JP2005111411A - Coating film forming method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、例えば画像表示装置、インクジェット記録装置等の部品、プリント基配線基板、その他のデバイスの部品等において、基板上に必要な平坦性若しくは凹凸を持った塗布膜の形成方法に関する。 The present invention relates to a method for forming a coating film having necessary flatness or unevenness on a substrate, for example, in components such as an image display device and an inkjet recording device, a printed circuit board, and other device components.
従来から、回路基板、液晶表示素子、画像形成装置、インクジェット記録装置等の製造工程では、基板上に金属、ガラス等の無機物、樹脂等の有機物、或はこれらの混合物等の様々な材料によって塗布膜を形成している。又、塗布膜を何層か重ね、多層構造としてデバイス化することにより様々な機能を発現させている。従って、これらの塗布膜の形成、塗布膜の積層、若しくは塗布膜のパターニング等の多くのプロセスにおいて、塗布液を塗布する工程が必要となっている。 Conventionally, in the manufacturing process of circuit boards, liquid crystal display elements, image forming apparatuses, ink jet recording apparatuses, etc., the substrate is coated with various materials such as metals, inorganic substances such as glass, organic substances such as resins, or mixtures thereof. A film is formed. In addition, various functions are expressed by stacking several coating films to form a device having a multilayer structure. Therefore, in many processes such as formation of these coating films, lamination of coating films, or patterning of coating films, a step of applying a coating solution is required.
例えば、プリント基板、或はIC等の半導体装置の製造においては、基板上にフォトレジスト膜を形成後、フォトレジスト膜を露光・現像して所定のパターンを形成し、パターニングフォトレジスト膜をマスクに用いて機能膜を所定のパターンに加工する方法が採られる。このフォトレジスト膜を形成するには、一般にスピンコーティング等の手法が用いられ、例えば特許文献1等に開示されているような塗布装置及び塗布膜形成方法により塗布し成膜して製造される。
For example, in the manufacture of a semiconductor device such as a printed circuit board or IC, after forming a photoresist film on the substrate, the photoresist film is exposed and developed to form a predetermined pattern, and the patterned photoresist film is used as a mask. A method of processing the functional film into a predetermined pattern is used. In order to form this photoresist film, generally, a technique such as spin coating is used. For example, the photoresist film is manufactured by coating with a coating apparatus and a coating film forming method as disclosed in
又、耐エッチャント及び薬品・溶剤に対する保護のための保護膜、パッシベーション膜等の平坦化膜に関しても、レジスト等の塗布液をスピンコート法により塗布して硬化させる方法が一般的である。スピンコート法は平面のみならず、凹凸面への膜形成についても使用される。特許文献2には、このような塗布装置及び塗布膜形成方法が開示されている。
Further, with respect to a planarizing film such as a protective film for protecting against an etchant and chemicals / solvents and a passivation film, a method of applying a coating liquid such as a resist by a spin coating method and curing it is common. The spin coating method is used not only for flat surfaces but also for film formation on uneven surfaces.
又、液体噴射記録ヘッドデバイスの製造においては、例えば特許文献3に示されるように、幾つかの機能膜をスピンコート法等を用いて形成することが知られている。
In manufacturing a liquid jet recording head device, for example, as shown in
図10にスピンコートによる塗布膜形成方法を示した。図10(a)はスピンコート法の概略を示した模式図、図10(b)はスピンコート法により形成した塗布膜の概略図である。図中、1は基板、2は塗布液、3は塗布膜である。20はスピンコーターの基板支持体、23は塗布液供給ディスペンサである。 FIG. 10 shows a method for forming a coating film by spin coating. FIG. 10A is a schematic diagram showing an outline of the spin coating method, and FIG. 10B is a schematic diagram of a coating film formed by the spin coating method. In the figure, 1 is a substrate, 2 is a coating solution, and 3 is a coating film. 20 is a substrate support for the spin coater, and 23 is a coating liquid supply dispenser.
先ず、基板1を基板支持体20の上に密着させてチャックする。塗布液供給ディスペンサ23から塗布液2を適宜、基板1上へ供給する。更に、基板支持体20を所定の回転数で図に示すように回転させて塗布液2を基板1上に伸展させた後、これをホットプレート(図示せず)上で乾燥させ、図10(b)に示すような塗布膜3を得る。
First, the
又、塗布膜の形成方法としてはスピンコート法の他に、特許文献4に示されるように、スリット状の塗布ヘッドから基板に塗布液を塗布し、塗布ヘッドと基板をスリットと垂直方向に相対移動させることにより、基板上の特定の領域にのみダイレクトにコーティングすることができるスリットコート法も知られている。 As a method for forming a coating film, in addition to the spin coating method, as shown in Patent Document 4, a coating liquid is applied to a substrate from a slit-shaped coating head, and the coating head and the substrate are relative to each other in a direction perpendicular to the slit. There is also known a slit coating method in which a specific area on a substrate can be directly coated by moving it.
塗布液を周囲に振り飛ばして膜化するスピンコート法に比べ、必要な場所にのみ塗布出来ることから、塗布液の使用効率が良いと言われている。 Compared to the spin coating method in which the coating solution is shaken around to form a film, the coating solution can be applied only at a necessary place, and it is said that the usage efficiency of the coating solution is good.
しかしながら、従来の技術に示したスピンコート法及びスリットコート法においては、図10(b)に示すように、塗布膜のエッジ部に膜厚の異常に盛り上がった部分(エッジビード)4が発生し、その内側にやや膜厚の薄い窪み部5が発生するという問題があった。エッジビード4及び窪み部5が発生すると、膜厚の安定した平坦部6の面積が塗布膜3全体の面積よりも大幅に小さくなってしまう。そのため、1枚の基板から複数の液体噴射記録ヘッドデバイスのチップを多数個取りする場合等では、得られるチップの個数が限られ、塗布膜や基板の大きさを有効に活かせなくなってしまう。又、結果的に塗布材料の使用効率が落ちてしまうことになり、コスト高となってしまう。
However, in the spin coat method and the slit coat method shown in the prior art, as shown in FIG. 10B, an abnormally raised portion (edge bead) 4 occurs at the edge portion of the coating film, There was a problem that a
又、スリットコート法の場合、塗布膜のエッジ部にエッジビード4及び窪み部5が発生することを予め考慮し、均一な膜厚が必要な平坦部6に対して塗布面積を広く取ることが考えられている。これにより、少なくとも均一な膜厚が必要な領域においては、均一な膜厚を確保することができる。しかしながら、デバイスが必要以上に大きくなってしまい、後工程で行う配線等を施す際にデバイス設計上の制約が生じてしまうため、現実的とは言えない。
In the case of the slit coating method, it is considered that the edge bead 4 and the
更に、塗布膜3にフォトリソ等によってパターニングを行いたい場合は、エッジビード4が邪魔になって、マスクの位置合わせに影響が出ることがある。このため、特許文献1に開示されているように、エア等によりエッジビード4を除去することも考えられている。
Further, when it is desired to pattern the
しかしながら、エッジビード4を除去する方法では平坦部6の面積を広げることはできず、デバイスの切り出し個数はやはりエッジビード4及び窪み部5の影響を受けてしまう。又、エッジビード4が除去される際に、溶剤等を使用する場合等は液体の浸透により塗布膜の縁に新たな盛り上がりができたり、塗布膜の構造に影響を与えたりして、更に問題が発生してしまう場合もある。
However, the method of removing the edge bead 4 cannot increase the area of the
これらのエッジビード4及び窪み部5の形状は、塗布膜のエッジ部から通常数mm〜10mm程度入った所に形成される。但し、塗布液2の粘度、乾燥性等の性質や、塗布膜3の厚さ、乾燥等により塗布された塗布液膜を固定する方法等の影響を受けるため、それらの条件によって、塗布膜のエッジ部から10mm以上の領域にまで及ぶこともある。この塗布膜の周囲に発生するエッジビード4及び窪み部5の低減が精密デバイスのローコスト生産等のために必要となっている。
The shapes of the edge bead 4 and the
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的とする処は、エッジビードを減らしより平坦な塗布膜を形成することによって、ウエハ等から効率良くチップを切り出すことができ、エッジビードを除去する必要がないために作業工程を短縮して作業コストを低減することができる塗布膜形成方法を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and the intended process is to reduce the edge beads and form a flatter coating film so that chips can be efficiently cut out from a wafer or the like, and the edge beads are removed. An object of the present invention is to provide a method for forming a coating film that can shorten the work process and reduce the work cost because it is not necessary.
上記目的を達成するため、本発明は、基板に塗布液を伸展及び固定し、塗布膜を形成する塗布膜形成方法において、塗布液の伸展中又は伸展後に塗布面にシート状の物体を接触させ、前記塗布液から少なくとも一部を除去してその流動性を失わせることを特徴とする。 In order to achieve the above object, the present invention provides a coating film forming method in which a coating solution is stretched and fixed on a substrate to form a coating film, and a sheet-like object is brought into contact with the coating surface during or after the coating solution is stretched. The fluidity is lost by removing at least a part of the coating solution.
本発明によれば、塗布液の基板への伸展中若しくは伸展後に、塗布面にシート状の物体を接触させ、塗布液から溶媒成分の少なくとも一部を除去してその流動性を失わせることにより、エッジビードを減らしより平坦な塗布膜を形成するこみとができる。これにより、ウエハ等から効率良くチップを切り出すことができる。又、エッジビードを除去する必要がなく、作業工程を短縮でき、作業コストを低減することができる。 According to the present invention, by extending the coating liquid onto the substrate or after extending, the sheet-like object is brought into contact with the coating surface, and at least a part of the solvent component is removed from the coating liquid to lose its fluidity. The edge bead can be reduced and a flatter coating film can be formed. Thereby, a chip can be efficiently cut out from a wafer or the like. Further, it is not necessary to remove the edge bead, the work process can be shortened, and the work cost can be reduced.
又、本発明によれば、乾燥中に乾燥促進体が塗布液膜の表面に接していることにより、表面で面方向への塗布液の流動が阻害されて、表面の微細な凹凸の原因となる対流を抑制することができるため、均一な塗布膜の形成に非常に有効である。 In addition, according to the present invention, the drying accelerator is in contact with the surface of the coating liquid film during drying, so that the flow of the coating liquid in the surface direction is hindered on the surface, causing fine irregularities on the surface. Therefore, it is very effective for forming a uniform coating film.
先ず、図3〜図7を用いてエッジビードが形成される原理について説明する。 First, the principle of edge bead formation will be described with reference to FIGS.
図3はスリットコート法等を用いて塗布液を塗布する場合の理想的な膜形状の断面図の一部である。 FIG. 3 is a part of a cross-sectional view of an ideal film shape when a coating solution is applied using a slit coating method or the like.
図3において、1は基板、3は塗布膜、7は塗布液膜である。図3(a)は塗布直後の塗布液膜7の断面図であり、図3(b)は塗布液膜7を乾燥若しくは化学反応、物理反応により塗布膜化した塗布膜3の断面図である。塗布液膜7は、乾燥等により揮発成分が蒸発して塗布膜化して塗布膜3となるため、塗布膜3の膜厚は、塗布液膜7に対して大幅に薄くなる。
In FIG. 3, 1 is a substrate, 3 is a coating film, and 7 is a coating liquid film. FIG. 3A is a cross-sectional view of the coating
又、塗布液2を基板1上に塗布した場合、固体である基板1の上面と、液体である塗布液2と、これらを取り巻く気体とがそれぞれの界面張力で釣り合うこととなる。重力を考慮すると、図4に矢印(4a,4b,4c)で示した状態となる。
When the
図4の矢印4aに示すように、一般的な表面エネルギーを持つ固体(基板1)に対して、液体(塗布液2)は90度以下の接触角を持って安定する。
As shown by the
従って、塗布液膜7の端部では、界面のバランスを保つためには、図5(a)に示す矢印(5a,5b,5c)の方向に力が加わる。しかしながら、重力を考慮すると、塗布液膜7の側面に加わる力は、内側方向に傾斜を持つように変形して安定する。即ち、図5(b)に示すように、矢印5aで示す方向から或る傾斜を持った矢印5dで示す方向で安定する。又、その際、塗布液膜7の基板1との接触面は、容積の変化がないとすると、塗布液が外方向にスライドした状態となる。
Therefore, at the end of the
次に、この実際の液膜をそのまま乾燥させていく過程を図6を用いて説明する。 Next, the process of drying the actual liquid film as it is will be described with reference to FIG.
図6(a)は、図5(b)で、塗布液膜7の乾燥状態を模式的に表したものである。図中の矢印で示したように、塗布液膜7は、表面及び端部から溶剤が揮発し乾燥していく。この場合、破線の円で示した部分の表面及び端部から乾燥が進み、他の部分と比べて溶質の含有率が高くなる。その結果、
図6(b)に示すように、この部分における塗布液膜7の表面張力が他の部分に比べて高くなり、その表面張力の不均衡によって、塗布液膜7の中で物質の移動が起こる。その結果、この部分を中心に図6(c)に示すような形状の特異点が形成され、更にこの部位の乾燥が進んでエッジビードが成長する。乾燥が完全に行なわれる、図6(d)に示すように、塗布液膜7は塗布膜3となり、塗布膜3の端部及び内部からの液の移動によって、
エッジビード4が形成されるとともに、その周囲に平均膜厚より膜厚の薄い膜の窪み部5が形成される。
FIG. 6A schematically shows the dry state of the
As shown in FIG. 6B, the surface tension of the
An edge bead 4 is formed, and a
次に、図7を用いて本発明による塗布膜形成方法における塗布液膜の乾燥方法及びエッジビードの低減される原理について説明する。 Next, the drying method of the coating liquid film and the principle that edge beads are reduced in the coating film forming method according to the present invention will be described with reference to FIG.
先ず、図7(a)に示すように、塗布液2伸展後の塗布液膜7に、塗布液2中の少なくとも一部の溶媒成分を除去する手段として、図7(b)のようにl乾燥促進体24を接触させて溶媒を吸収させる。
First, as shown in FIG. 7A, as a means for removing at least a part of the solvent component in the
図7(c)に示すように、塗布液2中に含まれる溶媒が乾燥促進体24に吸収される結果、
塗布液膜7の流動性が失われ、塗布液膜7はゲル状塗布膜8となる。流動に伴う物質移動が原因の膜の凹凸が発生しにくい。
As shown in FIG. 7C, the solvent contained in the
The fluidity of the
又、ベナールセルが原因で発生する塗布膜の表面の凹凸については、塗布液膜7表面の表面張力差に起因するマランゴニ流によって発生するが、本発明による方法によれば、塗布液膜の表面を溶媒吸収体8のような物体で覆うために表面張力差が現れない。又、塗布液膜7の表面が自由表面とならず、溶媒吸収体8に接しているために、ずり応力が発生し、これによっても塗布液膜7内の流動が阻害される。
Further, the unevenness on the surface of the coating film caused by the Benard cell is caused by the Marangoni flow due to the surface tension difference on the surface of the
このような原理によって、一般的な上述してきた一般的な乾燥方法と比べて、本発明による乾燥方法では、塗布膜3の表面にエッジビード4や細かな凹凸が発生しにくく、平坦な膜を容易に得ることができる。
Due to such a principle, compared to the general drying method described above, the drying method according to the present invention is less likely to cause edge beads 4 and fine irregularities on the surface of the
溶媒吸収体8による吸収が充分に行われた後、図7(d)のように溶媒吸収体8を取り去り、残存している溶媒分があれば、何らかの方法でこれを除去する。例えば、図7(e)に示すように、オーブンに該基板1を入れ、加熱乾燥し、図7(f)のように取り出すことによって、最終的に塗布膜が形成される。
After the absorption by the
尚、塗布液中の少なくとも一部の溶媒を除去する手段としては、溶媒吸収体の他、逆浸透膜のように、溶媒と溶質を分けることができるシート状の物体が使用できる。この場合、
膜を塗布液膜上に接した後、膜の裏からにじみ出てくる溶媒を何らかの手段により除去することが必要である。このときの除去方法としては、
吸収体による吸収の他、乾燥空気等の流動や減圧等、雰囲気を調整しての乾燥促進が用いられる。又、その他の方法であっても構わない。
As a means for removing at least a part of the solvent in the coating solution, a sheet-like object capable of separating the solvent and the solute, such as a reverse osmosis membrane, can be used in addition to the solvent absorber. in this case,
After the film is in contact with the coating liquid film, it is necessary to remove the solvent that exudes from the back of the film by some means. As a removal method at this time,
In addition to absorption by the absorber, drying acceleration by adjusting the atmosphere such as flow of dry air or reduced pressure is used. Other methods may also be used.
次に図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
(第1の実施の形態)
図1は本発明における第1の実施の形態を説明する塗布機構の斜視図である。図中、1は金属薄板、ガラス、シリコン、樹脂等から成る基板、9は塗布液2が基板1と接触する際に形成される略半円状のビード、7は塗布液2が基板1上に液状のまま塗られた状態を示す塗布液膜である。21は塗布液2を塗布する塗布ヘッドであり、基板1に対して相対的に移動可能である。22は塗布ヘッド21の塗布液吐出部であるヘッド先端部である。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
FIG. 1 is a perspective view of a coating mechanism for explaining a first embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a substrate made of a thin metal plate, glass, silicon, resin or the like, 9 is a substantially semicircular bead formed when the
又、24はエラストマー、シリコーンゴム、逆浸透膜等による乾燥促進体、25は乾燥促進体支持具、26は乾燥促進体24の押さえローラである。
図2は本発明における第1の実施の形態のプロセスを説明する塗布機構の断面図である。 FIG. 2 is a sectional view of the coating mechanism for explaining the process of the first embodiment of the present invention.
先ず、図2(a)において、塗布液2を塗布ヘッド21に導入し、基板1をステージ(図示せず)にセットする。次に、図2(b)において、塗布ヘッド21から塗布液2を吐出し、ヘッド先端部22と基板1との間に略半円状のビード9を形成する。次に、図2(c)において、矢印で示す方向へ塗布ヘッド21を、塗布液2を吐出した状態でスキャンさせ、基板1上に塗布液膜7の形成を開始する。塗布ヘッド21をスキャンさせ形成される塗布液膜7に追従して乾燥促進体支持具25を移動させ、
乾燥促進体24を塗布液膜7の表面に密着するように載せていく。このとき、乾燥促進体24が塗布液膜7と充分に密着するように乾燥促進体24の裏面から押さえローラ26で一定の圧力を掛ける。
First, in FIG. 2A, the
The
次に、図2(d)において、塗布ヘッド21を更にスキャンさせ、同時に乾燥促進体24及び押さえローラ26を塗布液膜7表面に働かせながら、基板1の所定の領域に塗布液膜7を形成する。次に、図2(e)において、塗布ヘッド21からの塗布液2の吐出を終了し、塗布ヘッド21を基板1より離し、又、塗布液膜7上全領域への乾燥促進体24及び押さえローラ26の操作を終了し、
塗布が終了する。
Next, in FIG. 2D, the
Application is complete.
次に、図2(f)において、押さえローラ26を乾燥促進体24の裏面から離し、塗布開始地点から、塗布液膜7上から乾燥促進体24をめくるように剥がしていく。図2(g)〜(h)のように全体に剥がし取り、図2(i)のように、流動性を失った塗布膜3を得る。
(第2の実施の形態)
図8は本発明の第2の実施の形態を説明する塗布機構の斜視図である。尚、第1の実施の形態を示す図1と同じ部材には同じ符号を付しており、その説明は省略する。
Next, in FIG. 2 (f), the pressing
(Second Embodiment)
FIG. 8 is a perspective view of a coating mechanism for explaining a second embodiment of the present invention. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same member as FIG. 1 which shows 1st Embodiment, The description is abbreviate | omitted.
図中、30は減圧チャンバであり、乾燥促進体24の裏面に押し当てて減圧することにより溶媒の除去を促進するものである。図中、31は吸気口、32は排気口で、減圧チャンバ30の動作時において、排気口32から強制的に排気し、同時に吸気口31から僅かずつエア、乾燥エア、温乾燥エア等を導入することにより、減圧チャンバ30内に溶媒気体のよどみを作ることなく、乾燥を促進する。又、減圧チャンバ30の下面、図中33は減圧乾燥面で、例えば細かいメッシュやポーラスな板等で構成されており、この面からの吸気が可能な構造となっている。
In the figure,
図9は本発明の第2の実施の形態のプロセスを説明する塗布機構の一部を表す断面図である。 FIG. 9 is a cross-sectional view showing a part of the coating mechanism for explaining the process of the second embodiment of the present invention.
先ず、第2の実施の形態において、プロセスの前半は第1の実施の形態と同様に行う。即ち、図2(a)〜(e)に示した第1の実施の形態と全く同じく行う
。次に、図9の(a)に示すように、乾燥促進体24から塗布ヘッド21や押さえローラ26を移動させた後、図9(b)において減圧チャンバ30の減圧乾燥面33を、塗布液膜7に接している乾燥促進体24の裏面に押し当てる。その後、減圧チャンバ30の側面に施した吸気口31を僅かに開け、反対側に設置した排気口32から排気を開始して減圧チャンバ内を減圧する。
First, in the second embodiment, the first half of the process is performed in the same manner as in the first embodiment. In other words, the process is exactly the same as that of the first embodiment shown in FIGS. Next, as shown in FIG. 9A, after the
一定時間減圧し、塗布液膜7が充分に乾燥された後、 チャンバ30を乾燥促進体24裏面から取り外し、再び第1の実施の形態のプロセスと同様に、図2(f)〜(i)のように塗布液膜7の表面から乾燥促進体24をめくるように剥がす。又、第1の実施の形態に説明したように、残存溶媒があれば、
例えば加温等の方法によって溶媒を除去し、乾燥が終了する。
After reducing the pressure for a certain period of time and the
For example, the solvent is removed by a method such as heating, and the drying is completed.
このように、塗布液膜7の表面を乾燥促進体24で覆い、乾燥促進体24の裏面から乾燥促進体24を通して浸透してくる溶媒を除去することによって塗布液2の乾燥が促進され、塗布後の早い段階で流動性を失うことによって、面内の塗布液の移動が抑制され、移動の結果発生するエッジビードや周期的な流動の結果発生する表面の微小な凹凸を低減することができる。
[実施例1]
本実施例は、図1に説明した塗布装置を使用し、図2に説明した塗布膜形成方法を用いて、基板1に塗布膜3を形成した。基板1は100mm×100mm、厚さ1.1mmの硝子基板を用いた。塗布液2はPMMAのシクロヘキサノン溶液(溶剤分55重量部)を用いた。乾燥促進体24には、1.5mm厚のシリコーンゴム(フィラー無し)を用い、図1のように、塗布ヘッド21の背後に配し、塗布ヘッド21から塗布液2が塗布された直後から塗布液膜7の表面を覆うことができるようにした。
Thus, the drying of the
[Example 1]
In this example, the
塗布液膜7は幅×長さが30mm×50mm、液膜としての厚みが約20μmとなるように塗布し、これと同時に、塗布ヘッド21の後ろに配した乾燥促進体24、乾燥促進体支持具25及び押さえローラ26を動かして塗布液膜7の表面が乾燥促進体24と密着して覆われるようにした。塗布ヘッド21からの塗布液2の吐出を止めた後、塗布開始部分から乾燥促進体24を塗布液膜7の表面からめくるように静かに剥がし取った。
The
このとき、塗布液膜7の流動性は失われ、ゲル状になっていた。その後、60℃のホットプレート上でプロキシ0. 5mmの条件で該基板を15分加熱した。その後、基板1に形成された塗布膜3の両サイドに形成されるエッジビード4の頂点の位置、高さ及び周囲から平坦部までの距離を測定した。それぞれ測定結果の10箇所の平均測定結果を表1に示す。
At this time, the fluidity of the
又、この塗布乾燥操作を4分毎に10回行い、10回目の基板に施された塗布膜3の各量についても同様に測定して表1に示した。
[実施例2]
本実施例は、図8に説明した塗布機構を使用し、図9及び図2に説明した塗布プロセスを用いて基板1に塗布膜3を形成した。本実施例で使用した乾燥促進体24は、実施例1と同様の材質で、
厚さ350μmのものを使用した。又、基板、塗布液は実施例1と同様であり、塗布エリア及び厚さについても実施例1と同様の条件で塗布を行った。
Further, this coating / drying operation was performed 10 times every 4 minutes, and the amounts of the
[Example 2]
In this example, the coating mechanism described in FIG. 8 was used, and the
The thing of thickness 350micrometer was used. The substrate and the coating solution were the same as in Example 1, and the coating area and thickness were applied under the same conditions as in Example 1.
これにより塗布膜3が施された基板を実施例1と同様にプロキシ0. 5mm、60℃のホットプレートで15分加熱した。形成された塗布膜の幅方向の膜厚プロファイルを測定し、塗布膜3の塗布幅方向の両サイドに発生したエッジビードの高さ、位置及び平坦部までの距離を測定した。それぞれ測定結果の10箇所の平均測定結果を表1に示す。
In this way, the substrate on which the
又、実施例1と同様にこの塗布乾燥操作を4分毎に10回繰り返した10回目の塗布膜3についても、各量を測定し表1に示した。
<比較例1>
実施例1と同様の塗布装置、塗布膜形成方法を使用して同様の塗布膜を形成した。但し、実施例1で使用した乾燥促進体、押さえローラは作動させず、塗布液膜を形成した後は、そのままホットプレート上で実施例1と同様の条件で乾燥させた。この塗布膜について、幅方向の膜厚を測定してビードの高さ、位置及び平坦部までの距離を測定した。それぞれ測定結果の10箇所の平均測定結果を表1に示す。
Further, as in Example 1, this coating / drying operation was repeated 10 times every 4 minutes, and each amount was measured and shown in Table 1.
<Comparative Example 1>
A similar coating film was formed using the same coating apparatus and coating film forming method as in Example 1. However, the drying accelerator and the pressing roller used in Example 1 were not operated, and after the coating liquid film was formed, the film was directly dried on the hot plate under the same conditions as in Example 1. About this coating film, the film thickness of the width direction was measured and the height to a bead, a position, and the distance to a flat part were measured. Table 1 shows the average measurement results for 10 measurement results.
又、乾燥促進体に溶媒を吸収させて乾燥を進ませる場合が吸収されて長く使用していると、吸収体に溶媒が溜り、塗布液膜と新たに接した際の吸収量が異なってくるため、
工程の安定が保たれない。
Also, when the drying accelerator absorbs the solvent and the drying proceeds, if it is absorbed and used for a long time, the solvent will accumulate in the absorber and the amount of absorption when it comes into contact with the coating liquid film will be different. For,
The process is not stable.
以下に、本発明の実施態様例を示す。 Examples of embodiments of the present invention are shown below.
(実施態様例1)
基板に塗布液を伸展及び固定し、塗布膜を形成する塗布膜形成方法において、該塗布液の伸展中又は伸展後に、該塗布面にシート状の物体を接触させ、該塗布液から少なくとも一部を除去し、流動性を失わせることを特徴とする塗布膜形成方法。
Embodiment Example 1
In a coating film forming method in which a coating liquid is stretched and fixed on a substrate to form a coating film, a sheet-like object is brought into contact with the coating surface during or after the coating liquid is stretched, and at least partly from the coating liquid The coating film formation method characterized by removing fluidity and losing fluidity.
(実施態様例2)
前記塗布液中の少なくとも一部分の除去は、シート状の物体を接することによって塗布液中の一部の化合物がシート側に吸収されて失われることを特徴とする実施態様例1に記載の塗布膜形成方法。
Embodiment Example 2
The removal of at least a part of the coating liquid is performed by contacting a sheet-like object, and a part of the compound in the coating liquid is absorbed and lost on the sheet side. Forming method.
(実施態様例3)
前記シート状の物体がシリコーンゴムを用いたものであることを特徴とする実施態様例1に記載の塗布膜形成方法。
Embodiment Example 3
2. The coating film forming method according to
(実施態様例4)
前記塗布液中の少なくとも一部分の除去は、シート状の物体を接することによって塗布液中の一部の化合物がシートによって分離されることを特徴とする実施態様例1に記載の塗布膜形成方法。
(Embodiment example 4)
The method for forming a coating film according to
(実施態様例5) 前記塗布液の伸展及び固定する方法に、前記塗布液をスリット状のノズルから吐出させて塗布するスリットコート法を用いることを特徴とする実施態様例1〜4の何れかに記載の塗布膜形成方法。 (Embodiment Example 5) Any one of Embodiment Examples 1 to 4 is characterized in that the method of extending and fixing the coating liquid uses a slit coating method in which the coating liquid is applied by being discharged from a slit-like nozzle. The coating film formation method of description.
(実施態様例6)
塗布ヘッドから塗布液を吐出し、基板に該塗布液伸展及び固定する塗布装置において、該塗布液中の少なくとも一部を除去する手段を有することを特徴とする塗布装置。
(Embodiment example 6)
A coating apparatus that discharges a coating liquid from a coating head, and extends and fixes the coating liquid on a substrate. The coating apparatus includes means for removing at least a part of the coating liquid.
(実施態様例7)
前記塗布液中の少なくとも一部を除去する手段はシート状の物体を伸展中又は伸展後の塗布液の表面に接触させる操作を含むものであることを特徴とする実施態様例6に記載の塗布装置。
Embodiment Example 7
The coating apparatus according to
(実施態様例8)
実施態様例7に記載の溶液中の少なくとも一部を除去する手段において、前記シート状の物体を介して、塗布液に含まれている化合物の一部を強制的に除去する機構を有することを特徴とする実施態様例7に記載の塗布装置。
(Embodiment Example 8)
The means for removing at least a part of the solution described in
(実施態様例9) 実施態様例1〜5の何れかに記載された塗布膜形成方法を用いて形成されたことを特徴とする塗布膜形成物。 (Embodiment Example 9) A coating film formed product formed by using the coating film forming method described in any of Embodiment Examples 1 to 5.
本発明は、画像表示装置、インクジェット記録装置等の部品、プリント基配線基板、その他のデバイスの部品等において、基板上に必要な平坦性若しくは凹凸を持った塗布膜の形成方法に対して適用可能である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be applied to a method for forming a coating film having necessary flatness or unevenness on a substrate in components such as an image display device and an inkjet recording device, a printed circuit board, and other device components. It is.
1 基板
2 塗布液
3 塗布膜
4 エッジビード
5 窪み部
6 平坦部
7 塗布液膜
8 ゲル状塗布膜
9 ビード
20 基板支持体
21 塗布ヘッド
22 ヘッド先端部
23 塗布液供給ディスペンサ
24 乾燥促進体
25 乾燥促進体支持具
26 押さえローラ
27 オーブン
30 減圧チャンバ
31 吸気口
32 排気口
33 減圧乾燥面
DESCRIPTION OF
Claims (1)
塗布液の伸展中又は伸展後に塗布面にシート状の物体を接触させ、前記塗布液から少なくとも一部を除去してその流動性を失わせることを特徴とする塗布膜形成方法。 In a coating film forming method of extending and fixing a coating liquid to a substrate and forming a coating film,
A method for forming a coating film, comprising: bringing a sheet-like object into contact with a coating surface during or after stretching of the coating solution, and removing at least part of the coating solution to lose its fluidity.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003350866A JP2005111411A (en) | 2003-10-09 | 2003-10-09 | Coating film forming method |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2005111411A true JP2005111411A (en) | 2005-04-28 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2005111411A (en) |
Cited By (2)
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JP2008023405A (en) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Toray Eng Co Ltd | Coating device |
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2003
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