JP2005215094A - Display substrate, display device, and short-circuit defect correcting method - Google Patents
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Description
本発明は、データ信号線に交差する交差線部と少なくとも１つの電極とを備えた表示基板と、表示基板とデータ信号線とを備えた表示装置と、表示基板に生じた短絡欠陥を修正する短絡欠陥修正方法と、表示装置に生じた短絡欠陥を修正する短絡欠陥修正方法とに関する。 The present invention corrects a short-circuit defect generated in a display substrate including a cross-line portion intersecting with a data signal line and at least one electrode, a display device including the display substrate and the data signal line, and the display substrate. The present invention relates to a short-circuit defect correcting method and a short-circuit defect correcting method for correcting a short-circuit defect generated in a display device.
一般に、アクティブ方式マトリクス型液晶表示装置は、マトリクス基板と、対向基板と、マトリクス基板と対向基板との間に充填される液晶とを含む。マトリクス基板は、ゲート信号線とソース信号線とスイッチング素子と画素電極とを含む。ゲート信号線とソース信号線とは交差し、ゲート信号線とソース信号線とが交差した部分に、スイッチング素子と画素電極とが配置される。対向基板は、透明電極とカラーフィルタとを含む。 In general, an active matrix liquid crystal display device includes a matrix substrate, a counter substrate, and a liquid crystal filled between the matrix substrate and the counter substrate. The matrix substrate includes gate signal lines, source signal lines, switching elements, and pixel electrodes. The gate signal line and the source signal line intersect with each other, and the switching element and the pixel electrode are disposed at a portion where the gate signal line and the source signal line intersect. The counter substrate includes a transparent electrode and a color filter.
近年、アクティブ方式マトリクス型液晶表示装置の画面の大型化および画面の解像度の高精細化に対応するために、液晶表示装置に含まれる信号線（ゲート信号線とソース信号線）の本数は増加している。例えば、ＵＸＧＡの解像度を有する液晶表示装置では、ゲート信号線は１２００本、ソース信号線は４８００本（１６００×３本）必要とされる。したがって、ゲート信号線とソース信号線とが交差する部分の数および信号線（ゲート信号線とソース信号線）と交差線部（例えば、補助容量線や共通電極線）とが交差する部分の数は増加し、これらの交差部分に生じる短絡欠陥の数も必然的に増加する。その結果、液晶表示装置の製造歩留りが悪化し、製造コストが増加する。 In recent years, the number of signal lines (gate signal lines and source signal lines) included in a liquid crystal display device has increased in order to cope with an increase in the screen size and resolution of the screen of an active matrix liquid crystal display device. ing. For example, in a liquid crystal display device having a UXGA resolution, 1200 gate signal lines and 4800 source signal lines (1600 × 3) are required. Therefore, the number of portions where the gate signal line and the source signal line intersect and the number of portions where the signal line (the gate signal line and the source signal line) intersects with the intersection line portion (for example, the auxiliary capacitance line or the common electrode line). Inevitably increases, and the number of short-circuit defects occurring at these intersections inevitably increases. As a result, the manufacturing yield of the liquid crystal display device deteriorates and the manufacturing cost increases.
ゲート信号線とソース信号線とは、ゲート信号線とソース信号線との間に絶縁膜を挟んで交差する。信号線（ゲート信号線とソース信号線）と交差線部とは、信号線（ゲート信号線とソース信号線）と交差線部との間に絶縁膜を挟んで交差する。短絡欠陥は、これらの交差部分の絶縁膜が破壊されることによって生じる。表示装置に含まれる表示基板（例えば、マトリクス基板や対向基板）の成形工程時や表示基板上の成膜工程時に発生するダスト、またはそれらの工程以降に発生する静電気が原因となって、これらの交差部分の絶縁膜が破壊される。 The gate signal line and the source signal line intersect with each other with an insulating film interposed between the gate signal line and the source signal line. The signal line (gate signal line and source signal line) and the intersection line part intersect with each other with an insulating film interposed between the signal line (gate signal line and source signal line) and the intersection line part. A short-circuit defect is caused by the breakdown of the insulating film at these intersections. Due to the dust generated during the molding process of the display substrate (for example, matrix substrate or counter substrate) included in the display device or during the film forming process on the display substrate, or static electricity generated after those processes, these The insulating film at the intersection is destroyed.
短絡欠陥が交差部分に生じた場合には、この交差部分を通るデータ信号線には正常にデータが印加されない。液晶表示領域には、ライン状の欠陥として表示される。 When a short circuit defect occurs at the intersection, data is not normally applied to the data signal line passing through the intersection. In the liquid crystal display area, it is displayed as a line defect.
図７は、従来の表示基板７００を示す。 FIG. 7 shows a conventional display substrate 700.
表示基板７００は、第１のデータ信号線７０１と第２のデータ信号線７０２と交差線部７０３と電極７０４とを含む。第１のデータ信号線７０１と第２のデータ信号線７０２とは、電極７０４を囲むように配置されている。 The display substrate 700 includes a first data signal line 701, a second data signal line 702, a cross line portion 703, and an electrode 704. The first data signal line 701 and the second data signal line 702 are arranged so as to surround the electrode 704.
第１のデータ信号線７０１または第２のデータ信号線７０２と交差線部７０３とが交差する部分に短絡欠陥が生じた場合には、第１のデータ信号線７０１または第２のデータ信号線７０２を切断することによって、短絡欠陥を修正する。表示基板７００に生じた短絡欠陥を修正する方法は、環状に二重配線したデータ信号線の一部を切断することによって短絡欠陥を修正する方法として特許文献１に記載されている。 In the case where a short circuit defect occurs in a portion where the first data signal line 701 or the second data signal line 702 intersects with the intersecting line portion 703, the first data signal line 701 or the second data signal line 702 Correct the short-circuit defect by cutting off. A method of correcting a short-circuit defect that has occurred in the display substrate 700 is described in Patent Document 1 as a method of correcting a short-circuit defect by cutting a part of a data signal line that is circularly double-wired.
図８は、他の従来の表示基板８００を示す。 FIG. 8 shows another conventional display substrate 800.
表示基板８００は、データ信号線８０１と交差線部８０２と電極８０３と冗長配線８１０とを含む。冗長配線８１０は、データ信号線８０１に沿って配置されている。 The display substrate 800 includes data signal lines 801, crossing line portions 802, electrodes 803, and redundant wirings 810. The redundant wiring 810 is arranged along the data signal line 801.
交差線部８０２の一部に短絡欠陥が生じた場合には、データ信号線８０１の一部である部分８３０と部分８４０とをレーザーで切断することによって、データ信号線８０１と短絡欠陥が生じた交差線部８０２の部分とを分離する。データ信号線８０１の切断された部分を冗長配線８１０と接続し、冗長配線８１０を介してデータ信号を入力することによって、短絡欠陥を修正する。
しかし、前述したように、表示基板７００および表示基板８００をＵＸＧＡの解像度に対応させるためには、２４００本（１２００×２本）のゲート信号線が必要となる。交差線部とゲート信号線とが交差する交差領域では、ゲート信号線が二重配線となるからである。したがって、配線が複雑になり、線幅を細くする必要が生じ、配線間隔を狭くする必要が生じる。その結果、短絡欠陥や断線欠陥が増加する。 However, as described above, in order to make the display substrate 700 and the display substrate 800 correspond to the resolution of UXGA, 2400 (1200 × 2) gate signal lines are required. This is because the gate signal line becomes a double wiring in the intersection region where the intersection line portion and the gate signal line intersect. Therefore, the wiring becomes complicated, the line width needs to be reduced, and the wiring interval needs to be reduced. As a result, short-circuit defects and disconnection defects increase.
さらに前述したように、環状に二重配線したデータ信号線の一部を切断することによって短絡欠陥を修正する方法では、二重配線の双方に短絡欠陥が発生した場合には、短絡欠陥の修正ができない。 Further, as described above, in the method of correcting the short-circuit defect by cutting a part of the data signal line that is double-wired in the ring, when the short-circuit defect occurs in both the double-wires, the short-circuit defect is corrected. I can't.
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、短絡欠陥が生じた短絡欠陥領域を交差線部から分離することによって短絡欠陥を修正し、表示基板の歩留まりを向上することができる表示基板、表示装置および短絡欠陥修正方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and a display substrate capable of correcting a short-circuit defect by separating a short-circuit defect region where a short-circuit defect has occurred from a crossing line portion and improving the yield of the display substrate. An object of the present invention is to provide a display device and a short-circuit defect correcting method.
本発明の表示基板は、データ信号線に交差する交差線部と少なくとも１つの電極とを備えた表示基板であって、前記交差線部は、前記少なくとも１つの電極に電気的に接続し、前記交差線部と前記データ信号線とは、前記交差線部の少なくとも一部である交差領域で、互いに交差し、前記交差領域には、少なくとも１つの開口部が形成されており、前記少なくとも１つの開口部の一端は、前記データ信号線に対して、前記少なくとも１つの開口部の他端の反対側に位置し、これにより、上記目的が達成される。 The display substrate of the present invention is a display substrate including a cross line portion that intersects a data signal line and at least one electrode, and the cross line portion is electrically connected to the at least one electrode, and The intersection line portion and the data signal line intersect each other in an intersection region that is at least a part of the intersection line portion, and at least one opening is formed in the intersection region. One end of the opening is positioned on the opposite side of the other end of the at least one opening with respect to the data signal line, thereby achieving the above object.
前記交差線部は、補助容量線であり、前記少なくとも１つの電極は、画素電極であってもよい。 The intersecting line portion may be a storage capacitor line, and the at least one electrode may be a pixel electrode.
前記交差線部は、共通電極線であり、前記少なくとも１つの電極は、共通電極であってもよい。 The intersecting line portion may be a common electrode line, and the at least one electrode may be a common electrode.
前記表示基板には、前記少なくとも１つの電極が配置される表示領域と、前記表示領域とは異なった領域である非表示領域とが形成されており、前記交差線部の少なくとも一部である前記交差領域が前記非表示領域に重なるように、前記交差線部が配置されてもよい。 The display substrate is formed with a display region in which the at least one electrode is disposed and a non-display region that is a region different from the display region, and the display substrate is at least a part of the intersecting line portion. The intersecting line portion may be arranged so that the intersecting region overlaps the non-display region.
前記少なくとも１つの開口部のうちの１つの形状は、矩形でよい。 One shape of the at least one opening may be rectangular.
前記少なくとも１つの開口部のうちの１つの形状は、アルファベットの“Ｈ”形でよい。 One shape of the at least one opening may be an alphabetic “H” shape.
本発明の表示装置は、表示基板とデータ信号線とを備えた表示装置であって、前記表示基板は、データ信号線に交差する交差線部と少なくとも１つの電極とを備え、前記交差線部は、前記少なくとも１つの電極に電気的に接続し、前記交差線部と前記データ信号線とは、前記交差線部の少なくとも一部である交差領域で、互いに交差し、前記交差領域には、少なくとも１つの開口部が形成されており、前記少なくとも１つの開口部の一端は、前記データ信号線に対して、前記少なくとも１つの開口部の他端の反対側に位置し、これにより、上記目的が達成される。 The display device of the present invention is a display device including a display substrate and a data signal line, and the display substrate includes an intersection line portion intersecting the data signal line and at least one electrode, and the intersection line portion. Is electrically connected to the at least one electrode, and the intersection line portion and the data signal line intersect each other in an intersection region that is at least a part of the intersection line portion, and the intersection region includes: At least one opening is formed, and one end of the at least one opening is located on the opposite side of the other end of the at least one opening with respect to the data signal line. Is achieved.
前記表示基板には、前記少なくとも１つの電極が配置される表示領域と、前記表示領域とは異なった領域である非表示領域とが形成されており、前記交差線部の少なくとも一部である前記交差領域が前記非表示領域に重なるように、前記交差線部が配置されてよい。 The display substrate is formed with a display region in which the at least one electrode is disposed and a non-display region that is a region different from the display region, and the display substrate is at least a part of the intersecting line portion. The intersection line portion may be arranged so that the intersection region overlaps the non-display region.
前記少なくとも１つの開口部のうちの１つの形状は、矩形でよい。 One shape of the at least one opening may be rectangular.
前記少なくとも１つの開口部のうちの１つの形状は、アルファベットの“Ｈ”形でよい。 One shape of the at least one opening may be an alphabetic “H” shape.
前記表示装置は、表示機構部をさらに備え、前記表示機構部は、前記非表示領域に重なるように配置されてもよい。 The display device may further include a display mechanism unit, and the display mechanism unit may be arranged to overlap the non-display area.
本発明の短絡欠陥修正方法は、表示基板に生じた短絡欠陥を修正する短絡欠陥修正方法であって、前記表示基板は、データ信号線に交差する交差線部と少なくとも１つの電極とを備え、前記交差線部は、前記少なくとも１つの電極に電気的に接続し、前記交差線部と前記データ信号線とは、前記交差線部の少なくとも一部である交差領域で、互いに交差し、前記交差領域には、少なくとも１つの開口部が形成されており、前記少なくとも１つの開口部の一端は、前記データ信号線に対して、前記少なくとも１つの開口部の他端の反対側に位置しており、前記短絡欠陥は、前記表示基板のうち、前記交差領域の少なくとも一部である短絡欠陥領域に生じており、前記短絡欠陥修正方法は、前記少なくとも１つの開口部のうちの１つの一端を通って前記交差領域の一部を切断する工程と、前記短絡欠陥領域が前記交差領域の他部と前記切断された交差領域の前記一部との間に位置するように、前記少なくとも１つの開口部のうちの前記１つの他端を通って前記交差領域の前記他部を切断する工程とを包含し、これにより、上記目的が達成される。 The short-circuit defect correcting method of the present invention is a short-circuit defect correcting method for correcting a short-circuit defect generated in a display substrate, wherein the display substrate includes a cross line portion intersecting with a data signal line and at least one electrode, The intersection line portion is electrically connected to the at least one electrode, and the intersection line portion and the data signal line intersect each other in an intersection region that is at least a part of the intersection line portion, and At least one opening is formed in the region, and one end of the at least one opening is located on the opposite side of the other end of the at least one opening with respect to the data signal line. The short-circuit defect is generated in a short-circuit defect region that is at least a part of the intersecting region of the display substrate, and the short-circuit defect correcting method passes through one end of the at least one opening. Cutting the part of the intersection region, and the short-circuit defect region is located between the other part of the intersection region and the part of the cut intersection region. Cutting the other part of the intersecting region through the other end of the one, thereby achieving the above object.
前記交差領域の一部は、レーザによって切断されてもよい。 A part of the intersection region may be cut by a laser.
本発明の短絡欠陥修正方法によれば、少なくとも１つの開口部のうちの１つの一端を通って交差領域の一部を切断し、短絡欠陥が生じた短絡欠陥領域が交差領域の他部と切断された交差領域の一部との間に位置するように、少なくとも１つの開口部のうちの１つの他端を通って交差領域の他部を切断する。 According to the short-circuit defect correcting method of the present invention, a part of the intersection region is cut through one end of at least one opening, and the short-circuit defect region in which the short-circuit defect has occurred is cut from the other part of the intersection region. The other part of the crossing region is cut through the other end of one of the at least one opening so as to be positioned between the part of the crossing region formed.
したがって、短絡欠陥領域は交差線部から分離される。 Therefore, the short-circuit defect region is separated from the intersection line portion.
その結果、表示基板に生じた短絡欠陥が容易に修正され、表示基板の歩留まりを向上することができる。 As a result, the short-circuit defect generated in the display substrate can be easily corrected, and the display substrate yield can be improved.
さらに、本発明の短絡欠陥修正方法によれば、配線（データ信号線、交差線部など）を複雑にすることなく、複数の配線の間隔を狭くすることなく、表示不具合を起こすことなく、データ信号線と交差線部との間に生じる短絡欠陥を修正することができる。 Further, according to the short-circuit defect correcting method of the present invention, the data (data signal line, crossing line portion, etc.) is not complicated, the interval between the plurality of wirings is not narrowed, and the display defect is not caused. A short-circuit defect occurring between the signal line and the crossing line portion can be corrected.
以下、本発明の実施例について、図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図１は、本発明の実施の形態の表示基板１００の構造を示す。 FIG. 1 shows a structure of a display substrate 100 according to an embodiment of the present invention.
表示基板１００は、少なくとも１本のデータ信号線１０１と、データ信号線１０１に交差する交差線部１０２と、少なくとも１つの電極１０３とを含む。 The display substrate 100 includes at least one data signal line 101, a cross line portion 102 that intersects the data signal line 101, and at least one electrode 103.
データ信号線１０１は、例えば、アルミニウム（Ａｌ）とチタン（Ｔｉ）とを含むソース信号線である。データ信号線１０１は、例えば、窒化チタン（ＴｉＮ）とアルミニウム（Ａｌ）とチタン（Ｔｉ）とを含むゲート信号線である。 The data signal line 101 is a source signal line including, for example, aluminum (Al) and titanium (Ti). The data signal line 101 is a gate signal line including, for example, titanium nitride (TiN), aluminum (Al), and titanium (Ti).
交差線部１０２は、電極１０３に電気的に接続している。 The intersecting line portion 102 is electrically connected to the electrode 103.
例えば、交差線部１０２が補助容量線であり、かつ電極１０３が画素電極である場合には、表示基板１００はマトリクス基板でありえる。 For example, when the intersecting line portion 102 is an auxiliary capacitance line and the electrode 103 is a pixel electrode, the display substrate 100 can be a matrix substrate.
補助容量線は、液晶の充電（画素充電）を補助する。補助容量線は、画素に印加された電圧を保持する目的で配置される。 The auxiliary capacity line assists the charging of the liquid crystal (pixel charging). The auxiliary capacitance line is arranged for the purpose of holding the voltage applied to the pixel.
例えば、交差線部１０２が共通電極線であり、かつ電極１０３が共通電極である場合には、表示基板１００は対向基板でありえる。 For example, when the intersecting line portion 102 is a common electrode line and the electrode 103 is a common electrode, the display substrate 100 can be a counter substrate.
共通電極線は、対向基板全面に同一の電圧を印加するために形成される。共通電極線を介して、電圧が共通電極（透明電極）に印加される。 The common electrode line is formed to apply the same voltage to the entire surface of the counter substrate. A voltage is applied to the common electrode (transparent electrode) through the common electrode line.
データ信号線１０１と交差線部１０２とは、交差線部１０２の少なくとも一部である交差領域１０４で、データ信号線１０１と交差線部１０２との間に絶縁膜を挟んで、互いに交差している。絶縁膜は、例えば、シリコン窒化膜を含む。 The data signal line 101 and the intersecting line portion 102 are intersecting each other with an insulating film interposed between the data signal line 101 and the intersecting line portion 102 in an intersecting region 104 that is at least a part of the intersecting line portion 102. Yes. The insulating film includes, for example, a silicon nitride film.
交差領域１０４には、少なくとも１つの開口部１０５が形成されている。 At least one opening 105 is formed in the intersection region 104.
開口部１０５の一端は、データ信号線１０１に対して、開口部１０５の他端の反対側に位置している。 One end of the opening 105 is located on the opposite side of the other end of the opening 105 with respect to the data signal line 101.
表示基板１００には、電極１０３が配置される表示領域１０６と、表示領域１０６とは異なった領域である非表示領域１０７とが形成されている。 On the display substrate 100, a display area 106 in which the electrodes 103 are arranged and a non-display area 107 which is an area different from the display area 106 are formed.
例えば、交差領域１０４が非表示領域１０７に重なるように、交差線部１０２が配置される。 For example, the intersecting line portion 102 is arranged so that the intersecting area 104 overlaps the non-display area 107.
交差領域１０４の一部は、短絡欠陥領域１０８である。短絡欠陥領域１０８には、短絡欠陥１０９が生じている。 A part of the intersection region 104 is a short-circuit defect region 108. A short-circuit defect 109 occurs in the short-circuit defect region 108.
図２は、表示基板のうち、レーザによって切断する領域を示す。 FIG. 2 shows a region cut by a laser in the display substrate.
図２において、図１に示される構成要素と同一の構成要素には同一の番号を付し、その説明を省略する。 2, the same components as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
交差領域１０４の一部は、第１領域１１０と第２領域１１１とである。第１領域１１０は、開口部１０５の一端を含む交差領域の一部の領域である。第１領域１１０は、例えば、データ信号線１０１が配置された方向に沿っている。第２領域１１１は、開口部１０５の他端を含む交差領域の一部の領域である。第２領域１１１は、例えば、データ信号線１０１が配置された方向に沿っている。 A part of the intersecting region 104 is a first region 110 and a second region 111. The first region 110 is a partial region of the intersecting region including one end of the opening 105. The first region 110 is, for example, along the direction in which the data signal line 101 is arranged. The second region 111 is a partial region of the intersecting region including the other end of the opening 105. The second region 111 is, for example, along the direction in which the data signal line 101 is arranged.
図３は、図２に示されたＡ−Ａに沿った断面を示す。 FIG. 3 shows a cross section along the line AA shown in FIG.
図４は、表示基板１００に生じた短絡欠陥を修正する手順を示す。 FIG. 4 shows a procedure for correcting a short-circuit defect that has occurred in the display substrate 100.
以下、図２と図３と図４とを参照して、表示基板１００に生じた短絡欠陥を修正する手順をステップごとに説明する。 Hereinafter, a procedure for correcting a short-circuit defect generated in the display substrate 100 will be described step by step with reference to FIGS. 2, 3, and 4.
ステップＳ４０１：開口部１０５の一端を通って第１領域１１０をレーザによって切断する。 Step S401: The first region 110 is cut by a laser through one end of the opening 105.
第１領域１１０を切断した後、処理はステップＳ４０２に進む。 After cutting the first region 110, the process proceeds to step S402.
ステップＳ４０２：短絡欠陥領域１０９が交差領域１０４の他部と切断された第１領域１１０との間に位置するように、開口部１０５の他端を通って第２領域１１１をレーザによって切断する。 Step S402: The second region 111 is cut by a laser through the other end of the opening 105 so that the short-circuit defect region 109 is positioned between the other part of the intersecting region 104 and the cut first region 110.
第２領域１１１を切断した後、処理は終了する。 After cutting the second area 111, the process ends.
上記手順によってマトリクス基板（表示基板１００）に生じた短絡欠陥を修正することによって切断部分の交差線部が昇華し、昇華した部分からバックライト光が抜ける場合がある。しかし、この場合でも、マトリクス基板にブラックマトリクスと呼ばれる遮光膜を有した対向基板を貼り合せることによって、バックライト光が抜けることを避けることができる。 By correcting the short-circuit defect generated in the matrix substrate (display substrate 100) by the above procedure, the cross line portion of the cut portion may be sublimated, and the backlight light may escape from the sublimated portion. However, even in this case, backlight light can be prevented from being lost by attaching a counter substrate having a light shielding film called a black matrix to the matrix substrate.
レーザは、例えば、ＹＡＧレーザ発振器から発せられた波長１０６４ｎｍのレーザである。なお、レーザを発するために用いられるレーザ発振器は、ＹＡＧレーザ発振器に限定されない。交差線部１０２を切断しえる限りは、任意のレーザ発振器が用いられる。 The laser is, for example, a laser having a wavelength of 1064 nm emitted from a YAG laser oscillator. The laser oscillator used for emitting the laser is not limited to the YAG laser oscillator. Any laser oscillator can be used as long as the intersecting line portion 102 can be cut.
なお、切断される領域は、第１領域１１０と第２領域１１１とに限定されない。例えば、短絡欠陥領域が２つの開口部（第１の開口部と第２の開口部）の間に位置している場合には、第１の開口部の一端と第２の開口部の一端とを通るように交差領域１０４を切断し、第１の開口部の他端と第２の開口部の他端とを通るように交差領域１０４を切断してもよい。短絡欠陥領域が交差線部から分離される限り、切断される領域は任意である。 Note that the region to be cut is not limited to the first region 110 and the second region 111. For example, when the short-circuit defect region is located between two openings (the first opening and the second opening), one end of the first opening and one end of the second opening The intersecting region 104 may be cut so as to pass through, and the intersecting region 104 may be cut so as to pass through the other end of the first opening and the other end of the second opening. As long as the short-circuit defect region is separated from the intersecting line portion, the region to be cut is arbitrary.
本発明の短絡欠陥修正方法によれば、少なくとも１つの開口部のうちの１つの一端を通って交差領域の一部を切断し、短絡欠陥が生じた短絡欠陥領域が交差領域の他部と切断された交差領域の一部との間に位置するように、少なくとも１つの開口部のうちの１つの他端を通って交差領域の他部を切断する。 According to the short-circuit defect correcting method of the present invention, a part of the intersection region is cut through one end of at least one opening, and the short-circuit defect region in which the short-circuit defect has occurred is cut from the other part of the intersection region. The other part of the crossing region is cut through the other end of one of the at least one opening so as to be positioned between the part of the crossing region formed.
したがって、短絡欠陥領域は交差線部から分離される。 Therefore, the short-circuit defect region is separated from the intersection line portion.
その結果、表示基板に生じた短絡欠陥が容易に修正され、表示基板の歩留まりを向上することができる。 As a result, the short-circuit defect generated in the display substrate can be easily corrected, and the display substrate yield can be improved.
図５は、本発明の実施の形態の表示装置５００の一部を示す。 FIG. 5 shows a part of the display device 500 according to the embodiment of the present invention.
図５において、図１または図２に示される構成要素と同一の構成要素には同一の番号を付し、その説明を省略する。 In FIG. 5, the same components as those shown in FIG. 1 or 2 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
表示装置５００は、表示基板１００とデータ信号線１０１と表示機構部１１２を含む。表示装置５００は、例えば、液晶表示装置である。 The display device 500 includes a display substrate 100, data signal lines 101, and a display mechanism unit 112. The display device 500 is a liquid crystal display device, for example.
表示機構部１１２は、例えば、表示装置に含まれる構成要素を制御する。表示機構部１１２は、例えばデータ信号線制御部である。データ信号線制御部は、データ信号線１０８を通る信号を制御する。 The display mechanism unit 112 controls, for example, components included in the display device. The display mechanism unit 112 is, for example, a data signal line control unit. The data signal line control unit controls a signal passing through the data signal line 108.
上記手順によって表示装置５００に含まれるマトリクス基板（表示基板１００）に生じた短絡欠陥を修正する際に、レーザー照射によって、交差線部１０２のみならず、対向基板の遮光膜を破壊する場合がある。この場合には、バックライト光が遮光されず、遮光されない部分は、輝点状欠陥として検出される。しかし、表示機構部１１２の配置を非表示領域１０７に重なるような位置にすることによって、バックライト光が漏れることを防止できる。 When correcting the short-circuit defect generated in the matrix substrate (display substrate 100) included in the display device 500 by the above procedure, not only the cross line portion 102 but also the light shielding film of the counter substrate may be destroyed by laser irradiation. . In this case, the backlight light is not shielded, and the part that is not shielded is detected as a bright spot defect. However, by arranging the display mechanism 112 so as to overlap the non-display area 107, the backlight light can be prevented from leaking.
なお、表示機構部１１２の配置は、非表示領域１０７に重なるような位置に限らない。表示機構部１１２の配置は、バックライト光が漏れることを防止できる限りは、任意の位置でよい。 Note that the arrangement of the display mechanism unit 112 is not limited to the position overlapping the non-display area 107. The display mechanism 112 may be arranged at any position as long as backlight light can be prevented from leaking.
図６は、開口部１０５とは異なった形状を有する開口部が形成された表示基板１００を示す。 FIG. 6 shows the display substrate 100 in which an opening having a shape different from that of the opening 105 is formed.
図６において、図１または図２に示される構成要素と同一の構成要素には同一の番号を付し、その説明を省略する。 In FIG. 6, the same components as those shown in FIG. 1 or 2 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
図６に示される表示基板は、少なくとも１つの開口部１１５を含む。開口部１１５の形状は、アルファベットの“Ｈ”形である。 The display substrate shown in FIG. 6 includes at least one opening 115. The shape of the opening 115 is an alphabet “H” shape.
開口部１１５は、図１に示される開口部１０５と比べると、レーザー切断の効率が良好である。開口部１１５の一端を通って交差領域を切断するほうが、開口部１０５の一端を通って交差領域を切断するよりも、切断する長さが短いからである。 The opening 115 has better laser cutting efficiency than the opening 105 shown in FIG. This is because cutting the crossing region through one end of the opening 115 is shorter than cutting the crossing region through one end of the opening 105.
なお、開口部の形状は、矩形およびアルファベットの“Ｈ”形に限らない。開口部の一端が、データ信号線に対して、開口部の他端の反対側に位置している限り、開口部の形状は、任意である。例えば、開口部の形状は、レーザー照射前の交差線部の配線抵抗、短絡欠陥を修正する際のレーザー照射の作業性、レーザー照射後の交差線部の配線抵抗を考慮して設計される。 The shape of the opening is not limited to the rectangular and alphabetic “H” shape. As long as one end of the opening is positioned on the opposite side of the other end of the opening with respect to the data signal line, the shape of the opening is arbitrary. For example, the shape of the opening is designed in consideration of the wiring resistance of the crossing line part before laser irradiation, the workability of laser irradiation when correcting a short-circuit defect, and the wiring resistance of the crossing line part after laser irradiation.
交差線部に開口部を形成する場合は、交差線部の配線抵抗を考慮する必要がある。交差線部（補助容量線および共通電極線）の配線抵抗が高くなると、表示装置の表示領域にシャドー不良が生じたり、表示領域の一部分にフリッカーと呼ばれる「ちらつき」が発生するからである。 When the opening is formed in the intersecting line portion, it is necessary to consider the wiring resistance of the intersecting line portion. This is because when the wiring resistance of the intersecting line portion (auxiliary capacitance line and common electrode line) increases, a shadow defect occurs in the display area of the display device, or “flicker” called flicker occurs in a part of the display area.
本発明の実施の形態の表示装置に対して、１２”ＳＸＧＡを用いてフリッカーの評価を行った。 Flicker was evaluated using 12 ″ SXGA for the display device according to the embodiment of the present invention.
開口部が形成されていない補助容量線（線幅５４５μｍ）を含む表示装置と、開口部が形成されている補助容量線（線幅５４５μｍ、開口部の横が６μｍ、開口部の縦が１０μｍである長方形の開口部を１８箇所形成）を含む表示装置とを比較した。開口部が形成されている補助容量線に生じた短絡欠陥は２つであり、２箇所の短絡欠陥修正が実施されている。２箇所の短絡欠陥修正が実施された場合には、切断箇所では、補助容量線の線幅は、５４５μｍ−（６μｍ×１８）−（２３μｍ×２）＝３９１μｍとなる。したがって、開口部が形成されている補助容量線の線幅は、開口部が形成されていない補助容量線と比べて、少なくとも７１．７％（３９１÷５４５×１００＝７１．７％）にまで低減する。しかし、開口部が形成されている補助容量線を含む表示装置に、シャドー不良やフリーカーは発生しなかった。 A display device including an auxiliary capacity line (line width 545 μm) in which no opening is formed, and an auxiliary capacity line (line width 545 μm, width of the opening is 6 μm, and length of the opening is 10 μm). Comparison was made with a display device including 18 rectangular openings. There are two short-circuit defects generated in the auxiliary capacitance line in which the opening is formed, and two short-circuit defects are corrected. When two short-circuit defects are corrected, the line width of the auxiliary capacitance line is 545 μm− (6 μm × 18) − (23 μm × 2) = 391 μm at the cut portion. Therefore, the line width of the auxiliary capacity line in which the opening is formed is at least 71.7% (391 ÷ 545 × 100 = 71.7%) as compared with the auxiliary capacity line in which the opening is not formed. To reduce. However, no shadow failure or free car occurred in the display device including the auxiliary capacitance line in which the opening is formed.
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。 As mentioned above, although this invention has been illustrated using preferable embodiment of this invention, this invention should not be limited and limited to this embodiment. It is understood that the scope of the present invention should be construed only by the claims. It is understood that those skilled in the art can implement an equivalent range based on the description of the present invention and the common general technical knowledge from the description of specific preferred embodiments of the present invention. Patents, patent applications, and documents cited herein should be incorporated by reference in their entirety, as if the contents themselves were specifically described herein. Understood.
１００ 表示基板
１０１ データ信号線
１０２ 交差線部
１０３ 電極
１０４ 交差領域
１０５ 開口部
１０６ 表示領域
１０７ 非表示領域
１０８ 短絡欠陥領域
１０９ 短絡欠陥
100 Display substrate 101 Data signal line 102 Crossing line portion 103 Electrode 104 Crossing region 105 Opening portion 106 Display region 107 Non-display region 108 Short-circuit defect region 109 Short-circuit defect
Claims (13)
前記交差線部は、前記少なくとも１つの電極に電気的に接続し、
前記交差線部と前記データ信号線とは、前記交差線部の少なくとも一部である交差領域で、互いに交差し、
前記交差領域には、少なくとも１つの開口部が形成されており、
前記少なくとも１つの開口部の一端は、前記データ信号線に対して、前記少なくとも１つの開口部の他端の反対側に位置する、表示基板。 A display substrate comprising a cross line portion crossing a data signal line and at least one electrode,
The intersecting line portion is electrically connected to the at least one electrode;
The intersection line portion and the data signal line intersect each other in an intersection region that is at least a part of the intersection line portion,
At least one opening is formed in the intersection region,
One end of the at least one opening is located on the opposite side of the other end of the at least one opening with respect to the data signal line.
前記交差線部の少なくとも一部である前記交差領域が前記非表示領域に重なるように、前記交差線部が配置される、請求項１に記載の表示基板。 The display substrate is formed with a display area in which the at least one electrode is disposed and a non-display area which is an area different from the display area,
The display substrate according to claim 1, wherein the intersecting line portion is arranged such that the intersecting region that is at least a part of the intersecting line portion overlaps the non-display region.
前記表示基板は、データ信号線に交差する交差線部と少なくとも１つの電極とを備え、
前記交差線部は、前記少なくとも１つの電極に電気的に接続し、
前記交差線部と前記データ信号線とは、前記交差線部の少なくとも一部である交差領域で、互いに交差し、
前記交差領域には、少なくとも１つの開口部が形成されており、
前記少なくとも１つの開口部の一端は、前記データ信号線に対して、前記少なくとも１つの開口部の他端の反対側に位置する、表示装置。 A display device comprising a display substrate and data signal lines,
The display substrate includes a cross line portion intersecting with the data signal line and at least one electrode,
The intersecting line portion is electrically connected to the at least one electrode;
The intersection line portion and the data signal line intersect each other in an intersection region that is at least a part of the intersection line portion,
At least one opening is formed in the intersection region,
One end of the at least one opening is located on the opposite side of the other end of the at least one opening with respect to the data signal line.
前記交差線部の少なくとも一部である前記交差領域が前記非表示領域に重なるように、前記交差線部が配置される、請求項７に記載の表示装置。 The display substrate is formed with a display area in which the at least one electrode is disposed and a non-display area which is an area different from the display area,
The display device according to claim 7, wherein the intersecting line portion is arranged so that the intersecting region that is at least a part of the intersecting line portion overlaps the non-display region.
前記表示機構部は、前記非表示領域に重なるように配置される、請求項８に記載の表示装置。 The display device further includes a display mechanism unit,
The display device according to claim 8, wherein the display mechanism unit is arranged to overlap the non-display area.
前記表示基板は、データ信号線に交差する交差線部と少なくとも１つの電極とを備え、
前記交差線部は、前記少なくとも１つの電極に電気的に接続し、
前記交差線部と前記データ信号線とは、前記交差線部の少なくとも一部である交差領域で、互いに交差し、
前記交差領域には、少なくとも１つの開口部が形成されており、
前記少なくとも１つの開口部の一端は、前記データ信号線に対して、前記少なくとも１つの開口部の他端の反対側に位置しており、
前記短絡欠陥は、前記表示基板のうち、前記交差領域の少なくとも一部である短絡欠陥領域に生じており、
前記短絡欠陥修正方法は、
前記少なくとも１つの開口部のうちの１つの一端を通って前記交差領域の一部を切断する工程と、
前記短絡欠陥領域が前記交差領域の他部と前記切断された交差領域の前記一部との間に位置するように、前記少なくとも１つの開口部のうちの前記１つの他端を通って前記交差領域の前記他部を切断する工程と
を包含する、短絡欠陥修正方法。 A short-circuit defect correcting method for correcting a short-circuit defect generated on a display substrate,
The display substrate includes a cross line portion intersecting with the data signal line and at least one electrode,
The intersecting line portion is electrically connected to the at least one electrode;
The intersection line portion and the data signal line intersect each other in an intersection region that is at least a part of the intersection line portion,
At least one opening is formed in the intersection region,
One end of the at least one opening is located on the opposite side of the other end of the at least one opening with respect to the data signal line,
The short-circuit defect occurs in a short-circuit defect region that is at least a part of the intersection region of the display substrate,
The short-circuit defect correcting method is:
Cutting a portion of the intersection region through one end of one of the at least one opening;
The intersection through the one other end of the at least one opening so that the short-circuit defect region is located between the other part of the intersection region and the portion of the cut intersection region. Cutting the other part of the region.
The method for correcting a short-circuit defect according to claim 12, wherein a part of the intersecting region is cut by a laser.
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