JP2005142274A - Method of forming pattern and method of manufacturing electronic device - Google Patents

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幸弘 橋
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of forming pattern by which the manufacturing efficiency of a pattern can be improved, and to provide a method of manufacturing electronic device. <P>SOLUTION: The method of forming pattern includes a first process of forming a contact-angle changeable film 11 which can be changed in the contact angle with a liquid, a second process of forming a prescribed pattern composed of liquid repellent areas 11b and a lyophilic area 11a by forming the liquid repellent areas 11b having large contact angles by changing the contact angle of the contact-angle changeable film 11 by heating, and a third process of applying a first functional fluid 12L to the lyophilic area 11a and solidifying the fluid 12L. The method also includes a fourth process of relieving the liquid repellent properties of the liquid repellent areas 11b by reducing the contact angles of the areas 11b by bringing a contact-angle control material 13L into contact with the areas 11b and heating the material 13L, and a fifth process of applying a second function fluid to the liquid repellent property-relieved areas and solidifying the fluid. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、パターンの形成方法および電子デバイスの製造方法に関する。   The present invention relates to a pattern forming method and an electronic device manufacturing method.

従来の多層配線形成方法、特に下層配線と、層間絶縁膜と、上層配線とをこの順に積層させた多層配線における、下層配線と上層配線とを導通させる方法は、次のような方法が知られている。
その方法とは、まず下層配線上に形成された層間絶縁膜にスルーホ−ルを形成する。そして、スパッタ法によりAl系金属を層間絶縁膜上に堆積させ、パターニングすることで、スルーホールを介して下層配線と導通された上層配線が形成される。
The following methods are known as conventional multilayer wiring forming methods, in particular, the method of conducting the lower layer wiring and the upper layer wiring in the multilayer wiring in which the lower layer wiring, the interlayer insulating film, and the upper layer wiring are laminated in this order. ing.
In this method, first, a through hole is formed in an interlayer insulating film formed on a lower layer wiring. Then, an Al-based metal is deposited on the interlayer insulating film by sputtering and patterned to form an upper layer wiring that is electrically connected to the lower layer wiring through the through hole.

しかしながら、上記の方法では形成する配線パターンが微細化すると、スルーホールの径も減少し、スルーホールの深さと径との比であるアスペクト比が大きくなる。すると、スルーホールの底面周辺部にAl系金属がスパッタ堆積されにくい領域が発生し、下層配線と上層配線との導通が確保できなくなる恐れがあった。そのため、多層配線の信頼性向上を図るためさまざまな技術が提案されてきた(例えば、特許文献1参照。)。
特開平5−102314号公報
However, in the above method, when the wiring pattern to be formed is miniaturized, the diameter of the through hole is reduced, and the aspect ratio that is the ratio of the depth and the diameter of the through hole is increased. As a result, a region where Al-based metal is difficult to be sputter-deposited is generated around the bottom surface of the through hole, and there is a fear that the conduction between the lower layer wiring and the upper layer wiring cannot be secured. Therefore, various techniques have been proposed to improve the reliability of multilayer wiring (see, for example, Patent Document 1).
JP-A-5-102314

上述の特許文献1においては、下層の配線層に上層の配線層と電気的に接続するコンタクト用のピラー配線を形成し、ピラー配線を含む下層の配線層上に層間絶縁膜を成膜し、CMP(Chemical Mechanical Polishing)により層間絶縁膜上面を平坦化しながらピラー上面を露出させていた。
しかしながら、この方法では、CMPのような複雑な工程が必須であり、一度成膜した層間絶縁層を削らなければならず、製造効率がよくないという問題があった。
In the above-mentioned Patent Document 1, a contact pillar wiring electrically connected to the upper wiring layer is formed in the lower wiring layer, an interlayer insulating film is formed on the lower wiring layer including the pillar wiring, The upper surface of the pillar was exposed while planarizing the upper surface of the interlayer insulating film by CMP (Chemical Mechanical Polishing).
However, in this method, a complicated process such as CMP is indispensable, and the interlayer insulating layer once formed must be scraped, resulting in a problem that the manufacturing efficiency is not good.

本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、製造効率を向上させることができるパターンの形成方法および電子デバイスの製造方法を提供することを目的とする。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that it provides a pattern forming method and an electronic device manufacturing method that can improve manufacturing efficiency.

上記目的を達成するために、本発明のパターンの形成方法は、被処理面上に、液体との接触角を変更できる接触角可変膜を形成する第1工程と、接触角可変膜の接触角を加熱により変更し、接触角の大きい撥液領域を形成することにより、撥液領域および親液領域からなる所定パターンを形成する第2工程と、親液領域に第1機能液を塗布して固化する第3工程と、撥液領域に接触角制御材を接触させて加熱することにより、撥液領域の接触角を減少させて撥液性を緩和する第4工程と、撥液性が緩和された領域に第2機能液を塗布して固化する第5工程と、を有することを特徴とする。   In order to achieve the above object, the pattern forming method of the present invention includes a first step of forming a contact angle variable film capable of changing a contact angle with a liquid on a surface to be processed, and a contact angle of the contact angle variable film. Is changed by heating to form a liquid repellent area having a large contact angle, thereby forming a predetermined pattern consisting of the liquid repellent area and the lyophilic area, and applying the first functional liquid to the lyophilic area. The third step of solidification, the fourth step of reducing the liquid repellency by reducing the contact angle of the liquid repellent region by bringing the contact angle control material into contact with the liquid repellent region and heating, and the liquid repellency relaxed And a fifth step of applying and solidifying the second functional liquid to the formed region.

すなわち、本発明のパターンの形成方法は、被処理面上に形成された接触角可変膜を用いることにより、被処理面上に第1機能液および第2機能液を異なるパターンに塗布(リキッドセルフパターニング)することができ、固化させて平坦な面を持つ層を形成することができる。
つまり、本発明のパターンの形成方法では、まず、接触角可変膜の撥液領域および親液領域の内の親液領域に第1機能液を塗布、固化させて第1機能液が固化した層を形成する。そして、撥液領域の撥液性を緩和させ、その領域に第2機能液を塗布、固化させて第2機能液が固化した層を形成している。その結果、接触角可変膜を用いることにより、所定パターンの第1機能液が固化した層と、それ以外の領域を占める第2機能液が固化した層と、を形成することができる。また、第1機能液が固化した層および第2機能液が固化した層の上面は、CMPのような研削工程を用いることなく平坦に形成することができ、製造効率を向上させることができる。
That is, in the pattern forming method of the present invention, the first functional liquid and the second functional liquid are applied to different patterns (liquid self) on the surface to be processed by using the contact angle variable film formed on the surface to be processed. Patterning) and can be solidified to form a layer with a flat surface.
That is, in the pattern forming method of the present invention, first, the first functional liquid is solidified by applying and solidifying the first functional liquid in the lyophilic area of the contact angle variable film and the lyophilic area. Form. Then, the liquid repellency of the liquid repellent area is relaxed, and the second functional liquid is applied to the area and solidified to form a solidified layer of the second functional liquid. As a result, by using the contact angle variable film, it is possible to form a layer in which the first functional liquid in a predetermined pattern is solidified and a layer in which the second functional liquid occupying the other region is solidified. Further, the upper surface of the layer in which the first functional liquid is solidified and the layer in which the second functional liquid is solidified can be formed flat without using a grinding process such as CMP, and the manufacturing efficiency can be improved.

上記の構成を実現するために、より具体的には、第3工程における第1機能液の固化が加熱により行われ、第4工程における加熱が第3工程における加熱を兼ねてもよい。
この構成によれば、第4工程における加熱が第3工程における加熱を兼ねるため、製造工程を削減することができ、製造効率を向上させることができる。
In order to realize the above configuration, more specifically, the solidification of the first functional liquid in the third step may be performed by heating, and the heating in the fourth step may also serve as the heating in the third step.
According to this configuration, since the heating in the fourth step also serves as the heating in the third step, the manufacturing steps can be reduced and the manufacturing efficiency can be improved.

上記の構成を実現するために、より具体的には、第2工程における加熱と第4工程における加熱とが、レーザ照射によって行われる加熱であってもよい。
この構成によれば、レーザ照射によって第2工程および第4工程における加熱が行われるため、接触角可変膜と接触することなく加熱することができる。そのため、被処理面や接触角可変膜に接触することにより発生するダメージを防止することができる。
In order to realize the above configuration, more specifically, the heating in the second step and the heating in the fourth step may be heating performed by laser irradiation.
According to this configuration, since the heating in the second step and the fourth step is performed by laser irradiation, the heating can be performed without contact with the contact angle variable film. Therefore, it is possible to prevent damage caused by contact with the surface to be processed and the contact angle variable film.

上記の構成を実現するために、より具体的には、固化した第1機能液の層の面に撥液処理を施してもよい。
この構成によれば、固化した第1機能液の層の面に撥液処理を施しているため、第5工程における第2機能液の塗布時に、第2機能液が上記第1機能液の層上に塗布されることがない。
In order to realize the above configuration, more specifically, the liquid repellent treatment may be performed on the surface of the solidified first functional liquid layer.
According to this configuration, since the surface of the solidified first functional liquid layer is subjected to the liquid repellent treatment, when the second functional liquid is applied in the fifth step, the second functional liquid is the first functional liquid layer. It is not applied on top.

上記の構成を実現するために、より具体的には、第1機能液および第2機能液のうち、少なくとも一方が導電材料を含んでいてもよい。
この構成によれば、第1機能液および第2機能液の少なくとも一方が導電材料を含むことにより、例えば、被処理面に配線が施され、第1機能液および第2機能液を固化させた層の上に配線が施されているとすると、これら両配線の電気的接続を図ることができる。
In order to realize the above configuration, more specifically, at least one of the first functional liquid and the second functional liquid may include a conductive material.
According to this configuration, when at least one of the first functional liquid and the second functional liquid includes the conductive material, for example, wiring is applied to the surface to be processed, and the first functional liquid and the second functional liquid are solidified. If wiring is applied on the layer, electrical connection between these two wirings can be achieved.

上記の構成を実現するために、より具体的には、第2工程において、親液領域が接触角可変膜を除去することで形成されてもよい。
この構成によれば、親液領域の接触角可変膜を除去していることにより、親液領域に第1機能液を塗布(リキッドセルフパターニング)させることができる。
また、例えば被処理面上に配線が形成され、第1機能液が導電性を有する材料を含む場合、上記配線と第1機能液を固化させた層との導通性を向上させることができる。
In order to realize the above configuration, more specifically, in the second step, the lyophilic region may be formed by removing the contact angle variable film.
According to this configuration, by removing the contact angle variable film in the lyophilic area, the first functional liquid can be applied (liquid self patterning) to the lyophilic area.
Further, for example, when a wiring is formed on the surface to be processed and the first functional liquid contains a conductive material, it is possible to improve the conductivity between the wiring and the layer in which the first functional liquid is solidified.

本発明の電子デバイスの製造方法は、上記本発明のパターン形成方法を用いていることを特徴とする。
すなわち、本発明の電子デバイスの製造方法は、上記本発明のパターン形成方法を用いているので、基板上の配線などのパターン形成に係る製造効率が向上し、ひいては電子デバイスの製造効率を向上させることができる。
An electronic device manufacturing method of the present invention is characterized by using the pattern forming method of the present invention.
That is, since the manufacturing method of the electronic device of the present invention uses the pattern forming method of the present invention, the manufacturing efficiency related to pattern formation such as wiring on the substrate is improved, and consequently the manufacturing efficiency of the electronic device is improved. be able to.

以下、本発明に係るパターンの形成方法、および電子デバイスの製造方法について、図面を参照して説明する。
なお、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材の縮尺は実際のものとは異なるように表している。
Hereinafter, a pattern forming method and an electronic device manufacturing method according to the present invention will be described with reference to the drawings.
In addition, in order to make each layer and each member large enough to be recognized on the drawing, the scale of each layer and each member is shown differently from the actual one.

以下、本発明に係るパターンの形成方法について説明する。
図1から図3は、本実施の形態に係るパターンの形成方法の主要工程における基板の模式断面図である。
図1(a)に示すように、基板10は本実施形態のパターンが形成される対象物であり、例えば、複数の導電膜と絶縁膜が予め積層された多層配線基板や、配線層や層間絶縁膜が予め形成された回路基板等である。基板10の材質は、その使用目的に応じて選択され、例えば、光透過性が求められる場合にはガラス等の透明性材料が選択され、可撓性が求められる場合には樹脂材料等が選択され、半導体素子を形成する場合にはシリコンウェハが選択される。
Hereinafter, a pattern forming method according to the present invention will be described.
1 to 3 are schematic cross-sectional views of a substrate in main steps of the pattern forming method according to the present embodiment.
As shown in FIG. 1A, a substrate 10 is an object on which a pattern of this embodiment is formed. For example, a multilayer wiring board in which a plurality of conductive films and insulating films are laminated in advance, a wiring layer, or an interlayer A circuit board or the like on which an insulating film is formed in advance. The material of the substrate 10 is selected according to the purpose of use. For example, a transparent material such as glass is selected when light transmittance is required, and a resin material is selected when flexibility is required. In the case of forming a semiconductor element, a silicon wafer is selected.

次に、本実施形態のパターンの形成方法は、接触角可変膜形成工程(第1工程)と、撥液化処理工程(第2工程)と、導電層形成工程(第3工程)と、撥液性緩和処理工程(第4工程)と、層間絶縁層形成工程(第5工程)と、から概略なっている。次に各工程を説明すると共に、各工程で用いられる方法及び装置について説明する。   Next, the pattern forming method of this embodiment includes a contact angle variable film forming step (first step), a liquid repellent treatment step (second step), a conductive layer forming step (third step), and a liquid repellent. It is roughly composed of a property relaxation treatment step (fourth step) and an interlayer insulating layer formation step (fifth step). Next, each process will be described, and a method and apparatus used in each process will be described.

(接触角可変膜形成工程)
接触角可変膜形成工程は、図1(b)に示すように、疎水基を持つ有機化合物を含んだ接触角可変液11Lを基板10上に塗布して接触角可変膜11が形成されている。
接触角可変液11Lを塗布する方法としては、スピンコート法、ディップコート法、スプレー成膜法、スリットコート法、印刷法、液体吐出法等を用いることができる。また、接触角可変液11Lに含まれる疎水基と持つ有機化合物としては、(1)高分子重合体の側鎖に結合基によって結合された疎水基を有するもの、(2)高分子重合体の側鎖に末端から順に疎水基、自己凝集性または平面構造を有する分子鎖、結合基が結合されたもの、(3)有機または無機材料の表面に疎水基を有する化合物を、物理的または科学的に結合したもの、(4)疎水基を有する化合物、などを例示することができる。疎水基としては、−CH、−CF、−CFH、−CFH、−C(CF、−C(CHなどが分子の末端に配置されているものを例示することができる。
接触角可変膜11は、後述する層間絶縁層14の膜厚よりも薄く形成される必要があり、その機能を有する範囲内で薄く形成することが好ましい。
なお、接触角可変膜11は上述したように塗装膜として形成されてもよいが、別工程においてフィルム状の接触角可変膜11を形成してから基板10上に配置してもよい。
(Contact angle variable film formation process)
In the contact angle variable film forming step, as shown in FIG. 1B, the contact angle variable film 11 is formed by applying a contact angle variable liquid 11L containing an organic compound having a hydrophobic group on the substrate 10. .
As a method for applying the contact angle variable liquid 11L, a spin coating method, a dip coating method, a spray film forming method, a slit coating method, a printing method, a liquid discharge method, or the like can be used. The organic compound having a hydrophobic group contained in the variable contact angle liquid 11L includes (1) a compound having a hydrophobic group bonded to a side chain of the polymer by a bonding group, and (2) a polymer polymer. In order from the end to the side chain, a hydrophobic group, a molecular chain having a self-aggregating or planar structure, a binding group bonded, (3) a compound having a hydrophobic group on the surface of an organic or inorganic material, physical or scientific And (4) a compound having a hydrophobic group, and the like. Examples of the hydrophobic group include those in which —CH 3 , —CF 3 , —CF 2 H, —CFH 2 , —C (CF 3 ) 3 , —C (CH 3 ) 3 and the like are arranged at the end of the molecule. can do.
The contact angle variable film 11 needs to be formed thinner than the film thickness of an interlayer insulating layer 14 described later, and is preferably formed within a range having the function.
The contact angle variable film 11 may be formed as a coating film as described above, but may be disposed on the substrate 10 after the film-like contact angle variable film 11 is formed in a separate process.

(撥液化処理工程)
撥液化処理工程は、図1(c)に示すように、空気中で接触角可変膜11の撥液領域11bにレーザを照射して加熱し、接触角可変膜11の接触角を大きくすることにより行われる。このとき、レーザ照射されない領域は撥液化領域よりも接触角の小さい親液領域11aとされる。
撥液領域11bへのレーザ照射は、レーザ照射装置と基板10との間に撥液領域11bのパターンを形成したマスクを配置して行ってもよいし、照射領域を狭く絞ったレーザ光を照射しながら、レーザ照射装置と基板10とを相対移動させて撥液領域11bをレーザ照射してもよい。
接触角可変膜11は空気中で加熱されると、その内部の疎水基を持つ有機化合物の分子運動が活発となり、疎水基が疎水性雰囲気側(空気側)に向いて配向する。そのため、空気中で加熱された接触角可変膜11では疎水基が空気側に配向し、その結果、表面エネルギーが低く液体との接触角が大きい撥液領域11aとなる。
なお、撥液化領域を加熱する方法は上述したレーザ照射による方法でもよいが、ヒータやサーマルヘッドなどを基板10に接触させて加熱してもよいし、レーザでなく赤外線や光、電子線などを照射して加熱してもよく、さまざまな加熱方法を用いることができる。
なお、この工程において親液領域11aは、上述のように何も処理されなくてもよいが、親液領域11aの接触角可変膜11を除去してもよい。親液領域11aの接触角可変膜11を除去することにより、基板10と後述する導電層12との導電性を向上させることができる。
(Liquid repellency treatment process)
In the lyophobic treatment step, as shown in FIG. 1C, the lyophobic region 11b of the contact angle variable film 11 is irradiated with laser in the air and heated to increase the contact angle of the contact angle variable film 11. Is done. At this time, the region not irradiated with the laser is the lyophilic region 11a having a smaller contact angle than the lyophobic region.
The laser irradiation to the liquid repellent area 11b may be performed by arranging a mask in which the pattern of the liquid repellent area 11b is formed between the laser irradiation apparatus and the substrate 10, or irradiation with a laser beam with a narrowed irradiation area. However, the laser irradiation apparatus 11 and the substrate 10 may be moved relative to each other to irradiate the liquid repellent region 11b with the laser.
When the contact angle variable film 11 is heated in the air, the molecular motion of the organic compound having a hydrophobic group therein becomes active, and the hydrophobic group is oriented toward the hydrophobic atmosphere side (air side). Therefore, in the contact angle variable film 11 heated in the air, the hydrophobic group is oriented to the air side, and as a result, the liquid repellent region 11a has a low surface energy and a large contact angle with the liquid.
The method of heating the lyophobic region may be the above-described laser irradiation method, but may be heated by bringing a heater, a thermal head, or the like into contact with the substrate 10, or using infrared rays, light, electron beams, etc. instead of a laser. Irradiation and heating may be used, and various heating methods can be used.
In this step, the lyophilic region 11a may not be processed as described above, but the contact angle variable film 11 in the lyophilic region 11a may be removed. By removing the contact angle variable film 11 in the lyophilic region 11a, the conductivity between the substrate 10 and a conductive layer 12 described later can be improved.

(導電層形成工程)
導電層形成工程では、図2(a)に示すように、前工程で形成された親液領域11a上に液体導電材(第1機能液)12Lを塗布し、図2(b)に示すように、加熱して乾燥、焼結(固化)させて導電層(プラグ)12を形成している。液体導電材12Lとしては、例えば金属微粒子を分散媒に分散させたものを用いることができ、Cu微粒子やAu微粒子、Ag微粒子などをトルエンなどの分散媒に分散させたものを例示することができる。また、液体導電材12Lを塗布する方法としては、スピンコート法、ディップコート法、スプレー成膜法、スリットコート法、印刷法、液体吐出法等を用いることができる。
液体導電材12Lは、図2(a)に示すように、接触角可変膜11上に塗布されると、撥液領域11bと親液領域11aとの接触角の違いにより、撥液領域11b上には留まらず、親液領域11a上に留まり、リキッドセルフパターニングされる。親液領域11a上に塗布された液体導電材12Lは、その後図2(b)に示すように、レーザ照射により加熱、乾燥されることにより、分散媒が蒸発し金属微粒子が親液領域11a上に堆積し、焼結させて導電層12が形成される。
(Conductive layer formation process)
In the conductive layer forming step, as shown in FIG. 2A, a liquid conductive material (first functional liquid) 12L is applied on the lyophilic region 11a formed in the previous step, as shown in FIG. Then, the conductive layer (plug) 12 is formed by heating, drying, and sintering (solidifying). As the liquid conductive material 12L, for example, a material in which metal fine particles are dispersed in a dispersion medium can be used, and a material in which Cu fine particles, Au fine particles, Ag fine particles, etc. are dispersed in a dispersion medium such as toluene can be exemplified. . As a method for applying the liquid conductive material 12L, a spin coating method, a dip coating method, a spray film forming method, a slit coating method, a printing method, a liquid discharge method, or the like can be used.
As shown in FIG. 2A, when the liquid conductive material 12L is applied on the contact angle variable film 11, the liquid conductive material 12L is formed on the liquid repellent region 11b due to a difference in contact angle between the liquid repellent region 11b and the lyophilic region 11a. It remains on the lyophilic region 11a and is subjected to liquid self-patterning. As shown in FIG. 2B, the liquid conductive material 12L applied on the lyophilic region 11a is then heated and dried by laser irradiation, whereby the dispersion medium evaporates and the metal fine particles remain on the lyophilic region 11a. The conductive layer 12 is formed by being deposited and sintered.

なお、液体導電材12Lを乾燥、固化させる加熱方法としては、さまざまな方法を用いることができ、例えば、レーザや赤外線などを照射して加熱する方法でもよいし、ヒータやサーマルヘッドを基板10に接触させて加熱する方法でもよい。また、この加熱工程を後述する撥液性緩和工程における加熱と兼ねて同時に行ってもよい。この場合、2つの加熱工程を1つの加熱工程にまとめることができるため、工程の削減を図ることができる。   Note that various methods can be used as a heating method for drying and solidifying the liquid conductive material 12L. For example, a method of heating by irradiating a laser or infrared rays may be used, or a heater or a thermal head may be attached to the substrate 10. A method of heating by contacting may be used. Moreover, you may perform this heating process simultaneously with the heating in the liquid-repellent relaxation process mentioned later. In this case, since the two heating steps can be combined into one heating step, the number of steps can be reduced.

(撥液性緩和処理工程)
撥液性緩和処理工程では、図2(c)に示すように、接触角制御材13Lを撥液領域11bに接触させ、撥液領域11bをレーザ照射により加熱し、撥液領域11bの接触角を低下させている。
接触角制御材13Lとしては、液体、蒸気、レーザ照射による加熱で液体化する固体を用いることができる。具体的には、液体としては、水、電解質を含む水溶液、エタノール、n−ブタノールなどのアルコール、グリセリン、エチレングリコールなどの多価アルコール、メチルエチルケトンなどのケトン類のような有極性液体や、n−ノナン、n−オクタンなどの直鎖状炭化水素、シクロヘキサンなどの環式状炭化水素、m−キシレン、ベンゼンなどの芳香族炭化水素などの無極性液体などが例示できる。蒸気としては、水蒸気など、上述した液体の蒸気を例示することができる。固体としては、高級脂肪族、低分子量ポリエチレン、高分子ゲル(ポリアクリルアミドゲル、ポリビニルアルコールゲル)、シリカゲル、結晶水を含んだ化合物などを例示することができる。
(Liquid repellency relaxation treatment process)
In the liquid repellency relaxation treatment step, as shown in FIG. 2 (c), the contact angle control material 13L is brought into contact with the liquid repellent area 11b, the liquid repellent area 11b is heated by laser irradiation, and the contact angle of the liquid repellent area 11b. Is reduced.
As the contact angle control material 13L, liquid, vapor, or solid that is liquefied by heating by laser irradiation can be used. Specifically, the liquid includes water, an aqueous solution containing an electrolyte, an alcohol such as ethanol and n-butanol, a polyhydric alcohol such as glycerin and ethylene glycol, a polar liquid such as a ketone such as methyl ethyl ketone, and n- Nonpolar liquids such as linear hydrocarbons such as nonane and n-octane, cyclic hydrocarbons such as cyclohexane, and aromatic hydrocarbons such as m-xylene and benzene can be exemplified. Examples of the vapor include the above-described liquid vapor such as water vapor. Examples of the solid include higher aliphatic, low molecular weight polyethylene, polymer gel (polyacrylamide gel, polyvinyl alcohol gel), silica gel, and a compound containing crystal water.

接触角可変膜11は接触角制御材13Lと接触した状態で加熱されると、その内部の疎水基を持つ有機化合物の分子運動が活発となる。分子運動が活発となった有機化合物は、接触角制御材13Lの作用を受けて、接触角可変膜11の表面における有機物の少なくとも一部の配向(配列)が別の配向状態または配向が乱れた状態となる。接触角可変膜11の加熱が終了してその温度が低下した後も有機物の配向の変化は維持される。
上述した有機物の配列の変化は、接触角可変膜11の表面における表面エネルギーの上昇につながり、接触角が減少する。つまり撥液状態が緩和される。
When the contact angle variable film 11 is heated while being in contact with the contact angle control material 13L, the molecular motion of the organic compound having a hydrophobic group therein becomes active. The organic compound in which the molecular motion became active was affected by the contact angle control material 13L, and the orientation (alignment) of at least a part of the organic substance on the surface of the contact angle variable film 11 was in a different orientation state or orientation. It becomes a state. Even after the heating of the contact angle variable film 11 is finished and the temperature is lowered, the change in the orientation of the organic substance is maintained.
The above-described change in the arrangement of the organic substances leads to an increase in surface energy on the surface of the contact angle variable film 11, and the contact angle decreases. That is, the liquid repellent state is relaxed.

なお、加熱温度としては、50℃から250℃の範囲が望ましく、加熱時間としては0.1m秒から1秒程度の範囲が望ましい。加熱のタイミングとしては、上述のように撥液領域11bに接触角制御材13Lを接触させた状態で、レーザ照射により加熱してもよいし、撥液領域11bをレーザ照射により加熱した状態で、接触角制御材13Lを撥液領域11bに接触させてもよい。
なお、撥液領域11bの加熱は、上述したレーザ照射による加熱でもよいが、ヒータや、サーマルヘッドなどを基板10に接触させて加熱する方法でもよいし、レーザの代わりに赤外線などの光や電子線を照射して加熱してもよく、さまざまな加熱方法を用いることができる。また、この加熱工程と上述した導電層形成工程の加熱工程とを兼ねて同時に行ってもよい。
なお、本工程において、形成された導電層12の上面に撥液処理を施してもよい。撥液処理としては、上述してきた接触角可変膜11を形成する方法でもよいし、他の撥液処理法を用いてもよい。この撥液処理を施すことにより、後述する層間絶縁層形成時に導電層12上に層間絶縁層が形成されることを防止することができる。
The heating temperature is preferably in the range of 50 ° C. to 250 ° C., and the heating time is preferably in the range of about 0.1 milliseconds to 1 second. As for the timing of heating, in the state where the contact angle control material 13L is in contact with the liquid repellent region 11b as described above, it may be heated by laser irradiation, or while the liquid repellent region 11b is heated by laser irradiation, The contact angle control material 13L may be brought into contact with the liquid repellent region 11b.
The liquid repellent region 11b may be heated by laser irradiation as described above, or may be a method in which a heater, a thermal head, or the like is brought into contact with the substrate 10 for heating, or light such as infrared rays or electrons instead of laser. It may be heated by irradiating a line, and various heating methods can be used. Moreover, you may perform simultaneously, combining this heating process and the heating process of the conductive layer formation process mentioned above.
In this step, a liquid repellent treatment may be performed on the upper surface of the formed conductive layer 12. As the liquid repellent treatment, the method of forming the contact angle variable film 11 described above may be used, or another liquid repellent treatment method may be used. By performing this liquid repellent treatment, it is possible to prevent an interlayer insulating layer from being formed on the conductive layer 12 when an interlayer insulating layer described later is formed.

(層間絶縁層形成工程)
層間絶縁層形成工程は、図3(a)に示すように、撥液性緩和処理工程で撥液性が緩和された撥液領域11bに、液体絶縁材(第2機能液)14Lを塗布し、図3(b)に示すように、レーザ照射により液体絶縁材14Lを加熱して乾燥、固化させて層間絶縁層14を形成している。
液体絶縁材14Lは、図3(a)に示すように、接触角可変膜11上に塗布されると、撥液領域11bの撥液性は緩和されているので、液体絶縁材14Lは撥液領域11b上に塗布される。また、上述したように、導電層形成工程において導電層12の上面に撥液化処理が施されていると、液体絶縁材14Lは導電層12上に塗布されることがない。
液体絶縁材14Lとしては、例えば、ポリシラザン等を含むシリカ系絶縁膜形成用塗布液を用いることができる。また、液体絶縁材14Lを塗布する方法としては、スピンコート法、ディップコート法、スプレー成膜法、スリットコート法、印刷法、液体吐出法等を用いることができる。
(Interlayer insulation layer formation process)
In the interlayer insulating layer forming step, as shown in FIG. 3A, a liquid insulating material (second functional liquid) 14L is applied to the liquid repellent region 11b whose liquid repellency has been relaxed in the liquid repellent relaxation treatment step. As shown in FIG. 3B, the interlayer insulating layer 14 is formed by heating and drying and solidifying the liquid insulating material 14L by laser irradiation.
As shown in FIG. 3A, when the liquid insulating material 14L is applied onto the contact angle variable film 11, the liquid repellency of the liquid repellent region 11b is relaxed. It is applied on the region 11b. Further, as described above, if the upper surface of the conductive layer 12 is subjected to a liquid repellency treatment in the conductive layer forming step, the liquid insulating material 14L is not applied on the conductive layer 12.
As the liquid insulating material 14L, for example, a coating liquid for forming a silica-based insulating film containing polysilazane or the like can be used. As a method for applying the liquid insulating material 14L, a spin coating method, a dip coating method, a spray film forming method, a slit coating method, a printing method, a liquid discharge method, or the like can be used.

上記の工程によれば、1層の接触角可変膜11を用いて、接触角可変膜11上に導電層12および層間絶縁層14の異なるパターンを有する層を形成することができる。また、導電層12および層間絶縁層14の上面は、CMPのような研削工程を用いることなく平坦に形成することができ、製造効率を向上させることができる。さらに、導電層12の高さと横幅の比であるアスペクト比が大きくなっても、導電層12と基板10との導通を保つことができる。   According to the above process, the layer having different patterns of the conductive layer 12 and the interlayer insulating layer 14 can be formed on the contact angle variable film 11 using the single contact angle variable film 11. Further, the upper surfaces of the conductive layer 12 and the interlayer insulating layer 14 can be formed flat without using a grinding process such as CMP, and the manufacturing efficiency can be improved. Furthermore, even when the aspect ratio, which is the ratio of the height and width of the conductive layer 12, increases, the conduction between the conductive layer 12 and the substrate 10 can be maintained.

レーザ照射によって撥液化処理工程および撥液性緩和処理工程における加熱が行われるため、接触角可変膜11を接触することなく加熱することができる。そのため、基板10や接触角可変膜11と接触することにより発生するダメージを防止することができる。   Since the heating in the liquid repellency treatment step and the liquid repellency relaxation treatment step is performed by laser irradiation, the contact angle variable film 11 can be heated without contacting. Therefore, damage caused by contact with the substrate 10 or the contact angle variable film 11 can be prevented.

次に、上記実施の形態に係るパターンの形成方法を用いて製造された電子デバイスの例について説明する。
図4は、本実施の形態に係るパターンの形成方法で製造された液晶表示装置の断面図である。
液晶表示装置(電子デバイス)100は、図4に示すように、TFTアレイ基板(基板)40と対向基板20とがシール材によって貼り合わされ、このシール材によって区画された領域内に液晶50が封入、保持されている。
Next, an example of an electronic device manufactured using the pattern forming method according to the above embodiment will be described.
FIG. 4 is a cross-sectional view of the liquid crystal display device manufactured by the pattern forming method according to the present embodiment.
As shown in FIG. 4, in the liquid crystal display device (electronic device) 100, the TFT array substrate (substrate) 40 and the counter substrate 20 are bonded together by a sealing material, and the liquid crystal 50 is enclosed in a region partitioned by the sealing material. Is retained.

TFTアレイ基板40は、石英などの光透過性の絶縁基板からなるガラス基板40Aと、その液晶層50側表面上に形成され、ITO(Indium Tin Oxide)膜などの透明導電性膜からなる画素電極9aと、表示領域に設けられた画素スイッチング用TFT(スイッチング素子)30および非表示領域に設けられた駆動回路用TFT(スイッチング素子)(図示せず)と、ポリイミド膜等の有機膜から形成され、ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜16とを主体として構成されている。
対向基板20は、透明なガラスや石英などの光透過性基板からなる基板本体20Aと、その液晶層50側表面上に形成された対向電極21と、配向膜22と、金属などからなり、各画素部の開口領域以外の領域に設けられた遮光膜23とを主体として構成されている。
The TFT array substrate 40 includes a glass substrate 40A made of a light-transmissive insulating substrate such as quartz, and a pixel electrode formed on the surface of the liquid crystal layer 50 and made of a transparent conductive film such as an ITO (Indium Tin Oxide) film. 9a, a pixel switching TFT (switching element) 30 provided in the display area, a drive circuit TFT (switching element) (not shown) provided in the non-display area, and an organic film such as a polyimide film. And an alignment film 16 that has been subjected to a predetermined alignment process such as a rubbing process.
The counter substrate 20 includes a substrate body 20A made of a transparent substrate such as transparent glass or quartz, a counter electrode 21 formed on the surface of the liquid crystal layer 50, an alignment film 22, a metal, and the like. It is mainly composed of a light shielding film 23 provided in an area other than the opening area of the pixel portion.

また、図4に示すように、TFTアレイ基板40の基板本体40Aの液晶層50側表面上において、各画素スイッチング用TFT30に対応する位置には、遮光層41aが設けられている。また、遮光層41aと画素スイッチング用TFT30との間には、第1層間絶縁膜42が設けられている。第1層間絶縁膜42は、画素スイッチング用TFT30を構成する半導体層1aを遮光層41aから電気的に絶縁するために設けられるものである。   As shown in FIG. 4, a light shielding layer 41 a is provided on the surface of the TFT array substrate 40 on the liquid crystal layer 50 side of the substrate body 40 </ b> A at a position corresponding to each pixel switching TFT 30. A first interlayer insulating film 42 is provided between the light shielding layer 41 a and the pixel switching TFT 30. The first interlayer insulating film 42 is provided to electrically insulate the semiconductor layer 1a constituting the pixel switching TFT 30 from the light shielding layer 41a.

画素スイッチング用TFT30は、LDD(Lightly Doped Drain )構造を有しており、走査線3aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶縁膜2、データ線6a、半導体層1aの低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃度ソース領域(ソース領域)1d並びに高濃度ドレイン領域1e(ドレイン領域)を備えている。
また、この液晶パネルにおいては、ゲート絶縁膜2を走査線3aに対向する位置から延設して誘電体膜として用い、半導体膜1aを延設して第1蓄積容量電極1fとし、さらに、これらに対向する容量線3bの一部を第2蓄積容量電極とすることにより、蓄積容量70が構成されている。
The pixel switching TFT 30 has an LDD (Lightly Doped Drain) structure, and insulates the channel region 1a ′ of the semiconductor layer 1a in which a channel is formed by an electric field from the scanning line 3a, the scanning line 3a, and the semiconductor layer 1a. A gate insulating film 2, a data line 6a, a low concentration source region 1b and a low concentration drain region 1c of the semiconductor layer 1a, a high concentration source region (source region) 1d and a high concentration drain region 1e (drain region) of the semiconductor layer 1a. I have.
Further, in this liquid crystal panel, the gate insulating film 2 is extended from a position facing the scanning line 3a to be used as a dielectric film, the semiconductor film 1a is extended to be the first storage capacitor electrode 1f, and these A storage capacitor 70 is configured by using a part of the capacitor line 3b facing the second storage capacitor electrode as a second storage capacitor electrode.

上述した構成の液晶表示装置100のTFTアレイ基板40は上記本発明のパターンの形成方法を用いることができる。例えば、遮光層41aと容量線3bとの電気的接続を図る構成を形成するのに上記本発明のパターンの形成方法を用いることができる。
つまり、遮光層41aが形成されたガラス基板40A上に接触角可変膜を形成し、接触角可変膜の容量線3bと接触する領域以外を空気中で加熱して撥液領域とし、容量線3bと接触する領域を親液領域とする。親液領域に容量線3bの材料を含む液体導電材を塗布し、焼結して容量線3bのプラグに相当する部分を形成する。その後、撥液領域の撥液状態を緩和させ、撥液領域に第1層間絶縁膜42の材料を含む液体絶縁材を塗布して固化させ、第1層間絶縁膜42を形成する。
The pattern forming method of the present invention can be used for the TFT array substrate 40 of the liquid crystal display device 100 configured as described above. For example, the pattern forming method of the present invention described above can be used to form a configuration for achieving electrical connection between the light shielding layer 41a and the capacitor line 3b.
That is, a contact angle variable film is formed on the glass substrate 40A on which the light shielding layer 41a is formed, and the area other than the area in contact with the capacitance line 3b of the contact angle variable film is heated in the air to form a liquid repellent area, and the capacitance line 3b The area in contact with the lyophilic area is defined as the lyophilic area. A liquid conductive material containing the material of the capacity line 3b is applied to the lyophilic region and sintered to form a portion corresponding to the plug of the capacity line 3b. Thereafter, the liquid repellent state of the liquid repellent region is relaxed, and a liquid insulating material containing the material of the first interlayer insulating film 42 is applied to the liquid repellent region and solidified to form the first interlayer insulating film 42.

上記本発明のパターンの形成方法を用いることで、遮光層41aと容量線3bとの電気的接続を確実に行うことができる。また、CMPなどの研削工程を用いることなく、第1層間絶縁膜42の上面を平坦に形成することができる。そのため、画素スイッチング用TFT30の形成や、容量線3bの残り部分の形成などを余計な工程を入れることなく行うことができ、液晶表示装置100の製造効率を向上させることができる。   By using the pattern forming method of the present invention, electrical connection between the light shielding layer 41a and the capacitor line 3b can be reliably performed. In addition, the upper surface of the first interlayer insulating film 42 can be formed flat without using a grinding process such as CMP. Therefore, the formation of the pixel switching TFT 30 and the formation of the remaining portion of the capacitor line 3b can be performed without extra steps, and the manufacturing efficiency of the liquid crystal display device 100 can be improved.

なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記の実施の形態においては、この発明を液晶表示装置に適応して説明したが、この発明は液晶表示装置に限られることなく、エレクトロルミネッセンス表示装置など、その他各種の積層配線を用いた装置に適応できるものである。
The technical scope of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
For example, in the above-described embodiment, the present invention has been described as being applied to a liquid crystal display device. However, the present invention is not limited to a liquid crystal display device, and other various laminated wirings such as an electroluminescence display device are used. It can be adapted to the device.

本発明に係るパターンの形成方法の工程図である。It is process drawing of the formation method of the pattern which concerns on this invention. 本発明に係るパターンの形成方法の工程図である。It is process drawing of the formation method of the pattern which concerns on this invention. 本発明に係るパターンの形成方法の工程図である。It is process drawing of the formation method of the pattern which concerns on this invention. 本発明のパターンの形成方法で製造された電子デバイスの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the electronic device manufactured with the formation method of the pattern of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

11・・・接触角可変膜、 11a・・・親液領域、 11b・・・撥液領域、 12L・・・液体導電材(第1機能液)、 13L・・・接触角制御材、 14L・・・液体絶縁材(第2機能液)

11 ... Contact angle variable film, 11a ... Liquid region, 11b ... Liquid repellent region, 12L ... Liquid conductive material (first functional liquid), 13L ... Contact angle control material, 14L ..Liquid insulation (second functional liquid)

Claims (7)

被処理面上に、液体との接触角を変更できる接触角可変膜を形成する第1工程と、
前記接触角可変膜の接触角を加熱により変更し、接触角の大きい撥液領域を形成することにより、撥液領域および親液領域からなる所定パターンを形成する第2工程と、
前記親液領域に第1機能液を塗布して固化する第3工程と、
前記撥液領域に接触角制御材を接触させて加熱することにより、前記撥液領域の接触角を減少させて撥液性を緩和する第4工程と、
撥液性が緩和された領域に第2機能液を塗布して固化する第5工程と、
を有することを特徴とするパターンの形成方法。
A first step of forming a contact angle variable film capable of changing a contact angle with a liquid on a surface to be treated;
Changing the contact angle of the contact angle variable film by heating to form a liquid repellent region having a large contact angle, thereby forming a predetermined pattern comprising a liquid repellent region and a lyophilic region;
A third step of applying and solidifying the first functional liquid in the lyophilic region;
A fourth step of relaxing the liquid repellency by reducing the contact angle of the liquid repellent area by bringing a contact angle control material into contact with the liquid repellent area and heating;
A fifth step of applying and solidifying the second functional liquid in the region where the liquid repellency is relaxed;
A pattern forming method characterized by comprising:
前記第3工程における前記第1機能液の固化が加熱により行われ、
前記第4工程における加熱が、前記第3工程における加熱を兼ねることを特徴とする請求項1記載のパターンの形成方法。
Solidification of the first functional liquid in the third step is performed by heating,
The pattern forming method according to claim 1, wherein the heating in the fourth step also serves as the heating in the third step.
前記第2工程における加熱と前記第4工程における加熱とが、レーザ照射によって行われる加熱であることを特徴とする請求項1または2に記載のパターンの形成方法。   The pattern forming method according to claim 1 or 2, wherein the heating in the second step and the heating in the fourth step are heating performed by laser irradiation. 前記固化した第1機能液の層の面に撥液処理を施すことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のパターンの形成方法。   The pattern forming method according to claim 1, wherein a liquid repellent treatment is performed on a surface of the solidified first functional liquid layer. 前記第1機能液および前記第2機能液のうち、少なくとも一方が導電材料を含んでいることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のパターンの形成方法。   The pattern forming method according to claim 1, wherein at least one of the first functional liquid and the second functional liquid contains a conductive material. 前記第2工程において、前記親液領域が前記接触角可変膜を除去することで形成されることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載のパターンの形成方法。   6. The pattern forming method according to claim 1, wherein, in the second step, the lyophilic region is formed by removing the contact angle variable film. 請求項1から請求項6のいずれかに記載のパターン形成方法を用いていることを特徴とする電子デバイスの製造方法。   An electronic device manufacturing method using the pattern forming method according to claim 1.
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JP2012212722A (en) * 2011-03-30 2012-11-01 Fujifilm Corp Thin film transistor manufacturing apparatus, manufacturing method of the same and program

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