JP2005294103A - ヒューズのエレメント保持構造 - Google Patents

Abstract

【課題】
筒型ヒューズの、消弧用の硅砂充填時に、エレメントが片寄りを生じ、絶縁筒に接触あるいは接近し遮断性能の低下を来たすのを防止する。
【解決手段】
電流遮断部となる狭隘部７を設け、通電による伸縮での破断を防ぐため、狭隘部７でジグザグに折られたエレメント５の、狭隘部７の中間部に穴８を設け、そこに、絶縁性の棒９を貫通させる。絶縁性の棒９は、中キャップの穴１０で保持する。
【選択図】図１

Description

この発明は、絶縁筒の両端に端子金具を備え、その内部に備えられたヒューズエレメントが溶断することにより事故電流を遮断する、筒型ヒューズのエレメント保持構造に関する。

図２はこの種のヒューズの従来例を示すブロック図である。
この図に示すように、従来は、ジグザグに折られたエレメントを中キャップに接続し、ヒューズ筒の中には、消弧用の硅砂を充填していた（他には、例えば、非特許文献１参照）。
しかし、エレメントは厚さが薄いため、硅砂を充填する場合にヒューズの絶縁筒の側に片寄って充填されてしまうことがあった。
このため、絶縁筒の内径を、前記、片寄りの分より大きくしておく必要があった。
そこで、絶縁筒内に設けられた円盤状の中継端子にヒューズエレメントを固定することにより、ヒューズエレメント相互間の間隔が確実に保持され、ヒューズエレメント相互間及び絶縁筒との間の距離を低減可能とし、ヒューズの外形寸法を小さくする技術が、例えば特許文献１に開示されている。
富士配電機器・制御機器 Ｄ＆Ｃ総合カタログ（第８版）ｐ．Ｅ６５ 構造図 特開昭５８−１７８９３９号公報（第３頁、第３図）

従来のエレメント保持構造では、消弧用の硅砂エレメントが片寄りを生じ、絶縁筒４に接触あるいは接近し遮断性能の低下を来たすため、絶縁筒の外形を大きくしなければならないという問題があった。

上記問題点を解決するため、請求項１の発明においては、絶縁性のヒューズ筒の両端に金属の中キャップが装着され、前記、中キャップには帯状のエレメントが接合され、前記、ヒューズ筒の内部には消弧砂が充填され、前記、中キャップの外側に、端子部を設けた外キャップが挿入されるヒューズにおいて、前記、帯状のエレメントに孔部を設け、当該孔部に絶縁性の支持部材を貫通させ、該支持部材は、前記、中キャップにより保持されるエレメントの保持構造とする。

この発明によれば、消弧用硅砂充填時のエレメントの片寄りが防止され遮断性能の低下を防止するとともに、ヒューズ絶縁筒の外形を小さくすることができる。

図１はこの発明の実施の形態を示す図である。
端子１には外キャップ２が接合され、中キャップ３にエレメント５が接合されている。中キャップ３はヒューズ筒４に圧入され、その上から外キャップ２が圧入されている。
ヒューズ筒４の中には、キャップ２，３に設けられた不図示の穴部などから、絶縁ヒューズ筒内部に硅砂６が充填される。
図１に示されるように、エレメント５は電流遮断部となる狭隘部７を設け、通電による伸縮での破断を防ぐため、狭隘部７でジグザグに折られている。そして、狭隘部７の中間部に穴８を設け、そこに、絶縁性の棒９を貫通させる。絶縁性の棒９は、中キャップの穴１０で保持する。
なお、本実施の形態では、絶縁性の棒９としたが、絶縁性を有するナイロン弦などであってもよい。

この発明の実施の形態を示す図 従来例を示す図

符号の説明

１…端子板
２…外キャップ
３…中キャップ
４…絶縁ヒューズ筒
５…エレメント
６…消弧砂
７…狭隘部
８…穴
９…絶縁性の棒
１０…穴

Claims (1)

1. 絶縁性のヒューズ筒の両端に金属の中キャップが装着され、前記、中キャップには帯状のエレメントが接合され、前記、ヒューズ筒の内部には消弧砂が充填され、前記、中キャップの外側に、端子部を設けた外キャップが挿入されるヒューズにおいて、
   前記、帯状のエレメントに孔部を設け、当該孔部に絶縁性の支持部材を貫通させ、該支持部材は、前記、中キャップにより保持されることを特徴とするヒューズのエレメント保持構造。
   

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