JP2005236479A - Rssi circuit - Google Patents

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Takashi Aoyama
孝志 青山
Hiroshi Miyagi
弘 宮城
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Toyota Industries Corp
NSC Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an RSSI circuit wherein an offset of an output current is nullified even when the amplitude of an input signal is zero by eliminating the effect of dispersion in mutual conductance of transistors. <P>SOLUTION: The RSSI circuit is configured by the connection of multi-stages each comprising a differential amplifier circuit comprising transistors Q1, Q2 for receiving outputs V1p, V1n of a limiter amplifier; a current mirror circuit comprising a MOS transistor Q3 for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit and MOS transistors Q4, Q5 and controlling an output current in response to the input voltages V1p, V1n; a bias cancel circuit comprising a current mirror circuit consisting of MOS transistors Q6, Q7 and a MOS transistor Q8 and for canceling an offset voltage produced in the differential amplifier circuit; and a detection circuit including at least resistors R1, R2, R3, R8 connected to the source of each transistor and a resistor Rrssi connected to an output terminal 6 of the RSSI circuit. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、通信機器などに用いられるRSSI回路に関するものである。   The present invention relates to an RSSI circuit used for communication equipment and the like.

従来より、RSSI(Received Signal Strength Indicator)回路は通信機器等の例えば受信機に用いられて入力信号レベルの大きさを検出する機能などに利用されている。
図5は、一般的なFM受信機におけるリミッタ回路及び検波回路の構成例を示す図である。同図の検波回路としてRSSI回路が使用される。
Conventionally, an RSSI (Received Signal Strength Indicator) circuit is used for a function of detecting the magnitude of an input signal level, for example, used in a receiver such as a communication device.
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration example of a limiter circuit and a detection circuit in a general FM receiver. An RSSI circuit is used as the detection circuit in FIG.

同図におけるリミッタ回路は、IF信号入力端18、19に入力される差動入力電圧Vp、Vnに対してDC成分をカットするためのコンデンサと、このコンデンサを介した差動入力電圧Vp、VnにバイアスVCMをかけた入力信号に対して整流を行なうためのリミッタアンプとを有する1段目リミッタ回路15を7段組みにした回路である。また、同図の各段にあるリミッタアンプの出力信号(例えばV1p、V1n)は、DC成分をカットされた後に検波回路(例えば検波回路16)に入力される。入力された信号は検波回路によって整流されて出力され(例えばVr1)、各段の検波回路からの出力信号Vr1〜Vr7の総和がRSSI回路出力端にあらわれ、その出力信号がVrssiとなる。   The limiter circuit in the figure includes a capacitor for cutting a DC component with respect to the differential input voltages Vp and Vn input to the IF signal input terminals 18 and 19, and the differential input voltages Vp and Vn via the capacitors. This is a circuit in which a first-stage limiter circuit 15 having a limiter amplifier for performing rectification on an input signal to which a bias VCM is applied is made up of seven stages. Further, the output signals (for example, V1p and V1n) of the limiter amplifiers at the respective stages in FIG. The input signal is rectified and output by the detection circuit (for example, Vr1), and the sum of the output signals Vr1 to Vr7 from the detection circuits at each stage appears at the RSSI circuit output terminal, and the output signal becomes Vrssi.

図6は、各段の検波回路の構成例を示している。同図は汎用的に使用されている差動増幅回路である。例えばリミッタアンプ1段目の出力信号V1nと、V1nの位相が180度反転された出力信号V1pが差動増幅回路に入力されると、電位の高い信号のみが出力信号Vr1として出力されることによって入力信号は全波整流される。   FIG. 6 shows a configuration example of the detection circuit at each stage. This figure shows a differential amplifier circuit used for general purposes. For example, when the output signal V1n at the first stage of the limiter amplifier and the output signal V1p in which the phase of V1n is inverted by 180 degrees are input to the differential amplifier circuit, only the signal having a high potential is output as the output signal Vr1. The input signal is full-wave rectified.

以上の構成によって得られるRSSI回路の出力信号Vrssiは、適当な容量のコンデンサを介して出力される。その出力信号は理想的には線形性を有する信号となることが要求される。
特許文献1には、帯域制限フィルタの損失により損なわれるRSSI出力特性を補正し、線形性のよいRSSI出力を得るRSSI回路について開示されている。また、特許文献2は、RSSI出力レンジと後段に接続するA/Dコンバータの入力レンジが噛み合わない場合に、RSSI出力レンジを自在に変更することによって、噛み合わないレンジ部分をなくすようにしたRSSI回路について開示されている。
特開平06−350468号公報 特開平10−336063号公報
The output signal Vrssi of the RSSI circuit obtained by the above configuration is output through a capacitor having an appropriate capacity. The output signal is ideally required to be a signal having linearity.
Patent Document 1 discloses an RSSI circuit that corrects an RSSI output characteristic that is impaired by the loss of a band limiting filter and obtains an RSSI output with good linearity. Patent Document 2 discloses an RSSI circuit that eliminates a non-engageable range portion by freely changing the RSSI output range when the RSSI output range and the input range of an A / D converter connected to the subsequent stage do not mesh. Is disclosed.
Japanese Patent Laid-Open No. 06-350468 Japanese Patent Laid-Open No. 10-336063

しかしながら、RSSI回路への入力信号の振幅に対するRSSI電圧特性は、回路の製造時に発生するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスや温度変化による抵抗のばらつきに大きく影響されてしまうという問題がある。
本発明は、上述した問題に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、RSSI回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンス等のばらつきの影響を受けないRSSI回路を提供することである。
However, the RSSI voltage characteristic with respect to the amplitude of the input signal to the RSSI circuit has a problem that it is greatly influenced by the mutual conductance of the MOS transistor generated at the time of manufacturing the circuit and the resistance variation due to temperature change.
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and the problem to be solved is to provide an RSSI circuit that is not affected by variations in mutual conductance and the like of MOS transistors constituting the RSSI circuit. is there.

請求項1に記載の発明は、受信信号を増幅する差動増幅回路と、該差動増幅回路に対してバイアス電圧を供給するためのバイアス回路と、前記差動増幅回路の出力電流を制御するためのカレントミラー回路と、を少なくとも有し、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスgmと、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される抵抗の抵抗値Rとが1/gm<<Rの関係を有することを特徴とするRSSI回路である。   The invention according to claim 1 controls a differential amplifier circuit for amplifying a received signal, a bias circuit for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit, and an output current of the differential amplifier circuit. A transconductance gm of a MOS transistor constituting the differential amplifier circuit, and a resistance value R of a resistor connected to the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit. It is an RSSI circuit characterized by having a relationship of 1 / gm << R.

請求項1に記載の発明によると、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスgmと前記抵抗Rとが1/gm<<Rの関係を有することによって、MOSトランジスタの抵抗成分(1/gm)がこのMOSトランジスタに接続された抵抗の抵抗値Rに対して無視できるくらい小さくなるため、RSSI回路の出力電流が製造時に生じる前記相互コンダクタンスgmのばらつきに影響されずに前記抵抗Rによって決定できる効果を奏する。   According to the first aspect of the present invention, the mutual conductance gm of the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit and the resistance R have a relationship of 1 / gm << R, whereby the resistance component of the MOS transistor ( 1 / gm) is negligibly small with respect to the resistance value R of the resistor connected to the MOS transistor, so that the output current of the RSSI circuit is not affected by the variation in the mutual conductance gm generated during manufacturing, and the resistance R The effect that can be determined by.

請求項2に記載の発明は、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される抵抗は、同じ形状かつ同じ不純物濃度の抵抗で構成されていることを特徴とする請求項1に記載のRSSI回路である。
請求項2に記載の発明によると、請求項1に記載の効果に加えて、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに挿入する抵抗が、同じ形状かつ同じ不純物濃度の抵抗で構成されることによって、製造時に生じる抵抗値のばらつきをなくす効果を奏する。
According to a second aspect of the present invention, the resistors connected to the MOS transistors constituting the differential amplifier circuit are configured with resistors having the same shape and the same impurity concentration. This is an RSSI circuit.
According to the invention described in claim 2, in addition to the effect described in claim 1, the resistors inserted into the MOS transistors constituting the differential amplifier circuit are configured with resistors having the same shape and the same impurity concentration. As a result, there is an effect of eliminating variation in resistance value that occurs during manufacturing.

請求項3に記載の発明は、前記差動増幅回路で生じるオフセット電圧を打ち消すためのバイアスキャンセル回路を更に有し、前記バイアスキャンセル回路を構成するMOSトランジスタに前記抵抗と同一の抵抗を接続していることを特徴とする請求項1または2に記載のRSSI回路である。   The invention according to claim 3 further includes a bias cancel circuit for canceling an offset voltage generated in the differential amplifier circuit, and the same resistor as the resistor is connected to the MOS transistor constituting the bias cancel circuit. The RSSI circuit according to claim 1, wherein the RSSI circuit is provided.

請求項3に記載の発明によると、請求項1または2に記載の効果に加えて、前記バイアスキャンセル回路によって前記差動増幅回路で生じるオフセット電圧を打ち消す作用により、RSSI回路への入力振幅が0の場合には出力電流が0となる効果を奏する。
請求項4に記載の発明は、前記抵抗は互いに近傍に配されている抵抗であることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載のRSSI回路である。
According to the invention described in claim 3, in addition to the effect described in claim 1 or 2, the input amplitude to the RSSI circuit is reduced to 0 by the action of canceling the offset voltage generated in the differential amplifier circuit by the bias cancel circuit. In this case, the output current is 0.
The invention according to claim 4 is the RSSI circuit according to any one of claims 1 to 3, wherein the resistors are resistors arranged in the vicinity of each other.

請求項4に記載の発明によると、請求項1または2に記載の発明と同様の効果に加えて、前記抵抗が互いに近傍に配されていることによって、製造時の抵抗値のばらつきをなくす効果を一層高めることができる。
請求項5に記載の発明は、受信信号を増幅する差動増幅回路と、該差動増幅回路に対してバイアス電圧を供給するためのMOSトランジスタと、前記差動増幅回路の出力電流を制御するためカレントミラー回路と、を少なくとも有し、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスgmと、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される抵抗の抵抗値Rとが1/gm<<Rの関係を有することを特徴とするRSSI回路である。
According to the invention described in claim 4, in addition to the same effect as that of the invention described in claim 1 or 2, the resistances are arranged in the vicinity of each other, thereby eliminating variations in resistance values during manufacturing. Can be further enhanced.
The invention according to claim 5 controls a differential amplifier circuit for amplifying a received signal, a MOS transistor for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit, and an output current of the differential amplifier circuit. Therefore, the mutual conductance gm of the MOS transistor that has at least a current mirror circuit and that constitutes the differential amplifier circuit, and the resistance value R of the resistor connected to the MOS transistor that constitutes the differential amplifier circuit is 1 It is an RSSI circuit characterized by having a relationship of / gm << R.

請求項5に記載の発明によると、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスgmと前記抵抗Rとが1/gm<<Rの関係を有することによって、RSSI回路の出力電流が製造時に生じる前記相互コンダクタンスgmのばらつきに影響されずに前記抵抗Rによって決定できる効果を奏する。   According to the fifth aspect of the present invention, since the mutual conductance gm of the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit and the resistance R have a relationship of 1 / gm << R, the output current of the RSSI circuit is There is an effect that can be determined by the resistance R without being affected by variations in the mutual conductance gm generated during manufacturing.

請求項6に記載の発明は、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される前記抵抗は、同じ形状かつ同じ不純物濃度の抵抗で構成されていることを特徴とする請求項5に記載のRSSI回路である。
請求項6に記載の発明によると、請求項5に記載の効果に加えて、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに挿入する抵抗が、同じ形状かつ同じ不純物濃度の抵抗で構成されることによって、製造時に生じる抵抗値のばらつきをなくす効果を奏する。
The invention described in claim 6 is characterized in that the resistors connected to the MOS transistors constituting the differential amplifier circuit are configured with resistors having the same shape and the same impurity concentration. RSSI circuit.
According to the invention described in claim 6, in addition to the effect described in claim 5, the resistors inserted into the MOS transistors constituting the differential amplifier circuit are configured with resistors having the same shape and the same impurity concentration. As a result, there is an effect of eliminating variation in resistance value that occurs during manufacturing.

請求項7に記載の発明は、前記抵抗はポリシリコンで構成されていることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載のRSSI回路である。
請求項7に記載の発明によると、ポリシリコンで構成される抵抗を使用することによって請求項1から4に記載の発明と同様に製造時に生じる抵抗値のばらつきをなくす効果を奏する。
The invention according to claim 7 is the RSSI circuit according to any one of claims 1 to 4, wherein the resistor is made of polysilicon.
According to the seventh aspect of the present invention, the use of a resistor made of polysilicon has the effect of eliminating variations in resistance values that occur during manufacturing, similar to the first to fourth aspects of the present invention.

請求項8に記載の発明は、受信信号を増幅する差動増幅回路と、該差動増幅回路に対してバイアス電圧を供給するためのバイアス回路と、前記差動増幅回路の出力電流を制御するためのカレントミラー回路と、
を少なくとも有し、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスgmと、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される抵抗の抵抗値Rとが1/gm<<Rの関係を有する回路を多段に接続し、前記多段に接続された各回路の出力端である前記カレントミラー回路の出力端は相互に接続され、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタとRSSI回路出力端である前記カレントミラー回路の出力端とに接続される抵抗は、同じ形状かつ同じ不純物濃度の抵抗で構成されていることを特徴とするRSSI回路である。
The invention according to claim 8 controls a differential amplifier circuit for amplifying a received signal, a bias circuit for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit, and an output current of the differential amplifier circuit. Current mirror circuit for,
And the mutual conductance gm of the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit and the resistance value R of the resistor connected to the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit are 1 / gm << R. The circuits having the relationship are connected in multiple stages, and the output terminals of the current mirror circuits, which are the output terminals of the circuits connected in multiple stages, are connected to each other, and the MOS transistor and the RSSI circuit output constituting the differential amplifier circuit The resistor connected to the output end of the current mirror circuit, which is the end, is an RSSI circuit characterized in that it is composed of resistors having the same shape and the same impurity concentration.

以上のように、本発明のいずれの態様によっても、RSSI回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンス等のばらつきの影響を受けないRSSI回路を提供することが可能となる。   As described above, according to any aspect of the present invention, it is possible to provide an RSSI circuit that is not affected by variations in the mutual conductance and the like of the MOS transistors constituting the RSSI circuit.

以下、本発明の実施形態について図1から図5に基づいて説明する。なお、本実施形態に係るRSSI回路は、pチャンネルとnチャンネルMOSトランジスタを製造できるCMOSプロセスにより半導体回路基盤上に成形される。
図1は、本発明の第一の実施形態に係るRSSI回路の回路構成を示す図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 5. The RSSI circuit according to the present embodiment is formed on a semiconductor circuit board by a CMOS process that can manufacture p-channel and n-channel MOS transistors.
FIG. 1 is a diagram showing a circuit configuration of an RSSI circuit according to the first embodiment of the present invention.

本実施例に係るRSSI回路は、多段接続されたリミッタ回路に対して各段のリミッタアンプの出力側に接続され、例えば図5に示した1段目のリミッタアンプの出力V1pとV1pに対して180度位相が反転した出力V1nとを入力とするMOSトランジスタQ1及びQ2で構成される差動増幅回路と、この差動増幅回路に対してバイアス電圧を供給するためのMOSトランジスタQ3と、MOSトランジスタQ4及びQ5で構成され入力電圧V1p及びV1nに応じて各MOSトランジスタQ1及びQ2に流れる電流に基づいて出力電流を制御するカレントミラー回路と、MOSトランジスタQ6とQ7とで構成されるカレントミラー回路とMOSトランジスタQ8とで構成され差動増幅回路で生じるオフセット電圧を打ち消すためのバイアスキャンセル回路と、各トランジスタQ1、Q2、Q3、Q8のソース側にそれぞれ接続された抵抗R1、R2、R3、R8及びRSSI回路出力端6に接続された抵抗Rrssiとを少なくとも有する検波回路を多段接続してなる回路である。   The RSSI circuit according to this embodiment is connected to the output side of the limiter amplifier in each stage with respect to the limiter circuit connected in multiple stages, and for example, with respect to the outputs V1p and V1p of the first-stage limiter amplifier shown in FIG. A differential amplifier circuit composed of MOS transistors Q1 and Q2 having an output V1n whose phase is inverted by 180 degrees, a MOS transistor Q3 for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit, and a MOS transistor A current mirror circuit configured by Q4 and Q5 and controlling output current based on currents flowing through the MOS transistors Q1 and Q2 in accordance with input voltages V1p and V1n; and a current mirror circuit configured by MOS transistors Q6 and Q7 MOS transistor Q8 is used to cancel the offset voltage generated in the differential amplifier circuit. A multi-stage detection circuit including at least a cancel circuit, resistors R1, R2, R3, R8 connected to the source sides of the transistors Q1, Q2, Q3, and Q8 and a resistor Rrssi connected to the RSSI circuit output terminal 6 It is a circuit formed by connection.

図2(a)及び(b)は、図5に示した1段目のリミッタアンプからの信号V1p及びV1pに対して180度位相が反転した入力信号V1nを示している。電流源Iにより所定のバイアス電圧がゲートに印加されているトランジスタQ1及びQ2に、図1の検波回路の一段目の検波回路への入力端3及び4に入力信号V1p、V1nが入力されると、バイアス電圧に入力信号(V1p、V1n)が重畳される。トランジスタQ1に入力信号が入力されると、MOSトランジスタQ4及びQ5で構成されるカレントミラー回路のトランジスタQ4には入力信号に応じた電流が流れるので、1段目の検波回路の出力電流がトランジスタQ5側に流れる。   2A and 2B show the input signal V1n whose phase is inverted by 180 degrees with respect to the signals V1p and V1p from the first-stage limiter amplifier shown in FIG. When input signals V1p and V1n are input to the input terminals 3 and 4 to the first-stage detection circuit of the detection circuit in FIG. 1 to the transistors Q1 and Q2 to which a predetermined bias voltage is applied to the gate by the current source I, respectively. The input signals (V1p, V1n) are superimposed on the bias voltage. When an input signal is input to the transistor Q1, a current corresponding to the input signal flows through the transistor Q4 of the current mirror circuit composed of the MOS transistors Q4 and Q5, so that the output current of the first-stage detection circuit is the transistor Q5. Flows to the side.

同様にして、トランジスタQ2に入力信号が入力されると、MOSトランジスタQ4及びQ5で構成されるカレントミラー回路のトランジスタQ4には入力信号に応じた電流が流れるので、1段目の検波回路の出力電流がトランジスタQ5側に流れる。
ここで、トランジスタQ1、Q2のゲート側に接続される抵抗によって上記バイアス電圧は調整される。また、トランジスタQ1、Q2のゲート側に接続されるコンデンサは、入力信号(V1p、V1n)の直流成分をカットするために使用される。
Similarly, when an input signal is input to the transistor Q2, a current corresponding to the input signal flows through the transistor Q4 of the current mirror circuit composed of the MOS transistors Q4 and Q5, so that the output of the first-stage detection circuit Current flows to the transistor Q5 side.
Here, the bias voltage is adjusted by a resistor connected to the gate side of the transistors Q1 and Q2. The capacitors connected to the gate sides of the transistors Q1 and Q2 are used to cut the DC component of the input signals (V1p, V1n).

以上の動作によって、1段目の検波回路の出力端5に現れる波形はは図2(c)に示す波形となる。
ここで、RSSI回路の出力端の抵抗をRrssi、各トランジスタQ1、Q2、Q3、Q8に接続されている抵抗をそれぞれR1、R2、R3、R8、1段目の検波回路への入力信号の電圧をΔV1、トランジスタが有する相互コンダクタンスをgmとすると、1段目の検波回路の出力端5に流れる電流I1は次式で表される。
I1=ΔV1*(1/(1/gm+R))
ここで、抵抗R1、R2、R3、R8は抵抗Rrssiと同じ形状かつ同じ不純物濃度で構成された抵抗であって、各抵抗R1、R2、R3、R8、Rrssiの抵抗値をそれぞれr1、r2、r3、r8、rrssiとした場合にR=r1=r2=r3=r8かつ、rrssi=K*R(ただし、Kは定数)の関係を有する。また、トランジスタQ1、Q2、Q3、Q8が有する相互コンダクタンスは同一であって、その値をgmとする。
With the above operation, the waveform appearing at the output terminal 5 of the first-stage detection circuit is the waveform shown in FIG.
Here, the resistance of the output terminal of the RSSI circuit is Rrssi, and the resistance connected to each of the transistors Q1, Q2, Q3, and Q8 is the voltage of the input signal to the first-stage detection circuit, R1, R2, R3, R8, respectively. Is ΔV1 and the transconductance of the transistor is gm, the current I1 flowing through the output terminal 5 of the first-stage detection circuit is expressed by the following equation.
I1 = ΔV1 * (1 / (1 / gm + R))
Here, the resistors R1, R2, R3, R8 are resistors having the same shape and the same impurity concentration as the resistor Rrssi, and the resistance values of the resistors R1, R2, R3, R8, Rrssi are respectively set to r1, r2, When r3, r8, and rrssi, R = r1 = r2 = r3 = r8 and rrssi = K * R (where K is a constant). The mutual conductances of the transistors Q1, Q2, Q3, and Q8 are the same, and the value thereof is gm.

本実施例では、1/gm<<Rとなる関係を有するように相互コンダクタンスgmを適宜調整して決定する。あるいは、1/gm<<Rとなる関係を有するように抵抗値Rを適宜調整して決定してもよく、相互コンダクタンスgm及び抵抗値Rの双方を調整して決定してもよい。これによって、I1≒ΔV/RとなりトランジスタQ1を流れる電流I1は抵抗値Rによって決定されることとなり、トランジスタが有する相互コンダクタンスのばらつきの影響を受けないようにすることが可能となる。   In this embodiment, the mutual conductance gm is appropriately adjusted and determined so as to have a relationship of 1 / gm << R. Alternatively, the resistance value R may be appropriately adjusted and determined so as to have a relationship of 1 / gm << R, or may be determined by adjusting both the mutual conductance gm and the resistance value R. As a result, I1≈ΔV / R, and the current I1 flowing through the transistor Q1 is determined by the resistance value R, so that it is possible to prevent the transistor from being affected by variations in mutual conductance of the transistor.

ここで、1/gm<<Rとなる関係とするためには、1/gmの値が抵抗値Rに対して数%〜20%の範囲内になるように調整する。望ましくは、1/gmの値が抵抗値Rに対して数%〜5%の範囲となるように調整する。
また、上記抵抗値Rを調整するには、同じ大きさ(形状)かつ注入する不純物の濃度抵抗の数によって調整してもよく、注入する不純物の濃度や抵抗の縦・横・深さ等の大きさ(形状)を適宜調整しよもよい。また、上記各トランジスタが有する相互コンダクタンスの調整には、チャネル幅やチャネル長等によって調整する。
Here, in order to obtain a relationship of 1 / gm << R, adjustment is made so that the value of 1 / gm is within a range of several% to 20% with respect to the resistance value R. Desirably, the value of 1 / gm is adjusted to a range of several% to 5% with respect to the resistance value R.
Further, the resistance value R may be adjusted according to the number of the same size (shape) and the concentration resistance of the implanted impurity, such as the concentration of the implanted impurity and the vertical / horizontal / depth of the resistance. The size (shape) may be adjusted as appropriate. Further, the mutual conductance of each of the transistors is adjusted by the channel width, the channel length, or the like.

本実施例では検波回路を7段構成としているので、各段への入力信号の電圧をΔV1、ΔV2、ΔV3、ΔV4、ΔV5、ΔV6、ΔV7、各段の出力電流をI1、I2、I3、I4、I5、I6、I7とすると、RSSI回路出力端6の出力電流Irssi及び出力電圧Vrssiは次式で表される。
Irssi=I1+I2+・・・+I7
=ΔV1*(1/(1/gm+R))+・・・+ΔV7*(1/(1/gm+R))
Vrssi=Rrssi*Irssi
ここで、本実施例では上述のように1/gm<<Rの関係を有するようにトランジスタが有する相互コンダクタンスgmを決定するので抵抗値Rはキャンセルされ、結局Vrssiは次式で表されることとなる。
Vrssi=K*(ΔV1+ΔV2+・・・+ΔV7)
上式のように、本実施例に係るRSSI回路出力端6に出力されるVrssiはRSSI回路出力端6に接続される抵抗値K*R(=Rrssi)の定数K(相対比K)によって決定されることとなる。
In this embodiment, since the detection circuit has a seven-stage configuration, the voltage of the input signal to each stage is ΔV1, ΔV2, ΔV3, ΔV4, ΔV5, ΔV6, ΔV7, and the output current of each stage is I1, I2, I3, I4. , I5, I6, and I7, the output current Irssi and the output voltage Vrssi at the RSSI circuit output terminal 6 are expressed by the following equations.
Irssi = I1 + I2 + ... + I7
= ΔV1 * (1 / (1 / gm + R)) +... + ΔV7 * (1 / (1 / gm + R))
Vrssi = Rrssi * Irssi
Here, in this embodiment, as described above, the transconductance gm of the transistor is determined so as to have a relationship of 1 / gm << R. Therefore, the resistance value R is canceled, and Vrssi is expressed by the following equation. It becomes.
Vrssi = K * (ΔV1 + ΔV2 +... + ΔV7)
As shown in the above equation, Vrssi output to the RSSI circuit output terminal 6 according to the present embodiment is determined by the constant K (relative ratio K) of the resistance value K * R (= Rrssi) connected to the RSSI circuit output terminal 6. Will be.

また、抵抗R1、R2、R3、R8、Rrssiを同じ形状かつ同じ不純物濃度にして製造時の抵抗のばらつきをなくすことで各抵抗R1、R2、R3、R8、Rrssiの抵抗値をそれぞれr1、r2、r3、r8、rrssiとした場合にR=r1=r2=r3=r8かつ、rrssi=K*Rの関係を有することが可能となり、相対比Kをばらつかないようにすることができる。   Further, the resistances R1, R2, R3, R8, and Rrssi are made to have the same shape and the same impurity concentration so as to eliminate variations in resistance during manufacturing, whereby the resistance values of the resistors R1, R2, R3, R8, and Rrssi are set to r1, r2, respectively. , R3, r8, rrssi, it is possible to have a relationship of R = r1 = r2 = r3 = r8 and rrssi = K * R, and the relative ratio K can be prevented from varying.

さらに、本実施例ではMOSトランジスタQ6とQ7とで構成されるカレントミラー回路とMOSトランジスタQ8とで構成されるバイアスキャンセル回路が設けられている。トランジスタQ8に電流Iが流れることによってトランジスタQ6及びQ7で構成される電流比1:2のカレントミラー回路のトランジスタQ6側に電流Iが流れる。トランジスタQ6側に電流Iが流れることによりトランジスタQ7側に電流2Iが流れる。ここで、トランジスタQ3とQ1及びQ2は、カレントミラー回路の構成となっているので、検波回路への入力振幅が0の場合であってもトランジスタQ1及びQ2には電流Iがそれぞれながれる。しかし、検波回路への入力振幅が0の場合には上記トランジスタQ7に流れる電流2Iは全てトランジスタQ1及びQ2に流れるため、トランジスタQ4を流れる電流が0となりトランジスタQ5の電流も0となる。   Furthermore, in this embodiment, a current mirror circuit composed of MOS transistors Q6 and Q7 and a bias cancel circuit composed of MOS transistor Q8 are provided. When the current I flows through the transistor Q8, the current I flows through the transistor Q6 side of the current mirror circuit having a current ratio of 1: 2 composed of the transistors Q6 and Q7. When the current I flows on the transistor Q6 side, the current 2I flows on the transistor Q7 side. Here, since the transistors Q3, Q1, and Q2 have the configuration of a current mirror circuit, even when the input amplitude to the detection circuit is 0, the current I flows through the transistors Q1 and Q2. However, when the input amplitude to the detection circuit is 0, all of the current 2I flowing through the transistor Q7 flows through the transistors Q1 and Q2, so that the current flowing through the transistor Q4 is 0 and the current of the transistor Q5 is also 0.

以上の動作により本実施例ではMOSトランジスタQ6とQ7とで構成されるカレントミラー回路とMOSトランジスタQ8とで構成されるバイアスキャンセル回路により元電流源Iの2倍の電流を流すことによって、一段目の検波回路の出力端5に生じるオフセット電圧を打ち消すことが可能となる。すなわち、検波回路への入力振幅が0の場合であっても各段の検波回路の出力電流を0にすることが可能となり、RSSI回路出力端に現れるオフセット電圧を0にすることができる。   With the above operation, in this embodiment, the current mirror circuit composed of the MOS transistors Q6 and Q7 and the bias cancel circuit composed of the MOS transistor Q8 cause a current twice that of the original current source I to flow. It is possible to cancel the offset voltage generated at the output terminal 5 of the detection circuit. That is, even when the input amplitude to the detector circuit is zero, the output current of the detector circuit at each stage can be zero, and the offset voltage appearing at the RSSI circuit output terminal can be zero.

図3は、本実施例に係るRSSIの出力特性の概要を示す図である。横軸が対数表示による入力電圧の変化(dB)を示し、縦軸は入力電圧に対する差動出力電圧(V)を示している。従来のRSSI出力特性7にはオフセット電圧があるが、本実施例のRSSIの出力特性8は上述のバイアスキャンセル回路を有することによってオフセット電圧が0となる。   FIG. 3 is a diagram illustrating an outline of the output characteristics of RSSI according to the present embodiment. The horizontal axis indicates the change in input voltage (dB) by logarithmic display, and the vertical axis indicates the differential output voltage (V) with respect to the input voltage. Although the conventional RSSI output characteristic 7 has an offset voltage, the offset voltage of the output characteristic 8 of the RSSI of this embodiment becomes 0 by having the above-described bias cancel circuit.

以上のように各段の検波回路において出力電流のオフセットをなくすことにより、入力振幅が0の場合であってもRSSI出力電圧のオフセット電圧をなくすことが可能となり、弱電界時のRSSI出力特性のばらつきを飛躍的に低減することが可能となる。
図4は、本発明の第二の実施形態に係るRSSI回路の回路構成を示す図である。
As described above, it is possible to eliminate the offset voltage of the RSSI output voltage even when the input amplitude is 0 by eliminating the offset of the output current in the detection circuit of each stage, and the RSSI output characteristics in the weak electric field can be eliminated. Variation can be drastically reduced.
FIG. 4 is a diagram showing a circuit configuration of an RSSI circuit according to the second embodiment of the present invention.

本実施例に係るRSSI回路は、多段接続されたリミッタ回路に対して各段のリミッタアンプの出力側に接続され、例えば図5に示した1段目のリミッタアンプの出力V1pとV1pに対して180度位相が反転した出力V1nとを入力とするMOSトランジスタQ9及びQ10で構成される差動増幅回路と、この差動増幅回路に対してバイアス電圧を供給するためのMOSトランジスタQ11と、MOSトランジスタQ12及びQ13で構成され入力電圧V1p及びV1nに応じて各MOSトランジスタQ9及びQ10に流れる電流に基づいて出力電流を制御するカレントミラー回路と、各トランジスタQ9及びQ10のソース側にそれぞれ接続された抵抗R9、R10とを少なくとも有する検波回路を多段接続してなる回路である。   The RSSI circuit according to this embodiment is connected to the output side of the limiter amplifier in each stage with respect to the limiter circuit connected in multiple stages, and for example, with respect to the outputs V1p and V1p of the first-stage limiter amplifier shown in FIG. A differential amplifier circuit composed of MOS transistors Q9 and Q10 having an output V1n whose phase is inverted 180 degrees, a MOS transistor Q11 for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit, and a MOS transistor A current mirror circuit configured by Q12 and Q13 that controls output current based on currents flowing through the MOS transistors Q9 and Q10 according to the input voltages V1p and V1n, and resistors connected to the source side of the transistors Q9 and Q10, respectively. This is a circuit formed by connecting a detection circuit having at least R9 and R10 in multiple stages.

第一実施例と同様に入力信号V1p、V1nはそれぞれ図2(a)、(b)に示す信号である。電流源Iにより所定のバイアス電圧がゲートに印加されているトランジスタQ9及びQ10に、1段目の検波回路9に入力信号V1p、V1nが入力されると、バイアス電圧に入力信号(V1p、V1n)が重畳される。トランジスタQ9に入力信号が入力されると、MOSトランジスタQ12及びQ13で構成されるカレントミラー回路のトランジスタQ12には入力信号に応じた電流が流れるので、1段目の検波回路9の出力電流がトランジスタQ13側に流れる。   As in the first embodiment, the input signals V1p and V1n are signals shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b), respectively. When the input signals V1p and V1n are input to the first-stage detection circuit 9 in the transistors Q9 and Q10 to which a predetermined bias voltage is applied to the gate by the current source I, the input signals (V1p and V1n) are applied to the bias voltage. Are superimposed. When an input signal is input to the transistor Q9, a current corresponding to the input signal flows through the transistor Q12 of the current mirror circuit composed of the MOS transistors Q12 and Q13, so that the output current of the first-stage detection circuit 9 is the transistor It flows to the Q13 side.

同様にして、トランジスタQ10に入力信号が入力されると、MOSトランジスタQ12及びQ13で構成されるカレントミラー回路のトランジスタQ12には入力信号に応じた電流が流れるので、1段目の検波回路9の出力電流がトランジスタQ13側に流れる。
以上の動作によって、1段目の検波回路の出力端に現れる波形は図2(c)に示す波形となる。
Similarly, when an input signal is input to the transistor Q10, a current corresponding to the input signal flows through the transistor Q12 of the current mirror circuit composed of the MOS transistors Q12 and Q13. An output current flows to the transistor Q13 side.
With the above operation, the waveform appearing at the output terminal of the first-stage detection circuit is the waveform shown in FIG.

ここで、第一実施例と同様に、RSSI回路の出力端の抵抗をRrssi、各トランジスタQ9、Q10に接続されている抵抗をそれぞれR9、R10、1段目の検波回路への入力信号の電圧をΔV’1、トランジスタが有する相互コンダクタンスをgmとし、抵抗R9、R10は抵抗Rrssiと同じ形状かつ同じ不純物濃度で構成された抵抗であって、R=R9=R10かつRrssi=K*R(但しKは定数)の関係を有するとすると、トランジスタQ13に流れる電流I13は次式で表される。
I13=ΔV’1*(1/(1/gm+R))
本実施例でも、1/gm<<Rとなる関係を有するように相互コンダクタンスgmを決定することによって、I13≒ΔV’1/RとなりトランジスタQ13を流れる電流I13は抵抗値Rによって決定されることとなり、トランジスタが有する相互コンダクタンスのばらつきの影響を受けないようにすることが可能となる。
Here, as in the first embodiment, the resistance of the output terminal of the RSSI circuit is Rrssi, and the resistance connected to each of the transistors Q9 and Q10 is R9, R10, and the voltage of the input signal to the first-stage detection circuit, respectively. ΔV′1, the transconductance of the transistor is gm, and the resistors R9 and R10 are resistors having the same shape and the same impurity concentration as the resistor Rrssi, and R = R9 = R10 and Rrssi = K * R (provided that Assuming that K is a constant), the current I13 flowing through the transistor Q13 is expressed by the following equation.
I13 = ΔV′1 * (1 / (1 / gm + R))
Also in this embodiment, by determining the mutual conductance gm so as to have a relationship of 1 / gm << R, the current I13 flowing through the transistor Q13 is determined by the resistance value R because I13≈ΔV′1 / R. Thus, it is possible to prevent the transistor from being affected by variations in mutual conductance.

したがって、本実施例では検波回路を7段構成としているので、各段への入力信号の電圧をΔV’1、ΔV’2、ΔV’3、ΔV’4、ΔV’5、ΔV’6、ΔV’7、各段の出力電流をI’1、I’2、I’3、I’4、I’5、I’6、I’7とすると、RSSI回路出力端14の出力電流Irssi及び出力電圧Vrssiは次式で表される。
Irssi=I’1+I’2+・・・+I’7
=ΔV’1*(1/(1/gm+R))+・・・+ΔV’7*(1/(1/gm+R))
Vrssi=Rrssi*Irssi
さらに、1/gm<<Rの関係を有するようにトランジスタが有する相互コンダクタンスgmを決定するので抵抗値Rはキャンセルされ、VrssiはK*(ΔV’1+ΔV’2+・・+ΔV’7)となり、本実施例に係るRSSI回路出力端6に出力されるVrssiはRSSI回路出力端14に接続される抵抗K*R(=Rrssi)の定数K(相対比K)によって決定されることとなる。
Therefore, in this embodiment, since the detection circuit has a seven-stage configuration, the voltages of the input signals to each stage are ΔV′1, ΔV′2, ΔV′3, ΔV′4, ΔV′5, ΔV′6, ΔV. '7, assuming that the output current of each stage is I'1, I'2, I'3, I'4, I'5, I'6, I'7, the output current Irssi and output of the RSSI circuit output terminal 14 The voltage Vrssi is expressed by the following equation.
Irssi = I′1 + I′2 +... + I′7
= ΔV′1 * (1 / (1 / gm + R)) +... + ΔV′7 * (1 / (1 / gm + R))
Vrssi = Rrssi * Irssi
Further, since the mutual conductance gm of the transistor is determined so as to have a relationship of 1 / gm << R, the resistance value R is canceled, and Vrssi becomes K * (ΔV′1 + ΔV′2 + ·· + ΔV′7). The Vrssi output to the RSSI circuit output terminal 6 according to the embodiment is determined by the constant K (relative ratio K) of the resistor K * R (= Rrssi) connected to the RSSI circuit output terminal 14.

また、抵抗R9、R10、Rrssiを同じ形状かつ同じ不純物濃度にして製造時の抵抗のばらつきをなくすことで各抵抗R9、R10、Rrssiの抵抗値をそれぞれr9、r10、rrssiとした場合にR=r9=r10かつ、rrssi=K*Rの関係を有することが可能となり、相対比Kをばらつかないようにすることができる。   In addition, when the resistance values of the resistors R9, R10, and Rrssi are set to r9, r10, and rsrssi by making the resistors R9, R10, and Rrssi have the same shape and the same impurity concentration, and thereby eliminating variations in resistance at the time of manufacture, R = It is possible to have a relationship of r9 = r10 and rrssi = K * R, and the relative ratio K can be prevented from varying.

以上の説明では、本実施例では上記検波回路が7段で構成されるRSSI回路の実施例を示したが、これに限るものではなく検波回路が1段以上で構成されるRSSI回路に本発明が適応できる。
また、第一実施例で使用される抵抗R1、R2、R3、R8、Rrssi、第二実施例で使用される抵抗R9、R10、Rrssiは、同じ材料(例えばポリシリコン)を使用し、同じ濃度のものを使用し、かつ、同じプロセスで生成される近接する抵抗を使用することが望ましい。これにり、CMOSプロセスにより半導体回路基盤上に抵抗を成形する際の材料、濃度、エッチング等によるばらつきがそれぞれ同程度の抵抗となり、プロセス時のばらつきの影響をなくすことが可能となる。
In the above description, an embodiment of the RSSI circuit in which the detection circuit is composed of seven stages is shown in the present embodiment, but the present invention is not limited to this and is applied to an RSSI circuit in which the detection circuit is composed of one or more stages. Can be adapted.
The resistors R1, R2, R3, R8, and Rrssi used in the first embodiment and the resistors R9, R10, and Rrssi used in the second embodiment use the same material (for example, polysilicon) and have the same concentration. It is desirable to use the ones that are close together and to use close resistors that are produced in the same process. As a result, variations due to material, concentration, etching, and the like when forming a resistor on a semiconductor circuit board by a CMOS process become the same level of resistance, and the influence of variations during the process can be eliminated.

また、本発明に係るRSSI回路は、実施例に示された回路構成に限られず、さらにAGC(Automatic Gain Controller)等にも応用することが可能である。   Further, the RSSI circuit according to the present invention is not limited to the circuit configuration shown in the embodiment, and can be applied to an AGC (Automatic Gain Controller) or the like.

本発明の第一の実施形態に係るRSSI回路の回路構成を示す図である。It is a figure which shows the circuit structure of the RSSI circuit which concerns on 1st embodiment of this invention. 図1に示す一段目の検波回路の入力端V1p、V1n及び出力端の波形を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating waveforms of input terminals V1p and V1n and an output terminal of the first-stage detection circuit illustrated in FIG. 本発明の第一の実施形態に係るRSSI回路の出力特性の概要を示す図である。It is a figure which shows the outline | summary of the output characteristic of the RSSI circuit which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第二の実施形態に係るRSSI回路の回路構成を示す図である。It is a figure which shows the circuit structure of the RSSI circuit which concerns on 2nd embodiment of this invention. FM受信機におけるリミッタ回路及び検波回路の構成例を示し図である。It is a figure which shows the structural example of the limiter circuit in a FM receiver, and a detection circuit. RSSI回路を構成する検波回路の従来例を示す図である。It is a figure which shows the prior art example of the detection circuit which comprises an RSSI circuit.

符号の説明Explanation of symbols

1 ・・・ 1段目の検波回路
2 ・・・ 7段目の検波回路
3 ・・・ 1段目の検波回路への入力端
4 ・・・ 1段目の検波回路への入力端
5 ・・・ 1段目の検波回路の出力端
6 ・・・ RSSI回路出力端
7 ・・・ 従来のRSSI出力特性
8 ・・・ 本実施例に係るRSSI出力特性
9 ・・・ 1段目の検波回路
10 ・・・ 7段目の検波回路
11 ・・・ 1段目の検波回路への入力端
12 ・・・ 1段目の検波回路への入力端
13 ・・・ 1段目の検波回路の出力端
14 ・・・ RSSI回路出力端
15 ・・・ 1段目のリミッタ回路
16 ・・・ 1段目の検波回路
17 ・・・ 検波回路
18 ・・・ IF信号入力端
19 ・・・ IF信号入力端
20 ・・・ RSSI回路出力端
21 ・・・ 1段目の検波回路への入力端
22 ・・・ 1段目の検波回路への入力端
23 ・・・ 1段目の検波回路の出力端

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Detection circuit of the 1st stage 2 ... Detection circuit of the 7th stage 3 ... Input terminal to the detection circuit of the 1st stage 4 ... Input terminal to the detection circuit of the 1st stage 5 .. Output terminal 6 of the first stage detection circuit 6... RSSI circuit output terminal 7... Conventional RSSI output characteristics 8... RSSI output characteristics according to this embodiment 9. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... 7th-stage detection circuit 11 ... Input terminal 12 to 1st-stage detection circuit ... Input terminal 13 to 1st-stage detection circuit ... Output of 1st-stage detection circuit Terminal 14 ... RSSI circuit output terminal 15 ... First stage limiter circuit 16 ... First stage detector circuit 17 ... Detector circuit 18 ... IF signal input terminal 19 ... IF signal input Terminal 20 ... RSSI circuit output terminal 21 ... Input terminal 22 to the first stage detection circuit 22 ... First stage detection Input terminal 23 to the wave circuit ... Output terminal of the first stage detection circuit

Claims (8)

受信信号を増幅する差動増幅回路と、
該差動増幅回路に対してバイアス電圧を供給するためのバイアス回路と、
前記差動増幅回路の出力電流を制御するためのカレントミラー回路と、
を少なくとも有し、
前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスgmと、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される抵抗の抵抗値Rとが1/gm<<Rの関係を有することを特徴とするRSSI回路。
A differential amplifier for amplifying the received signal;
A bias circuit for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit;
A current mirror circuit for controlling the output current of the differential amplifier circuit;
Having at least
The mutual conductance gm of the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit and the resistance value R of the resistor connected to the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit have a relationship of 1 / gm << R. Characteristic RSSI circuit.
前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される抵抗は、同じ形状かつ同じ不純物濃度の抵抗で構成されていることを特徴とする請求項1に記載のRSSI回路。   2. The RSSI circuit according to claim 1, wherein the resistors connected to the MOS transistors constituting the differential amplifier circuit are composed of resistors having the same shape and the same impurity concentration. 前記差動増幅回路で生じるオフセット電圧を打ち消すためのバイアスキャンセル回路を更に有し、
前記バイアスキャンセル回路を構成するMOSトランジスタに前記抵抗と同一の抵抗を接続していることを特徴とする請求項1または2に記載のRSSI回路。
A bias cancel circuit for canceling an offset voltage generated in the differential amplifier circuit;
3. The RSSI circuit according to claim 1, wherein the same resistor as the resistor is connected to a MOS transistor constituting the bias cancel circuit. 4.
前記抵抗は互いに近傍に配されている抵抗であることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載のRSSI回路。   The RSSI circuit according to claim 1, wherein the resistors are resistors arranged in the vicinity of each other. 受信信号を増幅する差動増幅回路と、
該差動増幅回路に対してバイアス電圧を供給するためのMOSトランジスタと、
前記差動増幅回路の出力電流を制御するためカレントミラー回路と、
を少なくとも有し、
前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスgmと、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される抵抗の抵抗値Rとが1/gm<<Rの関係を有することを特徴とするRSSI回路。
A differential amplifier for amplifying the received signal;
A MOS transistor for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit;
A current mirror circuit for controlling the output current of the differential amplifier circuit;
Having at least
The mutual conductance gm of the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit and the resistance value R of the resistor connected to the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit have a relationship of 1 / gm << R. Characteristic RSSI circuit.
前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される前記抵抗は、同じ形状かつ同じ不純物濃度の抵抗で構成されていることを特徴とする請求項5に記載のRSSI回路。   6. The RSSI circuit according to claim 5, wherein the resistors connected to the MOS transistors constituting the differential amplifier circuit are configured with resistors having the same shape and the same impurity concentration. 前記抵抗はポリシリコンで構成されていることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載のRSSI回路。   The RSSI circuit according to claim 1, wherein the resistor is made of polysilicon. 受信信号を増幅する差動増幅回路と、
該差動増幅回路に対してバイアス電圧を供給するためのバイアス回路と、
前記差動増幅回路の出力電流を制御するためのカレントミラー回路と、
を少なくとも有し、
前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタが有する相互コンダクタンスgmと、前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタに接続される抵抗の抵抗値Rとが1/gm<<Rの関係を有する回路を多段に接続し、
前記多段に接続された各回路の出力端である前記カレントミラー回路の出力端は相互に接続され、
前記差動増幅回路を構成するMOSトランジスタとRSSI回路出力端である前記カレントミラー回路の出力端とに接続される抵抗は、同じ形状かつ同じ不純物濃度の抵抗で構成されていることを特徴とするRSSI回路。
A differential amplifier for amplifying the received signal;
A bias circuit for supplying a bias voltage to the differential amplifier circuit;
A current mirror circuit for controlling the output current of the differential amplifier circuit;
Having at least
A circuit in which a mutual conductance gm of a MOS transistor constituting the differential amplifier circuit and a resistance value R of a resistor connected to the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit have a relationship of 1 / gm << R. Connected in multiple stages,
The output terminals of the current mirror circuit, which is the output terminal of each circuit connected in multiple stages, are connected to each other,
The resistors connected to the MOS transistor constituting the differential amplifier circuit and the output end of the current mirror circuit, which is the RSSI circuit output end, are composed of resistors having the same shape and the same impurity concentration. RSSI circuit.
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