JP2005209728A - Wafer gripping apparatus - Google Patents

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JP2005209728A JP2004012310A JP2004012310A JP2005209728A JP 2005209728 A JP2005209728 A JP 2005209728A JP 2004012310 A JP2004012310 A JP 2004012310A JP 2004012310 A JP2004012310 A JP 2004012310A JP 2005209728 A JP2005209728 A JP 2005209728A
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Shinji Yamashita
慎次 山下
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wafer gripping apparatus that is not affected by the shape of a body to be gripped, is suitable for a semiconductor wafer carrying device having a fork whose breadth is narrower than the body to be gripped, and does not damage the body to be gripped even if the supply of power is stopped. <P>SOLUTION: The wafer gripping device for the body W to be gripped has a locking mechanism comprising a compression spring 14 that is arranged in the longitudinal direction in an enclosure 11, while one end is fixed to the bottom lid 13 of the enclosure 11, and the other end is connected to a gripping body 17; shape memory alloy springs 15A, 15B that are provided at the inner middle of the compression spring 14, while one end is fixed to a bottom lid 13 of the enclosure 11, and the other end is connected to the gripping body 17 via a spring fixing member 12, and force is applied in a direction for releasing the gripping body 17 against the compression spring 14; and nibs 20A, 20B for locking, shape memory alloy springs 21A, 21B for locking, and the like. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体ウェハのような薄板状の被把持体を把持するウェハ把持装置に関する。   The present invention relates to a wafer gripping apparatus for gripping a thin plate-like target body such as a semiconductor wafer.

従来、把持体をそれぞれ開方向または閉方向に付勢する弾性体を設け、この弾性体の端部に把持体の中央部を設け、把持体の反保持部側端の間に形状記憶合金の駆動部を設け、把持体の先端に半導体ウェハなどの被把持体を把持する保持部を設けたウェハ把持装置は、図6のようになっている(例えば、特許文献1参照)。
図6は従来のウェハ把持装置の正面図である。
図6において、基部41の両側にはそれぞれ基部41の上方に延在する弾性体42、43の一方端が取り付けられている。これらの弾性体42、43の他方端にはそれぞれ中央突起44E、45Eを介して把持体44、45が取り付けられている。この把持体44、45の一方端には被把持体Wの下部周縁を保持する第1の保持部44A、45Aと、被把持体Wの周縁平面を保持する第2の保持部44B、44C、45B、45Cと被把持体Wの上方への移動許容部44D、44Dとを備えている。把持体44、45の他の一方端44F、45Fの間には把持体44、45の開閉のための駆動部となる線状の形状記憶合金46が配設されている。この形状記憶合金46は加熱によりその長さを縮める回復力が発生するようにその形状を記憶している。この形状記憶合金46はスイッチ47を通して電源48に接続している。前述した弾性体42、43は、把持体44、45を閉方向に付勢するための初期たわみが与えられている。実線で示す被把持体Wの把持状態において、被把持体Wを開放する動作を説明する。形状記憶合金46を加熱すると、形状記憶合金46は弾性体42、43の変形力に抗する回復力を発生し、把持体44、45の他の一方端44F、45F相方を引き寄せる。その結果、把持体44、45は開き、被把持体Wを開放する。これにより、被把持体Wを治具等に載置することができる。
次に被把持体Wを把持する場合には上述の動作とは逆に形状記憶合金6を冷却する。これにより形状記憶合金6はその回復力が低下するので、把持体44、45は弾性体42、43の変形力により、第1図の1点鎖線で示すように被把持体Wに大きな押付力を与えず把持体44A、45Aによって被把持体Wの下方周縁を保持する形で、被把持体Wを挟持する。
特公平7−4787号公報(第5〜9頁、図1)
Conventionally, an elastic body that urges the gripping body in the opening direction or the closing direction is provided, the center of the gripping body is provided at the end of the elastic body, and the shape memory alloy is placed between the opposite ends of the gripping body. A wafer gripping device provided with a drive unit and provided with a holding unit for gripping a gripped body such as a semiconductor wafer at the tip of the gripping body is as shown in FIG. 6 (see, for example, Patent Document 1).
FIG. 6 is a front view of a conventional wafer holding apparatus.
In FIG. 6, one ends of elastic bodies 42 and 43 that extend above the base 41 are attached to both sides of the base 41. Grip bodies 44 and 45 are attached to the other ends of these elastic bodies 42 and 43 via central projections 44E and 45E, respectively. At one end of the gripping bodies 44 and 45, first holding portions 44A and 45A that hold the lower peripheral edge of the gripped body W, and second holding portions 44B and 44C that hold the peripheral flat surface of the gripping body W, 45B and 45C and movement allowance portions 44D and 44D for moving the object to be grasped W upward are provided. Between the other ends 44F and 45F of the grip bodies 44 and 45, a linear shape memory alloy 46 serving as a drive unit for opening and closing the grip bodies 44 and 45 is disposed. The shape memory alloy 46 memorizes its shape so as to generate a restoring force that shortens its length by heating. This shape memory alloy 46 is connected to a power source 48 through a switch 47. The elastic bodies 42 and 43 described above are given initial deflection for urging the grip bodies 44 and 45 in the closing direction. An operation of opening the gripping target W in the gripping state of the gripping target W indicated by a solid line will be described. When the shape memory alloy 46 is heated, the shape memory alloy 46 generates a recovery force that resists the deformation force of the elastic bodies 42 and 43, and draws the other one ends 44 </ b> F and 45 </ b> F of the grip bodies 44 and 45. As a result, the gripping bodies 44 and 45 are opened, and the gripped body W is opened. As a result, the object to be grasped W can be placed on a jig or the like.
Next, when the object to be grasped W is grasped, the shape memory alloy 6 is cooled contrary to the above-described operation. As a result, the recovery force of the shape memory alloy 6 is reduced, so that the gripping bodies 44 and 45 have a large pressing force on the gripped body W as shown by the one-dot chain line in FIG. The object to be grasped W is sandwiched in such a manner that the lower periphery of the object to be grasped W is held by the grasping bodies 44A and 45A.
Japanese Patent Publication No. 7-4787 (pages 5-9, FIG. 1)

従来のウェハ把持装置は、把持体44、45によって、被把持体Wを水平方向に把持あるいは開放する際に、把持体44、45が被把持体Wに対して被把持体Wの横幅より大きく開くので、把持体の径より幅の狭いウェハカセットやFOUPなどに搬送するような場合に、該ウェハ把持装置がウェハカセットやFOUPに干渉するため、使用できないという問題があった。そこで、被把持体の形状に影響されることなく、把持体の把持、開放動作を行い、被把持体の径より幅の狭いフォークと併用することにより搬送が可能な半導体ウェハ搬送装置にも適用することができるウェハ把持装置の提供が望まれていた。
また、従来のウェハ把持装置は、形状記憶合金に通電している状態で被把持体Wを開放するので、被把持体Wを開放してから把持体44、45が被把持体Wから離れる間に停電などにより電力の供給が停止すると、把持体44、45が閉じる。このときに把持体44、45の駆動範囲に被把持体Wがあると、この被把持体Wが治具等から落下し損傷する可能性があるという問題があった。
本発明は上記問題を解決するためになされたものであり、被把持体の形状に影響されることなく、被把持体より横幅の狭いフォークを有する半導体ウェハ搬送装置にも適用することができ、電力の供給が停止しても被把持体を損傷しないウェハ把持装置を提供することを目的とする。
In the conventional wafer gripping device, when the gripping body W is gripped or released horizontally by the gripping bodies 44 and 45, the gripping bodies 44 and 45 are larger than the lateral width of the gripping body W with respect to the gripping body W. Since it opens, there is a problem that the wafer gripping device interferes with the wafer cassette or FOUP when transported to a wafer cassette or FOUP having a narrower width than the diameter of the gripping body. Therefore, it is also applicable to a semiconductor wafer transfer device that can be transferred by using a fork with a narrower width than the diameter of the gripped body, while holding and releasing the gripped body without being affected by the shape of the gripped body. It has been desired to provide a wafer gripping device that can do this.
In addition, since the conventional wafer gripping apparatus opens the gripped body W while the shape memory alloy is energized, the grippers 44 and 45 are separated from the gripped body W after the gripped body W is opened. When the power supply is stopped due to a power failure or the like, the grip bodies 44 and 45 are closed. At this time, if the gripping body W is in the driving range of the gripping bodies 44 and 45, there is a problem that the gripping body W may fall from a jig or the like and be damaged.
The present invention has been made to solve the above problems, and can be applied to a semiconductor wafer transfer apparatus having a fork having a narrower width than the gripped body without being affected by the shape of the gripped body, An object of the present invention is to provide a wafer gripping device that does not damage a gripped object even when power supply is stopped.

上記問題を解決するため、本発明は、次のように構成したのである。
請求項1の発明は、把持体によって、半導体ウェハなどの被把持体の外周縁を把持対象箇所として把持するウェハ把持装置において、一方端が閉じ、他方端が開口した筒状の筐体と、前記筐体内の両端の長手方向に向かって延在するように配設されており、一方端が前記筐体の底蓋に固定され、他方端が前記把持体に接続された弾性体と、一方端が前記筐体の底蓋に固定され、他方端が前記把持体に接続されると共に、前記弾性体に抗して前記把持体を開放する方向に力を加えるコイル状の形状記憶合金部材と、前記把持体が前記被把持体を開放し、前記把持体が前記筐体内の所定に位置に下降した時に前記把持体をロックするロック機構とを備えたことを特徴としている。
また、請求項2の発明は、請求項1に記載のウェハ把持装置において、前記弾性体にコイル状の圧縮バネを用い、前記形状記憶合金部材に形状記憶合金引張バネを用いると共に、前記形状記憶合金引張バネを前記圧縮バネの内側中間部に設けたことを特徴としている。
また、請求項3の発明は、請求項1記載のウェハ把持装置において、前記ロック機構は、前記筐体の外部に接続された1対のロック用支持部材と、一方端が前記ロック用支持部材に固定され、他方端がロック用爪に接続された弾性体となる板バネと、前記板バネのロック用爪を取り付けた反対側の面とロック用支持部材との間に配設されると共に、前記板バネに抗して前記把持体に対する前記ロック用爪を開放する方向に力を加えるコイル状のロック用形状記憶合金バネとからなることを特徴としている。
また、請求項4の発明は、請求項1記載のウェハ把持装置において、前記ロック機構は、前記筐体の外部に接続された1対のロック用筐体と、一方端が前記ロック用筐体に固定され、他方端がロック用爪に接続された弾性体となるコイル状のロック用圧縮バネと、前記ロック用圧縮バネの内側中間部に設けられており、一方端が前記ロック用筐体の底部に固定され、他方端が前記ロック爪に接続されると共に、前記ロック用圧縮バネに抗して前記把持体に対するロック用爪を開放する方向に力を加えるコイル状のロック用形状記憶合金バネとからなることを特徴としている。
In order to solve the above problem, the present invention is configured as follows.
The invention of claim 1 is a wafer gripping device for gripping the outer periphery of a gripped body such as a semiconductor wafer as a gripping target location by a gripping body, and a cylindrical housing having one end closed and the other end opened; An elastic body disposed so as to extend in the longitudinal direction of both ends in the housing, one end fixed to the bottom cover of the housing, and the other end connected to the gripping body; A coil-shaped shape memory alloy member having an end fixed to the bottom lid of the housing and the other end connected to the gripping body and applying force in a direction to open the gripping body against the elastic body; And a lock mechanism that locks the gripping body when the gripping body opens the gripped body and the gripping body is lowered to a predetermined position in the housing.
According to a second aspect of the present invention, in the wafer gripping apparatus according to the first aspect, a coiled compression spring is used for the elastic body, a shape memory alloy tension spring is used for the shape memory alloy member, and the shape memory is used. An alloy tension spring is provided at an inner middle portion of the compression spring.
The invention according to claim 3 is the wafer gripping apparatus according to claim 1, wherein the lock mechanism includes a pair of lock support members connected to the outside of the housing, and one end of the lock support member. And a leaf spring that is an elastic body with the other end connected to the locking claw, and a surface between the opposite side to which the locking claw of the leaf spring is attached and the locking support member And a coil-shaped shape memory alloy spring for locking that applies a force in a direction to open the locking claw against the gripping body against the leaf spring.
According to a fourth aspect of the present invention, in the wafer gripping apparatus according to the first aspect, the locking mechanism includes a pair of locking casings connected to the outside of the casing, and one end of the locking casing. A coiled compression spring for locking which is an elastic body with the other end connected to the locking claw, and an inner intermediate portion of the locking compression spring, and one end is the locking casing A coil-shaped shape memory alloy for a lock that is fixed to the bottom of the metal and has the other end connected to the lock claw and applies a force in a direction to open the lock claw against the grip body against the lock compression spring It consists of a spring.

請求項1に記載の発明によると、被把持体の幅より横幅の狭いフォークでウェハカセットやFOUPなどにフォークに被把持体を載置したまま挿入するような搬送装置に使用できるウェハ把持装置を提供することができ、電力の供給が停止しても被把持体を傷つけることがないウェハ把持装置を提供することができる。
また、請求項2に記載の発明によると、把持機構を小型化することができる。
また、請求項3、4に記載の発明によると、ロック機構を簡素化することができる。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a wafer gripping device that can be used for a transfer device that is inserted into a wafer cassette or FOUP while the gripping body is mounted on a fork or the like with a fork whose width is narrower than the width of the gripping body. It is possible to provide a wafer gripping device that can be provided and does not damage the gripped object even when the supply of power is stopped.
According to the invention described in claim 2, the gripping mechanism can be miniaturized.
Moreover, according to invention of Claim 3, 4, a locking mechanism can be simplified.

以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は本発明の第1実施例を示すウェハ把持装置の正断面図であり、把持状態を表している。図2は図1のウェハ把持装置の開放状態を示す正断面図である。図5は本発明のウェハ把持装置をフォークと併用してウェハ搬送装置に適用した例を表した概念図である。
図1において、Wは被把持体、11は筐体、12はバネ固定部材、13は底蓋、14は圧縮バネで、圧縮バネ14の一方端がバネ固定部材12に、圧縮バネ14の他方端が底蓋13に接続されている。15A、15Bは把持用形状記憶合金バネ、16A、16B、16C、16Dおよび16Eは導体、17は把持体、18A、18Bはロック用支持部材、19A、19Bは板バネ、20A、20Bはロック用爪、21A、21Bはロック用形状記憶合金バネである。
また、図5において、Wは被把持体、Fはフォーク、Pはフォークに設けたピン、Hは本発明のウェハ把持装置である。該ウェハ把持装置HはフォークFに搭載されると共に、ウェハ把持装置HとフォークFとでウェハ搬送装置を構成するようになっており、フォークF先端のピンPにて位置決めされた被把持体WをフォークF後端に設けたウェハ把持装置Hにより把持または開放動作を行うようにして使用される。
本発明の特徴は以下のとおりである。
すなわち、把持体17によって、被把持体Wの外周縁を把持対象箇所として把持するウェハ把持装置において、一方端が閉じ、他方端が開口した筒状の筐体11と、筐体11内の両端の長手方向に向かって延在するように配設されており、一方端が筐体の底蓋13に固定され、他方端がバネ固定部材12を介して把持体17に接続された弾性体となるコイル状の圧縮バネ14と、圧縮バネ14の内側中間部に設けられており、一方端が筐体の底蓋13に固定され、他方端がバネ固定部材12を介して把持体17に接続されると共に、圧縮バネ14に抗して把持体17を開放する方向に力を加えるコイル状の把持用形状記憶合金バネ15A、15Bとを備えた点である。
また、該ウェハ把持装置は、把持体17が被把持体Wを開放し、把持体17が筐体11内の所定に位置に下降した時に把持体17をロックするロック機構を設けるようになっている。
具体的には、該ロック機構は、筐体11の外部に接続された1対のロック用支持部材18A、18Bと、一方端がロック用支持部材18A、18Bに固定され、他方端がロック用爪20A、20Bに接続された弾性体となる板バネ19A、19Bと、板バネ19A、19Bのロック用爪20A、20Bを取り付けた反対側の面とロック用支持部材18A、18Bとの間に配設されると共に、弾性体となる板バネ19A、19Bに抗して把持体17に対するロック用爪20A、20Bを開放する方向に力を加えるコイル状のロック用形状記憶合金バネ21A、21Bとから構成されている。
なお、把持用形状記憶合金バネ15A、15Bは変態温度以下の状態では、圧縮バネ14の回復力が把持用形状記憶合金バネ15A、15Bの回復力を上回るように設定されている。一方のバネ固定部材12側の1対の把持用形状記憶合金バネ15A、15Bの端部には導体16Aにより電気的に接続されており、他方の底蓋13側の把持用形状記憶合金バネ15A、15Bの端部にはそれぞれ導体16B、導体16Cが接続されており、図示しない形状記憶合金駆動装置に接続されている。
それから、ロック用形状記憶合金バネ21A、21Bは変態温度以下の状態では、板バネ19A、19Bの回復力がロック用形状記憶合金バネ21A、21Bの回復力を上回るように設定されている。ロック用形状記憶合金バネ21A、21Bの両端にはそれぞれ導体16D、16Eが接続され、図示しない形状記憶合金駆動装置に接続されている。
FIG. 1 is a front sectional view of a wafer gripping apparatus showing a first embodiment of the present invention, and shows a gripping state. FIG. 2 is a front sectional view showing the opened state of the wafer gripping apparatus of FIG. FIG. 5 is a conceptual diagram showing an example in which the wafer gripping device of the present invention is applied to a wafer transfer device in combination with a fork.
In FIG. 1, W is a body to be grasped, 11 is a housing, 12 is a spring fixing member, 13 is a bottom cover, 14 is a compression spring, one end of the compression spring 14 is connected to the spring fixing member 12, and the other end of the compression spring 14. The end is connected to the bottom lid 13. 15A, 15B are shape memory alloy springs for gripping, 16A, 16B, 16C, 16D and 16E are conductors, 17 are gripping bodies, 18A, 18B are locking support members, 19A, 19B are leaf springs, 20A, 20B are for locking The claws 21A and 21B are locking shape memory alloy springs.
In FIG. 5, W is the object to be gripped, F is a fork, P is a pin provided on the fork, and H is the wafer gripping apparatus of the present invention. The wafer gripping device H is mounted on the fork F, and the wafer gripping device H and the fork F constitute a wafer transfer device, and the object to be gripped W is positioned by the pin P at the tip of the fork F. Is used so as to be gripped or released by a wafer gripping device H provided at the rear end of the fork F.
The features of the present invention are as follows.
That is, in the wafer gripping device that grips the outer peripheral edge of the gripped body W as a gripping target location by the gripping body 17, the cylindrical casing 11 having one end closed and the other end opened, and both ends in the casing 11 And an elastic body having one end fixed to the bottom lid 13 of the housing and the other end connected to the gripping body 17 via the spring fixing member 12. A coil-shaped compression spring 14 and an inner intermediate portion of the compression spring 14, one end is fixed to the bottom cover 13 of the casing, and the other end is connected to the gripping body 17 via the spring fixing member 12. In addition, coil-shaped gripping shape memory alloy springs 15A and 15B that apply force in a direction to open the gripping body 17 against the compression spring 14 are provided.
In addition, the wafer gripping apparatus is provided with a lock mechanism that locks the gripping body 17 when the gripping body 17 releases the gripped body W and the gripping body 17 is lowered to a predetermined position in the housing 11. Yes.
Specifically, the locking mechanism includes a pair of locking support members 18A and 18B connected to the outside of the housing 11, one end fixed to the locking support members 18A and 18B, and the other end for locking. Between the plate springs 19A and 19B, which are elastic bodies connected to the claws 20A and 20B, and the opposite surface of the plate springs 19A and 19B to which the locking claws 20A and 20B are attached, and the lock support members 18A and 18B. Coil-shaped locking shape memory alloy springs 21A and 21B that are arranged and apply force in a direction to open the locking claws 20A and 20B against the gripping body 17 against the plate springs 19A and 19B that are elastic bodies. It is composed of
Note that the shape memory alloy springs 15A and 15B for gripping are set so that the recovery force of the compression spring 14 exceeds the recovery force of the shape memory alloy springs 15A and 15B for gripping when the temperature is below the transformation temperature. The ends of the pair of gripping shape memory alloy springs 15A and 15B on the one spring fixing member 12 side are electrically connected by a conductor 16A, and the gripping shape memory alloy spring 15A on the other bottom lid 13 side. , 15B are connected to conductors 16B and 16C, respectively, and connected to a shape memory alloy driving device (not shown).
Then, the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking are set so that the recovery force of the leaf springs 19A and 19B exceeds the recovery force of the shape memory alloy springs 21A and 21B for lock when the temperature is lower than the transformation temperature. Conductors 16D and 16E are connected to both ends of the locking shape memory alloy springs 21A and 21B, respectively, and connected to a shape memory alloy driving device (not shown).

まず、ウェハを把持する動作を、図1および図2を用いて説明する。
図2はウェハWが開放されている状態である。この状態でロック用形状記憶合金バネ21A、21Bに図示しない形状記憶合金駆動装置から通電されて変態温度を越えると、図1に示すようにロック用形状記憶合金バネ21A、21Bに回復力が作用し、板バネ19A、19Bが筐体11から遠ざかる方向に引っ張られる。これによりロック用爪20A、20Bが把持体17から離れるので、圧縮バネ14の回復力により把持体17が伸張し、ウェハWを把持する。ウェハWを把持した後、ロック用形状記憶合金バネ21A、21Bへの通電を止めて変態温度を下回ると、板バネ19A、19Bの回復力がロック用形状記憶合金バネ21A、21Bの収縮力を上回るので、板バネ19A、19Bは筐体11に近づく方向に動き、ロック用爪20A、20Bは再び図2に示す状態に戻る。
First, the operation of gripping the wafer will be described with reference to FIGS.
FIG. 2 shows a state where the wafer W is opened. In this state, when the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking are energized from a shape memory alloy driving device (not shown) and the transformation temperature is exceeded, a recovery force acts on the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking as shown in FIG. Then, the leaf springs 19 </ b> A and 19 </ b> B are pulled in a direction away from the housing 11. As a result, the locking claws 20 </ b> A and 20 </ b> B are separated from the gripping body 17, so that the gripping body 17 is extended by the recovery force of the compression spring 14 and grips the wafer W. After gripping the wafer W, when the energization of the locking shape memory alloy springs 21A and 21B is stopped and the transformation temperature falls below the transformation temperature, the recovery force of the leaf springs 19A and 19B reduces the contracting force of the locking shape memory alloy springs 21A and 21B. Therefore, the leaf springs 19A and 19B move in a direction approaching the casing 11, and the locking claws 20A and 20B return to the state shown in FIG.

次に、ウェハを開放する動作を同様に図1および図2を用いて説明する。
図1に示すウェハ把持状態でロック用形状記憶合金バネ21A、21Bに図示しない形状記憶合金駆動装置から通電されて変態温度を越えると、図1に示すようにロック用形状記憶合金バネ21A、21Bに回復力が作用し、板バネ19A、19Bが筐体11から遠ざかる方向に引っ張られる。続いて、把持用形状記憶合金バネ15A、15Bに図示しない形状記憶合金駆動装置から通電されて変態温度を越えると、把持用形状記憶合金バネ15A、15Bに回復力が作用し、圧縮バネ14を収縮させるので、ウェハWが把持体17から開放される。続いて、ロック用形状記憶合金バネ21A、21Bへの通電を止めて変態温度を下回ると、板バネ19A、19Bの回復力がロック用形状記憶合金バネ21A、21Bの収縮力を上回るので、板バネ19A、19Bは筐体11に近づく方向に動き、ロック用爪20A、20Bは再び図2に示す状態に戻り、把持体17をロックする。
Next, the operation of opening the wafer will be described with reference to FIGS.
When the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking are energized from a shape memory alloy driving device (not shown) in the wafer holding state shown in FIG. 1 and the transformation temperature is exceeded, the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking are shown in FIG. A recovery force acts on the plate springs 19A and 19B, and the leaf springs 19A and 19B are pulled away from the housing 11. Subsequently, when the shape memory alloy springs 15A and 15B for gripping are energized from a shape memory alloy driving device (not shown) and the transformation temperature is exceeded, a restoring force acts on the shape memory alloy springs 15A and 15B for gripping, and the compression spring 14 is moved. Since the wafer W is contracted, the wafer W is released from the gripping body 17. Subsequently, when the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking are turned off and the transformation temperature falls below the transformation temperature, the recovery force of the leaf springs 19A and 19B exceeds the contraction force of the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking. The springs 19A and 19B move in a direction approaching the housing 11, and the locking claws 20A and 20B return to the state shown in FIG.

したがって、本発明の第1実施例は弾性体と形状記憶合金を組み合わせて直線運動する把持機構を構成しているので、被把持体の幅より横幅の狭いフォークでウェハカセットやFOUPなどにフォークに被把持体を載置したまま挿入するような搬送装置に使用できるウェハ把持装置を提供することができる。また、ウェハ開放時に把持体をロックする構成としているので、電力の供給が停止しても被把持体を傷つけることがないウェハ把持装置を提供することができる。   Therefore, since the first embodiment of the present invention constitutes a gripping mechanism that moves linearly by combining an elastic body and a shape memory alloy, a fork having a lateral width smaller than the width of the gripped body can be used as a fork on a wafer cassette or FOUP. It is possible to provide a wafer gripping device that can be used in a transfer device that inserts a gripped body while it is placed. Further, since the gripping body is configured to be locked when the wafer is released, it is possible to provide a wafer gripping apparatus that does not damage the gripped body even when the supply of power is stopped.

図3は第2実施例を示すウェハ把持装置の正断面図であり、把持状態を表している。図4は図3のウェハ把持装置の開放状態を示す正断面図である。なお、第2実施例における構成要素が第1実施例と同じものついてはその説明を省略し、異なる点について説明する。
図において、22A、22Bはロック用形状記憶合金バネ、23A、23Bはロック用筐体、24A、24Bはロック用圧縮バネである。
第2実施例が第1実施例と異なる点は以下のとおりである。
すなわち、基本的にはロック機構が異なり、ロック機構は筐体11の外部に接続された1対のロック用筐体23A、23Bと、一方端がロック用筐体23A、23Bに固定され、他方端がロック用爪20A、20Bに接続された弾性体となるコイル状のロック用圧縮バネ24A、24Bと、ロック用圧縮バネ24A、24Bの内側中間部に設けられており、一方端がロック用筐体23A、23Bの底部に固定され、他方端がロック爪20A、20Bに接続されると共に、ロック用圧縮バネ24A、24B)に抗して把持体17に対するロック用爪20A、20Bを開放する方向に力を加えるコイル状のロック用形状記憶合金バネ21A、21Bとから構成されている。
なお、ロック用形状記憶合金バネ22A、22Bが変態温度以下の状態では、ロック用圧縮バネ24A、24Bの回復力がロック用形状記憶合金バネ22A、22Bの回復力を上回るように設定されている。ロック用形状記憶合金バネ22A、22Bの両端にはそれぞれ導体16D、16Eが接続され、図示しない形状記憶合金駆動装置に接続されている。
FIG. 3 is a front sectional view of the wafer gripping apparatus showing the second embodiment, showing a gripping state. 4 is a front sectional view showing the opened state of the wafer gripping apparatus of FIG. Note that the description of the same constituent elements in the second embodiment as those in the first embodiment will be omitted, and different points will be described.
In the figure, 22A and 22B are locking shape memory alloy springs, 23A and 23B are locking casings, and 24A and 24B are locking compression springs.
The second embodiment is different from the first embodiment as follows.
That is, the lock mechanism is basically different, the lock mechanism is a pair of lock housings 23A and 23B connected to the outside of the housing 11, and one end is fixed to the lock housings 23A and 23B, while the other The ends are provided at the inner intermediate portions of the coiled compression springs 24A and 24B and the compression springs 24A and 24B, which are elastic bodies connected to the locking claws 20A and 20B. The bottom ends of the casings 23A and 23B are fixed, the other ends are connected to the lock claws 20A and 20B, and the lock claws 20A and 20B for the grip body 17 are opened against the lock compression springs 24A and 24B). It consists of coil-shaped locking shape memory alloy springs 21A and 21B that apply a force in the direction.
When the lock shape memory alloy springs 22A and 22B are below the transformation temperature, the recovery force of the lock compression springs 24A and 24B is set to exceed the recovery force of the lock shape memory alloy springs 22A and 22B. . Conductors 16D and 16E are connected to both ends of the locking shape memory alloy springs 22A and 22B, respectively, and are connected to a shape memory alloy driving device (not shown).

まず、ウェハを把持する動作を、図3および図4を用いて説明する。
図4はウェハWが開放されている状態である。この状態でロック用形状記憶合金バネ21A、21Bに図示しない形状記憶合金駆動装置から通電されて変態温度を越えると、図3に示すようにロック用形状記憶合金バネ21A、21Bに回復力が作用し、ロック用圧縮バネ24A、24Bが収縮する。これによりロック用爪20A、20Bが把持体17から離れるので、圧縮バネ14の回復力により把持体17が伸張し、ウェハWを把持する。ウェハWを把持した後、ロック用形状記憶合金バネ21A、21Bへの通電を止めて変態温度を下回ると、ロック用圧縮バネ24A、24Bの回復力がロック用形状記憶合金バネ21A、21Bの収縮力を上回るので、ロック用圧縮バネ24A、24Bは伸張し、ロック用爪20A、20Bは再び図4に示す状態に戻る。
First, the operation of gripping the wafer will be described with reference to FIGS.
FIG. 4 shows a state where the wafer W is opened. In this state, when the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking are energized from a shape memory alloy driving device (not shown) and the transformation temperature is exceeded, a restoring force acts on the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking as shown in FIG. Then, the compression springs 24A and 24B for locking contract. As a result, the locking claws 20 </ b> A and 20 </ b> B are separated from the gripping body 17, so that the gripping body 17 is extended by the recovery force of the compression spring 14 and grips the wafer W. After gripping the wafer W, when the energization to the lock shape memory alloy springs 21A and 21B is stopped and the transformation temperature falls below the transformation temperature, the recovery force of the lock compression springs 24A and 24B is contracted by the lock shape memory alloy springs 21A and 21B. Since the force is exceeded, the locking compression springs 24A and 24B expand, and the locking claws 20A and 20B return to the state shown in FIG.

次に、ウェハを開放する動作を、同様に図3および図4を用いて説明する。
図3に示すウェハ把持状態でロック用形状記憶合金バネ21A、21Bに図示しない形状記憶合金駆動装置から通電されて変態温度を越えると、図3に示すようにロック用形状記憶合金バネ21A、21Bに回復力が作用し、ロック用圧縮バネ24A、24Bが収縮する。続いて、把持用形状記憶合金バネ15A、15Bに図示しない形状記憶合金駆動装置から通電されて変態温度を越えると、把持用形状記憶合金バネ15A、15Bに回復力が作用し、圧縮バネ14を収縮させるので、ウェハWが把持体17から開放される。続いて、ロック用形状記憶合金バネ21A、21Bへの通電を止めて変態温度を下回ると、ロック用圧縮バネ24A、24Bの回復力がロック用形状記憶合金バネ21A、21Bの収縮力を上回るので、ロック用圧縮バネ24A、24Bは伸張し、ロック用爪20A、20Bは再び図4に示す状態に戻り、把持体17をロックする。
Next, the operation of opening the wafer will be described with reference to FIGS.
When the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking are energized from a shape memory alloy driving device (not shown) in the wafer gripping state shown in FIG. 3 and the transformation temperature is exceeded, the shape memory alloy springs 21A and 21B for locking are shown in FIG. A restoring force acts on the locking compression springs 24A and 24B. Subsequently, when the shape memory alloy springs 15A and 15B for gripping are energized from a shape memory alloy driving device (not shown) and the transformation temperature is exceeded, a restoring force acts on the shape memory alloy springs 15A and 15B for gripping, and the compression spring 14 is moved. Since the wafer W is contracted, the wafer W is released from the gripping body 17. Subsequently, when energization of the lock shape memory alloy springs 21A and 21B is stopped and the transformation temperature falls below, the recovery force of the lock compression springs 24A and 24B exceeds the contraction force of the lock shape memory alloy springs 21A and 21B. The locking compression springs 24A and 24B expand, and the locking claws 20A and 20B return to the state shown in FIG. 4 again to lock the gripping body 17.

したがって、本発明の第2実施例は弾性体と形状記憶合金を組み合わせて直線運動する把持機構を構成しているので、被把持体の幅より横幅の狭いフォークでウェハカセットやFOUPなどにフォークに被把持体を載置したまま挿入するような搬送装置に使用できるウェハ把持装置を提供することができる。また、ウェハ開放時に把持体をロックする構成としているので、電力の供給が停止しても被把持体を傷つけることがないウェハ把持装置を提供することができる。   Therefore, the second embodiment of the present invention constitutes a gripping mechanism that moves linearly by combining an elastic body and a shape memory alloy. Therefore, a fork having a lateral width smaller than the width of the gripped body can be used as a fork on a wafer cassette or FOUP. It is possible to provide a wafer gripping device that can be used in a transfer device that inserts a gripped body while it is placed. Further, since the gripping body is configured to be locked when the wafer is released, it is possible to provide a wafer gripping apparatus that does not damage the gripped body even when the supply of power is stopped.

弾性体と形状記憶合金を組み合わせて直線運動させることによって、小型で、発塵が少なく、静粛な把持動作をすることができ、非把持体開放時に電力の供給が停止しても被把持体を傷つけることがないので、ウェハ搬送に限らず、クリーンな環境で把持動作が必要な食品や薬品などの搬送という用途にも適用できる。   By moving the elastic body and shape memory alloy in a linear motion, it is compact, generates less dust, and can perform a quiet gripping operation. Since it is not damaged, the present invention can be applied not only to wafer conveyance but also to applications such as conveyance of foods and chemicals that require a gripping operation in a clean environment.

本発明の第1実施例を示すウェハ把持装置の正断面図であり、把持状態を表したものである。1 is a front sectional view of a wafer gripping apparatus showing a first embodiment of the present invention and shows a gripping state. 図1のウェハ把持装置のウェハ開放状態を示す正断面図Front sectional view showing the wafer opening state of the wafer gripping apparatus of FIG. 本発明の第2実施例を示すウェハ把持装置の正断面図であり、把持状態を表したものである。It is a front sectional view of a wafer gripping apparatus showing a second embodiment of the present invention, and represents a gripping state. 図3のウェハ把持装置の開放状態を示す正断面図である。FIG. 4 is a front sectional view showing an opened state of the wafer gripping apparatus of FIG. 3. 本発明のウェハ把持装置をフォークと併用してウェハ搬送装置に適用した例を表した概念図である。It is the conceptual diagram showing the example which applied the wafer holding apparatus of this invention to the wafer conveyance apparatus together with the fork. 従来のウェハ把持装置の正面図Front view of a conventional wafer gripping device

符号の説明Explanation of symbols

W 非把持体(ウェハ)
11 筐体
12 バネ固定部材
13 底蓋
14 圧縮バネ
15A、15B 把持用形状記憶合金バネ
16A、16B、16C、16D 導体
17 把持体
18A、18B ロック用支持部材
19A、19B 板バネ
20A、20B ロック用爪
21A、21B、22A、22B ロック用形状記憶合金バネ
23A、23B ロック用筐体
24A、24B ロック用圧縮バネ
W Non-gripping body (wafer)
11 Housing 12 Spring fixing member 13 Bottom lid 14 Compression springs 15A, 15B Shape memory alloy springs 16A, 16B, 16C, 16D for gripping Conductor 17 Grasping body 18A, 18B Support members 19A, 19B for locking Leaf springs 20A, 20B For locking Claw 21A, 21B, 22A, 22B Locking shape memory alloy spring 23A, 23B Locking casing 24A, 24B Locking compression spring

Claims (4)

把持体によって、半導体ウェハなどの被把持体Wの外周縁を把持対象箇所として把持するウェハ把持装置において、
一方端が閉じ、他方端が開口した筒状の筐体と、
前記筐体内の両端の長手方向に向かって延在するように配設されており、一方端が前記筐体の底蓋に固定され、他方端が前記把持体に接続された弾性体と、
一方端が前記筐体の底蓋に固定され、他方端が前記把持体に接続されると共に、前記弾性体に抗して前記把持体を開放する方向に力を加えるコイル状の形状記憶合金部材と、
前記把持体が前記被把持体を開放し、前把持体が前記筐体内の所定に位置に下降した時に前記把持体をロックするロック機構とを設けたことを特徴とするウェハ把持装置。
In a wafer gripping device that grips the outer peripheral edge of a gripped body W such as a semiconductor wafer as a gripping target location by a gripping body,
A cylindrical housing with one end closed and the other end open;
An elastic body that is disposed so as to extend in the longitudinal direction of both ends in the housing, one end is fixed to the bottom lid of the housing, and the other end is connected to the gripping body;
A coil-shaped shape memory alloy member in which one end is fixed to the bottom lid of the casing and the other end is connected to the gripping body and applies force in a direction to open the gripping body against the elastic body When,
A wafer gripping apparatus, comprising: a lock mechanism that locks the gripping body when the gripping body opens the gripped body and the front gripping body is lowered to a predetermined position in the housing.
前記弾性体にコイル状の圧縮バネを用い、前記形状記憶合金部材に形状記憶合金引張バネを用いると共に、前記形状記憶合金引張バネを前記圧縮バネの内側中間部に設けたことを特徴とする請求項1記載のウェハ把持装置。   A coil-shaped compression spring is used for the elastic body, a shape memory alloy tension spring is used for the shape memory alloy member, and the shape memory alloy tension spring is provided in an inner intermediate portion of the compression spring. Item 2. A wafer gripping apparatus according to Item 1. 前記ロック機構は、前記筐体の外部に接続された1対のロック用支持部材と、
一方端が前記ロック用支持部材に固定され、他方端がロック用爪に接続された弾性体となる板バネと、
前記板バネのロック用爪を取り付けた反対側の面とロック用支持部材との間に配設されると共に、前記板バネに抗して前記把持体に対する前記ロック用爪を開放する方向に力を加えるコイル状のロック用形状記憶合金バネとからなることを特徴とする請求項1記載のウェハ把持装置。
The locking mechanism includes a pair of locking support members connected to the outside of the housing;
A leaf spring serving as an elastic body having one end fixed to the locking support member and the other end connected to the locking claw;
The leaf spring is disposed between the opposite surface of the lock spring to which the locking claw is attached and the locking support member, and the force in the direction to open the locking claw against the gripper against the leaf spring. 2. A wafer gripping device according to claim 1, comprising a coil-shaped shape memory alloy spring for locking.
前記ロック機構は、前記筐体の外部に接続された1対のロック用筐体と、
一方端が前記ロック用筐体に固定され、他方端がロック用爪に接続された弾性体となるコイル状のロック用圧縮バネと、
前記ロック用圧縮バネの内側中間部に設けられており、一方端が前記ロック用筐体の底部に固定され、他方端が前記ロック爪に接続されると共に、前記ロック用圧縮バネに抗して前記把持体に対するロック用爪を開放する方向に力を加えるコイル状のロック用形状記憶合金バネとからなることを特徴とする請求項1記載のウェハ把持装置。
The locking mechanism includes a pair of locking casings connected to the outside of the casing;
A coiled compression spring for locking which is an elastic body having one end fixed to the locking housing and the other end connected to the locking claw;
The lock compression spring is provided at an inner intermediate portion, one end is fixed to the bottom of the lock casing, the other end is connected to the lock claw, and is against the lock compression spring. 2. The wafer gripping apparatus according to claim 1, comprising a coil-shaped shape memory alloy spring for locking that applies a force in a direction to open the locking claw with respect to the gripping body.
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