JP2005292214A - Cylindrical surface exposure device and system therefor - Google Patents

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Kazuyuki Minami
和幸 南
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cylindrical surface exposure device and a system therefor that can precisely transfer a pattern to a cylindrical surface. <P>SOLUTION: The cylindrical surface exposure device has a light source part 2, a slit 3 which has an opening to pass light from the light source part2, a lens which is arranged below the slit 3 and converges light passing through the slit 3, a mask 4 which is arranged below the lens and forms a desired pattern, a rotation part 8 which is arranged below the mask 4 and detachably supports a cylinder part 5, a 1st motor 12 which drives the mask 4, and a 2nd motor 12 which drives the rotation part 8, wherein the lens is arranged at a place where mapping of the slit 3 is imaged nearly on the same surface as that of the mask 4. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ステント等の円筒面にパターンを転写する円筒面露光装置とそのシステムに係わり、特に、光の拡散を防止して精度よくパターンを転写する円筒面露光装置とそのシステムに関する。   The present invention relates to a cylindrical surface exposure apparatus and system for transferring a pattern onto a cylindrical surface such as a stent, and more particularly to a cylindrical surface exposure apparatus and system for transferring a pattern with high accuracy by preventing light diffusion.

一般に、非平面である円筒面への微細なパターンの転写は、レジストをコーティングした円筒面上にパターンを形成するマスクを配置し、光を照射してレジストを感光させることによって行われる。この露光方法を用いたステントの製造工程について図3を参照しながら説明する。図3(a)〜(d)は円筒面露光方法の通常のステント製造工程を示す概念図である。
まず、図3(a)に示すように、ステントの原形となる金属チューブ21にレジスト22を均一にコーティングする。次に、図3(b)に示すように、露光によりパターンを円筒面上に転写する。そして、図3(c)のように、現像後、処理液に浸漬してパターンが転写された金属部分をエッチングする。最後に、図3(d)においてレジスト22を剥離すると、所望の形状を有するステント23が完成する。
In general, a fine pattern is transferred to a non-planar cylindrical surface by placing a mask for forming a pattern on a cylindrical surface coated with a resist and irradiating light to expose the resist. A stent manufacturing process using this exposure method will be described with reference to FIG. FIGS. 3A to 3D are conceptual views showing a normal stent manufacturing process of the cylindrical surface exposure method.
First, as shown in FIG. 3A, a resist 22 is uniformly coated on a metal tube 21 which is the original shape of a stent. Next, as shown in FIG. 3B, the pattern is transferred onto the cylindrical surface by exposure. Then, as shown in FIG. 3 (c), after development, the metal portion to which the pattern has been transferred is etched by being immersed in a processing solution. Finally, when the resist 22 is removed in FIG. 3D, the stent 23 having a desired shape is completed.

ここで、図3(b)の露光方法について詳しく説明する。図3(b)において、照明光17は、スリット3の開口部18を通過し、スリット3の下方に設置されるマスクガラス16上のマスク4のパターンが無い部分を通過して金属チューブ21上のレジスト22を感光するようになっている。そして、マスクガラス16には金属チューブ21一周分のパターンが形成されており、このマスクガラス16は図中では右方向に速度vで移動する。また、この移動速度vと同期して、金属チューブ21は図中時計回りに角速度ωで回転し、金属チューブ21の周方向が感光されるのである。   Here, the exposure method of FIG. 3B will be described in detail. In FIG. 3 (b), the illumination light 17 passes through the opening 18 of the slit 3, passes through a portion of the mask glass 16 placed below the slit 3 without the pattern of the mask 4, and is on the metal tube 21. The resist 22 is exposed. The mask glass 16 is formed with a pattern for one round of the metal tube 21, and the mask glass 16 moves rightward in the drawing at a speed v. Further, in synchronism with the moving speed v, the metal tube 21 rotates at an angular velocity ω in the clockwise direction in the drawing, and the circumferential direction of the metal tube 21 is exposed.

しかしながら、この円筒面への露光では、図4に示すような原因で分解能の低下が生じている。図4(a)は、光の回折による分解能の低下を説明するための概念図であり、図4(b)は多重反射による分解能の低下を説明するための概念図である。
図4(a)では、照明光17が通過するスリットの開口部の端部において、マスクガラス16上のマスク4とワーク5円筒面との間の距離が離れることにより光が回折し、パターンのボケが発生している。
また、図4(b)では、マスクガラス16と円筒面が平行でないために光が多重反射し露光範囲が拡大している。このような分解能の低下は、図3(b)に示されるスリットの開口幅18を狭くすることにより改善されることがわかっているが、図4(c)に示すようにマスクガラス16の厚さ方向においても光の回折が生じるため、スリットの開口幅18を狭小とするのみでは分解能を向上させることが困難であった。
このような露光における分解能の向上に関しては、円筒面に対する露光技術に限定されないものの種々の技術が提案されている。
However, in the exposure to the cylindrical surface, the resolution is reduced due to the cause as shown in FIG. FIG. 4A is a conceptual diagram for explaining a reduction in resolution due to light diffraction, and FIG. 4B is a conceptual diagram for explaining a reduction in resolution due to multiple reflection.
In FIG. 4A, at the end of the opening of the slit through which the illumination light 17 passes, the light is diffracted as the distance between the mask 4 on the mask glass 16 and the cylindrical surface of the work 5 increases, and the pattern Blur has occurred.
Further, in FIG. 4B, since the mask glass 16 and the cylindrical surface are not parallel, the light is multiply reflected and the exposure range is expanded. It is known that such a decrease in resolution is improved by narrowing the opening width 18 of the slit shown in FIG. 3B. However, as shown in FIG. 4C, the thickness of the mask glass 16 is reduced. Since light is also diffracted in the vertical direction, it is difficult to improve the resolution only by reducing the opening width 18 of the slit.
Various techniques have been proposed for improving the resolution in such exposure, although not limited to the exposure technique for the cylindrical surface.

例えば、特許文献1には、マスクに形成されたパターンを投影光学系を介して被処理基板上に転写する際に、マスクの投影領域をスリットによって制限し、このスリットをマスク及び基板と相対的に少なくとも2回露光条件を変えて走査することによって、マスクのパターン領域全体を基板上に転写する「走査型露光方法」が開示されている。
この特許文献1に開示された発明では、マスク全体の1回目と2回目での露光において、投影光学系の焦点位置を変えたり、マスクと基板とを相対的に傾けたり、スリットの相対的走査方向を逆にしたり、露光量を変えたり、照明光学系のコヒーレンシーファクタや開口数を変えたりして多重露光を行うことができる。また、この技術では多重露光の最適化に必要な焦点位置毎の照明系のコヒーレンシーファクタや露光量の調整によって、パターンの転写精度を向上させることができる。そして、1回目と2回目の走査方向を逆にすることによって所要時間を短縮することもできる。
For example, in Patent Document 1, when a pattern formed on a mask is transferred onto a substrate to be processed via a projection optical system, the projection area of the mask is limited by a slit, and the slit is relative to the mask and the substrate. In addition, a “scanning exposure method” is disclosed in which the entire pattern area of the mask is transferred onto the substrate by scanning at least twice under different exposure conditions.
In the invention disclosed in Patent Document 1, in the first and second exposure of the entire mask, the focal position of the projection optical system is changed, the mask and the substrate are tilted relatively, and the relative scanning of the slits is performed. Multiple exposure can be performed by reversing the direction, changing the exposure amount, or changing the coherency factor or numerical aperture of the illumination optical system. Also, with this technique, the pattern transfer accuracy can be improved by adjusting the coherency factor and exposure amount of the illumination system for each focal position necessary for optimization of multiple exposure. The required time can be shortened by reversing the first and second scanning directions.

また、特許文献2には、電子放出面の中央部が凹形状となっている電子源を有する電子銃と、この電子銃から照射されマスクを透過した電子線をウェハに縮小投影するための投影レンズとを有する「電子線転写露光装置」が開示されている。
この特許文献2に開示された発明では、中央部が凹状となっている電子放出面の周縁部から照射されるリング状の電子を露光に利用することによって、電子線のボケを除去し、露光領域を拡大することができる。また、このリング状の電子線は輝度が高く、露光領域を拡大しても露光に必要な電子線強度を得ることができるので、生産性の高い電子線転写露光装置を実現することができる。さらに、電子銃とマスクとの間に円弧形状のスリット部材を配置することによって、電子銃から照射されるリング状の電子線を効率的に利用することができる。
Further, Patent Document 2 discloses an electron gun having an electron source in which the central portion of the electron emission surface has a concave shape, and a projection for reducing and projecting an electron beam irradiated from the electron gun and transmitted through a mask onto a wafer. An “electron beam transfer exposure apparatus” having a lens is disclosed.
In the invention disclosed in Patent Document 2, by using ring-shaped electrons irradiated from the peripheral portion of the electron emission surface having a concave central portion for exposure, blurring of the electron beam is removed and exposure is performed. The area can be enlarged. In addition, since this ring-shaped electron beam has high brightness and can obtain the electron beam intensity necessary for exposure even if the exposure area is enlarged, an electron beam transfer exposure apparatus with high productivity can be realized. Furthermore, by arranging an arc-shaped slit member between the electron gun and the mask, a ring-shaped electron beam irradiated from the electron gun can be used efficiently.

そして、特許文献3には、光源と、所要のパターンが形成されたフォトマスクと、このフォトマスクからの光を制限するスリットと、スリット光をワークに投影する投影レンズと、フォトマスクをスリットに対して移動させる手段と、このフォトマスクの移動と同期してワークを移動させる手段と、フォトマスクとワークの移動速度比を変化させる変速手段とを備える「走査型投影露光装置」が開示されている。
この特許文献3に開示された発明では、フォトマスクの移動速度とワークの移動速度を変化させる変速手段を備えているので、両者の相対的な移動速度を変化させることにより、移動方向における投影倍率を任意に変化させることができる。したがって、一つのフォトマスクでワーク上の投影パターンの縦横比を任意に調整することができる。
Patent Document 3 discloses a light source, a photomask on which a required pattern is formed, a slit that restricts light from the photomask, a projection lens that projects slit light onto a work, and a photomask as a slit. There is disclosed a “scanning projection exposure apparatus” comprising means for moving the photomask, means for moving the work in synchronization with the movement of the photomask, and speed changing means for changing the moving speed ratio of the photomask and the work. Yes.
Since the invention disclosed in Patent Document 3 includes a speed change means for changing the moving speed of the photomask and the moving speed of the workpiece, the projection magnification in the moving direction can be changed by changing the relative moving speed of both. Can be changed arbitrarily. Therefore, the aspect ratio of the projected pattern on the workpiece can be arbitrarily adjusted with one photomask.

しかしながら、特許文献1に記載された従来の技術では、投影光学系であるレンズをマスクとスリットの下方に設置し、レンズによってマスクの像を被処理基板上へ結像させて投影している。この方法では、ある程度露光範囲を狭めることは可能であるが、動くマスクに固定されたスリットを略同一面に設けることは困難であり、円筒面に適用した場合には、スリットの開口部の端部においてボケが発生するという課題は残るものである。   However, in the conventional technique described in Patent Document 1, a lens, which is a projection optical system, is placed below the mask and the slit, and an image of the mask is formed on the substrate to be processed by the lens and projected. In this method, it is possible to narrow the exposure range to some extent, but it is difficult to provide a slit fixed to a moving mask on substantially the same plane. When applied to a cylindrical surface, the end of the opening of the slit is difficult. The problem that blur occurs in the part remains.

また、特許文献2に記載された従来の技術は、半導体製造分野における微細加工を目的として、電子放出面の形状を工夫して電子線を効率よく必要な箇所に集めるものであり、転写面に円筒形状を想定したものではなく、やはり円筒面における分解能の低下を解消できないという課題があった。しかも、マスク及び転写面が走査する構造ではないので、円筒面の露光を周方向に連続して行うことができないという課題もあった。   In addition, the conventional technique described in Patent Document 2 is to devise the shape of the electron emission surface for the purpose of microfabrication in the semiconductor manufacturing field, and to efficiently collect the electron beam at a necessary place. There was a problem that the reduction in resolution on the cylindrical surface could not be solved without assuming a cylindrical shape. In addition, since the mask and the transfer surface are not scanned, there is a problem that the cylindrical surface cannot be continuously exposed in the circumferential direction.

そして、特許文献3に記載された従来の技術では、確かに、スリットの後方にレンズを備えて転写面にマスク像を投影しているが、このレンズは任意の投影倍率でマスク像を結像させるものであり、光の回折による広がりを直接防止できないという課題があった。
特開2002−43214号公報 特開平11−86766号公報 実開平5−81840号公報
In the prior art described in Patent Document 3, a lens is certainly provided behind the slit and a mask image is projected onto the transfer surface. This lens forms a mask image at an arbitrary projection magnification. There is a problem that the spread due to light diffraction cannot be prevented directly.
JP 2002-43214 A Japanese Patent Laid-Open No. 11-86766 Japanese Utility Model Publication No. 5-81840

本発明はかかる従来の事情に対処してなされたものであり、円筒面に精度よくパターンを転写できる円筒面露光装置とそのシステムを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such a conventional situation, and an object of the present invention is to provide a cylindrical surface exposure apparatus and system capable of accurately transferring a pattern to a cylindrical surface.

上記目的を達成するため、請求項1記載の発明である円筒面露光装置は、光源部と、この光源部からの光を開口部を備えて通過させるスリットと、このスリットの下方に配置されスリットを通過する光を集光するレンズと、このレンズの下方に配置され所望のパターンを形成するマスクと、マスクの下方に配置され円筒部を着脱可能に支持する回転部と、マスクを駆動させる第1のモータと、回転部を駆動させる第2のモータとを有し、レンズはスリットの写像をマスク面と略同一面に結像する位置に配設されるものである。
上記構成のステント円筒面露光装置では、スリットの開口部を通過する光は、レンズによって集光されてスリットの写像をマスク面と略同一面に結像するという作用を有する。また、第2のモータによって回転する円筒部と同期して、マスクは第1のモータによって直動するという作用を有する。
In order to achieve the above object, a cylindrical surface exposure apparatus according to a first aspect of the present invention includes a light source unit, a slit that allows light from the light source unit to pass through with an opening, and a slit disposed below the slit. A lens that collects light passing through the lens, a mask that is disposed below the lens to form a desired pattern, a rotating unit that is disposed below the mask and removably supports the cylindrical portion, and a first that drives the mask 1 and a second motor for driving the rotating portion, and the lens is disposed at a position where the image of the slit is imaged on substantially the same plane as the mask surface.
In the stent cylindrical surface exposure apparatus having the above-described configuration, the light passing through the opening of the slit is condensed by the lens and forms an image of the slit on substantially the same plane as the mask surface. Further, in synchronization with the cylindrical portion rotated by the second motor, the mask has a function of moving linearly by the first motor.

また、請求項2に記載の発明である円筒面露光システムは、光源部と、この光源部からの光を開口部を備えて通過させるスリットと、このスリットの下方に配置されスリットを通過する光を集光するレンズと、このレンズの下方に配置され所望のパターンを形成するマスクと、マスクの下方に配置され円筒部を着脱可能に支持する回転部と、マスクを駆動させる第1のモータと、回転部を駆動させる第2のモータと、スリットの位置を調整する第1の位置調整部と、マスクの位置を調整する第2の位置調整部と、モータに接続されモータの駆動条件を入力する入力部と、この入力部に接続され駆動条件を表示及び/又は出力する表示部とを有するものである。
上記構成のステント円筒面露光システムでは、第1の位置調整部及び第2の位置調整部によってマスクとスリットが適切な位置に調整されるという作用を有し、その結果、スリットとマスクの間に位置するレンズによって、スリットの開口部を通過する光が集光され、スリットの写像をマスク面と略同一面に結像するという作用を有する。また、マスクと円筒部は各々第1のモータ及び第2のモータによって駆動し、同期した直進及び回転運動を行うという作用を有する。
Further, the cylindrical surface exposure system according to the second aspect of the present invention includes a light source unit, a slit that allows light from the light source unit to pass therethrough, and light that is disposed below the slit and passes through the slit. A lens for condensing light, a mask that is disposed below the lens to form a desired pattern, a rotating unit that is disposed below the mask and removably supports the cylindrical portion, and a first motor that drives the mask , A second motor for driving the rotating unit, a first position adjusting unit for adjusting the position of the slit, a second position adjusting unit for adjusting the position of the mask, and a motor driving condition connected to the motor. And an input unit connected to the input unit for displaying and / or outputting driving conditions.
The stent cylindrical surface exposure system configured as described above has an effect that the mask and the slit are adjusted to appropriate positions by the first position adjustment unit and the second position adjustment unit, and as a result, between the slit and the mask. Light that passes through the opening of the slit is collected by the lens positioned, and has an action of forming an image of the slit on the substantially same plane as the mask surface. Further, the mask and the cylindrical portion are driven by the first motor and the second motor, respectively, and have the effect of performing the linear movement and the rotational movement in synchronization.

本発明の請求項1記載の円筒面露光装置では、光源から投光される光は、スリットの開口部を通過すると、スリットの下方のレンズによって集光されてマスク面と略同一面にスリットの写像を結像するので、マスクガラスの厚さに起因する光の回折を抑制することができる。したがって、曲面である円筒面においてもマスクのパターンを精度よく転写することができる。   In the cylindrical surface exposure apparatus according to the first aspect of the present invention, when the light projected from the light source passes through the opening of the slit, the light is condensed by the lens below the slit and is formed on the substantially same plane as the mask surface. Since the mapping is formed, light diffraction caused by the thickness of the mask glass can be suppressed. Therefore, the mask pattern can be accurately transferred even on a cylindrical surface which is a curved surface.

また、本発明の請求項2に記載の円筒面露光システムでは、位置調整部においてスリットとマスクが最適な位置に調整されるので、光源から投光されてスリットの開口部を通過する光はレンズによって集光される。その結果、マスクガラスの厚さに起因する光の回折が抑制されるので、円筒面における転写を精度よく行うことができる。   In the cylindrical surface exposure system according to claim 2 of the present invention, since the slit and the mask are adjusted to the optimum positions in the position adjusting unit, the light projected from the light source and passing through the opening of the slit is a lens. It is condensed by. As a result, since light diffraction due to the thickness of the mask glass is suppressed, transfer on the cylindrical surface can be performed with high accuracy.

以下に、本発明に係る円筒面露光装置とそのシステムの実施の形態を図1及び図2に基づき説明する。
図1は、本発明の本実施の形態に係る円筒面露光装置システムの概略図である。
図1において、円筒面露光装置システム1は、紫外線光源2、スリット3、マスク4、ワーク5、手動ステージ6、自動直動ステージ7、自動回転ステージ8、モータコントローラ12及びコンピュータ13から構成されている。また、図示していないが、スリット3とマスク4の間にはレンズが設置されている。
マスク4はワーク5の一周分に相当するパターンをマスクガラス上に形成したものであり、自動直動ステージ7上に設置されたθステージ11aに着脱可能に取り付けられるようになっている。そして、この自動直動ステージ7にはモータコントローラ12が接続されており、取り付けられるマスク4は直進運動する。なお、自動直動ステージ7にはθステージ11aの他に、XYステージ9a及びZステージ10aが設置されており、マスク4及びマスクガラスの回転方向の他、前後左右方向及び上下方向における座標調節が手動で設定できるようになっている。
本実施の形態においては、自動直動ステージ7のみモータコントローラ12に接続して自動制御しながら駆動させているが、もちろん、θステージ11a、XYステージ9a及びZステージ10aについてもコントローラ付きのモータ駆動としてもよい。
また、ワーク5は、表面にレジストがコーティングされた金属チューブ等の円筒形状のものであり、モータコントローラ12に接続される自動回転ステージ8に着脱可能に取り付けられて回転運動を行う。なお、自動回転ステージ8にはZステージ10c及びθステージ11bが設置されており、ワーク5の回転軸に対して水平方向の座標調節及びマスク4とワーク5の間隔を調整できるようになっている。
そして、スリット3は、図示していないが照射される光を通過させる開口部を有しており、手動ステージ6に取り付けられるようになっている。また、手動ステージ6に設置されるXYステージ9b及びZステージ10bによって、スリット3の前後左右方向及び上下方向における座標調節が手動で設定できるようになっている。
なお、自動回転ステージ8のθステージ11b、Zステージ10c、手動ステージ6、この手動ステージ6に設置されるXYステージ9b及びZステージ10bについてもコントローラ付きのモータ駆動としてもよいのは同様である。
Embodiments of a cylindrical surface exposure apparatus and its system according to the present invention will be described below with reference to FIGS.
FIG. 1 is a schematic diagram of a cylindrical surface exposure apparatus system according to the present embodiment of the present invention.
In FIG. 1, a cylindrical surface exposure apparatus system 1 includes an ultraviolet light source 2, a slit 3, a mask 4, a work 5, a manual stage 6, an automatic linear motion stage 7, an automatic rotation stage 8, a motor controller 12, and a computer 13. Yes. Although not shown, a lens is installed between the slit 3 and the mask 4.
The mask 4 is formed by forming a pattern corresponding to one round of the workpiece 5 on the mask glass, and is detachably attached to the θ stage 11 a installed on the automatic linear motion stage 7. A motor controller 12 is connected to the automatic linear motion stage 7, and the mask 4 to be attached moves linearly. In addition to the θ stage 11a, an XY stage 9a and a Z stage 10a are installed on the automatic linear movement stage 7, and coordinate adjustment in the front and rear, right and left directions and up and down directions is possible in addition to the rotation direction of the mask 4 and the mask glass. It can be set manually.
In this embodiment, only the automatic linear stage 7 is connected to the motor controller 12 and driven while being automatically controlled. Of course, the θ stage 11a, the XY stage 9a, and the Z stage 10a are also driven by a motor with a controller. It is good.
The workpiece 5 has a cylindrical shape such as a metal tube whose surface is coated with a resist. The workpiece 5 is detachably attached to the automatic rotation stage 8 connected to the motor controller 12 to perform a rotational motion. The automatic rotation stage 8 is provided with a Z stage 10c and a θ stage 11b so that the coordinate adjustment in the horizontal direction with respect to the rotation axis of the work 5 and the distance between the mask 4 and the work 5 can be adjusted. .
Although not shown, the slit 3 has an opening that allows the irradiated light to pass therethrough, and is attached to the manual stage 6. Further, coordinate adjustment in the front-rear and left-right directions and the up-down direction of the slit 3 can be manually set by an XY stage 9b and a Z stage 10b installed on the manual stage 6.
The θ stage 11b, the Z stage 10c, the manual stage 6, and the XY stage 9b and the Z stage 10b installed on the manual stage 6 may be motor-driven with a controller.

後述するが、レンズは、スリット3とマスク4の間に位置し、スリット3を通過する紫外線を集光してスリット3の写像をマスク4面と略同一面に結像する役割を担っている。そして、手動ステージ6及び自動直動ステージ7に具備されるXYステージ9a,9b、Zステージ10a,10b及びθステージ11aの各方向の位置調整ステージを用いて、マスク4とスリット3の位置を調整することによって、レンズは集光及び結像を行うのに最適な位置に配置される。
なお、レンズの集光及び結像を最適に行うことができる位置に、スリット3あるいはマスク4を固設することができれば、XYステージ9a,9b、Zステージ10a,10b及びθステージ11aの各方向の位置調整ステージは適宜それぞれ削除してもよい。
モータコントローラ12は、自動直動ステージ7及び自動回転ステージ8の駆動及び制御を行う。駆動条件及び制御条件は、接続されるコンピュータ13のディスプレイ14の表示に従って、図示していないがキーボードから入力することができる。また、コンピュータ13にプリンタ等を接続して駆動、制御条件や紫外線光源2の露光条件などを印刷できるようにすることもできる。但し、コンピュータ13は必ずしも接続しなくてもよい。
紫外線光源2は、所定量の紫外線をワーク5に向けて照射するものであり、照射量や照射時間等の条件設定及び制御は、図示していないが、接続されるコンピュータ13によって行われる。なお、光源は紫外線に限定されるものではなく、ワーク5にコーティングされるレジストを適切に感光するものであれば、取扱い性やコストなどを考慮しながら選択してよい。
As will be described later, the lens is positioned between the slit 3 and the mask 4 and collects the ultraviolet rays that pass through the slit 3 to form a mapping of the slit 3 on substantially the same plane as the mask 4 surface. . Then, the positions of the mask 4 and the slit 3 are adjusted using the position adjusting stages in the respective directions of the XY stages 9a and 9b, the Z stages 10a and 10b, and the θ stage 11a provided in the manual stage 6 and the automatic linear motion stage 7. By doing so, the lens is placed at an optimum position for focusing and imaging.
If the slit 3 or the mask 4 can be fixed at a position where the lens can be focused and imaged optimally, each direction of the XY stages 9a and 9b, the Z stages 10a and 10b, and the θ stage 11a can be achieved. These position adjustment stages may be appropriately deleted.
The motor controller 12 drives and controls the automatic linear motion stage 7 and the automatic rotation stage 8. The driving condition and the control condition can be input from a keyboard (not shown) according to the display on the display 14 of the connected computer 13. It is also possible to connect a printer or the like to the computer 13 to print the drive, control conditions, exposure conditions of the ultraviolet light source 2, and the like. However, the computer 13 is not necessarily connected.
The ultraviolet light source 2 irradiates a predetermined amount of ultraviolet light toward the work 5, and setting and control of conditions such as irradiation amount and irradiation time are performed by a computer 13 that is not shown. Note that the light source is not limited to ultraviolet rays, and may be selected in consideration of handling properties and costs as long as the resist coated on the workpiece 5 is appropriately exposed.

露光においては、ワーク5は回転運動し、マスク4はこれと同期を保ちながら直進運動する。マスク4の速度をv、ワーク5の角速度をω、ワーク5の半径をrとすると、マスク4とワーク5の速度の関係は次式で表される。   In the exposure, the workpiece 5 rotates and the mask 4 moves linearly while being synchronized therewith. When the velocity of the mask 4 is v, the angular velocity of the workpiece 5 is ω, and the radius of the workpiece 5 is r, the relationship between the velocity of the mask 4 and the workpiece 5 is expressed by the following equation.

紫外線光源2から出た光はスリット3の開口部を通過し、マスク4のパターンをワーク5上のレジスト上に転写する。スリット3の開口幅とレンズの投影倍率がワーク5の照射領域を決定し、ワーク5の角速度ωは、露光時間とスリット3の開口幅及びレンズの投影倍率によって決定される。露光時間をt、スリット3の開口幅をL、レンズの投影倍率をαとすると、ワーク5の角速度ωは時式で表される。   The light emitted from the ultraviolet light source 2 passes through the opening of the slit 3 and transfers the pattern of the mask 4 onto the resist on the work 5. The opening width of the slit 3 and the projection magnification of the lens determine the irradiation area of the workpiece 5, and the angular velocity ω of the workpiece 5 is determined by the exposure time, the opening width of the slit 3, and the projection magnification of the lens. Assuming that the exposure time is t, the opening width of the slit 3 is L, and the projection magnification of the lens is α, the angular velocity ω of the workpiece 5 is expressed by a time expression.

このようにして、本実施の形態では、マスク5の複雑なパターンをワーク5上に転写する。
なお、本実施の形態は、主に、ステントの製造を対象としたものであり、露光が終了した円筒を現像処理及びエッチング処理を施して不要な金属部分を除去し、さらに、残存したレジストを剥離すると、微細な形状を有するステントが完成する。
Thus, in this embodiment, a complicated pattern of the mask 5 is transferred onto the work 5.
The present embodiment is mainly intended for the manufacture of stents. The exposed cylinder is subjected to a development process and an etching process to remove unnecessary metal portions, and the remaining resist is removed. When exfoliated, a stent having a fine shape is completed.

次に、レンズの集光方法について図2を参照しながら説明する。
図2は、本実施の形態に係る円筒面露光システムのレンズの機能を示す概念図である。
図2において、本実施の形態では、レンズ15はスリット3とマスクガラス16の間に設置されており、照明光17を集光する作用を有している。
光源からの照射光17は、スリット3の開口部18を通過する際、開口部18の両端部では、符号19a及び符号19bに示すように回折により広がる。しかし、これらの回折した光19a,19bは、レンズ15に到達すると集光されて、符号20a及び符号20bに示すように、マスクガラス16上のマスク4のパターンの1点に再び戻ることができる。
すなわち、レンズ15は、マスクガラス16上のマスク4のパターンの位置にスリット3の写像を作成するので、パターンの位置にスリット3を配置するのと同等の効果が得られ、スリット3からの光の回折を防止する上に、マスクガラス16の厚さ方向における光の回折をも抑制し、マスク4のパターンを円筒面上のワークに精度よく転写することができるのである。
なお、レンズ15は等倍だけでなく、縮小又は拡大による変倍にも対応できるようになっている。
Next, a lens focusing method will be described with reference to FIG.
FIG. 2 is a conceptual diagram showing the function of the lens of the cylindrical surface exposure system according to the present embodiment.
In FIG. 2, in the present embodiment, the lens 15 is installed between the slit 3 and the mask glass 16 and has a function of condensing the illumination light 17.
When the irradiation light 17 from the light source passes through the opening 18 of the slit 3, the both ends of the opening 18 spread by diffraction as indicated by reference numerals 19a and 19b. However, these diffracted lights 19a and 19b are condensed when they reach the lens 15, and can return to one point of the pattern of the mask 4 on the mask glass 16 as indicated by reference numerals 20a and 20b. .
That is, since the lens 15 creates a mapping of the slit 3 at the pattern position of the mask 4 on the mask glass 16, an effect equivalent to the arrangement of the slit 3 at the pattern position is obtained, and the light from the slit 3 is obtained. In addition, the diffraction of light in the thickness direction of the mask glass 16 is also suppressed, and the pattern of the mask 4 can be accurately transferred to the work on the cylindrical surface.
The lens 15 can cope with not only equal magnification but also variable magnification due to reduction or enlargement.

このように構成された本実施の形態においては、スリットとマスクの間にレンズを配置することで、回折する光を集光し、マスクと略同一面にスリットの写像を結像するので、マスクのパターンを精度よく円筒面に転写することができる。   In this embodiment configured as described above, the lens is arranged between the slit and the mask so that the light to be diffracted is condensed and the mapping of the slit is formed on substantially the same plane as the mask. The pattern can be accurately transferred onto the cylindrical surface.

以上説明したように、本発明の請求項1及び請求項2に記載された発明は、円筒面への露光を精度よく行うことができる円筒面露光装置とそのシステムを提供可能であり、ステント等の微細な形状を有する円筒の製造メーカなどにおいて使用可能である。   As described above, the invention described in claims 1 and 2 of the present invention can provide a cylindrical surface exposure apparatus and system capable of accurately performing exposure on a cylindrical surface, such as a stent or the like. It can be used by a manufacturer of a cylinder having a minute shape.

本発明の本実施の形態に係る円筒面露光システムの概略図である。It is the schematic of the cylindrical surface exposure system which concerns on this Embodiment of this invention. 本実施の形態に係る円筒面露光システムのレンズの機能を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the function of the lens of the cylindrical surface exposure system which concerns on this Embodiment. (a)乃至(d)は、それぞれ円筒面露光方法の従来技術を説明するためのステント製造工程を示す概念図である。(A) thru | or (d) is a conceptual diagram which shows the stent manufacturing process for demonstrating the prior art of a cylindrical surface exposure method, respectively. (a)は、光の回折による分解能の低下を説明するための概念図であり、(b)は多重反射による分解能の低下を説明するための概念図である。(A) is a conceptual diagram for demonstrating the fall of the resolution by the diffraction of light, (b) is a conceptual diagram for demonstrating the fall of the resolution by multiple reflection.

符号の説明Explanation of symbols

1…円筒面露光システム 2…紫外線光源 3…スリット 4…マスク 5…ワーク 6…手動ステージ 7…自動直動ステージ 8…自動回転ステージ 9a,9b…XYステージ 10a,10c…Zステージ 11a,11b…θステージ 12…モータコントローラ 13…コンピュータ 14…ディスプレイ 15…レンズ 16…マスクガラス 17…照明光 18…スリットの開口部 19a,19b…回折した光 20a,20b…集光した光 21…金属チューブ 22…レジスト 23…ステント   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cylindrical surface exposure system 2 ... Ultraviolet light source 3 ... Slit 4 ... Mask 5 ... Workpiece 6 ... Manual stage 7 ... Automatic linear motion stage 8 ... Automatic rotation stage 9a, 9b ... XY stage 10a, 10c ... Z stage 11a, 11b ... Theta stage 12 ... Motor controller 13 ... Computer 14 ... Display 15 ... Lens 16 ... Mask glass 17 ... Illumination light 18 ... Slit openings 19a, 19b ... Diffracted light 20a, 20b ... Condensed light 21 ... Metal tube 22 ... Resist 23 ... Stent

Claims (2)

光源部と、この光源部からの光を開口部を備えて通過させるスリットと、このスリットの下方に配置され前記スリットを通過する光を集光するレンズと、このレンズの下方に配置され所望のパターンを形成するマスクと、前記マスクの下方に配置され円筒部を着脱可能に支持する回転部と、前記マスクを駆動させる第1のモータと、前記回転部を駆動させる第2のモータとを有し、前記レンズは前記スリットの写像を前記マスク面と略同一面に結像する位置に配設されることを特徴とする円筒面露光装置。   A light source unit, a slit that allows light from the light source unit to pass through with an opening, a lens that is disposed below the slit and collects light that passes through the slit, and a desired lens that is disposed below the lens. A mask for forming a pattern; a rotating unit disposed below the mask to removably support the cylindrical unit; a first motor for driving the mask; and a second motor for driving the rotating unit. The cylindrical surface exposure apparatus is characterized in that the lens is disposed at a position where an image of the slit is imaged on substantially the same plane as the mask surface. 光源部と、この光源部からの光を開口部を備えて通過させるスリットと、このスリットの下方に配置され前記スリットを通過する光を集光するレンズと、このレンズの下方に配置され所望のパターンを形成するマスクと、前記マスクの下方に配置され円筒部を着脱可能に支持する回転部と、前記マスクを駆動させる第1のモータと、前記回転部を駆動させる第2のモータと、前記スリットの位置を調整する第1の位置調整部と、前記マスクの位置を調整する第2の位置調整部と、前記モータに接続され前記モータの駆動条件を入力する入力部と、この入力部に接続され前記駆動条件を表示及び/又は出力する表示部とを有することを特徴とする円筒面露光システム。
A light source unit, a slit that allows light from the light source unit to pass through with an opening, a lens that is disposed below the slit and collects light that passes through the slit, and a lens that is disposed below the lens and has a desired shape A mask for forming a pattern, a rotating part disposed below the mask and removably supporting a cylindrical part, a first motor for driving the mask, a second motor for driving the rotating part, A first position adjusting unit that adjusts the position of the slit; a second position adjusting unit that adjusts the position of the mask; an input unit that is connected to the motor and inputs a driving condition of the motor; and A cylindrical surface exposure system comprising a display unit connected and displaying and / or outputting the driving conditions.
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JP2009528561A (en) * 2006-02-28 2009-08-06 マイクロニック レーザー システムズ アクチボラゲット Platform, apparatus, system and method for processing and analyzing substrates
JP2010049222A (en) * 2008-08-21 2010-03-04 Tokyo Denki Univ Exposure apparatus of flexible material, and exposure method of flexible material
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