JP2005142079A - Sputtering device, sputtering method, manufacturing device of organic electroluminescence element, and manufacturing method of organic electroluminescence element - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering device for forming a transparent electrode of an upper part in a sputtering method by minimizing damages to the organic EL layer which is apt to degrade, and to prevent a film-forming method, a manufacturing device of the organic EL element using this device, and a manufacturing method of the organic EL element. <P>SOLUTION: The sputtering device for making the transparent electrode for a top emission type organic EL element, containing at least an electrode, a target, a substrate, and a substrate holder holding the substrate, is provided with a means for keeping hazardous substance off the substrate. The above means includes one or a plurality of means selected from among (a) a means of impressing bias on the substrate, (b) a means of impressing bias on a shielding plate fitted between the substrate and the electrode, and (c) a means of impressing a magnetic field between the substrate and the electrode, in parallel with the substrate. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は有機EL発光素子に関するもので、特に有機EL発光素子の製造方法および装置に関する。   The present invention relates to an organic EL light emitting device, and more particularly to a method and apparatus for manufacturing an organic EL light emitting device.

1987年にイーストマンコダック社のC.W.Tangにより2層積層構成のデバイスで高い効率の有機EL発光素子が発表されて以来、現在に至る間に様々な有機EL発光素子が開発されて一部実用化し始めている(非特許文献1)。こうした中、フルカラー有機EL発光素子パネルの実用化は、次世代の有機EL発光素子パネルとして開発が急がれている。   In 1987, Eastman Kodak's C.I. W. Since Tang announced a highly efficient organic EL light-emitting device as a device having a two-layer structure by Tang, various organic EL light-emitting devices have been developed and partially put into practical use (Non-patent Document 1). Under such circumstances, development of a full-color organic EL light-emitting element panel is urgently developed as a next-generation organic EL light-emitting element panel.

ボトムエミッション型有機EL発光素子において、カラー化の方法には、3色塗り分け法、色変換法(以下CCM法)、カラーフィルタ法などがある(非特許文献2)。この方式の中で、CCM法、カラーフィルタ法は、成膜時にメタルマスクを用いる必要が無く、色変換層やカラーフィルタはフォトプロセスで基板上に作製すればよいため、大面積、高精細化に関して有利である。   In the bottom emission type organic EL light emitting element, there are three methods of coloring, such as a three-color painting method, a color conversion method (hereinafter referred to as CCM method), and a color filter method (Non-Patent Document 2). Among these methods, the CCM method and the color filter method do not require the use of a metal mask at the time of film formation, and the color conversion layer and the color filter may be formed on the substrate by a photo process. Is advantageous.

しかし、色変換法やカラーフィルタ法では一般的にアクティブマトリックス駆動ディスプレイを作製するのが難しい。その理由は、TFT基板と有機EL層の間に色変換層やフィルタ層が存在し、有機EL層とTFTの間を結線するためにコンタクトホールを作製する必要があるからである。色変換層やカラーフィルタは有機物で、しかもフォトプロセスでパターニングをするため、水分が多く含まれている。色変換法やカラーフィルタ法のカラーパネルは、これら水分が有機EL層に浸入しないようパッシベーション膜で保護している。しかし、TFTと有機EL層を結線させるためにコンタクトホールを作製するには、このパッシベーション層に穴を開ける必要があり、パッシベーション効果が期待できなくなる。   However, it is generally difficult to produce an active matrix drive display by the color conversion method or the color filter method. The reason is that a color conversion layer and a filter layer exist between the TFT substrate and the organic EL layer, and it is necessary to make a contact hole in order to connect the organic EL layer and the TFT. The color conversion layer and the color filter are organic substances and contain a lot of moisture because they are patterned by a photo process. The color panels of the color conversion method and the color filter method are protected by a passivation film so that these moisture do not enter the organic EL layer. However, in order to make a contact hole for connecting the TFT and the organic EL layer, it is necessary to make a hole in the passivation layer, and a passivation effect cannot be expected.

このような問題の解決策は、支持基板とは反対側に光を取り出すトップエミッション型でフルカラー化を実現することである(非特許文献2)。具体的には、TFT基板上にトップエミッション型有機EL発光素子を作製し、その上から、色変換基板あるいはカラーフィルタ基板を貼り合わせてカラーディスプレイを作製する。トップエミッション型有機EL発光素子と基板とを貼り合わせる工程は、前述のコンタクトホールの問題を回避でき、かつ工程的にも簡略されて量産性も向上できる。   A solution to such a problem is to realize full color with a top emission type in which light is extracted to the side opposite to the support substrate (Non-patent Document 2). Specifically, a top emission type organic EL light emitting device is manufactured on a TFT substrate, and a color conversion substrate or a color filter substrate is bonded thereon to manufacture a color display. The step of bonding the top emission type organic EL light emitting element and the substrate can avoid the above-mentioned problem of contact holes, and can be simplified in terms of the process to improve the mass productivity.

一方、3色塗り分け法では、TFT基板に直接有機EL層を作製できるため、アクティブマトリックス駆動のパネルを作製するのは容易である。しかし、有機EL層のばらつきおよびTFTのばらつきを抑え、アクティブマトリックス駆動を安定的に動作させるためには、一つの画素に多くのTFTが必要である。TFT上には光を透過させることができないので、TFTの数が多くなるといわゆるボトムエミッション型有機EL発光素子では開口率が小さくなる。そこで、色変換法やカラーフィルタ法とは別の理由ではあるが、支持基板と反対側に光を取り出すトップエミッション型有機EL発光素子の開発が望まれている。   On the other hand, in the three-color coating method, the organic EL layer can be directly formed on the TFT substrate, and therefore it is easy to manufacture an active matrix driving panel. However, in order to suppress the variation of the organic EL layer and the variation of the TFT and operate the active matrix drive stably, a large number of TFTs are required for one pixel. Since light cannot be transmitted over the TFT, when the number of TFTs increases, the so-called bottom emission type organic EL light emitting element has a small aperture ratio. Therefore, although it is a reason different from the color conversion method and the color filter method, it is desired to develop a top emission type organic EL light emitting element that extracts light to the side opposite to the support substrate.

トップエミッション型有機EL発光素子は、例えば支持基板上に反射電極、その上に有機EL層、最後に透明電極が積層された構造を有する。したがって、有機発光層から出る光は、支持基板と反対の方向に取り出される。透明電極は一般的に、ITO、IZOまたはZnO等の透明半導体酸化物が用いられる。これらを積層するには、量産性および特性の面において優れたスパッタ法で作製することが望ましい。しかし、スパッタ法を用いて有機EL層上に透明電極を積層すると、有機EL層がダメージを受けてしまう。この有機EL層のダメージは、素子の効率劣化や電圧上昇等の動作上大きな問題になる。   The top emission type organic EL light emitting device has a structure in which, for example, a reflective electrode is formed on a support substrate, an organic EL layer is formed thereon, and finally a transparent electrode is laminated. Therefore, the light emitted from the organic light emitting layer is extracted in the direction opposite to the support substrate. Generally, a transparent semiconductor oxide such as ITO, IZO or ZnO is used for the transparent electrode. In order to laminate these layers, it is desirable to produce them by a sputtering method which is excellent in terms of mass productivity and characteristics. However, when a transparent electrode is laminated on the organic EL layer using a sputtering method, the organic EL layer is damaged. This damage to the organic EL layer becomes a serious problem in operation such as degradation of the efficiency of the element and voltage increase.

C.W.Tang、S.A.VanSlyke,Appl.Phys.Lett.51、913(1987)C. W. Tang, S.M. A. VanSlyke, Appl. Phys. Lett. 51, 913 (1987) 桜井 建弥、「色変換法によるフルカラー有機ELの技術開発状況と展望」、月刊ディスプレイ10月号、59頁(2002年)Kenya Sakurai, “Technology Development Status and Prospects of Full-Color Organic EL by Color Conversion Method,” October Monthly Display, page 59 (2002)

従って、本発明は、有機層などの劣化しやすい層のダメージを最小限にして、上部(透明)電極をスパッタ法により形成するためのスパッタ装置、成膜方法、該装置を用いた有機EL発光素子の製造装置および有機EL発光素子の製造方法を提供する。   Therefore, the present invention provides a sputtering apparatus for forming an upper (transparent) electrode by a sputtering method, a film forming method, and organic EL light emission using the apparatus while minimizing damage to a layer that is easily deteriorated such as an organic layer. An element manufacturing apparatus and an organic EL light emitting element manufacturing method are provided.

本発明の第1の実施態様であるスパッタ装置は、真空槽中に、少なくとも電極、ターゲット、基板および基板を保持する基板ホルダーを含むトップエミッション型有機EL発光素子の透明電極作製用スパッタ装置において、前記装置が有害物を基板に寄せ付けない手段を有し、前記手段が、a)基板ホルダーにバイアスを印加する手段、b)基板と電極の間に、遮蔽板を設け、この遮蔽板にバイアスを印加する手段、およびc)基板と電極の間に、基板と平行に磁界を印加する手段から選択される1つまたは複数の手段を含むことを特徴とするスパッタ装置である。   A sputtering apparatus according to a first embodiment of the present invention is a sputtering apparatus for producing a transparent electrode of a top emission type organic EL light-emitting element including at least an electrode, a target, a substrate, and a substrate holder for holding the substrate in a vacuum chamber. The apparatus has means for preventing harmful substances from coming close to the substrate. The means includes: a) means for applying a bias to the substrate holder; b) providing a shielding plate between the substrate and the electrode, and applying a bias to the shielding plate. A sputtering apparatus comprising: means for applying; and c) one or more means selected from means for applying a magnetic field in parallel with the substrate between the substrate and the electrode.

本発明の第2の実施態様であるスパッタ方法は、真空槽中に、少なくとも電極、ターゲット、基板および基板を保持する基板ホルダーを含むトップエミッション型有機EL発光素子の透明電極作製用スパッタ装置を用いて前記基板に膜を形成する方法であって、a)基板ホルダーにバイアスを印加すること、b)基板と電極の間に、遮蔽板を設け、この遮蔽板にバイアスを印加すること、およびc)基板と電極の間に、基板と平行に磁界を印加することから選択される1つまたは複数の有害物を基板に寄せ付けない方法を含むことを特徴とする方法である。   The sputtering method according to the second embodiment of the present invention uses a sputtering apparatus for producing a transparent electrode of a top emission type organic EL light emitting device including at least an electrode, a target, a substrate, and a substrate holder for holding the substrate in a vacuum chamber. Forming a film on the substrate, a) applying a bias to the substrate holder, b) providing a shielding plate between the substrate and the electrode, and applying a bias to the shielding plate, and c And a method comprising preventing a harmful substance or substances selected from applying a magnetic field between the substrate and the electrode in parallel with the substrate from coming into contact with the substrate.

本発明の第3の実施態様であるトップエミッション型有機EL発光素子の製造装置は、少なくとも有機蒸着用チャンバーと、透明電極作製用スパッタ装置とを含むトップエミッション型有機EL発光素子の製造装置であって、前記透明電極作製用スパッタ装置が有害物を基板に寄せ付けない手段を有し、前記手段が、a)基板ホルダーにバイアスを印加する手段、b)基板と電極の間に、遮蔽板を設け、この遮蔽板にバイアスを印加する手段、およびc)基板と電極の間に、基板と平行に磁界を印加する手段から選択される1つまたは複数の手段を含むことを特徴とする製造装置である。   An apparatus for producing a top emission type organic EL light emitting device according to a third embodiment of the present invention is a device for producing a top emission type organic EL light emitting element including at least an organic vapor deposition chamber and a sputtering apparatus for producing a transparent electrode. The transparent electrode manufacturing sputtering apparatus has means for preventing harmful substances from being brought close to the substrate, the means a) means for applying a bias to the substrate holder, and b) a shielding plate is provided between the substrate and the electrode. And a means for applying a bias to the shielding plate, and c) one or a plurality of means selected from means for applying a magnetic field parallel to the substrate between the substrate and the electrode. is there.

本発明の第4の実施態様であるトップエミッション型有機EL発光素子の製造方法は、支持基板上に少なくとも反射電極を積層する工程と、有機EL層を積層する工程と、透明電極を積層する工程とを含むトップエミッション型有機EL発光素子の製造方法において、前記透明電極を積層する工程が、真空槽中に、少なくとも電極、ターゲット、基板および基板を保持する基板ホルダーを含むスパッタ装置を用いて、基板上に膜を形成する工程であり、この工程中に、a)基板ホルダーにバイアスを印加すること、b)基板と電極の間に、遮蔽板を設け、この遮蔽板にバイアスを印加すること、およびc)基板と電極の間に、基板と平行に磁界を印加することから選択される1つまたは複数の有害物を基板に寄せ付けない方法を適用しながら成膜すること特徴とする製造方法である。   The manufacturing method of the top emission type organic EL light emitting device according to the fourth embodiment of the present invention includes a step of laminating at least a reflective electrode on a support substrate, a step of laminating an organic EL layer, and a step of laminating a transparent electrode. In the method of manufacturing a top emission type organic EL light-emitting device including: a step of laminating the transparent electrode using a sputtering apparatus including at least an electrode, a target, a substrate, and a substrate holder for holding the substrate in a vacuum chamber; A step of forming a film on the substrate, during which a) applying a bias to the substrate holder, b) providing a shielding plate between the substrate and the electrode, and applying a bias to the shielding plate And c) while applying a method of preventing one or more harmful substances selected from applying a magnetic field between the substrate and the electrode in parallel with the substrate from coming into contact with the substrate Is a manufacturing method characterized by film.

本発明の装置または方法を用いることにより、トップエミッション型有機EL発光素子の透明電極をスパッタ法により積層する際に、有機EL層まで積層された基板への酸素イオンの衝突を低減させ、有機EL層に与えるダメージを最小限にすることができる。また、ボトムエミッション型と同等の特性を有する有機EL発光素子の作製を可能にする。   By using the apparatus or method of the present invention, when the transparent electrode of the top emission type organic EL light emitting element is laminated by sputtering, the collision of oxygen ions to the substrate laminated up to the organic EL layer is reduced, and the organic EL Damage to the layer can be minimized. In addition, it is possible to manufacture an organic EL light emitting element having characteristics equivalent to those of the bottom emission type.

本発明は、スパッタ法により基板にターゲットを積層する際に、基板へのダメージを最小限にする方法およびスパッタ装置に関する。   The present invention relates to a method and a sputtering apparatus for minimizing damage to a substrate when a target is stacked on the substrate by sputtering.

スパッタにより、基板表面にダメージを与える有害物として考えられるものは、(1)ガス中またはターゲットから叩き出されて積層する表面に衝突する酸素イオン、(2)積層する表面に衝突するスパッタの際に用いるAr等のイオン、(3)プラズマ中から発生する紫外線の影響、(4)積層する表面に衝突するスパッタされたターゲット粒子、(5)酸素ラジカル等である。また(6)スパッタ時の温度上昇等もスパッタによるダメージの要因となる。   Possible harmful substances that damage the substrate surface by sputtering are (1) oxygen ions that are knocked out of the gas or from the target and collide with the surface to be laminated, and (2) during sputtering that collide with the surface to be laminated. (3) the influence of ultraviolet rays generated from the plasma, (4) sputtered target particles that collide with the surface to be laminated, and (5) oxygen radicals. Also, (6) temperature rise during sputtering causes damage due to sputtering.

図1には、透明電極を作製する前の有機EL層にArプラズマ、および酸素プラズマを照射した後、陰極としてAlを蒸着した際の有機EL発光素子の特性を示している。図1に示されるように、有機EL発光素子の輝度の劣化は、Arイオンの照射の場合よりも酸素イオンの照射の場合の方が著しい。このことから、有機EL層の劣化には酸素イオンが大きく影響していることが予想できる。   FIG. 1 shows the characteristics of an organic EL light emitting device when Al is deposited as a cathode after irradiating an organic EL layer before producing a transparent electrode with Ar plasma and oxygen plasma. As shown in FIG. 1, the deterioration of the luminance of the organic EL light emitting element is more remarkable in the case of irradiation with oxygen ions than in the case of irradiation with Ar ions. From this, it can be expected that oxygen ions greatly affect the deterioration of the organic EL layer.

さらに、透明電極を作製する場合に、対向スパッタ等を用いて直接スパッタされた粒子が基板に衝突しない方法や、スパッタガス圧を高くしてスパッタ粒子の運動エネルギーを小さくした場合においても、素子が劣化することが実験により確かめられている。したがって、基板に到達する高エネルギー粒子の衝突を緩和するだけでは有機EL層へのダメージを緩和させるのには十分ではない。   Furthermore, when producing a transparent electrode, the element does not collide with a method in which particles directly sputtered using facing sputtering or the like do not collide with the substrate, or when the kinetic energy of sputtered particles is reduced by increasing the sputtering gas pressure. It has been confirmed by experiments that it deteriorates. Therefore, it is not enough to alleviate the damage to the organic EL layer only by mitigating the collision of the high-energy particles reaching the substrate.

以上のように、スパッタの際の酸素イオンの基板への衝突は有機EL層に重大な影響を与えるため、本発明は、有機EL層に与えるダメージが大きい有害物である酸素イオンを基板に到達させずに、透明電極を有機EL層上へ堆積させる技術を提案する。   As described above, since the collision of oxygen ions with the substrate during sputtering has a significant effect on the organic EL layer, the present invention reaches the substrate with oxygen ions, which are harmful substances that are damaging to the organic EL layer. We propose a technique for depositing a transparent electrode on the organic EL layer without causing the problem to occur.

以下に、支持基板上に、少なくとも反射電極および有機層を積層した基板に、透明電極を積層するためのスパッタ装置より基板に透明電極を積層する際に、有害物である酸素イオンを基板に寄せ付けないように成膜する本発明のスパッタ装置の構造について詳細に説明する。   Below, when laminating a transparent electrode on a substrate from a sputtering device for laminating a transparent electrode on a substrate where at least a reflective electrode and an organic layer are laminated on a support substrate, oxygen ions that are harmful substances are brought close to the substrate. The structure of the sputtering apparatus of the present invention for forming a film so as not to occur will be described in detail.

本発明のスパッタ装置の3つの具体的な実施形態を図2〜4に示す。図2〜4の3つの実施形態は、DCスパッタ用電源16およびRFスパッタ用電源25に接続されて、DCおよびRFが同時に印加可能な一対の電極17、電極17の陰極に設置されたターゲット18、基板ホルダー19、および基板ホルダー19に設置された基板21は共通している。また、それぞれの実施形態は、図示されていないが、これらの装置は真空ポンプを備えた真空槽に囲まれている。電極17間に電圧をかけ、真空ポンプにより排気していくと、一定の真空度でグロー放電が起こり、陽イオンが電界によって加速され、陰極にぶつかり、その運動エネルギーによって陰極にあるターゲットを叩き出す。叩き出され、飛び出したターゲットが基板に付着し、膜を形成する。この場合に、基板には、ターゲットのみならず、材料から生じるか、またはガスとして存在する酸素イオンも衝突する。この酸素イオンの衝突は、トップエミッション型有機EL発光素子の透明電極をスパッタ法により積層する場合には、透明電極を成膜する前の有機EL層にダメージを与えてしまう。これを回避するための装置が、以下の図2〜4の実施形態である。   Three specific embodiments of the sputtering apparatus of the present invention are shown in FIGS. 2 to 4 are connected to a DC sputtering power source 16 and an RF sputtering power source 25, and a pair of electrodes 17 to which DC and RF can be applied simultaneously, and a target 18 installed on the cathode of the electrode 17. The substrate holder 19 and the substrate 21 installed on the substrate holder 19 are common. Moreover, although each embodiment is not shown in figure, these apparatuses are surrounded by the vacuum chamber provided with the vacuum pump. When a voltage is applied across the electrodes 17 and exhausted by a vacuum pump, glow discharge occurs at a certain degree of vacuum, cations are accelerated by the electric field, collide with the cathode, and kinetic energy strikes the target at the cathode. . The target that is struck out and sticks out adheres to the substrate and forms a film. In this case, not only the target but also oxygen ions that are generated from the material or exist as a gas collide with the substrate. This collision of oxygen ions damages the organic EL layer before forming the transparent electrode when the transparent electrode of the top emission type organic EL light emitting element is laminated by sputtering. An apparatus for avoiding this is the embodiment shown in FIGS.

図2に示される実施形態は、基板ホルダー19にバイアス用電源20が接続されている点に特徴を有する。基板ホルダー19に接続したバイアス用電源20により、基板ホルダー19にマイナスのバイアスを印加することができる。したがって、基板ホルダーは導電性のものである必要があり、具体的にはSUS(Steel Use Stainless)またはアルミ板に導電性金属をメッキ等で付着させたものが考えられる。好ましくはSUSである。バイアス用電源20により、基板ホルダー19にマイナスのバイアスを印加すると、スパッタ時に、ターゲット材料と共に基板表面に衝突してくる酸素イオンなどのマイナスイオンは、基板ホルダー19に設置された基板21に到達することができなくなる。これにより、酸素イオンの衝突により基板21の表面が受けるダメージを抑えることができる。図2は基板ホルダー19にマイナスのバイアスをかけているが、基板21に直接マイナスのバイアスをかけることも可能である。しかし、有機EL発光素子の製造に用いる場合は、絶縁性支持基板上(ガラスまたはプラスチック)に成膜されて直接基板にバイアスをかけられないことがあるため、そのような場合は、図2のように基板ホルダー19にバイアスを印加するのが有効である。   The embodiment shown in FIG. 2 is characterized in that a bias power source 20 is connected to the substrate holder 19. A negative bias can be applied to the substrate holder 19 by the bias power source 20 connected to the substrate holder 19. Therefore, the substrate holder needs to be conductive, and specifically, a SUS (Steel Use Stainless) or an aluminum plate adhered with a conductive metal by plating or the like can be considered. SUS is preferred. When a negative bias is applied to the substrate holder 19 by the bias power source 20, negative ions such as oxygen ions that collide with the surface of the substrate together with the target material at the time of sputtering reach the substrate 21 installed on the substrate holder 19. I can't do that. Thereby, the damage which the surface of the board | substrate 21 receives by collision of oxygen ion can be suppressed. Although FIG. 2 applies a negative bias to the substrate holder 19, it is also possible to apply a negative bias directly to the substrate 21. However, when used for manufacturing an organic EL light emitting device, the film may be deposited on an insulating support substrate (glass or plastic) and the substrate may not be biased directly. Thus, it is effective to apply a bias to the substrate holder 19.

図3に示される実施形態は、基板21と電極17との間に、基板21と平行に遮蔽板22を設置している点に特徴を有する。基板21と電極17との間に設置された遮蔽板22にバイアス用電源を接続することにより、バイアスを印加することができる。こうすることにより、スパッタ時に、ターゲット材料と共に基板表面に衝突してくる酸素イオンなどのマイナスイオンが、マイナスのバイアスをかけられた遮蔽板22を通過せず、酸素イオンの基板表面への衝突を防ぐことができ、酸素イオンの衝突による基板表面が受けるダメージを抑えることができる。図3に示される実施形態において用いられる遮蔽板22は、穴が開いている導電性の板であり、具体的にはSUSまたはアルミ板に導電性金属をメッキ等で付着させたものが考えられる。好ましくはSUSである。遮蔽板は、基板ホルダーより大きく、直径0.1mm〜10mm、好ましくは0.1mm〜2mmの穴が、1または複数個開いている。穴の個数は、ターゲット粒子がその穴を通って基板21に到達し、積層可能な程度の個数であり、遮蔽板の面積に応じて適宜変更する。遮蔽板に開けられた穴は、中性の粒子は貫通できるが、酸素イオン等のマイナスイオンは通ることができない。この遮蔽板は、電極17と基板21の間に、基板21から0.5cm〜20cm、好ましくは1cm〜10cmの位置に、基板21と平行に設置される。   The embodiment shown in FIG. 3 is characterized in that a shielding plate 22 is installed between the substrate 21 and the electrode 17 in parallel with the substrate 21. A bias can be applied by connecting a bias power source to the shielding plate 22 installed between the substrate 21 and the electrode 17. In this way, during sputtering, negative ions such as oxygen ions that collide with the substrate surface together with the target material do not pass through the negatively biased shielding plate 22 and the oxygen ions collide with the substrate surface. This can prevent the substrate surface from being damaged by the collision of oxygen ions. The shielding plate 22 used in the embodiment shown in FIG. 3 is a conductive plate having a hole, and specifically, a SUS or aluminum plate having a conductive metal attached thereto by plating or the like can be considered. . SUS is preferred. The shielding plate is larger than the substrate holder and has one or more holes having a diameter of 0.1 mm to 10 mm, preferably 0.1 mm to 2 mm. The number of holes is such that the target particles can reach the substrate 21 through the holes and can be stacked, and is appropriately changed according to the area of the shielding plate. The hole opened in the shielding plate can penetrate neutral particles, but cannot pass negative ions such as oxygen ions. This shielding plate is disposed between the electrode 17 and the substrate 21 at a position 0.5 cm to 20 cm, preferably 1 cm to 10 cm from the substrate 21 in parallel with the substrate 21.

図4に示される実施形態は、基板21と電極17との間に一対の磁石23を設置している点に特徴を有する。基板21と電極17との間に設置された一対の磁石23により、基板21と電極17との間に、磁界24を発生させることができる。図4に示されるように、この磁界24は、電極17と基板21の間に、基板21から0.5cm〜20cm、好ましくは1cm〜10cmの位置に、基板21と平行に印加される。ターゲット材料と共に基板表面に衝突してくる酸素イオンの経路を曲げ、酸素イオンの基板表面への衝突を防ぐことができ、酸素イオンの衝突による基板表面が受けるダメージを抑えることができる。   The embodiment shown in FIG. 4 is characterized in that a pair of magnets 23 is installed between the substrate 21 and the electrode 17. A magnetic field 24 can be generated between the substrate 21 and the electrode 17 by a pair of magnets 23 disposed between the substrate 21 and the electrode 17. As shown in FIG. 4, the magnetic field 24 is applied between the electrode 17 and the substrate 21 at a position 0.5 cm to 20 cm, preferably 1 cm to 10 cm from the substrate 21 in parallel with the substrate 21. The path of oxygen ions that collide with the surface of the substrate together with the target material can be bent to prevent collision of oxygen ions with the substrate surface, and damage to the substrate surface due to collision of oxygen ions can be suppressed.

さらにこれらの装置は、通常の平行平板のスパッタ装置に限らず、基板をオフアクシスに設置した対向スパッタ等にも適用可能である。   Furthermore, these apparatuses are not limited to a normal parallel plate sputtering apparatus, but can be applied to an opposing sputtering or the like in which a substrate is installed off-axis.

各々の実施形態は、組み合わされてもよい。すなわち、基板ホルダー、基板または遮蔽板へバイアスを印加する手段と、基板と平行な磁力を印加する手段とは、単独で設置される場合に制限されることなく、同時に設置されてもよい。   Each embodiment may be combined. That is, the means for applying a bias to the substrate holder, the substrate or the shielding plate and the means for applying a magnetic force parallel to the substrate are not limited to being installed alone, and may be installed at the same time.

次に、上記スパッタ装置を用いて、以下に、支持基板上に、少なくとも反射電極および有機層を積層した基板に、透明電極を積層するためのスパッタ装置より基板に透明電極を積層する際に、有害物である酸素イオンなどのマイナスイオンを基板に寄せ付けない方法について図2〜4を用いて詳細に説明する。   Next, when the transparent electrode is laminated on the substrate from the sputtering device for laminating the transparent electrode on the support substrate, at least on the substrate on which the reflective electrode and the organic layer are laminated, A method for keeping negative ions such as oxygen ions, which are harmful substances, away from the substrate will be described in detail with reference to FIGS.

まず、図2〜4の方法における共通の操作を説明する。基板ホルダー19に、成膜する基板21をセットし、電極17の陰極側にターゲットをセットする。スパッタ装置内に、Kr、Xe、好ましくはAr、Ar+Oなどのガスを導入させる。Ar+Oを用いる場合には、例えばAr:O=9:1の混合ガスを用いることができる。スパッタ時の基板温度は、室温〜100℃、好ましくは室温に設定する。これらの条件は、一般的な条件に過ぎず、実際は、用いるターゲット材料または装置等により異なるため、場合に応じて適宜変更する。次に、DCスパッタ用電源16および/またはRFスパッタ用電源25により、電極17間に電圧を1W〜5kW、好ましくは10W〜1000W印加し、真空ポンプにより、スパッタ装置内を0.01Pa〜10Pa、好ましくは0.05Pa〜2Paにする。するとグロー放電が起こり、陽イオンが電界によって加速され、陰極にぶつかり、その運動エネルギーによって陰極にあるターゲットを叩き出す。叩き出され、飛び出したターゲットが基板に付着し、膜を形成する。この場合に、基板には、ターゲットのみならず、材料から生じるか、またはガスとして存在する酸素から発生した酸素イオンも基板に衝突する。この酸素イオンの衝突は、トップエミッション型有機EL発光素子の透明電極をスパッタ法により積層する場合に、透明電極を成膜する前の有機EL層にダメージを与えてしまう。これを回避する方法が、以下の図2〜4の実施形態を用いた方法である。次に、図2〜4の実施形態によって、有害物である酸素イオンを基板に寄せ付けない方法について説明する。 First, common operations in the methods of FIGS. A substrate 21 to be deposited is set on the substrate holder 19, and a target is set on the cathode side of the electrode 17. A gas such as Kr, Xe, preferably Ar or Ar + O 2 is introduced into the sputtering apparatus. When Ar + O 2 is used, for example, a mixed gas of Ar: O 2 = 9: 1 can be used. The substrate temperature during sputtering is set to room temperature to 100 ° C., preferably room temperature. These conditions are only general conditions, and actually vary depending on the target material or apparatus to be used. Therefore, the conditions are changed as appropriate. Next, a voltage of 1 W to 5 kW, preferably 10 W to 1000 W is applied between the electrodes 17 by the DC sputtering power source 16 and / or the RF sputtering power source 25, and the inside of the sputtering apparatus is 0.01 Pa to 10 Pa by a vacuum pump. Preferably, it is set to 0.05 Pa to 2 Pa. Then, glow discharge occurs, positive ions are accelerated by the electric field, collide with the cathode, and kinetic energy strikes the target at the cathode. The target that is struck out and sticks out adheres to the substrate and forms a film. In this case, not only the target but also oxygen ions generated from the material or generated from oxygen existing as a gas collide with the substrate. This collision of oxygen ions damages the organic EL layer before forming the transparent electrode when the transparent electrode of the top emission type organic EL light emitting element is laminated by sputtering. A method for avoiding this is a method using the embodiments shown in FIGS. Next, a method for keeping oxygen ions, which are harmful substances, away from the substrate will be described with reference to the embodiments of FIGS.

図2に示されるスパッタ装置を用いる方法の場合は、基板ホルダー19にバイアス用電源20を接続して、前述のスパッタの間に、基板ホルダー19にマイナスのバイアスを印加する。スパッタの間に、基板ホルダー19にマイナスのバイアスを印加すると、スパッタ時に、ターゲット材料と共に基板表面に衝突してくる酸素イオンは、基板ホルダー19に設置された基板表面には酸素イオンなどのマイナスイオンが到達することができないため、酸素イオンの衝突により基板表面が受けるダメージを抑えることができる。図2は基板ホルダー19にマイナスのバイアスをかけているが、基板21に直接マイナスのバイアスをかけることも可能である。しかし、有機EL発光素子の透明電極の積層に用いる場合は、有機EL発光素子が絶縁性基板上(ガラスまたはプラスチック)に積層されていることが多いので、バイアスを直接基板にかけられない場合がある。そのような場合には、図2のように基板ホルダーにバイアスを印加するのが有効である。印加するバイアスは、0V〜−600V(0Vを除く)、好ましくは0V〜−400V(0Vを除く)、さらに好ましくは−200V〜−300V、最も好ましくは−300Vである。スパッタ時に酸素イオンに印加される電圧(Vdc)と同じ程度〜強い程度(約2〜3倍まで)の、反対のバイアスを印加するのが有効であるからである。−600Vを下回るバイアスは、透明電極の積層に支障をきたし、好ましくない。   In the case of the method using the sputtering apparatus shown in FIG. 2, a bias power source 20 is connected to the substrate holder 19 and a negative bias is applied to the substrate holder 19 during the aforementioned sputtering. When a negative bias is applied to the substrate holder 19 during sputtering, oxygen ions that collide with the substrate surface together with the target material during sputtering are negative ions such as oxygen ions on the substrate surface placed on the substrate holder 19. Therefore, the damage to the substrate surface due to the collision of oxygen ions can be suppressed. Although FIG. 2 applies a negative bias to the substrate holder 19, it is also possible to apply a negative bias directly to the substrate 21. However, when used for laminating transparent electrodes of organic EL light-emitting elements, the organic EL light-emitting elements are often laminated on an insulating substrate (glass or plastic), and therefore there is a case where a bias cannot be applied directly to the substrate. . In such a case, it is effective to apply a bias to the substrate holder as shown in FIG. The bias to be applied is 0V to -600V (excluding 0V), preferably 0V to -400V (excluding 0V), more preferably -200V to -300V, and most preferably -300V. This is because it is effective to apply an opposite bias that is about the same as the voltage (Vdc) applied to oxygen ions during sputtering (up to about 2 to 3 times). A bias lower than −600 V is not preferable because it hinders the lamination of the transparent electrode.

図3に示されるスパッタ装置を用いる方法の場合は、基板21と電極17との間の遮蔽板22にバイアス用電源20を接続して、前述のスパッタの間に、遮蔽板22にバイアスを印加する。こうすることにより、スパッタ時に、ターゲット材料と共に基板表面に衝突してくる酸素イオンなどのマイナスイオンは、マイナスのバイアスをかけられた遮蔽板22を通過せず、酸素イオンの基板21への到達を防ぐことができ、酸素イオンの衝突による有機EL層表面のダメージを抑えることができる。遮蔽板22は、穴が開いている導電性の板であり、具体的にはSUSまたはアルミ板に導電性金属をメッキ等で付着させたものが考えられる。好ましくはSUSである。遮蔽板は、基板ホルダーより大きく、直径0.1mm〜10mm、好ましくは0.1mm〜2mmの穴が、1または複数個開いている。穴の個数は、ターゲット粒子がその穴を通って基板に到達し、積層可能な程度の個数であり、遮蔽板の面積に応じて適宜変更する。この穴は、中性の粒子は貫通できるが、酸素イオン等のマイナスイオンは通ることができない。この遮蔽板22と基板21との距離は、0.5cm〜20cm、好ましくは1cm〜10cmである。遮蔽板22に印加するバイアスは、前述の基板ホルダー19に印加するバイアスと同様の理由により、0V〜−600V(0Vを除く)、好ましくは0V〜−400V(0Vを除く)、さらに好ましくは−200V〜−300V、最も好ましくは−300Vである。   In the case of the method using the sputtering apparatus shown in FIG. 3, a bias power source 20 is connected to the shielding plate 22 between the substrate 21 and the electrode 17, and a bias is applied to the shielding plate 22 during the aforementioned sputtering. To do. In this way, during sputtering, negative ions such as oxygen ions that collide with the target material together with the target material do not pass through the shielding plate 22 that is negatively biased, and the oxygen ions reach the substrate 21. This can prevent the damage of the surface of the organic EL layer due to the collision of oxygen ions. The shielding plate 22 is a conductive plate having a hole, and specifically, a plate obtained by attaching a conductive metal to SUS or an aluminum plate by plating or the like can be considered. SUS is preferred. The shielding plate is larger than the substrate holder and has one or more holes having a diameter of 0.1 mm to 10 mm, preferably 0.1 mm to 2 mm. The number of holes is such that the target particles can reach the substrate through the holes and can be stacked, and is appropriately changed according to the area of the shielding plate. This hole can penetrate neutral particles but cannot pass negative ions such as oxygen ions. The distance between the shielding plate 22 and the substrate 21 is 0.5 cm to 20 cm, preferably 1 cm to 10 cm. The bias applied to the shielding plate 22 is 0 V to −600 V (excluding 0 V), preferably 0 V to −400 V (excluding 0 V), more preferably −for the same reason as the bias applied to the substrate holder 19 described above. 200V to -300V, most preferably -300V.

図4に示されるスパッタ装置を用いる方法の場合は、基板21と電極17との間に一対の磁石23を設置することにより、前述のスパッタの間に、基板21と電極17との間に磁界24を発生させる。こうすることにより、酸素イオンが基板21に衝突する際の経路を曲げ、酸素イオンが磁界24を通過せず、酸素イオンの基板21への到達を防ぐことができる。その結果、スパッタ法により有機EL発光素子の透明電極を作製する場合に、酸素イオンの衝突による透明電極作製前の有機EL層表面のダメージを抑えることができる。磁場の磁束密度は、大きいほど酸素イオンが基板に衝突する際の経路を大きく曲げることが可能である。したがって、磁束密度は、0Tより大きく0.5T(出願時で印加可能な最大磁束密度)以下、好ましくは0.5Tである。この磁界24と基板21との距離は、0.5cm〜20cm、好ましくは1cm〜10cmである。   In the case of the method using the sputtering apparatus shown in FIG. 4, a magnetic field between the substrate 21 and the electrode 17 is formed between the substrate 21 and the electrode 17 by installing a pair of magnets 23 between the substrate 21 and the electrode 17. 24 is generated. By doing so, the path when oxygen ions collide with the substrate 21 is bent, so that the oxygen ions do not pass through the magnetic field 24 and can be prevented from reaching the substrate 21. As a result, when the transparent electrode of the organic EL light emitting device is produced by sputtering, damage to the surface of the organic EL layer before production of the transparent electrode due to collision of oxygen ions can be suppressed. The larger the magnetic flux density of the magnetic field, the greater the bending of the path when oxygen ions collide with the substrate. Therefore, the magnetic flux density is larger than 0T and not more than 0.5T (maximum magnetic flux density that can be applied at the time of filing), preferably 0.5T. The distance between the magnetic field 24 and the substrate 21 is 0.5 cm to 20 cm, preferably 1 cm to 10 cm.

これらのスパッタ法は、透明電極の厚さが50nm〜1000nm、好ましくは100nm〜500nmになるまで積層する。   These sputtering methods are stacked until the transparent electrode has a thickness of 50 nm to 1000 nm, preferably 100 nm to 500 nm.

これらの方法は、組み合わされて用いられてもよい。すなわち、基板ホルダー、基板または遮蔽板へのバイアスの印加と、基板と平行な磁力の印加とは、単独で用いる場合に制限されることなく、同時に印加することも可能である。   These methods may be used in combination. That is, the application of a bias to the substrate holder, the substrate or the shielding plate and the application of a magnetic force parallel to the substrate are not limited to the case where they are used alone, and can be applied simultaneously.

本発明のスパッタ装置および方法は、有機EL発光素子の透明電極をスパッタ法により成膜する際に用いることにより、透明電極を作製する際に、ターゲット材料と共に生じる酸素イオンの有機EL層への衝突を回避し、有機EL層が受けるダメージを抑えることができる。したがって、本発明のスパッタ装置を、有機EL発光素子の製造装置に、透明電極用スパッタ装置として組み込むことができる。   In the sputtering apparatus and method of the present invention, when a transparent electrode of an organic EL light emitting element is used for forming a film by a sputtering method, collision of oxygen ions generated with a target material with the organic EL layer when the transparent electrode is manufactured. Can be avoided, and damage to the organic EL layer can be suppressed. Therefore, the sputtering apparatus of the present invention can be incorporated as a transparent electrode sputtering apparatus in an organic EL light emitting device manufacturing apparatus.

次に本発明のスパッタ装置を透明電極用スパッタ装置として組み込んだ有機EL発光素子の製造装置について説明する。   Next, an organic EL light emitting device manufacturing apparatus incorporating the sputtering apparatus of the present invention as a transparent electrode sputtering apparatus will be described.

本発明の有機EL発光素子の製造装置の一の実施形態を図5に示す。図5の製造装置には、酸素プラズマ+ロード/アンロード室10、有機蒸着用チャンバー12、金属蒸着用チャンバー13、および透明電極用スパッタ装置14が設置されている。本発明の有機EL発光素子の製造装置という場合は、少なくとも有機蒸着用チャンバー12および透明電極用スパッタ装置14を備えており、好ましくは酸素プラズマ+ロード/アンロード室10および金属蒸着用チャンバー13を備えている。この他にも、さらに任意の処理室が設置されてもよい。各処理室は真空槽であり、図示されていないが、各処理室には真空ポンプが取り付けられ、各処理室を独立して真空排気することが可能となっている。各処理室の互いに隣接する処理室(容器)の間には、それぞれゲートバルブ11が取り付けられて連結しており、基板21はその中をマグネティックフィードスロー15によって移動し、これにより、製造途中の基板表面を大気中の水分や酸素に暴露することなく、真空状態を維持したまま搬送することができ、表面を清浄に保つことが可能になる。   One embodiment of the manufacturing apparatus of the organic EL light emitting device of the present invention is shown in FIG. In the manufacturing apparatus of FIG. 5, an oxygen plasma + load / unload chamber 10, an organic vapor deposition chamber 12, a metal vapor deposition chamber 13, and a transparent electrode sputtering apparatus 14 are installed. The organic EL light-emitting device manufacturing apparatus of the present invention includes at least an organic vapor deposition chamber 12 and a transparent electrode sputtering apparatus 14, and preferably includes an oxygen plasma + load / unload chamber 10 and a metal vapor deposition chamber 13. I have. In addition, an arbitrary processing chamber may be installed. Each processing chamber is a vacuum tank and is not shown, but a vacuum pump is attached to each processing chamber so that each processing chamber can be evacuated independently. Between the processing chambers (containers) adjacent to each other in the processing chambers, gate valves 11 are respectively attached and connected, and the substrate 21 is moved by the magnetic feed throw 15 so that the substrate 21 is being manufactured. Without exposing the substrate surface to moisture or oxygen in the atmosphere, the substrate surface can be transported while maintaining a vacuum state, and the surface can be kept clean.

次に本発明の有機EL発光素子の製造装置の各部分について説明する。   Next, each part of the manufacturing apparatus of the organic EL light emitting device of the present invention will be described.

酸素プラズマ+ロード/アンロード室10は、反射電極まで積層された基板を導入する搬入口である。この処理室には酸素プラズマ処理を行うことができる装置が設置されており、搬入した基板に酸素プラズマ処理を行うことにより、基板の表面を表面改質することができる。図5ではロード/アンロード室と酸素プラズマ処理室は1つの処理室に記載されているが、別個の処理室であってもよい。また、図5では、酸素プラズマ+ロード/アンロード室10が、搬入口として金属蒸着用チャンバー13の前と、搬出口として透明電極用スパッタ装置14の後ろに2つ設置されているが、この配置は適宜変更することができる。例えば、酸素プラズマ+ロード/アンロード室10を1つ設置した構造にし、そこから基板を出し入れすることも可能である。   The oxygen plasma + load / unload chamber 10 is a carry-in port for introducing a substrate laminated to the reflective electrode. An apparatus capable of performing oxygen plasma treatment is installed in the treatment chamber, and the surface of the substrate can be modified by performing oxygen plasma treatment on the loaded substrate. In FIG. 5, the load / unload chamber and the oxygen plasma processing chamber are described as one processing chamber, but may be separate processing chambers. In FIG. 5, two oxygen plasma + load / unload chambers 10 are installed in front of the metal deposition chamber 13 as a carry-in port and behind the transparent electrode sputtering device 14 as a carry-out port. The arrangement can be changed as appropriate. For example, a structure in which one oxygen plasma + load / unload chamber 10 is installed, and a substrate can be taken in and out from the structure.

次に、酸素プラズマ+ロード/アンロード室10とゲートバルブ11によって連結された処理室は、有機蒸着用チャンバー12である。この有機蒸着用チャンバー12は、有機EL層を作製するためのチャンバーである。図5の装置では、有機蒸着用チャンバー12は、単一処理室としているが、複数の処理室としてもよい。この装置の中には、有機EL層の各層の材料が充填された坩堝、およびそれを加熱する手段等の従来の真空蒸着装置が設置されている。   Next, the processing chamber connected to the oxygen plasma + load / unload chamber 10 by the gate valve 11 is an organic vapor deposition chamber 12. This organic vapor deposition chamber 12 is a chamber for producing an organic EL layer. In the apparatus of FIG. 5, the organic vapor deposition chamber 12 is a single processing chamber, but may be a plurality of processing chambers. In this apparatus, a conventional vacuum deposition apparatus such as a crucible filled with materials of each layer of the organic EL layer and a means for heating the crucible is installed.

次に、有機蒸着用チャンバー12とゲートバルブ11によって連結された処理室は、金属蒸着用チャンバー13である。この金属蒸着用チャンバー13は、透明電極を、電子注入性の金属等の極薄膜(10nm以下)との複数構造とする場合に、真空蒸着により極薄膜を作製するためのチャンバーである。この装置の中には、極薄膜の材料が充填された坩堝、およびそれを加熱する手段等の従来の真空蒸着装置が設置されている。   Next, the processing chamber connected to the organic vapor deposition chamber 12 by the gate valve 11 is a metal vapor deposition chamber 13. The metal deposition chamber 13 is a chamber for producing an ultrathin film by vacuum deposition when the transparent electrode has a plurality of structures with an ultrathin film (10 nm or less) such as an electron injecting metal. In this apparatus, a conventional vacuum vapor deposition apparatus such as a crucible filled with a material of an ultrathin film and a means for heating the crucible is installed.

次に、金属蒸着用チャンバー13とゲートバルブ11によって連結されているのが、透明電極用スパッタ装置14である。このスパッタ装置14は、前述の本発明のスパッタ装置であり、スパッタ法により透明電極を積層するチャンバーである。スパッタ装置14には、図2〜4のような本発明の実施形態が用いられ、前述のようなスパッタ方法で透明電極を積層する。これにより、透明電極が形成される前の有機EL層に、ターゲット材料と共に酸素イオンが衝突した場合の有機EL層の表面のダメージを回避することができる。スパッタ装置14には酸素プラズマ+ロード/アンロード室10が取り付けられており、スパッタ装置14で透明電極を作製することにより完成した有機EL発光素子を矢印の方に搬出することができる。   Next, the transparent electrode sputtering apparatus 14 is connected to the metal deposition chamber 13 by the gate valve 11. The sputtering apparatus 14 is the above-described sputtering apparatus of the present invention, and is a chamber for laminating transparent electrodes by a sputtering method. The embodiment of the present invention as shown in FIGS. 2 to 4 is used for the sputtering device 14, and the transparent electrode is laminated by the sputtering method as described above. Thereby, damage to the surface of the organic EL layer when oxygen ions collide with the target material on the organic EL layer before the transparent electrode is formed can be avoided. An oxygen plasma + load / unload chamber 10 is attached to the sputtering apparatus 14, and a completed organic EL light-emitting element can be carried out in the direction of the arrow by producing a transparent electrode with the sputtering apparatus 14.

これらの装置は以下のように稼働させることができる。まず、反射電極まで積層された基板を酸素プラズマ+ロード/アンロード室10から搬入し、酸素プラズマ処理により表面改質を行う。次に基板を有機蒸着用チャンバー12に移動し、有機EL層を積層後、金属蒸着用チャンバー13に移動させ、超薄膜を積層する。その後、基板を透明電極用スパッタ装置14に移動させ、透明電極を積層し、酸素プラズマ+ロード/アンロード室10から搬出する。   These devices can be operated as follows. First, the substrate laminated up to the reflective electrode is carried from the oxygen plasma + load / unload chamber 10 and surface modification is performed by oxygen plasma treatment. Next, the substrate is moved to the organic vapor deposition chamber 12, and after laminating the organic EL layer, the substrate is moved to the metal vapor deposition chamber 13 to deposit an ultrathin film. Thereafter, the substrate is moved to the transparent electrode sputtering apparatus 14, the transparent electrodes are stacked, and carried out of the oxygen plasma + load / unload chamber 10.

次に、前述の有機EL発光素子の製造装置を用いた有機EL発光素子の製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing an organic EL light emitting device using the above-described organic EL light emitting device manufacturing apparatus will be described.

本発明の有機EL発光素子の製造方法は、少なくとも支持基板上に反射電極を積層する工程と、反射電極上に有機EL層を形成する工程と、有機EL層上に透明電極を形成する工程とを含む。以下に各工程について前述の本発明の装置(図5)に基づいて説明する。   The method for producing an organic EL light emitting device of the present invention includes a step of laminating a reflective electrode on at least a support substrate, a step of forming an organic EL layer on the reflective electrode, and a step of forming a transparent electrode on the organic EL layer, including. Each step will be described below based on the above-described apparatus of the present invention (FIG. 5).

第1の工程は、支持基板上に反射電極を積層する工程である。   The first step is a step of laminating the reflective electrode on the support substrate.

蒸着、スパッタ、CVD、イオンプレーティングまたはレーザアブレーションなどの当該技術において知られている方法を用いて支持基板上に積層することができる。本明細書においては、支持基板とは、何も積層されていない、有機EL発光素子の基礎となる基板を指し、基板とは、支持基板上に電極、有機EL層等が積層されたものの全体を指す。次に積層された反射電極のパターニングを行う。パターニングの方法は、フォトリソグラフィーなどの従来の方法により行うことができる。反射電極の厚さは、20nm以上、好ましくは70〜150nmの厚さを有する。   It can be laminated on the support substrate using methods known in the art such as vapor deposition, sputtering, CVD, ion plating or laser ablation. In this specification, a support substrate refers to a substrate that is the basis of an organic EL light-emitting element on which nothing is stacked, and the substrate is an entire substrate in which an electrode, an organic EL layer, and the like are stacked on a support substrate. Point to. Next, the laminated reflective electrode is patterned. The patterning method can be performed by a conventional method such as photolithography. The thickness of the reflective electrode is 20 nm or more, preferably 70 to 150 nm.

反射電極として透明導電性酸化物を用いる場合などには、Al、Ag、Mo、Wなどの金属またはそれらの合金、NiP、NiB、CrP、CrBなどのアモルファス金属または合金、あるいはNiAlなどの微結晶性合金などの反射性金属層との積層構造にすることにより、有機発光層の発光を透明電極に向かって反射させることが必要である。反射性金属層は、蒸着、スパッタ、CVD、イオンプレーティングまたはレーザアブレーションなどの当該技術において知られている方法を用いて積層され、反射性金属層の厚さは、10nm〜1000nm、好ましくは100nm〜500nmの厚さを有する。必要に応じて、透明導電性金属酸化物の表面を、UV、プラズマ等を用いて処理して、有機EL層に対する正孔注入性を向上させてもよい。   When a transparent conductive oxide is used as the reflective electrode, a metal such as Al, Ag, Mo, or W or an alloy thereof, an amorphous metal or alloy such as NiP, NiB, CrP, or CrB, or a microcrystal such as NiAl It is necessary to reflect the light emitted from the organic light emitting layer toward the transparent electrode by forming a laminated structure with a reflective metal layer such as a conductive alloy. The reflective metal layer is laminated using methods known in the art such as vapor deposition, sputtering, CVD, ion plating or laser ablation, and the thickness of the reflective metal layer is 10 nm to 1000 nm, preferably 100 nm. It has a thickness of ˜500 nm. If necessary, the surface of the transparent conductive metal oxide may be treated with UV, plasma, or the like to improve the hole injection property for the organic EL layer.

第2の工程は、反射電極上に有機EL層を形成する工程である。この工程から本発明の有機EL発光素子製造装置(図5)を用いることができる。   The second step is a step of forming an organic EL layer on the reflective electrode. From this step, the organic EL light emitting device production apparatus of the present invention (FIG. 5) can be used.

まず反射電極を積層した基板を酸素プラズマ+ロード/アンロード室10に搬入する。酸素プラズマ+ロード/アンロード室10内を、付属の真空ポンプにより減圧後、酸素プラズマ処理により表面改質を行う。   First, the substrate on which the reflective electrodes are stacked is carried into the oxygen plasma + load / unload chamber 10. The inside of the oxygen plasma + load / unload chamber 10 is depressurized by an attached vacuum pump, and then surface modification is performed by oxygen plasma treatment.

次に反射電極を積層した基板を有機蒸着用チャンバーに移動させ、有機EL層を、真空蒸着により通常の厚さまで形成する。有機EL層は、例えば、正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、電子輸送層および/または電子注入層などからなるがこれらに制限されない。   Next, the board | substrate which laminated | stacked the reflective electrode is moved to the chamber for organic vapor deposition, and an organic EL layer is formed to normal thickness by vacuum vapor deposition. The organic EL layer includes, for example, a hole injection layer, a hole transport layer, an organic light emitting layer, an electron transport layer, and / or an electron injection layer, but is not limited thereto.

第3の工程は、有機EL層上に透明電極を形成する工程である。   The third step is a step of forming a transparent electrode on the organic EL layer.

支持基板上に、前記工程により反射電極と有機EL層を積層した基板21を、スパッタ装置14まで移動させ、スパッタ法により透明電極を作製する。スパッタ装置14には、図2〜4のような本発明の実施形態が用いられ、前述のようなスパッタ方法で透明電極を積層する。これにより、透明電極が形成される前の有機EL層に、ターゲット材料と共に酸素イオンが衝突した場合の有機EL層の表面のダメージを回避することができる。   On the support substrate, the substrate 21 in which the reflective electrode and the organic EL layer are laminated by the above process is moved to the sputtering apparatus 14, and a transparent electrode is produced by the sputtering method. The embodiment of the present invention as shown in FIGS. 2 to 4 is used for the sputtering device 14, and the transparent electrode is laminated by the sputtering method as described above. Thereby, damage to the surface of the organic EL layer when oxygen ions collide with the target material on the organic EL layer before the transparent electrode is formed can be avoided.

また、透明電極を、電子注入性の金属等の極薄膜(10nm以下)との複数構造としてもよい。この場合には、前記工程により有機EL層まで積層した基板を、スパッタ装置14で透明電極を積層する前に、金属蒸着用チャンバー13に移動し、真空蒸着により10nm以下の極薄膜を作製する工程が必要となる。   The transparent electrode may have a plurality of structures with an ultrathin film (10 nm or less) such as an electron injecting metal. In this case, the substrate laminated up to the organic EL layer in the above step is moved to the metal vapor deposition chamber 13 before the transparent electrode is laminated by the sputtering apparatus 14 and a very thin film having a thickness of 10 nm or less is produced by vacuum vapor deposition. Is required.

この工程によって透明電極が作製され、有機EL発光素子が完成する。完成した有機EL発光素子は、マグネティックフィードスロー15により、スパッタ装置14から酸素プラズマ+ロード/アンロード室10に移動後、製造装置から搬出される。   A transparent electrode is produced by this process, and an organic EL light emitting element is completed. The completed organic EL light-emitting element is moved from the sputtering apparatus 14 to the oxygen plasma + load / unload chamber 10 by the magnetic feed throw 15 and then carried out of the manufacturing apparatus.

次に、本発明の有機EL発光素子の製造方法および製造装置により作製される有機EL発光素子の一般的な構造について説明する。   Next, the general structure of the organic EL light emitting device produced by the method and apparatus for producing the organic EL light emitting device of the present invention will be described.

本発明により作製されるトップエミッション型有機EL発光素子の一例を図6に示す。図6の有機EL発光素子は、支持基板1上に、反射電極2と、有機EL層3と、透明電極4とが積層されている。したがって、有機発光層から出る光は、支持基板と反対の、矢印の方向に取り出される。以下各層について説明する。   An example of the top emission type organic EL light emitting device produced by the present invention is shown in FIG. In the organic EL light emitting device of FIG. 6, a reflective electrode 2, an organic EL layer 3, and a transparent electrode 4 are laminated on a support substrate 1. Therefore, the light emitted from the organic light emitting layer is extracted in the direction of the arrow opposite to the support substrate. Each layer will be described below.

本発明に用いられる支持基板1は、積層される層の形成に用いられる条件(溶媒、温度等)に耐えることができ、かつ寸法安定性に優れているものが好ましい。好ましい支持基板1は、ガラス、プラスチックまたはセラミックなどからなる絶縁性基板、半導電性や金属等の導電性基板に絶縁性の薄膜を形成した基板、またはポリオレフィン、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂またはポリイミド樹脂などから形成される可撓性フィルムなどを用いることができる。   The support substrate 1 used in the present invention is preferably one that can withstand the conditions (solvent, temperature, etc.) used to form the layer to be laminated and is excellent in dimensional stability. A preferable support substrate 1 is an insulating substrate made of glass, plastic, ceramic, or the like, a substrate in which an insulating thin film is formed on a conductive substrate such as semiconductive or metal, or polyolefin, acrylic resin, polyester resin, or polyimide resin. A flexible film formed from can be used.

反射電極2は、有機EL層3の発光を透明電極側に反射する働きをし、それぞれ有機EL層に対して正孔または電子を注入する陽極または陰極のいずれかとして用いられる。   The reflective electrode 2 functions to reflect light emitted from the organic EL layer 3 toward the transparent electrode, and is used as either an anode or a cathode for injecting holes or electrons into the organic EL layer.

反射電極を陽極として用いる場合、正孔注入性を向上するために仕事関数の大きい材料により反射電極を形成する。適当な材料は、ITOまたはIZOのような透明導電性酸化物を含む。透明導電性酸化物を反射電極に用いる場合には、Al、Ag、Mo、Wなどの金属またはそれらの合金、NiP、NiB、CrP、CrBなどのアモルファス金属または合金、あるいはNiAlなどの微結晶性合金などの反射性金属層との積層構造にすることにより、有機EL層の発光を透明電極に向かって反射させることが必要である。必要に応じて、透明導電性金属酸化物の表面を、UV、プラズマ等を用いて処理して、有機EL層に対する正孔注入性を向上させてもよい。   When the reflective electrode is used as an anode, the reflective electrode is formed of a material having a high work function in order to improve hole injection properties. Suitable materials include transparent conductive oxides such as ITO or IZO. When a transparent conductive oxide is used for the reflective electrode, a metal such as Al, Ag, Mo, or W or an alloy thereof, an amorphous metal or alloy such as NiP, NiB, CrP, or CrB, or a microcrystalline property such as NiAl It is necessary to reflect light emitted from the organic EL layer toward the transparent electrode by using a laminated structure with a reflective metal layer such as an alloy. If necessary, the surface of the transparent conductive metal oxide may be treated with UV, plasma, or the like to improve the hole injection property for the organic EL layer.

反射電極を陰極として用いる場合、電子注入性を付与するために仕事関数が小さい材料により反射電極を形成する。適当な材料は、Li、Na等のアルカリ金属、K、Ca、Mg、Sr等のアルカリ土類金属、これらのフッ化物、またはAlのような電子注入性金属またはそれらの合金が望ましい。良好な成膜性および低い抵抗率を達成するためには、アルミニウム合金(特にアルカリ金属、アルカリ土類金属との合金など)、AgMg合金などを用いることが好ましい。この場合にも前述の反射性金属層との積層構造としてもよい。   When the reflective electrode is used as a cathode, the reflective electrode is formed of a material having a low work function in order to impart electron injectability. Suitable materials are preferably alkali metals such as Li and Na, alkaline earth metals such as K, Ca, Mg, and Sr, fluorides thereof, electron injecting metals such as Al, or alloys thereof. In order to achieve good film formability and low resistivity, it is preferable to use an aluminum alloy (particularly, an alloy with an alkali metal or an alkaline earth metal), an AgMg alloy, or the like. Also in this case, a laminated structure with the above-described reflective metal layer may be employed.

反射電極は、蒸着、スパッタ、CVD、イオンプレーティングまたはレーザアブレーションなどの当該技術において知られている方法を用いて形成することができる。反射電極の厚さは、20nm以上、好ましくは70〜150nmの厚さを有する。   The reflective electrode can be formed using a method known in the art such as vapor deposition, sputtering, CVD, ion plating, or laser ablation. The thickness of the reflective electrode is 20 nm or more, preferably 70 to 150 nm.

有機EL層3は、正孔および電子の注入を受けて、近紫外から可視領域の光、好ましくは青色から青緑色領域の光を発する層である。白色光を発する有機EL層3を用いてもよい。   The organic EL layer 3 is a layer that emits light in the near ultraviolet to visible region, preferably in the blue to blue-green region, upon injection of holes and electrons. An organic EL layer 3 that emits white light may be used.

有機EL層3は、少なくとも有機発光層7を含み、必要に応じて、正孔注入層5、正孔輸送層6、電子輸送層8および/または電子注入層9を介在させた構造を有する。具体的には、下記のような層構成からなるものが採用される。
(1)有機発光層7
(2)正孔注入層5/有機発光層7
(3)有機発光層7/電子注入層9
(4)正孔注入層5/有機発光層7/電子注入層9
(5)正孔注入層5/正孔輸送層6/有機発光層7/電子注入層9
(6)正孔注入層5/正孔輸送層6/有機発光層7/電子輸送層8/電子注入層9
(上記において、陽極は有機発光層7または正孔注入層5に接続され、陰極は有機発光層7または電子注入層9に接続される)
The organic EL layer 3 includes at least an organic light emitting layer 7 and has a structure in which a hole injection layer 5, a hole transport layer 6, an electron transport layer 8 and / or an electron injection layer 9 are interposed as required. Specifically, those having the following layer structure are employed.
(1) Organic light emitting layer 7
(2) Hole injection layer 5 / organic light emitting layer 7
(3) Organic light emitting layer 7 / electron injection layer 9
(4) Hole injection layer 5 / organic light emitting layer 7 / electron injection layer 9
(5) Hole injection layer 5 / hole transport layer 6 / organic light emitting layer 7 / electron injection layer 9
(6) Hole injection layer 5 / hole transport layer 6 / organic light emitting layer 7 / electron transport layer 8 / electron injection layer 9
(In the above, the anode is connected to the organic light emitting layer 7 or the hole injection layer 5, and the cathode is connected to the organic light emitting layer 7 or the electron injection layer 9).

上記各層の材料としては、公知のものが使用される。青色から青緑色の発光を得るためには、有機発光層7中に、例えばベンゾチアゾール系、ベンゾイミダゾール系、ベンゾオキサゾール系などの蛍光増白剤、金属キレート化オキソニウム化合物、スチリルベンゼン系化合物、芳香族ジメチリディン系化合物などが好ましく使用される。あるいはまた、ホスト化合物にドーパントを添加することによって、白色光を含む種々の波長域の光を発する有機発光層7を形成してもよい。ホスト化合物としては、ジスチリルアリーレン系化合物、N,N’−ジトリル−N,N’−ジフェニルビフェニルアミン(TPD)、アルミニウムトリス(8−キノリノラート)(Alq)等を用いることができる。ドーパントとしては、ペリレン(青紫色)、クマリン6(青色)、キナクリドン系化合物(青緑色〜緑色)、ルブレン(黄色)、4−ジシアノメチレン−2−(p−ジメチルアミノスチリル)−6−メチル−4H−ピラン(DCM、赤色)、白金オクタエチルポルフィリン錯体(PtOEP、赤色)などを用いることができる。   Known materials are used as the material for each of the above layers. In order to obtain light emission from blue to blue-green, in the organic light emitting layer 7, for example, fluorescent brighteners such as benzothiazole, benzimidazole and benzoxazole, metal chelated oxonium compounds, styrylbenzene compounds, aromatics Group dimethylidin compounds are preferably used. Or you may form the organic light emitting layer 7 which emits the light of the various wavelength range containing white light by adding a dopant to a host compound. As the host compound, a distyrylarylene compound, N, N′-ditolyl-N, N′-diphenylbiphenylamine (TPD), aluminum tris (8-quinolinolato) (Alq), or the like can be used. As dopants, perylene (blue purple), coumarin 6 (blue), quinacridone compounds (blue green to green), rubrene (yellow), 4-dicyanomethylene-2- (p-dimethylaminostyryl) -6-methyl- 4H-pyran (DCM, red), platinum octaethylporphyrin complex (PtOEP, red), or the like can be used.

電子注入層9の材料としては、アルカリ金属、アルカリ土類金属またはそれらを含む合金、アルカリ金属フッ化物などの電子注入性材料の薄膜(膜厚10nm以下)としてもよい。あるいはまた、アルカリ金属ないしアルカリ土類金属をドープしたアルミニウムのキノリノール錯体を用いてもよい。   The material of the electron injection layer 9 may be a thin film (thickness of 10 nm or less) of an electron injection material such as an alkali metal, an alkaline earth metal, an alloy containing them, or an alkali metal fluoride. Alternatively, an aluminum quinolinol complex doped with an alkali metal or an alkaline earth metal may be used.

電子輸送層8の材料としては、2−(4−ビフェニル)−5−(p−tブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール(PBD)のようなオキサジアゾール誘導体、トリアゾール誘導体、トリアジン誘導体、フェニルキノキサリン類、アルミニウムのキノリノール錯体(たとえばAlq)などを用いることができる。 Examples of the material for the electron transport layer 8 include oxadiazole derivatives such as 2- (4-biphenyl) -5- (pt-butylphenyl) -1,3,4-oxadiazole (PBD), triazole derivatives, Triazine derivatives, phenylquinoxalines, aluminum quinolinol complexes (eg, Alq 3 ), and the like can be used.

正孔輸送層6の材料としては、TPD、N,N’−ビス(1−ナフチル)−N,N’−ジフェニルビフェニルアミン(α−NPD)、4,4’,4”−トリス(N−3−トリル−N−フェニルアミノ)トリフェニルアミン(m−MTDATA)などのトリアリールアミン系材料を含む公知の材料を用いることができる。   Examples of the material for the hole transport layer 6 include TPD, N, N′-bis (1-naphthyl) -N, N′-diphenylbiphenylamine (α-NPD), 4,4 ′, 4 ″ -tris (N— Known materials including triarylamine-based materials such as 3-tolyl-N-phenylamino) triphenylamine (m-MTDATA) can be used.

正孔注入層5の材料としては、フタロシアニン類(銅フタロシアニンなど)またはインダンスレン系化合物などを用いることができる。   As a material for the hole injection layer 5, phthalocyanines (such as copper phthalocyanine) or indanthrene compounds can be used.

透明電極4は、前述の反射電極2が陽極である場合には、陰極となり、前述の反射電極2が陰極である場合には、陽極となる。   The transparent electrode 4 becomes a cathode when the above-mentioned reflective electrode 2 is an anode, and becomes an anode when the above-mentioned reflective electrode 2 is a cathode.

透明電極4を陰極として用いる場合、その材料は、電子を効率よく注入するために仕事関数が小さいことが求められる。さらに、有機EL層3の発する光の波長域において透明であることが必要とされる。これら2つの特性を両立するためには、透明電極4を複数層からなる積層構造とすることが好ましい。なぜなら、仕事関数の小さい材料は、一般的に透明性が低いからである。すなわち、有機EL層3と接触する部位に、リチウム、ナトリウム等のアルカリ金属、カリウム、カルシウム、マグネシウム、ストロンチウムなどのアルカリ土類金属、またはこれらのフッ化物等からなる電子注入性の金属、その他の金属との合金や化合物の超薄膜(10nm以下)を用いる。これらの仕事関数の小さい材料を用いることにより効率の良い電子注入性を可能とし、さらに超薄膜とすることによりこれらの材料による透明性低下を最低限とすることが可能となる。該極薄膜の上には、ITOまたはIZOなどの透明導電膜を形成する。これらの導電膜は補助電極として機能し、透明電極全体の抵抗値を減少させ有機EL層3に対して十分な電流を供給することを可能にする。   When the transparent electrode 4 is used as a cathode, the material is required to have a small work function in order to inject electrons efficiently. Furthermore, it is required to be transparent in the wavelength range of light emitted from the organic EL layer 3. In order to achieve both of these two characteristics, it is preferable that the transparent electrode 4 has a laminated structure composed of a plurality of layers. This is because a material having a low work function generally has low transparency. That is, an electron-injecting metal made of an alkali metal such as lithium or sodium, an alkaline earth metal such as potassium, calcium, magnesium, or strontium, or a fluoride thereof, etc. An ultrathin film (10 nm or less) of an alloy or compound with a metal is used. By using these materials having a low work function, it is possible to achieve efficient electron injection, and by using an ultra-thin film, it is possible to minimize the decrease in transparency due to these materials. A transparent conductive film such as ITO or IZO is formed on the ultrathin film. These conductive films function as auxiliary electrodes, reduce the resistance value of the entire transparent electrode, and allow a sufficient current to be supplied to the organic EL layer 3.

透明電極4を陽極として用いる場合、正孔注入効率を高めるために仕事関数の大きな材料を用いる必要がある。また、有機EL層3からの発光が、透明電極4を通過するために透明性の高い材料を用いる必要がある。したがって、この場合には、ITOまたはIZOのような透明導電性材料を用いることが好ましい。   When the transparent electrode 4 is used as an anode, it is necessary to use a material having a large work function in order to increase the hole injection efficiency. In addition, since light emitted from the organic EL layer 3 passes through the transparent electrode 4, it is necessary to use a highly transparent material. Therefore, in this case, it is preferable to use a transparent conductive material such as ITO or IZO.

透明電極4は、本発明の方法または装置により、スパッタ法によって積層される。透明電極4は、波長400〜800nmの光に対して好ましくは50%以上、より好ましくは85%以上の透過率を有することが好ましい。また、発光効率を向上させるためには、透明電極は十分に低い抵抗率を与えるような厚さ、好ましくは30nm以上、より好ましくは100〜300nmの範囲内の厚さを有することが望ましい。   The transparent electrode 4 is laminated by sputtering by the method or apparatus of the present invention. The transparent electrode 4 preferably has a transmittance of 50% or more, more preferably 85% or more with respect to light having a wavelength of 400 to 800 nm. In order to improve luminous efficiency, it is desirable that the transparent electrode has a thickness that provides a sufficiently low resistivity, preferably 30 nm or more, and more preferably within a range of 100 to 300 nm.

次に、反射電極および透明電極の形状について説明する。有機EL発光素子の駆動方法にはパッシブ型とアクティブ型の2種類が存在し、どちらの駆動方法を選択するかにより電極の形状が異なるが、トップエミッション型有機EL素子の場合はアクティブ型が用いられる。アクティブ型の場合は、基板上に、発光部に1対1に対応させたスイッチング素子(TFTなど)を形成して、該スイッチング素子を複数の部分電極から構成される反射電極と1対1に対応させて接続し、有機EL層3上に一体として形成された透明電極4と組み合わせた構造とする。   Next, the shapes of the reflective electrode and the transparent electrode will be described. There are two types of driving methods for organic EL light emitting devices, passive type and active type, and the shape of the electrode differs depending on which driving method is selected, but in the case of top emission type organic EL devices, the active type is used. It is done. In the case of the active type, a switching element (TFT or the like) corresponding to the light emitting part is formed on the substrate in a one-to-one correspondence, and the switching element is in a one-to-one correspondence with a reflective electrode composed of a plurality of partial electrodes. Corresponding connections are made, and a structure is combined with the transparent electrode 4 formed integrally on the organic EL layer 3.

以上の有機EL層3に、カラーフィルタ層ないし色変換層をさらに設けて、所望の色相の光を発する有機EL発光素子を形成してもよい。カラーフィルタ層とは、有機発光層7からの発光のうち、特定波長域の光のみを透過させる層である。色変換フィルタとは、有機EL層3からの発光の特定波長域の成分を吸収し別の波長域の光を放出する、いわゆる波長分布変換を行う層である。たとえば、青色〜青緑色の成分を吸収して、赤色光を放射する赤色変換層を設けてもよい。色変換層とカラーフィルタ層を組み合わせて用いて、放出される光の色純度を向上させてもよい。さらに、独立して制御される複数の発光部を有する有機EL発光素子を用いる場合、複数種のカラーフィルタ層ないし色変換層を組み合わせて、多色表示ディスプレイを形成することが可能である。色変換層およびカラーフィルタ層は、当該技術において知られている任意の材料から形成することが可能である。   A color filter layer or a color conversion layer may be further provided on the organic EL layer 3 to form an organic EL light emitting element that emits light of a desired hue. The color filter layer is a layer that transmits only light in a specific wavelength region among light emitted from the organic light emitting layer 7. The color conversion filter is a layer that performs so-called wavelength distribution conversion that absorbs a component in a specific wavelength range of light emission from the organic EL layer 3 and emits light in another wavelength range. For example, a red conversion layer that absorbs blue to blue-green components and emits red light may be provided. A color conversion layer and a color filter layer may be used in combination to improve the color purity of emitted light. Furthermore, when using an organic EL light emitting device having a plurality of light emitting units controlled independently, it is possible to form a multicolor display by combining a plurality of types of color filter layers or color conversion layers. The color conversion layer and the color filter layer can be formed of any material known in the art.

カラーフィルタ層ないし色変換層は、透明電極4上に積層されるか、または別基板上で形成された後、有機EL発光素子に貼り合わせられる。   The color filter layer or the color conversion layer is laminated on the transparent electrode 4 or formed on a separate substrate, and then bonded to the organic EL light emitting element.

次に、以上に説明した本発明の有機EL発光素子の製造装置および製造方法を、実施例によってより具体的に説明する。それらは本発明を限定するものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。   Next, the manufacturing apparatus and manufacturing method of the organic EL light emitting device of the present invention described above will be described more specifically with reference to examples. Needless to say, they do not limit the present invention and can be variously modified without departing from the gist of the present invention.

図5の有機EL発光素子製造装置を用いて有機EL発光素子を作製し、本発明の有機EL発光素子製造装置および方法が輝度の電流効率に与える効果を試験した。   An organic EL light-emitting element was produced using the organic EL light-emitting element manufacturing apparatus of FIG. 5, and the effect of the organic EL light-emitting element manufacturing apparatus and method of the present invention on luminance current efficiency was tested.

5cm×5cmの寸法を有するガラス支持基板上に、反射金属としてAlを、蒸着によって100nm成膜し、その上に反射電極として、ITOをスパッタ法により100nm成膜した。その後この基板を研磨し、フォトリソグラフィを用いてパターニングを行った。ITOとAlのエッチャントには王水を用いた。   On a glass support substrate having dimensions of 5 cm × 5 cm, Al was deposited as a reflective metal to a thickness of 100 nm, and ITO was deposited thereon as a reflective electrode to a thickness of 100 nm by a sputtering method. The substrate was then polished and patterned using photolithography. Aqua regia was used as an etchant for ITO and Al.

反射電極が形成された基板を、洗浄後、酸素プラズマ+ロード/アンロード室10から図5の有機EL発光素子製造装置に搬入した。酸素プラズマ+ロード/アンロード室10に付属される酸素プラズマ装置により、反射電極が形成された基板をAr/O=1:1雰囲気下で100W、5分間表面改質した。次にこの基板を有機蒸着用チャンバーに搬入し、有機EL層の蒸着を開始した。正孔輸送層として、α―NPDを0.5nm/sで40nm堆積させ、その次に、有機発光層としてAlqを0.5nm/sで60nm堆積させた。蒸着時の圧力は5×10−5Paとし、室温で成膜を実施した。次に、有機EL層まで積層された基板をスパッタ装置14に移動させ、スパッタ法により透明電極としてIZOを積層した。スパッタ装置は、図2に示されるような基板ホルダーにバイアスを印加する実施形態のスパッタ装置と、図4に示されるような基板と電極17との間に一対の磁石23を設置することにより、基板と電極17との間に、基板と平行に磁界24を発生させる実施形態のスパッタ装置を用いた。基板ホルダーにバイアスを印加する実施形態の場合には、比較例として、バイアスが0Vの場合と、実施例1としてバイアスが−200Vの場合とを行った。基板と電極17との間に磁界24を発生させる実施形態の場合には、実施例2として磁束密度を0.3T印加した。その他のスパッタ条件は、ガスの種類がAr、ガス圧が、0.5Pa〜1Pa、電力量が、DC100WまたはDC100WおよびRF50W、および基板温度が室温であった。以上の条件で、IZOを20nm/分で75nm積層した。 The substrate on which the reflective electrode was formed was washed and then carried from the oxygen plasma + load / unload chamber 10 to the organic EL light emitting device manufacturing apparatus of FIG. Using the oxygen plasma apparatus attached to the oxygen plasma + load / unload chamber 10, the substrate on which the reflective electrode was formed was surface-modified at 100 W for 5 minutes in an Ar / O 2 = 1: 1 atmosphere. Next, this board | substrate was carried in to the chamber for organic vapor deposition, and vapor deposition of the organic EL layer was started. As a hole transport layer, α-NPD was deposited at a thickness of 40 nm at 0.5 nm / s, and then Alq was deposited as an organic light emitting layer at a thickness of 60 nm at 0.5 nm / s. The pressure during vapor deposition was 5 × 10 −5 Pa, and film formation was performed at room temperature. Next, the substrate laminated up to the organic EL layer was moved to the sputtering apparatus 14, and IZO was laminated as a transparent electrode by sputtering. The sputtering apparatus includes a pair of magnets 23 between the sputtering apparatus of the embodiment that applies a bias to the substrate holder as shown in FIG. 2 and the substrate and the electrode 17 as shown in FIG. The sputtering apparatus according to the embodiment that generates the magnetic field 24 in parallel with the substrate between the substrate and the electrode 17 was used. In the case of the embodiment in which a bias is applied to the substrate holder, as a comparative example, the case where the bias is 0V and the case where the bias is −200V are performed as Example 1. In the embodiment in which the magnetic field 24 is generated between the substrate and the electrode 17, a magnetic flux density of 0.3 T is applied as Example 2. As for other sputtering conditions, the gas type was Ar, the gas pressure was 0.5 Pa to 1 Pa, the electric energy was DC100W or DC100W and RF50W, and the substrate temperature was room temperature. Under the above conditions, 75 nm of IZO was laminated at 20 nm / min.

上記製造工程により比較例1、実施例1および2の有機EL発光素子を作製した。これらの輝度の電流効率を通常の電流−電圧−輝度により測定した。結果を表1に示す。   The organic EL light emitting elements of Comparative Example 1, Examples 1 and 2 were produced by the above production process. The current efficiency of these luminances was measured by normal current-voltage-luminance. The results are shown in Table 1.

Figure 2005142079
Figure 2005142079

表1に示されるように、基板ホルダーにバイアスを−200V印加した実施例1および基板と電極の間に磁力を0.3T印加した有機EL発光素子は、2.7〜2.8cd/Aという高い電流効率を示した一方で、バイアスおよび磁力の印加を行わなかった比較例は、電流効率が2.0cd/Aという低い電流効率であった。この結果は、DCおよびRFを同時に印加しても同様であった。これは、本発明の装置を用いることで、酸素イオンが直接基板に到達できなくなり、有機EL層に与えられるダメージが低減し、トップエミッション型有機EL発光素子の電流効率が向上したものと考えられる。   As shown in Table 1, Example 1 in which a bias of −200 V was applied to the substrate holder and the organic EL light emitting device in which a magnetic force of 0.3 T was applied between the substrate and the electrode were 2.7 to 2.8 cd / A. While showing high current efficiency, the comparative example which did not apply bias and magnetic force had current efficiency as low as 2.0 cd / A. This result was the same even when DC and RF were applied simultaneously. This is probably because oxygen ions cannot reach the substrate directly by using the apparatus of the present invention, the damage given to the organic EL layer is reduced, and the current efficiency of the top emission type organic EL light emitting element is improved. .

また、陰極がAlであること以外はトップエミッション型有機EL発光素子と同一の構成のボトムエミッション型有機EL発光素子の電流効率は、2.8cd/Aであった。したがって、本発明により作製されたトップエミッション型有機EL発光素子は、ボトムエミッション型有機EL発光素子と同等の電流効率を有する。   Moreover, the current efficiency of the bottom emission type organic EL light emitting device having the same configuration as that of the top emission type organic EL light emitting device except that the cathode is Al was 2.8 cd / A. Therefore, the top emission type organic EL light emitting device produced according to the present invention has a current efficiency equivalent to that of the bottom emission type organic EL light emitting device.

本発明により、有機EL層まで積層された基板への酸素イオンの衝突を低減させることができ、有機EL層に与えるダメージを最小限にすることができた。従来、スパッタによりトップエミッション型用の透明電極を作製する場合には、ボトムエミッション型に比べて特性が低下していたが、本発明により、ボトムエミッション型と特性が同等な有機EL発光素子の作製が可能になった。   According to the present invention, it is possible to reduce the collision of oxygen ions to the substrate laminated up to the organic EL layer, and to minimize damage to the organic EL layer. Conventionally, when producing a transparent electrode for a top emission type by sputtering, the characteristics are lower than those of a bottom emission type. However, according to the present invention, an organic EL light emitting device having the same characteristics as the bottom emission type is produced. Became possible.

酸素プラズマまたはArプラズマを照射後、Alを蒸着した有機EL発光素子の輝度と電圧との関係を示した図である。It is the figure which showed the relationship between the brightness | luminance and voltage of the organic electroluminescent light emitting element which vapor-deposited Al after irradiating oxygen plasma or Ar plasma. 基板ホルダーにバイアスを印加する場合の本発明のスパッタ装置の構成を概略的に示した図である。It is the figure which showed roughly the structure of the sputtering device of this invention in the case of applying a bias to a substrate holder. 遮蔽板にバイアスを印加する場合の本発明のスパッタ装置の構成を概略的に示した図である。It is the figure which showed roughly the structure of the sputtering device of this invention in the case of applying a bias to a shielding board. 基板と平行に磁力を印加する場合の本発明のスパッタ装置の構成を概略的に示した図である。It is the figure which showed roughly the structure of the sputtering device of this invention in the case of applying a magnetic force in parallel with a board | substrate. 本発明の有機EL発光素子の製造装置の一の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the manufacturing apparatus of the organic EL light emitting element of this invention. トップエミッション型有機EL発光素子の構造を示す断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows the structure of a top emission type organic EL light emitting element.

符号の説明Explanation of symbols

1 支持基板
2 反射電極
3 有機EL層
4 透明電極
5 正孔注入層
6 正孔輸送層
7 有機発光層
8 電子輸送層
9 電子注入層
10 酸素プラズマ+ロード/アンロード室
11 ゲートバルブ
12 有機蒸着用チャンバー
13 金属蒸着用チャンバー
14 スパッタ装置
15 マグネティックフィードスロー
16 DCスパッタ用電源
17 電極
18 ターゲット
19 基板ホルダー
20 バイアス用電源
21 基板
22 遮蔽板
23 磁石
24 磁界
25 RFスパッタ用電源
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Support substrate 2 Reflective electrode 3 Organic EL layer 4 Transparent electrode 5 Hole injection layer 6 Hole transport layer 7 Organic light emitting layer 8 Electron transport layer 9 Electron injection layer 10 Oxygen plasma + load / unload chamber 11 Gate valve 12 Organic vapor deposition Chamber 13 Metal deposition chamber 14 Sputtering device 15 Magnetic feed throw 16 DC sputtering power source 17 Electrode 18 Target 19 Substrate holder 20 Bias power source 21 Substrate 22 Shielding plate 23 Magnet 24 Magnetic field 25 RF sputtering power source

Claims (17)

真空槽中に、少なくとも電極、ターゲット、基板および基板を保持する基板ホルダーを含むトップエミッション型有機EL発光素子の透明電極作製用スパッタ装置において、前記装置が有害物を基板に寄せ付けない手段を有し、前記手段が、
a)基板ホルダーにバイアスを印加する手段、
b)基板と電極の間に、遮蔽板を設け、この遮蔽板にバイアスを印加する手段、および
c)基板と電極の間に、基板と平行に磁界を印加する手段
から選択される1つまたは複数の手段を含むことを特徴とするスパッタ装置。
In a sputtering apparatus for producing a transparent electrode of a top emission type organic EL light emitting device including at least an electrode, a target, a substrate, and a substrate holder for holding the substrate in a vacuum chamber, the device has means for preventing harmful substances from coming close to the substrate , The means
a) means for applying a bias to the substrate holder;
b) a means for providing a shielding plate between the substrate and the electrode and applying a bias to the shielding plate; and c) one selected from means for applying a magnetic field parallel to the substrate between the substrate and the electrode, or A sputtering apparatus comprising a plurality of means.
前記有害物が酸素イオンであることを特徴とする請求項1に記載のスパッタ装置。   The sputtering apparatus according to claim 1, wherein the harmful substance is oxygen ions. 印加するバイアスが、0V〜−600V(0Vを除く)であることを特徴とする請求項1または2に記載のスパッタ装置。   The sputtering apparatus according to claim 1, wherein the bias to be applied is 0 V to −600 V (excluding 0 V). 印加する磁力の磁束密度が0Tより大きく0.5T以下であることを特徴とする請求項1または2に記載のスパッタ装置。   The sputtering apparatus according to claim 1 or 2, wherein the magnetic flux density of the applied magnetic force is larger than 0T and not larger than 0.5T. 真空槽中に、少なくとも電極、ターゲット、基板および基板を保持する基板ホルダーを含むトップエミッション型有機EL発光素子の透明電極作製用スパッタ装置を用いて前記基板に透明電極を形成する方法であって、
a)基板ホルダーにバイアスを印加すること、
b)基板と電極の間に、遮蔽板を設け、この遮蔽板にバイアスを印加すること、および
c)基板と電極の間に、基板と平行に磁界を印加すること
から選択される1つまたは複数の有害物を基板に寄せ付けない方法を含むことを特徴とする方法。
A method for forming a transparent electrode on a substrate using a sputtering apparatus for producing a transparent electrode of a top emission type organic EL light emitting device including at least an electrode, a target, a substrate and a substrate holder for holding the substrate in a vacuum chamber,
a) applying a bias to the substrate holder;
b) one selected from providing a shielding plate between the substrate and the electrode and applying a bias to the shielding plate; and c) applying a magnetic field parallel to the substrate between the substrate and the electrode, or A method comprising a method of keeping a plurality of harmful substances away from a substrate.
前記有害物が酸素イオンであることを特徴とする請求項5に記載の方法。   The method according to claim 5, wherein the harmful substance is an oxygen ion. 印加するバイアスが、0V〜−600V(0Vを除く)であることを特徴とする請求項5または6に記載の方法。   The method according to claim 5 or 6, wherein the bias to be applied is 0 V to -600 V (excluding 0 V). 印加する磁力の磁束密度が0Tより大きく0.5T以下であることを特徴とする請求項5または6に記載の方法。   The method according to claim 5 or 6, wherein the magnetic flux density of the applied magnetic force is larger than 0T and not larger than 0.5T. 少なくとも有機蒸着用チャンバーと、透明電極作製用スパッタ装置とを含むトップエミッション型有機EL発光素子の製造装置であって、前記透明電極作製用スパッタ装置が有害物を基板に寄せ付けない手段を有し、前記手段が、
a)基板ホルダーにバイアスを印加する手段、
b)基板と電極の間に、遮蔽板を設け、この遮蔽板にバイアスを印加する手段、および
c)基板と電極の間に、基板と平行に磁界を印加する手段
から選択される1つまたは複数の手段を含むことを特徴とする製造装置。
A top emission type organic EL light-emitting device manufacturing apparatus including at least an organic vapor deposition chamber and a transparent electrode manufacturing sputtering apparatus, the transparent electrode manufacturing sputtering apparatus having means for keeping harmful substances away from the substrate, Said means is
a) means for applying a bias to the substrate holder;
b) a means for providing a shielding plate between the substrate and the electrode and applying a bias to the shielding plate; and c) one selected from means for applying a magnetic field parallel to the substrate between the substrate and the electrode, or A manufacturing apparatus comprising a plurality of means.
前記有害物が酸素イオンであることを特徴とする請求項9に記載の製造装置。   The manufacturing apparatus according to claim 9, wherein the harmful substance is an oxygen ion. 印加するバイアスが、0V〜−600V(0Vを除く)であることを特徴とする請求項9または10に記載の製造装置。   The manufacturing apparatus according to claim 9 or 10, wherein a bias to be applied is 0 V to -600 V (excluding 0 V). 印加する磁力の磁束密度が0Tより大きく0.5T以下であることを特徴とする請求項9または10に記載の製造装置。   The manufacturing apparatus according to claim 9 or 10, wherein the magnetic flux density of the applied magnetic force is larger than 0T and not larger than 0.5T. 有機蒸着用チャンバーと透明電極作製用スパッタ装置が、真空を維持しながら基板を搬送することができるように連結されていることを特徴とする請求項9〜12のいずれか1項に記載の製造装置。   The manufacturing method according to any one of claims 9 to 12, wherein the organic vapor deposition chamber and the transparent electrode manufacturing sputtering apparatus are connected so that the substrate can be conveyed while maintaining a vacuum. apparatus. 支持基板上に少なくとも反射電極を積層する工程と、有機EL層を積層する工程と、透明電極を積層する工程とを含むトップエミッション型有機EL発光素子の製造方法において、前記透明電極を積層する工程が、真空槽中に、少なくとも電極、ターゲット、基板および基板を保持する基板ホルダーを含むスパッタ装置を用いて、基板上に膜を形成する工程であり、この工程中に、
a)基板ホルダーにバイアスを印加すること、
b)基板と電極の間に、遮蔽板を設け、この遮蔽板にバイアスを印加すること、および
c)基板と電極の間に、基板と平行に磁界を印加すること
から選択される1つまたは複数の有害物を基板に寄せ付けない方法を適用しながら成膜すること特徴とする製造方法。
In the method of manufacturing a top emission type organic EL light emitting device, the method includes the step of laminating the transparent electrode in the method for producing a top emission type organic EL light emitting device including the step of laminating at least the reflective electrode on the support substrate, the step of laminating the organic EL layer, and the step of laminating the transparent electrode. Is a step of forming a film on a substrate using a sputtering apparatus including at least an electrode, a target, a substrate, and a substrate holder for holding the substrate in a vacuum chamber. During this step,
a) applying a bias to the substrate holder;
b) one selected from providing a shielding plate between the substrate and the electrode and applying a bias to the shielding plate; and c) applying a magnetic field parallel to the substrate between the substrate and the electrode, or A manufacturing method characterized in that a film is formed while applying a method that keeps a plurality of harmful substances away from a substrate.
前記有害物が酸素イオンであることを特徴とする請求項14に記載の製造方法。   The manufacturing method according to claim 14, wherein the harmful substance is an oxygen ion. 印加するバイアスが、0V〜−600V(0Vを除く)であることを特徴とする請求項14または15に記載の製造方法。   The manufacturing method according to claim 14 or 15, wherein the bias to be applied is 0 V to -600 V (excluding 0 V). 印加する磁力の磁束密度が0Tより大きく0.5T以下であることを特徴とする請求項14または15に記載の製造方法。
The manufacturing method according to claim 14 or 15, wherein the magnetic flux density of the applied magnetic force is larger than 0T and not larger than 0.5T.
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