JP2005116515A - Transparent conductive laminate and transparent touch panel - Google Patents

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晴彦 伊藤
Hitoshi Mikoshiba
均 御子柴
Isao Shiraishi
功 白石
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transparent conductive laminate suitable for a transparent touch panel which is improved in writing durability (end pressing durability) in a transparent touch panel end region by improving the writing durability. <P>SOLUTION: The laminate is made of lamination in which two kinds of cured resin layers different in plastic deformation strength are laminated between a polymer film and a transparent conductive layer. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、透明有機高分子基板上に透明導電層を有する透明導電性積層体及び該透明導電性積層体を用いた透明タッチパネルに関する。さらに詳しくは、透明有機高分子基板上に硬化樹脂層−1、硬化樹脂層−2、透明導電層が順次に積層された、透明タッチパネル用として好適な透明導電性積層体及び該透明導電性積層体を用いた透明タッチパネルに関するものである。   The present invention relates to a transparent conductive laminate having a transparent conductive layer on a transparent organic polymer substrate and a transparent touch panel using the transparent conductive laminate. More specifically, a transparent conductive laminate suitable for a transparent touch panel, in which a cured resin layer-1, a cured resin layer-2, and a transparent conductive layer are sequentially laminated on a transparent organic polymer substrate, and the transparent conductive laminate. The present invention relates to a transparent touch panel using a body.

近年、情報表示端末と情報入力用の透明タッチパネルを搭載した携帯型情報端末が広く普及し始めた。透明タッチパネルとして多く用いられる抵抗膜方式の透明タッチパネルは、透明導電層が形成された2枚の透明電極基板がおよそ10μm〜100μmの間隔で相対させて構成されており、外力を加える部分のみで互いの透明導電層表面同士が接触してスイッチとして動作するものであり、例えば表示画面上のメニュー選択、図形・文字入力等を行うことができる。   In recent years, portable information terminals equipped with an information display terminal and a transparent touch panel for information input have begun to spread widely. A resistive touch panel, which is often used as a transparent touch panel, is composed of two transparent electrode substrates on which a transparent conductive layer is formed and is opposed to each other at an interval of about 10 μm to 100 μm. The surfaces of the transparent conductive layers are in contact with each other and operate as a switch. For example, menu selection on the display screen, figure / character input, and the like can be performed.

液晶表示体などで狭額縁化が進み、これと同様に透明タッチパネルにも狭額縁化が進んできた。この狭額縁化に伴い従来透明タッチパネルに要求されていた筆記耐久性以外に、透明タッチパネル端部での筆記耐久性(端押し耐久性)が要求される傾向が強くなった。   Narrowing of the picture frame has progressed with liquid crystal displays and the like, and in the same way, narrowing of the picture frame has progressed for transparent touch panels. Along with the narrowing of the frame, in addition to the writing durability conventionally required for a transparent touch panel, the tendency to require writing durability (end pressing durability) at the end of the transparent touch panel has become stronger.

透明タッチパネルに要求される筆記耐久性を改善するために、特許文献1、特許文献2、特許文献3では、2枚の透明フィルム基材を硬さ(またはヤング率)を規定した粘着剤または透明樹脂層を介して積層した透明導電性積層体が提案されている。いずれの方法でも筆記耐久性を改善することは知られているが2枚の透明フィルム基材を粘着剤または透明樹脂層を介して積層させるため生産工程が複雑となり生産効率が悪く、更に10インチを超える大型透明タッチパネルを作製すると2枚の透明フィルム基材を積層した構成のため剛性が弱く透明導電性積層体が撓む問題がある。   In order to improve the writing durability required for the transparent touch panel, in Patent Document 1, Patent Document 2, and Patent Document 3, two transparent film base materials are adhesives or transparent materials that define the hardness (or Young's modulus). There has been proposed a transparent conductive laminate laminated through a resin layer. Although any method is known to improve writing durability, two transparent film substrates are laminated via an adhesive or transparent resin layer, which complicates the production process and lowers production efficiency. If a large-sized transparent touch panel exceeding 10 mm is produced, there is a problem that the transparent conductive laminate is bent because of the configuration in which two transparent film substrates are laminated.

また特許文献4では透明導電層下に硬さ(ダイナミック硬度が0.005〜2)を規定したクッション層を設けることも提案されているが、上記硬さの範囲では結晶質の透明導電層を得るための加熱処理時に、該クッション層は透明導電層の結晶化に伴う体積変化を支持することが出来ず、透明導電性積層体のヘーズが上昇し、透明導電性積層体に白化または干渉模様が観察されるようになる問題がある。   Further, Patent Document 4 proposes to provide a cushion layer having a specified hardness (dynamic hardness of 0.005 to 2) under the transparent conductive layer. However, in the above hardness range, a crystalline transparent conductive layer is provided. During the heat treatment to obtain, the cushion layer cannot support the volume change accompanying the crystallization of the transparent conductive layer, the haze of the transparent conductive laminate increases, and the transparent conductive laminate is whitened or interference pattern There is a problem that will be observed.

また透明プラスチックフィルム基材上に、硬化型樹脂を主たる構成成分とする硬化物層、及び透明導電層を順次積層した透明導電性フィルムにおいて透明導電層面の硬度を0.4〜0.8GPaと規定している特許文献5では、特に硬化型樹脂成分の指定はなく透明導電層面の硬度を規定するだけでは、端押し耐久性試験後に硬化物層にクラックが発生し透明タッチパネルの電気特性が劣化してしまう問題がある。更に特許文献6では高分子フィルム/応力緩和層/透明導電層を順次積層させ、応力緩和層の膜厚が10〜50μmでビッカーズ硬さが38〜240N/mmとしているが、外部からの応力を緩和する応力緩和層の硬度によっては、透明導電層の結晶化に伴う体積変化を支持することが出来ず透明導電層面に細かいしわが入り干渉模様が観察されるようになり、透明導電性フィルムのヘーズが上昇する問題もある。更に特許文献7のようにプラスチック基材層と導電層との間に硬化皮膜層を有するプラスチック積層体において、導電膜の硬度を1GPa以上とした場合、端押し耐久性試験時に硬化皮膜層にクラックが入り透明タッチパネルの電気特性(リニアリティー)が劣化する問題がある。 The transparent conductive film surface has a hardness of 0.4 to 0.8 GPa in a transparent conductive film obtained by sequentially laminating a cured product layer mainly composed of a curable resin on a transparent plastic film substrate and a transparent conductive layer. In Patent Document 5, the curable resin component is not specified and only the hardness of the surface of the transparent conductive layer is specified, so that a crack is generated in the cured product layer after the end press durability test, and the electrical characteristics of the transparent touch panel deteriorate. There is a problem. Furthermore, in Patent Document 6, a polymer film / stress relaxation layer / transparent conductive layer are sequentially laminated, and the thickness of the stress relaxation layer is 10 to 50 μm and the Vickers hardness is 38 to 240 N / mm 2. Depending on the hardness of the stress relaxation layer that relaxes, the volume change accompanying the crystallization of the transparent conductive layer cannot be supported and fine wrinkles are formed on the surface of the transparent conductive layer, and an interference pattern is observed. There is also a problem that the haze increases. Furthermore, when the hardness of the conductive film is 1 GPa or more in a plastic laminate having a cured film layer between the plastic substrate layer and the conductive layer as in Patent Document 7, the cured film layer is cracked during the end-press durability test. There is a problem that the electrical characteristics (linearity) of the transparent touch panel deteriorates.

特開平2−66809号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2-66809 特開平2−129808号公報JP-A-2-129808 特開平8−192492号公報JP-A-8-192492 特開平11−34206号公報JP-A-11-34206 特開2002−163932号公報JP 2002-163932 A 特開2004−158253号公報JP 2004-158253 A 特開平11−286067号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-286067

本発明は、従来透明タッチパネルに要求されていた筆記耐久性、特に透明タッチパネル端部領域での筆記耐久性(端押し耐久性)を向上させた透明タッチパネルを得るための透明導電性積層体を提供することを目的としたものである。   The present invention provides a transparent conductive laminate for obtaining a transparent touch panel that has improved the writing durability conventionally required for a transparent touch panel, particularly the writing durability (end pressing durability) in the end region of the transparent touch panel. It is intended to do.

前述のように透明有機高分子基板と透明導電層の間に柔らかい層、例えば、塑性変形硬さが2.0×10Pa(20kgf/mm)未満の層を導入した場合、該柔らかい層は透明導電層の結晶化に伴う体積変化を支持することが難しく透明導電性積層体のヘーズが上昇し、透明導電性積層体に白化または干渉模様が観察されるようになる。一方、硬い層(例えば、塑性変形硬さが8.5×10Pa(85kgf/mm)を超える層)を導入した場合、端押し耐久性試験時に透明有機高分子基板と透明導電層間の硬い層にクラックが生じ透明タッチパネルの電気特性を確保することが出来なくなる。 When a soft layer, for example, a layer having a plastic deformation hardness of less than 2.0 × 10 8 Pa (20 kgf / mm 2 ) is introduced between the transparent organic polymer substrate and the transparent conductive layer as described above, the soft layer Is difficult to support the volume change accompanying crystallization of the transparent conductive layer, and the haze of the transparent conductive laminate is increased, and whitening or interference patterns are observed in the transparent conductive laminate. On the other hand, when a hard layer (for example, a layer having a plastic deformation hardness exceeding 8.5 × 10 8 Pa (85 kgf / mm 2 )) is introduced, the transparent organic polymer substrate and the transparent conductive layer between the transparent organic polymer substrate and the end of the endurance durability test are used. Cracks occur in the hard layer, making it impossible to ensure the electrical characteristics of the transparent touch panel.

そこで本発明者らは、透明タッチパネルに要求される筆記耐久性もさることながら、端押し耐久性も向上させる方法として、塑性変形硬さの異なる2種類の硬化樹脂層を透明有機高分子基板と透明導電層の間に積層させるという技術思想を採用することにより、透明タッチパネルに要求される筆記耐久性とともに端押し耐久性も向上することを見出した。   Therefore, the present inventors, as a method for improving the end press durability as well as the writing durability required for the transparent touch panel, have two types of cured resin layers having different plastic deformation hardness and a transparent organic polymer substrate. It has been found that by adopting the technical idea of laminating between transparent conductive layers, the endurance durability is improved as well as the writing durability required for the transparent touch panel.

更に透明有機高分子基板と透明導電層の間に積層させる2種類の硬化樹脂層の塑性変形硬さと膜厚を制御することにより、透明導電層の結晶化に伴う体積変化を支持でき透明導電性積層体のヘーズ変化はなく、かつ端押し耐久性試験時に硬化樹脂層にクラックが入ることなく透明タッチパネルの電気特性を確保できるという知見も得た。   Furthermore, by controlling the plastic deformation hardness and film thickness of the two types of cured resin layers laminated between the transparent organic polymer substrate and the transparent conductive layer, the volume change accompanying crystallization of the transparent conductive layer can be supported. It was also found that there was no haze change in the laminate, and the electrical properties of the transparent touch panel could be secured without cracks in the cured resin layer during the end-press durability test.

本発明により透明タッチパネルに要求される筆記耐久性だけでなく、端押し耐久性についても高信頼性を確保できる透明導電性積層体及び透明タッチパネルを提供することが可能となった。   According to the present invention, it has become possible to provide a transparent conductive laminate and a transparent touch panel that can ensure high reliability not only for writing durability required for a transparent touch panel but also for end-press durability.

すなわち本発明は、以下の通りのものである。
第1の発明は、透明有機高分子基板の少なくとも一方の面上に塑性変形硬さの異なる硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2が順次積層され、該硬化樹脂層−2上に透明導電層が積層された透明導電性積層体であって、該硬化樹脂層−1の膜厚dと該硬化樹脂層−2の膜厚dが0.2≦d/d≦3.0の関係にあり、かつ膜厚が1μm≦d≦10μm、1μm≦d≦10μmであり、さらにHV>HV>HVかつHV>HV>HVの関係を満たすことを特徴とする透明導電性積層体。(ただし、透明有機高分子基板の塑性変形硬さをHV、透明有機高分子基板上に硬化樹脂層−1を形成して測定したときの塑性変形硬さをHV、透明有機高分子基板上に硬化樹脂層−2を形成して測定したときの塑性変形硬さをHV、透明有機高分子基板上に硬化樹脂層−1、硬化樹脂層−2が順次積層されたときの塑性変形硬さをHVとする)
That is, the present invention is as follows.
In the first invention, a cured resin layer-1 and a cured resin layer-2 having different plastic deformation hardness are sequentially laminated on at least one surface of a transparent organic polymer substrate, and a transparent conductive layer is formed on the cured resin layer-2. A transparent conductive laminate in which layers are laminated, wherein a thickness d 1 of the cured resin layer- 1 and a thickness d 2 of the cured resin layer- 2 are 0.2 ≦ d 2 / d 1 ≦ 3. 0, and the film thickness satisfies 1 μm ≦ d 1 ≦ 10 μm, 1 μm ≦ d 2 ≦ 10 μm, and further satisfies the relationship of HV 2 > HV 0 > HV 1 and HV 2 > HV 3 > HV 1. A transparent conductive laminate. (However, the plastic deformation hardness of the transparent organic polymer substrate is HV 0 , and the plastic deformation hardness when the cured resin layer-1 is formed on the transparent organic polymer substrate is measured as HV 1 , the transparent organic polymer substrate. The plastic deformation hardness when the cured resin layer-2 is formed and measured is HV 2 , and the plastic deformation when the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 are sequentially laminated on the transparent organic polymer substrate. Hardness is HV 3 )

第2の発明は、該硬化樹脂層―2と透明導電層との間に、透明導電層と接して、かつ膜厚が透明導電層より薄く、更に膜厚が0.5nm以上10.0nm未満である金属化合物層を有する、第1の発明の透明導電性積層体である。   The second invention is in contact with the transparent conductive layer between the cured resin layer-2 and the transparent conductive layer, and the film thickness is thinner than the transparent conductive layer, and the film thickness is 0.5 nm or more and less than 10.0 nm. It is a transparent conductive laminated body of 1st invention which has a metal compound layer which is.

第3の発明は、塑性変形硬さHVが9.8×10Pa≦HV≦2.0×10Pa(1kgf/mm≦HV≦20kgf/mm)、かつ塑性変形硬さHVが5.9×10Pa≦HV≦1.1×10Pa(60kgf/mm≦HV≦110kgf/mm)である第1または2の発明の透明導電性積層体である。 In the third invention, the plastic deformation hardness HV 1 is 9.8 × 10 6 Pa ≦ HV 1 ≦ 2.0 × 10 8 Pa (1 kgf / mm 2 ≦ HV 1 ≦ 20 kgf / mm 2 ), and the plastic deformation hardness is The transparent conductive laminate of the first or second invention, wherein the thickness HV 2 is 5.9 × 10 8 Pa ≦ HV 2 ≦ 1.1 × 10 9 Pa (60 kgf / mm 2 ≦ HV 2 ≦ 110 kgf / mm 2 ) It is.

第4の発明は、硬化樹脂層−1が(A)ウレタンアクリレートをモノマーとする硬化樹脂及び(B)合成ゴムからなる群から選ばれる少なくとも1種を10重量%以上含有する第1〜3のいずれかの発明の透明導電性積層体である。   4th invention is 1st-3rd in which the cured resin layer-1 contains 10 weight% or more of at least 1 sort (s) chosen from the group which consists of the cured resin which uses (A) urethane acrylate as a monomer, and (B) synthetic rubber. It is a transparent conductive laminate of any invention.

第5の発明は、硬化樹脂層−2と透明導電層の間に屈折率が1.20〜1.55で尚且つ膜厚が0.05〜0.5μmの硬化樹脂層−3を有する第1〜4のいずれかの発明の透明導電性積層体である。   In a fifth aspect of the present invention, there is provided a cured resin layer-3 having a refractive index of 1.20 to 1.55 and a film thickness of 0.05 to 0.5 μm between the cured resin layer-2 and the transparent conductive layer. It is a transparent conductive laminated body of the invention in any one of 1-4.

第6の発明は、該硬化樹脂層−3に平均1次粒子径が硬化樹脂層−3の膜厚の1.1倍以上でかつ平均1次粒子径が1.2μm以下の微粒子Bを含有し、該微粒子Bの含有量は該微粒子Bを含有する硬化樹脂層−3を形成する硬化樹脂成分の0.5重量%以下とする第1〜5の発明の透明導電性積層体である。   6th invention contains the microparticles | fine-particles B whose average primary particle diameter is 1.1 times or more of the film thickness of the cured resin layer-3, and whose average primary particle diameter is 1.2 micrometers or less in this cured resin layer-3 In the transparent conductive laminate according to the first to fifth inventions, the content of the fine particles B is 0.5% by weight or less of the cured resin component forming the cured resin layer 3 containing the fine particles B.

第7の発明は、硬化樹脂層−2と透明導電層の間に少なくとも1層の低屈折率層と少なくとも1層の高屈折率層からなる光学干渉層を有し、低屈折率層が金属化合物層または透明導電層と接する第1〜4のいずれかの発明の透明導電性積層体である。   The seventh invention has an optical interference layer comprising at least one low refractive index layer and at least one high refractive index layer between the cured resin layer-2 and the transparent conductive layer, and the low refractive index layer is a metal. It is the transparent conductive laminated body of the invention in any one of 1st-4th which contact | connects a compound layer or a transparent conductive layer.

第8の発明は、該光学干渉層を形成する該高屈折率層と該低屈折率層の少なくとも一方に平均1次粒子径が光学干渉層の膜厚の1.1倍以上でかつ平均1次粒子径が1.2μm以下の微粒子Bを含有し、該微粒子Bの含有量は該微粒子Bを含有する高屈折率層及び/又は低屈折率層を形成する硬化樹脂成分の0.5重量%以下とする第1、2、3、4、7のいずれかの発明の透明導電性積層体である。   According to an eighth aspect of the present invention, an average primary particle diameter of at least one of the high refractive index layer and the low refractive index layer forming the optical interference layer is 1.1 times or more of the film thickness of the optical interference layer and an average of 1 Fine particles B having a secondary particle size of 1.2 μm or less are contained, and the content of the fine particles B is 0.5 weight of the cured resin component forming the high refractive index layer and / or the low refractive index layer containing the fine particles B. % Of the transparent conductive laminate according to any one of the first, second, third, fourth and seventh inventions.

第9の発明は、透明導電層が酸化インジウムを主成分とした結晶質の膜であり、透明導電層の膜厚が5〜50nmである第1〜8のいずれかの発明の透明導電性積層体である。   9th invention is a transparent conductive layer of any one of the 1st-8th invention whose transparent conductive layer is a crystalline film | membrane which has indium oxide as a main component, and the film thickness of a transparent conductive layer is 5-50 nm. Is the body.

第10の発明は、更にHVが2.0×10Pa≦HV≦8.5×10Pa(20kgf/mm≦HV≦85kgf/mm)の範囲にある第1〜9のいずれかの発明の透明導電性積層体である。(HVの定義は上記と同じである) In a tenth aspect of the invention, the HV 3 is further in the range of 2.0 × 10 8 Pa ≦ HV 3 ≦ 8.5 × 10 8 Pa (20 kgf / mm 2 ≦ HV 3 ≦ 85 kgf / mm 2 ). The transparent conductive laminate according to any one of the inventions. (The definition of HV 3 is the same as above)

第11の発明は、少なくとも片面に透明導電層が設けられた2枚の透明電極基板が互いの透明導電層同士が向き合うように配置されて構成された透明タッチパネルにおいて、少なくとも一方の透明電極基板として第1〜10の発明の透明導電性積層体を用いた透明タッチパネルである。   According to an eleventh aspect of the present invention, there is provided a transparent touch panel in which two transparent electrode substrates each provided with a transparent conductive layer on at least one side are arranged so that the transparent conductive layers face each other. It is a transparent touch panel using the transparent conductive laminated body of 1st-10th invention.

本発明によれば、塑性変形硬さの異なる2種類の硬化樹脂層を透明有機高分子基板と透明導電層の間に積層させ、2種類の硬化樹脂層の塑性変形硬さと膜厚を制御することにより、ヘーズ変化がなく、かつ端押し耐久性試験時に硬化樹脂層にクラックが入ることなく透明タッチパネルの電気特性を確保できた。   According to the present invention, two types of cured resin layers having different plastic deformation hardness are laminated between a transparent organic polymer substrate and a transparent conductive layer, and the plastic deformation hardness and film thickness of the two types of cured resin layers are controlled. As a result, the electrical characteristics of the transparent touch panel could be secured without any change in haze and without causing cracks in the cured resin layer during the end-press durability test.

すなわち、本発明により透明タッチパネルに要求される筆記耐久性だけでなく、端押し耐久性についても高信頼性を確保できる透明導電性積層体及び透明タッチパネルを提供することが可能となった。   That is, according to the present invention, it is possible to provide a transparent conductive laminate and a transparent touch panel that can ensure high reliability not only for writing durability required for a transparent touch panel but also for end-press durability.

以下、本発明を詳細に説明する。
<積層構成とコート層塑性変形硬さ>
本発明は塑性変形硬さの異なる硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明高分子基板上に順次積層させている。塑性変形硬さの異なる少なくとも2つの硬化樹脂層を透明高分子基板上に積層することにより、各硬化樹脂層の特性、つまりは硬化樹脂層−1の柔軟性や低弾性、硬化樹脂層−2の強靭性や高弾性の両方を反映させることが可能となり、近年透明タッチパネルに要求されている筆記耐久性と端押し耐久性を向上することが可能となった。
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
<Laminated structure and coat layer plastic deformation hardness>
In the present invention, the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 having different plastic deformation hardness are sequentially laminated on the transparent polymer substrate. By laminating at least two cured resin layers having different plastic deformation hardness on the transparent polymer substrate, the characteristics of each cured resin layer, that is, the flexibility and low elasticity of the cured resin layer-1, the cured resin layer-2. Both toughness and high elasticity can be reflected, and it has become possible to improve the writing durability and end-press durability required for transparent touch panels in recent years.

透明高分子基板上に塑性変形硬さHVが9.8×10Pa≦HV≦2.0×10Pa(1kgf/mm≦HV≦20kgf/mm)の硬化樹脂層−1だけを積層し、その上に透明導電層を形成した場合、外部からの力による透明導電層へのダメージを緩和するだけであれば硬化樹脂層−1を設けるだけで十分である。しかし硬化樹脂層−1の塑性変形硬さが低いため硬化樹脂層−1が透明導電層を支持することが出来ず、透明導電層形成時、または透明導電層を熱処理により結晶化させた後に透明導電層が細かいしわ状になる。これによりヘーズが発生し、透明導電性積層体に白化または干渉模様が観察されるようになるため透明導電性積層体として適当ではない。またこのような透明導電性積層体で透明タッチパネルを作成し筆記耐久性試験を行った場合、固定電極に設けられているドットスペーサーが透明導電積層体の透明導電層にめりこみ透明導電層を破壊し、透明タッチパネルの電気特性(リニアリティー)が劣化するため適当ではない。 Cured resin layer having plastic deformation hardness HV 1 of 9.8 × 10 6 Pa ≦ HV 1 ≦ 2.0 × 10 8 Pa (1 kgf / mm 2 ≦ HV 1 ≦ 20 kgf / mm 2 ) on a transparent polymer substrate When only 1 is laminated and a transparent conductive layer is formed thereon, it is sufficient to provide the cured resin layer-1 as long as the damage to the transparent conductive layer due to external force is alleviated. However, since the plastic deformation hardness of the cured resin layer-1 is low, the cured resin layer-1 cannot support the transparent conductive layer, and is transparent when the transparent conductive layer is formed or after the transparent conductive layer is crystallized by heat treatment. The conductive layer becomes fine wrinkles. As a result, haze is generated, and whitening or interference patterns are observed in the transparent conductive laminate, which is not suitable as a transparent conductive laminate. In addition, when a transparent touch panel is made with such a transparent conductive laminate and a writing durability test is performed, the dot spacer provided on the fixed electrode is embedded in the transparent conductive layer of the transparent conductive laminate and destroys the transparent conductive layer. This is not suitable because the electrical characteristics (linearity) of the transparent touch panel deteriorate.

また透明高分子基板上に塑性変形硬さHVが5.9×10Pa≦HV≦1.1×10Pa(60kgf/mm≦HV≦110kgf/mm)の硬化樹脂層−2だけを積層し、その上に透明導電層を形成した場合、硬化樹脂層−2の塑性変形硬さが大きいため前記記載のような透明導電層形成時や透明導電層を熱処理により結晶化させた後にヘーズが発生するような問題はないが、硬化樹脂層−2を使用した透明タッチパネルは端押し耐久性試験時に硬化樹脂層−2にクラックが発生し透明タッチパネルの電気特性(リニアリティ−)を確保することが難しい。 Further, a cured resin layer having a plastic deformation hardness HV 2 of 5.9 × 10 8 Pa ≦ HV 2 ≦ 1.1 × 10 9 Pa (60 kgf / mm 2 ≦ HV 2 ≦ 110 kgf / mm 2 ) on the transparent polymer substrate. -2 is laminated and a transparent conductive layer is formed thereon, the plastic deformation hardness of the cured resin layer-2 is large, so that the transparent conductive layer is crystallized at the time of forming the transparent conductive layer as described above or by heat treatment. The transparent touch panel using the cured resin layer-2 does not have a problem of causing haze after being applied, but cracks occur in the cured resin layer-2 during the end-press durability test, and the electrical characteristics of the transparent touch panel (linearity) It is difficult to ensure.

本発明の硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明高分子基板上に順次所定の膜厚の範囲で積層させた時の塑性変形硬さHVが2.0×10Pa≦HV≦8.5×10Pa(20kgf/mm≦HV≦85kgf/mm)が好ましく、更に好ましくは2.0×10Pa≦HV≦6.9×10Pa(20kgf/mm≦HV≦70kgf/mm)である。前記記載のHVの範囲で硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明高分子基板上に順次積層した時に硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2の各層の特性が充分に反映され、透明導電性積層体及び透明タッチパネルに必要とされる諸特性を充分に満足することが可能となる。 Plastic deformation hardness HV 3 is 2.0 × 10 8 Pa ≦ HV when are laminated successively at a predetermined thickness in the range in the cured resin layer-1 and the transparent polymer substrate and the cured resin layer-2 of the present invention preferably 3 ≦ 8.5 × 10 8 Pa ( 20kgf / mm 2 ≦ HV 3 ≦ 85kgf / mm 2), more preferably 2.0 × 10 8 Pa ≦ HV 3 ≦ 6.9 × 10 8 Pa (20kgf / mm 2 ≦ HV 3 ≦ 70 kgf / mm 2 ). When the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 are sequentially laminated on the transparent polymer substrate within the range of HV 3 described above, the characteristics of the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 are sufficiently reflected. The various properties required for the transparent conductive laminate and the transparent touch panel can be sufficiently satisfied.

硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2が所定の膜厚の範囲で硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明高分子基板上に積層させた場合のHVが2.0×10Pa(20kgf/mm)未満の場合では、透明導電層形成時や透明導電層を熱処理により結晶化させた後に硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2の積層体が透明導電層を指示することが出来ず、透明導電層が細かいしわ状模様になる。これによりヘーズが発生するため透明導電性積層体として適当ではない。 HV 3 is 2.0 × 10 when the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 is formed by laminating a cured resin layer-2 and the cured resin layer-1 in a transparent polymer substrate in the range of predetermined thickness In the case of less than 8 Pa (20 kgf / mm 2 ), the laminate of cured resin layer-1 and cured resin layer-2 indicates the transparent conductive layer when the transparent conductive layer is formed or after the transparent conductive layer is crystallized by heat treatment. The transparent conductive layer becomes a fine wrinkle pattern. As a result, haze is generated, which is not suitable as a transparent conductive laminate.

また一方硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2が所定の膜厚の範囲で硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明高分子基板上に積層させた場合のHVが8.5×10Pa(85kgf/mm)を超える場合では、これを透明導電性積層体として使用した透明タッチパネルの端押し耐久性は、クラックの発生により透明タッチパネルの電気特性(リニアリティー)を確保することができない。 On the other hand HV 3 in the case of the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 is formed by laminating a cured resin layer-2 and the cured resin layer-1 in a transparent polymer substrate in the range of a predetermined thickness is 8.5 When exceeding 10 8 Pa (85 kgf / mm 2 ), the endurance durability of the transparent touch panel using this as a transparent conductive laminate shall ensure the electrical characteristics (linearity) of the transparent touch panel due to the occurrence of cracks. I can't.

<膜厚の関係>
本発明では塑性変形硬さの異なる硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明高分子基板上に順次積層させる時の硬化樹脂層−1の膜厚dと硬化樹脂層−2の膜厚dが0.2≦d/d≦3が好ましく、更に好ましくは0.25≦d/d≦2であり、尚且つ各層の膜厚が1μm≦d≦10μm、1μm≦d≦10μmである。d/d<0.2の関係で硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明有機高分子基板上に積層させた場合、硬化樹脂層−2の膜厚が硬化樹脂層−1の膜厚より極端に薄くなるため、硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を積層後の塑性変形硬さが小さくなり透明導電層形成時や透明導電層を熱処理により結晶化させた後に硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2の積層体が透明導電層を支持することが出来ず、透明導電層が細かいしわ状模様になる。これによりヘーズが発生するため透明導電性積層体として適当ではない。
<Relationship of film thickness>
In the present invention, when the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 having different plastic deformation hardness are sequentially laminated on the transparent polymer substrate, the film thickness d1 of the cured resin layer- 1 and the film of the cured resin layer-2. The thickness d 2 is preferably 0.2 ≦ d 2 / d 1 ≦ 3, more preferably 0.25 ≦ d 2 / d 1 ≦ 2, and the thickness of each layer is 1 μm ≦ d 1 ≦ 10 μm, 1 μm. ≦ d 2 ≦ 10 μm. d 2 / d 1 <If the cured resin layer-2 and the cured resin layer-1 in relation to 0.2 was laminated to the transparent organic polymer substrate, the film thickness of the cured resin layer-2 is the cured resin layer-1 Therefore, the plastic deformation hardness after lamination of the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 is reduced, and the transparent conductive layer is cured when formed or after the transparent conductive layer is crystallized by heat treatment. The laminate of the resin layer-1 and the cured resin layer-2 cannot support the transparent conductive layer, and the transparent conductive layer has a fine wrinkle pattern. As a result, haze is generated, which is not suitable as a transparent conductive laminate.

また一方、d/d>3の関係で硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明有機高分子基板上に積層させた場合、硬化樹脂層−2の膜厚が硬化樹脂層−1の膜厚より極端に厚くなるため、硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2の積層効果が現れず、積層後の塑性変形硬さは硬化樹脂層−2の塑性変形硬さと同様になる。この透明導電性積層体を使用した透明タッチパネルの端押し耐久性は、硬化樹脂層−2のみを透明有機高分子基板に積層して作製した透明タッチパネルと同様に、硬化樹脂層−2にクラックが発生し透明タッチパネルの電気特性(リニアリティー)を確保することができない。
及びdが1μm未満では硬化樹脂層の硬化性の問題から好ましくなく、10μmを超える膜厚でも特性上大きな問題はないが加工が難しくなるため適当ではない。
On the other hand, d 2 / d 1> 3 when a laminate of cured resin layer-2 and the cured resin layer-1 in the transparent organic polymer substrate in relation film thickness of the cured resin layer-2 is a cured resin layer - Since the thickness of the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 does not appear, the plastic deformation hardness after the lamination is the same as the plastic deformation hardness of the cured resin layer-2. . The endurance durability of the transparent touch panel using this transparent conductive laminate is similar to that of the transparent touch panel prepared by laminating only the cured resin layer-2 on the transparent organic polymer substrate, and the cured resin layer-2 has cracks. The electrical characteristics (linearity) of the generated transparent touch panel cannot be ensured.
If d 1 and d 2 are less than 1 μm, it is not preferable because of the problem of curability of the cured resin layer.

<塑性変形硬さの関係>
本発明では透明有機高分子基板の塑性変形硬さHV、硬化樹脂層−1単独層での塑性変形硬さHV、硬化樹脂層−2単独層の塑性変形硬さHV、透明有機高分子基板上に硬化樹脂層−1、硬化樹脂層−2が順次積層された時の塑性変形硬さHVのそれぞれが、HV>HV>HV、HV>HV>HVの関係にある。透明有機高分子基板の押し込み硬さ試験機(ナノインデンテーションテスター・設定押し込み深さ:0.5μm)による塑性変形硬さHVの例として、厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW)は5.4×10Pa(55kgf/mm)、100μmのポリカーボネートフィルム(帝人化成(株)製 ピュアエース)は2.4×10Pa(24kgf/mm)等がある。硬化樹脂層−1の塑性変形硬さが透明有機高分子基板より大きい(HV<HV)場合は、硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を積層して得られた透明導電性積層体を使用して作製した透明タッチパネルの端押し耐久性試験後の電気特性(リニアリティ−)を確保するのが難しい。また硬化樹脂層−2の塑性変形硬さが透明有機高分子基板より小さい(HV>HV)場合は、硬化樹脂層−2が透明導電層を支持することが出来ず、透明導電層形成時、または透明導電層を熱処理により結晶化させた後に、透明導電層が細かいしわ状になる。これによりヘーズが発生するため透明導電性積層体として適当とは言えない。
<Relationship of plastic deformation hardness>
Plastic deformation hardness HV 0 of the transparent organic polymer substrate in the present invention, the cured resin layer-1 plastic deformation hardness HV 1 alone layer, cured resin layer-2 alone layer plastic deformation hardness HV 2 of a transparent organic high curing the molecule on the substrate resin layer-1, each of the plastic deformation hardness HV 3 when the cured resin layer-2 are sequentially stacked, HV 2> HV 0> of HV 1, HV 2> HV 3 > HV 1 There is a relationship. As an example of plastic deformation hardness HV 0 by an indentation hardness tester (nanoindentation tester / set indentation depth: 0.5 μm) of a transparent organic polymer substrate, a polyethylene terephthalate film (Teijin DuPont Film Co., Ltd.) having a thickness of 188 μm ) OFF) is 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 ), 100 μm polycarbonate film (Pure Ace manufactured by Teijin Chemicals Ltd.) is 2.4 × 10 8 Pa (24 kgf / mm 2 ), etc. . When the plastic deformation hardness of the cured resin layer-1 is larger than that of the transparent organic polymer substrate (HV 0 <HV 1 ), the transparent conductive laminate obtained by laminating the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2. It is difficult to ensure electrical characteristics (linearity) after an end-press durability test of a transparent touch panel produced using a body. Further, when the plastic deformation hardness of the cured resin layer-2 is smaller than that of the transparent organic polymer substrate (HV 0 > HV 2 ), the cured resin layer-2 cannot support the transparent conductive layer, and the transparent conductive layer is formed. At times or after the transparent conductive layer is crystallized by heat treatment, the transparent conductive layer becomes fine wrinkles. As a result, haze is generated, which is not suitable as a transparent conductive laminate.

硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を前記の膜厚設定(0.2≦d/d≦3、1μm≦d≦10μm、1μm≦d≦10μm)で積層した場合、HV>HV>HVの関係になる。前記記載の膜厚設定外にあって、硬化樹脂層−1の膜厚を薄く硬化樹脂層−2の膜厚を厚く積層した場合、塑性変形硬さの関係はHV≒HVとなる。また一方、硬化樹脂層−1の膜厚を厚く硬化樹脂層−2の膜厚を薄く積層した場合,塑性変形硬さの関係はHV≒HVになる。これらの場合前記記載の硬化樹脂層−1または硬化樹脂層−2を単独で透明有機高分子基板上に形成した時に近い状態となり、透明導電性積層体または透明タッチパネルの特性を確保することが困難となる。 When the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 are laminated with the above film thickness settings (0.2 ≦ d 2 / d 1 ≦ 3, 1 μm ≦ d 1 ≦ 10 μm, 1 μm ≦ d 2 ≦ 10 μm), HV 2 > HV 3 > HV 1 When the thickness of the cured resin layer-1 is thin and the thickness of the cured resin layer-2 is thick, the relationship between the plastic deformation hardness is HV 2 ≈HV 3 . On the other hand, when the laminated thin film thickness of thick cured resin layer-2 the thickness of the cured resin layer-1, the relationship of the plastic deformation hardness becomes HV 3 ≒ HV 1. In these cases, when the cured resin layer-1 or the cured resin layer-2 described above is formed on a transparent organic polymer substrate alone, it is in a close state, and it is difficult to ensure the characteristics of the transparent conductive laminate or the transparent touch panel. It becomes.

本明細書中に記載の硬化樹脂層−1の塑性変形硬さHV及び硬化樹脂層−2の塑性変形硬さHVは、透明有機高分子基板(厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW))上に硬化樹脂層−1または硬化樹脂層−2を厚さ5μmで形成後、硬化樹脂層面を押し込み塑性変形硬さ試験機(ナノインデンテーションテスター・設定押し込み深さ:0.5μm)で測定した時の値である。 The plastic deformation hardness HV 1 of the cured resin layer- 1 and the plastic deformation hardness HV 2 of the cured resin layer-2 described in the present specification are a transparent organic polymer substrate (polyethylene terephthalate film having a thickness of 188 μm (Teijin DuPont). After forming the cured resin layer-1 or the cured resin layer-2 with a thickness of 5 μm on the film (OFW), a plastic deformation hardness tester (nanoindentation tester / set indentation depth) : 0.5 μm).

<硬化樹脂層−1の説明>
本発明に用いられる硬化樹脂層−1は、形成された硬化樹脂層−1が規定の塑性変形硬さを得るために(A)モノマー成分としてウレタンアクリレートを用いて硬化反応してなる硬化樹脂及び(B)合成ゴムのうち少なくとも一方を含有する。(A)かかるウレタンアクリレートを用いた硬化樹脂または(B)合成ゴムは、少なくともその一方を硬化樹脂層−1中に10重量%以上含有することが好ましく、20重量%以上含有することがより好ましい。(A)、(B)はそれぞれ単独または、これらを複数組合せて硬化樹脂層−1を形成しても構わない。(A)、(B)が10重量%未満の含有量では、規定の塑性変形硬さを得ることが困難である。
<Description of cured resin layer-1>
The cured resin layer-1 used in the present invention comprises (A) a cured resin obtained by a curing reaction using urethane acrylate as a monomer component in order to obtain a prescribed plastic deformation hardness. (B) At least one of the synthetic rubbers is contained. (A) The cured resin using such urethane acrylate or (B) the synthetic rubber preferably contains at least one of them in the cured resin layer-1 in an amount of 10% by weight or more, more preferably 20% by weight or more. . (A) and (B) may be used alone or in combination to form the cured resin layer-1. When the contents of (A) and (B) are less than 10% by weight, it is difficult to obtain a specified plastic deformation hardness.

透明有機高分子基板(厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW))上に5μmの硬化樹脂層−1を単独で形成し押し込み硬さ試験機(ナノインデンテーションテスター・設定押し込み深さ:0.5μm)で測定した時の塑性変形硬さが9.8×10Pa≦HV≦2.0×10Pa(1kgf/mm≦HV≦20kgf/mm)が好ましく、更に好ましくは9.8×10Pa≦HV≦1.5×10Pa(1kgf/mm≦HV≦15kgf/mm)である。硬化樹脂層−1の塑性変形硬さHVが1kgf/mm未満の場合、硬化樹脂層が軟らかいため硬化樹脂層−2の積層が困難である。反対に硬化樹脂層−1の塑性変形硬さHVが2.0×10Pa(20kgf/mm)を超える場合、硬化樹脂層−2の塑性変形硬さHVとの差が小さくなりこのような透明導電性積層体を使用した透明タッチパネルでは電気特性(特に端押し耐久性)を確保することが困難となる。
硬化樹脂層−1の膜厚は1μm≦d≦10μmが好ましく、更に好ましくは3μm≦d≦10μmである。
A cured resin layer-1 having a thickness of 5 μm is formed on a transparent organic polymer substrate (polyethylene terephthalate film having a thickness of 188 μm (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd.)), and an indentation hardness tester (nanoindentation tester / setting) The plastic deformation hardness when measured at an indentation depth of 0.5 μm is 9.8 × 10 6 Pa ≦ HV 1 ≦ 2.0 × 10 8 Pa (1 kgf / mm 2 ≦ HV 1 ≦ 20 kgf / mm 2 ). And more preferably 9.8 × 10 6 Pa ≦ HV 1 ≦ 1.5 × 10 8 Pa (1 kgf / mm 2 ≦ HV 1 ≦ 15 kgf / mm 2 ). If the plastic deformation hardness HV 1 of the cured resin layer-1 is less than 1 kgf / mm 2, it is difficult to laminate for the soft cured resin layer cured resin layer-2. On the other hand, when the plastic deformation hardness HV 1 of the cured resin layer- 1 exceeds 2.0 × 10 8 Pa (20 kgf / mm 2 ), the difference from the plastic deformation hardness HV 2 of the cured resin layer-2 becomes small. In a transparent touch panel using such a transparent conductive laminate, it is difficult to ensure electrical characteristics (particularly end pressing durability).
The film thickness of the cured resin layer-1 is preferably 1 μm ≦ d 1 ≦ 10 μm, more preferably 3 μm ≦ d 1 ≦ 10 μm.

モノマーとして用いるウレタンアクリレートは、ジオールなどのポリオールを、ジイソシアネートなどの多官能性イソシアネートと反応させ、次にヒドロキシ官能性アクリレートで末端を封止されたものである。ポリオールとしては、ポリエーテルポリオール、ポリエステルポリオール、炭化水素ポリオール等が挙げられる。これらのポリオールのコポリマーを使用しても良いし、これらのポリオールを単独または複数を組合せて使用しても良い。ポリオールの数平均分子量は、約200〜10000が好ましく、更に好ましくは500〜5000である。ポリオールの数平均分子量が200未満の場合、形成された硬化樹脂層の塑性変形硬さが大きくなり、所定の硬化樹脂層を得ることが困難になり、更に透明タッチパネルに必要な電気特性を確保することが困難となる。更にポリオールの数平均分子量が10000を超える場合、形成された硬化樹脂層の塑性変形硬さが極端に小さくなり加工が困難になる。更には透明導電層を支持できなくなる問題が生じる可能性もある。   The urethane acrylate used as the monomer is obtained by reacting a polyol such as a diol with a polyfunctional isocyanate such as diisocyanate and then sealing the end with a hydroxy functional acrylate. Examples of the polyol include polyether polyol, polyester polyol, hydrocarbon polyol and the like. Copolymers of these polyols may be used, or these polyols may be used alone or in combination. The number average molecular weight of the polyol is preferably about 200 to 10,000, more preferably 500 to 5,000. When the number average molecular weight of the polyol is less than 200, the plastic deformation hardness of the formed cured resin layer becomes large, making it difficult to obtain a predetermined cured resin layer, and further ensuring the electrical characteristics necessary for the transparent touch panel. It becomes difficult. Furthermore, when the number average molecular weight of the polyol exceeds 10,000, the plastic deformation hardness of the formed cured resin layer becomes extremely small and processing becomes difficult. Furthermore, there may be a problem that the transparent conductive layer cannot be supported.

合成ゴムとしては、例えば、イソプレンゴム、ブタジエンゴム、ブチルゴム、エチレンプロピレンゴム、クロロプレンゴム、エピクロルヒドリンゴム、アクリルゴム、ウレタンゴム、シリコーンゴム、フッ素ゴム、スチレンブタジエンゴム、クロロスルフォン化ゴム、塩素化ポリエチレン、ニトリルゴム、水素添加アクリロニトリルブタジエンゴム、多硫化ゴム、アクリル酸エステル共重合体、各種合成ラテックス等が挙げられる。これらの合成ゴムのブロックコポリマーを使用しても良いし、これらを単独または複数を組合せて使用しても良い。
上記ウレタンアクリレートと合成ゴム以外の硬化樹脂成分として電離放射線硬化型樹脂や熱硬化型樹脂等が挙げられる。
Examples of synthetic rubber include isoprene rubber, butadiene rubber, butyl rubber, ethylene propylene rubber, chloroprene rubber, epichlorohydrin rubber, acrylic rubber, urethane rubber, silicone rubber, fluorine rubber, styrene butadiene rubber, chlorosulfonated rubber, chlorinated polyethylene, Examples thereof include nitrile rubber, hydrogenated acrylonitrile butadiene rubber, polysulfide rubber, acrylate copolymer, and various synthetic latexes. These synthetic rubber block copolymers may be used, or these may be used alone or in combination.
Examples of cured resin components other than the urethane acrylate and synthetic rubber include ionizing radiation curable resins and thermosetting resins.

電離放射線硬化型樹脂を与えるモノマーとしては、例えばポリオールアクリレート、ポリエステルアクリレート、上記以外のウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、変性スチレンアクリレート、メラミンアクリレート、シリコン含有アクリレート等の単官能及び多官能アクリレートを挙げることができる。   Monomers and polyfunctional acrylates such as polyol acrylates, polyester acrylates, urethane acrylates other than those mentioned above, epoxy acrylates, modified styrene acrylates, melamine acrylates, silicon-containing acrylates, and the like can be given as monomers that give ionizing radiation curable resins. .

具体的なモノマーとしては、例えばトリメチロールプロパントリメタクリレート、トリメチロールプロパンエチレンオキサイド変性トリアクリレート、トリメチロールプロパンプロピレンオキサイド変性トリアクリレート、イソシアヌル酸エチレンオキサイド変性トリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、ジメチロールトリシクロデカンジアクリレート、トリプロピレングリコールトリアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、エポキシ変性アクリレート、ウレタン変性アクリレート、エポキシ変性アクリレート等の多官能モノマーが挙げられる。これらを単独で用いても、数種類を混合して用いてよく、また場合によっては、各種アルコキシシランの加水分解物を適量添加してもよい。なお、電離放射線によって樹脂層の重合を行う場合には公知の光重合開始剤が適量添加される。また必要に応じ光増感剤を適量添加してもよい。   Specific monomers include, for example, trimethylolpropane trimethacrylate, trimethylolpropane ethylene oxide modified triacrylate, trimethylolpropane propylene oxide modified triacrylate, isocyanuric acid ethylene oxide modified triacrylate, pentaerythritol triacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate. And polyfunctional monomers such as dimethylol tricyclodecane diacrylate, tripropylene glycol triacrylate, diethylene glycol diacrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, epoxy-modified acrylate, urethane-modified acrylate, and epoxy-modified acrylate. Even if these are used independently, several types may be mixed and used, and depending on the case, hydrolysates of various alkoxysilanes may be added in appropriate amounts. When the resin layer is polymerized by ionizing radiation, an appropriate amount of a known photopolymerization initiator is added. Further, an appropriate amount of a photosensitizer may be added as necessary.

光重合開始剤としては、アセトフェノン、ベンゾフェノン、ベンゾイン、ベンゾイルベンゾエート、チオキサンソン類等が挙げられ、光増感剤としては、トリエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン等が挙げられる。   Examples of the photopolymerization initiator include acetophenone, benzophenone, benzoin, benzoylbenzoate, and thioxanthone. Examples of the photosensitizer include triethylamine and tri-n-butylphosphine.

熱硬化型樹脂としては、メチルトリエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン等のシラン化合物をモノマーとしたオルガノシラン系の熱硬化型樹脂やエーテル化メチロールメラミン等をモノマーとしたメラミン系熱硬化型樹脂、イソシアネート系熱硬化型樹脂、フェノール系熱硬化型樹脂、エポキシ硬化型樹脂等が挙げられる。これら硬化樹脂を単独又は複数組合せて使用することも可能である。また必要に応じ熱可塑性樹脂を混合することも可能である。なお、熱によって樹脂層の架橋を行う場合には公知の反応促進剤、硬化剤が適量添加される。   Thermosetting resins include organosilane thermosetting resins using silane compounds such as methyltriethoxysilane and phenyltriethoxysilane as monomers, melamine thermosetting resins using etherified methylol melamine and the like, and isocyanates. System thermosetting resin, phenol type thermosetting resin, epoxy curable resin and the like. These curable resins may be used alone or in combination. Moreover, it is also possible to mix a thermoplastic resin as needed. When the resin layer is crosslinked by heat, an appropriate amount of a known reaction accelerator and curing agent is added.

反応促進剤としては、例えばトリエチレンジアミン、ジブチル錫ジラウレート、ベンジルメチルアミン、ピリジン等が挙げられる。硬化剤としては、例えばメチルヘキサヒドロ無水フタル酸、4,4′−ジアミノジフェニルメタン、4,4′−ジアミノ−3,3′−ジエチルジフェニルメタン、ジアミノジフェニルスルフォン等が挙げられる。   Examples of the reaction accelerator include triethylenediamine, dibutyltin dilaurate, benzylmethylamine, pyridine and the like. Examples of the curing agent include methylhexahydrophthalic anhydride, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-diethyldiphenylmethane, diaminodiphenylsulfone, and the like.

希釈溶剤としては、水、アルコール系、炭化水素系の溶剤、例えば、エタノール、イソプロピルアルコール、ブタノール、1−メトキシ−2−プロパノール、ヘキサン、シクロヘキサン、リグロイン等が好ましい。合成ゴムを使用する場合は、キシレン、トルエン、ケトン類、例えばメチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等を使用するのが好ましい。この他に、シクロヘキサノン、酢酸ブチル、酢酸イソブチル等の極性溶媒も使用可能である。これらのものは単独あるいは2種類以上の混合溶剤として用いることが出来る。   As the diluting solvent, water, alcohol-based or hydrocarbon-based solvents such as ethanol, isopropyl alcohol, butanol, 1-methoxy-2-propanol, hexane, cyclohexane, ligroin and the like are preferable. When using synthetic rubber, it is preferable to use xylene, toluene, ketones such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and the like. In addition, polar solvents such as cyclohexanone, butyl acetate, and isobutyl acetate can also be used. These can be used alone or as a mixed solvent of two or more.

硬化樹脂層−1の形成方法としては、ドクターナイフ、バーコーター、グラビアロールコーター、カーテンコーター、ナイフコーター、スピンコータ−等の公知の塗工機械を用いる方法、スプレー法、浸漬法等が挙げられる。実際の塗工法としては、前記のモノマー化合物等を各種有機溶剤に溶解して、濃度や粘度を調節した塗工液を用いて、透明有機高分子基板上に塗工後、放射線照射や加熱処理等により層を硬化させる方法が挙げられる。
また硬化樹脂層−1の表面を粗面化させる場合や硬さを調整する等ために、平均1次粒子径が0.001μm以上5μm以下の微粒子を単独で、または平均1次粒子径の異なる2種類以上の微粒子を組み合わせ、硬化樹脂層-1に含有させることも可能である。
Examples of the method for forming the cured resin layer-1 include a method using a known coating machine such as a doctor knife, a bar coater, a gravure roll coater, a curtain coater, a knife coater, and a spin coater, a spray method, and a dipping method. As an actual coating method, the above-mentioned monomer compounds are dissolved in various organic solvents and coated on a transparent organic polymer substrate using a coating liquid whose concentration and viscosity are adjusted, followed by radiation irradiation and heat treatment. The method of hardening a layer by etc. is mentioned.
Further, in order to roughen the surface of the cured resin layer-1 or to adjust the hardness, fine particles having an average primary particle diameter of 0.001 μm or more and 5 μm or less are used alone, or the average primary particle diameter is different. Two or more kinds of fine particles may be combined and contained in the cured resin layer-1.

<硬化樹脂層−2の説明>
本発明に用いられる硬化樹脂層−2としては、電離放射線硬化型樹脂や熱硬化型樹脂等が挙げられる。
電離放射線硬化型樹脂としては、前記硬化樹脂層−1と同じものを用いることができる。ただし、硬化樹脂層−2は硬化樹脂層−1よりも高い塑性変形硬さをもつことが重要である。すなわち、硬化樹脂層−2の塑性変形硬さは次のように定義される。
<Description of cured resin layer-2>
Examples of the cured resin layer-2 used in the present invention include ionizing radiation curable resins and thermosetting resins.
As the ionizing radiation curable resin, the same resin as the cured resin layer-1 can be used. However, it is important that the cured resin layer-2 has a higher plastic deformation hardness than the cured resin layer-1. That is, the plastic deformation hardness of the cured resin layer-2 is defined as follows.

透明有機高分子基板(厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW))上に厚さ5μmの硬化樹脂層−2を単独で形成し押し込み硬さ試験機(ナノインデンテーションテスター・設定押し込み深さ:0.5μm)で測定した時の塑性変形硬さが5.9×10Pa≦HV≦1.1×10Pa(60kgf/mm≦HV≦110kgf/mm)が好ましく、更に好ましくは6.9×10Pa≦HV≦1.1×10Pa(70kgf/mm≦HV≦110kgf/mm)である。硬化樹脂層−2の塑性変形硬さHVが1.1×10Pa(110kgf/mm)を超える場合、特性上大きな問題はないが硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2を透明高分子基板上に積層させた場合のHVが8.5×10Pa(85kgf/mm)超える可能性があり、このような透明導電性積層体を使用した透明タッチパネルでは電気特性(特に端押し耐久性)を確保することが困難となる。反対に硬化樹脂層−2の塑性変形硬さHVが5.9×10Pa(60kgf/mm)未満の硬化樹脂層では、硬化樹脂層−1の塑性変形硬さHVとの差が小さくなり、このような透明導電性積層体を使用した透明タッチパネルでは電気特性(特に端押し耐久性)を確保することが困難となる。
硬化樹脂層−2の膜厚は1μm≦d≦10μmが好ましく、更に好ましくは2.5μm≦d≦8μmである。
A cured resin layer-2 having a thickness of 5 μm is independently formed on a transparent organic polymer substrate (polyethylene terephthalate film having a thickness of 188 μm (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd.)), and an indentation hardness tester (nanoindentation tester). -Plastic deformation hardness when measured at a set indentation depth: 0.5 μm is 5.9 × 10 8 Pa ≦ HV 2 ≦ 1.1 × 10 9 Pa (60 kgf / mm 2 ≦ HV 2 ≦ 110 kgf / mm) 2) is preferably used, more preferably 6.9 × 10 8 Pa ≦ HV 2 ≦ 1.1 × 10 9 Pa (70kgf / mm 2 ≦ HV 2 ≦ 110kgf / mm 2). When the plastic deformation hardness HV 2 of the cured resin layer- 2 exceeds 1.1 × 10 9 Pa (110 kgf / mm 2 ), there is no significant problem in characteristics, but the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 are transparent. There is a possibility that HV 3 in the case where are laminated on a polymer substrate exceeds 8.5 × 10 8 Pa (85kgf / mm 2), the transparent touch panel using such a transparent electroconductive laminate electrical characteristics (in particular, It becomes difficult to ensure end pushing durability. On the contrary, in the cured resin layer having a plastic deformation hardness HV 2 of less than 5.9 × 10 8 Pa (60 kgf / mm 2 ), the difference from the plastic deformation hardness HV 1 of the cured resin layer-1 In the transparent touch panel using such a transparent conductive laminate, it is difficult to ensure electrical characteristics (particularly end-press durability).
The film thickness of the cured resin layer-2 is preferably 1 μm ≦ d 2 ≦ 10 μm, more preferably 2.5 μm ≦ d 2 ≦ 8 μm.

可動電極基板表面、固定電極基板表面がいずれも平坦である場合、透明タッチパネルを作製した時、可動電極基板表面からの反射光と固定電極基板表面からの反射光の干渉によるニュートンリングが観察されることがある。この反射光を光学的に散乱させることによりニュートンリングを防止するために硬化樹脂層−1もしくは硬化樹脂層−2の表面を粗面化してもよい。硬化樹脂層−1もしくは硬化樹脂層−2の表面を粗面化する手法としては、1次粒子径が0.001μm以上5μm以下の微粒子を単独で、または1次粒子径の異なる2種類以上の微粒子を組み合わせ、硬化樹脂層−1もしくは硬化樹脂層−2に含有させる。前記手法により粗面化された好ましい粗面化範囲は硬化樹脂層−2のJIS B0601−1994で定義される十点平均粗さ(Rz)が、100.0nm以上400.0nm以下であり、かつ算術平均粗さ(Ra)が、10.0nm以上50.0nm以下で、更にかつJIS B7361で定義されるヘーズが5%以下である。   When both the movable electrode substrate surface and the fixed electrode substrate surface are flat, when a transparent touch panel is produced, Newton rings due to interference between reflected light from the movable electrode substrate surface and reflected light from the fixed electrode substrate surface are observed. Sometimes. In order to prevent Newton's ring by optically scattering the reflected light, the surface of the cured resin layer-1 or the cured resin layer-2 may be roughened. As a method for roughening the surface of the cured resin layer-1 or the cured resin layer-2, fine particles having a primary particle diameter of 0.001 μm or more and 5 μm or less are used alone, or two or more kinds having different primary particle diameters are used. Fine particles are combined and contained in the cured resin layer-1 or the cured resin layer-2. The preferable roughening range roughened by the above-mentioned method has a ten-point average roughness (Rz) defined by JIS B0601-1994 of the cured resin layer-2 of 100.0 nm or more and 400.0 nm or less, and The arithmetic average roughness (Ra) is 10.0 nm or more and 50.0 nm or less, and the haze defined by JIS B7361 is 5% or less.

<透明有機高分子基板>
本発明に用いられる透明有機高分子基板は、透明性に優れる熱可塑性または熱硬化性の有機高分子化合物をフィルムとしたものを用いることができる。かかる有機高分子化合物としては、耐熱性に優れた透明な有機高分子であれば特に限定しない。例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレン−2、6−ナフタレート、ポリジアリルフタレート等のポリエステル系樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルサルフォン樹脂、ポリサルフォン樹脂、ポリアリレート樹脂、アクリル樹脂、セルロースアセテート樹脂、非晶性ポリオレフィン等が挙げられる。もちろんこれらはホモポリマー、コポリマーとして、あるいは単独またはブレンドとしても使用し得る。これらの透明有機高分子基板は一般的な溶融押出し法もしくは溶液流延法等により好適に成形されるが、必要に応じて成形した透明有機高分子フィルムに一軸延伸もしくは二軸延伸を実施して、機械的強度を高めたり、光学的機能を高めたりすることも好ましく行われる。
<Transparent organic polymer substrate>
As the transparent organic polymer substrate used in the present invention, a film made of a thermoplastic or thermosetting organic polymer compound having excellent transparency can be used. Such an organic polymer compound is not particularly limited as long as it is a transparent organic polymer excellent in heat resistance. For example, polyester resins such as polyethylene terephthalate, polyethylene-2,6-naphthalate, polydiallyl phthalate, polycarbonate resin, polyether sulfone resin, polysulfone resin, polyarylate resin, acrylic resin, cellulose acetate resin, amorphous polyolefin, etc. Is mentioned. Of course they can be used as homopolymers, copolymers, or alone or as a blend. These transparent organic polymer substrates are suitably formed by a general melt extrusion method or a solution casting method, etc., but the transparent organic polymer film formed is subjected to uniaxial stretching or biaxial stretching as necessary. It is also preferable to increase the mechanical strength or increase the optical function.

本発明の透明導電積層体を透明タッチパネルの可動電極基板として用いる場合には、透明タッチパネルをスイッチとして動作させるための可撓性と平坦性を保つ為の強度の点から、基板形状としての厚みは75〜400μmのフィルム状のものが好ましい。固定電極基板として用いる場合は平坦性を保つ為の強度の点から厚さ0.4〜4.0mmのシート状のものが好ましいが、厚さ50〜400μmのフィルム状のものを他のシートと貼り合わせ、全体の厚さを0.4〜4.0mmになるような構成にして用いても良い。あるいは、厚さ50〜400μmのフィルム状のものをディスプレイ表面に貼付けた構成で用いることも可能である。   When the transparent conductive laminate of the present invention is used as a movable electrode substrate of a transparent touch panel, the thickness as the substrate shape is from the point of strength to maintain flexibility and flatness for operating the transparent touch panel as a switch. A film shape of 75 to 400 μm is preferable. When used as a fixed electrode substrate, a sheet-shaped sheet having a thickness of 0.4 to 4.0 mm is preferable from the viewpoint of strength for maintaining flatness, but a film-shaped sheet having a thickness of 50 to 400 μm is used as another sheet. It is also possible to use a structure in which the total thickness is 0.4 to 4.0 mm. Or it is also possible to use it by the structure which stuck the film-form thing of thickness 50-400 micrometers on the display surface.

本発明の透明導電積層体を透明タッチパネルの可動電極基板として用いた場合には、固定電極基板には前記有機高分子フィルム基板、ガラス基板あるいはこれらの積層体基板上に透明導電層を形成したものを用いても良い。透明タッチパネルの強度、重量の点から、単層又は積層体よりなる固定電極基板の厚さは0.4〜4.0mmが好ましい。   When the transparent conductive laminate of the present invention is used as a movable electrode substrate of a transparent touch panel, the fixed electrode substrate is formed by forming a transparent conductive layer on the organic polymer film substrate, the glass substrate, or a laminate substrate thereof. May be used. From the viewpoint of the strength and weight of the transparent touch panel, the thickness of the fixed electrode substrate made of a single layer or a laminate is preferably 0.4 to 4.0 mm.

また、最近では透明タッチパネルの入力側(使用者側)の面に偏光板または、(偏光板+位相差フィルム)を積層した構成の新しいタイプの透明タッチパネルが開発されてきている。この構成の利点は主として前記偏光板または、(偏光板+位相差フィルム)の光学作用によって、透明タッチパネル内部における外来光の反射率を半分以下に低減し、透明タッチパネルを設置した状態でのディスプレイのコントラストを向上させることにある。   Recently, a new type of transparent touch panel in which a polarizing plate or (polarizing plate + retardation film) is laminated on the input side (user side) surface of the transparent touch panel has been developed. The advantage of this configuration is that the reflectance of external light inside the transparent touch panel is reduced to less than half by the optical action of the polarizing plate or (polarizing plate + retardation film), and the display with the transparent touch panel installed The purpose is to improve contrast.

このようなタイプの透明タッチパネルでは、偏光が透明導電積層体を通過することから、透明有機高分子フィルムとして光学等方性に優れた特性を有するものを用いる事が好ましく、具体的には基板の遅相軸方向の屈折率をn、進相軸方向の屈折率をn、基板の厚みをd(nm)とした場合にRe=(n−n)×d(nm)で表される面内リターデーション値Reが少なくとも30nm以下であることが好ましく、20nm以下であることがより好ましい。なお、ここで基板の面内リターデーション値は分光エリプソメータ(日本分光株式会社製 M−150)を用いて測定した波長590nmでの値で代表している。 In such a type of transparent touch panel, since polarized light passes through the transparent conductive laminate, it is preferable to use a transparent organic polymer film having a property excellent in optical isotropy. Table in a slow axis direction of the refractive index n x, the refractive index n y in the fast axis direction, Re = when the thickness of the substrate was set to d (nm) (n x -n y) × d (nm) The in-plane retardation value Re is preferably at least 30 nm or less, and more preferably 20 nm or less. Here, the in-plane retardation value of the substrate is represented by a value at a wavelength of 590 nm measured using a spectroscopic ellipsometer (M-150 manufactured by JASCO Corporation).

この様に例示した透明導電性積層体を偏光が通過するタイプの透明タッチパネルの用途においては、透明電極基板の面内リターデーション値が非常に重要であるが、これに加えて透明電極基板の三次元屈折率特性、すなわち基板の膜厚方向の屈折率をnとした時にK={(n+n)/2−n}×dで表されるK値が−250〜+150nmであることが好ましく、−200〜+100nmの範囲にあることが透明タッチパネルの優れた視野角特性を得る上でより好ましい。 In the application of a transparent touch panel in which polarized light passes through the transparent conductive laminate exemplified above, the in-plane retardation value of the transparent electrode substrate is very important. original refractive index profile, namely in K = {(n x + n y) / 2-n z} × K value represented by d is -250 + 150 nm when the film thickness direction of the refractive index of the substrate was n z It is more preferable that it is in the range of −200 to +100 nm in order to obtain excellent viewing angle characteristics of the transparent touch panel.

これらの光学等方性に優れた特性を示す透明有機高分子基板としては、例えば、ポリカーボネート、非晶性ポリアリレート、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、トリアセチルセルロース、ジアセチルセルロース、シクロオレフィンポリマーおよびこれらの変性物もしくは別種材料との共重合物等をフィルム状に成形した成型基板、エポキシ系樹脂等の熱硬化型樹脂の成形基板、アクリル樹脂等の紫外線硬化型樹脂をフィルムやシート状に成形した成形基板等が例示される。成形性や製造コスト、熱的安定性等の観点から、ポリカーボネート、非晶性ポリアリレート、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、シクロオレフィンポリマーおよびこれらの変性物もしくは別種材料との共重合物等の成型基板が最も好ましく挙げられる。   Examples of these transparent organic polymer substrates exhibiting excellent optical isotropy characteristics include polycarbonate, amorphous polyarylate, polyether sulfone, polysulfone, triacetyl cellulose, diacetyl cellulose, cycloolefin polymers, and these. Molded substrate formed by molding a modified product or copolymer with another material into a film shape, a molded substrate made of a thermosetting resin such as epoxy resin, or an ultraviolet curable resin such as an acrylic resin formed into a film or sheet A board | substrate etc. are illustrated. Molded substrates such as polycarbonate, amorphous polyarylate, polyether sulfone, polysulfone, cycloolefin polymer and their modified products or copolymers with different materials from the viewpoint of moldability, production cost, thermal stability, etc. Is most preferable.

より具体的には、ポリカーボネートとしては例えば、ビスフェノールA、1,1−ジ(4−フェノール)シクロヘキシリデン、3,3,5−トリメチル−1,1−ジ(4−フェノール)シクロヘキシリデン、フルオレン−9,9−ジ(4−フェノール)、フルオレン−9,9−ジ(3−メチル−4−フェノール)等からなる群から選ばれる少なくとも一つの成分をモノマー単位とする重合体や共重合体またはこれらの混合物であり、平均分子量がおよそ15000〜100000の範囲のポリカーボネート(商品としては、例えば帝人化成株式会社製「パンライト」やバイエル社製「Apec HT」等が例示される)の成型基板が好ましく用いられる。   More specifically, examples of the polycarbonate include bisphenol A, 1,1-di (4-phenol) cyclohexylidene, 3,3,5-trimethyl-1,1-di (4-phenol) cyclohexylidene, Polymer or copolymer having at least one component selected from the group consisting of fluorene-9,9-di (4-phenol), fluorene-9,9-di (3-methyl-4-phenol) and the like as a monomer unit Molding of polycarbonate or an average molecular weight in the range of about 15,000 to 100,000 (for example, “Panlite” manufactured by Teijin Chemicals Ltd., “Apec HT” manufactured by Bayer, etc.) A substrate is preferably used.

また非晶性ポリアリレートとしては、商品として鐘淵化学工業株式会社製「エルメック」、ユニチカ株式会社製「Uポリマー」、イソノバ社製「イサリル」等の成型基板が例示される。
シクロオレフィンポリマーとしては、商品として日本ゼオン株式会社製「ゼオノア」やJSR株式会社製「アートン」等の成型基板が例示される。
これらの高分子化合物を用いた成形基板の製造方法としては、溶融押出法や溶液流延法、射出成型法等の方法が例示されるが、優れた光学等方性を得る観点からは、特に溶液流延法を用いて成形を行うことが好ましい。
Examples of the amorphous polyarylate include molded substrates such as “Elmec” manufactured by Kaneka Chemical Co., Ltd., “U Polymer” manufactured by Unitika Co., Ltd., “Isalil” manufactured by Isonova, and the like.
Examples of the cycloolefin polymer include molded substrates such as “ZEONOR” manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd. and “ARTON” manufactured by JSR Corporation.
Examples of the method for producing a molded substrate using these polymer compounds include methods such as a melt extrusion method, a solution casting method, and an injection molding method, but particularly from the viewpoint of obtaining excellent optical isotropy. It is preferable to perform molding using a solution casting method.

<硬化樹脂層−3>
本発明においては、硬化樹脂層−2と後述の透明導電層の間に、全光線透過率等の光学特性を改良するために、硬化樹脂層−3を設けてもよい。本発明に用いられる硬化樹脂層−3としては、電離放射線硬化型樹脂や熱硬化型樹脂等が挙げられる。
電離放射線硬化性樹脂としては、ポリオールアクリレート、ポリエステルアクリレート、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、変性スチレンアクリレート、メラミンアクリレート、シリコン含有アクリレート等の単官能及び多官能アクリレート系電離放射線硬化型樹脂等がある。
<Curing resin layer-3>
In the present invention, a cured resin layer-3 may be provided between the cured resin layer-2 and a transparent conductive layer described later in order to improve optical characteristics such as total light transmittance. Examples of the cured resin layer-3 used in the present invention include ionizing radiation curable resins and thermosetting resins.
Examples of the ionizing radiation curable resin include monofunctional and polyfunctional acrylate ionizing radiation curable resins such as polyol acrylate, polyester acrylate, urethane acrylate, epoxy acrylate, modified styrene acrylate, melamine acrylate, and silicon-containing acrylate.

熱硬化型樹脂としては、メチルトリエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン等のオルガノシラン系の熱硬化型樹脂(アルコキシシラン)やエーテル化メチロールメラミン等のメラミン系熱硬化型樹脂やイソシアネート系熱硬化型樹脂、フェノール系熱硬化型樹脂、エポキシ系硬化型樹脂等が挙げられる。これら硬化樹脂を単独又は複数組合せて使用することも可能である。また必要に応じ熱可塑性樹脂を混合することも可能である。なお、熱によって樹脂層の架橋を行う場合には公知の反応促進剤、硬化剤が適量添加される。反応促進剤としては、例えばトリエチレンジアミン、ジブチル錫ジラウレート、ベンジルメチルアミン、ピリジン等が挙げられる。硬化剤としては、例えばメチルヘキサヒドロ無水フタル酸、4,4′−ジアミノジフェニルメタン、4,4′−ジアミノ−3,3′−ジエチルジフェニルメタン、ジアミノジフェニルスルフォン等が挙げられる。   Examples of thermosetting resins include organosilane thermosetting resins (alkoxysilane) such as methyltriethoxysilane and phenyltriethoxysilane, melamine thermosetting resins such as etherified methylol melamine, and isocyanate thermosetting resins. , Phenol-based thermosetting resins, epoxy-based curable resins, and the like. These curable resins may be used alone or in combination. Moreover, it is also possible to mix a thermoplastic resin as needed. When the resin layer is crosslinked by heat, an appropriate amount of a known reaction accelerator and curing agent is added. Examples of the reaction accelerator include triethylenediamine, dibutyltin dilaurate, benzylmethylamine, pyridine and the like. Examples of the curing agent include methylhexahydrophthalic anhydride, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-diethyldiphenylmethane, diaminodiphenylsulfone, and the like.

上記アルコキシシランはこれを加水分解ならびに縮合重合することにより硬化樹脂層を形成する。かかるアルコキシシランとしては、例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、β−(3、4エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルジメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン等が例示される。   The alkoxysilane forms a cured resin layer by hydrolysis and condensation polymerization. Examples of the alkoxysilane include tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, and β- (3,4 epoxy cyclohexyl) ethyl. Examples include trimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, N-β (aminoethyl) γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β (aminoethyl) γ-aminopropyldimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, and the like. .

これらのアルコキシシランは、層の機械的強度や密着性及び耐溶剤性等の観点から二種類以上を混合して用いることが好ましく、特に耐溶剤性の観点から、アルコキシシランの全組成中に重量比率0.5〜40%の範囲で、分子内にアミノ基を有するアルコキシシランが含有されていることが好ましい。   These alkoxysilanes are preferably used in a mixture of two or more from the viewpoints of the mechanical strength, adhesion and solvent resistance of the layer, and in particular from the viewpoint of solvent resistance, It is preferable that the alkoxysilane which has an amino group in a molecule | numerator is contained in the range of 0.5-40% of a ratio.

アルコキシシランは、モノマーで用いてもあらかじめ加水分解と脱水縮合を行って適度にオリゴマー化して用いても良いが、通常、適当な有機溶剤に溶解、希釈した塗工液を基板上に塗工する。基板上に形成された塗工層は、空気中の水分等により加水分解が進行し、続いて、脱水縮合により架橋が進行する。   Alkoxysilane may be used as a monomer or may be used after being hydrolyzed and dehydrated and condensed into a suitable oligomer. Usually, a coating solution dissolved and diluted in an appropriate organic solvent is applied onto a substrate. . The coating layer formed on the substrate is hydrolyzed by moisture in the air and the like, and subsequently cross-linked by dehydration condensation.

一般に、架橋の促進には適当な加熱処理が必要であり、塗工工程において100℃以上の温度で数分間以上の熱処理を施すことが好ましい。また場合によっては、前記熱処理と並行して、紫外線等の活性光線を塗工層に照射することにより、架橋度をより高めることが出来る。   In general, an appropriate heat treatment is required to promote crosslinking, and it is preferable to perform a heat treatment for several minutes or more at a temperature of 100 ° C. or higher in the coating process. In some cases, the degree of crosslinking can be further increased by irradiating the coating layer with actinic rays such as ultraviolet rays in parallel with the heat treatment.

希釈溶剤としては、アルコール系、炭化水素系の溶剤、例えば、エタノール、イソプロピルアルコール、ブタノール、1−メトキシ−2−プロパノール、ヘキサン、シクロヘキサン、リグロイン等が好ましい。この他に、キシレン、トルエン、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン、酢酸イソブチル等の極性溶媒も使用可能である。これらのものは単独あるいは2種類以上の混合溶剤として用いることが出来る。   As the diluting solvent, alcohol-based or hydrocarbon-based solvents such as ethanol, isopropyl alcohol, butanol, 1-methoxy-2-propanol, hexane, cyclohexane, ligroin and the like are preferable. In addition, polar solvents such as xylene, toluene, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, and isobutyl acetate can also be used. These can be used alone or as a mixed solvent of two or more.

硬化樹脂層−3の形成方法としては、前記硬化樹脂層−1と同様の方法を用いることができる。
硬化樹脂層−3の屈折率を調整するために、平均1次粒子径が100nm以下の金属酸化物または金属フッ化物からなる超微粒子Cまたはフッ素系樹脂を単独で、もしくは複数組合せて、硬化樹脂層−3中に配合しても良い。硬化樹脂層−3の屈折率は、硬化樹脂層−2の屈折率より小さく、且つ屈折率が1.20〜1.55であることが好ましく、更に好ましくは1.20〜1.45である。硬化樹脂層−3の膜厚は0.05〜0.5μmであることが好ましく、更に好ましくは0.05〜0.3μmである。
As a method for forming the cured resin layer-3, the same method as that for the cured resin layer-1 can be used.
In order to adjust the refractive index of the cured resin layer-3, an ultrafine particle C or a fluorine-based resin composed of a metal oxide or metal fluoride having an average primary particle diameter of 100 nm or less alone or in combination, a cured resin You may mix | blend in layer-3. The refractive index of the cured resin layer-3 is smaller than the refractive index of the cured resin layer-2, and the refractive index is preferably 1.20 to 1.55, more preferably 1.20 to 1.45. . The thickness of the cured resin layer-3 is preferably 0.05 to 0.5 μm, and more preferably 0.05 to 0.3 μm.

該超微粒子Cの平均1次粒子径は100nm以下が好ましく、更に好ましくは50nm以下である。該超微粒子Cの1次粒子径を100nm以下に制御することにより、硬化樹脂層−3が白化することなく良好な光学特性を得ることができる。   The average primary particle diameter of the ultrafine particles C is preferably 100 nm or less, more preferably 50 nm or less. By controlling the primary particle diameter of the ultrafine particles C to 100 nm or less, the cured resin layer-3 can be obtained with good optical characteristics without being whitened.

該超微粒子Cとしては、例えばBi、CeO、In、(In・SnO)、HfO、La、MgF、Sb、(Sb・SnO)、SiO、SnO、TiO、Y、ZnO、ZrOなどの金属酸化物または金属フッ化物の超微粒子が例示され、好ましくはMgF、SiO等の屈折率が1.55以下の金属酸化物または金属フッ化物の超微粒子である。 Examples of the ultrafine particles C include Bi 2 O 3 , CeO 2 , In 2 O 3 , (In 2 O 3 .SnO 2 ), HfO 2 , La 2 O 3 , MgF 2 , Sb 2 O 5 , (Sb 2 O 5 .SnO 2 ), SiO 2 , SnO 2 , TiO 2 , Y 2 O 3 , ZnO, ZrO 2 and other metal oxides or ultra-fine particles of metal fluoride are exemplified, preferably MgF 2 , SiO 2, etc. Metal oxide or metal fluoride ultrafine particles having a refractive index of 1.55 or less.

該超微粒子Cの含有量は、熱硬化型樹脂または/及び電離放射線硬化型樹脂100重量部に対して10〜400重量部、好ましく30〜400重量部、更に好ましくは50〜300重量部である。超微粒子Cの含有量が400重量部を超えると、膜強度や密着性が不充分となる場合があり、一方超微粒子の含有量が10重量部未満では所定の屈折率が得られなくなる場合がある。   The content of the ultrafine particles C is 10 to 400 parts by weight, preferably 30 to 400 parts by weight, more preferably 50 to 300 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the thermosetting resin and / or ionizing radiation curable resin. . If the content of the ultrafine particles C exceeds 400 parts by weight, the film strength and adhesion may be insufficient. On the other hand, if the content of the ultrafine particles is less than 10 parts by weight, a predetermined refractive index may not be obtained. is there.

フッ素系樹脂としては、例えばフッ化ビニリデン、ヘキサフルオロプロピレン、テトラフルオロエチレン、フルオロエチレン、トリフルオロエチレン、クロロトリフルオロエチレン、1,2−ジクロロ−1,2−ジフルオロエチレン、2−ブロモ−3,3,3−トリフルオロエチレン、3−ブロモ−3,3−ジフルオロプロピレン、3,3,3−トリフルオロプロピレン、1,1,2−トリクロロ−3,3,3−トリフルオロプロピレン、α−トリフルオロメタクリル酸等のフッ素原子を有するモノマー成分を5〜70重量%を含有されたものが例示される。   Examples of the fluorine resin include vinylidene fluoride, hexafluoropropylene, tetrafluoroethylene, fluoroethylene, trifluoroethylene, chlorotrifluoroethylene, 1,2-dichloro-1,2-difluoroethylene, 2-bromo-3, 3,3-trifluoroethylene, 3-bromo-3,3-difluoropropylene, 3,3,3-trifluoropropylene, 1,1,2-trichloro-3,3,3-trifluoropropylene, α-tripropylene The thing containing 5-70 weight% of monomer components which have fluorine atoms, such as fluoromethacrylic acid, is illustrated.

フッ素系樹脂の含有量は、熱硬化型樹脂または/及び電離放射線硬化型樹脂100重量部に対して50〜300重量部、好ましくは100〜300重量部、更に好ましくは150〜250重量部である。フッ素系樹脂の含有量が300重量部を超えると、膜強度や密着性が不充分となる場合あり、一方フッ素系樹脂の含有量が50重量部未満では所定の屈折率が得られなくなる場合がある。   The content of the fluororesin is 50 to 300 parts by weight, preferably 100 to 300 parts by weight, and more preferably 150 to 250 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the thermosetting resin and / or ionizing radiation curable resin. . If the fluorine resin content exceeds 300 parts by weight, the film strength and adhesion may be insufficient. On the other hand, if the fluorine resin content is less than 50 parts by weight, a predetermined refractive index may not be obtained. is there.

<光学干渉層>
本発明においては、硬化樹脂層−2と後述の透明導電層との間に、屈折率を制御し透明性を高めるために、光学干渉層を設けることができる。
本発明で用いられる光学干渉層は、少なくとも一層の高屈折率層と少なくとも一層の低屈折率層より構成される。高屈折率層と低屈折率層の組み合わせ単位を二つ以上とすることも出来る。光学干渉層が一層の高屈折率層と一層の低屈折率層から構成される場合、光学干渉層の膜厚は30nm〜300nmが好ましく、更に好ましくは50nm〜200nmである。
<Optical interference layer>
In the present invention, an optical interference layer can be provided between the cured resin layer-2 and a transparent conductive layer described later in order to control the refractive index and enhance transparency.
The optical interference layer used in the present invention is composed of at least one high refractive index layer and at least one low refractive index layer. Two or more combination units of the high refractive index layer and the low refractive index layer may be used. When the optical interference layer is composed of one high refractive index layer and one low refractive index layer, the thickness of the optical interference layer is preferably 30 nm to 300 nm, and more preferably 50 nm to 200 nm.

本発明の光学干渉層を構成する高屈折率層は、金属アルコキシドを加水分解ならびに縮合重合して形成された層、または少なくとも1種類以上の金属アルコキシドを加水分解ならびに縮合重合してなる成分と前記硬化樹脂層−3に記載の平均1次粒子径が100nm以下の金属酸化物または金属フッ化物の超微粒子Cとからなる層である。   The high refractive index layer constituting the optical interference layer of the present invention is a layer formed by hydrolysis and condensation polymerization of a metal alkoxide, or a component formed by hydrolysis and condensation polymerization of at least one metal alkoxide and This is a layer composed of ultrafine particles C of metal oxide or metal fluoride having an average primary particle size of 100 nm or less as described in cured resin layer-3.

本発明に用いる金属アルコキシドとして、例えば、チタニウムアルコキシド、ジルコニウムアルコキシド、アルコキシシラン等を挙げることが出来る。
チタニウムアルコキシドとしては、例えばチタニウムテトライソプロポキシド、テトラ−n−プロピルオルトチタネート、チタニウムテトラ−n−ブトキシド、テトラキス(2−エチルヘキシルオキシ)チタネート等が例示される。
ジルコニウムアルコキシドとしては、例えばジルコニウムテトライソプロポキシド、ジルコニウムテトラ−n−ブトキシド等が例示される。
アルコキシシランとしては、前記硬化樹脂層−3に記載したものが例示される。
Examples of the metal alkoxide used in the present invention include titanium alkoxide, zirconium alkoxide, and alkoxysilane.
Examples of the titanium alkoxide include titanium tetraisopropoxide, tetra-n-propyl orthotitanate, titanium tetra-n-butoxide, and tetrakis (2-ethylhexyloxy) titanate.
Examples of the zirconium alkoxide include zirconium tetraisopropoxide and zirconium tetra-n-butoxide.
Examples of the alkoxysilane include those described in the cured resin layer-3.

該高屈折率層中には、前記硬化樹脂層−3に記載の金属酸化物または金属フッ化物からなる、平均1次粒子径が100nm以下の超微粒子Cを単独または2種類以上適当量添加することができる。該超微粒子Cを添加することにより該高屈折率層の屈折率を調整することが可能である。   In the high refractive index layer, ultrafine particles C having an average primary particle diameter of 100 nm or less, which are made of the metal oxide or metal fluoride described in the cured resin layer-3, are added singly or in appropriate amounts. be able to. It is possible to adjust the refractive index of the high refractive index layer by adding the ultrafine particles C.

該高屈折率層中に該超微粒子Cを添加する場合、超微粒子Cと金属アルコキシドの重量比率は、0:100〜66.6:33.3であることが好ましく、更に好ましくは0:100〜60:40である。超微粒子Cと金属アルコキシドの重量比率が66.6:33.3を超える場合は光学干渉層に必要な強度や密着性が不足することがあり、好ましくない。   When the ultrafine particles C are added to the high refractive index layer, the weight ratio of the ultrafine particles C to the metal alkoxide is preferably 0: 100 to 66.6: 33.3, more preferably 0: 100. ~ 60: 40. When the weight ratio between the ultrafine particles C and the metal alkoxide exceeds 66.6: 33.3, strength and adhesion necessary for the optical interference layer may be insufficient, which is not preferable.

該高屈折率層の厚さとしては、好ましくは15〜250nm、より好ましくは30〜150nmである。
また該高屈折率層の屈折率は、後述する低屈折率層及び硬化樹脂層−2の屈折率より大きく、その差が0.2以上であることが好ましい。
The thickness of the high refractive index layer is preferably 15 to 250 nm, more preferably 30 to 150 nm.
Further, the refractive index of the high refractive index layer is larger than those of the low refractive index layer and the cured resin layer-2 described later, and the difference is preferably 0.2 or more.

本発明の光学干渉層を構成する低屈折率層として、前記硬化樹脂層−3に記載の電離放射線硬化型樹脂や熱硬化型樹脂からなる層、及びこれらの層に前記硬化樹脂層−3に記載の金属酸化物または金属フッ化物からなる、平均1次粒子径が100nm以下の超微粒子Cを単独または2種類以上適当量添加したものを用いることができる。該低屈折率層の厚さとしては、好ましくは15〜250nm、より好ましくは30〜150nmである。   As a low refractive index layer constituting the optical interference layer of the present invention, a layer made of an ionizing radiation curable resin or a thermosetting resin described in the curable resin layer-3, and a layer made of these layers to the curable resin layer-3. The ultrafine particles C having an average primary particle diameter of 100 nm or less, which are made of the described metal oxides or metal fluorides, can be used singly or in a suitable amount. The thickness of the low refractive index layer is preferably 15 to 250 nm, more preferably 30 to 150 nm.

<微粒子B>
前記硬化樹脂層−3、或いは前記光学干渉層を構成する高屈折率層及び低屈折率層の少なくとも一方に、微粒子Bを含有してもよい。該硬化樹脂層−3の場合は、平均1次粒子径がそれの膜厚の1.1倍以上でかつ平均1次粒子径が1.2μm以下の微粒子Bを、該光学干渉層の場合は、平均1次粒子径が光学干渉層の総膜厚の1.1倍以上でなおかつ平均1次粒子径が1.2μm以下の微粒子Bを用いる。これにより、透明導電層表面が粗面化され、固定電極基板の透明導電層表面と可動電極基板の透明導電層表面との引っ付き現象による誤作動を抑制することが可能となった。更に添加する微粒子Bの平均1次粒子径を制御することにより、液晶から出たRGB三原色光の散乱によるギラツキを生じない範囲で透明導電層表面を粗面化することができる。
<Fine particle B>
Fine particles B may be contained in at least one of the cured resin layer-3 or the high refractive index layer and the low refractive index layer constituting the optical interference layer. In the case of the cured resin layer-3, fine particles B having an average primary particle diameter of 1.1 times or more of the film thickness and an average primary particle diameter of 1.2 μm or less are used in the case of the optical interference layer. Fine particles B having an average primary particle diameter of 1.1 times or more of the total film thickness of the optical interference layer and an average primary particle diameter of 1.2 μm or less are used. As a result, the surface of the transparent conductive layer is roughened, and it is possible to suppress malfunction due to a sticking phenomenon between the transparent conductive layer surface of the fixed electrode substrate and the transparent conductive layer surface of the movable electrode substrate. Further, by controlling the average primary particle size of the fine particles B to be added, the surface of the transparent conductive layer can be roughened in a range in which glare due to scattering of RGB primary color light emitted from the liquid crystal does not occur.

また、該微粒子Bの添加量を、微粒子Bが添加された層を構成する硬化樹脂成分の0.01〜0.5重量%の範囲にすることにより、可動電極基板の透明導電層表面と固定電極基板の透明導電層表面との引っ付き現象による透明タッチパネルの誤作動抑制効果を損なわずに白濁の無い良好な光学干渉層を形成することができる。該微粒子Bを、硬化樹脂層−3、または光学干渉層を構成する高屈折率層と低屈折率層の少なくとも一方に過剰に添加した場合、添加した微粒子Bが脱落しやすくなることや、光学干渉層または硬化樹脂層−3と硬化樹脂層−2との密着性が低下しタッチパネルに要求される筆記耐久性を損なうことがある。
上記微粒子Bとしては、例えばシリカ微粒子、架橋アクリル微粒子、架橋ポリスチレン微粒子等が挙げられる。
Further, the amount of the fine particles B added is in the range of 0.01 to 0.5% by weight of the cured resin component constituting the layer to which the fine particles B are added, thereby fixing the surface of the movable electrode substrate to the transparent conductive layer. A good optical interference layer free from white turbidity can be formed without impairing the malfunction-suppressing effect of the transparent touch panel due to the sticking phenomenon with the transparent conductive layer surface of the electrode substrate. When the fine particles B are excessively added to the cured resin layer-3 or at least one of the high refractive index layer and the low refractive index layer constituting the optical interference layer, the added fine particles B can easily fall off, The adhesion between the interference layer or the cured resin layer-3 and the cured resin layer-2 may be reduced, and the writing durability required for the touch panel may be impaired.
Examples of the fine particles B include silica fine particles, crosslinked acrylic fine particles, and crosslinked polystyrene fine particles.

該硬化樹脂層−3の場合は、該微粒子Bの平均1次粒子径がその膜厚の1.1倍以上でかつ平均1次粒子径が1.2μm以下であり、該光学干渉層の場合は、該微粒子Bの平均1次粒子径が光学干渉層の総膜厚の1.1倍以上でなおかつ平均1次粒子径が1.2μm以下である。該微粒子Bの平均1次粒子径が該硬化樹脂層−3の膜厚または光学干渉層の総膜厚の1.1倍未満である場合、透明導電層表面を粗面化することは困難である。一方、該微粒子Bの平均1次粒子径が1.2μmを超える場合、この様な微粒子を添加した透明導電性積層体を用いた透明タッチパネルを高精細カラー液晶画面上に設置し、透明タッチパネルを介して液晶画面を観察した時に、液晶画面はぎらついて見え、表示品位が低下してしまう。更に該微粒子Bの平均1次粒子径が1.2μmを超える場合、該微粒子Bを添加している該硬化樹脂層−3の膜厚または光学干渉層の総膜厚より平均1次粒子径が極端に大きくなる為、添加した微粒子が脱落しやすく、透明タッチパネルに要求される筆記耐久性などの信頼性を確保することが困難となる。
該硬化樹脂層−3、或いは該光学干渉層を構成する高屈折率層と低屈折率層の少なくとも一方に微粒子Bを含有させる場合、硬化樹脂層−2に実質的に微粒子を含有しないことが好ましい。
In the case of the cured resin layer-3, the average primary particle diameter of the fine particles B is 1.1 times or more of the film thickness and the average primary particle diameter is 1.2 μm or less. The average primary particle diameter of the fine particles B is 1.1 times or more of the total film thickness of the optical interference layer, and the average primary particle diameter is 1.2 μm or less. When the average primary particle diameter of the fine particles B is less than 1.1 times the film thickness of the cured resin layer-3 or the total film thickness of the optical interference layer, it is difficult to roughen the surface of the transparent conductive layer. is there. On the other hand, when the average primary particle diameter of the fine particles B exceeds 1.2 μm, a transparent touch panel using a transparent conductive laminate added with such fine particles is placed on a high-definition color liquid crystal screen, When the liquid crystal screen is observed through the screen, the liquid crystal screen looks glaring and the display quality is degraded. Further, when the average primary particle diameter of the fine particles B exceeds 1.2 μm, the average primary particle diameter is larger than the film thickness of the cured resin layer-3 to which the fine particles B are added or the total film thickness of the optical interference layer. Since it becomes extremely large, the added fine particles easily fall off, and it becomes difficult to ensure the reliability such as writing durability required for the transparent touch panel.
When the fine resin B is contained in the cured resin layer-3 or at least one of the high refractive index layer and the low refractive index layer constituting the optical interference layer, the cured resin layer-2 may contain substantially no fine particles. preferable.

<金属化合物層>
本発明において、硬化樹脂層−2と透明導電層の間に透明導電層と接して金属化合物層を設けることが可能である。該金属化合物層の膜厚は、透明導電層の膜厚より薄く、0.5nm以上10.0nm未満であり、好ましくは1.0nm以上7.0nm未満、更に好ましくは1.0nm以上5.0nm未満である。硬化樹脂層−2、膜厚が制御された金属化合物層、透明導電層を順次積層することにより密着性が大幅に改善され、近年透明タッチパネルに要求される筆記耐久性及び端押し耐久性が向上する。金属化合物層の膜厚が10.0nm以上では、金属化合物層が連続体としての機械物性を示し始めることにより、透明タッチパネルに要求される端押し耐久性の向上は望めない。一方、0.5nm未満の膜厚では膜厚の制御が困難なことに加え、硬化樹脂層−2及び透明導電層との密着性を十分発現させることが困難になり、端押し耐久性の向上は困難になる。
<Metal compound layer>
In the present invention, a metal compound layer can be provided between the cured resin layer-2 and the transparent conductive layer in contact with the transparent conductive layer. The film thickness of the metal compound layer is smaller than the film thickness of the transparent conductive layer and is 0.5 nm or more and less than 10.0 nm, preferably 1.0 nm or more and less than 7.0 nm, more preferably 1.0 nm or more and 5.0 nm. Is less than. Adhesiveness is greatly improved by sequentially laminating the cured resin layer-2, metal compound layer with controlled film thickness, and transparent conductive layer, and the writing durability and endurance durability required for transparent touch panels in recent years have been improved. To do. When the thickness of the metal compound layer is 10.0 nm or more, the endurance durability required for the transparent touch panel cannot be improved because the metal compound layer starts to exhibit mechanical properties as a continuum. On the other hand, when the film thickness is less than 0.5 nm, it is difficult to control the film thickness, and it becomes difficult to sufficiently express the adhesiveness with the cured resin layer-2 and the transparent conductive layer, thereby improving the endurance durability. Becomes difficult.

金属化合物層としては、例えば酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化チタン、酸化マグネシウム、酸化亜鉛、酸化インジウム、酸化錫等の金属酸化物の層が挙げられる。
これらの金属化合物層は、公知の手法にて形成することが可能であり、例えばDCマグネトロンスパッタリング法、RFマグネトロンスパッタリング法、イオンプレーティング法、真空蒸着法、パルスレーザーデポジション法、これらを複合した物理的形成法(Physical Vapor Deposition、以下、PVD)等を用いることができるが、大面積に対して均一な膜厚の金属化合物層を形成するという工業生産性に着目すると、DCマグネトロンスパッタリング法が望ましい。なお、上記物理的形成法(PVD)のほかに、Chemical Vapor Deposition(以下、CVD)、ゾルゲル法などの化学的形成法を用いることもできるが、膜厚制御の観点からはやはりスパタリング法が望ましい。
Examples of the metal compound layer include layers of metal oxides such as silicon oxide, aluminum oxide, titanium oxide, magnesium oxide, zinc oxide, indium oxide, and tin oxide.
These metal compound layers can be formed by a known method. For example, a DC magnetron sputtering method, an RF magnetron sputtering method, an ion plating method, a vacuum deposition method, a pulse laser deposition method, or a combination thereof. Although physical forming methods (Physical Vapor Deposition, hereinafter referred to as PVD) can be used, focusing on industrial productivity of forming a metal compound layer having a uniform film thickness over a large area, the DC magnetron sputtering method is desirable. In addition to the physical formation method (PVD), a chemical formation method such as chemical vapor deposition (hereinafter referred to as CVD) or a sol-gel method can also be used, but the sputtering method is desirable from the viewpoint of film thickness control. .

スパッタリングに用いるターゲットは金属ターゲットを用いることが望ましく、反応性スパッタ法を用いることが広く採用されている。これは、金属化合物層として用いる元素の酸化物、窒化物、酸窒化物が絶縁体であることが多く、DCマグネトロンスパッタリング法が適応できないことが多いからである。また、近年では、2つのカソードを同時に放電させ、ターゲットへの絶縁体の形成を抑制するような電源が開発されており、擬似的なRFマグネトロンスパッタリング法を適応できるようになってきている。   As a target used for sputtering, a metal target is preferably used, and a reactive sputtering method is widely employed. This is because oxides, nitrides, and oxynitrides of elements used as the metal compound layer are often insulators, and the DC magnetron sputtering method is often not applicable. In recent years, a power source has been developed that simultaneously discharges two cathodes and suppresses formation of an insulator on a target, and a pseudo RF magnetron sputtering method can be applied.

本願発明では、金属ターゲットを用いてDCマグネトロンスパッタリング法により上記金属化合物層を製膜する場合は、該金属化合物層を製膜する真空槽中の圧力(背圧)を一旦1.3×10−4Pa以下とし、次いで不活性ガス及び酸素を導入する製造方法にて形成することができる。金属化合物層を製膜する真空槽中の圧力を一旦1.3×10−4Pa以下にすることが、真空槽中に残留し、且つ金属化合物層の形成過程に影響を与えることが懸念される分子種の影響を低減できるので望ましい。より望ましくは、5×10−5Pa以下、さらに望ましくは2×10−5Pa以下である。 Present In the invention, when forming a film of the metal compound layer by DC magnetron sputtering using a metal target, the metal compound layer pressure in the vacuum tank for film (the back pressure) once 1.3 × 10 - It can be formed by a manufacturing method in which the pressure is 4 Pa or less and then an inert gas and oxygen are introduced. There is a concern that once the pressure in the vacuum chamber for forming the metal compound layer is reduced to 1.3 × 10 −4 Pa or less, it remains in the vacuum chamber and affects the formation process of the metal compound layer. This is desirable because it can reduce the influence of molecular species. More desirably, it is 5 × 10 −5 Pa or less, and further desirably 2 × 10 −5 Pa or less.

次いで導入される不活性ガスとしては、例えばHe、Ne、Ar、Kr、Xeを用いることができ、原子量の大きな不活性ガスほど形成される膜へのダメージが少なく表面平坦性が向上すると言われている。しかし、コスト面を考えるとArが望ましい。この不活性ガスには膜中に取り込まれる酸素濃度を調整するために、分圧に換算して1.3×10−3〜7×10−2Pa台の酸素を添加しても構わない。さらに、酸素の他にO、N、NO、HO、NH等を目的に応じて用いることができる。 As the inert gas introduced next, for example, He, Ne, Ar, Kr, and Xe can be used, and it is said that an inert gas having a larger atomic weight causes less damage to the formed film and improves surface flatness. ing. However, Ar is desirable in terms of cost. In order to adjust the oxygen concentration taken into the film, this inert gas may be added with 1.3 × 10 −3 to 7 × 10 −2 Pa of oxygen in terms of partial pressure. Furthermore, in addition to oxygen, O 3 , N 2 , N 2 O, H 2 O, NH 3 and the like can be used depending on the purpose.

また、本願発明では、金属化合物層を製膜する真空槽中の水の分圧を1.3×10−4Pa以下とし、次いで不活性ガス及び酸素を導入する製造方法にて形成することができる。水の分圧は、より望ましくは、4×10−5Pa以下、さらに望ましくは2×10−5Pa以下に制御できる。膜中に水素を取り込ませることで金属化合物層内部の応力を緩和するために、水を意図的に1.3×10−4〜3×10−2Paの範囲で導入しても構わない。この調整は、一旦真空を形成した後に、バリアブルリークバルブやマスフローコントローラーを用いて水を導入することで行っても良い。また、真空槽の背圧を制御することによっても実施することができる。 Moreover, in this invention, it forms by the manufacturing method which makes partial pressure of the water in the vacuum chamber which forms a metal compound layer into 1.3 * 10 <-4> Pa or less, and introduces an inert gas and oxygen next. it can. The partial pressure of water is more desirably controlled to 4 × 10 −5 Pa or less, and further desirably 2 × 10 −5 Pa or less. In order to relieve stress inside the metal compound layer by incorporating hydrogen into the film, water may be intentionally introduced in the range of 1.3 × 10 −4 to 3 × 10 −2 Pa. This adjustment may be performed by introducing water using a variable leak valve or a mass flow controller after forming a vacuum once. Moreover, it can implement also by controlling the back pressure of a vacuum chamber.

本願発明における水分圧を決定するときには、差動排気型のインプロセスモニターを用いても良い。またはダイナミックレンジが広く、0.1Pa台の圧力下においても計測が可能な四重極質量分析計を用いても良い。また、一般的に、1.3×10−5Pa程度の真空度においては、その圧力を形成しているのは水である。よって、真空計によって計測された値をそのまま水分圧と考えても構わない。 When determining the water pressure in the present invention, a differential exhaust type in-process monitor may be used. Alternatively, a quadrupole mass spectrometer having a wide dynamic range and capable of measurement even under a pressure of 0.1 Pa level may be used. In general, in a degree of vacuum of about 1.3 × 10 −5 Pa, it is water that forms the pressure. Therefore, the value measured by the vacuum gauge may be considered as the moisture pressure as it is.

本願発明においては、基板として高分子フィルムを用いるため、基板温度を当該高分子フィルムの軟化点温度より上昇させることはまずできない。よって、金属化合物層を形成するためには、高分子フィルムの温度は室温以下程度から軟化点温度以下とする必要がある。代表的な高分子フィルムであるポリエチレンテレフタレートの場合、特別な処理を行わないときは基板温度を80℃以下の温度に保ったまま金属化合物層を形成することが望ましい。より望ましくは50℃以下の基板温度にて、さらに望ましくは20℃以下である。また、耐熱高分子の上であっても、高分子フィルムからのアウトガスの制御という観点より80℃以下、より望ましくは50℃以下、さらに望ましくは20℃以下に設定した基板温度で形成することが望ましい。   In the present invention, since a polymer film is used as the substrate, the substrate temperature cannot first be raised above the softening point temperature of the polymer film. Therefore, in order to form the metal compound layer, the temperature of the polymer film needs to be about room temperature or lower to the softening point temperature or lower. In the case of polyethylene terephthalate, which is a typical polymer film, it is desirable to form the metal compound layer while keeping the substrate temperature at 80 ° C. or lower when no special treatment is performed. More desirably, the substrate temperature is 50 ° C. or lower, and more desirably 20 ° C. or lower. Further, even on a heat-resistant polymer, it can be formed at a substrate temperature set to 80 ° C. or lower, more desirably 50 ° C. or lower, and further desirably 20 ° C. or lower from the viewpoint of controlling outgas from the polymer film. desirable.

<透明導電層>
本発明においては、硬化樹脂層−2または前記硬化樹脂層−3または光学干渉層または金属化合物層に接して透明導電層が設けられる。上記硬化樹脂層−2に接して透明導電層を設けることにより、透明導電性積層体の筆記耐久性等の機械特性が向上する。ここで透明導電層としては、酸化錫を2〜20重量%含むITO膜やアンチモンまたはフッ素等をドープした酸化錫膜がある。透明導電層の形成方法としては、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング法等のPVD法あるいは塗工法、印刷法、CVD法があるが、PVD法またはCVD法が好ましい。PVD法またはCVD法の場合、透明導電層の厚さは、透明性と導電性の点から5〜50nmが好ましく、更に好ましくは10〜30nmである。透明導電層の膜厚が10nm未満では抵抗値の経時安定性に劣る傾向が有り,また30nmを超えると透明導電性積層体の透過率が低下するため好ましくない。透明タッチパネルの消費電力の低減と回路処理上の必要等から、膜厚10〜30nmにおいて表面抵抗値が100〜2000Ω/□(Ω/sq)、より好ましくは140〜2000Ω/□(Ω/sq)の範囲を示す透明導電層を用いることが好ましい。更に、透明導電層として主として結晶質(実質的に結晶相100%)のインジウム酸化物よりなる膜がより好ましい。特に結晶粒径が3000nm以下の主として結晶質のインジウム酸化物からなる層が好ましく用いられる。結晶粒径が3000nmを超えると筆記耐久性が悪くなるため好ましくない。ここで結晶粒径とは、透過型電子顕微鏡(TEM)下で観察される多角形状または長円状の結晶粒の各領域における対角線または直径の中で最大のものと定義する。
<Transparent conductive layer>
In the present invention, a transparent conductive layer is provided in contact with the cured resin layer-2 or the cured resin layer-3, the optical interference layer, or the metal compound layer. By providing the transparent conductive layer in contact with the cured resin layer-2, mechanical properties such as writing durability of the transparent conductive laminate are improved. Here, examples of the transparent conductive layer include an ITO film containing 2 to 20% by weight of tin oxide and a tin oxide film doped with antimony or fluorine. As a method for forming the transparent conductive layer, there are a PVD method such as a sputtering method, a vacuum deposition method, and an ion plating method, a coating method, a printing method, and a CVD method, and the PVD method or the CVD method is preferable. In the case of the PVD method or the CVD method, the thickness of the transparent conductive layer is preferably 5 to 50 nm, more preferably 10 to 30 nm from the viewpoint of transparency and conductivity. If the thickness of the transparent conductive layer is less than 10 nm, the resistance value tends to be inferior in stability over time, and if it exceeds 30 nm, the transmittance of the transparent conductive laminate is undesirably reduced. The surface resistance value is 100 to 2000Ω / □ (Ω / sq) at a film thickness of 10 to 30 nm, more preferably 140 to 2000Ω / □ (Ω / sq) due to reduction of power consumption of the transparent touch panel and necessity for circuit processing. It is preferable to use a transparent conductive layer exhibiting the above range. Further, a film made mainly of crystalline (substantially 100% crystal phase) indium oxide is more preferable as the transparent conductive layer. In particular, a layer composed mainly of crystalline indium oxide having a crystal grain size of 3000 nm or less is preferably used. A crystal grain size exceeding 3000 nm is not preferable because writing durability is deteriorated. Here, the crystal grain size is defined as the largest diagonal line or diameter in each region of polygonal or oval crystal grains observed under a transmission electron microscope (TEM).

<ハードコート層>
本発明の透明導電性積層体を可動電極基板として用いた場合は、透明タッチパネルの作動時に外力が加わる面、すなわち透明導電層とは反対側の透明有機高分子基板面には、ハードコート層を設けることが好ましい。ハードコート層を形成するための材料としては、メチルトリエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン等のオルガノシラン系の熱硬化型樹脂やエーテル化メチロールメラミン等のメラミン系熱硬化型樹脂、ポリオールアクリレート、ポリエステルアクリレート、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート等の多官能アクリレート系紫外線硬化型樹脂等があり、必要に応じて、SiOやMgF等の超微粒子等を混合したものを用いることができる。ハードコート層の厚さは、可撓性、耐摩擦性の点から2〜5μmが好ましい。
<Hard coat layer>
When the transparent conductive laminate of the present invention is used as a movable electrode substrate, a hard coat layer is provided on the surface to which an external force is applied during operation of the transparent touch panel, that is, on the surface of the transparent organic polymer substrate opposite to the transparent conductive layer. It is preferable to provide it. Materials for forming the hard coat layer include organosilane thermosetting resins such as methyltriethoxysilane and phenyltriethoxysilane, melamine thermosetting resins such as etherified methylolmelamine, polyol acrylate, polyester acrylate There are polyfunctional acrylate ultraviolet curable resins such as urethane acrylate and epoxy acrylate, and a mixture of ultrafine particles such as SiO 2 and MgF 2 can be used as necessary. The thickness of the hard coat layer is preferably 2 to 5 μm from the viewpoint of flexibility and friction resistance.

ハードコート層は塗工法により形成することが出来る。実際の塗工法としては、前記の化合物を各種有機溶剤に溶解して、濃度や粘度を調節した塗工液を用いて、透明有機高分子基板上に塗工後、放射線照射や加熱処理等により層を硬化させる。塗工方式としては例えば、マイクログラビヤコート法、マイヤーバーコート法、ダイレクトグラビヤコート法、リバースロールコート法、カーテンコート法、スプレーコート法、コンマコート法、ダイコート法、ナイフコート法、スピンコート法等の各種塗工方法が用いられる。   The hard coat layer can be formed by a coating method. As an actual coating method, the above-mentioned compound is dissolved in various organic solvents, and after coating on a transparent organic polymer substrate using a coating liquid whose concentration and viscosity are adjusted, radiation irradiation, heat treatment, etc. Harden the layer. Examples of the coating method include micro gravure coating method, Mayer bar coating method, direct gravure coating method, reverse roll coating method, curtain coating method, spray coating method, comma coating method, die coating method, knife coating method, spin coating method, etc. These various coating methods are used.

なお、ハードコート層は透明有機高分子基板上に直接、もしくは適当なアンカー層を介して積層される。こうしたアンカー層としては例えば、該ハードコート層と透明有機高分子基板との密着性を向上させる機能を有する層や、K値が負の値となる三次元屈折率特性を有する層等の各種の位相補償層、水分や空気の透過を防止する機能もしくは水分や空気を吸収する機能を有する層、紫外線や赤外線を吸収する機能を有する層、基板の帯電性を低下させる機能を有する層等が好ましく挙げられる。   The hard coat layer is laminated directly on the transparent organic polymer substrate or via an appropriate anchor layer. Examples of such an anchor layer include various layers such as a layer having a function of improving the adhesion between the hard coat layer and the transparent organic polymer substrate, and a layer having a three-dimensional refractive index characteristic with a negative K value. Preferred are a phase compensation layer, a layer having a function of preventing the transmission of moisture and air or a function of absorbing moisture and air, a layer having a function of absorbing ultraviolet rays and infrared rays, and a layer having a function of reducing the chargeability of the substrate. Can be mentioned.

以下、本発明の具体例を挙げて説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。以下の実施例において、押し込み硬さ試験機による塑性変形硬さ測定方法、リニアリティー測定方法、筆記耐久性試験方法、端押し耐久性試験方法は次の通りである。   Hereinafter, although the specific example of this invention is given and demonstrated, this invention is not limited to this. In the following examples, the plastic deformation hardness measurement method, linearity measurement method, writing durability test method, and end press durability test method using an indentation hardness tester are as follows.

<押し込み硬さ試験機による塑性変形硬さの測定方法>
以下の測定装置と測定条件を用いて塑性変形硬さの測定を実施した。
測定装置:ナノインデンテーションテスター ENT−1100a(エリオニクス社製)
測定面:硬化樹脂層面を測定する。
測定条件
押し込み深さ設定試験 設定深さ 0.5μm
250ステップに分割
試験荷重保持時間 1秒
使用圧子 三角錐 (稜間隔 115°)
各試料につき5点連続自動測定
塑性変形硬さ算出方法
荷重−変位グラフから下記式を使用して5点連続測定の塑性変形硬さの平均値を算出する。除荷の際の、曲線の最大変位における接線を求め、その傾きから塑性変形量を分離してビッカーズ硬さに相当する硬さを求めたもの。圧子形状により実際のビッカーズ値は若干値は変わる。
<Measurement of plastic deformation hardness by indentation hardness tester>
The plastic deformation hardness was measured using the following measuring apparatus and measurement conditions.
Measuring apparatus: Nanoindentation tester ENT-1100a (manufactured by Elionix)
Measurement surface: The cured resin layer surface is measured.
Measurement condition Indentation depth setting test Setting depth 0.5μm
Divided into 250 steps Test load retention time 1 second Working indenter Triangular pyramid (Ridge interval 115 °)
5-point continuous automatic measurement for each sample Plastic deformation hardness calculation method From the load-displacement graph, the following formula is used to calculate the average value of the plastic deformation hardness of the 5-point continuous measurement. The tangent at the maximum displacement of the curve at the time of unloading was obtained, and the amount of plastic deformation was separated from the slope to obtain the hardness equivalent to Vickers hardness. The actual Vickers value varies slightly depending on the shape of the indenter.

Figure 2005116515
Pmax:荷重
hr:除荷の際の、曲線の最大変位における接線の荷重0の際の変位
Figure 2005116515
Pmax: Load hr: Displacement when the tangential load is 0 at the maximum displacement of the curve during unloading

<金属化合物層の膜厚測定方法>
金属化合物層を形成後、蛍光X線分析装置RIX1000(株式会社リガク製)を使用して金属化合物層の膜厚を測定した。
<Method for measuring film thickness of metal compound layer>
After forming the metal compound layer, the film thickness of the metal compound layer was measured using a fluorescent X-ray analyzer RIX1000 (manufactured by Rigaku Corporation).

<リニアリティー測定方法>
可動電極基板上又は固定電極基板上の平行電極間に直流電圧5Vを印加する。平行電極と垂直の方向に5mm間隔で電圧を測定する。測定開始位置Aの電圧をE、測定終了位置Bの電圧をE、Aからの距離Xにおける電圧実測値E、理論値をE、リニアリティーをLとすると、
= (E−E) × X/ (B−A) + E
L(%) = (|E−E|) / (E−E) × 100
<Linearity measurement method>
A DC voltage of 5 V is applied between the parallel electrodes on the movable electrode substrate or the fixed electrode substrate. The voltage is measured at intervals of 5 mm in the direction perpendicular to the parallel electrodes. If the voltage at the measurement start position A is E A , the voltage at the measurement end position B is E B , the measured voltage value E X at a distance X from A, the theoretical value is E T , and the linearity is L,
E T = (E B -E A ) × X / (B-A) + E A
L (%) = (| E T -E X |) / (E B -E A) × 100

<端押し耐久性試験方法>
作製した透明タッチパネルの可動電極基板の周囲の絶縁層から約2mmの位置を絶縁層と平行して先端が0.8Rのポリアセタール製のペンを用いて450g荷重で直線往復10万回筆記を行う(端押し耐久性試験)。端押し耐久性試験前後の透明タッチパネルのリニアリティーを測定する。端押し耐久性試験前後のリニアリティー変化量が1.5%以上となるものをNGとした。
<End push durability test method>
Using a polyacetal pen with a tip of 0.8R parallel to the insulating layer at a position of about 2 mm from the insulating layer around the movable electrode substrate of the manufactured transparent touch panel, writing is performed 100,000 times in a straight line with a load of 450 g ( End push durability test). Measure the linearity of the transparent touch panel before and after the end push durability test. NG was defined as a linearity change amount of 1.5% or more before and after the end push durability test.

<筆記耐久性試験方法>
作製した透明タッチパネルの可動電極基板の中央部を対角線方向に先端が0.8Rのポリアセタール製のペンを用いて450g荷重で直線往復10万回筆記を行い(筆記耐久性試験)、筆記耐久性試験前後の透明タッチパネルのリニアリティーを測定する。筆記耐久性前後の透明タッチパネルのリニアリティー変化量が1.5%以上となるものをNGとした。
<Writing durability test method>
Using the polyacetal pen with the tip of 0.8R in the diagonal direction at the center of the movable electrode substrate of the transparent touch panel that was prepared, write a linear reciprocation 100,000 times with a 450g load (writing durability test), writing durability test Measure the linearity of the front and rear transparent touch panels. A transparent touch panel with a linearity change amount of 1.5% or more before and after the writing durability was determined as NG.

[実施例1]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、押し込み硬さ試験機による塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
[Example 1]
UV curable polyfunctional acrylate on one side of a 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness by indentation hardness tester 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed using a resin paint.

ウレタンアクリレート アロニックス M1200(東亞合成社製)100重量部とイルガキュア184(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ社製)3重量部をメチルイソブチルケトン(MIBK)へ溶解し塗工液Aを作製した。塗工液Aをハードコート層1と反対面に硬化後の膜厚が6.0μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射し硬化させ硬化樹脂層−1(a)を形成した。
硬化樹脂層−1(a)の塑性変形硬さ測定用のサンプル(硬化後の膜厚:5μm)を同様の手法により作製し、塑性変形硬さ測定を行った。測定した結果を表−1に示す。
100 parts by weight of urethane acrylate Aronix M1200 (manufactured by Toagosei Co., Ltd.) and 3 parts by weight of Irgacure 184 (manufactured by Ciba Specialty Chemicals) were dissolved in methyl isobutyl ketone (MIBK) to prepare a coating liquid A. The coating liquid A was coated on the surface opposite to the hard coat layer 1 by a bar coating method so as to have a film thickness after curing of 6.0 μm, and cured by irradiation with ultraviolet rays to form a cured resin layer-1 (a).
A sample for measuring the plastic deformation hardness of the cured resin layer-1 (a) (film thickness after curing: 5 μm) was prepared in the same manner, and the plastic deformation hardness was measured. The measured results are shown in Table-1.

4官能アクリレート アロニックス M400(東亞合成社製)100重量部とイルガキュア184(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ社製)3重量部をメチルイソブチルケトン(MIBK)へ溶解し塗工液Bを作製した。塗工液Bを硬化樹脂層−1(a)上に硬化後の膜厚が4.0μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−2(a)を形成した。硬化樹脂層−1(a)と硬化樹脂層−2(a)積層後の塑性変形硬さ測定を行った。測定した結果を表1に示す。
硬化樹脂層−2(a)の塑性変形硬さを測定用のサンプル(硬化後の膜厚:5μm)を同様の手法により作製し、塑性変形硬さ測定を行った。測定した結果を表−1に示す。
A coating solution B was prepared by dissolving 100 parts by weight of tetrafunctional acrylate Aronix M400 (manufactured by Toagosei Co., Ltd.) and 3 parts by weight of Irgacure 184 (manufactured by Ciba Specialty Chemicals) in methyl isobutyl ketone (MIBK). Coating liquid B was coated on cured resin layer-1 (a) by a bar coating method so that the film thickness after curing was 4.0 μm, and was cured by irradiation with ultraviolet rays to form cured resin layer-2 (a). . The plastic deformation hardness after lamination of the cured resin layer-1 (a) and the cured resin layer-2 (a) was measured. The measured results are shown in Table 1.
A sample for measuring the plastic deformation hardness of the cured resin layer-2 (a) (film thickness after curing: 5 μm) was prepared by the same method, and the plastic deformation hardness was measured. The measured results are shown in Table-1.

次にγ−グリシドキシプロピルトリメトキシラン(信越化学工業社製「KBM403」)とメチルトリメトキシシラン(信越化学工業社製「KBM13」)を1:1のモル比で混合し、酢酸水溶液(pH=3.0)により公知の方法で前記アルコキシシランの加水分解を行った。こうして得たアルコキシシランの加水分解物に対して、固形分の重量比率20:1の割合でN−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルメトキシシラン(信越化学工業社製 「KBM603」)を添加し、更にイソプロピルアルコールとn−ブタノールの混合溶液で希釈を行い、アルコキシシラン塗工液Cを作製した。   Next, γ-glycidoxypropyltrimethoxylane (“KBM403” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and methyltrimethoxysilane (“KBM13” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) are mixed at a molar ratio of 1: 1, and an acetic acid aqueous solution ( The alkoxysilane was hydrolyzed by a known method according to pH = 3.0). N-β (aminoethyl) γ-aminopropylmethoxysilane (“KBM603” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was added to the hydrolyzate of alkoxysilane thus obtained at a weight ratio of solid content of 20: 1. Further, dilution with a mixed solution of isopropyl alcohol and n-butanol was performed to prepare an alkoxysilane coating solution C.

前記硬化樹脂層−2(a)上にアルコキシシラン塗工液Cをバーコート法によりコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚65nmの硬化樹脂層−3(a)を作製した。さらにこの硬化樹脂層−3(a)上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比95:5の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約350Ω/□(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃90分熱処理を行い、ITO膜を結晶化させた。熱処理前後の可動電極基板にヘーズ変化は見られず、ITOが結晶化した後の表面抵抗値は約280Ω/□(Ω/sq)であった。   An alkoxysilane coating liquid C was coated on the cured resin layer-2 (a) by a bar coating method, and after baking at 130 ° C. for 2 minutes, a cured resin layer-3 (a) having a film thickness of 65 nm was produced. Further, an ITO layer is formed on this cured resin layer-3 (a) by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide of 95: 5 in a weight ratio of 98% and a filling density of 98%. A transparent conductive laminate to be an electrode substrate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance value after film formation was about 350 Ω / □ (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 90 minutes to crystallize the ITO film. No haze change was observed in the movable electrode substrate before and after the heat treatment, and the surface resistance value after the ITO was crystallized was about 280Ω / □ (Ω / sq).

他方、厚さ1.1mmのガラス板の両面にSiOディップコートを行った後、スパッタリング法により、同様な方法で厚さ18nmのITO膜を形成した。次にITO膜上に高さ7μm、直径70μm、ピッチ1.5mmのドットスペーサを形成することにより、固定電極基板を作製した。作製した固定電極基板と可動電極基板用いて図1の透明タッチパネルを作製した。作製した透明タッチパネルの筆記耐久性試験と端押し耐久性試験を行った。試験前後のリニアリティーを表1に示す。 On the other hand, after SiO 2 dip coating was performed on both surfaces of a 1.1 mm thick glass plate, an 18 nm thick ITO film was formed by the same method by sputtering. Next, a fixed electrode substrate was prepared by forming dot spacers having a height of 7 μm, a diameter of 70 μm, and a pitch of 1.5 mm on the ITO film. The transparent touch panel of FIG. 1 was produced using the produced fixed electrode substrate and movable electrode substrate. The prepared transparent touch panel was subjected to a writing durability test and an end press durability test. Table 1 shows the linearity before and after the test.

[実施例2]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、押し込み硬さ試験機による塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
[Example 2]
UV curable polyfunctional acrylate on one side of a 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness by indentation hardness tester 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed using a resin paint.

実施例1の塗工液Aをハードコート層1と反対面に硬化後の膜厚が5.0μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−1(b)を形成した。
実施例1の塗工液Bを硬化樹脂層−1(b)上に硬化後の膜厚が5.5μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−2(b)を形成した。
硬化樹脂層−1(b)と硬化樹脂層−2(b)積層後の塑性変形硬さ測定を行った。測定した結果を表−1に示す。
The coating liquid A of Example 1 is coated on the surface opposite to the hard coat layer 1 by a bar coating method so that the film thickness after curing is 5.0 μm, and is cured by irradiation with ultraviolet rays to form a cured resin layer-1 (b). Formed.
The coating liquid B of Example 1 was coated on the cured resin layer-1 (b) by a bar coating method so that the film thickness after curing was 5.5 μm, and then cured by irradiation with ultraviolet rays to cure the cured resin layer-2 (b ) Was formed.
The plastic deformation hardness after the cured resin layer-1 (b) and the cured resin layer-2 (b) were laminated was measured. The measured results are shown in Table-1.

テトラブトキシチタネート(日本曹達社製「B−4」)をリグロイン(和光純薬工業社製の等級が特級品)とブタノール(和光純薬工業社製の等級が特級品)の混合溶媒で希釈した塗工液Dを作製した。
塗工液D中に平均1次粒子径が0.5μmのシリカ微粒子をテトラブトキシチタネートの100重量部に対して0.3重量部となるように混合し塗工液Eを作製した。
Tetrabutoxy titanate (“B-4” manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.) was diluted with a mixed solvent of ligroin (grade manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) and butanol (grade manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.). A coating liquid D was prepared.
In the coating liquid D, silica fine particles having an average primary particle size of 0.5 μm were mixed so as to be 0.3 parts by weight with respect to 100 parts by weight of tetrabutoxy titanate to prepare a coating liquid E.

実施例1で用いたアルコキシシラン塗工液Cを塗工液Eと塗工液Cの固形分同士の混合比が70:30になるように混合し塗工液Fを作製した。塗工液Fに1次粒子径が20nmのTiO2超微粒子をTiO超微粒子と金属アルコキシドの重量比率が30:70となるように混合した塗工液Gを作製した。上記硬化樹脂層−2(b)面上に、塗工液Gをバーコート法でコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚が55nmの高屈折率層を形成した。 The alkoxysilane coating liquid C used in Example 1 was mixed so that the mixing ratio of the solid contents of the coating liquid E and the coating liquid C was 70:30 to prepare a coating liquid F. The primary particle diameter coating liquid F was prepared by mixing the coating solution G as the 20nm of TiO2 ultrafine particles weight ratio of TiO 2 ultrafine particles and the metal alkoxide becomes 30:70. On the surface of the cured resin layer-2 (b), the coating liquid G was coated by a bar coating method, and after baking at 130 ° C. for 2 minutes, a high refractive index layer having a film thickness of 55 nm was formed.

前記高屈折率層上にアルコキシシラン塗工液Cをバーコート法によりコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚が65nmの低屈折率層を形成し、高屈折率層と低屈折率層よりなる光学干渉層を作製した。さらにこの光学干渉層上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比95:5の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約350Ω/□(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃90分熱処理を行い、ITO膜を結晶化させた。熱処理前後の可動電極基板にヘーズ変化は見られず、ITOが結晶化した後の表面抵抗値は約280Ω/□(Ω/sq)であった。   The alkoxysilane coating liquid C is coated on the high refractive index layer by a bar coating method, and after baking at 130 ° C. for 2 minutes, a low refractive index layer having a film thickness of 65 nm is formed. An optical interference layer composed of layers was prepared. Further, an ITO layer is formed on the optical interference layer by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide of 95: 5 in a weight ratio of 98% and a transparent electrode serving as a movable electrode substrate. A conductive laminate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance value after film formation was about 350 Ω / □ (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 90 minutes to crystallize the ITO film. No haze change was observed in the movable electrode substrate before and after the heat treatment, and the surface resistance value after the ITO was crystallized was about 280Ω / □ (Ω / sq).

実施例1と同様にして固定電極基板を作製した。作製した固定電極基板と可動電極基板用いて図2の透明タッチパネルを作製した。作製した透明タッチパネルの筆記耐久性試験と端押し耐久性試験を行った。試験前後のリニアリティーを表1に示す。   A fixed electrode substrate was produced in the same manner as in Example 1. The transparent touch panel of FIG. 2 was produced using the produced fixed electrode substrate and movable electrode substrate. The prepared transparent touch panel was subjected to a writing durability test and an end press durability test. Table 1 shows the linearity before and after the test.

[実施例3]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、押し込み硬さ試験機による塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
[Example 3]
UV curable polyfunctional acrylate on one side of a 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness by indentation hardness tester 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed using a resin paint.

アクリロニトリルブタジエンゴム Nipol1052J(日本ゼオン社製)を75重量部、4官能アクリレート アロニックス M400(東亞合成社製)を25重量部、イルガキュア184(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ社製)3重量部をトルエンとメチルイソブチルケトンの混合比が1:1の溶剤に溶解し塗工液Hを作製した。塗工液Hをハードコート層1と反対面に硬化後の膜厚が5.5μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−1(c)を形成した。
硬化樹脂層−1(c)の塑性変形硬さ測定用のサンプル(硬化後の膜厚:5μm)を同様の手法により作製し、塑性変形硬さ測定を行った。測定した結果を表−1に示す。
75 parts by weight of acrylonitrile butadiene rubber Nipol1052J (manufactured by ZEON Corporation), 25 parts by weight of tetrafunctional acrylate Aronix M400 (manufactured by Toagosei Co., Ltd.), 3 parts by weight of Irgacure 184 (manufactured by Ciba Specialty Chemicals), toluene and methylisobutyl A coating liquid H was prepared by dissolving in a solvent having a ketone mixing ratio of 1: 1. The coating liquid H was coated on the surface opposite to the hard coat layer 1 by a bar coating method so that the film thickness after curing was 5.5 μm, and was cured by irradiation with ultraviolet rays to form a cured resin layer-1 (c).
A sample for measuring the plastic deformation hardness of the cured resin layer-1 (c) (film thickness after curing: 5 μm) was prepared by the same method, and the plastic deformation hardness was measured. The measured results are shown in Table-1.

実施例1で使用した塗工液Bを硬化樹脂層−1(c)上に硬化後の膜厚が4.5μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−2(c)を形成した。硬化樹脂層−1(c)と硬化樹脂層−2(c)積層後の塑性変形硬さ測定を行った。測定した結果を表1に示す。   The coating liquid B used in Example 1 was coated on the cured resin layer-1 (c) by a bar coating method so that the film thickness after curing was 4.5 μm, and was cured by irradiation with ultraviolet rays to be cured resin layer-2. (C) was formed. The plastic deformation hardness after lamination of the cured resin layer-1 (c) and the cured resin layer-2 (c) was measured. The measured results are shown in Table 1.

前記硬化樹脂層−2(c)上に実施例1で使用した塗工液Cをバーコート法によりコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚65nmの硬化樹脂層−3(c)を作製した。さらにこの硬化樹脂層−3(c)上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比95:5の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約350Ω/□(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃90分熱処理を行い、ITO膜を結晶化させた。熱処理前後の可動電極基板にヘーズ変化は見られず、ITOが結晶化した後の表面抵抗値は約280Ω/□(Ω/sq)であった。   After coating the coating liquid C used in Example 1 on the cured resin layer-2 (c) by a bar coating method and baking at 130 ° C. for 2 minutes, a cured resin layer-3 (c) having a film thickness of 65 nm is obtained. Produced. Further, an ITO layer is formed on the cured resin layer-3 (c) by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide of 95: 5 in a weight ratio of 98% and a filling density of 98%. A transparent conductive laminate to be an electrode substrate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance value after film formation was about 350 Ω / □ (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 90 minutes to crystallize the ITO film. No haze change was observed in the movable electrode substrate before and after the heat treatment, and the surface resistance value after the ITO was crystallized was about 280Ω / □ (Ω / sq).

実施例1と同様にして固定電極基板を作製した。作製した固定電極基板と可動電極基板用いて図1の透明タッチパネルを作製した。作製した透明タッチパネルの筆記耐久性試験と端押し耐久性試験を行った。試験前後のリニアリティーを表1に示す。   A fixed electrode substrate was produced in the same manner as in Example 1. The transparent touch panel of FIG. 1 was produced using the produced fixed electrode substrate and movable electrode substrate. The prepared transparent touch panel was subjected to a writing durability test and an end press durability test. Table 1 shows the linearity before and after the test.

[実施例4]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
合成ラテックス NipolLX857X2(日本ゼオン社製)をハードコート層1の反対面に塗工後100℃2分間乾燥し、膜厚が6.0μmの硬化樹脂層−1(d)を形成した。硬化樹脂層−1(d)の硬さ測定用のサンプル(乾燥後の膜厚:5μm)を同様の手法により作製し、硬さ測定を行った。測定した結果を表1に示す。
[Example 4]
Thickness using a UV curable polyfunctional acrylate resin coating on one side of a 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed.
Synthetic latex NipolLX857X2 (manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.) was applied to the opposite surface of the hard coat layer 1 and dried at 100 ° C. for 2 minutes to form a cured resin layer-1 (d) having a thickness of 6.0 μm. A sample for measuring the hardness of the cured resin layer-1 (d) (film thickness after drying: 5 μm) was prepared in the same manner, and the hardness was measured. The measured results are shown in Table 1.

実施例1で使用した塗工液Bを硬化樹脂層−1(d)上に硬化後の膜厚が4.5μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−2(d)を形成した。硬化樹脂層−1(d)と硬化樹脂層−2(d)積層後の硬さ測定を行った。測定した結果を表1に示す。   The coating liquid B used in Example 1 was coated on the cured resin layer-1 (d) by a bar coating method so that the film thickness after curing was 4.5 μm, and was cured by irradiation with ultraviolet rays to be cured resin layer-2. (D) was formed. Hardness measurement after lamination of cured resin layer-1 (d) and cured resin layer-2 (d) was performed. The measured results are shown in Table 1.

実施例2と同様にして光学干渉層を形成した後、光学干渉層の低屈折率層上にSiターゲットを用いてスパッタリング法によりSiOx層を形成した。形成されたSiOx層の膜厚は約2.0nmであった。次いでSiOx層上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比97:3の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約550Ω/□(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃60分熱処理行い、ITO膜を結晶化させた。熱処理前後の可動電極基板にヘーズ変化は見られず、ITOが結晶化した後の表面抵抗値は約450Ω/□(Ω/sq)であった。   After forming the optical interference layer in the same manner as in Example 2, a SiOx layer was formed by sputtering using a Si target on the low refractive index layer of the optical interference layer. The thickness of the formed SiOx layer was about 2.0 nm. Next, an ITO layer is formed on the SiOx layer by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide with a weight ratio of 97: 3 and a packing density of 98%. A laminate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance value after film formation was about 550Ω / □ (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 60 minutes to crystallize the ITO film. No haze change was observed on the movable electrode substrate before and after the heat treatment, and the surface resistance value after the ITO was crystallized was about 450Ω / □ (Ω / sq).

実施例1と同様にして固定電極基板を作製した。作製した固定電極基板と可動電極基板用いて図4の透明タッチパネルを作製した。作製した透明タッチパネルの筆記耐久性試験と端押し耐久性試験を行った。試験前後のリニアリティーを表1に示す。   A fixed electrode substrate was produced in the same manner as in Example 1. The transparent touch panel of FIG. 4 was produced using the produced fixed electrode substrate and movable electrode substrate. The prepared transparent touch panel was subjected to a writing durability test and an end press durability test. Table 1 shows the linearity before and after the test.

[比較例1]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、押し込み硬さ試験による塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
実施例1で作製した塗工液Aをハードコート層1と反対面に硬化後の膜厚が5.0μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−1(e)を形成した。
[Comparative Example 1]
UV curable polyfunctional acrylate resin on one side of 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness by indentation hardness test 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed using a paint.
The coating liquid A produced in Example 1 is coated on the surface opposite to the hard coat layer 1 by a bar coating method so as to have a film thickness after curing of 5.0 μm, and is cured by irradiation with ultraviolet rays to be cured resin layer-1 (e ) Was formed.

前記硬化樹脂層−1(e)上に実施例1で作製した塗工液Cをバーコート法によりコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚65nmの硬化樹脂層−3(e)を作製した。さらにこの硬化樹脂層−3(e)上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比95:5の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約350Ω/□(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃90分熱処理を行ったが、ITO層に細かいしわが入り可動電極基板のヘーズが上昇(白化)してしまった。   After coating the coating liquid C produced in Example 1 on the cured resin layer-1 (e) by a bar coating method and baking at 130 ° C. for 2 minutes, a cured resin layer-3 (e) having a film thickness of 65 nm is formed. Produced. Further, an ITO layer is formed on this cured resin layer-3 (e) by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide of 95: 5 in a weight ratio of 98% and a filling density of 98%. A transparent conductive laminate to be an electrode substrate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance value after film formation was about 350 Ω / □ (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 90 minutes, but fine wrinkles entered the ITO layer and the haze of the movable electrode substrate increased (whitened).

[比較例2]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、押し込み硬さ試験による塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
実施例1で作製した塗工液Bをハードコート層1と反対面に硬化後の膜厚が5.0μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−2(f)を形成した。
[Comparative Example 2]
UV curable polyfunctional acrylate resin on one side of 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness by indentation hardness test 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed using a paint.
The coating liquid B produced in Example 1 is coated on the surface opposite to the hard coat layer 1 by a bar coating method so that the film thickness after curing is 5.0 μm, and is cured by irradiation with ultraviolet rays to be cured resin layer-2 (f ) Was formed.

前記硬化樹脂層−2(f)上に実施例1で作製した塗工液Cをバーコート法によりコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚65nmの硬化樹脂層−3(f)を作製した。さらにこの硬化樹脂層−3(f)上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比95:5の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約350Ω/□(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃90分熱処理を行い、ITO膜を結晶化させた。熱処理前後の可動電極基板にヘーズ変化は見られず、ITOが結晶化した後の表面抵抗値は約280Ω/□(Ω/sq)であった。   After coating the coating liquid C produced in Example 1 on the cured resin layer-2 (f) by a bar coating method and baking at 130 ° C. for 2 minutes, a cured resin layer-3 (f) having a film thickness of 65 nm is formed. Produced. Further, an ITO layer is formed on this cured resin layer-3 (f) by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide of 95: 5 in a weight ratio of 98% and a filling density of 98%. A transparent conductive laminate to be an electrode substrate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance value after film formation was about 350 Ω / □ (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 90 minutes to crystallize the ITO film. No haze change was observed in the movable electrode substrate before and after the heat treatment, and the surface resistance value after the ITO was crystallized was about 280Ω / □ (Ω / sq).

実施例1と同様に固定電極基板を作製した。作製した固定電極基板と可動電極基板用いて図3の透明タッチパネルを作製した。作製した透明タッチパネルの筆記耐久性試験と端押し耐久性試験を行った。試験前後のリニアリティーを表1に示す。   A fixed electrode substrate was produced in the same manner as in Example 1. The transparent touch panel of FIG. 3 was produced using the produced fixed electrode substrate and movable electrode substrate. The prepared transparent touch panel was subjected to a writing durability test and an end press durability test. Table 1 shows the linearity before and after the test.

[比較例3]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、押し込み硬さ試験による塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
[Comparative Example 3]
UV curable polyfunctional acrylate resin on one side of 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness by indentation hardness test 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed using a paint.

多官能アクリレート NKオリゴ U15HA(新中村化学社製)100重量部と単官能アクリレート アロニックス TO−1429(東亞合成社製)100重量部とイルガキュア184(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ社製)10重量部をメチルイソブチルケトン(MIBK)へ溶解し塗工液Iを作製した。塗工液Iをハードコート層1と反対面に硬化後の膜厚が4.0μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−2(g)を形成した。作製した硬化樹脂層−2(g)のヤング率と塑性変形硬さを測定した結果を表1に示す。   Methyl 100 parts by weight of polyfunctional acrylate NK oligo U15HA (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.), 100 parts by weight of monofunctional acrylate Aronix TO-1429 (manufactured by Toagosei Co., Ltd.) and 10 parts by weight of Irgacure 184 (manufactured by Ciba Specialty Chemicals) A coating liquid I was prepared by dissolving in isobutyl ketone (MIBK). The coating liquid I was coated on the surface opposite to the hard coat layer 1 by a bar coating method so that the film thickness after curing was 4.0 μm, and was cured by irradiation with ultraviolet rays to form a cured resin layer-2 (g). Table 1 shows the results of measuring the Young's modulus and plastic deformation hardness of the produced cured resin layer-2 (g).

前記硬化樹脂層−2(g)上に実施例1で作製した塗工液Cをバーコート法によりコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚65nmの硬化樹脂層−3(g)を作製した。さらにこの硬化樹脂層−3(g)上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比95:5の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約350Ω/□(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃90分の熱処理を行い、ITO膜を結晶化させた。熱処理前後の可動電極基板にヘーズ変化は見られず、ITOが結晶化した後の表面抵抗値は約280Ω/□(Ω/sq)であった。   After coating the coating liquid C produced in Example 1 on the cured resin layer-2 (g) by a bar coating method and baking at 130 ° C. for 2 minutes, a cured resin layer-3 (g) having a film thickness of 65 nm is obtained. Produced. Further, an ITO layer is formed on the cured resin layer-3 (g) by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide of 95: 5 by weight and a filling density of 98%. A transparent conductive laminate to be an electrode substrate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance value after film formation was about 350 Ω / □ (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 90 minutes to crystallize the ITO film. No haze change was observed in the movable electrode substrate before and after the heat treatment, and the surface resistance value after the ITO was crystallized was about 280Ω / □ (Ω / sq).

実施例1と同様に固定電極基板を作製した。作製した固定電極基板と可動電極基板用いて図3の透明タッチパネルを作製した。作製した透明タッチパネルの筆記耐久性試験と端押し耐久性試験を行った。試験前後のリニアリティーを表1に示す。   A fixed electrode substrate was produced in the same manner as in Example 1. The transparent touch panel of FIG. 3 was produced using the produced fixed electrode substrate and movable electrode substrate. The prepared transparent touch panel was subjected to a writing durability test and an end press durability test. Table 1 shows the linearity before and after the test.

[比較例4]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、押し込み硬さ試験による塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
実施例1の塗工液Aをハードコート層1と反対面に硬化後の膜厚が6.5μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−1(h)を形成した。
[Comparative Example 4]
UV curable polyfunctional acrylate resin on one side of 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness by indentation hardness test 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed using a paint.
The coating liquid A of Example 1 is coated on the surface opposite to the hard coat layer 1 by a bar coating method so that the film thickness after curing is 6.5 μm, and is cured by irradiation with ultraviolet rays to form a cured resin layer-1 (h). Formed.

実施例1の塗工液Bを硬化樹脂層−1(h)上に硬化後の膜厚が1.0μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−2(h)を形成した。硬化樹脂層−1(h)と硬化樹脂層−2(h)積層後の塑性変形硬さ測定を行った。測定した結果を表1に示す。   The coating liquid B of Example 1 was coated on the cured resin layer-1 (h) by a bar coating method so that the film thickness after curing was 1.0 μm, and was cured by irradiation with ultraviolet rays to cure the cured resin layer-2 (h ) Was formed. The plastic deformation hardness after lamination of the cured resin layer-1 (h) and the cured resin layer-2 (h) was measured. The measured results are shown in Table 1.

前記硬化樹脂層−1(h)上に実施例1で作製した塗工液Cをバーコート法によりコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚65nmの硬化樹脂層−3(h)を作製した。さらにこの硬化樹脂層−3(h)上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比95:5の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約350Ω/□(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃90分熱処理を行ったが、ITO層に細かいしわが入り可動電極基板のヘーズが上昇(白化)してしまった。   After coating the coating liquid C produced in Example 1 on the cured resin layer-1 (h) by a bar coating method and baking at 130 ° C. for 2 minutes, a cured resin layer-3 (h) having a film thickness of 65 nm is formed. Produced. Further, an ITO layer is formed on the cured resin layer-3 (h) by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide of 95: 5 by weight and a filling density of 98%. A transparent conductive laminate to be an electrode substrate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance value after film formation was about 350 Ω / □ (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 90 minutes, but fine wrinkles entered the ITO layer and the haze of the movable electrode substrate increased (whitened).

[比較例5]
厚さ188μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製 OFW、押し込み硬さ試験による塑性変形硬さ5.4×10Pa(55kgf/mm))の片面に紫外線硬化型多官能アクリレート樹脂塗料を用いて厚さ4μmのハードコート層1を形成した。
実施例1の塗工液Aをハードコート層1と反対面に硬化後の膜厚が1.5μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−1(i)を形成した。
[Comparative Example 5]
UV curable polyfunctional acrylate resin on one side of 188 μm thick polyethylene terephthalate film (OFW manufactured by Teijin DuPont Films Ltd., plastic deformation hardness by indentation hardness test 5.4 × 10 8 Pa (55 kgf / mm 2 )) A hard coat layer 1 having a thickness of 4 μm was formed using a paint.
The coating liquid A of Example 1 is coated on the surface opposite to the hard coat layer 1 by a bar coating method so that the film thickness after curing is 1.5 μm, and is cured by irradiation with ultraviolet rays to form a cured resin layer-1 (i). Formed.

実施例1の塗工液Bを硬化樹脂層−1(i)上に硬化後の膜厚が6.0μmとなるようにバーコート法によりコーティングし紫外線を照射硬化させ硬化樹脂層−2(i)を形成した。硬化樹脂層−1(i)と硬化樹脂層−2(i)積層後の塑性変形硬さ測定を行った。測定した結果を表1に示す。   The coating liquid B of Example 1 was coated on the cured resin layer-1 (i) by a bar coating method so that the film thickness after curing was 6.0 μm, and was cured by irradiation with ultraviolet rays to cure the cured resin layer-2 (i ) Was formed. The plastic deformation hardness after lamination of the cured resin layer-1 (i) and the cured resin layer-2 (i) was measured. The measured results are shown in Table 1.

前記硬化樹脂層−2(i)上に実施例1で作製した塗工液Cをバーコート法によりコーティングを行い130℃2分間の焼成後、膜厚65nmの硬化樹脂層−3(i)を作製した。さらにこの硬化樹脂層−3(i)上に、酸化インジウムと酸化錫が重量比95:5の組成で充填密度98%の酸化インジウム−酸化錫ターゲットを用いスパッタリング法によりITO層を形成し、可動電極基板となる透明導電性積層体を作製した。形成されたITO層の膜厚は約20nm、製膜後の表面抵抗値は約350Ω/□(Ω/sq)(Ω/sq)であった。作製した可動電極基板を150℃90分熱処理を行い、ITO膜を結晶化させた。熱処理前後の可動電極基板にヘーズ変化は見られず、ITOが結晶化した後の表面抵抗値は約280Ω/□(Ω/sq)(Ω/sq)であった。   After coating the coating liquid C produced in Example 1 on the cured resin layer-2 (i) by a bar coating method and baking at 130 ° C. for 2 minutes, a cured resin layer-3 (i) having a film thickness of 65 nm is formed. Produced. Further, an ITO layer is formed on the cured resin layer-3 (i) by sputtering using an indium oxide-tin oxide target having a composition of indium oxide and tin oxide of 95: 5 in a weight ratio of 98% and a filling density of 98%. A transparent conductive laminate to be an electrode substrate was produced. The thickness of the formed ITO layer was about 20 nm, and the surface resistance after film formation was about 350 Ω / □ (Ω / sq) (Ω / sq). The manufactured movable electrode substrate was heat-treated at 150 ° C. for 90 minutes to crystallize the ITO film. No haze change was observed on the movable electrode substrate before and after the heat treatment, and the surface resistance value after the ITO was crystallized was about 280Ω / □ (Ω / sq) (Ω / sq).

実施例1と同様に固定電極基板を作製した。作製した固定電極基板と可動電極基板用いて図1の透明タッチパネルを作製した。作製した透明タッチパネルの筆記耐久性試験と端押し耐久性試験を行った。試験前後のリニアリティーを表1に示す。   A fixed electrode substrate was produced in the same manner as in Example 1. The transparent touch panel of FIG. 1 was produced using the produced fixed electrode substrate and movable electrode substrate. The prepared transparent touch panel was subjected to a writing durability test and an end press durability test. Table 1 shows the linearity before and after the test.

Figure 2005116515
Figure 2005116515

実施例1、3、比較例5で作製した透明タッチパネルの構成を表した模式図である。It is the schematic diagram showing the structure of the transparent touch panel produced in Example 1, 3 and the comparative example 5. FIG. 実施例2で作製した透明タッチパネルの構成を表した模式図である。6 is a schematic diagram illustrating a configuration of a transparent touch panel manufactured in Example 2. FIG. 比較例2、3で作製した透明タッチパネルの構成を表した模式図である。It is the schematic diagram showing the structure of the transparent touch panel produced by the comparative examples 2 and 3. FIG. 実施例4で作製した透明タッチパネルの構成を表した模式図である。6 is a schematic diagram illustrating a configuration of a transparent touch panel produced in Example 4. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 ハードコート層
2 ポリエチレンテレフタレートフィルム
3 硬化樹脂層−1
4 硬化樹脂層−2
5 硬化樹脂層−3
6 高屈折率層
7 低屈折率層
8 透明導電層
9 ガラス基板
10 金属化合物層
1 Hard Coat Layer 2 Polyethylene Terephthalate Film 3 Cured Resin Layer-1
4 cured resin layer-2
5 Cured resin layer-3
6 High refractive index layer 7 Low refractive index layer 8 Transparent conductive layer 9 Glass substrate 10 Metal compound layer

Claims (11)

透明有機高分子基板の少なくとも一方の面上に塑性変形硬さの異なる硬化樹脂層−1と硬化樹脂層−2が順次積層され、該硬化樹脂層−2上に透明導電層が積層された透明導電性積層体であって、該硬化樹脂層−1の膜厚dと該硬化樹脂層−2の膜厚dが0.2≦d/d≦3.0の関係にあり、かつ膜厚が1μm≦d≦10μm、1μm≦d≦10μmであり、さらにHV>HV>HVかつHV>HV>HVの関係を有することを特徴とする透明導電性積層体。(ただし、透明有機高分子基板の塑性変形硬さをHV、透明有機高分子基板上に硬化樹脂層−1を形成して測定したときの塑性変形硬さをHV、透明有機高分子基板上に硬化樹脂層−2を形成して測定したときの塑性変形硬さをHV、透明有機高分子基板上に硬化樹脂層−1、硬化樹脂層−2が順次積層されたときの塑性変形硬さをHVとする) A transparent resin layer-1 and a cured resin layer-2 having different plastic deformation hardness are sequentially laminated on at least one surface of the transparent organic polymer substrate, and a transparent conductive layer is laminated on the cured resin layer-2. a conductive laminate, the thickness d 1 and the thickness d 2 of the cured resin layer-2 of the cured resin layer-1 is in the relation of 0.2 ≦ d 2 / d 1 ≦ 3.0, The film has a thickness of 1 μm ≦ d 1 ≦ 10 μm, 1 μm ≦ d 2 ≦ 10 μm, and further has a relationship of HV 2 > HV 0 > HV 1 and HV 2 > HV 3 > HV 1 Laminated body. (However, the plastic deformation hardness of the transparent organic polymer substrate is HV 0 , and the plastic deformation hardness when the cured resin layer-1 is formed on the transparent organic polymer substrate is measured as HV 1 , the transparent organic polymer substrate. HV 2 is the plastic deformation hardness when measured by forming the cured resin layer-2 thereon, and the plastic deformation when the cured resin layer-1 and the cured resin layer-2 are sequentially laminated on the transparent organic polymer substrate. Hardness is HV 3 ) 該硬化樹脂層―2と透明導電層との間に、透明導電層と接して、かつ膜厚が透明導電層より薄く、更に膜厚が0.5nm以上10.0nm未満である金属化合物層を有する、請求項1記載の透明導電性積層体。   Between the cured resin layer-2 and the transparent conductive layer, a metal compound layer in contact with the transparent conductive layer and having a thickness smaller than that of the transparent conductive layer and having a thickness of 0.5 nm or more and less than 10.0 nm. The transparent conductive laminate according to claim 1, comprising: 該硬化樹脂層−1を透明有機高分子基板上に形成した場合の塑性変形硬さHVが9.8×10Pa≦HV≦2.0×10Pa(1kgf/mm≦HV≦20kgf/mm)、また該硬化樹脂層−2を透明有機高分子基板上に形成した場合の塑性変形硬さHVが5.9×10Pa≦HV≦1.1×10Pa(60kgf/mm≦HV≦110kgf/mm)である請求項1または2記載の透明導電性積層体。 When the cured resin layer-1 is formed on a transparent organic polymer substrate, the plastic deformation hardness HV 1 is 9.8 × 10 6 Pa ≦ HV 1 ≦ 2.0 × 10 8 Pa (1 kgf / mm 2 ≦ HV 1 ≦ 20 kgf / mm 2 ), and the plastic deformation hardness HV 2 when the cured resin layer-2 is formed on the transparent organic polymer substrate is 5.9 × 10 8 Pa ≦ HV 2 ≦ 1.1 × 10 The transparent conductive laminate according to claim 1 or 2, wherein 9 Pa (60 kgf / mm 2 ≤ HV 2 ≤ 110 kgf / mm 2 ). 硬化樹脂層−1が(A)ウレタンアクリレートをモノマーとする硬化樹脂及び(B)合成ゴムからなる群から選ばれる少なくとも1種を10重量%以上含有する請求項1〜3のいずれか記載の透明導電性積層体。   The transparent resin according to any one of claims 1 to 3, wherein the cured resin layer-1 contains 10% by weight or more of at least one selected from the group consisting of (A) a cured resin having urethane acrylate as a monomer and (B) a synthetic rubber. Conductive laminate. 硬化樹脂層−2と透明導電層の間に屈折率が1.20〜1.55で且つ膜厚が0.05〜0.5μmの硬化樹脂層−3を有する請求項1〜4のいずれかに記載の透明導電性積層体。   5. The cured resin layer 3 having a refractive index of 1.20 to 1.55 and a film thickness of 0.05 to 0.5 μm between the cured resin layer 2 and the transparent conductive layer. The transparent conductive laminate according to 1. 該硬化樹脂層−3は、平均1次粒子径が該硬化樹脂層−3の膜厚の1.1倍以上でかつ平均1次粒子径が1.2μm以下の大きさの微粒子Bを含有し、該微粒子Bの含有量は硬化樹脂層−3を形成する硬化樹脂成分の0.5重量%以下である請求項1〜5記載の透明導電性積層体。   The cured resin layer-3 contains fine particles B having an average primary particle diameter of 1.1 times or more of the film thickness of the cured resin layer-3 and an average primary particle diameter of 1.2 μm or less. The transparent conductive laminate according to claim 1, wherein the content of the fine particles B is 0.5% by weight or less of the cured resin component forming the cured resin layer 3. 硬化樹脂層−2と透明導電層の間に少なくとも1層の低屈折率層と少なくとも1層の高屈折率層からなる光学干渉層を有し、かつ低屈折率層が金属化合物層または透明導電層と接する請求項1〜4のいずれかに記載の透明導電性積層体。   There is an optical interference layer comprising at least one low refractive index layer and at least one high refractive index layer between the cured resin layer-2 and the transparent conductive layer, and the low refractive index layer is a metal compound layer or a transparent conductive layer. The transparent conductive laminate according to claim 1, which is in contact with the layer. 該高屈折率層と該低屈折率層の少なくとも一方に、平均1次粒子径が光学干渉層の膜厚の1.1倍以上でかつ平均1次粒子径が1.2μm以下の微粒子Bを含有し、かつ該微粒子Bの含有量は該微粒子Bを含有する高屈折率層及び/又は低屈折率層を形成する硬化樹脂成分の0.5重量%以下である請求項1、2、3、4または7記載の透明導電性積層体。   On at least one of the high refractive index layer and the low refractive index layer, fine particles B having an average primary particle size of 1.1 times or more of the film thickness of the optical interference layer and an average primary particle size of 1.2 μm or less. And the content of the fine particles B is 0.5% by weight or less of the cured resin component forming the high refractive index layer and / or the low refractive index layer containing the fine particles B. The transparent conductive laminate according to 4 or 7. 透明導電層が酸化インジウムを主成分とした結晶質の膜であり、かつ透明導電層の膜厚が5〜50nmである請求項1〜8のいずれかに記載の透明導電性積層体。   The transparent conductive laminate according to claim 1, wherein the transparent conductive layer is a crystalline film containing indium oxide as a main component, and the thickness of the transparent conductive layer is 5 to 50 nm. 更にHVが2.0×10Pa≦HV≦8.5×10Pa(20kgf/mm≦HV≦85kgf/mm)の範囲にある請求項1〜9のいずれかに記載の透明導電性積層体。(HVの定義は上記と同じである) Further according to any one of claims 1 to 9 HV 3 is in the range of 2.0 × 10 8 Pa ≦ HV 3 ≦ 8.5 × 10 8 Pa (20kgf / mm 2 ≦ HV 3 ≦ 85kgf / mm 2) Transparent conductive laminate. (The definition of HV 3 is the same as above) 少なくとも片面に透明導電層が設けられた2枚の透明電極基板が互いの透明導電層同士が向き合うように配置されて構成された透明タッチパネルにおいて、少なくとも一方の透明電極基板として請求項1〜10のいずれかに記載の透明導電性積層体を用いた透明タッチパネル。   The transparent touch panel in which at least one transparent electrode substrate provided with a transparent conductive layer on at least one side is arranged so that the transparent conductive layers face each other, and at least one transparent electrode substrate according to claim 1. The transparent touch panel using the transparent conductive laminated body in any one.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008088059A1 (en) * 2007-01-16 2008-07-24 Teijin Limited Transparent conductive multilayer body and touch panel made of the same
JP2010177015A (en) * 2009-01-29 2010-08-12 Nof Corp Transparent conductive film and touch panel
JP2013022767A (en) * 2011-07-15 2013-02-04 Innovation & Infinity Global Corp Conductive thin film
JP2013186925A (en) * 2012-03-09 2013-09-19 Taiyo Yuden Co Ltd Information recording medium
KR101454148B1 (en) 2012-03-23 2014-10-22 세키스이나노코토테크노로지 가부시키가이샤 Light-transmitting electroconductive film, method for producing same, and use therefor
JP2016045522A (en) * 2014-08-19 2016-04-04 富士フイルム株式会社 Laminate, transfer film, laminate manufacturing method, conductive film laminate, capacitive input device, and image display device
WO2019082581A1 (en) * 2017-10-24 2019-05-02 日東電工株式会社 Transparent conductive film

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008088059A1 (en) * 2007-01-16 2008-07-24 Teijin Limited Transparent conductive multilayer body and touch panel made of the same
JP5091165B2 (en) * 2007-01-16 2012-12-05 帝人株式会社 Transparent conductive laminate and touch panel comprising the same
TWI410830B (en) * 2007-01-16 2013-10-01 Teijin Ltd A transparent conductive laminate and a touch
US11327621B2 (en) 2007-01-16 2022-05-10 Teijin Limited Transparent conductive multilayer body and touch panel made of the same
JP2010177015A (en) * 2009-01-29 2010-08-12 Nof Corp Transparent conductive film and touch panel
JP2013022767A (en) * 2011-07-15 2013-02-04 Innovation & Infinity Global Corp Conductive thin film
JP2013186925A (en) * 2012-03-09 2013-09-19 Taiyo Yuden Co Ltd Information recording medium
KR101454148B1 (en) 2012-03-23 2014-10-22 세키스이나노코토테크노로지 가부시키가이샤 Light-transmitting electroconductive film, method for producing same, and use therefor
JP2016045522A (en) * 2014-08-19 2016-04-04 富士フイルム株式会社 Laminate, transfer film, laminate manufacturing method, conductive film laminate, capacitive input device, and image display device
WO2019082581A1 (en) * 2017-10-24 2019-05-02 日東電工株式会社 Transparent conductive film
JP2019077097A (en) * 2017-10-24 2019-05-23 日東電工株式会社 Transparent conductive film
JP6997590B2 (en) 2017-10-24 2022-01-17 日東電工株式会社 Transparent conductive film

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