JP2005116120A - 情報記録方法及び情報記録装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 記録時毎に極力少ない試し書きで最適記録条件（最適なパルス長及び記録パワー）を容易に決定できるようにする。
【解決手段】 ２値テスト記録により２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’を求めるプロセスと（Ｓ１，Ｓ２）、求められた２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’に基づき多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを設定するプロセスと（Ｓ３）、設定された多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを用いて多値テスト記録を行い、多値パルス長を決定するプロセスと（Ｓ４，Ｓ５）、を備え、２値記録の最適記録パワーを利用した記録パワーで、記録パルス長最適化を行うことにより、試し書きすることなくテスト記録パワーを決定できるようにした。
【選択図】 図１

Description

本発明は、多値情報に応じて変調されたレーザ光を光情報記録媒体に照射し、多値情報を記録する情報記録方法及び情報記録装置に関する。

近年、情報を保存する手段として、ＣＤ，ＤＶＤなどの光情報記録媒体が普及しつつある。そして、さらなる記録密度の向上及び大容量化の要求が強い。この光情報記録媒体における記録密度の高密度化を図る方法のうち、光ピックアップとしては、光源の短波長化、対物レンズ開口数（ＮＡ）を大きくする手段等により光情報記録媒体上に形成されるスポット小径化が挙げられる。しかしながら、スポット小径化には限界がある。

そこで、情報の高密度化、さらには高速転送化を光ピックアップ以外で成し遂げる方法の一つとして、多値記録が挙げられる。相変化を用いた記録方法は、記録マークの有無で情報を記録する２値記録が一般的であるが、多値記録は一つの記録単位（セル）に複数の情報を記録する方法であり、一つのセル内に一つのマークを記録し、タンジェンシャル方向にマーク長を多段階に切り換えることにより、多値記録を行っている。つまり、一つのセル内のアモルファスマークと結晶状態のベースとの比率を変化させ、その反射光強度の変化を検出することによって、多値情報を再生する。

このような多値記録の方法は、矩形状の記録パルスと消去パルスからピットの面積を変調させる方法（例えば、特許文献１参照）やマルチパルス方式の記録パルスと消去パルスからピットの面積を変調させる方法（例えば、特許文献２参照）が提案されている。しかし、特許文献１は、熱拡散の影響でマークが半径方向に広がるという課題があり、特許文献２は記録パルス長が複雑となる。

このような課題を解決する方法として、特許文献３において、単純な記録パルス長による記録方法で、ビーム径以下のマークにおいても精度良く多値情報を提供できる方法が提案されている。記録パルス波形は、図３に示すように、矩形状の消去パルスと記録パルス（トップパルス）と冷却パルス（オフパルス）と矩形状の消去パルスにより構成されている。このような構成とすることにより、熱拡散の影響で半径方向に広がってしまうマークを消去し、所望の記録マークを精度良く提供している。

特開平１１−０２５４５６号公報 特開平０８−１４７６９５号公報 特開２００２−３２９３１５公報

記録線速度、光情報記録媒体、光情報記録装置の個体差及び使用環境により記録時毎に記録条件（パルス長、パワー）が異なり、全ての要素において最適な記録条件を決定するには、多くの制御個所があるため、膨大なパラメータを変化させる必要性が出てくる。

従って、多値記録の場合、従来の２値記録と比較して、制御個所が多く複雑な過程が必要とされ、試し書き領域が多くなってしまう。

また、多値記録は従来の２値記録と比較して、記録線速度、光情報記録媒体、光情報記録装置の個体差及び使用環境の変化に伴う最適記録条件の変動も大きい。従って、任意の記録パワーでパルス長を設定し最適記録条件を設定しようとすると、マージンが狭い不安定な記録条件を最適記録条件と設定してしまうという恐れがある。

本発明の目的は、記録時毎に極力少ない試し書きで最適記録条件（最適なパルス長及び記録パワー）を容易に決定できるようにすることである。

また、本発明の目的は、制御個所が非常に多い多値データの記録パルス長や記録パワー制御の煩雑化を防止し、狭いマージンしか確保できない記録条件を最適記録条件に設定してしまうことのないようにすることである。

上記の課題は、２値記録時の最適記録パワーを利用することにより解決する。情報記録装置はＤＶＤ又はＣＤとの互換性が望まれるが、従来のＤＶＤ，ＣＤは２値記録である。従って、互換性のある装置には２値で記録再生するシステムが必要となる。この２値記録のシステムを利用することにより、複雑な多値記録条件を容易に設定できる。

請求項１記載の発明は、多値情報に応じて変調されたレーザ光を光情報記録媒体に照射し、多値情報を記録する情報記録方法であって、２値テスト記録により２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’を求めるプロセスと、求められた２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’に基づき多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを設定するプロセスと、設定された多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを用いて多値テスト記録を行い、多値パルス長を決定するプロセスと、を備える。

請求項２記載の発明は、請求項１記載の情報記録方法において、多値パルス長を決定した後、多値記録パワーの最適化を行うことにより、最適な多値記録条件を選択するプロセスを備える。

請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載の情報記録方法において、前記２値最適記録パワーＰｗ’と前記多値テスト記録パワーＰｗｓが、Ｐｗ’≧Ｐｗｓの関係を有する。

請求項４記載の発明は、請求項１又は２記載の情報記録方法において、前記２値最適記録パワーＰｗ’と２値最適消去パワーＰｅ’の比と、前記２値テスト記録パワーＰｗｓと前記多値テスト消去パワーＰｅｓの比が、(Ｐｅ’／Ｐｗ’)／(Ｐｅｓ／Ｐｗｓ)≦１の関係を有する。

請求項５記載の発明は、請求項１ないし４の何れか一記載の情報記録方法において、多値パルス長を決定するプロセスでは、記録パルス幅Ｔｏｎを一定にし冷却パルス幅Ｔｏｆｆを逐次変化させてテスト記録を行い、多値再生信号レベルが略線形となるように多値パルス長を決定する。

請求項６記載の発明は、請求項５記載の情報記録方法において、一定の記録パルス幅Ｔｏｎを、レーザ光の反射強度が飽和する最短パルス幅に設定する。

請求項７記載の発明は、請求項１ないし４の何れか一記載の情報記録方法において、多値パルス長を決定するプロセスでは、記録パルス幅Ｔｏｎと冷却パルス幅Ｔｏｆｆの比を一定にし、これらのパルス幅Ｔｏｎ及びＴｏｆｆを逐次変化させてテスト記録を行い、多値再生信号レベルが略線形となるように多値パルス長を決定する。

請求項８記載の発明は、請求項１ないし４の何れか一記載の情報記録方法において、多値パルス長を決定するプロセスでは、多値情報に対して冷却パルス幅Ｔｏｆｆが等間隔になるよう記録パルス幅Ｔｏｎを調整しながらテスト記録を行い、多値再生信号レベルが略線形となるように多値パルス長を決定する。

請求項９記載の発明は、請求項２記載の情報記録方法において、最適な多値記録条件を選択するプロセスでは、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比を一定にし、最適多値記録パワーを決定する。

請求項１０記載の発明は、請求項２記載の情報記録方法において、最適な多値記録条件を選択するプロセスでは、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比を可変にし、最適多値記録パワーを決定する。

請求項１１記載の発明は、多値情報に応じて変調されたレーザ光を光情報記録媒体に照射し、多値情報を記録する情報記録装置であって、２値テスト記録により２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’を求める手段と、求められた２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’に基づき多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを設定する手段と、設定された多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを用いて多値テスト記録を行い、多値パルス長を決定する手段と、を備える。

請求項１２記載の発明は、請求項１１記載の情報記録装置において、多値パルス長を決定した後、多値記録パワーの最適化を行うことにより、最適な多値記録条件を選択する手段を備える。

請求項１ないし４、１１，１２記載の発明によれば、２値記録の最適記録パワーを利用した記録パワーで、記録パルス長最適化を行うので、試し書きすることなくテスト記録パワーを決定することができ、記録速度、光情報記録媒体、光情報記録装置の個体差及び使用環境の変化の影響により変動する最適記録条件を容易に設定することができ、かつ、記録速度、光情報記録媒体、光情報記録装置の個体差及び使用環境の変化の影響を抑制でき、常に安定した情報を提供することができる。

請求項５又は６記載の発明によれば、反射光強度が飽和値に達するのに必要最小限のトップパルス幅を最適パルス幅と設定するようにしたので、熱拡散の影響を抑えることができ、正確に多値データを再生させることができる。

請求項７記載の発明によれば、記録パルス幅と冷却パルス幅の比を一定にし、最適パルス幅を設定するようにしたので、マージンの広い多値データを提供することができる。

請求項８記載の発明によれば、前後多値データを含めたパターン単位で記録パルス幅を設定する場合、初期パルス幅設定は多値データに対してオフパルス幅を等間隔にするように記録パルス幅Ｔｏｎを設定するようにしたので、マージンの広い多値データを提供することができる。

請求項９又は１０記載の発明によれば、２値記録の最適記録パワーを利用した記録パワーで、記録パルス最適化を行った後、改めて試し書きを行い、信号レベル偏差が最小になる記録パワーを最適記録パワーとして決定するようにしたので、多値情報の正確な再生を可能にすることができる。

本発明を実施するための最良の形態について図面を参照して説明する。

＜発明の背景＞
パルス幅設定時の記録パワーＰｗ及び消去パワーＰｅの違いにより、記録パワーＰｗのマージンや最小σ／ＤＲの値は大きく変化する（ここで、σは再生結果から計算した多値データ別の反射光強度の偏差を平均した値、ＤＲは最大反射光強度と飽和反射光強度の差＝ダイナミックレンジである）。その様子を図１３に示す。光情報記録媒体に記録してある初期記録パワーでパルス幅設定した場合［■初期］と、本発明の２値記録の最適記録パワーを出発点とする方法でパルス幅を設定した場合［◆本発明］の結果である。

ちなみに、図１４は従来の初期記録パワーを出発点として記録条件を最適化する手順を示す概略フローチャートであり、初期記録パワーに基づき多値テスト記録のパワーを設定し（ステップＳ１１，Ｓ１２）、設定された記録パワーで多値記録で試し書きを行い（Ｓ１３）、その結果に基づき多値記録パルス長を設定し（Ｓ１４）、設定されたパルス長を用いて再び多値記録で試し書きを行い（Ｓ１５）、多値記録のパワーを設定し（Ｓ１６）、設定された条件が最小σ／DRなる条件を満たすまで（Ｓ１７のＹ）、設定動作を繰返すようにしている。この図１４に示すように初期記録パワーを出発点にして記録条件を最適化していくと、最小σ／DRの値は小さくなるが、マージンが狭くるような記録条件に収束したり、さらに周辺環境によっては正確な情報を提供できなくなるという問題が生じる。

従って、パルス幅設定時のテスト用記録パワー及び消去パワーは、安定した記録を行うために非常に重要なパラメータである。本実施の形態では、このパルス幅設定時のテスト用記録パワー及び消去パワーの設定方法を提案するものである。

＜多値記録条件の設定方法の概要＞
本実施の形態の情報記録方法における最適な多値記録条件の選択方法は、２値記録の最適記録パワー、消去パワーを出発点とすることを特徴とする。情報記録装置が備えるマイクロコンピュータにより実行されるその手順を図１に示す。

まず、２値記録で試し書きし（ステップＳ１）、２値最適記録条件（２値最適記録パワーＰｗ’，消去パワーＰｅ’，バイアスパワーＰｂ’）を求める（Ｓ２）。これらのステップＳ１，Ｓ２が、値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’を求めるプロセス又は手段として実行される。

次に、求められたこれらのパワーＰｗ’，Ｐｅ’，Ｐｂ’を基準にして、多値テスト記録用の記録パワーＰｗｓ，消去パワーＰｅｓ，冷却パワーＰｂｓを設定する（Ｓ３）。このステップＳ３が、多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを設定するプロセス又は手段として実行される。

ついで、設定されたこれらのパワーＰｗｓ，Ｐｅｓ，Ｐｂｓを用いて多値記録で試し書きし（Ｓ４）、多値再生信号レベルが略線形となるよう多値記録パルス長を決定する（Ｓ５）。これらのステップＳ４，Ｓ５が、多値パルス長を決定するプロセス又は手段として実行される。

多値記録パルス長を決定した後、多値記録で試し書きし（Ｓ６）、多値記録時のパワーＰｗ及び消去パワーＰｅを最適化し、記録条件を設定する（Ｓ７）。これらのステップＳ６，Ｓ７が、最適な多値記録条件を選択するプロセスとして実行される。

以下にさらに具体的な手順を示す。

２値記録最適条件の設定方法（ステップＳ１，Ｓ２）
２値データのテストパターンを記録し、記録パルス長及び記録パワーを最適化する。図２に２値記録パルス列の一例を示す。２値記録のパルス列の設定として、各々のマークデータ長ｎＴ（Ｔは基本クロック周期、ｎは自然数）に対する記録パルス列を構成するパルス数（ｎ−１）又は（ｎ−２）や、基本クロック周期Ｔに対する先頭加熱パルス幅の比Ｔtopと、後続するマルチパルス部分の加熱パルスのデュ−ティ比Ｔmpがある。また、記録パワーの設定として、記録パワーＰｗ’，消去パワーＰｅ’，バイアスパワーＰｂ’がある。これらの設定は、多値記録を行う場合と同様の線速度Ｖｗにて行い、例えばジッタが最小になるよう、又は、アシンメトリが所望の値の範囲になるように設定する。

多値記録最適条件の設定方法（ステップＳ３〜Ｓ７）
２値記録時の最適記録パワーＰｗ’，Ｐｅ’，Ｐｂ’から求められた記録パワーＰｗｓ，Ｐｅｓ，Ｐｂｓを用いて、一定の長さを持つ記録セル毎に、多値データのテストパターンを記録し、多値記録のパルス長を設定する。ただし、ＰｗｓはＰｗｓ＝Ｐｗ’又はＰｗｓ＜Ｐｗ’（即ち、Ｐｗ’≧Ｐｗｓ）であり、記録パワーと消去パワーの比は、（Ｐｅ’／Ｐｗ’）／（Ｐｅｓ／Ｐｗｓ）≦1となる。これは、２値記録マークに比べて多値記録マークは小さいため（例えば、２値記録の最小マークに相当する大きさが、多値記録においては最大マーク）、熱拡散による半径方向の広がりを抑制するためである。

（テストパターン）
試し書きのテストパターンとして、表１に示す前後多値データが対称の(ＸＹＸ)パターンを準備した。８値記録の場合では、６４通りになる。

（記録パルス…ステップＳ４，Ｓ５）
多値記録のパルス列は、図３に示すように、１セルＴｃ内の記録パルス立上りＴａ，記録パルス立下りＴｂ，消去パルス立上りＴｃで定義している。多値記録のパルス列の設定としては、トップパルス幅（記録パルス幅）Ｔｏｎ＝Ｔｂ−Ｔａ、オフパルス幅（消去パルス幅）Ｔｏｆｆ＝Ｔｃ−Ｔｂである。トップパルス幅Ｔｏｎに相当するレーザ照射で、記録膜が加熱されて記録マークが形成され、熱拡散の影響でオフパルス幅Ｔｏｆｆの領域にも記録マークが広がる。オフパルス後方に配置した消去パルスにより、広がったマークが消去されることで、記録マークが形成される。

（記録パルス設定方法…ステップＳ４，Ｓ５）
多値テストパターンの再生は、図４に示すように所定の周波数で再生信号をサンプリング（例えば、記録セルの中心位置）し、サンプリングした信号レベルから多値データを判別する。このパターンを再生した時、多値データに対して再生信号レベルが略線形になるように、パルス幅Ｔｏｎ及びＴｏｆｆを設定する。再生信号レベルが線形になっているかどうかを示す指標として、以下の式で表される量Σδ^２を定義する。

Σδ^２＝Σ｛Ｖｍ′−Ｖ(ｍ)｝^２
ｍ＝１，２，…，７
Ｖｍ′：サンプリングした多値データｍの再生信号レベル
Ｖ(ｍ)＝｛ｍ×（Ｖ７′−Ｖ０′）／７｝＋Ｖ０：多値データｍの目標信号レベル
このΣδ^２が最小となるパルス幅Ｔｏｎ及びＴｏｆｆを設定すればよい。

（記録パワー設定方法…ステップＳ６，Ｓ７）
Σδ^２が最小となるパルス幅Ｔｏｎ及びＴｏｆｆを設定したら、記録パワーを変化させながら、既知の多値ランダムパターンを記録再生する。σ／ＤＲが最小となるＰｗ，Ｐｅを最適記録パワーと決定する。

このような実施の形態に基づく幾つの実施例を以下に説明する。

＜実施例１＞
本実施例では、用いる光情報記録媒体は、波長４０５ｎｍで記録可能な相変化型記録媒体とした。基板は直径１２０ｍｍ，厚さ０．６ｍｍのポリカーボネードからなり、基板表面上には射出成形によりグルーブが形成されている。トラックピッチは０．４６μｍである。この基板上に、誘電体膜、Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅからなる相変化記録膜、誘電体膜、反射膜を順次積層して光情報記録媒体を作成した。

本実施例で用いる情報記録装置の構成例を図５に示す。スピンドルモータ（図示せず）により回転駆動される光情報記録媒体１に対して、光源としての半導体レーザ２から出射されたレーザ光がコリメートレンズ３、偏光ビームスプリッタ４、偏向プリズム５、λ／４板６、対物レンズ７を介して集光されることにより、記録情報の形成、再生がされる。光情報記録媒体１からの反射光は対物レンズ７、λ／４板６、偏向プリズム５を通過した後、偏光ビームスプリッタ４により入射光と分離偏向され、検出レンズ８により４分割受光素子９上に導かれ、再生信号、フォーカス誤差信号、トラック誤差信号等が検出される。記録再生波長は４０５ｎｍ、対物レンズ７の開口数ＮＡ＝０．６５，光情報記録媒体１上のスポット径は約０．５２μｍである。記録再生の線速度は６ｍ／ｓ，記録クロック周期Ｔ＝０．２８ｎｓ，セルの円周方向の長さは０．３２μｍ（１６Ｔ）である。

本実施例のパルス長の設定について説明する。２値記録のジッタが最小となる最適記録パワーは、Ｐｗ’＝８．６ｍＷ，Ｐｅ’＝４．３ｍＷ，Ｐｂ’＝０．１ｍＷであった。テスト用パワーは、Ｐｗｓ＝８．６ｍＷ，Ｐｅｓ＝５．４ｍＷ，Ｐｂｓ＝０．１ｍＷ｛Ｐｗｓ＝Ｐｗ’，(Ｐｅ’／Ｐｗ’)／(Ｐｅｓ／Ｐｗｓ)＜１｝に設定し、多値記録のパルス長を設定する。本実施例では、パルス幅Ｔｏｎを一定にしパルス幅Ｔｏｆｆを変化させることで、各多値情報に対応した記録マークを形成するようにした。

本実施例のテスト記録として、まず、Ｔｏｎ＝Ｔｏｎ(１)としてテストデータを記録再生し、再生信号をサンプリングする。テストパターンは表１において、前後多値データが同様の(XＹX)パターンを用いる。そして、図６に示すように多値データｍにオフパルス幅Ｔｏｆｆ(１，ｍ)（１はＴｏｎ(１)の意味である）を対応させ、オフパルス幅Ｔｏｆｆに対する反射光強度の変化を調べる。その結果を図７に示す。Ｔｏｆｆ(１，ｍ)で記録したときの反射光強度をＩ(１，ｍ)としている（ｍ＝０，１，２，…，７）。Ｉ(１，ｍ)を記憶する。次に、この試し書き及び反射光強度の測定をトップパルス幅Ｔｏｎ(２)として行う。これを所定の回数繰返すことにより、図８に示す結果が得られる。

本実施例の最適トップパルス幅の決定として、まず、図８に示す結果から，反射光強度が飽和するレベルＩｓを検出する。次に、Ｉ(ｉ，ｊ)が飽和レベルＩｓに達するＴｏｆｆ(ｉ，ｊ)を求める。図８では、Ｔｏｆｆ(１．６Ｔ，１２Ｔ)，Ｔｏｆｆ(２．４Ｔ，１０Ｔ)，Ｔｏｆｆ(３．２Ｔ，６Ｔ)である。この３条件のうち、飽和レベルＩｓに達するオフパルス幅が長いパルス条件，即ち、最も短いトップパルス幅Ｔｏｎを最適記録トップパルス幅と決定する。これは熱干渉を抑えるためである。

最適トップパルス幅Ｔｏｎを決定する第２の方法は、Ｔｏｆｆ−反射光強度曲線を３次関数で近似し、１次の係数の絶対値が最小になるトップパルス幅条件、即ち、曲線の傾きが小さい条件を最適トップパルス幅Ｔｏｎと決定する。図８の場合，近似式は、
Ｔｏｎ＝１．６Ｔ
：ｙ＝０．００００３ｘ^３＋０．００２１ｘ^２−０．０７７５ｘ＋０．９８９７
Ｔｏｎ＝２．４Ｔ
：ｙ＝０．０００４ｘ^３−０．００１７ｘ^２−０．０８５ｘ＋１．０２
Ｔｏｎ＝３．２Ｔ
：ｙ＝−０．０００５ｘ^３＋０．０１７４ｘ^２−０．１８４５ｘ＋１．０１４３
となり、Ｔｏｎ＝１．６Ｔが最適記録パルス幅として決定される。

本実施例の多値データに対応した反射光強度の割り付けとしては、反射光強度が最大及び最小となるレベルＩ０及びＩｓの範囲で，多値データに対応した反射光強度を決定する。Ｍ値記録の場合（Ｍ：２以上の整数）、多値データｍの反射光強度Ｌ(ｍ)を（多値データ０，７の反射光強度は、各々Ｉ０，Ｉ７である）、以下の式を使って計算する（図８のＬ(１)からＬ(６）)。

Ｌ(ｍ)＝Ｉ０−（Ｉ０−Ｉｓ）／(Ｍ−１)
また、本実施例のオフパルス幅Ｔｏｆｆの設定としては、トップパルス幅Ｔｏｎの試し書きの結果を用いて、オフパルス幅Ｔｏｆｆを決定する。

（ａ） 線形で内挿する場合
Ｌ(ｍ)が、Ｉ(ｎ)とＩ(ｎ＋１)との間にある場合、
Ｔｏｆｆ(ｍ)
＝{Ｉ(ｎ)−Ｌ(ｍ))／{Ｉ(ｎ＋１)−Ｉ(ｎ))／{Ｔｏｆｆ(ｎ＋１)−Ｔｏｆｆ(ｎ))
＋Ｔｏｆｆ(ｎ)
（b） 近似式を使ってＴｏｆｆ(ｍ)を設定する場合
前述の近似式を使ってＬ(ｍ)となるＴｏｆｆ(ｍ)を求める。（ａ）の方法より精度良くパルス幅Ｔｏｆｆを設定することができる。

本実施例の記録パワーの設定としては、パワーＰｗ，Ｐｅの比を一定(Ｐｅ／Ｐｗ＝０．６３)にし、これらのパワーＰｗ，Ｐｅを変化させながら、既知の多値ランダムデータを記録再生した。図９にσ／ＤＲのＰｗ依存性を示す。σ／ＤＲが最小となるＰｗを最適記録パワーに決定する。本実施例によれば、図１３に示した初期記録パワーを出発点として最適条件を設定した結果と比べて、マージンが広く良好な信号品質が安定して得られることがわかる。

パワーＰｗ，Ｐｅの比を変化させて既知の多値ランダムデータを記録再生し、σ／ＤＲが最小となるパワーＰｗ，Ｐｅを最適記録パワーに決定してもよい。

＜実施例2＞
本実施例では、実施例１と同様の光情報記録媒体及び情報記録装置を用いる。実施例１と同様に２値記録のジッタが最小となる最適記録パワーは、Ｐｗ’＝８．６ｍＷ，Ｐｅ’＝４．３ｍＷ，Ｐｂ’＝０．１ｍＷであった。

本実施例のパルス長の設定としては、Ｐｗｓ＝７．８ｍＷ，Ｐｗｓ＝４．９ｍＷ，Ｐｂｓ＝０．１ｍＷ（Ｐｗｓ＜Ｐｗ’，｛Ｐｅ’／Ｐｗ’｝／(Ｐｅｓ／Ｐｗｓ)＜1）とし、多値記録のパルス長を設定するようにした。パルス長設定方法は実施例１と同様に行い、パルス幅Ｔｏｎを一定にしパルス幅Ｔｏｆｆを変化させることで、各多値情報に対応した記録マークを形成した。

本実施例の記録パワーの設定としては、実施例１と同様にパワーＰｗ，Ｐｅの比を一定(Ｐｅ／Ｐｗ＝０．６３)にし、これらのパワーＰｗ，Ｐｅを変化させながら、既知の多値ランダムデータを記録再生した。図１０にσ／ＤＲのＰｗ依存性を示す。σ／ＤＲが最小となるＰｗを最適記録パワーに決定するようにした。本実施例によれば、図１３の初期パワーでパルス幅設定時に比べて、マージンが広く良好な信号品質が安定して得られることがわかる。

パワーＰｗ，Ｐｅの比を変化させて既知の多値ランダムデータを記録再生し、σ／ＤＲが最小となるＰｗ，Ｐｅを最適記録パワーに決定してもよい。

＜実施例3＞
本実施例では、実施例１と同様の光情報記録媒体及び情報記録装置を用いる。実施例１と同様に２値記録のジッタが最小となる最適記録パワーは、Ｐｗ’＝８．６ｍＷ，Ｐｅ’＝４．３ｍＷ，Ｐｂ’＝０．１ｍＷであった。

本実施例のパルス長の設定は、実施例２と同様に、Ｐｗｓ＝７．８ｍＷ，Ｐｗｓ＝４．９ｍＷ，Ｐｂｓ＝０．１ｍＷとし、多値記録のパルス長を設定するようにした。パルス長設定方法はパルス幅Ｔｏｆｆに対して多値データに対応する反射光強度の変化が線形になるように、パルス幅Ｔｏｎを設定するようにした。

実施例１と同様に、テスト記録を行い、図８に示すような結果を得る。レベルＩｓに達するオフパルス幅が長い時のＴｏｆｆを多値データ７のＴｏｆｆに設定する。図８ではＴｏｆｆ＝１２Ｔである。図８においてＩ０とＩｓを結ぶ直線（図８の点線）とＬ（ｍ）との交点が、多値データｍのオフパルス幅Ｔｏｆｆ(ｍ)である。図８の結果をパルス幅Ｔｏｎの関数として近似しておき、Ｔｏｆｆ(ｍ)の時、Ｌ（ｍ）になるようトップパルス幅Ｔｏｎを計算する。

この方法で設定した記録パルス条件を図１１に示す。横軸が多値データ、縦軸がパルス幅である。トップパルス幅を調整することにより、多値データに対してオフパルス幅を等間隔に設定できる。

実施例２，３の記録パルス条件について、各々記録補正を行い、多値ランダムデータを記録したときのσ／ＤＲを記録補正前後で比較した結果を表２に示す。「記録補正」とは、前後多値データを含めたパターン（YXＹ）単位で記録パルス幅を設定する方法である。８値記録の場合は前後多値データを含めた５１２通りのパルス幅を設定する。記録補正前（８通りのパルス幅）では実施例１の記録パルスのほうがσ／ＤＲは小さいが、記録補正後で比較すると実施例２の記録パルスのほうがσ／ＤＲを低減できる。再生マージンを広げるために記録補正を必要とする場合、補正前の８通りの初期パルス幅設定方法としては、多値データに対してオフパルス幅を等間隔に設定するほうが好ましい。

＜実施例4＞
本実施例では、実施例１と同様の光情報記録媒体及び記録装置を用いる。２値記録のジッタが最小となる最適記録パワーは、Ｐｗ’＝８．６ｍＷ，Ｐｅ’＝４．３ｍＷ，Ｐｂ’＝０．１ｍＷであった。

本実施例のパルス長の設定としては、Ｐｗｓ＝８．６ｍＷ，Ｐｗｓ＝４．３ｍＷ，Ｐｂｓ＝０．１ｍＷとし、多値記録のパルス長を設定するようにした。パルス長設定方法はＴｏｎ／Ｔｏｆｆを一定にして、多値データに対応する反射光強度の変化が線形になるように、これらのパルス幅Ｔｏｎ，Ｔｏｆｆを設定するようにした。

また、記録パワーの設定としては、パワーＰｗ，Ｐｅの比を一定｛Ｐｅ／Ｐｗ＝０．５｝にし、パワーＰｗを変化させながら、既知の多値ランダムデータを記録再生した。図１２にσ／ＤＲのＰｗ依存性をＴｏｎ＝４．４ｎｓ，Ｔｏｎ／Ｔｏｆｆ＝０．５，Ｔｏｎ／Ｔｏｆｆ＝１における結果を示す。本実施例で示すようにＴｏｎ／Ｔｏｆｆが一定にしてパルス長を設定すると、パワーマージンが非常に大きくなり、信号品質が安定して得られることがわかる。

本発明の実施の形態の情報記録方法における記録条件の設定処理例を示す概略フローチャートである。 ２値記録パルス例を示す波形図である。 多値記録パルス例を示す波形図である。 所定周波数での再生信号のサンプリング処理例を示す説明図である。 情報処理装置の構成例を示す光学系構成図である。 多値データにオフパルス幅を対応させて、オフパルス幅に対する反射光強度の変化を調べた結果を示す特性図である。 オフパルス幅に対する反射光強度の変化を調べた結果を示す特性図である。 試し書き及び反射光強度の測定を複数回繰返した結果を示す特性図である。 σ／ＤＲのＰｗ依存性を示す特性図である。 σ／ＤＲのＰｗ依存性を示す特性図である。 設定された記録パルス条件例を示す説明図である。 σ／ＤＲのＰｗ依存性の具体例を示す特性図である。 記録パワー及び消去パワーの違いにより、記録パワーのマージンや最小σ／ＤＲの値が大きく変化する様子を示す説明図である。 従来の情報記録方法における記録条件の設定処理例を示す概略フローチャートである。

符号の説明

１ 光情報記録媒体

Claims (12)

1. 多値情報に応じて変調されたレーザ光を光情報記録媒体に照射し、多値情報を記録する情報記録方法であって、
   ２値テスト記録により２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’を求めるプロセスと、
   求められた２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’に基づき多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを設定するプロセスと、
   設定された多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを用いて多値テスト記録を行い、多値パルス長を決定するプロセスと、
   を備えることを特徴とする情報記録方法。
2. 多値パルス長を決定した後、多値記録パワーの最適化を行うことにより、最適な多値記録条件を選択するプロセスを備えることを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
3. 前記２値最適記録パワーＰｗ’と前記多値テスト記録パワーＰｗｓが、
   Ｐｗ’≧Ｐｗｓ
   の関係を有することを特徴とする請求項１又は２記載の情報記録方法。
4. 前記２値最適記録パワーＰｗ’と２値最適消去パワーＰｅ’の比と、前記２値テスト記録パワーＰｗｓと前記多値テスト消去パワーＰｅｓの比が、
   (Ｐｅ’／Ｐｗ’)／(Ｐｅｓ／Ｐｗｓ)≦１
   の関係を有することを特徴とする請求項１又は２記載の情報記録方法。
5. 多値パルス長を決定するプロセスでは、記録パルス幅Ｔｏｎを一定にし冷却パルス幅Ｔｏｆｆを逐次変化させてテスト記録を行い、多値再生信号レベルが略線形となるように多値パルス長を決定する、ことを特徴とする請求項１ないし４の何れか一記載の情報記録方法。
6. 一定の記録パルス幅Ｔｏｎを、レーザ光の反射強度が飽和する最短パルス幅に設定することを特徴とする請求項５記載の情報記録方法。
7. 多値パルス長を決定するプロセスでは、記録パルス幅Ｔｏｎと冷却パルス幅Ｔｏｆｆの比を一定にし、これらのパルス幅Ｔｏｎ及びＴｏｆｆを逐次変化させてテスト記録を行い、多値再生信号レベルが略線形となるように多値パルス長を決定する、ことを特徴とする請求項１ないし４の何れか一記載の情報記録方法。
8. 多値パルス長を決定するプロセスでは、多値情報に対して冷却パルス幅Ｔｏｆｆが等間隔になるよう記録パルス幅Ｔｏｎを調整しながらテスト記録を行い、多値再生信号レベルが略線形となるように多値パルス長を決定する、ことを特徴とする請求項１ないし４の何れか一記載の情報記録方法。
9. 最適な多値記録条件を選択するプロセスでは、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比を一定にし、最適多値記録パワーを決定する、ことを特徴とする請求項２記載の情報記録方法。
10. 最適な多値記録条件を選択するプロセスでは、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比を可変にし、最適多値記録パワーを決定する、ことを特徴とする請求項２記載の情報記録方法。
11. 多値情報に応じて変調されたレーザ光を光情報記録媒体に照射し、多値情報を記録する情報記録装置であって、
    ２値テスト記録により２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’を求める手段と、
    求められた２値最適記録パワーＰｗ’及び消去パワーＰｅ’に基づき多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを設定する手段と、
    設定された多値テスト記録パワーＰｗｓ及びテスト消去パワーＰｅｓを用いて多値テスト記録を行い、多値パルス長を決定する手段と、
    を備えることを特徴とする情報記録装置。
12. 多値パルス長を決定した後、多値記録パワーの最適化を行うことにより、最適な多値記録条件を選択する手段を備えることを特徴とする請求項１１記載の情報記録装置。
    

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