JP2005183665A - Metallized film capacitor and its manufacturing method - Google Patents
Metallized film capacitor and its manufacturing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005183665A JP2005183665A JP2003422241A JP2003422241A JP2005183665A JP 2005183665 A JP2005183665 A JP 2005183665A JP 2003422241 A JP2003422241 A JP 2003422241A JP 2003422241 A JP2003422241 A JP 2003422241A JP 2005183665 A JP2005183665 A JP 2005183665A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode layer
- zinc
- resin
- electrode
- capacitor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
Description
本発明は外装レス面実装タイプの金属化フィルムコンデンサに関するものであり、特に耐電流特性に優れ、はんだ耐熱性を向上させた金属化フィルムコンデンサおよびその製造方法に関するものである。 The present invention relates to a metallized film capacitor of an exterior-less surface mounting type, and more particularly to a metallized film capacitor having excellent current resistance characteristics and improved solder heat resistance, and a method for manufacturing the same.
従来、面実装タイプの金属化フィルムコンデンサは素子構造が偏平型の技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, a surface mount type metalized film capacitor has been known to have a flat element structure (see, for example, Patent Document 1).
上記の偏平型フィルムコンデンサは、一対の金属化フィルムを巻回し重ねた素子に、後巻用プラスチックフィルムを重ね巻回してコンデンサ素子を形成し、該コンデンサ素子の両端面に電極引出し部の第1電極層、第2電極層と順次形成した後、樹脂を真空含浸(または超音波含浸)し、余剰の樹脂を取り除き、加熱硬化した後外部電極を取り付け構成する。
近年、環境問題からはんだの鉛フリー化が進められているが、一般的な無鉛はんだは、従来の鉛入りはんだより溶融温度が高いため、金属化フィルムコンデンサには耐熱性の向上が求められている。
しかしながら、上記金属化フィルムコンデンサでは第2電極層に外部電極との接合性を向上させるため低融点金属が使用されているが、260℃、10秒間の無鉛はんだリフローを行うと、第2電極層に含浸された樹脂が熱膨張し、半溶融状態となった第2電極層の金属が外部に押し出されて突沸状態になり、金属化フィルムコンデンサの外観、耐湿性が劣化するという問題を有していた。
In the flat type film capacitor, a capacitor film is formed by stacking and winding a plastic film for subsequent winding on an element in which a pair of metallized films are wound and stacked, and a first electrode lead portion is formed on both end faces of the capacitor element. After sequentially forming the electrode layer and the second electrode layer, the resin is vacuum impregnated (or ultrasonically impregnated), the excess resin is removed, and after heat curing, an external electrode is attached and configured.
In recent years, lead-free solder has been promoted due to environmental problems. However, general lead-free solder has a higher melting temperature than conventional lead-containing solder, and metalized film capacitors are required to have improved heat resistance. Yes.
However, in the metallized film capacitor, a low melting point metal is used for the second electrode layer in order to improve the bondability with the external electrode. However, when lead-free solder reflow is performed at 260 ° C. for 10 seconds, the second electrode layer The resin impregnated in is thermally expanded and the metal of the second electrode layer, which has been in a semi-molten state, is pushed out to a bumping state, which deteriorates the appearance and moisture resistance of the metallized film capacitor. It was.
本発明は上記の課題を解決するものであり、260℃、10秒間等の無鉛はんだリフローにおいても金属化フィルムコンデンサの第2電極層からの突沸がなく、かつ、耐湿性が向上した金属化フィルムコンデンサを提供するものである。
すなわち、一対の金属化フィルムを巻回した素子に、後巻用プラスチックフィルムを重ね巻きしてコンデンサ素子を形成し、該コンデンサ素子の両端面に電極引出部の第1電極層を形成した後、第2電極層を形成し、外部電極を取付ける金属化フィルムコンデンサおよびその製造方法において、
第1電極層を形成して樹脂含浸し、硬化した後、第2電極層を形成することを特徴とする金属化フィルムコンデンサおよびその製造方法である。
The present invention solves the above-mentioned problem, and there is no bumping from the second electrode layer of the metallized film capacitor even in lead-free solder reflow at 260 ° C. for 10 seconds, etc., and the metallized film with improved moisture resistance A capacitor is provided.
That is, after a pair of metallized films is wound around a plastic film for subsequent winding to form a capacitor element, and after forming the first electrode layer of the electrode lead portion on both end faces of the capacitor element, In the metallized film capacitor for forming the second electrode layer and attaching the external electrode, and the manufacturing method thereof,
A metallized film capacitor and a method of manufacturing the same, wherein a second electrode layer is formed after forming a first electrode layer, impregnating with resin, and curing.
また、上記の第1電極層形成後、含浸する樹脂が粘度1〜1000mPa・sのエポキシ樹脂またはシリコーン樹脂であることを特徴とする金属化フィルムコンデンサである。 The metallized film capacitor is characterized in that after the first electrode layer is formed, the resin to be impregnated is an epoxy resin or a silicone resin having a viscosity of 1 to 1000 mPa · s.
さらに、上記の第1電極層は銅60〜70%残亜鉛からなる合金、アルミニウム40〜56%とケイ素4%以上と亜鉛40%以上からなる合金、亜鉛90%以上で残アルミニウムからなる合金、亜鉛単体のいずれかで構成され、第2電極層は錫80%以上で残亜鉛、銅から構成されることを特徴とする金属化フィルムコンデンサである。 Further, the first electrode layer is made of an alloy composed of 60 to 70% residual zinc of copper, an alloy composed of 40 to 56% aluminum, 4% or more of silicon and 40% or more of zinc, an alloy composed of residual aluminum containing 90% or more of zinc, The metallized film capacitor is composed of any one of zinc alone, and the second electrode layer is composed of 80% or more of tin and remaining zinc and copper.
そして、上記の第1および第2電極層を金属溶射により形成したことを特徴とする金属化フィルムコンデンサである。 A metallized film capacitor is characterized in that the first and second electrode layers are formed by metal spraying.
また、上記の外部電極として板状端子を使用したことを特徴とする金属化フィルムコンデンサである。 Further, the present invention is a metallized film capacitor using a plate-like terminal as the external electrode.
本発明の金属化フィルムコンデンサは、コンデンサ素子の両端面に、高融点金属からなる第1電極層を形成した後、樹脂含浸し、余剰の樹脂を取り除き、硬化させた後、低融点金属からなる第2電極層を設けることにより、第2電極層には樹脂が含浸されないため、無鉛はんだリフローにより第2電極層が半溶融状態になっても金属が突沸状態になることはなく、外部端子の接合性を落とすことなく外観不良発生の防止、さらには耐湿性の向上も図ることができる。 The metallized film capacitor of the present invention is formed of a low melting point metal after forming a first electrode layer made of a high melting point metal on both end faces of the capacitor element, then impregnating the resin, removing excess resin and curing it. By providing the second electrode layer, the second electrode layer is not impregnated with resin. Therefore, even if the second electrode layer is in a semi-molten state due to the lead-free solder reflow, the metal is not bumped, and the external terminal It is possible to prevent the appearance failure and further improve the moisture resistance without deteriorating the bonding property.
一対の金属化フィルムを巻回した素子に後巻用フィルムを重ね巻回してコンデンサ素子3を形成し、該コンデンサ素子3の両端面に、電極引出部の第1電極層4aを形成して樹脂含浸し、硬化させた後、第2電極層4bを形成する。第2電極層4b形成後の樹脂含浸は行わない。
ここで、第1電極層は銅60〜70%残亜鉛からなる合金、アルミニウム40〜56%とケイ素4%以上と亜鉛40%以上からなる合金、亜鉛90%以上で残アルミニウムからなる合金、亜鉛単体のいずれかで構成し、第2電極層は錫80%以上で残亜鉛および/または銅から構成される。
また、第1電極層形成後、含浸する樹脂は、エポキシ樹脂またはシリコーン樹脂とする。
A
Here, the first electrode layer is made of an alloy composed of 60 to 70% residual zinc of copper, an alloy composed of 40 to 56% aluminum, 4% or more of silicon and 40% or more of zinc, an alloy composed of residual aluminum containing 90% or more of zinc, zinc The second electrode layer is composed of 80% or more of tin and residual zinc and / or copper.
Moreover, after forming the first electrode layer, the resin to be impregnated is an epoxy resin or a silicone resin.
次に本発明の実施例を図1〜4に基づいて説明する。
[実施例1−1〜1−4]
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
[Examples 1-1 to 1-4]
図1は本発明の実施例によるコンデンサ素子の断面図である。誘電体フィルムPPS(ポリフェニンスルフィド)にアルミニウムを蒸着した一対の金属化フィルム1を重ねて巻回し、これに後巻用PPSフィルムを複数回巻回してコンデンサ素子3を形成した。
次いで、コンデンサ素子3の両端面に各々、表1に示す金属を溶射して電極引出部の第1電極層4a(厚さ0.15mm)を構成した。
FIG. 1 is a sectional view of a capacitor element according to an embodiment of the present invention. A pair of
Next, the first electrode layer 4a (thickness 0.15 mm) of the electrode lead portion was formed by spraying the metal shown in Table 1 on both end faces of the
このコンデンサ素子に粘度800mPa・sの液状エポキシ樹脂を真空度100kPa以下で含浸し、余分に付着した樹脂を除去後、110℃で3時間加熱し、樹脂を硬化させた。 This capacitor element was impregnated with a liquid epoxy resin having a viscosity of 800 mPa · s at a degree of vacuum of 100 kPa or less, and after removing the excessively adhered resin, the resin was heated at 110 ° C. for 3 hours to cure the resin.
樹脂硬化後、180℃、4時間熱処理を行い、第1電極層4a上に錫89%、残亜鉛、銅を金属溶射し、厚さ0.25mmの第2電極層4bを形成した。
そして、第2電極層4b形成後、樹脂含浸は行わず、外部電極として図4(a)の板状端子を抵抗溶接により取り付けた。
上記のようにして、100VDC、0.1μFのコンデンサを作製した。
After the resin was cured, heat treatment was performed at 180 ° C. for 4 hours, and metal spraying of 89% tin, residual zinc, and copper was performed on the first electrode layer 4a to form a
Then, after the formation of the
A capacitor of 100 VDC and 0.1 μF was produced as described above.
(従来例1−1〜1−4)
上記実施例と同様に、コンデンサ素子3を形成し、その両端面に表1に示す金属を溶射して電極引出部の第1電極層4aを構成した。
(Conventional examples 1-1 to 1-4)
Similarly to the above example, the
その後、第2電極層4bを錫89%、残亜鉛、銅で形成し、粘度800mPa・sの液状エポキシ樹脂を真空度100kPa以下で含浸し、余分に付着した樹脂を除去後、110℃で3時間加熱し、樹脂を硬化させた。
Thereafter, the
このコンデンサ素子に外部電極として図4(a)の板状端子を抵抗溶接により取り付けた。
上記のようにして、100VDC、0.1μFのコンデンサを作製した。
A plate-like terminal shown in FIG. 4A was attached to the capacitor element as an external electrode by resistance welding.
A capacitor of 100 VDC and 0.1 μF was produced as described above.
(比較例1−1〜1−4)
上記実施例と同様に、コンデンサ素子形成、および第1電極層4a、第2電極層4b形成を行った後、樹脂含浸を行わず、外部電極として図4(a)の板状端子を抵抗溶接により取り付けた。
(Comparative Examples 1-1 to 1-4)
Similarly to the above embodiment, after the capacitor element formation and the first electrode layer 4a and the
上記の実施例1−1〜1−4、従来例1−1〜1−4、および比較例1−1〜1−4について、260℃、10秒間の無鉛はんだリフローを行い、また、60℃、95%の耐湿性試験を2000時間実施して特性を測定した。ここで、試料数は各10個とした。
その結果を表1に示す。
For Examples 1-1 to 1-4, Conventional Examples 1-1 to 1-4, and Comparative Examples 1-1 to 1-4, lead-free solder reflow was performed at 260 ° C. for 10 seconds, and 60 ° C. A 95% humidity resistance test was conducted for 2000 hours to measure the characteristics. Here, the number of samples was 10 each.
The results are shown in Table 1.
表1より明らかなように、第1電極層を形成した後にエポキシ樹脂を含浸し、第2電極層を形成した後の樹脂含浸を行わなかった実施例1−1〜1−4では、リフローはんだ付け後、第2電極層の突沸はなく、耐湿性試験後の静電容量、tanδの変化が小さく、安定している。
一方、第2電極層まで樹脂含浸を行った従来例1−1〜1−4では、リフローはんだ付け後、第2電極層の突沸が発生し、耐湿性試験後の静電容量、tanδの変化も実施例1−1〜1−4より大きかった。
さらに、第1電極層、第2電極層に樹脂含浸を行わなかった比較例1−1〜1−4では突沸は発生しなかったが、耐湿試験後の特性が著しく悪化した。
ここで、エポキシ樹脂の粘度は1〜1000mPa・sが適当である。1mPa・s未満では含浸した樹脂が流れ出すという問題があり、また、1000mPa・sを超えると、含浸率が低下する。
また、第1、第2電極層の合金組成は、金属材料の耐食性、はんだ付性、コストを考慮し、上記のように設定している。
As is clear from Table 1, in Examples 1-1 to 1-4 in which the first electrode layer was formed and the epoxy resin was impregnated and the second electrode layer was not impregnated with the resin, the reflow soldering was performed. After the attachment, there is no bumping of the second electrode layer, and the change in capacitance and tan δ after the moisture resistance test is small and stable.
On the other hand, in the conventional examples 1-1 to 1-4 in which resin impregnation was performed up to the second electrode layer, bumping of the second electrode layer occurred after reflow soldering, and the capacitance and tan δ after the moisture resistance test were changed. Was larger than Examples 1-1 to 1-4.
Further, in Comparative Examples 1-1 to 1-4 in which the first electrode layer and the second electrode layer were not impregnated with resin, bumping did not occur, but the characteristics after the moisture resistance test were significantly deteriorated.
Here, the viscosity of the epoxy resin is suitably 1 to 1000 mPa · s. If it is less than 1 mPa · s, there is a problem that the impregnated resin flows out. If it exceeds 1000 mPa · s, the impregnation rate decreases.
The alloy composition of the first and second electrode layers is set as described above in consideration of the corrosion resistance, solderability, and cost of the metal material.
[実施例2−1〜2−4]
上記実施例1−1〜1−4と同様にコンデンサ素子を作製し、両端面に表2に示す金属を溶射して第1電極層4a(厚さ0.15mm)を構成した。
[Examples 2-1 to 2-4]
Capacitor elements were produced in the same manner as in Examples 1-1 to 1-4, and the first electrode layer 4a (thickness 0.15 mm) was configured by spraying the metal shown in Table 2 on both end faces.
このコンデンサ素子に粘度20mPa・sの液状シリコーン樹脂を超音波含浸し、余分に付着した樹脂を除去後、110℃で3時間加熱し、樹脂を硬化させた。 This capacitor element was ultrasonically impregnated with a liquid silicone resin having a viscosity of 20 mPa · s to remove excess resin, and then heated at 110 ° C. for 3 hours to cure the resin.
樹脂硬化後、180℃、4時間熱処理を行い、第1電極層4a上に錫89%、残亜鉛、銅を金属溶射し、厚さ0.25mmの第2電極層4bを形成した。
そして、第2電極層4b形成後、樹脂含浸は行わず、外部電極として図4(a)の板状端子を抵抗溶接により取り付けた。
上記のようにして、100VDC、0.1μFのコンデンサを作製した。
After the resin was cured, heat treatment was performed at 180 ° C. for 4 hours, and metal spraying of 89% tin, residual zinc, and copper was performed on the first electrode layer 4a to form a
Then, after the formation of the
A capacitor of 100 VDC and 0.1 μF was produced as described above.
(従来例2−1〜2−4)
上記実施例と同様に、コンデンサ素子3を形成し、その両端面に表2に示す金属を溶射して、電極引出部の第1電極層4aを構成した。
(Conventional examples 2-1 to 2-4)
Similarly to the above example, the
その後、第2電極層4bを錫89%、残亜鉛、銅で形成し、粘度20mPa・sの液状シリコーン樹脂を真空度100kPa以下で含浸し、余分に付着した樹脂を除去後、110℃で3時間加熱し、樹脂を硬化させた。
このコンデンサ素子に、外部電極として図4(a)の板状端子を抵抗溶接により取り付けた。
上記のようにして、100VDC、0.1μFのコンデンサを作製した。
Thereafter, the
A plate-like terminal shown in FIG. 4A was attached to the capacitor element as an external electrode by resistance welding.
A capacitor of 100 VDC and 0.1 μF was produced as described above.
(比較例2−1〜2−4)
上記実施例と同様に、コンデンサ素子形成、および第1電極層4a、第2電極層4b形成を行った後、樹脂含浸を行わず、外部電極として図4(a)の板状端子を抵抗溶接により取り付けた。
(Comparative Examples 2-1 to 2-4)
Similarly to the above embodiment, after the capacitor element formation and the first electrode layer 4a and the
上記の実施例2−1〜2−4、従来例2−1〜2−4、および比較例2−1〜2−4について、260℃、10秒間の無鉛はんだリフローを行い、また、60℃、95%の耐湿性試験を2000時間実施して特性を測定した。ここで、試料数は各10個とした。
その結果を表2に示す。
For Examples 2-1 to 2-4, Conventional Examples 2-1 to 2-4, and Comparative Examples 2-1 to 2-4, lead-free solder reflow was performed at 260 ° C. for 10 seconds, and 60 ° C. A 95% humidity resistance test was conducted for 2000 hours to measure the characteristics. Here, the number of samples was 10 each.
The results are shown in Table 2.
表2より明らかなように、第1電極層を形成した後にシリコーン樹脂を含浸し、第2電極層を形成した後の樹脂含浸を行わなかった実施例2−1〜2−4では、リフローはんだ付け後、第2電極層の突沸はなく、耐湿性試験後の静電容量、tanδの変化が小さく、安定している。
一方、第2電極層まで樹脂含浸を行った従来例2−1〜2−4では、リフローはんだ付け後、第2電極層の突沸が発生し、耐湿性試験後の静電容量、tanδの変化も実施例2−1〜2−4より大きかった。
さらに、第1電極層、第2電極層に樹脂含浸を行わなかった比較例1−1〜1−4では突沸は発生しなかったが、耐湿試験後の特性が著しく悪化した。
ここで、シリコーン樹脂の粘度は1〜1000mPa・sが適当である。1mPa・s未満では含浸した樹脂が流れ出すという問題があり、また、1000mPa・sを超えると、含浸率が低下する。
As is clear from Table 2, in Examples 2-1 to 2-4 in which the first electrode layer was formed and then the silicone resin was impregnated, and the resin impregnation after the second electrode layer was not formed was performed in reflow soldering After the attachment, there is no bumping of the second electrode layer, and the change in capacitance and tan δ after the moisture resistance test is small and stable.
On the other hand, in Conventional Examples 2-1 to 2-4 in which resin impregnation was performed up to the second electrode layer, bumping of the second electrode layer occurred after reflow soldering, and the capacitance and tan δ after the moisture resistance test were changed. Was larger than Examples 2-1 to 2-4.
Further, in Comparative Examples 1-1 to 1-4 in which the first electrode layer and the second electrode layer were not impregnated with resin, bumping did not occur, but the characteristics after the moisture resistance test were significantly deteriorated.
Here, the viscosity of the silicone resin is suitably 1 to 1000 mPa · s. If it is less than 1 mPa · s, there is a problem that the impregnated resin flows out, and if it exceeds 1000 mPa · s, the impregnation rate decreases.
上記実施例では、第2電極層に外部電極として図4(a)のような板状端子を接合したが、図4(b)、(c)のような形状の板状端子を用いた場合でも、上記と同様、第2電極層の突沸防止、耐湿性向上の効果が得られた。 In the above embodiment, a plate-like terminal as shown in FIG. 4A is joined to the second electrode layer as an external electrode. However, when a plate-like terminal as shown in FIGS. 4B and 4C is used. However, as described above, the effects of preventing bumping of the second electrode layer and improving moisture resistance were obtained.
また、上記実施例では、第1電極層が銅65%残亜鉛からなる合金、アルミニウム44%とケイ素6%と亜鉛50%からなる合金、亜鉛95%で残アルミニウムからなる合金、亜鉛単体のいずれかで構成され、第2電極層が錫89%で残亜鉛、銅から構成されたものを用いたが、第1電極層が銅60〜70%残亜鉛からなる合金、アルミニウム40〜56%とケイ素4%以上と亜鉛40%以上からなる合金、亜鉛90%以上で残アルミニウムのいずれかで構成され、第2電極層が錫80%以上残亜鉛および/または銅であれば同様の効果が得られる。
また、第2電極層の形成方法は、メッキ等の場合でも効果が得られるが、溶射が好ましく、さらに樹脂としてはエポキシ樹脂、シリコーン樹脂が好ましい。
なお、第1電極層の厚さは0.1〜0.2mmの範囲が適当である。0.1mm未満では耐電流性が低下し、0.2mmを超えると、小形化する上で好ましくない。
そして、第2電極層の厚さは0.2〜0.3mmの範囲が適当である。0.2mm未満では外部電極との接合強度が低下し、0.3mmを超えると、小形化する上で好ましくない。
また、樹脂硬化の条件は、実施例に限定されるものではなく、コンデンサ素子の大きさ、使用する樹脂により変更することができる。
そして、金属化フィルムもPPSに限定されるものではなく、ポリエチレンテレフタート、ポリエチレンナフタレート等にアルミニウム、亜鉛を蒸着する公知の材料を使用することができる。
In the above embodiment, the first electrode layer is made of any alloy consisting of 65% copper remaining zinc, 44% aluminum, 6% silicon, 50% zinc alloy, 95% zinc remaining aluminum alloy, and zinc alone. The second electrode layer is composed of 89% tin and the remaining zinc and copper, but the first electrode layer is composed of 60 to 70% copper and 40% to 56% aluminum. The same effect can be obtained if the alloy is composed of an alloy consisting of 4% or more of silicon and 40% or more of zinc, or 90% or more of zinc and remaining aluminum, and the second electrode layer is 80% or more of tin and remaining zinc and / or copper. It is done.
In addition, the method for forming the second electrode layer is effective even in the case of plating or the like, but thermal spraying is preferable, and as the resin, epoxy resin and silicone resin are preferable.
The thickness of the first electrode layer is suitably in the range of 0.1 to 0.2 mm. If the thickness is less than 0.1 mm, the current resistance decreases.
The thickness of the second electrode layer is suitably in the range of 0.2 to 0.3 mm. If it is less than 0.2 mm, the bonding strength with the external electrode is lowered, and if it exceeds 0.3 mm, it is not preferable for miniaturization.
The resin curing conditions are not limited to those in the examples, and can be changed depending on the size of the capacitor element and the resin used.
The metallized film is not limited to PPS, and a known material for depositing aluminum or zinc on polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, or the like can be used.
1 金属化フィルム
1a 金属蒸着部
1b 誘電体フィルム
2 後巻用プラスチックフィルム
3 コンデンサ素子
4a 第1電極層
4b 第2電極層
5 外部電極(板状端子)
6 開口部
7 抵抗溶接部
DESCRIPTION OF
6
Claims (5)
第1電極層を形成して樹脂含浸し、硬化した後、第2電極層を形成することを特徴とする金属化フィルムコンデンサおよびその製造方法。 A capacitor film is formed by overlappingly winding a plastic film for subsequent winding on an element in which a pair of metallized films is wound, and after forming first electrode layers of electrode lead portions on both end faces of the capacitor element, a second In a metallized film capacitor for forming an electrode layer and attaching an external electrode and a manufacturing method thereof,
A metallized film capacitor comprising: forming a first electrode layer; impregnating with resin; curing; and then forming a second electrode layer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003422241A JP2005183665A (en) | 2003-12-19 | 2003-12-19 | Metallized film capacitor and its manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003422241A JP2005183665A (en) | 2003-12-19 | 2003-12-19 | Metallized film capacitor and its manufacturing method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005183665A true JP2005183665A (en) | 2005-07-07 |
Family
ID=34783178
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003422241A Pending JP2005183665A (en) | 2003-12-19 | 2003-12-19 | Metallized film capacitor and its manufacturing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005183665A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007080908A (en) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film capacitor and case mold capacitor using same |
JP2013171989A (en) * | 2012-02-21 | 2013-09-02 | Toyota Motor Corp | Capacitor and manufacturing method therefor |
-
2003
- 2003-12-19 JP JP2003422241A patent/JP2005183665A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007080908A (en) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film capacitor and case mold capacitor using same |
JP2013171989A (en) * | 2012-02-21 | 2013-09-02 | Toyota Motor Corp | Capacitor and manufacturing method therefor |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102212642B1 (en) | Multilayered capacitor | |
KR102443777B1 (en) | Chip-type electronic components | |
JP5897247B2 (en) | Electronic component and method for manufacturing electronic component | |
US11532436B2 (en) | Multilayer ceramic electronic component including outer electrodes connected to metal terminals | |
JPH06168845A (en) | Chip type laminated film capacitor | |
JP5075466B2 (en) | Electrolytic capacitor manufacturing method | |
US10366830B2 (en) | Surface mount electronic component | |
JP2005183665A (en) | Metallized film capacitor and its manufacturing method | |
JP7310877B2 (en) | Manufacturing method of electrolytic capacitor | |
JP2018142609A (en) | Surface mounted electronic component | |
JP3760642B2 (en) | Electronic components | |
JP2004319799A (en) | Film capacitor device and its manufacturing method | |
JP2008135460A (en) | Chip solid electrolytic capacitor | |
JP2004128470A (en) | Ceramic electronic parts | |
JP2006012988A (en) | Metallized film capacitor and manufacturing method therefor | |
JP2000058369A (en) | Film capacitor | |
JP2003243245A (en) | Ceramic electronic component and its manufacturing method | |
JPS59127828A (en) | Chip film capacitor | |
US20230108549A1 (en) | Multilayer ceramic electronic component | |
JP5516331B2 (en) | Metallized film capacitors | |
JP2018148059A (en) | Multilayer ceramic electronic component with heat-shrinkable tube and mounting method thereof | |
JP2007250923A (en) | Metallized film capacitor and its manufacturing method | |
JPH0547585A (en) | Electronic part | |
JP2870179B2 (en) | Chip type metallized film capacitor and manufacturing method thereof | |
JPH03241804A (en) | Chip type metallized film capacitor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060612 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090306 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090323 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090721 |