JP2005172572A - 透過率測定装置及び透過率測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 製作コストを高くすることなく高精度の位置決めを行うことができる透過率測定装置及び透過率測定方法を提供する。
【解決手段】 光源と、光源から出射された光を光通信部品に導く光ファイバ10と、光通信部品を透過した光を受光するファイバコリメータとを備えている透過率測定装置において、光ファイバ10の出射側端部に取り付けた固定金具11を光通信部品を載置する載置台20に取り付け、光ファイバ10の出射側端面10a近傍に空隙を介して光通信部品を配置して、光束の中心に光通信部品を配置することができるようにした。
【選択図】 図3
【解決手段】 光源と、光源から出射された光を光通信部品に導く光ファイバ10と、光通信部品を透過した光を受光するファイバコリメータとを備えている透過率測定装置において、光ファイバ10の出射側端部に取り付けた固定金具11を光通信部品を載置する載置台20に取り付け、光ファイバ10の出射側端面10a近傍に空隙を介して光通信部品を配置して、光束の中心に光通信部品を配置することができるようにした。
【選択図】 図3
Description
この発明は微小サイズの光通信部品の透過率を測定する透過率測定装置及び透過率測定方法に関する。
従来の透過率測定装置として、光源から出射された光をチップホルダに載置されたチップに導く光ファイバと、光ファイバとチップホルダとの間に配置されたレンズと、チップを透過した光を受光する受光部と、受光部を通過した光を解析装置等に導く受光側光ファイバとを備えているものがある(実用新案登録第3086504号公報参照)。
光源から出射された光は光ファイバに導かれて光ファイバの出力側端面から出射され、レンズによって集光されてチップホルダに載置されたチップの一方の端面に入射する。チップに入射した光はそのチップの他方の端面から出射される。他方の端面から出射された光は受光部によって受光され、受光側光ファイバを介して解析装置に導かれる。
実用新案登録第3086504号公報
ところで、近年光通信部品の小型化が進み、その縦、横及び高さは0.3mm、3mm及び0.03mm程度である。
このようなサイズの光通信部品の透過率を測定するには、例えば直径0.2mm程度以下の光束を得られる透過率測定装置が必要になる。
更に、光束の中心に光通信部品を配置しなければならない。
しかし、光ファイバの出力側端面から出射する光は発散光であるため、光束の直径が大きくなり、±0.05mmの許容誤差のレベルで光束の中心に光通信部品を配置させることは難しい。
上記公報に示されたように、専用の光学系を組み込むことによって直径0.1mmの細い光束を得ることはできるが、それでは透過率測定装置の製作コストが高くなる。
この発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、その課題は製作コストを高くすることなく高精度の位置決めを行うことができる透過率測定装置及び透過率測定方法を提供することである。
上記課題を解決するため請求項1記載の発明は、光源と、前記光源から出射された光を被測定物に導く光ファイバと、前記被測定物を透過した光を受光する受光手段とを備えている透過率測定装置において、前記光ファイバの出射側端面近傍に空隙を介して前記被測定物を配置する配置手段を備えていることを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1記載の透過率測定装置において、前記配置手段は、前記光ファイバの出射側端部に装着され、前記被測定物が載置される載置台であることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、光源と、前記光源から出射された光を被測定物に導く光ファイバと、前記被測定物を透過した光を受光する受光手段とを備えている透過率測定装置を用いて光学部品の光学特性を測定する透過率測定方法において、前記光ファイバの出射側端面近傍に空隙を介して前記被測定物を配置することを特徴とする。
この発明の透過率測定装置及び透過率測定方法によれば、製作コストを高くすることなく高精度の位置決めを行うことができる。
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1はこの発明の一実施形態に係る透過率測定装置を説明する図、図2はその一部を示す拡大図である。
この透過率測定装置は、光源4と、光ファイバ10と、載置台(配置手段)20と、ファイバコリメータ(受光手段)30と、受光側光ファイバ40と、検出器6とを備えている。
光ファイバ10は光源4から出射された光を載置台20に載置された光通信部品5の近傍まで導く。光ファイバ10は石英で形成されている。この光ファイバ10の外径及びコア径はそれぞれ3mm及び0.01mmである。光通信部品5は例えば五酸化ニオブと酸化ケイ素の交互多層膜で形成される。
ファイバコリメータ30は光通信部品5を透過した光を集光する。ファイバコリメータ30の外径及び長さはそれぞれ5mm及び10mmである。光ファイバ10の出射側端面10aからファイバコリメータ30の入射面30aまでの距離は10mm程度である。
光ファイバ10の出射側端面10aから出射された光は前述したように発散光であるので、光ファイバ10の出射側端面10aからファイバコリメータ30の入射面30aまでの距離が長くなるにしたがって大きな入射面30aが必要になる。
ところで、仮にフォトディテクタを用い、拡散された光も十分な強度で受光しようとすると、受光面の大きいフォトディテクタを必要とする。
受光側光ファイバ40はファイバコリメータ30を通過した光をスペクトルアナライザ等の検出器6に導く。この受光側光ファイバ40の外径及びコア径はそれぞれ3mm及び0.01mmである。
図3は光ファイバを載置台に取り付ける前の状態を示す概念図である。
載置台20は、鍔部20aと、鍔部20aの下面に形成された固定金具受け20bとで構成される。載置台20の中心には貫通孔21が形成されている。
光ファイバ10の出射側端部には固定金具11が取り付けられている。固定金具11は、固定金具受け20bに嵌合可能なハウジング部12と、ハウジング部12の先端から突出し、鍔部20aの内周面に形成されためねじ部21aに螺合可能なおねじ部13とを有する。円筒状のおねじ部13の長さは鍔部20aの厚さよりわずかに短い。
おねじ部13の中心部には光ファイバ10が挿入されたフェルール(図示せず)が配置されている。なお、フェルールの先端は出射した光が不均一に発散しないように所定の平面度に研磨されている。
図4は光ファイバを載置台に取り付けた状態を示す概念図である。
光ファイバ10は、固定金具11のハウジング部12を回しておねじ部13を鍔部20aのめねじ部21aに螺合させることによって、載置台20に取り付けられる。
上記構成の透過率測定装置の動作を説明する。
光源4から出射された光は光ファイバ10に導かれて光ファイバ10の出射側端面10aから出射する。出射側端面10aから出射した光は光通信部品5の一方の端面5aに入射し、図2に示すように発散しながら進行する。光は光通信部品5の他方の端面5bから出射される。他方の端面5bから出射された光は発散しながらファイバコリメータ30の入射面30aに入射し、受光側光ファイバ40を介して検出器6に導かれる。
このとき、光通信部品5の一方の端面5aは光ファイバ10の出射側端面10aの近傍にわずかな空隙を介して配置されているので、光通信部品5には発散が少ない光が入射し、専用の光学系を組み込むことなく容易に光束の中心に光通信部品5を配置することができる。
しかし、入射面30aが大きくなると入射面30aの感度むらが大きくなるため、光ファイバ10の出射側端面10aからファイバコリメータ30の入射面30aまでの距離は10mm程度に設定されている。
なお、光ファイバ10の出射側端面10aにコリメータレンズ(図示せず)を装着し、コリメータレンズから出射される光を平行光として入射面30aまでの距離を長くすることはできる。しかし、コリメータレンズを用いた場合、特定の波長の光を平行光にするのは容易であるが、ある波長帯に含まれるすべての光を平行光にすることは難しいとともに、従来例と同様に透過率測定装置の製作コストが高くなるという問題が生じる。
この実施形態によれば、透過率測定装置の製作コストを高くすることなく高精度の位置決めを行うことができる。
なお、上記実施形態では受光側にファイバコリメータ30を配置したが、その代わりにフォトダイオード等を配置するようにしてもよい。なお、フォトダイオードを用いた場合には検出器として電圧計が用いられる。すなわち、フォトダイオードで検出された光量に対応する電圧を電圧計で検出する。
5 光通信部品(被測定物)
10 光ファイバ
10a 出射側端面
20 載置台(配置手段)
30 ファイバコリメータ(受光手段)
10 光ファイバ
10a 出射側端面
20 載置台(配置手段)
30 ファイバコリメータ(受光手段)
Claims (3)
- 光源と、前記光源から出射された光を被測定物に導く光ファイバと、前記被測定物を透過した光を受光する受光手段とを備えている透過率測定装置において、
前記光ファイバの出射側端面近傍に空隙を介して前記被測定物を配置する配置手段を備えていることを特徴とする透過率測定装置。 - 前記配置手段は、前記光ファイバの出射側端部に装着され、前記被測定物が載置される載置台であることを特徴とする請求項1記載の透過率測定装置。
- 光源と、前記光源から出射された光を被測定物に導く光ファイバと、前記被測定物を透過した光を受光する受光手段とを備えている透過率測定装置を用いて光学部品の光学特性を測定する透過率測定方法において、
前記光ファイバの出射側端面近傍に空隙を介して前記被測定物を配置することを特徴とする透過率測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003411833A JP2005172572A (ja) | 2003-12-10 | 2003-12-10 | 透過率測定装置及び透過率測定方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003411833A JP2005172572A (ja) | 2003-12-10 | 2003-12-10 | 透過率測定装置及び透過率測定方法 |
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JP2003411833A Withdrawn JP2005172572A (ja) | 2003-12-10 | 2003-12-10 | 透過率測定装置及び透過率測定方法 |
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2003
- 2003-12-10 JP JP2003411833A patent/JP2005172572A/ja not_active Withdrawn
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