JP2005209759A - Semiconductor laser heating device and laser processing machine - Google Patents

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英文 尾松
Shinsuke Kurahashi
伸典 倉橋
Moriaki Kawasaki
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor heating device which improves efficiency in using power source and a transient response in a low current area to realize the accurate radiation reproductivity of laser power. <P>SOLUTION: According to the semiconductor device 1, a voltage output from a DC power source 6 is applied to a loop that is formed of a semiconductor laser 1 and a current detector 5 detecting a drive current. Then a current command value signal VS from a radiation command 7 is compared with a current detecting signal VC output from the current detector 5 at a feedback means 8 consisting of a delay means 10, a power calculating means 11, a comparison/control means 12, and adding means 13. The compared signal is fed back to the DC power source 6, where an output voltage from the DC power source 6 is changed to control the drive current of the semiconductor laser 1. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体レーザの光出力を用いて局部加熱をする半導体レーザ加熱装置に関するものである。   The present invention relates to a semiconductor laser heating apparatus that performs local heating using the optical output of a semiconductor laser.

近年、半導体レーザを用い、この光エネルギー出力を光ファイバーで伝達し、その光エネルギー出力を集光して、はんだ付けや樹脂材料の接合などに適した、非接触の局部加熱源として半導体レーザ加熱装置が広く使用され始めている。   In recent years, a semiconductor laser is used as a non-contact local heating source suitable for soldering or joining resin materials, etc., using a semiconductor laser, transmitting this optical energy output through an optical fiber, condensing the optical energy output Has begun to be widely used.

従来の半導体レーザ加熱装置は、半導体レーザに駆動電流を供給する直流電源と、半導体レーザへの駆動電流を最適な値に制限する電流制限回路とにより構成している(例えば、特許文献1参照)。   A conventional semiconductor laser heating apparatus includes a DC power supply that supplies a drive current to the semiconductor laser and a current limiting circuit that limits the drive current to the semiconductor laser to an optimum value (see, for example, Patent Document 1). .

図7は上記従来の半導体レーザ加熱装置の回路図を示しており、101は半導体レーザ、102は半導体レーザに流れる過大な電流を制限するトランジスタ、103は抵抗器、104は可変抵抗器、105は電圧を安定化するツェナーダイオード、106は半導体レーザに電力を供給する直流電源とで構成されている。   FIG. 7 shows a circuit diagram of the conventional semiconductor laser heating apparatus, wherein 101 is a semiconductor laser, 102 is a transistor for limiting an excessive current flowing through the semiconductor laser, 103 is a resistor, 104 is a variable resistor, and 105 is A Zener diode 106 that stabilizes the voltage is constituted by a DC power source that supplies power to the semiconductor laser.

以上のように構成された半導体レーザ加熱装置について、その動作を説明する。   The operation of the semiconductor laser heating apparatus configured as described above will be described.

直流電源106より出力された電圧は、抵抗器103とツェナーダイオード105および可変抵抗器104で分圧され、トランジスタ102のベースにベース電圧として供給され、トランジスタ102のエミッタからは安定した一定の電圧が半導体レーザに供給される。   The voltage output from the DC power source 106 is divided by the resistor 103, the Zener diode 105, and the variable resistor 104, and supplied as a base voltage to the base of the transistor 102. A stable and constant voltage is supplied from the emitter of the transistor 102. Supplied to the semiconductor laser.

直流電源106の出力電圧が変動した場合でもトランジスタ102のベース電圧にはツェナーダイオード105で安定化された一定の電圧が供給されるため、半導体レーザ101には電流が増加すること無く、安定した駆動電流が供給され、半導体レーザ101から照射されるレーザパワーも変動すること無く安定したレーザパワーが照射される。   Even when the output voltage of the DC power supply 106 fluctuates, a constant voltage stabilized by the Zener diode 105 is supplied to the base voltage of the transistor 102. Therefore, the semiconductor laser 101 is driven stably without increasing current. A current is supplied, and the laser power irradiated from the semiconductor laser 101 does not change, and a stable laser power is irradiated.

しかし、直流電源106より出力された電圧は、半導体レーザ101に安定した駆動電流を供給するためにトランジスタ102のコレクタとエミッタ間で電圧分担され、半導体レーザ101の駆動電流に比例した電力として熱に変換され消費される。   However, the voltage output from the DC power source 106 is shared between the collector and emitter of the transistor 102 in order to supply a stable driving current to the semiconductor laser 101, and is converted into heat as power proportional to the driving current of the semiconductor laser 101. Converted and consumed.

また、図8は別の従来における半導体レーザ加熱装置の回路図を示しており、101は半導体レーザ、112は半導体レーザより照射されたレーザ光を伝送する光ファイバー、113はレーザ光を集光する集光手段、114はレーザ光、109は電流を制御するトランジスタ、108は半導体レーザに流れる電流を検出する電流検出器、106は半導体レーザに電力を供給する直流電源、110は電流検出器の出力電圧と照射指令部の電流設定値とを比較するための電流比較器、111は半導体レーザに流れる電流値を設定する照射指令部とで構成されている。   FIG. 8 shows a circuit diagram of another conventional semiconductor laser heating apparatus, in which 101 is a semiconductor laser, 112 is an optical fiber that transmits laser light emitted from the semiconductor laser, and 113 is a collector that condenses the laser light. Optical means, 114 is laser light, 109 is a transistor for controlling current, 108 is a current detector for detecting current flowing in the semiconductor laser, 106 is a DC power supply for supplying power to the semiconductor laser, 110 is an output voltage of the current detector And a current comparator 111 for comparing the current setting value of the irradiation command unit and an irradiation command unit for setting a current value flowing through the semiconductor laser.

以上のように構成された半導体レーザ加熱装置について、その動作を説明する。   The operation of the semiconductor laser heating apparatus configured as described above will be described.

直流電源106より出力された電圧は、半導体レーザ101とトランジスタ109および電流検出器108とで構成された閉ループに印加される。照射指令部111より半導体レーザ101への電流値指令を電流比較器110へ出力すると、電流比較器110で電流
検出器108の出力電圧と比較され、電流比較器110よりトランジスタ109のベースに差電圧が出力され、半導体レーザ101の駆動電流が照射指令部111の指令電流値になるようにフィードバック制御される。
The voltage output from the DC power supply 106 is applied to a closed loop composed of the semiconductor laser 101, the transistor 109, and the current detector 108. When a current value command to the semiconductor laser 101 is output from the irradiation command unit 111 to the current comparator 110, the current comparator 110 compares the current value command with the output voltage of the current detector 108. Is output, and feedback control is performed so that the drive current of the semiconductor laser 101 becomes the command current value of the irradiation command unit 111.

そして、半導体レーザ101で発生したレーザ光は、光ファイバー112を経由して集光手段113で集光された後、照射指令部111の指令時間だけレーザ光114として加工ワーク115に照射され、加工ワーク115を加熱する。   The laser beam generated by the semiconductor laser 101 is condensed by the condensing unit 113 via the optical fiber 112, and then irradiated to the workpiece 115 as the laser beam 114 for the command time of the irradiation command unit 111. 115 is heated.

図8の半導体レーザ101のようなダイオード負荷の場合、直流電源106よりトランジスタ109を経由して半導体レーザ101に供給される注入電力と駆動電流の関係は図9に示すように、注入電力は駆動電流が増加するにつれ単調に増加するが駆動電流値が低いところでは注入電力が余分に多く必要になり、駆動電流指令に対して注入電力の制御が難しく、また、最悪の場合には駆動電流の振動や電流応答遅れなどが発生し、駆動電流の過渡応答性が阻害される場合がある。
特許第3256090号公報(第9頁、第3図)
In the case of a diode load such as the semiconductor laser 101 of FIG. 8, the relationship between the injection power supplied to the semiconductor laser 101 from the DC power source 106 via the transistor 109 and the drive current is as shown in FIG. As the current increases, it increases monotonously, but when the drive current value is low, an excessive amount of injected power is required, making it difficult to control the injected power with respect to the drive current command. Vibration and current response delay may occur, and the transient response of the drive current may be hindered.
Japanese Patent No. 3256090 (page 9, Fig. 3)

従来の半導体レーザ加熱装置は、このような回路で構成されているので、直流電源より出力された電圧は、半導体レーザとトランジスタで電圧分担され、トランジスタには半導体レーザの駆動電流に比例した電力が消費され、直流電源の出力電力が半導体レーザに一部しか供給されず、装置全体としての入力電源の利用効率が悪くなっていた。   Since the conventional semiconductor laser heating apparatus is configured with such a circuit, the voltage output from the DC power supply is shared by the semiconductor laser and the transistor, and the transistor has power proportional to the drive current of the semiconductor laser. As a result, only a part of the output power of the DC power supply is supplied to the semiconductor laser, and the utilization efficiency of the input power supply as the whole apparatus is deteriorated.

また、照射指令部の電流値指令と電流検出器の出力電圧を電流比較部で比較し、フィードバック制御するため、低電流指令の領域では過渡応答性が悪くなり、検出電流に誤差を発生する場合もあり、半導体レーザより照射されるレーザパワーの照射再現性が悪くなるという課題を有していた。   In addition, because the current value command of the irradiation command unit and the output voltage of the current detector are compared by the current comparison unit and feedback control is performed, the transient response becomes worse in the low current command region, causing an error in the detected current There is also a problem that the reproducibility of the laser power irradiated from the semiconductor laser deteriorates.

本発明は、電源の利用効率の向上と、低電流領域での過渡応答性を改善し、レーザパワーの正確な照射再現性を実現することができる半導体レーザ加熱装置を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a semiconductor laser heating apparatus capable of improving the power supply utilization efficiency, improving the transient response in a low current region, and realizing accurate irradiation reproducibility of laser power. .

上記課題を解決するために、本発明の請求項1にかかる半導体レーザ加熱装置は、少なくとも1個が直列に接続された半導体レーザと、前記半導体レーザに電力を供給する直流電源と、前記半導体レーザの駆動電流を検出する電流検出部と、前記半導体レーザの照射パワーに相当する電流値を予め設定する照射指令部とを備え、さらに前記照射指令部の電流設定値に基き前記電流検出部の出力電圧を前記直流電源にフィードバックするフィードバック手段を有したもので、この構成により従来のトランジスタなどの制御素子で消費されていた電力損失が無くなり、直流電源から出力される電力が半導体レーザに損失無くそのまま供給されるため、電源の利用効率が向上することとなる。また、従来のトランジスタなどの制御素子で消費されていた電力損失は熱の発生源となっていて、装置内部の温度上昇の要因となっていたがその発熱源が無くなり、冷却ファン等の冷却器の小型化が図れる。   In order to solve the above problems, a semiconductor laser heating apparatus according to claim 1 of the present invention includes a semiconductor laser in which at least one laser is connected in series, a DC power supply for supplying power to the semiconductor laser, and the semiconductor laser. A current detection unit that detects a drive current of the semiconductor laser, and an irradiation command unit that presets a current value corresponding to the irradiation power of the semiconductor laser, and further outputs the current detection unit based on a current setting value of the irradiation command unit It has a feedback means for feeding back the voltage to the DC power supply. With this configuration, the power loss consumed by the conventional control element such as a transistor is eliminated, and the power output from the DC power supply remains as it is without loss to the semiconductor laser. Since the power is supplied, the utilization efficiency of the power source is improved. In addition, the power loss consumed by control elements such as conventional transistors is a heat generation source, which has been a cause of temperature rise inside the device, but the heat source disappears, and a cooler such as a cooling fan. Can be miniaturized.

また、請求項2にかかる半導体レーザ加熱装置は、請求項1に記載の半導体レーザ加熱装置において、フィードバック手段は、照射指令部の照射信号を遅延する遅延手段と、前記遅延手段の出力信号に応じて半導体レーザに供給する電力を演算する電力演算手段と、前記遅延手段の出力信号と電流検出器の出力信号とを比較制御する比較制御手段と、前記
比較制御手段の出力信号と前記電力演算手段の出力信号とを加算する加算手段を有したもので、この構成により請求項1に記載の半導体レーザ加熱装置と同様な効果のほか、照射指令信号に応じて半導体レーザの初期注入電力を演算する電力演算手段により低電流指令の領域での過渡応答性が改善し、検出電流に誤差の発生が無くなり、半導体レーザより照射されるレーザパワーが正確に照射されることとなる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the semiconductor laser heating device according to the first aspect, wherein the feedback means responds to a delay means for delaying the irradiation signal of the irradiation command section and an output signal of the delay means. Power calculating means for calculating the power supplied to the semiconductor laser, comparison control means for comparing and controlling the output signal of the delay means and the output signal of the current detector, the output signal of the comparison control means and the power calculating means In addition to the same effect as that of the semiconductor laser heating device according to claim 1, this configuration calculates the initial injection power of the semiconductor laser in accordance with the irradiation command signal. Transient response in the low current command area is improved by the power calculation means, no error occurs in the detected current, and the laser power emitted from the semiconductor laser is accurate. Isa is it to become.

また、請求項3にかかる半導体レーザ加熱装置は、請求項1または2に記載の半導体レーザ加熱装置において、直流電源は、加算手段の出力信号に応じて出力電圧を変化する定電圧形直流電源としたもので、この構成により請求項1または2記載の半導体レーザ加熱装置と同様な効果のほか、直流電源を定電圧形直流電源にしたことにより直流電源へ入力される交流電源の入力電圧が変動しても、直流電源より出力される電圧が変動すること無く、半導体レーザへの駆動電流が安定することとなる。   According to a third aspect of the present invention, there is provided the semiconductor laser heating device according to the first or second aspect, wherein the DC power source is a constant voltage type DC power source that changes an output voltage in accordance with an output signal of the adding means. Thus, in addition to the same effects as those of the semiconductor laser heating device according to claim 1 or 2, the configuration changes the input voltage of the AC power source that is input to the DC power source because the DC power source is a constant voltage type DC power source. Even so, the voltage output from the DC power supply does not fluctuate, and the drive current to the semiconductor laser becomes stable.

また、請求項4にかかる半導体レーザ加熱装置は、請求項1から3のいずかに記載の半導体レーザ加熱装置において、直流電源は、制御素子のスイッチングにより出力電圧を変化する定電圧形スイッチング直流電源としたもので、この構成により請求項1から3のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置と同様な効果のほか、直流電源の制御素子の損失が低減すると共に直流電源への入力電流がさらに低減し、直流電源の効率がさらに向上することとなる。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the semiconductor laser heating device according to any one of the first to third aspects, wherein the DC power source is a constant voltage switching DC that changes the output voltage by switching of the control element. According to this configuration, in addition to the same effect as the semiconductor laser heating device according to any one of claims 1 to 3, the loss of the control element of the DC power supply is reduced and the input current to the DC power supply is further increased. This reduces the efficiency of the DC power supply.

また、請求項5にかかる半導体レーザ加熱装置は、請求項1から4のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置において、直流電源は、照射指令部のレーザ照射信号および停止信号で直流電源よりの出力電圧の照射および停止をする定電圧形スイッチング直流電源としたもので、この構成により請求項1から4のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置と同様な効果のほか、半導体レーザを照射しない時に直流電源の動作を停止し、半導体レーザへの電圧供給を完全に停止すことができ、不慮の事故によるレーザの誤照射を防止することができ安全性を向上することとなる。   The semiconductor laser heating apparatus according to claim 5 is the semiconductor laser heating apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the DC power supply is an output from the DC power supply by a laser irradiation signal and a stop signal of the irradiation command section. A constant voltage switching DC power supply for irradiating and stopping the voltage is provided. With this configuration, in addition to the same effect as the semiconductor laser heating device according to any one of claims 1 to 4, a direct current is applied when the semiconductor laser is not irradiated. The operation of the power supply can be stopped and the supply of voltage to the semiconductor laser can be completely stopped, so that accidental accidental laser irradiation can be prevented and safety can be improved.

また、請求項6にかかる半導体レーザ加熱装置は、請求項1から5のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置において、加算手段の出力信号が所定値を超えた場合に、警報の発生と半導体レーザ加熱装置本体の運転を停止するインターロック動作のうち少なくとも一方を行う警報手段を有したもので、この構成により請求項1から5のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置と同様な効果のほか、半導体レーザの素子の劣化、素子の故障等による半導体レーザへの供給されるエネルギーの低下などの電力の供給が監視でき、半導体レーザよりの不安定なレーザの照射を監視することができる。   According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor laser heating device according to any one of the first to fifth aspects, wherein an alarm is generated and the semiconductor laser when the output signal of the adding means exceeds a predetermined value. In addition to the same effect as the semiconductor laser heating device according to any one of claims 1 to 5, the alarm means for performing at least one of the interlock operations for stopping the operation of the heating device main body, It is possible to monitor the supply of electric power such as a decrease in energy supplied to the semiconductor laser due to deterioration of the element of the semiconductor laser, failure of the element, etc., and it is possible to monitor irradiation of an unstable laser from the semiconductor laser.

また、請求項7にかかる半導体レーザ加熱装置は、請求項1から6のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置において、電流検出部の出力信号が所定値に達しない場合に、警報の発生と半導体レーザ加熱装置本体の運転を停止するインターロック動作のうち少なくとも一方を行う警報手段を有したたもので、この構成により請求項1から6のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置と同様な効果のほか、半導体レーザの照射時に電流検出部の故障等により電流検出部の出力電圧が検出できない場合に半導体レーザに流れる過電流を防止することができ半導体レーザへの電力供給の監視がさらに向上することができる。   According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a semiconductor laser heating device according to any one of the first to sixth aspects, wherein an alarm is generated and a semiconductor is generated when an output signal of the current detection unit does not reach a predetermined value. An alarm means for performing at least one of interlock operations for stopping the operation of the laser heating apparatus main body is provided, and this configuration has the same effect as the semiconductor laser heating apparatus according to any one of claims 1 to 6. In addition, if the output voltage of the current detection unit cannot be detected due to a failure of the current detection unit during irradiation of the semiconductor laser, an overcurrent flowing through the semiconductor laser can be prevented, and the power supply monitoring to the semiconductor laser can be further improved. Can do.

また、請求項8にかかる半導体レーザ加熱装置は、請求項1から7のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置において、半導体レーザのレーザ光を伝送する光ファイバーと、前記レーザ光を集光して加工物に照射する集光手段とを有したもので、この構成により請求項1から7のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置と同様な効果のほか、光ファイバーで半導体レーザのレーザ光を伝送することにより加工ワークへのレーザ照射の操作性が向上し、レーザ加工の信頼性を向上することができる。   Further, a semiconductor laser heating device according to claim 8 is the semiconductor laser heating device according to any one of claims 1 to 7, wherein an optical fiber for transmitting a laser beam of the semiconductor laser and the laser beam are condensed and processed. In addition to the same effect as the semiconductor laser heating device according to any one of claims 1 to 7, this configuration transmits laser light of the semiconductor laser through an optical fiber. As a result, the operability of laser irradiation to the workpiece can be improved, and the reliability of laser processing can be improved.

また、請求項9にかかるレーザ加工機は、加工物を乗せる加工テーブルと、前記加工テーブルの移動とレーザ光の集光手段のうち少なくとも一方を移動する駆動手段と、前記駆動手段を制御する数値制御手段と、レーザ光を発生する請求項1から8のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置とを備えたもので、この構成により請求項1から8のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置と同様な効果のほか、数値制御手段により半導体レーザ加熱装置が統括的に制御され、レーザ加工の信頼性が向上すると共に加工ワークの不良品の混入を防止することができる。   According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a laser processing machine, a processing table on which a workpiece is placed, a driving unit that moves at least one of the movement of the processing table and the laser beam condensing unit, and a numerical value that controls the driving unit. A semiconductor laser heating device according to any one of claims 1 to 8, comprising control means and a semiconductor laser heating device according to any one of claims 1 to 8 that generates laser light. In addition to the same effect, the semiconductor laser heating device is comprehensively controlled by the numerical control means, so that the reliability of laser processing can be improved and mixing of defective products of the workpiece can be prevented.

以上のように、本発明は従来のトランジスタなどの制御素子で消費されていた電力損失が無くなり、直流電源から出力される電力が半導体レーザに損失無くそのまま供給されるため、入力電源の利用効率が向上することとなる。また、従来のトランジスタなどの制御素子で消費されていた電力損失は熱の発生源となっていて、装置内部の温度上昇の要因となっていたがその発熱源が無くなり、冷却ファン等の冷却器の小型化を図ることができる。   As described above, the present invention eliminates the power loss consumed by the conventional control elements such as transistors, and the power output from the DC power supply is supplied to the semiconductor laser as it is without any loss. Will be improved. In addition, the power loss consumed by control elements such as conventional transistors is a heat generation source, which has been a cause of temperature rise inside the device, but the heat source disappears, and a cooler such as a cooling fan. Can be miniaturized.

以下、本発明を実施するための最良の形態について、図1から図6を用いて詳細に説明する。   Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

(実施の形態1)
図1は本発明の半導体レーザ加熱装置の実施の形態におけるブロック図である。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a semiconductor laser heating apparatus of the present invention.

図1において、1は半導体レーザ、2はレーザ光を伝送する光ファイバー、3はレーザ光を集光する集光手段、4はレーザ光、5は半導体レーザの駆動電流を検出する電流検出部、6は半導体レーザへ電力を供給する直流電源、7は半導体レーザの照射パワーに相当する電流値を予め設定する照射指令部、8は遅延手段10と電力演算手段11と比較制御手段12と加算手段13とで構成されるフィードバック手段、15は加算手段13の出力信号が所定値を超えた場合や電流検出部5の出力信号が所定値に達しない場合に運転を停止させる警報手段、とで構成する半導体レーザ加熱装置を示す。18は加工ワークである。   In FIG. 1, 1 is a semiconductor laser, 2 is an optical fiber for transmitting laser light, 3 is a condensing means for condensing the laser light, 4 is laser light, 5 is a current detector for detecting the driving current of the semiconductor laser, 6 Is a DC power supply for supplying power to the semiconductor laser, 7 is an irradiation command unit for presetting a current value corresponding to the irradiation power of the semiconductor laser, 8 is a delay means 10, a power calculation means 11, a comparison control means 12 and an addition means 13 And feedback means 15 constituted by the alarm means for stopping the operation when the output signal of the adding means 13 exceeds a predetermined value or when the output signal of the current detector 5 does not reach the predetermined value. 1 shows a semiconductor laser heating device. Reference numeral 18 denotes a workpiece.

以上のように構成された半導体レーザ加熱装置について、その動作を説明する。   The operation of the semiconductor laser heating apparatus configured as described above will be described.

直流電源6より出力された電圧は、1個または2個以上直列に接続された半導体レーザ1と、半導体レーザ1の駆動電流を検出する電流検出部5とで構成される閉ループに印加される。照射指令部7より半導体レーザ1への電流指令値信号VSを出力すると、遅延手段10と電力演算手段11と比較制御手段12と加算手段13とで構成されるフィードバック手段8で電流検出部5の出力電圧と比較後、直流電源6に入力され、半導体レーザ1の駆動電流が照射指令部7の指令電流値になるようにフィードバック制御され、半導体レーザ1より照射指令部7の指令時間だけレーザ光が発生し、光ファイバー2を経由して集光手段3で集光されて加工ワーク18に照射される。   The voltage output from the DC power source 6 is applied to a closed loop including one or more semiconductor lasers 1 connected in series and a current detection unit 5 that detects a driving current of the semiconductor laser 1. When the current command value signal VS to the semiconductor laser 1 is output from the irradiation command unit 7, the feedback unit 8 including the delay unit 10, the power calculation unit 11, the comparison control unit 12, and the addition unit 13 outputs the current detection unit 5. After comparison with the output voltage, it is input to the DC power source 6 and feedback controlled so that the drive current of the semiconductor laser 1 becomes the command current value of the irradiation command unit 7, and the laser beam from the semiconductor laser 1 for the command time of the irradiation command unit 7 Is generated and condensed by the light collecting means 3 through the optical fiber 2 and irradiated onto the workpiece 18.

フィードバック手段8は、遅延手段10で照射指令部7の急激な電流指令値信号VSの変化を滑らかな変化に変換し、半導体レーザ1の駆動電流の過渡的なオーバーシュートを防止する働きを行っている。遅延信号10の出力信号である電流指令値信号V2に応じて半導体レーザ1に初期注入電力に相当する電流値を演算し出力する電力演算手段11と、遅延手段10の出力信号である電流指令値信号V2と電流検出器5の出力信号である電流検出信号VCとを比較して両者の差を算出し出力する比較制御手段12と、比較制御手段
12の出力信号と電力演算手段11の出力信号とを加算して直流電源6へ出力する加算手段13とを備え、直流電源6は、加算手段13の出力信号に応じた電力を供給するようにしたものである。
The feedback means 8 performs a function of converting a sudden change in the current command value signal VS of the irradiation command section 7 into a smooth change by the delay means 10 and preventing a transient overshoot of the driving current of the semiconductor laser 1. Yes. A power calculation unit 11 that calculates and outputs a current value corresponding to the initial injection power to the semiconductor laser 1 in accordance with a current command value signal V2 that is an output signal of the delay signal 10, and a current command value that is an output signal of the delay unit 10 The comparison control means 12 that compares the signal V2 with the current detection signal VC that is the output signal of the current detector 5 and calculates and outputs the difference between them, the output signal of the comparison control means 12, and the output signal of the power calculation means 11 Is added to the DC power source 6, and the DC power source 6 supplies power according to the output signal of the adding unit 13.

また、照射指令部7は、半導体レーザ1の照射を停止する場合、直流電源6より半導体レーザ1への電力の供給を停止できるように電流指令値信号VSとは別に直流電源6に照射停止信号を出力して、不慮の事故によるレーザ光の誤照射を防止し、安全性を向上するようにしている。   Further, when stopping the irradiation of the semiconductor laser 1, the irradiation command unit 7 sends an irradiation stop signal to the DC power supply 6 separately from the current command value signal VS so that the supply of power from the DC power supply 6 to the semiconductor laser 1 can be stopped. To prevent laser light from being accidentally irradiated due to an accident and to improve safety.

警報手段15は、レーザ照射中に加算手段13の出力信号V4が所定値を超えた場合やレーザ照射開始時に電流検出部5の出力信号である電流検出信号VCが所定値に達しない場合にアラーム表示灯の点灯や警報を出すか、または装置本体の運転を停止するインターロック動作を行うか、またはその両方を行うものである。   The alarm means 15 gives an alarm when the output signal V4 of the adding means 13 exceeds a predetermined value during laser irradiation, or when the current detection signal VC, which is the output signal of the current detector 5 at the start of laser irradiation, does not reach the predetermined value. The display lamp is turned on, an alarm is issued, an interlock operation for stopping the operation of the apparatus main body is performed, or both are performed.

図2は定電圧形スイッチング直流電源の構成一例を示す構成図である。   FIG. 2 is a block diagram showing an example of the configuration of a constant voltage switching DC power supply.

図2において、21は交流電源を整流する1次整流ダイオード、22は1次整流ダイオードの整流電圧を平滑する1次平滑用コンデンサ、23は直流電圧をスイッチングして高周波の交流電圧に変換するスイッチング形制御素子、24は交流電圧を変圧するトランス、25はトランスの出力電圧を整流する2次整流ダイオード、26は2次整流電圧を平滑する2次平滑用コンデンサ、27は直流電圧を検出する電圧検出部、28は電圧指令値と電圧検出部の出力電圧を比較してスイッチング制御素子にパルス信号を出力する比較制御部、29はスイッチング形制御素子23のパルス信号を制御するスイッチ素子である。   In FIG. 2, 21 is a primary rectifier diode that rectifies an AC power supply, 22 is a primary smoothing capacitor that smoothes the rectified voltage of the primary rectifier diode, and 23 is a switching that switches a DC voltage to convert it into a high-frequency AC voltage. A control element, 24 is a transformer for transforming an AC voltage, 25 is a secondary rectifier diode for rectifying the output voltage of the transformer, 26 is a secondary smoothing capacitor for smoothing the secondary rectified voltage, and 27 is a voltage for detecting a DC voltage. A detecting unit 28 compares the voltage command value with the output voltage of the voltage detecting unit and outputs a pulse signal to the switching control element, and 29 is a switching element that controls the pulse signal of the switching type control element 23.

以上のように構成された定電圧形スイッチング直流電源について、その動作を説明する。   The operation of the constant voltage switching DC power supply configured as described above will be described.

交流電源は、1次整流ダイオード21と1次平滑用コンデンサ22により整流平滑されて直流電圧としてトランス24とスイッチング形制御素子23に印加される。一方、比較制御部28に電圧指令が入力されると同時にスイッチ素子29に定電圧スイッチング直流電源の運転開始信号が入力されると、比較制御部28よりパルス信号がスイッチング形制御素子23に出力され、トランス24の1次コイルが励磁され2次コイルに交流電圧を誘起する。その交流電圧は、2次整流ダイオード25と2次平滑用コンデンサ26で整流平滑され直流電圧として出力される。その出力電圧は、電圧検出部27より比較制御部28にフィードバックされ出力電圧が電圧指令の電圧値になるように制御される。   The AC power is rectified and smoothed by the primary rectifier diode 21 and the primary smoothing capacitor 22 and applied to the transformer 24 and the switching control element 23 as a DC voltage. On the other hand, when an operation start signal for the constant voltage switching DC power supply is input to the switch element 29 at the same time as the voltage command is input to the comparison control unit 28, a pulse signal is output from the comparison control unit 28 to the switching type control element 23. The primary coil of the transformer 24 is excited to induce an AC voltage in the secondary coil. The AC voltage is rectified and smoothed by the secondary rectifier diode 25 and the secondary smoothing capacitor 26 and output as a DC voltage. The output voltage is fed back from the voltage detection unit 27 to the comparison control unit 28 and controlled so that the output voltage becomes the voltage value of the voltage command.

上記のように、直流電源6を制御素子のスイッチングにより出力電圧を変化する定電圧形スイッチング直流電源にすることにより、直流電源6の制御素子の損失が低減すると共に直流電源6への入力電流がさらに低減し、直流電源の効率がさらに向上することができる。   As described above, by making the DC power supply 6 a constant voltage switching DC power supply that changes the output voltage by switching the control element, the loss of the control element of the DC power supply 6 is reduced and the input current to the DC power supply 6 is reduced. Furthermore, the efficiency of the DC power supply can be further improved.

なお、直流電源6を加算手段13からの出力信号V4に応じて出力電圧を変化する定電圧形直流電源とすることにより、直流電源6へ入力される交流電源の入力電圧が変動しても、直流電源6より出力される電圧が変動すること無く、半導体レーザへの駆動電流が安定することができる。   In addition, even if the input voltage of the AC power source input to the DC power source 6 fluctuates by making the DC power source 6 a constant voltage type DC power source that changes the output voltage according to the output signal V4 from the adding means 13, The drive current to the semiconductor laser can be stabilized without the voltage output from the DC power supply 6 changing.

図3は、図1における電力演算手段11と比較制御手段12と加算手段13の構成の一例を示す回路図である。   FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of the configuration of the power calculation means 11, the comparison control means 12, and the addition means 13 in FIG.

演算増幅器33と34が電力演算手段11で、可変抵抗器VR1,VR2は増幅器のオ
フセットとゲインに相当し、予め半導体レーザに注入する駆動電流と注入電力の関係曲線(図9参照)に近似された状態で設定されていて、照射指令部7から遅延手段10を経て電流指令値信号V2が入力されると初期注入電力に応じた電力指令値信号VPが演算され、加算手段13に出力される。
The operational amplifiers 33 and 34 are the power calculation means 11, and the variable resistors VR1 and VR2 correspond to the offset and gain of the amplifier, and are approximated in advance by a relationship curve (see FIG. 9) between the drive current injected into the semiconductor laser and the injected power. When the current command value signal V2 is input from the irradiation command section 7 through the delay means 10, the power command value signal VP corresponding to the initial injection power is calculated and output to the adding means 13. .

また、比較制御部12は演算増幅器31を備え、照射指令部7から遅延手段10を経て電流指令値信号V2と電流検出部5の電流検出信号VCとを比較し、その差電圧は積分回路を経由して信号V3として加算手段13へ出力する。加算手段13は、演算増幅器32を備え、比較制御手段12の出力信号V3と電力指令値信号VPとを加算し、直流電源6に出力信号V4として出力する。   Further, the comparison control unit 12 includes an operational amplifier 31, compares the current command value signal V2 with the current detection signal VC of the current detection unit 5 from the irradiation command unit 7 via the delay means 10, and the difference voltage is determined by an integration circuit. Then, the signal is output to the adding means 13 as a signal V3. The adding means 13 includes an operational amplifier 32, adds the output signal V3 of the comparison control means 12 and the power command value signal VP, and outputs the result to the DC power source 6 as an output signal V4.

なお、電力指令値信号VPは、駆動電流に対する注入電力を想定し、電流指令値信号V2の大きさによりレーザ照射の初期に直流電源6より半導体レーザ1に入力する電力指令のレベル(大きさ)に相当する電圧値である。また、電力演算手段11では、初期(レーザ照射開始時)の注入電力に応じた電力指令値信号VPが演算され、照射中も一定の電力指令値信号VPが出力される。そして、照射中、比較制御手段12の出力で補正され直流電源6への電力指令は変化する。   Note that the power command value signal VP assumes the injection power for the drive current, and the level (magnitude) of the power command input to the semiconductor laser 1 from the DC power source 6 at the initial stage of laser irradiation according to the magnitude of the current command value signal V2. Is a voltage value corresponding to. The power calculation means 11 calculates a power command value signal VP corresponding to the initial injected power (at the start of laser irradiation), and outputs a constant power command value signal VP during irradiation. During irradiation, the power command to the DC power supply 6 is corrected by the output of the comparison control means 12.

図4は、電流指令に対する初期の電力指令の関係図であり、従来例と本実施の形態とを示している。本実施の形態について、電流指令とは照射指令部7の出力信号である電流指令値信号VSで、電力指令とは加算手段13からの出力信号V4をいう。また、従来例については、電流指令とは照射指令部111の出力信号である指令電流値で、電力指令とは電流比較器110の出力信号でトランジスタ109のベース電圧に相当する電圧をいう。   FIG. 4 is a relationship diagram of the initial power command with respect to the current command, and shows a conventional example and the present embodiment. In the present embodiment, the current command is a current command value signal VS that is an output signal of the irradiation command unit 7, and the power command is an output signal V 4 from the adding means 13. In the conventional example, the current command is a command current value that is an output signal of the irradiation command unit 111, and the power command is a voltage that is an output signal of the current comparator 110 and corresponds to the base voltage of the transistor 109.

従来例と本実施の形態の違いは電流指令の低いところでは電力指令がP1だけオフセットしている点で、オフセットすることにより図9に示す直流電源6より半導体レーザに注入される注入電力と駆動電流の関係曲線に近似できる。なお、電力演算手段11でP1をオフセットされているため、電流指令に対し電力指令値信号VPと出力信号V4の両方が関係する。   The difference between the conventional example and the present embodiment is that the power command is offset by P1 when the current command is low. The offset and the injected power injected into the semiconductor laser from the DC power source 6 shown in FIG. It can be approximated to a current relationship curve. Since P1 is offset by the power calculation means 11, both the power command value signal VP and the output signal V4 are related to the current command.

図5は、遅延手段の構成の一例を示す回路図であり、抵抗器R1とコンデンサC1と演算増幅器51を備え、照射指令部7の電流指令値信号VSが入力されると抵抗器R1とコンデンサC1による積分時間に相当する遅延され、電流指令値信号V2として出力される。遅延手段10では、照射指令部7の急激な電流指令の変化を滑らかな変化に変換し半導体レーザの駆動電流の過渡的なオーバーシュートを防止する働きを行っている。   FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of the configuration of the delay means, which includes a resistor R1, a capacitor C1, and an operational amplifier 51. When the current command value signal VS of the irradiation command section 7 is input, the resistor R1 and the capacitor Delayed corresponding to the integration time by C1, and output as a current command value signal V2. The delay means 10 functions to prevent a transient overshoot of the driving current of the semiconductor laser by converting a sudden change in current command of the irradiation command unit 7 into a smooth change.

以上のように、本実施の形態によれば、電流検出部5の出力電圧である電流検出信号VCを直流電源6にフィードバックすることにより従来のトランジスタなどの制御素子で消費されていた電力損失が無くなり、直流電源6から出力される電力が半導体レーザ1に損失無くそのまま供給されるため、電源の利用効率が向上することとなる。また、従来のトランジスタなどの制御素子で消費されていた電力損失は熱の発生源となっていて、装置内部の温度上昇の要因となっていたがその発熱源が無くなり、冷却ファン等の冷却器の小型化を実現することができる。   As described above, according to the present embodiment, the power loss consumed by the conventional control element such as a transistor is reduced by feeding back the current detection signal VC, which is the output voltage of the current detection unit 5, to the DC power source 6. Since the power output from the DC power supply 6 is lost and supplied to the semiconductor laser 1 without loss, the power supply utilization efficiency is improved. In addition, the power loss consumed by control elements such as conventional transistors is a heat generation source, which has been a cause of temperature rise inside the device, but the heat source disappears, and a cooler such as a cooling fan. Downsizing can be realized.

また、照射信号(電流指令値信号VS)を遅延する遅延手段10と初期注入電力に応じた電力指令値信号VPを演算する電力演算手段11と加算手段13とを設けることにより、照射指令信号(電流指令値信号VS)に応じて半導体レーザ1の初期注入電力が変化し、低電流指令の領域での過渡応答性が改善でき、電流検出部5における検出電流に誤差の発生が無くなり、半導体レーザより照射されるレーザパワーが正確に照射することができる。   Further, by providing the delay means 10 for delaying the irradiation signal (current command value signal VS), the power calculation means 11 for calculating the power command value signal VP corresponding to the initial injection power, and the adding means 13, the irradiation command signal ( The initial injection power of the semiconductor laser 1 changes in accordance with the current command value signal VS), the transient response in the region of the low current command can be improved, and no error occurs in the detection current in the current detection unit 5, and the semiconductor laser The laser power to be irradiated can be accurately irradiated.

ところで、本実施の形態における半導体レーザ加熱装置には、加算手段13の出力信号V4が所定値を超えた場合や電流検出部の出力信号である電流検出信号VCが所定値に達しない場合に警報作動や半導体レーザ1の運転を停止させるインターロック動作などが設けられていて、半導体レーザ1よりのレーザ光の異常照射を監視することができる。また、半導体レーザ1の照射時に電流検出部5の故障等により電流検出部5から出力される電流検出信号VCが検出できない場合に発生する半導体レーザ1に流れる過電流を防止することができ、半導体レーザ1への電力供給を監視することができる。この結果、半導体レーザ加熱装置よりの不安定な出力のレーザ光の出射を防止することができる。   By the way, the semiconductor laser heating device according to the present embodiment provides an alarm when the output signal V4 of the adding means 13 exceeds a predetermined value or when the current detection signal VC that is the output signal of the current detection unit does not reach the predetermined value. An interlock operation for stopping the operation or the operation of the semiconductor laser 1 is provided, and abnormal irradiation of the laser light from the semiconductor laser 1 can be monitored. Further, it is possible to prevent an overcurrent flowing in the semiconductor laser 1 that is generated when the current detection signal VC output from the current detection unit 5 cannot be detected due to a failure of the current detection unit 5 or the like during irradiation of the semiconductor laser 1. The power supply to the laser 1 can be monitored. As a result, it is possible to prevent emission of laser light with an unstable output from the semiconductor laser heating device.

なお、以上の構成からなる半導体レーザ加熱装置では、各構成に制御素子を設けて、各信号処理または各構成において制御するようにしたが、半導体レーザ加熱装置に、各構成に接続されるCPUを設け、各処理を統括的に制御するようにしても良い。   In the semiconductor laser heating apparatus having the above configuration, each component is provided with a control element and controlled in each signal processing or each configuration. However, the semiconductor laser heating apparatus includes a CPU connected to each configuration. It is also possible to control each process centrally.

図6は、本発明の実施の形態におけるレーザ加工機の構成図を示している。   FIG. 6 shows a block diagram of the laser beam machine in the embodiment of the present invention.

レーザ加工機は、加工ワーク64を乗せる加工テーブル63と、加工テーブル63の移動またはレーザ光を集光する集光手段67の少なくとも一方を移動する駆動手段62と、駆動手段62を制御する数値制御手段61と、前述した半導体レーザ加熱装置65と、光ファイバー66とにより構成されている。   The laser processing machine includes a processing table 63 on which a processing work 64 is placed, a driving unit 62 that moves at least one of a processing table 63 or a condensing unit 67 that condenses laser light, and numerical control that controls the driving unit 62. The unit 61, the semiconductor laser heating device 65 described above, and the optical fiber 66 are included.

半導体レーザ加熱装置65より出射されたレーザ光は、光ファイバー66で伝送され集光手段67により集光されて、加工ワーク64にレーザ光68が照射され、加工が開始される。それと同時に数値制御手段61により駆動手段62に指令が出力され、加工テーブル63または集光手段67の少なくとも一方を動作させて加工ワーク64を加熱する。   The laser light emitted from the semiconductor laser heating device 65 is transmitted by the optical fiber 66 and condensed by the condensing means 67, and the processing workpiece 64 is irradiated with the laser light 68 to start processing. At the same time, a command is output to the drive means 62 by the numerical control means 61, and at least one of the machining table 63 or the light collecting means 67 is operated to heat the workpiece 64.

前記レーザ加工機によれば、半導体レーザへ供給している電源障害や半導体レーザの素子の劣化、素子の故障等が発生した場合、また、半導体レーザの経時変化によるパワー低下が発生した場合でも、半導体レーザ加熱装置より不安定なレーザ光の照射を防止し、レーザ光の出力パワーの正確な照射が再現でき、数値制御手段により半導体レーザ加熱装置が統括的に制御されことにより、レーザ加工の信頼性が向上すると共に加工ワークへの不良品の混入を防止することができる。   According to the laser processing machine, when a power failure supplied to the semiconductor laser, a deterioration of the element of the semiconductor laser, a failure of the element, or the like occurs, or even when a power drop due to the aging of the semiconductor laser occurs, Laser beam irradiation that is more unstable than the semiconductor laser heating device can be prevented, accurate irradiation of the output power of the laser beam can be reproduced, and the semiconductor laser heating device is comprehensively controlled by the numerical control means, thereby ensuring the reliability of laser processing. As a result, it is possible to prevent defective products from being mixed into the workpiece.

本発明の半導体レーザ加熱装置は、電源の利用効率の向上と、低電流領域での過渡応答性を改善し、レーザパワーの正確な照射再現性を実現することができ、半導体レーザの光出力を用いて局部加熱をする等として産業上有用である。   The semiconductor laser heating apparatus of the present invention can improve the power source utilization efficiency and the transient response in the low current region, and can realize the accurate irradiation reproducibility of the laser power, and the light output of the semiconductor laser. It is industrially useful for local heating using it.

本発明の実施の形態における半導体レーザ加熱装置のブロック図Block diagram of a semiconductor laser heating apparatus in an embodiment of the present invention 同実施の形態における半導体レーザ加熱装置の定電圧形スイッチング電源構成図Constant voltage switching power supply configuration diagram of the semiconductor laser heating device in the same embodiment 同実施の形態における半導体レーザ加熱装置の電力演算手段と比較制御手段と加算手段の回路構成図Circuit configuration diagram of power calculation means, comparison control means, and addition means of semiconductor laser heating apparatus in the same embodiment 電流指令に対する初期の電力指令の関係図Relationship diagram of initial power command with respect to current command 同実施の形態における半導体レーザ加熱装置の遅延手段の回路構成図Circuit configuration diagram of delay means of semiconductor laser heating device in same embodiment 同実施の形態におけるレーザ加工機の構成図Configuration diagram of laser beam machine in the embodiment 従来における半導体レーザ加熱装置の回路構成図Circuit diagram of a conventional semiconductor laser heating device 従来における別の半導体レーザ加熱装置の回路構成図Circuit diagram of another conventional semiconductor laser heating device 半導体レーザに対する注入電力と駆動電流の関係図Relationship diagram between injection power and drive current for semiconductor laser

符号の説明Explanation of symbols

1 半導体レーザ
2 光ファイバー
3 集光手段
4 レーザ光
5 電流検出部
6 直流電源
7 照射指令部
8 フィードバック手段
10 遅延手段
11 電力演算手段
12 比較制御手段
13 加算手段
14 スイッチ手段
15 警報手段
18 加工ワーク
21 1次整流ダイオード
22 1次平滑用コンデンサ
23 スイッチング形制御素子
24 トランス
25 2次整流ダイオード
26 2次平滑用コンデンサ
27 電圧検出部
28 比較制御部
29 スイッチ素子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor laser 2 Optical fiber 3 Condensing means 4 Laser light 5 Current detection part 6 DC power supply 7 Irradiation command part 8 Feedback means 10 Delay means 11 Power calculation means 12 Comparison control means 13 Addition means 14 Switch means 15 Alarm means 18 Workpiece work 21 Primary rectifier diode 22 Primary smoothing capacitor 23 Switching control element 24 Transformer 25 Secondary rectifier diode 26 Secondary smoothing capacitor 27 Voltage detector 28 Comparison controller 29 Switch element

Claims (9)

少なくとも1個が直列に接続された半導体レーザと、前記半導体レーザに電力を供給する直流電源と、前記半導体レーザの駆動電流を検出する電流検出部と、前記半導体レーザの照射パワーに相当する電流値を予め設定する照射指令部とを備え、さらに前記照射指令部の電流設定値に基き前記電流検出部の出力電圧を前記直流電源にフィードバックするフィードバック手段を有した半導体レーザ加熱装置。 At least one semiconductor laser connected in series, a DC power supply for supplying power to the semiconductor laser, a current detector for detecting a driving current of the semiconductor laser, and a current value corresponding to the irradiation power of the semiconductor laser A semiconductor laser heating apparatus, further comprising: an irradiation command unit that sets a current value in advance; and feedback means that feeds back an output voltage of the current detection unit to the DC power source based on a current setting value of the irradiation command unit. フィードバック手段は、照射指令部の照射信号を遅延する遅延手段と、前記遅延手段の出力信号に応じて半導体レーザに供給する電力を演算する電力演算手段と、前記遅延手段の出力信号と電流検出器の出力信号とを比較制御する比較制御手段と、前記比較制御手段の出力信号と前記電力演算手段の出力信号とを加算する加算手段を有した請求項1記載の半導体レーザ加熱装置。 The feedback means includes a delay means for delaying the irradiation signal of the irradiation command section, a power calculation means for calculating power supplied to the semiconductor laser in accordance with an output signal of the delay means, an output signal of the delay means, and a current detector 2. The semiconductor laser heating apparatus according to claim 1, further comprising: comparison control means for comparing and controlling the output signal; and addition means for adding the output signal of the comparison control means and the output signal of the power calculation means. 直流電源は、加算手段の出力信号に応じて出力電圧を変化する定電圧形直流電源である請求項1または2記載の半導体レーザ加熱装置。 3. The semiconductor laser heating apparatus according to claim 1, wherein the DC power supply is a constant voltage DC power supply that changes an output voltage in accordance with an output signal of the adding means. 直流電源は、制御素子のスイッチングにより出力電圧を変化する定電圧形スイッチング直流電源である請求項1から3のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置。 4. The semiconductor laser heating apparatus according to claim 1, wherein the DC power supply is a constant voltage switching DC power supply that changes an output voltage by switching of a control element. 直流電源は、照射指令部のレーザ照射信号および停止信号で出力電圧の照射および停止をする定電圧形スイッチング直流電源である請求項1から4のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置。 5. The semiconductor laser heating apparatus according to claim 1, wherein the DC power source is a constant voltage switching DC power source that irradiates and stops the output voltage by a laser irradiation signal and a stop signal of the irradiation command unit. 加算手段の出力信号が所定値を超えた場合に、警報の発生と半導体レーザ加熱装置本体の運転を停止するインターロック動作のうち少なくとも一方を行う警報手段を有した請求項1から5のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置。 6. The alarm unit according to claim 1, further comprising an alarm unit that performs at least one of generation of an alarm and an interlock operation for stopping the operation of the semiconductor laser heating device main body when the output signal of the adding unit exceeds a predetermined value. The semiconductor laser heating apparatus described in 1. 電流検出部の出力信号が所定値に達しない場合に、警報の発生と半導体レーザ加熱装置本体の運転を停止するインターロック動作のうち少なくとも一方を行う警報手段を有した請求項1から6のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置。 7. An alarm unit for performing at least one of generation of an alarm and an interlock operation for stopping the operation of the semiconductor laser heating device main body when the output signal of the current detection unit does not reach a predetermined value. A semiconductor laser heating apparatus according to claim 1. 半導体レーザのレーザ光を伝送する光ファイバーと、前記レーザ光を集光して加工物に照射する集光手段とを有した請求項1から7のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置。 The semiconductor laser heating apparatus according to claim 1, further comprising: an optical fiber that transmits a laser beam of the semiconductor laser; and a focusing unit that collects the laser beam and irradiates a workpiece. 加工物を乗せる加工テーブルと、前記加工テーブルの移動とレーザ光の集光手段のうち少なくとも一方を移動する駆動手段と、前記駆動手段を制御する数値制御手段と、レーザ光を発生する請求項1から8のいずれかに記載の半導体レーザ加熱装置とを備えたレーザ加工機。

2. A processing table on which a workpiece is placed, driving means for moving at least one of movement of the processing table and laser light condensing means, numerical control means for controlling the driving means, and laser light are generated. A laser processing machine comprising the semiconductor laser heating device according to any one of 1 to 8.

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