JP2005257377A - Aging board for semiconductor laser - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、例えばCDやDVDなどの各種光ディスクに対する情報の記録、再生等に使用される半導体レーザを、所定の条件下で駆動させ評価試験を行う半導体レーザ用エージングボードの改良に関する。 The present invention relates to an improvement in an aging board for a semiconductor laser that performs an evaluation test by driving a semiconductor laser used for recording and reproducing information on various optical disks such as CD and DVD under predetermined conditions.
多数の半導体レーザを搭載し所定の条件下で駆動させて評価試験を行うエージングボードとして、例えば特許文献1に記載されたICモジュール試験用ボードがある。
この試験用ボードは、端部にエッジコンタクト部を備えたプリント基板上に複数のソケットを固定し、夫々のソケットに光レーザダイオードモジュール(半導体レーザ)を装着し、試験装置のコネクタにエッジコンタクト部を接続して試験を行うようになっている。
As an aging board on which a large number of semiconductor lasers are mounted and driven under a predetermined condition to perform an evaluation test, there is an IC module test board described in
In this test board, a plurality of sockets are fixed on a printed circuit board having an edge contact portion at the end, an optical laser diode module (semiconductor laser) is mounted in each socket, and the edge contact portion is attached to the connector of the test apparatus. Is connected to perform the test.
ところで、この種半導体レーザは、例えば車載用,携帯用等のCDプレーヤやDVDプレーヤなどのAV機器、家庭用ゲーム機、ディスクトップ型やノート型のパーソナルコンピュータなどの各種機器における光ディスクの記録/再生用のピックアップ等として組み込まれるが、それら機器ごとに対応したレーザ出射量や電極の数,配列の異なる各種規格の半導体レーザとして設計される。
よって、各半導体レーザの規格に対応した専用のエージングボードが必要であるが、近年における各種機器の高性能化等に伴い、それらに組み込まれる半導体レーザの機能も年々高機能化され、半導体レーザの規格変更の度に新たなエージングボードを作製しなければならず、結果として半導体レーザの開発、製造に係るコストが高くなるという問題がある。
By the way, this type of semiconductor laser is used for recording / reproducing optical disks in various devices such as AV equipment such as in-vehicle and portable CD players and DVD players, home game machines, and desktop and notebook personal computers. It is designed as a semiconductor laser of various standards with different laser emission amounts, number of electrodes, and arrangement corresponding to each device.
Therefore, a dedicated aging board corresponding to the standard of each semiconductor laser is necessary. With the recent improvement in performance of various devices, the functions of the semiconductor laser incorporated in them have been improved year by year. There is a problem that a new aging board has to be produced each time the standard is changed, and as a result, the cost associated with the development and manufacture of the semiconductor laser increases.
本発明はこのような従来事情に鑑みてなされたもので、その目的とする処は、電極の数,配列等の異なる各種規格の半導体レーザに対応可能な新規なエージングボードを提供することにある。 The present invention has been made in view of such a conventional situation, and an object of the present invention is to provide a novel aging board capable of dealing with semiconductor lasers of various standards having different numbers and arrangements of electrodes. .
以上の目的を達成するために、本発明の請求項1は、複数の半導体レーザを親基盤に搭載し、所定の条件下で各半導体レーザを駆動させ評価試験を行う半導体レーザ用エージングボードであって、
前記親基盤が、前記半導体レーザを装着する複数のソケットを備え、
前記各ソケットを、前記親基盤に着脱自在に装着される下部ソケットと、前記半導体レーザが搭載されると共に前記下部ソケットに着脱自在に装着される上部ソケットに分割可能に構成し、
前記各ソケットが前記半導体レーザの規格変更に伴い交換可能で、且つ該各ソケットにおいて前記上部ソケットのみの交換が可能であることを特徴とする。
In order to achieve the above object,
The parent base includes a plurality of sockets for mounting the semiconductor lasers,
Each socket is configured to be separable into a lower socket that is detachably attached to the parent base, and an upper socket that is mounted with the semiconductor laser and is detachably attached to the lower socket,
Each of the sockets can be replaced with a change in the standard of the semiconductor laser, and only the upper socket can be replaced in each socket.
本発明の請求項2は、前記上部ソケットが、前記半導体レーザの各電極に接続する複数のコンタクトピンを有し、該上部ソケット下面に突出する前記各コンタクトピンの下端部が挿脱自在に挿入される外部引出用の受けコンタクトピンを前記下部ソケットに内設して、該下部ソケット上に前記上部ソケットを着脱自在に装着すると共に、
前記親基盤における各ソケットの装着部に、半導体レーザの駆動に要する最大数の接続ピンを設け、
前記下部ソケットが、前記各接続ピンに接続する複数の連係ピンと、それら連係ピンのうちの前記半導体レーザの駆動に要する連係ピンのみを前記所定の受けコンタクトピンに接続させるプリント基板を備えることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, the upper socket has a plurality of contact pins connected to the electrodes of the semiconductor laser, and the lower end portions of the contact pins protruding from the lower surface of the upper socket are removably inserted. A receiving contact pin for external drawing to be provided in the lower socket, and the upper socket is detachably mounted on the lower socket;
Provide the maximum number of connection pins required for driving the semiconductor laser on the mounting part of each socket in the parent base,
The lower socket includes a plurality of linkage pins connected to the connection pins, and a printed circuit board for connecting only linkage pins required for driving the semiconductor laser among the linkage pins to the predetermined receiving contact pins. And
本発明の請求項3は、前記プリント基板が下部ソケットに対し交換可能に装着されていることを特徴とする。 A third aspect of the present invention is characterized in that the printed circuit board is replaceably attached to the lower socket.
本発明の請求項4は、前記接続ピンを前記親基盤上に立ち上げ、前記連係ピンが、前記接続ピンを挿脱自在に受け入れる逆U字形の受けピンを備え、それら接続ピンと受けピンの挿脱により、前記下部ソケットが前記親基盤に着脱自在に装着されるよう形成したことを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, the connection pin is raised on the parent base, and the linkage pin includes an inverted U-shaped receiving pin that removably receives the connecting pin, and the connection pin and the receiving pin are inserted. The lower socket is formed to be detachably attached to the parent base by being detached.
本発明に係る半導体レーザ用エージングボードは以上説明したように構成したので、以下のような効果を奏する。
(請求項1)
親基盤に対し複数のソケットが着脱自在に装着されるので、被試験要素である半導体レーザの電極数や電極の配列形状などの規格変更があった場合、それに応じたソケットに交換して親基盤に装着することで、親基盤を共用しながら、各種規格の半導体レーザのエージングを行うことができる。また、ソケットが上部ソケットと下部ソケットに分割可能であり、半導体レーザの取り付け、取り外しが頻繁に行われることから比較的損傷が激しい上部ソケットのみを適時に交換し、下部ソケットは長期にわたり継続して使用することができる。
よって、比較的高価である親基盤の作製コストが無駄になることがなく、一つの親基盤を継続して使用できると共に、比較的損傷の激しい上部ソケットのみを適時に交換可能として、下部ソケットは継続して使用できるので、半導体レーザのエージングに伴う経費を大幅に削減することが可能になった。
Since the semiconductor laser aging board according to the present invention is configured as described above, the following effects can be obtained.
(Claim 1)
Multiple sockets are detachably attached to the parent board, so if there is a change in standards such as the number of electrodes of the semiconductor laser, which is the element under test, or the electrode array shape, the socket is replaced with the corresponding socket. By attaching to the base, it is possible to age semiconductor lasers of various standards while sharing the parent base. In addition, since the socket can be divided into an upper socket and a lower socket, and the semiconductor laser is frequently attached and removed, only the relatively severely damaged upper socket is replaced in a timely manner, and the lower socket continues for a long time. Can be used.
Therefore, the manufacturing cost of the relatively expensive parent base is not wasted, and one parent base can be used continuously, and only the relatively severely damaged upper socket can be replaced in a timely manner. Since it can be used continuously, the cost associated with aging of the semiconductor laser can be greatly reduced.
(請求項2)
親基盤が半導体レーザの駆動に要する最大数の接続ピンを備え、それら接続ピンのうち、被試験要素である半導体レーザの駆動に要する接続ピンを、下部ソケットの連係ピン、プリント基板、受けコンタクトピンと、上部ソケットのコンタクトピンを介して半導体レーザの所定の電極に導通させ、該半導体レーザを駆動させることができる。よって、半導体レーザの駆動に要する接続ピン数の増減に容易に対応でき、前記効果をより実効あるものとすることができた。
(Claim 2)
The base board has the maximum number of connection pins required for driving the semiconductor laser, and among these connection pins, the connection pins required for driving the semiconductor laser, which is the element under test, are the connection pins of the lower socket, the printed circuit board, and the receiving contact pins. The semiconductor laser can be driven by conducting to a predetermined electrode of the semiconductor laser through the contact pin of the upper socket. Therefore, it is possible to easily cope with an increase or decrease in the number of connection pins required for driving the semiconductor laser, and to make the effect more effective.
(請求項3)
プリント基板が下部ソケットに対し交換可能であるため、被試験要素である半導体レーザの駆動に要する接続ピン数に変更があった場合、それに応じたプリント基板に交換して下部ソケットに装着することで、親基盤、下部ソケット、上部ソケットを共用しながら、各種規格の半導体レーザのエージングを行うことができる。
(Claim 3)
Since the printed circuit board can be replaced with the lower socket, if there is a change in the number of connection pins required to drive the semiconductor laser that is the element under test, the printed circuit board can be replaced with the corresponding printed circuit board and installed in the lower socket. In addition, aging of various types of semiconductor lasers can be performed while sharing the parent base, the lower socket, and the upper socket.
(請求項4)
親基盤上に立ち上がる接続ピンと、該接続ピンが挿入される受けピンの挿脱により、親基盤に対し下部ソケットが着脱自在に装着されるので、別途着脱手段を設けることなく前述の効果を得ることができる。
(Claim 4)
Since the lower socket is detachably attached to the parent base by inserting / removing the connection pin that rises on the base and the receiving pin into which the connection pin is inserted, the above-described effects can be obtained without providing a separate attaching / detaching means. Can do.
以下、本発明の実施形態の一例を図1〜図7を参照して説明する。
本例のエージングボードAは、長方形状のプリント基盤からなる親基盤1と、この親基盤1の上面に縦横に配列して装着した多数のソケット2を備え、夫々のソケット2に被試験要素である半導体レーザ3を装着し、親基盤1の端部に設けたエッジコンタクト部4に試験装置のコネクタ5を接続して、エージングを行うようになっている。
Hereinafter, an example of an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
The aging board A of this example comprises a
本例の半導体レーザ3は、CDやDVDに記録されたデジタル情報を読み取る光レーザダイオードモジュールであり、その下面に備えた複数の電極の内の4端子が電源用電極3aであり、それ以外の14端子が他の信号用電極3bである。
尚、本例のエージングボードAの試験対象である半導体レーザは前記光レーザダイオードモジュールであり、該半導体レーザの駆動のために要する電源用電極は最大で6端子である。
The
The semiconductor laser to be tested on the aging board A of this example is the optical laser diode module, and the power supply electrodes required for driving the semiconductor laser have a maximum of 6 terminals.
親基盤1における各ソケット2の装着部6には、前記光レーザダイオードモジュールの駆動のために要する電源供給用の接続ピン7が、前記最大数である6端子分形成されている。
接続ピン7は親基盤1上に突出するよう配設され、その下端部7aは親基盤1を貫通して下面に突出し、はんだ等の導通固定部材8を介して電源供給用配線9が接続されている。上端部7bは所定の高さをもって親基盤1上に立ち上がり、後述する連係ピン12に挿脱自在に挿入するようになっている。
On the
The
夫々のソケット2は、親基盤1の前記各装着部6に着脱自在に装着される下部ソケット10と、半導体レーザ3が搭載されると共に下部ソケット10に着脱自在に装着される上部ソケット20とに分割可能に構成されている。
Each
下部ソケット10の内部には外部引出用の受けコンタクトピン11と連係ピン12が所定数組み込まれており、それら受けコンタクトピン11と連係ピン12が起設されるプリント基板13が下面にビス14等で着脱可能に取り付けられている。
A predetermined number of receiving
受けコンタクトピン11は、前記半導体レーザ3の信号用電極3bに対応して14端子形成されるもので、その上端部11aは二又状に分岐して上部ソケット20のコンタクトピン22の下端部22bが挿脱自在に挿入されるようになっており、下端部11bはプリント基板13を貫通して下部ソケット10下面に突出している。
The
連係ピン12は、本例が対象とする半導体レーザ駆動用の最大電極数に対応可能なよう6端子形成されるもので、その一端部12aはプリント基板13を貫通して下部ソケット10下面に突出し、他端部は下方へ折曲すると共に先端を逆U字形の受けピン12bとし、該受けピン12bに、前記接続ピン7の親基盤1上に突出する上端部7bが挿脱自在に挿入されている。
The linking
プリント基板13には、前記半導体レーザ3における各電源用電極3a(4端子)と、親基盤1の電源供給用配線9とを導通させるべく、4本の連係ピン12の一端部12aと、前記各電源用電極3aに接続される受けコンタクトピン11の下端部11bとを配線13aで導通させている。
The printed
プリント基板13で支持される各受けコンタクトピン11は、その下端部11bが親基盤1の開口1a内に遊挿されるよう配置されている。プリント基板13で支持される各連係ピン12は、その一端部12aが親基盤1の開口1b内に遊挿され、各受けピン12bに前記各接続ピン7の上端部7bが挿入されるよう配置されている。
Each receiving
また、ソケット本体11の下面コーナーには、親基盤1の位置決め孔1cに挿入されるボス15が突設され、前記各受けピン12bと各接続ピンの上端部7bの挿脱により、下部ソケット10が親基盤1の各装着部6に着脱自在に装着されている。
Further, a
上部ソケット20は、半導体レーザ3の搭載部21の周りにコンタクトピン22と係止部材23を配設した本体20aと、前記係止部材23を開閉作動させるカバー20bを備え、各コンタクトピン22は半導体レーザ3の各電極3a,3bに対応して所定数組み込まれ、その上端部22aは各電極3a,3bに確実に接触するよう撓み変形可能な湾曲形状に形成されている。
各コンタクトピン22の下端部22bは、本体21下方に突出して前記受けコンタクトピン11の上端部11aに挿脱自在に挿入され、これらコンタクトピン下端部22bと受けコンタクトピン上端部11aの挿脱により、上部ソケット20が下部ソケット10に着脱自在に装着されている。
The
The
カバー20bは、本体20aに対し昇降自在に係止されると共に、バネ24で上方へ付勢されており、上昇位置にある時は係止部材23を閉位置に回動させ、バネ24に抗して下降させた時は係止部材23を開位置に回動させる軸25を備えている。
The
係止部材23は、支軸26により前記閉位置と開位置の間を回動自在に支持され、閉位置でその先端23aにより搭載部21内の半導体レーザ3を係止し、開位置でその先端23aが搭載部21から離間して半導体レーザ3の出し入れが可能になるよう形成されている。
The locking
27は搭載部21の下方に設けた放熱ピンで、半導体レーザ3下面の放熱板3cに接触する方形状の頭部27aを上端に備え、上部ソケットの本体20aに設けた凹部28にその頭部27aを係止して本体20aに装着されており、本体20aの下方に突出する部分は、下部ソケット10,プリント基板13の通孔29,30を通して、親基盤1の開口1aに遊挿されるようになっている。
以上の構成になる本例の半導体レーザ用エージングボードAは、親基盤1の各装着部6に下部ソケット10を装着し、各下部ソケット10に上部ソケット20を装着することで、多数のソケット2が親基盤1上に縦横に配列された状態で取り付けられる。
そうして、各ソケット2の上部ソケット20に被試験要素である半導体レーザ3を装着すると、該半導体レーザ3の駆動に要する四つの電極3aが、コンタクトピン22、受けコンタクトピン11、プリント基板13の配線13a、連係ピン12、接続ピン7を介して、親基盤1の電源供給用配線9に電気的に接続され、該配線9、エッジコンタクト部4、コネクタ5を介して供給される電力により、各半導体レーザ3が駆動するようになる。
このエージングボードAを恒温槽に入れて一定時間各半導体レーザ3を駆動させ評価試験を行う。
In the semiconductor laser aging board A of the present example having the above-described configuration, a plurality of
Then, when the
The aging board A is placed in a thermostatic bath, and each
被試験要素である半導体レーザの電極数や電極の配列形状などの規格変更があった場合は、プリント基板13を下部ソケット10から外し、そのその規格に応じたプリント基板に交換して下部ソケット10に装着するか、若しくは、下部ソケット10と上部ソケット20を親基盤1から外し、その規格に応じた下部ソケット、上部ソケットに交換して親基盤1の各装着部6に装着することで、前述した評価試験を行うことができる。
When there is a change in the standard such as the number of electrodes of the semiconductor laser as the element under test and the arrangement shape of the electrodes, the printed
また、半導体レーザ3の数回の取り付け、取り外しにより、コンタクトピン22の上端部22aが損傷したりはんだ付着などが生じた場合は、下部ソケット10はそのままで、上部ソケット20のみの交換で対応することができる。
Further, when the
以上、本発明の実施形態の一例を図面を参照して説明したが、本発明は図示例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇であれば、種々の変更が可能であることは言うまでもない。 As mentioned above, although one example of the embodiment of the present invention has been described with reference to the drawings, the present invention is not limited to the illustrated example, and various modifications may be made within the scope of the technical idea described in the claims. Needless to say, it is possible to make changes.
A:エージングボード
1:親基盤
2:ソケット
3:半導体レーザ
6:ソケット装着部
7:接続ピン
10:下部ソケット
11:受けコンタクトピン
12:連係ピン
13:プリント基板
20:上部ソケット
22:コンタクトピン
A: Aging board 1: Parent board 2: Socket 3: Semiconductor laser 6: Socket mounting part 7: Connection pin 10: Lower socket 11: Receiving contact pin 12: Linking pin 13: Printed circuit board 20: Upper socket 22: Contact pin
Claims (4)
前記親基盤が、前記半導体レーザを装着する複数のソケットを備え、
前記各ソケットを、前記親基盤に着脱自在に装着される下部ソケットと、前記半導体レーザが搭載されると共に前記下部ソケットに着脱自在に装着される上部ソケットに分割可能に構成し、
前記各ソケットが前記半導体レーザの規格変更に伴い交換可能で、且つ該各ソケットにおいて前記上部ソケットのみの交換が可能であることを特徴とする半導体レーザ用エージングボード。 A semiconductor laser aging board in which a plurality of semiconductor lasers are mounted on a parent substrate, and each semiconductor laser is driven under a predetermined condition to perform an evaluation test,
The parent base includes a plurality of sockets for mounting the semiconductor lasers,
Each socket is configured to be separable into a lower socket that is detachably attached to the parent base, and an upper socket that is mounted with the semiconductor laser and is detachably attached to the lower socket,
An aging board for a semiconductor laser, wherein each of the sockets can be replaced with a change in the standard of the semiconductor laser, and only the upper socket can be replaced in each socket.
前記親基盤における各ソケットの装着部に、半導体レーザの駆動に要する最大数の接続ピンを設け、
前記下部ソケットが、前記各接続ピンに接続する複数の連係ピンと、それら連係ピンのうちの前記半導体レーザの駆動に要する連係ピンのみを前記所定の受けコンタクトピンに接続させるプリント基板を備えることを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ用エージングボード。 The upper socket has a plurality of contact pins connected to the respective electrodes of the semiconductor laser, and a receiving contact for external drawing in which a lower end portion of each contact pin protruding from the lower surface of the upper socket is detachably inserted. A pin is installed in the lower socket, and the upper socket is detachably mounted on the lower socket,
Provide the maximum number of connection pins required for driving the semiconductor laser on the mounting part of each socket in the parent base,
The lower socket includes a plurality of linkage pins connected to the connection pins, and a printed circuit board for connecting only linkage pins required for driving the semiconductor laser among the linkage pins to the predetermined receiving contact pins. The aging board for a semiconductor laser according to claim 1.
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Cited By (1)
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JP2011253966A (en) * | 2010-06-02 | 2011-12-15 | Chichibu Fuji Co Ltd | Aging board for semiconductor laser element |
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2004
- 2004-03-10 JP JP2004067208A patent/JP2005257377A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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