JP2005241683A - マルチビーム走査光学系 - Google Patents
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Abstract
【課題】 副走査断面における集光点位置を全像高に渡り、ほぼ一致させることができ、これにより高速で高品位の印字が可能なマルチビーム走査光学系を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明では、複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、走査領域全域にわたり副走査断面における各光束の像面位置の差を最大でも3.08mm以下とする構成とした。
【選択図】 図1
【解決手段】 本発明では、複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、走査領域全域にわたり副走査断面における各光束の像面位置の差を最大でも3.08mm以下とする構成とした。
【選択図】 図1
Description
本発明はマルチビーム走査光学系に関し、特に光源手段から出射した複数の光束(レーザ光)を光偏向器としてのポリゴンミラーにより偏向反射させ、走査光学手段を介して被走査面上を光走査して画像情報を記録するようにした、例えば電子写真プロセスを有するレーザービームプリンタやデジタル複写機、マルチファンクションプリンタ(多機能プリンタ)等の画像形成装置に好適なものである。
従来、画像形成装置に使用する走査光学系は光源手段としての光源(発光部)から出射した光束をコリメーターレンズ、シリンドリカルレンズ(シリンダーレンズ)等を有する入射光学手段を介して偏向手段に導き、走査光学手段を介してこの偏向手段で偏向反射した光束を被走査面上にスポット状に結像且つ光走査させるようにしている。
近年では、画像形成装置の高性能化と高機能化が進展するに伴い、走査光学系の高速化の要求も高まっている。そこで高速化の要求に応えるために複数の光源を使用することが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開平5−127112号公報
特開平11−352426号公報
ところで、偏向手段に対して主走査方向に開き角を持って複数の光束が入射している場合、副走査断面における集光位置が被走査面近傍において一致しなくなる現象が特許文献2で報告されている。これは、各光束の偏向点の位置が一致しないことに起因している。以下、詳細に説明していく。
仮に、図7に示すように光源A、Bが主走査方向にθの角度を持って配置されているものとする。この場合、各光源から射出された光束を同一像高に集光させるにはθ/2偏向面の角度を変える必要がある。図7の場合では光源Aの集光点に光源Bの集光点を一致させるためには偏向面を左回りにθ/2偏向面の角度を変える必要がある。この時、偏向手段の回転軸が偏向面上にないと図8に示すように光源A、Bの偏向点は離れる。面倒れ補正機能を有する走査光学系の場合、副走査断面において偏向面近傍と被走査面とを共役な関係にしている。ところが光源A、Bの偏向点の位置は一致しないため、両者では偏向点から被走査面までの光路長が異なり、副走査断面での集光点位置は、ほとんどの像高で一致しない。
上記の現象を軽減するには面倒れ補正機能をなくす方法が考えられる。しかしながら面倒れによる影響を無視できるほど偏向面の面倒れ量を抑えることは困難なため、この方法はあまり現実的ではない。他の方法としては図7のθを極力小さくする方法が考えられる。しかしながら光源や光源から射出された光束を導く光学素子はある大きさを有しているため、θを小さくするにも限度がある。
本発明は、
・独立した複数の光源を用いている、
・偏向手段に対して主走査方向に開き角を持って複数の光束が入射している、
・偏向面上に回転軸がない、
・面倒れ補正機能を有している、
以上の条件を満たした走査光学系において、
副走査断面における集光点位置を全像高に渡り、ほぼ一致させることで、高速で高品位の印字が可能なマルチビーム走査光学系の提供を目的とする。
・独立した複数の光源を用いている、
・偏向手段に対して主走査方向に開き角を持って複数の光束が入射している、
・偏向面上に回転軸がない、
・面倒れ補正機能を有している、
以上の条件を満たした走査光学系において、
副走査断面における集光点位置を全像高に渡り、ほぼ一致させることで、高速で高品位の印字が可能なマルチビーム走査光学系の提供を目的とする。
本発明の第一の発明は、複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、走査領域全域にわたり副走査断面における各光束の像面位置の差を最大でも3.08mm以下にした構成とした。
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、走査領域全域にわたり副走査断面における各光束の像面位置の差を最大でも3.08mm以下にした構成とした。
本発明の第二の発明は、複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面の最小スポット径をs、光束の波長をλ、任意の走査像高での副走査断面における各光束の像面位置の差をXとしたときに、全走査領域にわたり、
max|X|<(0.49×s2)/λ
を満足する構成とした。
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面の最小スポット径をs、光束の波長をλ、任意の走査像高での副走査断面における各光束の像面位置の差をXとしたときに、全走査領域にわたり、
max|X|<(0.49×s2)/λ
を満足する構成とした。
本発明の第三の発明は、複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、任意の走査像高へ向かう光束の進行方向における該各光束の主走査断面内における偏向点位置の差をpとするときに、全走査領域にわたり、
|p|β2<0.49s2/λ
を満足する構成とした。
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、任意の走査像高へ向かう光束の進行方向における該各光束の主走査断面内における偏向点位置の差をpとするときに、全走査領域にわたり、
|p|β2<0.49s2/λ
を満足する構成とした。
本発明の第四の発明は、複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、前記偏向手段の内径の半分をR、走査幅をW、前記走査光学手段のfθ係数をf、該偏向手段に入射する複数の光束を主走査断面上に投影したときに、角度差が最大になる2つの光束のなす角度をθ、該角度差が最大になる2つの光束の2等分線と前記走査光学手段の光軸とがなす主走査方向の角度をξとするときに、
2Rβ2×sin{W/(4f)+|ξ|/2}×sin(|θ|/4)<0.49s2/λ
を満足する構成とした。
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、前記偏向手段の内径の半分をR、走査幅をW、前記走査光学手段のfθ係数をf、該偏向手段に入射する複数の光束を主走査断面上に投影したときに、角度差が最大になる2つの光束のなす角度をθ、該角度差が最大になる2つの光束の2等分線と前記走査光学手段の光軸とがなす主走査方向の角度をξとするときに、
2Rβ2×sin{W/(4f)+|ξ|/2}×sin(|θ|/4)<0.49s2/λ
を満足する構成とした。
本発明の第五の発明は、複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、偏向手段の内径の半分をR、走査幅をW、前記走査光学手段のfθ係数をf、該偏向手段に入射する複数の光束を主走査断面上に投影したときに、角度差が最大になる2つの光束のなす角度をθとし、該角度差が最大になる2つの光束の2等分線と前記走査光学手段の光軸とが平行に成るように構成しているとき、
2Rβ2×sin{W/(4f)}×sin(|θ|/4)<0.49s2/λ
を満足する構成とした。
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、偏向手段の内径の半分をR、走査幅をW、前記走査光学手段のfθ係数をf、該偏向手段に入射する複数の光束を主走査断面上に投影したときに、角度差が最大になる2つの光束のなす角度をθとし、該角度差が最大になる2つの光束の2等分線と前記走査光学手段の光軸とが平行に成るように構成しているとき、
2Rβ2×sin{W/(4f)}×sin(|θ|/4)<0.49s2/λ
を満足する構成とした。
本発明によれば前述の如く条件式を満足するように各要素を設定することにより、副走査断面における集光点位置を全像高に渡り、ほぼ一致させることができ、これにより高速で高品位の印字が可能なマルチビーム走査光学系を達成することができる。
まず本発明の目的を達成する為の原理について説明を記していく。
走査領域全域にわたり、副走査断面における各光束の像面位置の差を極力軽減する方法として、偏向面と回転軸との距離を極力近づける方法が考えられる。なぜならば、このとき偏向面上における各光束の偏向点のズレは小さくなるためである。偏向手段に回転多面鏡を用いている場合は回転多面鏡の径を小さくすれば良い。とはいえ、主走査方向において、偏向後の光束幅を常に一定にしているUFS(アンダーフィルド走査系)では、十分に小さくすることが出来ない。この理油を図9A、Bを用いて説明する。図9Aは走査開始時の偏向点の位置を、図9Bは走査終了時の偏向点の位置を模式的に示したものである。図9Aでは偏向点が偏向面右下にあるのに対して、図9Bでは偏向点は偏向面左上に移動している。つまりUFSにおいては偏向面の大きさは光束幅に加えて偏向点が移動する分を見込んだ大きさが最低限、必要になる。これを踏まえて、本特許では回転多面鏡をより小さくする1つの方法として、OFS(オーバーフィルド走査系)を採用した。OFSの場合、偏向点が移動する分を考慮しなくても良いため、同じ面数で回転多面鏡を構成しても、より径の小さい回転多面鏡で偏向手段を構成する事が可能になる。このため各光源の副走査断面における集光点の位置が被走査面への光束の入射方向に大きくずれることを防ぐことができる。以下、詳細に説明していく。
回転軸を原点、走査光学手段の光軸方向をX軸方向、主走査方向をY軸方向、回転多面鏡の内半径(内径の半分)をR[mm]とすると、図10に示すように偏向面の角度がΦの時の偏向面中央の座標は(Rcos(Φ)、Rsin(Φ))と書ける。尚、ここでは偏向面の法線がX軸方向と一致した場合をΦ=0としている。このとき主走査断面に斜影した光束A、Bが図10に示すように走査光学手段の光軸に対してそれぞれγ、γ+θで入射しているものとすると、偏向面8aで偏向後の光束Aは2Φ−γの方向へ偏向される。光束Bを光束Aと同一方向へ偏向するには偏向面の角度をΦ+θ/2にすればよい。このときの偏向面中央の座標は、
(Rcos(Φ+θ/2)、Rsin(Φ+θ/2))と書ける。尚、ここでは光束Aに対して光束Bが+Y側から入射している場合をθ>0、−Y側から入射している場合をθ<0とする。図10の場合、θ>0の状態にある。この時、偏向後の光束の進行方向、つまり2Φ−γの方向に対して偏向面中央位置は、
p={Rcos(Φ)cos(2Φ−γ)+Rsin(Φ)sin(2Φ−γ)}−{Rcos(Φ+θ/2)cos(2Φ−γ)+Rsin(Φ+θ/2)sin(2Φ−γ)}
=R{cos(Φ−γ)−cos(Φ−γ−θ/2)}
=2Rsin(γ+θ/4−Φ)sin(θ/4)
だけずれることになる。仮に光束A、Bの2等分線をX軸と一致させた場合、つまりγ=−θ/2とした場合更に上式は簡単に表現でき、
p=−2Rsin(Φ+θ/4)sin(θ/4)
となる。
(Rcos(Φ+θ/2)、Rsin(Φ+θ/2))と書ける。尚、ここでは光束Aに対して光束Bが+Y側から入射している場合をθ>0、−Y側から入射している場合をθ<0とする。図10の場合、θ>0の状態にある。この時、偏向後の光束の進行方向、つまり2Φ−γの方向に対して偏向面中央位置は、
p={Rcos(Φ)cos(2Φ−γ)+Rsin(Φ)sin(2Φ−γ)}−{Rcos(Φ+θ/2)cos(2Φ−γ)+Rsin(Φ+θ/2)sin(2Φ−γ)}
=R{cos(Φ−γ)−cos(Φ−γ−θ/2)}
=2Rsin(γ+θ/4−Φ)sin(θ/4)
だけずれることになる。仮に光束A、Bの2等分線をX軸と一致させた場合、つまりγ=−θ/2とした場合更に上式は簡単に表現でき、
p=−2Rsin(Φ+θ/4)sin(θ/4)
となる。
また、走査光学手段の副走査倍率をβとすると、副走査断面における光束A、Bの集光位置は被走査面への入射方向に対して、
X=pβ^2
だけずれることになる。(X:副走査断面における光束A、Bの集光位置のズレ量)
特に、|p|が最大になるのは、図11に示すように走査領域の端を走査しているときであるため、この走査域端部における集光位置のズレpを考察すれば良い。今、走査幅をW、走査光学手段のfθ係数をf、X軸上から光束を偏向手段に入射したときに前記光束が走査領域の中央を走査するときの偏向面の角度をΦ’とすると、偏光方向2Φ−γの最大最小はそれぞれ、
min(2Φ−γ)=2Φ’−W/(2f)
max(2Φ−γ)=2Φ’+W/(2f)
より、
min(Φ)=γ/2+Φ’−W/(4f)
max(Φ)=γ/2+Φ’+W/(4f)
よってθ>0とすると、
max(p)=2Rsin{W/(4f)+γ/2+θ/4−Φ’}sin(θ/4)
min(p)=2Rsin{−W/(4f)+γ/2+θ/4−Φ’}sin(θ/4)
ちなみにθ<0の場合はmax、minの関係が逆になるだけで、本質的な違いは無い。
X=pβ^2
だけずれることになる。(X:副走査断面における光束A、Bの集光位置のズレ量)
特に、|p|が最大になるのは、図11に示すように走査領域の端を走査しているときであるため、この走査域端部における集光位置のズレpを考察すれば良い。今、走査幅をW、走査光学手段のfθ係数をf、X軸上から光束を偏向手段に入射したときに前記光束が走査領域の中央を走査するときの偏向面の角度をΦ’とすると、偏光方向2Φ−γの最大最小はそれぞれ、
min(2Φ−γ)=2Φ’−W/(2f)
max(2Φ−γ)=2Φ’+W/(2f)
より、
min(Φ)=γ/2+Φ’−W/(4f)
max(Φ)=γ/2+Φ’+W/(4f)
よってθ>0とすると、
max(p)=2Rsin{W/(4f)+γ/2+θ/4−Φ’}sin(θ/4)
min(p)=2Rsin{−W/(4f)+γ/2+θ/4−Φ’}sin(θ/4)
ちなみにθ<0の場合はmax、minの関係が逆になるだけで、本質的な違いは無い。
W/(4f)は常に正の値なので、pの絶対値が最も大きくなるのは、
γ/2+θ/4−Φ’>0の場合はpが最大に成る場合、逆にγ/2+θ/4−Φ’<0の場合はpが最小に成る場合なので、
max(|p|)=2Rsin{W/(4f)+|γ/2+θ/4−Φ’|}sin(|θ|/4)
となる。
γ/2+θ/4−Φ’>0の場合はpが最大に成る場合、逆にγ/2+θ/4−Φ’<0の場合はpが最小に成る場合なので、
max(|p|)=2Rsin{W/(4f)+|γ/2+θ/4−Φ’|}sin(|θ|/4)
となる。
また、光束A、Bの2等分線と走査光学手段の光軸とを主走査断面上に斜影したときに成す角度をξとすると、
ξ=γ+θ/2
より
max(|p|)=2Rsin{W/(4f)+|ξ/2−Φ’|}sin(|θ|/4)
仮に走査領域中央とX軸が一致している、つまりΦ’=0すると、
max(|p|)=2Rsin{W/(4f)+|ξ|/2}sin(|θ|/4)
となる。
ξ=γ+θ/2
より
max(|p|)=2Rsin{W/(4f)+|ξ/2−Φ’|}sin(|θ|/4)
仮に走査領域中央とX軸が一致している、つまりΦ’=0すると、
max(|p|)=2Rsin{W/(4f)+|ξ|/2}sin(|θ|/4)
となる。
更に、光束A、Bの2等分線がX軸と一致している、つまりξ=0とすると、
max(|p|)=2Rsin{W/(4f)}sin(|θ|/4)
と、より簡単に表現できる。
max(|p|)=2Rsin{W/(4f)}sin(|θ|/4)
と、より簡単に表現できる。
また、光源が3つ以上ある場合は、偏向手段に入射する各光束を主走査断面上に斜影したときの両端の光束をこれまでの光束A、Bに当てはめて考えればよい。
次に、被走査面への入射方向における光束A、Bの集光位置のズレ量Xの許容可能な範囲について考察する。設計上の被走査面近傍における副走査方向の最小スポット径をs[mm]とすると最悪の場合でも被走査面上におけるスポット径は1.6s以下になるようにする必要がある。これを超えるような走査光学系においては印字線の太さが所望の太さから大きくはずれ、印字品位が許容できないレベルになる。
最小スポット径となる位置から被走査面への光束の入射方向にq離れた位置におけるスポット径s’は、
s’=s√[1+{(4λq)/(πs^2)}^2]
と表すことができる。ここでλは光束の波長[mm]を示している。よって
s’=1.6sとなるqを求めると、
q≒±0.98s^2/λ
となる。よって深度幅w=1.96s^2/λとなる。
s’=s√[1+{(4λq)/(πs^2)}^2]
と表すことができる。ここでλは光束の波長[mm]を示している。よって
s’=1.6sとなるqを求めると、
q≒±0.98s^2/λ
となる。よって深度幅w=1.96s^2/λとなる。
光学素子の性能、組立誤差、環境の変化による影響等を考慮すると、光束の集光位置のズレに割り当てられるのは、せいぜい深度幅wの1/4程度である。
よって、
max|X|<k=0.49s^2/λ
の関係を満たせばよい。
max|X|<k=0.49s^2/λ
の関係を満たせばよい。
今、内半径R=3.973mm、光束Aの入射角度γ=−6°、開き角θ=12°、走査幅W=214mm、走査光学手段のfθ係数f=151mm、走査領域の中央を走査するときの偏向面の角度φ’=0とすると、max(p)=144.3μm、min(p)=−144.3μmとなり、走査光学手段の副走査倍率β=−2とすると、副走査断面における光束A、Bの集光位置のずれは被走査面への入射方向に対してX=pβ^2=±0.577mmの範囲に収まる。尚、符号が正の場合は光束Bの集光位置に対して光束Aの集光位置が偏向手段からより離れた場所に、符号が負の場合は光束Aの集光位置が偏向手段側に位置していることを示している。
また、副走査方向の最小スポット径sをここでは70μm、λ=780nmとするとk=3.08mmとなり、光束A、Bの集光位置のズレXは実用上問題の無いレベルであることが分かる。また、高画質化のため、仮に副走査方向の最小スポット径sを50μmに偏向してもk=1.57mmとなり、この場合でも光束A、Bの集光位置のズレXは実用上問題の無いレベルであることが分かる。
次に、UFSで構成した場合の光束A、Bの集光位置のズレ量を算出し、上記の結果と比較することで、OFSで構成することの有用性を確認していく。尚、OFSは走査位置によって偏向後の光束幅は変化するが、以下の考察では極力UFSでの偏向手段の外径が小さくなるように、OFSで最も光束幅が狭くなるときの幅3.056mmの光束を偏向手段に入射すると仮定して考察する。
この場合、複雑な計算は省略するが、偏向手段の外径は79.711mm(内半径R=36.545mm)となりOFSの場合と比較し9.3倍と非常に大きな径にする必要がある。このとき、偏向方向における偏向点の最大ズレ量max(|p|)=1.325mmとなり、集光位置は5.3mmずれる。これは上記k=1.57mmに対して非常に大きく、走査系の仕様としては実用に耐えるものではない。このため、独立した複数の光源を用いてUFSで構成するには、副走査倍率の絶対値を1倍以下にしたり、偏向手段による走査角度の幅(偏向後の光束の角度の振れ幅)を40°以下にしたり、偏向手段へ入射する各光束の主走査方向における角度の差を1°以下にしたり、若しくはこれらのいくつかを組み合わせることで構成する必要がある。その点、本発明ではそれらの制限を超えて、例えば、副走査倍率の絶対値を2倍以上にしたり、偏向手段による走査角度の幅(偏向後の光束の角度の振れ幅)を80°(1.396rad)以上にしたり、偏向手段へ入射する各光束の主走査方向における角度の差を6°以上にしたり、それらの条件を複数組み合わせても各光束の像面の位置ズレを画質に影響を与えるほど大きく乖離しないように構成することは容易である。
次に本発明の各実施形態について説明する。
[実施形態1]
図1は本発明の実施形態1のマルチビーム走査光学系における主走査方向の要部断面図(主走査断面図)、図2は同走査光学系の副走査方向の要部断面図(副走査断面図)である。尚、図2においてはミラーより光源側の光学素子は省略している。
図1は本発明の実施形態1のマルチビーム走査光学系における主走査方向の要部断面図(主走査断面図)、図2は同走査光学系の副走査方向の要部断面図(副走査断面図)である。尚、図2においてはミラーより光源側の光学素子は省略している。
ここで、主走査方向とは偏向手段の回転軸及び走査光学手段の光軸に垂直な方向(偏向手段で光束が偏向反射(偏向走査)される方向)を示し、副走査方向とは偏向手段の回転軸と平行な方向を示す。また主走査断面とは偏向手段の回転軸に垂直な平面を示す。また副走査断面とは主走査断面と垂直な断面を示す。
同図において1、2は独立した光源であり、本実施形態では光源1から光束Aを、光源2から光束Bを出射している。尚、光源の数は2つに限られない。
3、4はコリメータ−レンズであり、コリメーターレンズ3は光束Aを、コリメーターレンズ4は光束Bを、それぞれ略平行光束に変換している。
5はシリンドリカルレンズであり、副走査方向にのみ所定の屈折力を有している。
6はミラーであり、シリンドリカルレンズ5から射出された複数の光束を後述する偏向手段8へ偏向している。
尚、光源1、2、コリメータ−レンズ3、4、シリンドリカルレンズ5、ミラー6の各要素は入射光学手段7の一要素を構成している。
8は偏向手段としての光偏向器であり、例えば回転多面鏡(ポリゴンミラー)より成り、モーター等の駆動手段(不図示)により図中矢印PA方向に一定速度で回転している。本実施形態では光束A、Bを主走査断面に射影したときに開き角θを持って光偏向器8の偏向面8aに入射している。
9はfθ特性を有する走査光学手段(fθレンズ系)であり、第1、第2の2枚の光学素子(fθレンズ)9a、9bを有し、光偏向器8により偏向された2つの光束A、Bを被走査面(感光ドラム面)10上にスポット状に結像させ、2本の走査線を形成している。走査光学手段9は副走査断面内において偏向面8aもしくはその近傍と感光ドラム面10もしくはその近傍との間を共役関係にすることにより、倒れ補正機能を有している。10は被走査面としての感光ドラム面である。
本実施形態においては画像情報に応じて光源1から光束Aが、光源2から光束Bが光変調され出射される。光束Aはコリメーターレンズ3によって、光束Bはコリメーターレンズ4によって略平行光束に変換される。その後、シリンドリカルレンズ5に入射した光束A、Bは主走査断面内においてはそのままの状態で出射する。また副走査断面内においては収束して光偏向器8の偏向面8aの近傍でほぼ線像(主走査方向に長手の線像)として結像する。シリンドリカルレンズ5を射出した各光束はミラー6で折り返され、副走査断面に対してある角度を持って偏向面8aに導光される。このように構成することにより、偏向面8aで偏向された光束がミラー6と干渉するのを防いでいる。また、偏向面8aの主走査方向の幅に対して、偏向面8aに入射する光束の主走査方向の幅を広くすることでOFSを構成している。このような構成にする事で、偏向面に絞りの機能を持たせ主走査方向の光束幅を規制し、各光束を最適なビーム形状に成形している。そして偏向面8aで偏向反射された2つの光束A、Bは走査光学手段9により感光ドラム面10上にスポット状に結像され、該光偏向器8を矢印PA方向に回転させることによって、該感光ドラム面10上を矢印SB方向(主走査方向)に等速度で光走査している。これにより記録媒体である感光ドラム面10上に画像記録を行っている。
本実施形態では偏向手段として偏向面数8面、外径8.6mmの回転多面鏡を用いている。また、光束A、Bを主走査断面に射影したときの開き角はθ=12°とし、光束A、Bの2等分線を主走査断面に斜影したときに前記2等分線がX軸と一致するつまりξ=0となるように構成している。また、走査光学手段のfθ係数はf=151mm、副走査倍率をβ=−2倍として構成している。また、走査幅はW=214mmとし、走査領域中央はX軸上に設けている。また、副走査方向における最小スポット径sを50μm、光束の波長λを780nmとしている。
このとき、内半径(内径の半分)Rは3.973mm、X軸上から光束を偏向手段に入射したと仮定した場合の前記光束が走査領域の中央を走査するときの偏向面の角度Φ’は0°となる。この結果、偏向方向における光束A、Bの偏向点位置のズレの最大値max(|p|)は144.3μmとなり、副走査断面における光束A、Bの集光位置のズレは被走査面への入射方向に対して±0.577mmの範囲に収まる。これは、集光位置のズレの許容量0.49s^2/λ=1.57mmを十分に下回っており、集光位置のズレによる印字品位の劣化は、ほぼ問題ないレベルに構成できている。
[実施形態2]
図3は本発明の実施形態2の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図3において図1に示した要素と同一要素には同符番を付している。
図3は本発明の実施形態2の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図3において図1に示した要素と同一要素には同符番を付している。
本実施形態において前述の実施形態1と特に異なる点は
(1)偏向手段に偏向面数20面、外径52.6mmの回転多面鏡を用いている、
(2)走査光学手段のfθ係数はf=377.5mm、として構成している、
(3)副走査方向における最小スポット径sを70μmとしている、
ことである。偏向手段への光束A、Bの入射角度、走査光学手段の副走査倍率β、走査幅W、光束の波長λ等、他の点はほぼ実施形態1と同一である。
(1)偏向手段に偏向面数20面、外径52.6mmの回転多面鏡を用いている、
(2)走査光学手段のfθ係数はf=377.5mm、として構成している、
(3)副走査方向における最小スポット径sを70μmとしている、
ことである。偏向手段への光束A、Bの入射角度、走査光学手段の副走査倍率β、走査幅W、光束の波長λ等、他の点はほぼ実施形態1と同一である。
実施形態1に対して偏向手段の面数を20面と増やしたのは、更なる高速化を図るためである。但し、上記の面数にした場合、実施形態1のfθ係数では走査幅が狭くなってしまうため、fθ係数を377.5mmと大きくしている。また、面数を増やしたこと、及び主走査方向のスポット径を実施形態1と同程度にするため、偏向面の主走査方向の幅を広げたことより、回転多面鏡の外形は52.6mmと実施形態1と比較し大きくなっている。また、副走査方向の最小スポット径sを大きくしたのは、印字品位を若干損なうものの、深度幅を広げることで副走査方向の集光位置ズレに起因するスポット径のばらつきを軽減するためである。
このとき、内半径Rは25.976mmとなり、偏向方向における光束A、Bの偏向点位置のズレの最大値max(|p|)は384.1μmとなる。この結果、副走査断面における光束A、Bの集光位置のズレは被走査面への入射方向に対して±1.536mmの範囲に収まる。これは、集光位置のズレの許容量0.49s^2/λ=3.08mmを十分に下回っており、集光位置のズレによる印字品位の劣化は、ほぼ問題ないレベルに構成できている。
[実施形態3]
図4は本発明の実施形態3の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図4において図1に示した要素と同一要素には同符番を付している。
図4は本発明の実施形態3の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図4において図1に示した要素と同一要素には同符番を付している。
本実施形態において前述の実施形態1と特に異なる点は、
(1)光束A、Bの2等分線を主走査断面に斜影したときに前記2等分線がX軸に対してξ=80°の角度を持つように構成している、
(2)副走査方向における最小スポット径sを70μmとしている、
(3)入射光学系からミラーをなくしている、
(4)偏向手段への光束の入射角度は偏向手段の回転軸に対してほぼ垂直に入射している、
ことである。偏向手段の偏向面の面数、外径、光束A、Bが偏向手段への入射するときの光束の開き角θ、走査光学手段のfθ係数f、副走査倍率β、走査幅W、光束の波長λ等、他の点はほぼ実施形態1と同一である。
(1)光束A、Bの2等分線を主走査断面に斜影したときに前記2等分線がX軸に対してξ=80°の角度を持つように構成している、
(2)副走査方向における最小スポット径sを70μmとしている、
(3)入射光学系からミラーをなくしている、
(4)偏向手段への光束の入射角度は偏向手段の回転軸に対してほぼ垂直に入射している、
ことである。偏向手段の偏向面の面数、外径、光束A、Bが偏向手段への入射するときの光束の開き角θ、走査光学手段のfθ係数f、副走査倍率β、走査幅W、光束の波長λ等、他の点はほぼ実施形態1と同一である。
上記のように構成を偏向したのは副走査方向に大きな角度をつけて偏向手段に入射することを回避するためである。副走査方向に大きな角度をつけて偏向手段に光束を入射すると一般に走査線が曲がり易くなったり、走査線が偏向面ごとに上下に変動し易くなったりする。よって本実施形態では副走査方向にほとんど角度を付け無いように入射光学系を配置しなおしている。この結果、入射系のミラーは必要なくなるため削除した。スポット径を大きくしたのは実施形態2と同様の理由による。
このとき、偏向方向における光束A、Bの偏向点位置のズレの最大値、
max(|p|)は361.2μmとなる。この結果、副走査断面における光束A、Bの集光位置のズレは被走査面への入射方向に対して±1.445mmの範囲に収まる。これは、集光位置のズレの許容量0.49s^2/λ=3.08mmを十分に下回っており、集光位置のズレによる印字品位の劣化は、ほぼ問題ないレベルに構成できている。
max(|p|)は361.2μmとなる。この結果、副走査断面における光束A、Bの集光位置のズレは被走査面への入射方向に対して±1.445mmの範囲に収まる。これは、集光位置のズレの許容量0.49s^2/λ=3.08mmを十分に下回っており、集光位置のズレによる印字品位の劣化は、ほぼ問題ないレベルに構成できている。
[実施形態4]
図5は本発明の実施形態4の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図5において図1に示した要素と同一要素には同符番を付している。
図5は本発明の実施形態4の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図5において図1に示した要素と同一要素には同符番を付している。
本実施形態において前述の実施形態1と特に異なる点は、
(1)光源の数を4つに増やしている、
(2)隣接する光束の開き角を6°にしている、
ことである。
(1)光源の数を4つに増やしている、
(2)隣接する光束の開き角を6°にしている、
ことである。
(3)各光束はX軸に対して対称になるように入射している。
ことである。偏向手段の外径及び偏向面の面数、走査光学手段のfθ係数f及び副走査倍率β、走査幅W、副走査方向における最小スポット径s、光束の波長λ等、他の点はほぼ実施形態1と同一である。
ことである。偏向手段の外径及び偏向面の面数、走査光学手段のfθ係数f及び副走査倍率β、走査幅W、副走査方向における最小スポット径s、光束の波長λ等、他の点はほぼ実施形態1と同一である。
また、独立した光源を4つと実施形態1に対して光源の数を増やしたのは更なる高速化のためである。つまり実施形態1で同時に2本の走査線を描画していた所を本実施形態では同時に4本の走査線を描画することで、印字速度を高速化している。
本実施形態のように光源が3つ以上ある場合は、主走査断面上に斜影したときの両端の光束をこれまでの光束A、Bに当てはめて考えればよい。このとき、内半径Rは3.973mm、光束A、Bの2等分線と走査光学手段の光軸とを主走査断面に斜影したときに2本の光束が平行、つまりξ=0°、光束A、Bの開き角θは18°、X軸上から光束を偏向手段に入射したと仮定した場合の前記光束が走査領域の中央を走査するときの偏向面の角度Φ’は0°となる。この結果、偏向方向における光束A、Bの偏向点位置のズレの最大値max(|p|)は216.3μmとなり、副走査断面における光束A、Bの集光位置のズレは被走査面への入射方向に対して±0.865mmの範囲に収まる。これは、集光位置のズレの許容量、
0.49s^2/λ=1.57mmを十分に下回っており、集光位置のズレによる印字品位の劣化は、ほぼ問題ないレベルに構成できている。
0.49s^2/λ=1.57mmを十分に下回っており、集光位置のズレによる印字品位の劣化は、ほぼ問題ないレベルに構成できている。
[画像形成装置]
図6は、本発明の画像形成装置の実施形態を示す副走査方向の要部断面図である。図において、符号104は画像形成装置を示す。この画像形成装置104には、パーソナルコンピュータ等の外部機器117からコードデータDcが入力する。このコードデータDcは、装置内のプリンタコントローラ111によって、画像データ(ドットデータ)Diに変換される。この画像データDiは、実施形態1〜5に示したいずれかの構成を有する光走査ユニット(マルチビーム走査光学系)100に入力される。そして、この光走査ユニット100からは、画像データDiに応じて変調された光ビーム103が出射され、この光ビーム103によって感光ドラム101の感光面が主走査方向に走査される。
図6は、本発明の画像形成装置の実施形態を示す副走査方向の要部断面図である。図において、符号104は画像形成装置を示す。この画像形成装置104には、パーソナルコンピュータ等の外部機器117からコードデータDcが入力する。このコードデータDcは、装置内のプリンタコントローラ111によって、画像データ(ドットデータ)Diに変換される。この画像データDiは、実施形態1〜5に示したいずれかの構成を有する光走査ユニット(マルチビーム走査光学系)100に入力される。そして、この光走査ユニット100からは、画像データDiに応じて変調された光ビーム103が出射され、この光ビーム103によって感光ドラム101の感光面が主走査方向に走査される。
静電潜像担持体(感光体)たる感光ドラム101は、モーター115によって時計廻りに回転させられる。そして、この回転に伴って、感光ドラム101の感光面が光ビーム103に対して、主走査方向と直交する副走査方向に移動する。感光ドラム101の上方には、感光ドラム101の表面を一様に帯電せしめる帯電ローラ102が表面に当接するように設けられている。そして、帯電ローラ102によって帯電された感光ドラム101の表面に、前記光走査ユニット100によって走査される光ビーム103が照射されるようになっている。
先に説明したように、光ビーム103は、画像データDiに基づいて変調されており、この光ビーム103を照射することによって感光ドラム101の表面に静電潜像を形成せしめる。この静電潜像は、上記光ビーム103の照射位置よりもさらに感光ドラム101の回転方向の下流側で感光ドラム101に当接するように配設された現像器107によってトナー像として現像される。
現像器107によって現像されたトナー像は、感光ドラム101の下方で、感光ドラム101に対向するように配設された転写ローラ108によって被転写材たる用紙112上に転写される。用紙112は感光ドラム101の前方(図6において右側)の用紙カセット109内に収納されているが、手差しでも給紙が可能である。用紙カセット109端部には、給紙ローラ110が配設されており、用紙カセット109内の用紙112を搬送路へ送り込む。
以上のようにして、未定着トナー像を転写された用紙112はさらに感光ドラム101後方(図6において左側)の定着器へと搬送される。定着器は内部に定着ヒータ(図示せず)を有する定着ローラ113とこの定着ローラ113に圧接するように配設された加圧ローラ114とで構成されており、転写部から搬送されてきた用紙112を定着ローラ113と加圧ローラ114の圧接部にて加圧しながら加熱することにより用紙112上の未定着トナー像を定着せしめる。更に定着ローラ113の後方には排紙ローラ116が配設されており、定着された用紙112を画像形成装置の外に排出せしめる。
図6においては図示していないが、プリントコントローラ111は、先に説明したデータの変換だけでなく、モーター115を始め画像形成装置内の各部や、後述する光走査ユニット内のポリゴンモータなどの制御を行う。
A、B 光束
1、2、11、12、13、14 発光点
3、4、15、16、17、18 光束変換素子(コリメーターレンズ)
5、19、20 レンズ系(シリンドリカルレンズ)
6 ミラー
8 偏向手段(光偏向器)
8a 偏向面
9 走査光学手段
9a 第1の光学素子
9b 第2の光学素子
10 被走査面(感光ドラム面)
100 光走査装置
101 感光ドラム
102 帯電ローラ
103 光ビーム
104 画像形成装置
107 現像装置
108 転写ローラ
109 用紙カセット
110 給紙ローラ
111 プリンタコントローラ
112 転写材(用紙)
113 定着ローラ
114 加圧ローラ
115 モータ
116 排紙ローラ
117 外部機器
1、2、11、12、13、14 発光点
3、4、15、16、17、18 光束変換素子(コリメーターレンズ)
5、19、20 レンズ系(シリンドリカルレンズ)
6 ミラー
8 偏向手段(光偏向器)
8a 偏向面
9 走査光学手段
9a 第1の光学素子
9b 第2の光学素子
10 被走査面(感光ドラム面)
100 光走査装置
101 感光ドラム
102 帯電ローラ
103 光ビーム
104 画像形成装置
107 現像装置
108 転写ローラ
109 用紙カセット
110 給紙ローラ
111 プリンタコントローラ
112 転写材(用紙)
113 定着ローラ
114 加圧ローラ
115 モータ
116 排紙ローラ
117 外部機器
Claims (10)
- 複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、走査領域全域にわたり副走査断面における各光束の像面位置の差を最大でも3.08mm以下にしたことを特徴とするマルチビーム走査光学系。 - 走査領域全域にわたり副走査断面における前記走査光学手段の横倍率の絶対値が2倍以上であることを特徴とする請求項1記載のマルチビーム走査光学系。
- 前記マルチビーム走査光学系の走査幅をW、前記走査光学手段のfθ係数をfとするとき、W/f≧1.396を満たすことを特徴とする請求項1又は2記載のマルチビーム走査光学系。
- 前記偏向手段に入射する複数の光束を主走査断面上に投影したときに、角度差が最大になる2つの光束のなす角度が6°以上であることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載のマルチビーム走査光学系。
- 複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面の最小スポット径をs、光束の波長をλ、任意の走査像高での副走査断面における各光束の像面位置の差をXとしたときに、全走査領域にわたり、
max|X|<(0.49×s2)/λ
を満足することを特徴とするマルチビーム走査光学系。 - 複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、任意の走査像高へ向かう光束の進行方向における該各光束の主走査断面内における偏向点位置の差をpとするときに、全走査領域にわたり、
|p|β2<0.49s2/λ
を満足することを特徴とするマルチビーム走査光学系。 - 複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、前記偏向手段の内径の半分をR、走査幅をW、前記走査光学手段のfθ係数をf、該偏向手段に入射する複数の光束を主走査断面上に投影したときに、角度差が最大になる2つの光束のなす角度をθ、該角度差が最大になる2つの光束の2等分線と前記走査光学手段の光軸とがなす主走査方向の角度をξとするときに、
2Rβ2×sin{W/(4f)+|ξ|/2}×sin(|θ|/4)<0.49s2/λ
を満足することを特徴とするマルチビーム走査光学系。 - 複数の光源手段と、該複数の光源手段から出射した複数の光束を偏向手段に導光する入射光学系と、回転中心を偏向面上に有さない偏向手段と、該偏向手段で偏向反射された複数の光束を該被走査面上に導光する走査光学手段とを有し、該複数の光束を偏向手段に入射させる際、主走査断面内において所定の角度差をつけて各光束を偏向手段に入射させるマルチビーム走査光学系において、
該複数の光源手段から出射した複数の光束を該偏向面の主走査方向の幅より広い状態で入射させ、副走査断面における被走査面近傍の最小スポット径をs、光束の波長をλ、前記走査光学手段の副走査倍率をβ、前記偏向手段の内径の半分をR、走査幅をW、前記走査光学手段のfθ係数をf、該偏向手段に入射する複数の光束を主走査断面上に投影したときに、角度差が最大になる2つの光束のなす角度をθとし、該角度差が最大になる2つの光束の2等分線と前記走査光学手段の光軸とが平行に成るように構成しているとき、
2Rβ2×sin{W/(4f)}×sin(|θ|/4)<0.49s2/λ
を満足することを特徴とするマルチビーム走査光学系。 - 請求項1乃至8の何れか1項に記載のマルチビーム走査光学系と、前記被走査面に配置された感光体と、前記マルチビーム走査光学系で走査された光ビームによって前記感光体上に形成された静電潜像をトナー像として現像する現像器と、現像されたトナー像を被転写材に転写する転写器と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定着器とを有することを特徴とする画像形成装置。
- 請求項1乃至8の何れか1項に記載のマルチビーム走査光学系と、外部機器から入力したコードデータを画像信号に変換して前記光走査装置に入力せしめるプリンタコントローラとを有していることを特徴とする画像形成装置。
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---|---|---|---|
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ID=35023516
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2017015866A (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置及びこれを用いた画像形成装置 |
KR102128355B1 (ko) * | 2019-01-08 | 2020-06-30 | 한국광기술원 | 멀티플렉싱 스캐닝 장치 및 방법 |
-
2004
- 2004-02-24 JP JP2004047337A patent/JP2005241683A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
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JP2017015866A (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置及びこれを用いた画像形成装置 |
KR102128355B1 (ko) * | 2019-01-08 | 2020-06-30 | 한국광기술원 | 멀티플렉싱 스캐닝 장치 및 방법 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070501 |