿った断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1. 上記FEDの蛍光体スクリーンの一部を拡大して示す平面図。The top view which expands and shows a part of phosphor screen of the FED. 上記FEDの製造に用いる真空処理装置を概略的に示す図。The figure which shows schematically the vacuum processing apparatus used for manufacture of the said FED. 本発明の第1実施形態を説明するための上記FEDの製造に用いられる前面基板および背面基板を示す平面図。The top view which shows the front substrate used for manufacture of the said FED for demonstrating 1st Embodiment of this invention, and a back substrate. 上記第1実施形態に於ける封着処理の工程説明図。Process explanatory drawing of the sealing process in the said 1st Embodiment. 上記第1実施形態の封着処理に於ける背面基板および前面基板の温度変化の状態を示す図。The figure which shows the state of the temperature change of the back substrate and front substrate in the sealing process of the said 1st Embodiment. 本発明の第2実施形態に於ける封着処理の工程説明図。Process explanatory drawing of the sealing process in 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態に於ける封着処理の工程説明図。Process explanatory drawing of the sealing process in 2nd Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10…真空外囲器、 11…前面基板、 12…背面基板、 14…支持部材、 16…蛍光体スクリーン、 18…側壁、 21…封着層、 21a,21b…封着材、 22…電子放出素子、 30a,30b…下地層、 100…真空処理装置、120…電源装置。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Vacuum envelope, 11 ... Front substrate, 12 ... Back substrate, 14 ... Supporting member, 16 ... Phosphor screen, 18 ... Side wall, 21 ... Sealing layer, 21a, 21b ... Sealing material, 22 ... Electron emission Element 30a, 30b ... Underlayer, 100 ... Vacuum processing device, 120 ... Power supply device.

Claims (7)

対向配置された一対の基板の対向する面に設けられた封着部を封着して外囲器を構成する画像表示装置の製造方法において、
前記各基板のうち、一方の基板に設けられた封着部を加熱し、当該封着部を他方の基板に設けられた封着部と重ね合わせて前記各基板の封着部を封着することを特徴とする画像表示装置の製造方法。
In the manufacturing method of the image display device that forms the envelope by sealing the sealing portions provided on the opposing surfaces of the pair of substrates arranged opposite to each other,
Among the substrates, a sealing portion provided on one substrate is heated, and the sealing portion is overlapped with a sealing portion provided on the other substrate to seal the sealing portion of each substrate. An image display device manufacturing method characterized by the above.
対向配置された一対の基板の対向する面に設けられた封着部を封着して外囲器を構成する画像表示装置の製造方法において、
前記各基板のうち、一方の基板に設けられた封着部を通電加熱し、当該通電加熱された封着部を他方の基板に設けられた封着部と重ね合わせて前記各基板の封着部を封着することを特徴とする画像表示装置の製造方法。
In the manufacturing method of the image display device that forms the envelope by sealing the sealing portions provided on the opposing surfaces of the pair of substrates arranged opposite to each other,
Of each of the substrates, a sealing portion provided on one of the substrates is energized and heated, and the energized and heated sealing portion is overlapped with a sealing portion provided on the other substrate to seal the substrates. A method for manufacturing an image display device, wherein the part is sealed.
前記各基板のうち、少なくともいずれかの基板の封着部は封着材を有し、前記各基板の封着部が接触することにより前記封着材が熔解され前記封着部が封着される請求項1または2記載の画像表示装置の製造方法。   Among each of the substrates, at least a sealing portion of the substrate has a sealing material, and the sealing material is melted and the sealing portion is sealed by contact of the sealing portions of the substrates. The method for manufacturing an image display device according to claim 1 or 2. 前記各基板のうち、少なくともいずれかの基板の封着部は前記封着材の下地層を有し、前記封着材が前記下地層に融着されて前記封着部が封着される請求項3記載の画像表示装置の製造方法。   The sealing portion of at least one of the substrates has a base layer of the sealing material, and the sealing material is fused to the base layer to seal the sealing portion. Item 4. A method for manufacturing an image display device according to Item 3. 前記下地層を通電加熱して前記封着材を前記下地層に融着させる請求項4記載の画像表示装置の製造方法。   The method for manufacturing an image display device according to claim 4, wherein the underlayer is energized and heated to fuse the sealing material to the underlayer. 前記一方の基板に設けた封着材の量と前記他方の基板に設けた封着材の量とを所定の条件のもとに配分する請求項3記載の画像表示装置の製造方法。   4. The method for manufacturing an image display device according to claim 3, wherein the amount of the sealing material provided on the one substrate and the amount of the sealing material provided on the other substrate are distributed under a predetermined condition. 前記通電加熱の時間帯を2秒乃至10分とした請求項2記載の画像表示装置の製造方法。   The method for manufacturing an image display device according to claim 2, wherein a time zone of the energization heating is 2 seconds to 10 minutes.
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