JP2005129299A - Organic el element manufacturing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、有機EL素子製造装置に関するものである。 The present invention relates to an organic EL element manufacturing apparatus.
従来、ガラス基板上に下部金属電極,有機EL薄膜,上部透明電極を順次積層することで有機EL素子を製造する(例えば特願2003−137674号公報(特許文献1)に開示されているような)有機EL素子製造装置においては、所定のパターンが形成されたマスクを基板に積層させてこのマスクを介して有機EL材料を蒸着することで所望のパターンの有機EL薄膜を基板上に成膜している。 Conventionally, an organic EL element is manufactured by sequentially laminating a lower metal electrode, an organic EL thin film, and an upper transparent electrode on a glass substrate (for example, as disclosed in Japanese Patent Application No. 2003-137664 (Patent Document 1)). ) In an organic EL element manufacturing apparatus, a mask having a predetermined pattern is stacked on a substrate, and an organic EL material is deposited through the mask to form an organic EL thin film having a desired pattern on the substrate. ing.
ところで、当然ながらこのマスクには蒸着の度に前記有機EL材料が徐々に付着・堆積し、数十〜数百回用いると、開口サイズの縮小や開口形状の変形等を生じ、有機EL薄膜を所望のパターンに成膜できなくなってしまうため、このマスクの交換が必要となる。 Of course, the organic EL material gradually adheres to and accumulates on this mask every time it is vapor-deposited, and when used several tens to several hundreds of times, the size of the opening is reduced and the shape of the opening is deformed. Since it becomes impossible to form a film in a desired pattern, this mask needs to be replaced.
具体的には、交換用のマスクをストックしておくマスクストック室のない有機EL素子製造装置の場合には、以下の手順で交換を行っている。 Specifically, in the case of an organic EL element manufacturing apparatus that does not have a mask stock chamber for stocking a replacement mask, replacement is performed according to the following procedure.
1.成膜室(蒸着室)を真空から大気圧に戻す。 1. The film formation chamber (deposition chamber) is returned from vacuum to atmospheric pressure.
2.成膜室からマスクを搬出する。 2. Unload the mask from the deposition chamber.
3.アセトン・アルコール等の溶剤でマスクに付着した有機EL材料を除去し、更に純水で洗浄することでクリーニングを行う(所謂ウエットクリーニング)。 3. Cleaning is performed by removing the organic EL material adhering to the mask with a solvent such as acetone or alcohol, and further washing with pure water (so-called wet cleaning).
4.クリーニングしたマスク(若しくは予めクリーニングしておいたマスク)を成膜室に搬入する。 4). The cleaned mask (or a previously cleaned mask) is carried into the film formation chamber.
5.成膜室を真空にする。 5). The film formation chamber is evacuated.
この場合、マスクを搬出してから新しいマスクをセットするまでは、装置を使用することができず、また、交換の度に成膜室の排気を行う必要があるため極めて作業効率が悪い。しかも、この成膜室及びマスクを大気にさらすことになり、この大気中の水分や油脂により成膜室及びマスクが汚染されやすいという問題がある。 In this case, the apparatus cannot be used until the new mask is set after the mask is carried out, and the film formation chamber needs to be evacuated every time the mask is replaced. In addition, the film forming chamber and the mask are exposed to the atmosphere, and there is a problem that the film forming chamber and the mask are easily contaminated by moisture and oil in the air.
一方、図1に図示したような交換用のマスクをストックしておくマスクストック室を有する有機EL素子製造装置の場合には、以下の手順で交換を行っている。 On the other hand, in the case of an organic EL element manufacturing apparatus having a mask stock chamber for stocking a replacement mask as shown in FIG. 1, replacement is performed according to the following procedure.
1.成膜室からマスクストック室にマスクを搬送する。 1. The mask is transferred from the film formation chamber to the mask stock chamber.
2.マスクストック室から新しいマスクを成膜室に搬送する。 2. A new mask is transferred from the mask stock chamber to the deposition chamber.
この場合、成膜室の汚れたマスクをマスクストック室の汚れていないマスクと交換するだけで、成膜室を真空状態から大気圧に戻す必要なく(即ち、排気を行う必要なく)、直ぐに装置を使用することが可能であるが、マスクストック室には有機EL材料の付着した汚れたマスクがたまる。従って、この汚れたマスクがある程度たまった場合には、以下の手順でクリーニングを行っている。 In this case, it is not necessary to return the film forming chamber from the vacuum state to the atmospheric pressure (ie, it is not necessary to evacuate) just by replacing the dirty mask in the film forming chamber with an unclean mask in the mask stock chamber. In the mask stock chamber, a dirty mask with an organic EL material is accumulated. Therefore, when this dirty mask accumulates to some extent, cleaning is performed according to the following procedure.
1.マスクストック室を真空から大気圧に戻す。 1. Return the mask stock chamber from vacuum to atmospheric pressure.
2.マスクストック室からマスクを搬出する。 2. Remove the mask from the mask stock room.
3.アセトン・アルコール等の溶剤でマスクに付着した有機EL材料を除去し、更に純水で洗浄することでクリーニングを行う。 3. Cleaning is performed by removing the organic EL material adhering to the mask with a solvent such as acetone or alcohol, and further washing with pure water.
4.クリーニングしたマスク(若しくは予めクリーニングしておいたマスク)をマスクストック室に搬入する。 4). The cleaned mask (or a previously cleaned mask) is carried into the mask stock chamber.
即ち、マスクストック室を有する場合であっても、クリーニングの度にマスクストック室を大気にさらす必要がある。 In other words, even when a mask stock chamber is provided, it is necessary to expose the mask stock chamber to the atmosphere each time cleaning is performed.
従って、従来は、マスクの交換・クリーニングのために成膜室若しくはマスクストック室を大気圧に戻す必要があり、この成膜室やマスクストック室若しくはマスクが大気にさらされることで成膜室等が汚染されやすく、到達真空度や排気効率の低下、有機EL素子への汚れの付着等の問題があったのが現状である。 Therefore, conventionally, it is necessary to return the film formation chamber or the mask stock chamber to the atmospheric pressure in order to replace or clean the mask, and the film formation chamber, the mask stock chamber, or the mask is exposed to the air to form the film formation chamber or the like. At present, there are problems such as the degree of vacuum and exhaust efficiency being lowered, and the adhesion of dirt to the organic EL element.
また、ウエットクリーニングは人手により行うことから、一回の作業に必要な工程が多く、作業に時間がかかるという問題や、チャンバー大気解放時の汚染の問題がある。 In addition, since wet cleaning is performed manually, there are many steps required for one operation, and there is a problem that the operation takes time and a problem of contamination when the chamber is released into the atmosphere.
更に、有機EL素子は、わずかな汚れや真空度の変化により特性が大きく変化してしまうため、有機EL素子製造装置においては、大気の影響をできるだけ排除したいという要求が常に存在する。 Furthermore, since the characteristics of the organic EL element greatly change due to slight dirt or a change in the degree of vacuum, there is always a demand for eliminating the influence of the atmosphere as much as possible in the organic EL element manufacturing apparatus.
本発明は、上述のような現状に鑑み、マスクの交換及びクリーニングの度に成膜室やマスクストック室等の処理室若しくはマスクを大気にさらす必要があるため、大気によりこの処理室やマスクが汚染されやすいという知見に基づき成されたもので、マスクの汚れを人手によらず且つ処理室やマスクを大気にさらすことなく短時間で良好に除去することができる極めて実用性に秀れた有機EL素子製造装置を提供することを課題としている。 In the present invention, in view of the current situation as described above, it is necessary to expose a processing chamber or mask such as a film formation chamber or a mask stock chamber to the atmosphere every time the mask is replaced and cleaned. It is based on the knowledge that it is easily polluted, and it is an extremely practical organic material that can remove the dirt on the mask well in a short time without the need for human hands and exposing the processing chamber or mask to the atmosphere. It is an object to provide an EL element manufacturing apparatus.
添付図面を参照して本発明の要旨を説明する。 The gist of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
仕込み室,取り出し室,前処理室,成膜室,マスクストック室,マスククリーニング室等の一つ若しくは複数種の処理室と、この処理室に基板を搬送する搬送室とから成り、基板上に有機EL材料を順次成膜して有機EL素子を製造する有機EL素子製造装置であって、有機EL材料成膜時にこの基板上に設けられるマスク1をクリーニングするクリーニング機構を前記いずれかの処理室に設け、このクリーニング機構は、マスク1を保持する保持部2と、この保持部2に保持されたマスク1と対向状態に設けられ、この保持部2に保持されたマスク1に粒状のドライアイス3を噴射するノズル体4とから成ることを特徴とする有機EL素子製造装置に係るものである。
One or more types of processing chambers such as a preparation chamber, a take-out chamber, a pretreatment chamber, a film formation chamber, a mask stock chamber, a mask cleaning chamber, and the like, and a transfer chamber for transporting the substrate to this processing chamber An organic EL element manufacturing apparatus for manufacturing an organic EL element by sequentially forming an organic EL material, wherein a cleaning mechanism for cleaning the mask 1 provided on the substrate at the time of forming the organic EL material The cleaning mechanism is provided with a holding unit 2 for holding the mask 1 and a mask 1 held in the holding unit 2 so as to face the mask 1 held in the holding unit 2. And a
また、前記ノズル体4若しくはマスク1を、前記保持部2に保持されたマスク1若しくはノズル体4と略平行な方向に可動し得る駆動部を前記クリーニング機構に設けたことを特徴とする請求項1記載の有機EL素子製造装置に係るものである。
The cleaning mechanism is provided with a driving unit capable of moving the
また、前記クリーニング機構にノズル体4を一つ若しくは複数ずつ対向状態に設け、この対向状態に設けた一つ若しくは複数ずつのノズル体4間に、前記保持部2に保持された前記マスク1が配設されるように前記クリーニング機構を構成したことを特徴とする請求項1,2のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置に係るものである。
In addition, the cleaning mechanism is provided with one or a plurality of
また、前記クリーニング機構を、マスク1をクリーニングするためのマスククリーニング室に設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置に係るものである。 The organic EL element manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the cleaning mechanism is provided in a mask cleaning chamber for cleaning the mask 1.
また、前記クリーニング機構を、交換用のマスク1をストックしておくマスクストック室に設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機EL素子製造装置に係るものである。 The organic EL device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the cleaning mechanism is provided in a mask stock chamber in which a replacement mask 1 is stocked. is there.
本発明は上述のように構成したから、マスクの汚れを人手によらず且つ処理室を大気にさらすことなく短時間で良好に除去することができる極めて実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。 Since the present invention is configured as described above, the organic EL element manufacturing apparatus excellent in practicality can be well removed in a short time without manually contaminating the mask and exposing the processing chamber to the atmosphere. It becomes.
また、請求項2記載の発明においては、マスクの全面に満遍なくドライアイスを吹き付けて、より一層確実にこのマスクの汚れを除去できる一層実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。 According to the second aspect of the present invention, the organic EL element manufacturing apparatus is more practical and capable of spraying dry ice evenly over the entire surface of the mask and removing the contamination of the mask more reliably.
また、請求項3記載の発明においては、マスクの表裏面に同時にドライアイスを吹き付けて、より一層効率的にこのマスクの汚れを除去できるより一層実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。
Further, in the invention described in
また、請求項4,5記載の発明においては、本発明を一層容易に実現できるより一層実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。
Further, in the inventions according to
好適と考える本発明の実施の形態(発明をどのように実施するのが最良か)を、図面に基づいてその作用効果を示して簡単に説明する。 Embodiments of the present invention that are considered to be suitable (how to best carry out the invention) will be briefly described with reference to the drawings, showing their effects.
成膜時に有機EL材料が付着・堆積したマスク1を、成膜室から搬送室を通じてクリーニング機構が設けられた処理室に搬送し、このクリーニング機構によりこのマスク1のクリーニングを行う。 The mask 1 to which the organic EL material has adhered and deposited during film formation is transferred from the film formation chamber to the processing chamber provided with a cleaning mechanism through the transfer chamber, and the mask 1 is cleaned by this cleaning mechanism.
この際、いずれかの処理室に備えたクリーニング機構によってマスク1をクリーニングすることができるから、従来のように成膜室やマスクストック室等の処理室を大気圧に戻す必要なく、成膜室から前記処理室にマスクを搬送するだけでクリーニングを行うことができ、この成膜室やマスクストック室等の処理室及びマスク1を大気にさらすことがないから、この処理室及びマスクが大気中の油脂・水分等によって汚染されることを確実に阻止できる。 At this time, since the mask 1 can be cleaned by a cleaning mechanism provided in any of the processing chambers, it is not necessary to return the processing chambers such as the film forming chamber and the mask stock chamber to the atmospheric pressure as in the prior art. Cleaning can be performed simply by transporting the mask from the process chamber to the process chamber, and the process chamber such as the film formation chamber and the mask stock chamber and the mask 1 are not exposed to the atmosphere. Can be reliably prevented from being contaminated by oils and fats, moisture, etc.
従って、処理室内部が大気にさらされず、常に好適な真空度に設定することができ、真空度や付着する汚れ等により敏感に特性が変化する有機EL素子を、一定の品質で歩留まり良く製造できることになる。 Therefore, the inside of the processing chamber is not exposed to the atmosphere, and can always be set to a suitable vacuum degree, and an organic EL element whose characteristics change sensitively depending on the degree of vacuum or adhering dirt can be manufactured with a certain quality and a high yield. become.
具体的には、ノズル体4から(粒状の)ドライアイス3をマスク1に噴射することでこのマスク1のクリーニングを行うクリーニング機構により、マスク1の表面にドライアイス3を吹き付けることで、このドライアイス3が、マスク1に堆積した汚れに衝突し、マスク1の表面に接触して前記汚れとこのマスク1表面との界面において気化する際の体積膨張により、このマスク1の表面に堆積した汚れを除去することができ、このマスク1に付着した汚れを清浄な雰囲気中で人手によらず容易且つ確実に除去することができる。
Specifically, the
また、ウエットクリーニングと異なり、液体を経過せずに固体から昇華するドライアイス3によりクリーニングを行うから、処理室内を水分で汚すことなくマスク1をクリーニングすることができる。しかも、ウエットクリーニングのように人手により行う必要がなく、短時間で効率良くクリーニングを行うことができる。
Further, unlike the wet cleaning, the cleaning is performed by the
更に、ドライアイス3は、マスク1に接触した瞬間に気化するため、被クリーニング部材の表面を削り取る作用を発揮しないから、このドライアイス3を吹き付けて汚れを除去しても、マスク1に破損等が生じることがない。
Further, since the
即ち、マスク1としては通常厚さ数十μm程度の極めて薄く変形・破損しやすいものが用いられるが、上述のように、ドライアイス3はマスク1表面に付着した瞬間に気化するから、このマスク1を変形・破損させる心配なく確実にクリーニングすることが可能となる。
That is, as the mask 1, an extremely thin mask having a thickness of about several tens of μm is easily used. However, as described above, the
また、例えば、ノズル体4若しくはマスク1を、前記保持部2に保持されたマスク1若しくはノズル体4と略平行な方向に可動し得る駆動部を前記クリーニング機構に設けることで、このマスク1表面に満遍なくドライアイス3を吹き付けることができることになり、より一層確実にこのマスク1の汚れを除去できる。
Further, for example, a surface of the mask 1 is provided by providing the cleaning mechanism with a driving unit that can move the
また、例えば、このクリーニング機構を交換用のマスク1をストックしておくマスクストック室等に設けることで、この汚れたマスク1を成膜室から搬出して新しいマスク1に交換して直ぐに装置を使用できると共に、この汚れたマスク1をクリーニングすることができるため、マスクストック室に予備のマスク1を各成膜室に対して1枚ずつ設けておくだけでこのマスク1が破損等しない限り外部に取り出す必要なく、即ち、このマスクストック室を大気にさらす必要なく、このマスク1を交互にクリーニングして用いることができ、このマスク1が破損等しない限り、長期間交換する必要なく用いることができ、極めて作業性に秀れたものとなる。 Further, for example, by providing this cleaning mechanism in a mask stock chamber or the like in which a replacement mask 1 is stocked, the dirty mask 1 is unloaded from the film formation chamber and replaced with a new mask 1 immediately. Since the dirty mask 1 can be used and cleaned, only one spare mask 1 is provided for each film forming chamber in the mask stock chamber, so long as the mask 1 is not damaged. This mask 1 can be used by cleaning it alternately without needing to be exposed to the atmosphere, i.e., without exposing the mask stock chamber to the atmosphere. It can be done and is extremely workable.
従って、マスクストック室を大気に戻して排気を行う回数を極めて少なくでき、作業効率を低下させることなく、極めて生産性良く有機EL素子を製造できることになる。 Therefore, the number of times of exhausting the mask stock chamber to the atmosphere can be extremely reduced, and the organic EL element can be manufactured with extremely high productivity without lowering the working efficiency.
また、例えば、前記クリーニング機構にノズル体4を一つ若しくは複数ずつ対向状態に設け、この対向状態に設けた一つ若しくは複数ずつのノズル体4間に、前記マスク1が保持部2に保持された状態で配設されるように前記クリーニング機構を構成しても良く、この場合には、より一層効率良くマスク1のクリーニングを行えることになる。
Further, for example, the cleaning mechanism is provided with one or a plurality of
従って、本発明は、マスクの汚れを人手によらず且つ処理室を大気にさらすことなく良好に除去することができる極めて実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。 Therefore, the present invention provides an organic EL element manufacturing apparatus that is excellent in practicality and can remove the contamination of the mask satisfactorily without the need for manpower and without exposing the processing chamber to the atmosphere.
本発明の具体的な実施例について図面に基づいて説明する。 Specific embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
本実施例は、仕込み室,取り出し室,前処理室,成膜室,マスクストック室,マスククリーニング室等の一つ若しくは複数種の処理室と、この処理室に基板を搬送する搬送室とから成り、基板上に有機EL材料を順次成膜して有機EL素子を製造する有機EL素子製造装置であって、有機EL材料を基板上に所定のパターンに成膜するために成膜時にこの基板上に設けられるマスク1をクリーニングするクリーニング機構を前記いずれかの処理室に設け、このクリーニング機構は、マスク1を保持する保持部2と、この保持部2に保持されたマスク1と対向状態に設けられ、このマスク1にドライアイス3を噴射するノズル体4とから成るものである。
This embodiment includes one or a plurality of types of processing chambers such as a preparation chamber, a take-out chamber, a pretreatment chamber, a film formation chamber, a mask stock chamber, and a mask cleaning chamber, and a transfer chamber for transferring a substrate to the processing chamber. An organic EL element manufacturing apparatus for manufacturing an organic EL element by sequentially forming an organic EL material on a substrate, wherein the substrate is formed at the time of film formation in order to form the organic EL material in a predetermined pattern on the substrate. A cleaning mechanism for cleaning the mask 1 provided thereon is provided in any one of the processing chambers. The cleaning mechanism is in a state of being opposed to the holding unit 2 that holds the mask 1 and the mask 1 that is held by the holding unit 2. The
具体的には、図2に図示したように、搬送室の周囲に複数種の処理室を設け、この処理室に搬送室に設けられた搬送体により順次基板(ガラス基板)を送り込み、この基板上に下部金属電極,有機EL薄膜,上部透明電極を順次成膜するものである。 Specifically, as shown in FIG. 2, a plurality of types of processing chambers are provided around the transfer chamber, and substrates (glass substrates) are sequentially fed into the processing chamber by a transfer body provided in the transfer chamber. A lower metal electrode, an organic EL thin film, and an upper transparent electrode are sequentially formed thereon.
更に具体的に説明すると、本実施例は、搬送室の周囲に、仕込み(取り出し)室,前処理室,三つの成膜室,マスクストック室を設け、このマスクストック室に前記クリーニング機構を設けたものである。尚、クリーニング機構をマスクストック室に設けた構成でなく、このクリーニング機構を一の処理室に独立して設けた(即ち、このマスク1のクリーニングのみを行うマスククリーニング室を設けた)構成としても良い。 More specifically, in this embodiment, a preparation (removal) chamber, a pretreatment chamber, three film formation chambers, and a mask stock chamber are provided around the transfer chamber, and the cleaning mechanism is provided in this mask stock chamber. It is a thing. In addition, the cleaning mechanism is not provided in the mask stock chamber, but the cleaning mechanism may be provided independently in one processing chamber (that is, a mask cleaning chamber that performs only cleaning of the mask 1 is provided). good.
即ち、本実施例は、成膜室からマスク1を搬出してマスクストック室のマスク1と交換すると共に、従来のマスクストック室を有する有機EL素子製造装置においてマスクの交換を行うのと同様に、この交換した汚れたマスク1をマスクストック室に搬入してクリーニングすることができる構成である。 That is, in this embodiment, the mask 1 is unloaded from the film formation chamber and replaced with the mask 1 in the mask stock chamber, and the mask is replaced in the organic EL element manufacturing apparatus having the conventional mask stock chamber. The replaced dirty mask 1 can be carried into the mask stock chamber and cleaned.
従って、マスク1を交換するマスクストック室と、前記クリーニング機構とを一体とすることで、このマスク1の搬送を一層容易とし、極めて効率良くマスク1の交換及びクリーニングができる構成であるのは勿論、新たに前記マスククリーニング室を設ける必要がないため、スペースを有効に活用できる。尚、基板のサイズ等によりマスクストック室にマスククリーニング機構が収まらない場合には、このマスクストック室とは別にマスククリーニング室を設けた構成としても良い。 Accordingly, it is a matter of course that the mask stock chamber for exchanging the mask 1 and the cleaning mechanism are integrated so that the mask 1 can be transported more easily and the mask 1 can be replaced and cleaned very efficiently. Since it is not necessary to newly provide the mask cleaning chamber, the space can be used effectively. If the mask cleaning mechanism cannot be accommodated in the mask stock chamber due to the size of the substrate or the like, a configuration in which a mask cleaning chamber is provided separately from the mask stock chamber may be employed.
更に、成膜時に必要なマスク1は通常1枚であり、例えば、このマスクストック室に、マスク1を各成膜室に対して1枚ずつストックしておくことで、このマスクストック室のマスク1と成膜室のマスク1とを交互にクリーニングしながらこのマスク1が破損等しない限り、外部のマスクと交換する必要なく長期間使用することが可能となり、このマスク1を交換する際(クリーニングする際)に装置を停止したり、処理室を真空状態から大気圧に戻す必要なく、このマスク1を容易且つコスト安にクリーニングして長期間用いることができ、経済性及び作業性に秀れた構成となる。 Furthermore, one mask 1 is normally required for film formation. For example, by storing one mask 1 for each film formation chamber in this mask stock chamber, the mask in this mask stock chamber is stored. 1 and the mask 1 in the film forming chamber can be used for a long period of time without having to be replaced with an external mask as long as the mask 1 is not damaged while being alternately cleaned. This mask 1 can be easily and cost-effectively cleaned and used for a long period of time without having to stop the apparatus or return the processing chamber from the vacuum state to atmospheric pressure. It becomes the composition.
また、前記ノズル体4若しくはマスク1を、前記保持部2に保持されたマスク1若しくはノズル体4と略平行な方向に可動し得る駆動部を前記クリーニング機構に設けた構成としても良い。
Further, the cleaning mechanism may be provided with a driving unit that can move the
具体的には、本実施例においては、ノズル体4をマスク1と平行な方向に可動自在に設定している。従って、このノズル体4により、前記マスク1の全面に満遍なくドライアイス3を吹き付けてより一層確実に前記マスク1の汚れを除去できる。
Specifically, in this embodiment, the
尚、ノズル体4を、ドライアイス3の噴射方向を自在に設定し得る自在ノズルとしても良く、この場合も、同様にマスク1全面に満遍なくドライアイス3を吹き付けることができ、良好にクリーニングを行うことができる。また、本実施例は、ノズル体4を前記マスク1と対向状態に設け、このノズル体4を可動自在に設定した構成であるが、このマスク1及びノズル体4を夫々可動自在に設定しても良く、この場合には、より一層効率的にこのマスク1のクリーニングを行うことができる。
The
本実施例は、図3に図示したように、ノズル体4をマスク1と対向状態に一つ設けた構成であるが、前記クリーニング機構にノズル体4を一つ若しくは複数ずつ対向状態に設け、この対向状態に設けた一つ若しくは複数ずつのノズル体4間に、保持部2に保持された前記マスク1が配設されるように前記クリーニング機構を構成しても良く、例えば二つのノズル体4を対向状態に設けた場合、一つのノズル体4でマスク1の表裏面にドライアイス3を吹き付ける構成に比して二分の一の時間でこのマスクの汚れを除去することができ作業効率が向上する。
In this embodiment, as shown in FIG. 3, one
各部を具体的に説明する。マスク1は、所望のパターンが形成された金属製の薄い板状部材であり、マスク台11に固定されている。このマスク1は、交換の際、マスク搬送機構(図2の搬送室の搬送機構)により、このマスク搬送機構にマスク台11が載置された状態で成膜室からクリーニング機構が設けられたマスクストック室内に搬送され、搬送部7に受け渡すように構成している。 Each part will be specifically described. The mask 1 is a thin metal plate-like member on which a desired pattern is formed, and is fixed to the mask base 11. When the mask 1 is replaced, the mask is provided with a cleaning mechanism provided from the film forming chamber by a mask transport mechanism (transport mechanism of the transport chamber in FIG. 2) in a state where the mask table 11 is placed on the mask transport mechanism. It is transported into the stock chamber and delivered to the transport unit 7.
クリーニング機構は、図3に図示したようにマスク1を保持する保持部2と、この保持部2と対向状態に設けられるノズル体4とから成り、このノズル体4からドライアイス3を噴射してマスク1に吹き付けることでこのマスク1上に付着した汚れを除去するものである。本実施例は、チャンバー8の上部に保持部2を設け、下部にノズル体4を設けた構成を採用している。尚、チャンバー8の上部にノズル体4を設け、下部に保持部2を設けた構成等、他の構成を採用しても良い。
As shown in FIG. 3, the cleaning mechanism includes a holding unit 2 that holds the mask 1 and a
保持部2は、金属製のマスク1を保持する保持体5と、この保持体5をチャンバー8の上部に固定する上部固定具6とから成るものである。具体的には、保持体5に、マスク1を保持するためのマグネット9を設け、このマグネット9にマスク1が直接接触することを阻止する板体10(例えば石英板)をこのマグネット9とこのマスク1との間に設けている。
The holding unit 2 includes a holding
即ち、前記マスク搬送機構により搬送されたマスク1は、マグネット9によって引き寄せられると共に、前記搬送部7によりこの板体10側に押し付けられるように支承されてこの保持体5の板体10表面に保持される。
That is, the mask 1 transported by the mask transport mechanism is attracted by the
このマグネット9としては、マスク1と略同じ大きさのものを採用すると良く、この場合には、前記ドライアイス3によるクリーニングの際のマスク1のズレやガタつきを一層確実に阻止できる。
As the
また、本実施例においては、板体10の落下を確実に阻止するために、この板体10の端部を保持体5の開口部に形成した嵌入溝5aに嵌入し、この板体10と保持体5の内底部との間にマグネット9を設けた構成としている。尚、保持体5に単に前記マグネット9と板体10とを積層状態に設け、適宜な手段でこの保持体5に固定した構成としても良い。
Further, in the present embodiment, in order to reliably prevent the
ノズル体4は、駆動部により、前記保持部2に保持されたマスク1と平行な方向に可動自在に設定している。具体的には、このノズル体4を、公知のX−Yステージ駆動機構13上に可動自在に設けられるノズル固定部12に取り付けた構成である。即ち、このノズル体4により、前記マスク1の全面に満遍なくドライアイス3を吹き付けてより一層確実に前記マスク1の汚れを除去できる構成である。尚、図中符号14はX−Yステージ駆動機構13をチャンバー8の下部に固定する下部固定具、15はこのX−Yステージ駆動機構13の駆動源(図示省略)と接続される電源ケーブル及びドライアイス供給源(図示省略)と接続されるドライアイス供給ケーブルが設けられる管体である。
The
また、本実施例のクリーニング機構は、前記マスク1に付着した汚れを除去する際、この汚れがチャンバー8内に残らないように確実に吸引して外部に排気し得る捕獲機構を備えた構成としている。 In addition, the cleaning mechanism of the present embodiment is configured to include a capturing mechanism that can reliably suck out and exhaust the dirt so that the dirt does not remain in the chamber 8 when removing the dirt attached to the mask 1. Yes.
この捕獲機構は、真空ポンプ22と連結される排気路21と連通状態に設けた吸引口20と、この吸引口20側への気流を作出して汚れを吸引口20に誘導するN2パージ機構19とから成るものであり、この吸引口20は、前記X−Yステージ駆動機構13の周囲を囲繞するように設けられている。尚、図中符号16はゲートバルブ,17はシャッターである。
This trapping mechanism includes a
従って、この捕獲機構により、前記保持部2により保持されたマスク1をクリーニングした際に、このマスク1から除去された汚れを確実に吸引して排気することができ、チャンバー8内がマスク1から除去された汚れによって汚染されることを確実に阻止できる。 Therefore, when the mask 1 held by the holding unit 2 is cleaned by this capturing mechanism, the dirt removed from the mask 1 can be surely sucked and exhausted, and the inside of the chamber 8 is removed from the mask 1. It is possible to reliably prevent contamination by the removed dirt.
また、本実施例のクリーニング機構には、O3パージ機構18を設けている。即ち、このO3パージ機構18からチャンバー8内にO3をパージすることで、有機物を灰化せしめる作用を有するO3により、このチャンバー8内の有機物汚れを確実に除去できる構成である。 The cleaning mechanism of this embodiment is provided with an O 3 purge mechanism 18. That is, the O 3 purge mechanism 18 by purging O 3 into the chamber 8, the O 3 having an effect allowed to ashing organic material is a configuration capable of reliably removing organic stains in the chamber 8.
本有機EL素子製造装置の使用方法を以下に説明する。 The usage method of this organic EL element manufacturing apparatus is demonstrated below.
仕込み室を通じて搬送室に基板(ガラス基板)を搬入する。この基板を各処理室に順次搬入し、各処理室毎に処理を行う。 A substrate (glass substrate) is carried into the transfer chamber through the preparation chamber. This substrate is sequentially carried into each processing chamber, and processing is performed for each processing chamber.
具体的には、前処理室において基板をクリーニング(酸素プラズマによるクリーニング)し、三つの成膜室に基板を順次搬入しながら下部金属電極,有機EL薄膜,上部透明電極を順次成膜する。 Specifically, the substrate is cleaned (cleaning with oxygen plasma) in the pretreatment chamber, and the lower metal electrode, the organic EL thin film, and the upper transparent electrode are sequentially formed while the substrate is sequentially carried into the three film formation chambers.
成膜室には、前記有機EL材料を所定のパターンで成膜するためのマスク1が設けられており、このマスク1を基板に積層させた状態で成膜を行う。 In the film formation chamber, a mask 1 for forming the organic EL material in a predetermined pattern is provided, and film formation is performed in a state where the mask 1 is laminated on the substrate.
このマスク1を数十〜数百回用いることで有機物汚れが堆積した場合、マスク1を成膜室から搬出して、前記マスクストック室に搬入する。 When organic dirt is deposited by using this mask 1 several tens to several hundreds of times, the mask 1 is unloaded from the film forming chamber and loaded into the mask stock chamber.
この際、マスクストック室にストックされている汚れていないマスク1を搬出して成膜室に搬入すると共に、マスクストック室に搬入した汚れたマスク1を、前記マスククリーニング機構によりクリーニングする。 At this time, the uncontaminated mask 1 stocked in the mask stock chamber is carried out and carried into the film forming chamber, and the dirty mask 1 carried into the mask stock chamber is cleaned by the mask cleaning mechanism.
具体的には、前記N2パージ機構19からN2をパージしながら前記ノズル体4から噴射されるドライアイス3をマスク1表面に吹き付けてこのマスク1表面に付着・堆積する汚れ(有機物汚れ)を除去することでこのマスク1のクリーニングを行う。クリーニングされたマスク1はそのままマスクストック室にストックされる。
Specifically, while the N 2 purge mechanism 19 purges N 2 , the
従って、マスクを交換する度に生産を中断する必要がないのは勿論、マスクストック室にストックされたマスク1が破損等しない限り外部に取り出す必要なく、即ち、このマスクストック室及びマスクを大気にさらす必要なく、このマスク1を交互にクリーニングして用いることができ、このマスク1が破損等しない限り、長期間交換する必要なく用いることができる。 Therefore, it is not necessary to interrupt the production every time the mask is replaced, and it is not necessary to take out the mask 1 stocked in the mask stock chamber as long as the mask 1 is not damaged. The mask 1 can be used by cleaning it alternately without being exposed, and can be used without having to be replaced for a long time as long as the mask 1 is not damaged.
本実施例は上述のように構成したから、成膜時に有機EL材料が付着・堆積したマスク1を、成膜室から搬送室を通じてクリーニング機構が設けられた処理室に搬送し、このクリーニング機構によりクリーニングを行う際、いずれかの処理室に備えたクリーニング機構によってマスク1をクリーニングすることができるから、従来のように成膜室やマスクストック室等の処理室を大気圧に戻す必要なく、成膜室から前記処理室にマスクを搬送するだけでクリーニングを行うことができ、この成膜室やマスクストック室等の処理室及びマスク1を大気にさらすことがないから、この処理室及びマスクが大気中の油脂・水分等によって汚染されることを確実に阻止できる。 Since the present embodiment is configured as described above, the mask 1 to which the organic EL material has adhered and deposited during film formation is transferred from the film formation chamber to the processing chamber provided with the cleaning mechanism through the transfer chamber. When cleaning is performed, the mask 1 can be cleaned by a cleaning mechanism provided in any of the processing chambers, so that it is not necessary to return the processing chambers such as the film forming chamber and the mask stock chamber to atmospheric pressure as in the conventional case. Cleaning can be performed simply by transporting the mask from the film chamber to the processing chamber, and the processing chamber such as the film forming chamber and the mask stock chamber and the mask 1 are not exposed to the atmosphere. It can be surely prevented from being contaminated by oils and moisture in the atmosphere.
従って、処理室内部が大気にさらされず、常に好適な真空状態に設定することができ、真空度や付着する汚れ等により敏感に特性が変化する有機EL素子を、一定の品質で歩留まり良く製造できることになる。 Therefore, the inside of the processing chamber is not exposed to the atmosphere and can always be set to a suitable vacuum state, and an organic EL element whose characteristics change sensitively depending on the degree of vacuum or adhering dirt can be manufactured with a certain quality and high yield. become.
具体的には、ノズル体4からドライアイス3をマスク1に噴射することでこのマスク1のクリーニングを行うクリーニング機構により、マスク1の表面にドライアイス3を吹き付けることで、このドライアイス3がマスク1に堆積した汚れに衝突し、マスク1の表面に接触して前記汚れとこのマスク1表面との界面において気化する際の体積膨張により、このマスク1の表面に堆積した汚れを除去することができ、このマスク1に付着した汚れを真空雰囲気中で人手によらず容易且つ確実に除去することができる。
Specifically, the
また、ウエットクリーニングと異なり、液体を経過せずに固体から昇華するドライアイス3によりクリーニングを行うから、処理室内を水分で汚すことなくマスク1をクリーニングすることができる。しかも、ウエットクリーニングのように人手により行う必要がなく、短時間で効率良くクリーニングを行うことができる。
Further, unlike the wet cleaning, the cleaning is performed by the
更に、ドライアイス3は、マスク1に接触した瞬間に気化するため、他のブラストクリーニングに用いられるショット材と異なり、被クリーニング部材の表面を削り取る作用を発揮しないから、このドライアイス3を吹き付けて汚れを除去しても、マスク1に破損等が生じることがない。
Further, since the
即ち、マスク1としては通常厚さ数十μm程度の極めて薄く変形・破損しやすいものが用いられるが、上述のように、ドライアイス3はマスク1表面に付着した瞬間に気化するから、このマスク1を変形・破損させる心配なく確実にクリーニングすることが可能となる。
That is, as the mask 1, an extremely thin mask having a thickness of about several tens of μm is easily used. However, as described above, the
また、ノズル体4をマスク1と平行な方向に可動自在に設定することで、このノズル体4により、前記マスク1の全面に満遍なくドライアイス3を吹き付けてより一層確実に前記マスク1の汚れを除去できる。
Further, by setting the
更に、汚れたマスク1を成膜室から搬出して新しいマスク1に交換して直ぐに装置を使用できると共に、この汚れたマスク1をクリーニングすることができるため、マスクストック室に予備のマスク1を各成膜室に対して1枚ずつ設けておくだけでこのマスク1が破損等しない限り外部に取り出す必要なく、即ち、このマスクストック室を大気にさらす必要なく、このマスク1を交互にクリーニングして用いることができ、このマスク1が破損等しない限り、長期間交換する必要なく用いることができ、極めて作業性に秀れたものとなる。 Further, the apparatus can be used immediately after the dirty mask 1 is carried out of the film forming chamber and replaced with a new mask 1, and the dirty mask 1 can be cleaned. Therefore, a spare mask 1 is placed in the mask stock chamber. It is not necessary to take out the mask 1 as long as the mask 1 is damaged or the like only by providing one for each film forming chamber, that is, it is not necessary to expose the mask stock chamber to the atmosphere. As long as the mask 1 is not damaged, it can be used without replacement for a long period of time, and the workability is extremely excellent.
従って、マスクストック室を大気に戻して排気を行う回数を極めて少なくでき、作業効率が低下することなく、極めて生産性良く有機EL素子を製造できることになる。 Therefore, the number of times of exhausting the mask stock chamber to the atmosphere can be extremely reduced, and the organic EL element can be manufactured with extremely high productivity without lowering the working efficiency.
よって、本実施例は、マスクの汚れを人手によらず且つ処理室を大気にさらすことなく良好に除去することができる極めて実用性に秀れた有機EL素子製造装置となる。 Therefore, the present embodiment is an organic EL element manufacturing apparatus that is excellent in practicality, and can remove the contamination of the mask satisfactorily without manually and exposing the processing chamber to the atmosphere.
1 マスク
2 保持部
3 ドライアイス
4 ノズル体
1 Mask 2
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JP2011074423A (en) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Hitachi High-Technologies Corp | Apparatus and method for manufacturing organic el device, and film deposition apparatus and film deposition method |
US7973345B2 (en) | 2007-05-31 | 2011-07-05 | Applied Materials, Inc. | Method of cleaning a patterning device, method of depositing a layer system on a substrate, system for cleaning a patterning device, and coating system for depositing a layer system on a substrate |
WO2012127981A1 (en) * | 2011-03-18 | 2012-09-27 | キヤノントッキ株式会社 | Vapor-deposition device and vapor-deposition method |
KR101361481B1 (en) * | 2007-06-27 | 2014-02-13 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | Deposition system for optimization of mandufacturing oled panel |
CN104492761A (en) * | 2014-12-24 | 2015-04-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | Mask cleaning device and cleaning method thereof |
US20150224627A1 (en) * | 2012-11-15 | 2015-08-13 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Adhered substances removing device, and vapor deposition system and removal method using such adhered substances removing device |
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7518681B2 (en) | 2005-07-14 | 2009-04-14 | Seiko Epson Corporation | Manufacturing apparatus for oriented film, liquid crystal device and electronic device |
US7973345B2 (en) | 2007-05-31 | 2011-07-05 | Applied Materials, Inc. | Method of cleaning a patterning device, method of depositing a layer system on a substrate, system for cleaning a patterning device, and coating system for depositing a layer system on a substrate |
KR101361481B1 (en) * | 2007-06-27 | 2014-02-13 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | Deposition system for optimization of mandufacturing oled panel |
JP2011074423A (en) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Hitachi High-Technologies Corp | Apparatus and method for manufacturing organic el device, and film deposition apparatus and film deposition method |
WO2012127981A1 (en) * | 2011-03-18 | 2012-09-27 | キヤノントッキ株式会社 | Vapor-deposition device and vapor-deposition method |
JP2012197468A (en) * | 2011-03-18 | 2012-10-18 | Canon Tokki Corp | Vapor deposition device and vapor deposition method |
US20150224627A1 (en) * | 2012-11-15 | 2015-08-13 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Adhered substances removing device, and vapor deposition system and removal method using such adhered substances removing device |
CN104492761A (en) * | 2014-12-24 | 2015-04-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | Mask cleaning device and cleaning method thereof |
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