JP2005109406A - Transfer element and its joining method, transfer substrate, and electro-optical device - Google Patents

Transfer element and its joining method, transfer substrate, and electro-optical device Download PDF

Info

Publication number
JP2005109406A
JP2005109406A JP2003344450A JP2003344450A JP2005109406A JP 2005109406 A JP2005109406 A JP 2005109406A JP 2003344450 A JP2003344450 A JP 2003344450A JP 2003344450 A JP2003344450 A JP 2003344450A JP 2005109406 A JP2005109406 A JP 2005109406A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
transfer
transfer element
tft
elements
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003344450A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidetaka Saito
秀隆 斉藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2003344450A priority Critical patent/JP2005109406A/en
Publication of JP2005109406A publication Critical patent/JP2005109406A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the productivity of a transfer element without resulting a continuity failure. <P>SOLUTION: In the transfer elements which are plurally arranged on a substrate 16 and are peeled from the substrate 16 to be transferred, a plane view is composed to have a figure of a circle or an n-gon(n is an integer of ≥6.). <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、転写用素子とその接合方法、転写用基板及び電気光学装置に関するものである。   The present invention relates to a transfer element and a bonding method thereof, a transfer substrate, and an electro-optical device.

液晶表示器(LCD)パネル、エレクトロルミネッセンス(EL)表示器のような半導体応用装置では、変形や落下による壊れ防止、コスト引き下げ等の理由により下地基板としてプラスチック基板を使用することが望ましい場合がある。
ところが、パネル型の表示器に使用される薄膜トランジスタ(TFT素子)の製造では高温プロセスを使用するため、プラスチック基板や、EL素子等の回路素子には、高温に耐えられないものがある。
In semiconductor application devices such as a liquid crystal display (LCD) panel and an electroluminescence (EL) display, it may be desirable to use a plastic substrate as a base substrate for reasons such as prevention of breakage due to deformation or dropping, and cost reduction. .
However, since a high temperature process is used in manufacturing a thin film transistor (TFT element) used for a panel type display, some circuit elements such as a plastic substrate and an EL element cannot withstand high temperatures.

そこで、本出願人は、高温プロセスを含む従来の半導体製造技術によってTFT素子等の薄膜素子を耐熱の基礎基板上に製造した後に、当該基板から薄膜素子が形成されている素子形成膜(層)を剥離し、これを接着剤によりプラスチック基板(配線基板)に貼り付け・転写することによって半導体応用装置を製造する転写技術を提案している。これらの転写技術は、例えば特許文献1〜特許文献3に詳細に説明されている。
特開平10−125929号公報 特開平10−125930号公報 特開平10−125931号公報
Therefore, the present applicant has manufactured a thin film element such as a TFT element on a heat-resistant basic substrate by a conventional semiconductor manufacturing technique including a high temperature process, and then formed an element forming film (layer) from which the thin film element is formed. A transfer technique for manufacturing a semiconductor application device is proposed by peeling the film and attaching and transferring it to a plastic substrate (wiring substrate) with an adhesive. These transfer techniques are described in detail in Patent Documents 1 to 3, for example.
Japanese Patent Laid-Open No. 10-125929 Japanese Patent Laid-Open No. 10-125930 Japanese Patent Laid-Open No. 10-125931

しかしながら、上述したような従来技術には、以下のような問題が存在する。
薄膜素子、例えばTFT素子の多くは平面視矩形(長方形)を呈しており、接合用接着剤もこの形状に応じて塗布される。そして、接合工程においては、加熱しながらこの接着剤に薄膜素子を加圧して接合するが、接着剤は加圧されることで、薄膜素子の外形よりも大きく拡がることが多い。この場合、接着剤は等方的に拡がるために略円形や略楕円形状となるが、TFT素子が矩形であることから部分的(例えばTFT素子の長辺部や短辺部)に接着剤が大きくはみ出した状態となる。その結果、TFT素子が複数配列される基礎基板上では、隣り合う薄膜素子まで接着剤が到達する虞があるため、薄膜素子の配置間隔を大きくする必要が生じ、歩留まり(1枚の基礎基板から得られる薄膜素子の数)が悪化して生産性が低下してしまう。
However, the following problems exist in the conventional technology as described above.
Many thin film elements, such as TFT elements, have a rectangular shape in a plan view, and a bonding adhesive is also applied in accordance with this shape. In the bonding process, the thin film element is pressed and bonded to the adhesive while being heated, but the adhesive is often pressed to expand larger than the outer shape of the thin film element. In this case, since the adhesive spreads isotropically, it has a substantially circular shape or a substantially elliptical shape. However, since the TFT element is rectangular, the adhesive is partially applied (for example, a long side portion or a short side portion of the TFT element). It will be in a state that protrudes greatly. As a result, on the base substrate on which a plurality of TFT elements are arranged, the adhesive may reach the adjacent thin film elements, so that it is necessary to increase the arrangement interval of the thin film elements, and the yield (from one base substrate) The number of thin film elements obtained) deteriorates and productivity decreases.

そこで、加圧時の拡がりを考慮して接着剤の塗布量を減らすことも考えられるが、薄膜素子と配線基板との接続端子は薄膜素子の最外周部近傍に配置されることが多いため、特に、接着剤として導電性接着剤を用いる場合には、接着剤が接続端子まで到達せずに導通不良になる可能性がある。   Therefore, it is conceivable to reduce the amount of adhesive applied in consideration of the spread during pressurization, but the connection terminals between the thin film element and the wiring board are often arranged near the outermost periphery of the thin film element, In particular, when a conductive adhesive is used as the adhesive, there is a possibility that the adhesive does not reach the connection terminal and a conduction failure occurs.

本発明は、以上のような点を考慮してなされたもので、導通不良等を生じさせることなく生産性を向上させることが可能な転写用素子とその接合方法、転写用基板及び電気光学装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of the above points, a transfer element capable of improving productivity without causing poor conduction and the like, a bonding method thereof, a transfer substrate, and an electro-optical device. The purpose is to provide.

上記の目的を達成するために本発明は、以下の構成を採用している。
本発明の転写用素子は、基板上に複数配列して形成され、前記基板から剥離して転写される転写用素子であって、平面視が円形またはn角形(nは6以上の整数)の多角形の形状を有することを特徴とするものである。
従って、本発明では、接合時に接着剤が略円形状や略楕円形状で拡がった場合でも、転写用素子の外形よりもはみ出る量を小さくすることが可能になる。そのため、接着剤の塗布量を減らすことなく、基板上での転写用素子の配列ピッチを微小化することができ、歩留まりを向上させることができる。その結果、導通不良を生じさせることなく、歩留まりの悪化により生産性が低下してしまうことを防止できる。
In order to achieve the above object, the present invention employs the following configuration.
The transfer element of the present invention is a transfer element that is formed by arranging a plurality of elements on a substrate and is transferred after being peeled from the substrate. The transfer element is circular or n-gonal (n is an integer of 6 or more) in plan view. It has a polygonal shape.
Therefore, in the present invention, even when the adhesive spreads in a substantially circular shape or a substantially elliptical shape at the time of joining, it is possible to reduce the amount of protrusion beyond the outer shape of the transfer element. Therefore, the arrangement pitch of the transfer elements on the substrate can be reduced without reducing the application amount of the adhesive, and the yield can be improved. As a result, it is possible to prevent productivity from being lowered due to a deterioration in yield without causing poor conduction.

また、本発明の転写用素子は、基板上に複数配列して形成され、前記基板から剥離して第2基板に転写される転写用素子であって、前記第2基板と電気的に接続される接続用端子を有し、前記接続用端子が、外周部から離間した内側に配置されることを特徴とするものである。
従って、本発明では、接続用端子が配置される領域に接着剤(例えばACP等の導電性接着剤)を塗布した後に転写用素子を接合する際に接着剤が拡がった場合でも、転写用素子の平面形状に依存することなく、転写用素子の外形よりもはみ出ることを防止できる。そのため、接着剤の塗布量を減らすことなく、基板上での転写用素子の配列ピッチを微小化することができ、歩留まりを向上させることができる。その結果、導通不良を生じさせることなく、歩留まりの悪化により生産性が低下してしまうことを防止できる。
The transfer element of the present invention is a transfer element that is formed in a plurality of arrangements on a substrate and is peeled off from the substrate and transferred to a second substrate, and is electrically connected to the second substrate. And the connection terminal is disposed inside the outer periphery of the connection terminal.
Therefore, in the present invention, even if the adhesive spreads when the transfer element is joined after applying an adhesive (for example, conductive adhesive such as ACP) to the region where the connection terminal is disposed, the transfer element It is possible to prevent the transfer element from protruding beyond the outer shape without depending on the planar shape. Therefore, the arrangement pitch of the transfer elements on the substrate can be reduced without reducing the application amount of the adhesive, and the yield can be improved. As a result, it is possible to prevent productivity from being lowered due to a deterioration in yield without causing poor conduction.

この場合、前記接続用端子としては、間隔をあけて複数環状に配置されることが望ましい。
これにより、接着剤が円形状に拡がった場合に、均等に接続用端子に接着剤を塗布することが可能となる。
In this case, it is desirable that the connection terminals are arranged in a plurality of rings at intervals.
Thereby, when the adhesive spreads in a circular shape, the adhesive can be evenly applied to the connection terminals.

一方、本発明の転写用基板は、ベース上に設けられた上記の複数の転写用素子と、前記ベースと前記転写用素子との間に介装され、前記転写用素子を前記ベースから剥離させる剥離層とを有することを特徴とするものである。
これにより、本発明では微小の配列ピッチで転写用素子を配置形成することが可能となり、転写用基板により多くの転写用素子を形成することができる。そのため、転写用基板のコストを低減することができるとともに、接合工程においても転写用基板の使用枚数を減らして生産性を向上させることが可能になる。
On the other hand, the transfer substrate of the present invention is interposed between the plurality of transfer elements provided on the base and the base and the transfer element, and peels the transfer element from the base. And a release layer.
Accordingly, in the present invention, the transfer elements can be arranged and formed with a minute arrangement pitch, and more transfer elements can be formed on the transfer substrate. Therefore, the cost of the transfer substrate can be reduced, and the productivity can be improved by reducing the number of transfer substrates used in the bonding process.

なお、転写用素子としては、薄膜トランジスタとする構成を採用できる。
また、前記転写用素子が千鳥状または格子状に配列される構成も好適に採用できる。
この場合、転写用基板上に効率的により多くの転写用素子を配列することができ、コスト低減に寄与することが可能である。
Note that a thin film transistor can be employed as the transfer element.
In addition, a configuration in which the transfer elements are arranged in a staggered pattern or a lattice pattern can be suitably employed.
In this case, more transfer elements can be efficiently arranged on the transfer substrate, which can contribute to cost reduction.

また、本発明の電気光学装置は、基板上に所定パターンで配線が形成された回路基板と、該回路基板に電気的に接続された電気光学パネルとを備える電気光学装置であって、前記回路基板には、上記の転写用素子が転写され接着剤を介して前記配線に電気的に接続されていることを特徴とするものである。
従って、本発明では、導通不良が生じず、生産性に優れた電気光学装置を得ることができる。
The electro-optical device of the present invention is an electro-optical device including a circuit board having wirings formed in a predetermined pattern on a substrate, and an electro-optical panel electrically connected to the circuit board. The above-mentioned transfer element is transferred to the substrate and is electrically connected to the wiring via an adhesive.
Therefore, according to the present invention, it is possible to obtain an electro-optical device that does not cause poor conduction and has excellent productivity.

そして、本発明の転写用素子の接合方法所定は、パターンで配線が形成された回路基板の前記配線に転写用素子を接合する方法であって、前記配線上に接着剤を塗布する工程と、上記の転写用基板上の転写用素子を、前記接着剤を介して前記配線と電気的に接続する工程と、前記転写用基板から前記転写用素子を剥離する工程とを有することを特徴としている。
これにより、本発明では、転写用素子を回路基板に接合する際に用いる転写用基板に微小ピッチでより多くの転写用素子が形成されていることになるので、接合に係るコストを低減できるとともに、接合工程における基板交換の頻度を減らして生産性を高めることが可能になる。
また、転写用素子の転写に際しては、前記転写用基板に形成された複数の転写用素子のうち、一部の転写用素子を選択して剥離する構成も採用可能である。
And the transfer element joining method predetermined of the present invention is a method of joining the transfer element to the wiring of the circuit board on which the wiring is formed in a pattern, the step of applying an adhesive on the wiring, And a step of electrically connecting the transfer element on the transfer substrate to the wiring via the adhesive, and a step of peeling the transfer element from the transfer substrate. .
Accordingly, in the present invention, since more transfer elements are formed at a fine pitch on the transfer substrate used when the transfer element is bonded to the circuit board, the cost for bonding can be reduced. It is possible to increase the productivity by reducing the frequency of substrate replacement in the bonding process.
In addition, when transferring the transfer element, it is also possible to adopt a configuration in which a part of the transfer elements among a plurality of transfer elements formed on the transfer substrate is selected and peeled off.

以下、本発明の転写用素子とその接合方法、転写用基板及び電気光学装置の実施の形態を、図1ないし図10を参照して説明する。
ここでは、配線基板にTFT素子を転写し、この配線基板に有機EL基板を接合して電気光学装置として有機EL表示体を製造する場合の例を用いて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of a transfer element and its bonding method, a transfer substrate, and an electro-optical device according to the present invention will be described below with reference to FIGS.
Here, an example in which an organic EL display is manufactured as an electro-optical device by transferring a TFT element to a wiring substrate and bonding the organic EL substrate to the wiring substrate will be described.

(第1実施形態)
図1において、符号1は有機EL表示体(電気光学装置)である。
この有機EL表示体1は、回路基板としての配線基板2と、電気光学パネルとしてのEL基板(有機EL素子基板)3とを接合部4において電気的に接合した構成となっており、これら配線基板2とEL基板3との間は封止樹脂25で封止されている。
(First embodiment)
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an organic EL display (electro-optical device).
The organic EL display 1 has a configuration in which a wiring substrate 2 as a circuit board and an EL substrate (organic EL element substrate) 3 as an electro-optical panel are electrically joined at a joint 4. A space between the substrate 2 and the EL substrate 3 is sealed with a sealing resin 25.

配線基板2は、ガラス等の絶縁物なる基板5の表面に絶縁層2aが設けられ、絶縁層2a上に有機EL表示体1の画素の位置に対応して転写用素子としてのTFT素子(薄膜トランジスタ素子)6が後述する転写により導電性接着層18及びバンプ7を介して実装された構成となっている。   The wiring substrate 2 is provided with an insulating layer 2a on the surface of a substrate 5 made of an insulating material such as glass, and a TFT element (thin film transistor) as a transfer element corresponding to the pixel position of the organic EL display 1 on the insulating layer 2a. The element) 6 is mounted via the conductive adhesive layer 18 and the bumps 7 by transfer described later.

接合部4は、ここでは接合材料として異方性導電ペースト(ACP;Anisotropic Conductive Paste)が用いられており、接続パッド(配線)8上に、TFT素子6よりも突出する高さに形成されている。異方性導電ペーストは、接合用樹脂等のバインダに導電性粒子(フィラー)が分散されたもので、分散剤が添加される場合もある。導電性粒子は、略球形の樹脂性粒子(樹脂ボール)の表面に金メッキ等の導電性金属メッキを施したものが用いられている。なお、接合部4としては、分散媒に金属微粒子を分散させたものを用いたり、合金接合としてもよい。また、上記メッキ材料、金属微粒子としては、鉛フリー材料とすることが、地球環境保護の観点から好ましい。   Here, the bonding portion 4 is made of an anisotropic conductive paste (ACP) as a bonding material, and is formed on the connection pad (wiring) 8 so as to protrude from the TFT element 6. Yes. The anisotropic conductive paste is obtained by dispersing conductive particles (filler) in a binder such as a bonding resin, and a dispersant may be added. As the conductive particles, those obtained by applying conductive metal plating such as gold plating on the surface of substantially spherical resin particles (resin balls) are used. In addition, as the junction part 4, what disperse | distributed the metal fine particle to the dispersion medium may be used, or alloy joining may be used. Moreover, as said plating material and metal microparticles, it is preferable from a viewpoint of global environment protection to use lead-free material.

EL基板3は、ガラス等の透明基板11の表面全体に亘って透明電極層12が形成されており、透明電極層12の上面には絶縁物からなるバンク13で相互に分離された画素形成領域に位置して、正孔注入層及び有機EL層からなる発光層14と、陰極層(カソード電極層)15が積層されている。陰極層15は、バンク13上に到るように延設されており、この画素形成領域の外側において接合部4(導電性粒子)を介して配線基板2(及びTFT素子6)と電気的に接続される。
なお、透明電極層12、発光層14、陰極層15を形成する材料は、公知の有機EL表示体に用いられている材料と同じものが適用可能である。
In the EL substrate 3, a transparent electrode layer 12 is formed over the entire surface of a transparent substrate 11 such as glass, and pixel formation regions separated from each other by a bank 13 made of an insulator on the upper surface of the transparent electrode layer 12. A light emitting layer 14 composed of a hole injection layer and an organic EL layer and a cathode layer (cathode electrode layer) 15 are laminated. The cathode layer 15 extends so as to reach the bank 13, and is electrically connected to the wiring substrate 2 (and the TFT element 6) via the bonding portion 4 (conductive particles) outside the pixel formation region. Connected.
In addition, the material which forms the transparent electrode layer 12, the light emitting layer 14, and the cathode layer 15 can apply the same material as that used for a well-known organic EL display.

TFT素子6は、図2(a)に示すように、転写用基板としてのTFT基板16上に複数形成される。TFT基板16は、例えば、1000℃程度に耐える石英ガラス等の透光性耐熱基板(ベース)19上に剥離層20が形成され、剥離層20上に複数のTFT素子6が形成された構成となっている。透光性耐熱基板19の厚さには、大きな制限要素はないが、基板の厚さが薄すぎると強度の低下を招き、逆に厚すぎると基板の透過率が低い場合に後述する照射光の減衰を招くため、0.1mm〜0.5mm程度であることが好ましく、0.5mm〜1.5mm程度であることがより好ましい。   As shown in FIG. 2A, a plurality of TFT elements 6 are formed on a TFT substrate 16 as a transfer substrate. The TFT substrate 16 has a configuration in which, for example, a release layer 20 is formed on a translucent heat-resistant substrate (base) 19 such as quartz glass that can withstand about 1000 ° C., and a plurality of TFT elements 6 are formed on the release layer 20. It has become. The thickness of the translucent heat-resistant substrate 19 is not greatly limited. However, if the substrate thickness is too thin, the strength is reduced. Conversely, if the substrate thickness is too thick, the irradiation light described later is used. Therefore, the thickness is preferably about 0.1 mm to 0.5 mm, more preferably about 0.5 mm to 1.5 mm.

剥離層20は、レーザ光等の照射光により当該層内や界面において剥離(「層内剥離」又は「界面剥離」ともいう)を生ずる。即ち、一定の強度の照射光を照射することにより、構成物質を構成する原子又は分子における原子間又は分子間の結合力が消失し又は減少し、アブレーション(ablation)等を生じ、剥離を起こすものである。また、照射光の照射により、剥離層20に含有されていた成分が気体となって放出され分離に至る場合と、剥離層2が光を吸収して気体になり、その蒸気が放出されて分離に至る場合とがある。
剥離層20の組成としては、例えば、非晶質シリコン(a−Si)を使用することができる。この非晶質シリコン中には、水素(H)が含有されていてもよい。水素の含有量は、2at%程度以上であることが好ましく、2〜20%at%であることが更に好ましい。水素が含有されていると、光の照射により、水素が放出されることにより剥離層20に内圧が発生し、これが剥離を促進する。水素の含有量は、成膜条件、例えば、CVD法を用いる場合には、そのガス組成、ガス圧力、ガス雰囲気、ガス流量、ガス温度、基板温度、投入するパワー等の条件を適宜設定することによって調整する。この他の剥離層材料としては、酸化ケイ素もしくはケイ酸化合物、窒化ケイ素、窒化アルミ、窒化チタン等の窒化セラミックス、有機高分子材料(光の照射によりこれらの原子間結合が切断されるもの)、金属、例えば、Al、Li、Ti、Mn、In、Sn、Y、La、Ce、Nd、Pr、GdもしくはSm、又はこれらのうち少なくとも一種を含む合金が挙げられる。
The peeling layer 20 is peeled (also referred to as “in-layer peeling” or “interfacial peeling”) within the layer or at the interface by irradiation light such as laser light. That is, by irradiating with a certain intensity of irradiation light, interatomic or intermolecular bonding force of atoms or molecules constituting the constituent material disappears or decreases, causing ablation, etc., and causing separation It is. In addition, when the component contained in the release layer 20 is released as a gas due to the irradiation of the irradiation light and is separated, the release layer 2 absorbs the light and becomes a gas, and the vapor is released and separated. May lead to.
As the composition of the release layer 20, for example, amorphous silicon (a-Si) can be used. This amorphous silicon may contain hydrogen (H). The hydrogen content is preferably about 2 at% or more, and more preferably 2 to 20% at%. When hydrogen is contained, an internal pressure is generated in the release layer 20 due to the release of hydrogen by light irradiation, which promotes the release. The hydrogen content should be set appropriately for film formation conditions, such as the gas composition, gas pressure, gas atmosphere, gas flow rate, gas temperature, substrate temperature, and power to be applied when using the CVD method. Adjust by. Other release layer materials include silicon oxides or silicate compounds, nitride ceramics such as silicon nitride, aluminum nitride, titanium nitride, organic polymer materials (those whose interatomic bonds are broken by light irradiation), A metal, for example, Al, Li, Ti, Mn, In, Sn, Y, La, Ce, Nd, Pr, Gd, or Sm, or an alloy containing at least one of them can be given.

剥離層20の厚さとしては、剥離層20の厚みが薄すぎると、形成された膜厚の均一性が失われて剥離にむらが生じ、剥離層20の厚みが厚すぎると、剥離に必要とされる照射光のパワー(光量)を大きくする必要があったり、また、剥離後に残された剥離層20の残渣を除去するのに時間を要したりするため、1nm〜20μm程度であるのが好ましく、10nm〜2μm程度であるのがより好ましく、20nm〜1μm程度であるのが更に好ましい。   As the thickness of the release layer 20, if the thickness of the release layer 20 is too thin, the uniformity of the formed film thickness is lost, resulting in uneven peeling, and if the release layer 20 is too thick, it is necessary for release. It is necessary to increase the power (light quantity) of the irradiated light, and it takes time to remove the residue of the peeling layer 20 left after peeling, so that the thickness is about 1 nm to 20 μm. Is preferably about 10 nm to 2 μm, and more preferably about 20 nm to 1 μm.

剥離層20の形成方法としては、均一な厚みで剥離層20を形成可能な方法であればよく、剥離層20の組成や厚み等の諸条件に応じて適宜選択することが可能である。例えば、CVD(MOCCVD、低圧CVD、ECR−CVD含む)法、蒸着、分子線蒸着(MB)、スパッタリング法、イオンドーピング法、PVD法等の各種気相成膜法、電気メッキ、浸漬メッキ(ディッピング)、無電解メッキ法等の各種メッキ法、ラングミュア・プロジェット(LB)法、スピンコート法、スプレーコート法、ロールコート法等の塗布法、各種印刷法、転写法、インクジェット法、粉末ジェット法等に適用できる。これらのうち2種以上の方法を組み合わせてもよい。   The method for forming the release layer 20 may be any method that can form the release layer 20 with a uniform thickness, and can be appropriately selected according to various conditions such as the composition and thickness of the release layer 20. For example, various vapor deposition methods such as CVD (including MOCCVD, low pressure CVD, ECR-CVD), vapor deposition, molecular beam vapor deposition (MB), sputtering, ion doping, PVD, electroplating, immersion plating (dipping) ), Various plating methods such as electroless plating method, Langmuir Projet (LB) method, spin coating method, spray coating method, roll coating method and other coating methods, various printing methods, transfer methods, ink jet methods, powder jet methods Applicable to etc. Of these, two or more methods may be combined.

特に剥離層20の組成が非晶質シリコン(a−Si)の場合には、CVD法、特に低圧CVDやプラズマCVDにより成膜するのが好ましい。また、剥離層20をゾル−ゲル(sol-gel)法によりセラミックを用いて成膜する場合や有機高分子材料で構成する場合には、塗布法、特にスピンコートにより成膜するのが好ましい。   In particular, when the composition of the release layer 20 is amorphous silicon (a-Si), it is preferable to form a film by a CVD method, particularly low-pressure CVD or plasma CVD. In addition, when the release layer 20 is formed by using a ceramic by a sol-gel method or is made of an organic polymer material, it is preferably formed by a coating method, particularly by spin coating.

図2(b)は、本実施の形態において用いられるTFT素子6の一例を示す断面図であり、このTFT素子6は、例えば、SiO膜(中間層)36上に形成されたTFT(薄膜トランジスタ)を含んで構成され、このTFTは、ポリシリコン層にn型不純物を導入して形成されたソース,ドレイン領域37と、チャネル領域38と、ゲート絶縁膜39と、ゲート電極40と、層間絶縁膜41と、例えばアルミニウムからなる電極42とを具備する。なお、TFT素子6としては、前記TFTに限定されることなく、シリコンベースのトランジスタやSOI(silicon on insulator)などの種々の素子を適用し得る。
また、TFT素子6は、ここでは図3に示すように、平面視が円形の形状を有しており、図4に示すように、TFT基板16上に互いに略等間隔の隙間をあけて千鳥状に複数配列されている。
FIG. 2B is a cross-sectional view showing an example of the TFT element 6 used in the present embodiment. This TFT element 6 is, for example, a TFT (thin film transistor) formed on a SiO 2 film (intermediate layer) 36. The TFT includes a source / drain region 37 formed by introducing an n-type impurity into the polysilicon layer, a channel region 38, a gate insulating film 39, a gate electrode 40, and interlayer insulation. A film 41 and an electrode 42 made of, for example, aluminum are provided. The TFT element 6 is not limited to the TFT, and various elements such as a silicon-based transistor and SOI (silicon on insulator) can be applied.
Further, here, the TFT element 6 has a circular shape in plan view as shown in FIG. 3, and as shown in FIG. It is arranged in multiple shapes.

続いて、上記構成の有機EL表示体の製造手順について図5を参照して説明する。なお、これらの図においては、理解を容易にするため、各層や各部材毎に簡略化して図示するとともに縮尺を異ならせてある。   Next, a manufacturing procedure of the organic EL display having the above configuration will be described with reference to FIG. In these drawings, for easy understanding, each layer and each member are illustrated in a simplified manner and the scale is different.

まず、図5(a)に示すように、スパッタリングやフォトリソ等の公知の技術を用いて、基板5上に絶縁層2a、バンプ7及び接続パッド8等の配線を形成する。
次に、図5(b)に示すように、複数のTFT素子6が形成されたTFT基板16をスペーサー17を介して対向配置する。
このとき、バンプ7上には予め導電性接着剤18が塗布され、TFT基板16は、TFT素子6とバンプ7とが対向し、これらの間に導電性接着剤18が充填されるようにセットさる。そして、導電性接着剤18を図中縦方向に加熱及び加圧しつつ硬化させる。これにより、TFT素子6とバンプ7とが導電性接着剤18を介して接着されるとともに、この導電性接着剤18中の図示しない導電粒子が図中縦方向につながり(接触し)、TFT素子6とバンプ7とが前記導電粒子を介して電気的に接続される。
First, as shown in FIG. 5A, wirings such as the insulating layer 2a, the bumps 7, and the connection pads 8 are formed on the substrate 5 by using a known technique such as sputtering or photolithography.
Next, as shown in FIG. 5B, the TFT substrate 16 on which the plurality of TFT elements 6 are formed is disposed so as to face the spacer 17.
At this time, the conductive adhesive 18 is applied on the bump 7 in advance, and the TFT substrate 16 is set so that the TFT element 6 and the bump 7 face each other and the conductive adhesive 18 is filled therebetween. Monkey. Then, the conductive adhesive 18 is cured while being heated and pressurized in the vertical direction in the figure. Thereby, the TFT element 6 and the bump 7 are bonded via the conductive adhesive 18, and conductive particles (not shown) in the conductive adhesive 18 are connected (contacted) in the vertical direction in the figure, so that the TFT element 6 and the bump 7 are electrically connected through the conductive particles.

ここで、導電性接着剤18はTFT素子6の大きさに応じて、その外形よりも内側の範囲で塗布されているが、TFT素子6により加圧されることでTFT素子6の外形よりも大きく拡がる(図1は拡がった状態を示している)。導電性接着剤18の拡がり方は等方的であるので、導電性接着剤18は略円形や略楕円形状となるが、TFT素子6が円形状なので、図3に示すように、導電性接着剤18は、局所的に大きくはみ出すのではなく、TFT素子6の外形からほぼ一定量が少量はみ出すだけになる。そのため、複数のTFT素子6は、配置間隔を必要以上に大きくすることなく抑えた状態で配列される。   Here, the conductive adhesive 18 is applied in a range inside the outer shape of the TFT element 6 according to the size of the TFT element 6. It expands greatly (FIG. 1 shows the expanded state). Since the conductive adhesive 18 spreads in an isotropic manner, the conductive adhesive 18 has a substantially circular shape or a substantially elliptical shape. However, since the TFT element 6 has a circular shape, as shown in FIG. The agent 18 does not protrude locally, but only a small amount protrudes from the outer shape of the TFT element 6. Therefore, the plurality of TFT elements 6 are arranged in a state in which the arrangement interval is suppressed without increasing more than necessary.

続いて、複数のTFT素子の中、所定のTFT素子6に対して、透光性耐熱基板19の裏面側(照射光入射面19a側)から照射光21を選択的(局所的)に照射する(図5(b)参照)。この照射光21は、基板19を透過した後、界面側から剥離層20に照射される。
照射光21としては、剥離層20に層内剥離および/または界面剥離を起こさせるものであればいかなるものでもよく、例えば、X線、紫外線、可視光、赤外線(熱線)、レーザ光、ミリ波、マイクロ波、電子線、放射線(α線、β線、γ線)等が挙げられるが、そのなかでも、分離層2の剥離(アブレーション)を生じさせ易いという点で、レーザ光が好ましい。このレーザ光を発生させるレーザ装置としては、各種気体レーザ、固体レーザ(半導体レーザ)等が挙げられるが、エキシマレーザ、Nd−YAGレーザ、Arレーザ、COレーザ、COレーザ、He−Neレーザ等が好適に用いられ、その中でもエキシマレーザが特に好ましい。エキシマレーザは、短波長域で高エネルギーを出力するため、極めて短時間で剥離層20にアブレーションを生じさせることができ、よって、隣接するまたは近傍のTFT素子6、基板19等に温度上昇をほとんど生じさせることなく、すなわち劣化、損傷を生じさせることなく剥離層20を剥離することができる。
これにより、剥離層20に層内剥離および/または界面剥離が生じ、結合力が減少または消滅するので、基板19とTFT素子6とを離間させると、図5(c)に示すように、TFT素子6が基板19から離脱して、配線基板2へ転写される。
Subsequently, the irradiation light 21 is selectively (locally) irradiated to a predetermined TFT element 6 among the plurality of TFT elements from the rear surface side (irradiation light incident surface 19a side) of the translucent heat-resistant substrate 19. (See FIG. 5 (b)). The irradiation light 21 passes through the substrate 19 and is then applied to the release layer 20 from the interface side.
Irradiation light 21 may be any material as long as it causes in-layer separation and / or interfacial separation in release layer 20, for example, X-rays, ultraviolet rays, visible light, infrared rays (heat rays), laser light, millimeter waves. , Microwaves, electron beams, radiation (α rays, β rays, γ rays) and the like. Among them, laser light is preferable in that separation (ablation) of the separation layer 2 is likely to occur. Examples of the laser device that generates the laser light include various gas lasers, solid lasers (semiconductor lasers), and the like. Excimer lasers, Nd-YAG lasers, Ar lasers, CO 2 lasers, CO lasers, He-Ne lasers, and the like. Are preferably used, and an excimer laser is particularly preferable among them. Since the excimer laser outputs high energy in a short wavelength region, it can cause ablation in the release layer 20 in an extremely short time, and thus almost no increase in temperature is caused in the adjacent or nearby TFT element 6, substrate 19, etc. The peeling layer 20 can be peeled without causing it, that is, without causing deterioration or damage.
As a result, in-layer peeling and / or interface peeling occurs in the peeling layer 20 and the bonding force decreases or disappears. Therefore, when the substrate 19 and the TFT element 6 are separated from each other, as shown in FIG. The element 6 is detached from the substrate 19 and transferred to the wiring substrate 2.

この後、図5(c)に示すように、TFT素子6及びバンプ7から離間した接続パッド8上に、印刷等によって異方性導電ペーストを所定高さに塗布して接合部4を形成する。ここでは、接合部4がTFT素子6よりも高くなるように塗布している。そして、図1に示したように、EL基板3を配線基板2に対して位置決めしながら、図中縦方向に加熱及び加圧しつつ硬化させる。これにより、接合部4において陰極層15が接合され、配線基板2とEL基板3とが前記導電粒子を介して電気的に接続される。この後、EL基板3と配線基板2との隙間を封止樹脂25で封止することにより、有機EL表示体1が完成する。   After that, as shown in FIG. 5C, an anisotropic conductive paste is applied to a predetermined height by printing or the like on the connection pad 8 separated from the TFT element 6 and the bump 7 to form the joint 4. . Here, the bonding portion 4 is applied so as to be higher than the TFT element 6. Then, as shown in FIG. 1, the EL substrate 3 is cured while being heated and pressurized in the vertical direction in the drawing while positioning the EL substrate 3 with respect to the wiring substrate 2. As a result, the cathode layer 15 is bonded at the bonding portion 4, and the wiring substrate 2 and the EL substrate 3 are electrically connected via the conductive particles. Thereafter, the gap between the EL substrate 3 and the wiring substrate 2 is sealed with a sealing resin 25, whereby the organic EL display 1 is completed.

このように、本実施の形態では、TFT素子6が平面視円形状であるので、導通不良を避けるためにTFT素子6の最外周部まで導電性接着剤18を塗布する場合であっても、TFT素子6からはみ出す導電性接着剤18を少量、且つ一様に抑えることができ、TFT基板16上に形成するTFT素子6の配置間隔を必要以上に大きくする必要がなくなる。結果として、TFT基板16上により多くのTFT素子6を形成することが可能となり、歩留まりが向上し生産効率を上げることができるとともに、コストダウンを図ることができる。
また、本実施の形態では、導電性接着剤を実装する際の拡がりに起因する不具合を考慮しなくてもよいため、印刷等の実装条件にマージンを付加することができ、実装工程を安定して行うことができる。
Thus, in this embodiment, since the TFT element 6 has a circular shape in plan view, even when the conductive adhesive 18 is applied to the outermost peripheral portion of the TFT element 6 in order to avoid poor conduction, A small amount of the conductive adhesive 18 protruding from the TFT element 6 can be suppressed uniformly, and it is not necessary to unnecessarily increase the arrangement interval of the TFT elements 6 formed on the TFT substrate 16. As a result, more TFT elements 6 can be formed on the TFT substrate 16, yield can be improved, production efficiency can be increased, and cost can be reduced.
Further, in this embodiment, since it is not necessary to consider a problem caused by spreading when mounting the conductive adhesive, a margin can be added to mounting conditions such as printing, and the mounting process can be stabilized. Can be done.

(第2実施形態)
上記第1実施形態では、TFT素子が平面視円形状を有するものとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、等方的に拡がった導電性接着剤がTFT素子からはみ出る量が微小であれば多角形、より詳細にはn角形(nは6以上の整数)であってもよい。図6には、平面視6角形(n=6)のTFT素子6が図示されており、図示されるように、このTFT素子6からはみ出る導電性接着剤18は微少量に抑えられるため、第1実施形態と同様の作用・効果を得ることができる。
また、このようにTFT素子6が多角形である場合も、図7に示すように、TFT基板16上にTFT素子6を千鳥状に配置することが、デッドスペースを最小限にしてより多くのTFT素子を形成する点から好適である。
なお、図6及び図7では6角形の素子を例示したが、7角形以上であっても同様の作用・効果を奏する。また、図6及び図7では正6角形の素子を図示したが、必ずしも正多角形である必要はない。
(Second Embodiment)
In the first embodiment, the TFT element is described as having a circular shape in plan view. However, the present invention is not limited to this, and the amount of isotropically expanded conductive adhesive protrudes from the TFT element. May be a polygon, more specifically an n-gon (n is an integer of 6 or more). FIG. 6 shows a TFT element 6 having a hexagonal shape (n = 6) in plan view. As shown in the figure, since the conductive adhesive 18 protruding from the TFT element 6 is suppressed to a very small amount, Actions and effects similar to those of the first embodiment can be obtained.
Even when the TFT elements 6 are polygonal in this way, as shown in FIG. 7, it is possible to arrange the TFT elements 6 on the TFT substrate 16 in a staggered manner so that the dead space is minimized and more This is preferable from the viewpoint of forming a TFT element.
6 and 7 exemplify hexagonal elements, but the same operation and effect can be achieved even with heptagons or more. 6 and 7 show a regular hexagonal element, it is not necessarily a regular polygon.

(第3実施形態)
上記第1、第2実施形態では、TFT素子が円形または6角形以上の多角形である構成を用いて説明したが、従来と同様に矩形、例えば正方形とすることも可能である。
具体的には、本実施の形態では、図8に示すように、外部接続用の端子(接続用端子)26は、平面視正方形状のTFT素子6の外周部から離間した内側に、TFT素子6の中心を通る軸周りに互いに間隔をあけて環状(放射状)に複数配置されている。
このTFT素子の場合、上記と同様に千鳥状に配置してもよいし、図9に示すように、格子状に配置することも可能であり、いずれの場合であってもデッドスペースを最小限にしてより多くのTFT素子を形成することができる。
(Third embodiment)
In the first and second embodiments, the description has been given using the configuration in which the TFT element is a circular shape or a hexagonal or more polygonal shape. However, a rectangular shape, for example, a square shape may be used as in the conventional case.
Specifically, in the present embodiment, as shown in FIG. 8, the external connection terminal (connection terminal) 26 is located inside the TFT element 6 spaced apart from the outer periphery of the square-shaped TFT element 6 in plan view. A plurality of rings (radial) are arranged at intervals around an axis passing through the center of 6.
In the case of this TFT element, it may be arranged in a staggered manner as described above, or it can be arranged in a lattice form as shown in FIG. 9, and in any case, the dead space is minimized. Thus, more TFT elements can be formed.

上記の構成では、素子の外周と端子26との隙間を大きくすることができるため、端子26をカバーできるように塗布した導電性接着剤が拡がった場合でも、TFT素子6からはみ出すことを防止することも可能となる。そのため、従来と同様の外形形状(矩形状)を有するTFT素子を用いる場合であっても、TFT基板16上により多くのTFT素子6を形成することが可能となり、歩留まりが向上し生産効率を上げることができるとともに、コストダウンを図ることができる。
特に、端子26が環状に配置されているため、加圧により導電性接着剤が等方的に拡がった場合に、端子26よりも外側にはみ出す接着剤の量を最小限に抑えることが可能になり、結果として導電性接着剤がTFT素子6からはみ出す可能性を低くすることができる。
また、本実施の形態では、導電性接着剤を実装する際の素子からのはみ出しを考慮しなくてもよいため、印刷等の実装条件により多くのマージンを付加することができ、実装工程を一層安定して行うことが可能となる。
In the above configuration, since the gap between the outer periphery of the element and the terminal 26 can be increased, even when the conductive adhesive applied so as to cover the terminal 26 spreads, the protrusion from the TFT element 6 is prevented. It is also possible. Therefore, even when a TFT element having the same outer shape (rectangular shape) as that of the prior art is used, it is possible to form more TFT elements 6 on the TFT substrate 16, thereby improving the yield and increasing the production efficiency. As well as cost reduction.
In particular, since the terminal 26 is arranged in an annular shape, when the conductive adhesive isotropically expands due to pressurization, the amount of the adhesive protruding outside the terminal 26 can be minimized. As a result, the possibility that the conductive adhesive protrudes from the TFT element 6 can be reduced.
Further, in this embodiment, since it is not necessary to consider the protrusion from the element when mounting the conductive adhesive, more margins can be added depending on mounting conditions such as printing, and the mounting process is further increased. It becomes possible to carry out stably.

なお、上記実施の形態では、配線基板2にEL基板3を接合して有機EL表示体1を製造する構成として説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、他の機能性基板、例えば液晶表示素子基板を配線基板2に接合して液晶表示体(電気光学装置)を製造する構成としてもよい。この場合、TFT素子6は、液晶表示素子の駆動のためのスイッチング素子として機能することになる。   In the above embodiment, the EL substrate 3 is bonded to the wiring substrate 2 to manufacture the organic EL display 1. However, the present invention is not limited to this, and other functional substrates. For example, a liquid crystal display element (electro-optical device) may be manufactured by bonding a liquid crystal display element substrate to the wiring substrate 2. In this case, the TFT element 6 functions as a switching element for driving the liquid crystal display element.

図10に、本発明の電気光学装置を適用した電子機器の具体例について説明する。
図10(a)は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図10(a)において、600は携帯電話本体を示し、601は上記実施形態の有機EL表示体1や液晶表示体を備えた表示部を示している。
図10(b)は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図10(b)において、700は情報処理装置、701はキーボードなどの入力部、703は情報処理本体、702は上記実施形態の有機EL表示体1や液晶表示体を備えた表示部を示している。
図10(c)は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図10(c)において、800は時計本体を示し、801は上記実施形態の有機EL表示体1や液晶表示体を備えた表示部を示している。
図10(a)〜(c)に示す電子機器は、上記実施形態の有機EL表示体1や液晶表示体を備えたものであるので、小型化、薄型化及び高品質化が可能となる。
なお、本実施形態の電子機器は有機エレクトロルミネッセンス表示装置を備えるものとしたが、液晶装置、プラズマ型表示装置等、他の電気光学装置を備えた電子機器とすることもできる。
FIG. 10 illustrates a specific example of an electronic apparatus to which the electro-optical device of the invention is applied.
FIG. 10A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 10A, reference numeral 600 denotes a mobile phone main body, and reference numeral 601 denotes a display unit including the organic EL display body 1 and the liquid crystal display body of the above embodiment.
FIG. 10B is a perspective view illustrating an example of a portable information processing apparatus such as a word processor or a personal computer. In FIG. 10B, reference numeral 700 denotes an information processing apparatus, 701 denotes an input unit such as a keyboard, 703 denotes an information processing body, and 702 denotes a display unit including the organic EL display 1 and the liquid crystal display of the above embodiment. Yes.
FIG. 10C is a perspective view illustrating an example of a wristwatch type electronic device. In FIG. 10C, reference numeral 800 denotes a watch body, and reference numeral 801 denotes a display unit including the organic EL display body 1 and the liquid crystal display body of the above-described embodiment.
Since the electronic apparatus shown in FIGS. 10A to 10C includes the organic EL display 1 and the liquid crystal display according to the above-described embodiment, it can be reduced in size, thickness, and quality.
In addition, although the electronic device of this embodiment shall be provided with an organic electroluminescent display apparatus, it can also be set as the electronic device provided with other electro-optical devices, such as a liquid crystal device and a plasma type display apparatus.

以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施の形態例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。   The preferred embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, but it goes without saying that the present invention is not limited to such examples. Various shapes, combinations, and the like of the constituent members shown in the above-described examples are examples, and various modifications can be made based on design requirements and the like without departing from the gist of the present invention.

例えば、上記実施の形態では、TFT基板16上の一部のTFT素子6を配線基板2に転写する構成としたが、予めTFT基板上の画素領域に対応した位置にTFT素子を複数形成しておき、全てのTFT素子を一括して配線基板2に転写する構成としてもよい。
さらに、上記実施の形態では、転写用素子としてTFT素子を配線基板2に転写する構成としたが、TFT素子以外にも、薄膜ダイオード、その他の薄膜半導体デバイス、電極(例:ITO、メサ膜のような透明電極)、太陽電池やイメージセンサ等に用いられる光電変換素子、スイッチング素子、メモリー、圧電素子等のアクチュエータ、マイクロミラー(ピエゾ薄膜セラミックス)、磁気記録媒体、光磁気記録媒体、光記録媒体等の記録媒体、磁気記録薄膜ヘッド、コイル、インダクター、薄膜高透磁材料およびそれらを組み合わせたマイクロ磁気デバイス、フィルター、反射膜、ダイクロイックミラー、偏光素子等の光学薄膜、半導体薄膜、超伝導薄膜(例:YBCO薄膜)、磁性薄膜、金属多層薄膜、金属セラミック多層薄膜、金属半導体多層薄膜、セラミック半導体多層薄膜、有機薄膜と他の物質の多層薄膜等が挙げられる。
このなかでも、特に、薄膜デバイス、マイクロ磁気デバイス、マイクロ三次元構造物の構成、アクチュエータ、マイクロミラー等に適用することの有用性が高いことから好ましい。
For example, in the above embodiment, a part of the TFT elements 6 on the TFT substrate 16 is transferred to the wiring board 2. However, a plurality of TFT elements are previously formed at positions corresponding to the pixel regions on the TFT substrate. Alternatively, all the TFT elements may be transferred to the wiring substrate 2 at once.
Further, in the above embodiment, the TFT element is transferred to the wiring substrate 2 as the transfer element. However, in addition to the TFT element, a thin film diode, other thin film semiconductor devices, electrodes (eg, ITO, mesa film) Transparent electrodes), photoelectric conversion elements used in solar cells and image sensors, switching elements, memories, actuators such as piezoelectric elements, micromirrors (piezo thin film ceramics), magnetic recording media, magneto-optical recording media, optical recording media Recording media, magnetic recording thin film heads, coils, inductors, thin film high magnetic permeability materials and micro magnetic devices combining them, filters, reflective films, dichroic mirrors, optical thin films such as polarizing elements, semiconductor thin films, superconducting thin films ( Example: YBCO thin film), magnetic thin film, metal multilayer thin film, metal ceramic multilayer thin film, metal Conductor multilayer thin film, ceramic semiconductor multilayer film, a multilayer thin film of the organic thin film and other materials.
Among these, it is particularly preferable because it is highly useful when applied to a thin film device, a micro magnetic device, a configuration of a micro three-dimensional structure, an actuator, a micro mirror, and the like.

配線基板とEL基板とが接合された有機EL表示体の部分断面図である。It is a fragmentary sectional view of the organic electroluminescent display body with which the wiring board and EL board | substrate were joined. TFT基板の部分断面図である。It is a fragmentary sectional view of a TFT substrate. TFT素子の平面図である。It is a top view of a TFT element. TFT基板上に配列されたTFT素子の部分平面図である。It is a fragmentary top view of the TFT element arranged on the TFT substrate. 有機EL表示体の製造手順を示す図である。It is a figure which shows the manufacture procedure of an organic electroluminescent display body. 第2実施形態のTFT素子を示す平面図である。It is a top view which shows the TFT element of 2nd Embodiment. 図6のTFT素子がTFT基板上に配列された部分平面図である。FIG. 7 is a partial plan view in which the TFT elements of FIG. 6 are arranged on a TFT substrate. 第3実施形態のTFT素子を示す平面図である。It is a top view which shows the TFT element of 3rd Embodiment. 図8のTFT素子がTFT基板上に配列された部分平面図である。FIG. 9 is a partial plan view in which the TFT elements of FIG. 8 are arranged on a TFT substrate. 本発明の電気光学装置を適用した電子機器の具体例を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a specific example of an electronic apparatus to which the electro-optical device of the invention is applied.

符号の説明Explanation of symbols

1…有機EL表示体(電気光学装置)、 2…配線基板(回路基板)、 3…EL基板(電気光学パネル、有機EL素子基板)、 6…TFT素子(転写用素子、薄膜トランジスタ素子)、 8…接続パッド(配線)、 16…TFT基板(転写用基板、基板)、 18…接着剤、 19…透光性耐熱基板(ベース)、 20…剥離層、 26…端子(接続用端子)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Organic EL display body (electro-optical device), 2 ... Wiring board (circuit board), 3 ... EL board | substrate (electro-optical panel, organic EL element board | substrate), 6 ... TFT element (transfer element, thin-film transistor element), 8 ... Connection pads (wiring), 16 ... TFT substrate (transfer substrate, substrate), 18 ... Adhesive, 19 ... Translucent heat-resistant substrate (base), 20 ... Peeling layer, 26 ... Terminal (connection terminal)

Claims (10)

基板上に複数配列して形成され、前記基板から剥離して転写される転写用素子であって、
平面視が円形またはn角形(nは6以上の整数)の多角形の形状を有することを特徴とする転写用素子。
A plurality of transfer elements that are formed on a substrate and are peeled off and transferred from the substrate,
A transfer element having a circular shape or a polygonal shape of n-gon (n is an integer of 6 or more) in plan view.
基板上に複数配列して形成され、前記基板から剥離して第2基板に転写される転写用素子であって、
前記第2基板と電気的に接続される接続用端子を有し、
前記接続用端子が、外周部から離間した内側に配置されることを特徴とする転写用素子。
A plurality of transfer elements formed on a substrate and arranged to be peeled from the substrate and transferred to a second substrate;
A connection terminal electrically connected to the second substrate;
The transfer element, wherein the connection terminal is disposed inside the outer peripheral portion.
請求項2記載の転写用素子において、
前記接続用端子は、間隔をあけて複数環状に配置されることを特徴とする転写用素子。
The transfer element according to claim 2,
The transfer element, wherein the connection terminals are arranged in a plurality of rings at intervals.
ベース上に設けられた請求項1から3のいずれかに記載の複数の転写用素子と、
前記ベースと前記転写用素子との間に介装され、前記転写用素子を前記ベースから剥離させる剥離層とを有することを特徴とする転写用基板。
A plurality of transfer elements according to any one of claims 1 to 3 provided on a base;
A transfer substrate comprising a release layer interposed between the base and the transfer element and configured to peel the transfer element from the base.
請求項4記載の転写用基板において、
前記転写用素子が薄膜トランジスタであることを特徴とする転写用基板。
The transfer substrate according to claim 4,
The transfer substrate, wherein the transfer element is a thin film transistor.
請求項4または5記載の転写用基板において、
前記転写用素子が千鳥状に配列されることを特徴とする転写用基板。
The transfer substrate according to claim 4 or 5,
A transfer substrate, wherein the transfer elements are arranged in a staggered pattern.
請求項4または5記載の転写用基板において、
前記転写用素子が格子状に配列されることを特徴とする転写用基板。
The transfer substrate according to claim 4 or 5,
A transfer substrate, wherein the transfer elements are arranged in a grid pattern.
基板上に所定パターンで配線が形成された回路基板と、該回路基板に電気的に接続された電気光学パネルとを備える電気光学装置であって、
前記回路基板には、請求項1から3のいずれかに記載の転写用素子が転写され接着剤を介して前記配線に電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置。
An electro-optical device comprising a circuit board on which wiring is formed in a predetermined pattern on a board, and an electro-optical panel electrically connected to the circuit board,
4. An electro-optical device, wherein the transfer element according to claim 1 is transferred to the circuit board and electrically connected to the wiring via an adhesive.
所定パターンで配線が形成された回路基板の前記配線に転写用素子を接合する方法であって、
前記配線上に接着剤を塗布する工程と、
請求項4から7のいずれかに記載された転写用基板上の転写用素子を、前記接着剤を介して前記配線と電気的に接続する工程と、
前記転写用基板から前記転写用素子を剥離する工程とを有することを特徴とする転写用素子の接合方法。
A method of joining a transfer element to the wiring of a circuit board on which wiring is formed in a predetermined pattern,
Applying an adhesive on the wiring;
Electrically connecting the transfer element on the transfer substrate according to any one of claims 4 to 7 to the wiring via the adhesive;
And a step of peeling the transfer element from the transfer substrate.
請求項9記載の転写用素子の接合方法において、
前記転写用基板に形成された複数の転写用素子のうち、一部の転写用素子を選択して剥離することを特徴とする転写用素子の接合方法。
The bonding method of a transfer element according to claim 9,
A transfer element joining method, wherein a part of transfer elements among a plurality of transfer elements formed on the transfer substrate is selected and peeled off.
JP2003344450A 2003-10-02 2003-10-02 Transfer element and its joining method, transfer substrate, and electro-optical device Withdrawn JP2005109406A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003344450A JP2005109406A (en) 2003-10-02 2003-10-02 Transfer element and its joining method, transfer substrate, and electro-optical device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003344450A JP2005109406A (en) 2003-10-02 2003-10-02 Transfer element and its joining method, transfer substrate, and electro-optical device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005109406A true JP2005109406A (en) 2005-04-21

Family

ID=34538078

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003344450A Withdrawn JP2005109406A (en) 2003-10-02 2003-10-02 Transfer element and its joining method, transfer substrate, and electro-optical device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005109406A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007047423A (en) * 2005-08-09 2007-02-22 Seiko Epson Corp Electro-optical device and electronic apparatus
JP2007098680A (en) * 2005-09-30 2007-04-19 Seiko Epson Corp Method for processing silicon wafer and method for manufacturing liquid jet head
CN111162162A (en) * 2020-01-03 2020-05-15 上海天马微电子有限公司 Transfer substrate, preparation method thereof and micro light-emitting diode transfer method

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007047423A (en) * 2005-08-09 2007-02-22 Seiko Epson Corp Electro-optical device and electronic apparatus
US7763899B2 (en) 2005-08-09 2010-07-27 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus having a plurality of pixel sections disposed in a staggered manner
JP4662306B2 (en) * 2005-08-09 2011-03-30 セイコーエプソン株式会社 Electro-optical device, electronic equipment
JP2007098680A (en) * 2005-09-30 2007-04-19 Seiko Epson Corp Method for processing silicon wafer and method for manufacturing liquid jet head
CN111162162A (en) * 2020-01-03 2020-05-15 上海天马微电子有限公司 Transfer substrate, preparation method thereof and micro light-emitting diode transfer method
CN111162162B (en) * 2020-01-03 2023-11-28 上海天马微电子有限公司 Transfer substrate, preparation method thereof and transfer method of micro light emitting diode

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6827632B2 (en) How to make a light emission display device
TW564471B (en) Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device
KR101028393B1 (en) Semiconductor apparatus
JP4472238B2 (en) Stripping method and semiconductor device manufacturing method
KR101032337B1 (en) Light emitting device and manufacturing method thereof
JP4413478B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
TWI364111B (en) Display device and method for manufacturing the same
JP2005142054A (en) Organic electroluminescence display device, manufacturing method of the organic electroluminescence display device, large-sized organic electroluminescence display, and electronic equipment
JP2006128679A (en) Method for manufacturing semiconductor device
JP2005109406A (en) Transfer element and its joining method, transfer substrate, and electro-optical device
JP4602261B2 (en) Stripping method and semiconductor device manufacturing method
JP2005114915A (en) Device and its manufacturing method, and electrooptical device
JP2005183031A (en) Substrate joint body, manufacturing method of substrate joint body, electro-optical device and electronic apparatus
JP5393848B2 (en) Light emitting device and method for manufacturing light emitting device
JP2005129835A (en) Method of mounting electronic element, joined substrate body and method of manufacturing the same, wiring substrate, and electrooptic device
JP2005142212A (en) Element mounting structure, connection terminal, its manufacturing method, and electro-optical device
JP2005129836A (en) Joining fixture for substrate, manufacturing method thereof electrooptical system and electronic equipment
JP2005244064A (en) Mounting structure and method for element, and electrooptic device
JP2005259866A (en) Method for manufacturing substrate joined body, electronic element transferring substrate, optoelectronic device and electronic apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20061205