JP2005129299A - Organic el element manufacturing device - Google Patents

Organic el element manufacturing device Download PDF

Info

Publication number
JP2005129299A
JP2005129299A JP2003362186A JP2003362186A JP2005129299A JP 2005129299 A JP2005129299 A JP 2005129299A JP 2003362186 A JP2003362186 A JP 2003362186A JP 2003362186 A JP2003362186 A JP 2003362186A JP 2005129299 A JP2005129299 A JP 2005129299A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
chamber
organic
cleaning
cleaning mechanism
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003362186A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4166664B2 (en
Inventor
Shuichi Miyamoto
秀一 宮本
Shigeo Osawa
茂夫 大沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Tokki Corp
Original Assignee
Tokki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokki Corp filed Critical Tokki Corp
Priority to JP2003362186A priority Critical patent/JP4166664B2/en
Publication of JP2005129299A publication Critical patent/JP2005129299A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4166664B2 publication Critical patent/JP4166664B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an organic EL device manufacturing device with very excellent practicability capable of efficiently removing the dirt of a mask in a short time without depending on manual operation and without exposing a treatment chamber to the air. <P>SOLUTION: This organic EL device manufacturing device comprises one or a plurality of types of treatment chambers such as a preparation chamber, an ejection chamber, a pretreatment chamber, a film forming chamber, a mask stock chamber and a mask cleaning chamber, and a conveyance chamber conveying a substrate to the treatment chamber, and forms films of an organic EL material one by one on the substrate to manufacture the organic EL device. A cleaning mechanism cleaning the mask 1 provided on the substrate when forming the organic EL material films is provided in one of the treatment chambers. The cleaning mechanism comprises a holding part 2 holding the mask 1 and a nozzle body 4 provided facing the mask 1 held by the holding part 2 and injecting granular dry ice 3 on the mask 1 held by the holding part 2. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、有機EL素子製造装置に関するものである。   The present invention relates to an organic EL element manufacturing apparatus.

従来、ガラス基板上に下部金属電極,有機EL薄膜,上部透明電極を順次積層することで有機EL素子を製造する(例えば特願2003−137674号公報(特許文献1)に開示されているような)有機EL素子製造装置においては、所定のパターンが形成されたマスクを基板に積層させてこのマスクを介して有機EL材料を蒸着することで所望のパターンの有機EL薄膜を基板上に成膜している。   Conventionally, an organic EL element is manufactured by sequentially laminating a lower metal electrode, an organic EL thin film, and an upper transparent electrode on a glass substrate (for example, as disclosed in Japanese Patent Application No. 2003-137664 (Patent Document 1)). ) In an organic EL element manufacturing apparatus, a mask having a predetermined pattern is stacked on a substrate, and an organic EL material is deposited through the mask to form an organic EL thin film having a desired pattern on the substrate. ing.

ところで、当然ながらこのマスクには蒸着の度に前記有機EL材料が徐々に付着・堆積し、数十〜数百回用いると、開口サイズの縮小や開口形状の変形等を生じ、有機EL薄膜を所望のパターンに成膜できなくなってしまうため、このマスクの交換が必要となる。   Of course, the organic EL material gradually adheres to and accumulates on this mask every time it is vapor-deposited, and when used several tens to several hundreds of times, the size of the opening is reduced and the shape of the opening is deformed. Since it becomes impossible to form a film in a desired pattern, this mask needs to be replaced.

具体的には、交換用のマスクをストックしておくマスクストック室のない有機EL素子製造装置の場合には、以下の手順で交換を行っている。   Specifically, in the case of an organic EL element manufacturing apparatus that does not have a mask stock chamber for stocking a replacement mask, replacement is performed according to the following procedure.

1.成膜室(蒸着室)を真空から大気圧に戻す。   1. The film formation chamber (deposition chamber) is returned from vacuum to atmospheric pressure.

2.成膜室からマスクを搬出する。   2. Unload the mask from the deposition chamber.

3.アセトン・アルコール等の溶剤でマスクに付着した有機EL材料を除去し、更に純水で洗浄することでクリーニングを行う(所謂ウエットクリーニング)。   3. Cleaning is performed by removing the organic EL material adhering to the mask with a solvent such as acetone or alcohol, and further washing with pure water (so-called wet cleaning).

4.クリーニングしたマスク(若しくは予めクリーニングしておいたマスク)を成膜室に搬入する。   4). The cleaned mask (or a previously cleaned mask) is carried into the film formation chamber.

5.成膜室を真空にする。   5). The film formation chamber is evacuated.

この場合、マスクを搬出してから新しいマスクをセットするまでは、装置を使用することができず、また、交換の度に成膜室の排気を行う必要があるため極めて作業効率が悪い。しかも、この成膜室及びマスクを大気にさらすことになり、この大気中の水分や油脂により成膜室及びマスクが汚染されやすいという問題がある。   In this case, the apparatus cannot be used until the new mask is set after the mask is carried out, and the film formation chamber needs to be evacuated every time the mask is replaced. In addition, the film forming chamber and the mask are exposed to the atmosphere, and there is a problem that the film forming chamber and the mask are easily contaminated by moisture and oil in the air.

一方、図1に図示したような交換用のマスクをストックしておくマスクストック室を有する有機EL素子製造装置の場合には、以下の手順で交換を行っている。   On the other hand, in the case of an organic EL element manufacturing apparatus having a mask stock chamber for stocking a replacement mask as shown in FIG. 1, replacement is performed according to the following procedure.

1.成膜室からマスクストック室にマスクを搬送する。   1. The mask is transferred from the film formation chamber to the mask stock chamber.

2.マスクストック室から新しいマスクを成膜室に搬送する。   2. A new mask is transferred from the mask stock chamber to the deposition chamber.

この場合、成膜室の汚れたマスクをマスクストック室の汚れていないマスクと交換するだけで、成膜室を真空状態から大気圧に戻す必要なく(即ち、排気を行う必要なく)、直ぐに装置を使用することが可能であるが、マスクストック室には有機EL材料の付着した汚れたマスクがたまる。従って、この汚れたマスクがある程度たまった場合には、以下の手順でクリーニングを行っている。   In this case, it is not necessary to return the film forming chamber from the vacuum state to the atmospheric pressure (ie, it is not necessary to evacuate) just by replacing the dirty mask in the film forming chamber with an unclean mask in the mask stock chamber. In the mask stock chamber, a dirty mask with an organic EL material is accumulated. Therefore, when this dirty mask accumulates to some extent, cleaning is performed according to the following procedure.

1.マスクストック室を真空から大気圧に戻す。   1. Return the mask stock chamber from vacuum to atmospheric pressure.

2.マスクストック室からマスクを搬出する。   2. Remove the mask from the mask stock room.

3.アセトン・アルコール等の溶剤でマスクに付着した有機EL材料を除去し、更に純水で洗浄することでクリーニングを行う。   3. Cleaning is performed by removing the organic EL material adhering to the mask with a solvent such as acetone or alcohol, and further washing with pure water.

4.クリーニングしたマスク(若しくは予めクリーニングしておいたマスク)をマスクストック室に搬入する。   4). The cleaned mask (or a previously cleaned mask) is carried into the mask stock chamber.

即ち、マスクストック室を有する場合であっても、クリーニングの度にマスクストック室を大気にさらす必要がある。   In other words, even when a mask stock chamber is provided, it is necessary to expose the mask stock chamber to the atmosphere each time cleaning is performed.

従って、従来は、マスクの交換・クリーニングのために成膜室若しくはマスクストック室を大気圧に戻す必要があり、この成膜室やマスクストック室若しくはマスクが大気にさらされることで成膜室等が汚染されやすく、到達真空度や排気効率の低下、有機EL素子への汚れの付着等の問題があったのが現状である。   Therefore, conventionally, it is necessary to return the film formation chamber or the mask stock chamber to the atmospheric pressure in order to replace or clean the mask, and the film formation chamber, the mask stock chamber, or the mask is exposed to the air to form the film formation chamber or the like. At present, there are problems such as the degree of vacuum and exhaust efficiency being lowered, and the adhesion of dirt to the organic EL element.

また、ウエットクリーニングは人手により行うことから、一回の作業に必要な工程が多く、作業に時間がかかるという問題や、チャンバー大気解放時の汚染の問題がある。   In addition, since wet cleaning is performed manually, there are many steps required for one operation, and there is a problem that the operation takes time and a problem of contamination when the chamber is released into the atmosphere.

更に、有機EL素子は、わずかな汚れや真空度の変化により特性が大きく変化してしまうため、有機EL素子製造装置においては、大気の影響をできるだけ排除したいという要求が常に存在する。   Furthermore, since the characteristics of the organic EL element greatly change due to slight dirt or a change in the degree of vacuum, there is always a demand for eliminating the influence of the atmosphere as much as possible in the organic EL element manufacturing apparatus.

特願2003−137674号公報Japanese Patent Application No. 2003-137664

本発明は、上述のような現状に鑑み、マスクの交換及びクリーニングの度に成膜室やマスクストック室等の処理室若しくはマスクを大気にさらす必要があるため、大気によりこの処理室やマスクが汚染されやすいという知見に基づき成されたもので、マスクの汚れを人手によらず且つ処理室やマスクを大気にさらすことなく短時間で良好に除去することができる極めて実用性に秀れた有機EL素子製造装置を提供することを課題としている。   In the present invention, in view of the current situation as described above, it is necessary to expose a processing chamber or mask such as a film formation chamber or a mask stock chamber to the atmosphere every time the mask is replaced and cleaned. It is based on the knowledge that it is easily polluted, and it is an extremely practical organic material that can remove the dirt on the mask well in a short time without the need for human hands and exposing the processing chamber or mask to the atmosphere. It is an object to provide an EL element manufacturing apparatus.

添付図面を参照して本発明の要旨を説明する。   The gist of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

仕込み室,取り出し室,前処理室,成膜室,マスクストック室,マスククリーニング室等の一つ若しくは複数種の処理室と、この処理室に基板を搬送する搬送室とから成り、基板上に有機EL材料を順次成膜して有機EL素子を製造する有機EL素子製造装置であって、有機EL材料成膜時にこの基板上に設けられるマスク1をクリーニングするクリーニング機構を前記いずれかの処理室に設け、このクリーニング機構は、マスク1を保持する保持部2と、この保持部2に保持されたマスク1と対向状態に設けられ、この保持部2に保持されたマスク1に粒状のドライアイス3を噴射するノズル体4とから成ることを特徴とする有機EL素子製造装置に係るものである。   One or more types of processing chambers such as a preparation chamber, a take-out chamber, a pretreatment chamber, a film formation chamber, a mask stock chamber, a mask cleaning chamber, and the like, and a transfer chamber for transporting the substrate to this processing chamber An organic EL element manufacturing apparatus for manufacturing an organic EL element by sequentially forming an organic EL material, wherein a cleaning mechanism for cleaning the mask 1 provided on the substrate at the time of forming the organic EL material The cleaning mechanism is provided with a holding unit 2 for holding the mask 1 and a mask 1 held in the holding unit 2 so as to face the mask 1 held in the holding unit 2. And a nozzle body 4 for injecting 3.

また、前記ノズル体4若しくはマスク1を、前記保持部2に保持されたマスク1若しくはノズル体4と略平行な方向に可動し得る駆動部を前記クリーニング機構に設けたことを特徴とする請求項1記載の有機EL素子製造装置に係るものである。   The cleaning mechanism is provided with a driving unit capable of moving the nozzle body 4 or the mask 1 in a direction substantially parallel to the mask 1 or the nozzle body 4 held by the holding unit 2. 1 relates to the organic EL element manufacturing apparatus according to 1.

また、前記クリーニング機構にノズル体4を一つ若しくは複数ずつ対向状態に設け、この対向状態に設けた一つ若しくは複数ずつのノズル体4間に、前記保持部2に保持された前記マスク1が配設されるように前記クリーニング機構を構成したことを特徴とする請求項1,2のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置に係るものである。   In addition, the cleaning mechanism is provided with one or a plurality of nozzle bodies 4 facing each other, and the mask 1 held by the holding portion 2 is interposed between the one or a plurality of nozzle bodies 4 provided in the facing state. The organic EL element manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the cleaning mechanism is configured to be disposed.

また、前記クリーニング機構を、マスク1をクリーニングするためのマスククリーニング室に設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置に係るものである。   The organic EL element manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the cleaning mechanism is provided in a mask cleaning chamber for cleaning the mask 1.

また、前記クリーニング機構を、交換用のマスク1をストックしておくマスクストック室に設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置に係るものである。   The organic EL device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the cleaning mechanism is provided in a mask stock chamber in which a replacement mask 1 is stocked. is there.

本発明は上述のように構成したから、マスクの汚れを人手によらず且つ処理室を大気にさらすことなく短時間で良好に除去することができる極めて実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。   Since the present invention is configured as described above, the organic EL element manufacturing apparatus excellent in practicality can be well removed in a short time without manually contaminating the mask and exposing the processing chamber to the atmosphere. It becomes.

また、請求項2記載の発明においては、マスクの全面に満遍なくドライアイスを吹き付けて、より一層確実にこのマスクの汚れを除去できる一層実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。   According to the second aspect of the present invention, the organic EL element manufacturing apparatus is more practical and capable of spraying dry ice evenly over the entire surface of the mask and removing the contamination of the mask more reliably.

また、請求項3記載の発明においては、マスクの表裏面に同時にドライアイスを吹き付けて、より一層効率的にこのマスクの汚れを除去できるより一層実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。   Further, in the invention described in claim 3, it becomes an organic EL device manufacturing apparatus with more practicality that can simultaneously remove the contamination of the mask by spraying dry ice simultaneously on the front and back surfaces of the mask. .

また、請求項4,5記載の発明においては、本発明を一層容易に実現できるより一層実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。   Further, in the inventions according to claims 4 and 5, the organic EL element manufacturing apparatus with excellent practicality can be realized more easily.

好適と考える本発明の実施の形態(発明をどのように実施するのが最良か)を、図面に基づいてその作用効果を示して簡単に説明する。   Embodiments of the present invention that are considered to be suitable (how to best carry out the invention) will be briefly described with reference to the drawings, showing their effects.

成膜時に有機EL材料が付着・堆積したマスク1を、成膜室から搬送室を通じてクリーニング機構が設けられた処理室に搬送し、このクリーニング機構によりこのマスク1のクリーニングを行う。   The mask 1 to which the organic EL material has adhered and deposited during film formation is transferred from the film formation chamber to the processing chamber provided with a cleaning mechanism through the transfer chamber, and the mask 1 is cleaned by this cleaning mechanism.

この際、いずれかの処理室に備えたクリーニング機構によってマスク1をクリーニングすることができるから、従来のように成膜室やマスクストック室等の処理室を大気圧に戻す必要なく、成膜室から前記処理室にマスクを搬送するだけでクリーニングを行うことができ、この成膜室やマスクストック室等の処理室及びマスク1を大気にさらすことがないから、この処理室及びマスクが大気中の油脂・水分等によって汚染されることを確実に阻止できる。   At this time, since the mask 1 can be cleaned by a cleaning mechanism provided in any of the processing chambers, it is not necessary to return the processing chambers such as the film forming chamber and the mask stock chamber to the atmospheric pressure as in the prior art. Cleaning can be performed simply by transporting the mask from the process chamber to the process chamber, and the process chamber such as the film formation chamber and the mask stock chamber and the mask 1 are not exposed to the atmosphere. Can be reliably prevented from being contaminated by oils and fats, moisture, etc.

従って、処理室内部が大気にさらされず、常に好適な真空度に設定することができ、真空度や付着する汚れ等により敏感に特性が変化する有機EL素子を、一定の品質で歩留まり良く製造できることになる。   Therefore, the inside of the processing chamber is not exposed to the atmosphere, and can always be set to a suitable vacuum degree, and an organic EL element whose characteristics change sensitively depending on the degree of vacuum or adhering dirt can be manufactured with a certain quality and a high yield. become.

具体的には、ノズル体4から(粒状の)ドライアイス3をマスク1に噴射することでこのマスク1のクリーニングを行うクリーニング機構により、マスク1の表面にドライアイス3を吹き付けることで、このドライアイス3が、マスク1に堆積した汚れに衝突し、マスク1の表面に接触して前記汚れとこのマスク1表面との界面において気化する際の体積膨張により、このマスク1の表面に堆積した汚れを除去することができ、このマスク1に付着した汚れを清浄な雰囲気中で人手によらず容易且つ確実に除去することができる。   Specifically, the dry ice 3 is sprayed onto the surface of the mask 1 by a cleaning mechanism that cleans the mask 1 by spraying (granular) dry ice 3 from the nozzle body 4 onto the mask 1. The dirt accumulated on the surface of the mask 1 due to the volume expansion when the ice 3 collides with the dirt accumulated on the mask 1 and comes into contact with the surface of the mask 1 and vaporizes at the interface between the dirt and the surface of the mask 1. The dirt adhering to the mask 1 can be easily and reliably removed in a clean atmosphere without human intervention.

また、ウエットクリーニングと異なり、液体を経過せずに固体から昇華するドライアイス3によりクリーニングを行うから、処理室内を水分で汚すことなくマスク1をクリーニングすることができる。しかも、ウエットクリーニングのように人手により行う必要がなく、短時間で効率良くクリーニングを行うことができる。   Further, unlike the wet cleaning, the cleaning is performed by the dry ice 3 that sublimates from the solid without passing through the liquid, so that the mask 1 can be cleaned without contaminating the processing chamber with moisture. In addition, there is no need for manual cleaning as in wet cleaning, and cleaning can be performed efficiently in a short time.

更に、ドライアイス3は、マスク1に接触した瞬間に気化するため、被クリーニング部材の表面を削り取る作用を発揮しないから、このドライアイス3を吹き付けて汚れを除去しても、マスク1に破損等が生じることがない。   Further, since the dry ice 3 is vaporized at the moment of contact with the mask 1, it does not exhibit the effect of scraping the surface of the member to be cleaned. Therefore, even if the dry ice 3 is sprayed to remove the dirt, the mask 1 is damaged. Will not occur.

即ち、マスク1としては通常厚さ数十μm程度の極めて薄く変形・破損しやすいものが用いられるが、上述のように、ドライアイス3はマスク1表面に付着した瞬間に気化するから、このマスク1を変形・破損させる心配なく確実にクリーニングすることが可能となる。   That is, as the mask 1, an extremely thin mask having a thickness of about several tens of μm is easily used. However, as described above, the dry ice 3 is vaporized at the moment when it adheres to the surface of the mask 1. It is possible to reliably clean without worrying about deformation or breakage of 1.

また、例えば、ノズル体4若しくはマスク1を、前記保持部2に保持されたマスク1若しくはノズル体4と略平行な方向に可動し得る駆動部を前記クリーニング機構に設けることで、このマスク1表面に満遍なくドライアイス3を吹き付けることができることになり、より一層確実にこのマスク1の汚れを除去できる。   Further, for example, a surface of the mask 1 is provided by providing the cleaning mechanism with a driving unit that can move the nozzle body 4 or the mask 1 in a direction substantially parallel to the mask 1 or the nozzle body 4 held by the holding unit 2. Thus, the dry ice 3 can be sprayed evenly, and the contamination of the mask 1 can be more reliably removed.

また、例えば、このクリーニング機構を交換用のマスク1をストックしておくマスクストック室等に設けることで、この汚れたマスク1を成膜室から搬出して新しいマスク1に交換して直ぐに装置を使用できると共に、この汚れたマスク1をクリーニングすることができるため、マスクストック室に予備のマスク1を各成膜室に対して1枚ずつ設けておくだけでこのマスク1が破損等しない限り外部に取り出す必要なく、即ち、このマスクストック室を大気にさらす必要なく、このマスク1を交互にクリーニングして用いることができ、このマスク1が破損等しない限り、長期間交換する必要なく用いることができ、極めて作業性に秀れたものとなる。   Further, for example, by providing this cleaning mechanism in a mask stock chamber or the like in which a replacement mask 1 is stocked, the dirty mask 1 is unloaded from the film formation chamber and replaced with a new mask 1 immediately. Since the dirty mask 1 can be used and cleaned, only one spare mask 1 is provided for each film forming chamber in the mask stock chamber, so long as the mask 1 is not damaged. This mask 1 can be used by cleaning it alternately without needing to be exposed to the atmosphere, i.e., without exposing the mask stock chamber to the atmosphere. It can be done and is extremely workable.

従って、マスクストック室を大気に戻して排気を行う回数を極めて少なくでき、作業効率を低下させることなく、極めて生産性良く有機EL素子を製造できることになる。   Therefore, the number of times of exhausting the mask stock chamber to the atmosphere can be extremely reduced, and the organic EL element can be manufactured with extremely high productivity without lowering the working efficiency.

また、例えば、前記クリーニング機構にノズル体4を一つ若しくは複数ずつ対向状態に設け、この対向状態に設けた一つ若しくは複数ずつのノズル体4間に、前記マスク1が保持部2に保持された状態で配設されるように前記クリーニング機構を構成しても良く、この場合には、より一層効率良くマスク1のクリーニングを行えることになる。   Further, for example, the cleaning mechanism is provided with one or a plurality of nozzle bodies 4 facing each other, and the mask 1 is held by the holding portion 2 between one or a plurality of nozzle bodies 4 provided in the facing state. The cleaning mechanism may be configured to be disposed in a wet state. In this case, the mask 1 can be cleaned more efficiently.

従って、本発明は、マスクの汚れを人手によらず且つ処理室を大気にさらすことなく良好に除去することができる極めて実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。   Therefore, the present invention provides an organic EL element manufacturing apparatus that is excellent in practicality and can remove the contamination of the mask satisfactorily without the need for manpower and without exposing the processing chamber to the atmosphere.

本発明の具体的な実施例について図面に基づいて説明する。   Specific embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

本実施例は、仕込み室,取り出し室,前処理室,成膜室,マスクストック室,マスククリーニング室等の一つ若しくは複数種の処理室と、この処理室に基板を搬送する搬送室とから成り、基板上に有機EL材料を順次成膜して有機EL素子を製造する有機EL素子製造装置であって、有機EL材料を基板上に所定のパターンに成膜するために成膜時にこの基板上に設けられるマスク1をクリーニングするクリーニング機構を前記いずれかの処理室に設け、このクリーニング機構は、マスク1を保持する保持部2と、この保持部2に保持されたマスク1と対向状態に設けられ、このマスク1にドライアイス3を噴射するノズル体4とから成るものである。   This embodiment includes one or a plurality of types of processing chambers such as a preparation chamber, a take-out chamber, a pretreatment chamber, a film formation chamber, a mask stock chamber, and a mask cleaning chamber, and a transfer chamber for transferring a substrate to the processing chamber. An organic EL element manufacturing apparatus for manufacturing an organic EL element by sequentially forming an organic EL material on a substrate, wherein the substrate is formed at the time of film formation in order to form the organic EL material in a predetermined pattern on the substrate. A cleaning mechanism for cleaning the mask 1 provided thereon is provided in any one of the processing chambers. The cleaning mechanism is in a state of being opposed to the holding unit 2 that holds the mask 1 and the mask 1 that is held by the holding unit 2. The nozzle body 4 is provided and sprays dry ice 3 onto the mask 1.

具体的には、図2に図示したように、搬送室の周囲に複数種の処理室を設け、この処理室に搬送室に設けられた搬送体により順次基板(ガラス基板)を送り込み、この基板上に下部金属電極,有機EL薄膜,上部透明電極を順次成膜するものである。   Specifically, as shown in FIG. 2, a plurality of types of processing chambers are provided around the transfer chamber, and substrates (glass substrates) are sequentially fed into the processing chamber by a transfer body provided in the transfer chamber. A lower metal electrode, an organic EL thin film, and an upper transparent electrode are sequentially formed thereon.

更に具体的に説明すると、本実施例は、搬送室の周囲に、仕込み(取り出し)室,前処理室,三つの成膜室,マスクストック室を設け、このマスクストック室に前記クリーニング機構を設けたものである。尚、クリーニング機構をマスクストック室に設けた構成でなく、このクリーニング機構を一の処理室に独立して設けた(即ち、このマスク1のクリーニングのみを行うマスククリーニング室を設けた)構成としても良い。   More specifically, in this embodiment, a preparation (removal) chamber, a pretreatment chamber, three film formation chambers, and a mask stock chamber are provided around the transfer chamber, and the cleaning mechanism is provided in this mask stock chamber. It is a thing. In addition, the cleaning mechanism is not provided in the mask stock chamber, but the cleaning mechanism may be provided independently in one processing chamber (that is, a mask cleaning chamber that performs only cleaning of the mask 1 is provided). good.

即ち、本実施例は、成膜室からマスク1を搬出してマスクストック室のマスク1と交換すると共に、従来のマスクストック室を有する有機EL素子製造装置においてマスクの交換を行うのと同様に、この交換した汚れたマスク1をマスクストック室に搬入してクリーニングすることができる構成である。   That is, in this embodiment, the mask 1 is unloaded from the film formation chamber and replaced with the mask 1 in the mask stock chamber, and the mask is replaced in the organic EL element manufacturing apparatus having the conventional mask stock chamber. The replaced dirty mask 1 can be carried into the mask stock chamber and cleaned.

従って、マスク1を交換するマスクストック室と、前記クリーニング機構とを一体とすることで、このマスク1の搬送を一層容易とし、極めて効率良くマスク1の交換及びクリーニングができる構成であるのは勿論、新たに前記マスククリーニング室を設ける必要がないため、スペースを有効に活用できる。尚、基板のサイズ等によりマスクストック室にマスククリーニング機構が収まらない場合には、このマスクストック室とは別にマスククリーニング室を設けた構成としても良い。   Accordingly, it is a matter of course that the mask stock chamber for exchanging the mask 1 and the cleaning mechanism are integrated so that the mask 1 can be transported more easily and the mask 1 can be replaced and cleaned very efficiently. Since it is not necessary to newly provide the mask cleaning chamber, the space can be used effectively. If the mask cleaning mechanism cannot be accommodated in the mask stock chamber due to the size of the substrate or the like, a configuration in which a mask cleaning chamber is provided separately from the mask stock chamber may be employed.

更に、成膜時に必要なマスク1は通常1枚であり、例えば、このマスクストック室に、マスク1を各成膜室に対して1枚ずつストックしておくことで、このマスクストック室のマスク1と成膜室のマスク1とを交互にクリーニングしながらこのマスク1が破損等しない限り、外部のマスクと交換する必要なく長期間使用することが可能となり、このマスク1を交換する際(クリーニングする際)に装置を停止したり、処理室を真空状態から大気圧に戻す必要なく、このマスク1を容易且つコスト安にクリーニングして長期間用いることができ、経済性及び作業性に秀れた構成となる。   Furthermore, one mask 1 is normally required for film formation. For example, by storing one mask 1 for each film formation chamber in this mask stock chamber, the mask in this mask stock chamber is stored. 1 and the mask 1 in the film forming chamber can be used for a long period of time without having to be replaced with an external mask as long as the mask 1 is not damaged while being alternately cleaned. This mask 1 can be easily and cost-effectively cleaned and used for a long period of time without having to stop the apparatus or return the processing chamber from the vacuum state to atmospheric pressure. It becomes the composition.

また、前記ノズル体4若しくはマスク1を、前記保持部2に保持されたマスク1若しくはノズル体4と略平行な方向に可動し得る駆動部を前記クリーニング機構に設けた構成としても良い。   Further, the cleaning mechanism may be provided with a driving unit that can move the nozzle body 4 or the mask 1 in a direction substantially parallel to the mask 1 or the nozzle body 4 held by the holding unit 2.

具体的には、本実施例においては、ノズル体4をマスク1と平行な方向に可動自在に設定している。従って、このノズル体4により、前記マスク1の全面に満遍なくドライアイス3を吹き付けてより一層確実に前記マスク1の汚れを除去できる。   Specifically, in this embodiment, the nozzle body 4 is set to be movable in a direction parallel to the mask 1. Accordingly, the nozzle body 4 can spray the dry ice 3 evenly over the entire surface of the mask 1 to remove the contamination of the mask 1 more reliably.

尚、ノズル体4を、ドライアイス3の噴射方向を自在に設定し得る自在ノズルとしても良く、この場合も、同様にマスク1全面に満遍なくドライアイス3を吹き付けることができ、良好にクリーニングを行うことができる。また、本実施例は、ノズル体4を前記マスク1と対向状態に設け、このノズル体4を可動自在に設定した構成であるが、このマスク1及びノズル体4を夫々可動自在に設定しても良く、この場合には、より一層効率的にこのマスク1のクリーニングを行うことができる。   The nozzle body 4 may be a flexible nozzle that can freely set the spraying direction of the dry ice 3. In this case, the dry ice 3 can be sprayed uniformly over the entire surface of the mask 1, and the cleaning can be performed satisfactorily. be able to. In this embodiment, the nozzle body 4 is provided in a state of being opposed to the mask 1, and the nozzle body 4 is set to be movable. However, the mask 1 and the nozzle body 4 are set to be movable. In this case, the mask 1 can be cleaned more efficiently.

本実施例は、図3に図示したように、ノズル体4をマスク1と対向状態に一つ設けた構成であるが、前記クリーニング機構にノズル体4を一つ若しくは複数ずつ対向状態に設け、この対向状態に設けた一つ若しくは複数ずつのノズル体4間に、保持部2に保持された前記マスク1が配設されるように前記クリーニング機構を構成しても良く、例えば二つのノズル体4を対向状態に設けた場合、一つのノズル体4でマスク1の表裏面にドライアイス3を吹き付ける構成に比して二分の一の時間でこのマスクの汚れを除去することができ作業効率が向上する。   In this embodiment, as shown in FIG. 3, one nozzle body 4 is provided to face the mask 1, but one or more nozzle bodies 4 are provided to face the cleaning mechanism. The cleaning mechanism may be configured such that the mask 1 held by the holding portion 2 is disposed between one or a plurality of nozzle bodies 4 provided in the opposed state, for example, two nozzle bodies. 4 is provided in an opposing state, dirt on the mask can be removed in a half time as compared with a configuration in which the dry ice 3 is sprayed on the front and back surfaces of the mask 1 with one nozzle body 4. improves.

各部を具体的に説明する。マスク1は、所望のパターンが形成された金属製の薄い板状部材であり、マスク台11に固定されている。このマスク1は、交換の際、マスク搬送機構(図2の搬送室の搬送機構)により、このマスク搬送機構にマスク台11が載置された状態で成膜室からクリーニング機構が設けられたマスクストック室内に搬送され、搬送部7に受け渡すように構成している。   Each part will be specifically described. The mask 1 is a thin metal plate-like member on which a desired pattern is formed, and is fixed to the mask base 11. When the mask 1 is replaced, the mask is provided with a cleaning mechanism provided from the film forming chamber by a mask transport mechanism (transport mechanism of the transport chamber in FIG. 2) in a state where the mask table 11 is placed on the mask transport mechanism. It is transported into the stock chamber and delivered to the transport unit 7.

クリーニング機構は、図3に図示したようにマスク1を保持する保持部2と、この保持部2と対向状態に設けられるノズル体4とから成り、このノズル体4からドライアイス3を噴射してマスク1に吹き付けることでこのマスク1上に付着した汚れを除去するものである。本実施例は、チャンバー8の上部に保持部2を設け、下部にノズル体4を設けた構成を採用している。尚、チャンバー8の上部にノズル体4を設け、下部に保持部2を設けた構成等、他の構成を採用しても良い。   As shown in FIG. 3, the cleaning mechanism includes a holding unit 2 that holds the mask 1 and a nozzle body 4 that is provided in a state of facing the holding unit 2, and sprays dry ice 3 from the nozzle body 4. By spraying on the mask 1, dirt adhered on the mask 1 is removed. The present embodiment employs a configuration in which the holding portion 2 is provided in the upper portion of the chamber 8 and the nozzle body 4 is provided in the lower portion. In addition, you may employ | adopt other structures, such as the structure which provided the nozzle body 4 in the upper part of the chamber 8, and provided the holding | maintenance part 2 in the lower part.

保持部2は、金属製のマスク1を保持する保持体5と、この保持体5をチャンバー8の上部に固定する上部固定具6とから成るものである。具体的には、保持体5に、マスク1を保持するためのマグネット9を設け、このマグネット9にマスク1が直接接触することを阻止する板体10(例えば石英板)をこのマグネット9とこのマスク1との間に設けている。   The holding unit 2 includes a holding body 5 that holds the metal mask 1 and an upper fixture 6 that fixes the holding body 5 to the upper portion of the chamber 8. Specifically, a magnet 9 for holding the mask 1 is provided on the holding body 5, and a plate body 10 (for example, a quartz plate) that prevents the mask 1 from coming into direct contact with the magnet 9 is connected to the magnet 9 and the magnet 9. It is provided between the mask 1.

即ち、前記マスク搬送機構により搬送されたマスク1は、マグネット9によって引き寄せられると共に、前記搬送部7によりこの板体10側に押し付けられるように支承されてこの保持体5の板体10表面に保持される。   That is, the mask 1 transported by the mask transport mechanism is attracted by the magnet 9 and supported so as to be pressed against the plate body 10 by the transport section 7 and held on the surface of the plate body 10 of the holding body 5. Is done.

このマグネット9としては、マスク1と略同じ大きさのものを採用すると良く、この場合には、前記ドライアイス3によるクリーニングの際のマスク1のズレやガタつきを一層確実に阻止できる。   As the magnet 9, it is preferable to employ a magnet having a size substantially the same as that of the mask 1, and in this case, displacement and backlash of the mask 1 at the time of cleaning with the dry ice 3 can be more reliably prevented.

また、本実施例においては、板体10の落下を確実に阻止するために、この板体10の端部を保持体5の開口部に形成した嵌入溝5aに嵌入し、この板体10と保持体5の内底部との間にマグネット9を設けた構成としている。尚、保持体5に単に前記マグネット9と板体10とを積層状態に設け、適宜な手段でこの保持体5に固定した構成としても良い。   Further, in the present embodiment, in order to reliably prevent the plate body 10 from dropping, the end of the plate body 10 is fitted into a fitting groove 5 a formed in the opening of the holding body 5, The magnet 9 is provided between the inner bottom portion of the holding body 5. Note that the magnet 9 and the plate body 10 may be simply provided in a stacked state on the holding body 5 and fixed to the holding body 5 by an appropriate means.

ノズル体4は、駆動部により、前記保持部2に保持されたマスク1と平行な方向に可動自在に設定している。具体的には、このノズル体4を、公知のX−Yステージ駆動機構13上に可動自在に設けられるノズル固定部12に取り付けた構成である。即ち、このノズル体4により、前記マスク1の全面に満遍なくドライアイス3を吹き付けてより一層確実に前記マスク1の汚れを除去できる構成である。尚、図中符号14はX−Yステージ駆動機構13をチャンバー8の下部に固定する下部固定具、15はこのX−Yステージ駆動機構13の駆動源(図示省略)と接続される電源ケーブル及びドライアイス供給源(図示省略)と接続されるドライアイス供給ケーブルが設けられる管体である。   The nozzle body 4 is set so as to be movable in a direction parallel to the mask 1 held by the holding unit 2 by the driving unit. Specifically, the nozzle body 4 is configured to be attached to a nozzle fixing portion 12 that is movably provided on a known XY stage driving mechanism 13. That is, the nozzle body 4 is configured to spray the dry ice 3 evenly over the entire surface of the mask 1 so as to remove the contamination of the mask 1 more reliably. In the figure, reference numeral 14 denotes a lower fixture for fixing the XY stage drive mechanism 13 to the lower part of the chamber 8, 15 denotes a power cable connected to a drive source (not shown) of the XY stage drive mechanism 13. This is a tube provided with a dry ice supply cable connected to a dry ice supply source (not shown).

また、本実施例のクリーニング機構は、前記マスク1に付着した汚れを除去する際、この汚れがチャンバー8内に残らないように確実に吸引して外部に排気し得る捕獲機構を備えた構成としている。   In addition, the cleaning mechanism of the present embodiment is configured to include a capturing mechanism that can reliably suck out and exhaust the dirt so that the dirt does not remain in the chamber 8 when removing the dirt attached to the mask 1. Yes.

この捕獲機構は、真空ポンプ22と連結される排気路21と連通状態に設けた吸引口20と、この吸引口20側への気流を作出して汚れを吸引口20に誘導するN2パージ機構19とから成るものであり、この吸引口20は、前記X−Yステージ駆動機構13の周囲を囲繞するように設けられている。尚、図中符号16はゲートバルブ,17はシャッターである。 This trapping mechanism includes a suction port 20 provided in communication with an exhaust passage 21 connected to a vacuum pump 22, and an N 2 purge mechanism that creates an air flow toward the suction port 20 and guides dirt to the suction port 20. The suction port 20 is provided so as to surround the periphery of the XY stage driving mechanism 13. In the figure, reference numeral 16 is a gate valve, and 17 is a shutter.

従って、この捕獲機構により、前記保持部2により保持されたマスク1をクリーニングした際に、このマスク1から除去された汚れを確実に吸引して排気することができ、チャンバー8内がマスク1から除去された汚れによって汚染されることを確実に阻止できる。   Therefore, when the mask 1 held by the holding unit 2 is cleaned by this capturing mechanism, the dirt removed from the mask 1 can be surely sucked and exhausted, and the inside of the chamber 8 is removed from the mask 1. It is possible to reliably prevent contamination by the removed dirt.

また、本実施例のクリーニング機構には、O3パージ機構18を設けている。即ち、このO3パージ機構18からチャンバー8内にO3をパージすることで、有機物を灰化せしめる作用を有するO3により、このチャンバー8内の有機物汚れを確実に除去できる構成である。 The cleaning mechanism of this embodiment is provided with an O 3 purge mechanism 18. That is, the O 3 purge mechanism 18 by purging O 3 into the chamber 8, the O 3 having an effect allowed to ashing organic material is a configuration capable of reliably removing organic stains in the chamber 8.

本有機EL素子製造装置の使用方法を以下に説明する。   The usage method of this organic EL element manufacturing apparatus is demonstrated below.

仕込み室を通じて搬送室に基板(ガラス基板)を搬入する。この基板を各処理室に順次搬入し、各処理室毎に処理を行う。   A substrate (glass substrate) is carried into the transfer chamber through the preparation chamber. This substrate is sequentially carried into each processing chamber, and processing is performed for each processing chamber.

具体的には、前処理室において基板をクリーニング(酸素プラズマによるクリーニング)し、三つの成膜室に基板を順次搬入しながら下部金属電極,有機EL薄膜,上部透明電極を順次成膜する。   Specifically, the substrate is cleaned (cleaning with oxygen plasma) in the pretreatment chamber, and the lower metal electrode, the organic EL thin film, and the upper transparent electrode are sequentially formed while the substrate is sequentially carried into the three film formation chambers.

成膜室には、前記有機EL材料を所定のパターンで成膜するためのマスク1が設けられており、このマスク1を基板に積層させた状態で成膜を行う。   In the film formation chamber, a mask 1 for forming the organic EL material in a predetermined pattern is provided, and film formation is performed in a state where the mask 1 is laminated on the substrate.

このマスク1を数十〜数百回用いることで有機物汚れが堆積した場合、マスク1を成膜室から搬出して、前記マスクストック室に搬入する。   When organic dirt is deposited by using this mask 1 several tens to several hundreds of times, the mask 1 is unloaded from the film forming chamber and loaded into the mask stock chamber.

この際、マスクストック室にストックされている汚れていないマスク1を搬出して成膜室に搬入すると共に、マスクストック室に搬入した汚れたマスク1を、前記マスククリーニング機構によりクリーニングする。   At this time, the uncontaminated mask 1 stocked in the mask stock chamber is carried out and carried into the film forming chamber, and the dirty mask 1 carried into the mask stock chamber is cleaned by the mask cleaning mechanism.

具体的には、前記N2パージ機構19からN2をパージしながら前記ノズル体4から噴射されるドライアイス3をマスク1表面に吹き付けてこのマスク1表面に付着・堆積する汚れ(有機物汚れ)を除去することでこのマスク1のクリーニングを行う。クリーニングされたマスク1はそのままマスクストック室にストックされる。 Specifically, while the N 2 purge mechanism 19 purges N 2 , the dry ice 3 sprayed from the nozzle body 4 is sprayed onto the surface of the mask 1 to adhere and deposit on the surface of the mask 1 (organic matter contamination). This mask 1 is cleaned by removing. The cleaned mask 1 is stocked in the mask stock chamber as it is.

従って、マスクを交換する度に生産を中断する必要がないのは勿論、マスクストック室にストックされたマスク1が破損等しない限り外部に取り出す必要なく、即ち、このマスクストック室及びマスクを大気にさらす必要なく、このマスク1を交互にクリーニングして用いることができ、このマスク1が破損等しない限り、長期間交換する必要なく用いることができる。   Therefore, it is not necessary to interrupt the production every time the mask is replaced, and it is not necessary to take out the mask 1 stocked in the mask stock chamber as long as the mask 1 is not damaged. The mask 1 can be used by cleaning it alternately without being exposed, and can be used without having to be replaced for a long time as long as the mask 1 is not damaged.

本実施例は上述のように構成したから、成膜時に有機EL材料が付着・堆積したマスク1を、成膜室から搬送室を通じてクリーニング機構が設けられた処理室に搬送し、このクリーニング機構によりクリーニングを行う際、いずれかの処理室に備えたクリーニング機構によってマスク1をクリーニングすることができるから、従来のように成膜室やマスクストック室等の処理室を大気圧に戻す必要なく、成膜室から前記処理室にマスクを搬送するだけでクリーニングを行うことができ、この成膜室やマスクストック室等の処理室及びマスク1を大気にさらすことがないから、この処理室及びマスクが大気中の油脂・水分等によって汚染されることを確実に阻止できる。   Since the present embodiment is configured as described above, the mask 1 to which the organic EL material has adhered and deposited during film formation is transferred from the film formation chamber to the processing chamber provided with the cleaning mechanism through the transfer chamber. When cleaning is performed, the mask 1 can be cleaned by a cleaning mechanism provided in any of the processing chambers, so that it is not necessary to return the processing chambers such as the film forming chamber and the mask stock chamber to atmospheric pressure as in the conventional case. Cleaning can be performed simply by transporting the mask from the film chamber to the processing chamber, and the processing chamber such as the film forming chamber and the mask stock chamber and the mask 1 are not exposed to the atmosphere. It can be surely prevented from being contaminated by oils and moisture in the atmosphere.

従って、処理室内部が大気にさらされず、常に好適な真空状態に設定することができ、真空度や付着する汚れ等により敏感に特性が変化する有機EL素子を、一定の品質で歩留まり良く製造できることになる。   Therefore, the inside of the processing chamber is not exposed to the atmosphere and can always be set to a suitable vacuum state, and an organic EL element whose characteristics change sensitively depending on the degree of vacuum or adhering dirt can be manufactured with a certain quality and high yield. become.

具体的には、ノズル体4からドライアイス3をマスク1に噴射することでこのマスク1のクリーニングを行うクリーニング機構により、マスク1の表面にドライアイス3を吹き付けることで、このドライアイス3がマスク1に堆積した汚れに衝突し、マスク1の表面に接触して前記汚れとこのマスク1表面との界面において気化する際の体積膨張により、このマスク1の表面に堆積した汚れを除去することができ、このマスク1に付着した汚れを真空雰囲気中で人手によらず容易且つ確実に除去することができる。   Specifically, the dry ice 3 is sprayed onto the mask 1 by spraying the dry ice 3 onto the surface of the mask 1 by a cleaning mechanism that cleans the mask 1 by spraying the dry ice 3 from the nozzle body 4 onto the mask 1. The dirt accumulated on the surface of the mask 1 can be removed by volume expansion when it collides with the dirt accumulated on the surface 1 and contacts the surface of the mask 1 and vaporizes at the interface between the dirt and the surface of the mask 1. The dirt attached to the mask 1 can be easily and reliably removed in a vacuum atmosphere without human intervention.

また、ウエットクリーニングと異なり、液体を経過せずに固体から昇華するドライアイス3によりクリーニングを行うから、処理室内を水分で汚すことなくマスク1をクリーニングすることができる。しかも、ウエットクリーニングのように人手により行う必要がなく、短時間で効率良くクリーニングを行うことができる。   Further, unlike the wet cleaning, the cleaning is performed by the dry ice 3 that sublimates from the solid without passing through the liquid, so that the mask 1 can be cleaned without contaminating the processing chamber with moisture. In addition, there is no need for manual cleaning as in wet cleaning, and cleaning can be performed efficiently in a short time.

更に、ドライアイス3は、マスク1に接触した瞬間に気化するため、他のブラストクリーニングに用いられるショット材と異なり、被クリーニング部材の表面を削り取る作用を発揮しないから、このドライアイス3を吹き付けて汚れを除去しても、マスク1に破損等が生じることがない。   Further, since the dry ice 3 is vaporized at the moment of contact with the mask 1, unlike the shot material used for other blast cleaning, the dry ice 3 does not exhibit the action of scraping the surface of the member to be cleaned. Even if the dirt is removed, the mask 1 is not damaged.

即ち、マスク1としては通常厚さ数十μm程度の極めて薄く変形・破損しやすいものが用いられるが、上述のように、ドライアイス3はマスク1表面に付着した瞬間に気化するから、このマスク1を変形・破損させる心配なく確実にクリーニングすることが可能となる。   That is, as the mask 1, an extremely thin mask having a thickness of about several tens of μm is easily used. However, as described above, the dry ice 3 is vaporized at the moment when it adheres to the surface of the mask 1. It is possible to reliably clean without worrying about deformation or breakage of 1.

また、ノズル体4をマスク1と平行な方向に可動自在に設定することで、このノズル体4により、前記マスク1の全面に満遍なくドライアイス3を吹き付けてより一層確実に前記マスク1の汚れを除去できる。   Further, by setting the nozzle body 4 so as to be movable in a direction parallel to the mask 1, the nozzle body 4 sprays the dry ice 3 evenly over the entire surface of the mask 1 to more reliably remove the contamination of the mask 1. Can be removed.

更に、汚れたマスク1を成膜室から搬出して新しいマスク1に交換して直ぐに装置を使用できると共に、この汚れたマスク1をクリーニングすることができるため、マスクストック室に予備のマスク1を各成膜室に対して1枚ずつ設けておくだけでこのマスク1が破損等しない限り外部に取り出す必要なく、即ち、このマスクストック室を大気にさらす必要なく、このマスク1を交互にクリーニングして用いることができ、このマスク1が破損等しない限り、長期間交換する必要なく用いることができ、極めて作業性に秀れたものとなる。   Further, the apparatus can be used immediately after the dirty mask 1 is carried out of the film forming chamber and replaced with a new mask 1, and the dirty mask 1 can be cleaned. Therefore, a spare mask 1 is placed in the mask stock chamber. It is not necessary to take out the mask 1 as long as the mask 1 is damaged or the like only by providing one for each film forming chamber, that is, it is not necessary to expose the mask stock chamber to the atmosphere. As long as the mask 1 is not damaged, it can be used without replacement for a long period of time, and the workability is extremely excellent.

従って、マスクストック室を大気に戻して排気を行う回数を極めて少なくでき、作業効率が低下することなく、極めて生産性良く有機EL素子を製造できることになる。   Therefore, the number of times of exhausting the mask stock chamber to the atmosphere can be extremely reduced, and the organic EL element can be manufactured with extremely high productivity without lowering the working efficiency.

よって、本実施例は、マスクの汚れを人手によらず且つ処理室を大気にさらすことなく良好に除去することができる極めて実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。   Therefore, the present embodiment is an organic EL element manufacturing apparatus that is excellent in practicality, and can remove the contamination of the mask satisfactorily without manually and exposing the processing chamber to the atmosphere.

従来例の概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of a prior art example. 本実施例の概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of a present Example. 本実施例のクリーニング機構の概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of the cleaning mechanism of a present Example.

符号の説明Explanation of symbols

1 マスク
2 保持部
3 ドライアイス
4 ノズル体
1 Mask 2 Holding Unit 3 Dry Ice 4 Nozzle Body

Claims (5)

仕込み室,取り出し室,前処理室,成膜室,マスクストック室,マスククリーニング室等の一つ若しくは複数種の処理室と、この処理室に基板を搬送する搬送室とから成り、基板上に有機EL材料を順次成膜して有機EL素子を製造する有機EL素子製造装置であって、有機EL材料成膜時にこの基板上に設けられるマスクをクリーニングするクリーニング機構を前記いずれかの処理室に設け、このクリーニング機構は、マスクを保持する保持部と、この保持部に保持されたマスクと対向状態に設けられ、この保持部に保持されたマスクに粒状のドライアイスを噴射するノズル体とから成ることを特徴とする有機EL素子製造装置。   One or more types of processing chambers such as a preparation chamber, a take-out chamber, a pretreatment chamber, a film formation chamber, a mask stock chamber, a mask cleaning chamber, and the like, and a transfer chamber for transporting the substrate to this processing chamber An organic EL element manufacturing apparatus for sequentially manufacturing organic EL materials to manufacture organic EL elements, wherein any one of the processing chambers has a cleaning mechanism for cleaning a mask provided on the substrate when the organic EL material is formed The cleaning mechanism includes: a holding unit that holds a mask; and a nozzle body that is provided in a state of being opposed to the mask held by the holding unit and that sprays granular dry ice onto the mask held by the holding unit. An organic EL element manufacturing apparatus comprising: 前記ノズル体若しくはマスクを、前記保持部に保持されたマスク若しくはノズル体と略平行な方向に可動し得る駆動部を前記クリーニング機構に設けたことを特徴とする請求項1記載の有機EL素子製造装置。   2. The organic EL element manufacturing according to claim 1, wherein the cleaning mechanism is provided with a drive unit capable of moving the nozzle body or mask in a direction substantially parallel to the mask or nozzle body held by the holding unit. apparatus. 前記クリーニング機構にノズル体を一つ若しくは複数ずつ対向状態に設け、この対向状態に設けた一つ若しくは複数ずつのノズル体間に、前記保持部に保持された前記マスクが配設されるように前記クリーニング機構を構成したことを特徴とする請求項1,2のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置。   One or a plurality of nozzle bodies are provided in the cleaning mechanism so as to face each other, and the mask held by the holding portion is disposed between one or a plurality of nozzle bodies provided in the facing state. The organic EL element manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the cleaning mechanism is configured. 前記クリーニング機構を、マスクをクリーニングするためのマスククリーニング室に設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置。   The organic EL element manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the cleaning mechanism is provided in a mask cleaning chamber for cleaning the mask. 前記クリーニング機構を、交換用のマスクをストックしておくマスクストック室に設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置。   The organic EL element manufacturing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the cleaning mechanism is provided in a mask stock chamber in which a replacement mask is stocked.
JP2003362186A 2003-10-22 2003-10-22 Organic EL device manufacturing equipment Expired - Fee Related JP4166664B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003362186A JP4166664B2 (en) 2003-10-22 2003-10-22 Organic EL device manufacturing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003362186A JP4166664B2 (en) 2003-10-22 2003-10-22 Organic EL device manufacturing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005129299A true JP2005129299A (en) 2005-05-19
JP4166664B2 JP4166664B2 (en) 2008-10-15

Family

ID=34641918

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003362186A Expired - Fee Related JP4166664B2 (en) 2003-10-22 2003-10-22 Organic EL device manufacturing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4166664B2 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7518681B2 (en) 2005-07-14 2009-04-14 Seiko Epson Corporation Manufacturing apparatus for oriented film, liquid crystal device and electronic device
JP2011074423A (en) * 2009-09-29 2011-04-14 Hitachi High-Technologies Corp Apparatus and method for manufacturing organic el device, and film deposition apparatus and film deposition method
US7973345B2 (en) 2007-05-31 2011-07-05 Applied Materials, Inc. Method of cleaning a patterning device, method of depositing a layer system on a substrate, system for cleaning a patterning device, and coating system for depositing a layer system on a substrate
WO2012127981A1 (en) * 2011-03-18 2012-09-27 キヤノントッキ株式会社 Vapor-deposition device and vapor-deposition method
KR101361481B1 (en) * 2007-06-27 2014-02-13 에스엔유 프리시젼 주식회사 Deposition system for optimization of mandufacturing oled panel
CN104492761A (en) * 2014-12-24 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 Mask cleaning device and cleaning method thereof
US20150224627A1 (en) * 2012-11-15 2015-08-13 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Adhered substances removing device, and vapor deposition system and removal method using such adhered substances removing device

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101367218B1 (en) * 2013-01-07 2014-02-26 (주)지엔티 Cleaning apparatus and method for evaporation mask of organic light emitting diodes

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7518681B2 (en) 2005-07-14 2009-04-14 Seiko Epson Corporation Manufacturing apparatus for oriented film, liquid crystal device and electronic device
US7973345B2 (en) 2007-05-31 2011-07-05 Applied Materials, Inc. Method of cleaning a patterning device, method of depositing a layer system on a substrate, system for cleaning a patterning device, and coating system for depositing a layer system on a substrate
KR101361481B1 (en) * 2007-06-27 2014-02-13 에스엔유 프리시젼 주식회사 Deposition system for optimization of mandufacturing oled panel
JP2011074423A (en) * 2009-09-29 2011-04-14 Hitachi High-Technologies Corp Apparatus and method for manufacturing organic el device, and film deposition apparatus and film deposition method
WO2012127981A1 (en) * 2011-03-18 2012-09-27 キヤノントッキ株式会社 Vapor-deposition device and vapor-deposition method
JP2012197468A (en) * 2011-03-18 2012-10-18 Canon Tokki Corp Vapor deposition device and vapor deposition method
US20150224627A1 (en) * 2012-11-15 2015-08-13 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Adhered substances removing device, and vapor deposition system and removal method using such adhered substances removing device
CN104492761A (en) * 2014-12-24 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 Mask cleaning device and cleaning method thereof
US9636718B2 (en) 2014-12-24 2017-05-02 Boe Technology Group Co., Ltd. Mask cleaning apparatus and mask cleaning method

Also Published As

Publication number Publication date
JP4166664B2 (en) 2008-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI433216B (en) A substrate processing apparatus and a substrate processing method
US9177782B2 (en) Methods and apparatus for cleaning a substrate
US9721910B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device, semiconductor manufacturing apparatus, and wafer lift pin-hole cleaning jig
JP4166664B2 (en) Organic EL device manufacturing equipment
JP2008115441A (en) Film deposition mask exchange method and film deposition mask exchange system
JP5248455B2 (en) Mask cleaning device
CN107533998B (en) Substrate processing apparatus and method of cleaning chamber
JP2009185362A (en) Deposition apparatus and cleaning method of mask
JP2012130834A (en) Coating treatment apparatus and coating treatment method
JP5252864B2 (en) Organic EL display panel manufacturing equipment
JP2741156B2 (en) Cleaning method for multi-chamber processing equipment
KR101958500B1 (en) Vapor-deposition device and vapor-deposition method
JP3066691B2 (en) Multi-chamber processing apparatus and cleaning method thereof
JP2012197468A5 (en)
JP4139205B2 (en) Cleaning method for organic EL element manufacturing apparatus and organic EL element manufacturing method
JP7012155B2 (en) Vacuum processing equipment, dummy board equipment
KR100851125B1 (en) Process for fabricating organic el element and method for cleaning system for fabricating organic el element
JP2014019918A (en) Cleaning method of film deposition apparatus
JP5094134B2 (en) Deposition apparatus cleaning apparatus and cleaning method using the same
JPWO2005117498A1 (en) Organic EL element manufacturing method and organic EL element manufacturing apparatus cleaning method
JP4139204B2 (en) Organic EL element manufacturing method and organic EL element manufacturing apparatus cleaning method
KR20070080898A (en) Cleaning apparatus for semiconductor equipment
KR20020091349A (en) Apparatus for semiconductor processing having chamber
JP6677485B2 (en) Vacuum processing equipment
US20090317562A1 (en) Processing system and method for processing a substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070403

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070412

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070608

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070927

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071126

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080703

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080730

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110808

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110808

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120808

Year of fee payment: 4

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120808

Year of fee payment: 4

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130808

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees